JP2003014449A - Calibration method for surface property measuring apparatus - Google Patents

Calibration method for surface property measuring apparatus

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To acquire a precise measurement result by allowing the acquirement of calibration information for a measurement result with a simple method in the connection of measured data for each partial measurement range, and to avoid the improper connection of a partial measurement range. SOLUTION: A calibration work 5 having a known shape is measured divisionally in two or more partial measurement ranges by a surface property measuring apparatus 100. An evaluation function Φ is defined from measured data S of every measurement range, and the rotating quantity R and parallel moving quantity T of each measured data S for minimizing the evaluation function Φis determined by nonlinear least square method. Constraint conditions related to R and T are integrated to the evaluation function Φ.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、被測定物の輪郭、
二次元形状、三次元形状、表面粗さ、うねり等の表面性
状を測定する表面性状測定装置の校正方法に関し、より
詳しくは、一連の測定動作で測定できる測定範囲を超え
る広い測定範囲を測定する表面性状測定装置の校正方法
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention
Regarding the calibration method of the surface texture measuring device that measures the surface texture such as two-dimensional shape, three-dimensional shape, surface roughness, waviness, and more specifically, it measures a wide measuring range that exceeds the measuring range that can be measured by a series of measuring operations. The present invention relates to a calibration method for a surface texture measuring device.

【0002】[0002]

【従来の技術】三次元測定機等を利用して、一連の測定
動作ではカバーし切れない広範囲な領域にわたって高精
度な測定を行う場合、全測定範囲を複数の部分測定範囲
に分割して、各部分測定範囲毎に測定を行ったのち、こ
れら部分測定範囲の測定データを接続して全測定範囲の
測定データを得ることがなされている。部分測定範囲へ
の分割の方法として、全測定範囲を、一部が重複するよ
うに複数の部分測定範囲に分割する方法が知られてい
る。
2. Description of the Related Art When performing a highly accurate measurement over a wide area that cannot be covered by a series of measurement operations using a three-dimensional measuring machine or the like, the entire measurement range is divided into a plurality of partial measurement ranges. After measurement is performed for each partial measurement range, measurement data for the entire measurement range is obtained by connecting measurement data for the partial measurement ranges. As a method of dividing into partial measurement ranges, a method is known in which the entire measurement range is divided into a plurality of partial measurement ranges so as to partially overlap.

【0003】また、部分測定範囲の測定データを接続す
る方法として、幾つかの方法が提案されている。例え
ば、重複部分が最も滑らかに結合されるように各部分測
定範囲の位置、角度をフィッティングさせて全測定範囲
Aの形状を求める「フィッティング合成法」が知られて
いる。他の方法としては、各部分測定範囲をその法線方
向にのみ移動させ、各部分測定範囲が接続された全測定
範囲の形状を求める方法(ハイブリッドフィッティング
を用いた開口合成干渉法による光度非球面形状計測:清
水他、1998年度精密工学会秋季大会学術講演会講演論文
集p179)が知られている。
Several methods have been proposed as a method for connecting the measurement data in the partial measurement range. For example, by fitting the position and angle of each part measurement range so that the overlapping parts are connected most smoothly, the entire measurement range
A “fitting synthesis method” for obtaining the shape of A is known. Another method is to move each partial measurement range only in the normal direction and obtain the shape of the entire measurement range to which each partial measurement range is connected (luminous aspheric surface by aperture synthetic interferometry using hybrid fitting). Shape measurement: Shimizu et al., 1998 Precision Engineering Society Fall Conference Academic Lecture Proceedings p179) is known.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、こうした部
分測定範囲間の測定データのズレの原因は、各部分測定
範囲毎に測定センサを位置決めしたり、載置台を移動さ
せたりすることに起因するセンサの位置決め誤差、載置
台の真直誤差などの器械誤差、及びセンサの非直線誤差
等がその主たるものである。これら器械的誤差等を知る
ことができれば、適切な接続を迅速に行なうことができ
るはずである。また、操作方法が不適切であったり、或
いは機械そのものに異常があったりなどの理由により、
各部分測定範囲間の器械誤差等の大きさの差が想定を超
えて大きくなることがある。こうした場合には、無理に
接続を続行することは適切でない。しかし、従来は、部
分測定範囲間の測定データのズレの原因が何であるかを
考慮せずに部分測定データの接続を実行していたので、
接続に時間を要するだけでなく、不適切な全測定範囲の
データが出力され得るという不都合があった。
By the way, the cause of the deviation of the measurement data between the partial measurement ranges is caused by positioning the measurement sensor for each partial measurement range or moving the mounting table. The main errors are instrumental errors such as positioning errors, mounting table straightness errors, and sensor non-linear errors. If these instrumental errors can be known, an appropriate connection should be made quickly. Also, due to reasons such as inappropriate operation methods or abnormalities in the machine itself,
Differences in magnitude, such as instrument errors, between the partial measurement ranges may become larger than expected. In such a case, it is not appropriate to continue the connection forcibly. However, in the past, partial measurement data was connected without considering what caused the deviation of measurement data between partial measurement ranges.
Not only does the connection take time, but there is an inconvenience that data in an inappropriate measurement range can be output.

