JP2002368393A - Method for manufacturing metal wiring circuit board - Google Patents

Method for manufacturing metal wiring circuit board

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JP2002368393A
JP2002368393A JP2001168973A JP2001168973A JP2002368393A JP 2002368393 A JP2002368393 A JP 2002368393A JP 2001168973 A JP2001168973 A JP 2001168973A JP 2001168973 A JP2001168973 A JP 2001168973A JP 2002368393 A JP2002368393 A JP 2002368393A
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JP
Japan
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polyimide resin
resin film
metal wiring
thermoplastic polyimide
circuit board
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Application number
JP2001168973A
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Japanese (ja)
Inventor
Masanori Akita
雅典 秋田
Shuichi Motochika
修一 本近
Daisuke Takase
大介 高瀬
Minoru Koyama
稔 小山
Hideo Uehara
秀雄 上原
Jun Suzuki
潤 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toray Engineering Co Ltd
Ray Tech Co Ltd
Original Assignee
Toray Engineering Co Ltd
Ray Tech Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for manufacturing a metal wiring circuit board by which the metal wiring circuit board can sufficiently keeps adhesive properties with a polyimide resin film constituting a base without impairing smoothness even if a metal wiring is made to be further minute. SOLUTION: A photosensitive insulating resin solution 3a is applied to the metal wiring circuit board comprising a metal wiring pattern 2a formed on a polyimide resin film of a base 1 by an additive method or a subtractive method. At this time, the solution 3a is applied so as to coat the pattern 2a and fill a space (part where the pattern 2a is not formed). Subsequently, after the solution is dried, the resin 3 is removed by UV ray exposure or development so that the entire or required part of the pattern 2a is exposed, and the residual resin 3 is heated to be closed circular or bridged.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶パネルの点灯
検査等に用いられるフィルムプローブ(又はフラットプ
ローブ)のような金属配線回路基板の製造方法に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a metal wiring circuit board such as a film probe (or a flat probe) used for a lighting inspection of a liquid crystal panel or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、周知のように、ポリイミド樹脂フ
ィルムのみで構成された基材や金属張りポリイミド樹脂
フィルム(例えば、銅箔張りポリイミド樹脂フィルム)
で構成された基材等の前記ポリイミド樹脂フィルム上に
アディティブ法若しくはサブトラクティブ法によって金
属配線パターンを形成した金属配線回路基板が広く実用
に供されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, as is well known, a substrate composed of only a polyimide resin film or a metal-coated polyimide resin film (eg, a copper foil-coated polyimide resin film)
A metal wiring circuit board in which a metal wiring pattern is formed by an additive method or a subtractive method on the above-mentioned polyimide resin film such as a base material constituted by the above method is widely used in practice.

【0003】しかし、ICチップの精細化に伴って金属
配線の線幅やライン又はスペースのピッチの精細化が急
速に進展しつつあり、その為、金属配線との密着性が問
題視されるようになった。
[0003] However, with the refinement of IC chips, the refinement of the line width of metal wiring and the pitch of lines or spaces is rapidly progressing, and therefore, adhesion to metal wiring may be regarded as a problem. Became.

【0004】特に、液晶パネル(LCDパネル)の検査
用のフィルムプローブ(又はフラットプローブ)に設け
られている金属配線にあっては、検査時に被検査対象物
の金属配線に対して圧接される為に、引っ掻きや引き離
しに耐え得る高い密着強度(ピール強度)が要求され
る。
In particular, metal wiring provided on a film probe (or flat probe) for inspection of a liquid crystal panel (LCD panel) is pressed against the metal wiring of an object to be inspected at the time of inspection. In addition, a high adhesion strength (peel strength) that can withstand scratching or separation is required.

【0005】そこで、かかる要求に応え得る密着強度の
高い基材を開発すべく、例えば、ガラス繊維強化エポキ
シ樹脂シートを用いること等が検討されているが、ガラ
ス繊維強化エポキシ樹脂シートと金属箔とを積層(又は
一体化)すると、強化繊維の凹凸が金属箔の表面に出現
されて金属配線の平滑性が損われてしまうといった解決
し難い欠点があった。
Therefore, in order to develop a base material having a high adhesion strength capable of meeting such demands, for example, use of a glass fiber reinforced epoxy resin sheet has been studied. When lamination (or integration) is performed, unevenness of the reinforcing fibers appears on the surface of the metal foil, and the smoothness of the metal wiring is impaired.

【0006】その為、そのような欠点のない金属張りポ
リイミド樹脂フィルムが広く用いられているが、その一
方において、ポリイミド樹脂フィルムは、金属配線との
密着性(ピール強度)が劣る故、この点の改善が強く要
求されている。
For this reason, a metal-clad polyimide resin film free from such defects is widely used. On the other hand, a polyimide resin film has poor adhesion to metal wiring (peel strength). There is a strong demand for improvements.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述の欠点
(又は問題点)に鑑みて発明されたものであって、その
目的は、金属配線がより一段と精細化されても、金属配
線の平滑性を損わずに、しかも、基材を構成しているポ
リイミド樹脂フィルムとの密着性をより十分に保つこと
ができる金属配線回路基板の製造方法を提供しようとす
ることである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned drawbacks (or problems). An object of the present invention is to provide a method of manufacturing a metal wiring circuit board which can maintain the adhesion to a polyimide resin film constituting a substrate more sufficiently without impairing smoothness.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上述の目的を達成する為
に、本発明においては、その一方法として、請求項1に
記載するように、少なくともポリイミド樹脂フィルム単
体材で構成された基材の前記ポリイミド樹脂フィルム上
にアディティブ法若しくはサブトラクティブ法によって
金属配線パターンを形成した金属配線回路基板の前記金
属配線パターンを被覆すると共に前記金属配線パターン
が形成されていないスペース部分に充填せしめるように
感光性絶縁樹脂溶液を塗布し、かつ乾燥させ、次いで、
フォトマスクを用いる紫外線露光及び現像により前記金
属配線パターンの必要箇所若しくは全面を露出させるよ
うに前記感光性絶縁樹脂を除去した後、残存の感光性絶
縁樹脂を加熱閉環している。
In order to achieve the above-mentioned object, in the present invention, as one method, as described in claim 1, at least a substrate made of a polyimide resin film alone is used. Photosensitive so as to cover the metal wiring pattern of the metal wiring circuit board in which the metal wiring pattern is formed by the additive method or the subtractive method on the polyimide resin film and to fill the space where the metal wiring pattern is not formed. Apply the insulating resin solution and dry, then
After removing the photosensitive insulating resin so as to expose a necessary portion or the entire surface of the metal wiring pattern by ultraviolet exposure and development using a photomask, the remaining photosensitive insulating resin is heated and closed.

【0009】また、他の方法として、請求項9に記載す
るように、上記加熱閉環に代えて加熱架橋している。な
お、前記感光性絶縁樹脂は、前記加熱閉環又は前記加熱
架橋後において200℃以上のTgを有するものが好ま
しい。
As another method, as described in claim 9, heat crosslinking is performed in place of the above-mentioned heat ring closure. It is preferable that the photosensitive insulating resin has a Tg of 200 ° C. or more after the heat ring closure or the heat crosslinking.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】本発明においては、少なくともポ
リイミド樹脂フィルム単体材で構成された基材、すなわ
ち、ポリイミド樹脂フィルムのみで構成された基材やポ
リイミド樹脂フィルムと金属箔との積層材で構成された
基材が用いられる。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS In the present invention, a substrate composed of at least a polyimide resin film alone, that is, a substrate composed only of a polyimide resin film or a laminated material composed of a polyimide resin film and a metal foil. The used substrate is used.

