JP2003032070A - Surface acoustic wave element and surface acoustic wave device - Google Patents

Surface acoustic wave element and surface acoustic wave device

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JP2003032070A
JP2003032070A JP2001210481A JP2001210481A JP2003032070A JP 2003032070 A JP2003032070 A JP 2003032070A JP 2001210481 A JP2001210481 A JP 2001210481A JP 2001210481 A JP2001210481 A JP 2001210481A JP 2003032070 A JP2003032070 A JP 2003032070A
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acoustic wave
surface acoustic
comb
electrode
wave device
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JP2001210481A
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Japanese (ja)
Inventor
Shingo Masuko
真吾 増子
Kaoru Sakinada
薫 先灘
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To standardize a bump pad position of a surface acoustic wave chip and to enhance joining performance with a package substrate. SOLUTION: The surface acoustic wave device includes a package substrate whose front side has connection terminals and a surface acoustic wave chip mounted on the package substrate, having comb-line electrodes opposed to each other and a metallic bump joined with the connection terminals. The connection terminals of the package substrate are placed in a substrate region where a bent of the package substrate is 15% of the height of the metallic bump or below and the metallic bump is placed at the inside of the opposed comb-line electrodes.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は弾性表面波装置に係
り、特に弾性表面波素子がフリップチップボンディング
で配線基板に接合された弾性表面波装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a surface acoustic wave device, and more particularly to a surface acoustic wave device in which a surface acoustic wave element is bonded to a wiring board by flip chip bonding.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、携帯電話等の移動体通信機器の普
及と小型化につれて、フロントエンドに配されるRFフ
ィルタやIF段に使用されるIFフィルタに用いられる
弾性表面波装置もより一層の小型化が求められている。
2. Description of the Related Art In recent years, with the spread and miniaturization of mobile communication devices such as mobile phones, surface acoustic wave devices used in RF filters arranged in the front end and IF filters used in IF stages have become even more popular. Miniaturization is required.

【0003】これにしたがって、いわゆるフリップチッ
プボンディング技術を採用した弾性表面波装置が実用化
されている。
Accordingly, a surface acoustic wave device employing the so-called flip chip bonding technique has been put into practical use.

【0004】図6は、このような弾性表面波装置に用い
られる従来の弾性表面波素子の一例を示す概略上面図で
ある。この弾性表面波素子100は、いわゆる縦モード
結合型共振子フィルタを多段に配置した構成を有してお
り、一つのフィルタが弾性表面波の伝播方向に沿った複
数の櫛歯状電極101を有している。
FIG. 6 is a schematic top view showing an example of a conventional surface acoustic wave element used in such a surface acoustic wave device. The surface acoustic wave element 100 has a configuration in which so-called longitudinal mode coupling type resonator filters are arranged in multiple stages, and one filter has a plurality of comb-teeth-shaped electrodes 101 along the surface acoustic wave propagation direction. is doing.

【0005】各々の櫛歯状電極は、インターリーブされ
た信号電極及び接地電極を有し、信号電極には外部回路
との接続のためのI/Oパッド(入出力端子)102a
が接続され、他方接地電極にはGN用パッド(接地端
子)102bが接続されている。
Each comb-shaped electrode has an interleaved signal electrode and ground electrode, and the signal electrode has an I / O pad (input / output terminal) 102a for connection with an external circuit.
On the other hand, the GN pad (ground terminal) 102b is connected to the ground electrode.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の弾性表
面波素子をフリップチップボンディングでパッケージの
ベース基板に接続した場合、素子外周に位置する端子の
接続不良が生じる場合があった。特に入出力端端子に接
続不良が生じると、装置として全く機能しなくなるため
製品の信頼性が大きく損なわれることになる。
However, when the conventional surface acoustic wave device is connected to the base substrate of the package by flip chip bonding, the terminals located on the outer periphery of the device may have a connection failure. In particular, if a connection failure occurs at the input / output terminal, the device will not function at all and the reliability of the product will be greatly impaired.

