JP2003029316A - Position controller and control method used for image pickup device - Google Patents

Position controller and control method used for image pickup device

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JP2003029316A
JP2003029316A JP2001215739A JP2001215739A JP2003029316A JP 2003029316 A JP2003029316 A JP 2003029316A JP 2001215739 A JP2001215739 A JP 2001215739A JP 2001215739 A JP2001215739 A JP 2001215739A JP 2003029316 A JP2003029316 A JP 2003029316A
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JP
Japan
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gain
actuator
circuit
meter
image pickup
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Application number
JP2001215739A
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Japanese (ja)
Inventor
Toshifumi Takaoka
俊史 高岡
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make perform precise control even if the characteristics of a system to be controlled have variance and to enable the controller to be of a high-density mounting. SOLUTION: A hole sensor 14 is controlled so that a constant current flows to a constant-current circuit 28, and outputs an output signal corresponding to the angle of rotation of a meter 13 when the meter 13 rotates. An adder 22 adds together the output signal from the hole sensor 14 and an offset voltage held in a PID arithmetic circuit filter arithmetic circuit 25 through a DAC 26. An amplifier 23 amplifies the signal from the adder 22. An arithmetic circuit 25 is supplied with parameters recorded in a ROM 32 through a microcomputer 31 so that an aperture diameter 11c reaches a target value. A driver circuit 29 performs the impedance conversion of the supplied voltage value and the impedance is applied as a driving voltage to a meter coil 30.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、撮像部のアイリ
スおよびズームレンズの制御に用いて好適となる撮像装
置に用いられる位置制御装置および方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a position control device and method used in an image pickup apparatus suitable for controlling an iris of an image pickup section and a zoom lens.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、VTR一体型ビデオカメラやデジ
タルスチルカメラ(以下、これらを総じて「デジタルカ
メラ」と称する)の軽量・小型化が進んでいる。デジタ
ルカメラを構成する様々な部品が高密度実装され、デジ
タルカメラの軽量・小型化が実現されている。このよう
に、デジタルカメラの軽量・小型化が進む中、撮像部に
対しても軽量・小型化が進められている。例えば、光量
を調整するアイリスやNDフィルタも、軽量・小型化が
進められ、アイリスやNDフィルタ自体が小さくなって
いる。アイリス自体が小さくなることによって、アイリ
スの動作量に対する光量の変化量が大きくなるため、よ
り精密な制御の必要が高まっている。
2. Description of the Related Art In recent years, a VTR integrated video camera and a digital still camera (hereinafter collectively referred to as a "digital camera") have been reduced in weight and size. Various parts that make up a digital camera are mounted in high density, and the weight and size of the digital camera have been reduced. As described above, as the weight and the size of the digital camera are reduced, the weight and the size of the imaging unit are also reduced. For example, the iris and ND filter for adjusting the amount of light are also reduced in weight and size, and the iris and ND filter themselves are becoming smaller. As the iris itself becomes smaller, the amount of change in the amount of light with respect to the amount of movement of the iris becomes larger, so that more precise control is required.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、アイリ
スの制御回路、すなわちサーボ回路は、抵抗とコンデン
サによって回路の特性、例えばゲインとフィルタ特性が
設定されているため、デジタルカメラの動作によって、
制御対象の特性にばらつきが発生した場合など状態の変
化に応じた最適な特性に調整することができない問題が
あった。
However, in the iris control circuit, that is, the servo circuit, circuit characteristics such as gain and filter characteristics are set by resistors and capacitors.
There is a problem that it is not possible to adjust to the optimum characteristics according to the change of the state such as when the characteristics of the controlled object vary.

【0004】さらに、抵抗とコンデンサによって回路を
構成するため、部品点数が削減できない、すなわち高密
度実装化が困難となる問題があった。
Further, since the circuit is composed of resistors and capacitors, there is a problem that the number of parts cannot be reduced, that is, high-density mounting becomes difficult.

【0005】また、多くのデジタルカメラに搭載されて
いるズーム機能も軽量・小型化が進められている。その
ため、その動作量に対する画角の変化量が大きくなるた
め、デジタルカメラの動作によって、制御対象の特性に
ばらつきが発生した場合など状態の変化に応じた最適な
特性に調整することができない問題があった。
Further, the zoom function incorporated in many digital cameras is also being reduced in weight and size. Therefore, the amount of change in the angle of view with respect to the amount of movement becomes large, so that there is a problem that it is not possible to adjust to the optimum characteristic according to the change in state, such as when the characteristics of the control target vary due to the operation of the digital camera. there were.

【0006】従って、この発明の目的は、制御対象の特
性にばらつきが発生しても精密な制御が可能となり、さ
らに高密度実装が可能となる撮像装置に用いられる位置
制御装置および方法を提供することにある。
Therefore, an object of the present invention is to provide a position control device and method for use in an image pickup device which enables precise control even if variations occur in the characteristics of the controlled object and enables high-density mounting. Especially.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、制御対象を変位させるアクチュエータと、アクチュ
エータの位置を検出するセンサとを有し、撮像装置に用
いられる位置制御装置であって、アクチュエータを駆動
させる駆動信号を算出するためのパラメータを記憶する
メモリと、センサから出力される検出信号に応じてパラ
メータを変更する制御手段と、変更されたパラメータを
用いて駆動信号を算出する演算手段とからなることを特
徴とする撮像装置に用いられる位置制御装置である。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a position control device for use in an image pickup device, the position control device having an actuator for displacing an object to be controlled, and a sensor for detecting a position of the actuator. A memory that stores a parameter for calculating a drive signal for driving the actuator, a control unit that changes the parameter according to a detection signal output from the sensor, and an arithmetic unit that calculates the drive signal using the changed parameter. And a position control device for use in an image pickup device.

【0008】請求項6に記載の発明は、制御対象を変位
させるアクチュエータと、アクチュエータの位置を検出
するセンサとを有し、撮像装置に用いられる位置制御方
法であって、アクチュエータを駆動させる駆動信号を算
出するためのパラメータをメモリに記憶し、センサから
出力される検出信号に応じてパラメータを変更し、変更
されたパラメータを用いて駆動信号を算出するようにし
たことを特徴とする撮像装置に用いられる位置制御方法
である。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a position control method for an image pickup apparatus, comprising a actuator for displacing a controlled object and a sensor for detecting the position of the actuator, and a drive signal for driving the actuator. An image pickup device characterized in that a parameter for calculating is stored in a memory, the parameter is changed according to a detection signal output from the sensor, and the drive signal is calculated using the changed parameter. This is the position control method used.

【0009】アクチュエータと、アクチュエータおよび
アクチュエータの制御対象の位置を検出するセンサとを
有し、アクチュエータを駆動させる駆動信号を生成する
ときに用いられる電圧を算出するためのパラメータをメ
モリに記憶し、センサから出力される検出信号に応じて
そのパラメータの設定を自由に変更することができるの
で、アクチュエータのばらつきや状態の変化に応じた最
適な特性に設定することができる。
The sensor has an actuator and a sensor for detecting the position of the actuator and the object to be controlled by the actuator, and a parameter for calculating a voltage used when generating a drive signal for driving the actuator is stored in a memory. Since the setting of the parameter can be freely changed according to the detection signal output from the device, it is possible to set the optimum characteristic according to the variation or the change in the state of the actuator.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、この発明の一実施形態につ
いて図面を参照して説明する。なお、各図に亘り同じ機
能を有するものには、同一の参照符号を付し、説明の重
複を避ける。まず、この説明を容易とするために、アイ
リスの一例を図1を参照して説明する。アイリスは、2
枚の絞り羽根11aおよび11bと、動力を発生するメ
ータ(アクチュエータ)13と、絞り羽根11aおよび
11bにメータ13の動力を伝えるアーム12と、メー
タ13の回転角度を検出するホールセンサ14とから構
成される。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. It should be noted that components having the same function throughout the drawings are designated by the same reference numerals to avoid duplication of description. First, in order to facilitate this description, an example of the iris will be described with reference to FIG. Iris is 2
Comprised of a pair of diaphragm blades 11a and 11b, a meter (actuator) 13 for generating power, an arm 12 for transmitting the power of the meter 13 to the diaphragm blades 11a and 11b, and a Hall sensor 14 for detecting a rotation angle of the meter 13. To be done.

【0011】入射光の光量Lを所望の光量とするため
に、絞り羽根11aおよび11bには、それぞれ切り欠
き部が設けられている。これらの切り欠き部によって開
口径11cが形成される。メータ13の回転角度を変化
させることによって、絞り羽根11aおよび11bを互
いに相対する方向へ摺動させ、開口径11cの大きさが
変化する。このメータ13は、バネ付勢されているもの
でも良いし、バネ付勢されていなくても良い。このよう
に、メータ13の回転角度を変化させることによってレ
ンズ15へ供給する光量が調整される。一例として、レ
ンズ15を介してイメージャ16に供給する光量Lを、
光量Laに調整したいときには、図1Aに示す開口径1
1cの大きさとなるようにメータ13の回転角度を制御
し、光量Lbに調整したいときには、図1Bに示す開口
径11cの大きさとなるようにメータ13の回転角度を
制御する。
In order to adjust the light quantity L of the incident light to a desired light quantity, each of the diaphragm blades 11a and 11b is provided with a cutout portion. An opening diameter 11c is formed by these notches. By changing the rotation angle of the meter 13, the diaphragm blades 11a and 11b are slid in the directions opposite to each other, and the size of the opening diameter 11c is changed. The meter 13 may or may not be spring-biased. In this way, the amount of light supplied to the lens 15 is adjusted by changing the rotation angle of the meter 13. As an example, the light amount L supplied to the imager 16 via the lens 15 is
When it is desired to adjust the light amount La, the aperture diameter 1 shown in FIG.
When it is desired to control the rotation angle of the meter 13 to have a size of 1c and to adjust the light amount Lb, the rotation angle of the meter 13 is controlled to have a size of the opening diameter 11c shown in FIG. 1B.

【0012】このアイリスでは、メータ13の回転角度
と開口径11cの大きさとが比例し、メータ13の回転
角度に応じてホールセンサ14から検出信号が出力され
る。ホールセンサ14の検出信号を観測することによっ
て開口径11cの大きさをサーボ制御することが可能と
される。すなわち、この一実施形態では、ホールセンサ
14は、アイリスの位置センサとして用いられている。
In this iris, the rotation angle of the meter 13 is proportional to the size of the opening diameter 11c, and the Hall sensor 14 outputs a detection signal according to the rotation angle of the meter 13. By observing the detection signal of the hall sensor 14, the size of the opening diameter 11c can be servo-controlled. That is, in this embodiment, the hall sensor 14 is used as a position sensor for the iris.

