JP2002333433A - Pin hole inspection device - Google Patents

Pin hole inspection device

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JP2002333433A
JP2002333433A JP2001375544A JP2001375544A JP2002333433A JP 2002333433 A JP2002333433 A JP 2002333433A JP 2001375544 A JP2001375544 A JP 2001375544A JP 2001375544 A JP2001375544 A JP 2001375544A JP 2002333433 A JP2002333433 A JP 2002333433A
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brush
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a pin hole inspection device capable of preventing inspection omission of a pinhole. SOLUTION: This device has a constitution wherein a circulation means 35 passing a pin hole inspection region 8a is installed, and a loading part of an inspection object 1 is formed by plural rollers 30 arrayed in the direction crossing with the circulation direction of the circulation means 35, and a roller rotation means 40 for rotating the inspection object 1 around the symmetry axis on the pin hole inspection region 8a is installed, and high voltage application electrode 10 and a discharge detection electrode (20) are installed on the pin hole inspection region 8a, and an electrode brush in contact with the end part of the inspection object 1 is used as the high voltage application electrode 10, and an electrode brush in contact with the center part of the inspection object 1 is used as the discharge detection electrode (20), to thereby enable all-around pin hole inspection of the inspection object 1 supplied continuously.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はピンホール検査装置
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pinhole inspection device.

【0002】[0002]

【従来の技術】食料品や薬液等を容器に封入した製品で
は、その容器にピンホールがあると、ピンホール部分か
ら細菌などが侵入して内容物の品質を変化させるおそれ
がある。そのため、導電性を有する内容物を、電気絶縁
性を有する容器に封入した製品の場合には、製造工程で
ピンホール検査が行われている。ピンホール検査は、容
器の一部分に放電検知電極を配置し、ピンホール検査部
分に高電圧印加電極を配置して行われる。ピンホールが
存在すると、当該ピンホール部分を通して高電圧印加電
極から内容物に火花放電が発生する。その際に流れる電
流を放電検知電極が検知して放電の発生を知ることによ
り、ピンホールの有無を判断している。
2. Description of the Related Art In a product in which foodstuffs, chemicals, or the like are sealed in a container, if the container has a pinhole, bacteria or the like may enter the pinhole portion and change the quality of the contents. Therefore, in the case of a product in which a conductive content is sealed in an electrically insulating container, a pinhole inspection is performed in a manufacturing process. The pinhole inspection is performed by arranging a discharge detection electrode on a part of the container and arranging a high voltage application electrode on the pinhole inspection part. When a pinhole is present, a spark discharge is generated from the high voltage application electrode to the content through the pinhole portion. The presence or absence of a pinhole is determined by detecting the occurrence of discharge by detecting the current flowing at that time by the discharge detection electrode.

【0003】ところで、電気絶縁性を有する軸対称形状
容器に、導電性を有する内容物が隙間なく充填された製
品に対しては、図10に示す装置でピンホール検査が行
われている。従来のピンホール検査装置では、図10
(1)に示すように、リング状の外枠112からその中
心に向けて導電性を有するブラシ114を配置した、高
電圧印加電極110が設置されている。また図10
(2)に示すように、その前後には被検査物101を移
動させるベルトコンベア132,134が設置されてい
る。さらに入口側コンベア132および出口側コンベア
134の上方には、導電性を有するブラシを備えた入口
側放電検知電極122および出口側放電検知電極124
が設置されている。
By the way, a pinhole inspection is performed on a product in which an axisymmetric container having electrical insulation is filled with conductive contents without gaps by using an apparatus shown in FIG. In a conventional pinhole inspection apparatus, FIG.
As shown in (1), a high-voltage application electrode 110 in which a conductive brush 114 is arranged from a ring-shaped outer frame 112 toward the center thereof is provided. FIG.
As shown in (2), before and after that, belt conveyors 132 and 134 for moving the inspection object 101 are installed. Further, above the entrance-side conveyor 132 and the exit-side conveyor 134, an entrance-side discharge detection electrode 122 and an exit-side discharge detection electrode 124 each having a conductive brush are provided.
Is installed.

【0004】この装置を使用したピンホール検査では、
まず高電圧印加電極110に高電圧を印加する。次に入
口側コンベア132により、被検査物101の前半部を
高電圧印加電極110の中心部に挿入し、高電圧印加電
極のブラシ114を前半部の外周に接触させる。そのと
き被検査物101の後半部は入口側放電検知電極122
に接触しているので、前半部におけるピンホール検査が
行われる。さらに被検査物101を移動させて、高電圧
印加電極のブラシ114を後半部の外周に接触させる。
そのとき被検査物101の前半部は出口側放電検知電極
124に接触しているので、後半部におけるピンホール
検査が行われる。そして出口側コンベア134により、
被検査物101を高電圧印加電極110の中心部から排
出する。このようにして、被検査物全体101のピンホ
ール検査が行われる。
In a pinhole inspection using this device,
First, a high voltage is applied to the high voltage application electrode 110. Next, the front half of the test object 101 is inserted into the center of the high voltage application electrode 110 by the entrance side conveyor 132, and the brush 114 of the high voltage application electrode is brought into contact with the outer periphery of the front half. At this time, the latter half of the inspection object 101 is the entrance side discharge detection electrode 122.
Therefore, the pinhole inspection in the first half is performed. Further, the inspection object 101 is moved to bring the brush 114 of the high voltage application electrode into contact with the outer periphery of the rear half.
At this time, since the first half of the inspection object 101 is in contact with the outlet-side discharge detection electrode 124, the pinhole inspection is performed in the second half. And by the outlet side conveyor 134,
The inspection object 101 is discharged from the center of the high voltage application electrode 110. In this manner, the pinhole inspection of the entire inspection object 101 is performed.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上記従来のピンホール
検査装置に対しては、以下のように被検査物を供給して
いた。すなわち図9(1)に示すように、被検査物10
1の軸方向をベルトコンベア130の搬送方向と一致さ
せ、ベルトコンベア130の表面に形成した仕切板13
1の間に被検査物101を配置して、ピンホール検査領
域108aに供給していた。その供給量は、例えば20
0個/分程度であった。
The object to be inspected has been supplied to the above-mentioned conventional pinhole inspection apparatus as follows. That is, as shown in FIG.
1 is aligned with the conveying direction of the belt conveyor 130, and the partition plate 13 formed on the surface of the belt conveyor 130
1, the inspection object 101 is arranged and supplied to the pinhole inspection area 108a. The supply amount is, for example, 20
It was about 0 / min.

【0006】ところで近時では、ピンホール検査の処理
能力の向上が要求されている。その対策として、被検査
物101の供給間隔を短くすることが考えられる。しか
し上記従来のピンホール検査装置で検査を行うには、被
検査物101の軸方向をベルトコンベア130の搬送方
向と一致させ、縦列配置して供給する必要があり、供給
間隔を短くするには限界があった。
Recently, there has been a demand for an improvement in the processing capability of pinhole inspection. As a countermeasure, it is conceivable to shorten the supply interval of the inspection object 101. However, in order to perform the inspection with the above-described conventional pinhole inspection apparatus, it is necessary to match the axial direction of the inspection object 101 with the transport direction of the belt conveyor 130 and supply them in tandem. There was a limit.

【0007】また供給間隔を短くするには、ベルトコン
ベア130の表面に形成した仕切板131の間隔を狭く
する必要がある。しかしこの場合には、ベルトコンベア
の移動速度に同期して被検査物を供給するのが困難にな
り、仕切板131の間に被検査物101を配置する際
に、被検査物101が仕切板131の上に乗り上げて、
ピンホール検査が実施できなくなるという問題があっ
た。
Further, in order to shorten the supply interval, it is necessary to reduce the interval between the partition plates 131 formed on the surface of the belt conveyor 130. However, in this case, it is difficult to supply the inspection object in synchronization with the moving speed of the belt conveyor, and when the inspection object 101 is arranged between the partition plates 131, the inspection object 101 Ride on 131,
There is a problem that the pinhole inspection cannot be performed.

【0008】また別の対策として、ベルトコンベア13
0の搬送速度を上げることにより、ピンホール検査の時
間を短縮することも考えられる。しかし上記従来のピン
ホール検査装置では、被検査物の軸方向に沿って相対的
に電極を長距離移動させてピンホール検査を行うので、
被検査物の搬送速度を上げるとブラシ114が十分に接
触できずに、ピンホールの検出漏れが発生するおそれが
ある。従って、ピンホール検査時間を短縮するには限界
があった。
As another countermeasure, a belt conveyor 13 is provided.
By increasing the transport speed of 0, the time of the pinhole inspection may be shortened. However, in the above-described conventional pinhole inspection apparatus, since the pinhole inspection is performed by moving the electrode relatively long distance along the axial direction of the inspection object,
If the transport speed of the object to be inspected is increased, the brush 114 may not be able to make sufficient contact, and pinhole detection may be missed. Therefore, there is a limit in shortening the pinhole inspection time.

【0009】そのため、複数のピンホール検査ライン1
05a,105bを設置し、並行してピンホール検査を
行うことにより、処理能力を確保していた。しかしこの
場合には多くのラインスペースが必要となり、また多く
の製造コストを必要とするという問題があった。
Therefore, a plurality of pinhole inspection lines 1
05a and 105b were installed, and a pinhole inspection was performed in parallel to ensure processing ability. However, in this case, there is a problem that a large amount of line space is required and a large production cost is required.

【0010】一方、従来のピンホール検査装置では、図
10(2)に示すように、高電圧印加電極110のブラ
シ114は、軸対称容器101の外周面に接触しなが
ら、その軸方向に沿って相対的に移動する。よって図1
1(1)に示すように、軸対称形状容器101の軸方向
にしなった状態で移動することになる。そして被検査物
101の端部102において被検査物の外径が急激に細
くなると、しなっていたブラシ114は高電圧印加電極
110の中心部に向かって急激に復帰する。そのとき、
被検査物の端部102にブラシ114が十分に接触でき
ずに、ピンホールの検出漏れが発生するという問題があ
った。
On the other hand, in the conventional pinhole inspection apparatus, as shown in FIG. 10 (2), the brush 114 of the high-voltage applying electrode 110 is in contact with the outer peripheral surface of the axisymmetric container 101 and along the axial direction thereof. Move relatively. Therefore, FIG.
As shown in FIG. 1 (1), the container 101 moves in the axially symmetric shape of the container 101 in the axial direction. Then, when the outer diameter of the object to be inspected is sharply reduced at the end portion 102 of the object to be inspected 101, the brush 114 that has been bent returns suddenly toward the center of the high-voltage application electrode 110. then,
There is a problem that the brush 114 cannot sufficiently contact the end portion 102 of the inspection object, and pinhole detection failure occurs.

