JP2002329816A - Resin sealed type electronic component - Google Patents

Resin sealed type electronic component

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JP2002329816A
JP2002329816A JP2001131333A JP2001131333A JP2002329816A JP 2002329816 A JP2002329816 A JP 2002329816A JP 2001131333 A JP2001131333 A JP 2001131333A JP 2001131333 A JP2001131333 A JP 2001131333A JP 2002329816 A JP2002329816 A JP 2002329816A
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JP
Japan
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case
electronic component
resin layer
sealing resin
weak point
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JP2001131333A
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Japanese (ja)
Inventor
Noriyasu Miura
範靖 三浦
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Marcon Electronics Co Ltd
Original Assignee
Marcon Electronics Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a resin sealed type electronic component which can solve the problem raised by the conventional electronic parts that, when an electrical failure occurs, the discharge of heat generated by thermal breakage is suppressed by a sealing resin layer and the bursting location of the resin layer is not fixed even when a weak point is formed on a gas discharging case. SOLUTION: In the resin sealed type electronic component constituted by housing at least one electronic component in the case and forming the sealing resin layer in the vacant space of the case, the case and sealing resin layer are partially removed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品素子をケ
ースに収納し、ケース空隙部に封止用樹脂を充填してな
るフィルムコンデンサ、セラミックバリスタ、又はコイ
ル等の樹脂封止型電子部品に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a resin-sealed electronic component such as a film capacitor, a ceramic varistor, or a coil in which an electronic component element is housed in a case and a sealing resin is filled in a cavity of the case. .

【0002】[0002]

【従来の技術】電子回路基板に実装される電子部品素子
として、例えばフィルムコンデンサ、セラミックバリス
タ又はコイル等があるが、これらの電子部品では、振
動、湿度又は腐蝕性雰囲気等の外部環境に対応するた
め、外装において樹脂封止が行われている。これは、図
3に示すように、例えば両端面にメタリコン電極21を
形成し、このメタリコン電極21に引出線としてリード
線22を取着したフィルムコンデンサ素子23を、一方
を開口したケース24の所望の位置に収納し、このケー
ス24内の空隙部に封止用樹脂を注入し、この封止用樹
脂を硬化し封止用樹脂層25を形成してなるものであ
る。
2. Description of the Related Art Electronic component elements mounted on an electronic circuit board include, for example, a film capacitor, a ceramic varistor, and a coil. These electronic components are compatible with an external environment such as vibration, humidity, or corrosive atmosphere. Therefore, resin sealing is performed on the exterior. As shown in FIG. 3, for example, a metal capacitor electrode 21 is formed on both end surfaces, and a film capacitor element 23 having a lead wire 22 attached as a lead wire to the metal capacitor electrode 21 is provided in a case 24 having one opening. , And a sealing resin is injected into a void in the case 24, and the sealing resin is cured to form a sealing resin layer 25.

【0003】一般にこうした電子部品では、電気的不具
合を生じた時の保安装置を具備しておらず、万一電気的
不具合が発生した場合瞬間的に大電流が流れて電子部品
は熱的破壊を起こす。そうした熱的な破壊により大量の
燃焼ガスが発生する。
[0003] In general, such electronic components do not have a security device in the event of an electrical failure, and if an electrical failure occurs, a large current flows instantaneously and the electronic component is thermally damaged. Wake up. Such thermal destruction produces large amounts of combustion gases.

【0004】かかるために、樹脂で封止されたケース内
に複数の電子部品を配設するものについては、そのうち
の一つの電子部品に不具合が発生すると、瞬間的な大電
流による熱破壊により発生するガスがケース内部に圧縮
され、他の良品の電子部品にまで衝撃を与えるといった
問題があった。
[0004] For this reason, in the case where a plurality of electronic components are disposed in a case sealed with a resin, when one of the electronic components fails, the failure occurs due to instantaneous thermal destruction due to a large current. The resulting gas is compressed inside the case, causing a shock to other good electronic components.