【0007】本発明は、このような技術的背景に鑑み、
フリップチップボンディングにより装置を小型化し、か
つ素子と外部端子との接続の信頼性の高い弾性表面波装
置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above technical background.
An object of the present invention is to provide a surface acoustic wave device which is miniaturized by flip chip bonding and which has a highly reliable connection between an element and an external terminal.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明の弾性表面波素子
は、圧電基板上に複数の櫛歯状電極が前記圧電基板の弾
性表面波主伝播方向と異なる方向に配列され、前記複数
の櫛歯状電極に接続された信号端子及び接地端子のう
ち、少なくとも信号端子が前記複数の櫛歯状電極の段間
位置に配置されていることを特徴とする。
In a surface acoustic wave device according to the present invention, a plurality of comb-teeth-shaped electrodes are arranged on a piezoelectric substrate in a direction different from the main surface acoustic wave propagation direction of the piezoelectric substrate. At least a signal terminal of the signal terminal and the ground terminal connected to the tooth-shaped electrode is arranged at a position between the steps of the plurality of comb-shaped electrodes.

【0009】また本発明の弾性表面波装置は、圧電基板
上に形成された櫛歯状電極と、前記櫛歯状電極の信号電
極に接続された信号端子及び前記櫛歯状電極の接地電極
に接続された接地端子を有する弾性表面波素子と、前記
信号端子に金属バンプを介して接続される信号電極及び
前記接地端子に金属バンプを介して接続される接地電極
が一主面にメタライズされたベース基板とを具備し、前
記信号端子を、当該信号端子に接続される金属バンプの
厚さが他の金属バンプのうち最小厚みを有する金属バン
プの厚さを基準として±15%以内となる位置に配置し
たことを特徴とする。
In the surface acoustic wave device of the present invention, the comb-teeth electrode formed on the piezoelectric substrate, the signal terminal connected to the signal electrode of the comb-teeth electrode and the ground electrode of the comb-teeth electrode are provided. A surface acoustic wave element having a connected ground terminal, a signal electrode connected to the signal terminal via a metal bump, and a ground electrode connected to the ground terminal via a metal bump are metallized on one main surface. A base substrate, and a position where the thickness of the metal bump connected to the signal terminal is within ± 15% with reference to the thickness of the metal bump having the minimum thickness among other metal bumps. It is characterized by being placed in.

【0010】発明者らは、従来の弾性表面波装置におい
て接続不良の発生する原因を鋭意解析した。その結果接
続不良は、弾性表面波素子が実装されるベース基板自体
の反りに起因するものとの認識に至った。
The inventors of the present invention have earnestly analyzed the cause of connection failure in the conventional surface acoustic wave device. As a result, it has been recognized that the connection failure is caused by the warp of the base substrate itself on which the surface acoustic wave element is mounted.

【0011】即ち、ベース基板表面には、弾性表面波素
子の電極端子と接続するためのメタライズ層が形成され
るが、このメタライズ層の張力により基板にたわみが発
生してしまう。例えばアルミナセラミックをベース基板
として用い、その上に銅をメタライズ処理したベース基
板においては、メタライズ面を上面とした場合周辺部に
向かうに従って下方向に反ってしまう。
That is, a metallized layer for connecting to the electrode terminals of the surface acoustic wave element is formed on the surface of the base substrate, but the substrate is bent due to the tension of the metallized layer. For example, in a base substrate in which alumina ceramic is used as a base substrate and copper is metallized on the base substrate, when the metallized surface is used as the upper surface, the base substrate warps downward toward the peripheral portion.

【0012】このベース基板の反りを修正することは極
めて困難であり、弾性表面波素子をベース基板に実装す
る際の熱圧着工程を通過しても反りは何等変化せず、そ
の結果特に素子外周部において金属バンプに十分な圧力
が印加できず、接合不良が発生しやすいことがわかっ
た。
It is extremely difficult to correct the warp of the base substrate, and the warp does not change even if it passes through the thermocompression bonding process when mounting the surface acoustic wave device on the base substrate, and as a result, especially the outer circumference of the device is reduced. It was found that sufficient pressure could not be applied to the metal bumps in the area, leading to defective bonding.

【0013】このような現象に対し、発明者らは弾性表
面波素子の電極端子の配置自体を見直すことを着想し、
本発明をするに至った。
With respect to such a phenomenon, the inventors have come up with the idea of reviewing the arrangement itself of the electrode terminals of the surface acoustic wave element,
The present invention has been completed.

