JP2003035645A - ロックウェル硬さ試験機及びロックウェル硬さ試験方法 - Google Patents
ロックウェル硬さ試験機及びロックウェル硬さ試験方法Info
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- JP2003035645A JP2003035645A JP2001224887A JP2001224887A JP2003035645A JP 2003035645 A JP2003035645 A JP 2003035645A JP 2001224887 A JP2001224887 A JP 2001224887A JP 2001224887 A JP2001224887 A JP 2001224887A JP 2003035645 A JP2003035645 A JP 2003035645A
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 圧子形状のバラツキによる硬さ値のバラツキ
を補正できるロックウェル硬さ試験機及びロックウェル
硬さ試験方法を提供する。 【解決手段】 試料表面に圧子により圧痕を形成させる
ことに基づいて試料の材料特性を測定するロックウェル
硬さ試験機１００であって、同一スケールで異なる硬さ
値が予め定められた複数の基準片のそれぞれについて複
数点ずつ硬さ測定を行うと共に、試料の硬さを測定する
測定手段（例えば試験機本体１１０）と、各基準片の測
定結果及び各基準片に予め定められている硬さ値を補正
データとして記憶する記憶手段（例えばＣＰＵ基板１３
０）と、記憶手段に記憶されている補正データに基づい
て補正式を作成する補正式作成手段（例えばＣＰＵ基板
１３０）と、測定手段による試料の測定値を前記補正式
に当てはめて試料の補正測定値を導出する補正手段（例
えばＣＰＵ基板１３０）とを有する。
を補正できるロックウェル硬さ試験機及びロックウェル
硬さ試験方法を提供する。 【解決手段】 試料表面に圧子により圧痕を形成させる
ことに基づいて試料の材料特性を測定するロックウェル
硬さ試験機１００であって、同一スケールで異なる硬さ
値が予め定められた複数の基準片のそれぞれについて複
数点ずつ硬さ測定を行うと共に、試料の硬さを測定する
測定手段（例えば試験機本体１１０）と、各基準片の測
定結果及び各基準片に予め定められている硬さ値を補正
データとして記憶する記憶手段（例えばＣＰＵ基板１３
０）と、記憶手段に記憶されている補正データに基づい
て補正式を作成する補正式作成手段（例えばＣＰＵ基板
１３０）と、測定手段による試料の測定値を前記補正式
に当てはめて試料の補正測定値を導出する補正手段（例
えばＣＰＵ基板１３０）とを有する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、圧子により試料表
面に荷重を負荷して圧痕を形成させることに基づいて試
料の材料特性を評価するロックウェル硬さ試験機及びロ
ックウェル硬さ試験方法に関する。
面に荷重を負荷して圧痕を形成させることに基づいて試
料の材料特性を評価するロックウェル硬さ試験機及びロ
ックウェル硬さ試験方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、圧子により試料表面に荷重を負荷
して圧痕を形成させることに基づいて、試料の材料特性
を評価する試験機として硬さ試験機が知られている。こ
の従来の硬さ試験機としては、例えば、図５に示したも
のが知られている。図５に示す硬さ試験機１００は、い
わゆるロックウェル硬さ試験機といわれるもので、おも
り１１１と、荷重アーム１１２と、カム１１３と、荷重
軸１１４と、圧子軸１１５と、圧子１１６などからなる
試験機本体１１０等を備えている。
して圧痕を形成させることに基づいて、試料の材料特性
を評価する試験機として硬さ試験機が知られている。こ
の従来の硬さ試験機としては、例えば、図５に示したも
のが知られている。図５に示す硬さ試験機１００は、い
わゆるロックウェル硬さ試験機といわれるもので、おも
り１１１と、荷重アーム１１２と、カム１１３と、荷重
軸１１４と、圧子軸１１５と、圧子１１６などからなる
試験機本体１１０等を備えている。
【０００３】このロックウェル硬さ試験機では、所定の
おもり１１１が荷重アーム１１２の先端に吊され、カム
１１３の回転によって荷重アーム１１２が下がる。そし
て、荷重軸１１４に所定の荷重が作用し、圧子軸１１５
を介して圧子１１６に伝達される。この圧子１１６が下
方に移動して、所定の荷重が一定の時間、試料表面に負
荷されることにより、試料表面に圧痕が形成される。そ
して、形成された圧痕の深さを測定し、この測定結果に
基づいて試料の硬さ値が求められる。
おもり１１１が荷重アーム１１２の先端に吊され、カム
１１３の回転によって荷重アーム１１２が下がる。そし
て、荷重軸１１４に所定の荷重が作用し、圧子軸１１５
を介して圧子１１６に伝達される。この圧子１１６が下
方に移動して、所定の荷重が一定の時間、試料表面に負
荷されることにより、試料表面に圧痕が形成される。そ
して、形成された圧痕の深さを測定し、この測定結果に