【0005】本発明は、上記の問題点に鑑みてなされた
ものであり、各部分測定範囲の測定データを接続するに
際し、簡易な方法で測定結果の校正情報を取得すること
ができ、短時間で高精度な測定結果を取得することので
きる表面性状測定装置の校正方法を提供することを目的
とする。また、部分測定範囲の不適切な接続を回避する
ことができ、これにより正確な全測定範囲のデータを取
得することのできる表面性状測定装置の校正方法を提供
することを別の目的とする。
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems. When connecting measurement data of each partial measurement range, calibration information of measurement results can be obtained by a simple method, and the time is short. An object of the present invention is to provide a method for calibrating a surface texture measuring apparatus capable of acquiring a highly accurate measurement result with the above method. Another object of the present invention is to provide a method for calibrating a surface texture measuring apparatus that can avoid inappropriate connection of partial measurement ranges and thereby obtain accurate data of the entire measurement range.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】この目的のため、本発明
に係る表面性状測定装置の校正方法は、一連の測定動作
で測定できる測定範囲の大きさよりも大きい被測定物を
測定するに際し、全測定範囲を互いに一部において重複
する部分測定範囲に分割し、各部分測定範囲での前記被
測定物の測定結果を取得した後、所定の方法で各部分測
定範囲での前記被測定物の測定結果を接続することによ
り全測定範囲の表面性状を求めるように構成された表面
性状測定装置の校正方法において、既知の表面性状を有
する校正ワークの表面性状を測定するため、互いに一部
において重複する部分測定範囲を設定する第一のステッ
プと、前記部分測定範囲毎に前記校正ワークの部分表面
性状の測定を実行し部分測定データを取得する第二のス
テップと、この各部分測定データに基づき、隣接する前
記部分測定範囲の重複部分における対応関係を特定する
第三のステップと、前記対応関係に関する評価関数Φを
定義する第四のステップと、前記評価関数Φを最小にす
るような前記部分測定範囲での前記部分測定データの変
換量を非線形最小二乗法により求める第五のステップ
と、前記第五のステップにより求められた前記変換量に
基づき、前記被測定物の測定結果を補正するための補正
値を演算する第六のステップとを備えたとを備えたこと
を要旨とする。この校正方法では、校正ワークの既知の
表面性状に近似するように校正ワークの測定結果が変換
される。この変換量は、センサ位置決め誤差等の器械誤
差やセンサの非直線誤差に相当すると考えられるので、
この変換量により、被測定物の測定結果を補正すること
ができる。前記の変換量は、前記各部分測定範囲毎の部
分測定データによって特定される面の回転量R及び平行
移動量Tとすることができる。
To this end, the calibration method for a surface texture measuring device according to the present invention is a method for measuring an object to be measured that is larger than the size of a measuring range that can be measured by a series of measuring operations. The measurement range is divided into partial measurement ranges that partially overlap each other, and after obtaining the measurement results of the measurement object in each partial measurement range, the measurement of the measurement object in each partial measurement range by a predetermined method In the calibration method of the surface texture measuring apparatus configured to obtain the surface texture of the entire measurement range by connecting the results, in order to measure the surface texture of the calibration workpiece having the known surface texture, it partially overlaps each other A first step of setting a partial measurement range; a second step of measuring partial surface properties of the calibration workpiece for each partial measurement range to obtain partial measurement data; and Based on the minute measurement data, a third step for identifying the correspondence in the overlapping portion of the adjacent partial measurement ranges, a fourth step for defining the evaluation function Φ for the correspondence, and minimizing the evaluation function Φ A fifth step of determining a conversion amount of the partial measurement data in the partial measurement range by a nonlinear least square method, and measuring the object to be measured based on the conversion amount determined by the fifth step. And a sixth step of calculating a correction value for correcting the result. In this calibration method, the measurement result of the calibration work is converted so as to approximate the known surface property of the calibration work. This conversion amount is considered to correspond to instrument error such as sensor positioning error and non-linear error of sensor.
The measurement result of the object to be measured can be corrected by this conversion amount. The conversion amount can be the rotation amount R and the translation amount T of the surface specified by the partial measurement data for each partial measurement range.

【0007】また、前記の表面性状測定装置の校正方法
において、前記変換量に所定の制約条件を設定し、前記
変換量が前記制約条件の範囲内にあるか否かを判断する
ステップを更に備えるのが好適である。これにより、部
分測定範囲の不適切な接続を回避することができ、正確
な全測定範囲のデータを取得することができる。さら
に、前記変換量が制約条件内に収まらないと判断される
場合には、外部に向けてその旨を報知するステップを実
行するのがよい。
The calibration method for the surface texture measuring apparatus further includes the step of setting a predetermined constraint condition for the conversion amount and determining whether the conversion amount is within the range of the constraint condition. Is preferred. Thereby, an inappropriate connection of the partial measurement ranges can be avoided, and accurate data of the entire measurement range can be acquired. Furthermore, when it is determined that the conversion amount does not fall within the constraint conditions, a step of notifying the outside is preferably performed.

【0008】また、前記対応関係は、前記対応点間の距
離により表現することができる。さらに、前記評価関数
Φは、前記制約条件を表す関数を組み込んでいるのが好
適である。
The correspondence relationship can be expressed by a distance between the corresponding points. Furthermore, it is preferable that the evaluation function Φ incorporates a function representing the constraint condition.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下、添付の図面を参照して本発
明に係る表面性状測定方法の好ましい実施の形態につい
て説明する。図1は、この実施の形態に係る表面形状測
定装置100の概要を示す概念図である。表面形状測定
装置100は被測定対象1の表面の変位を測定するセン
サ2と、このセンサ2の出力を演算処理して形状測定デ
ータを算出する演算装置3と、この演算装置3の演算結
果を表示する表示装置4とを備えて構成されている。こ
こで、被測定対象1は、少なくとも段差、裂け目等の無
い連続した面を有するものとする。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the surface texture measuring method according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a conceptual diagram showing an outline of a surface shape measuring apparatus 100 according to this embodiment. The surface shape measuring device 100 includes a sensor 2 that measures the displacement of the surface of the object 1 to be measured, a computing device 3 that computes the output of the sensor 2 to calculate shape measurement data, and a computation result of the computing device 3. And a display device 4 for displaying. Here, it is assumed that the object 1 to be measured has a continuous surface that is free from at least a step, a crack or the like.

