JP2003030883A - Optical pickup and method of manufacturing the same - Google Patents
Optical pickup and method of manufacturing the sameInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、光情報記録媒体に
対して情報を記録・再生するための光ピックアップ、特
に集積化された小型の光ピックアップおよびその製造方
法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical pickup for recording / reproducing information on / from an optical information recording medium, and more particularly to a small integrated optical pickup and a method for manufacturing the same.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、光ピックアップは小型化と低コス
ト化の技術が重要視されており、複数の素子を集積化し
た光ピックアップの開発が行なわれている。2. Description of the Related Art In recent years, a technique for reducing the size and cost of an optical pickup has been emphasized, and an optical pickup in which a plurality of elements are integrated has been developed.
【0003】特開平6−5990号は集積化により小型
化された光ピックアップのひとつを開示している。その
概略的な構成を図4に示す。Japanese Unexamined Patent Publication No. 6-5990 discloses one of optical pickups miniaturized by integration. The schematic structure is shown in FIG.
【0004】図4において、半導体レーザー光源702
から発せられたレーザー光ビームは回折格子704を透
過し、集光レンズ(図示しない)により記録媒体(図示
しない)に集光される。In FIG. 4, a semiconductor laser light source 702
The laser light beam emitted from the laser beam passes through the diffraction grating 704 and is focused on a recording medium (not shown) by a condenser lens (not shown).
【0005】記録媒体で反射された情報により変調され
た光ビームは、回折格子704によって回折されると共
に二本に分割される。分割された光ビームはそれぞれ基
板710上の受光素子706,708に入射し、その出
力信号はフォーカスエラー信号およびトラッキングエラ
ー信号として検出される。The light beam modulated by the information reflected by the recording medium is diffracted by the diffraction grating 704 and split into two. The divided light beams respectively enter the light receiving elements 706 and 708 on the substrate 710, and the output signals thereof are detected as a focus error signal and a tracking error signal.
【0006】受光素子706,708の形成された基板
710は金属パッケージの支持基台(ブロック部)71
2の上にダイボンドされ、レーザー光源702も基台7
12の側面上に直接ダイボンドされており、キャップ7
14を溶接することにより小型のパッケージに封止され
ている。The substrate 710 on which the light receiving elements 706 and 708 are formed is a support base (block portion) 71 of a metal package.
2 is die-bonded onto the laser light source 702 and the base 7
Die-bonded directly on the side of 12 and cap 7
It is sealed in a small package by welding 14.
【0007】また、特開平6−76340号は上記の光
ピックアップをさらに発展させた光ピックアップを開示
している。その概略的な構成を図5に示す。Further, Japanese Patent Laid-Open No. 6-76340 discloses an optical pickup which is a further development of the above-mentioned optical pickup. The schematic configuration is shown in FIG.
【0008】図5に示されるように、セラミック基台8
16に受光素子808,810を有する受光素子基板8
12が実装されており、受光素子基板812にエッチン
グにより形成された凹部にレーザーダイオード(以下L
D)802が実装されている。セラミック基台816に
はカバー818が設けられ、カバー818の上にはホロ
グラム回折素子806を有する透明部材が取り付けられ
ており、これによりLD802や受光素子808,81
0が密閉されたコンパクトな一体型のピックアップとな
っている。As shown in FIG. 5, the ceramic base 8
Light receiving element substrate 8 having light receiving elements 808 and 810 in 16
12 is mounted, and a laser diode (hereinafter referred to as L
D) 802 is installed. A cover 818 is provided on the ceramic base 816, and a transparent member having a hologram diffraction element 806 is mounted on the cover 818, whereby the LD 802 and the light receiving elements 808, 81 are provided.
It is a compact integrated pickup with 0 sealed.
【0009】LD802から発せられたレーザー光ビー
ムは受光素子に設けられた45度のミラー面804で上
方に偏向され、ホログラム回折素子806を透過して集
光レンズ(図示せず)により情報記録媒体(図示せず)
に集光される。A laser light beam emitted from the LD 802 is deflected upward by a 45 ° mirror surface 804 provided on a light receiving element, passes through a hologram diffractive element 806, and is condensed by an information recording medium by a condenser lens (not shown). (Not shown)
Is focused on.
【0010】情報記録媒体で反射された光ビームはホロ
グラム回折素子806により回折されると共に二本に分
割され、受光素子基板812上の受光素子808,81
0に入射し、その出力信号はフォーカスエラー信号およ
びトラッキングエラー信号等の誤差信号として検出され
る。The light beam reflected by the information recording medium is diffracted by the hologram diffraction element 806 and split into two beams, and the light receiving elements 808 and 81 on the light receiving element substrate 812.
It is incident on 0, and its output signal is detected as an error signal such as a focus error signal and a tracking error signal.
【0011】[0011]
【発明が解決しようとする課題】図4の光ピックアップ
では、LD702が金属の基台712にダイボンドされ
ている。ダイボンドとしては、半田による接合か、金S
i共晶接合が一般的であり、特にLDは実装面と基台の
間で電気的な接続が必要なため、これらの手法が用いら
れる。In the optical pickup of FIG. 4, the LD 702 is die-bonded to the metal base 712. For die bonding, soldering or gold S
Since i-eutectic bonding is generally used, and in particular, the LD requires electrical connection between the mounting surface and the base, these methods are used.
【0012】つまり、LDの固定は、200℃〜300
℃程度に加熱して半田を溶解させ冷却して固体化するこ
とによって行なわれるか、基台の金表面とLDのSiと
の間を接触後300℃〜350℃程度に加熱して、必要
ならば更に超音波を加えて、共晶合金を形成して固着さ
せることによって行なわれる。That is, the LD is fixed at 200 ° C to 300 ° C.
It is performed by heating to about ℃ to melt the solder and cooling to solidify it, or after contact between the gold surface of the base and the Si of the LD is heated to about 300 to 350 ℃, if necessary. For example, ultrasonic waves are further applied to form and bond the eutectic alloy.
【0013】従って、固定前にLDが正しく位置決めさ
れていても、高温の加熱による部材の膨張のために固定
作業中に位置ずれが生じるため、LDを正確な位置に固
定することが難しい。また、加熱中に画像処理などによ
りLDや受光素子の位置を検出して位置決めする試みも
考えられる。しかし、検出光学系と部材の間の空気も熱
せられており、このために得られる画像が揺らいでしま
うため、正確な位置検出を行なうことは難しい。Therefore, even if the LD is correctly positioned before being fixed, it is difficult to fix the LD to a correct position because the expansion of the member caused by heating at a high temperature causes a displacement during the fixing work. It is also possible to try to detect and position the LD and the light receiving element by image processing during heating. However, since the air between the detection optical system and the member is also heated, and the resulting image fluctuates, it is difficult to perform accurate position detection.
【0014】特に、ピックアップの更なる小型化と媒体
の記録密度の向上に伴い、要求される実装精度はより高
くなり、特にLDと受光素子に要求される相対位置精度
は極めて高くなるため、これまでの手法はこのような要
求に対応できない。Particularly, as the pickup is further downsized and the recording density of the medium is improved, the required mounting accuracy becomes higher, and especially the relative positional accuracy required between the LD and the light receiving element becomes extremely high. The above methods cannot meet such requirements.
【0015】図5の光ピックアップにおいても同様で、
受光素子基板812に直接LD802を実装しているた
め、LDの実装精度が低いと大量の不良を発生すること
になるが、半田のような高温のプロセスではLDの実装
精度には限界があり、高密度な記録再生には対応が難し
い。The same applies to the optical pickup shown in FIG.
Since the LD 802 is mounted directly on the light receiving element substrate 812, a large amount of defects will occur if the LD mounting accuracy is low, but there is a limit to the LD mounting accuracy in a high temperature process such as soldering. It is difficult to handle high-density recording / playback.
【0016】さらに、LDは、放熱性・熱伝導性の悪い
Si製の受光素子基板に実装される。一方、LDで発生
した熱は、パッケージとなるセラミック基板に効率良く
逃される必要がある。このため、受光素子基板をセラミ
ック基板に接着剤等の熱抵抗の大きい材料で実装するこ
とは不適であり、通常、受光素子基板はセラミック基板
に半田や金Si共晶結合で実装される。その結果、LD
は度重なる熱ストレスを受ける。過度の熱ストレスはL
Dの品質を低下させてしまう。Further, the LD is mounted on a light receiving element substrate made of Si, which has poor heat dissipation and thermal conductivity. On the other hand, the heat generated by the LD needs to be efficiently dissipated to the ceramic substrate that will be the package. For this reason, it is not suitable to mount the light receiving element substrate on the ceramic substrate with a material having a high thermal resistance such as an adhesive. Usually, the light receiving element substrate is mounted on the ceramic substrate by soldering or gold Si eutectic bonding. As a result, LD
Receives repeated heat stress. Excessive heat stress is L
The quality of D is deteriorated.
【0017】このように、これまでの集積型光ピックア
ップでは、その作製の際に、LDと受光素子基板を高い
位置精度で固定することが難しく、光ピックアップの更
なる小型化や情報記録媒体の記録密度の向上に対応する
ことが難しい。また、作製の際に、LDが過度の熱スト
レスを受け易く、品質の安定しているものが得られ難
い。As described above, in the conventional integrated optical pickup, it is difficult to fix the LD and the light receiving element substrate with high positional accuracy at the time of manufacturing the optical pickup, so that the optical pickup can be further downsized and the information recording medium can be manufactured. It is difficult to deal with the improvement of recording density. In addition, the LD is likely to be subjected to excessive heat stress at the time of manufacture, and it is difficult to obtain an LD having stable quality.
【0018】本発明の目的は、実装精度が高く、品質の
安定している小型の光ピックアップを提供することであ
る。An object of the present invention is to provide a small-sized optical pickup having high mounting accuracy and stable quality.
【0019】[0019]
【課題を解決するための手段】本発明はひとつには光ピ
ックアップであり、この光ピックアップは、記録媒体を
照明する照明光ビームを発するレーザー光源を含む光源
ユニットと、記録媒体で反射された反射光ビームを回折
により複数の光ビームに分割して照明光ビームから分離
するための回折格子と、回折格子で分割された光ビーム
を検出するための複数の受光素子と、光源ユニットと受
光素子を保持する基台とを備えており、少なくとも光源
ユニットと受光素子と基台とが一体化されていて、複数
の受光素子はほぼ同一平面上に位置するとともにレーザ
ー光源の近くに位置しており、基台は紫外線透過性を有
しており、紫外線がこれを透過して受光素子との接触部
分および光源ユニットとの接触部分へ照射されるのを可
能にしており、受光素子は紫外線硬化型接着剤によって
基台に固定されており、光源ユニットは紫外線硬化型接
着剤によって基台に固定されている。The present invention is, in part, an optical pickup, which comprises a light source unit including a laser light source for emitting an illumination light beam for illuminating a recording medium, and a reflection reflected by the recording medium. A diffraction grating for dividing the light beam into a plurality of light beams by diffraction and separating the light beam from the illumination light beam, a plurality of light receiving elements for detecting the light beam divided by the diffraction grating, a light source unit and a light receiving element. It has a base for holding, at least the light source unit, the light receiving element and the base are integrated, the plurality of light receiving elements are located on substantially the same plane and near the laser light source, The pedestal is transparent to ultraviolet light, and allows ultraviolet light to pass through and irradiate the contact portion with the light receiving element and the contact portion with the light source unit. Element is fixed to the base by a UV-curing adhesive, the light source unit is fixed to the base by a UV-curing adhesive.
