JP2002350286A - Pdl測定装置 - Google Patents
Pdl測定装置Info
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- JP2002350286A JP2002350286A JP2001155649A JP2001155649A JP2002350286A JP 2002350286 A JP2002350286 A JP 2002350286A JP 2001155649 A JP2001155649 A JP 2001155649A JP 2001155649 A JP2001155649 A JP 2001155649A JP 2002350286 A JP2002350286 A JP 2002350286A
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- Japan
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- pdl
- optical
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光デバイスの偏波依存損失を評価するPDL
測定装置において、複数の光デバイスのPDLを低コス
トな構成で同時測定する。 【解決手段】 偏波方向が絶えず変化する測定用信号光
λiを発生する信号光発生ユニット6と、この発生ユニ
ット6から出力される測定用信号光λiを複数の光デバ
イス4に均等分配して入力させる光カプラ7と、各光デ
バイス4から出力される信号光λoの強度変化状態を個
別に測定する複数の光パワーメータ5を備える。
測定装置において、複数の光デバイスのPDLを低コス
トな構成で同時測定する。 【解決手段】 偏波方向が絶えず変化する測定用信号光
λiを発生する信号光発生ユニット6と、この発生ユニ
ット6から出力される測定用信号光λiを複数の光デバ
イス4に均等分配して入力させる光カプラ7と、各光デ
バイス4から出力される信号光λoの強度変化状態を個
別に測定する複数の光パワーメータ5を備える。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は光通信用デバイス
のPDL測定装置に関し、とくに、WDM(波長分割多
重)またはDWDM(高密度WDM)伝送で用いられる
光デバイスの伝送特性評価に利用して有効な技術に関す
る。
のPDL測定装置に関し、とくに、WDM(波長分割多
重)またはDWDM(高密度WDM)伝送で用いられる
光デバイスの伝送特性評価に利用して有効な技術に関す
る。
【0002】
【従来の技術】光通信システムでは、光ファイバ、合波
/分波デバイス、光減衰器、 光スイッチなどの光デバ
イスを使用しながら信号光を伝送するが、その伝送特性
に偏波依存性があると、信号光が偏波変動によってラン
ダムに変調され、いわゆる偏波ノイズが生じる。この偏
波ノイズは光通信の伝送品質を低下させる。このため、
光通信とくにWDM/DWDM伝送に使用する光デバイ
スには、偏波による伝送損失の変動すなわちPDL(偏
波依存性損失)ができるだけ小さいことが要求される。
/分波デバイス、光減衰器、 光スイッチなどの光デバ
イスを使用しながら信号光を伝送するが、その伝送特性
に偏波依存性があると、信号光が偏波変動によってラン
ダムに変調され、いわゆる偏波ノイズが生じる。この偏
波ノイズは光通信の伝送品質を低下させる。このため、
光通信とくにWDM/DWDM伝送に使用する光デバイ
スには、偏波による伝送損失の変動すなわちPDL(偏
波依存性損失)ができるだけ小さいことが要求される。
【0003】PDLの測定手段としては、全偏波測定方
式とミュラー行列演算方式があるが、受動と能動の両タ
イプの光デバイスに対応できるのは前者の方式である。
式とミュラー行列演算方式があるが、受動と能動の両タ
イプの光デバイスに対応できるのは前者の方式である。
【0004】図2は、従来のPDL測定装置1’の構成
を示す。同図に示す装置は全偏波測定方式のPDL測定
装置であって、測定用光源2、偏波コントローラ3、光
パワーメータ5によって構成され、測定対象である光デ
バイス4は偏波コントローラ3と光パワーメータ5間の
光伝送経路に挿入される。光源2と偏波コントローラ3
は、一定の光強度で偏波方向が絶えず変化する測定用信
号光λiを発生して光デバイス4に入力させる。この光
デバイス4から出力される信号光λoの強度変化状態を
光パワーメータ5で測定することにより、その光デバイ
ス4のPDLを評価することができる。そして、同図に
示すように、上記PDL測定装置1’を複数台設置すれ
ば、複数の光デバイス4,4,・・・のPDLを同時測
定する多チャネル測定システムを組むことができる。こ
の多チャネル測定システムは、たとえば、WDMで使用
