JP2002350286A - Ｐｄｌ測定装置 - Google Patents
Ｐｄｌ測定装置Info
- Publication number
- JP2002350286A JP2002350286A JP2001155649A JP2001155649A JP2002350286A JP 2002350286 A JP2002350286 A JP 2002350286A JP 2001155649 A JP2001155649 A JP 2001155649A JP 2001155649 A JP2001155649 A JP 2001155649A JP 2002350286 A JP2002350286 A JP 2002350286A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal light
- pdl
- optical
- measurement
- polarization
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 光デバイスの偏波依存損失を評価するＰＤＬ
測定装置において、複数の光デバイスのＰＤＬを低コス
トな構成で同時測定する。 【解決手段】 偏波方向が絶えず変化する測定用信号光
λｉを発生する信号光発生ユニット６と、この発生ユニ
ット６から出力される測定用信号光λｉを複数の光デバ
イス４に均等分配して入力させる光カプラ７と、各光デ
バイス４から出力される信号光λｏの強度変化状態を個
別に測定する複数の光パワーメータ５を備える。
測定装置において、複数の光デバイスのＰＤＬを低コス
トな構成で同時測定する。 【解決手段】 偏波方向が絶えず変化する測定用信号光
λｉを発生する信号光発生ユニット６と、この発生ユニ
ット６から出力される測定用信号光λｉを複数の光デバ
イス４に均等分配して入力させる光カプラ７と、各光デ
バイス４から出力される信号光λｏの強度変化状態を個
別に測定する複数の光パワーメータ５を備える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は光通信用デバイス
のＰＤＬ測定装置に関し、とくに、ＷＤＭ（波長分割多
重）またはＤＷＤＭ（高密度ＷＤＭ）伝送で用いられる
光デバイスの伝送特性評価に利用して有効な技術に関す
る。
のＰＤＬ測定装置に関し、とくに、ＷＤＭ（波長分割多
重）またはＤＷＤＭ（高密度ＷＤＭ）伝送で用いられる
光デバイスの伝送特性評価に利用して有効な技術に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】光通信システムでは、光ファイバ、合波
／分波デバイス、光減衰器、 光スイッチなどの光デバ
イスを使用しながら信号光を伝送するが、その伝送特性
に偏波依存性があると、信号光が偏波変動によってラン
ダムに変調され、いわゆる偏波ノイズが生じる。この偏
波ノイズは光通信の伝送品質を低下させる。このため、
光通信とくにＷＤＭ／ＤＷＤＭ伝送に使用する光デバイ
スには、偏波による伝送損失の変動すなわちＰＤＬ（偏
波依存性損失）ができるだけ小さいことが要求される。
／分波デバイス、光減衰器、 光スイッチなどの光デバ
イスを使用しながら信号光を伝送するが、その伝送特性
に偏波依存性があると、信号光が偏波変動によってラン
ダムに変調され、いわゆる偏波ノイズが生じる。この偏
波ノイズは光通信の伝送品質を低下させる。このため、
光通信とくにＷＤＭ／ＤＷＤＭ伝送に使用する光デバイ
スには、偏波による伝送損失の変動すなわちＰＤＬ（偏
波依存性損失）ができるだけ小さいことが要求される。
【０００３】ＰＤＬの測定手段としては、全偏波測定方
式とミュラー行列演算方式があるが、受動と能動の両タ
イプの光デバイスに対応できるのは前者の方式である。
式とミュラー行列演算方式があるが、受動と能動の両タ
イプの光デバイスに対応できるのは前者の方式である。
【０００４】図２は、従来のＰＤＬ測定装置１’の構成
を示す。同図に示す装置は全偏波測定方式のＰＤＬ測定
装置であって、測定用光源２、偏波コントローラ３、光
パワーメータ５によって構成され、測定対象である光デ
バイス４は偏波コントローラ３と光パワーメータ５間の
光伝送経路に挿入される。光源２と偏波コントローラ３
は、一定の光強度で偏波方向が絶えず変化する測定用信
号光λｉを発生して光デバイス４に入力させる。この光
デバイス４から出力される信号光λｏの強度変化状態を
光パワーメータ５で測定することにより、その光デバイ
ス４のＰＤＬを評価することができる。そして、同図に
示すように、上記ＰＤＬ測定装置１’を複数台設置すれ
ば、複数の光デバイス４，４，・・・のＰＤＬを同時測
定する多チャネル測定システムを組むことができる。こ
の多チャネル測定システムは、たとえば、ＷＤＭで使用
