JP2002368813A - Delay time distribution measurement device - Google Patents

Delay time distribution measurement device

Info

Publication number
JP2002368813A
JP2002368813A JP2001169064A JP2001169064A JP2002368813A JP 2002368813 A JP2002368813 A JP 2002368813A JP 2001169064 A JP2001169064 A JP 2001169064A JP 2001169064 A JP2001169064 A JP 2001169064A JP 2002368813 A JP2002368813 A JP 2002368813A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
packet data
test packet
delay time
data
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001169064A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akishi Sato
晶司 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Communication Systems Ltd
Original Assignee
NEC Communication Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Communication Systems Ltd filed Critical NEC Communication Systems Ltd
Priority to JP2001169064A priority Critical patent/JP2002368813A/en
Publication of JP2002368813A publication Critical patent/JP2002368813A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To solve a problem that a processing load is increased resulting in making the device configuration complicated because of writing of transmission time to test packet data and calculation of delay time distribution or the like through software processing in a conventional delay time distribution measurement device. SOLUTION: A transmission circuit 12 outputs a start signal to a counter 15 at the same time when the circuit 12 transmits test packet data to a system 2, an extract circuit 14 extracts the test packet data passing through the system 2 and outputs a stop signal to the counter 15 at the same time, the counter 15 accesses a distribution memory 16 by using a count of delay times counted from reception of the start signal until the reception of the stop signal for an address, the distribution memory 16 outputs memory data 16A stored in the accessed address to an adder circuit 17, and the adder circuit 17 counts up the frequency of the memory data 16A by one and writes the result to the address.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、データ回線(通
信回線)上のシステムにおけるデータの遅延時間の分布
を測定する遅延時間分布測定装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a delay time distribution measuring device for measuring a delay time distribution of data in a system on a data line (communication line).

【0002】[0002]

【従来の技術】データ回線(通信回線)で伝送されるパ
ケットデータは、データ回線上に設けられた例えば交換
機などのシステムを通過する際に遅延される。このよう
なシステムにおけるパケットデータの遅延時間(システ
ムにパケットデータが入力されてから出力されるまでの
時間)は、システムの性能などを示すパラメータとなる
が、このシステム通過時の遅延時間は一定ではないた
め、遅延時間がどの範囲にあるかなどを知るために、パ
ケットデータの遅延時間の分布を測定する必要がある。
2. Description of the Related Art Packet data transmitted on a data line (communication line) is delayed when passing through a system such as an exchange provided on the data line. The delay time of packet data in such a system (the time from when the packet data is input to the system until it is output) is a parameter indicating the performance of the system, but the delay time when passing through the system is not constant. Therefore, it is necessary to measure the distribution of the delay time of the packet data in order to know the range of the delay time.

【0003】従来の遅延時間分布測定装置では、1つの
試験パケットデータに送出時刻を書き込み、その試験パ
ケットデータを試験対象(測定対象)のシステムに対し
て送出し、そのシステムを通過した試験パケットデータ
を抽出し、その抽出時刻を測定する。そして、従来の遅
延時間分布測定装置では、試験パケットデータに書き込
まれた送出時刻と試験パケットデータの抽出時刻からシ
ステムの遅延時間を求め、その遅延時間をそのままメモ
リに書き込む。
In a conventional delay time distribution measuring device, a transmission time is written into one test packet data, the test packet data is transmitted to a test target (measurement target) system, and the test packet data passing through the system is transmitted. Is extracted, and the extraction time is measured. Then, in the conventional delay time distribution measuring device, the delay time of the system is obtained from the transmission time written in the test packet data and the extraction time of the test packet data, and the delay time is written in the memory as it is.

【0004】従来の遅延時間分布測定装置は、システム
の遅延時間の分布を得るために、上記の作業を数回繰り
返して行い、その結果求められた遅延時間をメモリに順
次書き込んでいく。従来の遅延時間分布測定装置では、
その制御装置内のプロセッサが、メモリに書き込まれた
遅延時間のデータを読み出してソフトウェア処理を行う
ことにより、システムの遅延時間の分布を求めていた。
The conventional delay time distribution measuring device repeats the above operation several times in order to obtain the delay time distribution of the system, and sequentially writes the delay times obtained as a result in a memory. In the conventional delay time distribution measuring device,
A processor in the control device reads out the data of the delay time written in the memory and performs software processing to obtain the distribution of the delay time of the system.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の遅延時
間分布測定装置では、上記したように、試験パケットデ
ータに送出時刻を書き込んでシステムに対して送出し、
送出時刻と試験パケットデータの抽出時刻から遅延時間
を求めて、その遅延時間をメモリに書き込むようにして
いたので、その送出時刻の書き込み作業や遅延時間の書
き込み作業による処理負担がかかってしまう。特に、シ
ステムの遅延時間の分布を測定するために、いくつかの
遅延時間のデータをサンプルする必要があるため、その
ような書き込み作業を何度も行わなければならず、処理
負担が過大となってしまう。
However, in the conventional delay time distribution measuring device, as described above, the transmission time is written to the test packet data and transmitted to the system.
Since the delay time is calculated from the transmission time and the extraction time of the test packet data and the delay time is written in the memory, the processing load of the work of writing the transmission time and the work of writing the delay time is increased. In particular, in order to measure the distribution of the delay time of the system, it is necessary to sample data of several delay times, so that such a writing operation must be performed many times, and the processing load becomes excessive. Would.

【0006】また、従来の遅延時間分布測定装置では、
上記したように、メモリに書き込まれた複数の遅延時間
のデータを基にして、制御装置内のプロセッサがソフト
ウェア処理で遅延時間の分布を計算していたので、この
ような処理負担も大きく、またプロセッサやそのプロセ
ッサに遅延時間の分布を計算させるソフトウェア(プロ
グラム)などを内蔵させる必要があり、装置構成の複雑
化やコスト上昇などを招いてしまう。
In the conventional delay time distribution measuring device,
As described above, since the processor in the control device calculates the distribution of the delay time by software processing based on the data of the plurality of delay times written in the memory, such a processing load is large, and It is necessary to incorporate a processor and software (program) for calculating the distribution of delay times in the processor, which leads to a complicated device configuration and an increase in cost.