【0011】また図11(2)に示すように、被検査物
101の端部102がピンホール検査部分103に向か
って傾倒する場合がある。上述したように従来のピンホ
ール検査装置では、高電圧印加電極110のブラシ11
4は、軸対称形状容器101の軸方向に沿って相対的に
移動する。そのためブラシ114は、被検査物101の
傾倒した端部102に妨害されてピンホール検査部分1
03に接触できずに、ピンホールの検出漏れが発生する
という問題があった。
[0011] As shown in FIG. 11 (2), the end 102 of the inspection object 101 may tilt toward the pinhole inspection portion 103. As described above, in the conventional pinhole inspection device, the brush 11 of the high-voltage application electrode 110 is used.
Reference numeral 4 moves relatively along the axial direction of the axisymmetric container 101. Therefore, the brush 114 is obstructed by the inclined end 102 of the inspection object 101 and
03 could not be contacted, and there was a problem that pinhole detection leakage occurred.

【0012】一方、被検査物によっては、内容物もしく
は容器の材料のばらつきにより、または製造工程におけ
る加熱処理等により、図12に示すように反りを生じる
場合がある。この点、従来のピンホール検査装置では、
高電圧印加電極110のブラシ114の先端が、反りを
生じた被検査物101における端部102の背面側10
2a等に接触できずに、ピンホールの検出漏れが発生す
るという問題があった。
On the other hand, depending on the object to be inspected, warpage may occur as shown in FIG. 12 due to variations in the contents or the material of the container, or due to heat treatment in the manufacturing process. In this regard, in the conventional pinhole inspection device,
The tip of the brush 114 of the high-voltage applying electrode 110 is positioned on the back side 10 of the end 102 of the warped inspection object 101.
There is a problem that the pinholes cannot be detected due to the failure to contact the pin 2a or the like.

【0013】本発明は上記問題点に着目し、ピンホール
の検出漏れがないピンホール検査装置の提供を目的とす
る。また本発明は、コスト低減が可能なピンホール検査
装置の提供を目的とする。また本発明は、被検査物を傷
つけることがないピンホール検査装置の提供を目的とす
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to provide a pinhole inspection apparatus which does not omit pinhole detection. Another object of the present invention is to provide a pinhole inspection device capable of reducing costs. Another object of the present invention is to provide a pinhole inspection device that does not damage an inspection object.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係るピンホール検査装置は、概略軸対称形
状の製品を被検査物とするピンホール検査装置であっ
て、ピンホール検査領域を通過する周回手段を設け、前
記周回手段の周回方向と交差する方向に配列された複数
のローラにより前記被検査物の搭載部を形成して、前記
被検査物を前記周回方向と交差する方向に配列して前記
ピンホール検査領域に搬送可能とし、前記ピンホール検
査領域において前記被検査物を搭載しているローラを強
制回転させることにより前記被検査物を前記対称軸回り
に回転させる回転手段を設け、前記ピンホール検査領域
に高電圧印加電極と放電検知電極とを設置し、前記高電
圧印加電極は前記被検査物の端部に接触する電極ブラシ
とし、前記放電検知電極は前記被検査物の中央部に接触
する電極ブラシとして、前記被検査物の全周検査を可能
とした構成とした。
In order to achieve the above object, a pinhole inspection apparatus according to the present invention is a pinhole inspection apparatus using a product having a substantially axially symmetric shape as an object to be inspected. And a plurality of rollers arranged in a direction intersecting the direction of rotation of the circulating means to form a mounting portion for the object to be inspected, and a direction intersecting the object to be inspected with the circling direction. Rotating means for rotating the inspection object around the symmetry axis by forcibly rotating a roller on which the inspection object is mounted in the pinhole inspection region. A high-voltage application electrode and a discharge detection electrode are provided in the pinhole inspection area, and the high-voltage application electrode is an electrode brush that contacts an end of the inspection object, and the discharge detection electrode As electrode brushes in contact with the central portion of the object to be inspected, and allows a with the structure all around the inspection of the inspection object.

【0015】この場合電極ブラシは、軸対称形状容器の
外周面に接触しながら、その周方向に沿って相対的に移
動する。従って、軸方向に沿って急激に形状が変化する
被検査物に対しても、電極ブラシを確実に接触させるこ
とができるので、ピンホールの検出漏れがない。
In this case, the electrode brush moves relatively along the circumferential direction while contacting the outer peripheral surface of the axially symmetric container. Therefore, the electrode brush can be surely brought into contact with the inspection object whose shape rapidly changes along the axial direction, so that there is no omission of pinhole detection.

【0016】また、端部がピンホール検査部分に向かっ
て傾倒する被検査物に対しても、傾倒した端部とピンホ
ール検査部分との間に、電極ブラシを入り込ませること
ができる。従って、電極ブラシを確実に接触させること
ができるので、ピンホールの検出漏れがない。
Also, for an inspection object whose end is inclined toward the pinhole inspection portion, the electrode brush can be inserted between the inclined end and the pinhole inspection portion. Therefore, since the electrode brush can be reliably brought into contact, there is no detection omission of the pinhole.

【0017】また、反りを生じた被検査物における端部
の背面側等に対しても、電極ブラシを確実に接触させる
ことができる。従って、ピンホールの検出漏れがない。
加えて、一般にピンホールが発生しやすい被検査物の両
端部に対して、同時にピンホール検査を行うことができ
る。従って検査時間を短縮することができ、検査コスト
を低減することができる。
Further, the electrode brush can be reliably brought into contact with the back side of the end of the warped test object. Therefore, there is no pinhole detection omission.
In addition, pinhole inspection can be performed simultaneously on both ends of the inspection object where pinholes are likely to occur. Therefore, the inspection time can be shortened, and the inspection cost can be reduced.

【0018】なお前記電極ブラシは、アモルファス金属
またはリン青銅により形成されてなる構成とするのが好
ましい。アモルファスの金属繊維は長期間使用しても形
状変化が少なく、被検査物の表面に確実に接触すること
ができるので、ピンホールの検出漏れを防止することが
できる。またリン青銅は導電性が高いので、ピンホール
の検出漏れを防止することができる。
Preferably, the electrode brush is made of an amorphous metal or phosphor bronze. The amorphous metal fiber has a small shape change even after long-term use and can surely come into contact with the surface of the inspection object, so that the detection omission of the pinhole can be prevented. Further, since phosphor bronze has high conductivity, it is possible to prevent pinholes from being missed in detection.

【0019】また、前記ローラの外周面を導電性材料で
形成するとともに、前記放電検知電極を前記ローラの下
方に設置した構成とした。これにより、ピンホール検査
を行う必要がない検査不要領域に対して、放電検知電極
を接触させる必要がなくなる。従って、被検査物の表面
を傷つける可能性を低減することができる。
Further, an outer peripheral surface of the roller is formed of a conductive material, and the discharge detection electrode is provided below the roller. This eliminates the need to contact the discharge detection electrode with an inspection unnecessary area where it is not necessary to perform the pinhole inspection. Therefore, the possibility of damaging the surface of the inspection object can be reduced.

【0020】また、前記被検査物の最大外径部分と接触
する前記ローラの外周面に導電性材料からなる導電部分
を形成するとともに、前記放電検知電極を前記導電部分
の下方に設置した構成とした。これにより製造コストを
低減することができる。またローラが軽量化されるの
で、ローラ回転手段の消費エネルギーが低減され、運転
コストを低減することができる。
In addition, a conductive portion made of a conductive material is formed on an outer peripheral surface of the roller in contact with a maximum outer diameter portion of the inspection object, and the discharge detection electrode is provided below the conductive portion. did. As a result, manufacturing costs can be reduced. Further, since the weight of the roller is reduced, the energy consumption of the roller rotating means is reduced, and the operating cost can be reduced.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】本発明に係るピンホール検査装置
の好ましい実施の形態を、添付図面を用いて詳細に説明
する。なお以下に記載するのは本発明の実施形態の一態
様にすぎず、本発明はこれらに限定されるものではな
い。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the pinhole inspection apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Note that what is described below is merely an embodiment of the present invention, and the present invention is not limited thereto.

【0022】最初に、第1実施形態について説明する。
図2に第1実施形態に係るピンホール検査装置の側面図
を示す。第1実施形態に係るピンホール検査装置は、ピ
ンホール検査領域8aを通過する周回手段35を形成
し、その周回手段35に複数のローラ30を並列配設し
て被検査物1の搭載部301を形成し、ピンホール検査
領域8aにおいてローラ30を強制回転させるローラ回
転手段40を設置することにより搬送された被検査物1
を回転可能として、連続供給される被検査物1の全周検
査を可能としたものである。
First, a first embodiment will be described.
FIG. 2 shows a side view of the pinhole inspection apparatus according to the first embodiment. In the pinhole inspection apparatus according to the first embodiment, a circling means 35 which passes through the pinhole inspection area 8a is formed, and a plurality of rollers 30 are arranged in parallel with the circulating means 35 to mount the mounting portion 301 of the inspection object 1. Is formed, and the inspection object 1 conveyed by installing the roller rotating means 40 for forcibly rotating the roller 30 in the pinhole inspection area 8a.
Is rotatable, thereby enabling the entire inspection of the inspection object 1 continuously supplied.

【0023】図1に、第1実施形態に係るピンホール検
査装置を使用した、ピンホール検査工程およびその前後
工程の説明図を示す。まず、ソータ整列機7により整列
された被検査物1を搭載してピンホール検査領域8aに
供給する、ベルトコンベア33を設置する。なお、被検
査物1の軸方向がベルトコンベア33の搬送方向と直交
する形でベルトコンベア33上に搭載されるように、ベ
ルトコンベア33の側方にソータ整列機7を配置する。
一方、ピンホール検査領域8aから被検査物1を包装領
域9aに供給する、ベルトコンベア39を設置する。
FIG. 1 is an explanatory diagram of a pinhole inspection process and a process before and after the pinhole inspection process using the pinhole inspection device according to the first embodiment. First, a belt conveyor 33 for mounting the inspection objects 1 aligned by the sorter alignment machine 7 and supplying the inspection objects 1 to the pinhole inspection area 8a is installed. The sorter aligner 7 is arranged on the side of the belt conveyor 33 so that the inspection object 1 is mounted on the belt conveyor 33 such that the axial direction of the inspection object 1 is orthogonal to the conveying direction of the belt conveyor 33.
On the other hand, a belt conveyor 39 for supplying the inspection object 1 from the pinhole inspection area 8a to the packaging area 9a is installed.