【0020】本発明はひとつにはこのような光ピックア
ップの製造方法であり、光源ユニットを紫外線硬化型接
着剤を介して基台に接触させて保持する工程と、受光素
子を紫外線硬化型接着剤を介して基台に接触させて保持
する工程と、紫外線を基台を通して紫外線硬化型接着剤
に照射して紫外線硬化型接着剤を硬化させる工程とを有
している。One aspect of the present invention is a method for manufacturing such an optical pickup, which comprises a step of holding a light source unit in contact with a base via an ultraviolet curing adhesive and holding the light receiving element with the ultraviolet curing adhesive. And a step of contacting and holding the base through the base, and a step of irradiating the ultraviolet curable adhesive through the base to cure the ultraviolet curable adhesive.
【0021】本発明の別の光ピックアップは、記録媒体
を照明する照明光ビームを発するレーザー光源を含む光
源ユニットと、記録媒体で反射された反射光ビームを回
折により複数の光ビームに分割して照明光ビームから分
離するための回折格子が形成されている透明平板と、回
折格子で分割された光ビームを検出するための複数の受
光素子が形成されている受光素子基板と、光源ユニット
と受光素子基板を保持する基台とを備えており、光源ユ
ニットと受光素子基板と基台とが一体化されていて、複
数の受光素子はほぼ同一平面上に位置するとともにレー
ザー光源の近くに位置しており、さらに、透明平板が受
光素子基板に固定されており、基台は、受光素子基板が
取り付けられる基板保持部と、光源ユニットが取り付け
られる光源保持部とを有しており、基板保持部は紫外線
透過性を有しており、紫外線がこれを透過して受光素子
基板との接触部分へ照射されるのを可能にしており、光
源保持部はその内側の空間内に光源ユニットを摺動可能
に収容し得る貫通孔を有しており、また光源保持部は紫
外線透過性を有しており、紫外線がこれを透過して光源
ユニットとの接触部分へ照射されるのを可能にしてお
り、受光素子基板は紫外線硬化型接着剤によって基板保
持部に固定されており、光源ユニットは紫外線硬化型接
着剤によって光源保持部に固定されている。Another optical pickup of the present invention comprises a light source unit including a laser light source for emitting an illumination light beam for illuminating a recording medium, and a reflection light beam reflected by the recording medium is divided into a plurality of light beams by diffraction. A transparent flat plate on which a diffraction grating for separating the illumination light beam is formed, a light receiving element substrate on which a plurality of light receiving elements for detecting the light beam divided by the diffraction grating are formed, a light source unit and light receiving The light source unit, the light receiving element substrate, and the base are integrated, and the plurality of light receiving elements are located on substantially the same plane and near the laser light source. Further, a transparent flat plate is fixed to the light receiving element substrate, and the base is a substrate holding portion to which the light receiving element substrate is attached and a light source holding portion to which the light source unit is attached. The substrate holding portion has ultraviolet transparency, and it is possible for ultraviolet rays to pass through this and be radiated to the contact portion with the light receiving element substrate. Has a through hole capable of slidably accommodating the light source unit, and the light source holding portion has ultraviolet transparency, and ultraviolet rays pass through this to reach the contact portion with the light source unit. The light receiving element substrate is fixed to the substrate holding portion by an ultraviolet curing adhesive and the light source unit is fixed to the light source holding portion by an ultraviolet curing adhesive.
【0022】本発明はまたこのような光ピックアップの
製造方法でもあり、光源ユニットを紫外線硬化型接着剤
を介して光源保持部の貫通孔に挿入する工程と、光源ユ
ニットの光軸に沿った位置を調整する工程と、紫外線を
光源保持部を通して紫外線硬化型接着剤に照射して紫外
線硬化型接着剤を硬化させる工程と、受光素子基板を紫
外線硬化型接着剤を介して基板保持部に載置し位置決め
する工程と、紫外線を基板保持部を通して紫外線硬化型
接着剤に照射して紫外線硬化型接着剤を硬化させる工程
とを有している。The present invention is also a method of manufacturing such an optical pickup, in which the step of inserting the light source unit into the through hole of the light source holding portion via the ultraviolet curable adhesive and the position along the optical axis of the light source unit. And the step of irradiating the ultraviolet curable adhesive with ultraviolet rays through the light source holder to cure the ultraviolet curable adhesive, and placing the light receiving element substrate on the substrate holder via the ultraviolet curable adhesive. And the step of positioning, and the step of irradiating the ultraviolet curable adhesive with ultraviolet rays through the substrate holding portion to cure the ultraviolet curable adhesive.
【0023】[0023]
【発明の実施の形態】以下、この発明の種々の実施の形
態を添付の図面を参照しながら詳細に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Various embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings.
【0024】第一実施形態図1に示されるように、本実
施形態の集積型光ピックアップは、記録媒体を照明する
照明光ビームを発するレーザー光源112を含む光源ユ
ニット110と、記録媒体で反射された反射光ビームを
回折により複数の光ビームに分割して照明光ビームから
分離するための回折格子142と、回折格子142で分
割された光ビームを検出するための複数の受光素子15
2,154と、光源ユニット110と受光素子152,
154を保持する基台である基板132とを備えてい
る。First Embodiment As shown in FIG. 1, the integrated optical pickup of this embodiment has a light source unit 110 including a laser light source 112 which emits an illumination light beam for illuminating a recording medium, and a reflection on the recording medium. A diffraction grating 142 for dividing the reflected light beam into a plurality of light beams by diffraction and separating it from the illumination light beam, and a plurality of light receiving elements 15 for detecting the light beam divided by the diffraction grating 142.
2, 154, the light source unit 110 and the light receiving element 152,
And a substrate 132 which is a base for holding 154.
【0025】光源ユニット110は、レーザー光源11
2を保持する保持部材114を有している。保持部材1
14は、円板状あるいはフランジ状の保持部材本体11
6と、そこから突出している導電性の凸部118とを有
している。レーザー光源112は凸部118に取り付け
られており、例えば半田によって実装されている。The light source unit 110 is a laser light source 11
It has a holding member 114 for holding 2. Holding member 1
Reference numeral 14 denotes a disc-shaped or flange-shaped holding member main body 11
6 and a conductive protrusion 118 protruding therefrom. The laser light source 112 is attached to the convex portion 118, and is mounted by, for example, solder.
【0026】光源ユニット110は、さらに、保持部材
本体116を貫通して延びているピン120,122を
有しており、これらのピン120,122はそれぞれ例
えば金ワイヤー124,126によってレーザー光源1
12と凸部118に電気的に接続されている。光源ユニ
ット110は、より好ましくは、レーザー光源112の
光量をモニターするための受光素子が保持部材114に
設けられているとよい。The light source unit 110 further has pins 120 and 122 extending through the holding member main body 116, and these pins 120 and 122 are, for example, gold wires 124 and 126, respectively, for the laser light source 1.
12 and the convex portion 118 are electrically connected. In the light source unit 110, more preferably, the holding member 114 may be provided with a light receiving element for monitoring the light amount of the laser light source 112.
【0027】少なくとも光源ユニット110と受光素子
152,154と基板132は一体化されている。受光
素子152,154は基板132の上面に取り付けられ
ており、光源ユニット110は、その保持部材114の
保持部材本体116が基板132の下面に取り付けられ
ている。この一体化された構造体において、二つの受光
素子152,154はほぼ同一平面上に位置すると共に
レーザー光源112の近くに位置している。At least the light source unit 110, the light receiving elements 152 and 154, and the substrate 132 are integrated. The light receiving elements 152 and 154 are attached to the upper surface of the substrate 132, and the light source unit 110 has the holding member main body 116 of the holding member 114 attached to the lower surface of the substrate 132. In this integrated structure, the two light receiving elements 152 and 154 are located on substantially the same plane and near the laser light source 112.
【0028】基板132は紫外線透過性を有しており、
紫外線がこれを透過して光源ユニット110の保持部材
本体116との接触部分および受光素子152,154
との接触部分へ照射されるのを可能にしている。光源ユ
ニット110の保持部材本体116は紫外線硬化型接着
剤162によって基板132の下面に固定され、受光素
子152,154は紫外線硬化型接着剤164によって
基板132の上面に固定されている。基板132は、図
示されていないが、受光素子152,154からの出力
を外部に取り出すための電極等を有している。The substrate 132 is transparent to ultraviolet rays,
Ultraviolet rays are transmitted through the light source unit 110 to contact the holding member body 116 and the light receiving elements 152 and 154.
It is possible to irradiate the contact area with. The holding member main body 116 of the light source unit 110 is fixed to the lower surface of the substrate 132 by the ultraviolet curable adhesive 162, and the light receiving elements 152 and 154 are fixed to the upper surface of the substrate 132 by the ultraviolet curable adhesive 164. Although not shown, the substrate 132 has electrodes and the like for taking out the outputs from the light receiving elements 152 and 154 to the outside.
【0029】基板132は、紫外線透過性を有する無機
材料で構成されている。このような無機材料としては、
例えば、Al2O3(アルミナ)、SiO2(シリカ)、
MgO、Ta2O3、ZrO2など、またそれらの混合物
(例えばセラミックス)などがあげられる。基板132
は紫外線を吸収したり反射したりする染料や顔料を多量
に含んでいないことが望まれる。好適な基板132は、
1mmの厚さにおいて、1%以上の紫外線透過率と10
%以下の可視光透過率を有している。例えば、基板13
2は、厚さ1mmでアルミナ96%の板材である。The substrate 132 is made of an inorganic material having ultraviolet ray transparency. As such an inorganic material,
For example, Al 2 O 3 (alumina), SiO 2 (silica),
Examples thereof include MgO, Ta 2 O 3 , ZrO 2 and the like, and mixtures thereof (for example, ceramics). Board 132
It is desirable that the dye does not contain a large amount of dyes or pigments that absorb or reflect ultraviolet rays. A suitable substrate 132 is
Ultraviolet transmittance of 1% or more and 10 at a thickness of 1 mm
It has a visible light transmittance of not more than%. For example, the substrate 13
2 is a plate material having a thickness of 1 mm and made of 96% alumina.
【0030】なお、ガラス平板などの材料は、レーザー
光の透過率が高すぎるため、外部からの光が入り込み迷
光となって信号検出を阻害する恐れがあるため、基板1
32の材料には適していない。Since a material such as a glass flat plate has a too high transmittance of laser light, there is a possibility that light from the outside may enter and become stray light to hinder signal detection.
Not suitable for 32 materials.