【0007】また、従来の遅延時間分布測定装置では、
上記したように、試験パケットデータへの送出時刻の書
き込みやソフトウェア処理による遅延時間の分布の計算
などを行うことにより、処理負担がかかってしまうた
め、遅延時間の分布の測定を高速処理で行うことができ
なかった。
In the conventional delay time distribution measuring device,
As described above, the processing load is increased by writing the transmission time to the test packet data and calculating the delay time distribution by software processing. Therefore, it is necessary to measure the delay time distribution by high-speed processing. Could not.

【0008】この発明は、上記のような課題を解決する
ためになされたものであり、処理負担を軽減することが
でき、高速に遅延時間の分布を求める(測定する)こと
ができる遅延時間分布測定装置を得ることを目的とす
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and can reduce the processing load and can obtain (measure) the delay time distribution at high speed. The aim is to obtain a measuring device.

【0009】また、この発明は、簡易なハードウェア構
成だけで実現することができ、装置構成の複雑化やコス
ト上昇などを抑制することができる遅延時間分布測定装
置を得ることを目的とする。
Another object of the present invention is to provide a delay time distribution measuring device which can be realized only with a simple hardware configuration and can suppress a complicated device configuration and an increase in cost.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】以上の目的と達成するた
め、本発明は、試験パケットデータを生成する試験パケ
ットデータ生成部と、この試験パケットデータ生成部で
生成された試験パケットデータをシステムに送出し、そ
の試験パケットデータの送出と同時にスタート信号を出
力する送出部と、システムを通過した試験パケットデー
タを抽出し、その試験パケットデータの抽出と同時にス
トップ信号を出力する抽出部と、この送出部から出力さ
れたスタート信号を受け取るとカウントを開始し、抽出
部から出力されたストップ信号を受け取るとカウントを
停止し、そのカウントした遅延時間のカウント値をアド
レスとしてアクセスするカウンタと、このカウンタから
アクセスされたアドレスに格納している度数データを出
力し、その度数データが1つカウントアップ又はカウン
トダウンされた度数データをアドレスに格納する記憶部
と、この記憶部から出力された度数データを1つカウン
トアップ又はカウントダウンして記憶部のアドレスに書
き込む演算部とを備えたものである。
In order to achieve the above object, the present invention provides a test packet data generator for generating test packet data and a test packet data generated by the test packet data generator for a system. A transmitting unit for transmitting and outputting a start signal at the same time as transmitting the test packet data; an extracting unit for extracting test packet data having passed through the system and outputting a stop signal at the same time as extracting the test packet data; The counter starts counting when a start signal output from the extraction unit is received, stops counting when a stop signal output from the extraction unit is received, and a counter that accesses the count value of the counted delay time as an address. Outputs the frequency data stored at the accessed address and outputs the frequency data. A storage unit for storing the frequency data counted up or down by one in an address, and an arithmetic unit for counting up or counting down the frequency data output from the storage unit by one and writing the data to the address of the storage unit. It is a thing.

【0011】また、本発明は、送出部が試験パケットデ
ータを送出する間隔及び1回の起動で送出する試験パケ
ットデータの送出数を設定する設定部をも設けたもので
ある。
Further, the present invention further comprises a setting unit for setting an interval at which the transmitting unit transmits the test packet data and the number of test packet data transmitted at one start.

【0012】また、本発明は、試験パケットデータ生成
部が試験パケットデータを生成する間隔及び1回の起動
で生成する試験パケットデータの生成数を設定する設定
部をも設けたものである。
Further, the present invention further comprises a setting unit for setting an interval at which the test packet data generation unit generates test packet data and a generation number of test packet data generated by one start.

【0013】また、本発明は、記憶部に格納されている
遅延時間毎の度数データを読み出して外部に出力する制
御部をも設けたものである。
The present invention further comprises a control unit for reading out frequency data for each delay time stored in the storage unit and outputting the data to the outside.

【0014】また、本発明は、送出部がデータ回線から
システムに送られるパケットデータと試験パケットデー
タとを選択してシステムに送出し、抽出部がパケットデ
ータと試験パケットデータとを識別して抽出するように
したものである。
Further, according to the present invention, the transmitting section selects packet data and test packet data transmitted from the data line to the system and transmits them to the system, and the extracting section identifies and extracts the packet data and the test packet data. It is something to do.

【0015】また、本発明は、送出部が試験パケットデ
ータを送出可能なタイミングでシステムに送出するよう
にしたものである。
Further, in the present invention, the transmitting section transmits the test packet data to the system at a timing at which the test packet data can be transmitted.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の一形態を説
明する。図1は、本発明の遅延時間分布測定装置を示す
ブロック図である。図1において、データ回線1は、パ
ケットデータを伝送する通信回線であり、システム2
は、遅延時間分布測定回路10の試験対象(測定対象)
である例えばパケット交換機などである。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below. FIG. 1 is a block diagram showing a delay time distribution measuring device according to the present invention. In FIG. 1, a data line 1 is a communication line for transmitting packet data.
Is the test target (measurement target) of the delay time distribution measurement circuit 10
For example, a packet switch.

【0017】遅延時間分布測定回路(遅延時間分布測定
装置)10は、パケットデータがシステム2を通過する
際の遅延時間(パケットデータがシステム2に入力され
てから出力されるまでの時間)の分布を測定する回路で
あり、この遅延時間分布測定回路10は、試験パケット
データ生成回路11、送出間隔・送出数設定回路12、
送出回路13、抽出回路14、カウンタ15、分布メモ
リ16、加算回路17、及び制御回路18を備えてい
る。
The delay time distribution measuring circuit (delay time distribution measuring device) 10 is used to distribute a delay time (time from when the packet data is input to the system 2 to when it is output) when the packet data passes through the system 2. The delay time distribution measurement circuit 10 includes a test packet data generation circuit 11, a transmission interval / transmission number setting circuit 12,
It comprises a sending circuit 13, an extracting circuit 14, a counter 15, a distribution memory 16, an adding circuit 17, and a control circuit 18.

