JP2003035513A - Laser measuring machine - Google Patents

Laser measuring machine

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JP2003035513A
JP2003035513A JP2001220006A JP2001220006A JP2003035513A JP 2003035513 A JP2003035513 A JP 2003035513A JP 2001220006 A JP2001220006 A JP 2001220006A JP 2001220006 A JP2001220006 A JP 2001220006A JP 2003035513 A JP2003035513 A JP 2003035513A
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JP
Japan
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light
mirror
laser
measuring device
length measuring
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Withdrawn
Application number
JP2001220006A
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Japanese (ja)
Inventor
Takeshi Yamagishi
毅 山岸
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a laser measuring machine realizing a simpler and easier alignment to enhance a measurement accuracy. SOLUTION: In the machine, there is a reflection plane almost parallel with a reflection plane of a mobile mirror 18 placed opposite to through-holes 16, 17 of the measuring machine body 10, and a reflector 1 is placed on the opposite side of the mobile mirror 18 for the measuring machine body 10. Thus the machine is configured so as to accomplish its desired alignment by adjusting the reflector 1 to be parallel with the mobile mirror 18.

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】この発明は、例えば顕微鏡の
ステージ等の被測定物の移動距離測定や、位置測定を行
うのに用いられるレーザー干渉測長計等のレーザー測長
器に関する。 【0002】 【従来の技術】一般に、レーザー測長器は、被測定体に
対して半導体レーザー等のレーザー光源からのレーザ光
を照射して、その干渉光を取得して、この干渉光に基づ
いて被測定体の移動距離や位置が測定される。 【0003】図3は、このような従来のレーザー測長器
を示すもので、測長器本体には、レーザー光源として、
半導体レーザー11がコリメータレンズに対応して配設
される。この半導体レーザーから出射したレーザー光
は、コリメータレンズ12により平行光とされ、その後
段の偏光ビームスプリッタ13に入射される。偏光ビー
ムスプリッタ13は、入射光をP偏光成分及びS偏光成
分に2分割して、P偏光成分を透過し、S偏光成分を反
射される。 【0004】このうち透過されたP偏光成分は、結晶軸
が紙面に対し45度傾いて配置されたλ/4板14を透
過し円偏光に変換された後、測長器本体10に設けられ
た射出孔16を通過し、被測定物に設置される移動鏡1
8によって反射され、再び射出孔16を通り、λ/4板
14を透過し、S偏光として上記偏光ビームスプリッタ
13に導かれる。この偏光ビームスプリッタ13に導か
れたS偏光は、反射されてコーナーキューブプリズム2
0に導かれ、このコーナーキューブプリズム20を介し
て、再び上記偏光ビームスプリッタ13で反射されて、
測長器本体10に設けられて射出孔16から再度、移動
鏡18に照射される。そして、この移動鏡18で反射さ
れた反射光は、再び測長器本体10の射出孔17、λ/
4板14を介し、上記偏光ビームスプリッタ13を透過
し、干渉光検出器21に入射される。 【0005】また、上記偏光ビームスプリッタ13で反
射された半導体レーザー11からのS偏光成分は、同様
にλ/4板15の偏光操作とコーナーキューブプリズム
20の中心対称の反射により、測長器本体10内部に固
定された参照鏡19によって2度反射され、先の移動鏡
18の光路に重畳されて干渉光検出器21に入射され
る。 【0006】ここで、干渉光検出器21は、入力した各
光に基づいて移動鏡18と参照鏡19までの光路差に応
じた信号を生成して、この信号に基づいて移動鏡18の
移動距離が測定される。 【0007】ところで、このようなレーザー測長器は、
被測定物の測定を行う場合、使用者が光軸調整を行うこ
とにより測定系のアライメントが行われる。このアライ
メントは、測長器本体10の射出孔16から出射された
光が、移動鏡18に対し垂直に入射するように測長器本
体10の角度調整を行うことで行われ、一般には射出孔
16からの光ビームが移動鏡18で反射し、再び射出孔
16に戻ることを目視で確認することで行う方法が採ら