【0011】上述のポリイミド樹脂フィルムは、前者の
基材(ポリイミド樹脂フィルム単体材で構成の基材)に
あっては、熱可塑性ポリイミド樹脂フィルム又は非熱可
塑性ポリイミド樹脂フィルムのいずれであってもよく、
また、それとは異なり、熱可塑性ポリイミド樹脂フィル
ムと非熱可塑性ポリイミド樹脂フィルムとの積層材であ
ってもよい。
The above-mentioned polyimide resin film may be either a thermoplastic polyimide resin film or a non-thermoplastic polyimide resin film in the former substrate (substrate composed of a single polyimide resin film material). ,
Alternatively, a laminate of a thermoplastic polyimide resin film and a non-thermoplastic polyimide resin film may be used.

【0012】同様に、後者の基材(ポリイミド樹脂フィ
ルムと金属箔との積層材で構成の基材)にあっても、ポ
リイミド樹脂フィルムは、熱可塑性ポリイミド樹脂フィ
ルム又は非熱可塑性ポリイミド樹脂フィルムのいずれで
あってもよいと共に、熱可塑性ポリイミド樹脂フィルム
と非熱可塑性ポリイミド樹脂フィルムとの積層材であっ
てもよい。なお、後者の基材において用いられる金属箔
は、一般には銅箔が選択されるが、その他、必要に応じ
てAl箔等を選択してもよい。
Similarly, even in the latter substrate (substrate composed of a laminate of a polyimide resin film and a metal foil), the polyimide resin film is formed of a thermoplastic polyimide resin film or a non-thermoplastic polyimide resin film. Any of them may be used, and a laminate of a thermoplastic polyimide resin film and a non-thermoplastic polyimide resin film may be used. In addition, copper foil is generally selected as the metal foil used for the latter base material, but an Al foil or the like may be selected as necessary.

【0013】上述の非熱可塑性ポリイミド樹脂の例とし
て、ピロメリット酸無水物(PMDA)とオキシジアニ
リン(ODA)から成るポリイミド、ビフェニルテトラ
カルボン酸無水物(BTDA)とp−フェニレンジアミ
ン(PDA)から成るポリイミド、及びこれらのモノマ
ーから得られる共重合体が挙げられる。
Examples of the above-mentioned non-thermoplastic polyimide resin include polyimide comprising pyromellitic anhydride (PMDA) and oxydianiline (ODA), biphenyltetracarboxylic anhydride (BTDA) and p-phenylenediamine (PDA). And a copolymer obtained from these monomers.

【0014】より具体的には、市販されている非熱可塑
性ポリイミド樹脂フィルムの例として、東レデュポン株
式会社製の「カプトン」(商品名)、鐘淵化学工業株式
会社製の「アピカル」(商品名)、宇部興産株式会社製
の「ユーピレック−S」(商品名)等が挙げられる。
More specifically, as examples of commercially available non-thermoplastic polyimide resin films, "Kapton" (trade name) manufactured by Toray Dupont Co., Ltd. and "Apical" (trade name) manufactured by Kanegabuchi Chemical Industry Co., Ltd. Name), "UPILEC-S" (trade name) manufactured by Ube Industries, Ltd. and the like.

【0015】上述の非熱可塑性ポリイミド樹脂フィルム
は、金属張りポリイミド樹脂フィルム基材に加工されて
用いられる場合が多い。例えば、スパッターで金属下地
を形成した後に電解銅メッキを施すことによって銅張り
ポリイミド樹脂フイルム基材に加工されたり、或るいは
熱可塑性ポリイミド樹脂系の接着剤を介して金属箔(銅
箔やAl箔等)に張り付けられて金属張りポリイミド樹
脂フイルム基材に加工されたりして用いられる場合が多
い。
The above-mentioned non-thermoplastic polyimide resin film is often used after being processed into a metal-clad polyimide resin film substrate. For example, a copper-clad polyimide resin film substrate is processed by applying electrolytic copper plating after forming a metal base by sputtering, or a metal foil (copper foil or Al foil) is applied via a thermoplastic polyimide resin-based adhesive. Foil or the like) and processed into a metal-clad polyimide resin film base material.

【0016】また、それらとは異なり、非熱可塑性ポリ
イミド樹脂フィルム上に熱可塑性ポリイミド樹脂系の接
着層を予め形成した基材に加工されて用いられる場合も
あるが、このような基材に係る市販品として三井化学株
式会社製の「ネオフレックスシリーズ−II」(商品名)
が挙げられる。
Unlike the above, there is a case where a non-thermoplastic polyimide resin film is used after being processed into a base material in which a thermoplastic polyimide resin-based adhesive layer is formed in advance. "Neoflex Series-II" (trade name) manufactured by Mitsui Chemicals, Inc. as a commercial product
Is mentioned.

【0017】一方、熱可塑性ポリイミド樹脂として、上
述の非熱可塑性ポリイミド樹脂の原料となるピロメリッ
ト酸無水物、ビフェニルテトラカルボン酸無水物(BT
DA)とオキシジアニリン(ODA)やp−フェニレン
ジアミン(PDA)などのジアミン等のモノマー成分に
加えて、主鎖に極性の小さい屈曲性の大きい、−CH2
−、−O−、−S−、−Si−、−CO−などの連結基
が導入されたジアミンやテトラカルボン酸無水物などの
モノマーや嵩高いフェニル基やビシクロ環を有する脂環
族テトラカルボン酸無水物やジアミンなどのモノマー成
分を含んでいるものが挙げられる。
On the other hand, as the thermoplastic polyimide resin, pyromellitic anhydride and biphenyltetracarboxylic anhydride (BT) which are the raw materials of the above-mentioned non-thermoplastic polyimide resin are used.
DA) and monomer components such as diamines such as oxydianiline (ODA) and p-phenylenediamine (PDA), and -CH 2 having a small polarity and a high flexibility in the main chain.
-, -O-, -S-, -Si-, -CO- and other linking group-introduced monomers such as diamines and tetracarboxylic anhydrides, and bulky phenyl groups and alicyclic tetracarboxylic acids having a bicyclo ring Those containing monomer components such as acid anhydrides and diamines can be mentioned.

【0018】より具体的には、市販されている熱可塑性
ポリイミド樹脂フィルムの代表例として、宇部興産株式
会社製の「ユーピレックス−VT」(商品名)が挙げら
れる。また、熱可塑性ポリイミド接着シートの例として
は、宇部興産株式会社製の「ユーピタイトーUPA−N
型」が挙げられる。
More specifically, "UPILEX-VT" (trade name) manufactured by Ube Industries, Ltd. is a representative example of a commercially available thermoplastic polyimide resin film. Further, as an example of the thermoplastic polyimide adhesive sheet, “Upitite-UPA-N” manufactured by Ube Industries, Ltd.
Type ".

【0019】本発明においては、上述した基材のポリイ
ミド樹脂フィルム上にアディティブ法若しくはサブトラ
クティブ法(エッチング法)によって金属配線パターン
を形成した金属配線回路基板に感光性絶縁樹脂溶液を塗
布する。かかるアディティブ法の代表例としてアディテ
ィブ電解メッキが挙げられると共にサブトラクティブ法
の代表例として銅箔エッチングが挙げられる。
In the present invention, a photosensitive insulating resin solution is applied to a metal wiring circuit board in which a metal wiring pattern has been formed on the above-mentioned substrate polyimide resin film by an additive method or a subtractive method (etching method). A typical example of such an additive method is additive electrolytic plating, and a typical example of a subtractive method is copper foil etching.