される多チャネル用光デバイスを測定する場合や、生産
現場で多数の光デバイスを短時間に測定する場合などに
威力を発揮する。
を示す。同図に示す装置は全偏波測定方式のＰＤＬ測定
装置であって、測定用光源２、偏波コントローラ３、光
パワーメータ５によって構成され、測定対象である光デ
バイス４は偏波コントローラ３と光パワーメータ５間の
光伝送経路に挿入される。光源２と偏波コントローラ３
は、一定の光強度で偏波方向が絶えず変化する測定用信
号光λｉを発生して光デバイス４に入力させる。この光
デバイス４から出力される信号光λｏの強度変化状態を
光パワーメータ５で測定することにより、その光デバイ
ス４のＰＤＬを評価することができる。そして、同図に
示すように、上記ＰＤＬ測定装置１’を複数台設置すれ
ば、複数の光デバイス４，４，・・・のＰＤＬを同時測
定する多チャネル測定システムを組むことができる。こ
の多チャネル測定システムは、たとえば、ＷＤＭで使用
される多チャネル用光デバイスを測定する場合や、生産
現場で多数の光デバイスを短時間に測定する場合などに
威力を発揮する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たＰＤＬ測定装置１’は非常に高価な装置であり、これ
を複数台設置することは膨大なコスト負担を伴う。とく
に、測定用信号光を発生する光源２と偏波コントローラ
３が大きなコスト割合を占めるが、これらは、測定の精
度および信頼度を維持する上で低コスト化が難しい。
たＰＤＬ測定装置１’は非常に高価な装置であり、これ
を複数台設置することは膨大なコスト負担を伴う。とく
に、測定用信号光を発生する光源２と偏波コントローラ
３が大きなコスト割合を占めるが、これらは、測定の精
度および信頼度を維持する上で低コスト化が難しい。
【０００６】この発明は以上のように技術的背景を鑑み
てなされたもので、その目的は、低コストな構成でもっ
て複数の光デバイスのＰＤＬを同時測定することができ
るＰＤＬ測定装置を提供することにある。
てなされたもので、その目的は、低コストな構成でもっ
て複数の光デバイスのＰＤＬを同時測定することができ
るＰＤＬ測定装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明による解決手段
は、光デバイスの偏波依存損失を評価するＰＤＬ測定装
置において、偏波方向が絶えず変化する測定用信号光を
発生する信号光発生ユニットと、この発生ユニットから
出力される測定用信号光を複数の光デバイスに均等分配
して入力させる光カプラと、各光デバイスから出力され
る信号光の強度変化状態を個別に測定する複数の光パワ
ーメータを備えたことを特徴とする。この手段によれ
ば、高価な信号光発生ユニットが１組で済む低コストな
構成でもって、複数の光デバイスのＰＤＬを同時測定す
ることができる。
は、光デバイスの偏波依存損失を評価するＰＤＬ測定装
置において、偏波方向が絶えず変化する測定用信号光を
発生する信号光発生ユニットと、この発生ユニットから
出力される測定用信号光を複数の光デバイスに均等分配
して入力させる光カプラと、各光デバイスから出力され
る信号光の強度変化状態を個別に測定する複数の光パワ
ーメータを備えたことを特徴とする。この手段によれ
ば、高価な信号光発生ユニットが１組で済む低コストな
構成でもって、複数の光デバイスのＰＤＬを同時測定す
ることができる。
【０００８】上記手段において、信号光発生ユニット
は、光源と、この光源からの光にランダム的な偏波制御
を行う偏波コントローラとによって構成することができ
る。この信号光発生ユニットにおいて偏波方向をあらゆ
る方向に変化させる全偏波制御を行うことにより、全偏
波測定方式によるＰＤＬ測定を行うことができる。ま
た、上記信号光発生ユニットは、電気・機械変換手段を
使用した電気駆動制御によって偏波方向を全方向に可変
制御するように構成することができる。
は、光源と、この光源からの光にランダム的な偏波制御
を行う偏波コントローラとによって構成することができ
る。この信号光発生ユニットにおいて偏波方向をあらゆ
る方向に変化させる全偏波制御を行うことにより、全偏
波測定方式によるＰＤＬ測定を行うことができる。ま
た、上記信号光発生ユニットは、電気・機械変換手段を
使用した電気駆動制御によって偏波方向を全方向に可変
制御するように構成することができる。
【０００９】光カプラが有するＰＤＬを０．０５ｄＢ以
下にすれば、０．５ｄＢ以上の比較的大きなＰＤＬを評
価において、実用上支障の無い測定精度を得ることがで
きる。光カプラには、イオン交換法で作製された導波路
型光カプラを使用することができる。
下にすれば、０．５ｄＢ以上の比較的大きなＰＤＬを評
価において、実用上支障の無い測定精度を得ることがで
きる。光カプラには、イオン交換法で作製された導波路
