JP2002310870A - Hardness tester - Google Patents
Hardness testerInfo
- Publication number
- JP2002310870A JP2002310870A JP2001121468A JP2001121468A JP2002310870A JP 2002310870 A JP2002310870 A JP 2002310870A JP 2001121468 A JP2001121468 A JP 2001121468A JP 2001121468 A JP2001121468 A JP 2001121468A JP 2002310870 A JP2002310870 A JP 2002310870A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- objective lens
- sample
- hardness tester
- sample surface
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、硬さ試験機に関
し、詳細には、ビッカース硬さ試験機や微小硬さ試験機
のように、試料表面に形成されたくぼみの大きさから硬
さを計測する硬さ試験機に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a hardness tester, and more particularly to a hardness tester, such as a Vickers hardness tester or a micro hardness tester, which measures the hardness from the size of a dent formed on the surface of a sample. It relates to a hardness tester for measuring.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、ビッカース硬さ試験機には、くぼ
みの形状を計測するための光学顕微鏡とくぼみを形成す
るための四角錐形の圧子が設けられており、硬さ試験を
実施する際には、まず試料表面と光学顕微鏡の焦点合わ
せを行った後、所定の荷重を圧子により試料表面に加え
てくぼみを形成させ、再び光学顕微鏡によりくぼみの対
角線の長さを計測することにより硬さを算出する。2. Description of the Related Art Conventionally, a Vickers hardness tester is provided with an optical microscope for measuring the shape of a depression and a quadrangular pyramid indenter for forming the depression. First, after focusing on the sample surface and the optical microscope, a predetermined load is applied to the sample surface with an indenter to form a depression, and the hardness is measured again by measuring the diagonal length of the depression with the optical microscope. Is calculated.
【０００３】光学顕微鏡の焦点合わせを手動で行うビッ
カース硬さ試験機には、試料台を上下に移動させるハン
ドルが設けられており、オペレータは試料表面を観察し
ながら、ハンドルを回して試料台を上下に移動させ、光
学顕微鏡と試料表面の焦点が合った位置に試料台を固定
させている。A Vickers hardness tester for manually focusing an optical microscope is provided with a handle for moving the sample stage up and down, and an operator turns the handle to turn the sample stage while observing the sample surface. The sample stage is moved up and down, and the sample stage is fixed at a position where the optical microscope and the sample surface are in focus.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】ところで、ビッカース
硬さ試験では、測定精度確保のため試料表面を鏡面に加
工することがあり、このような試料の焦点合わせを行う
場合には、試料表面のコントラストがはっきりせず、焦
点合わせに時間がかかったり、試料表面と対物レンズが
接触してしまうなどの問題がある。In the Vickers hardness test, the surface of the sample may be mirror-finished in order to secure the measurement accuracy. However, there is a problem that it is not clear, it takes time to focus, or the sample surface comes into contact with the objective lens.
【０００５】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
であって、試料表面の焦点合わせを効率よく、確実に実
施できる硬さ試験機を提供することを目的とする。The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to provide a hardness tester capable of efficiently and reliably performing focusing on a sample surface.
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】対物レンズ５を介して試
料Ｓの表面を照射する光源（ランプハウス１４）と、前
記試料の表面の像を観察する接眼レンズ９と、前記試料
もしくは前記対物レンズの少なくとも一方を前記対物レ
ンズの光軸に沿って移動させる移動手段（ハンドル８）
と、を有する硬さ試験機において、前記光源と前記対物
レンズとの間に前記光源から放射された光の一部を遮断
する遮光部（ガラス板１９）を設け、前記遮光部は、そ
の投影像を前記対物レンズの焦点を含む前記対物レンズ
に平行な平行面であり、かつ、前記接眼レンズの視野の
範囲に結像するように配置されていることを特徴とす
る。A light source (lamp house 14) for irradiating the surface of a sample S through an objective lens 5, an eyepiece 9 for observing an image of the surface of the sample, and the sample or the objective lens Moving means (handle 8) for moving at least one of them along the optical axis of the objective lens
And a light-shielding portion (glass plate 19) for blocking a part of the light emitted from the light source is provided between the light source and the objective lens. The image forming apparatus is characterized in that an image is formed on a parallel plane including the focal point of the objective lens and parallel to the objective lens, and is arranged so as to form an image in a range of a visual field of the eyepiece.