【0031】紫外線硬化型接着剤162,164は紫外
線硬化性を有しているが、好適な紫外線硬化型接着剤1
62,164は、単に紫外線硬化性を有しているだけで
なく、熱硬化や嫌気性硬化や湿気硬化などの他の硬化反
応も示す接着剤であるとよい。例えば、紫外線・嫌気性
併用硬化型や紫外線・熱併用硬化型や紫外線湿気硬化型
や次世代アクリル性硬化型(UVSGA)などの接着剤
が適用されてもよい。このような接着剤に対しては、紫
外線硬化性のみを有する接着剤と比べて、紫外線の照射
時間が短縮され得る。The ultraviolet curable adhesives 162 and 164 have ultraviolet curability, but a suitable ultraviolet curable adhesive 1
The adhesives 62 and 164 may be adhesives that not only have ultraviolet curability but also exhibit other curing reactions such as heat curing, anaerobic curing, and moisture curing. For example, an adhesive such as an ultraviolet / anaerobic combined curing type, an ultraviolet / heat combined curing type, an ultraviolet moisture curing type, or a next-generation acrylic curing type (UVSGA) may be applied. For such an adhesive, the irradiation time of ultraviolet rays can be shortened as compared with an adhesive having only ultraviolet curability.
【0032】この光ピックアップは次のようにして組み
立てられる。This optical pickup is assembled as follows.
【0033】まず、保持部材114のフランジ状の保持
部材本体116の上面に紫外線硬化型接着剤162を塗
布し、保持部材本体116の上面と基板132の下面を
合わせる。つまり、保持部材本体116を紫外線硬化型
接着剤162を介して基板132に接触させて保持す
る。続いて、紫外線を基板132の上方から基板132
を通して紫外線硬化型接着剤162に照射して紫外線硬
化型接着剤162を硬化させる。First, the ultraviolet curing adhesive 162 is applied to the upper surface of the flange-shaped holding member main body 116 of the holding member 114, and the upper surface of the holding member main body 116 and the lower surface of the substrate 132 are aligned. That is, the holding member main body 116 is held in contact with the substrate 132 via the ultraviolet curable adhesive 162. Then, ultraviolet rays are applied from above the substrate 132 to the substrate 132.
The UV curable adhesive 162 is irradiated through the UV curable adhesive 162 to cure the UV curable adhesive 162.
【0034】次に、基板132の上面に紫外線硬化型接
着剤164を塗布し、受光素子152,154を基板1
32の上面に載置する。つまり、受光素子152,15
4を紫外線硬化型接着剤164を介して基板132に接
触させて保持する。さらに、レーザー光源112に対す
る受光素子152,154の位置を調整する。このと
き、部材と環境は常温であり、画像処理などによる位置
決めが有効である。続いて、紫外線を基板132の下方
より基板132を通して紫外線硬化型接着剤164に照
射して紫外線硬化型接着剤164を硬化させる。Next, an ultraviolet curable adhesive 164 is applied to the upper surface of the substrate 132 to attach the light receiving elements 152 and 154 to the substrate 1.
Place it on the upper surface of 32. That is, the light receiving elements 152, 15
4 is held in contact with the substrate 132 via the ultraviolet curable adhesive 164. Further, the positions of the light receiving elements 152 and 154 with respect to the laser light source 112 are adjusted. At this time, the members and environment are at room temperature, and positioning by image processing or the like is effective. Subsequently, the ultraviolet curable adhesive 164 is irradiated with ultraviolet rays from below the substrate 132 through the substrate 132 to cure the ultraviolet curable adhesive 164.
【0035】その後、受光素子152,154と基板1
32の電極を電気的に接続し、窓または穴付きキャップ
などを介して回折格子142を取り付けてピックアップ
が完成される。After that, the light receiving elements 152 and 154 and the substrate 1
The 32 electrodes are electrically connected, and the diffraction grating 142 is attached through a window or a cap with a hole to complete the pickup.
【0036】この光ピックアップは簡単に言えば次のよ
うに動作する。This optical pickup operates simply as follows.
【0037】レーザー光源112から発せられる光ビー
ムは、回折格子142を透過して光ピックアップの外部
に射出される。図には示されていないが、光ピックアッ
プから射出された光ビームは、コリメートレンズにより
平行光ビームに変えられ、偏向ミラーで偏向され、対物
レンズにより集光され、情報記録媒体を照明する。The light beam emitted from the laser light source 112 passes through the diffraction grating 142 and is emitted to the outside of the optical pickup. Although not shown in the figure, the light beam emitted from the optical pickup is converted into a parallel light beam by the collimator lens, is deflected by the deflection mirror, is condensed by the objective lens, and illuminates the information recording medium.
【0038】情報記録媒体で反射された情報を含んでい
る光ビームは、対物レンズと偏向ミラーとコリメートレ
ンズを経て回折格子142に到達し、回折格子142に
よる回折作用により二本の光ビームすなわち+1次光ビ
ームと−1次光ビームとに分割される。+1次光ビーム
と−1次光ビームはそれぞれ受光素子152,154に
入射する。The light beam containing the information reflected by the information recording medium reaches the diffraction grating 142 via the objective lens, the deflection mirror and the collimating lens, and is diffracted by the diffraction grating 142 to generate two light beams, that is, +1. It is divided into a secondary light beam and a −1st order light beam. The + 1st-order light beam and the -1st-order light beam are incident on the light receiving elements 152 and 154, respectively.
【0039】受光素子152,154は入射する光ビー
ムの光量に応じた電気信号を出力し、その電気信号は外
部の回路によって処理され、これに基づいて情報再生信
号やフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号が
検出される。The light receiving elements 152 and 154 output an electric signal according to the light quantity of the incident light beam, and the electric signal is processed by an external circuit, and based on this, an information reproduction signal, a focus error signal, and a tracking error signal. Is detected.
【0040】本実施形態の光ピックアップでは、紫外線
硬化型接着剤によって光源ユニット110と受光素子1
52,154が基板132に固定されるので、実装時に
これらの部材が高温に加熱されることはなく、従ってこ
れらの部材の間に熱膨張による位置ずれは発生しない。
従って、光源ユニット110と受光素子152,154
を基板132に高い位置精度で実装し得る。In the optical pickup of this embodiment, the light source unit 110 and the light receiving element 1 are made of an ultraviolet curable adhesive.
Since the members 52 and 154 are fixed to the substrate 132, these members are not heated to a high temperature during mounting, and therefore, positional displacement due to thermal expansion does not occur between these members.
Therefore, the light source unit 110 and the light receiving elements 152 and 154
Can be mounted on the substrate 132 with high positional accuracy.
【0041】また、熱ストレスに弱いレーザー光源11
2が熱ストレスを受け難いので、レーザー光源112が
実装時に損傷をほとんど受けていない安定した品質の光
ピックアップが得られる。Further, the laser light source 11 which is weak against heat stress
Since 2 is hard to be subjected to heat stress, an optical pickup of stable quality in which the laser light source 112 is hardly damaged during mounting can be obtained.
【0042】また、基板132が無機材料から成り、加
熱による膨張が少ないので、本実施形態の光ピックアッ
プは、広い温度範囲わたり安定に動作し得る。特にアル
ミナ製の基板は熱伝導性が良いため、レーザー光源の熱
を速やかに放出し得る利点を与える。なお、接着剤の層
は非常に薄く、温度変化による接着剤の層の寸法変化は
十分に無視し得る。Further, since the substrate 132 is made of an inorganic material and has little expansion due to heating, the optical pickup of this embodiment can operate stably over a wide temperature range. In particular, the substrate made of alumina has a good thermal conductivity, and thus has an advantage that the heat of the laser light source can be quickly released. The adhesive layer is very thin, and the dimensional change of the adhesive layer due to the temperature change can be sufficiently ignored.
【0043】本実施形態では、基板132に対して紫外
線を、紫外線硬化型接着剤が塗布されている面の反対側
から照射しているが、紫外線硬化型接着剤が塗布されて
いる面と同じ側から照射してもよい。この場合、基板内
部で乱反射した紫外線が、紫外線硬化型接着剤を十分に
硬化させることが判っている。In this embodiment, the substrate 132 is irradiated with ultraviolet rays from the side opposite to the surface coated with the ultraviolet curable adhesive, but it is the same as the surface coated with the ultraviolet curable adhesive. You may irradiate from the side. In this case, it is known that the ultraviolet light diffusely reflected inside the substrate sufficiently cures the ultraviolet curable adhesive.
【0044】第二実施形態図2に示されるように、本実
施形態の集積型光ピックアップは、記録媒体を照明する
照明光ビームを発するレーザー光源212を含む光源ユ
ニット210と、記録媒体で反射された反射光ビームを
回折により二本の光ビームに分割して照明光ビームから
分離するための回折格子242を有する透明平板244
と、回折格子242で分割された光ビームを検出するた
めの二つの受光素子252,254を有する受光素子基
板256と、光源ユニット210と受光素子基板256
を保持する基台230とを備えている。Second Embodiment As shown in FIG. 2, the integrated optical pickup of the present embodiment has a light source unit 210 including a laser light source 212 which emits an illumination light beam for illuminating a recording medium, and a reflection on the recording medium. A transparent flat plate 244 having a diffraction grating 242 for dividing the reflected light beam into two light beams by diffraction and separating the reflected light beam from the illumination light beam.
And a light receiving element substrate 256 having two light receiving elements 252 and 254 for detecting the light beam divided by the diffraction grating 242, a light source unit 210 and a light receiving element substrate 256.
And a base 230 for holding.
【0045】光源ユニット210と基台230と透明平
板244と受光素子基板256は一体化されており、受
光素子252,254はほぼ同一平面上に位置し、これ
らは共にレーザー光源112の近くに位置している。The light source unit 210, the base 230, the transparent flat plate 244, and the light receiving element substrate 256 are integrated, and the light receiving elements 252 and 254 are located on substantially the same plane, both of which are located near the laser light source 112. is doing.
【0046】光源ユニット210は、レーザー光源21
2を保持する保持部材214を有している。保持部材2
14は、円板状あるいはフランジ状の保持部材本体21
6と、そこから突出している導電性の凸部218とを有
している。凸部218は、熱伝導性の良い材質から成る
別部材であっても、保持部材本体216と一体的にプレ
ス加工などで設けられてもよい。レーザー光源212は
凸部218に取り付けられており、例えば半田によって
実装されている。The light source unit 210 includes a laser light source 21.
It has a holding member 214 that holds two. Holding member 2
Reference numeral 14 denotes a disc-shaped or flange-shaped holding member main body 21.
6 and a conductive protrusion 218 protruding therefrom. The convex portion 218 may be a separate member made of a material having good thermal conductivity, or may be integrally formed with the holding member main body 216 by pressing or the like. The laser light source 212 is attached to the convex portion 218, and is mounted by, for example, solder.
【0047】光源ユニット210は、さらに、保持部材
本体216を貫通して延びているピン220,222を
有しており、これらのピン220,222はそれぞれ例
えば金ワイヤー224,226によってレーザー光源2
12と凸部218に電気的に接続されている。光源ユニ
ット210は、より好ましくは、レーザー光源212の
光量をモニターするための受光素子が保持部材214に
設けられているとよい。The light source unit 210 further has pins 220 and 222 extending through the holding member main body 216, and these pins 220 and 222 are, for example, gold wires 224 and 226, respectively.
