JP2002327035A - Phenolic polymer, its production method, curing agent for epoxy resin, epoxy resin composition for semiconductor sealing and semiconductor device using the same - Google Patents

Phenolic polymer, its production method, curing agent for epoxy resin, epoxy resin composition for semiconductor sealing and semiconductor device using the same

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JP2002327035A
JP2002327035A JP2002050879A JP2002050879A JP2002327035A JP 2002327035 A JP2002327035 A JP 2002327035A JP 2002050879 A JP2002050879 A JP 2002050879A JP 2002050879 A JP2002050879 A JP 2002050879A JP 2002327035 A JP2002327035 A JP 2002327035A
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phenolic polymer
epoxy resin
reaction
mol
phenols
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Yoshihisa Sone
嘉久 曽根
Kunio Ichihara
邦夫 市原
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Sumikin Chemical Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a phenolic polymer having low melt viscosity, high glass transition temperature and excellent curing characteristics which is suitable as an epoxy resin curing agent for the semiconductor sealing and the insulation of a printed board or the like. SOLUTION: (1) The phenolic polymer having the melt viscosity at 150 deg.C of 50-300 mPa.s which is represented by the formula Ph(OH)-[CH2 -(Ph) OH]m -[CH((PH)OH)((PH)OH)]n (wherein, Ph is a residue to a benzene nucleus such as a phenyl, phenylene or the like; m/m is 0.7/1-1.5/1; the site of substitution of the CH2 group to OH group is p/o position and 2.0 or more). (2) The method for producing the polymer by reacting the phenols at the rate of 3.0 mole or more with respect to the total 1 mol of salicyl aldehyde and formaldehyde at <=70 deg.C. (3) The curing agent for an epoxy resin which comprises the polymer.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、各種バインダー、
コーティング材、積層材、成形材料等に有用なフェノー
ル系重合体、その製造方法およびそれを用いたエポキシ
樹脂用硬化剤に関する。特に半導体封止用、プリント基
板絶縁用などのエポキシ硬化剤に好適な、低溶融粘度、
高ガラス転移温度、優れた硬化特性を兼ね備えたフェノ
ール系重合体およびその製造方法に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to various binders,
The present invention relates to a phenolic polymer useful for a coating material, a laminate, a molding material, and the like, a method for producing the same, and a curing agent for an epoxy resin using the same. Particularly suitable for epoxy curing agents for semiconductor encapsulation, printed circuit board insulation, etc., low melt viscosity,
The present invention relates to a phenolic polymer having a high glass transition temperature and excellent curing properties, and a method for producing the same.

【0002】本発明はまた、上記フェノール系重合体か
らなるエポキシ樹脂用硬化剤、及びこれとエポキシ樹脂
を含むエポキシ樹脂組成物、ならびに該エポキシ樹脂組
成物を用いて半導体素子を封止してなる半導体装置に関
する。
The present invention also provides a curing agent for an epoxy resin comprising the above-mentioned phenolic polymer, an epoxy resin composition containing the same and an epoxy resin, and a semiconductor element encapsulated with the epoxy resin composition. The present invention relates to a semiconductor device.

【0003】[0003]

【従来の技術】電子材料、特に半導体封止用、プリント
基板絶縁用などのエポキシ樹脂硬化剤として、各種のフ
ェノール系重合体、例えばフェノールノボラック型樹
脂、フェノールアラルキル樹脂等が使用されている。し
かし近年、半導体パッケージの小型・薄型化、多ピン
化、高密度実装化に伴い、より高性能な樹脂が求められ
ている。
2. Description of the Related Art Various phenolic polymers such as phenol novolak type resins and phenol aralkyl resins have been used as epoxy resin curing agents for electronic materials, particularly for encapsulating semiconductors and for insulating printed boards. However, in recent years, with the miniaturization and thinning of the semiconductor package, the increase in the number of pins, and the high-density mounting, a resin with higher performance has been required.

【0004】半導体素子の封止材用として使用するため
のフェノール系重合体の重要な物性の一つは、ガラス転
移温度が高いことである。ガラス転移温度を上げるため
の手段としては水酸基濃度を高くすることが有効であ
り、そのため、いわゆる多官能タイプが多く用いられて
いる。その代表的な例として下記式(2)に示すようなト
リフェノールメタン型のフェノール樹脂が挙げられる
(特公平7−121979、特開平2−173023な
ど)。
One of the important physical properties of a phenolic polymer for use as an encapsulant for semiconductor devices is that it has a high glass transition temperature. As a means for increasing the glass transition temperature, it is effective to increase the hydroxyl group concentration, and for this reason, a so-called polyfunctional type is often used. A typical example thereof is a triphenolmethane-type phenol resin represented by the following formula (2) (Japanese Patent Publication No. 7-121979, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-173023).

【0005】[0005]

【化2】 Embedded image

【0006】これらのトリフェノールメタン型のフェノ
ール樹脂は、ガラス転移温度が高く、そのため各種の信
頼性に優れるという特徴を有する。また、BGA(Ball
GridArray)などの片面封止パッケージに用いた場合、パ
ッケージの反りが小さいという優れた性能を有する。し
かし最近の半導体パッケージでは、例えばBGAの場
合、さらなるファイン化や一括封止タイプになり、反り
が小さいことの他に流動性が高いこと、基板表面との密
着性が良いことなどが求められている。また、SOPや
QFP、DIPなどのパッケージでも、ワイヤー長の延
長、ワイヤー径の減少、小型化などの点で低粘度化が強
く望まれている。また低溶融粘度であれば流動性や密着
性が向上し、フィラーも多く配合できるので半田耐熱性
や耐水性の面でも有利になる。即ちこれら封止材への要
求特性を満たすために、高ガラス転移温度と低溶融粘度
及び優れた硬化性を兼ね備えたフェノール系重合体(硬
化剤)の出現が強く望まれている。
[0006] These triphenolmethane-type phenol resins are characterized by having a high glass transition temperature and therefore being excellent in various reliability. In addition, BGA (Ball
When used in a single-sided sealed package such as a GridArray, the package has excellent performance in that the package is small in warpage. However, in recent semiconductor packages, for example, in the case of BGA, it is required to be further refined or packaged in a package, and to have a small warpage, high fluidity, good adhesion to a substrate surface, and the like. I have. Further, in packages such as SOP, QFP, and DIP, low viscosity is strongly desired in view of elongation of the wire length, reduction of the wire diameter, and miniaturization. If the melt viscosity is low, the fluidity and adhesion are improved, and a large amount of filler can be added, which is advantageous in terms of solder heat resistance and water resistance. That is, in order to satisfy the required properties of these sealing materials, the appearance of a phenolic polymer (curing agent) having both a high glass transition temperature, a low melt viscosity and excellent curability is strongly desired.

【0007】またビルドアップ基板の層間絶縁材にも、
耐水性に優れ、高ガラス転移温度で接着性のよいエポキ
シ樹脂組成物が望まれており、これを達成するために、
元々耐水性や保存安定性に優れたフェノール系硬化剤
で、高ガラス転移温度と低溶融粘度及び優れた硬化性を
両立するものが望まれている。
In addition, the interlayer insulating material of the build-up substrate
An epoxy resin composition having excellent water resistance and good adhesiveness at a high glass transition temperature is desired, and in order to achieve this,
A phenolic curing agent which is originally excellent in water resistance and storage stability and which has both high glass transition temperature, low melt viscosity and excellent curability is desired.

【0008】しかしガラス転移温度を上げるために、ヒ
ドロキシ基濃度を上げると、ヒドロキシ基同士の水素結
合のため溶融粘度が上昇する。その結果、溶融粘度の上
昇により流動性が悪く、そのためワイヤー変形など成形
上のトラブルを引き起こす。溶融粘度を下げるために分
子量を小さくしたりヒドロキシ基濃度を下げると、ガラ
ス転移温度が下がるとともに成形時の硬化性が低下す
る。すなわち、高ガラス転移温度と低溶融粘度、硬化性
の両立は原理的に難しいとされている。
However, if the concentration of hydroxy groups is increased to increase the glass transition temperature, the melt viscosity increases due to hydrogen bonding between the hydroxy groups. As a result, the fluidity is poor due to an increase in the melt viscosity, which causes molding problems such as wire deformation. When the molecular weight is reduced or the hydroxyl group concentration is reduced to lower the melt viscosity, the glass transition temperature is lowered and the curability at the time of molding is lowered. That is, it is considered that it is theoretically difficult to achieve both a high glass transition temperature, a low melt viscosity, and curability.