される多チャネル用光デバイスを測定する場合や、生産
現場で多数の光デバイスを短時間に測定する場合などに
威力を発揮する。
を示す。同図に示す装置は全偏波測定方式のPDL測定
装置であって、測定用光源2、偏波コントローラ3、光
パワーメータ5によって構成され、測定対象である光デ
バイス4は偏波コントローラ3と光パワーメータ5間の
光伝送経路に挿入される。光源2と偏波コントローラ3
は、一定の光強度で偏波方向が絶えず変化する測定用信
号光λiを発生して光デバイス4に入力させる。この光
デバイス4から出力される信号光λoの強度変化状態を
光パワーメータ5で測定することにより、その光デバイ
ス4のPDLを評価することができる。そして、同図に
示すように、上記PDL測定装置1’を複数台設置すれ
ば、複数の光デバイス4,4,・・・のPDLを同時測
定する多チャネル測定システムを組むことができる。こ
の多チャネル測定システムは、たとえば、WDMで使用
される多チャネル用光デバイスを測定する場合や、生産
現場で多数の光デバイスを短時間に測定する場合などに
威力を発揮する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たPDL測定装置1’は非常に高価な装置であり、これ
を複数台設置することは膨大なコスト負担を伴う。とく
に、測定用信号光を発生する光源2と偏波コントローラ
3が大きなコスト割合を占めるが、これらは、測定の精
度および信頼度を維持する上で低コスト化が難しい。
たPDL測定装置1’は非常に高価な装置であり、これ
を複数台設置することは膨大なコスト負担を伴う。とく
に、測定用信号光を発生する光源2と偏波コントローラ
3が大きなコスト割合を占めるが、これらは、測定の精
度および信頼度を維持する上で低コスト化が難しい。
【0006】この発明は以上のように技術的背景を鑑み
てなされたもので、その目的は、低コストな構成でもっ
て複数の光デバイスのPDLを同時測定することができ
るPDL測定装置を提供することにある。
てなされたもので、その目的は、低コストな構成でもっ
て複数の光デバイスのPDLを同時測定することができ
るPDL測定装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明による解決手段
は、光デバイスの偏波依存損失を評価するPDL測定装
置において、偏波方向が絶えず変化する測定用信号光を
発生する信号光発生ユニットと、この発生ユニットから
出力される測定用信号光を複数の光デバイスに均等分配
して入力させる光カプラと、各光デバイスから出力され
る信号光の強度変化状態を個別に測定する複数の光パワ
ーメータを備えたことを特徴とする。この手段によれ
ば、高価な信号光発生ユニットが1組で済む低コストな
構成でもって、複数の光デバイスのPDLを同時測定す
ることができる。
は、光デバイスの偏波依存損失を評価するPDL測定装
置において、偏波方向が絶えず変化する測定用信号光を
発生する信号光発生ユニットと、この発生ユニットから
出力される測定用信号光を複数の光デバイスに均等分配
して入力させる光カプラと、各光デバイスから出力され
る信号光の強度変化状態を個別に測定する複数の光パワ
ーメータを備えたことを特徴とする。この手段によれ
ば、高価な信号光発生ユニットが1組で済む低コストな
構成でもって、複数の光デバイスのPDLを同時測定す
ることができる。
【0008】上記手段において、信号光発生ユニット
は、光源と、この光源からの光にランダム的な偏波制御
を行う偏波コントローラとによって構成することができ
る。この信号光発生ユニットにおいて偏波方向をあらゆ
る方向に変化させる全偏波制御を行うことにより、全偏
波測定方式によるPDL測定を行うことができる。ま
た、上記信号光発生ユニットは、電気・機械変換手段を
使用した電気駆動制御によって偏波方向を全方向に可変
制御するように構成することができる。
は、光源と、この光源からの光にランダム的な偏波制御
を行う偏波コントローラとによって構成することができ
る。この信号光発生ユニットにおいて偏波方向をあらゆ
る方向に変化させる全偏波制御を行うことにより、全偏
波測定方式によるPDL測定を行うことができる。ま
た、上記信号光発生ユニットは、電気・機械変換手段を
使用した電気駆動制御によって偏波方向を全方向に可変
制御するように構成することができる。
【0009】光カプラが有するPDLを0.05dB以
下にすれば、0.5dB以上の比較的大きなPDLを評
価において、実用上支障の無い測定精度を得ることがで
きる。光カプラには、イオン交換法で作製された導波路
型光カプラを使用することができる。
下にすれば、0.5dB以上の比較的大きなPDLを評
価において、実用上支障の無い測定精度を得ることがで
きる。光カプラには、イオン交換法で作製された導波路
型光カプラを使用することができる。
【0010】