12 and the convex portion 218 are electrically connected. In the light source unit 210, more preferably, a light receiving element for monitoring the light amount of the laser light source 212 may be provided on the holding member 214.
【0048】基台230は、受光素子基板256が取り
付けられる基板保持部232と、光源ユニット210が
取り付けられる光源保持部234とを有している。基板
保持部232と光源保持部234は、互いに別部材であ
って接着により固定されても、一体的に成形されてもよ
い。光源保持部234は、その内側の空間内に光源ユニ
ット210を摺動可能に収容し得る貫通孔を有してい
る。基板保持部232は、光源ユニット210の凸部2
18が通り得る貫通孔を有している。また、受光素子基
板256も、その内側にレーザー光源112が配置され
得る貫通孔を有している。The base 230 has a substrate holding portion 232 to which the light receiving element substrate 256 is attached and a light source holding portion 234 to which the light source unit 210 is attached. The substrate holding part 232 and the light source holding part 234 are separate members, and may be fixed by adhesion or integrally molded. The light source holding portion 234 has a through hole that can slidably accommodate the light source unit 210 in the space inside thereof. The substrate holding portion 232 is the convex portion 2 of the light source unit 210.
It has a through hole through which 18 can pass. Further, the light receiving element substrate 256 also has a through hole inside which the laser light source 112 can be arranged.
【0049】基板保持部232は紫外線透過性を有して
おり、紫外線がこれを透過して受光素子基板256との
接触部分へ照射されるのを可能にしている。受光素子基
板256は紫外線硬化型接着剤264によって基板保持
部232の上面に固定されている。基板保持部232
は、図示されていないが、受光素子252,254から
の出力を外部に取り出すための電極等を有している。ま
た、光源保持部234は紫外線透過性を有しており、紫
外線がこれを透過して光源ユニット210との接触部分
へ照射されるのを可能にしている。光源ユニット210
の保持部材本体216は紫外線硬化型接着剤262によ
って光源保持部234の貫通孔の内部に固定されてい
る。The substrate holding portion 232 is transparent to ultraviolet rays, and allows ultraviolet rays to pass through and irradiate the contact portion with the light receiving element substrate 256. The light receiving element substrate 256 is fixed to the upper surface of the substrate holding portion 232 with an ultraviolet curing adhesive 264. Substrate holding section 232
(Not shown) has electrodes and the like for taking out the outputs from the light receiving elements 252 and 254 to the outside. Further, the light source holder 234 is transparent to ultraviolet rays, which allows ultraviolet rays to pass through and irradiate the contact portion with the light source unit 210. Light source unit 210
The holding member main body 216 is fixed inside the through hole of the light source holding portion 234 by the ultraviolet curable adhesive 262.
【0050】基板保持部232と光源保持部234は、
紫外線透過性を有する無機材料で構成されている。この
ような無機材料としては、例えば、Al2O3(アルミ
ナ)、SiO2(シリカ)、MgO、Ta2O3、ZrO2
など、またそれらの混合物(例えばセラミックス)など
があげられる。基板保持部232や光源保持部234を
構成する無機材料は、紫外線を吸収したり反射したりす
る染料や顔料を多量に含んでいないことが望まれる。The substrate holder 232 and the light source holder 234 are
It is composed of an inorganic material having ultraviolet transparency. Examples of such an inorganic material include Al 2 O 3 (alumina), SiO 2 (silica), MgO, Ta 2 O 3 and ZrO 2
And mixtures thereof (for example, ceramics). It is desirable that the inorganic material forming the substrate holding part 232 and the light source holding part 234 does not contain a large amount of dyes or pigments that absorb or reflect ultraviolet rays.
【0051】好適な基板保持部232と光源保持部23
4は、1mmの厚さにおいて、1%以上の紫外線透過率
と10%以下の可視光透過率を有している。例えば、基
板保持部232は、厚さ1mmでアルミナ96%の板材
である。光源保持部234は、ドライプレスにより貫通
貫通孔が空けられた厚さ1.5mmでアルミナ96%の
板材である。Suitable substrate holder 232 and light source holder 23
No. 4 has an ultraviolet transmittance of 1% or more and a visible light transmittance of 10% or less in a thickness of 1 mm. For example, the substrate holding portion 232 is a plate material having a thickness of 1 mm and 96% alumina. The light source holding portion 234 is a plate material having a thickness of 1.5 mm and having a through hole formed by dry pressing and having 96% alumina.
【0052】紫外線硬化型接着剤262,264は紫外
線硬化性を有しているが、好適な紫外線硬化型接着剤2
62,264は、単に紫外線硬化性を有しているだけで
なく、熱硬化や嫌気性硬化や湿気硬化などの他の硬化反
応も示す接着剤であるとよい。例えば、紫外線・嫌気性
併用硬化型や紫外線・熱併用硬化型や紫外線湿気硬化型
や次世代アクリル性硬化型(UVSGA)などの接着剤
が適用されてもよい。このような接着剤に対しては、紫
外線硬化性のみを有する接着剤と比べて、紫外線の照射
時間が短縮され得る。The UV-curing adhesives 262 and 264 have UV-curing properties, but are suitable UV-curing adhesives 2.
The adhesives 62 and 264 may be adhesives that have not only ultraviolet curability but also other curing reactions such as heat curing, anaerobic curing, and moisture curing. For example, an adhesive such as an ultraviolet / anaerobic combined curing type, an ultraviolet / heat combined curing type, an ultraviolet moisture curing type, or a next-generation acrylic curing type (UVSGA) may be applied. For such an adhesive, the irradiation time of ultraviolet rays can be shortened as compared with an adhesive having only ultraviolet curability.
【0053】透明平板たとえばガラス平板244は、受
光素子基板256の上面に接着により固定されている。
ガラス平板244は、光源ユニット210の保持部材本
体216と共働して、光源保持部234と基板保持部2
32と受光素子基板256の貫通孔によって規定される
空間を封止している。つまり、レーザー光源212が封
止されている。この封止された空間内は、必要に応じて
乾燥窒素などの不活性ガスで置換されている。A transparent flat plate such as a glass flat plate 244 is fixed to the upper surface of the light receiving element substrate 256 by adhesion.
The glass flat plate 244 cooperates with the holding member main body 216 of the light source unit 210, and the light source holding portion 234 and the substrate holding portion 2
The space defined by 32 and the through hole of the light receiving element substrate 256 is sealed. That is, the laser light source 212 is sealed. The inside of this sealed space is replaced with an inert gas such as dry nitrogen as necessary.
【0054】この光ピックアップは次のようにして組み
立てられる。This optical pickup is assembled as follows.
【0055】まず、レーザー光源である半導体レーザー
チップ(LD)212を保持部材214の凸部218に
半田で実装する。半導体レーザーチップ212は、直接
保持部材に実装しても、電極を設けたサブマウントを介
して実装してもよい。First, the semiconductor laser chip (LD) 212 which is a laser light source is mounted on the convex portion 218 of the holding member 214 by soldering. The semiconductor laser chip 212 may be mounted directly on the holding member or may be mounted via a submount provided with electrodes.
【0056】例えば基板保持部232と光源保持部23
4は別部材であり、これらをそれぞれの貫通孔の位置を
合わせて接着により固定する。基板保持部232と光源
保持部234の接着には、紫外線硬化性を持つ接着剤を
用いるとよい。For example, the substrate holder 232 and the light source holder 23
Reference numeral 4 denotes separate members, which are fixed by adhesion by aligning the positions of the respective through holes. For bonding the substrate holding portion 232 and the light source holding portion 234, it is preferable to use an adhesive having an ultraviolet curability.
【0057】次に、保持部材本体216を光源保持部2
34の貫通孔の内周面全体に紫外線硬化型接着剤262
を塗布し、この貫通孔内に光源ユニット210の保持部
材本体216を挿入することにより、保持部材本体21
6を紫外線硬化型接着剤262を介して光源保持部23
4に接触させて保持する。Next, the holding member main body 216 is attached to the light source holding portion 2.
UV curable adhesive 262 is formed on the entire inner peripheral surface of the through hole 34.
Is applied and the holding member main body 216 of the light source unit 210 is inserted into the through hole, so that the holding member main body 21
6 through the UV-curable adhesive 262 to hold the light source 23
4 and hold.
【0058】保持部材本体216は光源保持部234の
貫通孔内を摺動し得る。従って、保持部材本体216の
挿入方向に平行にZ軸を設定すると、光源ユニット21
0はZ軸に沿った位置、言い換えれば光軸に沿った位置
が調整可能であるとともに、Z軸周りの向きも調整可能
である。The holding member main body 216 can slide in the through hole of the light source holding portion 234. Therefore, when the Z axis is set parallel to the insertion direction of the holding member body 216, the light source unit 21
The position of 0 is adjustable along the Z axis, in other words, the position along the optical axis, and the direction around the Z axis is also adjustable.
【0059】基板保持部232の上面に対して半導体レ
ーザーチップ212の発光端面の高さが好適な値となる
ように、保持部材214のZ軸位置を調整する。さら
に、半導体レーザーチップ212のZ軸周りの向きが基
板保持部232の基板の外形に対して好適となるよう
に、保持部材214のZ軸周りの向きを調整する。The Z-axis position of the holding member 214 is adjusted so that the height of the light emitting end surface of the semiconductor laser chip 212 with respect to the upper surface of the substrate holding portion 232 becomes a suitable value. Further, the orientation of the holding member 214 about the Z axis is adjusted so that the orientation of the semiconductor laser chip 212 about the Z axis is suitable for the outer shape of the substrate of the substrate holding unit 232.
【0060】続いて、紫外線を光源保持部234を通し
て紫外線硬化型接着剤264に照射して紫外線硬化型接
着剤264を硬化させる。紫外線は好適には光源保持部
234の側方から照射されるが、下方から照射されても
よく、さらには、上方から基板保持部232越しに照射
されてもよい。Subsequently, ultraviolet rays are applied to the ultraviolet curable adhesive 264 through the light source holder 234 to cure the ultraviolet curable adhesive 264. The ultraviolet rays are preferably emitted from the side of the light source holding unit 234, but may be emitted from below, or may be emitted from above through the substrate holding unit 232.
【0061】次に、基板保持部232の上面に紫外線硬
化型接着剤264を塗布し、受光素子基板256を基板
保持部232の上面に載置する。つまり、受光素子基板
256を紫外線硬化型接着剤264を介して基板保持部
232に接触させて保持する。このとき、半導体レーザ
ーチップ212は受光素子基板256の貫通孔の内側に
配置される。受光素子基板256の受光素子252,2
54と半導体レーザーチップ212の発光点との相対的
な位置関係が適切になるように、受光素子基板256の
位置を調整する。Next, the ultraviolet curing adhesive 264 is applied to the upper surface of the substrate holding portion 232, and the light receiving element substrate 256 is placed on the upper surface of the substrate holding portion 232. That is, the light receiving element substrate 256 is held in contact with the substrate holding portion 232 via the ultraviolet curable adhesive 264. At this time, the semiconductor laser chip 212 is arranged inside the through hole of the light receiving element substrate 256. Light receiving elements 252 and 2 on the light receiving element substrate 256
The position of the light receiving element substrate 256 is adjusted so that the relative positional relationship between 54 and the light emitting point of the semiconductor laser chip 212 becomes appropriate.