【0009】またトリフェノールメタン型のフェノール
樹脂にアリル基を付与したタイプの樹脂も提案されてい
る(特開平4−23824)。これらの樹脂はガラス転
移温度が高いため熱収縮が小さく、また樹脂骨格的に自
由体積が大きいため、硬化収縮率も小さく、これが低反
りに寄与しているとされている。しかしこのタイプの樹
脂は、実際にはアリル基導入量の増加とともにガラス転
移温度が低下し、また硬化性も低下するため、要求され
るレベルには未だ不充分であった。
A resin in which an allyl group is added to a triphenolmethane-type phenol resin has also been proposed (JP-A-4-23824). These resins have a high glass transition temperature and thus have a small heat shrinkage, and have a large free volume as a resin skeleton, and therefore have a small cure shrinkage, which is said to contribute to low warpage. However, this type of resin is still insufficient to the required level because the glass transition temperature and the curability also decrease as the amount of allyl groups introduced increases.

【0010】本発明者らは、これらの問題点を解決する
方法として、下記式(3)で示されるように、分子内にト
リフェノールメタン型重合体単位と、フェノールノボラ
ック重合体単位を共に有し、両者の重合度の比及び溶融
粘度を特定範囲にしたフェノール系重合体を提案した
(特願2002―3645号)。
As a method of solving these problems, the present inventors have shown that a triphenolmethane polymer unit and a phenol novolak polymer unit are both present in the molecule as shown in the following formula (3). Then, a phenolic polymer in which the ratio of the degree of polymerization of both and the melt viscosity are in specific ranges has been proposed (Japanese Patent Application No. 2002-3645).

【0011】[0011]

【化3】 (式中、m/nが0.7〜1.5であり、またR、R、R
及びRはヒドロキシ基又はアルキル基であり、p、
q、r及びsは0〜2である。)
Embedded image (Where m / n is 0.7 to 1.5, and R 1 , R 2 , R
3 and R 4 are a hydroxy group or an alkyl group, p,
q, r and s are 0-2. )

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】上記フェノール系重合
体は高ガラス転移温度で且つ、低溶融粘度で硬化性が
較的良好で、エポキシ樹脂硬化剤として優れた性質を有
するが、エポキシ樹脂硬化剤としてはさらに硬化速度
等、優れた硬化性が要求される。そこで本発明者らは、
上記のフェノール樹脂を更に改良して、フェノールノボ
ラック重合単位中のヒドロキシ基に対するメチレン基置
換位置のp/o位の比を特定範囲にすることにより、低
溶融粘度でかつ高ガラス転移温度を有し、且つ硬化性が
更に優れたフェノール系重合体が得られ、またこのよう
なフェノール系重合体をエポキシ樹脂硬化剤として用い
ることにより、成形硬化性や耐熱性などの物性に優れた
半導体封止用エポキシ樹脂組成物が得られることを見い
出し、本発明を完成した。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the phenolic polymer and a high glass transition temperature, curable at a low melt viscosity ratio
Although it is relatively good and has excellent properties as an epoxy resin curing agent, an epoxy resin curing agent is required to have further excellent curability such as curing speed. Therefore, the present inventors
By further improving the above-mentioned phenol resin and setting the ratio of the p / o position of the methylene group-substituted position to the hydroxy group in the phenol novolak polymerized unit to a specific range, it has a low melt viscosity and a high glass transition temperature. In addition, a phenolic polymer having better curability can be obtained, and by using such a phenolic polymer as an epoxy resin curing agent, it has excellent properties such as molding curability and heat resistance for semiconductor encapsulation. The present inventors have found that an epoxy resin composition can be obtained, and have completed the present invention.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】すなわち本発明は下記一
般式(1)で表わされるフェノール系重合体において、1
50℃における溶融粘度が50〜300mPa・sであ
り、フェノールノボラック重合単位中のヒドロキシ基に
対するメチレン基置換位置が、p/o位で2.0以上で
あることを特徴とするフェノール系重合体である。
The present invention relates to a phenolic polymer represented by the following general formula (1):
A phenolic polymer having a melt viscosity at 50 ° C. of 50 to 300 mPa · s and a methylene group substitution position with respect to a hydroxy group in a phenol novolak polymerization unit of 2.0 or more at a p / o position. is there.

【0014】[0014]

【化4】 (式中、m/nは0.7〜1.5であり、R、R、R
びRはアルキル基であり、p、q、r及びsは0〜2であ
る。)
Embedded image (In the formula, m / n is 0.7 to 1.5, R 1 , R 2 , R 3 and R 4 are alkyl groups, and p, q, r and s are 0 to 2.)

【0015】また本発明は、フェノール類、サリチルア
ルデヒド類及びホルムアルデヒドを、酸触媒の存在下で
70℃以下の温度で、好ましくは段階的に縮合反応さ
せ、減圧処理により酸触媒と未反応のフェノール類を除
去することを特徴とする上記式(1)で表されるフェノー
ル系重合体の製造方法である。
Further, the present invention provides a step-wise condensation reaction of phenols, salicylaldehydes and formaldehyde at a temperature of 70 ° C. or lower, preferably in the presence of an acid catalyst. And a method for producing a phenolic polymer represented by the above formula (1), wherein the phenolic polymer is removed.

【0016】さらに本発明は、上記式(1)で示されるフ
ェノール系重合体からなるエポキシ樹脂用硬化剤、及び
それを含む半導体封止用エポキシ樹脂組成物、ならびに
該エポキシ樹脂組成物を用いて半導体素子を封止してな
る半導体装置である。
Further, the present invention provides a curing agent for an epoxy resin comprising a phenolic polymer represented by the above formula (1), an epoxy resin composition for encapsulating a semiconductor containing the same, and the use of the epoxy resin composition. This is a semiconductor device in which a semiconductor element is sealed.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】本発明のフェノール系重合体は式
(1)で示されるトリフェノールメタン型樹脂の重合単位
をn個、フェノールノボラック樹脂の重合単位をm個有
する共重合タイプのフェノール系重合体であり、式(1)
において各重合単位の重合度の比m/nが0.7〜1.5、好
ましくは0.9〜1.4である。また150℃における溶融粘
度が50〜300mPa・s、好ましくは50〜200
mPa・sのものである。このような溶融粘度を有する
ものとして、各重合単位の重合度n及びmが通常0〜1
0の重合体の混合物で、平均重合度がいずれも0.6〜2.
0、好ましくは0.8〜1.4のものが用いられる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The phenolic polymer of the present invention has the formula
(1) is a copolymerized phenolic polymer having n polymerization units of a triphenolmethane-type resin represented by (n) and m polymerization units of a phenol novolak resin, represented by the formula (1)
In the above, the ratio m / n of the degree of polymerization of each polymerization unit is 0.7 to 1.5, preferably 0.9 to 1.4. The melt viscosity at 150 ° C. is 50 to 300 mPa · s, preferably 50 to 200 mPa · s.
mPa · s. As having such a melt viscosity, the degree of polymerization n and m of each polymerization unit is usually 0 to 1
A mixture of polymers having an average degree of polymerization of 0.6 to 2.
0, preferably 0.8 to 1.4 is used.

【0018】重合度が高く、溶融粘度が上記範囲より高
くなると流動性が低下する。またこれより低分子量で溶
融粘度が低いものはガラス転移温度が低くなるので好ま
しくない。
When the degree of polymerization is high and the melt viscosity is higher than the above range, the fluidity decreases. Further, those having a lower molecular weight and a lower melt viscosity are not preferred because the glass transition temperature becomes lower.

【0019】尚、特開昭63−22824号公報には、
トリフェノールメタン型樹脂とフェノールノボラック樹
脂の共重合体について記載されているが、本発明におけ
るような低溶融粘度のものは全く開示されていない。と
くに具体例として示されているような重合条件では、重
合度が大きく、150℃での溶融粘度は300mPa・
sを大きく上回るような樹脂しか得られず、本発明の目
的を達成するものではない。
Incidentally, JP-A-63-22824 discloses that
It describes a copolymer of a triphenolmethane resin and a phenol novolak resin, but does not disclose a copolymer having a low melt viscosity as in the present invention. Particularly under polymerization conditions as shown as specific examples, the degree of polymerization is large, and the melt viscosity at 150 ° C. is 300 mPa ·
Only a resin that greatly exceeds s is obtained, and does not achieve the object of the present invention.

【0020】本発明のフェノール系重合体においてはま
た、m/nが1.5を超えるとガラス転移温度が低くな
り、また硬化速度も遅くなる。一方m/nが0.7未満で
は溶融粘度が上昇し、流動性が悪くなる。
In the phenolic polymer of the present invention, when m / n exceeds 1.5, the glass transition temperature decreases, and the curing speed also decreases. On the other hand, if m / n is less than 0.7, the melt viscosity increases and the fluidity deteriorates.

【0021】本発明のフェノール系重合体は、分子内に
トリフェノールメタン型樹脂及びフェノールノボラック
樹脂の重合単位を特定の割合で共に有する構造であり、
それによりエポキシ硬化剤に好適な、低溶融粘度、高ガ
ラス転移温度、優れた硬化性を兼ね備えた重合体となっ
ている。
The phenolic polymer of the present invention has a structure in which polymerized units of a triphenolmethane resin and a phenol novolak resin are both present in a specific ratio in a molecule,
As a result, a polymer suitable for an epoxy curing agent and having a low melt viscosity, a high glass transition temperature, and excellent curability is obtained.

