JP2002328106A - Thermostat - Google Patents

Thermostat

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JP2002328106A
JP2002328106A JP2001134922A JP2001134922A JP2002328106A JP 2002328106 A JP2002328106 A JP 2002328106A JP 2001134922 A JP2001134922 A JP 2001134922A JP 2001134922 A JP2001134922 A JP 2001134922A JP 2002328106 A JP2002328106 A JP 2002328106A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a thermostat capable of controlling a temperature of an object quickly and precisely, and excellent in productivity, by changing the temperature of the object using intermetallic heat conduction excellent in heat conduction efficiency. SOLUTION: In this thermostat 1, a tunnel structure 83 using aluminum alloy or the like excellent in heat conductivity is covered with a heat-insulation cover 70 for shielding heat conduction and heat radiation and for precluding natural convection to the utmost to conduct efficient heat insulation against a periphery, and a carrier 20 mounted with the object is moved inside a tunnel 82 by a carrier conveying device 30.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、恒温装置に関し、
特に、対象物への熱伝達を、トンネル構造を有する加熱
手段及び/又は冷却手段からの金属間熱伝導により行う
ことによって、対象物の温度制御を、高速かつ高精度で
行うことの可能な恒温装置に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a thermostat,
In particular, by transferring heat to the object by heat conduction between metals from a heating unit and / or a cooling unit having a tunnel structure, the temperature of the object can be controlled at high speed and with high accuracy. Related to the device.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子部品のなかには、たとえば、水晶振
動子やサーミスタのように電子部品を所定の温度にし
て、この所定の温度下において、温度特性を測定するこ
とによって、品質保証が可能となる電子部品がある。ま
た、このような温度特性に関する測定あるいは検査など
を行う際、対象物によっては、対象物の温度制御(対象
物を加熱及び冷却することにより、設定温度とするこ
と。)を精度良く行わなければならない場合がある。こ
のような場合に、たとえば、対象物を直接加熱器などに
載置して加熱して温度制御しても、対象物の上面や側面
からの放熱のため、対象物の温度制御を精度良く行うこ
とはできない。
2. Description of the Related Art Among electronic components, quality assurance can be assured by setting electronic components such as quartz oscillators and thermistors to a predetermined temperature and measuring temperature characteristics at the predetermined temperature. There are electronic components. In addition, when performing measurement or inspection related to such temperature characteristics, depending on the target object, it is necessary to accurately control the temperature of the target object (by heating and cooling the target object to set the temperature to the set temperature). May not be. In such a case, for example, even if the object is directly placed on a heater or the like and heated to control the temperature, the temperature of the object is accurately controlled for heat radiation from the upper surface or side surface of the object. It is not possible.

【0003】このため、従来、温度特性に関する測定あ
るいは検査などを行う必要のある対象物は、一般的に恒
温槽からなる恒温装置に投入され、温度制御が行われて
きた。この恒温槽は、通常、気体もしくは液体といった
槽内の流体を熱媒体として、この流体を設定温度で安定
化させ、流体からの対流熱伝達によって対象物の温度制
御を行う構成としてある。また、流体からの対流熱伝達
を利用した恒温槽は、槽の中で熱媒体の温度が一定温度
で安定すれば対象物の温度も一定温度で安定すると考え
られるので、ある程度精度の高い温度条件(許容誤差±
0.5℃程度)を設定することができた。
For this reason, conventionally, an object which needs to be measured or inspected for temperature characteristics has been generally thrown into a thermostat comprising a thermostat to control the temperature. The thermostatic bath is generally configured to use a fluid in the bath such as a gas or a liquid as a heat medium, stabilize the fluid at a set temperature, and control the temperature of the object by convective heat transfer from the fluid. In addition, in a thermostatic oven using convection heat transfer from a fluid, if the temperature of the heat medium is stabilized at a constant temperature in the bath, the temperature of the target object will also be stabilized at a constant temperature. (Tolerance ±
(About 0.5 ° C.).

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、気体を用い
た気槽方式の恒温装置の場合、恒温槽内部の気体の温度
安定化に時間がかかるといった問題があった。たとえ
ば、気槽方式の恒温装置は、たとえば、約−35℃で温
度特性試験を行う対象物を投入するために、常温から温
度を下げてゆくと、槽内温度を常温から−35℃まで冷
却するのに1時間程度かかる。
However, in the case of a gas bath type thermostat using gas, there has been a problem that it takes time to stabilize the temperature of the gas inside the thermostat. For example, a constant temperature device of an air tank system, for example, cools down the temperature in the tank from room temperature to -35 ° C. when the temperature is lowered from room temperature in order to put an object to be subjected to a temperature characteristic test at about −35 ° C. It takes about an hour to do it.

【0005】また、気槽方式の恒温槽は、熱媒体である
気体から対象物への熱伝達に時間がかかるといった問題
があった。なお、液槽方式の恒温槽は、対象物への熱伝
達の時間が短縮されるものの、液体を洗い流すための洗
浄工程が必要となったり、対象物が、液体に漬けること
のできない、いわゆる、洗浄不可部品の場合には、液槽
方式の恒温槽を用いることができないといった制約があ
った。
[0005] Further, the air bath type constant temperature bath has a problem that it takes time to transfer heat from a gas as a heat medium to an object. In addition, although the time of heat transfer to the object is shortened in the liquid bath type constant temperature bath, a washing step for washing away the liquid is required, or the object cannot be immersed in the liquid, so-called, In the case of non-washable parts, there is a restriction that a liquid bath type constant temperature bath cannot be used.

【0006】また、気槽方式の恒温槽の温度安定性は、
通常、±0.5℃程度なので、温度計で小数点以下第一
位までの温度を実測し、その値で特性試験を行わなけれ
ばならず、温度制御の精度が低いといった問題があっ
た。また、一般的に、恒温槽内の温度分布を±0.5℃
以内に収めるためには、対象物の配置や、ファンの風量
および風向きを調整し、温度分布に関する評価試験を行
う必要があり、この調整作業や評価試験に多大な労力を
必要とするといった問題があった。
[0006] The temperature stability of the air bath type thermostat is as follows.
Since the temperature is usually about ± 0.5 ° C., the temperature must be measured to the first decimal place with a thermometer, and a characteristic test must be performed using the measured value. Also, generally, the temperature distribution in the thermostat is set to ± 0.5 ° C.
Within this range, it is necessary to adjust the arrangement of the objects, the air volume and direction of the fan, and to conduct an evaluation test on the temperature distribution, and this adjustment work and the evaluation test require a great deal of labor. there were.

【0007】なお、温度特性試験に使用される恒温装置
が、複数の測定温度で特性を測定する場合には、一台の
気槽方式の恒温槽を用いたのでは、上述したように、槽
内部の気体の温度安定化に時間がかかってしまう。この
ため、図16に示すように、測定温度の数だけ気槽方式
の恒温槽101をつなげて、ラインコンベア102など
によりインライン化した構造の恒温装置100が使用さ
れてきた。しかしながら、この恒温装置100は、各恒
温槽101が気体からの対流熱伝達によって対象物の温
度制御を行う構成としているため、対象物が目標温度に
到達するまでに、約10分以上かかり、生産性が悪いと
いった問題があった。また、投入する対象物の数量を増
加させようとすると、恒温装置100が大型化してしま
うといった問題もあった。
[0007] When the thermostatic device used for the temperature characteristic test measures the characteristics at a plurality of measurement temperatures, if a single air bath type thermostat is used, as described above, It takes time to stabilize the temperature of the internal gas. For this reason, as shown in FIG. 16, a constant temperature apparatus 100 having a structure in which air tank type constant temperature vessels 101 are connected by the number of measurement temperatures and in-lined by a line conveyor 102 or the like has been used. However, since the thermostat 100 is configured such that each thermostat 101 controls the temperature of the object by convective heat transfer from gas, it takes about 10 minutes or more before the object reaches the target temperature, and the There was a problem of poor sex. In addition, there is a problem that the size of the thermostat 100 is increased when an attempt is made to increase the number of objects to be charged.

【0008】本発明は、上記の問題を解決すべくなされ
たものであり、熱伝達効率の高い金属間熱伝導を利用し
て対象物の温度を変化させることで、高速かつ高精度に
対象物の温度制御を行うことができ、かつ、生産性に優
れた恒温装置の提供を目的としている。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problem, and changes the temperature of an object by utilizing intermetallic heat conduction having high heat transfer efficiency, thereby achieving high-speed and high-precision object. It is an object of the present invention to provide a constant temperature apparatus which can control the temperature of the apparatus and which is excellent in productivity.

【0009】なお、特開昭60−107117号公報に
おいて、被温度制御体の周囲をほぼ囲む熱導体、被温度
制御体と熱導体との間に設けられ、熱導体よりも熱伝導
率の低い熱緩衝体、および熱導体の外周に設けられる断
熱体を備えた恒温装置の技術が開示されており、この技
術は、面接触による熱伝導により、対象物を高速に温度
制御できる技術ではあるものの、上記課題を解決するこ
とはできない。また、特開平03−006475号公報
において、被測定物自体に温度センサをつける技術が開
示されており、この技術は、対象物を精度良く温度制御
できる技術ではあるものの、上記課題を解決することは
できない。
In Japanese Unexamined Patent Publication No. Sho 60-107117, a heat conductor substantially surrounding a temperature-controlled body, provided between the temperature-controlled body and the heat conductor, and having a lower thermal conductivity than the heat conductor. A technology of a thermostatic device including a heat buffer and a heat insulator provided on an outer periphery of a heat conductor is disclosed.This technology is a technology capable of controlling the temperature of an object at high speed by heat conduction by surface contact. However, the above problems cannot be solved. Further, Japanese Patent Application Laid-Open No. 03-006475 discloses a technique for attaching a temperature sensor to an object to be measured itself, and this technique is capable of accurately controlling the temperature of an object, but solves the above problem. Can not.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明の請求項1記載の恒温装置は、温度制御され
る対象物を搬送するための搬送手段と、この搬送手段に
よって前記対象物が搬送されるトンネル構造を有する加
熱手段及び/又は冷却手段とを備えた恒温装置であっ
て、前記対象物が前記加熱手段及び/又は冷却手段と接
触することによる熱伝導、あるいは、前記対象物が前記
加熱手段及び/又は冷却手段と接触した前記搬送手段と
接触することによる熱伝導によって、前記対象物が温度
制御される構成としてある。このようにすると、接触に
よる熱伝導によって、高速かつ高精度に対象物の温度制
御を行うことができ、さらに、トンネル内を対象物が搬
送されるので、連続搬送が可能となり生産性を向上させ
ることができる。
To achieve this object, a constant temperature apparatus according to a first aspect of the present invention comprises a conveying means for conveying an object whose temperature is to be controlled, and the object by the conveying means. A heating unit and / or a cooling unit having a tunnel structure through which the object is transported, wherein the object is in contact with the heating unit and / or the cooling unit, and heat conduction or the object is provided. Is configured such that the temperature of the object is controlled by heat conduction caused by contact with the transfer unit that has contacted the heating unit and / or the cooling unit. By doing so, the temperature of the object can be controlled at high speed and with high accuracy by the heat conduction by contact, and furthermore, the object is transported in the tunnel, so that continuous transport becomes possible and the productivity is improved. be able to.