【発明の実施の形態】図1は本発明によるPDL測定装
置の実施例を示す。同図に示す装置1は、測定用光源2
と偏波コントローラ3からなる測定用信号光発生ユニッ
ト6と、この発生ユニット6から出力される測定用信号
光λiを複数の光デバイス(測定対象)4,4,・・・
に均等分配して入力させる光カプラ7と、各光デバイス
4,4,・・・から出力される信号光λo,λo,・・
・の強度変化状態を個別に測定する複数の光パワーメー
タ5,5,・・・によって構成される。光源2と偏波コ
ントローラ3の間、偏波コントローラ3と光カプラ7の
間、光カプラ7と光デバイス4の間、光デバイス4と光
パワーメータ5の間は、それぞれ光ファイバで接続され
ている。
置の実施例を示す。同図に示す装置1は、測定用光源2
と偏波コントローラ3からなる測定用信号光発生ユニッ
ト6と、この発生ユニット6から出力される測定用信号
光λiを複数の光デバイス(測定対象)4,4,・・・
に均等分配して入力させる光カプラ7と、各光デバイス
4,4,・・・から出力される信号光λo,λo,・・
・の強度変化状態を個別に測定する複数の光パワーメー
タ5,5,・・・によって構成される。光源2と偏波コ
ントローラ3の間、偏波コントローラ3と光カプラ7の
間、光カプラ7と光デバイス4の間、光デバイス4と光
パワーメータ5の間は、それぞれ光ファイバで接続され
ている。
【0011】測定用信号光発生ユニット6は、レーザ発
振器などを用いた測定用光源2と、この光源2からの光
に偏波制御を行う偏波コントローラ3とからなり、一定
の光強度で偏波方向が絶えず変化する測定用信号光(擬
似信号光)を発生する。偏波コントローラ3は、可変偏
光子、λ/2板、λ/4板などを有し、信号光λoの偏
波状態をランダム的に制御して高速変化させる。光カプ
ラ7はその測定用信号光λiを各光デバイス4,4,・
・・に均等分配して入力させる。各光デバイス4,4,
・・・に入力された信号光λi,λi,・・・はそれぞ
れ光デバイス4,4,・・・で伝送されて出力される。
振器などを用いた測定用光源2と、この光源2からの光
に偏波制御を行う偏波コントローラ3とからなり、一定
の光強度で偏波方向が絶えず変化する測定用信号光(擬
似信号光)を発生する。偏波コントローラ3は、可変偏
光子、λ/2板、λ/4板などを有し、信号光λoの偏
波状態をランダム的に制御して高速変化させる。光カプ
ラ7はその測定用信号光λiを各光デバイス4,4,・
・・に均等分配して入力させる。各光デバイス4,4,
・・・に入力された信号光λi,λi,・・・はそれぞ
れ光デバイス4,4,・・・で伝送されて出力される。
【0012】光パワーメータ5,5,・・・は各光デバ
イス4,4,・・・からそれぞれに出力される信号光λ
o,λo,・・・の強度変化状態を個別に測定する。こ
れにより、光源2と偏波コントローラ3を1組しか使用
しない低コストな構成でもって、複数の光デバイス4,
4,・・・のPDLを同時測定することができる。測定
チャネルの増設は、光カプラ7での分配数(光分岐数)
と光パワーメータ5の設置数を増設するだけで対応でき
る。したがって、測定チャネル数が多いほど、チャネル
当たりの装置コストを低減させることができる。
イス4,4,・・・からそれぞれに出力される信号光λ
o,λo,・・・の強度変化状態を個別に測定する。こ
れにより、光源2と偏波コントローラ3を1組しか使用
しない低コストな構成でもって、複数の光デバイス4,
4,・・・のPDLを同時測定することができる。測定
チャネルの増設は、光カプラ7での分配数(光分岐数)
と光パワーメータ5の設置数を増設するだけで対応でき
る。したがって、測定チャネル数が多いほど、チャネル
当たりの装置コストを低減させることができる。
【0013】上述した実施例の装置1では、偏波コント
ローラ3にて測定用信号光λiの偏波方向をあらゆる方
向に変化させる全偏波制御を行うとともに、各光パワー
メータ5,5,・・・にてそれぞれに測定される信号光
λo強度(たとえば透過光パワー)の最大値と最小値の
比を個別に演算処理することにより、各光デバイス4,
4,・・・のPDLを個別に求めることができる。つま
り、全偏波測定方式によるPDL測定を多チャネル同時
に行うことができる。
ローラ3にて測定用信号光λiの偏波方向をあらゆる方
向に変化させる全偏波制御を行うとともに、各光パワー
メータ5,5,・・・にてそれぞれに測定される信号光
λo強度(たとえば透過光パワー)の最大値と最小値の
比を個別に演算処理することにより、各光デバイス4,
4,・・・のPDLを個別に求めることができる。つま
り、全偏波測定方式によるPDL測定を多チャネル同時
に行うことができる。
【0014】光カプラ7は、測定用信号光λiをできる
だけ小さなPDLで均等分配できるものが望ましいが、
イオン交換法を用いて形成される導波路型光カプラを使
用することで、そのPDLを0.05dB以下にするこ