【0024】上記のピンホール検査領域8aには、実施
形態に係るピンホール検査装置8を設置する。まず図2
に示すように、ピンホール検査領域8aを通過する周回
手段35を設置する。周回手段35は、図示しないモー
タ等の回転駆動手段に接続したスプロケット36と、複
数のスプロケット36の間に渡し掛けられたチェーン3
7とによって構成する。
The pinhole inspection device 8 according to the embodiment is installed in the pinhole inspection area 8a. First, FIG.
As shown in (1), a circling means 35 that passes through the pinhole inspection area 8a is provided. The orbiting means 35 includes a sprocket 36 connected to a rotation driving means such as a motor (not shown), and the chain 3 bridged between the plurality of sprockets 36.
7.

【0025】そして、複数のローラ30を一定間隔で並
列配置し、チェーン37のセグメントに対し回転可能に
取り付ける。ローラ30は樹脂材料等により形成し、ピ
ンホール検査時の高電圧を遮断することにより検査装置
各部の損傷を防止するとともに、軽量化することにより
周回手段35およびローラ回転手段40の消費エネルギ
ーを節約し運転コストを低減する。ローラ30の直径は
被検査物1の直径より大きくするのが好ましい。これに
より、ローラ1回転当たりの被検査物の回転数が多くな
り検査時間を短縮することができるとともに、隣接する
ローラ30間の上方に形成される搭載部から被検査物1
が脱離するのを防止することができる。一方、隣接する
ローラ30の隙間は被検査物1の直径より小さくして、
隣接するローラ間の上方に搭載部301を形成し、ベル
トコンベア33により連続供給される被検査物1を搭載
可能とする。以上により、連続供給される被検査物1を
ピンホール検査領域8aに搬送可能となる。
Then, a plurality of rollers 30 are arranged in parallel at regular intervals and are rotatably attached to the segments of the chain 37. The roller 30 is formed of a resin material or the like, and prevents high-voltage during pinhole inspection to prevent damage to each part of the inspection apparatus, and reduces the weight to save energy consumed by the orbiting unit 35 and the roller rotating unit 40. And reduce operating costs. The diameter of the roller 30 is preferably larger than the diameter of the inspection object 1. As a result, the number of rotations of the inspection object per one rotation of the roller increases, and the inspection time can be shortened.
Can be prevented from desorbing. On the other hand, the gap between the adjacent rollers 30 is made smaller than the diameter of the inspection object 1,
A mounting portion 301 is formed above the adjacent rollers, so that the inspection object 1 continuously supplied by the belt conveyor 33 can be mounted. As described above, the continuously supplied inspection object 1 can be transported to the pinhole inspection area 8a.

【0026】一方、ピンホール検査領域8aに位置する
ローラ30を回転させる、ローラ回転手段40を設置す
る。図3に、図2におけるピンホール検査領域8aの拡
大図を示す。ローラ回転手段40は、図示しないモータ
等の回転駆動手段に接続したプーリ44と、複数のプー
リ44の間に渡し掛けられた駆動ベルト42とによって
構成する。そしてこの駆動ベルト42の表面を、ピンホ
ール検査領域8aに位置するローラ30の下端に当接さ
せる。なお、駆動ベルト42はゴム等の高摩擦材料で形
成し、ローラ30を確実に回転駆動可能とするのが好ま
しい。以上により、ピンホール検査領域8aに搬送され
た被検査物1を、その対称軸回りに回転可能とする。こ
のように、ローラ回転手段40として駆動ベルト42を
採用すれば、簡単な装置により、ピンホール検査領域8
aに位置するローラのみを回転させることができる。従
って、製造コストおよび運転コストを低減することがで
きる。
On the other hand, a roller rotating means 40 for rotating the roller 30 located in the pinhole inspection area 8a is provided. FIG. 3 is an enlarged view of the pinhole inspection area 8a in FIG. The roller rotating unit 40 includes a pulley 44 connected to a rotation driving unit such as a motor (not shown), and a drive belt 42 spanned between the plurality of pulleys 44. Then, the surface of the drive belt 42 is brought into contact with the lower end of the roller 30 located in the pinhole inspection area 8a. It is preferable that the drive belt 42 is formed of a high friction material such as rubber so that the roller 30 can be reliably driven to rotate. As described above, the inspection object 1 conveyed to the pinhole inspection area 8a can be rotated around its axis of symmetry. Thus, if the drive belt 42 is employed as the roller rotating means 40, the pinhole inspection area 8
Only the roller located at a can be rotated. Therefore, manufacturing costs and operating costs can be reduced.

【0027】以上のように構成した検査装置を使用すれ
ば、検査領域において被検査物全周の目視検査を実施す
ることは可能である。しかし第1実施形態ではこれに加
えて、被検査物1に対する高電圧印加電極10および放
電検知電極20をピンホール検査領域8aに設置して、
ピンホール検査を可能とする。図4に、図3のA−A線
における正面断面図を示す。高電圧印加電極10は高圧
電源16に接続する。一方の放電検知電極20は接地す
るが、その途中に電流計測手段26を接続して、放電電
流を検知可能とする。高電圧印加電極10および放電検
知電極20として、水平配置した平板電極を使用するこ
とも可能であるが、本実施形態では被検査物1と常時接
触可能なブラシ型の電極を使用する。両電極のブラシ1
4,24は、アモルファスまたはリン青銅等の金属繊維
材料により、直径10μm〜100μm程度に形成し、
可撓性を付与する。特にアモルファスの金属繊維は長期
間使用しても形状変化が少なく、被検査物の表面に確実
に接触することができるので、ピンホールの検出漏れを
防止することができる。またリン青銅の金属繊維は導電
性が高いので、ピンホールの検出漏れを防止することが
できる。
With the use of the inspection apparatus configured as described above, it is possible to carry out a visual inspection of the entire inspection object in the inspection area. However, in the first embodiment, in addition to this, the high voltage application electrode 10 and the discharge detection electrode 20 for the inspection object 1 are provided in the pinhole inspection area 8a,
Enables pinhole inspection. FIG. 4 is a front sectional view taken along line AA of FIG. The high voltage application electrode 10 is connected to a high voltage power supply 16. One of the discharge detection electrodes 20 is grounded, and a current measuring means 26 is connected on the way to enable detection of a discharge current. As the high-voltage application electrode 10 and the discharge detection electrode 20, a horizontally arranged plate electrode can be used, but in the present embodiment, a brush-type electrode that can always contact the inspection object 1 is used. Brush 1 for both electrodes
4, 24 are formed from a metal fiber material such as amorphous or phosphor bronze to a diameter of about 10 μm to 100 μm,
Gives flexibility. In particular, amorphous metal fibers have a small change in shape even after long-term use and can surely come into contact with the surface of the object to be inspected. Further, since the metal fiber of phosphor bronze has high conductivity, it is possible to prevent pinhole detection leakage.

【0028】高電圧印加電極10および放電検知電極2
0は、そのブラシ14,24の先端部が被検査物1に接
触可能となる高さに配置する。また、ピンホールは一般
に被検査物1の端部2に発生しやすいことから、高電圧
印加電極10,10を被検査物1の両端部2に配置する
とともに、放電検知電極20を被検査物1の中央部に配
置する。これにより、被検査物1の両端部2に対し同時
にピンホール検査を行うことができ、検査時間を短縮す
ることができる。なお高電圧印加電極10のブラシ14
の幅は、被検査物1におけるピンホール検査部分の長さ
に一致させる。一方の放電検知電極20のブラシ24
は、高電圧印加電極10のブラシ14の端部と一定間隔
をおいて配置し、高電圧印加電極10からの直接放電を
防止する。
High voltage application electrode 10 and discharge detection electrode 2
0 is arranged at a height at which the tips of the brushes 14 and 24 can come into contact with the inspection object 1. In addition, since pinholes generally tend to occur at the end 2 of the test object 1, the high voltage application electrodes 10, 10 are arranged at both ends 2 of the test object 1, and the discharge detection electrodes 20 are connected to the test object 1. 1 at the center. Thereby, the pinhole inspection can be simultaneously performed on both end portions 2 of the inspection object 1, and the inspection time can be shortened. The brush 14 of the high voltage application electrode 10
Is made equal to the length of the pinhole inspection portion of the inspection object 1. Brush 24 of one discharge detection electrode 20
Are arranged at a fixed distance from the end of the brush 14 of the high voltage application electrode 10 to prevent direct discharge from the high voltage application electrode 10.

【0029】一方、高電圧印加電極10および放電検知
電極20の長さは、図3に示すように、チェーン37に
対するローラ30の取り付けピッチより短くするのが好
ましい。これにより、各電極10,20に対して複数の
被検査物1が同時に接触することがなくなり、放電を検
知した場合にピンホールが発生している被検査物を特定
することができる。
On the other hand, it is preferable that the length of the high voltage application electrode 10 and the discharge detection electrode 20 be shorter than the mounting pitch of the roller 30 to the chain 37 as shown in FIG. Accordingly, the plurality of inspection objects 1 do not contact each of the electrodes 10 and 20 at the same time, and it is possible to identify an inspection object in which a pinhole is generated when a discharge is detected.

【0030】なお、被検査物の搬送方向に沿って複数の
検査領域を設定し、各検査領域につき高電圧印加電極お
よび放電検知電極を設置してもよい。この場合には例え
ば、第1検査領域では被検査物の端部に高電圧印加電極
を配置し、第2検査領域では中央部から端部にかけて高
電圧印加電極を配置すれば、被検査物全体のピンホール
検査を実施することができる。また例えば、第1検査領
域および第2検査領域ともに被検査物の端部に高電圧印
加電極を配置すれば、一方の検査領域の電極に故障が発
生した場合でも、被検査物の端部におけるピンホールの
検出漏れを回避することができる。
A plurality of inspection areas may be set along the transport direction of the inspection object, and a high voltage application electrode and a discharge detection electrode may be provided for each inspection area. In this case, for example, in the first inspection area, a high-voltage applying electrode is arranged at an end of the object to be inspected, and in the second inspection area, a high-voltage applying electrode is arranged from the center to the end. Pinhole inspection can be performed. Further, for example, if a high-voltage application electrode is arranged at the end of the inspection object in both the first inspection region and the second inspection region, even if a failure occurs in the electrode of one inspection region, the high-voltage application electrode at the end of the inspection object can be used. Pinhole detection omission can be avoided.