【0010】被測定対象1の全測定範囲Aは、一回のま
とまった測定によって測定可能な複数の部分測定範囲B
に分割されて、各部分測定範囲Bi毎に測定される。こ
こでは、簡単のため、3つの部分測定範囲B0,B1,
B2に分割するものとする。各部分測定範囲B0、B
1,B2は、その一部が重複し、重複部分L(0,1)、L(1,
2) を有するように設定される。
The entire measurement range A of the object 1 to be measured is a plurality of partial measurement ranges B that can be measured by a single measurement.
And is measured for each partial measurement range Bi. Here, for the sake of simplicity, three partial measurement ranges B0, B1,
It shall be divided into B2. Each partial measurement range B0, B
1 and B2 are partially overlapped, and overlapping portions L (0,1) , L (1,
Set to have 2) .

【0011】この場合、上述の器械的誤差等により、各
部分測定範囲B0、B1,B2の測定データは、被測定
対象1が連続面を有するにも拘らず、図2のように不連
続な面S0,S1,S2を意味するデータd(x、y)
となるのが通常である。そこで、測定データS0,S
1,S2を補正するため、次に示す方法により、器械的
誤差の大きさを推定し、形状測定装置100の校正を実
行する。
In this case, due to the above-described mechanical error, the measurement data in each of the partial measurement ranges B0, B1, and B2 is discontinuous as shown in FIG. 2 even though the measurement target 1 has a continuous surface. Data d (x, y) meaning surfaces S0, S1, S2
Usually it becomes. Therefore, the measurement data S0, S
In order to correct 1 and S2, the magnitude of the mechanical error is estimated by the following method, and the shape measuring apparatus 100 is calibrated.

【0012】以下、本実施の形態に係る形状測定装置の
校正方法につき、図3、4に示す概念図、及び図5に示
すフローチャートを用いて説明する。
Hereinafter, a calibration method for the shape measuring apparatus according to the present embodiment will be described with reference to conceptual diagrams shown in FIGS. 3 and 4 and a flowchart shown in FIG.

【0013】まず、図3に示すように、既知の形状を有
する校正ワーク5を表面形状測定装置100の載置台
(図示せず)にセットする(ステップ1)。校正ワーク
5は、ここでは表面形状測定装置100の器械的誤差を
決定するのに十分な平面度を持つ平面ワークであるとす
る。また、校正ワーク5の大きさは、少なくとも被測定
物の全測定範囲と略同等の大きさであることが好適であ
る。
First, as shown in FIG. 3, a calibration work 5 having a known shape is set on a mounting table (not shown) of the surface shape measuring apparatus 100 (step 1). Here, it is assumed that the calibration workpiece 5 is a planar workpiece having a flatness sufficient to determine the mechanical error of the surface shape measuring apparatus 100. Moreover, it is preferable that the size of the calibration work 5 is at least approximately the same as the entire measurement range of the object to be measured.

【0014】次に、校正ワーク5に関し、被測定対象1
の場合と同様に、部分測定範囲B0’、B1’、B2’
を特定する(ステップ2)。この部分測定範囲B0’、
B1’、B2’は、それぞれ、被測定対象1を測定する
場合の部分測定範囲B0、B1,B2と形状測定装置1
00から見て略同一の位置とする。B0’とB1’との
間、及び B1’とB2’との間には、それぞれ重複部
分L(0,1)´、L(1,2)´が存在する。
Next, with respect to the calibration work 5, the object to be measured 1
As in the case of, partial measurement ranges B0 ', B1', B2 '
Is identified (step 2). This partial measurement range B0 ′,
B1 ′ and B2 ′ are the partial measurement ranges B0, B1, and B2 when measuring the measurement object 1 and the shape measuring device 1, respectively.
The positions are substantially the same as viewed from 00. Overlapping portions L (0,1) ′ and L (1,2) ′ exist between B0 ′ and B1 ′ and between B1 ′ and B2 ′, respectively.

【0015】この状況において、校正ワーク5を、部分
測定範囲B0’、B1’、B2’に分けて測定する(ス
テップ3)。センサの位置決め誤差等の器械的誤差が無
く、人為的な操作ミス等による誤差も無いとした場合、
各部分測定範囲B0’、B1’、B2’の測定結果は、
図4(a)に示すような一平面に合致する。しかし、セ
ンサの位置決め誤差等の器械的誤差がある場合、各部分
測定範囲B0’、B1’、B2’の測定データd(x、
y)によって特定される面は、図4(b)に示すよう
に、各部分測定範囲間でシフト及び回転の生じるデータ
C0 、SC1、SC 2となる。
In this situation, the calibration work 5 is measured by being divided into partial measurement ranges B0 ', B1', B2 '(step 3). If there is no mechanical error such as sensor positioning error and no error due to human error, etc.
The measurement results of each partial measurement range B0 ′, B1 ′, B2 ′ are as follows:
It coincides with one plane as shown in FIG. However, when there is a mechanical error such as a positioning error of the sensor, the measurement data d (x,
The surface specified by y) becomes data S C0 , S C1 , S C 2 in which shift and rotation occur between the partial measurement ranges, as shown in FIG. 4B.

【0016】次に、被測定対象1の測定結果S0,S
1,S2等の補正値を算出するため、これらのデータS
C0、SC1、SC2のベストフィット計算を実行する(ステ
ップ4)。ベストフィット計算とは、図4(b)のよう
に各部分測定範囲ごとにシフト、回転のあるデータ
C0、SC1、SC2を、回転、平行移動させることにより
滑らかに繋ぎ合わせ、本来の形状データ(ここでは平
面)と略同一の形状データになるよう補正することをい
う。
Next, the measurement results S0, S of the object 1 to be measured
In order to calculate correction values such as 1, S2, etc., these data S
The best fit calculation of C0 , S C1 and S C2 is executed (step 4). The best-fit calculation means that the data S C0 , S C1 , and S C2 that are shifted and rotated for each partial measurement range as shown in FIG. The correction means that the shape data is substantially the same as the shape data (in this case, a plane).