【0011】なお、本明細書において、「熱伝導」と
は、物体の内部を熱が分子運動によって、一つの部分か
らそれに接する他の部分に次々と伝わる現象をいい、接
触している物体であれば、異なる物体間を熱が伝わる現
象をも含めるものとする。
[0011] In this specification, the term "thermal conduction" refers to a phenomenon in which heat is transferred from one part to another in contact with the inside of an object by molecular motion. If so, the phenomenon that heat is transferred between different objects is included.

【0012】また、請求項2記載の発明は、上記請求項
1記載の恒温装置において、前記熱伝導を金属間熱伝導
とした構成としてある。このようにすると、金属の高い
熱伝導率によって、より高速かつ高精度に対象物の温度
制御を行うことができる。
The invention according to claim 2 is the constant temperature device according to claim 1, wherein the heat conduction is intermetallic heat conduction. In this case, the temperature of the object can be controlled at higher speed and with higher accuracy due to the high thermal conductivity of the metal.

【0013】また、請求項3記載の発明は、上記請求項
1又は2記載の恒温装置において、前記加熱手段及び/
又は冷却手段と、当該加熱手段及び/又は冷却手段を覆
う断熱カバーとの隙間を最小隙間とした構成としてあ
り、また、請求項4記載の発明は、上記請求項3記載の
恒温装置において、前記断熱カバーの表面を、鏡面又は
鏡面に近い状態とした構成としてあり、さらに、請求項
5記載の発明は、請求項1〜4のいずれかに記載の恒温
装置において、前記トンネル構造と前記搬送手段との隙
間を最小隙間とした構成としてある。このように、加熱
手段及び/又は冷却手段から対象物までの隙間を最小隙
間とすることにより、隙間の気体により温度制御が不安
定化する不具合を防止することができる。また、断熱カ
バーの表面を、鏡面又は鏡面に近い状態とすることによ
り、表面からの輻射熱を低減できる。
According to a third aspect of the present invention, in the thermostatic apparatus according to the first or second aspect, the heating means and / or
Alternatively, the gap between the cooling means and the heat insulating cover covering the heating means and / or the cooling means is configured to be a minimum gap, and the invention according to claim 4 is the thermostatic apparatus according to claim 3, wherein The surface of the heat insulating cover is configured to be a mirror surface or a state close to a mirror surface, and the invention according to claim 5 is the constant temperature device according to any one of claims 1 to 4, wherein the tunnel structure and the transport means are provided. Is set as a minimum gap. As described above, by setting the gap from the heating unit and / or the cooling unit to the target to be the minimum gap, it is possible to prevent the temperature control from becoming unstable due to the gas in the gap. Further, by setting the surface of the heat insulating cover to a mirror surface or a state close to the mirror surface, radiant heat from the surface can be reduced.

【0014】また、請求項6記載の発明は、上記請求項
1〜5のいずれかに記載の恒温装置において、前記加熱
手段及び/又は冷却手段を複数備えた構成としてある。
このようにすると、恒温装置内に複数の温度領域を確保
することができ、温度変化を緩やかに設定したり、ある
いは、一台の恒温装置で、複数の設定温度における温度
特性を測定することができる。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided the constant temperature apparatus according to any one of the first to fifth aspects, wherein a plurality of the heating means and / or the cooling means are provided.
In this way, a plurality of temperature regions can be secured in the thermostat, and the temperature change can be set gently, or one thermostat can measure temperature characteristics at a plurality of set temperatures. it can.

【0015】また、請求項7記載の発明は、上記請求項
1〜6のいずれかに記載の恒温装置において、前記搬送
手段が、前記対象物を収納し前記トンネル構造内を移動
するキャリアと、このキャリアを搬送するキャリア搬送
装置とからる構成としてある。このようにすると、対象
物は、キャリアを介して熱伝導されるので、高速かつ高
精度の温度制御を行うことができ、また、キャリアを連
続投入することにより、恒温装置の生産能力を高めるこ
とができる。
According to a seventh aspect of the present invention, in the constant temperature apparatus according to any one of the first to sixth aspects, the transport means includes a carrier that accommodates the object and moves in the tunnel structure. The carrier transport device transports the carrier. In this case, since the object is thermally conducted through the carrier, high-speed and high-precision temperature control can be performed, and by continuously charging the carrier, the production capacity of the thermostat can be increased. Can be.

【0016】また、請求項8記載の発明は、上記請求項
7記載の恒温装置において、前記キャリア搬送装置の搬
送用ピンが、前記キャリアに穿設された送りピン穴に挿
入されて移動することにより、前記キャリアがピッチ送
りされる構成としてある。このようにすると、キャリア
に搭載された対象物もピッチ送りされ、順次同じ位置に
対象物が移動してくるので、測定用プローブをキャリア
の動作と連動させることにより、測定用プローブの制御
を容易に行うことができる。
According to an eighth aspect of the present invention, in the thermostatic apparatus according to the seventh aspect, the transport pins of the carrier transport device are moved by being inserted into feed pin holes formed in the carrier. Thus, the carrier is pitch-fed. In this case, the object mounted on the carrier is also pitch-fed, and the object sequentially moves to the same position. Therefore, the control of the measurement probe is facilitated by linking the measurement probe with the operation of the carrier. Can be done.

【0017】また、請求項9記載の発明は、上記請求項
8記載の恒温装置において、前記搬送用ピンが移動す
る、前記加熱手段及び/又は冷却手段に形成された開口
部を遮蔽するための空気遮断装置を備えた構成としてあ
る。このようにすると、加熱手段及び/又は冷却手段と
キャリアとの間の空気が、外気と置換されないので、対
象物の温度制御の精度をより高めることができる。
According to a ninth aspect of the present invention, in the thermostatic apparatus according to the eighth aspect, an opening formed in the heating means and / or the cooling means, in which the transfer pin moves, is provided. The configuration is provided with an air shutoff device. With this configuration, the air between the heating unit and / or the cooling unit and the carrier is not replaced with the outside air, so that the accuracy of the temperature control of the object can be further improved.

【0018】また、請求項10記載の発明は、上記請求
項1〜9のいずれかに記載の恒温装置において、前記加
熱手段及び/又は冷却手段をペルチェ素子とした構成と
してある。このようにすると、特に、冷却する場合に、
短時間で所定の冷却温度まで、冷却することができる。
According to a tenth aspect of the present invention, in the constant temperature apparatus according to any one of the first to ninth aspects, the heating means and / or the cooling means is a Peltier element. In this way, especially when cooling,
It can be cooled to a predetermined cooling temperature in a short time.

【0019】また、請求項11記載の発明は、上記請求
項1〜10のいずれかに記載の恒温装置において、前記
対象物の温度特性を測定する測定用プローブを備えた構
成としてある。このようにすると、測定温度となった対
象物を、恒温装置から取り外さなくても、温度特性を測
定することができるので、生産性を高めることができ
る。
The invention according to claim 11 is the constant temperature apparatus according to any one of claims 1 to 10, further comprising a measuring probe for measuring a temperature characteristic of the object. With this configuration, the temperature characteristic can be measured without removing the target object at the measurement temperature from the thermostat, so that productivity can be improved.

【0020】また、請求項12記載の発明は、上記請求
項11記載の恒温装置において、前記加熱手段及び/又
は冷却手段に形成された前記測定用プローブの挿入口
に、外気から遮断された空気室を形成した構成としてあ
る。このようにすると、温度制御されている対象物が、
外気に直接触れないので、温度制御の精度をより高める
ことができる。
According to a twelfth aspect of the present invention, in the thermostatic apparatus according to the eleventh aspect, air blocked from outside air is inserted into the insertion port of the measuring probe formed in the heating means and / or the cooling means. It has a configuration in which a chamber is formed. In this way, the object whose temperature is controlled is
Since it does not directly touch the outside air, the accuracy of temperature control can be further improved.

【0021】また、請求項13記載の発明は、上記請求
項11又は12記載の恒温装置において、前記測定用プ
ローブを複数配設した構成としてある。このようにする
と、対象物が複数の計測温度を有する場合であっても、
計測温度に対応した測定用プローブで順次計測すること
ができる。
According to a thirteenth aspect of the present invention, in the thermostatic apparatus according to the eleventh or twelfth aspect, a plurality of the measurement probes are provided. With this configuration, even when the target object has a plurality of measured temperatures,
Measurement can be performed sequentially with a measurement probe corresponding to the measurement temperature.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】以下、本発明の恒温装置の各実施
形態について、図面を参照して説明する。 [第一実施形態]図1は、本発明の第一実施形態に係る
恒温装置の基本構成を説明するための概略斜視図を示し
ている。また、図2は、本実施形態に係る恒温装置の概
略正面図を示しており、図3は、同じく本実施形態に係
る恒温装置の概略平面を示している。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. [First Embodiment] FIG. 1 is a schematic perspective view for explaining a basic configuration of a constant temperature apparatus according to a first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a schematic front view of the thermostat according to the present embodiment, and FIG. 3 is a schematic plan view of the thermostat according to the present embodiment.