れている(図4参照)。 【0008】これにより、参照鏡19、移動鏡18から
の両反射光が、同一光路上で重なって干渉光検出器21
に対して入射されて、干渉光検出器21においてコント
ラストの高い信号、即ちS/N比の高い信号が得られ
る。また、このように移動鏡18に対する入射光の垂直
入射を確保することは、測定系の幾何学誤差の発生を抑
えることでもある。 【0009】図5は、この移動鏡18の幾何学誤差の発
生状況を示すもので、移動鏡18に対する垂直が崩れ、
移動鏡18へのレーザー光の入射角θが有る場合には、
真の移動鏡18の移動距離Lに対して測長器本体10が
測る移動鏡18の移動距離はL1となる。 【0010】この移動距離L1、Lの差は、アライメン
ト時の移動鏡18への入射角により発生する測長誤差で
ある。その量は、図5に示すように(1−cosθ)*
Lとなり、測長距離比例の誤差となる。これより、移動
鏡18に対して光を垂直に入射させることは、得られる
信号のコントラスト、そして誤差低減の両面から考え非
常に重要なものである。 【0011】このようなアライメントに関する技術とし
ては、反射光の位置視認性を高めるための方法として、
特開平5−302825において、アライメント時のビ
ームに特定の回折パターンを発生させるような素子を付
加することで、射出孔より小さなビームの位置ずれの視
認性を高める方法が提案されている。 【0012】また、不可視半導体レーザーを光源として
用いている場合には、特開平5−126519において
調整ビームの可視化に関する方法が提案されている。こ
れらのいずれの提案においても基本的にアライメントの
確認を射出孔位置でのずれとして確認している点で同一
の考えにたっている。 【0013】このようなレーザー測長器は、数十mm以
下の短い距離変化を高い分解能をもって測長しようとし
た場合、大気揺らぎによる測長値の変動、振動の影響の
ような環境変動の影響を考慮すると、移動鏡18をでき
るだけ測長器本体10に近接させて配置するのが測長値
の信頼性を確保する上で望ましい。 【0014】しかしながら、従来例のように測長器本体
10の射出孔位置でのレーザー光の位置ずれという判断
基準での調整方法では、アライメントの確かさにおいて
劣るという不具合を有する。 【0015】即ち、目視によりレーザー光の位置ずれを
判断する場合、微小なずれについては判定が難しく、数
100μm程度、合わせ誤差として残ってしまうことに
なる。この残存のずれは、移動鏡18の位置によらず同
じく発生する。これによると、移動鏡18が数100m
mから数mというように充分に遠方にある場合には、移
動鏡18に対しほぼ垂直に入射させることはできるが、
移動鏡18が近い位置にあると、同じ残存ずれでも大き
な入射角が残ってしまうことになる。 【0016】例えば、残存ずれdを300μmとし、移
動鏡18までの距離Mと入射角θについてみると、 M:15mmθ:34′ である。 【0017】この残存ずれを前述の幾何学誤差について
考えると、θ:34′では、測長距離の約50ppmの
誤差が発生してしまうことになり、高精度な測定が困難
となる。 【0018】このため、レーザー測長器では、測長器本
体10と移動鏡18の距離が小さな場合、充分なアライ
メント精度を得ることが難しく、大きな幾何学誤差の発
生を来してしまい、測定精度が低下されるという問題を
有する。特に、不可視光を光源としている構成では、ア
ライメントそのものの煩雑さもあり、充分なアライメン
トが困難であるという問題を有する。 【0019】 【発明が解決しようとする課題】以上述べたように、従
来のレーザー測長器では、充分なアライメントを得るこ
とが困難で、測定精度が低下されるという問題を有す
る。 【0020】この発明は上記の事情に鑑みてなされたも
ので、簡便にして容易なアライメントを実現し得るよう
にして、測定精度の向上を図ったレーザー測長器を提供
することを目的とする。 【0021】 【課題を解決するための手段】この発明は、レーザー光
源と、前記レーザー光源からのレーザー光を参照光と測
定光に分割する光分割手段と、前記参照光を反射する参
照鏡と、前記測定光を反射する被測定物に設置された移
動鏡と、前記参照鏡で反射された参照光と前記移動鏡で
反射された測定光とを一光路に導いて干渉光を得る光干
渉手段と、前記光干渉手段からの干渉信号により前記移
動鏡の移動距離を測定する測定手段とを有するレーザー
測長器において、前記移動鏡に向い出力される測定光に
垂直な角度で設置された反射鏡を備えて構成したもので
ある。 【0022】上記構成によれば、レーザー測長器のアラ
イメントは、反射鏡を、被測定物に取付けた移動鏡と平
行になるように調整する操作となり、移動鏡の設置位置
に影響されることのない調整指標を得ることができる。
従って、移動鏡の移動範囲等の使用形態に影響されるこ
となく、高精度な測定が可能となる。 【0023】 【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて、図面を参照して詳細に説明する。 【0024】図1は、この発明の一実施の形態に係るレ
ーザー測長器を示すものである。図1において、前記図
3乃至図5と同一部分については、同一符号を付してそ
の説明を省略する。 【0025】即ち、この発明の特徴は、上記測長器本体
10のレーザー光出射側と反対面、言い換えると、移動
鏡18に対して反対側にアライメント用の反射鏡1を設
置したことにある。反射鏡1は、測長器本体10の射出
孔16から出射されるレーザー光に対して垂直となるよ
うに設置される。 【0026】そして、反射鏡1を測長器本体10に設置
する場合には、例えば測長器本体10に対して充分な距
離をもって配置した移動鏡18に対して、測長器本体1
0の射出孔16から移動鏡18に対して出射されるレー
ザー光が垂直となるように測長器本体10に配置する。
この配置状態において、反射鏡1を、予め移動鏡18に
対してその角度が確認できるように設置したオートコリ
メータ2を用いて移動鏡18に平行となるように調整し