【０００７】請求項１記載の発明によれば、対物レンズ
の焦点を含む平面には、遮光部によって形成された投影
像が結像し、その投影像は接眼レンズの視野に含まれる
ため、オペレータは、前記投影像を基準として焦点合わ
せができるようになり、コントラストの変化がはっきり
し、試料表面の焦点合わせが効率よく、確実に実施でき
るようになる。According to the first aspect of the present invention, the projection image formed by the light shielding portion is formed on the plane including the focal point of the objective lens, and the projection image is included in the field of view of the eyepiece. In this method, focusing can be performed based on the projection image, a change in contrast becomes clear, and focusing on the sample surface can be performed efficiently and reliably.
【０００８】請求項２記載の発明は、請求項１記載の硬
さ試験機において、圧子４により前記試料表面に形成さ
れたくぼみの大きさを測定するくぼみ測定機構を備え、
前記遮光部は、前記くぼみ測定機構により測定可能な大
きさのくぼみの外側の試料表面に前記投影像を投影させ
るように配置されていることを特徴とする。According to a second aspect of the present invention, in the hardness tester of the first aspect, there is provided a depression measuring mechanism for measuring the size of the depression formed on the sample surface by the indenter 4.
The light-shielding portion is arranged so as to project the projection image onto a sample surface outside a depression having a size that can be measured by the depression measurement mechanism.
【０００９】請求項２記載の発明によれば、試料表面に
投影される投影像は、硬さ試験機が測定できるくぼみの
最大計測長よりも外側に投影されるようになっており、
投影像がくぼみの計測に影響を与えない。According to the second aspect of the present invention, the projected image projected on the sample surface is projected outside the maximum measurement length of the depression which can be measured by the hardness tester,
The projected image does not affect the measurement of the depression.
【００１０】[0010]
【発明の実施の形態】以下、本発明を適用したビッカー
ス硬さ試験機を詳細に説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a Vickers hardness tester to which the present invention is applied will be described in detail.
【００１１】まず、ビッカース硬さ試験機１の構成を説
明する。ビッカース硬さ試験機１は本体部２と、本体部
２の上側に取り付けられ、試料表面を観察する光学顕微
鏡３と、この光学顕微鏡３の下部に設けられ、回転する
ことにより圧子４と対物レンズ５との切り換えが可能な
ターレット６と、前記本体部２の下部に上下動可能に取
り付けられ、前記ターレット６と対向配設された試料台
７と、試料台７を上下に移動させるハンドル８などによ
り構成されている。First, the configuration of the Vickers hardness tester 1 will be described. The Vickers hardness tester 1 includes a main body 2, an optical microscope 3 mounted on the upper side of the main body 2, for observing the surface of the sample, and a lower part of the optical microscope 3. A turret 6 which can be switched between the turret 6 and a sample table 7 which is attached to the lower part of the main body 2 so as to be movable up and down, and which is disposed opposite to the turret 6 and which moves the sample table 7 up and down, etc. It consists of.
【００１２】光学顕微鏡３は、図２に示すように、対物
レンズ５の他、試料表面に光を供給する光源部１３と、
試料表面からの反射光の角度を変更させる反射鏡１２
と、反射鏡１２によって角度が変更された反射光を通す
鏡筒１１と、試料表面の像を観察可能にする接眼レンズ
９などにより構成される。As shown in FIG. 2, the optical microscope 3 includes, in addition to the objective lens 5, a light source unit 13 for supplying light to the sample surface,
Reflecting mirror 12 for changing the angle of reflected light from the sample surface
And a lens barrel 11 through which reflected light whose angle has been changed by the reflecting mirror 12 and an eyepiece 9 enabling observation of an image of the sample surface.
【００１３】光源部１３は、図３に示すように、電灯を
内蔵するランプハウス１４、このランプハウス１４に接
続されランプハウス１４からの光の通路となる光路管１
５などを備えている。As shown in FIG. 3, a light source unit 13 includes a lamp house 14 having a built-in electric lamp, and an optical path tube 1 connected to the lamp house 14 and serving as a path for light from the lamp house 14.
5 and the like.