【0023】図1,図2,図3において、恒温装置1
は、トンネル構造を有する恒温槽10と、対象物(水晶
振動子)を搭載し、恒温槽10のトンネル内を移動する
キャリア20と、トンネル内のキャリア20を移動する
キャリア搬送装置30と、スライド装置41により上下
方向に移動自在に支持され、水晶振動子の周波数特性を
測定する測定用プローブ40と、恒温槽10の下方に配
設され、ペルチェ素子の加熱面の冷却を行う冷却ユニッ
ト50と、恒温槽10の両側に配設された台座60とか
らなっている。
In FIG. 1, FIG. 2 and FIG.
Includes a thermostat 10 having a tunnel structure, a carrier 20 on which an object (crystal oscillator) is mounted and moves in a tunnel of the thermostat 10, a carrier transport device 30 moving the carrier 20 in the tunnel, and a slide. A measuring probe 40 movably supported in the vertical direction by the device 41 for measuring the frequency characteristics of the quartz oscillator, and a cooling unit 50 disposed below the constant temperature bath 10 for cooling the heating surface of the Peltier element. And a pedestal 60 disposed on both sides of the thermostat 10.

【0024】ここで、恒温装置1は、温度制御される対
象物を水晶振動子としており、温度特性試験を行うため
に、水晶振動子を−35℃以下の温度に冷却する。な
お、このように冷却する場合、恒温装置1は、図示して
ないが、装置全体をカバーで覆い、ドライエアを充填す
ることにより、結露防止を行っている。また、本発明に
おける恒温装置は、対象物を水晶振動子に限定するもの
ではなく、たとえば、コンデンサ、光半導体素子等の温
度特性試験を要するものでもよく、また、測定対象も周
波数特性に限られるものでないことは勿論であり、本発
明の技術思想の範囲内において、対象物を適宜変更でき
る。
Here, in the thermostat 1, the object whose temperature is to be controlled is a quartz oscillator, and the quartz oscillator is cooled to a temperature of -35 ° C. or lower in order to perform a temperature characteristic test. In this case, although not shown, the constant temperature device 1 covers the entire device with a cover, and is filled with dry air to prevent dew condensation. Further, the thermostatic apparatus according to the present invention is not limited to an object to be a quartz oscillator, but may be, for example, a device that requires a temperature characteristic test of a capacitor, an optical semiconductor element, and the like, and an object to be measured is also limited to a frequency characteristic. It is needless to say that the object can be appropriately changed within the technical idea of the present invention.

【0025】次に、恒温槽10および冷却ユニット50
について、図面を参照して説明する。図4は、図3のA
−A線に沿った概略側断面図を示しており、図5は、図
4の恒温槽10の概略拡大図を示している。また、図6
は、恒温槽および冷却ユニットの概略分解図を示してい
る。
Next, the thermostat 10 and the cooling unit 50
Will be described with reference to the drawings. FIG.
FIG. 5 shows a schematic side cross-sectional view along the line A, and FIG. 5 shows a schematic enlarged view of the thermostat 10 of FIG. 4. FIG.
Shows a schematic exploded view of the thermostat and the cooling unit.

【0026】図4において、恒温槽10の下に配設され
た冷却ユニット50は、ペルチェ素子81の下面と接触
して配設された水冷ジャケット51と、この水冷ジャケ
ット51に外部から冷却水を循環するための断熱ホース
52と、水冷ジャケット51および断熱ホース52を覆
う断熱材53とからなっている。この冷却ユニット50
は、水冷ジャケット方式で内部を冷却水が流れており、
外部にて冷却水を冷却し循環する方式がとられている。
なお、トンネル構造体83の下面と水冷ユニット50の
間には、空気の自然対流を防ぐため、断熱材76が挿入
されている。
In FIG. 4, a cooling unit 50 disposed below the thermostat 10 includes a water-cooling jacket 51 disposed in contact with the lower surface of the Peltier element 81 and cooling water from the outside to the water-cooling jacket 51. A heat insulating hose 52 for circulation and a heat insulating material 53 covering the water cooling jacket 51 and the heat insulating hose 52 are provided. This cooling unit 50
, Cooling water flows inside with a water cooling jacket method,
A system is used in which cooling water is cooled and circulated outside.
A heat insulating material 76 is inserted between the lower surface of the tunnel structure 83 and the water cooling unit 50 to prevent natural convection of air.

【0027】また、水冷ジャケット51は、図6に示す
ように、搬送方向に三つ並べて配設してあり、各水冷ジ
ャケット51の水温や流量を変えることにより、冷却性
能を調整できる構成としてある。このようにすると、恒
温槽10は、搬送方向の異なる位置、たとえば、入口付
近,中央部及び出口付近といった位置を、異なる温度に
設定する場合、各水冷ジャケット51の冷却性能を調整
することにより、温度設定を容易に行うことができる。
なお、水冷ジャケット51の数量は、三つに限定するも
のではなく、冷却条件などによって増減することができ
る。この冷却ユニット50は、上面が冷却されかつ下面
が加熱するペルチェ素子81の下面と面接触しており、
ペルチェ素子81の下面を強制冷却する。
As shown in FIG. 6, three water cooling jackets 51 are arranged side by side in the transport direction, and the cooling performance can be adjusted by changing the water temperature and flow rate of each water cooling jacket 51. . In this way, the thermostat 10 adjusts the cooling performance of each water-cooling jacket 51 when different positions in the transport direction, for example, positions near the entrance, near the center, and near the exit, are set to different temperatures. Temperature setting can be easily performed.
Note that the number of the water cooling jackets 51 is not limited to three, but can be increased or decreased depending on cooling conditions and the like. The cooling unit 50 is in surface contact with the lower surface of the Peltier element 81 whose upper surface is cooled and whose lower surface is heated,
The lower surface of the Peltier element 81 is forcibly cooled.

【0028】図5において、恒温槽10は、断熱カバー
70と冷却手段80とからなっている。ここで、冷却手
段80は、通電することにより上面が冷却され下面が加
熱されるペルチェ素子81と、ペルチェ素子81の冷却
面(上面)と面接触し、トンネル82が形成されたトン
ネル構造体83とからなっている。このようにすると、
対象物は、冷却手段としてのトンネル構造体83と接触
した、搬送手段としてのキャリア20(図示せず)と面
接触することによる熱伝導によって、気体を熱媒体とし
た熱伝達よりも、高速かつ高精度に対象物の温度制御を
行うことができる。また、恒温装置1は、トンネル82
内をキャリア20に搭載された対象物が搬送されるの
で、対象物の連続投入が可能となり生産性を向上させる
ことができる。
In FIG. 5, the thermostat 10 comprises a heat insulating cover 70 and cooling means 80. Here, the cooling means 80 is provided with a Peltier element 81 whose upper surface is cooled and its lower surface is heated by energization, and a tunnel structure 83 in surface contact with a cooling surface (upper surface) of the Peltier element 81 and a tunnel 82 formed. It consists of This way,
The object is faster and faster than heat transfer using gas as a heat medium due to heat conduction caused by surface contact with the carrier 20 (not shown) as transporting means in contact with the tunnel structure 83 as cooling means. The temperature of the object can be controlled with high accuracy. In addition, the temperature control device 1 includes a tunnel 82.
Since the object mounted on the carrier 20 is transported in the inside, the object can be continuously charged, and the productivity can be improved.

【0029】また、トンネル構造体83は、上面が平面
の下部トンネル構造体84と、下面にキャリア20が嵌
入されるトンネル82(溝状の凹部)の形成された上部
トンネル構造体85とからなっており、メンテナンスな
どを容易に行うことができる構造としてある。なお、ト
ンネル82は、上部トンネル構造体85に形成される場
合に限定するものではなく、トンネル82を下部トンネ
ル構造体84に形成してもよいことは、勿論である。ま
た、トンネル82を、上部トンネル構造体85と下部ト
ンネル構造体84の双方に形成してもよく、さらに、上
部トンネル構造体85と下部トンネル構造体84を一体
構造としてもよいことは勿論である。
The tunnel structure 83 is composed of a lower tunnel structure 84 having a flat upper surface and an upper tunnel structure 85 having a tunnel 82 (groove-shaped concave portion) formed on the lower surface for inserting the carrier 20. The structure is such that maintenance can be easily performed. The tunnel 82 is not limited to the case where the tunnel 82 is formed in the upper tunnel structure 85, and the tunnel 82 may of course be formed in the lower tunnel structure 84. In addition, the tunnel 82 may be formed in both the upper tunnel structure 85 and the lower tunnel structure 84, and the upper tunnel structure 85 and the lower tunnel structure 84 may of course be integrated. .

【0030】なお、本実施形態において、対象物は、搬
送手段としてのキャリア20を介してトンネル構造体8
3と接触しているが、キャリア20を介さないで、トン
ネル構造体83と接触する、あるいは、一部がトンネル
構造体83と接触し、かつ、一部が搬送手段と接触する
構成としてもよく、このようにすると、キャリア20を
介した熱伝導よりも、より高速かつ高精度に対象物の温
度制御を行うことができる。
In this embodiment, the object is transferred to the tunnel structure 8 via a carrier 20 as a transporting means.
3, but may be in contact with the tunnel structure 83 without passing through the carrier 20, or may be partially in contact with the tunnel structure 83 and partially in contact with the transporting means. By doing so, the temperature of the object can be controlled at higher speed and with higher accuracy than the heat conduction through the carrier 20.

【0031】ここで、好ましくは、トンネル構造体83
及びキャリア20を金属とし、対象物への熱伝導を金属
間熱伝導とするとよく、このようにすると、より高速か
つ高精度に対象物の温度制御を行うことができる。ま
た、この金属間熱伝導にかかわる接触面は、表面粗さを
小さくして接触面積を増大させたり、あるいは、シリコ
ングリースなどの熱伝導性に優れたグリースを塗布する
とよく、このようにすると、接触による熱伝導効率が高
まり、さらに高速かつ高精度に対象物の温度制御を行う
ことができる。
Here, preferably, the tunnel structure 83 is used.
The carrier 20 may be made of metal, and the heat conduction to the object may be made of intermetallic heat. In this case, the temperature of the object can be controlled at higher speed and with higher accuracy. In addition, the contact surface relating to the heat conduction between the metals is to reduce the surface roughness to increase the contact area, or to apply a grease having excellent thermal conductivity such as silicon grease. The heat conduction efficiency due to the contact is increased, and the temperature of the object can be controlled at high speed and with high accuracy.