基づいて試料の硬さ値が求められる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来のロッ
クウェル硬さ試験機では、力，指示計，機体戻り精度等
の各精度が保たれ、規格を満たしているにも関わらず、
硬さ値が正しく測定、評価されないことがある。
クウェル硬さ試験機では、力，指示計，機体戻り精度等
の各精度が保たれ、規格を満たしているにも関わらず、
硬さ値が正しく測定、評価されないことがある。
【０００５】この原因は、圧子形状のバラツキによるも
のと考えられている。圧子形状と硬さの因果関係とし
て、硬い試料の場合は圧子侵入量が少ないため、圧子の
先端形状が硬さに影響を及ぼす。また、軟らかい試料で
は圧子侵入量が大きいため、圧子の円錐形状が硬さに影
響する。この様な理由で圧子形状に誤差があると、本来
の直線的な硬さデータに対して、ロックウェル硬さ試験
機は、曲線的にずれた硬さを算出してしまう。
のと考えられている。圧子形状と硬さの因果関係とし
て、硬い試料の場合は圧子侵入量が少ないため、圧子の
先端形状が硬さに影響を及ぼす。また、軟らかい試料で
は圧子侵入量が大きいため、圧子の円錐形状が硬さに影
響する。この様な理由で圧子形状に誤差があると、本来
の直線的な硬さデータに対して、ロックウェル硬さ試験
機は、曲線的にずれた硬さを算出してしまう。
【０００６】しかし、圧子形状の精度を上げることは技
術的に非常に困難であるため、従来、硬さ値のバラツキ
を直すことができなかった。
術的に非常に困難であるため、従来、硬さ値のバラツキ
を直すことができなかった。
【０００７】本発明は上記問題を解決するためになされ
たものであって、圧子形状のバラツキによる硬さ値のバ
ラツキを抑えることができるロックウェル硬さ試験機及
びロックウェル硬さ試験方法を提供することを目的とす
る。
たものであって、圧子形状のバラツキによる硬さ値のバ
ラツキを抑えることができるロックウェル硬さ試験機及
びロックウェル硬さ試験方法を提供することを目的とす
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項１記載の発明は、試料表面に圧子により圧痕
を形成させることに基づいて試料の材料特性を測定する
ロックウェル硬さ試験機であって、同一スケールで異な
る硬さ値が予め定められた複数の基準片のそれぞれにつ
いて複数点ずつ硬さ測定を行うと共に、試料の硬さを測
定する測定手段（例えば、試験機本体１１０）と、前記
各基準片の測定結果及び各基準片に予め定められている
硬さ値を補正データとして記憶する記憶手段（例えば、
ＣＰＵ基板１３０）と、該記憶手段に記憶されている補
正データに基づいて補正式を作成する補正式作成手段
（例えば、ＣＰＵ基板１３０）と、前記測定手段による
試料の測定値を前記補正式に当てはめて試料の補正測定
値を導出する補正手段（例えば、ＣＰＵ基板１３０）
と、を有することを特徴としている。
め、請求項１記載の発明は、試料表面に圧子により圧痕
を形成させることに基づいて試料の材料特性を測定する
ロックウェル硬さ試験機であって、同一スケールで異な
る硬さ値が予め定められた複数の基準片のそれぞれにつ
いて複数点ずつ硬さ測定を行うと共に、試料の硬さを測
定する測定手段（例えば、試験機本体１１０）と、前記
各基準片の測定結果及び各基準片に予め定められている
硬さ値を補正データとして記憶する記憶手段（例えば、
ＣＰＵ基板１３０）と、該記憶手段に記憶されている補
正データに基づいて補正式を作成する補正式作成手段
（例えば、ＣＰＵ基板１３０）と、前記測定手段による
試料の測定値を前記補正式に当てはめて試料の補正測定
値を導出する補正手段（例えば、ＣＰＵ基板１３０）
と、を有することを特徴としている。
【０００９】請求項１記載の発明によれば、測定手段
が、同一スケールで異なる硬さ値が予め定められた複数
の基準片のそれぞれについて複数点ずつ硬さ測定を行う
と共に、試料の硬さを測定し、記憶手段が、前記各基準
片の測定結果及び各基準片に予め定められている硬さ値
を補正データとして記憶し、補正式作成手段が、該記憶
手段に記憶されている補正データに基づいて補正式を作
成し、補正手段が、前記測定手段による試料の測定値を
前記補正式に当てはめて試料の補正測定値を導出する。
従って、圧子形状にバラツキがあっても、補正式を作成
することによって、試料の硬さ値のバラツキを補正する
ことができ、より正確なロックウェル硬さ試験の測定結
果を導出することができる。
が、同一スケールで異なる硬さ値が予め定められた複数
の基準片のそれぞれについて複数点ずつ硬さ測定を行う
と共に、試料の硬さを測定し、記憶手段が、前記各基準
片の測定結果及び各基準片に予め定められている硬さ値
を補正データとして記憶し、補正式作成手段が、該記憶
手段に記憶されている補正データに基づいて補正式を作
成し、補正手段が、前記測定手段による試料の測定値を
前記補正式に当てはめて試料の補正測定値を導出する。
従って、圧子形状にバラツキがあっても、補正式を作成
することによって、試料の硬さ値のバラツキを補正する
ことができ、より正確なロックウェル硬さ試験の測定結