【００１４】光路管１５の先端部１５ａの端面は斜めに
なっており、先端部１５ａは鏡筒１１に挿入されてお
り、この先端部１５ａの端面には、ハーフミラー２１が
取り付けられている。An end face of a tip part 15a of the optical path tube 15 is slanted, and the tip part 15a is inserted into the lens barrel 11, and a half mirror 21 is attached to the end face of the tip part 15a.
【００１５】そして、ランプハウス１４より放出された
光はハーフミラー２１に反射され、対物レンズ５を通っ
て試料表面に落射照明するようになっている。また、試
料表面から反射した光は対物レンズ５、ハーフミラー２
１を通り、接眼レンズ９で観察可能になっている。The light emitted from the lamp house 14 is reflected by the half mirror 21, passes through the objective lens 5, and illuminates the sample surface with incident light. The light reflected from the sample surface is reflected by the objective lens 5 and the half mirror 2.
1 through the eyepiece 9.
【００１６】光路管１５の内部には、図４に示すように
凸レンズ１６、半凸レンズ１７からなるコリメータレン
ズと、凸レンズ１６、半凸レンズ１７に挟まれた開口リ
ング１８が設けられており、ランプハウス１４から発し
た光は凸レンズ１６、開口リング１８、半凸レンズ１７
を通って鏡筒１１に放射される。As shown in FIG. 4, a collimator lens composed of a convex lens 16 and a semi-convex lens 17 and an opening ring 18 sandwiched between the convex lens 16 and the semi-convex lens 17 are provided inside the optical path tube 15. The light emitted from 14 is a convex lens 16, an aperture ring 18, a semi-convex lens 17
The light is emitted to the lens barrel 11 through the lens.
【００１７】開口リング１８は、図５に示すように、ラ
ンプハウス１４からの光を通過させる開口部１８ａが設
けられており、この開口リング１８には、開口部１８ａ
を塞ぐガラス板１９が取り付けられている。このガラス
板１９には直線模様２０が描かれており、ガラス板１９
の直線模様２０は、光路の中心からはずれた位置に配置
され、開口リング１８を光が通過した場合、直線模様２
０の影が試料表面に投影されるようになっている。As shown in FIG. 5, the opening ring 18 is provided with an opening 18a through which light from the lamp house 14 passes, and the opening ring 18 has an opening 18a.
A glass plate 19 for closing the glass is attached. On this glass plate 19, a straight pattern 20 is drawn.
Is disposed at a position deviated from the center of the optical path, and when light passes through the aperture ring 18, the linear pattern 2
A shadow of 0 is projected on the sample surface.
【００１８】このとき、開口リング１８を通過した際に
投影される直線模様の影が合焦する位置と、対物レンズ
５と試料表面が合焦する位置は等しくなるように設計さ
れている。すなわち、試料表面と対物レンズ５、対物レ
ンズ５と半凸レンズ１７の間の距離は決まっているの
で、この距離と、対物レンズ５と半凸レンズ１７の屈折
率からガラス板１９の直線模様と対物レンズ５の焦点が
合致する位置が算出され、その位置にガラス板１９を配
置することにより、対物レンズ５と試料表面の合焦する
位置と、模様が試料表面で合焦する位置が等しくなる。At this time, the position where the shadow of the linear pattern projected when passing through the aperture ring 18 is designed to be equal to the position where the objective lens 5 and the sample surface are focused is the same. That is, since the distance between the sample surface and the objective lens 5 and the distance between the objective lens 5 and the semi-convex lens 17 are determined, the linear pattern of the glass plate 19 and the objective lens are determined from this distance and the refractive indexes of the objective lens 5 and the semi-convex lens 17. The position where the focus of 5 coincides is calculated, and by arranging the glass plate 19 at that position, the position where the objective lens 5 and the sample surface are in focus is equal to the position where the pattern is focused on the sample surface.
【００１９】このように、対物レンズ５と試料表面の焦
点が合うと、試料表面に投影される影の像の焦点も合う
ように設計されているため、対物レンズ５と試料表面の
焦点が合っていないときには影の輪郭がぼやけ、対物レ
ンズ５と試料表面の焦点が合っているときには影の輪郭
がはっきりする。As described above, when the objective lens 5 is focused on the sample surface, the shadow image projected on the sample surface is also designed to be focused, so that the objective lens 5 is focused on the sample surface. When not, the outline of the shadow is blurred, and when the objective lens 5 and the sample surface are in focus, the outline of the shadow is clear.