とができる。
だけ小さなPDLで均等分配できるものが望ましいが、
イオン交換法を用いて形成される導波路型光カプラを使
用することで、そのPDLを0.05dB以下にするこ
とができる。
【0015】偏波コントローラ3は、たとえば偏波保存
光ファイバに与える応力をピエゾ素子などの電気・機械
変換手段を用いて変化させることにより、電気駆動制御
によって偏波方向を全方向に高速でランダム的に可変制
御させることができる。
光ファイバに与える応力をピエゾ素子などの電気・機械
変換手段を用いて変化させることにより、電気駆動制御
によって偏波方向を全方向に高速でランダム的に可変制
御させることができる。
【0016】(実施例)同一の光デバイス(受動タイ
プ)のPDLを次の3方式(1)(2)(3)で測定し
た。 (1)図2に示した従来の装置1’による全偏波測定方
式。 (2)0°,45°,90°の各方向の直線偏波および
円偏光を用いるミュラー行列演算方式(図示せず)。 (3)図1に示した本発明の装置1によるミューラー行
列方式。各方式の測定結果は、(1)が0.69dB、
(2)が0.70dB、(3)が0.73dBであっ
た。
プ)のPDLを次の3方式(1)(2)(3)で測定し
た。 (1)図2に示した従来の装置1’による全偏波測定方
式。 (2)0°,45°,90°の各方向の直線偏波および
円偏光を用いるミュラー行列演算方式(図示せず)。 (3)図1に示した本発明の装置1によるミューラー行
列方式。各方式の測定結果は、(1)が0.69dB、
(2)が0.70dB、(3)が0.73dBであっ
た。
【0017】この実施例において使用した本発明の装置
1では、光カプラ7が0.04dBのPDLを有してい
たため、これが測定値にほぼ上乗せされる結果となっ
た。光カプラ7が有するPDLは測定値に上乗せされて
一種の誤差となるが、その上乗せ分すなわち光カプラ7
のPDLを0.05dB以下にすれば、0.5dB以上
の比較的大きなPDLを評価において、実用上支障の無
い測定精度を得ることができる。さらに、光カプラ7の
PDLがあらかじめ判明していれば、そのPDLによる
上乗せ分は測定後の演算処理によって簡単に補償するこ
とも可能である。また、本発明の装置1は、測定用信号
光発生ユニット6における測定用信号光の偏波制御方
式、光パワーメータ5を使って得られる測定データの処
理方式等を選択することにより、ミュラー行列演算方
式、全偏波測定方式、その他の種々の測定方式に適用で
きる。
1では、光カプラ7が0.04dBのPDLを有してい
たため、これが測定値にほぼ上乗せされる結果となっ
た。光カプラ7が有するPDLは測定値に上乗せされて
一種の誤差となるが、その上乗せ分すなわち光カプラ7
のPDLを0.05dB以下にすれば、0.5dB以上
の比較的大きなPDLを評価において、実用上支障の無
い測定精度を得ることができる。さらに、光カプラ7の
PDLがあらかじめ判明していれば、そのPDLによる
上乗せ分は測定後の演算処理によって簡単に補償するこ
とも可能である。また、本発明の装置1は、測定用信号
光発生ユニット6における測定用信号光の偏波制御方
式、光パワーメータ5を使って得られる測定データの処
理方式等を選択することにより、ミュラー行列演算方
式、全偏波測定方式、その他の種々の測定方式に適用で
きる。
【0018】
【発明の効果】本発明は、光デバイスの偏波依存損失を
評価するPDL測定装置において、偏波方向が絶えず変
化する測定用信号光を発生する信号光発生ユニットと、
この発生ユニットから出力される測定用信号光を複数の
光デバイスに均等分配して入力させる光カプラと、各光
デバイスから出力される信号光の強度変化状態を個別に
測定する複数の光パワーメータを備えたことにより、高
価な信号光発生ユニットが1組で済む低コストな構成で
もって、複数の光デバイスのPDLを同時測定すること
ができる。
評価するPDL測定装置において、偏波方向が絶えず変
化する測定用信号光を発生する信号光発生ユニットと、
この発生ユニットから出力される測定用信号光を複数の
光デバイスに均等分配して入力させる光カプラと、各光
デバイスから出力される信号光の強度変化状態を個別に
測定する複数の光パワーメータを備えたことにより、高
価な信号光発生ユニットが1組で済む低コストな構成で
もって、複数の光デバイスのPDLを同時測定すること
ができる。
【図1】本発明によるPDL測定装置の一実施例を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図2】従来のPDL測定装置の構成を示すブロック図
である。
である。
【符号の説明】 1 PDL測定装置(本発明) 1’ PDL測定装置(従来) 2 測定用光源 3 偏波コントローラ 4 光デバイス(測定対象) 5 光パワーメータ 6 測定用信号光発生ユニット 7 光カプラ λi 光デバイスの入力信号光 λo 光デバイスの出力信号光