型光カプラを使用することができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】図１は本発明によるＰＤＬ測定装
置の実施例を示す。同図に示す装置１は、測定用光源２
と偏波コントローラ３からなる測定用信号光発生ユニッ
ト６と、この発生ユニット６から出力される測定用信号
光λｉを複数の光デバイス（測定対象）４，４，・・・
に均等分配して入力させる光カプラ７と、各光デバイス
４，４，・・・から出力される信号光λｏ，λｏ，・・
・の強度変化状態を個別に測定する複数の光パワーメー
タ５，５，・・・によって構成される。光源２と偏波コ
ントローラ３の間、偏波コントローラ３と光カプラ７の
間、光カプラ７と光デバイス４の間、光デバイス４と光
パワーメータ５の間は、それぞれ光ファイバで接続され
ている。
置の実施例を示す。同図に示す装置１は、測定用光源２
と偏波コントローラ３からなる測定用信号光発生ユニッ
ト６と、この発生ユニット６から出力される測定用信号
光λｉを複数の光デバイス（測定対象）４，４，・・・
に均等分配して入力させる光カプラ７と、各光デバイス
４，４，・・・から出力される信号光λｏ，λｏ，・・
・の強度変化状態を個別に測定する複数の光パワーメー
タ５，５，・・・によって構成される。光源２と偏波コ
ントローラ３の間、偏波コントローラ３と光カプラ７の
間、光カプラ７と光デバイス４の間、光デバイス４と光
パワーメータ５の間は、それぞれ光ファイバで接続され
ている。
【００１１】測定用信号光発生ユニット６は、レーザ発
振器などを用いた測定用光源２と、この光源２からの光
に偏波制御を行う偏波コントローラ３とからなり、一定
の光強度で偏波方向が絶えず変化する測定用信号光（擬
似信号光）を発生する。偏波コントローラ３は、可変偏
光子、λ／２板、λ／４板などを有し、信号光λｏの偏
波状態をランダム的に制御して高速変化させる。光カプ
ラ７はその測定用信号光λｉを各光デバイス４，４，・
・・に均等分配して入力させる。各光デバイス４，４，
・・・に入力された信号光λｉ，λｉ，・・・はそれぞ
れ光デバイス４，４，・・・で伝送されて出力される。
振器などを用いた測定用光源２と、この光源２からの光
に偏波制御を行う偏波コントローラ３とからなり、一定
の光強度で偏波方向が絶えず変化する測定用信号光（擬
似信号光）を発生する。偏波コントローラ３は、可変偏
光子、λ／２板、λ／４板などを有し、信号光λｏの偏
波状態をランダム的に制御して高速変化させる。光カプ
ラ７はその測定用信号光λｉを各光デバイス４，４，・
・・に均等分配して入力させる。各光デバイス４，４，
・・・に入力された信号光λｉ，λｉ，・・・はそれぞ
れ光デバイス４，４，・・・で伝送されて出力される。
【００１２】光パワーメータ５，５，・・・は各光デバ
イス４，４，・・・からそれぞれに出力される信号光λ
ｏ，λｏ，・・・の強度変化状態を個別に測定する。こ
れにより、光源２と偏波コントローラ３を１組しか使用
しない低コストな構成でもって、複数の光デバイス４，
４，・・・のＰＤＬを同時測定することができる。測定
チャネルの増設は、光カプラ７での分配数（光分岐数）
と光パワーメータ５の設置数を増設するだけで対応でき
る。したがって、測定チャネル数が多いほど、チャネル
当たりの装置コストを低減させることができる。
イス４，４，・・・からそれぞれに出力される信号光λ
ｏ，λｏ，・・・の強度変化状態を個別に測定する。こ
れにより、光源２と偏波コントローラ３を１組しか使用
しない低コストな構成でもって、複数の光デバイス４，
４，・・・のＰＤＬを同時測定することができる。測定
チャネルの増設は、光カプラ７での分配数（光分岐数）
と光パワーメータ５の設置数を増設するだけで対応でき
る。したがって、測定チャネル数が多いほど、チャネル
当たりの装置コストを低減させることができる。
【００１３】上述した実施例の装置１では、偏波コント
ローラ３にて測定用信号光λｉの偏波方向をあらゆる方
向に変化させる全偏波制御を行うとともに、各光パワー
メータ５，５，・・・にてそれぞれに測定される信号光
λｏ強度（たとえば透過光パワー）の最大値と最小値の
比を個別に演算処理することにより、各光デバイス４，
４，・・・のＰＤＬを個別に求めることができる。つま
り、全偏波測定方式によるＰＤＬ測定を多チャネル同時
に行うことができる。
ローラ３にて測定用信号光λｉの偏波方向をあらゆる方
向に変化させる全偏波制御を行うとともに、各光パワー
メータ５，５，・・・にてそれぞれに測定される信号光
λｏ強度（たとえば透過光パワー）の最大値と最小値の
比を個別に演算処理することにより、各光デバイス４，
４，・・・のＰＤＬを個別に求めることができる。つま
り、全偏波測定方式によるＰＤＬ測定を多チャネル同時
に行うことができる。
【００１４】光カプラ７は、測定用信号光λｉをできる