【0020】なお、アディティブ電解メッキにおいて
は、スパッター/電解薄膜銅メッキで形成された薄膜電
解銅張りポリイミド樹脂フィルムや電解薄膜銅を熱可塑
性ポリイミド樹脂系接着剤でポリイミド樹脂フィルムに
張り付けた薄膜電解銅張りポリイミド樹脂フィルムが用
いられ、これによってメッキ用レジストを用いた電解メ
ッキでライン/スペースの微細なパターンを形成するこ
とができる。
In the case of additive electrolytic plating, a thin-film electrolytic copper-clad polyimide resin film formed by sputtering / electrolytic thin-film copper plating or a thin-film electrolytic copper adhered to a polyimide resin film with a thermoplastic polyimide resin-based adhesive. A stretched polyimide resin film is used, whereby a fine line / space pattern can be formed by electrolytic plating using a plating resist.

【0021】それに対し、銅箔エッチング法において
は、比較的膜厚みのある電解銅箔張りポリイミド樹脂フ
ィルムが用いられ、ライン/スペースは、上述のアディ
ティブ法に比べて一般に大きい。しかし、そのような金
属配線パターンの形成にあっては、いずれにおいても基
材を構成しているポリイミド樹脂フィルムとの密着強度
が十分に満足し得るものではない。
On the other hand, in the copper foil etching method, an electrolytic copper foil-clad polyimide resin film having a relatively large film thickness is used, and the line / space is generally larger than that of the above-described additive method. However, in forming such a metal wiring pattern, the adhesive strength with the polyimide resin film forming the base material cannot be sufficiently satisfied in any case.

【0022】そこで、本発明においては、かかる金属配
線回路基板のポリイミド樹脂フィルム上に感光性絶縁樹
脂溶液を全面的に塗布し、かつそれを乾燥させた後、フ
ォトマスクを用いる紫外線露光及び現像により金属配線
パターンの必要箇所若しくは全面を露出させるように金
属配線パターンを被覆している感光性絶縁樹脂を除去す
ると共に残存の感光性絶縁樹脂を加熱閉環又は加熱架橋
することによってポリイミド樹脂フィルムとの密着強度
を一段と高めている。
Therefore, in the present invention, a photosensitive insulating resin solution is applied on the entire surface of the polyimide resin film of the metal wiring circuit board and dried, and then exposed to ultraviolet light using a photomask and developed. Adhesion with the polyimide resin film by removing the photosensitive insulating resin covering the metal wiring pattern so as to expose the necessary portions or the entire surface of the metal wiring pattern, and heat-closing or heat-crosslinking the remaining photosensitive insulating resin Strength is further enhanced.

【0023】上述の感光性絶縁樹脂溶液は、加熱処理前
においては感光性を有し紫外線露光及び現像が可能であ
ると共に加熱処理後においては200℃以上のTgを有
するものが好適であってネガ型、ポジ型のいずれのタイ
プの樹脂であってもよい。
The above-mentioned photosensitive insulating resin solution preferably has a photosensitivity before heat treatment, can be exposed to ultraviolet light and can be developed, and has a Tg of 200 ° C. or more after heat treatment. The resin may be any of a mold type and a positive type.

【0024】そのようなものとして、ポリイミド樹脂前
駆体溶液、ポリベンゾキサゾ−ル樹脂前駆体溶液、アク
リル樹脂カバーコートインクが挙げられるが、ポリイミ
ド樹脂溶液又はポリベンゾキサゾ−ル樹脂前駆体溶液を
塗布する場合においては、フォトマスクを用いる紫外線
露光及び現像後において、残存の感光性絶縁樹脂を加熱
閉環する。それに対し、アクリル樹脂カバーコートイン
クを塗布する場合においては、残存の感光性絶縁樹脂を
加熱架橋する。
Examples of such a solution include a polyimide resin precursor solution, a polybenzoxazole resin precursor solution, and an acrylic resin cover coat ink. In the case of applying a polyimide resin solution or a polybenzoxazole resin precursor solution, After the ultraviolet exposure and development using a photomask, the remaining photosensitive insulating resin is heated and closed. On the other hand, when the acrylic resin cover coat ink is applied, the remaining photosensitive insulating resin is crosslinked by heating.

【0025】このように、感光性絶縁樹脂溶液として、
ポリイミド樹脂前駆体溶液又はポリベンゾキサゾ−ル樹
脂前駆体溶液を塗布する場合と、アクリル樹脂カバーコ
ートインクを塗布する場合とでは、金属配線パターンを
被覆している感光性絶縁樹脂を除去する点においては共
通しているが、残存の感光性絶縁樹脂の加熱処理におい
て生成樹脂の構造変化が異なっている。
Thus, as the photosensitive insulating resin solution,
When applying a polyimide resin precursor solution or a polybenzoxazole resin precursor solution, and when applying an acrylic resin cover coat ink, it is common in that the photosensitive insulating resin covering the metal wiring pattern is removed. However, the structural change of the formed resin is different in the heat treatment of the remaining photosensitive insulating resin.

【0026】なお、市販されているポリイミド樹脂前駆
体溶液の例として、イオン結合タイプの東レ株式会社製
の感光性ポリイミドワニスである「フォトニース」(商
品名)や共有結合タイプの旭化成株式会社製の感光性ポ
リイミド等が挙げられると共に市販されているポリベン
ゾキサゾ−ル樹脂前駆体溶液の例として、住友べークラ
イト株式会社製のポジ型感光性コート剤である「CRC
−8000シリーズ」が挙げられる。
Examples of commercially available polyimide resin precursor solutions include "Photo Nice" (trade name), which is a photosensitive polyimide varnish manufactured by Toray Industries, Inc. of the ion bonding type, and Asahi Kasei Corporation, a covalent bonding type. Examples of commercially available polybenzoxazole resin precursor solutions that can be used in the present invention include "CRC", a positive type photosensitive coating agent manufactured by Sumitomo Bakelite Co., Ltd.
-8000 series ".

【0027】また、市販されているアクリル樹脂カバー
コートインクの例として、新日鉄化学工業株式会社製の
カルド型耐熱永久レジストである「V−259PAシリ
ーズ」(フレオン骨格を有するアクリル樹脂)が挙げら
れる。これらの樹脂溶液は、基材に塗布し、かつ乾燥さ
せ、次いで、露光及び現像工程を経てから加熱閉環又は
架橋することにより、高いTgを有する耐熱性樹脂にす
ることができる。
An example of commercially available acrylic resin cover coat ink is "V-259PA series" (acrylic resin having a Freon skeleton) which is a cardo-type heat-resistant permanent resist manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd. These resin solutions are applied to a base material, dried, and then subjected to exposure and development steps, followed by heat ring closure or cross-linking, whereby a heat-resistant resin having a high Tg can be obtained.

【0028】本発明において感光性絶縁樹脂溶液を選択
しているのは、非感光性絶縁樹脂溶液の選択に比して、
エポキシ系やアクリル系等の樹脂選択肢が広がり、密着
性の向上や反りの低減等を図る上で材料の選択肢が増
え、しかも、ポリイミド樹脂を塗布した非感光性樹脂の
エッチングに際して必要な感光性ドライフィルムのラミ
ネート、露光、現像、エッチング及び剥離の工程を、露
光、現像及び硬化の工程に短縮することができるからで
ある。
In the present invention, the selection of the photosensitive insulating resin solution is different from the selection of the non-photosensitive insulating resin solution.
The choice of resins such as epoxy-based and acrylic-based resins has expanded, and the choice of materials has increased in order to improve adhesion and reduce warpage.In addition, the photosensitive dryness required when etching non-photosensitive resin coated with polyimide resin has been increased. This is because the steps of laminating, exposing, developing, etching and peeling the film can be shortened to the steps of exposing, developing and curing.