果を導出することができる。
【００１０】請求項２記載の発明は、請求項１記載のロ
ックウェル硬さ試験機において、圧子毎に設定される圧
子番号を入力する入力手段（例えば、圧子番号入力スイ
ッチｋ）と、前記入力手段により入力された圧子番号
と、当該圧子番号の圧子を用いて前記補正式作成手段に
より作成された補正式とを対応付けて記憶する補正式記
憶手段（例えば、ＣＰＵ基板１３０）と、を有すること
を特徴としている。
ックウェル硬さ試験機において、圧子毎に設定される圧
子番号を入力する入力手段（例えば、圧子番号入力スイ
ッチｋ）と、前記入力手段により入力された圧子番号
と、当該圧子番号の圧子を用いて前記補正式作成手段に
より作成された補正式とを対応付けて記憶する補正式記
憶手段（例えば、ＣＰＵ基板１３０）と、を有すること
を特徴としている。
【００１１】請求項２記載の発明によれば、使用される
圧子それぞれに対して補正式を一旦作成すると、圧子毎
に設定された圧子番号を用いて、補正式記憶手段から対
応する補正式を呼び出すことができ、当該補正式を用い
て、簡単に、より正確な測定結果を導出できるロックウ
ェル硬さ試験を行うことができる。
圧子それぞれに対して補正式を一旦作成すると、圧子毎
に設定された圧子番号を用いて、補正式記憶手段から対
応する補正式を呼び出すことができ、当該補正式を用い
て、簡単に、より正確な測定結果を導出できるロックウ
ェル硬さ試験を行うことができる。
【００１２】請求項３記載の発明は、試料表面に圧子に
より圧痕を形成させることに基づいて試料の材料特性を
測定するロックウェル硬さ試験方法において、同一スケ
ールで異なる硬さ値が予め定められた基準片を複数用意
し、測定手段によって当該複数の基準片のそれぞれにつ
いて複数点ずつ硬さ測定を行い、該測定結果及び各基準
片に予め定められている硬さ値を補正データとして記憶
手段に記憶させ、補正式作成手段によって前記記憶手段
に記憶されている補正データに基づく補正式を作成する
補正式作成ステップと、測定手段によって試料の硬さを
測定した後、補正手段によって前記試料の測定値を前記
補正式に当てはめて試料の補正測定値を導出する試料測
定補正ステップと、を有することを特徴としている。
より圧痕を形成させることに基づいて試料の材料特性を
測定するロックウェル硬さ試験方法において、同一スケ
ールで異なる硬さ値が予め定められた基準片を複数用意
し、測定手段によって当該複数の基準片のそれぞれにつ
いて複数点ずつ硬さ測定を行い、該測定結果及び各基準
片に予め定められている硬さ値を補正データとして記憶
手段に記憶させ、補正式作成手段によって前記記憶手段
に記憶されている補正データに基づく補正式を作成する
補正式作成ステップと、測定手段によって試料の硬さを
測定した後、補正手段によって前記試料の測定値を前記
補正式に当てはめて試料の補正測定値を導出する試料測
定補正ステップと、を有することを特徴としている。
【００１３】請求項３記載の発明によれば、ロックウェ
ル硬さ試験を行う際に、補正式作成ステップと試料測定
補正ステップを有しているため、圧子形状のバラツキに
よる試料の硬さ値のバラツキを補正することができ、よ
り正確な測定結果を導出できるロックウェル硬さ試験と
することができる。
ル硬さ試験を行う際に、補正式作成ステップと試料測定
補正ステップを有しているため、圧子形状のバラツキに
よる試料の硬さ値のバラツキを補正することができ、よ
り正確な測定結果を導出できるロックウェル硬さ試験と
することができる。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、図を参照して本発明に係る
ロックウェル硬さ試験機及びロックウェル硬さ試験方法
の実施の形態を詳細に説明する。図１は、本発明に係る
ロックウェル硬さ試験機１００の要部構成を示すブロッ
ク図である。このロックウェル硬さ試験機１００は、図
５に示す試験機本体１１０と、図２に示す画面Ｇを表示
可能な入力・表示装置１２０を有している。
ロックウェル硬さ試験機及びロックウェル硬さ試験方法
の実施の形態を詳細に説明する。図１は、本発明に係る
ロックウェル硬さ試験機１００の要部構成を示すブロッ
ク図である。このロックウェル硬さ試験機１００は、図
５に示す試験機本体１１０と、図２に示す画面Ｇを表示
可能な入力・表示装置１２０を有している。
【００１５】前記試験機本体１１０は、測定手段とし
て、試料表面や基準片表面に圧痕を形成させることに基
づいてその硬さの測定値を計測する部分であり、おもり
１１１と、荷重アーム１１２と、カム１１３と、荷重軸
１１４と、圧子軸１１５と、圧子１１６などからなって
いる。この試験機本体１１０は、前記した従来の一般的
なロックウェル硬さ試験機と同様とされているため、詳
しい説明は省略する。
て、試料表面や基準片表面に圧痕を形成させることに基
づいてその硬さの測定値を計測する部分であり、おもり
１１１と、荷重アーム１１２と、カム１１３と、荷重軸
１１４と、圧子軸１１５と、圧子１１６などからなって
いる。この試験機本体１１０は、前記した従来の一般的
なロックウェル硬さ試験機と同様とされているため、詳
しい説明は省略する。