【0031】上記のように構成した第1実施形態に係る
ピンホール検査装置は、以下のようにして使用する。な
お、導電性を有する内容物を封入した電気絶縁性を有す
る概略軸対称形状の容器であれば、本実施形態に係るピ
ンホール検査装置の被検査物となし得る。例えば、食料
品を封入したビニル容器やフィルム容器等を被検査物と
することができる。特に、図4に示すように一方または
両方の端部2を封止した先細形状の容器を被検査物とし
て、その端部のピンホール検査を行うことが可能であ
る。なお、内容物が隙間なく充填された被検査物の場合
には、火花放電を発生させ得る火花電圧がピンホールの
有無によって大きく異なるので、ピンホールの検出精度
が高くなる。また、そのような被検査物の場合には、被
検査物各部の火花電圧が同等となるので、放電検知電極
の位置においてもピンホール検査を行うことができる。
一方、被検査物は単純軸対称形状の容器に限られず、ロ
ーラ対によって回転可能でありなおかつ電極ブラシを連
続的に接触させ得るような、概略軸対称形状の容器であ
ればよい。
The pinhole inspection apparatus according to the first embodiment configured as described above is used as follows. It should be noted that any container having a substantially axially symmetrical shape having electrical insulation and enclosing electrically conductive contents can be used as the inspection object of the pinhole inspection apparatus according to the present embodiment. For example, a vinyl container or a film container enclosing foodstuffs can be used as the inspection object. In particular, as shown in FIG. 4, it is possible to perform a pinhole inspection of an end portion of a container having a tapered shape in which one or both end portions 2 are sealed as an inspection object. In addition, in the case of the test object in which the contents are filled without gaps, the spark voltage that can generate a spark discharge greatly differs depending on the presence or absence of the pinhole, and thus the pinhole detection accuracy is increased. Further, in the case of such an object to be inspected, since the spark voltage of each part of the object to be inspected becomes equal, the pinhole inspection can be performed even at the position of the discharge detection electrode.
On the other hand, the object to be inspected is not limited to a container having a simple axisymmetric shape, and may be a container having a substantially axisymmetric shape that can be rotated by a pair of rollers and can continuously contact an electrode brush.

【0032】最初に、上記の被検査物をピンホール検査
装置に供給する。具体的には図1に示すように、まず被
検査物1をソータ整列機7のドラム内に投入する。ソー
タ整列機7は、ドラムの回転による遠心力を利用して、
投入された被検査物1を軸方向に整列させる。次に、被
検査物1をベルトコンベア33に搭載する。縦方向に整
列した被検査物1を、稼働中のベルトコンベア33の側
方から順次供給することにより、被検査物1は横方向に
整列した状態でベルトコンベア33上に搭載される。ベ
ルトコンベア33により被検査物1を搬送した後、図2
に示すように、ベルトコンベア33の端部からピンホー
ル検査装置8に被検査物1を連続供給する。すると、ピ
ンホール検査装置8における各搭載部301に、被検査
物1が一定間隔で搭載される。
First, the inspection object is supplied to a pinhole inspection device. Specifically, as shown in FIG. 1, first, the inspection object 1 is put into the drum of the sorter aligner 7. The sorter aligner 7 uses the centrifugal force generated by the rotation of the drum,
The test object 1 is aligned in the axial direction. Next, the inspection object 1 is mounted on the belt conveyor 33. By sequentially supplying the inspection objects 1 aligned in the vertical direction from the side of the belt conveyor 33 in operation, the inspection objects 1 are mounted on the belt conveyor 33 in a state of being aligned in the horizontal direction. After transporting the inspection object 1 by the belt conveyor 33, FIG.
As shown in (1), the inspection object 1 is continuously supplied to the pinhole inspection device 8 from the end of the belt conveyor 33. Then, the inspection object 1 is mounted on each mounting portion 301 of the pinhole inspection device 8 at a constant interval.

【0033】次に、被検査物1をピンホール検査領域に
搬送する。具体的には、図示しないモータ等によりスプ
ロケット36を回転させ、スプロケット36に渡し掛け
られたチェーン37を移動させることにより、チェーン
37に取り付けられたローラ30が周回移動する。この
ように、周回手段35によってローラ30を移動させる
ことにより、ローラ30に搭載された被検査物1をピン
ホール検査領域8aまで搬送する。
Next, the inspection object 1 is transported to the pinhole inspection area. Specifically, the sprocket 36 is rotated by a motor (not shown) or the like, and the chain 37 spanned over the sprocket 36 is moved, so that the roller 30 attached to the chain 37 moves around. In this manner, the inspection object 1 mounted on the roller 30 is transported to the pinhole inspection area 8a by moving the roller 30 by the circling means 35.

【0034】次に、被検査物1を回転させ、ピンホール
検査を行う。ピンホール検査領域8aに搬送された被検
査物1は、高電圧印加電極10および放電検知電極20
(図4参照)に接触する。被検査物は電気絶縁性を有す
る材料から構成されているので、ピンホールがない部分
において火花放電を発生させ得る最小電圧(火花電圧)
Vsaは、ピンホールがある部分における火花電圧Vs
bより大きい。そこで、VsaとVsbとの間の電圧V
sを被検査物に印加することにより、ピンホールが存在
する部分でのみ火花放電を発生させることができる。こ
れにより、ピンホールを検出することができる。なおピ
ンホールの存在が確認された被検査物は、検査領域の下
流側に設置したプッシャ等により、ローラ上から排除す
る。
Next, the inspection object 1 is rotated to perform a pinhole inspection. The test object 1 transported to the pinhole inspection area 8a includes a high voltage application electrode 10 and a discharge detection electrode 20.
(See FIG. 4). Since the test object is made of an electrically insulating material, a minimum voltage (spark voltage) that can generate a spark discharge in a portion having no pinhole
Vsa is the spark voltage Vs at the portion where the pinhole is located
greater than b. Therefore, the voltage V between Vsa and Vsb
By applying s to the test object, a spark discharge can be generated only in a portion where the pinhole exists. Thereby, a pinhole can be detected. Note that the object to be inspected for which the presence of the pinhole has been confirmed is removed from above the roller by a pusher or the like installed downstream of the inspection area.

【0035】また、被検査物1を搭載したローラ30が
ピンホール検査領域8aまで移動すると、ローラ30の
下端が駆動ベルト42に当接する。そして図3に示すよ
うに、図示しないモータ等によりプーリ44を回転さ
せ、プーリ44に掛け渡された駆動ベルト42を矢印4
2aの方向に移動させることにより、駆動ベルト42に
当接したローラ30が矢印30aの方向に回転する。こ
れにより、ローラ30に搭載された被検査物1が矢印1
aの方向に回転する。従って、高電圧印加電極および放
電検知電極を被検査物1の全周に当接させることが可能
となり、全周に対するピンホール検査を行うことができ
る。なお、駆動ベルト42を上記と逆方向に移動させ、
これにより被検査物を上記と逆方向に回転させてもよ
い。
When the roller 30 carrying the object 1 moves to the pinhole inspection area 8a, the lower end of the roller 30 contacts the drive belt 42. Then, as shown in FIG. 3, the pulley 44 is rotated by a motor (not shown) or the like, and the drive belt 42 stretched over the pulley 44 is
By moving the roller 30 in the direction of 2a, the roller 30 contacting the drive belt 42 rotates in the direction of the arrow 30a. As a result, the inspection object 1 mounted on the roller 30 is
Rotate in the direction of a. Therefore, the high voltage application electrode and the discharge detection electrode can be brought into contact with the entire circumference of the inspection object 1, and the pinhole inspection can be performed on the entire circumference. In addition, the drive belt 42 is moved in the opposite direction to the above,
Thus, the inspection object may be rotated in a direction opposite to the above.

【0036】なお、ローラ回転手段40によるローラ3
0の回転速度は、被検査物1の全周検査が可能となる速
度に設定する。図3に示すように、被検査物1は回転し
ながら矢印37aの方向に移動するので、被検査物1の
全周検査を可能とするには、被検査物1が高電圧印加電
極10に接触してから通過するまでの間に少なくとも1
回転することが必要である。なお周回手段35によるロ
ーラ30の移動速度は、工程能力との関係で低減するこ
とが困難である。そこでローラ回転手段40によるロー
ラ30の回転速度を調整することにより、被検査物1の
全周検査を可能とする。
The roller 3 by the roller rotating means 40
The rotation speed of 0 is set to a speed at which the entire inspection of the inspection object 1 can be performed. As shown in FIG. 3, the test object 1 moves in the direction of the arrow 37 a while rotating, so that the test object 1 needs to be connected to the high-voltage application electrode 10 in order to enable the entire test of the test object 1. At least 1 between contact and passing
It is necessary to rotate. It is difficult to reduce the moving speed of the roller 30 by the orbiting means 35 in relation to the process capability. Therefore, by adjusting the rotation speed of the roller 30 by the roller rotation means 40, it is possible to inspect the entire circumference of the inspection object 1.

【0037】次に、ピンホール検査後の被検査物1を包
装する。図2に示すようにピンホール検査後の被検査物
1は、ピンホール検査装置8からベルトコンベア39に
受け渡される。そして図1に示すように、ベルトコンベ
ア39により包装領域9に供給され、包装される。
Next, the inspection object 1 after the pinhole inspection is packaged. As shown in FIG. 2, the inspection object 1 after the pinhole inspection is transferred from the pinhole inspection device 8 to the belt conveyor 39. Then, as shown in FIG. 1, the belt is supplied to the packing area 9 by the belt conveyor 39 and packed.