【0005】さらに、熱破壊によりケース内に瞬間的に
発生したガスはケース内部全体に圧力を及ぼし、ガス圧
がもっとも圧力に弱い所に集中して放出となる。しかも
内部圧力が高くて集中放出となるため、充填した樹脂と
共に噴出する。その結果、噴出した樹脂とガスが飛び散
り、不具合を起こした電子部品の周辺の電子部品並びに
素子や基板等に損傷を与えるといった問題があり、かか
る問題を解決するために、ケースの一部にケースの肉厚
より薄くした弱点部を形成し、熱破壊によりケース内に
瞬間的に発生したガスをそこに集中させケースを破裂さ
せる方法がとられていた。
Further, the gas instantaneously generated in the case due to thermal destruction exerts a pressure on the entire inside of the case, and the gas is concentrated and discharged at a position where the gas pressure is weakest. In addition, since the internal pressure is high and the concentrated discharge is performed, it is ejected together with the filled resin. As a result, the ejected resin and gas are scattered, and there is a problem that electronic components, elements, substrates, etc. around the failed electronic component are damaged. A method has been adopted in which a weak point portion thinner than the wall thickness is formed, gas instantaneously generated in the case due to thermal destruction is concentrated there, and the case is ruptured.

【0006】しかしながら、部分的にケースの肉厚を薄
くした弱点部をもつものであっても、そのケース内に電
子部品素子を収納した後に電子部品素子全体が完全に浸
漬するよう封止用樹脂を充填して硬化する構造であるた
め、熱破壊によりケース内に瞬間的に発生したガスが、
充填して硬化した封止用樹脂層によって放出することを
抑制され、ケースの肉厚を薄くした部分にガス圧が到達
せず、発生したガスからみて最も強度の弱い部分に圧力
が集中し破裂し、その破裂する場所は一定していないた
め、基板の他の電子部品に損傷を与える等の問題が解消
されていなかった。
However, even if the case has a weak portion in which the thickness of the case is reduced in part, the sealing resin is completely immersed in the case after the electronic component is housed in the case. Is filled and hardened, the gas instantaneously generated in the case due to thermal destruction,
The release is suppressed by the filled and cured sealing resin layer, the gas pressure does not reach the part where the thickness of the case is thinned, and the pressure concentrates on the weakest part when viewed from the generated gas and ruptures However, since the location of the rupture is not fixed, problems such as damage to other electronic components of the substrate have not been solved.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】以上述べたように、従
来の電子部品では、電気的不具合が発生した場合、ガス
放出のための弱点部をケースに形成していても、熱破壊
により発生するガスが封止用樹脂層により放出すること
を抑制され、破裂する場所が一定しないといった問題点
があった。
As described above, in the conventional electronic parts, when an electrical failure occurs, even if a weak point for gas release is formed in the case, the failure is caused by thermal destruction. There has been a problem that the gas is suppressed from being released by the sealing resin layer, and the rupture location is not constant.

【0008】本発明は、上記問題点を解決するものであ
り、少なくとも1個の電子部品素子を収納したケース及
び封止用樹脂層に弱点部を設けることによって、熱破壊
によりケース内に瞬間的に発生したガスを放出するケー
スの破裂位置を決定し、同一回路を形成している他の電
子部品に損傷を与えることがない樹脂封止型電子部品を
提供することを目的とするものである。
The present invention solves the above-mentioned problems, and provides a case where at least one electronic component element is accommodated and a sealing resin layer with a weak point, so that the case is instantaneously inserted into the case due to thermal destruction. It is an object of the present invention to provide a resin-sealed electronic component that determines a rupture position of a case that emits gas generated in the same and does not damage other electronic components forming the same circuit. .