【0013】この発明が適用された位置制御の一実施形
態を図2を参照して説明する。ホールセンサ14には、
基準電圧Vccが供給され、デジタルサーボ回路21の内
部の定電流回路28によって一定の電流が流れるように
制御されている。この定電流回路28は、D/Aコンバ
ータ27を介してPID(比例:Proportionality・積
分:Integration・微分:Differentiation)演算回路・
フィルタ演算回路25から供給される制御信号によって
制御される。ホールセンサ14は、メータ13が回転す
ると、その回転角度に応じた検出信号を出力するもので
ある。そのホールセンサ14からの検出信号は、加算器
22へ供給される。この加算器22へ供給される検出信
号は、例えば数百mVである。
An embodiment of position control to which the present invention is applied will be described with reference to FIG. In the hall sensor 14,
The reference voltage Vcc is supplied and is controlled by the constant current circuit 28 inside the digital servo circuit 21 so that a constant current flows. This constant current circuit 28 is a PID (proportionality / integration: integration / differentiation: differentiation) operation circuit via a D / A converter 27.
It is controlled by a control signal supplied from the filter calculation circuit 25. When the meter 13 rotates, the hall sensor 14 outputs a detection signal according to the rotation angle. The detection signal from the Hall sensor 14 is supplied to the adder 22. The detection signal supplied to the adder 22 is, for example, several hundred mV.

【0014】加算器22では、ホールセンサ14からの
検出信号と、D/A(Digital to Analog)コンバータ
26を介してPID演算回路・フィルタ演算回路25か
ら供給されるオフセット電圧とが加算される。加算器2
2の加算結果は、増幅器23へ供給される。増幅器23
では、加算器22からの信号が増幅され、A/D(Anal
og to Digital)コンバータ24へ供給される。A/D
コンバータ24では、供給された信号がデジタル信号に
変換され、PID演算回路・フィルタ演算回路25へ供
給される。
In the adder 22, the detection signal from the hall sensor 14 and the offset voltage supplied from the PID operation circuit / filter operation circuit 25 via the D / A (Digital to Analog) converter 26 are added. Adder 2
The addition result of 2 is supplied to the amplifier 23. Amplifier 23
Then, the signal from the adder 22 is amplified, and the A / D (Anal
og to Digital) converter 24. A / D
The converter 24 converts the supplied signal into a digital signal and supplies the digital signal to the PID operation circuit / filter operation circuit 25.

【0015】PID演算回路・フィルタ演算回路25で
は、開口径11cが目標となる大きさとなるように、E
EPROM(Electrically Erasable and Programmable
Read Only Memory)32に記憶されているパラメータ
がマイクロコンピュータ31を介してシリアル通信で供
給され、最適な出力電圧が算出される。このとき、マイ
クロコンピュータ31とデジタルサーボ回路21とは、
シリアル通信でコマンド、パラメータ、またはデータな
どを相互に通信可能である。同様に、マイクロコンピュ
ータ31とEEPROM32とも、シリアル通信でコマ
ンド、パラメータ、またはデータなどを相互に通信可能
である。
In the PID arithmetic circuit / filter arithmetic circuit 25, E is adjusted so that the opening diameter 11c becomes a target size.
EPROM (Electrically Erasable and Programmable
The parameters stored in the Read Only Memory) 32 are supplied by serial communication via the microcomputer 31, and the optimum output voltage is calculated. At this time, the microcomputer 31 and the digital servo circuit 21 are
Commands, parameters, data, etc. can be mutually communicated by serial communication. Similarly, both the microcomputer 31 and the EEPROM 32 can mutually communicate commands, parameters, data, etc. by serial communication.

【0016】PID演算回路・フィルタ演算回路25で
算出された電圧値は、ドライバ回路29へ供給される。
ドライバ回路29では、供給された電圧値がインピーダ
ンス変換され、駆動電圧としてメータコイル30へ印加
される。メータ30は、メータコイル30に印加された
駆動電圧に応じた角度回転する。
The voltage value calculated by the PID calculation circuit / filter calculation circuit 25 is supplied to the driver circuit 29.
In the driver circuit 29, the supplied voltage value is impedance-converted and applied as a drive voltage to the meter coil 30. The meter 30 rotates by an angle according to the drive voltage applied to the meter coil 30.

【0017】具体的にデジタルカメラの起動時の動作を
説明する。アイリスが全開および全閉のときのホールセ
ンサ14の検出信号がA/Dコンバータ24の変換レン
ジと一致するようにD/Aコンバータ26および27が
調整される。このとき、加算器22へ供給するオフセッ
ト電圧と、定電流回路28へ供給する制御信号とが最適
に設定される。このD/Aコンバータ26および27の
調整は、製造工程内にて行われ、調整された値がそれぞ
れパラメータとしてEEPROM32に記憶される。
The operation of the digital camera at startup will be described in detail. The D / A converters 26 and 27 are adjusted so that the detection signal of the hall sensor 14 when the iris is fully open and fully closed matches the conversion range of the A / D converter 24. At this time, the offset voltage supplied to the adder 22 and the control signal supplied to the constant current circuit 28 are optimally set. The adjustments of the D / A converters 26 and 27 are performed in the manufacturing process, and the adjusted values are stored in the EEPROM 32 as parameters.

【0018】一例として、EEPROM32に記憶され
たパラメータは、PID演算回路・フィルタ演算回路2
5で使用されるゲインおよびフィルタ係数である。この
EEPROM32に記憶されたパラメータは、起動する
度にマイクロコンピュータ31を介してデジタルサーボ
回路21へ供給される。PID演算回路・フィルタ演算
回路25では、アイリスの開口径11cが所望の大きさ
となるような電圧値が、ドライバ回路29へ供給され
る。ドライバ回路29では、上述したようにメータコイ
ル30へ駆動電圧が印加され、メータ13が回転し、開
口径11cは所望の大きさとなる。
As an example, the parameters stored in the EEPROM 32 are the PID operation circuit / filter operation circuit 2
5 is a gain and a filter coefficient used in FIG. The parameters stored in the EEPROM 32 are supplied to the digital servo circuit 21 via the microcomputer 31 each time it is activated. In the PID arithmetic circuit / filter arithmetic circuit 25, the driver circuit 29 is supplied with a voltage value such that the iris opening diameter 11c becomes a desired size. In the driver circuit 29, the drive voltage is applied to the meter coil 30 as described above, the meter 13 rotates, and the opening diameter 11c becomes a desired size.

【0019】また、デジタルカメラの動作停止時には、
アイリスを全閉とするための電圧が、PID演算回路・
フィルタ演算回路25からドライバ回路29へ出力さ
れ、アイリスは全閉となる。なお、全閉となる方向へメ
ータ13がバネ付勢されている場合、この制御は不要と
なる。
When the operation of the digital camera is stopped,
The voltage to fully close the iris is the PID calculation circuit.
It is output from the filter calculation circuit 25 to the driver circuit 29, and the iris is fully closed. When the meter 13 is spring-biased toward the fully closed direction, this control is unnecessary.

【0020】また、アイリスの外乱に対する安定性や動
作速度などの動作特性は、PID演算回路・フィルタ演
算回路25の演算に用いられるパラメータによって制御
することができる。このパラメータは、上述したように
EEPROM32に記憶されている。
The operating characteristics such as the stability of the iris against disturbance and the operating speed can be controlled by the parameters used for the operation of the PID operation circuit / filter operation circuit 25. This parameter is stored in the EEPROM 32 as described above.

【0021】PID演算回路・フィルタ演算回路25の
演算に用いられるパラメータは、上述の製造工程内で調
整された値、すなわちEEPROM32に記憶されてい
るパラメータに対して、デジタルカメラの使用中に温度
や湿度などの使用環境や径時変化に対応した補正が施さ
れる。デジタルサーボ回路21は、ホールセンサ14を
通して、印加電圧に対するアイリスの応答特性を常に観
測している。そのホールセンサ14からのデータは、マ
イクロコンピュータ31にシリアル通信で送信される。
マイクロコンピュータ31では、デジタルサーボ回路2
1から受信したデータに基づいてEEPROM32に記
憶しているパラメータに対して補正が施される。補正が
施されたパラメータは、デジタルサーボ回路21にシリ
アル通信で送信される。
The parameters used for the operation of the PID operation circuit / filter operation circuit 25 are the values adjusted in the above manufacturing process, that is, the parameters stored in the EEPROM 32. Corrections are made according to the operating environment such as humidity and changes over time. The digital servo circuit 21 constantly observes the response characteristic of the iris with respect to the applied voltage through the hall sensor 14. The data from the hall sensor 14 is transmitted to the microcomputer 31 by serial communication.
In the microcomputer 31, the digital servo circuit 2
The parameters stored in the EEPROM 32 are corrected on the basis of the data received from 1. The corrected parameters are transmitted to the digital servo circuit 21 by serial communication.

【0022】具体的に説明すると、例えば使用環境の温
度が上昇することによって、メータコイル30の抵抗値
が上昇した場合、温度上昇前と同じ駆動電圧をドライバ
回路29からメータコイル30に供給しても、メータコ
イル30に流れる電流は減少する。すなわち、磁束密度
が小さくなる。(メータコイル30に流れる電流) =
(ドライバ回路29の出力電圧) ÷ (メータコイル
30の抵抗値)
More specifically, when the resistance value of the meter coil 30 rises due to the temperature rise in the operating environment, the same drive voltage as before the temperature rise is supplied from the driver circuit 29 to the meter coil 30. However, the current flowing through the meter coil 30 decreases. That is, the magnetic flux density decreases. (Current flowing through meter coil 30) =
(Output voltage of driver circuit 29) ÷ (Resistance value of meter coil 30)

【0023】メータ13で発生するトルクは、メータコ
イル30に流れる電流に比例するため、使用環境の温度
が上昇することによって、メータ13で発生するトルク
が減少する。従って、開口径11cを所望の大きさとす
るためには、この減少分を補う必要がある。そこで、ド
ライバ回路29から出力される駆動電圧が大きくなるよ
うに、マイクロコンピュータ31において、PID演算
回路・フィルタ演算回路25で使用されるパラメータに
対して補正が施される。そして、補正されたパラメータ
がシリアル通信でデジタルサーボ回路21に供給され
る。
Since the torque generated by the meter 13 is proportional to the current flowing through the meter coil 30, the torque generated by the meter 13 decreases as the temperature of the usage environment rises. Therefore, in order to make the opening diameter 11c a desired size, it is necessary to compensate for this decrease. Therefore, in the microcomputer 31, the parameters used in the PID operation circuit / filter operation circuit 25 are corrected so that the drive voltage output from the driver circuit 29 increases. Then, the corrected parameters are supplied to the digital servo circuit 21 by serial communication.