【００１６】入力・表示装置１２０は、基準片に予め定
められた実際の硬さ値を入力したり、基準片や試料の測
定結果、補正後の測定結果等の様々なデータを表示する
ものであり、装置内にＣＰＵ基板１３０を有している。
また、前記基準片の硬さ値入力のための入力部及びデー
タを表示する画面Ｇを有する表示部を備えている。な
お、前記ＣＰＵ基板１３０は、後述する記憶手段、補正
式作成手段、補正手段などとして機能するものである。
められた実際の硬さ値を入力したり、基準片や試料の測
定結果、補正後の測定結果等の様々なデータを表示する
ものであり、装置内にＣＰＵ基板１３０を有している。
また、前記基準片の硬さ値入力のための入力部及びデー
タを表示する画面Ｇを有する表示部を備えている。な
お、前記ＣＰＵ基板１３０は、後述する記憶手段、補正
式作成手段、補正手段などとして機能するものである。
【００１７】記憶手段（ここでは、ＣＰＵ基板１３０）
は、前記測定手段（ここでは、試験機本体１１０）によ
って測定された各基準片の測定結果、及び、前記入力部
から入力された各基準片に予め定められている実際の硬
さ値を、補正データとして記憶する。なお、測定手段に
よって測定される基準片は複数個とされており、また、
それぞれの基準片において、複数点ずつ硬さ測定が行わ
れるようにされている。ここでは、図３の表に示すよう
に、Ｎｏ．１〜３の３種類の基準片を測定するようにな
っており、それぞれ３点（ポイント１〜３）ずつ測定す
るようになっている。この測定結果と、入力部から入力
された３種類の各基準片の実際の硬さ値が、記憶手段に
記憶されるようになっている。
は、前記測定手段（ここでは、試験機本体１１０）によ
って測定された各基準片の測定結果、及び、前記入力部
から入力された各基準片に予め定められている実際の硬
さ値を、補正データとして記憶する。なお、測定手段に
よって測定される基準片は複数個とされており、また、
それぞれの基準片において、複数点ずつ硬さ測定が行わ
れるようにされている。ここでは、図３の表に示すよう
に、Ｎｏ．１〜３の３種類の基準片を測定するようにな
っており、それぞれ３点（ポイント１〜３）ずつ測定す
るようになっている。この測定結果と、入力部から入力
された３種類の各基準片の実際の硬さ値が、記憶手段に
記憶されるようになっている。
【００１８】補正式作成手段（ここでは、ＣＰＵ基板１
３０）は、前記記憶手段に記憶された補正データに基づ
いて、試料の硬さ値を多点補正する際の補正式を作成す
る。この補正式の作成については、種々の作成方法があ
るが、ここでは、最小自乗法を用いて補正式を作成して
いる。なお、多点補正とは、複数の異なる硬さの基準片
を本試験機で測定することにより、基準片の実際の硬さ
と測定硬さを記憶し、この記憶から補正式を作成し、作
成された補正式を使用して、試料の測定硬さを補正する
機能である。
３０）は、前記記憶手段に記憶された補正データに基づ
いて、試料の硬さ値を多点補正する際の補正式を作成す
る。この補正式の作成については、種々の作成方法があ
るが、ここでは、最小自乗法を用いて補正式を作成して
いる。なお、多点補正とは、複数の異なる硬さの基準片
を本試験機で測定することにより、基準片の実際の硬さ
と測定硬さを記憶し、この記憶から補正式を作成し、作
成された補正式を使用して、試料の測定硬さを補正する
機能である。
【００１９】補正手段（ここでは、ＣＰＵ基板１３０）
は、測定手段によって測定した試料の測定値を補正式作
成手段で作成された補正式に当てはめて多点補正を行
い、試料の補正測定値を導出する。この多点補正によ
り、例えば、図４に示すように、補正前の計測硬さデー
タ（測定値）を、補正後の表示硬さデータ（補正測定
値）に補正することができる。
は、測定手段によって測定した試料の測定値を補正式作
成手段で作成された補正式に当てはめて多点補正を行
い、試料の補正測定値を導出する。この多点補正によ
り、例えば、図４に示すように、補正前の計測硬さデー
タ（測定値）を、補正後の表示硬さデータ（補正測定
値）に補正することができる。
【００２０】次に、前記ロックウェル硬さ試験機１００
を用いて行うロックウェル硬さ試験の方法の一例につい
て説明する。
を用いて行うロックウェル硬さ試験の方法の一例につい
て説明する。
【００２１】まず、補正式を作成する補正式作成ステッ
プを行う。このステップにおいては、まず、同一スケー
ルで異なる硬さ値が定められている硬さ基準片を複数用
意する。ここでは、スケールＣの基準片で２０〜３０Ｈ
Ｒ、４０〜５０ＨＲ、６０ＨＲ以上のそれぞれのレンジ
に入るものを１個ずつ、具体的には３０ＨＲＣ（Ｎｏ．
１）、５０ＨＲＣ（Ｎｏ．２）、６５ＨＲＣ（Ｎｏ．
３）の３種類の基準片を用意した。なお、スケールＣの
場合、２０〜３０ＨＲ、４０〜５０ＨＲ、６０ＨＲ以上
のそれぞれのレンジに入る基準片を最低１個ずつ合計で
３個以上揃えるのが好ましい。また、前記基準片は、実
際の硬さ値が予め定められており、ここでは、それぞ
れ、３０．２ＨＲＣ（Ｎｏ．１）、５０．４ＨＲＣ（Ｎ
ｏ．２）、６５．１ＨＲＣ（Ｎｏ．３）となっている。
プを行う。このステップにおいては、まず、同一スケー
ルで異なる硬さ値が定められている硬さ基準片を複数用