【0014】即ち、本発明の第一発明に係る弾性表面波
素子においては、櫛歯状電極の信号電極に接続される電
極端子を、隣接する櫛歯状電極の段間に折り込むように
配置している。これにより、対向するベース基板の比較
的反り量の少ない位置にてメタライズ層と接合されるた
め、金属バンプに十分圧力を印加することができ、良好
な接続を得ることが出来る。
That is, in the surface acoustic wave device according to the first aspect of the present invention, the electrode terminals connected to the signal electrodes of the comb-shaped electrodes are arranged so as to be folded between the adjacent comb-shaped electrodes. ing. As a result, since the metallization layer is bonded to the opposing base substrate at a position where the amount of warpage is relatively small, sufficient pressure can be applied to the metal bumps, and good connection can be obtained.

【0015】また本発明の第二発明に係る弾性表面波装
置においては、信号端子をベース基板に接続する金属バ
ンプが、他の金属バンプのうち厚みが最小となるバンプ
の厚みを基準として±15%の厚みとなる位置にこの信
号端子を配置している。このような位置に信号端子を配
置するため、金属バンプの潰れ方ひいては接合工程にお
ける圧力の印加量がほぼ均一化され、良好な接続を得る
ことが出来る。
Further, in the surface acoustic wave device according to the second aspect of the present invention, the metal bump connecting the signal terminal to the base substrate is ± 15 with respect to the thickness of the other metal bump having the smallest thickness. This signal terminal is arranged at a position where the thickness becomes%. Since the signal terminals are arranged at such positions, the manner in which the metal bumps are crushed, and thus the amount of pressure applied in the joining process is made substantially uniform, and good connection can be obtained.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】<第1実施形態>図1は、本発明
の第1実施形態に係る弾性表面波素子10の上面図であ
り、図2は、図1の素子をベース基板22にフリップチ
ップボンディングした弾性表面波装置20の図である。
フリップチップボンディングの際には、図1に示す素子
の電極形成面を下側(フェースダウン)にして、ベース
基板22上に形成されているメタライズ層(不図示)に
接続される。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION <First Embodiment> FIG. 1 is a top view of a surface acoustic wave device 10 according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows the device of FIG. It is a figure of the surface acoustic wave device 20 which carried out flip chip bonding.
At the time of flip chip bonding, the electrode formation surface of the element shown in FIG. 1 is connected to a metallization layer (not shown) formed on the base substrate 22 with the electrode formation surface facing down (face down).

【0017】この弾性表面波素子10は、いわゆる縦モ
ード結合型共振子フィルタ30,31をカスケード接続
した構成を有しており、一つのフィルタが弾性表面波の
伝播方向に沿った3つの櫛歯状電極11を有している。
またこれら櫛歯状電極11の両端には、櫛歯状電極の電
極指と同一の金属膜からなるグレーティング反射器15
が配置されている。
The surface acoustic wave device 10 has a structure in which so-called longitudinal mode coupling type resonator filters 30 and 31 are cascade-connected, and one filter has three comb teeth along the propagation direction of the surface acoustic wave. The electrode 11 is provided.
Further, a grating reflector 15 made of the same metal film as the electrode fingers of the comb-teeth-shaped electrodes is provided on both ends of the comb-teeth-shaped electrodes 11.
Are arranged.

【0018】各々の櫛歯状電極11は、インターリーブ
された信号電極及び接地電極を有し、信号電極には外部
回路との接続のためのI/Oパッド(信号端子)102
aが接続され、他方接地電極にはGN用パッド(接地端
子)102bが接続されている。尚図示しないベース基
板のメタライズ層は、それぞれの信号端子が接続される
複数の信号電極と、複数の接地電極が共通に接続される
接地電極とに平面的に分離されている。またフィルタ3
0の両端の櫛歯状電極11と、フィルタ31の両端の櫛
歯状電極11とは、ストリップ配線13により電気的に
接続されている。
Each comb-shaped electrode 11 has an interleaved signal electrode and a ground electrode, and the signal electrode has an I / O pad (signal terminal) 102 for connection with an external circuit.
On the other hand, the GN pad (ground terminal) 102b is connected to the ground electrode. The metallization layer of the base substrate (not shown) is two-dimensionally separated into a plurality of signal electrodes to which the respective signal terminals are connected and a ground electrode to which the plurality of ground electrodes are commonly connected. Also filter 3
The comb-teeth electrodes 11 on both ends of 0 and the comb-teeth electrodes 11 on both ends of the filter 31 are electrically connected by strip wiring 13.