【0024】また、温度が下がることによって、メータ
コイル30の抵抗値が下がった場合、温度下降前と同じ
駆動電圧をドライバ回路29からメータコイル30に供
給しても、メータコイル30に流れる電流は増大する。
すなわち、磁束密度が大きくなる。そのため、メータ1
3で発生するトルクが増大する。従って、開口径11c
を所望の大きさとするためには、この増大分を抑える必
要がある。そこで、ドライバ回路29から出力される駆
動電圧が小さくなるように、マイクロコンピュータ31
において、PID演算回路・フィルタ演算回路25で使
用されるパラメータに対して補正が施される。そして、
補正されたパラメータがシリアル通信でデジタルサーバ
回路21に供給される。
When the resistance value of the meter coil 30 decreases due to the temperature decrease, even if the same drive voltage as before the temperature decrease is supplied from the driver circuit 29 to the meter coil 30, the current flowing through the meter coil 30 does not change. Increase.
That is, the magnetic flux density increases. Therefore, meter 1
The torque generated in 3 increases. Therefore, opening diameter 11c
In order to obtain a desired size, it is necessary to suppress this increase. Therefore, the microcomputer 31 is arranged so that the drive voltage output from the driver circuit 29 becomes small.
In, the parameters used in the PID calculation circuit / filter calculation circuit 25 are corrected. And
The corrected parameters are supplied to the digital server circuit 21 by serial communication.

【0025】このように、PID演算回路・フィルタ演
算回路25で演算に使用されるパラメータを自由に変更
することができる。従って、自由にパラメータを変更す
ることができるので、制御対象の特性にばらつき、すな
わちメータコイル30の抵抗値が変化して、メータコイ
ル30に流れる電流が変化しても開口径11cの大きさ
を所望の大きさにすることが容易に可能となる。
As described above, the parameters used for the calculation in the PID calculation circuit / filter calculation circuit 25 can be freely changed. Therefore, the parameter can be freely changed, so that even if the characteristic of the controlled object varies, that is, the resistance value of the meter coil 30 changes and the current flowing through the meter coil 30 changes, the size of the opening diameter 11c can be changed. A desired size can be easily obtained.

【0026】メータ13で発生するトルクの変化や絞り
羽根11aおよび11bの負荷の変化は、温度だけでは
ないが、この実施形態で用いられるパラメータの補正
は、ホールセンサ14からの検出信号を観測することに
よって、メータ13で発生するトルクの変化や絞り羽根
11aおよび11bの負荷の変化を検出することができ
ので、アイリスの動作状態に応じてパラメータを自由に
変更することができる。
The change in the torque generated by the meter 13 and the change in the load on the diaphragm blades 11a and 11b are not limited to the temperature, but the parameters used in this embodiment are corrected by observing the detection signal from the Hall sensor 14. As a result, it is possible to detect the change in the torque generated by the meter 13 and the change in the load on the diaphragm blades 11a and 11b, so that the parameters can be freely changed according to the operating state of the iris.

【0027】ここで、上述したパラメータを変更する一
例としてゲインを変更する一例を図3のフローチャート
を参照して説明する。ステップS1では、アイリスを動
作させたか否かが判断される。アイリスを動作させたと
判断した場合、ステップS2へ制御が移り、アイリスを
動作させていないと判断した場合、アイリスの動作を検
出するまで、ステップS1の制御が繰り返される。この
アイリスの動作の検出は、上述のようにホールセンサ1
4からの検出信号に基づいて判断しても良いし、PID
演算回路・フィルタ演算回路25からドライバ29へ供
給される電圧値に基づいて判断しても良い。また、その
両方に基づいてアイリスを駆動させたか否かを判断する
ようにしても良い。
Here, an example of changing the gain will be described as an example of changing the parameters described above with reference to the flowchart of FIG. In step S1, it is determined whether or not the iris has been operated. When it is determined that the iris is operated, the control shifts to step S2, and when it is determined that the iris is not operated, the control of step S1 is repeated until the operation of the iris is detected. As described above, the hall sensor 1 detects the movement of the iris.
It may be judged based on the detection signal from 4 or PID
The determination may be made based on the voltage value supplied from the arithmetic circuit / filter arithmetic circuit 25 to the driver 29. Further, it may be determined whether or not the iris is driven based on both of them.

【0028】ステップS2では、ホールセンサ14から
の検出信号に基づいて、メータ13が所望の位置に停止
せず、所望の位置を越えた、すなわちオーバーシュート
したか否かが判断される。オーバーシュートしたと判断
した場合、ステップS5へ制御が移り、オーバーシュー
トしていないと判断した場合、ステップS3へ制御が移
る。ステップS5では、ゲインが下げられる。そして、
ステップS1へ制御が戻る。
In step S2, it is determined based on the detection signal from the hall sensor 14 whether or not the meter 13 does not stop at a desired position but exceeds the desired position, that is, whether it overshoots. When it is determined that the overshoot has occurred, the control shifts to step S5, and when it is determined that the overshoot has not occurred, the control shifts to step S3. In step S5, the gain is reduced. And
The control returns to step S1.

【0029】ステップS3では、アイリスを動作させて
から20msec以上経過してメータ13が所望の位置に到
達したか、または20msec以上経過してもメータ13が
所望の位置に到達していないか、が判断される。すなわ
ち、このステップS3では、アイリスを動作させてから
メータ13を所望の位置に停止させるために、20msec
以上の遅延が発生したか否かが判断される。アイリスを
動作させてからメータ13を所望の位置に停止させるた
めに、20msec以上の遅延が発生したと判断した場合、
ステップS4へ制御が移り、メータ13が20msec未満
で所望の位置に到達したと判断した場合、ステップS1
へ制御が戻る。ステップS4では、ゲインが上げられ
る。そして、ステップS1へ制御が戻る。
In step S3, it is determined whether the meter 13 has reached the desired position 20 msec or more after the iris is operated, or whether the meter 13 has not reached the desired position 20 msec or more. To be judged. That is, in this step S3, in order to stop the meter 13 at a desired position after operating the iris, 20 msec
It is determined whether the above delay has occurred. If it is determined that a delay of 20 msec or more has occurred to stop the meter 13 at a desired position after operating the iris,
When the control moves to step S4 and it is determined that the meter 13 has reached the desired position in less than 20 msec, step S1
Control returns to. In step S4, the gain is increased. Then, the control returns to step S1.

【0030】このようにして、オーバーシュートや、所
定の時間以内に所望の位置に到達していないことが検出
されると、ゲインが変更される。もし、ゲインが変更さ
れなければ、オーバーシュートの場合、オーバーシュー
トの状態が徐々に悪くなり、最終的には発振が起こるた
め、正確な光量をレンズ15およびイメージャ16に供
給することができない。このようなアイリスの発振を、
ゲインを変更することによって抑えることができる。
In this way, the gain is changed when it is detected that the desired position has not been reached within a predetermined time or overshoot. If the gain is not changed, in the case of overshoot, the overshoot state gradually deteriorates and eventually oscillation occurs, so that an accurate light amount cannot be supplied to the lens 15 and the imager 16. This kind of iris oscillation
It can be suppressed by changing the gain.

【0031】また、所定の時間以内に所望の位置に到達
していない場合、アイリスが正確に動作するために必要
以上の時間が必要となるので、レンズ15およびイメー
ジャ16に長い時間光量を供給することになり、イメー
ジャ16を傷める原因になる。
If the desired position has not been reached within the predetermined time, more time than necessary is required for the iris to operate accurately, so the light quantity is supplied to the lens 15 and the imager 16 for a long time. This causes damage to the imager 16.

【0032】また、アイリスの発振としては、例えば、
デジタルサーボ回路21から出力される電圧値が原因と
なる場合や、メータ13がバネ付勢されているときのバ
ネが原因となる場合がある。しかしながら、ホールセン
サ14によってメータ13の回転角度および絞り羽根1
1aおよび11bの位置を検出し、ゲインを変更するこ
とができるので、発振を抑えることができる。すなわ
ち、この実施形態では、ゲインを変更して発振ポイント
を変えることができる。
Further, as the iris oscillation, for example,
The voltage value output from the digital servo circuit 21 may be the cause, or the spring when the meter 13 is biased by the spring may be the cause. However, the Hall sensor 14 causes the rotation angle of the meter 13 and the diaphragm blade 1 to
Since the gain can be changed by detecting the positions of 1a and 11b, oscillation can be suppressed. That is, in this embodiment, the gain can be changed to change the oscillation point.

【0033】具体的には、アイリスを変化させたとき
に、ホールセンサ14から供給される検出信号からオー
バーシュートが検出されると、ゲインを、例えば1dB
下げる。ゲインを1dB下げることによって、次にアイ
リスを変化させたときに、オーバーシュートが抑えられ
る。また、一度ゲインを下げても再度オーバーシュート
が検出された場合、オーバーシュートが抑えられるま
で、再度ゲインを下げる。
Specifically, when an overshoot is detected from the detection signal supplied from the Hall sensor 14 when the iris is changed, the gain is, for example, 1 dB.
Lower. By reducing the gain by 1 dB, overshoot is suppressed when the iris is changed next time. If overshoot is detected again even if the gain is reduced once, the gain is reduced again until the overshoot is suppressed.

【0034】また、アイリスを変化させたときに、ホー
ルセンサ14から供給される検出信号から所定の時間内
で目標位置に到達しないことが検出されると、ゲイン
を、例えば1dB上げる。ゲインを1dB上げることに
よって、次にアイリスを変化させたときに、所定の時間
内で目標位置に到達するようになる。また、一度ゲイン
を上げても再度所定の時間内で目標位置に到達しないこ
とが検出された場合、時間内で目標位置に到達するま
で、再度ゲインを上げる。
When the iris is changed and it is detected from the detection signal supplied from the hall sensor 14 that the target position is not reached within a predetermined time, the gain is increased by 1 dB, for example. By increasing the gain by 1 dB, the target position is reached within a predetermined time when the iris is changed next time. Further, if it is detected that the target position is not reached within the predetermined time even if the gain is increased once, the gain is increased again until the target position is reached within the time.