意する。ここでは、スケールＣの基準片で２０〜３０Ｈ
Ｒ、４０〜５０ＨＲ、６０ＨＲ以上のそれぞれのレンジ
に入るものを１個ずつ、具体的には３０ＨＲＣ（Ｎｏ．
１）、５０ＨＲＣ（Ｎｏ．２）、６５ＨＲＣ（Ｎｏ．
３）の３種類の基準片を用意した。なお、スケールＣの
場合、２０〜３０ＨＲ、４０〜５０ＨＲ、６０ＨＲ以上
のそれぞれのレンジに入る基準片を最低１個ずつ合計で
３個以上揃えるのが好ましい。また、前記基準片は、実
際の硬さ値が予め定められており、ここでは、それぞ
れ、３０．２ＨＲＣ（Ｎｏ．１）、５０．４ＨＲＣ（Ｎ
ｏ．２）、６５．１ＨＲＣ（Ｎｏ．３）となっている。
【００２２】次に、ロックウェル硬さ試験機１００の試
験スケールの設定をＨＲＣにして、測定手段（ここで
は、試験機本体１１０）による基準片の硬さ測定を行
う。このとき、各基準片について複数点ずつ硬さ測定を
行う。ここでは、３点（ポイント１〜３）で測定してい
る。
験スケールの設定をＨＲＣにして、測定手段（ここで
は、試験機本体１１０）による基準片の硬さ測定を行
う。このとき、各基準片について複数点ずつ硬さ測定を
行う。ここでは、３点（ポイント１〜３）で測定してい
る。
【００２３】そして、１つのポイントを測定する毎に入
力・表示装置１２０の表示部の画面Ｇにおいて、図２に
示すような多点補正設定画面を表示させる。すると、測
定手段によって測定された測定結果が、測定データ表示
器ｃに表示される。ここで、当該測定データに対応する
正しいデータ（実際の硬さ値）を入力部（ここでは、デ
ータ入力スイッチｊを押すことによりポップアップして
くる画面上のテンキー）より入力して、入力データ表示
器ｄに表示させる。そして、スケール表示器ａの表示
（ここでは、ＨＲＣになっているか否か）、基準片Ｎ
ｏ．表示器ｂの表示、圧子番号表示器ｆの表示（圧子に
はそれぞれ番号が付けられている）等の確認を行い、測
定データ取込スイッチｌを押して当該基準片の測定値及
び実際の硬さ値を記憶手段（ここでは、ＣＰＵ基板１３
０のＲＡＭ）に補正データとして記憶させる。これを繰
り返して全ての測定結果と基準片の実際の硬さ値を記憶
手段に記憶させる。
力・表示装置１２０の表示部の画面Ｇにおいて、図２に
示すような多点補正設定画面を表示させる。すると、測
定手段によって測定された測定結果が、測定データ表示
器ｃに表示される。ここで、当該測定データに対応する
正しいデータ（実際の硬さ値）を入力部（ここでは、デ
ータ入力スイッチｊを押すことによりポップアップして
くる画面上のテンキー）より入力して、入力データ表示
器ｄに表示させる。そして、スケール表示器ａの表示
（ここでは、ＨＲＣになっているか否か）、基準片Ｎ
ｏ．表示器ｂの表示、圧子番号表示器ｆの表示（圧子に
はそれぞれ番号が付けられている）等の確認を行い、測
定データ取込スイッチｌを押して当該基準片の測定値及
び実際の硬さ値を記憶手段（ここでは、ＣＰＵ基板１３
０のＲＡＭ）に補正データとして記憶させる。これを繰
り返して全ての測定結果と基準片の実際の硬さ値を記憶
手段に記憶させる。
【００２４】なお、図２における符号ｅは現在補正式が
有効な場合に反転する補正有効／無効表示器、ｈ及びｉ
は基準片Ｎｏ．の切換を行う表示切換スイッチ、ｋは圧
子番号を入力する画面上のテンキーをポップアップさせ
る圧子番号入力スイッチ、ｎは画面を１つ前の画面に戻
す戻りスイッチである。
有効な場合に反転する補正有効／無効表示器、ｈ及びｉ
は基準片Ｎｏ．の切換を行う表示切換スイッチ、ｋは圧
子番号を入力する画面上のテンキーをポップアップさせ
る圧子番号入力スイッチ、ｎは画面を１つ前の画面に戻
す戻りスイッチである。
【００２５】全てのデータを記憶手段に記憶させたら、
補正式作成スイッチｍを押す。すると、補正式作成手段
（ここでは、ＣＰＵ基板１３０）が、記憶手段に記憶さ
れている補正データに基づいて補正式を作成する。ここ
では、補正式作成手段は、最小自乗法によって補正式を
作成する。
補正式作成スイッチｍを押す。すると、補正式作成手段
（ここでは、ＣＰＵ基板１３０）が、記憶手段に記憶さ
れている補正データに基づいて補正式を作成する。ここ
では、補正式作成手段は、最小自乗法によって補正式を
作成する。
【００２６】なお、この実施の形態では、前記したよう
に、圧子１１６毎に圧子番号が設定されている。この圧
子番号は、入力手段としての圧子番号入力スイッチｋ
（更に詳しくは当該圧子番号入力スイッチｋを押すこと
によってポップアップしてくる画面上のテンキー）で入
力され、当該圧子番号の圧子１１６を用いて前記補正式
作成手段で作成された補正式と対応付けて補正式記憶手
段（ここでは、ＣＰＵ基板１３０）に記憶されているも
のである。
に、圧子１１６毎に圧子番号が設定されている。この圧
子番号は、入力手段としての圧子番号入力スイッチｋ
（更に詳しくは当該圧子番号入力スイッチｋを押すこと
によってポップアップしてくる画面上のテンキー）で入
力され、当該圧子番号の圧子１１６を用いて前記補正式
作成手段で作成された補正式と対応付けて補正式記憶手
段（ここでは、ＣＰＵ基板１３０）に記憶されているも
のである。
【００２７】このように、この実施の形態のロックウェ