【0019】図1の電極端子配置の特徴は、従来櫛歯電
極11の外側に位置していた端子をすべて2つのフィル
タ30,31の段間位置に折り込み、特に、弾性表面波
装置の動作に重要な働きをする信号端子12aを弾性表
面波素子の中心部近傍に配置した点にある。図2に、図
1の弾性表面波素子をベース基板12上に搭載するとき
の電極端子及びこの電極端子と接合される金属バンプ1
6の位置を黒丸で示した。また比較のため、従来の弾性
表面波素子の電極端子及びこの電極端子と接合される金
属バンプ位置を四角の点線で示した。
The electrode terminal arrangement shown in FIG. 1 is characterized in that all the terminals which are conventionally located outside the comb-teeth electrode 11 are folded into the interstage positions of the two filters 30 and 31, and particularly in the operation of the surface acoustic wave device. The point is that the signal terminal 12a that plays an important role is arranged near the center of the surface acoustic wave element. FIG. 2 shows an electrode terminal when mounting the surface acoustic wave device of FIG. 1 on the base substrate 12, and a metal bump 1 bonded to the electrode terminal.
The position of 6 is indicated by a black circle. Further, for comparison, the electrode terminals of the conventional surface acoustic wave device and the positions of the metal bumps to be joined to the electrode terminals are shown by a dotted square line.

【0020】尚本実施例において、ベース基板にはアル
ミナセラミックを用い、その表面を銅でメタライズ処理
したものを用いた。また弾性表面波素子を構成する圧電
基板はタンタル酸リチウムを用い、その上に形成される
櫛歯状電極及び電極端子は全てAl合金からなるパター
ンを公知の薄膜工程で形成した。また素子の電極端子と
ベース基板のメタライズ層とを接合する金属バンプとし
て、金バンプを用いた。
In this example, an alumina ceramic was used for the base substrate, and its surface was metallized with copper. Further, the piezoelectric substrate constituting the surface acoustic wave element was made of lithium tantalate, and the comb-teeth-shaped electrodes and electrode terminals formed thereon were all formed of a pattern of Al alloy by a known thin film process. Further, gold bumps were used as metal bumps for joining the electrode terminals of the element and the metallized layer of the base substrate.

【0021】図3は弾性表面波素子をベース基板にマウ
ントした構造の断面図である。本実施例で用いる2mm
×2mm角のアルミナセラミック基板の場合、最外縁と
中心部で比較すると約20μmの反り(垂直方向のひず
み)が生じる。
FIG. 3 is a sectional view of a structure in which a surface acoustic wave device is mounted on a base substrate. 2 mm used in this embodiment
In the case of a 2 mm square alumina ceramic substrate, a warp (strain in the vertical direction) of about 20 μm occurs when comparing the outermost edge and the central portion.

【0022】このアルミナセラミック基板上に電極端子
の配置位置の異なる複数の弾性表面波素子のサンプルを
用い、接続不良の有無を観察した。
On this alumina ceramic substrate, samples of a plurality of surface acoustic wave devices having different positions of the electrode terminals were used, and the presence or absence of connection failure was observed.

【0023】その結果、まず素子の中央部に位置するバ
ンプには剥がれなどの接合不良は発生せず、端子とメタ
ライズ層とが正常に導通していた。このとき、バンプの
厚みは35μmであった。
As a result, first, the bump located in the central portion of the element did not have a defective joint such as peeling, and the terminal and the metallized layer were normally electrically connected. At this time, the thickness of the bump was 35 μm.

【0024】しかしながら、弾性表面波素子の外縁に近
い位置に電極端子を配置したサンプルでは、その位置の
電極端子がメタライズ層から剥がれるなどの接合不良が
検出された。
However, in the sample in which the electrode terminals were arranged at positions near the outer edge of the surface acoustic wave element, a bonding failure such as peeling of the electrode terminals at that position from the metallized layer was detected.

【0025】不良の発生した電極端子を観察したところ
ベース基板の中心点を基準とした反りの量が一定の値を
超えたところで接合不良が発生していることがわかっ
た。即ち、上記の正常に接合がなされた位置のバンプの
厚み(35μm)を基準として、基板の反りの量がこの
バンプの厚みから±15%を超えている位置に電極端子
があると、接合工程において金属バンプに十分圧力が印
加されず、メタライズ層に十分な接合がなされていない
ことがわかった。
Observation of the defective electrode terminals revealed that defective bonding occurred when the amount of warpage with respect to the center point of the base substrate exceeded a certain value. That is, if there is an electrode terminal at a position where the amount of warp of the substrate exceeds ± 15% from the thickness of the bump with reference to the thickness (35 μm) of the bump at the position where the bonding is normally performed, the bonding process It was found that sufficient pressure was not applied to the metal bumps, and the metallized layer was not sufficiently joined.