【0029】また、本発明においては、上述のように、
フォトマスクを用いる紫外線露光及び現像により金属配
線パターンの必要箇所若しくは全面を露出させるように
金属配線パターンを被覆している感光性絶縁樹脂を除去
する。かかる露光に際し、効果的な波長の光を照射す
る。その為の水銀ランプとして超高圧水銀ランプ型露光
機を使用するのが好ましく、かつ露光後の現像には、所
定の現像機を選択する。
In the present invention, as described above,
The photosensitive insulating resin covering the metal wiring pattern is removed by exposure to ultraviolet light and development using a photomask so as to expose a necessary portion or the entire surface of the metal wiring pattern. In such exposure, light of an effective wavelength is irradiated. It is preferable to use an ultra-high pressure mercury lamp type exposure machine as a mercury lamp for that purpose, and a predetermined developing machine is selected for development after exposure.

【0030】なお、メッキマスク又はエッチングマスク
を形成する際の露光においても同様であると共に、アデ
ィティブ法によって薄膜銅の上に金属回路パターンを形
成した場合には、感光性樹脂マスクを剥離後、スペース
部の薄膜銅をソフトエッチングすることが必要とされる
が、その為の液も所定のものを選択する。
The same applies to the exposure when forming a plating mask or an etching mask. When a metal circuit pattern is formed on thin-film copper by an additive method, the photosensitive resin mask is peeled off, and the space is removed. It is necessary to soft-etch the thin-film copper in a portion, and a predetermined liquid is selected for the soft-etching.

【0031】上述した本発明に係る金属配線回路基板
は、特に、液晶パネルの点灯検査等に用いられる検査電
極基板(所謂、フラットプローブ又はフィルムプロー
ブ)として好適である。図1において、かかる金属配線
回路基板の平面視姿が示されている。
The above-described metal wiring circuit board according to the present invention is particularly suitable as an inspection electrode substrate (so-called flat probe or film probe) used for lighting inspection of a liquid crystal panel or the like. FIG. 1 shows a plan view of such a metal wiring circuit board.

【0032】図示のように、これにおいては、基材1上
に所定ピッチに形成されている多数の金属配線2の一端
部及び他端部を露出させるように感光性絶縁樹脂3が塗
布されている。検査に際し、金属配線2の一端部が露出
されている検査電極部Aを検査対象物に対して圧接する
と共に金属配線2の他端部が露出されている接続電極部
Bを電源側の駆動手段に対して圧接する。
As shown in the figure, in this case, a photosensitive insulating resin 3 is applied so as to expose one end and the other end of a large number of metal wirings 2 formed at a predetermined pitch on a substrate 1. I have. At the time of inspection, the inspection electrode portion A where one end of the metal wiring 2 is exposed is pressed against the inspection object, and the connection electrode portion B where the other end of the metal wiring 2 is exposed is connected to the driving means on the power supply side. Press against

【0033】なお、検査電極部A及び接続電極部Bのス
ペース部分4(金属配線2が形成されていない部分)に
も感光性絶縁樹脂3が塗布充填されている。Z−Z断面
の姿は図2(h)に示されているが、スペース部分4に
充填された感光性絶縁樹脂3の上面は、金属配線2の上
面より少し下方に位置されている。
Note that the photosensitive insulating resin 3 is also applied and filled in the space portions 4 (portions where the metal wirings 2 are not formed) of the inspection electrode portions A and the connection electrode portions B. FIG. 2 (h) shows the ZZ cross section. The upper surface of the photosensitive insulating resin 3 filling the space portion 4 is located slightly below the upper surface of the metal wiring 2.

【0034】かかる金属配線回路基板は、図2に示すよ
うに、(a)〜(h)の工程を経て製造することができ
る。先ず、工程(a)において、基材1(例えば、ポリ
イミド樹脂フィルム単体材で構成された基材)上に金属
膜5(例えば、銅薄膜)を形成し、次いで、工程(b)
において、金属膜5上にメッキ用レジスト6(例えば、
紫外線硬化型感光性樹脂)を全面的に塗布する。
As shown in FIG. 2, such a metal wiring circuit board can be manufactured through the steps (a) to (h). First, in step (a), a metal film 5 (for example, a copper thin film) is formed on a substrate 1 (for example, a substrate composed of a single material of a polyimide resin film).
In the above, a plating resist 6 (for example,
UV curable photosensitive resin) is applied over the entire surface.

【0035】次いで、工程(c)において、メッキ用レ
ジスト6の露光及び現像により、スペース部分(金属配
線を形成しない部分)の金属膜5を被覆し、かつライン
部分(金属配線を形成する部分)の金属膜5を露出させ
たメッキ用レジストパターン6aを形成する。
Next, in step (c), by exposing and developing the plating resist 6, the metal film 5 in the space portion (the portion where the metal wiring is not formed) is covered and the line portion (the portion where the metal wiring is formed). Then, a plating resist pattern 6a exposing the metal film 5 is formed.

【0036】次いで、工程(d)において、アディティ
ブ電解メッキ(例えば、電解ニッケルメッキ)によりラ
イン部分に所定厚さの金属配線パターン2aを形成し、
引き続いて、工程(e)において剥離液(例えば、アル
カリ)でメッキ用レジストパターン6aを除去する 次いで、工程(f)においてソフトエッチング液(例え
ば、塩酸)で金属膜5をエッチングし、引き続いて、工
程(g)において感光性絶縁樹脂溶液3aを全面的に塗
布し、かつ所定に乾燥させる。
Next, in a step (d), a metal wiring pattern 2a having a predetermined thickness is formed in a line portion by additive electrolytic plating (for example, electrolytic nickel plating).
Subsequently, in step (e), the plating resist pattern 6a is removed with a stripping solution (eg, alkali). Next, in step (f), the metal film 5 is etched with a soft etching solution (eg, hydrochloric acid). In the step (g), the photosensitive insulating resin solution 3a is applied over the entire surface and dried to a predetermined degree.

【0037】次いで、工程(h)においてフォトマスク
を用いる紫外線露光及び現像により、金属配線パターン
2aの必要箇所(例えば、検査電極部A及び接続電極部
B)を露出させるように金属配線パターン2aを被覆し
ている感光性絶縁樹脂3を除去し、その後、残存の感光
性絶縁樹脂3を加熱閉環又は加熱架橋する。 図2
(h)においては、金属配線パターン2aを被覆した感
光性絶縁樹脂3の一部が除去(検査電極部A及び接続電
極部Bの上側部分が除去)され、かつ検査電極部A及び
接続電極部Bの下側部分の隣り合った金属配線パターン
2a同士間のスペース部分4に、前記樹脂3の他部が残
存している姿が示されている。
Next, in the step (h), the metal wiring pattern 2a is exposed by ultraviolet exposure and development using a photomask so as to expose necessary portions of the metal wiring pattern 2a (for example, the inspection electrode portion A and the connection electrode portion B). The covering photosensitive insulating resin 3 is removed, and then the remaining photosensitive insulating resin 3 is heat-closed or heat-crosslinked. FIG.
In (h), a part of the photosensitive insulating resin 3 covering the metal wiring pattern 2a is removed (an upper part of the inspection electrode portion A and the connection electrode portion B is removed), and the inspection electrode portion A and the connection electrode portion are removed. The other portion of the resin 3 is shown remaining in the space 4 between the adjacent metal wiring patterns 2a on the lower side of B.