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、請求項1に記載の発明は、ケース内に、少なくと
も1個の電子部品素子を収納し、ケース空隙部に封止用
樹脂層を形成してなる電子部品において、前記ケースの
一部及び前記封止用樹脂層の一部が削除されていること
を特徴とする電子部品である。
According to a first aspect of the present invention, at least one electronic component element is accommodated in a case, and a sealing resin is provided in a cavity of the case. An electronic component comprising a layer, wherein a part of the case and a part of the sealing resin layer are deleted.

【0010】このような請求項1記載の電子部品によれ
ば、ケースに収納した電子部品又は2個以上の電子部品
素子を組み立てた電子部品素子群に電気的不具合が生
じ、過大電流により熱的な破壊を起こし大量のガスが発
生した場合でも、ケースの一部及び封止用樹脂層の一部
が削除されている構造であるため、発生したガスのガス
圧は必然的にケースの一部及び封止用樹脂層の一部が削
除された弱点部に向けられることとなり、ケースの破裂
位置を任意に決定でき、同一回路を形成している他の電
子部品に損傷を与えることがない。
According to the electronic component according to the first aspect of the present invention, an electrical defect occurs in the electronic component housed in the case or in the electronic component element group in which two or more electronic component elements are assembled. Even if a large amount of gas is generated due to severe destruction, part of the case and part of the sealing resin layer are deleted, so the gas pressure of the generated gas is necessarily part of the case. In addition, a part of the sealing resin layer is directed to the removed weak point, so that the rupture position of the case can be arbitrarily determined, and other electronic components forming the same circuit are not damaged.

【0011】請求項2に記載の発明は、電子部品素子を
作製する工程と、前記電子部品素子1個又は複数個をケ
ースに収納し、ケース空隙部に封止用樹脂層を形成する
工程と、前記ケース及び前記封止用樹脂層の一部を削除
する工程を順次経ることを特徴とする電子部品の製造方
法である。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a step of manufacturing an electronic component element, a step of storing one or a plurality of the electronic component elements in a case, and forming a sealing resin layer in a case gap. And a step of sequentially removing a part of the case and the sealing resin layer.

【0012】請求項2記載の電子部品の製造方法によれ
ば、ケース空隙部に封止用樹脂層を形成した後に、ケー
ス及び封止用樹脂層の一部を削除する工程を設けること
により、ケースだけでなく封止用樹脂層の一部をも削除
した弱点部を形成し、もって電気的不具合が生じた際、
ケースの一部及び封止用樹脂層の一部が削除されている
構造であるため、発生したガスのガス圧は必然的にケー
スの一部及び封止用樹脂層の一部が削除された弱点部に
向けられることとなり、ケースの破裂位置を任意に決定
でき、同一回路を形成している他の電子部品に損傷を与
えることがない樹脂封止型電子部品を容易に作製するこ
とができる。
According to the electronic component manufacturing method of the present invention, after the sealing resin layer is formed in the case gap, a step of partially removing the case and the sealing resin layer is provided. When a weak point is formed by removing not only the case but also a part of the sealing resin layer, when an electrical failure occurs,
Due to the structure in which a part of the case and a part of the sealing resin layer are deleted, the gas pressure of the generated gas is inevitably a part of the case and a part of the sealing resin layer deleted. Since it is directed to the weak point, the rupture position of the case can be arbitrarily determined, and a resin-sealed electronic component that does not damage other electronic components forming the same circuit can be easily manufactured. .

【0013】請求項3に記載の発明は、ケース及び封止
用樹脂層の一部を削除する工程において、機械的研削に
よりケース及び封止用樹脂層の一部を削除することを特
徴とする請求項2に記載の電子部品の製造方法であり、
機械的研削を用いることにより、生産効率よく本願の樹
脂封止型電子部品を製造することができる。
According to a third aspect of the present invention, in the step of removing a part of the case and the sealing resin layer, a part of the case and the sealing resin layer is removed by mechanical grinding. A method for manufacturing an electronic component according to claim 2,
By using mechanical grinding, the resin-sealed electronic component of the present application can be manufactured with high production efficiency.