だけ小さなＰＤＬで均等分配できるものが望ましいが、
イオン交換法を用いて形成される導波路型光カプラを使
用することで、そのＰＤＬを０．０５ｄＢ以下にするこ
とができる。
だけ小さなＰＤＬで均等分配できるものが望ましいが、
イオン交換法を用いて形成される導波路型光カプラを使
用することで、そのＰＤＬを０．０５ｄＢ以下にするこ
とができる。
【００１５】偏波コントローラ３は、たとえば偏波保存
光ファイバに与える応力をピエゾ素子などの電気・機械
変換手段を用いて変化させることにより、電気駆動制御
によって偏波方向を全方向に高速でランダム的に可変制
御させることができる。
光ファイバに与える応力をピエゾ素子などの電気・機械
変換手段を用いて変化させることにより、電気駆動制御
によって偏波方向を全方向に高速でランダム的に可変制
御させることができる。
【００１６】（実施例）同一の光デバイス（受動タイ
プ）のＰＤＬを次の３方式（１）（２）（３）で測定し
た。 （１）図２に示した従来の装置１’による全偏波測定方
式。 （２）０°，４５°，９０°の各方向の直線偏波および
円偏光を用いるミュラー行列演算方式（図示せず）。 （３）図１に示した本発明の装置１によるミューラー行
列方式。各方式の測定結果は、（１）が０．６９ｄＢ、
（２）が０．７０ｄＢ、（３）が０．７３ｄＢであっ
た。
プ）のＰＤＬを次の３方式（１）（２）（３）で測定し
た。 （１）図２に示した従来の装置１’による全偏波測定方
式。 （２）０°，４５°，９０°の各方向の直線偏波および
円偏光を用いるミュラー行列演算方式（図示せず）。 （３）図１に示した本発明の装置１によるミューラー行
列方式。各方式の測定結果は、（１）が０．６９ｄＢ、
（２）が０．７０ｄＢ、（３）が０．７３ｄＢであっ
た。
【００１７】この実施例において使用した本発明の装置
１では、光カプラ７が０．０４ｄＢのＰＤＬを有してい
たため、これが測定値にほぼ上乗せされる結果となっ
た。光カプラ７が有するＰＤＬは測定値に上乗せされて
一種の誤差となるが、その上乗せ分すなわち光カプラ７
のＰＤＬを０．０５ｄＢ以下にすれば、０．５ｄＢ以上
の比較的大きなＰＤＬを評価において、実用上支障の無
い測定精度を得ることができる。さらに、光カプラ７の
ＰＤＬがあらかじめ判明していれば、そのＰＤＬによる
上乗せ分は測定後の演算処理によって簡単に補償するこ
とも可能である。また、本発明の装置１は、測定用信号
光発生ユニット６における測定用信号光の偏波制御方
式、光パワーメータ５を使って得られる測定データの処
理方式等を選択することにより、ミュラー行列演算方
式、全偏波測定方式、その他の種々の測定方式に適用で
きる。
１では、光カプラ７が０．０４ｄＢのＰＤＬを有してい
たため、これが測定値にほぼ上乗せされる結果となっ
た。光カプラ７が有するＰＤＬは測定値に上乗せされて
一種の誤差となるが、その上乗せ分すなわち光カプラ７
のＰＤＬを０．０５ｄＢ以下にすれば、０．５ｄＢ以上
の比較的大きなＰＤＬを評価において、実用上支障の無
い測定精度を得ることができる。さらに、光カプラ７の
ＰＤＬがあらかじめ判明していれば、そのＰＤＬによる
上乗せ分は測定後の演算処理によって簡単に補償するこ
とも可能である。また、本発明の装置１は、測定用信号
光発生ユニット６における測定用信号光の偏波制御方
式、光パワーメータ５を使って得られる測定データの処
理方式等を選択することにより、ミュラー行列演算方
式、全偏波測定方式、その他の種々の測定方式に適用で
きる。
【００１８】
【発明の効果】本発明は、光デバイスの偏波依存損失を
評価するＰＤＬ測定装置において、偏波方向が絶えず変
化する測定用信号光を発生する信号光発生ユニットと、
この発生ユニットから出力される測定用信号光を複数の
光デバイスに均等分配して入力させる光カプラと、各光
デバイスから出力される信号光の強度変化状態を個別に
測定する複数の光パワーメータを備えたことにより、高
価な信号光発生ユニットが１組で済む低コストな構成で
もって、複数の光デバイスのＰＤＬを同時測定すること
ができる。
評価するＰＤＬ測定装置において、偏波方向が絶えず変
化する測定用信号光を発生する信号光発生ユニットと、
この発生ユニットから出力される測定用信号光を複数の
光デバイスに均等分配して入力させる光カプラと、各光
デバイスから出力される信号光の強度変化状態を個別に
測定する複数の光パワーメータを備えたことにより、高
価な信号光発生ユニットが１組で済む低コストな構成で
もって、複数の光デバイスのＰＤＬを同時測定すること
ができる。
【図１】本発明によるＰＤＬ測定装置の一実施例を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図２】従来のＰＤＬ測定装置の構成を示すブロック図
である。
である。