【0038】上記のように構成した第1実施形態に係る
ピンホール検査装置を、上記のように使用することによ
り、検査処理能力を向上させることができる。この点、
従来のピンホール検査装置では、被検査物の軸方向をベ
ルトコンベアの搬送方向と一致させ、ベルトコンベアの
表面に形成した仕切板の間に被検査物を配置して、ピン
ホール検査領域に供給し、ピンホール検査を行ってい
た。そのため、被検査物の供給間隔の短縮ないし検査時
間の短縮により、検査処理能力を向上させることが困難
であった。そこで、複数のピンホール検査ラインを設置
し、並行してピンホール検査を行うことにより、処理能
力を確保していた。しかしこの場合には多くのラインス
ペースが必要となり、また多くの製造コストを必要とす
るという問題があった。
By using the pinhole inspection apparatus according to the first embodiment configured as described above as described above, the inspection processing capability can be improved. In this regard,
In the conventional pinhole inspection device, the axial direction of the object to be inspected coincides with the transport direction of the belt conveyor, the object to be inspected is arranged between the partition plates formed on the surface of the belt conveyor, and supplied to the pinhole inspection area, A pinhole inspection was being performed. Therefore, it has been difficult to improve the inspection processing ability by shortening the supply interval of the inspection object or the inspection time. Therefore, a plurality of pinhole inspection lines are set up, and the pinhole inspection is performed in parallel, thereby ensuring the processing capability. However, in this case, there is a problem that a large amount of line space is required and a large production cost is required.

【0039】しかし第1実施形態に係るピンホール検査
装置は、ピンホール検査領域を通過する周回手段を形成
し、その周回手段に複数のローラを並列配設して被検査
物の搭載部を形成し、検査領域においてローラを強制回
転させるローラ回転手段を設置することにより搬送され
た被検査物を回転可能として、連続供給される被検査物
の全周検査を可能とした。
However, the pinhole inspection apparatus according to the first embodiment forms a circulating means passing through the pinhole inspection area, and a plurality of rollers are arranged in parallel in the circulating means to form a mounting portion for the inspection object. Then, by installing a roller rotating means for forcibly rotating the roller in the inspection area, the conveyed inspection object can be rotated, thereby enabling the entire inspection of the continuously supplied inspection object.

【0040】従来の検査装置でピンホール検査を行うに
は、被検査物の軸方向をベルトコンベアの搬送方向と一
致させてピンホール検査領域に供給する必要があるのに
対し、第1実施形態の検査装置でピンホール検査を行う
場合には、被検査物の軸方向をベルトコンベアの搬送方
向と直交させてピンホール検査領域に供給することがで
きる。従って、被検査物の供給間隔を短くすることが可
能となり、検査処理能力を向上させることができる。な
お、従来の検査装置における被検査物の供給量は、例え
ば200個/分程度であるが、第1実施形態の検査装置
における供給量は、例えば400個/分程度とすること
ができるのである。
In order to perform a pinhole inspection with a conventional inspection device, it is necessary to supply the pinhole inspection area with the axial direction of the object to be inspected coincident with the conveying direction of the belt conveyor. When the pinhole inspection is performed by the inspection apparatus described above, the inspection object can be supplied to the pinhole inspection area with the axial direction of the inspection object orthogonal to the conveying direction of the belt conveyor. Therefore, it is possible to shorten the supply interval of the inspection object, and it is possible to improve the inspection processing capability. The supply amount of the inspection object in the conventional inspection apparatus is, for example, about 200 pieces / minute, but the supply amount in the inspection apparatus of the first embodiment can be, for example, about 400 pieces / minute. .

【0041】また、従来のピンホール検査装置では、被
検査物の軸方向に沿って相対的に高電圧印加電極を移動
させピンホール検査を行うのに対し、第1実施形態のピ
ンホール検査装置では、被検査物の周方向に沿って相対
的に高電圧印加電極を移動させピンホール検査を行うの
で、移動距離が短くなり検査時間を短縮することができ
る。従って、検査処理能力を向上させることができる。
これに伴って、複数のピンホール検査ラインを設置する
必要がなくなり、ラインスペースおよび製造コストを低
減することができる。
In the conventional pinhole inspection apparatus, the pinhole inspection is performed by relatively moving the high-voltage applying electrode along the axial direction of the inspection object, whereas the pinhole inspection apparatus of the first embodiment is used. In this case, since the pinhole inspection is performed by moving the high voltage application electrode relatively along the circumferential direction of the inspection object, the moving distance is shortened and the inspection time can be shortened. Therefore, the inspection processing capability can be improved.
Accordingly, there is no need to install a plurality of pinhole inspection lines, and line space and manufacturing costs can be reduced.

【0042】また、従来の検査装置でピンホール検査を
行うには、ベルトコンベアの表面に形成した仕切板の間
に被検査物を配置する必要があり、そのためベルトコン
ベアの移動速度に同期してベルトコンベア上に被検査物
を供給する必要があった。そこで、図9(2)に示す供
給装置260を、ベルトコンベア130の入口部分の上
方に設置していた。なお図9(2)は、同図(1)の側
面図である。この装置では、ホッパ262に投入された
複数の被検査物101を、スターホイル264により一
定間隔に分離する。そして、ベルトコンベア130の移
動速度に同期すべくスターホイル260の回転速度を調
整した上で、被検査物101をベルトコンベア130上
に供給する。
In order to perform a pinhole inspection using a conventional inspection apparatus, it is necessary to arrange an object to be inspected between partitions formed on the surface of the belt conveyor. An inspection object had to be supplied on the top. In view of this, the supply device 260 shown in FIG. 9B is installed above the entrance of the belt conveyor 130. FIG. 9 (2) is a side view of FIG. 9 (1). In this apparatus, a plurality of inspection objects 101 put into a hopper 262 are separated at regular intervals by a star wheel 264. Then, after adjusting the rotation speed of the star wheel 260 to synchronize with the moving speed of the belt conveyor 130, the inspection object 101 is supplied onto the belt conveyor 130.

【0043】ここで被検査物の供給間隔を短くするに
は、ベルトコンベア130の表面に形成した仕切板13
1の間隔を狭くする必要がある。しかしこの場合には、
ベルトコンベアの移動速度に同期して被検査物を供給す
るのが困難になり、仕切板131の間に被検査物101
を配置する際に、被検査物101が仕切板131の上に
乗り上げて、ピンホール検査が実施できなくなるという
問題があった。また供給装置160の製造コストが問題
となっていた。
Here, in order to shorten the supply interval of the inspection object, the partition plate 13 formed on the surface of the belt conveyor 130 is required.
1 needs to be narrowed. But in this case,
It becomes difficult to supply the inspection object in synchronization with the moving speed of the belt conveyor, and the inspection object 101 is located between the partition plates 131.
However, there is a problem in that when inspecting, the object to be inspected 101 rides on the partition plate 131 and the pinhole inspection cannot be performed. Further, the manufacturing cost of the supply device 160 has been a problem.

【0044】しかし第1実施形態の検査装置では、図2
に示すように、連続供給される被検査物が、隣接するロ
ーラ間の搭載部301において自動的に一定間隔で搭載
可能となる。そのため、被検査物1はベルトコンベア3
3上において、必ずしも一定間隔で整列している必要が
ない。よって、ベルトコンベア33の移動速度に同期し
て被検査物1を供給する必要がない。従って、被検査物
の供給間隔を短縮することができ、検査処理能力を向上
させることができる。加えて、被検査物を一定間隔で供
給するための図9(2)に示す供給装置160が不要と
なり、製造コストを低減することができる。
However, in the inspection apparatus of the first embodiment, FIG.
As shown in (1), a continuously supplied inspection object can be automatically mounted at a fixed interval on the mounting portion 301 between adjacent rollers. Therefore, the inspection object 1 is the belt conveyor 3
On 3 above, it is not always necessary to line up at regular intervals. Therefore, there is no need to supply the inspection object 1 in synchronization with the moving speed of the belt conveyor 33. Therefore, the supply interval of the inspection object can be shortened, and the inspection processing ability can be improved. In addition, the supply device 160 shown in FIG. 9B for supplying the inspection object at regular intervals becomes unnecessary, and the manufacturing cost can be reduced.

【0045】ところで、高電圧印加電極10と被検査容
器との間に空間があると、その空間部分の電気抵抗によ
り火花電圧Vsbが高くなって、印加電圧Vsでは火花
放電が発生しなくなる。従って、ピンホールの検出漏れ
が発生する。そのため、ピンホール検査部分に対し高電
圧印加電極10のブラシ14を確実に接触させる必要が
ある。
When there is a space between the high-voltage applying electrode 10 and the container to be inspected, the spark voltage Vsb increases due to the electric resistance of the space, and no spark discharge occurs at the applied voltage Vs. Therefore, a pinhole is missed in detection. Therefore, the brush 14 of the high-voltage application electrode 10 must be reliably brought into contact with the pinhole inspection portion.

【0046】この点、従来のピンホール検査装置では、
図10(2)に示すように、高電圧印加電極110のブ
ラシ114が、軸対称容器101の外周面に接触しなが
ら、その軸方向に沿って相対的に移動する。よって、軸
対称形状容器101の軸方向にしなった状態で移動する
ことになる。そして図11(1)に示すように、被検査
物101の端部102において被検査物の外径が急激に
小さくなると、しなっていたブラシ114は高電圧印加
電極110の中心部に向かって急激に復帰する。そのと
き、被検査物の端部102にブラシ114が十分に接触
できずに、ピンホールの検出漏れが発生する問題があっ
た。
In this respect, in the conventional pinhole inspection apparatus,
As shown in FIG. 10B, the brush 114 of the high-voltage application electrode 110 relatively moves along the axial direction while contacting the outer peripheral surface of the axisymmetric container 101. Accordingly, the container 101 moves in a state where it is not in the axial direction of the axially symmetric container 101. Then, as shown in FIG. 11A, when the outer diameter of the test object at the end 102 of the test object 101 suddenly decreases, the bent brush 114 moves toward the center of the high-voltage application electrode 110. It returns suddenly. At that time, there is a problem in that the brush 114 cannot sufficiently contact the end portion 102 of the inspection object, and pinhole detection leakage occurs.