【0038】スペース部分4に感光性絶縁樹脂3の一部
を残存させる為の方法として、一般には、加熱閉環時又
は加熱架橋時に外力を加えて感光性絶縁樹脂3の一部を
スペース部4へ流動せしめる方法が挙げられるが、他の
方法、例えば、基板下面側(感光性絶縁樹脂3が塗布さ
れていない方の面側)から露光を行う方法であってもよ
い。
As a method for leaving a part of the photosensitive insulating resin 3 in the space portion 4, generally, an external force is applied at the time of heating ring closing or heating crosslinking to transfer a part of the photosensitive insulating resin 3 to the space portion 4. A method of causing the fluid to flow may be used, but another method, for example, a method of performing exposure from the lower surface side of the substrate (the surface side on which the photosensitive insulating resin 3 is not applied) may be used.

【0039】更に、図3においては、他の金属配線回路
基板の製造方法が示されている。この方法は、工程
(a)において、基材1(例えば、ポリイミド樹脂フィ
ルム7と金属箔8との積層体で構成された基材)上に金
属膜5(例えば、銅薄膜)を形成し、次いで、工程
(b)において、金属膜5上にエッチング用レジスト9
(例えば、紫外線硬化型感光性樹脂)を全面的に塗布す
る。
FIG. 3 shows a method of manufacturing another metal wiring circuit board. In this method, in step (a), a metal film 5 (for example, a copper thin film) is formed on a base material 1 (for example, a base material composed of a laminate of a polyimide resin film 7 and a metal foil 8), Next, in a step (b), an etching resist 9 is formed on the metal film 5.
(E.g., an ultraviolet curable photosensitive resin) is applied over the entire surface.

【0040】次いで、工程(c)において、エッチング
用レジスト9の露光及び現像により、スペース部分(金
属配線を形成しない部分)の金属膜5を露出し、かつラ
イン部分(金属配線を形成する部分)の金属膜5を被覆
したエッチング用レジストパターン9aを形成する。
Next, in step (c), by exposing and developing the etching resist 9, the metal film 5 in the space portion (portion where the metal wiring is not formed) is exposed and the line portion (portion where the metal wiring is formed). An etching resist pattern 9a covering the metal film 5 is formed.

【0041】次いで、工程(d)において、金属膜5を
エッチングして金属配線パターン2aを形成し、引き続
いて、工程(e)において、エッチング用レジストパタ
ーン9aを除去する。
Next, in the step (d), the metal film 5 is etched to form the metal wiring pattern 2a. Subsequently, in the step (e), the etching resist pattern 9a is removed.

【0042】次いで、工程(f)において感光性絶縁樹
脂溶液3aを全面的に塗布し、かつ所定に乾燥させ、次
いで、工程(g)においてフォトマスクを用いる紫外線
露光及び現像により、金属配線パターン2aの必要箇所
若しくは全面を露出させるように金属配線パターン2a
を被覆している感光性絶縁樹脂3を除去し、その後、残
存の感光性絶縁樹脂3を加熱閉環又は加熱架橋する。
Next, in step (f), the photosensitive insulating resin solution 3a is applied over the entire surface and dried in a predetermined manner. Then, in step (g), the metal wiring pattern 2a is exposed to ultraviolet light using a photomask and developed. Metal wiring pattern 2a so as to expose necessary portions or the entire surface
Is removed, and then the remaining photosensitive insulating resin 3 is heat-closed or cross-linked.

【0043】[0043]

【実施例】[実施例1]宇部興産株式会社製の非熱可塑
性ポリイミド樹脂フィルムである「ユーピレックス−
S」(大きさが150mm×150mm、厚さが75μ
m)をアルゴンガス中でフィルム表面の接着性改善処理
(粗面化処理)を行った後、そこに、スパッター法によ
り厚さが0.3μmの銅薄膜(導電層)を形成した(図
2(a)参照)。
[Example 1] A non-thermoplastic polyimide resin film "UPILEX-" manufactured by Ube Industries, Ltd.
S ”(size 150mm x 150mm, thickness 75μ)
m) was subjected to a film surface adhesion improving treatment (roughening treatment) in an argon gas, and then a 0.3 μm thick copper thin film (conductive layer) was formed thereon by sputtering (FIG. 2). (A)).

【0044】次いで、それに、メッキレジストとして、
UV硬化型感光性樹脂である東京応化株式会社製の「P
MER−N」(商品名)を25μmの厚さに塗布(図2
(b)参照)し、露光・現像によりスペース部分(金属
配線を形成しない部分)の銅薄膜を被覆すると共に、ラ
イン部分(金属配線を形成する部分)の銅薄膜を露出さ
せたメッキレジストパターン(ライン部分の幅が15μ
m、スペース部分の幅が50μm)を形成した(図2
(c)参照)。
Next, as a plating resist,
UV curable photosensitive resin "P" manufactured by Tokyo Ohka Co., Ltd.
MER-N ”(trade name) applied to a thickness of 25 μm (FIG. 2)
(Refer to (b)), and a plating resist pattern (see FIG. 3) that covers the copper thin film in the space portion (portion where the metal wiring is not formed) by exposure and development and exposes the copper thin film in the line portion (portion where the metal wiring is formed). Line width is 15μ
m, and the width of the space portion is 50 μm) (FIG. 2).
(C)).

【0045】次いで、電解ニッケルメッキにより、ライ
ン部分に厚さが約10μmのニッケル回路パターンを形
成した(図2(d)参照)後、スペース部分に塗布され
ているUV硬化型感光性樹脂をアルカリで剥離した(図
2(e)参照)。これによって、ライン線幅が15μ
m、スペース幅が50μmの金属配線が得られた。
Then, a nickel circuit pattern having a thickness of about 10 μm was formed in the line portion by electrolytic nickel plating (see FIG. 2D), and the UV-curable photosensitive resin applied to the space portion was removed with alkali. (See FIG. 2E). As a result, the line width becomes 15 μm.
m, and a metal wiring having a space width of 50 μm was obtained.

【0046】次いで、スペース部分の銅薄膜を薄い塩酸
でソフトエッチングし、ライン部の上部線幅が15μ
m、スペース部分の幅が50μmの平坦な表面を有する
金属配線パターンが得られた(図2(f)参照)。
Next, the copper thin film in the space portion is soft-etched with a thin hydrochloric acid so that the upper line width of the line portion is
As a result, a metal wiring pattern having a flat surface with a width of 50 μm was obtained (see FIG. 2F).

【0047】次いで、かかる金属配線回路基板に、東レ
株式会社製の感光性ポリイミド樹脂前駆体溶液である
「フォトニースUR5400」(商品名)をロールコー
タで15μmの厚さに塗布し、かつレベリングした後、
80℃で乾燥させた(図2(g)参照)。
Next, "Photo Nice UR5400" (trade name) which is a photosensitive polyimide resin precursor solution manufactured by Toray Industries, Inc. was applied to the metal wiring circuit board to a thickness of 15 μm by a roll coater and leveled. rear,
It was dried at 80 ° C. (see FIG. 2 (g)).