【符号の説明】 １ ＰＤＬ測定装置（本発明） １’ ＰＤＬ測定装置（従来） ２ 測定用光源 ３ 偏波コントローラ ４ 光デバイス（測定対象） ５ 光パワーメータ ６ 測定用信号光発生ユニット ７ 光カプラ λｉ 光デバイスの入力信号光 λｏ 光デバイスの出力信号光
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 林 智幸 東京都港区新橋５丁目36番11号 エフ・デ ィー・ケイ株式会社内 Ｆターム(参考） 2G086 EE12 KK01
Claims (6)
- 【請求項１】 光デバイスの偏波依存損失を評価するＰ
ＤＬ測定装置において、偏波方向が絶えず変化する測定
用信号光を発生する信号光発生ユニットと、この発生ユ
ニットから出力される測定用信号光を複数の光デバイス
に均等分配して入力させる光カプラと、各光デバイスか
ら出力される信号光の強度変化状態を個別に測定する複
数の光パワーメータを備えたことを特徴とするＰＤＬ測
定装置。 - 【請求項２】 請求項１または２の発明において、前記
信号光発生ユニットは、光源と、この光源からの光にラ
ンダム的な偏波制御を行う偏波コントローラとによって
構成されていることを特徴とするＰＤＬ測定装置。 - 【請求項３】 請求項１または２の発明において、前記
信号光発生ユニットは、偏波方向をあらゆる方向に変化
させる全偏波制御を行うことを特徴とするＰＤＬ測定装
置。 - 【請求項４】 請求項１から３のいずれかの発明におい
て、前記信号光発生ユニットは、電気・機械変換手段を
使用した電気駆動制御によって偏波方向を全方向に可変
制御することを特徴とするＰＤＬ測定装置。 - 【請求項５】 請求項１から４のいずれかの発明におい
て、前記光カプラが有するＰＤＬを０．０５ｄＢ以下に
したことを特徴とするＰＤＬ測定装置。 - 【請求項６】 請求項１から５のいずれかの発明におい
て、前記光カプラがイオン交換法で作製された導波路型
光カプラであることを特徴とするＰＤＬ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001155649A JP2002350286A (ja) | 2001-05-24 | 2001-05-24 | Ｐｄｌ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001155649A JP2002350286A (ja) | 2001-05-24 | 2001-05-24 | Ｐｄｌ測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002350286A true JP2002350286A (ja) | 2002-12-04 |
Family
ID=18999791
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001155649A Pending JP2002350286A (ja) | 2001-05-24 | 2001-05-24 | Ｐｄｌ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002350286A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006521554A (ja) * | 2003-03-21 | 2006-09-21 | ソルラブス、 インコーポレイテッド | 単一波長掃引の偏光依存損失測定 |
| JP2013195106A (ja) * | 2012-03-16 | 2013-09-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光測定装置及び光測定方法 |
| CN104677493A (zh) * | 2015-03-24 | 2015-06-03 | 国家电网公司 | 一种光功率实时监测装置 |
-
2001
- 2001-05-24 JP JP2001155649A patent/JP2002350286A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006521554A (ja) * | 2003-03-21 | 2006-09-21 | ソルラブス、 インコーポレイテッド | 単一波長掃引の偏光依存損失測定 |
| JP2013195106A (ja) * | 2012-03-16 | 2013-09-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光測定装置及び光測定方法 |
| CN104677493A (zh) * | 2015-03-24 | 2015-06-03 | 国家电网公司 | 一种光功率实时监测装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6487336B1 (en) | WDM channel equalization and control | |