【0035】ここで、ゲインの変化量の一例として1d
Bとしているが、2dBであっても良い。このゲインの
変化量を大きな値とすると設定ハンチングが発生する可
能性があり、小さな値とするとオーバーシュートを抑え
たり、所定の時間以内に所望の位置に到達させたりする
ために回数(時間)がかかるため、1回〜2回ゲインを
変化させることによって、オーバーシュートを抑えた
り、所定の時間以内に所望の位置に到達させたりするこ
とが可能な変化量であれば良い。なお、このゲインの変
化量は、負荷となるデバイス(メータ13)に応じた最
適な値が適宜選択され、設定される。
Here, as an example of the gain change amount, 1d
Although it is set to B, it may be 2 dB. Setting this gain change amount to a large value may cause hunting, and setting it to a small value may reduce the number of times (time) in order to suppress overshoot or to reach a desired position within a predetermined time. Therefore, the amount of change may be such that the overshoot can be suppressed or the desired position can be reached within a predetermined time by changing the gain once or twice. It should be noted that the amount of change in the gain is set by appropriately selecting an optimum value according to the device (meter 13) as the load.

【0036】また、開口径11cが最小となるときに発
振が起こると、入射光から得られる光量に大きな影響を
及ぼすので、開口径11cが最小となるときに、ゲイン
を変化させても発振が起こらないように、ゲインの変化
量を設定しても良い。
Further, if oscillation occurs when the aperture diameter 11c is minimized, it has a great effect on the amount of light obtained from the incident light. Therefore, when the aperture diameter 11c is minimized, the oscillation will occur even if the gain is changed. The amount of change in gain may be set so as not to occur.

【0037】また、開口径11cの目標となる大きさに
よって、ゲインの変化量を変えても良い。例えば、開口
径11cが最小の大きさを目標とした場合には、開口径
11cの大きさが微妙に変化すると、そのときの入射光
から得られる光量に大きな影響を及ぼすので、ゲインの
変化量を小さな値とし、開口径11cが最大の大きさを
目標とした場合には、開口径11cの大きさが微妙に変
化しても、そのときの入射光から得られる光量に大きな
影響はないので、ゲインの変化量を大きな値とする。こ
のように、ゲインの変化量を目標となる大きさの開口径
11cに最適となるように設定しても良い。さらに、開
口径11cの大きさによって段階的にゲインの変化量を
設定して、開口径11cの大きさによってゲインを切り
替えて使用するようにしても良い。
The amount of change in gain may be changed depending on the target size of the opening diameter 11c. For example, when the aperture diameter 11c is set to a minimum size, a slight change in the aperture diameter 11c has a great influence on the amount of light obtained from the incident light at that time. Is set to a small value and the maximum size of the aperture diameter 11c is set as a target, even if the size of the aperture diameter 11c is subtly changed, the light amount obtained from the incident light at that time is not significantly affected. , The gain variation is set to a large value. In this way, the change amount of the gain may be set to be optimum for the target opening diameter 11c. Further, the amount of change in gain may be set stepwise according to the size of the opening diameter 11c, and the gain may be switched depending on the size of the opening diameter 11c for use.

【0038】また、オーバーシュートした大きさ、すな
わち目標位置を越えた距離によって、ゲインの変化量を
変えても良い。例えば、目標位置を所定の距離未満とな
る位置しかオーバーシュートしなかったことがホールセ
ンサ14からの検出信号から検出された場合、標準とし
て予め設定されているゲインの変化量を使用し、目標位
置を所定の距離以上となる位置までオーバーシュートし
たことがホールセンサ14からの検出信号から検出され
た場合、標準として予め設定されているゲインの変化量
をより大きな値に変更するようにしても良い。
The amount of change in gain may be changed depending on the size of overshoot, that is, the distance over the target position. For example, when it is detected from the detection signal from the hall sensor 14 that the target position has overshooted only at a position that is less than a predetermined distance, the amount of change in gain preset as a standard is used to set the target position. When it is detected from the detection signal from the hall sensor 14 that the overshoot has occurred to a position that is equal to or greater than a predetermined distance, the change amount of the gain preset as a standard may be changed to a larger value. .

【0039】この実施形態では、メータ13はバネ付勢
されていても良いし、バネ付勢されていなくても良い。
メータ13がバネ付勢されていない場合、開口径11c
を所定の大きさにメータ13を回転させて、次に開口径
11cの大きさを変化させるまで、メータコイル30に
対して電流の供給が停止される。メータ13がバネ付勢
されている場合、開口径11cを一定の大きさに維持す
るために、メータコイル30に対して常に電流を供給す
る必要がある。
In this embodiment, the meter 13 may or may not be spring-biased.
If the meter 13 is not spring biased, the opening diameter 11c
The current supply to the meter coil 30 is stopped until the meter 13 is rotated to a predetermined size and then the size of the opening diameter 11c is changed. When the meter 13 is spring-biased, it is necessary to constantly supply current to the meter coil 30 in order to maintain the opening diameter 11c at a constant size.

【0040】次に、この発明が適用される他の実施形態
を図を参照して説明する。まず、この他の実施形態の説
明を容易とするために、ズーム可能なレンズ部の一例を
図4を参照して説明する。このレンズ部では、画角変更
用レンズおよびピント調整用レンズを駆動させるため
に、リニアモータが用いられている。リニアモータの固
定側となる磁気回路101はマグネットとヨークから構
成され、移動側には、画角変更用レンズ105を移動さ
せる駆動用のリニアモータコイル102と、ピント調整
用レンズ111を移動させる駆動用のリニアモータコイ
ル108とが設けられている。この磁気回路101に
は、仕切り板101aが設けられている。
Next, another embodiment to which the present invention is applied will be described with reference to the drawings. First, in order to facilitate the description of the other embodiments, an example of a zoomable lens unit will be described with reference to FIG. In this lens unit, a linear motor is used to drive the view angle changing lens and the focus adjusting lens. The magnetic circuit 101 on the fixed side of the linear motor is composed of a magnet and a yoke, and on the moving side, a driving linear motor coil 102 for moving the view angle changing lens 105 and a drive for moving the focus adjusting lens 111. And a linear motor coil 108 for. The magnetic circuit 101 is provided with a partition plate 101a.

【0041】図5Aおよび図5Bに示すように画角変更
用レンズ105は、レンズ固定板131に固定される。
レンズ固定枠104は、このレンズ固定板131を囲む
ように設けられている。レンズ固定板131には、図5
Bに示すようにベース103と、位置検出用のマグネッ
ト106とが結合されている。またベース103は、リ
ニアモータコイル102と結合されている。MR(Magn
eto Resistance)センサ107は、図5Bに示すように
マグネット106との間隔tが保持できるように固定さ
れる。ベース103は、リニアモータコイル102およ
びレンズ固定枠104と結合され、ベース103の中央
部に軸127が貫通される。また、軸127と対向する
位置にレンズ固定板131を貫通するように、軸128
が設けられている。画角変更用レンズ105は、軸12
7および128によってガイドされ、摺動自在とされ
る。
As shown in FIGS. 5A and 5B, the view angle changing lens 105 is fixed to the lens fixing plate 131.
The lens fixing frame 104 is provided so as to surround the lens fixing plate 131. The lens fixing plate 131 is shown in FIG.
As shown in B, the base 103 and the magnet 106 for position detection are connected. The base 103 is also connected to the linear motor coil 102. MR (Magn
The eto resistance sensor 107 is fixed so as to maintain a distance t with the magnet 106 as shown in FIG. 5B. The base 103 is connected to the linear motor coil 102 and the lens fixing frame 104, and the shaft 127 penetrates through the central portion of the base 103. In addition, the shaft 128 is provided so as to penetrate the lens fixing plate 131 at a position facing the shaft 127.
Is provided. The angle-of-view changing lens 105 has a shaft 12
Guided by 7 and 128, slidable.

【0042】図示しないが、ピント調整用レンズ111
は、レンズ固定板に固定される。レンズ固定枠110
は、このレンズ固定板を囲むように設けられている。レ
ズ固定板には、ベース109と、位置検出用のマグネッ
ト112とが結合されている。またベース109は、リ
ニアモータコイル108と結合されている。MRセンサ
113は、マグネット112との間隔tが保持できるよ
うに固定される。ベース109は、リニアモータコイル
108およびレンズ固定枠110と結合され、その中央
部に軸127が貫通される。また、軸127と対向する
位置にレンズ固定板を貫通するように、軸128が設け
られている。ピント調整用レンズ111は、軸127お
よび128によってガイドされ、摺動自在とされる。
Although not shown, the focus adjusting lens 111
Is fixed to the lens fixing plate. Lens fixing frame 110
Are provided so as to surround the lens fixing plate. A base 109 and a magnet 112 for position detection are coupled to the lesbian fixing plate. The base 109 is connected to the linear motor coil 108. The MR sensor 113 is fixed so that the distance t from the magnet 112 can be maintained. The base 109 is connected to the linear motor coil 108 and the lens fixing frame 110, and the shaft 127 penetrates through the central portion thereof. Further, a shaft 128 is provided so as to penetrate the lens fixing plate at a position facing the shaft 127. The focus adjusting lens 111 is guided by shafts 127 and 128 and is slidable.

【0043】フレーム121にはレンズ122が固定さ
れ、フレーム125にはイメージャ126が固定され、
フレーム123にはレンズ124が固定される。また、
フレーム121および125は、軸127および128
を固着している。
The lens 122 is fixed to the frame 121, the imager 126 is fixed to the frame 125,
A lens 124 is fixed to the frame 123. Also,
Frames 121 and 125 have axes 127 and 128.
Is stuck.

【0044】このように、リニアモータコイル102お
よび108に電流を流すことによって、光軸方向に力を
発生させ、画角変更用レンズ105およびピント調整用
レンズ111を移動させることによって、ズーム機能を
実現することができる。
As described above, by applying a current to the linear motor coils 102 and 108, a force is generated in the optical axis direction, and by moving the angle-of-view changing lens 105 and the focus adjusting lens 111, a zoom function is achieved. Can be realized.

【0045】MRセンサ107は、画角変更用レンズ1
05の位置が変化することによって、図6に示すような
90度位相の異なるA相のサイン波SaおよびB相のサ
イン波Sbを出力する。このサイン波SaおよびSbを
信号処理することによって画角変更用レンズ105の位
置を正確に知ることができる。従って、このサイン波S
aおよびSbを用いて画角変更用レンズ105の位置を
サーボ制御することができる。
The MR sensor 107 is the lens 1 for changing the angle of view.
By changing the position of 05, the A-phase sine wave Sa and the B-phase sine wave Sb having different phases by 90 degrees are output as shown in FIG. By processing the sine waves Sa and Sb, the position of the angle-of-view changing lens 105 can be accurately known. Therefore, this sine wave S
The position of the angle-of-view changing lens 105 can be servo-controlled using a and Sb.