ながら測長器本体10の移動鏡18と反対側の面に取り
付られる。 【0027】上記構成において、実際に測長器を使用す
る場合には、測長器本体10のアライメントは被測定物
に設置される移動鏡18に対して、測長器本体10に設
置された反射鏡1が平行となるように平行度を判断基準
として調整される。この平行度の判定としては、例えば
周知のオートコリメータ2を、移動鏡18に対して合わ
せた後反射鏡1に対向して配置し、このオートコリメー
タ2で測長器本体10の背面に設置された反射鏡1の角
度を見ながら移動鏡18との数秒の角度ずれ及び方向の
位置調整を実行する。 【0028】これにより、移動鏡18の設置位置の如何
に拘わらず、測長器本体10と移動鏡18との非常に高
い精度でのアライメント調整が実現される。このように
本実施例のレーザー測長器によれば、反射鏡の角度とい
うアライメント指標を設けることができ、例えば移動鏡
18の移動範囲が小さい場合においても、大気揺らぎ、
振動などの影響に対処するよう移動鏡18を測長器本体
10に近接させて配置しても、高精度なアライメントが
行え、幾何学誤差の発生を抑えることができて、測定精
度の高精度化の促進を図ることができる。 【0029】また、この発明は、上記実施例に限ること
なく、その他、例えば図2に示すように測長器本体10
の射出孔16、17の設けられるレーザー光出射側と反
対面に反射鏡1に並設してレーザー光出射側に至る光透
過孔3を設けるように構成してもよい。 【0030】これによれば、測長器本体10の反射鏡1
の設置側から光透過孔3を通して反射鏡1、移動鏡18
を一度に伺うことができることにより、アライメントを
行っている間、オートコリメータ2を常時、一定位置に
設置しておく必要がなくなると共に、そのアライメント
終了後においても、光透過孔3を通して測長器本体10
の設置状態を確認することで、高精度測定の条件を継続
して確保することができる。 【0031】この結果、さらにアライメント調整操作の
簡便化の促進が実現され、且つ、アライメントの高精度
化の促進を図ることができる。 【0032】また、上記実施の形態では、レーザー光源
である半導体レーザー11を測長器本体10内に収容配
置した一体型に構成した場合で説明したが、これに限る
ことなく、その他レーザー光源を、測長器本体10の外
部に配置し、光ファイバによる伝送で干渉系に接続させ
るように構成することも可能で、略同様の効果が期待さ
れる。この光ファイバを用いる実施の形態においては、
測長器本体10内に導かれた光ファイバの端部がレーザ
ー光源として作用される。 【0033】よって、この発明は、上記実施の形態に限
ることなく、その他、実施段階ではその要旨を逸脱しな
い範囲で種々の変形を実施し得ることが可能である。さ
らに、上記実施形態には、種々の段階の発明が含まれて
おり、開示される複数の構成要件における適宜な組合せ
により種々の発明が抽出され得る。 【0034】例えば実施形態に示される全構成要件から
幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようと
する課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果で述
べられている効果が得られる場合には、この構成要件が
削除された構成が発明として抽出され得る。 【0035】 【発明の効果】以上詳述したように、この発明によれ
ば、簡便にして容易なアライメントを実現し得るように
して、測定精度の向上を図ったレーザー測長器を提供す
ることができる。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a laser interferometer and the like used for measuring a moving distance and a position of an object to be measured such as a microscope stage. Related to laser length measuring instruments. 2. Description of the Related Art Generally, a laser length measuring device irradiates an object to be measured with laser light from a laser light source such as a semiconductor laser, obtains interference light, and uses the interference light as a basis. Thus, the moving distance and the position of the measured object are measured. [0003] Fig. 3 shows such a conventional laser length measuring device.
A semiconductor laser 11 is provided corresponding to the collimator lens. The laser light emitted from the semiconductor laser is converted into parallel light by the collimator lens 12 and is incident on the polarization beam splitter 13 at the subsequent stage. The polarization beam splitter 13 divides the incident light into a P polarization component and an S polarization component, transmits the P polarization component, and reflects the S polarization component. The transmitted P-polarized light component is transmitted through a λ / 4 plate 14 whose crystal axis is inclined at 45 degrees with respect to the plane of the paper and is converted into circularly polarized light. Moving mirror 1 which passes through the exit hole 16 and is set on the object to be measured.