【0022】本発明のフェノール系重合体は、また式
(1)に示すように分子内にフェノールノボラック樹脂
の重合単位を有し、そのベンゼン核には、ヒドロキシ基
と、隣接するフェノールノボラック重合単位とを結合す
るメチレン基とを有している。本発明はそのヒドロキシ
基に対するメチレン基置換位置が、p/o比で2.0以
上であることを特徴とするものである。
The phenolic polymer of the present invention also has a polymerized unit of a phenol novolak resin in the molecule as shown in the formula (1), and the benzene nucleus has a hydroxy group and an adjacent phenol novolak polymerized unit. And a methylene group that binds to The present invention is characterized in that the substitution position of the methylene group with respect to the hydroxy group is 2.0 or more in p / o ratio.

【0023】本発明のフェノール系重合体は、上記メチ
レン基置換位置をp/o位で2.0以上、好ましくは
2.5〜3.5としたことにより、上記の低溶融粘度、
高ガラス転移温度という特性の他に、更に硬化時間が早
く、特に反応初期の転化率が高いので、工業的に有利で
ある。
The phenolic polymer of the present invention has a low melt viscosity as described above by setting the position of the methylene group substitution at the p / o position to 2.0 or more, preferably 2.5 to 3.5.
In addition to the property of high glass transition temperature, the curing time is shorter and the conversion at the beginning of the reaction is particularly high, which is industrially advantageous.

【0024】ヒドロキシ基に対するメチレン基置換位置
のp/o比は、H−NMRスペクトル法により測定す
ることができる。
The p / o ratio of the methylene group substitution position with respect to the hydroxy group can be measured by 1 H-NMR spectroscopy.

【0025】本発明のフェノール系重合体は、バインダ
ー、コーティング材、積層材、成形材料等の用途に広く
使用できるが、特に低溶融粘度で、しかも高いガラス転
移温度と優れた硬化特性を有するところから、特に半導
体封止用、プリント基板絶縁用などのエポキシ硬化剤に
適している。
The phenolic polymer of the present invention can be widely used for applications such as binders, coating materials, laminates, molding materials, etc., especially when it has a low melt viscosity, a high glass transition temperature and excellent curing properties. Therefore, it is particularly suitable for epoxy curing agents for semiconductor encapsulation, printed circuit board insulation, and the like.

【0026】[フェノール系重合体の製造]本発明で用
いる上記式(1)で示されるフェノール系重合体は、フェ
ノール類としてフェノールを、またサリチルアルデヒド
類としてサリチルアルデヒド類を使用した場合を例に取
ると、下記式(4)に従いフェノール、サリチルアルデヒ
ド類及びホルムアルデヒドを、酸触媒の存在下で縮合さ
せることにより製造することが出来る。
[Production of phenolic polymer] The phenolic polymer represented by the above formula (1) used in the present invention is exemplified by a case where phenol is used as phenol and salicylaldehyde is used as salicylaldehyde. Then, it can be produced by condensing phenol, salicylaldehydes and formaldehyde in the presence of an acid catalyst according to the following formula (4).

【0027】[0027]

【化5】 Embedded image

【0028】縮合反応は、サリチルアルデヒド類とホル
ムアルデヒドを一括添加して行なうこともできるが、こ
の場合はサリチルアルデヒド類及びホルムアルデヒドの
合計1モルに対し、フェノールを3.0モル以上、好ま
しくは3.3〜10.0モルの範囲で使用すると共に、
酸触媒を多量に使用し、反応温度を70℃以下と低くす
ることで、フェノールとホルムアルデヒドの反応を優先
的に行なって、低分子量のフェノールノボラック樹脂を
形成させる。次いでサリチルアルデヒド類とフェノール
類との縮合反応が起り、本発明のフェノール系重合体が
得られるが、この場合もメチレン置換位置のp/o比で
2.0以上になるようにするためには70℃以下の温度
で反応させることが好ましく、このような低温度でサリ
チルアルデヒド類とフェノール類との縮合反応を促進す
るためには、反応途中で酸触媒を増量するのが望まし
い。サリチルアルデヒド類とホルムアルデヒドの合計1
モルに対しフェノール類の使用量を3.0モル未満にし
たり、反応温度を70℃を越える温度にするなど上述の
反応条件を逸脱した場合には、高分子量で溶融粘度が高
く、またp/o比が小さいフェノール系重合体しか得ら
れない。
The condensation reaction can be carried out by adding salicylaldehydes and formaldehyde all at once. In this case, the total amount of salicylaldehydes and formaldehyde is 1 mole, and phenol is preferably 3.0 moles or more, and more preferably 3.0 moles. While used in the range of 3 to 10.0 mol,
By using a large amount of an acid catalyst and lowering the reaction temperature to 70 ° C. or lower, the reaction between phenol and formaldehyde is preferentially performed to form a low molecular weight phenol novolak resin. Next, a condensation reaction of salicylaldehydes and phenols occurs, and the phenolic polymer of the present invention is obtained. In this case, too, the p / o ratio at the methylene substitution position must be 2.0 or more. The reaction is preferably carried out at a temperature of 70 ° C. or lower. In order to promote the condensation reaction between salicylaldehydes and phenols at such a low temperature, it is desirable to increase the amount of the acid catalyst during the reaction. Total of salicylaldehydes and formaldehyde 1
When the amount of the phenol used is less than 3.0 moles per mole or the reaction temperature exceeds 70 ° C., the above-mentioned reaction conditions are not satisfied. Only a phenolic polymer having a small o ratio can be obtained.

【0029】本発明のフェノール系重合体はまた、上記
一括添加法の外に、式(5)で示すように、フェノールと
ホルムアルデヒドを酸触媒の存在下で縮合させて予めフ
ェノールノボラック樹脂を生成させ、次いで式(6)に示
すようにサリチルアルデヒド類を添加し、該フェノール
ノボラック樹脂及び酸触媒の存在下でサリチルアルデヒ
ド類とフェノール類を縮合させる2段反応の形で行なう
こともできる。この場合も一括添加法の場合と同様に、
1段目の反応においては酸触媒を多量に使用し、反応温
度を70℃以下と低くしてフェノールとホルムアルデヒ
ドとの反応を行い、低分子量で、しかもメチレン置換位
置のp/o比で1.0以上のフェノールノボラック樹脂
を形成させる。次いで2段目の反応においては酸触媒及
びフェノールノボラック樹脂の存在下、サリチルアルデ
ヒド類及びフェノール類を添加し、メチレン置換位置の
p/o比で2.0以上になる70℃以下の温度で反応さ
せることが重要である。2段目の反応において、必要に
応じてフェノールを添加することができるが、1段目と
2段目におけるフェノール類の合計添加量は、サリチル
アルデヒド類1モル当たり2.0モル以上とするのが好
ましい。
The phenolic polymer of the present invention is obtained by condensing phenol and formaldehyde in the presence of an acid catalyst to form a phenol novolak resin in advance, as shown by the formula (5), in addition to the above batch addition method. Then, as shown in the formula (6), salicylaldehydes may be added, and the reaction may be carried out in the form of a two-stage reaction in which salicylaldehydes and phenols are condensed in the presence of the phenol novolak resin and an acid catalyst. In this case, as in the case of the batch addition method,
In the first-stage reaction, a large amount of an acid catalyst is used, the reaction temperature is lowered to 70 ° C. or lower, and the reaction between phenol and formaldehyde is carried out. The reaction has a low molecular weight and a p / o ratio of methylene substitution position of 1. Form zero or more phenolic novolak resins. Next, in the second-stage reaction, salicylaldehydes and phenols are added in the presence of an acid catalyst and a phenol novolak resin, and the reaction is carried out at a temperature of 70 ° C. or less at which the p / o ratio at the methylene substitution position becomes 2.0 or more. It is important that In the second-stage reaction, phenol can be added as necessary. However, the total amount of phenols added in the first and second stages should be 2.0 mol or more per 1 mol of salicylaldehyde. Is preferred.