【0047】しかし第1実施形態に係るピンホール検査
装置では、図3に示すように、ローラを平行に配置した
ローラ対の上方に被検査物1を搭載可能とし、ローラ3
0を回転させるローラ回転手段40を設置して被検査物
1を回転可能とし、ローラ対の上方にブラシ型の高電圧
印加電極10を設置して被検査物1に接触可能とした構
成とした。この場合、高電圧印加電極10のブラシ14
は、軸対称形状容器1の外周面に接触しながら、その周
方向に沿って相対的に移動する。その間ブラシ14の姿
勢は、しなった状態のまま変化しない。従って、軸方向
に沿って急激に形状が変化する被検査物1に対しても、
高電圧印加電極10のブラシ14を確実に接触させるこ
とが可能であり、ピンホールの検出漏れがない。
However, in the pinhole inspection apparatus according to the first embodiment, as shown in FIG. 3, the inspection object 1 can be mounted above a pair of rollers in which rollers are arranged in parallel.
A roller rotating means 40 for rotating the object 0 is provided so that the object 1 can be rotated, and a brush-type high voltage application electrode 10 is provided above the pair of rollers so that the object 1 can be contacted. . In this case, the brush 14 of the high voltage application electrode 10
Moves relatively along the circumferential direction while contacting the outer peripheral surface of the axially symmetric container 1. During that time, the posture of the brush 14 remains unchanged. Therefore, even for the inspection object 1 whose shape changes rapidly along the axial direction,
The brush 14 of the high voltage application electrode 10 can be reliably brought into contact, and there is no omission in detection of a pinhole.

【0048】また、図11(2)に示すように、被検査
物101の端部102がピンホール検査部分103に向
かって傾倒する場合がある。この点、従来のピンホール
検査装置では、高電圧印加電極110のブラシ114
は、軸対称形状容器101の軸方向に沿って相対的に移
動する。そのためブラシ114は、被検査物101の傾
倒した端部102に妨害され、ピンホール検査部分10
3に接触することが困難であった。またブラシ114
は、傾倒した端部102をさらに傾倒させる方向に押し
付けるので、ピンホール検査部分103に接触すること
が大変困難であった。従って、ピンホールの検出漏れが
発生する問題があった。
As shown in FIG. 11 (2), the end 102 of the inspection object 101 may be inclined toward the pinhole inspection part 103. In this regard, in the conventional pinhole inspection device, the brush 114 of the high voltage application electrode 110 is not used.
Move relatively along the axial direction of the axisymmetric container 101. Therefore, the brush 114 is obstructed by the inclined end 102 of the inspection object 101, and the pinhole inspection portion 10
3 was difficult to contact. Brush 114
Is pressed in a direction to further tilt the tilted end portion 102, so that it is very difficult to contact the pinhole inspection portion 103. Therefore, there has been a problem that a detection omission of a pinhole occurs.

【0049】しかし第1実施形態に係るピンホール検査
装置では、高電圧印加電極10のブラシ14は、軸対称
形状容器1の周方向に沿って相対的に移動する。そのた
め図5に示すように、被検査物1の傾倒した端部2とピ
ンホール検査部分3との間に、高電圧印加電極10のブ
ラシ14を入り込ませることができる。従って、端部2
がピンホール検査部分3に向かって傾倒する被検査物1
に対しても、高電圧印加電極10のブラシ14を確実に
接触させることができるので、ピンホールの検出漏れが
ない。
However, in the pinhole inspection apparatus according to the first embodiment, the brush 14 of the high-voltage applying electrode 10 relatively moves along the circumferential direction of the axisymmetric container 1. Therefore, as shown in FIG. 5, the brush 14 of the high voltage application electrode 10 can be inserted between the inclined end 2 of the inspection object 1 and the pinhole inspection portion 3. Therefore, end 2
Object 1 tilted toward pinhole inspection part 3
Also, since the brush 14 of the high-voltage applying electrode 10 can be reliably brought into contact, there is no pinhole detection omission.

【0050】一方、被検査物によっては、内容物もしく
は容器の材料のばらつきにより、または製造工程におけ
る加熱処理等により、図12に示すように反りを生じる
場合がある。この点、従来のピンホール検査装置では、
高電圧印加電極110のブラシ114の先端が、反りを
生じた被検査物101における端部102の背面側10
2aに接触できずに、ピンホールの検出漏れが発生する
問題があった。しかし第1実施形態に係るピンホール検
査装置では、ローラ間の上方に被検査物を搭載可能と
し、その被検査物を回転可能とし、その上方にブラシ型
の高電圧印加電極を設置したので、図6に示すように、
反りを生じた被検査物1における端部2の背面側2aに
対しても、高電圧印加電極10のブラシ14を確実に接
触させることができる。従って、ピンホールの検出漏れ
がない。
On the other hand, depending on the inspection object, warpage may occur as shown in FIG. 12 due to variations in the contents or the material of the container, or due to a heat treatment in the manufacturing process. In this regard, in the conventional pinhole inspection device,
The tip of the brush 114 of the high-voltage applying electrode 110 is positioned on the back side 10 of the end 102 of the warped inspection object 101.
There was a problem that the pinhole could not be detected and the detection of the pinhole was missed. However, in the pinhole inspection apparatus according to the first embodiment, the inspection object can be mounted above the rollers, the inspection object can be rotated, and a brush-type high voltage application electrode is installed above the inspection object. As shown in FIG.
The brush 14 of the high-voltage application electrode 10 can be reliably brought into contact with the back surface 2a of the end 2 of the test object 1 that has warped. Therefore, there is no pinhole detection omission.

【0051】なお、高電圧印加電極のブラシを、軸対称
形状容器の周方向に沿って相対的に移動させるピンホー
ル検査装置として、実用新案登録第3044448号が
提案されている。この装置では、コンベアベルトの移動
方向と被検査物の軸方向とを直交させて、コンベアベル
ト上に被検査物を搭載する。そしてその被検査物を上方
から押さえつけた上で、そのコンベアベルトを移動させ
ることにより、被検査物を回転させる。ところがこの装
置では、被検査物を上方から押さえつけているので、反
りを生じた被検査物がコンベア表面から離れることがで
きずに、これを自在に回転させることができない。しか
し、上述した第1実施形態に係るピンホール検査装置で
は、被検査物を上方から押さえつけることがなく、しか
もローラは被検査物と点で接触していれば摩擦力を作用
させることができるので、反りを生じた被検査物を自在
に回転させることができるのである。
Incidentally, Japanese Utility Model Registration No. 3044448 has been proposed as a pinhole inspection device for relatively moving the brush of the high voltage application electrode along the circumferential direction of the axially symmetric container. In this apparatus, the object to be inspected is mounted on the conveyor belt such that the moving direction of the conveyor belt is orthogonal to the axial direction of the object to be inspected. Then, the inspection object is pressed from above and the conveyor belt is moved to rotate the inspection object. However, in this apparatus, since the object to be inspected is pressed from above, the object to be inspected which has warped cannot be separated from the surface of the conveyor, and cannot be freely rotated. However, in the pinhole inspection device according to the first embodiment described above, the inspection object is not pressed down from above, and the roller can apply a frictional force if the roller is in contact with the inspection object at a point. Thus, the warped inspection object can be freely rotated.

【0052】次に、第2実施形態について説明する。図
7に第2実施形態に係るピンホール検査装置の説明図を
示す。なお図7は、図3のA−A線に相当する部分にお
ける正面断面図である。第2実施形態に係るピンホール
検査装置は、ローラ80の外周面を導電性材料で形成
し、ブラシ型の放電検知電極70をローラ80の下方に
設置してローラ80の外周面に接触可能とする一方で、
ブラシ型の高電圧印加電極60を被検査物1の長さ以上
の幅に形成して、被検査物の長さ方向全体に接触可能と
したものである。なお、第1実施形態と同じ構成となる
部分については、その説明を省略する。
Next, a second embodiment will be described. FIG. 7 is an explanatory diagram of the pinhole inspection device according to the second embodiment. FIG. 7 is a front sectional view of a portion corresponding to line AA in FIG. The pinhole inspection apparatus according to the second embodiment is configured such that the outer peripheral surface of the roller 80 is formed of a conductive material, and the brush-type discharge detection electrode 70 is installed below the roller 80 so that the outer peripheral surface of the roller 80 can be contacted. While doing
The brush-type high-voltage applying electrode 60 is formed to have a width equal to or longer than the length of the inspection object 1 so that the brush-type high-voltage application electrode 60 can contact the entire inspection object in the length direction. The description of the parts having the same configuration as the first embodiment is omitted.

【0053】第2実施形態では、ローラ80の外周面を
金属等の導電性材料で形成する。すなわち、ローラ80
の全体を導電性材料で形成する必要はなく、その芯部を
樹脂等の電気絶縁性材料で形成し、外周部のみを金属等
の導電性材料で形成すればよい。これにより製造コスト
を低減することができる。またローラ80が軽量化され
るので、ローラ回転手段が消費するエネルギーが低減さ
れ、運転コストを低減することができる。
In the second embodiment, the outer peripheral surface of the roller 80 is formed of a conductive material such as a metal. That is, the roller 80
Need not be formed entirely of a conductive material, the core portion may be formed of an electrically insulating material such as a resin, and only the outer peripheral portion may be formed of a conductive material such as a metal. As a result, manufacturing costs can be reduced. Further, since the weight of the roller 80 is reduced, the energy consumed by the roller rotating means is reduced, and the operating cost can be reduced.

【0054】またローラ80の下方に、ブラシ型の放電
検知電極70を設置する。放電検知電極70は、そのブ
ラシ74の先端がローラ80の外周面に接触可能となる
位置に配置する。なお、ブラシ型の放電検知電極70の
代わりに、ベルト手段86の位置に導電性を有するスチ
ールコンベア等を設置することにより、ベルト手段およ
び検知電極の機能を兼務させてもよい。一方、ローラ対
の上方に設置するブラシ型の高電圧印加電極60は、被
検査物1の長さ以上の幅に形成して、そのブラシ64を
被検査物1の長さ方向全体に接触可能とする。
A brush-type discharge detection electrode 70 is provided below the roller 80. The discharge detection electrode 70 is disposed at a position where the tip of the brush 74 can come into contact with the outer peripheral surface of the roller 80. Note that, instead of the brush-type discharge detection electrode 70, a conductive steel conveyor or the like may be provided at the position of the belt means 86 so that the functions of the belt means and the detection electrode may be combined. On the other hand, the brush-type high-voltage application electrode 60 installed above the roller pair is formed to have a width equal to or longer than the length of the test object 1, and the brush 64 can contact the entire length direction of the test object 1. And

【0055】上記のように構成した第2実施形態に係る
ピンホール検査装置では、ブラシ型の高電圧印加電極6
0を被検査物1の長さ以上の幅に形成し、被検査物1の
長さ方向全体に接触可能としているので、被検査物1の
全面にわたるピンホール検査が可能である。この点第1
実施形態では、図4に示すように、高電圧印加電極10
から放電検知電極20への直接放電を回避するため、高
電圧印加電極10と放電検知電極20との間に一定間隔
をおく必要があり、ピンホール検査を実施できない部分
がある。しかし第2実施形態では、図7に示すように、
被検査物1と接触するローラ80の表面を導電性材料で
形成することにより、ローラ80を放電検知電極の一部
として使用する。そのため放電検知電極70をローラ8
0の下方に配置することができるのであり、さらには高
電圧印加電極60を被検査物1の長さ以上の幅に形成す
ることができるのである。従って、被検査物1の全面に
わたるピンホール検査が可能となる。
In the pinhole inspection apparatus according to the second embodiment configured as described above, the brush-type high voltage
Since 0 is formed to have a width equal to or longer than the length of the inspection object 1, and can be in contact with the entire length direction of the inspection object 1, pinhole inspection over the entire surface of the inspection object 1 is possible. This point 1
In the embodiment, as shown in FIG.
In order to avoid direct discharge from the discharge detection electrode 20 to the discharge detection electrode 20, it is necessary to keep a certain interval between the high voltage application electrode 10 and the discharge detection electrode 20, and there is a portion where the pinhole inspection cannot be performed. However, in the second embodiment, as shown in FIG.
The roller 80 is used as a part of the discharge detection electrode by forming the surface of the roller 80 in contact with the inspection object 1 from a conductive material. Therefore, the discharge detection electrode 70 is
0, and the high-voltage application electrode 60 can be formed to have a width equal to or longer than the length of the inspection object 1. Therefore, pinhole inspection over the entire surface of the inspection object 1 can be performed.