【0017】ベストフィット計算は、後に詳述するよう
に、隣接する部分測定範囲Bn-1',Bn´の測定データ
Ci-1、SCiを示す面S,S'上の点のうち、両面の重複
部分L'上に存在する点を対応点ri (S)、ri (S´)として
特定し、この対応点の関係に関する評価関数Φを定義し
た後、このΦを最小にするようなデータSCiの回転量
R、平行移動量Tを、非線形最小二乗法による収束計算
を実行することにより求めるものである。
As will be described later in detail, the best fit calculation is performed on points on the surfaces S and S ′ indicating the measurement data S Ci-1 and S Ci of the adjacent partial measurement ranges B n-1 ′ and B n ′. Among these, the points existing on the overlapping portion L ′ on both sides are identified as corresponding points r i (S) and r i (S) , and after defining the evaluation function Φ regarding the relationship between the corresponding points, this Φ is minimized. The rotation amount R and the parallel movement amount T of the data S Ci are obtained by executing a convergence calculation by the nonlinear least square method.

【0018】また、回転量R、平行移動量Tに関し、制
約条件を設定し、回転量R、平行移動量Tがこの制約条
件の範囲内にあるか否かを判断する(ステップ5)。制
約条件は、形状測定装置100の正常な使用状態から生
じうる最大の器械的誤差から決定される。制約条件を超
える場合には、形状測定装置100の使用状態、又は装
置そのものが異常であるとして、表示装置4又は図示し
ないその他の装置により、操作者に対し警告を発する
(ステップ6)。警告を発する代わりに、又はそれに加
えて、測定実行用のプログラムを強制的に終了させるよ
うにしてもよい。
Further, constraint conditions are set for the rotation amount R and the parallel movement amount T, and it is determined whether or not the rotation amount R and the parallel movement amount T are within the range of the constraint conditions (step 5). The constraint is determined from the maximum mechanical error that can result from normal use of the shape measuring device 100. If the constraint condition is exceeded, the display device 4 or other device (not shown) issues a warning to the operator that the shape measuring device 100 is abnormal or that the device itself is abnormal (step 6). Instead of issuing a warning, or in addition thereto, the measurement execution program may be forcibly terminated.

【0019】制約条件内に収まっていると判断される場
合には、得られたR,Tに基づいて補正値を算出し、す
でに得られた又は後に行われる被測定対象1の測定結果
S0,S1,S2をこの補正値により補正する(ステッ
プ7)。
When it is determined that the value is within the constraint conditions, a correction value is calculated based on the obtained R and T, and the measurement result S0, S1 and S2 are corrected by this correction value (step 7).

【0020】次に、ステップ4のベストフィット計算の
手法、及びステップ5の制約条件の判断方法の一例につ
き、図7を用いて詳細に説明する。なお、以下では、部
分測定範囲がNs個あり、ベストフィットの対象となる
測定データSがNs組あるものとする。図4のように、
3つの部分測定範囲に分割する場合には、Ns=3とす
ればよい。
Next, an example of the best-fit calculation method in step 4 and an example of the constraint condition determination method in step 5 will be described in detail with reference to FIG. In the following, it is assumed that there are Ns partial measurement ranges, and there are Ns sets of measurement data S to be best fit. As shown in FIG.
When dividing into three partial measurement ranges, Ns = 3 may be set.

【0021】ベストフィット計算の説明に入る前に、計
算に用いる各種のパラメータの意味について定義する。
まず、面S、面S´の重複部分における対応点はN(S
S')個あり、そのうちの1組の対応点をri (S) 、ri (S
´) (I=1、2、・・・、N(SS' ) )と表す。また、面
S、面S´をベストフィットさせた場合において、初期
位置からベストフィット位置までの面S及び面S´の回
転を、それぞれ、R(S)、R(S') 、面 S、面S´の
平行移動量を、それぞれT(S)、T(S')とする。R(S)
(S')は、例えば直交三次元座標系のX,Y,Z軸の3軸を
回転軸としたφ(S )、θ(S)、ψ(S)を要素として、ま
た、R(S') は、同様にφ(S')、θ(S')、ψ( S')を要素
として、それぞれ、
Prior to the description of the best fit calculation, the meaning of various parameters used in the calculation will be defined.
First, the corresponding points in the overlapping portion of the surface S and the surface S ′ are N (S ,
S ′) , and one set of corresponding points is denoted by r i (S) , R i (S
´ ) (I = 1, 2,..., N (S , S ′ ) ). In addition, when the surface S and the surface S ′ are best fit, the rotation of the surface S and the surface S ′ from the initial position to the best fit position is respectively R (S) , R (S ′) , surface S, The parallel movement amounts of the surface S ′ are T (S) and T (S ′) , respectively. R (S) ,
R (S ′) is, for example, φ (S ) , θ (S) , ψ (S) with the X, Y, and Z axes of the orthogonal three-dimensional coordinate system as rotation axes as elements, and R ( S Similarly, S ′) has φ (S ′) , θ (S ′) , and ψ ( S ′) as elements, respectively.

【0022】[0022]

【数1】 [Expression 1]

【0023】と表すことができる。 また、T(S)
は、X,Y,Z軸方向の平行移動成分tx(S)、t
(S)、tz(S)で表現するものとし、また、T(S')は、
同じくX,Y,Z軸方向の平行移動成分tx(S')、ty
(S')、tz(S') を要素として表現するものとする。
It can be expressed as T (S)
Are the translational components tx (S) and t in the X, Y and Z axis directions.
It is assumed that y (S) and tz (S) are expressed, and T (S ′) is
Similarly, translational components tx (S ') and ty in the X, Y and Z axis directions
(S ′) and tz (S ′) are expressed as elements.

【0024】本実施の形態においては、このφ(S)、θ
(S)、ψ(S)、tx(S)、ty(S)、tz (S)、φ(S´)、θ
(S´)、ψ(S´)、tx(S´)、ty(S´)、tz(S´)
関し、以下の制約条件を設ける。
In the present embodiment, this φ(S), Θ
(S), Ψ(S), Tx(S), Ty(S), Tz (S), Φ(S´), Θ
(S´), Ψ(S´), Tx(S´), Ty(S´), Tz(S´)In
The following constraints are set.