【0032】また、好ましくは、トンネル構造体83及
びキャリア20の材料には、アルミニウム合金や銅とい
った、熱伝導率の高い金属材質を使用し、搬送による耐
摩耗性を考慮し、たとえば、アルミニウムにおいてはア
ルマイト処理などの硬質化処理を施すとよい。
Preferably, as the material of the tunnel structure 83 and the carrier 20, a metal material having high thermal conductivity such as aluminum alloy or copper is used, and in consideration of abrasion resistance due to transportation, for example, aluminum is used. May be subjected to a hardening treatment such as an alumite treatment.

【0033】また、トンネル構造体83の熱容量を、キ
ャリア20の熱容量より多くするとよく、このように、
トンネル構造体83の熱容量を多くすると、キャリア2
0に伝熱しても、トンネル構造体83の温度変化が小さ
くなり、トンネル構造体83の温度制御を容易に行うこ
とができる。
It is preferable that the heat capacity of the tunnel structure 83 be larger than the heat capacity of the carrier 20.
When the heat capacity of the tunnel structure 83 is increased, the carrier 2
Even when the heat is transferred to zero, the temperature change of the tunnel structure 83 is reduced, and the temperature of the tunnel structure 83 can be easily controlled.

【0034】また、トンネル構造体83は、外部表面を
鏡面仕上げとするとよく、このようにすると、表面から
の輻射熱を低減でき、トンネル構造体83の温度をより
安定化させることができる。
The outer surface of the tunnel structure 83 is preferably mirror-finished. In this case, radiant heat from the surface can be reduced, and the temperature of the tunnel structure 83 can be further stabilized.

【0035】さらにまた、トンネル82の断面形状は、
キャリア20の搬送方向の側面形状と相似形とし、か
つ、トンネル82の大きさは、トンネル82内を搬送さ
れるキャリア20との隙間の空気を極力減らすため、キ
ャリア20の移動に必要な最小隙間とするとよく、この
ようにすると、トンネル82内の空気がトンネル入口や
出口その他の隙間から周囲の空気(外気)と置換される
ことによる、トンネル構造体83の温度変化を最小限に
抑えることができる。
Further, the sectional shape of the tunnel 82 is
The size of the tunnel 82 should be similar to the side shape of the carrier 20 in the transport direction, and the size of the tunnel 82 should be as small as possible to minimize the air in the gap between the carrier 20 and the carrier 20 transported in the tunnel 82. By doing so, it is possible to minimize the temperature change of the tunnel structure 83 due to the air in the tunnel 82 being replaced with the surrounding air (outside air) from the tunnel entrance, exit, and other gaps. it can.

【0036】また、搬送されるキャリア20は、キャリ
ア20どうしの間に隙間ができないように、間断なく連
続して搬送される構成とするとよく、このようにする
と、キャリア20どうしの間に空気が介在できず、トン
ネル82内空気と外気との置換を防ぐことができ、トン
ネル82内空気及びトンネル構造体83の温度変化を抑
えることができる。
The carriers 20 to be transported are preferably configured to be transported continuously without interruption so that no gap is formed between the carriers 20. In this case, air is generated between the carriers 20. Since the air cannot be interposed, the replacement of the air inside the tunnel 82 with the outside air can be prevented, and the temperature change of the air inside the tunnel 82 and the tunnel structure 83 can be suppressed.

【0037】トンネル構造体83は、上面及び側面が、
周囲への放熱や周囲からの吸熱を防ぐ断熱カバー70で
覆われた構成としてある。断熱カバー70は、断熱カバ
ー外壁71と、断熱材72と、断熱カバー内壁73とか
らなっている。
The tunnel structure 83 has an upper surface and side surfaces,
The structure is covered with a heat insulating cover 70 for preventing heat radiation to the surroundings and heat absorption from the surroundings. The heat insulating cover 70 includes a heat insulating cover outer wall 71, a heat insulating material 72, and a heat insulating cover inner wall 73.

【0038】ここで、断熱カバー外壁71と断熱カバー
内壁73は、鏡面仕上げされたステンレス製の板材とし
てあり、両壁面71,73が熱反射板となり、輻射熱を
抑制する構造としてある。また、断熱材72は、熱伝導
率の低いゴムフォーム材としてあり、断熱カバー外壁7
1と断熱カバー内壁73に挟まれた構造としてある。
The heat-insulating cover outer wall 71 and the heat-insulating cover inner wall 73 are mirror-finished stainless steel plates, and the two wall surfaces 71 and 73 are heat reflecting plates, and have a structure for suppressing radiant heat. Further, the heat insulating material 72 is a rubber foam material having a low thermal conductivity, and the heat insulating cover outer wall 7 is provided.
1 and a structure sandwiched between the heat insulating cover inner wall 73.

【0039】また、断熱カバー70は、上部が蝶番74
によって開閉可能とし、メンテナンスなどの際は、上部
をあけて作業できる構成としてある。なお、この上部
は、運転時には、保持器75によって固定されている。
The heat insulating cover 70 has a hinge 74 at the top.
The upper part can be opened and closed for maintenance and the like. This upper portion is fixed by the retainer 75 during operation.

【0040】また、断熱カバー内壁73とトンネル構造
体83の隙間を最小隙間とするとよく、このようにする
と、断熱カバー内壁73とトンネル構造体83の間に空
気がほとんど存在しなくなるので、恒温槽10が低温の
場合はもちろん、高温の場合であっても、上記空気の自
然対流による熱伝達を無視でき、トンネル構造体83の
温度を安定化することができる。
Further, the gap between the heat insulating cover inner wall 73 and the tunnel structure 83 is preferably set to be the minimum gap. In this case, almost no air exists between the heat insulating cover inner wall 73 and the tunnel structure 83, The heat transfer by natural convection of the air can be neglected and the temperature of the tunnel structure 83 can be stabilized even when the temperature is high as well as when the temperature is low.

【0041】なお、上記最小隙間は、0.5mm以上3
mm以下とするとよく、この理由は、0.5mm以上と
することにより、トンネル構造体83が熱膨張した場合
であっても、トンネル構造体83が断熱カバー内壁73
と接触する不具合を防止でき、3mm以下とすることに
より、空気の自然対流による熱伝達を抑えることができ
るとともに、外気が入り込まないようにするラビリンス
としての効果を発揮することができる。
The minimum gap is 0.5 mm or more and 3 mm or more.
The reason is that the tunnel structure 83 is not less than 0.5 mm so that even when the tunnel structure 83 is thermally expanded, the tunnel structure 83 can be insulated by the heat insulating cover inner wall 73.
When the thickness is 3 mm or less, heat transfer due to natural convection of air can be suppressed, and an effect as a labyrinth for preventing outside air from entering can be exhibited.

【0042】ペルチェ素子81の制御は、図6に示すよ
うに、下部トンネル構造体84に埋設した測温体86に
よりトンネル構造体83の温度を測定し、フィードバッ
クして制御する。また、本実施形態では、ペルチェ素子
81をトンネル構造体83の下面に入口から出口方向に
向かって1列に6枚配設しており、入口部の温度低下を
防ぐため、導入部である入口側の2枚のペルチェ素子8
1と、測定部である中央部及び出口側の4枚のペルチェ
素子81とに分け、導入部と測定部とのペルチェ素子8
1を別々に制御している。
As shown in FIG. 6, the Peltier element 81 is controlled by measuring the temperature of the tunnel structure 83 using a temperature measuring element 86 embedded in the lower tunnel structure 84 and feeding it back. In the present embodiment, six Peltier elements 81 are arranged on the lower surface of the tunnel structure 83 in a row from the entrance toward the exit, and the entrance is an entrance, which is an introduction section, in order to prevent a temperature drop at the entrance. Two Peltier elements 8 on the side
1 and four Peltier elements 81 at the central part and the outlet side, which are the measuring part, and the Peltier elements 8 between the introduction part and the measuring part.
1 are controlled separately.

【0043】また、測温体86は、2枚のペルチェ素子
81に対して一個配設してあり、たとえば、目標設定温
度を−35℃とした場合、トンネル構造体83の入口と
出口の温度差を約2℃以内に制御することができる。な
お、各ペルチェ素子81に対して測温体86を配設し
て、各ペルチェ素子81ごとに温度制御すれば、トンネ
ル構造体83の温度分布をさらに精度よく一定とするこ
とができる。
Further, one thermometer 86 is provided for each of the two Peltier elements 81. For example, when the target set temperature is -35 ° C., the temperature at the entrance and the exit of the tunnel structure 83 The difference can be controlled within about 2 ° C. If a temperature measuring element 86 is provided for each Peltier element 81 and the temperature is controlled for each Peltier element 81, the temperature distribution of the tunnel structure 83 can be made more accurate and constant.

【0044】また、温度特性試験において重要となる測
定点での温度安定性については、フィードバック制御用
の測温体86の示す温度と、実際のトンネル構造体83
のの温度との差は、トンネル82上面においては約0.
3℃、トンネル82の下面(搬送面)においては約0.
1℃以下、さらに、トンネル82内に置かれたキャリア
20に搭載された対象物においても、約0.1℃以下と
なり、非常に精度良く温度制御を行うことができる。な
お、この高精度は、目標設定温度を−35℃とした場合
に限るものではなく、約−40℃から約100℃までの
範囲の目標設定温度に対しても、同様の高精度の温度制
御を行うことができる。
The temperature stability at the measurement point, which is important in the temperature characteristic test, is determined by comparing the temperature indicated by the temperature sensor 86 for feedback control with the actual tunnel structure 83.
The difference from the temperature of the tunnel 82 is about 0.
3 ° C., about 0.3 mm on the lower surface (transfer surface) of the tunnel 82.
The temperature is 1 ° C. or less, and the temperature of the object mounted on the carrier 20 placed in the tunnel 82 is about 0.1 ° C. or less, so that the temperature can be controlled very accurately. Note that this high accuracy is not limited to the case where the target set temperature is set to -35 ° C., and the same high accuracy temperature control is performed for the target set temperature in the range of about −40 ° C. to about 100 ° C. It can be performed.

【0045】また、温度特性試験における絶対温度保証
用の測温体87は、側定点の1ピッチ手前の下部トンネ
ル構造体84に埋設してある。つまり、1ピッチ搬送し
た直後に対象物を計測するので、側定点の1ピッチ手前
で絶対温度保証を行う必要がある。
Further, the temperature measuring element 87 for guaranteeing the absolute temperature in the temperature characteristic test is buried in the lower tunnel structure 84 one pitch before the fixed side point. That is, since the target object is measured immediately after one pitch is conveyed, it is necessary to guarantee the absolute temperature one pitch before the side fixed point.