【0062】続いて、紫外線を基板保持部232の下方
より基板保持部232を通して紫外線硬化型接着剤26
4に照射して紫外線硬化型接着剤264を硬化させる。
これにより受光素子基板256が基板保持部232に固
定される。Subsequently, ultraviolet rays are passed from below the substrate holding portion 232 through the substrate holding portion 232 and the ultraviolet curable adhesive 26.
4 is irradiated to cure the ultraviolet curable adhesive 264.
As a result, the light receiving element substrate 256 is fixed to the substrate holding portion 232.
【0063】この後、受光素子基板256の上面に紫外
線硬化型接着剤を塗布し、回折格子242を有するガラ
ス(または石英)平板244を載置する。さらに、受光
素子基板256に対して回折格子242が好適な位置に
来るように、ガラス平板244の位置を調整する。受光
素子基板256とガラス平板244に位置合わせ用のマ
ークが予め設けられているとより好適である。After that, an ultraviolet curing adhesive is applied to the upper surface of the light receiving element substrate 256, and the glass (or quartz) flat plate 244 having the diffraction grating 242 is placed. Further, the position of the glass flat plate 244 is adjusted so that the diffraction grating 242 is located at a suitable position with respect to the light receiving element substrate 256. It is more preferable that the light receiving element substrate 256 and the glass flat plate 244 are provided with alignment marks in advance.
【0064】続いて、紫外線をガラス平板244を通し
て紫外線硬化型接着剤に照射してこれを硬化させる。こ
れによりガラス平板244は受光素子基板256に固定
され、光ピックアップが完成される。Subsequently, ultraviolet rays are applied to the ultraviolet curable adhesive through the glass plate 244 to cure it. As a result, the glass flat plate 244 is fixed to the light receiving element substrate 256, and the optical pickup is completed.
【0065】この光ピックアップは簡単に言えば次のよ
うに動作する。This optical pickup operates in the following simple way.
【0066】半導体レーザーチップ212から発せられ
る光ビームは、回折格子242を透過して光ピックアッ
プの外部に射出される。図には示されていないが、光ピ
ックアップから射出された光ビームは、コリメートレン
ズにより平行光ビームに変えられ、偏向ミラーで偏向さ
れ、対物レンズにより集光され、情報記録媒体を照明す
る。The light beam emitted from the semiconductor laser chip 212 passes through the diffraction grating 242 and is emitted to the outside of the optical pickup. Although not shown in the figure, the light beam emitted from the optical pickup is converted into a parallel light beam by the collimator lens, is deflected by the deflection mirror, is condensed by the objective lens, and illuminates the information recording medium.
【0067】情報記録媒体で反射された情報を含んでい
る光ビームは、対物レンズと偏向ミラーとコリメートレ
ンズを経て回折格子242に到達し、回折格子242に
よる回折作用により二本の光ビームすなわち+1次光ビ
ームと−1次光ビームとに分割される。+1次光ビーム
と−1次光ビームはそれぞれ受光素子252,254に
入射する。The light beam containing the information reflected by the information recording medium reaches the diffraction grating 242 through the objective lens, the deflection mirror and the collimating lens, and is diffracted by the diffraction grating 242, whereby two light beams, that is, +1. It is divided into a secondary light beam and a −1st order light beam. The + 1st-order light beam and the -1st-order light beam are incident on the light receiving elements 252 and 254, respectively.
【0068】受光素子252,254は入射する光ビー
ムの光量に応じた電気信号を出力し、その電気信号は外
部の回路によって処理され、これに基づいて情報再生信
号やフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号が
検出される。The light receiving elements 252 and 254 output an electric signal according to the light quantity of the incident light beam, and the electric signal is processed by an external circuit, and based on this, an information reproduction signal, a focus error signal, and a tracking error signal. Is detected.
【0069】本実施形態の光ピックアップでは、紫外線
硬化型接着剤によって光源ユニット210と基台230
と受光素子基板256とガラス平板244が互いに固定
されるので、実装時にこれらの部材が高温に加熱される
ことはなく、従ってこれらの部材の間に熱膨張による位
置ずれは発生しない。従って、光源ユニット210と受
光素子基板256が高い位置精度で実装され得る。In the optical pickup according to this embodiment, the light source unit 210 and the base 230 are made of an ultraviolet curable adhesive.
Since the light receiving element substrate 256 and the glass flat plate 244 are fixed to each other, these members are not heated to a high temperature at the time of mounting, and therefore the positional displacement due to thermal expansion does not occur between these members. Therefore, the light source unit 210 and the light receiving element substrate 256 can be mounted with high positional accuracy.
【0070】また、熱ストレスに弱い半導体レーザーチ
ップ212が熱ストレスを受け難いので、半導体レーザ
ーチップ212の損傷すなわち品質低下が少なく、従っ
て、安定した品質の光ピックアップが得られる。Further, since the semiconductor laser chip 212, which is vulnerable to heat stress, is less likely to be subjected to heat stress, damage to the semiconductor laser chip 212, that is, deterioration in quality is less, and therefore an optical pickup of stable quality can be obtained.
【0071】特に本実施形態では、光源ユニット210
の実装時に、半導体レーザーチップ212のZ軸に沿っ
た位置を調整し得るので、半導体レーザーチップ212
と受光素子252,254の高さ位置関係を高い精度で
位置決めすることができる。つまり、第一実施形態では
レーザー光源112と受光素子152,154の相対的
な高さは基板132の厚さに主に依存しており、その調
整には基板132の研磨や適切な選別が必要であるが、
本実施形態ではこのような作業をせずに半導体レーザー
チップ212と受光素子252,254の相対的な高さ
を調整できるので、光ピックアップが低コストで作製さ
れ得る。Particularly in this embodiment, the light source unit 210
Since the position of the semiconductor laser chip 212 along the Z-axis can be adjusted during mounting,
The height positional relationship between the light receiving elements 252 and 254 can be positioned with high accuracy. That is, in the first embodiment, the relative heights of the laser light source 112 and the light receiving elements 152 and 154 mainly depend on the thickness of the substrate 132, and the adjustment thereof requires polishing or proper selection of the substrate 132. In Although,
In this embodiment, since the relative heights of the semiconductor laser chip 212 and the light receiving elements 252 and 254 can be adjusted without performing such an operation, the optical pickup can be manufactured at low cost.
【0072】保持部材214には一般的に流通している
LDステムと同形状のものをそのまま用いることがで
き、特にレーザー光源の実装に既存の設備を使用できる
ので、低コストで生産することが可能である。As the holding member 214, the one having the same shape as that of a commercially available LD stem can be used as it is. Particularly, since existing equipment can be used for mounting a laser light source, it can be produced at a low cost. It is possible.
【0073】また、基板保持部232と光源保持部23
4が無機材料から成り、加熱による膨張が少ないので、
本実施形態の光ピックアップは、広い温度範囲わたり安
定に動作し得る。特にアルミナ製の基板保持部232と
光源保持部234は高い熱伝導性を有しており、半導体
レーザーチップ212で発生する熱を速やかに放出し得
る。光源ユニット210の保持部材本体216が薄いた
めに光源保持部234との接触面積が不足してレーザー
光源212から発生する熱の放熱性が不足する場合に
は、保持部材本体216と光源保持部234に熱伝導接
着剤を盛り付けたり、両者を橋渡しする金属板を付加し
たりして放熱性が確保されるとよい。Further, the substrate holder 232 and the light source holder 23
Since 4 is made of an inorganic material and has little expansion due to heating,
The optical pickup of this embodiment can operate stably over a wide temperature range. In particular, the alumina substrate holder 232 and the light source holder 234 have high thermal conductivity and can quickly release the heat generated by the semiconductor laser chip 212. When the holding member main body 216 of the light source unit 210 is thin and thus the contact area with the light source holding portion 234 is insufficient and the heat radiation performance of the heat generated from the laser light source 212 is insufficient, the holding member main body 216 and the light source holding portion 234. It is advisable to secure heat dissipation by arranging a heat conductive adhesive on or by adding a metal plate bridging the two.
【0074】第三実施形態本実施形態の集積型光ピック
アップは、光磁気記録方式に対応した光ピックアップで
あり、その基本構成は第二実施形態の光ピックアップに
類似している。本実施形態の集積型光ピックアップの構
成を図3に示す。図3において、図2の参照符号と下二
桁が同じ参照符号で示される部材は実質的に同じ部材で
ある。Third Embodiment The integrated optical pickup of this embodiment is an optical pickup compatible with the magneto-optical recording system, and its basic configuration is similar to that of the second embodiment. The structure of the integrated optical pickup of this embodiment is shown in FIG. In FIG. 3, the members indicated by the same reference numerals in the last two digits as those in FIG. 2 are substantially the same members.
【0075】図3に示されるように、本実施形態の集積
型光ピックアップは、記録媒体を照明する照明光ビーム
を発するレーザー光源312を含む光源ユニット310
と、記録媒体で反射された反射光ビームを分割するため
の偏光ビームスプリッター374を含むプリズム372
と、偏光ビームスプリッター374を透過した光ビーム
を回折により二本の光ビームに分割して照明光ビームか
ら分離するための回折格子342を有する透明平板34
4と、偏光ビームスプリッター374で反射された光ビ
ームを偏光に従って二本のビームに分割するための異方
性結晶板378と、回折格子342で分割された光ビー
ムを検出するための二つの受光素子352,354と異
方性結晶板378で分割された光ビームを検出するため
の光磁気検出用受光素子群380を有する受光素子基板
382と、光源ユニット310と受光素子基板382を
保持する基台330とを備えている。As shown in FIG. 3, the integrated optical pickup of this embodiment includes a light source unit 310 including a laser light source 312 that emits an illumination light beam that illuminates a recording medium.
And a prism 372 including a polarization beam splitter 374 for splitting the reflected light beam reflected by the recording medium.
And a transparent plate 34 having a diffraction grating 342 for splitting the light beam transmitted through the polarization beam splitter 374 into two light beams by diffraction and separating the light beam from the illumination light beam.
4, an anisotropic crystal plate 378 for splitting the light beam reflected by the polarization beam splitter 374 into two beams according to the polarization, and two light receiving for detecting the light beam split by the diffraction grating 342. A light receiving element substrate 382 having a light receiving element group 380 for magneto-optical detection for detecting a light beam divided by the elements 352 and 354 and the anisotropic crystal plate 378, and a substrate holding the light source unit 310 and the light receiving element substrate 382. And a stand 330.
【0076】光源ユニット310と基台330と透明平
板344とプリズム372と異方性結晶板378と受光
素子基板382は一体化されており、受光素子352,
354はほぼ同一平面上に位置し、これらは共にレーザ
ー光源112の近くに位置している。The light source unit 310, the base 330, the transparent flat plate 344, the prism 372, the anisotropic crystal plate 378 and the light receiving element substrate 382 are integrated, and the light receiving elements 352 and 352 are integrated.