【0014】請求項4に記載の発明は、ケース及び封止
用樹脂層の一部を削除する工程において、ヒートプレス
によりケース及び封止用樹脂層の一部を削除することを
特徴とする請求項2に記載の電子部品の製造方法であ
り、ヒートプレスを用いることにより、生産効率よく本
願の樹脂封止型電子部品を製造することができる。
According to a fourth aspect of the present invention, in the step of removing a part of the case and the sealing resin layer, a part of the case and the sealing resin layer is removed by a heat press. Item 2. The method for manufacturing an electronic component according to Item 2, wherein the resin-sealed electronic component of the present application can be manufactured with high production efficiency by using a heat press.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】請求項1記載の発明は、ケース内
に、少なくとも1個の電子部品素子を収納し、ケース空
隙部に封止用樹脂層を形成してなる電子部品において、
前記ケースの一部及び前記封止用樹脂層の一部が削除さ
れていることを特徴とする電子部品である。
The invention according to claim 1 is an electronic component comprising at least one electronic component element housed in a case and a sealing resin layer formed in a cavity of the case.
An electronic component, wherein a part of the case and a part of the sealing resin layer are deleted.

【0016】このような請求項1記載の電子部品では、
ケースに収納した電子部品又は2個以上の電子部品素子
を組み立てた電子部品素子群に電気的不具合が生じ、過
大電流により熱的な破壊を起こし大量のガスが発生した
場合でも、ケースの一部及び封止用樹脂層の一部が削除
された弱点部が設けられているため、発生したガスのガ
ス圧は必然的に弱点部に向けられることとなり、ケース
の破裂位置を任意に決定でき、同一回路を形成している
他の電子部品に損傷を与えることがない。
In the electronic component according to the first aspect,
Even if an electrical failure occurs in the electronic components housed in the case or in the electronic component group assembled with two or more electronic components, and a large amount of gas is generated due to thermal breakdown due to excessive current, a part of the case And because the weak point portion is provided in which a part of the sealing resin layer is deleted, the gas pressure of the generated gas is necessarily directed to the weak point portion, and the rupture position of the case can be determined arbitrarily, There is no damage to other electronic components forming the same circuit.

【0017】ここで、ケースは樹脂ケース,金属ケース
等、適宜選択可能で、形状も角形(箱形),丸形(円柱
形)等、適宜選択可能である。
Here, the case can be appropriately selected from a resin case, a metal case, and the like, and the shape can be appropriately selected from a square (box), a round (column), and the like.

【0018】弱点部を設ける場所としては、例えば角形
ケースでは、角形ケースの角の部分の少なくとも一つ以
上、もしくは、少なくとも一つ以上の稜線部の一部又は
全部,さらには、少なくとも一つ以上の面の一部等が考
えられる。
As a place where the weak point is provided, for example, in the case of a square case, at least one or more of the corners of the square case, a part or all of at least one or more ridges, or at least one or more of the ridges A part of the surface can be considered.

【0019】請求項2に記載の発明は、電子部品素子を
作製する工程と、前記電子部品素子1個又は複数個をケ
ースに収納し、ケース空隙部に封止用樹脂層を形成する
工程と、前記ケース及び前記封止用樹脂層の一部を削除
する工程を順次経ることを特徴とする電子部品の製造方
法であり、ケース空隙部に封止用樹脂層を形成する工程
の後にケース及び封止用樹脂層の一部を削除する工程を
設けることにより、弱点部形成を容易に行うことができ
る。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a step of manufacturing an electronic component element, a step of storing one or a plurality of the electronic component elements in a case, and forming a sealing resin layer in a case gap. A method of manufacturing an electronic component, which sequentially includes a step of partially removing the case and the sealing resin layer, wherein the case and the case are formed after the step of forming the sealing resin layer in the case gap. By providing a step of removing a part of the sealing resin layer, the weak point portion can be easily formed.