【0030】[0030]

【化6】 Embedded image

【0031】[0031]

【化7】 Embedded image

【0032】例えば、1段目の反応においてホルムアル
デヒド1モルに対してフェノール類を2.5モル以上、
好ましくは3.3〜10.0モル存在させ、2段目の反
応において追加するサリチルアルデヒド類及びフェノー
ルは、1〜2段のトータルで仕込むサリチルアルデヒド
類とホルムアルデヒドの合計1モルに対して、フェノー
ルを3.0モル以上、好ましくは3.3〜10.0モル
の範囲で使用することが重要である。このような反応条
件を逸脱した場合にも高分子量で溶融粘度の高く、また
p/o比が小さいフェノール系重合体しか得られない。
このような2段添加法で反応を行なうと、トリフェニル
メタン型樹脂及びフェノールノボラック樹脂の各重合単
位の重合度、すなわちn及びmの分布が狭くなり、分子
量のコントロールが容易となり、所望の溶融粘度の重合
体が得やすいので、本発明の目的のためには好ましい。
For example, in the first-stage reaction, phenols are added in an amount of 2.5 mol or more per 1 mol of formaldehyde.
Preferably, 3.3 to 10.0 moles of salicylaldehyde and phenol are added in the second-stage reaction, and phenol is added to the total of 1 mole of salicylaldehyde and formaldehyde charged in the first to second stages. Is important to be used in an amount of 3.0 mol or more, preferably 3.3 to 10.0 mol. Even if the reaction conditions are deviated, only a phenolic polymer having a high molecular weight, a high melt viscosity and a small p / o ratio can be obtained.
When the reaction is carried out by such a two-stage addition method, the degree of polymerization of each polymerized unit of the triphenylmethane type resin and the phenol novolak resin, that is, the distribution of n and m becomes narrow, the molecular weight can be easily controlled, and the desired melting can be achieved. It is preferable for the purpose of the present invention because a polymer having a viscosity is easily obtained.

【0033】本発明のフェノール系重合体の製造におい
て、原料のフェノール類、サリチルアルデヒド類及びホ
ルムアルデヒドの使用量をコントロールするとともに、
上記のような反応条件を採用することによりことによ
り、所望の150℃における溶融粘度、各重合単位の重
合度比m/n及びフェノールノボラック重合単位中のヒ
ドロキシ基に対するメチレン基置換位置の所望のp/o
比を有する重合体を得ることができる。前記一括添加の
反応及び2段反応において酸触媒の使用量は、その種類
によっても異なるが、蓚酸の場合は0.1〜2.0重量
%程度、塩酸の場合は0.01〜4.0重量%程度、ま
たトリフルオロメタンスルホン酸の場合は0.002〜
0.01重量%程度使用するのがよい。とくに2段反応
を行う場合、2段目のサリチルアルデヒド類をフェノー
ル類及びフェノールノボラックと反応させる際には、塩
酸又はトリフルオロメタンスルホン酸を使用することが
好ましい。また反応温度は、一括添加の反応及び2段反
応のいずれの場合においても70℃以下とするのが望ま
しい。
In the production of the phenolic polymer of the present invention, while controlling the amounts of phenols, salicylaldehydes and formaldehyde used as raw materials,
By adopting the reaction conditions as described above, the desired melt viscosity at 150 ° C., the polymerization degree ratio m / n of each polymerization unit, and the desired p of the methylene group substitution position with respect to the hydroxy group in the phenol novolak polymerization unit are obtained. / O
A polymer having a ratio can be obtained. The amount of the acid catalyst used in the batch addition reaction and the two-stage reaction varies depending on the type thereof, but is about 0.1 to 2.0% by weight in the case of oxalic acid and 0.01 to 4.0 in the case of hydrochloric acid. % By weight, and 0.002 to trifluoromethanesulfonic acid.
It is preferable to use about 0.01% by weight. In particular, when a two-stage reaction is carried out, when salicylaldehydes in the second stage are reacted with phenols and phenol novolak, it is preferable to use hydrochloric acid or trifluoromethanesulfonic acid. The reaction temperature is desirably 70 ° C. or lower in both the batch addition reaction and the two-stage reaction.

【0034】フェノール類、ホルムアルデヒド及びサリ
チルアルデヒド類を酸触媒の存在下で縮合させた後、未
反応のフェノール類及び酸触媒を除去することにより、
本発明のフェノール系重合体を得ることができる。フェ
ノール類の除去方法は、減圧下あるいは不活性ガスを吹
き込みながら熱をかけ、フェノール類を蒸留し系外へ除
去する方法が一般的である。酸触媒の除去は、水洗など
の洗浄による方法もあるが、揮発性の酸を用いた場合
は、フェノール類と一緒に蒸留により系外へ除去する方
法が、反応工程の短縮や釜効率のアップという点で好ま
しい。
After condensing phenols, formaldehyde and salicylaldehyde in the presence of an acid catalyst, the unreacted phenols and acid catalyst are removed.
The phenolic polymer of the present invention can be obtained. The method of removing phenols is generally a method in which heat is applied under reduced pressure or while blowing an inert gas to distill phenols out of the system. There is also a method of removing the acid catalyst by washing such as water washing.However, when a volatile acid is used, a method of removing it out of the system by distillation together with phenols shortens the reaction process and increases the pot efficiency. This is preferable in that respect.

【0035】フェノール類としては例えばフェノールの
外、クレゾール、エチルフェノール、プロピルフェノー
ル、ブチルフェノール、ヘキシルフェノール、ノニルフ
ェノールのようなアルキルフェノールも使用することが
できるが、特にフェノールが好ましい。アルキルフェノ
ールを使用する場合は、o−又はm−アルキルフェノー
ルを使用するのが好ましい。
As phenols, besides phenol, for example, alkyl phenols such as cresol, ethyl phenol, propyl phenol, butyl phenol, hexyl phenol and nonyl phenol can be used, and phenol is particularly preferred. When using an alkylphenol, it is preferable to use an o- or m-alkylphenol.

【0036】またサリチルアルデヒド類としては、サリ
チルアルデヒド類のほかに、アルキル置換のサリチルア
ルデヒド類などを使用することができるが、とくにサリ
チルアルデヒド類を使用することが好ましい。またp−
ヒドロキシベンズアルデヒドと併用することも可能であ
る。
As salicylaldehydes, in addition to salicylaldehydes, alkyl-substituted salicylaldehydes and the like can be used, and it is particularly preferable to use salicylaldehydes. Also p-
It can be used in combination with hydroxybenzaldehyde.

【0037】さらにホルムアルデヒドとしては、37%
ホルムアルデヒド水溶液、及びパラホルムアルデヒド、
トリオキサンなど酸存在下で分解してホルムアルデヒド
となる重合物を用いることができる。
Further, as formaldehyde, 37%
Aqueous formaldehyde solution and paraformaldehyde,
A polymer that is decomposed into formaldehyde in the presence of an acid such as trioxane can be used.

【0038】酸触媒としては特に限定はなく塩酸、蓚
酸、トリフルオロメタンスルホン酸、硫酸、リン酸、パ
ラトルエンスルホン酸など公知のものを単独であるいは
2種以上併用して使用することができるが、塩酸、蓚酸
又はトリフルオロメタンスルホン酸が特に好ましい。こ
れらの触媒は触媒活性が高く、また反応終了後減圧処理
により、未反応のフェノール、サリチルアルデヒド類、
ホルムアルデヒドと共に触媒を除去することができるの
で水洗等の洗浄工程が不要である。
The acid catalyst is not particularly limited, and known catalysts such as hydrochloric acid, oxalic acid, trifluoromethanesulfonic acid, sulfuric acid, phosphoric acid and p-toluenesulfonic acid can be used alone or in combination of two or more. Hydrochloric acid, oxalic acid or trifluoromethanesulfonic acid is particularly preferred. These catalysts have a high catalytic activity, and after the reaction is completed, the unreacted phenol, salicylaldehyde,
Since the catalyst can be removed together with formaldehyde, a washing step such as washing with water is not required.

【0039】[エポキシ樹脂用硬化剤、半導体封止用エ
ポキシ樹脂組成物]本発明のフェノール系重合体は、エ
ポキシ樹脂用硬化剤として用いられる。即ち、エポキシ
樹脂(A)、硬化剤であるフェノール系重合体(B)と
無機充填材(C)及び硬化促進剤(D)を必須成分とし
て含み、これら成分を混合、混練することにより半導体
封止用エポキシ樹脂組成物が得られる。
[Curing Agent for Epoxy Resin, Epoxy Resin Composition for Encapsulating Semiconductor] The phenolic polymer of the present invention is used as a curing agent for epoxy resin. That is, an epoxy resin (A), a phenolic polymer (B) as a curing agent, an inorganic filler (C), and a curing accelerator (D) are essential components, and these components are mixed and kneaded to form a semiconductor seal. An epoxy resin composition for stopping is obtained.

【0040】[エポキシ樹脂]半導体封止用に用いるエ
ポキシ樹脂としては、クレゾールノボラック型エポキシ
樹脂、トリフェノールメタン型エポキシ樹脂、ビフェニ
ル型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹
脂、ナフトール型エポキシ樹脂などが特に好ましく用い
られる。フェノール系重合体とエポキシ樹脂の配合比
は、水酸基当量/エポキシ当量で0.8/1.2〜1.2/0.8が
好ましい。
[Epoxy Resin] Epoxy resins used for semiconductor encapsulation include cresol novolak type epoxy resin, triphenolmethane type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, naphthol type epoxy resin and the like. It is preferably used. The mixing ratio of the phenolic polymer to the epoxy resin is preferably from 0.8 / 1.2 to 1.2 / 0.8 as hydroxyl equivalent / epoxy equivalent.