The light is reflected by the laser beam 8, passes through the exit hole 16 again, passes through the λ / 4 plate 14, and is guided to the polarization beam splitter 13 as S-polarized light. The S-polarized light guided to the polarizing beam splitter 13 is reflected and reflected by the corner cube prism 2.
0, is reflected again by the polarizing beam splitter 13 through the corner cube prism 20, and
The movable mirror 18 is again irradiated from the exit hole 16 provided in the length measuring device main body 10. Then, the reflected light reflected by the movable mirror 18 returns to the exit hole 17 of the length measuring device main body 10, λ /
The light passes through the polarizing beam splitter 13 via the four plates 14 and enters the interference light detector 21. Similarly, the S-polarized light component from the semiconductor laser 11 reflected by the polarization beam splitter 13 is similarly operated by the polarization operation of the λ / 4 plate 15 and the centrally symmetric reflection of the corner cube prism 20, thereby obtaining the main body of the length measuring instrument. The light is reflected twice by a reference mirror 19 fixed inside 10, is superimposed on the optical path of the movable mirror 18, and enters the interference light detector 21. Here, the interference light detector 21 generates a signal corresponding to the optical path difference between the moving mirror 18 and the reference mirror 19 based on each input light, and moves the moving mirror 18 based on the signal. The distance is measured. By the way, such a laser measuring device is
When measuring an object to be measured, alignment of a measurement system is performed by adjusting the optical axis by a user. This alignment is performed by adjusting the angle of the length measuring device main body 10 so that the light emitted from the emission hole 16 of the length measuring device main body 10 is perpendicularly incident on the movable mirror 18. A method of visually confirming that the light beam from 16 is reflected by the movable mirror 18 and returns to the exit hole 16 is adopted (see FIG. 4). As a result, the two reflected lights from the reference mirror 19 and the moving mirror 18 are superimposed on the same optical path and overlap each other.