【0056】なお被検査物1において、ピンホール検査
を行う必要がない検査不要領域がある場合には、当該領
域に接触する高電圧印加電極60のブラシ64を削除す
るのが好ましい。この点第1実施形態では、検査不要領
域がある場合でも、当該領域に放電検知電極のブラシを
接触させる必要があり、被検査物の表面を傷つけるおそ
れがある。しかし第2実施形態では、放電検知電極70
はローラ80の下方に配置するので、検査不要領域には
いかなるブラシも接触させる必要がない。従って、検査
不要領域に接触する高電圧印加電極60のブラシ64を
削除することにより、被検査物1の表面を傷つける可能
性を低減することができる。
If there is an inspection unnecessary area in the inspection object 1 where it is not necessary to perform the pinhole inspection, it is preferable to remove the brush 64 of the high voltage application electrode 60 which is in contact with the area. In this regard, in the first embodiment, even when there is an inspection unnecessary area, it is necessary to bring the brush of the discharge detection electrode into contact with the area, which may damage the surface of the inspection object. However, in the second embodiment, the discharge detection electrode 70
Is located below the roller 80, so that there is no need for any brush to contact the uninspected area. Therefore, the possibility of damaging the surface of the inspection object 1 can be reduced by eliminating the brush 64 of the high-voltage application electrode 60 that contacts the unnecessary area.

【0057】次に、第3実施形態について説明する。図
8に第3実施形態に係るピンホール検査装置の説明図を
示す。なお図8は、図3のA−A線に相当する部分にお
ける正面断面図である。第3実施形態に係るピンホール
検査装置は、被検査物1の最大外径部分と接触するロー
ラ180の外周面に導電性材料からなる導電部分182
を形成し、ブラシ型の放電検知電極170を導電部分1
82の下方に設置して導電部分182に接触可能とする
一方で、ブラシ型の高電圧印加電極160におけるブラ
シ164の長さを、導電部分182に対する直接放電を
回避可能な長さとしたものである。なお、第1実施形態
または第2実施形態と同じ構成となる部分については、
その説明を省略する。
Next, a third embodiment will be described. FIG. 8 is an explanatory diagram of a pinhole inspection device according to the third embodiment. FIG. 8 is a front sectional view of a portion corresponding to line AA in FIG. The pinhole inspection apparatus according to the third embodiment includes a conductive portion 182 made of a conductive material on the outer peripheral surface of the roller 180 that contacts the largest outer diameter portion of the inspection object 1.
Is formed, and the brush-type discharge detection electrode 170 is connected to the conductive portion 1.
The brush 164 of the brush-type high-voltage applying electrode 160 is set to a length capable of avoiding direct discharge to the conductive portion 182 while being installed below the conductive member 82 so as to be able to contact the conductive portion 182. . In addition, about the part which becomes the structure same as 1st Embodiment or 2nd Embodiment,
The description is omitted.

【0058】第3実施形態では、軸対称形状容器の最大
外径部分と接触するローラ180の軸方向所定部分につ
き、その外周面に導電性材料からなる導電部分182を
形成する。図8では、被検査物1の胴部が最大外径部分
であるため、その胴部と接触するローラ180の軸方向
中央部分につき、その外周面を導電性材料で形成して導
電部分182とする。なお、ローラ180の芯部および
導電部分182以外の外周面は、樹脂等の電気絶縁性材
料で形成する。
In the third embodiment, a conductive portion 182 made of a conductive material is formed on the outer peripheral surface of a predetermined portion in the axial direction of the roller 180 that contacts the maximum outer diameter portion of the axially symmetric container. In FIG. 8, since the body of the inspection object 1 is the maximum outer diameter portion, the outer peripheral surface of the roller 180 in contact with the body in the axial direction is formed of a conductive material, and the conductive portion 182 is formed. I do. The outer peripheral surface of the roller 180 other than the core and the conductive portion 182 is formed of an electrically insulating material such as a resin.

【0059】また、その導電部分182の下方にブラシ
型の放電検知電極170を設置する。放電検知電極17
0は、そのブラシ174の先端が導電部分182に接触
可能となる位置に配置する。なおベルト手段186は、
放電検知電極170との干渉を避けるため、ローラ18
0の軸方向両端部に配置する。なお、ブラシ型の放電検
知電極170の代わりに、導電性を有するスチールコン
ベア等を設置することにより、ベルト手段および検知電
極の機能を兼務させてもよい。この場合には、スチール
コンベア等はローラ180の軸方向中央部に形成する。
A brush-type discharge detection electrode 170 is provided below the conductive portion 182. Discharge detection electrode 17
0 is located at a position where the tip of the brush 174 can contact the conductive portion 182. The belt means 186 is
In order to avoid interference with the discharge detection electrode 170, the roller 18
0 at both ends in the axial direction. Note that, instead of the brush-type discharge detection electrode 170, a steel conveyor or the like having conductivity may be provided so that the function of the belt means and the function of the detection electrode are also performed. In this case, the steel conveyor or the like is formed at the center of the roller 180 in the axial direction.

【0060】一方、高電圧印加電極160におけるブラ
シ164の長さは、導電部分182に対する直接放電を
回避可能な長さとする。具体的には、導電部分182の
直上またはその近傍部分のブラシ164につき、その先
端部分のみが被検査物1に接触する程度の長さとする。
なお図8では、被検査物1の長さ方向のほぼ全体につ
き、ブラシ164の先端部164aを短くして、導電部
分182に対する直接放電を回避可能としている。
On the other hand, the length of the brush 164 in the high voltage application electrode 160 is set to a length that can avoid direct discharge to the conductive portion 182. More specifically, the length of the brush 164 immediately above the conductive portion 182 or in the vicinity thereof is such that only the tip portion contacts the DUT 1.
In FIG. 8, the tip 164a of the brush 164 is shortened for almost the entire length of the inspection object 1 in the longitudinal direction, so that direct discharge to the conductive portion 182 can be avoided.

【0061】上記のように構成した第3実施形態に係る
ピンホール検査装置では、ローラ180の軸方向一部分
のみに導電部分182を形成しているので、製造コスト
を低減することができる。また、ローラ180が軽量化
されるので、ローラ回転手段が消費するエネルギーが低
減され、運転コストを低減することができる。なお導電
部分182は、軸対称形状容器の最大外径部分と接触す
るローラ180の軸方向所定位置に形成しているので、
ローラ180との接触を常に維持することができ、ピン
ホールの検出漏れがない。
In the pinhole inspection apparatus according to the third embodiment configured as described above, since the conductive portion 182 is formed only on a part of the roller 180 in the axial direction, the manufacturing cost can be reduced. Further, since the weight of the roller 180 is reduced, the energy consumed by the roller rotating means is reduced, and the operating cost can be reduced. Since the conductive portion 182 is formed at a predetermined position in the axial direction of the roller 180 that contacts the maximum outer diameter portion of the axially symmetric container,
Contact with the roller 180 can always be maintained, and there is no omission of pinhole detection.

【0062】また、第3実施形態に係るピンホール検査
装置では、ローラ180の軸方向一部分のみに導電部分
182を形成しているので、導電部分182に対する直
接放電を回避することができる。具体的には、高電圧印
加電極160のブラシ164につき、導電部分182に
対する直接放電を回避可能な長さとすればよい。なお導
電部分182は、軸対称形状容器の最大外径部分に対応
する部分に形成しているので、当該部分におけるブラシ
164の長さを短くしてもこれを被検査物1に接触させ
ることが可能であり、ピンホールの検出漏れがない。
Further, in the pinhole inspection apparatus according to the third embodiment, since the conductive portion 182 is formed only on a part of the roller 180 in the axial direction, direct discharge to the conductive portion 182 can be avoided. Specifically, the brush 164 of the high-voltage application electrode 160 may have a length that can prevent direct discharge to the conductive portion 182. Since the conductive portion 182 is formed in a portion corresponding to the maximum outer diameter portion of the axisymmetric container, even if the length of the brush 164 in the portion is shortened, it can be brought into contact with the DUT 1. It is possible and there is no omission of pinhole detection.