【0020】請求項3に記載の発明は、前記ケース及び
前記封止用樹脂層の一部を削除する工程において、機械
的研削により封止用樹脂層の一部を削除することを特徴
とする請求項2に記載の電子部品の製造方法であり、機
械的研削を用いることにより、生産効率よく本願の樹脂
封止型電子部品を製造することができる。
According to a third aspect of the present invention, in the step of removing a part of the case and the sealing resin layer, a part of the sealing resin layer is removed by mechanical grinding. A method for manufacturing an electronic component according to claim 2, wherein the resin-sealed electronic component of the present invention can be manufactured with high production efficiency by using mechanical grinding.

【0021】請求項4に記載の発明は、前記ケース及び
前記封止用樹脂層の一部を削除する工程において、ヒー
トプレスにより封止用樹脂層の一部を削除することを特
徴とする請求項2に記載の電子部品の製造方法であり、
ヒートプレスを用いることにより、生産効率よく本願の
樹脂封止型電子部品を製造することができる。
According to a fourth aspect of the present invention, in the step of removing a part of the case and the sealing resin layer, a part of the sealing resin layer is removed by a heat press. Item 12. A method for manufacturing an electronic component according to Item 2,
By using a heat press, the resin-sealed electronic component of the present application can be manufactured with high production efficiency.

【0022】[0022]

【実施例】以下、本発明の電子部品について、図面を参
照して説明する。図1,2は本発明の一例を示す断面
図,斜視図である。両端面にメタリコン電極1を形成
し、このメタリコン電極1にリード線2を取着した電子
部品素子3を、樹脂からなる有底角形ケース4に、リー
ド線2が有底角形ケース4の開口部から導出されるよう
に収納する。その後この電子部品素子3が収納された有
底角形ケース4内の空隙部に封止用樹脂を注入し、封止
用樹脂を硬化し封止用樹脂層5を形成する。さらに、回
転研磨機を用いて有底角形ケース4の角部を内部の封止
用樹脂層5の一部まで削り取り、弱点部6を形成し完成
品として成る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an electronic component according to the present invention will be described with reference to the drawings. 1 and 2 are a sectional view and a perspective view showing an example of the present invention. Metallicon electrodes 1 are formed on both end surfaces, and an electronic component element 3 having a lead wire 2 attached to the metallikon electrode 1 is placed in a bottomed rectangular case 4 made of resin. Housed as derived from Thereafter, a sealing resin is injected into a void portion in the bottomed rectangular case 4 in which the electronic component element 3 is stored, and the sealing resin is cured to form a sealing resin layer 5. Further, the corner portion of the bottomed rectangular case 4 is cut down to a part of the inner sealing resin layer 5 using a rotary polishing machine to form a weak point portion 6 to obtain a finished product.

【0023】上記実施例による電子部品によれば、電子
部品素子3に電気的不具合が生じ、過大電流により熱的
な破壊を起こし大量のガスが発生した場合でも、発生し
たガスのガス圧は必然的に弱点部6に向けられ、ケース
の破裂位置を任意に決定でき、同一回路を形成している
他の電子部品に損傷を与えることがない。
According to the electronic component according to the above embodiment, even when an electrical defect occurs in the electronic component element 3 and thermal breakdown occurs due to an excessive current and a large amount of gas is generated, the gas pressure of the generated gas is inevitable. It is directed to the weak point 6, and the rupture position of the case can be arbitrarily determined, so that other electronic components forming the same circuit are not damaged.