【0041】[無機充填材]無機充填材の例として、非
晶性シリカ、結晶性シリカ、アルミナ、ガラス、珪酸カ
ルシウム、石膏、炭酸カルシウム、マグネサイト、クレ
ー、タルク、マイカ、マグネシア、硫酸バリウムなどを
挙げることができるが、とくに非晶性シリカ、結晶性シ
リカなどが好ましい。無機充填材の使用量は、半導体封
止用エポキシ樹脂組成物全体の50%以上、より好まし
くは70〜92重量%である。含有量が50重量%より
少ないと、吸水率や熱膨張係数など充填材添加の効果が
大幅に低下する。また92%を超えると、流動性が上昇
するなど、半導体封止材としての物性が悪くなる。
[Inorganic filler] Examples of the inorganic filler include amorphous silica, crystalline silica, alumina, glass, calcium silicate, gypsum, calcium carbonate, magnesite, clay, talc, mica, magnesia, barium sulfate and the like. Examples thereof include amorphous silica and crystalline silica. The amount of the inorganic filler used is 50% or more, more preferably 70 to 92% by weight of the entire epoxy resin composition for semiconductor encapsulation. If the content is less than 50% by weight, the effect of adding a filler such as water absorption and thermal expansion coefficient is significantly reduced. On the other hand, if it exceeds 92%, the physical properties as a semiconductor encapsulant deteriorate, such as an increase in fluidity.

【0042】[硬化促進剤]硬化促進剤としては、エポ
キシ樹脂をフェノール系硬化剤で硬化させるための公知
の硬化促進剤を用いることが出来る。このような硬化促
進剤としては例えば有機ホスフィン化合物およびそのボ
ロン塩、3級アミン、4級アンモニウム塩、イミダゾー
ル類及びそのテトラフェニルボロン塩などを挙げること
ができるが、この中でも、硬化性や耐湿性の点から、ト
リフェニルホスフィン及び1,8−ジアザビシクロ
(5,4,0)ウンデセン−7(DBU)が好ましい。
また、より高流動性にするためには、加熱により活性が
発現する熱潜在性の硬化促進剤がより好ましく、テトラ
フェニルホスフォニウム・テトラフェニルボレートなど
のテトラフェニルホスフォニウム誘導体が好ましい。
[Curing Accelerator] As the curing accelerator, a known curing accelerator for curing an epoxy resin with a phenolic curing agent can be used. Examples of such curing accelerators include organic phosphine compounds and their boron salts, tertiary amines, quaternary ammonium salts, imidazoles and their tetraphenylboron salts, and among them, curability and moisture resistance In view of this, triphenylphosphine and 1,8-diazabicyclo (5,4,0) undecene-7 (DBU) are preferred.
Further, in order to obtain higher fluidity, a heat latent curing accelerator which exhibits activity by heating is more preferable, and a tetraphenylphosphonium derivative such as tetraphenylphosphonium / tetraphenylborate is preferable.

【0043】[その他添加剤]本発明のエポキシ樹脂組成
物には、必要に応じて、パラフィンや脂肪族エステル等
の離型剤、三酸化アンチモン、リン系化合物等の難燃
剤、難燃助剤、カーボンブラックや酸化チタン等の着色
剤、シリコーンゴムやオレフィンゴム等の低応力剤、シ
ランカップリング剤等のカップリング剤等を用いること
ができる。使用量は従来の半導体封止用エポキシ樹脂組
成物における使用量と同様でよい。
[Other Additives] The epoxy resin composition of the present invention may contain, if necessary, a release agent such as paraffin or an aliphatic ester, a flame retardant such as antimony trioxide or a phosphorus compound, and a flame retardant auxiliary. Colorants such as carbon black and titanium oxide, low stress agents such as silicone rubber and olefin rubber, and coupling agents such as silane coupling agents can be used. The amount used may be the same as the amount used in the conventional epoxy resin composition for semiconductor encapsulation.

【0044】[半導体封止用エポキシ樹脂組成物の製
法]半導体封止用エポキシ樹脂組物を製造するには、フ
ェノール系重合体、エポキシ樹脂、無機充填材、硬化促
進剤及び他の添加剤を所定の割合で配合し、次いでこれ
らの混合物をミキシングロール機等の混練機を用いて加
熱状態で溶融混練し、これを室温に冷却した後、公知の
手段によって粉砕し、必要に応じて打錠する。
[Preparation of Epoxy Resin Composition for Semiconductor Encapsulation] In order to produce an epoxy resin composition for semiconductor encapsulation, a phenolic polymer, an epoxy resin, an inorganic filler, a curing accelerator and other additives are used. The mixture is blended at a predetermined ratio, and then the mixture is melt-kneaded in a heating state using a kneader such as a mixing roll machine, and then cooled to room temperature, pulverized by a known means, and compressed as necessary. I do.

【0045】このようにして得られた半導体封止用エポ
キシ樹脂組成物を用いて、半導体素子を封止する方法は
特に限定されるものではなく、通常のトランスファー成
形等の公知のモールド法によって素子を封止し、半導体
装置を得ることができる。また必要に応じてポストキュ
アを施してもよい。
The method for encapsulating a semiconductor device using the thus obtained epoxy resin composition for encapsulating a semiconductor is not particularly limited, and the device can be encapsulated by a known molding method such as ordinary transfer molding. And a semiconductor device can be obtained. Post curing may be performed if necessary.

【0046】本発明のトリフェノールメタン型樹脂は適
当量のフェノールノボラック樹脂単位を有するので、高
ガラス転移温度、低粘度化等、エポキシ樹脂硬化剤とし
て優れた性能を有し、更にフェノールノボラック重合単
位中のヒドロキシ基に対するメチレン基置換位置のp/
o位の比を特定範囲にしたことにより、硬化性が更に優
れているので、これををエポキシ樹脂硬化剤として用い
ることにより、成形硬化性や耐熱性などの物性に優れた
半導体封止用エポキシ樹脂組成物が得られる。
Since the triphenolmethane type resin of the present invention has an appropriate amount of a phenol novolak resin unit, it has excellent properties as an epoxy resin curing agent such as a high glass transition temperature and a low viscosity, and further has a phenol novolak polymerization unit. Of the methylene group substitution position with respect to the hydroxy group in
By setting the ratio of the o-position to a specific range, the curability is further excellent. By using this as an epoxy resin curing agent, epoxy for semiconductor encapsulation with excellent properties such as molding curability and heat resistance A resin composition is obtained.

【0047】[0047]

【実施例】以下に実施例を挙げて、本発明を具体的に説
明する。なお本発明で得られたフェノール系重合体の物
性測定法を(1)〜(3)に、またフェノー系重合体を
硬化剤として含むエポキシ樹脂組成物(フェノール系重
合体、エポキシ樹脂、無機フィラー、硬化促進剤、シラ
ンカップリング剤、カルナバワックスからなる組成物)
の評価方法を(4)〜(6)に、また半導体装置製造工
程での成形性を(7)に示す。
EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples. The methods for measuring the physical properties of the phenolic polymer obtained in the present invention are defined in (1) to (3), and an epoxy resin composition containing a phenolic polymer as a curing agent (phenolic polymer, epoxy resin, inorganic filler) , A composition comprising a curing accelerator, a silane coupling agent, and carnauba wax)
(4) to (6) show the evaluation method, and (7) shows the moldability in the semiconductor device manufacturing process.

【0048】(1)150℃溶融粘度 ICI溶融粘度計を用い、150℃でのフェノール系重
合体の溶融粘度を測定した。
(1) Melt Viscosity at 150 ° C. Using an ICI melt viscometer, the melt viscosity of the phenolic polymer at 150 ° C. was measured.

【0049】(2)重合度比 m/n ホルムアルデヒド及びサリチルアルデヒド類の反応率を
求め、仕込み量と反応率から重合物中のメチレン結合/
メチン結合(m/n)の比を求めた。尚、ホルムアルデ
ヒド反応率は、反応後に残存するホルムアルデヒドを塩
酸ヒドロキシルアミン法で測定し、求めた。またサリチ
ルアルデヒド類の反応率は、反応後の残存するサリチル
アルデヒド類をガスクロマトグラフィ法で測定し、求め
た。
(2) Degree of polymerization degree m / n The reaction rate of formaldehyde and salicylaldehyde was determined, and the methylene bond / polymerization ratio in the polymer was determined from the charged amount and the reaction rate.
The ratio of methine bonds (m / n) was determined. The formaldehyde conversion was determined by measuring formaldehyde remaining after the reaction by the hydroxylamine hydrochloride method. The reaction rate of salicylaldehydes was determined by measuring the remaining salicylaldehydes after the reaction by gas chromatography.