【0048】次いで、フォトマスクを用いて超高圧水銀
ランプ露光機で露光すると共に裏面から全面露光した。
次いで、専用現像液で現像することによって金属配線を
露出させた検査電極部A及び接続電極部Bを形成し、更
に、その後、400℃の真空プレス炉を用いて残存の感
光性ポリイミド樹脂前駆体溶液の加熱閉環を行った。
Next, exposure was performed with an ultra-high pressure mercury lamp exposure machine using a photomask, and the entire surface was exposed from the back surface.
Next, the test electrode portion A and the connection electrode portion B are formed by developing with a dedicated developer to expose the metal wiring, and the remaining photosensitive polyimide resin precursor is further formed using a vacuum press furnace at 400 ° C. The solution was closed by heating.

【0049】このようにして得られた金属配線回路基板
は、そのスペース部分には全面的に感光性ポリイミド樹
脂が充填されている為に、基材のポリイミド樹脂フィル
ムに対する金属配線の密着性が非常に高く、液晶パネル
の点灯検査に用いられる検査電極基板(所謂、フラット
プローブ)として好適であって検査回数が1万回を越え
ても電極(金属配線2)の剥離が発生しなかった。
In the metal wiring circuit board thus obtained, since the photosensitive polyimide resin is completely filled in the spaces, the adhesion of the metal wiring to the polyimide resin film of the base material is extremely low. It is suitable as an inspection electrode substrate (so-called flat probe) used for lighting inspection of a liquid crystal panel, and the electrode (metal wiring 2) does not peel even if the number of inspections exceeds 10,000.

【0050】[実施例2]宇部興産株式会社製の大きさ
が100mm×100mmの「ユーピセル−N」(商品
名)の片面銅張り品のポリイミド樹脂面に、厚さが20
μmのステンレス箔を加熱圧着して張り付けた(図3
(a)参照)。かかる「ユーピセル−N」は、同社製の
熱可塑性ポリイミド樹脂フィルムである厚さが25μm
の「ユーピレックス−VT」の片面に厚さが12μmの
電解銅箔を張ったものである。
Example 2 A polyimide resin surface of a single-sided copper-clad product of “UPISEL-N” (trade name) having a size of 100 mm × 100 mm manufactured by Ube Industries, Ltd.
μm stainless steel foil was bonded by thermocompression bonding (Fig. 3
(See (a)). Such “Iupisel-N” is a thermoplastic polyimide resin film made by the company and has a thickness of 25 μm.
"UPILEX-VT" is provided with a 12 μm-thick electrolytic copper foil on one side.

【0051】次いで、それの銅箔面に、日合・モートン
株式会社製の厚さが25μmのUV硬化型感光樹脂フィ
ルムである「NIT225」(商品名)を張り付けた後
(図3(b)参照)、露光・現像し、ライン部分(金属
配線を形成しようとする部分)の銅薄膜を被覆すると共
に、スペース部分(金属配線を形成しない部分)の銅薄
膜を露出させたエッチング用レジストパターンを形成し
た(図3(c)参照)。ライン部分の幅は25μm、ス
ペース部分の幅は35μmであった。
Next, "NIT225" (trade name) which is a UV-curable photosensitive resin film having a thickness of 25 μm manufactured by Nichigo Morton Co., Ltd. was attached to the copper foil surface (FIG. 3B). Exposure and development to form an etching resist pattern that covers the copper thin film in the line portion (the portion where the metal wiring is to be formed) and exposes the copper thin film in the space portion (the portion where the metal wiring is not formed). It was formed (see FIG. 3C). The width of the line portion was 25 μm, and the width of the space portion was 35 μm.

【0052】次いで、塩化第2銅エッチング液でスペー
ス部分の銅薄膜をエッチングした後(図3(d)参
照)、エッチング用レジストパターンを除去して銅配線
パターンを形成した(図3(e)参照)。得られた金属
配線は、その上部の線幅が18μm、下部の線幅が30
μmであり、上下の線幅のバラツキが小さく、しかも、
その表面は凹凸のない平滑面であった。
Next, after the copper thin film in the space portion was etched with a cupric chloride etching solution (see FIG. 3D), the resist pattern for etching was removed to form a copper wiring pattern (FIG. 3E). reference). The obtained metal wiring has an upper line width of 18 μm and a lower line width of 30 μm.
μm, the variation in the upper and lower line widths is small, and
The surface was a smooth surface without irregularities.

【0053】次いで、この金属配線回路基板に、新日鉄
化学工業株式会社製の感光性アクリル樹脂カバーコート
インクである「V−259PA」(商品名)をロールコ
ータで塗布し、かつ110℃で10分間乾燥させた(図
3(f)参照)。
Next, "V-259PA" (trade name), which is a photosensitive acrylic resin cover coat ink manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd., was applied to the metal wiring circuit board with a roll coater, and the coating was performed at 110 ° C. for 10 minutes. It was dried (see FIG. 3 (f)).

【0054】次いで、フォトマスクを用いて紫外線を照
射すると共に、専用液で現像除去して銅配線パターンを
露出させ(図3(g)参照)、更に、その後、200℃
の真空プレス炉を用いて、残存の感光性アクリル樹脂カ
バーコートインクの加熱架橋を行った。
Next, the copper wiring pattern is exposed by irradiating ultraviolet rays using a photomask and developing and removing with a dedicated liquid (see FIG. 3 (g)).
The remaining photosensitive acrylic resin cover coat ink was heated and cross-linked using a vacuum press furnace of No.

【0055】このようにして得られた金属配線回路基板
は、感光性アクリル樹脂の一部がプレス中にスペース部
分へ流動してスペース部分に全面的に感光性アルカリ樹
脂が充填される為に、基材のポリイミド樹脂フィルムに
対する金属配線の密着性が非常に高いものであった。
In the metal wiring circuit board thus obtained, a part of the photosensitive acrylic resin flows into the space portion during the pressing and the space portion is completely filled with the photosensitive alkali resin. The adhesion of the metal wiring to the polyimide resin film of the substrate was very high.

【0056】[実施例3]宇部興産株式会社製の厚さが
25μm、大きさが100mm×100mmの熱可塑性
ポリイミド樹脂フィルムである「ユーピレックス−V
T」(商品名)の片面に厚さが3μmの電解銅箔を加熱
張り合わせると共に他の面に同社製の厚さが5μmの非
熱可塑性ポリイミド樹脂フィルムである「ユーピレック
ス−S」(商品名)を加熱張り合わした。
Example 3 "UPILEX-V" is a thermoplastic polyimide resin film having a thickness of 25 μm and a size of 100 mm × 100 mm manufactured by Ube Industries, Ltd.
"T" (trade name) is heated and laminated on one side with electrolytic copper foil having a thickness of 3 µm, and "Upilex-S" (trade name) is a non-thermoplastic polyimide resin film with a thickness of 5 µm manufactured on the other side. ) Were bonded by heating.

【0057】次いで、かかる電解銅箔上に、日合・モー
トン株式会社製の厚さが25μmのUV硬化型感光性樹
脂フィルムである「NIT225」(商品名)を張り付
けた後、露光・現像し、ライン部分(回路を形成しよう
とする部分)の銅薄膜を露出すると共にスペース部分
(回路を形成しない部分)の銅薄膜を被覆した樹脂被覆
パターンを形成した。なお、ライン部分の幅は25μ
m、スペース部分の幅は35μmであった。
Next, "NIT225" (trade name), a 25-μm-thick UV-curable photosensitive resin film manufactured by Nichigo Morton Co., Ltd., was adhered onto the electrolytic copper foil, and exposed and developed. Then, a resin coating pattern was formed in which the copper thin film in the line portion (the portion where a circuit was to be formed) was exposed and the copper thin film in the space portion (the portion where no circuit was formed) was coated. The width of the line portion is 25μ.
m, and the width of the space portion was 35 μm.