【0046】同様に、MRセンサ113は、ピント調整
用レンズ111の位置が変化することによって、図6に
示すような90度位相の異なるA相のサイン波Saおよ
びB相のサイン波Sbを出力する。このサイン波Saお
よびSbを信号処理することによってピント変換用レン
ズ111の位置を正確に知ることができる。従って、こ
のサイン波SaおよびSbを用いてピント変換用レンズ
111の位置をサーボ制御することができる。
Similarly, the MR sensor 113 outputs an A-phase sine wave Sa and a B-phase sine wave Sb having different 90-degree phases as shown in FIG. 6 as the position of the focus adjusting lens 111 changes. To do. By processing the sine waves Sa and Sb, the position of the focus conversion lens 111 can be accurately known. Therefore, the position of the focus conversion lens 111 can be servo-controlled using the sine waves Sa and Sb.

【0047】この図6は、MRセンサ107および11
3から出力されるサイン波SaおよびSbの1周期分で
あり、実際にはストローク分だけ繰り返される。図6中
の電位aは、A相の上の切り替えレベルであり、位置b
は、A相の下の切り替えレベルである。位置cは、内挿
して得られたB相の上の切り替えレベルであり、位置d
は、内挿して得られたB相の下の切り替えレベルであ
る。
In FIG. 6, the MR sensors 107 and 11 are shown.
It is one cycle of the sine waves Sa and Sb outputted from No. 3, and is actually repeated by the stroke. The potential a in FIG. 6 is the switching level above the A phase, and the position b
Is the switching level below the A phase. Position c is the switching level above phase B obtained by interpolation, and position d
Is the switching level below the B phase obtained by interpolation.

【0048】この発明が適用された位置制御の他の実施
形態を図7を参照して説明する。以下、説明を容易とす
るために、画角変更用レンズ105の位置制御について
説明するが、ピント調整用レンズ111の位置制御も同
様の回路および制御で実施することが可能である。
Another embodiment of the position control to which the present invention is applied will be described with reference to FIG. Hereinafter, the position control of the angle-of-view changing lens 105 will be described for ease of description, but the position control of the focus adjustment lens 111 can also be performed by the same circuit and control.

【0049】MRセンサ107には、基準電圧Vccが供
給される。MRセンサ107は、画角変更用レンズ10
5が移動すると、その移動に応じた2つのサイン波Sa
およびSbを出力するものである。そのMRセンサ10
7からのサイン波SaおよびSb検出信号は、加算器1
42および144へ供給される。
The MR sensor 107 is supplied with the reference voltage Vcc. The MR sensor 107 includes the angle-of-view changing lens 10
When 5 moves, two sine waves Sa corresponding to the movement
And Sb are output. The MR sensor 10
The sine wave Sa and Sb detection signals from 7 are added by the adder 1
42 and 144.

【0050】加算器142では、MRセンサ107から
のサイン波Saと、D/Aコンバータ149を介してP
ID演算回路・フィルタ演算回路148から供給される
オフセット電圧とが加算される。加算器142の加算結
果は、増幅器143へ供給される。増幅器143では、
加算器142からの信号が増幅され、A/Dコンバータ
146へ供給される。A/Dコンバータ146では、供
給された信号がデジタル信号に変換され、位置演算回路
147へ供給される。
In the adder 142, the sine wave Sa from the MR sensor 107 and P through the D / A converter 149.
The offset voltage supplied from the ID calculation circuit / filter calculation circuit 148 is added. The addition result of the adder 142 is supplied to the amplifier 143. In the amplifier 143,
The signal from the adder 142 is amplified and supplied to the A / D converter 146. In the A / D converter 146, the supplied signal is converted into a digital signal and supplied to the position calculation circuit 147.

【0051】加算器144では、MRセンサ107から
のサイン波Sbと、D/Aコンバータ150を介してP
ID演算回路・フィルタ演算回路148から供給される
オフセット電圧とが加算される。加算器144の加算結
果は、増幅器145へ供給される。増幅器145では、
加算器144からの信号が増幅され、A/Dコンバータ
146へ供給される。A/Dコンバータ146では、供
給された信号がデジタル信号に変換され、位置演算回路
147へ供給される。
In the adder 144, the sine wave Sb from the MR sensor 107 and P through the D / A converter 150.
The offset voltage supplied from the ID calculation circuit / filter calculation circuit 148 is added. The addition result of the adder 144 is supplied to the amplifier 145. In the amplifier 145,
The signal from the adder 144 is amplified and supplied to the A / D converter 146. In the A / D converter 146, the supplied signal is converted into a digital signal and supplied to the position calculation circuit 147.

【0052】位置演算回路147では、供給された2相
のサイン波SaおよびSbの振幅によって、規格化され
て位置情報が得られる。この位置情報を得る演算は、デ
ジタルカメラが使用されている間、常に動作している。
得られた位置情報は、位置演算回路147からPID演
算回路・フィルタ演算回路148へ供給される。
In the position calculating circuit 147, the position information is standardized by the amplitudes of the supplied two-phase sine waves Sa and Sb. The calculation for obtaining this position information is constantly operating while the digital camera is used.
The obtained position information is supplied from the position calculation circuit 147 to the PID calculation circuit / filter calculation circuit 148.

【0053】PID演算回路・フィルタ演算回路148
では、位置演算回路147からの信号を用いて、マイク
ロコンピュータ31からシリアル通信で与えられた画角
変更用レンズ105の目標位置になるための最適な出力
電圧が算出される。このとき、マイクロコンピュータ3
1とデジタルサーボ回路141とは、シリアル通信でコ
マンド、パラメータ、またはデータなどを相互に通信可
能である。同様に、マイクロコンピュータ31とEEP
ROM32とも、シリアル通信でコマンド、パラメー
タ、またはデータなどを相互に通信可能である。
PID arithmetic circuit / filter arithmetic circuit 148
Then, using the signal from the position calculation circuit 147, the optimum output voltage for reaching the target position of the angle-of-view changing lens 105, which is given from the microcomputer 31 by serial communication, is calculated. At this time, the microcomputer 3
1 and the digital servo circuit 141 can mutually communicate commands, parameters, data, and the like by serial communication. Similarly, the microcomputer 31 and the EEP
Also with the ROM 32, commands, parameters, data, and the like can be mutually communicated by serial communication.

【0054】PID演算回路・フィルタ演算回路148
で算出された電圧値は、ドライバ回路151へ供給され
る。ドライバ回路151では、供給された電圧値がイン
ピーダンス変換され、駆動電圧としてリニアモータコイ
ル102へ印加される。画角変更用レンズ105は、リ
ニアモータコイル102に印加された駆動電圧に応じて
移動する。
PID operation circuit / filter operation circuit 148
The voltage value calculated in step 3 is supplied to the driver circuit 151. In the driver circuit 151, the supplied voltage value is impedance-converted and applied as a drive voltage to the linear motor coil 102. The angle-of-view changing lens 105 moves according to the drive voltage applied to the linear motor coil 102.

【0055】具体的にデジタルカメラの起動時の動作を
説明する。画角が最大となるワイド端から最小となるテ
レ端のときのMRセンサ107のサイン波SaおよびS
bがA/Dコンバータ146の変換レンジと一致するよ
うにD/Aコンバータ149および150が調整され
る。このとき、加算器142および144へ供給するオ
フセット電圧が最適に設定される。このD/Aコンバー
タ149および150の調整は、製造工程内にて行わ
れ、調整された値がそれぞれパラメータとしてEEPR
OM32に記憶される。
The operation when the digital camera is started will be specifically described. The sine waves Sa and S of the MR sensor 107 from the wide end having the maximum angle of view to the tele end having the minimum angle of view.
The D / A converters 149 and 150 are adjusted so that b matches the conversion range of the A / D converter 146. At this time, the offset voltage supplied to the adders 142 and 144 is optimally set. The adjustment of the D / A converters 149 and 150 is performed in the manufacturing process, and the adjusted values are respectively used as parameters in the EEPR.
It is stored in the OM32.

【0056】一例として、EEPROM32に記憶され
たパラメータは、PID演算回路・フィルタ演算回路1
48で使用されるゲインおよびフィルタ係数である。こ
のEEPROM32に記憶されたパラメータは、起動す
る度にマイクロコンピュータ31を介してデジタルサー
ボ回路141へ供給される。PID演算回路・フィルタ
演算回路148では、画角変更用レンズ105が目標位
置となるような電圧値が、ドライバ回路151へ供給さ
れる。ドライバ回路151では、上述したようにリニア
モータコイル102へ駆動電圧が印加され、画角変更用
レンズ105が移動し、目標位置となる。
As an example, the parameters stored in the EEPROM 32 are the PID operation circuit / filter operation circuit 1
Gain and filter coefficients used at 48. The parameters stored in the EEPROM 32 are supplied to the digital servo circuit 141 via the microcomputer 31 every time the system is activated. In the PID calculation circuit / filter calculation circuit 148, a voltage value with which the angle-of-view changing lens 105 is at the target position is supplied to the driver circuit 151. In the driver circuit 151, the drive voltage is applied to the linear motor coil 102 as described above, the lens 105 for changing the angle of view moves, and the target position is reached.

【0057】また、デジタルカメラの動作停止時には、
画角変換用レンズ105を所定の位置とするための電圧
が、PID演算回路・フィルタ演算回路148からドラ
イバ回路151へ出力され、画角変換用レンズ105は
所定の位置へ移動する。
When the operation of the digital camera is stopped,
A voltage for setting the angle-of-view conversion lens 105 to a predetermined position is output from the PID operation circuit / filter operation circuit 148 to the driver circuit 151, and the angle-of-view conversion lens 105 moves to a predetermined position.

【0058】また、レンズ位置の外乱に対する安定性や
動作速度などの動作特性は、PID演算回路・フィルタ
演算回路148の演算に用いられるパラメータによって
制御することができる。このパラメータは、上述したよ
うにEEPROM32に記憶されている。
Further, the operating characteristics such as the stability of the lens position against the disturbance and the operating speed can be controlled by the parameters used for the operation of the PID operation circuit / filter operation circuit 148. This parameter is stored in the EEPROM 32 as described above.