【0026】正常な接合が行われた場合、バンプの厚み
はほぼ基板の反りに応じた厚みになるため、金属バンプ
の厚みの観点から電極端子の位置を規定すると、接合後
のバンプの厚みが中心部分のバンプの厚み(35μm)
に対して15%増(40.2μm)となる位置に電極端
子を配置されることは許容されるが、これを超えて素子
の外縁に近づけて端子を配置すると、接合不良が生じる
こととなる。尚基板の反りの測定及びバンプの厚みの測
定には、測微計(UNION光器製、商品名Hisomet)を用い
た。
When the normal bonding is performed, the thickness of the bump is almost in accordance with the warp of the substrate. Therefore, if the position of the electrode terminal is defined from the viewpoint of the thickness of the metal bump, the thickness of the bump after bonding is Thickness of central bump (35 μm)
It is permissible to arrange the electrode terminals at a position where the increase is 15% (40.2 μm) with respect to the above, but if the terminals are arranged beyond this and close to the outer edge of the element, defective bonding will occur. . For the measurement of the warp of the substrate and the thickness of the bump, a micrometer (manufactured by UNION Optical Instruments, trade name Hisomet) was used.

【0027】図1に示す弾性表面波素子を用いた場合、
全ての信号端子及び接地端子上のバンプの厚みが中心部
の接地端子上のバンプの厚みを基準として15%以内の
範囲内であった。その結果、接合不良は発生せず、良好
な導通が得られた。
When the surface acoustic wave element shown in FIG. 1 is used,
The thickness of the bumps on all of the signal terminals and the ground terminals was within the range of 15% based on the thickness of the bump on the ground terminal at the center. As a result, no defective joining occurred and good conduction was obtained.

【0028】このような電極端子の配置構成は、ベース
基板22の垂直方向のひずみだけではなく、弾性表面波
素子とベース基板との熱膨張係数の相違に起因する水平
方向へのひずみにも対処することができる。図1の弾性
表面波素子10の圧電基板15にタンタル酸リチウム基
板を用い、ベース基板22にアルミナセラミック基板を
使用して、プロセス温度270℃でチップ上の各地点で
の水平方向のひずみ(膨張)を測定した。この結果、ひ
ずみ量が金属バンプ16の直径の1.5%を超えた地点
で、接続端子(不図示)からの金属バンプの剥離が始ま
ることがわかった。
Such arrangement of the electrode terminals can deal with not only the vertical strain of the base substrate 22 but also the horizontal strain due to the difference in thermal expansion coefficient between the surface acoustic wave element and the base substrate. can do. A lithium tantalate substrate is used as the piezoelectric substrate 15 of the surface acoustic wave device 10 of FIG. 1 and an alumina ceramic substrate is used as the base substrate 22, and a horizontal strain (expansion) at each point on the chip at a process temperature of 270 ° C. ) Was measured. As a result, it was found that peeling of the metal bump from the connection terminal (not shown) started at a point where the amount of strain exceeded 1.5% of the diameter of the metal bump 16.

【0029】図4は、金属バンプ16とベース基板22
との接合状態をしめす。金属バンプ16は、接合時の直
径が約120μmのディスク状の基部と、ここから凸状
態に膨れる上部を有する。フリップチップボンディング
前の状態では、基部の直径は約110μm、上部の膨ら
みは、よりテーパ状であり高さも高いが、圧着の結果、
押しつぶされて、最終的には、高さが35μm、直径が
120μmとなった。この状態で、ひずみ量、すなわ
ち、圧電基板の膨張とベース基板22の膨張の差が1.
8μmを超える地点で、金属バンプ16が剥離する。こ
のようなひずみは、チップの中心から離れるほど大きく
なる。
FIG. 4 shows the metal bump 16 and the base substrate 22.
Shows the state of joining with. The metal bump 16 has a disk-shaped base portion having a diameter of about 120 μm at the time of joining, and an upper portion that bulges in a convex state from here. In the state before flip chip bonding, the diameter of the base is about 110 μm, and the bulge at the top is more tapered and has a higher height, but as a result of crimping,
It was crushed and finally had a height of 35 μm and a diameter of 120 μm. In this state, the amount of strain, that is, the difference between the expansion of the piezoelectric substrate and the expansion of the base substrate 22 is 1.
The metal bump 16 peels off at a point exceeding 8 μm. Such strain increases as the distance from the center of the chip increases.