【0046】次に、キャリア搬送装置30について、図
面を参照して説明する。図7は、本実施形態に係るキャ
リアの構造を説明するための概略斜視図を示している。
また、図8は、本実施形態に係るキャリア搬送装置を説
明するための要部の概略斜視図を示している。
Next, the carrier transport device 30 will be described with reference to the drawings. FIG. 7 is a schematic perspective view for explaining the structure of the carrier according to the present embodiment.
FIG. 8 is a schematic perspective view of a main part for describing the carrier transport device according to the present embodiment.

【0047】キャリア20は、図7に示すように、矩形
平板状の形状としてあり、対象物が収納されるワークポ
ケット21が、搬入方向に対して等ピッチで、10個×
2段で形成してあり、かつ、搬入方向のワークポケット
21と同じピッチで、10個の送りピン穴22が穿設し
てある。したがって、対象物は、一つのキャリア20に
20個搭載され、また、二段に並べて搭載されるので、
対象物を測定する際、測定用プローブ40を同じく二列
に配設することにより、二個の対象物を同時に測定する
ことができる。
As shown in FIG. 7, the carrier 20 has a shape of a rectangular flat plate, and the work pockets 21 for accommodating the objects are arranged at equal pitches in the carrying direction and 10 × 10.
It is formed in two stages, and has ten feed pin holes 22 at the same pitch as the work pocket 21 in the loading direction. Therefore, 20 objects are mounted on one carrier 20 and are mounted side by side in two stages.
When measuring an object, two probes can be measured simultaneously by arranging the measurement probes 40 in two rows.

【0048】また、ワークポケット21は、長方形平板
状の対象物を収納できるように凹部が形成してあり、凹
部の底面は、対象物の下面と面接触して熱伝導する構成
としてある。
The work pocket 21 is formed with a recess so as to accommodate a rectangular flat object, and the bottom surface of the recess is in surface contact with the lower surface of the object to conduct heat.

【0049】また、凹部の側面は、対象物の位置決めが
可能な形状および大きさとしてあり、これにより、測定
用プローブ40が、対象物の測定ポイントと容易に接触
することができる。さらに、キャリア20は、凹部の側
面と対象物の側面との隙間、および、対象物の厚さが凹
部の深さより薄い場合における、対象物の上面からキャ
リア20の上面までの隙間を小さくして、余分な空気が
存在できない構成としてあり、このようにすることによ
り、この余分な空気による自然対流を抑制し、対象物の
温度を安定化させている。
Further, the side surface of the concave portion has a shape and a size capable of positioning the object, whereby the measuring probe 40 can easily come into contact with the measurement point of the object. Further, the carrier 20 reduces the gap between the side surface of the concave portion and the side surface of the object, and the gap from the upper surface of the object to the upper surface of the carrier 20 when the thickness of the object is smaller than the depth of the concave portion. The configuration is such that no extra air can be present, and by doing so, natural convection due to the extra air is suppressed, and the temperature of the object is stabilized.

【0050】なお、キャリア20は、上記形状に限定す
るものではなく、対象物の形状や、搭載数などに応じて
様々な形状とすることができる。また、ワークポケット
21の配設も、10個×2列に限定するものではないこ
とは、勿論である。本実施形態では、2列としたが、1
列でも、3列以上の複数列としてよい。
The shape of the carrier 20 is not limited to the above-mentioned shape, but may be various shapes according to the shape of the object and the number of mounted objects. Also, the arrangement of the work pockets 21 is, of course, not limited to 10 × 2 rows. In the present embodiment, the number of rows is two.
The number of rows may be three or more.

【0051】上記キャリア20は、図8に示すように、
二本一組で六箇所に配設された搬送用ピン33が、エア
ーシリンダなどの水平方向駆動源31と上下方向駆動源
32(図3参照)により、下降して送りピン穴22に嵌
入し、搬送方向に1ピッチだけ移動し、上昇して送りピ
ン穴22から抜け出て、搬送方向と反対方向に1ピッチ
だけ移動するといった動作を繰り返すと、キャリア20
がピッチ送りされる構成としてある。なお、図8におい
ては、理解しやすいように、上部トンネル構造体85や
断熱カバー70を図示していない。
The carrier 20 is, as shown in FIG.
The transport pins 33 arranged in a pair at six locations are lowered by the horizontal drive source 31 such as an air cylinder and the vertical drive source 32 (see FIG. 3) and fitted into the feed pin holes 22. The operation of moving the carrier 20 by one pitch in the carrying direction, moving up by one pitch in the carrying direction, and moving by one pitch in the direction opposite to the carrying direction is repeated.
Is pitch-fed. In FIG. 8, the upper tunnel structure 85 and the heat insulating cover 70 are not shown for easy understanding.

【0052】ここで、キャリア20は、トンネル構造体
83の入口周辺に、搬送方向と平行にセットされ、この
キャリア20(図中、次のキャリア)は、搬送用ピン3
3と連動して作動するシリンダ(図示せず)によって、
トンネル構造体83の入口部に移動する。そして、この
キャリア20は、挿入方向の送りピン穴22に、搬送用
ピン33が嵌入し、トンネル82内に搬入される。
Here, the carrier 20 is set around the entrance of the tunnel structure 83 in parallel with the transport direction, and the carrier 20 (the next carrier in the figure) is
By a cylinder (not shown) that operates in conjunction with 3,
It moves to the entrance of the tunnel structure 83. The carrier pin 33 of the carrier 20 is inserted into the feed pin hole 22 in the insertion direction, and is carried into the tunnel 82.

【0053】また、トンネル82内には、6個のキャリ
ア20が入り、トンネル82の入口に一個のキャリア2
0がセットされる構成としてあり、6組の搬送用ピン3
3が、ほぼ等間隔で配設してある。このようにすると、
トンネル82内の入口側から5番目までのキャリア20
は、搬送用ピン33の移動する距離だけ、精度良く移動
される。なお、搬送用ピン33は、上述したように、二
本一組で六箇所に配設される場合に限定するものではな
く、一本又は複数本を一組とし、一箇所又は複数箇所に
配設する構成としてもよい。
Further, six carriers 20 enter the tunnel 82, and one carrier 2 enters at the entrance of the tunnel 82.
0 is set, and six sets of transport pins 3 are set.
3 are arranged at substantially equal intervals. This way,
The fifth carrier 20 from the entrance side in the tunnel 82
Is accurately moved by the distance the transport pin 33 moves. Note that, as described above, the transport pins 33 are not limited to the case where two pairs are provided at six locations, but one or a plurality of the transport pins 33 are provided at one location or at multiple locations. It is good also as a structure provided.

【0054】つまり、搬送用ピン33は、図9に示すよ
うに、トンネル構造体83の入口周辺に一組のみ配設す
る構成とすることもできる。つまり、各キャリア20の
位置決めを行わず、トンネル82の内寸とキャリア20
外形寸法を管理することで、中間の搬送用ピン33を使
用せず、入口部の搬送用ピン33のみで連続した複数の
キャリア20を搬送する。このようにすると、プローブ
の位置決め精度が荒い場合、キャリヤ搬送装置の構造を
単純化することができる。なお、図示してないが、搬送
用ピン33の代わりに、キャリア20の横側面より、キ
ャリア20を移動させる構造とすることもできる。ま
た、キャリア20を使用せず、ベルトに対象物を載せ
て、搬送する直接搬送とすることもできる。
That is, as shown in FIG. 9, only one set of the transport pins 33 may be provided around the entrance of the tunnel structure 83. That is, the positioning of each carrier 20 is not performed, and the inner dimension of the tunnel 82 and the carrier 20 are not positioned.
By managing the external dimensions, a plurality of continuous carriers 20 are transported only by the transport pins 33 at the entrance without using the intermediate transport pins 33. In this way, when the positioning accuracy of the probe is rough, the structure of the carrier transport device can be simplified. Although not shown, a structure in which the carrier 20 is moved from the side surface of the carrier 20 instead of the transport pin 33 may be employed. In addition, direct conveyance in which an object is placed on a belt and conveyed without using the carrier 20 can also be employed.

【0055】また、プローブヘッド42は、図8および
図10に示すように、トンネル82の入口側から4番目
と5願目の搬送用ピン33の間に配設してあり、特に、
4番目と5願目の搬送用ピン33は、測定用プローブ4
0に対する位置決めピンとして機能をも発揮することが
できる。
As shown in FIGS. 8 and 10, the probe head 42 is disposed between the transport pins 33 of the fourth and fifth applications from the entrance side of the tunnel 82.
The transport pins 33 of the fourth and fifth applications are connected to the measuring probe 4.
It can also function as a positioning pin for zero.

【0056】次に、上部トンネル構造体85に配設され
る空気遮断装置90について、図面を参照して説明す
る。図11は、空気遮断装置を説明するための概略拡大
断面図を示している。また、図12は、空気遮断装置を
説明するための概略拡大斜視図を示している。
Next, the air blocking device 90 provided in the upper tunnel structure 85 will be described with reference to the drawings. FIG. 11 is a schematic enlarged cross-sectional view for explaining the air blocking device. FIG. 12 is a schematic enlarged perspective view for explaining the air blocking device.

【0057】図11において、搬送用ピン33が搬送方
向,反搬送方向及び上下方向に移動するため、断熱カバ
ー70および上部トンネル構造体85には、搬送用ピン
33が移動するための長穴が配設されている。
In FIG. 11, since the transport pins 33 move in the transport direction, the opposite transport direction, and the vertical direction, the heat insulating cover 70 and the upper tunnel structure 85 have elongated holes for the transport pins 33 to move. It is arranged.

【0058】空気遮断装置90は、上部トンネル構造体
85の長穴を上部から覆う、長穴が形成された遮蔽部材
91と、遮蔽部材91に搬入方向に往復移動自在に嵌入
され、搬送用ピン33が貫通する貫通孔が穿設された空
気遮断部材92とからなっている。
The air blocking device 90 includes a shielding member 91 having a long hole formed therein, which covers the long hole of the upper tunnel structure 85 from above, and is fitted in the shielding member 91 so as to be reciprocally movable in the loading direction. An air-blocking member 92 is provided with a through-hole through which 33 passes.