And a signal having a high contrast, that is, a signal having a high S / N ratio is obtained in the interference light detector 21. Further, to ensure the vertical incidence of the incident light on the movable mirror 18 in this way also means to suppress the occurrence of geometric errors in the measurement system. FIG. 5 shows the state of occurrence of a geometrical error of the movable mirror 18, in which the vertical to the movable mirror 18 collapses.
When there is an incident angle θ of the laser beam to the movable mirror 18,
The moving distance of the moving mirror 18 measured by the length measuring device main body 10 with respect to the moving distance L of the true moving mirror 18 is L1. The difference between the moving distances L1 and L is a length measurement error caused by the angle of incidence on the moving mirror 18 during alignment. The amount is (1-cos θ) * as shown in FIG.
L, which is an error proportional to the measurement distance. Accordingly, it is very important to make the light perpendicularly incident on the movable mirror 18 from the viewpoint of both the contrast of the obtained signal and the reduction of error. As a technique relating to such an alignment, a method for improving the position visibility of reflected light is as follows.
Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 5-302825 proposes a method of improving the visibility of a positional deviation of a beam smaller than the exit hole by adding an element for generating a specific diffraction pattern to the beam at the time of alignment. When an invisible semiconductor laser is used as a light source, Japanese Patent Laid-Open No. 5-126519 proposes a method for visualizing an adjustment beam. Both of these proposals share the same idea in that the alignment is basically confirmed as a deviation at the position of the injection hole. [0013] Such a laser length measuring device, when trying to measure a short distance change of several tens of mm or less with a high resolution, is affected by environmental fluctuations such as fluctuations in measured values due to atmospheric turbulence and vibrations. In consideration of the above, it is desirable to dispose the movable mirror 18 as close to the length measuring device main body 10 as possible in order to secure the reliability of the measured value. However, the adjustment method based on the criterion of the displacement of the laser beam at the position of the exit hole of the length measuring device main body 10 as in the conventional example has a disadvantage that the accuracy of alignment is inferior. That is, when the positional deviation of the laser beam is visually determined, it is difficult to determine a small deviation, and an alignment error of about several hundred μm remains. This residual displacement occurs similarly regardless of the position of the movable mirror 18. According to this, the moving mirror 18 is several hundred meters.
If it is sufficiently far, such as from m to several meters, it is possible to make the mirror almost perpendicular to the movable mirror 18, but
If the movable mirror 18 is located at a close position, a large incident angle will remain even with the same residual displacement. For example, when the residual displacement d is 300 μm and the distance M to the movable mirror 18 and the incident angle θ are: M: 15 mm θ: 34 ′. Considering the residual error with respect to the aforementioned geometric error, an error of about 50 ppm in the length measurement distance occurs at θ: 34 ′, and it becomes difficult to perform highly accurate measurement. For this reason, in the laser length measuring device, when the distance between the length measuring device main body 10 and the movable mirror 18 is small, it is difficult to obtain sufficient alignment accuracy, and a large geometrical error occurs, resulting in a measurement. There is a problem that accuracy is reduced. In particular, in a configuration using invisible light as a light source, there is a problem that alignment itself is complicated and sufficient alignment is difficult. As described above, the conventional laser length measuring device has a problem that it is difficult to obtain a sufficient alignment and the measuring accuracy is reduced. The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a laser length measuring device which is simple and can realize easy alignment and improves measurement accuracy. . According to the present invention, there is provided a laser light source, light splitting means for splitting laser light from the laser light source into reference light and measurement light, and a reference mirror for reflecting the reference light. A moving mirror installed on an object to be measured that reflects the measuring light, and optical interference that guides the reference light reflected by the reference mirror and the measuring light reflected by the moving mirror to one optical path to obtain interference light. Means, and a measuring device for measuring a moving distance of the movable mirror by an interference signal from the optical interference means, wherein the laser measuring device is installed at an angle perpendicular to the measurement light output toward the movable mirror. It is configured with a reflecting mirror. According to the above configuration, the alignment of the laser measuring device is an operation of adjusting the reflecting mirror so as to be parallel to the moving mirror attached to the object to be measured, and is affected by the installation position of the moving mirror. It is possible to obtain an adjustment index without any.