【0018】試験パケットデータ生成回路(試験パケッ
トデータ生成部)11は、システム2におけるパケット
データの遅延時間を測定するための試験用(測定用)の
パケットデータ(以下、試験パケットデータという)を
生成する回路である。送出回路(送出部)12は、デー
タ回線1から伝送されたパケットデータ及び試験パケッ
トデータ生成回路11で生成された試験パケットデータ
をシステム2に対して選択して送出する回路である。こ
の送出回路12は、試験パケットデータを送出する前
に、カウント値をリセットするリセット信号をカウンタ
15に出力し、また試験パケットデータを送出すると同
時に、カウントを開始させるスタート信号をカウンタ1
5に出力する。
A test packet data generation circuit (test packet data generation unit) 11 generates test (measurement) packet data (hereinafter referred to as test packet data) for measuring the delay time of the packet data in the system 2. Circuit. The transmission circuit (transmission unit) 12 is a circuit that selects and transmits the packet data transmitted from the data line 1 and the test packet data generated by the test packet data generation circuit 11 to the system 2. The sending circuit 12 outputs a reset signal for resetting the count value to the counter 15 before sending the test packet data, and sends a start signal to start counting at the same time as sending the test packet data.
5 is output.

【0019】送出間隔・送出数設定回路(設定部)13
は、送出回路12が試験パケットデータを送出する単位
時間間隔及び1回の起動で送出する試験パケットデータ
の任意の送出数を設定する回路である。例えば、試験パ
ケットデータの送出間隔が5秒、送出数が5に設定され
る。抽出回路14は、試験対象であるシステム2を通過
した試験パケットデータを抽出する回路である。この抽
出回路14は、試験パケットデータを抽出すると同時
に、カウントを停止させるストップ信号をカウンタ15
に出力する。
Transmission interval / transmission number setting circuit (setting unit) 13
Is a circuit for setting a unit time interval at which the transmitting circuit 12 transmits test packet data and an arbitrary number of test packet data to be transmitted at one start. For example, the transmission interval of the test packet data is set to 5 seconds, and the transmission number is set to 5. The extraction circuit 14 is a circuit that extracts test packet data that has passed through the system 2 to be tested. The extraction circuit 14 extracts a test packet data and simultaneously outputs a stop signal for stopping the counting to the counter 15.
Output to

【0020】カウンタ15は、試験パケットデータがシ
ステム2を通過するのに要する遅延時間をカウントする
回路である。このカウンタ15は、送出回路12から出
力されるスタート信号によってカウントを開始し、抽出
回路14から出力されるストップ信号によってカウント
を停止して、試験パケットデータの遅延時間をカウント
する。また、このカウンタ15は、図2に示すように、
試験パケットデータの遅延時間のカウント値をアドレス
として分布メモリ16にアクセスする。
The counter 15 is a circuit for counting the delay time required for the test packet data to pass through the system 2. The counter 15 starts counting by a start signal output from the sending circuit 12, stops counting by a stop signal output from the extraction circuit 14, and counts the delay time of the test packet data. Further, as shown in FIG.
The distribution memory 16 is accessed using the count value of the delay time of the test packet data as an address.

【0021】分布メモリ(記憶部)16は、試験パケッ
トデータの遅延時間の分布のデータを格納するメモリで
ある。この分布メモリ16は、図2に示すように、カウ
ンタ15からカウント値をアドレスとしてアクセスされ
ると、そのアドレスに格納されているメモリデータ(度
数データ)16Aを加算回路17に出力するとともに、
加算回路17から出力された度数が1つカウントアップ
されたメモリデータ16Aを当該アドレスに格納する。
The distribution memory (storage unit) 16 is a memory for storing data of delay time distribution of test packet data. As shown in FIG. 2, when the count value is accessed from the counter 15 as an address, the distribution memory 16 outputs the memory data (frequency data) 16A stored at that address to the adder circuit 17, and
The memory data 16A of which the frequency output from the adding circuit 17 is counted up by one is stored at the address.

【0022】図3は、分布メモリ内に格納されたメモリ
データ(度数データ)の具体例を示す図である。図3に
示すように、分布メモリ16は、遅延時間Tをアドレス
とされ、そのアドレスに格納されるメモリデータ16A
の内容を度数(回数)Qとされている。即ち、分布メモ
リ16内のメモリデータ16Aは、アドレスに対応した
遅延時間Tがそのアドレスに格納されているメモリデー
タ16Aの度数Qだけ発生したことを示している。従っ
て、ユーザが遅延時間Tに対応したアドレスに格納され
ている度数を読み取ることにより、遅延時間Tがどの範
囲にあるか、遅延時間Tとして最も多いのはどの値かを
判断することが可能となる。
FIG. 3 is a diagram showing a specific example of memory data (frequency data) stored in the distribution memory. As shown in FIG. 3, the distribution memory 16 has a delay time T as an address, and the memory data 16A stored at that address.
Is defined as a frequency (number of times) Q. That is, the memory data 16A in the distribution memory 16 indicates that the delay time T corresponding to the address has occurred by the frequency Q of the memory data 16A stored in the address. Therefore, by reading the frequency stored in the address corresponding to the delay time T, the user can determine which range the delay time T is in and what value the delay time T has the most. Become.

【0023】加算回路(演算部)17は、分布メモリ1
6から出力されたメモリデータ16Aを受け取ると、そ
のメモリデータ16Aの度数を1つカウントアップ(加
算)して分布メモリ16に書き込む回路である。制御回
路18は、上記のような分布メモリ16のメモリデータ
16Aを外部から読み出し及び書き込みを行う回路であ
る。
The addition circuit (arithmetic unit) 17 includes the distribution memory 1
When the memory data 16A output from the memory 6 is received, the frequency of the memory data 16A is counted up (added) by one and written into the distribution memory 16. The control circuit 18 is a circuit that externally reads and writes the memory data 16A of the distribution memory 16 as described above.