【0024】ここで、上記実施例では回転研磨機による
機械的研削により弱点部を形成しているが、ヒートプレ
ス等により弱点部を形成することができる。また、弱点
部を設ける場所はケースの角部に限らず、ケースの稜線
部の一部やケースの底面もしくは側面の一部等、適宜設
定することができる。その場合、ケースの角部や稜線部
に弱点部を形成するときは機械的研削、面の一部に弱点
部を形成するときはヒートプレスというように形成方法
を適宜選択することにより、容易に弱点部を形成するこ
とができる。
Here, in the above embodiment, the weak point is formed by mechanical grinding using a rotary polishing machine, but the weak point can be formed by heat pressing or the like. Further, the place where the weak point is provided is not limited to the corner of the case, but may be appropriately set such as a part of a ridge of the case, a part of a bottom surface or a side surface of the case. In that case, by suitably selecting a forming method such as mechanical grinding when forming a weak point at the corner or ridge of the case, and heat pressing when forming a weak point on a part of the surface, easily. Weak points can be formed.

【0025】[0025]

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、電
気的不具合によって樹脂ケース内に瞬間的に発生したガ
スを容易に放出し、且つ、発生したガスを放出するケー
スの破裂位置を決定し、同一回路を形成している他の電
子部品に損傷を与えることがない電子部品を提供するこ
とができる。
As described above, according to the present invention, the gas instantaneously generated in the resin case due to an electrical failure is easily released, and the rupture position of the case for releasing the generated gas is determined. It is possible to provide an electronic component that is determined and does not damage other electronic components forming the same circuit.

【0026】なお、本発明は樹脂封止型電子部品におい
て設けられた弱点部及びその製造方法に関するものであ
り、樹脂封止型電子部品の形状、大きさ、電子部品自体
の製造方法等は適宜選択可能である。
The present invention relates to a weak portion provided in a resin-sealed electronic component and a method of manufacturing the same, and the shape and size of the resin-sealed electronic component, a method of manufacturing the electronic component itself, and the like are appropriately determined. Can be selected.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例に係わる電子部品を示す断面図FIG. 1 is a sectional view showing an electronic component according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施例に係わる電子部品を示す斜視図FIG. 2 is a perspective view showing an electronic component according to the embodiment of the present invention.

【図3】従来例に係わる断面図FIG. 3 is a cross-sectional view according to a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 メタリコン電極 2 リード線 3 電子部品素子 4 有底角形ケース 5 封止用樹脂層 6 弱点部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Metallicon electrode 2 Lead wire 3 Electronic component element 4 Square case with bottom 5 Resin layer for sealing 6 Weak point

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ケース内に、少なくとも1個の電子部品
素子を収納し、ケース空隙部に封止用樹脂層を形成して
なる電子部品において、前記ケースの一部及び前記封止
用樹脂層の一部が削除されていることを特徴とする電子
部品。
1. An electronic component comprising at least one electronic component element housed in a case and a sealing resin layer formed in a case gap, wherein a part of the case and the sealing resin layer are provided. An electronic component, wherein a part of the electronic component is deleted.
【請求項2】 電子部品素子を作製する工程と、前記電
子部品素子1個又は複数個をケースに収納し、ケース空
隙部に封止用樹脂層を形成する工程と、前記ケース及び
前記封止用樹脂層の一部を削除する工程を順次経ること
を特徴とする電子部品の製造方法。
2. A step of manufacturing an electronic component element, a step of housing one or more of the electronic component elements in a case, and forming a sealing resin layer in a case gap, and the case and the sealing. A process for sequentially removing a part of the resin layer for electronic components.
【請求項3】 前記ケース及び前記封止用樹脂層の一部
を削除する工程において、機械的研削によりケース及び
封止用樹脂層の一部を削除することを特徴とする請求項
2に記載の電子部品の製造方法。
3. The method according to claim 2, wherein in the step of removing a part of the case and the sealing resin layer, a part of the case and the sealing resin layer is removed by mechanical grinding. Electronic component manufacturing method.
【請求項4】 前記ケース及び前記封止用樹脂層の一部
を削除する工程において、ヒートプレスによりケース及
び封止用樹脂層の一部を削除することを特徴とする請求
項2に記載の電子部品の製造方法。
4. The method according to claim 2, wherein in the step of removing a part of the case and the sealing resin layer, a part of the case and the sealing resin layer is removed by a heat press. Manufacturing method of electronic components.
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