【0059】PID演算回路・フィルタ演算回路148
の演算に用いられるパラメータは、上述の製造工程内で
調整された値、すなわちEEPROM32に記憶されて
いるパラメータに対して、デジタルカメラの使用中に温
度や湿度などの使用環境や径時変化に対応した補正が施
される。デジタルサーボ回路141は、MRセンサ10
7を通して、印加電圧に対するリニアモータ101の応
答特性を常に観測している。そのMRセンサ107から
のデータは、マイクロコンピュータ31にシリアル通信
で送信される。マイクロコンピュータ31では、デジタ
ルサーボ回路141から受信したデータに基づいてEE
PROM32に記憶しているパラメータに対して補正が
施される。補正が施されたパラメータは、デジタルサー
ボ回路141にシリアル通信で送信される。
PID operation circuit / filter operation circuit 148
The parameter used in the calculation of the above corresponds to the value adjusted in the above manufacturing process, that is, the parameter stored in the EEPROM 32, and corresponds to the use environment such as temperature and humidity during the use of the digital camera and the change over time. The correction is applied. The digital servo circuit 141 uses the MR sensor 10
7, the response characteristic of the linear motor 101 with respect to the applied voltage is constantly observed. The data from the MR sensor 107 is transmitted to the microcomputer 31 by serial communication. In the microcomputer 31, the EE based on the data received from the digital servo circuit 141
The parameters stored in the PROM 32 are corrected. The corrected parameters are transmitted to the digital servo circuit 141 by serial communication.

【0060】具体的に説明すると、例えば使用環境温度
が上昇することによって、リニアモータコイル102の
抵抗値が上昇した場合、温度上昇前と同じ駆動電圧をド
ライバ回路151からリニアモータコイル102に供給
しても、リニアモータコイル102に流れる電流は減少
する。すなわち、磁束密度が小さくなる。 (リニアモータコイル102に流れる電流) =(ドラ
イバ回路151の出力電圧) ÷ (リニアモータコイ
ル102の抵抗値)
More specifically, if the resistance value of the linear motor coil 102 rises due to, for example, an increase in operating environment temperature, the same drive voltage as before the temperature rise is supplied from the driver circuit 151 to the linear motor coil 102. However, the current flowing through the linear motor coil 102 decreases. That is, the magnetic flux density decreases. (Current flowing through the linear motor coil 102) = (Output voltage of the driver circuit 151) / (Resistance value of the linear motor coil 102)

【0061】リニアモータ101で発生するトルクは、
リニアモータコイル102に流れる電流に比例するた
め、使用環境温度が上昇することによって、画角変更用
レンズ105で発生するトルクが減少する。従って、開
口径11cを所望の大きさとするためには、この減少分
を補う必要がある。そこで、ドライバ回路151から出
力される駆動電圧が大きくなるように、マイクロコンピ
ュータ31において、PID演算回路・フィルタ演算回
路148で使用されるパラメータに対して補正が施され
る。そして、補正されたパラメータがシリアル通信でデ
ジタルサーバ回路21に供給される。
The torque generated by the linear motor 101 is
Since it is proportional to the current flowing in the linear motor coil 102, the torque generated in the angle-of-view changing lens 105 decreases due to the increase in the operating environment temperature. Therefore, in order to make the opening diameter 11c a desired size, it is necessary to compensate for this decrease. Therefore, in the microcomputer 31, the parameters used in the PID operation circuit / filter operation circuit 148 are corrected so that the drive voltage output from the driver circuit 151 increases. Then, the corrected parameters are supplied to the digital server circuit 21 by serial communication.

【0062】また、温度が下がることによって、リニア
モータコイル102の抵抗値が下がった場合、温度下降
前と同じ駆動電圧をドライバ回路151からリニアモー
タコイル102に供給しても、リニアモータコイル10
2に流れる電流は増大する。すなわち、磁束密度が大き
くなる。そのため、リニアモータ101で発生するトル
クが増大する。従って、画角変更用レンズ105を目標
位置とするためには、この増大分を抑える必要がある。
そこで、ドライバ回路151から出力される駆動電圧が
小さくなるように、マイクロコンピュータ31におい
て、PID演算回路・フィルタ演算回路148で使用さ
れるパラメータに対して補正が施される。そして、補正
されたパラメータがシリアル通信でデジタルサーボ回路
141に供給される。
When the resistance value of the linear motor coil 102 decreases due to the temperature decrease, even if the same drive voltage as before the temperature decrease is supplied from the driver circuit 151 to the linear motor coil 102, the linear motor coil 10
The current flowing through 2 increases. That is, the magnetic flux density increases. Therefore, the torque generated by the linear motor 101 increases. Therefore, in order to set the view angle changing lens 105 to the target position, it is necessary to suppress this increase.
Therefore, in the microcomputer 31, the parameters used in the PID operation circuit / filter operation circuit 148 are corrected so that the drive voltage output from the driver circuit 151 becomes smaller. Then, the corrected parameters are supplied to the digital servo circuit 141 by serial communication.

【0063】このように、PID演算回路・フィルタ演
算回路148で演算に使用されるパラメータを自由に変
更することができる。従って、自由にパラメータを変更
することができるので、制御対象の特性にばらつき、す
なわちリニアモータコイル102の抵抗値が変化して、
リニアモータコイル102に流れる電流が変化しても画
角変更用レンズ105を目標位置に移動することが容易
に可能となる。
As described above, the parameters used for calculation in the PID calculation circuit / filter calculation circuit 148 can be freely changed. Therefore, since the parameters can be freely changed, the characteristics of the controlled object vary, that is, the resistance value of the linear motor coil 102 changes,
Even if the current flowing through the linear motor coil 102 changes, the angle-of-view changing lens 105 can be easily moved to the target position.

【0064】リニアモータ101で発生するトルクの変
化は、温度だけではないが、この実施形態で用いられる
パラメータの補正は、MRセンサ107からの検出信号
を観測することによって、リニアモータ101で発生す
るトルクの変化を検出することができので、リニアモー
タ101の動作状態に応じてパラメータを自由に変更す
ることができる。
Although the change in the torque generated by the linear motor 101 is not limited to the temperature, the correction of the parameters used in this embodiment is generated by the linear motor 101 by observing the detection signal from the MR sensor 107. Since the change in torque can be detected, the parameters can be freely changed according to the operating state of the linear motor 101.

【0065】ここで、上述したパラメータを変更する一
例としてゲインを変更する一例を図3のフローチャート
を参照して説明する。ステップS101では、画角変更
用レンズ105を動作させたか否かが判断される。画角
変更用レンズ105を動作させたと判断した場合、ステ
ップS102へ制御が移り、画角変更用レンズ105を
動作させていない場合、画角変更用レンズ105を動作
させるまで、ステップS101の制御が繰り返される。
この画角変更用レンズ105の動作の検出は、上述のよ
うにMRセンサ107からの検出信号に基づいて判断し
ても良いし、PID演算回路・フィルタ演算回路148
からドライバ回路151へ供給される電圧値に基づいて
判断しても良い。また、その両方に基づいてアイリスを
駆動させたか否かを判断するようにしても良い。
Here, an example of changing the gain will be described as an example of changing the parameters described above with reference to the flowchart of FIG. In step S101, it is determined whether or not the angle-of-view changing lens 105 has been operated. If it is determined that the angle-of-view changing lens 105 is operated, the control proceeds to step S102. If the angle-of-view changing lens 105 is not operated, the control of step S101 is performed until the angle-of-view changing lens 105 is operated. Repeated.
The detection of the operation of the angle-of-view changing lens 105 may be determined based on the detection signal from the MR sensor 107 as described above, or the PID calculation circuit / filter calculation circuit 148.
Alternatively, the determination may be made based on the voltage value supplied from the driver circuit 151 to the driver circuit 151. Further, it may be determined whether or not the iris is driven based on both of them.

【0066】ステップS102では、MRセンサ107
からの検出信号に基づいて、画角変更用レンズ105が
所望の位置に停止せず、所望の位置を越えた、すなわち
オーバーシュートしたか否かが判断される。オーバーシ
ュートしたと判断した場合、ステップS105へ制御が
移り、オーバーシュートしていないと判断した場合、ス
テップS103へ制御が移る。ステップS105では、
ゲインが下げられる。そして、ステップS101へ制御
が戻る。
In step S102, the MR sensor 107
Based on the detection signal from, it is determined whether the angle-of-view changing lens 105 does not stop at the desired position but exceeds the desired position, that is, whether or not it has overshot. When it is determined that the overshoot has occurred, the control proceeds to step S105, and when it is determined that the overshoot has not occurred, the control proceeds to step S103. In step S105,
Gain can be reduced. Then, the control returns to step S101.

【0067】ステップS103では、リニアモータ10
1を動作させてから8msec以上経過して画角変更用レン
ズ105が目標位置に到達したか、または8msec以上経
過しても画角変更用レンズ105が目標位置に到達して
いないか、が判断される。すなわち、このステップS1
03では、リニアモータ101を動作させてから画角変
更用レンズ105を目標位置に停止させるために、8ms
ec以上の遅延が発生したか否かが判断される。リニアモ
ータ101を動作させてから画角変更用レンズ105を
目標位置に停止させるために、8msec以上の遅延が発生
したと判断した場合、ステップS104へ制御が移り、
画角変更用レンズ105が8msec未満で目標位置に到達
したと判断した場合、ステップS101へ制御が戻る。
ステップS104では、ゲインが上げられる。そして、
ステップS101へ制御が戻る。
In step S103, the linear motor 10
It is determined whether the angle-of-view changing lens 105 has reached the target position after 8 msec has passed after operating 1 or whether the angle-of-view changing lens 105 has not reached the target position even after 8 msec has passed. To be done. That is, this step S1
In 03, in order to stop the angle-of-view changing lens 105 at the target position after operating the linear motor 101,
It is determined whether a delay of ec or more has occurred. When it is determined that a delay of 8 msec or more has occurred in order to stop the angle-of-view changing lens 105 at the target position after operating the linear motor 101, the control proceeds to step S104,
When it is determined that the view angle changing lens 105 has reached the target position in less than 8 msec, the control returns to step S101.
In step S104, the gain is increased. And
The control returns to step S101.