354 is located on substantially the same plane, and these are both located near the laser light source 112.
【0077】光源ユニット310は、レーザー光源31
2を保持する保持部材314を有している。保持部材3
14は、円板状あるいはフランジ状の保持部材本体31
6と、そこから突出している導電性の凸部318とを有
している。The light source unit 310 includes a laser light source 31.
It has a holding member 314 for holding 2. Holding member 3
Reference numeral 14 denotes a disc-shaped or flange-shaped holding member main body 31.
6 and a conductive protrusion 318 protruding therefrom.
【0078】光源ユニット310は、さらに、保持部材
本体316を貫通して延びているピン320,322を
有しており、これらのピン320,322はそれぞれ例
えば金ワイヤー324,326によってレーザー光源3
12と凸部318に電気的に接続されている。The light source unit 310 further has pins 320 and 322 extending through the holding member body 316, and these pins 320 and 322 are, for example, gold wires 324 and 326, respectively.
12 and the convex portion 318 are electrically connected.
【0079】基台330は、受光素子基板382が取り
付けられる基板保持部332と、光源ユニット310が
取り付けられる光源保持部334とを有している。光源
保持部334は、その内側の空間内に光源ユニット31
0を摺動可能に収容し得る貫通孔を有している。基板保
持部332は、光源ユニット310の凸部318が通り
得る貫通孔を有している。また、受光素子基板382
も、その内側にレーザー光源112が配置され得る貫通
孔を有している。The base 330 has a substrate holding portion 332 to which the light receiving element substrate 382 is attached and a light source holding portion 334 to which the light source unit 310 is attached. The light source holder 334 has a light source unit 31 inside the space inside.
It has a through hole capable of accommodating zero. The substrate holding portion 332 has a through hole through which the convex portion 318 of the light source unit 310 can pass. In addition, the light receiving element substrate 382
Also has a through hole inside which the laser light source 112 can be arranged.
【0080】基板保持部332は紫外線透過性を有して
おり、紫外線がこれを透過して受光素子基板382との
接触部分へ照射されるのを可能にしている。受光素子基
板382は紫外線硬化型接着剤364によって基板保持
部332の上面に固定されている。基板保持部332
は、図示されていないが、受光素子352,354と光
磁気検出用受光素子群380からの出力を外部に取り出
すための電極等を有している。また、光源保持部334
は紫外線透過性を有しており、紫外線がこれを透過して
光源ユニット310との接触部分へ照射されるのを可能
にしている。光源ユニット310の保持部材本体316
は紫外線硬化型接着剤362によって光源保持部334
の貫通孔の内部に固定されている。The substrate holding portion 332 is transparent to ultraviolet rays, and allows ultraviolet rays to pass through and irradiate the contact portion with the light receiving element substrate 382. The light receiving element substrate 382 is fixed to the upper surface of the substrate holding portion 332 by an ultraviolet curable adhesive 364. Substrate holding unit 332
Although not shown, has electrodes and the like for taking out the outputs from the light receiving elements 352 and 354 and the photomagnetic detection light receiving element group 380 to the outside. In addition, the light source holder 334
Has a transparency to ultraviolet rays, and allows ultraviolet rays to pass through and irradiate the contact portion with the light source unit 310. Holding member main body 316 of light source unit 310
The light source holder 334 is formed by the ultraviolet curable adhesive 362.
Is fixed inside the through hole.
【0081】基板保持部332と光源保持部334は、
紫外線透過性を有する無機材料、例えば、Al2O3(ア
ルミナ)、SiO2(シリカ)、MgO、Ta2O3、Z
rO2など、またそれらの混合物(例えばセラミック
ス)で構成されている。本実施形態では、基板保持部3
32と光源保持部334は共にアルミナ96%の白色焼
結体で構成されている。The substrate holder 332 and the light source holder 334 are
Inorganic material having ultraviolet transparency, for example, Al 2 O 3 (alumina), SiO 2 (silica), MgO, Ta 2 O 3 , Z
It is composed of rO 2 or the like, or a mixture thereof (for example, ceramics). In this embodiment, the substrate holder 3
32 and the light source holder 334 are both made of a white sintered body of 96% alumina.
【0082】紫外線硬化型接着剤362,364は紫外
線硬化性を有しているが、好適な紫外線硬化型接着剤3
62,364は、単に紫外線硬化性を有しているだけで
なく、熱硬化や嫌気性硬化や湿気硬化などの他の硬化反
応も示す接着剤であるとよい。The ultraviolet curable adhesives 362 and 364 have ultraviolet curability, but a suitable ultraviolet curable adhesive 3
The adhesives 62 and 364 may be adhesives that have not only ultraviolet curability but also other curing reactions such as heat curing, anaerobic curing, and moisture curing.
【0083】透明平板たとえばガラス平板344は、受
光素子基板382の上面に接着により固定されている。
ガラス平板344は、光源ユニット310の保持部材本
体316と共働して、光源保持部334と基板保持部3
32と受光素子基板382の貫通孔によって規定される
空間を封止している。つまり、レーザー光源312が封
止されている。この封止された空間内は、必要に応じて
乾燥窒素などの不活性ガスで置換されている。A transparent flat plate such as a glass flat plate 344 is fixed to the upper surface of the light receiving element substrate 382 by adhesion.
The glass flat plate 344 cooperates with the holding member main body 316 of the light source unit 310, and the light source holding portion 334 and the substrate holding portion 3 are provided.
The space defined by 32 and the through hole of the light receiving element substrate 382 is sealed. That is, the laser light source 312 is sealed. The inside of this sealed space is replaced with an inert gas such as dry nitrogen as necessary.
【0084】プリズム372は、偏光ビームスプリッタ
ー374に加えて、偏光ビームスプリッター374で反
射された光ビームを受光素子基板382に形成された光
磁気検出用受光素子群380に向けて反射するためのミ
ラー376を有している。プリズム372は異方性結晶
板378に接着により固定されており、異方性結晶板3
78も接着により受光素子基板382に接着により固定
されている。The prism 372 is, in addition to the polarization beam splitter 374, a mirror for reflecting the light beam reflected by the polarization beam splitter 374 toward the photomagnetic detection light receiving element group 380 formed on the light receiving element substrate 382. It has 376. The prism 372 is fixed to the anisotropic crystal plate 378 by adhesion, and
78 is also fixed to the light receiving element substrate 382 by adhesion.
【0085】この光ピックアップは次のようにして組み
立てられる。This optical pickup is assembled as follows.
【0086】まず、レーザー光源である半導体レーザー
チップ(LD)312を保持部材314の凸部318に
半田で実装する。続いて、例えば別部材である基板保持
部332と光源保持部334をそれぞれの貫通孔の位置
を合わせて接着により固定する。First, the semiconductor laser chip (LD) 312, which is a laser light source, is mounted on the convex portion 318 of the holding member 314 by soldering. Subsequently, for example, the substrate holding portion 332 and the light source holding portion 334, which are separate members, are fixed by adhesion by aligning the positions of the through holes.
【0087】次に、保持部材本体316を光源保持部3
34の貫通孔の内周面全体に紫外線硬化型接着剤362
を塗布し、この貫通孔内に光源ユニット310の保持部
材本体316を挿入することにより、保持部材本体31
6を紫外線硬化型接着剤362を介して光源保持部33
4に接触させて保持する。Next, the holding member main body 316 is attached to the light source holding portion 3.
UV curable adhesive 362 on the entire inner peripheral surface of the through hole of 34.
Is applied and the holding member main body 316 of the light source unit 310 is inserted into the through hole, so that the holding member main body 31
6 through the UV curable adhesive 362, the light source holder 33
4 and hold.
【0088】保持部材本体316は、光源保持部334
の貫通孔内を摺動可能であり、半導体レーザーチップ3
12の光軸に沿った位置と光軸周りの向きが調整可能で
ある。基板保持部332の上面に対して半導体レーザー
チップ312の発光端面の高さ調整し、さらに、基板保
持部332の基板の外形に対して半導体レーザーチップ
312の光軸周りの向きを調整する。The holding member main body 316 has a light source holding portion 334.
Can slide in the through hole of the semiconductor laser chip 3
The position of 12 along the optical axis and the direction around the optical axis can be adjusted. The height of the light emitting end surface of the semiconductor laser chip 312 is adjusted with respect to the upper surface of the substrate holding portion 332, and further the orientation of the semiconductor laser chip 312 around the optical axis is adjusted with respect to the outer shape of the substrate of the substrate holding portion 332.
【0089】続いて、紫外線を光源保持部334を通し
て紫外線硬化型接着剤364に照射して紫外線硬化型接
着剤364を硬化させる。紫外線は好適には光源保持部
334の側方から照射されるが、下方から照射されても
よく、さらには、上方から基板保持部332越しに照射
されてもよい。Subsequently, ultraviolet rays are applied to the ultraviolet curing adhesive 364 through the light source holder 334 to cure the ultraviolet curing adhesive 364. The ultraviolet rays are preferably emitted from the side of the light source holding unit 334, but may be emitted from the lower side or further from the upper side through the substrate holding unit 332.
【0090】次に、基板保持部332の上面に紫外線硬
化型接着剤364を塗布し、その上に受光素子基板38
2を載置して、半導体レーザーチップ312が受光素子
基板382の貫通孔内に配置されるように、受光素子基
板382を基板保持部332の上にのせる。つまり、受
光素子基板382を紫外線硬化型接着剤364を介して
基板保持部332に接触させて保持する。受光素子基板
382の受光素子352,354と半導体レーザーチッ
プ312の相対位置を調整する。Next, an ultraviolet curing adhesive 364 is applied to the upper surface of the substrate holding portion 332, and the light receiving element substrate 38 is applied thereon.
2 is placed, and the light receiving element substrate 382 is placed on the substrate holding portion 332 so that the semiconductor laser chip 312 is arranged in the through hole of the light receiving element substrate 382. That is, the light receiving element substrate 382 is held in contact with the substrate holding portion 332 via the ultraviolet curable adhesive 364. The relative positions of the light receiving elements 352 and 354 of the light receiving element substrate 382 and the semiconductor laser chip 312 are adjusted.
【0091】続いて、紫外線を基板保持部332の下方
より基板保持部332を通して紫外線硬化型接着剤36
4に照射して紫外線硬化型接着剤364を硬化させる。
これにより受光素子基板382が基板保持部332に固
定される。Subsequently, ultraviolet rays are passed from below the substrate holding portion 332 through the substrate holding portion 332 and the ultraviolet curable adhesive 36.
4 is irradiated to cure the ultraviolet curable adhesive 364.
As a result, the light receiving element substrate 382 is fixed to the substrate holding portion 332.