【0059】また、遮蔽部材91は、図12に示すよう
に、空気遮断部材92が嵌入される溝が形成され、溝の
底面に搬送用ピン33が移動するための長穴が形成され
た遮蔽部材本体93と、遮蔽部材本体93の上面に配設
され、搬送用ピン33が移動するための長穴が形成され
た上カバー94とからなっている。
As shown in FIG. 12, the shielding member 91 has a groove into which the air blocking member 92 is fitted, and a slot formed on the bottom surface of the groove to allow the transfer pin 33 to move. It comprises a member main body 93 and an upper cover 94 which is provided on the upper surface of the shielding member main body 93 and has an elongated hole formed in which the transport pin 33 moves.

【0060】上記構成による空気遮断装置90は、上部
トンネル構造体85に形成された長穴は、遮蔽部材本体
93の底面により外部空気と遮断され、さらに、遮蔽部
材本体93の底面に形成された長穴は、空気遮断部材9
2により遮断される。したがって、空気遮断装置90
は、搬送用ピン33が、常に、空気遮断部材92の貫通
孔に貫通しているので、搬送用ピン33が搬送方向,反
搬送方向及び上下方向に移動しても、外気とトンネル8
2内の空気をほぼ完全に遮断することができ、上部トン
ネル構造体85の、搬送用ピン33が移動するための長
穴の配設された部分の温度制御を高精度で行うことがで
きる。
In the air blocking device 90 having the above-described structure, the long hole formed in the upper tunnel structure 85 is blocked from the outside air by the bottom surface of the shielding member main body 93, and is further formed on the bottom surface of the shielding member main body 93. The long hole is the air blocking member 9
Blocked by 2. Therefore, the air shutoff device 90
Since the transport pin 33 always penetrates the through hole of the air blocking member 92, even if the transport pin 33 moves in the transport direction, the reverse transport direction, and the vertical direction, the outside air and the tunnel
2 can be almost completely shut off, and the temperature of the portion of the upper tunnel structure 85 where the elongated holes for the transfer pins 33 move can be controlled with high precision.

【0061】次に、測定用プローブ40の空気室96に
ついて、図面を参照して説明する。図13は、測定用プ
ローブの空気室を説明するための概略拡大図を示してお
り、(a)は空気室を形成しない場合の断面図を、
(b)は空気室を形成した場合の、測定用プローブが測
定していない状態の断面図を、(c)は空気室を形成し
た場合の、測定用プローブが測定している状態の断面図
を示している。
Next, the air chamber 96 of the measurement probe 40 will be described with reference to the drawings. FIG. 13 is a schematic enlarged view for explaining an air chamber of the measurement probe, and FIG. 13A is a cross-sectional view when no air chamber is formed.
(B) is a cross-sectional view of the state where the measurement probe is not measuring when the air chamber is formed, and (c) is a cross-sectional view of the state where the measurement probe is measuring when the air chamber is formed. Is shown.

【0062】同図(a)において、上部トンネル構造体
85および断熱カバー70の上面にあけられた測定用プ
ローブ40の挿入口95は、測定用プローブ40と接触
しない構成としてあり、具体的には、片側約0.5mm
の隙間が形成されている。このような構成とすると、測
定用プローブ40が上下方向に移動すると、挿入口95
がシリンダ、測定用プローブ40がピストンとして作用
し、トンネル82内の空気がトンネル構造体83の外部
に吐き出され、かつ、トンネル構造体83外部の空気が
トンネル82内に吹き込まれ、対象物の温度制御を不安
定にする要因の一つとなっていた。
In FIG. 10A, the insertion port 95 of the measurement probe 40 opened on the upper surface of the upper tunnel structure 85 and the heat insulating cover 70 is configured so as not to contact the measurement probe 40. , About 0.5mm on one side
Are formed. With this configuration, when the measurement probe 40 moves in the vertical direction, the insertion port 95
Are acting as cylinders, and the measurement probe 40 acts as a piston, the air inside the tunnel 82 is discharged to the outside of the tunnel structure 83, and the air outside the tunnel structure 83 is blown into the tunnel 82, and the temperature of the object is reduced. This was one of the factors that made control unstable.

【0063】これに対し、同図(b)、(c)に示すよ
うに、挿入口95を上部トンネル構造体85の内部に拡
張し、空気室96を設けることにより、測定用プローブ
40が上下方向に移動しても、トンネル82内の空気
は、空気室96の空気と置換されることになり、かつ空
気室96の空気温度は、トンネル82内の空気温度とほ
ぼ等しいので、対象物の温度制御をより高精度に行うこ
とができる。さらに、測定用プローブ40の本体外周
と、挿入口95aとの隙間を狭くし、測定用プローブ4
0が上方向に移動しても、上記隙間を確保する構成とす
るとよく、このようにすると、ラビリンスシールの効果
により、空気室96内の空気と外気との置換を低減する
ことができる。つまり、空気室96を形成することによ
り、空気室96の空気は、外気と置換されるが、外気が
トンネル82内の空気と直接的に置換されなくなる。
On the other hand, as shown in FIGS. 9B and 9C, the insertion port 95 is expanded inside the upper tunnel structure 85 and an air chamber 96 is provided, so that the measuring probe 40 can be moved up and down. Moving in the direction, the air in the tunnel 82 will be replaced by the air in the air chamber 96, and the air temperature in the air chamber 96 is substantially equal to the air temperature in the tunnel 82, so that Temperature control can be performed with higher accuracy. Further, the gap between the outer periphery of the main body of the measurement probe 40 and the insertion port 95a is reduced, and the measurement probe 4
Even if 0 moves upward, it is preferable to secure the above-mentioned gap. In this case, the effect of the labyrinth seal can reduce the replacement of the air in the air chamber 96 with the outside air. That is, by forming the air chamber 96, the air in the air chamber 96 is replaced with the outside air, but the outside air is not directly replaced with the air in the tunnel 82.

【0064】次に、上記構成の恒温装置1の動作につい
て説明する。恒温装置1は、各ペルチェ素子81に通電
すると、ペルチェ素子81の上面と面接触した金属製の
トンネル構造体83が冷却され、一方、温度上昇するペ
ルチェ素子81の下面が冷却ユニット50により冷却さ
れる。ここで、トンネル構造体83は、ペルチェ素子8
1からの金属間熱伝導によって、高速かつ精度の高い温
度制御が行われる。
Next, the operation of the constant temperature apparatus 1 having the above configuration will be described. When power is supplied to each Peltier element 81, the constant temperature device 1 cools the metal tunnel structure 83 that is in surface contact with the upper surface of the Peltier element 81, while the lower surface of the Peltier element 81 whose temperature rises is cooled by the cooling unit 50. You. Here, the tunnel structure 83 is a Peltier device 8
High-speed and high-precision temperature control is performed by the intermetallic heat conduction from the step (1).

【0065】そして、トンネル構造体83が各ペルチェ
素子81により、所定の温度に低下したら、対象物を搭
載したキャリア20が、トンネル82の入口部に運ばれ
てくる。このトンネル82の入口部に置かれたキャリア
20は、キャリア搬送装置30の搬送用ピン33が、下
降して送りピン穴22に嵌入し、続いて、搬送方向にピ
ッチ長さだけ移動することにより、トンネル82内にピ
ッチ長さだけ搬送される。続いて、搬送用ピン33は、
搬送用ピン33が上昇し送りピン穴22から抜け出て、
搬送方向の反対方向に移動し、次の搬送時刻まで待機す
る。この動作を繰り返すと、キャリア20に搭載された
対象物は、順次、トンネル82に搬送される。
When the temperature of the tunnel structure 83 is lowered to a predetermined temperature by each Peltier element 81, the carrier 20 carrying the object is carried to the entrance of the tunnel 82. The carrier 20 placed at the entrance of the tunnel 82 is moved downward by the transport pins 33 of the carrier transport device 30 being fitted into the feed pin holes 22 and subsequently moving by the pitch length in the transport direction. , Is transported into the tunnel 82 by the pitch length. Subsequently, the transport pin 33 is
The transport pin 33 rises and comes out of the feed pin hole 22,
It moves in the opposite direction to the transport direction and waits for the next transport time. By repeating this operation, the objects mounted on the carrier 20 are sequentially transported to the tunnel 82.

【0066】搬送された対象物は、先ず、キャリア20
がトンネル構造体83からの金属間熱伝導で温度制御さ
れ、続いて、対象物がキャリア20からの金属間熱伝導
により温度制御される。このように、対象物は、金属間
熱伝導により温度制御されるので、高速かつ高精度な温
度制御が行われる。
The transported object is first loaded into the carrier 20
Is temperature-controlled by the intermetallic heat conduction from the tunnel structure 83, and subsequently, the temperature of the object is controlled by the intermetallic heat conduction from the carrier 20. As described above, the temperature of the target object is controlled by the heat conduction between the metals, so that high-speed and high-precision temperature control is performed.

【0067】また、恒温装置1は、トンネル構造体83
とキャリア20の隙間や、トンネル構造体83と断熱カ
バー70の隙間を最小隙間としたり、空気遮断装置90
を設けることにより、すなわち、外気の悪影響を徹底的
に排除した構成としてある。また、恒温装置1は、トン
ネル構造体83を設けることにより、インライン方式と
してあるので、対象物の取り置きなどの無駄な作業を行
う必要がなく、生産性を向上させることができる。
Further, the thermostat 1 includes a tunnel structure 83.
The gap between the carrier and the carrier 20 and the gap between the tunnel structure 83 and the heat insulating cover 70 are set to the minimum gap.
, That is, a configuration in which the bad influence of the outside air is completely eliminated. Further, since the constant temperature apparatus 1 is of the in-line type by providing the tunnel structure 83, there is no need to perform unnecessary work such as placing an object, and the productivity can be improved.

【0068】恒温装置1は、キャリア20が測定用プロ
ーブ40の直下に搬送されると、測定用プローブ40が
下降し、対象物の温度特性を測定する。つまり、キャリ
ア20内の対象物は、トンネル82の入口から冷却が開
始され、測定用プローブ40の直下に到達するまでに、
目標設定温度に達する構成としてある。したがって、恒
温装置1は、搬送の速度,対象物の温度制御に要する時
間及び恒温槽10の長さにより、生産能力が決定され
る。
When the carrier 20 is transported immediately below the measurement probe 40, the measurement probe 40 descends, and the temperature characteristic of the object is measured. That is, the object in the carrier 20 starts cooling from the entrance of the tunnel 82 and reaches the position immediately below the measurement probe 40.
It is configured to reach the target set temperature. Therefore, the production capacity of the thermostat 1 is determined by the transport speed, the time required for controlling the temperature of the object, and the length of the thermostat 10.