【0068】このようにして、オーバーシュートや、所
定の時間以内に目標位置に到達していないことが検出さ
れると、ゲインが変更される。もし、ゲインが変更され
なければ、オーバーシュートの場合、オーバーシュート
の状態が徐々に悪くなり、最終的には発振が起こるた
め、正確な画角且つピントをレンズ15およびイメージ
ャ16に供給することができない。このようなズーム機
能の発振を、ゲインを変更することによって抑えること
ができる。
In this way, the gain is changed when it is detected that the target position has not been reached within the predetermined time or overshoot. If the gain is not changed, in the case of overshoot, the state of overshoot gradually deteriorates and oscillation eventually occurs, so that an accurate angle of view and focus can be supplied to the lens 15 and the imager 16. Can not. Such oscillation of the zoom function can be suppressed by changing the gain.

【0069】具体的には、ズームを変化させたときに、
MRセンサ107から供給される検出信号からオーバー
シュートが検出されると、ゲインを、例えば1dB下げ
る。ゲインを1dB下げることによって、次にズームを
変化させたときに、オーバーシュートが抑えられる。ま
た、一度ゲインを下げても再度オーバーシュートが検出
された場合、オーバーシュートが抑えられるまで、再度
ゲインを下げる。
Specifically, when the zoom is changed,
When overshoot is detected from the detection signal supplied from the MR sensor 107, the gain is lowered by, for example, 1 dB. By reducing the gain by 1 dB, the overshoot is suppressed when the zoom is changed next time. If overshoot is detected again even if the gain is reduced once, the gain is reduced again until the overshoot is suppressed.

【0070】また、ズームを変化させたときに、MRセ
ンサ107から供給される検出信号から所定の時間内で
目標位置に到達しないことが検出されると、ゲインを、
例えば1dB上げる。ゲインを1dB上げることいよっ
て、次にアイリスを変化させたときに、所定の時間内で
目標位置に到達するようになる。また、一度ゲインを上
げても再度所定の時間内で目標位置に到達しないことが
検出された場合、時間内で目標位置に到達するまで、再
度ゲインを上げる。
Further, when it is detected that the target position is not reached within a predetermined time from the detection signal supplied from the MR sensor 107 when the zoom is changed, the gain is changed to
For example, increase by 1 dB. By increasing the gain by 1 dB, when the iris is changed next time, the target position is reached within a predetermined time. Further, if it is detected that the target position is not reached within the predetermined time even if the gain is increased once, the gain is increased again until the target position is reached within the time.

【0071】ここで、ゲインの変化量の一例として1d
Bとしているが、2dBであっても良い。このゲインの
変化量を大きな値とすると設定ハンチングが発生する可
能性があり、小さな値とするとオーバーシュートを抑え
たり、所定の時間以内に目標位置に到達させたりするた
めに回数(時間)がかかるため、1回〜2回ゲインを変
化させることによって、オーバーシュートを抑えたり、
所定の時間以内に目標位置に到達させたりすることが可
能な変化量であれば良い。なお、このゲインの変化量
は、負荷となるデバイス(画角変更用レンズ105)に
応じた最適な値が適宜選択され、設定される。
Here, as an example of the gain change amount, 1d
Although it is set to B, it may be 2 dB. If the amount of change in gain is set to a large value, setting hunting may occur, and if it is set to a small value, it takes a number of times (time) to suppress overshoot or reach the target position within a predetermined time. Therefore, changing the gain once or twice suppresses overshoot,
The amount of change may be such that it can reach the target position within a predetermined time. It should be noted that this gain change amount is set by appropriately selecting an optimum value according to the device (field angle changing lens 105) as a load.

【0072】また、オーバーシュートした大きさ、すな
わち目標位置を越えた距離によって、ゲインの変化量を
変えても良い。例えば、目標位置を所定の距離未満とな
る位置しかオーバーシュートしなかったことがMRセン
サ107からの検出信号から検出された場合、標準とし
て予め設定されているゲインの変化量を使用し、目標位
置を所定の距離以上となる位置までオーバーシュートし
たことがMRセンサ107からの検出信号から検出され
た場合、標準として予め設定されているゲインの変化量
をより大きな値に変更するようにしても良い。
The amount of change in gain may be changed depending on the size of overshoot, that is, the distance over the target position. For example, when it is detected from the detection signal from the MR sensor 107 that the target position has overshot only at a position that is less than a predetermined distance, the change amount of the gain preset as a standard is used to set the target position. When it is detected from the detection signal from the MR sensor 107 that overshoots to a position that is equal to or greater than a predetermined distance, the change amount of the gain preset as a standard may be changed to a larger value. .

【0073】この他の実施形態は、イメージャ126に
近い方をピント調整用レンズとし、遠い方を画角変更用
レンズとしたが、イメージャ子126に近い方を画角変
更用レンズとし、遠い方をピント調整用レンズとしても
良い。すなわち、ズーム機能を実現することができるも
のであれば良い。
In this other embodiment, the lens closer to the imager 126 is used as the focus adjusting lens and the lens farther from the imager 126 is used as the angle-of-view changing lens. May be used as a lens for focus adjustment. That is, any device that can realize the zoom function may be used.

【0074】この他の実施形態では、位置検出用のマグ
ネット106および112は、リニアモータと対向する
位置に設けられているが、リニアモータと同じ位置に設
けられていても何ら問題はない。
In this other embodiment, the position detecting magnets 106 and 112 are provided at positions facing the linear motor, but there is no problem if they are provided at the same position as the linear motor.

【0075】[0075]

【発明の効果】この発明に依れば、デジタルサーボ回
路、マイクロコンピュータ、EEPROMによって現在
位置と目標位置とを比較してゲインの調整を行うことが
できるので、負荷となるデバイス(メータまたはリニア
モータ)、すなわち制御対象のばらつきや状態の変化に
応じて最適な特性となるパラメータ(ゲイン)に適宜変
更することができる。従って、目標位置を大きく越える
オーバーシュートや、目標位置に到達しない状態を抑え
ることができる。
According to the present invention, since the gain can be adjusted by comparing the current position and the target position with the digital servo circuit, the microcomputer, and the EEPROM, the device (meter or linear motor) serving as a load can be adjusted. ), That is, the parameter (gain) having the optimum characteristic can be appropriately changed according to the variation of the controlled object and the change of the state. Therefore, it is possible to suppress overshoot that greatly exceeds the target position and a state where the target position is not reached.

【0076】この発明に依れば、従来サーボのパラメー
タを設定するために少なくとも40個以上の抵抗とコン
デンサを使用していたが、EEPROMにサーボのパラ
メータを記憶することができるので、部品点数を大幅に
削減することができる。さらに、実装面積も大幅に縮小
することができ、アイリスの小型化を実現することがで
きる。また、部品点数を大幅に削減することができるの
で、消費電力も抑えることができる。
According to the present invention, at least 40 or more resistors and capacitors are conventionally used to set the servo parameters, but since the servo parameters can be stored in the EEPROM, the number of parts can be reduced. It can be reduced significantly. Furthermore, the mounting area can be significantly reduced, and the iris can be downsized. Moreover, since the number of parts can be significantly reduced, power consumption can be suppressed.

【0077】この発明に依れば、デジタルサーボ回路、
マイクロコンピュータ、EEPROMによって、アイリ
スの位置制御と共に、速度制御も簡単に行うことができ
る。さらに、デジタルサーボ回路、マイクロコンピュー
タ、EEPROMによってアイリスを制御しているの
で、より精密な制御が可能になる。
According to the present invention, the digital servo circuit,
With the microcomputer and the EEPROM, speed control as well as iris position control can be easily performed. Further, since the iris is controlled by the digital servo circuit, the microcomputer and the EEPROM, more precise control becomes possible.

【0078】この発明に依れば、制御対象のばらつきや
状態の変化に応じた最適な特性に設定することができる
ので、精密な制御が可能となり、さらにズーム機能を有
するレンズ鏡筒を小型化することができる。
According to the present invention, since the optimum characteristics can be set according to the variation of the controlled object and the change of the state, precise control becomes possible, and the lens barrel having the zoom function can be miniaturized. can do.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明をアイリスに適応した一例の概略図で
ある。
FIG. 1 is a schematic view of an example in which the present invention is applied to an iris.

【図2】この発明の位置制御の一実施形態のブロック図
である。
FIG. 2 is a block diagram of an embodiment of position control of the present invention.

【図3】この発明の一実施形態を説明するためのフロー
チャートである。
FIG. 3 is a flowchart for explaining an embodiment of the present invention.

【図4】この発明をズーム機能に適応した一例の概略図
である。
FIG. 4 is a schematic view of an example in which the present invention is applied to a zoom function.

【図5】この発明をズーム機能に適応した一例の概略図
である。
FIG. 5 is a schematic view of an example in which the present invention is applied to a zoom function.

【図6】この発明に用いられるMRセンサの出力の一例
である。
FIG. 6 is an example of the output of the MR sensor used in the present invention.

【図7】この発明の位置制御の他の実施形態のブロック
図である。
FIG. 7 is a block diagram of another embodiment of the position control according to the present invention.

【図8】この発明の他の実施形態を説明するためのフロ
ーチャートである。
FIG. 8 is a flowchart for explaining another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

13・・・メータ、14・・・ホールセンサ、21・・
・デジタルサーボ回路、22・・・加算器、23・・・
増幅器、24・・・A/Dコンバータ、25・・・PI
D演算回路・フィルタ演算回路、26、27・・・D/
Aコンバータ、28・・・定電流回路、29・・・ドラ
イバ回路、30・・・メータコイル、31・・・マイク
ロコンピュータ、32・・・EEPROM
13 ... Meter, 14 ... Hall sensor, 21 ...
・ Digital servo circuit, 22 ... Adder, 23 ...
Amplifier, 24 ... A / D converter, 25 ... PI
D operation circuit / filter operation circuit, 26, 27 ... D /
A converter, 28 ... Constant current circuit, 29 ... Driver circuit, 30 ... Meter coil, 31 ... Microcomputer, 32 ... EEPROM

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G03B 7/10 G03B 7/10 H04N 5/238 H04N 5/238 Z ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued Front Page (51) Int.Cl. 7 Identification Code FI Theme Coat (Reference) G03B 7/10 G03B 7/10 H04N 5/238 H04N 5/238 Z