ル硬さ試験機では、複数の圧子番号とそれに対応する複
数の補正式が補正式記憶手段に記憶されており、前記し
たように一旦補正式を作成した後は、圧子番号を呼び出
すだけで、簡単に、より正確な測定結果を導出できるロ
ックウェル硬さ試験が行えるようになっている。なお、
前記したそれぞれの圧子番号に対応する補正式の係数等
は、再び当該圧子を用いて補正式作成手段による補正式
の作成を行うことにより、更新することが可能となって
いる。
ル硬さ試験機では、複数の圧子番号とそれに対応する複
数の補正式が補正式記憶手段に記憶されており、前記し
たように一旦補正式を作成した後は、圧子番号を呼び出
すだけで、簡単に、より正確な測定結果を導出できるロ
ックウェル硬さ試験が行えるようになっている。なお、
前記したそれぞれの圧子番号に対応する補正式の係数等
は、再び当該圧子を用いて補正式作成手段による補正式
の作成を行うことにより、更新することが可能となって
いる。
【００２８】以上のような補正式作成ステップによって
補正式を作成した後、試料測定補正ステップを行う。
補正式を作成した後、試料測定補正ステップを行う。
【００２９】ここでは、まず、測定手段によって試料の
硬さ測定を行う。そして、当該試料の測定を行うと、自
動的に測定値を前記補正式に当てはめ、試料の補正測定
値を導出するようになっている。
硬さ測定を行う。そして、当該試料の測定を行うと、自
動的に測定値を前記補正式に当てはめ、試料の補正測定
値を導出するようになっている。
【００３０】以上説明した本発明に係るロックウェル硬
さ試験機１００及びロックウェル硬さ試験方法によれ
ば、測定手段（ここでは、試験機本体１１０）が、同一
スケールで異なる硬さ値が予め定められた複数の基準片
（Ｎｏ．１〜３）のそれぞれについて複数点（ポイント
１〜３）ずつ硬さ測定を行うと共に、試料の硬さを測定
し、記憶手段（ここでは、ＣＰＵ基板１３０）が、前記
各基準片の測定結果及び各基準片に予め定められている
硬さ値を補正データとして記憶し、補正式作成手段（こ
こでは、ＣＰＵ基板１３０）が、該記憶手段に記憶され
ている補正データに基づいて補正式を作成し、補正手段
（ここでは、ＣＰＵ基板１３０）が、前記測定手段によ
る試料の測定値を前記補正式に当てはめて試料の補正測
定値を導出する。従って、圧子形状にバラツキがあって
も、補正式を作成することによって、試料の硬さ値のバ
ラツキを補正することができ、より正確なロックウェル
硬さ試験の測定結果を導出することができる。
さ試験機１００及びロックウェル硬さ試験方法によれ
ば、測定手段（ここでは、試験機本体１１０）が、同一
スケールで異なる硬さ値が予め定められた複数の基準片
（Ｎｏ．１〜３）のそれぞれについて複数点（ポイント
１〜３）ずつ硬さ測定を行うと共に、試料の硬さを測定
し、記憶手段（ここでは、ＣＰＵ基板１３０）が、前記
各基準片の測定結果及び各基準片に予め定められている
硬さ値を補正データとして記憶し、補正式作成手段（こ
こでは、ＣＰＵ基板１３０）が、該記憶手段に記憶され
ている補正データに基づいて補正式を作成し、補正手段
（ここでは、ＣＰＵ基板１３０）が、前記測定手段によ
る試料の測定値を前記補正式に当てはめて試料の補正測
定値を導出する。従って、圧子形状にバラツキがあって
も、補正式を作成することによって、試料の硬さ値のバ
ラツキを補正することができ、より正確なロックウェル
硬さ試験の測定結果を導出することができる。
【００３１】なお、本発明は、上述の実施形態に限定さ
れるものではない。明らかに本発明の趣旨を逸脱しない
範囲において種々の変形が可能であることはもちろんで
ある。例えば、上記実施の形態では、ロックウェル硬さ
試験機１００に補正式作成ステップ及び試料測定補正ス
テップの全てが含まれていたが、これに限るものではな
く、前記ステップの一部がロックウェル硬さ試験機１０
０外の装置等によって行われても良い。また、ここで
は、補正式の作成は最小自乗法を用いて行ったが、これ
に限るのものではなく、他の方法で補正式を作成する場
合もある。
れるものではない。明らかに本発明の趣旨を逸脱しない
範囲において種々の変形が可能であることはもちろんで
ある。例えば、上記実施の形態では、ロックウェル硬さ
試験機１００に補正式作成ステップ及び試料測定補正ス
テップの全てが含まれていたが、これに限るものではな
く、前記ステップの一部がロックウェル硬さ試験機１０
０外の装置等によって行われても良い。また、ここで
は、補正式の作成は最小自乗法を用いて行ったが、これ
に限るのものではなく、他の方法で補正式を作成する場
合もある。
【００３２】
【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、測定手段
が、同一スケールで異なる硬さ値が予め定められた複数
の基準片のそれぞれについて複数点ずつ硬さ測定を行う
と共に、試料の硬さを測定し、記憶手段が、前記各基準
片の測定結果及び各基準片に予め定められている硬さ値
を補正データとして記憶し、補正式作成手段が、該記憶
手段に記憶されている補正データに基づいて補正式を作
成し、補正手段が、前記測定手段による試料の測定値を