【0025】[0025]

【数2】―tx(sys)≦tx(s)≦tx(sys) ―ty(sys)≦ty(s)≦ty(sys) ―tz(sys)≦tz(s)≦tz(sys) ―φ(sys)≦φ(s)≦φ(sys) ―θ(sys)≦θ(s)≦θ(sys) ―ψ(sys)≦ψ(s)≦ψ(sys) ―tx(sys´)≦tx(s´)≦tx(sys´) ―ty(sys´)≦ty(s´)≦ty(sys´) ―tz(sys´)≦tz(s´)≦tz(sys´) ―φ(sys´)≦φ(s´)≦φ(sys´) ―θ(sys´)≦θ(s´)≦θ(sys´) ―ψ(sys´)≦ψ(s´)≦ψ(sys´) [Number 2] -tx (sys) ≦ tx (s ) ≦ tx (sys) -ty (sys) ≦ ty (s) ≦ ty (sys) -tz (sys) ≦ tz (s) ≦ tz (sys) - φ (sys) ≦ φ (s) ≦ φ (sys) ―θ (sys) ≦ θ (s) ≦ θ (sys) ―ψ (sys) ≦ ψ (s) ≦ ψ (sys) ―tx (sys) ≦ tx (s) ≦ tx (sys) −ty (sys) ≦ ty (s) ≦ ty (sys) −tz (sys) ≦ tz (s) ≦ tz (sys) −φ (sys) ≦ φ (s) ≦ φ (sys) ―θ (sys) ≦ θ (s) ≦ θ (sys) ―ψ (sys) ≦ ψ (s) ≦ ψ (sys ´ )

【0026】本実施の形態では、この制約条件を、[数
3]のようにペナルティ関数pにより定義し、後述する
ように、各測定データSciの回転、平行移動の量を示
すパラメータXを求める評価関数に組み込んでいる。詳
しくは後述する。
In this embodiment, this constraint is defined by a penalty function p as shown in [Equation 3], and a parameter X indicating the amount of rotation and translation of each measurement data Sci is obtained as will be described later. It is incorporated in the evaluation function. Details will be described later.

【0027】[0027]

【数3】 [Equation 3]

【0028】ただし、γtx、γty、γtz 、γΦ 、γθ
、γψ は、各ペナルティの重みであり、制約条件のト
レランスの逆数として予め定められている正の定数とす
る。
However, γ tx , γ ty , γ tz , γΦ , Γθ
, Γψ Is the weight of each penalty, and is a positive constant determined in advance as the reciprocal of the tolerance of the constraint condition.

【0029】以上の定義の下、各部分測定範囲Bの測定
結果としての面Sのベストフィッティングの演算方法に
ついて説明する。本実施の形態のベストフィット演算
は、対応点ri (S) 、ri (S´) の間の距離(対応点間距
離)fi (SS´)に基づいて行う。対応点ri (S) 、ri (S
´)は、次のようにして決定する。重複部分L(SS´)´
内の面S´側の点を、対応点の一方の点ri (S´)として
決定する。そして、この点ri (S´)から最短距離を与え
る面S上の点を点ri (S´)の対応点ri (S)として決定す
る。同様に、重複部分L(SS´)´内の面S側の点を、
一組の対応点の一方の点ri+1 (S)として決定する。そし
て、この点ri+1 (S)から、最短距離を与える面S´上の
点を点ri+1 (S)の対応点ri+1 (S`)として決定する。最
短距離を与える点の代わりに、座標軸に沿った線の交点
を対応点としてもよい。このようにして、対応点が求ま
った後は、対応点間の距離fi (SS´)を演算する。fi
(SS´)は、その重みwi (S,S`)を考慮して
Under the above definition, a method for calculating the best fitting of the surface S as the measurement result of each partial measurement range B will be described. The best fit calculation of the present embodiment uses the corresponding points r i (S) , R i (S) Is performed based on the distance (distance between corresponding points) f i (S , S) . Corresponding point r i (S) , R i (S
) Is determined as follows. Overlapping part L (S , S ' ) '
The point on the inner surface S ′ side is determined as one point r i (S) of the corresponding points. Then, to determine the corresponding points r i of the point r i (S ') point a point on the surface S that gives the shortest distance from the r i (S') (S ). Similarly, the point on the surface S side in the overlapping portion L (S , S) ′ is
It is determined as one point r i + 1 (S) of a set of corresponding points. Then, from this point r i + 1 (S) , the point on the surface S ′ giving the shortest distance is determined as the corresponding point r i + 1 (S`) of the point r i + 1 (S) . Instead of the point giving the shortest distance, an intersection of lines along the coordinate axis may be used as the corresponding point. After the corresponding points are obtained in this way, the distances f i (S , S) between the corresponding points are calculated. f i
(S , S) takes into account their weights w i (S, S`)

【0030】[0030]

【数4】 [Expression 4]

【0031】となる。Then,

【0032】このfi (SS´)と、前述のペナルティ関数
pとを組み込んだ評価関数ベクトルFを、次の[数5]
により定義する。
An evaluation function vector F incorporating this f i (S , S) and the penalty function p described above is expressed by the following [Equation 5].
Defined by

【0033】[0033]

【数5】 [Equation 5]

【0034】また、評価関数Φを、Also, the evaluation function Φ is

【数6】 [Formula 6]

【0035】と定義する。このΦを最小にする未知パラ
メータXを非線形最小二乗法による収束計算を繰り返し
行うことにより求める。未知パラメータXは、次の[数
7]により与えられ、回転量R、平行移動量Tの各要素
を含むものである。
Is defined as follows. The unknown parameter X that minimizes Φ is obtained by repeatedly performing convergence calculation by the nonlinear least square method. The unknown parameter X is given by the following [Equation 7] and includes elements of the rotation amount R and the parallel movement amount T.