【0024】次に、動作について説明する。遅延時間分
布測定回路10が動作を行う前提として、送出間隔・送
出数設定回路13には、予め、送出回路12による試験
パケットデータの送出間隔及び1回の起動による試験パ
ケットデータの送出数が設定されている。上記したよう
に、例えば、試験パケットデータの送出間隔が5秒、送
出数が5に設定されているものとする。また、カウンタ
15は、予め、送出回路12から出力されるリセット信
号によってカウント値がリセットされているものとす
る。
Next, the operation will be described. Assuming that the delay time distribution measurement circuit 10 operates, the transmission interval / transmission number setting circuit 13 sets in advance the transmission interval of the test packet data by the transmission circuit 12 and the number of test packet data transmitted by one start. Have been. As described above, for example, it is assumed that the transmission interval of the test packet data is set to 5 seconds and the transmission number is set to 5. Further, it is assumed that the count value of the counter 15 has been reset in advance by a reset signal output from the transmission circuit 12.

【0025】尚、送出回路12は、システム2がパケッ
ト通信を行っているときは、データ回線1から伝送され
るパケットデータを選択してシステム2に送出してい
る。
When the system 2 is performing packet communication, the transmission circuit 12 selects packet data transmitted from the data line 1 and transmits the packet data to the system 2.

【0026】遅延時間分布測定回路10は、パケットデ
ータの遅延時間の分布を測定する処理の起動が開始され
ると、まず、試験パケットデータ生成回路11が試験パ
ケットデータを生成し、その生成した試験パケットデー
タを送出回路12に出力する。送出回路12は、送出間
隔・送出数設定回路13で設定された試験パケットデー
タの送出間隔及び送出数に従い、かつ試験パケットデー
タの送出可能なタイミングで、試験パケットデータ生成
回路11から送られた試験パケットデータを選択してシ
ステム2に対して送出する。
When the delay time distribution measuring circuit 10 starts the process of measuring the delay time distribution of packet data, first, the test packet data generating circuit 11 generates test packet data, and the generated test packet data is generated. The packet data is output to the transmission circuit 12. The transmission circuit 12 performs the test transmitted from the test packet data generation circuit 11 according to the transmission interval and the transmission number of the test packet data set by the transmission interval / transmission number setting circuit 13 and at the timing at which the test packet data can be transmitted. The packet data is selected and transmitted to the system 2.

【0027】尚、送出回路12は、試験パケットデータ
の送出可能なタイミングでないとき、即ち、システム2
がパケット通信を行っているときであって、データ回線
1から伝送されるパケットデータを選択してシステム2
に送出しているときは、送出可能なタイミングになるま
で待機し、送出可能なタイミングになったときに試験パ
ケットデータを送出する。
The transmission circuit 12 operates when the test packet data cannot be transmitted, that is, when the system 2
Is performing packet communication, selects packet data transmitted from the data line 1 and
When the transmission timing is reached, the test packet data is transmitted when the transmission timing is reached.

【0028】ここで、上記のように、試験パケットデー
タの送出間隔が5秒、送出数が5に設定されている場合
は、送出回路12は、5秒間隔で5つの試験パケットデ
ータをシステム2に送出することとなる。
Here, as described above, when the test packet data transmission interval is set to 5 seconds and the number of transmissions is set to 5, the transmission circuit 12 transmits five test packet data at intervals of 5 seconds to the system 2. To be sent.

【0029】送出回路12は、試験パケットデータを選
択してシステム2に送出すると同時に、カウンタ15に
対してスタート信号を出力する。カウンタ15は、送出
回路12からのスタート信号を受けると、時間のカウン
トを開始する。
The sending circuit 12 selects the test packet data and sends it to the system 2 and, at the same time, outputs a start signal to the counter 15. When receiving the start signal from the transmission circuit 12, the counter 15 starts counting time.

【0030】抽出回路14は、システム2を通過した試
験パケットデータを入力すると、その試験パケットデー
タを識別して抽出する。尚、抽出回路14による試験パ
ケットデータと通常のパケット通信時のパケットデータ
(即ち、データ回線1からシステム2に送られるパケッ
トデータ)との識別は、例えば、パケットデータが10
ビットのデータであったとした場合に、その10ビット
のパケットデータの所定ビット目(例えば1ビット目)
が「0」か「1」かによって判断するものとする。
When the test packet data that has passed through the system 2 is input, the extraction circuit 14 identifies and extracts the test packet data. The discrimination between the test packet data by the extraction circuit 14 and the packet data at the time of normal packet communication (that is, the packet data sent from the data line 1 to the system 2) is, for example, 10 packets data.
Bit data, a predetermined bit (for example, the first bit) of the 10-bit packet data
Is determined based on whether is “0” or “1”.

【0031】抽出回路14は、試験パケットデータを抽
出すると同時に、カウンタ15に対してストップ信号を
出力する。カウンタ15は、抽出回路14からのストッ
プ信号を受けると、遅延時間のカウントを停止させる。
The extraction circuit 14 outputs a stop signal to the counter 15 at the same time as extracting the test packet data. When receiving the stop signal from the extraction circuit 14, the counter 15 stops counting the delay time.

【0032】カウンタ15は、カウントを停止すると、
図2に示すように、そのカウント値をアドレスとして分
布メモリ16にアクセスする。例えば、カウンタ15の
カウント値(試験パケットデータの遅延時間)が5ms
であるとした場合、分布メモリ16の「5」のアドレス
(数字)にアクセスする。
When the counter 15 stops counting,
As shown in FIG. 2, the distribution memory 16 is accessed using the count value as an address. For example, the count value of the counter 15 (the delay time of the test packet data) is 5 ms.
When it is assumed that the address is “5”, the address (number) of “5” in the distribution memory 16 is accessed.