Therefore, high-precision measurement can be performed without being affected by the usage mode such as the moving range of the movable mirror. Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 shows a laser length measuring apparatus according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, the same portions as those in FIGS. 3 to 5 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. That is, the feature of the present invention resides in that the reflecting mirror 1 for alignment is installed on the opposite surface of the length measuring device main body 10 from the laser light emitting side, in other words, on the opposite side to the movable mirror 18. . The reflecting mirror 1 is installed so as to be perpendicular to the laser beam emitted from the exit hole 16 of the length measuring device main body 10. When the reflecting mirror 1 is installed on the length measuring device main body 10, for example, the moving mirror 18 disposed at a sufficient distance from the length measuring device main body 10 is moved to the length measuring device main body 1.
The laser beam emitted from the zero exit hole 16 to the movable mirror 18 is arranged on the length measuring device main body 10 so as to be vertical.
In this arrangement state, while adjusting the reflecting mirror 1 so as to be parallel to the moving mirror 18 by using the autocollimator 2 installed so that its angle with respect to the moving mirror 18 can be checked in advance, It is attached to the surface opposite to the movable mirror 18. In the above configuration, when the length measuring device is actually used, the alignment of the length measuring device main body 10 is set on the length measuring device main body 10 with respect to the movable mirror 18 mounted on the object to be measured. The parallelism is adjusted using the parallelism as a criterion so that the reflecting mirror 1 is parallel. To determine the degree of parallelism, for example, a well-known autocollimator 2 is arranged to face the reflecting mirror 1 after being aligned with the movable mirror 18 and installed on the back of the length measuring device main body 10 by the autocollimator 2. While observing the angle of the reflecting mirror 1, the position of the reflecting mirror 1 with respect to the moving mirror 18 is adjusted for several seconds and the direction is adjusted. Thus, regardless of the position of the movable mirror 18, alignment of the length measuring device main body 10 and the movable mirror 18 can be adjusted with extremely high accuracy. As described above, according to the laser length measuring apparatus of the present embodiment, it is possible to provide the alignment index of the angle of the reflecting mirror. For example, even when the moving range of the moving mirror 18 is small, the fluctuation of the atmosphere,
Even if the movable mirror 18 is arranged close to the length measuring device main body 10 so as to cope with the influence of vibration and the like, high-precision alignment can be performed, and the occurrence of geometric errors can be suppressed. Can be promoted. Further, the present invention is not limited to the above-described embodiment, but may be, for example, as shown in FIG.
The light transmission hole 3 reaching the laser light emission side may be provided in parallel with the reflecting mirror 1 on the surface opposite to the laser light emission side where the emission holes 16 and 17 are provided. According to this, the reflecting mirror 1 of the length measuring device main body 10
Mirror 1 and moving mirror 18 through the light transmitting hole 3 from the installation side of
At the same time, it is not necessary to keep the autocollimator 2 always in a fixed position during the alignment, and even after the alignment is completed, the main body of the length measuring device is passed through the light transmitting hole 3. 10
By confirming the installation state of, it is possible to continuously secure the conditions for high-accuracy measurement. As a result, the simplification of the alignment adjustment operation is further promoted, and the precision of the alignment is promoted. Further, in the above-described embodiment, a case has been described where the semiconductor laser 11 as a laser light source is configured as an integrated type in which the semiconductor laser 11 is housed and arranged in the length measuring device main body 10. However, the present invention is not limited to this. It is also possible to arrange outside the length measuring device main body 10 and connect it to the interference system by transmission through an optical fiber, and substantially the same effect can be expected. In the embodiment using this optical fiber,
The end of the optical fiber guided into the length measuring device main body 10 functions as a laser light source. Therefore, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various other modifications can be made in the implementation stage without departing from the scope of the invention. Furthermore, the above embodiments include inventions at various stages, and various inventions can be extracted by appropriately combining a plurality of disclosed constituent elements. For example, even if some components are deleted from all the components shown in the embodiment, the problem described in the section of the problem to be solved by the invention can be solved, and the effects described in the effects of the invention can be solved. Is obtained, a configuration from which this configuration requirement is deleted can be extracted as an invention. As described in detail above, according to the present invention, there is provided a laser length measuring instrument which can realize simple and easy alignment and which improves measurement accuracy. Can be.