【0092】この後、受光素子基板382の上面に紫外
線硬化型接着剤を塗布し、回折格子342を有するガラ
ス平板344を載置する。さらに、受光素子基板382
に対して回折格子342が好適な位置に来るように、ガ
ラス平板344の位置を調整する。After that, an ultraviolet curing adhesive is applied to the upper surface of the light receiving element substrate 382, and the glass flat plate 344 having the diffraction grating 342 is placed. Further, the light receiving element substrate 382
The position of the glass flat plate 344 is adjusted so that the diffraction grating 342 comes to a suitable position.
【0093】続いて、紫外線をガラス平板344を通し
て紫外線硬化型接着剤に照射してこれを硬化させる。こ
れによりガラス平板344は受光素子基板382に固定
される。Subsequently, ultraviolet rays are applied to the ultraviolet ray curable adhesive through the glass plate 344 to cure it. As a result, the glass flat plate 344 is fixed to the light receiving element substrate 382.
【0094】さらに、異方性結晶板378の上面に紫外
線硬化型接着剤を塗布し、これにプリズム372を合わ
せる。続いて、紫外線を紫外線硬化型接着剤に照射して
これを硬化させる。これによりプリズム372と異方性
結晶板378とが互いに固定される。このプリズム37
2と異方性結晶板378の固定は、通常、プリズム37
2を下に配置して行なわれる。Further, an ultraviolet curable adhesive is applied to the upper surface of the anisotropic crystal plate 378, and the prism 372 is fitted to this. Then, the ultraviolet curable adhesive is irradiated with ultraviolet rays to cure it. As a result, the prism 372 and the anisotropic crystal plate 378 are fixed to each other. This prism 37
2 and the anisotropic crystal plate 378 are usually fixed by the prism 37.
2 is placed below.
【0095】続いて、受光素子基板382の上面に紫外
線硬化型接着剤を塗布し、その上にプリズム372と一
体化された異方性結晶板378を適切な位置に載置す
る。続いて、紫外線を紫外線硬化型接着剤に照射してこ
れを硬化させる。これによりプリズム372と異方性結
晶板378とが受光素子基板382に固定され、光ピッ
クアップが完成される。Subsequently, an ultraviolet curing adhesive is applied to the upper surface of the light receiving element substrate 382, and the anisotropic crystal plate 378 integrated with the prism 372 is placed on the appropriate position. Then, the ultraviolet curable adhesive is irradiated with ultraviolet rays to cure it. As a result, the prism 372 and the anisotropic crystal plate 378 are fixed to the light receiving element substrate 382, and the optical pickup is completed.
【0096】この光ピックアップは簡単に言えば次のよ
うに動作する。To put it simply, this optical pickup operates as follows.
【0097】半導体レーザーチップ312から発せられ
る光ビームは、回折格子342を透過した後、一部を除
いて偏光ビームスプリッター374を透過して光ピック
アップの外部に射出される。図には示されていないが、
光ピックアップから射出された光ビームは、コリメート
レンズにより平行光ビームに変えられ、偏向ミラーで偏
向され、対物レンズにより集光され、情報記録媒体を照
明する。The light beam emitted from the semiconductor laser chip 312, after passing through the diffraction grating 342, passes through the polarization beam splitter 374 except for a part thereof and is emitted to the outside of the optical pickup. Although not shown in the figure,
The light beam emitted from the optical pickup is converted into a parallel light beam by the collimator lens, is deflected by the deflection mirror, is condensed by the objective lens, and illuminates the information recording medium.
【0098】光ビームの一部は偏光ビームスプリッター
374で反射され、その反射光は半導体レーザーチップ
312の光量モニターに利用される。A part of the light beam is reflected by the polarization beam splitter 374, and the reflected light is used for the light quantity monitor of the semiconductor laser chip 312.
【0099】情報記録媒体で反射された情報を含んでい
る光ビームは、対物レンズと偏向ミラーとコリメートレ
ンズを経て偏光ビームスプリッター374に到達し、二
本の光ビームに分割される。The light beam containing the information reflected by the information recording medium reaches the polarization beam splitter 374 through the objective lens, the deflection mirror and the collimating lens, and is split into two light beams.
【0100】偏光ビームスプリッター374で反射され
た光ビームは、続いてミラー376で反射されて、異方
性結晶板378に入射し、異方性結晶板378の内部に
おいて、偏光成分に従って二本の光ビームに分割され
る。この二本の光ビームは光磁気検出用受光素子群38
0に入射する。光磁気検出用受光素子群380は入射す
る光ビームの光量に応じた電気信号を出力し、その電気
信号は外部の回路によって処理され、光磁気信号が検出
される。The light beam reflected by the polarization beam splitter 374 is subsequently reflected by the mirror 376 and is incident on the anisotropic crystal plate 378. Inside the anisotropic crystal plate 378, two light beams are emitted according to the polarization component. It is split into light beams. These two light beams are used as a photo-optical detection light-receiving element group 38.
It is incident on 0. The magneto-optical detection light-receiving element group 380 outputs an electric signal according to the light quantity of the incident light beam, and the electric signal is processed by an external circuit to detect the magneto-optical signal.
【0101】一方、偏光ビームスプリッター374を透
過した光ビームは、回折格子342に到達し、回折格子
342による回折作用により二本の光ビームすなわち+
1次光ビームと−1次光ビームとに分割される。+1次
光ビームと−1次光ビームはそれぞれ受光素子352,
354を入射する。受光素子352,354は入射する
光ビームの光量に応じた電気信号を出力し、その電気信
号は外部の回路によって処理され、フォーカスエラー信
号やトラッキングエラー信号が検出される。On the other hand, the light beam transmitted through the polarization beam splitter 374 reaches the diffraction grating 342 and is diffracted by the diffraction grating 342, so that the two light beams, that is, +
It is divided into a primary light beam and a −1st order light beam. The + 1st-order light beam and the -1st-order light beam are received by the light receiving elements 352 and 352, respectively.
354 is incident. The light receiving elements 352 and 354 output an electric signal according to the light quantity of the incident light beam, and the electric signal is processed by an external circuit to detect a focus error signal and a tracking error signal.
【0102】本実施形態の光磁気記録再生に対応してい
る光ピックアップでは、紫外線硬化型接着剤によって光
源ユニット310と基台330と受光素子基板382と
ガラス平板344と異方性結晶板378とプリズム37
2とが互いに固定されるので、光源ユニット310と受
光素子基板382が高い位置精度で実装され得る。In the optical pickup corresponding to the magneto-optical recording / reproducing according to the present embodiment, the light source unit 310, the base 330, the light receiving element substrate 382, the glass flat plate 344, and the anisotropic crystal plate 378 are formed by the ultraviolet curing adhesive. Prism 37
Since the two are fixed to each other, the light source unit 310 and the light receiving element substrate 382 can be mounted with high positional accuracy.
【0103】また、半導体レーザーチップ312が実装
時に損傷をほとんど受けていない安定した品質の光ピッ
クアップが得られる。Further, it is possible to obtain a stable quality optical pickup in which the semiconductor laser chip 312 is hardly damaged during mounting.
【0104】特に本実施形態では、光源ユニット310
の実装時に、半導体レーザーチップ312の光軸に沿っ
た位置を調整できるので、高精度に調整された光ピック
アップが低コストで得られる。Particularly in this embodiment, the light source unit 310 is used.
Since the position of the semiconductor laser chip 312 along the optical axis can be adjusted during mounting, a highly accurate adjusted optical pickup can be obtained at low cost.
【0105】これまで、いくつかの実施の形態について
図面を参照しながら具体的に説明したが、本発明は、上
述した実施の形態に限定されるものではなく、その要旨
を逸脱しない範囲で行なわれるすべての実施を含む。Although some embodiments have been concretely described with reference to the drawings, the present invention is not limited to the above-mentioned embodiments and is carried out without departing from the scope of the invention. Includes all implementations.
【0106】例えば、上述した実施形態の光ピックアッ
プは、そこから射出された光ビームを、直接対物レンズ
で絞り込む有限系の光学系に適用されても、一旦コリメ
ートレンズで平行光ビームにした後に対物レンズで絞り
込む無限系の光学系にも適用されてもよい。For example, in the optical pickup of the above-described embodiment, even if the optical beam emitted from the optical pickup is applied to a finite optical system that narrows down the beam directly with the objective lens, it is once converted into a parallel light beam by the collimating lens and then the objective beam is obtained. It may be applied to an infinite optical system that narrows down with a lens.
【0107】[0107]
【発明の効果】本発明によれば、実装精度が高く品質の
安定している小型の光ピックアップが提供される。According to the present invention, a small-sized optical pickup having high mounting accuracy and stable quality is provided.
【図1】本発明の第一実施形態の集積型光ピックアップ
の構成を示している。FIG. 1 shows a configuration of an integrated optical pickup according to a first embodiment of the present invention.
【図2】本発明の第二実施形態の集積型光ピックアップ
の構成を示している。FIG. 2 shows a configuration of an integrated optical pickup according to a second embodiment of the present invention.
【図3】本発明の第三実施形態の集積型光ピックアップ
の構成を示している。FIG. 3 shows a configuration of an integrated optical pickup according to a third embodiment of the present invention.
【図4】特開平6−5990号に開示されている従来例
の集積型光ピックアップの構成を示している。FIG. 4 shows a configuration of a conventional integrated optical pickup disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 6-5990.
【図5】特開平6−76340号に開示されている従来
例の集積型光ピックアップの構成を示している。FIG. 5 shows a configuration of a conventional integrated optical pickup disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 6-76340.
110 光源ユニット 112 レーザー光源 132 基板 142 回折格子 152、154 受光素子 162 紫外線硬化型接着剤 164 紫外線硬化型接着剤 110 light source unit 112 laser light source 132 substrate 142 diffraction grating 152,154 Light receiving element 162 UV curable adhesive 164 UV curable adhesive
Claims (9)
るレーザー光源を含む光源ユニットと、 記録媒体で反射された反射光ビームを回折により複数の
光ビームに分割して照明光ビームから分離するための回
折格子と、 回折格子で分割された光ビームを検出するための複数の
受光素子と、 光源ユニットと受光素子を保持する基台とを備えてお
り、 少なくとも光源ユニットと受光素子と基台とが一体化さ
れていて、複数の受光素子はほぼ同一平面上に位置する
とともにレーザー光源の近くに位置しており、 基台は紫外線透過性を有しており、紫外線がこれを透過
して受光素子との接触部分および光源ユニットとの接触
部分へ照射されるのを可能にしており、 受光素子は紫外線硬化型接着剤によって基台に固定され
ており、 光源ユニットは紫外線硬化型接着剤によって基台に固定
されている、光ピックアップ。1. A light source unit including a laser light source which emits an illumination light beam for illuminating a recording medium, and for separating a reflected light beam reflected by the recording medium into a plurality of light beams by diffraction and separating them from the illumination light beam. It is equipped with a diffraction grating, a plurality of light receiving elements for detecting the light beam split by the diffraction grating, and a light source unit and a base holding the light receiving element, and at least the light source unit, the light receiving element, and the base. The multiple light-receiving elements are located on almost the same plane and near the laser light source, and the base is UV-transmissive. It is possible to irradiate the contact part with the element and the contact part with the light source unit, the light receiving element is fixed to the base with an ultraviolet curing adhesive, and the light source unit is It is fixed to the base by a line-curable adhesive, the optical pickup.