【0030】金属バンプの厚みの偏差が±15%以内と
なる位置に電極端子を配置した場合、その端子位置にお
いては素子の膨張とベース基板の膨張の差は上記の値を
下回っており、良好な接合が得られていることが確認で
きた。特に図1に示すバンプバッド12の配置構成によ
れば、チップ10上のすべてのバンプパッドが、水平方
向へのひずみ量が上述した範囲内にある位置に設けられ
るので、横方向へのバンプの外れも全くなく、動作の信
頼性がいっそう向上する。
When the electrode terminal is arranged at a position where the deviation of the thickness of the metal bump is within ± 15%, the difference between the expansion of the element and the expansion of the base substrate is less than the above value at the terminal position, which is good. It was confirmed that a good bond was obtained. In particular, according to the arrangement of the bump pads 12 shown in FIG. 1, since all the bump pads on the chip 10 are provided at the positions where the amount of strain in the horizontal direction is within the range described above, the bumps are removed in the lateral direction. The reliability of the operation is further improved.

【0031】図5は、図1の素子構造の変形例を示す。
図5(a)の素子構造が図1の素子構造と相違する点
は、図1がフィルタ30とフィルタ31との接続を圧電
基板上のストリップ配線によって行っているのに対し、
図5(a)の構造ではフィルタ30,31の両端の櫛歯
状電極11に接続された電極端子17を別に設け、この
電極端子17同士をベース基板上のメタライズ層により
接続している点である。この場合においても、端子17
の形成位置が、端子17上の金属バンプの厚みが中心部
の端子12a上の金属バンプの厚みに対し15%以内と
なる位置であれば良好な接合を得ることができる。
FIG. 5 shows a modification of the element structure of FIG.
The element structure of FIG. 5A differs from the element structure of FIG. 1 in that the filter 30 and the filter 31 are connected by strip wiring on the piezoelectric substrate in FIG.
In the structure of FIG. 5A, the electrode terminals 17 connected to the comb-shaped electrodes 11 on both ends of the filters 30 and 31 are separately provided, and the electrode terminals 17 are connected to each other by the metallized layer on the base substrate. is there. Even in this case, the terminal 17
If the formation position of is a position where the thickness of the metal bump on the terminal 17 is within 15% of the thickness of the metal bump on the terminal 12a at the central portion, good bonding can be obtained.

【0032】図5(b)は、フィルタ30、31の接続
を行うストリップ配線13を、素子の外周に沿って引き
回した構成を示す。この構成によれば、電極端子が密集
する素子中央部にストリップ配線を配する必要がなくな
り、素子の外周部にはベース基板との接合部を有さない
ので、櫛歯状電極や電極端子の配置により自由度が生じ
る。
FIG. 5B shows a structure in which the strip wiring 13 for connecting the filters 30 and 31 is laid out along the outer circumference of the element. With this configuration, it is not necessary to arrange strip wiring in the central portion of the element where the electrode terminals are densely arranged, and since there is no joint portion with the base substrate in the outer peripheral portion of the element, the comb-teeth-shaped electrode and the electrode terminal The arrangement gives a degree of freedom.

【0033】[0033]

【発明の効果】本発明によれば、フリップチップボンデ
ィングにより装置を小型化し、かつ素子と外部端子との
接続の信頼性の高い弾性表面波装置を得ることが出来
る。
According to the present invention, it is possible to obtain a surface acoustic wave device which is miniaturized by flip chip bonding and has a highly reliable connection between an element and an external terminal.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の1実施形態に係る弾性表面波チップの
素子面の配置構成を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a layout of element surfaces of a surface acoustic wave chip according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の弾性表面波チップを、パッケージ基板に
実装した弾性表面波装置の図である。
2 is a diagram of a surface acoustic wave device in which the surface acoustic wave chip of FIG. 1 is mounted on a package substrate.

【図3】図1のA−A断面図であり、パッケージ基板の
たわみと、実装される弾性表面波チップとの接合部を示
す図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 1, showing a bending portion of a package substrate and a joint portion of a surface acoustic wave chip to be mounted.