【0069】また、恒温装置1は、測定用プローブ40
を二列に配設し、かつ、キャリア20に対象物を二列に
搭載しているので、同時に二個の対象物を測定すること
ができ、また、このキャリア20を連続的にトンネル8
2内に投入できるので、間断なく短時間で、対象物の温
度特性を測定することができる。
The thermostat 1 is provided with a measuring probe 40.
Are arranged in two rows, and the objects are mounted on the carrier 20 in two rows, so that two objects can be measured at the same time, and the carrier 20 is continuously connected to the tunnel 8.
2, the temperature characteristics of the object can be measured in a short time without interruption.

【0070】上述したように、第一実施形態に係る恒温
装置1によれば、熱伝導率の高いアルミ合金等を使用し
たトンネル構造体を、熱伝導、輻射熱を遮断し、自然対
流を極力起こさせずに、周囲との断熱を効率よく行う断
熱カバーで覆うことにより、対象物の急速加熱・冷却を
可能とし、かつ、高精度の温度制御を行うことができ
る。また、加熱・冷却源にペルチェ素子を使用すること
で、より高精度な温度制御を行うことができる。
As described above, according to the constant temperature apparatus 1 according to the first embodiment, the tunnel structure using an aluminum alloy or the like having a high thermal conductivity blocks heat conduction and radiant heat to generate natural convection as much as possible. Instead, by covering the object with a heat insulating cover that efficiently insulates the surroundings, the object can be rapidly heated and cooled, and highly accurate temperature control can be performed. Further, by using a Peltier element as a heating / cooling source, more accurate temperature control can be performed.

【0071】[第二実施形態]次に、本発明に係る恒温
装置の第二実施形態について、図面を参照して説明す
る。図14は、本発明の第二実施形態に係る恒温装置の
基本構成を説明するための概略斜視図を示している。同
図において、恒温装置は、冷却ユニットとして、水冷ジ
ャケットの代りにフィンタイプヒートシンク34にファ
ン35等で送風して冷却する空冷方式としてあり、その
他の構造及び作用は、第一実施形態の恒温装置1と同様
としてある。
[Second Embodiment] Next, a second embodiment of a constant temperature apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 14 is a schematic perspective view for explaining the basic configuration of the constant temperature apparatus according to the second embodiment of the present invention. In the figure, the thermostat is an air-cooling system in which a cooling unit is used to blow and cool the fin-type heat sink 34 with a fan 35 or the like instead of the water-cooling jacket. Other structures and operations are the same as the thermostat of the first embodiment. Same as 1.

【0072】つまり、第一実施形態の恒温装置1は、目
標設定温度がペルチェ素子の許容する温度内であれば、
約−40℃以下の低温であっても、あるいは、約100
℃以上の高温であっても十分機能するが、目標設定温度
が、水冷ジャケットを必要とするほど低温でない場合に
は、同図に示す第二実施形態の恒温装置は、放熱器とし
て、水冷ジャケットの代りに、フィンタイプヒートシン
ク34にファン35等で送風して空冷とする方法を用い
ている。
That is, if the target set temperature is within the temperature permitted by the Peltier element,
Even at a low temperature of about −40 ° C. or less, or about 100 ° C.
Although it functions well even at a high temperature of ℃ or more, if the target set temperature is not low enough to require a water-cooled jacket, the constant temperature device of the second embodiment shown in FIG. Instead, a method is used in which air is cooled by blowing air to the fin type heat sink 34 with a fan 35 or the like.

【0073】また、冷却方式は、上記方式に限定するも
のではなく、図示してないが、たとえば、ヒートパイプ
等を用い放熱面積を大きくし冷却する方法など、一般的
に知られている冷却方式で十分有効である。さらに、熱
分離器等を用い、効率的にヒーントシンクを冷却する方
法も有効である。
The cooling method is not limited to the above method, and is not shown. For example, a generally known cooling method such as a method of increasing the heat radiating area by using a heat pipe or the like for cooling is used. Is effective enough. Furthermore, a method of efficiently cooling the heat sink using a heat separator or the like is also effective.

【0074】また、上記実施形態において、加熱の場合
にはペルチェ素子ではなく、セラミックヒータやカート
リッジヒータ等電熱器を用いても、同様の効果が得られ
ることは勿論である。つまり、常温から低温にかけての
領域では、ヒータで温度を安定化させることは不可能も
しくは難しいが、高温の領域では十分に機能させること
ができる。また、低温の領域についても、冷却水や冷却
気体等の熱媒体をトンネル下面、もしくは側面に設置し
ても同様の効果が得られる。この場合、ペルチェ素子に
比べ応答性、温度安定性では劣るが、恒温装置自体を簡
略化することができる。
In the above embodiment, the same effect can be obtained by using an electric heater such as a ceramic heater or a cartridge heater instead of the Peltier element in the case of heating. In other words, it is impossible or difficult to stabilize the temperature with the heater in the region from normal temperature to low temperature, but it can function sufficiently in the high temperature region. Also in the low temperature region, the same effect can be obtained by installing a heat medium such as cooling water or cooling gas on the lower surface or side surface of the tunnel. In this case, the responsiveness and the temperature stability are inferior to those of the Peltier element, but the thermostat itself can be simplified.

【0075】また、上記実施形態の恒温装置は、測定点
を恒温槽内に1カ所としてあるが、図15に示すよう
に、恒温槽での測定点を増やし、複数の測定点に測定用
プローブ40を配設することにより、同一温度で異なる
測定条件での測定、たとえば、水晶振動子においては、
常温検査における抵抗測定や、基準周波数測定等を行う
ことができる。また、この恒温装置は、ペルチェ素子の
枚数を増やし個々のペルチェ素子を制御することで、異
なる温度における特性を測定することができる。さら
に、この恒温装置は、トンネル内に温度勾配をもたせ、
測定点を複数箇所に設け、温度差を持った測定や上記の
ように異なる測定条件での測定も可能となる。
Further, in the thermostatic apparatus of the above embodiment, the measurement point is one in the thermostat, but as shown in FIG. 15, the measurement points in the thermostat are increased, and the measurement probe is set to a plurality of measurement points. By arranging 40, measurement under the same temperature and different measurement conditions, for example, in a quartz oscillator,
Resistance measurement, reference frequency measurement, and the like in a room temperature inspection can be performed. In addition, this thermostatic apparatus can measure characteristics at different temperatures by increasing the number of Peltier elements and controlling each Peltier element. In addition, this thermostat creates a temperature gradient in the tunnel,
By providing measurement points at a plurality of locations, it is possible to perform measurement with a temperature difference or measurement under different measurement conditions as described above.

【0076】上記実施形態では、断熱カバーをトンネル
型恒温槽と非接触としたが、断熱材を挿入しても同様の
効果を得ることができる。また、断熱材の代わりに真空
断熱を用いればさらに効果は増大する。なお、本発明で
は輻射熱を遮断するため金属を鏡面に仕上げているが、
この代わりに、ガラスや樹脂製の鏡やアルミニウムをポ
リエステルフィルムに蒸着した断熱シートを用いるのも
有効である。
In the above embodiment, the heat insulating cover is not in contact with the tunnel-type thermostat, but the same effect can be obtained by inserting a heat insulating material. Further, if vacuum heat insulation is used instead of heat insulation, the effect is further increased. In the present invention, the metal is mirror-finished to block radiant heat,
Instead, it is also effective to use a glass or resin mirror or a heat insulating sheet in which aluminum is deposited on a polyester film.

【0077】なお、本発明に係る恒温装置において、金
属間熱伝導用いた恒温装置,加熱手段及び/又は冷却手
段と断熱カバーとの隙間を最小隙間とした恒温装置,ト
ンネル構造と搬送手段との隙間をも最小隙間とした恒温
装置,加熱手段及び/又は冷却手段を複数備えた恒温装
置,搬送手段をキャリア搬送装置とした恒温装置,キャ
リアがピッチ送りされる恒温装置,空気遮断装置を備え
た恒温装置,ペルチェ素子を用いた恒温装置,測定用プ
ローブを備えた恒温装置,空気室を形成した恒温装置,
測定用プローブを複数配設した恒温装置は、それぞれ単
独で実施することができるとともに、これらの組み合わ
せとしても実施することができ、それぞれの効果を発揮
することができることは勿論である。
In the thermostatic apparatus according to the present invention, the thermostatic apparatus using heat conduction between metals, the thermostatic apparatus having a minimum gap between the heating means and / or the cooling means and the heat insulating cover, the tunnel structure and the transport means. A constant temperature device having a minimum gap, a constant temperature device having a plurality of heating means and / or cooling means, a constant temperature device having a transport means as a carrier transport apparatus, a constant temperature apparatus for feeding a carrier at a pitch, and an air shutoff apparatus. Constant temperature device, constant temperature device using Peltier element, constant temperature device with measuring probe, constant temperature device with air chamber,
The constant temperature apparatus provided with a plurality of measurement probes can be implemented independently, and can also be implemented as a combination of them, and it is needless to say that the respective effects can be exhibited.

【0078】[0078]

【発明の効果】以上説明したように、本発明おける恒温
装置は、熱伝達効率の高い、金属間熱伝導を利用するこ
とにより、高速かつ高精度の温度制御を行うことがで
き、かつ、トンネル構造を有する加熱手段及び/又は冷
却手段を使用することにより、対象物を搬送しながら温
度制御するので、生産性を向上させることができる。
As described above, the thermostatic apparatus according to the present invention can perform high-speed and high-precision temperature control by utilizing heat conduction between metals having high heat transfer efficiency, and can perform tunnel control. By using the heating means and / or the cooling means having a structure, the temperature is controlled while the object is being conveyed, so that the productivity can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1は、本発明の第一実施形態に係る恒温装置
の基本構成を説明するための概略斜視図を示している。
FIG. 1 is a schematic perspective view for explaining a basic configuration of a thermostat according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図2は、本発明の第一実施形態に係る恒温装置
の基本構成を説明するための概略正面図を示している。
FIG. 2 is a schematic front view for explaining a basic configuration of the thermostat according to the first embodiment of the present invention.