| US6628850B1 (en) | Dynamic wavelength-selective grating modulator | |
| US6801686B2 (en) | Methods and apparatus for measuring the power spectrum of optical signals | |
| EP2592768A1 (en) | Photonic system and method for tunable beamforming of the electric field radiated by a phased array antenna | |
| US20010033710A1 (en) | Gain flattening tunable filter | |
| US6539148B1 (en) | Channel equalizer with acousto-optic variable attenuators | |
| KR100258183B1 (ko) | 채널간 지연보상형 다파장 채널 투과 광필터 | |
| US6760521B2 (en) | Wavelength correction method and apparatus, wavelength check method and apparatus, arrayed waveguide diffraction grating, and interleaver | |
| US6631224B2 (en) | Tunable filter with core mode blocker | |
| US6907199B2 (en) | Method for polarization mode dispersion compensation | |
| US6748126B2 (en) | System for polarization mode dispersion compensation | |
| US12007631B2 (en) | Polarization scrambler using a retardance element | |
| JP2002350286A (ja) | Ｐｄｌ測定装置 | |
| US20050174919A1 (en) | Optical polarization controller | |
| JP5485496B2 (ja) | 半導体試験装置 | |
| KR20040030906A (ko) | 직교 극성 모드용 평행 섹션을 가진 전기 광학 장치 | |
| US6661953B2 (en) | Method and apparatus for simultaneous multiplexing and demultiplexing, variable attenuation and power detection of wavelength division multiplexed optical signals | |
| US6778721B2 (en) | WDM switch using OADM and control method thereof | |
| US6532322B1 (en) | Channel equalizer with acousto-optic variable attenuators | |
| Ikeda et al. | Endless tracking polarization controller | |
| JP3997785B2 (ja) | 偏波モード分散発生装置 | |
| US9680284B2 (en) | Lessening variations of spectral characteristic of an optical device | |
| WO2001048541A2 (en) | Endless polarization stabilizer | |
| JP4410419B2 (ja) | 光通信システム内で偏光モード分散によって生じる光パルスの歪みを低減する方法 | |
| WO2001090804A2 (en) | Acousto-optic variable attenuator with active cancellation of back reflections |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Effective date: 20040917 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 |