【0036】[0036]

【数7】 [Expression 7]

【0037】以下に、非線形最小二乗法によるXを求め
る方法について説明する。最初に、評価関数ベクトルF
のヤコビアン行列Jを導出する。Fを構成するfのi番
目の要素をfi、pのi番目の要素をpi、未知パラメー
タXを構成するx(S)のパラメータ種別(tx、ty、
tz、Φ、θ、ψ)の要素をxK (S)とすると、ヤコビア
ン行列Jは、
A method for obtaining X by the nonlinear least square method will be described below. First, the evaluation function vector F
The Jacobian matrix J of is derived. The i th element of f constituting the F f i, the i th element of p p i, the parameter type of x (S) constituting the unknown parameter X (tx, ty,
If the elements of tz, Φ, θ, ψ) are x K (S) , the Jacobian matrix J is

【0038】[0038]

【数8】 [Equation 8]

【0039】となる。ヤコビアンJの各項は、Then, Each item of Jacobian J is

【0040】[0040]

【数9】 [Equation 9]

【0041】[0041]

【数10】 [Expression 10]

【0042】と数値微分に置き換えて計算できる。ここ
で、δKは、各パラメータ種別kの増分を示しており、I
k (S`')は、以下の単位行列Iを構成する6×6の小単位
行列I( S)のk番目の列に相当する列ベクトルを示す。
It can be calculated by replacing with numerical differentiation. Here, δ K indicates the increment of each parameter type k, and I
k (S` ') represents a column vector corresponding to the k-th column of the 6 × 6 small unit matrix I ( S) constituting the following unit matrix I.

【0043】[0043]

【数11】 ## EQU11 ##

【0044】なお、fi(X)=fi (s,s')(x(s),
x(s'))を考慮すると、Ik (S'')δkがx(S),x(S')を変化
させる場合にのみ、∂fi/∂xk (S'')は値を持ち、そ
れ以外の場合には0となる。
Note that f i (X) = f i (s, s ′) (x (s) ,
x (s ') ), If i / ∂x k (S'') is a value only if I k (S'') δk changes x (S) , x (S'). And 0 otherwise.

【0045】同様に、pi(X)=pi(xK' (S'''))を
考慮すると、Ik (S'')δkがx(S''')を変化させる場合に
のみ、∂pi/∂xk (S'')は値を持ち、それ以外の場合
には0となるこうして導出されたヤコビアンJを用いた
次の[数12]に示す方程式
Similarly, in consideration of p i (X) = p i (x K ′ (S ′ ″) ), I k (S ″) δ k changes x (S ′ ″). ∂p i / ∂x k (S ″) has a value, otherwise it is 0. The equation shown in the following [Equation 12] using the Jacobian J thus derived is

【0046】[0046]

【数12】 J・ΔX=−F[Expression 12] J · ΔX = −F

【0047】を解いて未知パラメータXの増分ΔXを求
める。なお、最初はXの値として適切と思われる値を予
め設定しておく。そして、設定値XによるΦ(X)と、
新しいパラメータX+ΔXによるΦ(X+ΔX)とを比
較し、収束の判定を行なう。収束していなければ、X+
ΔXを新たにXとし、収束するまで上記の手順を繰り返
す。
To find the increment ΔX of the unknown parameter X. Initially, a value that is considered appropriate as a value of X is set in advance. And Φ (X) by the set value X,
Comparison with Φ (X + ΔX) based on the new parameter X + ΔX is made to determine convergence. X + if not converged
ΔX is newly set to X, and the above procedure is repeated until convergence.

【0048】ところで、未知パラメータXの要素のう
ち、tx、ty、tzは面の平行移動に関する要素であ
る一方、Φ、θ、ψは面の回転に関する要素であり、平
行移動とは異なる物理量を示すものである。従って、メ
トリックの問題を考慮するため、各パラメータ種別kの
増分δKを要素とするベクトル
By the way, among the elements of the unknown parameter X, tx, ty, and tz are elements related to the parallel movement of the surface, while Φ, θ, and ψ are elements related to the rotation of the surface. It is shown. Therefore, in order to take into account the metric problem, a vector whose element is the increment δ K of each parameter type k

【数13】 [Formula 13]

【0049】によりヤコビアンJをスケーリングするの
が好適である。増分ベクトルδによりスケーリングされ
たヤコビアンJ'を使った方程式J'・ΔX’=−Fの解
ΔX’を求める。求められたΔX’を使って、ΔXの各
要素は、
Thus, it is preferable to scale Jacobian J. Find the solution ΔX ′ of the equation J ′ · ΔX ′ = − F using the Jacobian J ′ scaled by the increment vector δ. Using the obtained ΔX ′, each element of ΔX is

【0050】[0050]

【数14】Δxk (S)=Δx'k (S)・δk Δx k (S) = Δx ′ k (S) · δ k

【0051】として求められる。ただし、Is obtained as follows. However,

【数15】 [Expression 15]

【0052】とする。以下、上述のように収束計算を行
い、未知パラメータXを求める。そして、求められた未
知パラメータXに基づき、被測定対象1の測定値S0,
S1,S2・・・を補正するための補正値が算出され
る。
Suppose that Thereafter, the convergence calculation is performed as described above to obtain the unknown parameter X. Based on the obtained unknown parameter X, the measured value S0,
A correction value for correcting S1, S2... Is calculated.

【0053】また、未知パラメータXが制約条件を満た
さない要素を含む場合には、表示装置4に警告がなさ
れ、又は、測定実行プログラムが強制終了されるなどの
措置がとられる。実際には、未知パラメータXの各要素
には、前述のペナルティ関数により制限が掛けられてい
るので、各要素が数式2に示す制限の境界に近くなり、
これ以上収束計算が続行できないという状態に陥ること
で、未知パラメータXに制約条件を満たさない要素が含
まれていることが検知される。
If the unknown parameter X includes an element that does not satisfy the constraint conditions, a warning is given to the display device 4 or measures such as forcibly terminating the measurement execution program are taken. Actually, since each element of the unknown parameter X is limited by the penalty function described above, each element is close to the limit boundary shown in Equation 2,
When the convergence calculation cannot be continued any more, it is detected that the unknown parameter X includes an element that does not satisfy the constraint condition.