【0033】分布メモリ16は、カウンタ15からアク
セスされたアドレスに格納されているメモリデータ16
Aを加算回路17に出力する。図3の例では、分布メモ
リ16は、「5」のアドレスにメモリデータ16Aの度
数「6」が格納されているので、その度数「6」を加算
回路17に出力する。加算回路17は、分布メモリ16
からメモリデータ16Aを受け取ると、そのメモリデー
タ16Aの度数を1つカウントアップして分布メモリ1
6に書き込む。図3の例では、メモリデータ16Aが度
数「6」であるので、加算回路17は、度数「6」を
「7」にカウントアップして、その度数「7」を分布メ
モリ16の「5」のアドレスに書き込む。
The distribution memory 16 stores the memory data 16 stored at the address accessed from the counter 15.
A is output to the addition circuit 17. In the example of FIG. 3, since the frequency “6” of the memory data 16A is stored at the address “5”, the distribution memory 16 outputs the frequency “6” to the addition circuit 17. The addition circuit 17 includes a distribution memory 16
When the memory data 16A is received from the memory 1, the frequency of the memory data 16A is counted up by one and the distribution memory 1 is counted.
Write to 6. In the example of FIG. 3, since the memory data 16 </ b> A has the frequency “6”, the adder circuit 17 counts up the frequency “6” to “7” and stores the frequency “7” in “5” of the distribution memory 16. Write to the address.

【0034】次に、送出回路12は、カウンタ15に対
してリセット信号を出力して、カウンタ15のカウント
値をリセットさせ、試験パケットデータの送出間隔が5
秒に設定されている場合は、最初の試験パケットデータ
を送出してから5秒後に試験パケットデータをシステム
2に送出する。その後の遅延時間分布の測定動作は、上
記したのと同様である。
Next, the sending circuit 12 outputs a reset signal to the counter 15 to reset the count value of the counter 15, and the sending interval of the test packet data becomes five.
If it is set to seconds, the test packet data is transmitted to the system 2 5 seconds after the first test packet data is transmitted. The subsequent operation of measuring the delay time distribution is the same as described above.

【0035】以上の動作を繰り返して行うことにより、
システム2における試験パケットデータの遅延時間の分
布データを測定していく。上記したように、試験パケッ
トデータの送出数が5に設定されている場合には、送出
回路12は、試験パケットデータ生成回路11で生成さ
れた試験パケットデータを1度の起動で5度(5回)送
出して、上記の動作を繰り返すこととなる。
By repeating the above operation,
The distribution data of the delay time of the test packet data in the system 2 is measured. As described above, when the transmission number of the test packet data is set to 5, the transmission circuit 12 transmits the test packet data generated by the test packet data generation circuit 11 five times (5 Times) and the above operation is repeated.

【0036】図3には、そのように測定された分布メモ
リ16のメモリデータ16Aの具体例が示されている。
図3の例では、試験パケットデータの遅延時間は、2m
sから10msの範囲にあり、遅延時間として最も多い
のは8msであることが解る。また、試験パケットデー
タの遅延時間は、大抵5msから8msの範囲にあるこ
とも解る。
FIG. 3 shows a specific example of the memory data 16A of the distribution memory 16 thus measured.
In the example of FIG. 3, the delay time of the test packet data is 2 m
It can be seen that the delay time is in the range from s to 10 ms, and the largest delay time is 8 ms. Also, it can be seen that the delay time of the test packet data is usually in the range of 5 ms to 8 ms.

【0037】制御回路18は、分布メモリ16に格納さ
れている遅延時間の分布を表す各メモリデータ16Aを
読み出して、外部の表示装置(図示せず)やプリンタな
どの出力装置(図示せず)に出力する。ユーザは、表示
装置や出力装置で表示・出力された遅延時間の分布デー
タから、試験対象のシステム2における試験パケットデ
ータの遅延時間の分布を認識することが可能となる。
The control circuit 18 reads out each memory data 16A representing the distribution of the delay time stored in the distribution memory 16 and outputs it to an external display device (not shown) or an output device (not shown) such as a printer. Output to The user can recognize the distribution of the delay time of the test packet data in the test target system 2 from the delay time distribution data displayed and output on the display device and the output device.

【0038】分布メモリ16に格納されている各メモリ
データ16Aの読み出しは、例えば、1日に1回の割合
で行う。ユーザは、分布メモリ16に格納されているメ
モリデータ16Aを制御回路18を介して読み出した後
は、そのメモリデータ16Aを制御回路18を介して分
布メモリ16から消去(リセット)してもよい。
The reading of each memory data 16A stored in the distribution memory 16 is performed, for example, once a day. After reading the memory data 16A stored in the distribution memory 16 via the control circuit 18, the user may erase (reset) the memory data 16A from the distribution memory 16 via the control circuit 18.

【0039】尚、上記実施の形態では、送出間隔・送出
数設定回路13によって、送出回路12による試験パケ
ットデータの送出間隔及び送出数を設定するように構成
されていたが、これに限るものではなく、生成間隔・生
成数設定回路(設定部)によって、試験パケットデータ
生成回路11による試験パケットデータの生成間隔及び
1度の起動で生成する生成数を設定するように構成され
てもよい。
In the above-described embodiment, the transmission interval / number of transmissions of the test packet data by the transmission circuit 12 is set by the transmission interval / number-of-transmissions setting circuit 13, but the present invention is not limited to this. Instead, the generation interval / generation number setting circuit (setting unit) may be configured to set the generation interval of the test packet data by the test packet data generation circuit 11 and the generation number generated at one start.

【0040】また、上記実施の形態では、遅延時間分布
測定回路10は、システム2の外部に設けられていた
が、システム2の内部に組み込んでもよい。また、遅延
時間分布測定回路10にタイマを設けて、タイマの設定
時間になると、自動的にパケットデータの遅延時間の分
布を測定する処理の起動が開始されるように構成されて
もよい。
Although the delay time distribution measuring circuit 10 is provided outside the system 2 in the above embodiment, it may be incorporated inside the system 2. Further, a configuration may be adopted in which a timer is provided in the delay time distribution measuring circuit 10 and when the set time of the timer is reached, the start of the process of measuring the delay time distribution of packet data is automatically started.