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 制御対象を変位させるアクチュエータ
と、上記アクチュエータの位置を検出するセンサとを有
し、撮像装置に用いられる位置制御装置であって、 上記アクチュエータを駆動させる駆動信号を算出するた
めのパラメータを記憶するメモリと、 上記センサから出力される検出信号に応じて上記パラメ
ータを変更する制御手段と、 変更された上記パラメータを用いて上記駆動信号を算出
する演算手段とからなることを特徴とする撮像装置に用
いられる位置制御装置。
1. A position control device for use in an image pickup device, comprising: an actuator for displacing an object to be controlled; and a sensor for detecting the position of the actuator, for calculating a drive signal for driving the actuator. A memory for storing parameters, a control means for changing the parameters according to a detection signal output from the sensor, and an arithmetic means for calculating the drive signal using the changed parameters. Position control device used in an image pickup device that operates.
【請求項2】 上記アクチュエータは、メータであるこ
とを特徴とする請求項1に記載の撮像装置に用いられる
位置制御装置。
2. The position control device used in the image pickup device according to claim 1, wherein the actuator is a meter.
【請求項3】 上記アクチュエータは、リニアモータで
あることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置に用い
られる位置制御装置。
3. The position control device used in the image pickup device according to claim 1, wherein the actuator is a linear motor.
【請求項4】 上記パラメータは、ゲインおよびフィル
タ係数であり、少なくとも上記ゲインを変更するように
したことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置に用い
られる位置制御装置。
4. The position control device used in the image pickup apparatus according to claim 1, wherein the parameters are a gain and a filter coefficient, and at least the gain is changed.
【請求項5】 上記制御手段は、 上記センサから出力される上記検出信号に基づいて上記
アクチュエータが目標位置を大きく越えたと判断した場
合、上記ゲインを下げ、 上記センサから出力される上記検出信号に基づいて上記
アクチュエータが目標位置に所定の時間を超えても到達
していないと判断した場合、上記ゲインを上げるように
したことを特徴とする請求項4に記載の撮像装置に用い
られる位置制御装置。
5. The control means, when it is determined that the actuator has greatly exceeded a target position based on the detection signal output from the sensor, lowers the gain and sets the detection signal output from the sensor to the detected signal. The position control device used in the image pickup device according to claim 4, wherein, when it is determined that the actuator has not reached the target position based on a predetermined time period, the gain is increased based on the actuator. .
【請求項6】 制御対象を変位させるアクチュエータ
と、上記アクチュエータの位置を検出するセンサとを有
し、撮像装置に用いられる位置制御方法であって、 上記アクチュエータを駆動させる駆動信号を算出するた
めのパラメータをメモリに記憶し、 上記センサから出力される検出信号に応じて上記パラメ
ータを変更し、 変更された上記パラメータを用いて上記駆動信号を算出
するようにしたことを特徴とする撮像装置に用いられる
位置制御方法。
6. A position control method used in an image pickup apparatus, comprising: an actuator for displacing an object to be controlled; and a sensor for detecting the position of the actuator, the method being for calculating a drive signal for driving the actuator. A parameter is stored in a memory, the parameter is changed according to a detection signal output from the sensor, and the drive signal is calculated using the changed parameter. Position control method.
【請求項7】 上記アクチュエータは、メータであるこ
とを特徴とする請求項6に記載の撮像装置に用いられる
位置制御方法。
7. The position control method used in an image pickup apparatus according to claim 6, wherein the actuator is a meter.
【請求項8】 上記アクチュエータは、リニアモータで
あることを特徴とする請求項6に記載の撮像装置に用い
られる位置制御方法。
8. The position control method used in an image pickup apparatus according to claim 6, wherein the actuator is a linear motor.
【請求項9】 上記パラメータは、ゲインおよびフィル
タ係数であり、少なくとも上記ゲインを変更するように
したことを特徴とする請求項6に記載の撮像装置に用い
られる位置制御方法。
9. The position control method used in an image pickup apparatus according to claim 6, wherein the parameters are a gain and a filter coefficient, and at least the gain is changed.
【請求項10】 上記ゲインの変更は、 上記センサから出力される上記検出信号に基づいて上記
アクチュエータが目標位置を大きく越えたと判断した場
合、上記ゲインを下げるようにし、 上記センサから出力される上記検出信号に基づいて上記
アクチュエータが目標位置に所定の時間を超えても到達
していないと判断した場合、上記ゲインを上げるように
したことを特徴とする請求項9に記載の撮像装置に用い
られる位置制御方法。
10. The gain is changed by decreasing the gain when it is determined that the actuator has largely exceeded a target position based on the detection signal output from the sensor. 10. The image pickup apparatus according to claim 9, wherein the gain is increased when it is determined that the actuator has not reached the target position within a predetermined time based on the detection signal. Position control method.
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Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008058401A (en) * 2006-08-29 2008-03-13 Canon Inc Controller and imaging apparatus
JP2008058402A (en) * 2006-08-29 2008-03-13 Canon Inc Control device and imaging apparatus
JP2008083343A (en) * 2006-09-27 2008-04-10 Canon Inc Light quantity adjusting system and optical equipment
JP2010185963A (en) * 2009-02-10 2010-08-26 Fujinon Corp Lens device
JP2018091957A (en) * 2016-12-01 2018-06-14 日本電産コパル株式会社 Servo control device, camera unit, blade drive device, and imaging device
CN109085398A (en) * 2018-08-30 2018-12-25 中国电力科学研究院有限公司 With the multifunctional combined terminal box of electrical energy measurement for changing table tooling
CN109085399A (en) * 2018-08-30 2018-12-25 中国电力科学研究院有限公司 Electrical energy measurement presses detection switch structure with multifunctional combined junction box
CN109085396A (en) * 2018-08-30 2018-12-25 中国电力科学研究院有限公司 With the multifunctional combined terminal box of electrical energy measurement for changing table tooling
CN109085400A (en) * 2018-08-30 2018-12-25 中国电力科学研究院有限公司 The multifunctional combined junction box stream detection switch structure of electrical energy measurement
CN109085401A (en) * 2018-08-30 2018-12-25 中国电力科学研究院有限公司 The multifunctional combined terminal box of electrical energy measurement with test fixture
CN109085397A (en) * 2018-08-30 2018-12-25 中国电力科学研究院有限公司 Electrical energy measurement multifunctional combined terminal box test fixture structure
CN109188336A (en) * 2018-08-30 2019-01-11 中国电力科学研究院有限公司 The multifunctional combined terminal box current detection switch structure of field-checking equipment
CN109188337A (en) * 2018-08-30 2019-01-11 中国电力科学研究院有限公司 The multifunctional combined terminal box voltage detection switch structure of field-checking equipment
WO2021024767A1 (en) * 2019-08-02 2021-02-11 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 Imaging device and imaging device control method
JP7501190B2 (en) 2020-07-21 2024-06-18 富士電機株式会社 Magnetic pole position estimation device and control device for AC synchronous motor

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59129841A (en) * 1983-01-17 1984-07-26 Canon Inc Diaphragm device in camera or the like
JPH03144426A (en) * 1989-10-30 1991-06-19 Sony Corp Video camera
JP2001033846A (en) * 1999-07-26 2001-02-09 Nidec Copal Corp Shutter for camera

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59129841A (en) * 1983-01-17 1984-07-26 Canon Inc Diaphragm device in camera or the like
JPH03144426A (en) * 1989-10-30 1991-06-19 Sony Corp Video camera
JP2001033846A (en) * 1999-07-26 2001-02-09 Nidec Copal Corp Shutter for camera

Cited By (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008058401A (en) * 2006-08-29 2008-03-13 Canon Inc Controller and imaging apparatus
JP2008058402A (en) * 2006-08-29 2008-03-13 Canon Inc Control device and imaging apparatus
JP2008083343A (en) * 2006-09-27 2008-04-10 Canon Inc Light quantity adjusting system and optical equipment
JP2010185963A (en) * 2009-02-10 2010-08-26 Fujinon Corp Lens device
JP2018091957A (en) * 2016-12-01 2018-06-14 日本電産コパル株式会社 Servo control device, camera unit, blade drive device, and imaging device
CN109085397A (en) * 2018-08-30 2018-12-25 中国电力科学研究院有限公司 Electrical energy measurement multifunctional combined terminal box test fixture structure
CN109188336B (en) * 2018-08-30 2021-08-03 中国电力科学研究院有限公司 Multifunctional joint junction box current detection switch structure for field calibration equipment
CN109085396A (en) * 2018-08-30 2018-12-25 中国电力科学研究院有限公司 With the multifunctional combined terminal box of electrical energy measurement for changing table tooling
CN109085400A (en) * 2018-08-30 2018-12-25 中国电力科学研究院有限公司 The multifunctional combined junction box stream detection switch structure of electrical energy measurement
CN109085401A (en) * 2018-08-30 2018-12-25 中国电力科学研究院有限公司 The multifunctional combined terminal box of electrical energy measurement with test fixture
CN109085398A (en) * 2018-08-30 2018-12-25 中国电力科学研究院有限公司 With the multifunctional combined terminal box of electrical energy measurement for changing table tooling
CN109188336A (en) * 2018-08-30 2019-01-11 中国电力科学研究院有限公司 The multifunctional combined terminal box current detection switch structure of field-checking equipment
CN109188337A (en) * 2018-08-30 2019-01-11 中国电力科学研究院有限公司 The multifunctional combined terminal box voltage detection switch structure of field-checking equipment
CN109188337B (en) * 2018-08-30 2022-03-04 中国电力科学研究院有限公司 Multifunctional joint junction box voltage detection switch structure for field calibration equipment
CN109085399A (en) * 2018-08-30 2018-12-25 中国电力科学研究院有限公司 Electrical energy measurement presses detection switch structure with multifunctional combined junction box
CN109085398B (en) * 2018-08-30 2021-08-03 中国电力科学研究院有限公司 Multifunctional combined junction box with meter replacing tool for electric energy metering
CN109085401B (en) * 2018-08-30 2021-08-03 中国电力科学研究院有限公司 Multifunctional combined junction box with test tool for electric energy metering
CN109085397B (en) * 2018-08-30 2021-08-06 中国电力科学研究院有限公司 Test tool structure for multifunctional combined junction box for electric energy metering
CN109085396B (en) * 2018-08-30 2021-09-17 中国电力科学研究院有限公司 Multifunctional combined junction box with meter replacing tool for electric energy metering
CN109085400B (en) * 2018-08-30 2021-09-28 中国电力科学研究院有限公司 Current detection switch structure for multifunctional combined junction box for electric energy metering
CN109085399B (en) * 2018-08-30 2021-09-28 中国电力科学研究院有限公司 Voltage detection switch structure for multifunctional combined junction box for electric energy metering
WO2021024767A1 (en) * 2019-08-02 2021-02-11 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 Imaging device and imaging device control method
JP7501190B2 (en) 2020-07-21 2024-06-18 富士電機株式会社 Magnetic pole position estimation device and control device for AC synchronous motor

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