【0054】以上、実施例につき説明したが、本発明は
これに限定されるものではない。例えば、上記実施の形
態では、制約条件については、[数2]に示すように上
下限の絶対値を同じとしているが、異なる値としても差
し支えない。また、上限又は下限の制約のいずれか一方
のみとしてもよい。また、上記実施の形態では、評価関
数Φに、制約条件をペナルティ関数として組み込んでい
るが、ペナルティ関数を別の関数に組み込み、この別の
関数において制約条件を満たすか否かを判断してもよ
い。
Although the embodiments have been described above, the present invention is not limited to them. For example, in the above embodiment, the absolute values of the upper and lower limits are the same as shown in [Equation 2] for the constraint condition, but may be different values. Moreover, it is good also as only any one of the restrictions of an upper limit or a minimum. In the above embodiment, the constraint condition is incorporated as a penalty function in the evaluation function Φ. However, even if the penalty function is incorporated in another function and it is determined whether the constraint condition is satisfied in this other function. Good.

【0055】また、上記実施の形態では校正ワーク5は
平面としているが、既知の形状を有するものであれば、
平面に限らず、球面など他の形状でも差し支えないし、
又は被測定対象と類似の形状を備えた校正ワークとして
もよい。なお、以上に示した校正方法は、被測定対象1
が別の物に変わるごとに実施するのが適切であるが、対
象1の形状が類似のものに限られている場合などは定期
的に(例えば毎月1回)に行うようにしても良い。
Further, in the above embodiment, the calibration work 5 is a flat surface, but if it has a known shape,
You can use other shapes such as a spherical surface,
Or it is good also as a calibration workpiece | work provided with the shape similar to a to-be-measured object. The calibration method shown above is the measurement target 1
Although it is appropriate to carry out each time the object is changed to another object, it may be performed periodically (for example, once a month) when the shape of the object 1 is limited to a similar shape.

【0056】[0056]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
各部分測定範囲の測定データを接続するに際し、簡易な
方法で測定結果の校正情報を取得することができ、高精
度な測定結果を取得することができる。またに、補正量
の限界を検知して、部分測定範囲の不適切な接続を回避
することができ、これにより正確な全測定範囲のデータ
を取得することが可能となる。
As described above, according to the present invention,
When connecting the measurement data of each partial measurement range, calibration information of the measurement result can be acquired by a simple method, and a highly accurate measurement result can be acquired. In addition, the limit of the correction amount can be detected, and inappropriate connection of the partial measurement ranges can be avoided, thereby making it possible to acquire accurate data for the entire measurement range.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明に係る形状測定装置100の構成、及
び、部分測定範囲に分割して測定する方法をこの装置1
00を用いて実施する方法を説明するための図である。
FIG. 1 shows a configuration of a shape measuring apparatus 100 according to the present invention and a method for measuring by dividing into partial measurement ranges.
It is a figure for demonstrating the method implemented using 00. FIG.

【図2】 図2は、測定方法を実施した場合の各部分測
定範囲毎のデータの関係を概念的に示したものである。
FIG. 2 conceptually shows the relationship of data for each partial measurement range when the measurement method is carried out.

【図3】 校正ワーク5を用いた本発明に係る測定装置
の校正方法を説明するための概念図である。
FIG. 3 is a conceptual diagram for explaining a calibration method of a measuring apparatus according to the present invention using a calibration workpiece 5;

【図4】 本発明に係る校正方法による校正方法を説明
するための概念図である。
FIG. 4 is a conceptual diagram for explaining a calibration method by a calibration method according to the present invention.

【図5】 本発明に係る校正方法のフローチャートであ
る。
FIG. 5 is a flowchart of a calibration method according to the present invention.

【図6】 本発明に係る校正方法のフローチャートであ
る。
FIG. 6 is a flowchart of a calibration method according to the present invention.

【図7】 ベストフィット計算を説明するための概念図
である。
FIG. 7 is a conceptual diagram for explaining best-fit calculation.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…被測定対象、2・・・センサ、3・・・演算装置、4・・・
表示装置、5…校正ワーク
1 ... object to be measured, 2 ... sensor, 3 ... arithmetic device, 4 ...
Display device, 5 ... Calibration work

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 後藤 智徳 北海道札幌市北区北7条西1丁目1番2号 株式会社システムテクノロジーインステ ィテュート内 Fターム(参考) 2F069 AA03 AA04 AA51 AA61 DD20 FF00 GG12 GG73 HH30 MM23 NN05 NN15 NN17    ──────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Tomonori Goto             1-2 1-2 Kitajojo Nishi 1-chome, Kita-ku, Hokkaido               System Technology Institute Inc.             In the tute F-term (reference) 2F069 AA03 AA04 AA51 AA61 DD20                       FF00 GG12 GG73 HH30 MM23                       NN05 NN15 NN17