【0041】また、上記実施の形態では、加算回路17
が分布メモリ16の所定アドレスに格納されているメモ
リデータ16Aの度数を1つカウントアップ(+1)し
て分布メモリ16の当該所定のアドレスに書き込むよう
にしていたが、これに限るものではなく、減算回路がメ
モリデータ16Aの度数を1つカウントダウン(−1)
して分布メモリ16の所定アドレスに書き込むようにし
てもよい。この場合、分布メモリ16の各アドレスに
は、初期状態では一定度数のメモリデータ16Aが格納
され、その一定度数のメモリデータ16Aが徐々にカウ
ントダウンされることとなる。さらに、加算回路17や
減算回路以外の演算回路で構成してもよい。
In the above embodiment, the addition circuit 17
Is configured to count up (+1) the frequency of the memory data 16A stored at a predetermined address of the distribution memory 16 and write it to the predetermined address of the distribution memory 16, but the present invention is not limited to this. The subtraction circuit counts down the frequency of the memory data 16A by one (-1).
Then, the data may be written to a predetermined address of the distribution memory 16. In this case, the memory data 16A of a certain frequency is stored in each address of the distribution memory 16 in the initial state, and the memory data 16A of the certain frequency is gradually counted down. Further, it may be configured by an arithmetic circuit other than the addition circuit 17 and the subtraction circuit.

【0042】また、上記実施の形態では、送出回路12
がスタート信号をカウンタ15に出力する前に、リセッ
ト信号をカウンタ15に出力してカウント値をリセット
させていたが、これに限るものではなく、送出回路12
がリセット信号とスタート信号を同時にカウンタ15に
出力して、カウンタ15がカウント値をリセットすると
同時に遅延時間のカウントを開始させるようにしてもよ
い。
In the above embodiment, the transmission circuit 12
Outputs a reset signal to the counter 15 before the start signal is output to the counter 15 to reset the count value. However, the present invention is not limited to this.
May simultaneously output a reset signal and a start signal to the counter 15 so that the counter 15 resets the count value and simultaneously starts counting the delay time.

【0043】以上のように、この実施の形態によれば、
送出回路12が試験パケットデータをシステム2に送出
すると同時にスタート信号をカウンタ15に出力し、抽
出回路14がシステム2を通過した試験パケットデータ
を抽出すると同時にストップ信号をカウンタ15に出力
し、カウンタ15がスタート信号を受け取ってからスト
ップ信号を受け取るまでにカウントした遅延時間のカウ
ント値をアドレスとして分布メモリ16にアクセスし、
分布メモリ16がアクセスされたアドレスに格納してい
るメモリデータ16Aを加算回路17に出力し、加算回
路17がメモリデータ16Aの度数を1つカウントアッ
プして当該アドレスに書き込むようにしたので、遅延時
間の分布を求める際の処理負担を軽減することができ、
高速に遅延時間の分布を求めることができるとともに、
ハードウェア構成だけで実現することができ、装置構成
の複雑化やコスト上昇などを抑制することができる。
As described above, according to this embodiment,
The sending circuit 12 sends the test packet data to the system 2 and outputs a start signal to the counter 15 at the same time. The extracting circuit 14 extracts the test packet data passed through the system 2 and outputs a stop signal to the counter 15 at the same time. Accesses the distribution memory 16 using the count value of the delay time counted from the reception of the start signal to the reception of the stop signal as an address,
Since the memory data 16A stored at the address accessed by the distribution memory 16 is output to the adder circuit 17, and the adder circuit 17 counts up the frequency of the memory data 16A by one and writes it to the address. The processing load when finding the distribution of time can be reduced,
The distribution of delay time can be obtained at high speed,
This can be realized only by the hardware configuration, and it is possible to suppress the complexity of the device configuration and increase in cost.

【0044】また、送出間隔・送出数設定回路13によ
って、送出回路12が試験パケットデータを送出する間
隔及び1回の起動で送出する試験パケットデータの送出
数を設定するように構成したので、試験パケットデータ
を送出する毎に起動させる必要がなく、効率よく遅延時
間の分布を測定することが可能となる。
Since the transmission interval / transmission number setting circuit 13 is configured to set the interval at which the transmission circuit 12 transmits test packet data and the number of test packet data transmitted at one start, the test is performed. It is not necessary to start the transmission every time packet data is transmitted, and the distribution of delay time can be measured efficiently.

【0045】また、制御回路18によって、分布メモリ
16に格納されている遅延時間毎のメモリデータ16A
を読み出して外部に出力するように構成したので、ユー
ザが遅延時間の分布を直ちに確認することが可能とな
る。
The control circuit 18 controls the memory data 16A for each delay time stored in the distribution memory 16.
Is read and output to the outside, so that the user can immediately check the distribution of the delay time.

【0046】また、送出回路12がデータ回線1からシ
ステム2に送られるパケットデータと試験パケットデー
タとを選択してシステムに送出し、抽出回路14がパケ
ットデータと試験パケットデータとを識別して抽出する
ようにしたので、現にパケット通信を行っているシステ
ム2の遅延時間の分布を測定することができる。
The sending circuit 12 selects packet data and test packet data sent from the data line 1 to the system 2 and sends them to the system. The extracting circuit 14 identifies and extracts the packet data and the test packet data. As a result, the distribution of the delay time of the system 2 currently performing the packet communication can be measured.

【0047】また、送出回路12が試験パケットデータ
を送出可能なタイミングでシステム2に送出するように
したので、遅延時間の分布を測定する際にシステム2に
おけるパケット通信の妨げとはならない。
Further, since the transmitting circuit 12 transmits the test packet data to the system 2 at a timing at which the test packet data can be transmitted, it does not hinder the packet communication in the system 2 when measuring the distribution of the delay time.

【0048】[0048]