前記補正式に当てはめて試料の補正測定値を導出する。
従って、圧子形状にバラツキがあっても、補正式を作成
することによって、試料の硬さ値のバラツキを補正する
ことができ、より正確なロックウェル硬さ試験の測定結
果を導出することができる。
が、同一スケールで異なる硬さ値が予め定められた複数
の基準片のそれぞれについて複数点ずつ硬さ測定を行う
と共に、試料の硬さを測定し、記憶手段が、前記各基準
片の測定結果及び各基準片に予め定められている硬さ値
を補正データとして記憶し、補正式作成手段が、該記憶
手段に記憶されている補正データに基づいて補正式を作
成し、補正手段が、前記測定手段による試料の測定値を
前記補正式に当てはめて試料の補正測定値を導出する。
従って、圧子形状にバラツキがあっても、補正式を作成
することによって、試料の硬さ値のバラツキを補正する
ことができ、より正確なロックウェル硬さ試験の測定結
果を導出することができる。
【００３３】請求項２記載の発明によれば、使用される
圧子それぞれに対して補正式を一旦作成すると、圧子毎
に設定された圧子番号を用いて、補正式記憶手段から対
応する補正式を呼び出すことができ、当該補正式を用い
て、簡単に、より正確な測定結果を導出できるロックウ
ェル硬さ試験を行うことができる。
圧子それぞれに対して補正式を一旦作成すると、圧子毎
に設定された圧子番号を用いて、補正式記憶手段から対
応する補正式を呼び出すことができ、当該補正式を用い
て、簡単に、より正確な測定結果を導出できるロックウ
ェル硬さ試験を行うことができる。
【００３４】請求項３記載の発明によれば、ロックウェ
ル硬さ試験を行う際に、補正式作成ステップと試料測定
補正ステップを有しているため、圧子形状のバラツキに
よる試料の硬さ値のバラツキを補正することができ、よ
り正確な測定結果を導出できるロックウェル硬さ試験と
することができる。
ル硬さ試験を行う際に、補正式作成ステップと試料測定
補正ステップを有しているため、圧子形状のバラツキに
よる試料の硬さ値のバラツキを補正することができ、よ
り正確な測定結果を導出できるロックウェル硬さ試験と
することができる。
【図１】本発明に係るロックウェル硬さ試験機の要部構
成を示すブロック図である。
成を示すブロック図である。
【図２】本発明に係るロックウェル硬さ試験機の入力・
表示装置の表示画面を示す図である。
表示装置の表示画面を示す図である。
【図３】本発明に係るロックウェル硬さ試験機の測定手
段によって測定された基準片の測定値及び当該基準片の
実際の硬さ値をまとめた表である。
段によって測定された基準片の測定値及び当該基準片の
実際の硬さ値をまとめた表である。
【図４】本発明に係るロックウェル硬さ試験機による多
点補正の結果の一例を示すグラフである。
点補正の結果の一例を示すグラフである。
【図５】従来のロックウェル硬さ試験機の試験機本体を
示す側面図である。
示す側面図である。
１００ ロックウェル硬さ試験機
１１０ 試験機本体（測定手段）
１２０ 入力・表示装置
１３０ ＣＰＵ基板（記憶手段、補正式作成手段、補正
手段、補正式記憶手段） １１６ 圧子 ｋ 圧子番号入力スイッチ（入力手段）
手段、補正式記憶手段） １１６ 圧子 ｋ 圧子番号入力スイッチ（入力手段）
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 小田 充
神奈川県座間市広野台二丁目７番１号 株
式会社アカシ相模工場内
Claims (3)
- 【請求項１】試料表面に圧子により圧痕を形成させるこ
とに基づいて試料の材料特性を測定するロックウェル硬
さ試験機であって、 同一スケールで異なる硬さ値が予め定められた複数の基
準片のそれぞれについて複数点ずつ硬さ測定を行うと共
に、試料の硬さを測定する測定手段と、 前記各基準片の測定結果及び各基準片に予め定められて
いる硬さ値を補正データとして記憶する記憶手段と、 該記憶手段に記憶されている補正データに基づいて補正
式を作成する補正式作成手段と、 前記測定手段による試料の測定値を前記補正式に当ては
めて試料の補正測定値を導出する補正手段と、を有する
ことを特徴とするロックウェル硬さ試験機。 - 【請求項２】圧子毎に設定される圧子番号を入力する入
力手段と、 前記入力手段により入力された圧子番号と、当該圧子番
号の圧子を用いて前記補正式作成手段により作成された
補正式とを対応付けて記憶する補正式記憶手段と、を有
することを特徴とする請求項１記載のロックウェル硬さ
試験機。 - 【請求項３】試料表面に圧子により圧痕を形成させるこ
とに基づいて試料の材料特性を測定するロックウェル硬
さ試験方法において、 同一スケールで異なる硬さ値が予め定められた基準片を
複数用意し、測定手段によって当該複数の基準片のそれ
ぞれについて複数点ずつ硬さ測定を行い、該測定結果及
び各基準片に予め定められている硬さ値を補正データと
して記憶手段に記憶させ、補正式作成手段によって前記
記憶手段に記憶されている補正データに基づく補正式を
作成する補正式作成ステップと、 測定手段によって試料の硬さを測定した後、補正手段に
よって前記試料の測定値を前記補正式に当てはめて試料
の補正測定値を導出する試料測定補正ステップと、を有