【0058】次いで、ライン部分にアディティブ電解メ
ッキにより厚さが10μmの銅配線パターンを形成し、
更にその上に厚さが2μmの電解ニッケルメッキしたと
ころ、その配線は、上部の線幅が24μm、下部の線幅
が25μmであった。 次いで、塗布されているUV硬
化型感光性樹脂をアルカリで剥離した後、銅薄膜をソフ
トエッチング液でエッチングして銅薄膜を除去した銅配
線パターンを形成した。かかる銅配線パターンは、上部
の線幅が22μm、下部の線幅が24μmであり、上下
の線幅のバラツキが小さく、しかも、その表面は凹凸の
ない平滑面であった。
Next, a copper wiring pattern having a thickness of 10 μm is formed on the line portion by additive electrolytic plating.
Further, when a nickel plating having a thickness of 2 μm was applied thereon, the wiring had an upper line width of 24 μm and a lower line width of 25 μm. Next, after the applied UV-curable photosensitive resin was peeled off with an alkali, the copper thin film was etched with a soft etching solution to form a copper wiring pattern from which the copper thin film was removed. Such a copper wiring pattern had an upper line width of 22 μm and a lower line width of 24 μm, had small variations in the upper and lower line widths, and had a smooth surface with no irregularities.

【0059】次いで、住友ベークライト工業株式会社製
のポジ型感光性ポリベンゾキサゾール樹脂前駆体カバー
コートインクである「CRC−8000」(商品名)を
塗布し、かつ乾燥して銅配線パターンを5μmの厚さに
被覆すると共にスペース部分に充填した。
Next, “CRC-8000” (trade name), a positive photosensitive polybenzoxazole resin precursor cover coat ink manufactured by Sumitomo Bakelite Industry Co., Ltd., was applied and dried to form a copper wiring pattern of 5 μm. And the space was filled.

【0060】次いで、フォトマスクを用いて紫外線を照
射すると共に、専用液で現像除去して銅配線パターンを
露出させた後、320℃の真空プレス炉を用いて残存の
感光性ポリベンゾキサゾール樹脂前駆体カバーコートイ
ンクの加熱閉環を行った。
Next, while irradiating ultraviolet rays using a photomask and developing and removing with a dedicated solution to expose the copper wiring pattern, the remaining photosensitive polybenzoxazole resin is used using a vacuum press furnace at 320 ° C. The precursor cover coat ink was heated and closed.

【0061】上述のようにして得られた金属配線回路基
板は、ポリベンゾキサゾール樹脂の特性により吸湿性が
小さくて使用時の寸法安性がよく、密着強度も高く、熱
サイクル試験や高温高湿試験においても優れた性能を示
し、接点や銅配線が剥離しなかった。
The metal wiring circuit board obtained as described above has low hygroscopicity due to the characteristics of polybenzoxazole resin, good dimensional stability during use, high adhesion strength, heat cycle test and high temperature high temperature. Excellent performance was also exhibited in the humidity test, and the contacts and copper wiring did not peel off.

【0062】[0062]

【発明の効果】以上述べたように、本発明によると、金
属配線がより一段と精細化されても、金属配線の平滑性
を損わずに、しかも、基材を構成しているポリイミド樹
脂フィルムとの密着性をより十分に保つことができる金
属配線回路基板、特に、液晶パネルの点灯検査等に用い
るのに好適な検査電極基板(フラットプローブ又はフィ
ルムプローブ)の製造方法を得ることができる。
As described above, according to the present invention, even if the metal wiring is further refined, the smoothness of the metal wiring is not impaired, and the polyimide resin film constituting the base material is not damaged. And a method for manufacturing a metal wiring circuit board capable of maintaining sufficient adhesion with the liquid crystal panel, in particular, an inspection electrode substrate (flat probe or film probe) suitable for use in a lighting inspection of a liquid crystal panel or the like.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】金属配線回路基板の平面図である。FIG. 1 is a plan view of a metal wiring circuit board.

【図2】金属配線回路基板の製造工程(a)〜(h)を
示す図である。
FIG. 2 is a view showing manufacturing steps (a) to (h) of a metal wiring circuit board.

【図3】金属配線回路基板の他の製造工程(a)〜
(g)を示す図である。
FIG. 3 is another manufacturing process (a) to metal wiring circuit board.
It is a figure showing (g).

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:基材 2:金属配線 2a:金属配線パターン 3:感光性絶縁樹脂 3a:感光性絶縁樹脂溶液 4:スペース部分 5:金属膜 6a:メッキ用レジストパターン 7:ポリイミド樹脂フィルム 8:金属箔 9a:エッチング用レジストパターン A:検査電極部 B:接続電極部 1: base material 2: metal wiring 2a: metal wiring pattern 3: photosensitive insulating resin 3a: photosensitive insulating resin solution 4: space portion 5: metal film 6a: resist pattern for plating 7: polyimide resin film 8: metal foil 9a : Resist pattern for etching A: Inspection electrode B: Connection electrode

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 秋田 雅典 滋賀県大津市大江一丁目1番45号 東レエ ンジニアリング株式会社内 (72)発明者 本近 修一 滋賀県大津市大江一丁目1番45号 東レエ ンジニアリング株式会社内 (72)発明者 高瀬 大介 滋賀県大津市大江一丁目1番45号 東レエ ンジニアリング株式会社内 (72)発明者 小山 稔 神奈川県茅ヶ崎市松風台11−13 (72)発明者 上原 秀雄 埼玉県川越市芳野台一丁目103番45 レイ テック株式会社内 (72)発明者 鈴木 潤 埼玉県川越市芳野台一丁目103番45 レイ テック株式会社内 Fターム(参考) 5E314 AA27 AA33 BB06 BB13 CC01 DD07 FF06 GG12 GG17  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Masanori Akita 1-1-45 Oe, Otsu City, Shiga Prefecture Inside Toray Engineering Co., Ltd. (72) Inventor Shuichi Motochika 1-1-45 Oe, Otsu City, Shiga Prefecture No. Toray Engineering Co., Ltd. (72) Inventor Daisuke Takase 1-145 Oe, Otsu City, Shiga Prefecture Toray Engineering Co., Ltd. 72) Inventor Hideo Uehara 1-103-45 Yoshinodai, Kawagoe-shi, Saitama Prefecture Inside Ray Tech Co., Ltd. (72) Inventor Jun Suzuki 1-103-45 Yoshinodai 1, Kawagoe-shi, Saitama Prefecture F-term in Ray Tech Co., Ltd. (Reference) 5E314 AA27 AA33 BB06 BB13 CC01 DD07 FF06 GG12 GG17