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 一連の測定動作で測定できる測定範囲の
大きさよりも大きい被測定物を測定するに際し、全測定
範囲を互いに一部において重複する部分測定範囲に分割
し、各部分測定範囲での前記被測定物の測定結果を取得
した後、所定の方法で各部分測定範囲での前記被測定物
の測定結果を接続することにより全測定範囲の表面性状
を求めるように構成された表面性状測定装置の校正方法
において、既知の表面性状を有する校正ワークの表面性
状を測定するため、互いに一部において重複する部分測
定範囲を設定する第一のステップと、前記部分測定範囲
毎に前記校正ワークの部分表面性状の測定を実行し部分
測定データを取得する第二のステップと、 この各部分測定データに基づき、隣接する前記部分測定
範囲の重複部分における対応関係を特定する第三のステ
ップと、 前記対応関係に関する評価関数Φを定義する第四のステ
ップと、前記評価関数Φを最小にするような前記部分測
定範囲での前記部分測定データの変換量を非線形最小二
乗法により求める第五のステップと、前記第五のステッ
プにより求められた前記変換量に基づき、前記被測定物
の測定結果を補正するための補正値を演算する第六のス
テップとを備えた表面性状測定装置の校正方法。
1. When measuring an object to be measured that is larger than the size of a measurement range that can be measured by a series of measurement operations, the entire measurement range is divided into partial measurement ranges that partially overlap each other. After obtaining the measurement result of the object to be measured, the surface property measurement is configured to obtain the surface texture of the entire measurement range by connecting the measurement result of the object to be measured in each partial measurement range by a predetermined method. In the apparatus calibration method, in order to measure the surface properties of a calibration workpiece having a known surface property, a first step of setting partial measurement ranges that partially overlap each other, and the calibration workpiece for each partial measurement range A second step of performing measurement of partial surface properties and acquiring partial measurement data, and a correspondence relationship between overlapping portions of the adjacent partial measurement ranges based on the partial measurement data. A fourth step of defining an evaluation function Φ relating to the correspondence, and a nonlinear conversion amount of the partial measurement data in the partial measurement range that minimizes the evaluation function Φ A fifth step of calculating by a least square method, and a sixth step of calculating a correction value for correcting the measurement result of the device under test based on the conversion amount obtained by the fifth step. Calibration method for surface texture measuring device.
【請求項2】 前記変換量は、前記各部分測定範囲毎の
部分測定データによって特定される面の回転量R及び平
行移動量Tである請求項1に記載の表面性状測定装置の
校正方法。
2. The method for calibrating a surface texture measuring apparatus according to claim 1, wherein the conversion amount is a rotation amount R and a translation amount T of a surface specified by partial measurement data for each partial measurement range.
【請求項3】 前記変換量に所定の制約条件を設定し、
前記変換量が前記制約条件の範囲内にあるか否かを判断
するステップを更に備えた請求項1又は2に記載の表面
性状測定装置の校正方法。
3. A predetermined constraint condition is set for the conversion amount,
The method for calibrating a surface texture measuring apparatus according to claim 1, further comprising a step of determining whether or not the conversion amount is within the range of the constraint condition.
【請求項4】 前記変換量が制約条件内に収まらないと
判断される場合には、外部に向けてその旨を報知するス
テップを更に備えた請求項3に記載の表面性状測定装置
の構成方法。
4. The method for configuring a surface texture measuring device according to claim 3, further comprising a step of notifying the outside when the amount of conversion is determined not to fall within the constraint conditions. .
【請求項5】 前記評価関数Φは、前記制約条件を表す
関数を組み込んでいる請求項3又は4に記載の表面性状
測定装置の校正方法。
5. The method for calibrating a surface texture measuring apparatus according to claim 3, wherein the evaluation function Φ incorporates a function representing the constraint condition.
【請求項6】 前記対応関係は、前記対応点間の距離に
より表現される請求項1から5のいずれか一項に記載の
表面性状測定装置の校正方法。
6. The method for calibrating a surface texture measuring apparatus according to claim 1, wherein the correspondence relationship is expressed by a distance between the corresponding points.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006322937A (en) * 2005-05-18 2006-11-30 Steinbichler Optotechnik Gmbh Determination method of 3d coordinates of object surface
JP2008533439A (en) * 2005-02-01 2008-08-21 テイラー・ホブソン・リミテッド measurement tool
JP2011047703A (en) * 2009-08-25 2011-03-10 Mitsutoyo Corp Method of evaluating precision of output data using error propagation

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109579805B (en) * 2018-11-26 2020-06-23 成都经纬时空科技有限公司 Baseline self-calibration measuring method

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04290907A (en) * 1991-03-19 1992-10-15 Fuji Photo Optical Co Ltd Inter-division connecting method for surface to be measured and undulate surface connecting method between divisions
JPH0777420A (en) * 1993-09-09 1995-03-20 Nikon Corp Shape parameter measuring method and device for limited multi-dimensional shape
JPH07174535A (en) * 1993-12-20 1995-07-14 Advantest Corp Surface shape measurement device
JPH0933244A (en) * 1995-07-18 1997-02-07 Fuji Xerox Co Ltd Shape measuring method
JPH09218034A (en) * 1996-02-14 1997-08-19 Fuji Xerox Co Ltd Shape measuring method
JPH10160428A (en) * 1996-11-27 1998-06-19 Fuji Xerox Co Ltd Method and equipment for measuring shape
JP2001227940A (en) * 1999-12-07 2001-08-24 Mitsutoyo Corp Shape measuring method

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04290907A (en) * 1991-03-19 1992-10-15 Fuji Photo Optical Co Ltd Inter-division connecting method for surface to be measured and undulate surface connecting method between divisions
JPH0777420A (en) * 1993-09-09 1995-03-20 Nikon Corp Shape parameter measuring method and device for limited multi-dimensional shape
JPH07174535A (en) * 1993-12-20 1995-07-14 Advantest Corp Surface shape measurement device
JPH0933244A (en) * 1995-07-18 1997-02-07 Fuji Xerox Co Ltd Shape measuring method
JPH09218034A (en) * 1996-02-14 1997-08-19 Fuji Xerox Co Ltd Shape measuring method
JPH10160428A (en) * 1996-11-27 1998-06-19 Fuji Xerox Co Ltd Method and equipment for measuring shape
JP2001227940A (en) * 1999-12-07 2001-08-24 Mitsutoyo Corp Shape measuring method

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008533439A (en) * 2005-02-01 2008-08-21 テイラー・ホブソン・リミテッド measurement tool
US8296098B2 (en) 2005-02-01 2012-10-23 Taylor Hobson Limited Metrological instrument
JP2006322937A (en) * 2005-05-18 2006-11-30 Steinbichler Optotechnik Gmbh Determination method of 3d coordinates of object surface
JP2011047703A (en) * 2009-08-25 2011-03-10 Mitsutoyo Corp Method of evaluating precision of output data using error propagation

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