OとTa2O3のいずれかひとつの材質またはそれらが混
合された材質で構成されている、請求項1に記載の光ピ
ックアップ。2. The base is mainly Al 2 O 3 , SiO 2 and Mg.
The optical pickup according to claim 1, wherein the optical pickup is made of one of O and Ta 2 O 3 or a mixture thereof.
上の紫外線透過率と10%以下の可視光透過率を有して
いる、請求項2に記載の光ピックアップ。3. The optical pickup according to claim 2, wherein the base has a UV transmittance of 1% or more and a visible light transmittance of 10% or less in a thickness of 1 mm.
るレーザー光源を含む光源ユニットと、 記録媒体で反射された反射光ビームを回折により複数の
光ビームに分割して照明光ビームから分離するための回
折格子が形成されている透明平板と、 回折格子で分割された光ビームを検出するための複数の
受光素子が形成されている受光素子基板と、 光源ユニットと受光素子基板を保持する基台とを備えて
おり、 光源ユニットと受光素子基板と基台とが一体化されてい
て、複数の受光素子はほぼ同一平面上に位置するととも
にレーザー光源の近くに位置しており、さらに、透明平
板が受光素子基板に固定されており、 基台は、受光素子基板が取り付けられる基板保持部と、
光源ユニットが取り付けられる光源保持部とを有してお
り、 基板保持部は紫外線透過性を有しており、紫外線がこれ
を透過して受光素子基板との接触部分へ照射されるのを
可能にしており、 光源保持部はその内側の空間内に光源ユニットを摺動可
能に収容し得る貫通孔を有しており、また光源保持部は
紫外線透過性を有しており、紫外線がこれを透過して光
源ユニットとの接触部分へ照射されるのを可能にしてお
り、 受光素子基板は紫外線硬化型接着剤によって基板保持部
に固定されており、 光源ユニットは紫外線硬化型接着剤によって光源保持部
に固定されている、光ピックアップ。4. A light source unit including a laser light source that emits an illumination light beam for illuminating a recording medium, and for separating a reflected light beam reflected by the recording medium into a plurality of light beams by diffraction and separating them from the illumination light beam. The transparent flat plate on which the diffraction grating is formed, the light receiving element substrate on which multiple light receiving elements for detecting the light beam split by the diffraction grating are formed, and the base that holds the light source unit and the light receiving element substrate. The light source unit, the light receiving element substrate, and the base are integrated, and the plurality of light receiving elements are located on substantially the same plane and near the laser light source. Is fixed to the light receiving element substrate, and the base is a substrate holding part to which the light receiving element substrate is attached,
It has a light source holding part to which the light source unit is attached, and the substrate holding part has ultraviolet transparency, and enables ultraviolet rays to pass through and irradiate the contact part with the light receiving element substrate. The light source holder has a through hole in which the light source unit can be slidably accommodated in the inner space, and the light source holder has ultraviolet transparency, which allows ultraviolet rays to pass through it. The light receiving element substrate is fixed to the substrate holding part with an ultraviolet curing adhesive, and the light source unit is a light source holding part with an ultraviolet curing adhesive. An optical pickup that is fixed to.
O3とSiO2とMgOとTa2O3のいずれかひとつの材
質またはそれらが混合された材質で構成されている、請
求項4に記載の光ピックアップ。5. The substrate holder and the light source holder are mainly made of Al 2
The optical pickup according to claim 4, wherein the optical pickup is made of any one of O 3 , SiO 2 , MgO, and Ta 2 O 3 or a mixture thereof.
さにおいて、1%以上の紫外線透過率と10%以下の可
視光透過率を有している、請求項5に記載の光ピックア
ップ。6. The optical pickup according to claim 5, wherein the substrate holding part and the light source holding part have an ultraviolet transmittance of 1% or more and a visible light transmittance of 10% or less in a thickness of 1 mm. .
る保持部材を有しており、保持部材は、光源保持部の貫
通孔に摺動可能に係合する保持部材本体と、保持部材本
体から突出している凸部とを有し、レーザー光源は凸部
に取り付けられている、請求項6に記載の光ピックアッ
プ。7. The light source unit has a holding member for holding the laser light source, and the holding member has a holding member main body slidably engaged with a through hole of the light source holding portion, and a holding member main body protruding from the holding member main body. The optical pickup according to claim 6, wherein the laser light source is attached to the convex portion.
るレーザー光源を含む光源ユニットと、記録媒体で反射
された反射光ビームを回折により複数の光ビームに分割
して照明光ビームから分離するための回折格子と、回折
格子で分割された光ビームを検出するための複数の受光
素子と、光源ユニットと受光素子を保持する基台とを備
えており、少なくとも光源ユニットと受光素子と基台と
が一体化されていて、複数の受光素子はほぼ同一平面上
に位置するとともにレーザー光源の近くに位置してお
り、基台は紫外線透過性を有しており、紫外線がこれを
透過して受光素子との接触部分および光源ユニットとの
接触部分へ照射されるのを可能にしており、受光素子は
紫外線硬化型接着剤によって基台に固定されており、光
源ユニットは紫外線硬化型接着剤によって基台に固定さ
れている、光ピックアップの製造方法であり、 光源ユニットを紫外線硬化型接着剤を介して基台に接触
させて保持する工程と、 受光素子を紫外線硬化型接着剤を介して基台に接触させ
て保持する工程と、 紫外線を基台を通して紫外線硬化型接着剤に照射して紫
外線硬化型接着剤を硬化させる工程とを有している、光
ピックアップの製造方法。8. A light source unit including a laser light source that emits an illumination light beam for illuminating a recording medium, and a reflected light beam reflected by the recording medium is divided into a plurality of light beams by diffraction to be separated from the illumination light beam. And a plurality of light receiving elements for detecting the light beam divided by the diffraction grating, a light source unit and a base holding the light receiving element, and at least a light source unit, a light receiving element, and a base. , The multiple light-receiving elements are located on almost the same plane and near the laser light source, and the base is UV-transparent. It is possible to irradiate the contact part with the element and the contact part with the light source unit, the light receiving element is fixed to the base by an ultraviolet curable adhesive, and the light source unit is UV cured. A method of manufacturing an optical pickup, which is fixed to a base with a chemical adhesive, in which the light source unit is held in contact with the base via an ultraviolet curable adhesive, and the light receiving element is cured with the ultraviolet curable adhesive. A method of manufacturing an optical pickup, including a step of contacting and holding a base through an agent and a step of irradiating the ultraviolet curable adhesive with ultraviolet rays through the base to cure the ultraviolet curable adhesive. .
るレーザー光源を含む光源ユニットと、記録媒体で反射
された反射光ビームを回折により複数の光ビームに分割
して照明光ビームから分離するための回折格子が形成さ
れている透明平板と、回折格子で分割された光ビームを
検出するための複数の受光素子が形成されている受光素
子基板と、光源ユニットと受光素子基板を保持する基台
とを備えており、光源ユニットと受光素子基板と基台と
が一体化されていて、複数の受光素子はほぼ同一平面上
に位置するとともにレーザー光源の近くに位置してお
り、さらに、透明平板が受光素子基板に固定されてお
り、基台は、受光素子基板が取り付けられる基板保持部
と、光源ユニットが取り付けられる光源保持部とを有し
ており、基板保持部は紫外線透過性を有しており、紫外
線がこれを透過して受光素子基板との接触部分へ照射さ
れるのを可能にしており、光源保持部はその内側の空間
内に光源ユニットを摺動可能に収容し得る貫通孔を有し
ており、また光源保持部は紫外線透過性を有しており、
紫外線がこれを透過して光源ユニットとの接触部分へ照
射されるのを可能にしており、受光素子基板は紫外線硬
化型接着剤によって基板保持部に固定されており、光源
ユニットは紫外線硬化型接着剤によって光源保持部に固
定されている、光ピックアップの製造方法であり、 光源ユニットを紫外線硬化型接着剤を介して光源保持部
の貫通孔に挿入する工程と、 光源ユニットの光軸に沿った位置を調整する工程と、 紫外線を光源保持部を通して紫外線硬化型接着剤に照射
して紫外線硬化型接着剤を硬化させる工程と、 受光素子基板を紫外線硬化型接着剤を介して基板保持部
に載置し位置決めする工程と、 紫外線を基板保持部を通して紫外線硬化型接着剤に照射
して紫外線硬化型接着剤を硬化させる工程とを有してい
る、光ピックアップの製造方法。9. A light source unit including a laser light source that emits an illumination light beam for illuminating a recording medium, and a reflected light beam reflected by the recording medium is divided into a plurality of light beams by diffraction to be separated from the illumination light beam. , A transparent flat plate on which the diffraction grating is formed, a light receiving element substrate on which a plurality of light receiving elements for detecting the light beam divided by the diffraction grating are formed, and a base for holding the light source unit and the light receiving element substrate. And a light source unit, a light-receiving element substrate, and a base are integrated, and the plurality of light-receiving elements are located on substantially the same plane and near the laser light source. Is fixed to the light-receiving element substrate, and the base has a substrate holding portion to which the light-receiving element substrate is attached and a light source holding portion to which the light source unit is attached. It is transparent to outside rays and allows ultraviolet rays to pass through and irradiate the contact area with the light receiving element substrate. The light source holder can slide the light source unit inside the space. Has a through hole that can be accommodated in, and the light source holding portion has ultraviolet transparency,
It allows ultraviolet rays to pass through and irradiate the contact part with the light source unit, the light receiving element substrate is fixed to the substrate holding part with the ultraviolet curing adhesive, and the light source unit is the ultraviolet curing adhesive. A method of manufacturing an optical pickup, which is fixed to a light source holding part with an agent, including a step of inserting the light source unit into a through hole of the light source holding part through an ultraviolet curable adhesive, and a step along an optical axis of the light source unit. Adjusting the position, irradiating the UV-curable adhesive with UV light through the light source holder to cure the UV-curable adhesive, and mounting the light-receiving element substrate on the substrate holder via the UV-curable adhesive. The optical pickup manufacturing process includes a step of placing and positioning and a step of irradiating the ultraviolet curable adhesive with ultraviolet rays through the substrate holding part to cure the ultraviolet curable adhesive. Method.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001218375A JP2003030883A (en) | 2001-07-18 | 2001-07-18 | Optical pickup and method of manufacturing the same |
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JP (1) | JP2003030883A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7613080B2 (en) | 2004-08-26 | 2009-11-03 | Hitachi Media Electronics Co., Ltd. | Optical pickup device and manufacturing method thereof |
CN101908612A (en) * | 2010-08-10 | 2010-12-08 | 珠海市光环自动化科技有限公司 | Automatic powdering box for anode of secondary battery |
-
2001
- 2001-07-18 JP JP2001218375A patent/JP2003030883A/en not_active Withdrawn
Cited By (2)
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US7613080B2 (en) | 2004-08-26 | 2009-11-03 | Hitachi Media Electronics Co., Ltd. | Optical pickup device and manufacturing method thereof |
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