Claims (16)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 少なくともポリイミド樹脂フィルム単体
材で構成された基材の前記ポリイミド樹脂フィルム上に
アディティブ法若しくはサブトラクティブ法によって金
属配線パターンを形成した金属配線回路基板の前記金属
配線パターンを被覆すると共に前記金属配線パターンが
形成されていないスペース部分に充填せしめるように感
光性絶縁樹脂溶液を塗布し、かつ乾燥させ、次いで、フ
ォトマスクを用いる紫外線露光及び現像により前記金属
配線パターンの必要箇所若しくは全面を露出させるよう
に前記感光性絶縁樹脂を除去した後、残存の感光性絶縁
樹脂を加熱閉環することを特徴とする金属配線回路基板
の製造方法。
1. A method for coating a metal wiring pattern of a metal wiring circuit board having a metal wiring pattern formed by an additive method or a subtractive method on at least the polyimide resin film of a substrate made of a polyimide resin film alone. A photosensitive insulating resin solution is applied so as to fill a space where the metal wiring pattern is not formed, and dried, and then a necessary portion or the entire surface of the metal wiring pattern is exposed by ultraviolet light exposure and development using a photomask. A method for manufacturing a metal-wiring circuit board, comprising: removing the photosensitive insulating resin so as to expose the same; and heating and closing the remaining photosensitive insulating resin.
【請求項2】 前記基材が熱可塑性ポリイミド樹脂フィ
ルム単体材又は非熱可塑性ポリイミド樹脂フィルム単体
材で構成されていることを特徴とする請求項1に記載の
金属配線回路基板の製造方法。
2. The method according to claim 1, wherein the base material is made of a thermoplastic polyimide resin film alone or a non-thermoplastic polyimide resin film alone.
【請求項3】 前記基材が熱可塑性ポリイミド樹脂フィ
ルムと非熱可塑性ポリイミド樹脂フィルムとの積層材で
構成されていることを特徴とする請求項1に記載の金属
配線回路基板の製造方法。
3. The method according to claim 1, wherein the substrate is made of a laminate of a thermoplastic polyimide resin film and a non-thermoplastic polyimide resin film.
【請求項4】 前記基材がポリイミド樹脂フィルムと金
属箔との積層材で構成されていることを特徴とする請求
項1に記載の金属配線回路基板の製造方法。
4. The method according to claim 1, wherein the substrate is made of a laminate of a polyimide resin film and a metal foil.
【請求項5】 前記ポリイミド樹脂フィルムが熱可塑性
ポリイミド樹脂フィルム単体材又は非熱可塑性ポリイミ
ド樹脂フィルム単体材で構成されていることを特徴とす
る請求項4に記載の金属配線回路基板の製造方法。
5. The method according to claim 4, wherein the polyimide resin film is made of a thermoplastic polyimide resin film alone or a non-thermoplastic polyimide resin film alone.
【請求項6】 前記ポリイミド樹脂フィルムが熱可塑性
ポリイミド樹脂フィルムと非熱可塑性ポリイミド樹脂フ
ィルムとの積層材で構成されていることを特徴とする請
求項4に記載の金属配線回路基板の製造方法。
6. The method according to claim 4, wherein the polyimide resin film is made of a laminate of a thermoplastic polyimide resin film and a non-thermoplastic polyimide resin film.
【請求項7】 前記感光性絶縁樹脂溶液が前記加熱閉環
後において200℃以上のTgを有するものであること
を特徴とする請求項1〜6のいずれか一つに記載の金属
配線回路基板の製造方法。
7. The metal wiring circuit board according to claim 1, wherein the photosensitive insulating resin solution has a Tg of 200 ° C. or more after the heat ring closure. Production method.
【請求項8】 前記感光性絶縁樹脂溶液がポリイミド樹
脂前駆体溶液又はポリベンゾキサゾ−ル樹脂前駆体溶液
であることを特徴とする請求項7に記載の金属配線回路
基板の製造方法。
8. The method according to claim 7, wherein the photosensitive insulating resin solution is a polyimide resin precursor solution or a polybenzoxazole resin precursor solution.
【請求項9】 少なくともポリイミド樹脂フィルム単体
材で構成された基材の前記ポリイミド樹脂フィルム上に
アディティブ法若しくはサブトラクティブ法によって金
属配線パターンを形成した金属配線回路基板の前記金属
配線パターンを被覆すると共に前記金属配線パターンが
形成されていないスペース部分に充填せしめるように感
光性絶縁樹脂溶液を塗布し、かつ乾燥させ、次いで、フ
ォトマスクを用いる紫外線露光及び現像により前記金属
配線パターンの必要箇所若しくは全面を露出させるよう
に前記金属配線パターンを被覆している前記感光性絶縁
樹脂を除去した後、残存の感光性絶縁樹脂を加熱架橋す
ることを特徴とする金属配線回路基板の製造方法。
9. A method for coating a metal wiring pattern of a metal wiring circuit board in which a metal wiring pattern is formed by an additive method or a subtractive method on at least the polyimide resin film of a substrate composed of a polyimide resin film alone. A photosensitive insulating resin solution is applied so as to fill a space where the metal wiring pattern is not formed, and dried, and then a necessary portion or the entire surface of the metal wiring pattern is exposed by ultraviolet light exposure and development using a photomask. A method for manufacturing a metal-wiring circuit board, comprising: removing the photosensitive insulating resin covering the metal wiring pattern so as to expose the same; and heating and crosslinking the remaining photosensitive insulating resin.
【請求項10】 前記基材が熱可塑性ポリイミド樹脂フ
ィルム単体材又は非熱可塑性ポリイミド樹脂フィルム単
体材で構成されていることを特徴とする請求項9に記載
の金属配線回路基板の製造方法。
10. The method according to claim 9, wherein the base material is made of a thermoplastic polyimide resin film alone or a non-thermoplastic polyimide resin film alone.
【請求項11】 前記基材が熱可塑性ポリイミド樹脂フ
ィルムと非熱可塑性ポリイミド樹脂フィルムとの積層材
で構成されていることを特徴とする請求項9に記載の金
属配線回路基板の製造方法。
11. The method according to claim 9, wherein the base material is made of a laminate of a thermoplastic polyimide resin film and a non-thermoplastic polyimide resin film.
【請求項12】 前記基材がポリイミド樹脂フィルムと
金属箔との積層材で構成されていることを特徴とする請
求項9に記載の金属配線回路基板の製造方法。
12. The method according to claim 9, wherein the base material is made of a laminate of a polyimide resin film and a metal foil.
【請求項13】 前記ポリイミド樹脂フィルムが熱可塑
性ポリイミド樹脂フィルム単体材又は非熱可塑性ポリイ
ミド樹脂フィルム単体材で構成されていることを特徴と
する請求項12に記載の金属配線回路基板の製造方法。
13. The method according to claim 12, wherein the polyimide resin film is made of a thermoplastic polyimide resin film alone or a non-thermoplastic polyimide resin film alone.
【請求項14】 前記ポリイミド樹脂フィルムが熱可塑
性ポリイミド樹脂フィルムと非熱可塑性ポリイミド樹脂
フィルムとの積層材で構成されていることを特徴とする
請求項12に記載の金属配線回路基板の製造方法。
14. The method according to claim 12, wherein the polyimide resin film is formed of a laminated material of a thermoplastic polyimide resin film and a non-thermoplastic polyimide resin film.
【請求項15】 前記感光性絶縁樹脂液が前記加熱架橋
後において200℃以上のTgを有するものであること
を特徴とする請求項9〜14のいずれか一つに記載の金
属配線回路基板の製造方法。
15. The metal wiring circuit board according to claim 9, wherein the photosensitive insulating resin liquid has a Tg of 200 ° C. or more after the heat crosslinking. Production method.
【請求項16】 前記感光性絶縁樹脂液がアクリル樹脂
カバーコートインクであることを特徴とする請求項15
に記載の金属配線回路基板の製造方法。
16. The ink according to claim 15, wherein the photosensitive insulating resin liquid is an acrylic resin cover coat ink.
3. The method for manufacturing a metal wired circuit board according to 1.
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