【図面の簡単な説明】 【図1】この発明の一実施の形態に係るレーザー測長器
の要部の構成を示した構成図である。 【図2】この発明の他の実施の形態に係るレーザー測長
器の要部の構成を示した構成図である。 【図3】この発明の適用されるレーザー測長器の測長概
念を説明するために示した構成説明図である。 【図4】従来のレーザー測長器のアライメントの調整動
作を説明するために示した構成図である。 【図5】移動鏡に対する垂直が崩れた状態における幾何
学誤差の発生状況を説明するために示した構成図であ
る。 【符号の説明】 1 … 反射鏡。 2 … オートコリメータ。 3 … 光透過孔。 10 … 波長器本体。 11 … 半導体レーザー。 12 … コリメータレンズ。 13 … 偏光ビームスプリッタ。 14 … λ/4板。 15 … λ/4板。 16 … 射出孔。 17 … 射出孔。 18 … 移動鏡。 19 … 参照鏡。 20 … コーナーキューブプリズム。 21 … 干渉光検出器
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a configuration diagram showing a configuration of a main part of a laser length measuring device according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a configuration diagram showing a configuration of a main part of a laser length measuring device according to another embodiment of the present invention. FIG. 3 is an explanatory diagram showing a configuration for explaining a concept of length measurement of a laser length measuring device to which the present invention is applied; FIG. 4 is a configuration diagram for explaining an alignment adjustment operation of a conventional laser length measuring device. FIG. 5 is a configuration diagram shown to explain a state of occurrence of a geometric error in a state where the vertical to the movable mirror is broken. [Explanation of Signs] 1 ... Reflecting mirror 2 ... Autocollimator. 3. Light transmission hole. 10 Wavelength device body. 11 Semiconductor laser. 12 ... Collimator lens. 13 ... polarization beam splitter. 14 .lambda. / 4 plate. 15 λ / 4 plate. 16 ... injection hole. 17 ... injection hole. 18… a moving mirror. 19… Reference mirror. 20… Corner cube prism. 21 ... interference light detector

Claims (1)

【特許請求の範囲】 【請求項1】 レーザー光源と、前記レーザー光源から
のレーザー光を参照光と測定光に分割する光分割手段
と、前記参照光を反射する参照鏡と、前記測定光を反射
する被測定物に設置された移動鏡と、前記参照鏡で反射
された参照光と前記移動鏡で反射された測定光とを一光
路に導いて干渉光を得る光干渉手段と、前記光干渉手段
からの干渉信号により前記移動鏡の移動距離を測定する
測定手段とを有するレーザー測長器において、 前記移動鏡に向い出力される測定光に垂直な角度で設置
された反射鏡を具備したことを特徴とするレーザー測長
器。
Claims: 1. A laser light source, a light splitting means for splitting laser light from the laser light source into reference light and measurement light, a reference mirror for reflecting the reference light, and A movable mirror installed on the object to be reflected, light interference means for guiding the reference light reflected by the reference mirror and the measurement light reflected by the movable mirror to one optical path to obtain interference light, and the light A measuring unit for measuring a moving distance of the movable mirror based on an interference signal from an interfering unit, comprising: a reflecting mirror disposed at an angle perpendicular to the measuring light output toward the moving mirror. A laser measuring device characterized by the above-mentioned.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015155826A (en) * 2014-02-20 2015-08-27 多摩川精機株式会社 Zero point adjustment device and method for double axis gimbal

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015155826A (en) * 2014-02-20 2015-08-27 多摩川精機株式会社 Zero point adjustment device and method for double axis gimbal

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