【図3】図3は、本発明の第一実施形態に係る恒温装置
の基本構成を説明するための概略平面を示している。
FIG. 3 is a schematic plan view for explaining a basic configuration of the thermostat according to the first embodiment of the present invention.

【図4】図4は、図3のA−A線に沿った概略側断面図
を示している。
FIG. 4 is a schematic side sectional view taken along the line AA of FIG. 3;

【図5】図5は、図4の恒温槽の概略拡大図を示してい
る。
FIG. 5 is a schematic enlarged view of the thermostat of FIG. 4;

【図6】図6は、本発明の第一実施形態に係る恒温装置
の恒温槽および冷却ユニットの概略分解図を示してい
る。
FIG. 6 is a schematic exploded view of a thermostat and a cooling unit of the thermostat according to the first embodiment of the present invention.

【図7】図7は、本発明の第一実施形態に係る恒温装置
のキャリアの構造を説明するための概略斜視図を示して
いる。
FIG. 7 is a schematic perspective view for explaining the structure of the carrier of the thermostat according to the first embodiment of the present invention.

【図8】図8は、本発明の第一実施形態に係る恒温装置
のキャリア搬送装置を説明するための要部の概略斜視図
を示している。
FIG. 8 is a schematic perspective view of a main part for describing a carrier transport device of the constant temperature device according to the first embodiment of the present invention.

【図9】図9は、本発明の第一実施形態に係る恒温装置
のキャリア搬送装置の応用例を説明するための要部の概
略斜視図を示している。
FIG. 9 is a schematic perspective view of a main part for describing an application example of the carrier transport device of the constant temperature device according to the first embodiment of the present invention.

【図10】図10は、本発明の第一実施形態に係る恒温
装置の搬送用ピンの位置決め効果を説明するための要部
の概略拡大斜視図を示している。
FIG. 10 is a schematic enlarged perspective view of a main part for describing a positioning effect of a transport pin of the thermostatic apparatus according to the first embodiment of the present invention.

【図11】図11は、図3のB−B線に沿った概略拡大
断面図を示している。
FIG. 11 is a schematic enlarged sectional view taken along line BB of FIG. 3;

【図12】図12は、本発明の第一実施形態に係る空気
遮断装置を説明するための概略拡大斜視図を示してい
る。
FIG. 12 is a schematic enlarged perspective view illustrating an air shutoff device according to the first embodiment of the present invention.

【図13】図13は、測定用プローブの空気室を説明す
るための概略拡大図を示しており、(a)は空気室を形
成しない場合の断面図を、(b)は空気室を形成した場
合の、測定用プローブが測定していない状態の断面図
を、(c)は空気室を形成した場合の、測定用プローブ
が測定している状態の断面図を示している。
FIGS. 13A and 13B are schematic enlarged views for explaining an air chamber of the measurement probe, wherein FIG. 13A is a cross-sectional view when no air chamber is formed, and FIG. FIG. 3C is a cross-sectional view showing a state where the measurement probe is not performing measurement, and FIG. 4C is a cross-sectional view showing a state where the measurement probe is performing measurement when an air chamber is formed.

【図14】図14は、本発明の第二実施形態に係る恒温
装置の基本構成を説明するための概略斜視図を示してい
る。
FIG. 14 is a schematic perspective view for explaining a basic configuration of a thermostat according to a second embodiment of the present invention.

【図15】図15は、本発明に係る恒温装置の応用例を
説明するための概略斜視図を示している。
FIG. 15 is a schematic perspective view for explaining an application example of the thermostat according to the present invention.

【図16】図16は、従来例に係る恒温装置を説明する
ための概略図を示している。
FIG. 16 is a schematic diagram for explaining a thermostat according to a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 恒温装置 10 恒温槽 11 ペルチェ素子 20 キャリア 21 ワークポケット 22 送りピン穴 30 キャリア搬送装置 31 水平方向駆動源 32 上下方向駆動源 33 搬送用ピン 34 フィンタイプヒートシンク 35 ファン 40 測定用プローブ 41 スライド装置 42 プローブヘッド 50 冷却ユニット 51 水冷ジャケット 52 断熱ホース 53 断熱材 60 台座 70 断熱カバー 71 断熱カバー外壁 72 断熱材 73 断熱カバー内壁 74 蝶番 75 保持器 76 断熱材 80 冷却手段 81 ペルチェ素子 82 トンネル 83 トンネル構造体 84 下部トンネル構造体 85 上部トンネル構造体 86,87 測温体 90 空気遮断装置 91 遮蔽部材 92 空気遮断部材 93 遮蔽部材本体 94 上カバー 95,95a 挿入口 96 空気室 100 恒温装置 101 恒温槽 102 ラインコンベア Reference Signs List 1 constant temperature device 10 constant temperature bath 11 Peltier element 20 carrier 21 work pocket 22 feed pin hole 30 carrier transport device 31 horizontal drive source 32 vertical drive source 33 transport pin 34 fin type heat sink 35 fan 40 measurement probe 41 slide device 42 Probe head 50 Cooling unit 51 Water cooling jacket 52 Insulation hose 53 Insulation material 60 Pedestal 70 Insulation cover 71 Insulation cover outer wall 72 Insulation material 73 Insulation cover inner wall 74 Hinge 75 Cage 76 Insulation material 80 Cooling means 81 Peltier element 82 Tunnel 83 Tunnel structure 84 Lower tunnel structure 85 Upper tunnel structure 86, 87 Temperature detector 90 Air blocking device 91 Shielding member 92 Air blocking member 93 Shielding member main body 94 Upper cover 95, 95a Insertion port 96 Air chamber Reference Signs List 100 constant temperature device 101 constant temperature bath 102 line conveyor

Claims (13)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 温度制御される対象物を搬送するための
搬送手段と、 この搬送手段によって前記対象物が搬送されるトンネル
構造を有する加熱手段及び/又は冷却手段とを備えた恒
温装置であって、 前記対象物が前記加熱手段及び/又は冷却手段と接触す
ることによる熱伝導、あるいは、前記対象物が前記加熱
手段及び/又は冷却手段と接触した前記搬送手段と接触
することによる熱伝導によって、前記対象物が温度制御
されることを特徴とする恒温装置。
1. A constant temperature apparatus comprising: transport means for transporting an object whose temperature is to be controlled; and heating means and / or cooling means having a tunnel structure in which the object is transported by the transport means. And the heat conduction by contacting the object with the heating means and / or the cooling means, or the heat conduction by contacting the object with the transfer means in contact with the heating means and / or the cooling means A temperature control device for controlling the temperature of the object.
【請求項2】 前記熱伝導を金属間熱伝導としたことを
特徴とする請求項1記載の恒温装置。
2. The constant temperature apparatus according to claim 1, wherein said heat conduction is intermetallic heat conduction.
【請求項3】 前記加熱手段及び/又は冷却手段と、当
該加熱手段及び/又は冷却手段を覆う断熱カバーとの隙
間を最小隙間としたことを特徴とする請求項1又は2記
載の恒温装置。
3. The constant temperature apparatus according to claim 1, wherein a gap between the heating unit and / or the cooling unit and a heat insulating cover that covers the heating unit and / or the cooling unit is a minimum gap.
【請求項4】 前記断熱カバーの表面を、鏡面又は鏡面
に近い状態としたことを特徴とする請求項3記載の恒温
装置。
4. The constant temperature apparatus according to claim 3, wherein a surface of the heat insulating cover is a mirror surface or a state close to a mirror surface.
【請求項5】 前記トンネル構造と前記搬送手段との隙
間を最小隙間としたことを特徴とする請求項1〜4のい
ずれかに記載の恒温装置。
5. The constant temperature apparatus according to claim 1, wherein a gap between the tunnel structure and the transfer means is a minimum gap.
【請求項6】 前記加熱手段及び/又は冷却手段を複数
備えたことを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載
の恒温装置。
6. The constant temperature apparatus according to claim 1, wherein a plurality of said heating means and / or cooling means are provided.
【請求項7】 前記搬送手段が、前記対象物を収納し前
記トンネル構造内を移動するキャリアと、このキャリア
を搬送するキャリア搬送装置とからなることを特徴とす
る請求項1〜6のいずれかに記載の恒温装置。
7. The carrier according to claim 1, wherein said transport means comprises a carrier that accommodates said object and moves in said tunnel structure, and a carrier transport device that transports said carrier. A thermostat according to claim 1.
【請求項8】 前記キャリア搬送装置の搬送用ピンが、
前記キャリアに穿設された送りピン穴に挿入されて移動
することにより、前記キャリアがピッチ送りされること
を特徴とする請求項7記載の恒温装置。
8. A transport pin of the carrier transport device,
The constant temperature apparatus according to claim 7, wherein the carrier is pitch-fed by being inserted into a feed pin hole formed in the carrier and moving.
【請求項9】 前記搬送用ピンが移動する、前記加熱手
段及び/又は冷却手段に形成された開口部を遮蔽するた
めの空気遮断装置を備えたことを特徴とする請求項8記
載の恒温装置。
9. The constant temperature apparatus according to claim 8, further comprising an air shutoff device for shielding an opening formed in said heating means and / or cooling means, in which said transport pin moves. .
【請求項10】 前記加熱手段及び/又は冷却手段をペ
ルチェ素子としたことを特徴とする請求項1〜9のいず
れかに記載の恒温装置。
10. The constant temperature apparatus according to claim 1, wherein the heating unit and / or the cooling unit is a Peltier device.
【請求項11】 前記対象物の温度特性を測定する測定
用プローブを備えたことを特徴とする請求項1〜10の
いずれかに記載の恒温装置。
11. The constant temperature apparatus according to claim 1, further comprising a measurement probe for measuring a temperature characteristic of the object.
【請求項12】 前記加熱手段及び/又は冷却手段に形
成された前記測定用プローブの挿入口に、外気から遮断
された空気室を形成したことを特徴とする請求項11記
載の恒温装置。
12. The constant temperature apparatus according to claim 11, wherein an air chamber cut off from outside air is formed at an insertion port of the measuring probe formed in the heating means and / or the cooling means.
【請求項13】 前記測定用プローブを複数配設したこ
とを特徴とする請求項11又は12記載の恒温装置。
13. The constant temperature apparatus according to claim 11, wherein a plurality of said measurement probes are provided.
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