【0050】(3)フェノールノボラック樹脂重合単位
中のヒドロキシ基に対するメチレン基置換位置のp/o
位比率:H−NMRスペクトル法を用い、下記の方法
により求めた。フェノールノボラック樹脂重合単位中の
メチレン基に結合した両ベンゼン核のヒドロキシ基の位
置がp/p位、p/o位及びo/o位である場合のケミカルシフ
トは、図1〜3に示されるH−NMRスペクトルにお
いて、 p/p位:3.76ppm() p/o位:3.88ppm() o/o位:3.96ppm() であり、各ケミカルシフトの積分値からp/o比を次式に
より計算した。p/o比=[p/p位積分値+(p/o位積分値/
2)]/[o/o位積分値+(p/o位積分値/2)]
(3) p / o of substitution position of methylene group with respect to hydroxy group in phenol novolak resin polymerization unit
Position ratio: It was determined by the following method using 1 H-NMR spectrum method. Chemical shifts when the positions of the hydroxy groups of both benzene nuclei bonded to the methylene group in the phenol novolak resin polymerized unit are p / p, p / o and o / o are shown in FIGS. In the 1 H-NMR spectrum, p / p position: 3.76 ppm () p / o position: 3.88 ppm () o / o position: 3.96 ppm () The p / o position was determined from the integrated value of each chemical shift. The ratio was calculated by the following equation. p / o ratio = [p / p integral value + (p / o integral value /
2)] / [o / o integral value + (p / o integral value / 2)]

【0051】(4)キュラストメーター硬化トルク フェノール系重合体を硬化剤として含むエポキシ樹脂組
成物について、175℃での硬化によるトルク上昇スピ
ードをキュラストメーターで測定し、60秒及び90秒
のトルクを読み取った。
(4) Curatometer Curing Torque For an epoxy resin composition containing a phenolic polymer as a curing agent, the rate of increase in torque due to curing at 175 ° C. was measured with a curast meter, and the torque for 60 seconds and 90 seconds was measured. Was read.

【0052】(5)ガラス転移温度 フェノール系重合体を硬化剤として含むエポキシ樹脂組
成物を、トランスファー成形機を用いて175℃ー12
0秒で成形した後、180℃で6時間ポストキュアさせ
た成形品から適当な大きさの試験片を切り出し、TMA
法(昇温速度5℃/分)によりガラス転移温度を測定し
た。
(5) Glass transition temperature An epoxy resin composition containing a phenolic polymer as a curing agent was heated at 175 ° C. to 12 ° C. using a transfer molding machine.
After molding in 0 seconds, a test piece of an appropriate size was cut out from a molded article post-cured at 180 ° C. for 6 hours, and TMA was cut out.
The glass transition temperature was measured by the method (heating rate 5 ° C./min).

【0053】(6)溶融粘度 フェノール系重合体を硬化剤として含むエポキシ樹脂組
成物の175℃における最低溶融粘度を、フローテスタ
ー法(荷重:20kgf/cm、ノズル:1φ×2L
mm)で測定した。
(6) Melt Viscosity The minimum melt viscosity at 175 ° C. of the epoxy resin composition containing a phenolic polymer as a curing agent was determined by a flow tester method (load: 20 kgf / cm 2 , nozzle: 1 × 2 L).
mm).

【0054】(7)半導体装置製造工程での成形性 半導体素子をトランス成形で封止し、成形時間60秒時
点で脱型し、空冷10秒後のパッケージ熱時硬度をショ
ア硬度で測定した。また成形時のカル部の状態を観察
し、スタッキングやフクレの有無を確認した。
(7) Moldability in Semiconductor Device Manufacturing Process The semiconductor element was sealed by transformer molding, demolded at a molding time of 60 seconds, and the package hardness after air cooling 10 seconds was measured by Shore hardness. The state of the cull during molding was observed, and the presence or absence of stacking and blisters was confirmed.

【0055】[実施例1]撹拌装置、コンデンサー、及
び窒素ガス導入管を備えたガラス製反応釜に、フェノー
ル94g(1モル)、37%ホルマリン水溶液19.5
g(ホルムアルデヒド換算で0.24モル)、蓚酸2水
和物0.57gを仕込み、65℃で4時間反応させた。
生成したフェノールノボラック樹脂のH−NMRスペ
クトルは図1のとおりであり、これよりヒドロキシ基に
対するメチレン基置換位置のp/o位比率を測定した結
果、1.2であった。
Example 1 In a glass reactor equipped with a stirrer, a condenser and a nitrogen gas inlet tube, 94 g (1 mol) of phenol and a 19.5% aqueous 37% formalin solution were used.
g (0.24 mol in terms of formaldehyde) and 0.57 g of oxalic acid dihydrate were charged and reacted at 65 ° C. for 4 hours.
The 1 H-NMR spectrum of the produced phenol novolak resin was as shown in FIG. 1, and the p / o ratio of the methylene group substitution position with respect to the hydroxy group was measured.

【0056】その後、さらにフェノール106.2g
(1.13モル)、サリチルアルデヒド29.3g
(0.24モル)、35%塩酸水溶液7.1gを追加仕
込み、65℃で4時間反応させた。反応後の縮合液中
に、未反応ホルムアルデヒド及びサリチルアルデヒドは
いずれも検出されなかった(反応率100%)。
Thereafter, 106.2 g of phenol was further added.
(1.13 mol), 29.3 g of salicylaldehyde
(0.24 mol) and 7.1 g of 35% hydrochloric acid aqueous solution were additionally charged and reacted at 65 ° C. for 4 hours. Unreacted formaldehyde and salicylaldehyde were not detected in the condensed liquid after the reaction (reaction rate: 100%).

【0057】この縮合液を、さらに減圧下熱処理するこ
とで、未反応のフェノール、水、蓚酸及びHClを系外
に除去することにより、99.2gのフェノール系重合
体を得た。
The condensed liquid was further heat-treated under reduced pressure to remove unreacted phenol, water, oxalic acid and HCl out of the system, thereby obtaining 99.2 g of a phenol polymer.

【0058】原料仕込み比:サリチルアルデヒド+ホル
ムアルデヒドの合計に対して、フェノールは4.4モル
倍。 生成フェノール系重合体の性状は下記のとおりであり、
サリチルアルデヒドを添加して反応を続けることによ
り、フェノールノボラック樹脂重合単位中のヒドロキシ
基に対するメチレン基置換位置のp/o位比率は1.2
から2.5まで上昇した。 水酸基当量 :100g/eq 150℃溶融粘度 :190mPa・s m/n :1.0(アルデヒド類の反応率より求めた値) p/o比 :2.5
Raw material charge ratio: phenol is 4.4 mole times the sum of salicylaldehyde and formaldehyde. The properties of the resulting phenolic polymer are as follows,
By continuing the reaction by adding salicylaldehyde, the p / o position ratio of the methylene group substitution position to the hydroxy group in the phenol novolak resin polymerized unit becomes 1.2.
From 2.5 to 2.5. Hydroxyl equivalent: 100 g / eq 150 ° C. Melt viscosity: 190 mPa · s m / n: 1.0 (value obtained from the reaction rate of aldehydes) p / o ratio: 2.5

【0059】[実施例2]撹拌装置、コンデンサー、及
び窒素ガス導入管を備えたガラス製反応釜に、フェノー
ル94g(1モル)、37%ホルマリン水溶液14.6
g(ホルムアルデヒド換算で0.18モル)、蓚酸2水
和物1.1gを仕込み、40℃で5時間反応させた。
Example 2 In a glass reactor equipped with a stirrer, condenser and nitrogen gas inlet tube, 94 g (1 mol) of phenol and a 14.6% aqueous 37% formalin solution were used.
g (0.18 mol in terms of formaldehyde) and 1.1 g of oxalic acid dihydrate were charged and reacted at 40 ° C. for 5 hours.

【0060】その後、さらにフェノール17.4g
(0.19モル)、サリチルアルデヒド16.9g
(0.14モル)、35%塩酸水溶液8.2gを追加仕
込み、40℃で8時間反応させた。反応後の縮合液中
に、未反応ホルムアルデヒド及びサリチルアルデヒドは
いずれも検出されなかった(反応率100%)。
After that, 17.4 g of phenol was further added.
(0.19 mol), 16.9 g of salicylaldehyde
(0.14 mol) and 8.2 g of 35% hydrochloric acid aqueous solution were additionally charged and reacted at 40 ° C. for 8 hours. Unreacted formaldehyde and salicylaldehyde were not detected in the condensed liquid after the reaction (reaction rate: 100%).

【0061】この縮合液を、さらに減圧下熱処理するこ
とで、未反応のフェノール、水、蓚酸及びHClを系外
に除去することにより、65.0gのフェノール系重合
体を得た。
The condensed liquid was further heat-treated under reduced pressure to remove unreacted phenol, water, oxalic acid and HCl out of the system, thereby obtaining 65.0 g of a phenol polymer.