【図4】図3における接合状態での金属バンプの拡大図
である。
FIG. 4 is an enlarged view of the metal bump in the joined state in FIG.

【図5】図1に示す弾性表面波チップの変形例を示す図
である。
5 is a diagram showing a modification of the surface acoustic wave chip shown in FIG.

【図6】従来の弾性表面波チップのバンプパッドの配置
構成を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing an arrangement configuration of bump pads of a conventional surface acoustic wave chip.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 弾性表面波素子 11 櫛歯状電極 12 電極端子 13 ストリップ配線 15 圧電基板 16 金属バンプ 17 ストリップ配線 22 ベース基板 35 グレーティング反射器 10 Surface acoustic wave device 11 Comb-shaped electrode 12 electrode terminals 13 Strip wiring 15 Piezoelectric substrate 16 metal bumps 17 Strip wiring 22 Base substrate 35 grating reflector

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 圧電基板上に複数の櫛歯状電極を前記圧
電基板の弾性表面波主伝播方向と異なる方向に配列した
弾性表面波素子において、 前記複数の櫛歯状電極に接続された信号端子及び接地端
子のうち、少なくとも信号端子が前記複数の櫛歯状電極
の段間位置に配置されていることを特徴とする弾性表面
波素子。
1. A surface acoustic wave device in which a plurality of comb-teeth-shaped electrodes are arranged on a piezoelectric substrate in a direction different from a main surface acoustic wave propagation direction of the piezoelectric substrate, and a signal connected to the plurality of comb-teeth-shaped electrodes. At least a signal terminal of a terminal and a ground terminal is arranged at a position between the steps of the plurality of comb-teeth-shaped electrodes.
【請求項2】 前記信号端子及び接地端子が、ともに前
記複数の櫛歯状電極の段間位置に配置されていることを
特徴とする請求項1記載の弾性表面波素子。
2. The surface acoustic wave element according to claim 1, wherein both the signal terminal and the ground terminal are arranged at the interstage positions of the plurality of comb-teeth-shaped electrodes.
【請求項3】 前記複数の櫛歯状電極はカスケード接続
されていることを特徴とする請求項1記載の弾性表面波
素子。
3. The surface acoustic wave device according to claim 1, wherein the plurality of comb-teeth-shaped electrodes are cascade-connected.
【請求項4】 圧電基板上に形成された櫛歯状電極と、
前記櫛歯状電極の信号電極に接続された信号端子及び前
記櫛歯状電極の接地電極に接続された接地端子を有する
弾性表面波素子と、 前記信号端子に金属バンプを介して接続される信号電極
及び前記接地端子に金属バンプを介して接続される接地
電極が一主面にメタライズされたベース基板とを具備
し、 前記信号端子を、当該信号端子に接続される金属バンプ
の厚さが他の金属バンプのうち最小厚みを有する金属バ
ンプの厚さを基準として±15%以内となる位置に配置
したことを特徴とする弾性表面波装置。
4. A comb-shaped electrode formed on a piezoelectric substrate,
A surface acoustic wave device having a signal terminal connected to the signal electrode of the comb-shaped electrode and a ground terminal connected to the ground electrode of the comb-shaped electrode; and a signal connected to the signal terminal via a metal bump. An electrode and a base substrate metallized on one main surface with a ground electrode connected to the ground terminal via a metal bump, wherein the signal terminal is connected to the signal terminal with a different thickness of the metal bump. The surface acoustic wave device is arranged at a position within ± 15% based on the thickness of the metal bump having the minimum thickness among the metal bumps.
【請求項5】 前記金属バンプは、金バンプであること
を特徴とする請求項4記載の弾性表面波装置。
5. The surface acoustic wave device according to claim 4, wherein the metal bump is a gold bump.
【請求項6】 前記ベース基板はセラミック材料からな
ることを特徴とする請求項5記載の弾性表面波装置。
6. The surface acoustic wave device according to claim 5, wherein the base substrate is made of a ceramic material.
【請求項7】 前記セラミック材料はアルミナセラミッ
クであることを特徴とする請求項6記載の弾性表面波装
置。
7. The surface acoustic wave device according to claim 6, wherein the ceramic material is an alumina ceramic.
【請求項8】 前記圧電基板はタンタル酸リチウムから
なることを特徴とする請求項4記載の弾性表面波装置。
8. The surface acoustic wave device according to claim 4, wherein the piezoelectric substrate is made of lithium tantalate.
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