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 林 智幸 東京都港区新橋5丁目36番11号 エフ・デ ィー・ケイ株式会社内 Fターム(参考) 2G086 EE12 KK01
Claims (6)
- 【請求項1】 光デバイスの偏波依存損失を評価するP
DL測定装置において、偏波方向が絶えず変化する測定
用信号光を発生する信号光発生ユニットと、この発生ユ
ニットから出力される測定用信号光を複数の光デバイス
に均等分配して入力させる光カプラと、各光デバイスか
ら出力される信号光の強度変化状態を個別に測定する複
数の光パワーメータを備えたことを特徴とするPDL測
定装置。 - 【請求項2】 請求項1または2の発明において、前記
信号光発生ユニットは、光源と、この光源からの光にラ
ンダム的な偏波制御を行う偏波コントローラとによって
構成されていることを特徴とするPDL測定装置。 - 【請求項3】 請求項1または2の発明において、前記
信号光発生ユニットは、偏波方向をあらゆる方向に変化
させる全偏波制御を行うことを特徴とするPDL測定装
置。 - 【請求項4】 請求項1から3のいずれかの発明におい
て、前記信号光発生ユニットは、電気・機械変換手段を
使用した電気駆動制御によって偏波方向を全方向に可変
制御することを特徴とするPDL測定装置。 - 【請求項5】 請求項1から4のいずれかの発明におい
て、前記光カプラが有するPDLを0.05dB以下に
したことを特徴とするPDL測定装置。 - 【請求項6】 請求項1から5のいずれかの発明におい
て、前記光カプラがイオン交換法で作製された導波路型
光カプラであることを特徴とするPDL測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001155649A JP2002350286A (ja) | 2001-05-24 | 2001-05-24 | Pdl測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001155649A JP2002350286A (ja) | 2001-05-24 | 2001-05-24 | Pdl測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002350286A true JP2002350286A (ja) | 2002-12-04 |
Family
ID=18999791
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001155649A Pending JP2002350286A (ja) | 2001-05-24 | 2001-05-24 | Pdl測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002350286A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006521554A (ja) * | 2003-03-21 | 2006-09-21 | ソルラブス、 インコーポレイテッド | 単一波長掃引の偏光依存損失測定 |
JP2013195106A (ja) * | 2012-03-16 | 2013-09-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光測定装置及び光測定方法 |
CN104677493A (zh) * | 2015-03-24 | 2015-06-03 | 国家电网公司 | 一种光功率实时监测装置 |
-
2001
- 2001-05-24 JP JP2001155649A patent/JP2002350286A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006521554A (ja) * | 2003-03-21 | 2006-09-21 | ソルラブス、 インコーポレイテッド | 単一波長掃引の偏光依存損失測定 |
JP2013195106A (ja) * | 2012-03-16 | 2013-09-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光測定装置及び光測定方法 |
CN104677493A (zh) * | 2015-03-24 | 2015-06-03 | 国家电网公司 | 一种光功率实时监测装置 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Effective date: 20040917 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 |