【発明の効果】以上のように、本発明によれば、試験パ
ケットデータを生成する試験パケットデータ生成部と、
この試験パケットデータ生成部で生成された試験パケッ
トデータをシステムに送出し、その試験パケットデータ
の送出と同時にスタート信号を出力する送出部と、シス
テムを通過した試験パケットデータを抽出し、その試験
パケットデータの抽出と同時にストップ信号を出力する
抽出部と、この送出部から出力されたスタート信号を受
け取るとカウントを開始し、抽出部から出力されたスト
ップ信号を受け取るとカウントを停止し、そのカウント
した遅延時間のカウント値をアドレスとしてアクセスす
るカウンタと、このカウンタからアクセスされたアドレ
スに格納している度数データを出力し、その度数データ
が1つカウントアップ又はカウントダウンされた度数デ
ータをアドレスに格納する記憶部と、この記憶部から出
力された度数データを1つカウントアップ又はカウント
ダウンして記憶部のアドレスに書き込む演算部とを備え
たので、遅延時間の分布を求める際の処理負担を軽減す
ることができ、高速に遅延時間の分布を求めることがで
きるとともに、ハードウェア構成だけで実現することが
でき、装置構成の複雑化やコスト上昇などを抑制するこ
とができる効果を奏する。
As described above, according to the present invention, a test packet data generator for generating test packet data,
The test packet data generated by the test packet data generation unit is transmitted to the system, and a transmission unit that outputs a start signal simultaneously with the transmission of the test packet data, and the test packet data that has passed through the system is extracted. The extraction unit that outputs a stop signal simultaneously with the extraction of data, and starts counting when it receives a start signal output from this transmission unit, stops counting when it receives a stop signal output from the extraction unit, and counts the count. A counter that accesses the count value of the delay time as an address, and frequency data stored in the address accessed from the counter are output, and frequency data in which the frequency data is counted up or down by one is stored in the address. The storage unit and the frequency data output from the storage unit And an arithmetic unit that counts up or down one by one and writes the result to the address of the storage unit, so that the processing load when obtaining the distribution of the delay time can be reduced, and the distribution of the delay time can be obtained at high speed. In addition to this, the present invention can be realized only by the hardware configuration, and has the effect of suppressing the complexity of the device configuration and the increase in cost.

【0049】また、本発明よれば、送出部が試験パケッ
トデータを送出する間隔及び1回の起動で送出する試験
パケットデータの送出数を設定する設定部をも設けたの
で、試験パケットデータを送出する毎に起動させる必要
がなく、効率よく遅延時間の分布を測定することができ
るという効果を奏する。
Further, according to the present invention, the setting unit for setting the interval at which the transmitting unit transmits the test packet data and the number of test packet data to be transmitted at one start is also provided. It is not necessary to start the operation every time the operation is performed, and the distribution of the delay time can be measured efficiently.

【0050】また、本発明によれば、試験パケットデー
タ生成部が試験パケットデータを生成する間隔及び1回
の起動で生成する試験パケットデータの生成数を設定す
る設定部をも設けたので、同様に、試験パケットデータ
を送出する毎に起動させる必要がなく、効率よく遅延時
間の分布を測定することができるという効果を奏する。
Further, according to the present invention, the test packet data generating section is provided with the setting section for setting the interval at which the test packet data is generated and the number of test packet data generated at one start. In addition, there is no need to activate the test packet data every time the test packet data is transmitted, and the delay time distribution can be measured efficiently.

【0051】また、本発明によれば、記憶部に格納され
ている遅延時間毎の度数データを読み出して外部に出力
する制御部をも設けたので、ユーザがシステムにおける
遅延時間の分布を直ちに確認することができるという効
果を奏する。
Further, according to the present invention, since a control unit for reading out frequency data for each delay time stored in the storage unit and outputting the data to the outside is also provided, the user can immediately confirm the delay time distribution in the system. It has the effect that it can be done.

【0052】また、本発明によれば、送出部がデータ回
線からシステムに送られるパケットデータと試験パケッ
トデータとを選択してシステムに送出し、抽出部がパケ
ットデータと試験パケットデータとを識別して抽出する
ようにしたので、現にパケット通信を行っているシステ
ムの遅延時間の分布を測定することができるという効果
を奏する。
Further, according to the present invention, the transmitting section selects packet data and test packet data transmitted from the data line to the system and transmits them to the system, and the extracting section identifies the packet data and test packet data. As a result, the distribution of the delay time of the system that is currently performing the packet communication can be measured.

【0053】また、本発明によれば、送出部が試験パケ
ットデータを送出可能なタイミングでシステムに送出す
るようにしたので、遅延時間の分布を測定する際にシス
テムにおけるパケット通信の妨げとなるのを防止するこ
とができるという効果を奏する。
Further, according to the present invention, the transmitting section transmits the test packet data to the system at a timing at which the test packet data can be transmitted. Therefore, when measuring the distribution of the delay time, packet communication in the system is obstructed. The effect that it can prevent is produced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の遅延時間分布測定装置を示すブロッ
ク図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a delay time distribution measuring device according to the present invention.

【図2】 分布メモリにおけるメモリデータのカウント
アップ動作を示すためのブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a count-up operation of memory data in a distribution memory.

【図3】 分布メモリ内に格納されたメモリデータの具
体例を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a specific example of memory data stored in a distribution memory.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 データ回線 2 システム 10 遅延時間分布測定回路(遅延時間分布測定装置) 11 試験パケットデータ生成回路(試験パケットデー
タ生成部) 12 送出回路(送出部) 13 送出間隔・送出数設定回路(設定部) 14 抽出回路(抽出部) 15 カウンタ 16 分布メモリ(記憶部) 17 加算回路(演算部) 18 制御回路(制御部)
Reference Signs List 1 data line 2 system 10 delay time distribution measurement circuit (delay time distribution measurement device) 11 test packet data generation circuit (test packet data generation unit) 12 transmission circuit (transmission unit) 13 transmission interval / transmission number setting circuit (setting unit) 14 Extraction Circuit (Extraction Unit) 15 Counter 16 Distribution Memory (Storage Unit) 17 Addition Circuit (Operation Unit) 18 Control Circuit (Control Unit)