【0062】原料仕込み比:サリチルアルデヒド+ホル
ムアルデヒドの合計に対して、フェノールは3.72モ
ル倍。 生成フェノール系重合体の性状 水酸基当量 :101g/eq 150℃溶融粘度 :180mPa・s m/n :1.3(アルデヒド類の反応率より求めた値) p/o比 :3.0(図2のH−NMRスペクトルより)
Raw material charge ratio: 3.72 moles of phenol to the sum of salicylaldehyde and formaldehyde. Properties of formed phenolic polymer Hydroxyl equivalent: 101 g / eq 150 ° C. Melt viscosity: 180 mPa · s m / n: 1.3 (value obtained from the reaction rate of aldehydes) p / o ratio: 3.0 (FIG. 2) From 1 H-NMR spectrum)

【0063】[実施例3]35%塩酸水溶液8.2gの代
わりに、10%のトリフルオロメタンスルホン酸160
mgを用いた以外は実施例2と同様の処理を行ない、6
3.0gのフェノール系重合体を得た。
Example 3 Instead of 8.2 g of 35% hydrochloric acid aqueous solution, 10% trifluoromethanesulfonic acid 160
The same processing as in Example 2 was performed except that mg was used.
3.0 g of a phenolic polymer was obtained.

【0064】原料仕込み比:サリチルアルデヒド+ホル
ムアルデヒドの合計に対して、フェノールは3.72モ
ル倍。 生成フェノール系重合体の性状 水酸基当量 :101g/eq 150℃溶融粘度 :200mPa・s m/n :1.3(アルデヒド類の反応率より求めた値) p/o比 :2.8
Raw material charge ratio: 3.72 moles of phenol based on the sum of salicylaldehyde and formaldehyde. Properties of formed phenolic polymer Hydroxyl equivalent: 101 g / eq 150 ° C. Melt viscosity: 200 mPa · s m / n: 1.3 (value obtained from the reaction rate of aldehydes) p / o ratio: 2.8

【0065】[比較例1]実施例1〜3で用いたガラス
製反応釜に、フェノール94g(1モル)37%ホルマ
リン水溶液19.5g(ホルムアルデヒド換算で0.2
4モル)、蓚酸2水和物0.34gを仕込み90℃で4
時間反応させた。その後さらにフェノール106.2g
(1.13モル)、サリチルアルデヒド29.3g
(0.24モル)、35%塩酸水溶液7.1gを追加仕
込み、90℃で4時間反応させた。反応後縮合液中に、
未反応ホルムアルデヒド及びサリチルアルデヒドはいず
れも検出されなかった(反応率100%)。この縮合液
を、さらに減圧下熱処理することで、未反応のフェノー
ル、水、蓚酸及びHClを系外に除去することにより、
99.0gのフェノール系重合体を得た。 原料仕込み比:サリチルアルデヒド+ホルムアルデヒド
の合計に対して、フェノールは4.4モル倍。 生成フェノール系重合体の性状 水酸基当量 :100g/eq 150℃溶融粘度 :190mPa・s m/n :1.0(アルデヒド類の反応率より求めた値) p/o比 :1.7
Comparative Example 1 Into the glass reactors used in Examples 1 to 3, 19.5 g of a phenol 94 g (1 mol) aqueous 37% formalin solution (0.2 g in terms of formaldehyde) was added.
4 mol), and 0.34 g of oxalic acid dihydrate was charged at 90 ° C.
Allowed to react for hours. Thereafter, 106.2 g of phenol is further added.
(1.13 mol), 29.3 g of salicylaldehyde
(0.24 mol) and 7.1 g of 35% hydrochloric acid aqueous solution were additionally charged and reacted at 90 ° C. for 4 hours. After the reaction,
Unreacted formaldehyde and salicylaldehyde were not detected (reaction rate: 100%). By further heat-treating this condensed liquid under reduced pressure, by removing unreacted phenol, water, oxalic acid and HCl out of the system,
99.0 g of a phenolic polymer was obtained. Raw material charge ratio: phenol is 4.4 mole times the sum of salicylaldehyde and formaldehyde. Properties of formed phenolic polymer Hydroxyl equivalent: 100 g / eq 150 ° C. Melt viscosity: 190 mPa · sm / n: 1.0 (value obtained from the reaction rate of aldehydes) p / o ratio: 1.7

【0066】[比較例2]反応温度を75℃とした以外
は比較例1と同様な処理を行い99.2gのフェノール
系重合体を得た。 生成フェノール系重合体の性状 水酸基当量 :100g/eq 150℃溶融粘度 :190mPa・s m/n :1.0(アルデヒド類の反応率より求めた値) p/o比 :1.8(図3のH−NMRスペクトルより)
Comparative Example 2 The same treatment as in Comparative Example 1 was carried out except that the reaction temperature was 75 ° C., to obtain 99.2 g of a phenolic polymer. Properties of Produced Phenolic Polymer Hydroxyl Equivalent: 100 g / eq 150 ° C. Melt Viscosity: 190 mPa · s m / n: 1.0 (Value Obtained from Reaction Rate of Aldehydes) p / o Ratio: 1.8 (FIG. 3) From 1 H-NMR spectrum)

【0067】[実施例4〜6、比較例3〜4]実施例1〜
3、比較例1〜2で得られたフェノール系重合体を硬化
剤として用い、表1に示す配合比で、エポキシ樹脂組成
物を製造した。配合方法は、ロール混練機を用い、80
〜90℃で4分間の混練を行い、冷却後粉砕してエポキ
シ樹脂組成物を得た。硬化剤特性及び得られたエポキシ
樹脂組成物特性を測定した。尚、使用したエポキシ樹脂
は、オルソクレゾール型エポキシ樹脂(住友化学社製E
SCN195XL、エポキシ当量196g/eq)であ
る。またここで得られたエポキシ樹脂組成物を用いて、
金型温度175℃、圧力60kgf/cm2の条件下で60秒低圧ト
ランスファー成形し、42アロイのリードフレームに搭
載された半導体素子(6.7mm×6.7mm×0.4mm)を封止す
ることにより、外寸20×14×2.7mmの60ピン−QFP
(クワットフラットパッケージ)を製造した。このトラ
ンスファー成形の際の、パッケージのショア硬度を測定
するとともに、カル部のスタッキングやフクレを観察
し、実際の半導体装置製造工程での生産性(成形性)を
評価した。結果を表1に示す。
[Examples 4-6, Comparative Examples 3-4]
3. Using the phenolic polymers obtained in Comparative Examples 1 and 2 as a curing agent, epoxy resin compositions were produced at the compounding ratios shown in Table 1. The compounding method is as follows:
The mixture was kneaded at ~ 90 ° C for 4 minutes, cooled and pulverized to obtain an epoxy resin composition. The properties of the curing agent and the properties of the obtained epoxy resin composition were measured. The epoxy resin used was an orthocresol type epoxy resin (Sumitomo Chemical E
SCN 195XL, epoxy equivalent 196 g / eq). Also, using the epoxy resin composition obtained here,
Low-pressure transfer molding is performed for 60 seconds at a mold temperature of 175 ° C. and a pressure of 60 kgf / cm 2 to seal a semiconductor element (6.7 mm × 6.7 mm × 0.4 mm) mounted on a 42 alloy lead frame. Outer dimensions 20 × 14 × 2.7mm 60 pins-QFP
(Quat Flat Package) was manufactured. During the transfer molding, the Shore hardness of the package was measured, and the stacking and blistering of the cull portion were observed to evaluate the productivity (formability) in the actual semiconductor device manufacturing process. Table 1 shows the results.

【0068】[0068]

【表1】 [Table 1]

【0069】表1から明らかなように、実施例1〜3で
得られたフェノール系重合体は、エポキシ樹脂硬化剤と
して、低溶融粘度、速硬化性及び得られたエポキシ樹脂
の高ガラス転移点の全てを兼ね備えている.これに対し
比較例1及び2で得られたフェノール系重合体は硬化性
が劣っている。
As is evident from Table 1, the phenolic polymers obtained in Examples 1 to 3 were used as epoxy resin curing agents with low melt viscosity, rapid curability and high glass transition point of the obtained epoxy resin. It has all of. In contrast, the phenolic polymers obtained in Comparative Examples 1 and 2 have inferior curability.

【0070】[0070]

【発明の効果】本発明のフェノール系重合体は、分子内
にトリフェノールメタン型樹脂及びフェノールノボラッ
ク樹脂の重合単位を共に有し、両者それぞれの重合度及
び両者の重合度の比が特定の範囲であり、かつフェノー
ルノボラック重合単位中のヒドロキシ基に対するメチレ
ン基置換位置を、p/o位で2.0以上としたことによ
り、エポキシ硬化剤に好適な、低溶融粘度、高ガラス転
移温度を兼ね備えた重合体であり、しかも、硬化性も優
れているので、BGA等、最新の半導体装置用の封止材
料に対応でき、エポキシ硬化剤として有用である。
The phenolic polymer of the present invention has both polymerized units of triphenolmethane-type resin and phenol novolak resin in the molecule, and the degree of polymerization of each of them and the ratio of the degree of polymerization of both are within a specific range. And the methylene group substitution position with respect to the hydroxy group in the phenol novolak polymerized unit is 2.0 or more at the p / o position, thereby having both low melt viscosity and high glass transition temperature suitable for an epoxy curing agent. Since it is a polymer having excellent curability, it can be used as a sealing material for the latest semiconductor devices such as BGA, and is useful as an epoxy curing agent.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施例1の中間生成物(フェノールノボラック
樹脂)のH−NMRスペクトル。
FIG. 1 is a 1 H-NMR spectrum of an intermediate product (phenol novolak resin) of Example 1.