することを特徴とするロックウェル硬さ試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001224887A JP2003035645A (ja) | 2001-07-25 | 2001-07-25 | ロックウェル硬さ試験機及びロックウェル硬さ試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001224887A JP2003035645A (ja) | 2001-07-25 | 2001-07-25 | ロックウェル硬さ試験機及びロックウェル硬さ試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003035645A true JP2003035645A (ja) | 2003-02-07 |
Family
ID=19057975
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001224887A Pending JP2003035645A (ja) | 2001-07-25 | 2001-07-25 | ロックウェル硬さ試験機及びロックウェル硬さ試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003035645A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013145111A1 (ja) * | 2012-03-26 | 2013-10-03 | 株式会社マツザワ | 硬さ試験機及び硬さ試験方法 |
| CN105954132A (zh) * | 2016-04-28 | 2016-09-21 | 启东雷泰精密仪器有限公司 | 维氏硬度计及硬度测量修正方法 |
| JP2017072528A (ja) * | 2015-10-09 | 2017-04-13 | 株式会社ミツトヨ | 硬さ試験機及び硬さ試験機に用いられる圧子 |
| KR20200066023A (ko) | 2018-11-30 | 2020-06-09 | 주식회사 포스코 | 강판 표면의 고경도 부위 검출 장치 및 방법 |
| KR20210078070A (ko) * | 2019-12-18 | 2021-06-28 | 한국항공우주산업 주식회사 | 경도 측정기 검증 시스템 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63131049A (ja) * | 1986-11-21 | 1988-06-03 | Nippon Steel Corp | 金属のオンライン硬度測定方法及びその測定装置 |
| JPH0161642U (ja) * | 1987-10-15 | 1989-04-19 | ||
| JPH06347389A (ja) * | 1993-06-04 | 1994-12-22 | Akashi:Kk | ロックウエル試験機における誤差補正方法 |
| JPH09126976A (ja) * | 1995-11-06 | 1997-05-16 | Nkk Corp | 超音波硬度測定装置 |
-
2001
- 2001-07-25 JP JP2001224887A patent/JP2003035645A/ja active Pending
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| CN105954132A (zh) * | 2016-04-28 | 2016-09-21 | 启东雷泰精密仪器有限公司 | 维氏硬度计及硬度测量修正方法 |
| CN105954132B (zh) * | 2016-04-28 | 2019-01-29 | 广州众诚电科检测技术有限公司 | 维氏硬度计及硬度测量修正方法 |
| KR20200066023A (ko) | 2018-11-30 | 2020-06-09 | 주식회사 포스코 | 강판 표면의 고경도 부위 검출 장치 및 방법 |
| KR20210078070A (ko) * | 2019-12-18 | 2021-06-28 | 한국항공우주산업 주식회사 | 경도 측정기 검증 시스템 |
| KR102403748B1 (ko) * | 2019-12-18 | 2022-05-31 | 한국항공우주산업 주식회사 | 경도 측정기 검증 시스템 |
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| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100616 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100622 |
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| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20101019 |