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 試験パケットデータを生成する試験パケ
ットデータ生成部と、 当該試験パケットデータ生成部で生成された前記試験パ
ケットデータをシステムに送出し、その試験パケットデ
ータの送出と同時にスタート信号を出力する送出部と、 前記システムを通過した前記試験パケットデータを抽出
し、その試験パケットデータの抽出と同時にストップ信
号を出力する抽出部と、 前記送出部から出力された前記スタート信号を受け取る
とカウントを開始し、前記抽出部から出力された前記ス
トップ信号を受け取るとカウントを停止し、そのカウン
トした遅延時間のカウント値をアドレスとしてアクセス
するカウンタと、 当該カウンタからアクセスされたアドレスに格納してい
る度数データを出力し、その度数データが1つカウント
アップ又はカウントダウンされた度数データを前記アド
レスに格納する記憶部と、 当該記憶部から出力された前記度数データを1つカウン
トアップ又はカウントダウンして前記記憶部の前記アド
レスに書き込む演算部とを備えたことを特徴とする遅延
時間分布測定装置。
1. A test packet data generating unit for generating test packet data, transmitting the test packet data generated by the test packet data generating unit to a system, and outputting a start signal simultaneously with the transmission of the test packet data A transmitting unit that extracts the test packet data that has passed through the system, and outputs a stop signal simultaneously with the extraction of the test packet data; and a count when receiving the start signal output from the transmitting unit. The counter starts when the stop signal output from the extraction unit is received, and the counter stops accessing the count value of the counted delay time as an address, and the frequency stored in the address accessed from the counter. Outputs data and counts up the frequency data by one Has a storage unit for storing count-down frequency data at the address, and an arithmetic unit for counting up or counting down the frequency data output from the storage unit by one and writing the count data to the address of the storage unit. A delay time distribution measuring device characterized by the above-mentioned.
【請求項2】 送出部が試験パケットデータを送出する
間隔及び1回の起動で送出する前記試験パケットデータ
の送出数を設定する設定部を備えたことを特徴とする請
求項1記載の遅延時間分布測定装置。
2. The delay time according to claim 1, further comprising a setting unit that sets an interval at which the transmitting unit transmits the test packet data and a number of the test packet data to be transmitted at one start. Distribution measuring device.
【請求項3】 試験パケットデータ生成部が試験パケッ
トデータを生成する間隔及び1回の起動で生成する前記
試験パケットデータの生成数を設定する設定部を備えた
ことを特徴とする請求項1記載の遅延時間分布測定装
置。
3. The apparatus according to claim 1, further comprising a setting unit for setting an interval at which the test packet data generation unit generates the test packet data and a generation number of the test packet data generated by one start. Delay time distribution measuring device.
【請求項4】 記憶部に格納されている遅延時間毎の度
数データを読み出して外部に出力する制御部を備えたこ
とを特徴とする請求項1から請求項3のうちのいずれか
1項記載の遅延時間分布測定装置。
4. The control device according to claim 1, further comprising a control unit for reading out frequency data for each delay time stored in the storage unit and outputting the data to the outside. Delay time distribution measuring device.
【請求項5】 送出部は、データ回線からシステムに送
られるパケットデータと試験パケットデータとを選択し
て前記システムに送出し、抽出部は、前記パケットデー
タと前記試験パケットデータとを識別して抽出すること
を特徴とする請求項1から請求項4のうちのいずれか1
項記載の遅延時間分布測定装置。
5. A transmitting section selects packet data and test packet data transmitted from the data line to the system and transmits them to the system, and the extracting section identifies the packet data and the test packet data to identify the packet data and the test packet data. The method according to any one of claims 1 to 4, wherein extraction is performed.
The delay time distribution measuring device according to the item.
【請求項6】 送出部は、試験パケットデータを送出可
能なタイミングでシステムに送出することを特徴とする
請求項5記載の遅延時間分布測定装置。
6. The delay time distribution measuring apparatus according to claim 5, wherein the transmitting section transmits the test packet data to the system at a timing at which the test packet data can be transmitted.
JP2001169064A 2001-06-05 2001-06-05 Delay time distribution measurement device Pending JP2002368813A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001169064A JP2002368813A (en) 2001-06-05 2001-06-05 Delay time distribution measurement device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001169064A JP2002368813A (en) 2001-06-05 2001-06-05 Delay time distribution measurement device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002368813A true JP2002368813A (en) 2002-12-20

Family

ID=19011185

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001169064A Pending JP2002368813A (en) 2001-06-05 2001-06-05 Delay time distribution measurement device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002368813A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008219225A (en) * 2007-03-01 2008-09-18 Fujitsu Ltd Network load detection system, method, unit and program
CN112816858A (en) * 2020-12-31 2021-05-18 成都华微电子科技有限公司 Digital circuit delay test method, test circuit and integrated circuit chip

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008219225A (en) * 2007-03-01 2008-09-18 Fujitsu Ltd Network load detection system, method, unit and program
CN112816858A (en) * 2020-12-31 2021-05-18 成都华微电子科技有限公司 Digital circuit delay test method, test circuit and integrated circuit chip
CN112816858B (en) * 2020-12-31 2022-09-16 成都华微电子科技股份有限公司 Digital circuit delay test method, test circuit and integrated circuit chip

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002368813A (en) Delay time distribution measurement device
CN113938631B (en) Reference monitor, image frame interception method and system
CN115904719A (en) Data acquisition method and device, electronic equipment and storage medium
JP2003333119A (en) Method of indicating occurrence of event in accordance with prescribed protocol
CN108270447B (en) Keyboard shake eliminating method, scanning controller, main controller and measuring instrument
CN114071127A (en) Live video delay testing method and device, storage medium and electronic equipment
US8966051B2 (en) Technique for monitoring component processing
CN114064513B (en) Page fluency performance detection method, device, equipment and system
US11509762B2 (en) Cable length calculation system and cable length calculation method
CN113630282B (en) Method and device for detecting server state
JP2003263404A (en) Serial communication system and microcomputer using the same
JP2944549B2 (en) Cell processing circuit
JP3217042B2 (en) Semiconductor device having pseudo parity error signal generation function
JP2978782B2 (en) RNR test method for switching equipment
US6510482B1 (en) Multiplexed bus data transmission control system
JP2530040Y2 (en) Full-duplex communication method by serial communication
JP3723357B2 (en) Data communication system
JP4431246B2 (en) Timer circuit
JP2015075490A (en) Method of incrementing stored value in waveform monitor, and stochastic incrementer
CN115634448A (en) Frame rate statistical method and device and electronic equipment
CN116614410A (en) DCS network communication state analysis method, storage medium, device and system
CN115955286A (en) Communication time delay calibration method and device in electric power real-time simulation and related equipment
CN118210714A (en) Delay test method and system
CN117435386A (en) Abnormal data positioning method and device, chip testing machine and readable storage medium
JP2754684B2 (en) Communication line test equipment

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050311

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050329

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20050726