【図2】実施例2の最終生成物のH−NMRスペクト
ル。
FIG. 2 is the 1 H-NMR spectrum of the final product of Example 2.

【図3】比較例2の最終生成物のH−NMRスペクト
ル。
FIG. 3 is a 1 H-NMR spectrum of a final product of Comparative Example 2.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4J033 CA02 CA05 CA10 CA11 CB03 CC03 CC08 CC09 HA12 HB06 4J036 AA01 DA02 FB08 JA07 4M109 AA01 EB03 EB04 EB12 EC05 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page F term (reference) 4J033 CA02 CA05 CA10 CA11 CB03 CC03 CC08 CC09 HA12 HB06 4J036 AA01 DA02 FB08 JA07 4M109 AA01 EB03 EB04 EB12 EC05

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 下記一般式(1)で表わされるフェノール
系重合体において、150℃における溶融粘度が50〜
300mPa・sであり、フェノールノボラック重合単
位中のヒドロキシ基に対するメチレン基置換位置が、p
/o位で2.0以上であることを特徴とするフェノール
系重合体。 【化1】 (式中、m/nは0.7〜1.5であり、R、R、R
びRはアルキル基であり、p、q、r及びsは0〜2であ
る。)
1. A phenolic polymer represented by the following general formula (1) having a melt viscosity at 150 ° C. of 50 to 50:
The methylene group substitution position with respect to the hydroxy group in the phenol novolak polymerized unit is p
A phenolic polymer having a / o position of 2.0 or more. Embedded image (In the formula, m / n is 0.7 to 1.5, R 1 , R 2 , R 3 and R 4 are alkyl groups, and p, q, r and s are 0 to 2.)
【請求項2】 p、q、r及びsが0であることを特徴とす
る請求項1記載のフェノール系重合体。
2. The phenolic polymer according to claim 1, wherein p, q, r and s are 0.
【請求項3】 サリチルアルデヒド類及びホルムアルデ
ヒド合計1モルに対しフェノール類を3.0モル以上の
割合で、フェノール類、サリチルアルデヒド類及びホル
ムアルデヒドを酸触媒の存在下、70℃以下の温度で反
応させ、反応終了後、減圧処理により酸触媒と未反応の
フェノール類を除去することを特徴とする請求項1又は
2に記載のフェノール系重合体の製造方法。
3. The reaction of phenols, salicylaldehydes and formaldehyde at a temperature of 70 ° C. or less in the presence of an acid catalyst at a ratio of 3.0 mol or more of phenols to 1 mol of salicylaldehydes and formaldehyde in total. The method for producing a phenolic polymer according to claim 1 or 2, wherein after the reaction is completed, phenols unreacted with the acid catalyst are removed by a reduced pressure treatment.
【請求項4】 反応途中で酸触媒を追加添加して反応を
続けることを特徴とする請求項3に記載のフェノール系
重合体の製造方法。
4. The method for producing a phenolic polymer according to claim 3, wherein the reaction is continued by additionally adding an acid catalyst during the reaction.
【請求項5】 酸触媒の存在下、70℃以下の温度でホ
ルムアルデヒドと、ホルムアルデヒド1モル当たり2.
5モル以上のフェノール類とを反応させてフェノールノ
ボラック樹脂を生成させ、ついでサリチルアルデヒド類
及び、必要に応じてフェノール類を添加し、70℃以下
の温度で該フェノールノボラック樹脂及び酸触媒の存在
下、サリチルアルデヒド類1モル当たりフェノール類の
合計添加量合計2.0モル以上で反応を続けることを特
徴とする請求項3に記載のフェノール系重合体の製造方
法。
5. A method according to claim 1, wherein the formaldehyde is added at a temperature of not more than 70 ° C. in the presence of an acid catalyst.
A phenol novolak resin is produced by reacting with 5 mol or more of phenols, and then salicylaldehydes and, if necessary, phenols are added. 4. The method for producing a phenolic polymer according to claim 3, wherein the reaction is continued at a total amount of 2.0 mol or more of phenols per 1 mol of salicylaldehydes.
【請求項6】サリチルアルデヒド類1モルに対しホルム
アルデヒド0.7〜1.5モルの割合で使用することを
特徴とする請求項3〜5のいずれかに記載の フェノー
ル系重合体の製造方法。
6. The method for producing a phenolic polymer according to any one of claims 3 to 5, wherein formaldehyde is used in a ratio of 0.7 to 1.5 mol per mol of salicylaldehyde.
【請求項7】 酸触媒が塩酸、蓚酸またはトリフルオロ
メタンスルホン酸であることを特徴とする請求項3〜6
のいずれかに記載のフェノール系重合体の製造方法。
7. The method according to claim 3, wherein the acid catalyst is hydrochloric acid, oxalic acid or trifluoromethanesulfonic acid.
The method for producing a phenolic polymer according to any one of the above.
【請求項8】 請求項1又は2に記載のフェノール系重
合体からなるエポキシ樹脂用硬化剤。
8. A curing agent for an epoxy resin comprising the phenolic polymer according to claim 1 or 2.
【請求項9】 エポキシ樹脂(A)、請求項1または2
に記載のフェノール系重合体(B)、無機充填材(C)
及び硬化促進剤(D)を含む半導体封止用エポキシ樹脂
組成物。
9. An epoxy resin (A), according to claim 1 or 2
Phenolic polymer (B), inorganic filler (C)
And an epoxy resin composition for semiconductor encapsulation containing a curing accelerator (D).
【請求項10】 請求項9に記載のエポキシ樹脂組成物
を用いて半導体素子を封止してなる半導体装置。
10. A semiconductor device comprising a semiconductor element encapsulated with the epoxy resin composition according to claim 9.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008069343A1 (en) * 2006-12-05 2008-06-12 Sumitomo Bakelite Company Limited Semiconductor package, core layer material, buildup layer material, and encapsulation resin composition
JP2008163138A (en) * 2006-12-27 2008-07-17 Sumitomo Bakelite Co Ltd Semiconductor-sealing epoxy resin composition and semiconductor device
WO2011013571A1 (en) * 2009-07-27 2011-02-03 宇部興産株式会社 Phenol compound and method for producing same
JP5660272B2 (en) * 2007-03-30 2015-01-28 住友ベークライト株式会社 Flip chip semiconductor package connection structure, build-up layer material, sealing resin composition, and circuit board
JP2015110695A (en) * 2013-12-06 2015-06-18 昭和電工株式会社 Phenolic resin composition, thermosetting resin composition, and cured product
CN104927755A (en) * 2015-07-14 2015-09-23 黑龙江省科学院石油化学研究院 Normal-temperature solidification instant-high-temperature-resistant high-flexibility epoxy adhesive and preparing method thereof
JP2017036365A (en) * 2015-08-07 2017-02-16 群栄化学工業株式会社 Novel imino group-containing resin

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008069343A1 (en) * 2006-12-05 2008-06-12 Sumitomo Bakelite Company Limited Semiconductor package, core layer material, buildup layer material, and encapsulation resin composition
US8592994B2 (en) 2006-12-05 2013-11-26 Sumitomo Bakelite Co., Ltd. Semiconductor package, core layer material, buildup layer material, and sealing resin composition
JP5608977B2 (en) * 2006-12-05 2014-10-22 住友ベークライト株式会社 Semiconductor package, core layer material, buildup layer material, and sealing resin composition
JP2008163138A (en) * 2006-12-27 2008-07-17 Sumitomo Bakelite Co Ltd Semiconductor-sealing epoxy resin composition and semiconductor device
JP5660272B2 (en) * 2007-03-30 2015-01-28 住友ベークライト株式会社 Flip chip semiconductor package connection structure, build-up layer material, sealing resin composition, and circuit board
WO2011013571A1 (en) * 2009-07-27 2011-02-03 宇部興産株式会社 Phenol compound and method for producing same
JP2015110695A (en) * 2013-12-06 2015-06-18 昭和電工株式会社 Phenolic resin composition, thermosetting resin composition, and cured product
CN104927755A (en) * 2015-07-14 2015-09-23 黑龙江省科学院石油化学研究院 Normal-temperature solidification instant-high-temperature-resistant high-flexibility epoxy adhesive and preparing method thereof
JP2017036365A (en) * 2015-08-07 2017-02-16 群栄化学工業株式会社 Novel imino group-containing resin

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