【0063】[0063]

【発明の効果】概略軸対称形状の製品を被検査物とする
ピンホール検査装置であって、ピンホール検査領域を通
過する周回手段を設け、前記周回手段の周回方向と交差
する方向に配列された複数のローラにより前記被検査物
の搭載部を形成して、前記被検査物を前記周回方向と交
差する方向に配列して前記ピンホール検査領域に搬送可
能とし、前記ピンホール検査領域において前記被検査物
を搭載しているローラを強制回転させることにより前記
被検査物を前記対称軸回りに回転させる回転手段を設
け、前記ピンホール検査領域に高電圧印加電極と放電検
知電極とを設置し、前記高電圧印加電極は前記被検査物
の端部に接触する電極ブラシとし、前記放電検知電極は
前記被検査物の中央部に接触する電極ブラシとして、前
記被検査物の全周検査を可能とした構成としたので、ピ
ンホールの検出漏れがない。
According to the present invention, there is provided a pinhole inspection apparatus using a product having a substantially axially symmetric shape as an object to be inspected, provided with a circulating means passing through a pinhole inspection area, and arranged in a direction intersecting the circling direction of the circulating means. A plurality of rollers to form a mounting portion of the object to be inspected, the objects to be inspected are arranged in a direction intersecting the circling direction and can be transported to the pinhole inspection area, and the pinhole inspection area Rotating means for rotating the inspection object around the axis of symmetry by forcibly rotating a roller on which the inspection object is mounted is provided, and a high voltage application electrode and a discharge detection electrode are provided in the pinhole inspection region. The high-voltage application electrode is an electrode brush that contacts an end of the inspection object, and the discharge detection electrode is an electrode brush that contacts a central portion of the inspection object, and the entire circumference of the inspection object is inspected. Since the possible and with the structure, no undetected pinholes.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】第1実施形態に係るピンホール検査装置を使用
した、ピンホール検査工程およびその前後工程の平面図
である。
FIG. 1 is a plan view of a pinhole inspection process and a process before and after that using a pinhole inspection device according to a first embodiment.

【図2】第1実施形態に係るピンホール検査装置の側面
図である。
FIG. 2 is a side view of the pinhole inspection device according to the first embodiment.

【図3】図2におけるピンホール検査領域の拡大図であ
る。
FIG. 3 is an enlarged view of a pinhole inspection area in FIG. 2;

【図4】図3のA−A線における正面断面図である。FIG. 4 is a front sectional view taken along line AA of FIG. 3;

【図5】第1実施形態に係るピンホール検査装置によ
る、端部が傾倒した被検査物に対するピンホール検査の
説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram of the pinhole inspection for the inspection object whose end is tilted by the pinhole inspection apparatus according to the first embodiment.

【図6】第1実施形態に係るピンホール検査装置によ
る、反りを生じた被検査物に対するピンホール検査の説
明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram of a pinhole inspection for a warped inspection object by the pinhole inspection apparatus according to the first embodiment.

【図7】第2実施形態に係るピンホール検査装置の説明
図であり、図3のA−A線に相当する部分における正面
断面図である。
FIG. 7 is an explanatory view of a pinhole inspection device according to a second embodiment, and is a front sectional view of a portion corresponding to line AA in FIG. 3;

【図8】第3実施形態に係るピンホール検査装置の説明
図であり、図3のA−A線に相当する部分における正面
断面図である。
FIG. 8 is an explanatory view of a pinhole inspection device according to a third embodiment, and is a front sectional view of a portion corresponding to line AA in FIG. 3;

【図9】(1)は第1実施形態に係るピンホール検査装
置を使用したピンホール検査工程およびその前後工程の
平面図であり、(2)は被検査物の供給装置の説明図で
あって図9(1)の側面図である。
9A is a plan view of a pinhole inspection process using the pinhole inspection device according to the first embodiment and a process before and after the pinhole inspection process, and FIG. 9B is an explanatory diagram of a device for supplying an inspection object. FIG. 10 is a side view of FIG.

【図10】従来技術に係るピンホール検査装置の説明図
であり、(1)は高電圧印加電極の斜視図であり、
(2)はピンホール検査装置全体の側面断面図である。
FIG. 10 is an explanatory view of a pinhole inspection apparatus according to the related art, wherein (1) is a perspective view of a high-voltage application electrode,
(2) is a side sectional view of the entire pinhole inspection apparatus.

【図11】従来技術に係るピンホール検査装置によるピ
ンホール検査の説明図であり、(1)は先細形状の端部
を有する被検査物に対するピンホール検査の説明図であ
り、(2)は端部が傾倒した被検査物に対するピンホー
ル検査の説明図である。
FIG. 11 is an explanatory view of a pinhole inspection by a pinhole inspection apparatus according to the related art, (1) is an explanatory view of a pinhole inspection for an inspection object having a tapered end, and (2) is an explanatory view of the pinhole inspection. It is explanatory drawing of the pinhole inspection with respect to the to-be-inspected object to which the edge part tilted.

【図12】従来技術に係るピンホール検査装置による、
反りを生じた被検査物に対するピンホール検査の説明図
である。
FIG. 12 shows a pinhole inspection apparatus according to the related art.
It is explanatory drawing of the pinhole inspection with respect to the to-be-inspected test object.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1………被検査物、1a………回転方向、2………端
部、2a………背面側、3………ピンホール検査部分、
7………ソータ整列機、8………ピンホール検査装置、
8a………ピンホール検査領域、9a………包装領域、
10………高電圧印加電極、14………ブラシ、16…
……高圧電源、20………放電検知電極、24………ブ
ラシ、26………電流計測手段、30………ローラ、3
0a………回転方向、33………ベルトコンベア、35
………周回手段、36………スプロケット、37………
チェーン、37a………移動方向、39………ベルトコ
ンベア、40………ローラ回転手段、42………駆動ベ
ルト、42a………移動方向、44………プーリ、60
………高電圧印加電極、64………ブラシ、70………
高電圧印加電極、74………ブラシ、80………ロー
ラ、81………中心軸、86………ベルト手段、101
………被検査物、102………端部、102a………背
面側、105a,105b………ピンホール検査ライ
ン、108a………ピンホール検査領域、109a……
…包装領域、110………高電圧印加電極、112……
…外枠、114………ブラシ、122………入口側放電
検知電極、124………出口側放電検知電極、130…
……ベルトコンベア、131………仕切板、132……
…入口側コンベア、134………出口側コンベア、16
0………高電圧印加電極、164………ブラシ、164
a………先端部分、170………高電圧印加電極、17
4………ブラシ、180………ローラ、182………導
電部分、186………ベルト手段、260………供給装
置、262………ホッパ、264………スターホイル、
301………搭載部。
1 ... inspected object, 1a ... rotating direction, 2 ... end, 2a ... rear side, 3 ... pinhole inspection part,
7 Sorter aligner 8 Pinhole inspection device
8a ... pinhole inspection area, 9a ... packaging area,
10 high voltage application electrode, 14 brush, 16
... high-voltage power supply, 20 ... discharge detection electrode, 24 ... brush, 26 ... current measuring means, 30 ... roller, 3
0a: rotation direction, 33: belt conveyor, 35
…… Circumference means, 36 ……… Sprocket, 37 ………
Chain, 37a Moving direction, 39 Belt conveyor, 40 Roller rotating means, 42 Drive belt, 42a Moving direction, 44 Pulley, 60
... high voltage application electrode, 64 ... brush, 70 ...
High voltage application electrode, 74, brush, 80, roller, 81, central axis, 86, belt means, 101
…………………………………………………………………………………………………………… Inspection object, 102, end, 102a, back side, 105a, 105b pinhole inspection line, 108a pinhole inspection area, 109a
... packaging area, 110 ... high voltage application electrode, 112 ...
... Outer frame, 114 ... Brush, 122 ... Inlet side discharge detection electrode, 124 ... Outlet side discharge detection electrode, 130 ...
…… Belt conveyor, 131 …… Partition plate, 132…
… Inlet side conveyor, 134 ……… Outlet side conveyor, 16
0: High voltage application electrode, 164: Brush, 164
a: tip portion, 170: high voltage application electrode, 17
4 brush 180 roller 182 conductive part 186 belt means 260 supply device 262 hopper 264 star wheel
301 mounting section.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 概略軸対称形状の製品を被検査物とする
ピンホール検査装置であって、 ピンホール検査領域を通過する周回手段を設け、前記周
回手段の周回方向と交差する方向に配列された複数のロ
ーラにより前記被検査物の搭載部を形成して、前記被検
査物を前記周回方向と交差する方向に配列して前記ピン
ホール検査領域に搬送可能とし、 前記ピンホール検査領域において前記被検査物を搭載し
ているローラを強制回転させることにより前記被検査物
を前記対称軸回りに回転させる回転手段を設け、 前記ピンホール検査領域に高電圧印加電極と放電検知電
極とを設置し、前記高電圧印加電極は前記被検査物の端
部に接触する電極ブラシとし、前記放電検知電極は前記
被検査物の中央部に接触する電極ブラシとして、前記被
検査物の全周検査を可能とした、 ことを特徴とするピンホール検査装置。
1. A pinhole inspection apparatus using a product having a substantially axially symmetric shape as an object to be inspected, comprising a circulating means passing through a pinhole inspection area, and arranged in a direction intersecting the circling direction of the circulating means. A plurality of rollers to form a mounting portion of the object to be inspected, the objects to be inspected are arranged in a direction intersecting with the circling direction and can be transported to the pinhole inspection area, Rotating means for rotating the inspection object around the axis of symmetry by forcibly rotating a roller on which the inspection object is mounted is provided, and a high voltage application electrode and a discharge detection electrode are provided in the pinhole inspection region. The high-voltage application electrode is an electrode brush that contacts an end of the inspection object, and the discharge detection electrode is an electrode brush that contacts a central portion of the inspection object, and the entire circumference of the inspection object is inspected. A pinhole inspection device, which enables inspection.
【請求項2】 前記電極ブラシは、アモルファス金属ま
たはリン青銅により形成されてなることを特徴とする請
求項1に記載のピンホール検査装置。
2. The pinhole inspection device according to claim 1, wherein the electrode brush is made of amorphous metal or phosphor bronze.
【請求項3】 前記ローラの外周面を導電性材料で形成
するとともに、前記放電検知電極を前記ローラの下方に
設置したことを特徴とする請求項1に記載のピンホール
検査装置。
3. The pinhole inspection apparatus according to claim 1, wherein an outer peripheral surface of the roller is formed of a conductive material, and the discharge detection electrode is provided below the roller.
【請求項4】 前記被検査物の最大外径部分と接触する
前記ローラ対の外周面に導電性材料からなる導電部分を
形成するとともに、前記放電検知電極を前記導電部分の
下方に設置したことを特徴とする請求項1に記載のピン
ホール検査装置。
4. A conductive portion made of a conductive material is formed on an outer peripheral surface of the roller pair in contact with a maximum outer diameter portion of the inspection object, and the discharge detection electrode is provided below the conductive portion. The pinhole inspection device according to claim 1, wherein:
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CN109174688A (en) * 2018-09-04 2019-01-11 湖南正中制药机械有限公司 A kind of Flat plastic bottle electronics leak detection system

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