【００２０】そのため、オペレータは影のコントラスト
を確認することにより対物レンズ５と試料表面の合焦を
検出でき、試料表面が鏡面であったとしても試料表面の
合焦が検出しやすくなっている。Therefore, the operator can detect the focus between the objective lens 5 and the sample surface by checking the contrast of the shadow, and it is easy to detect the focus on the sample surface even if the sample surface is a mirror surface.
【００２１】また、ガラス板１９に描かれた直線模様２
０は、試料表面の端に投影されるように描かれている
が、この位置はビッカース硬さ試験機１の最大計測長、
すなわち、ビッカース硬さ試験機１が計測できるくぼみ
の大きさ最大の計測長よりも外側であり、試料表面に投
影される直線模様はくぼみの計測に影響を与えないよう
になっている。The linear pattern 2 drawn on the glass plate 19
0 is drawn so as to be projected on the edge of the sample surface, and this position is the maximum measurement length of the Vickers hardness tester 1,
In other words, the linear pattern projected on the sample surface is outside the maximum measurement length of the depression that can be measured by the Vickers hardness tester 1 and does not affect the measurement of the depression.
【００２２】次に対物レンズ５と試料表面の焦点合わせ
について説明する。まず、硬さを測定する試料Ｓをビッ
カース硬さ試験機１の試料台７に載せ、試料Ｓの上方に
対物レンズ５が位置するようにターレット６を回転させ
る。Next, focusing of the objective lens 5 and the sample surface will be described. First, the sample S whose hardness is to be measured is placed on the sample stage 7 of the Vickers hardness tester 1, and the turret 6 is rotated so that the objective lens 5 is positioned above the sample S.
【００２３】そして、ランプハウス１４の電灯を点灯さ
せ、接眼レンズ９を介して光学顕微鏡３を覗き込む。こ
のとき、ランプハウス１４からの光は凸レンズ１６、開
口リング１８、半凸レンズ１７を通って試料表面に照射
されるが、この光の一部は開口リング１８のガラス板１
９に描かれた直線模様に遮られ、試料表面には図６に示
すように直線模様の影が投影される。Then, the electric lamp of the lamp house 14 is turned on, and the optical microscope 3 is looked through the eyepiece 9. At this time, the light from the lamp house 14 passes through the convex lens 16, the aperture ring 18, and the semi-convex lens 17 and irradiates the sample surface.
9, the shadow of the linear pattern is projected on the sample surface as shown in FIG.
【００２４】次いで、オペレータは、試料表面に投影さ
れた直線模様の影を、接眼レンズ９を介して確認する
が、このとき、対物レンズ５と試料表面の焦点が合って
いないときは開口リング１８により形成された影の輪郭
はぼやけており、対物レンズ５と試料表面の焦点が合う
と直線模様の輪郭が明確になる。そのため、オペレータ
は直線模様の影を眺めながら試料台７を昇降させ、直線
模様の像の輪郭がはっきりした位置を合焦位置と判断す
ることで、試料台７の位置決めを行うことが出来る。Next, the operator checks the shadow of the linear pattern projected on the sample surface through the eyepiece 9. At this time, when the objective lens 5 and the sample surface are not in focus, the aperture ring 18 is used. Is blurred, and when the objective lens 5 and the sample surface are in focus, the outline of the linear pattern becomes clear. Therefore, the operator can move the sample table 7 up and down while watching the shadow of the linear pattern, and determine the position where the outline of the image of the linear pattern is clear as the in-focus position, thereby positioning the sample table 7.
【００２５】以上のように本発明におけるビッカース硬
さ試験機１は、一部に影のある光を試料表面に照射し、
その影のコントラストを観察することにより合焦位置を
検出するため、表面を鏡面に磨いた試料であっても、試
料のコントラストがはっきりし、対物レンズ５と試料表
面の焦点合わせが効率よく、確実に実施できるようにな
る。As described above, the Vickers hardness tester 1 of the present invention irradiates a partially shaded light to the sample surface,
Since the focus position is detected by observing the contrast of the shadow, the contrast of the sample is clear even if the surface of the sample is polished to a mirror surface, and the focusing of the objective lens 5 and the sample surface is performed efficiently and reliably. Can be implemented.
【００２６】また、試料表面を照射する光の影は、ビッ
カース硬さ試験機１のくぼみの計測長の外側にあり、く
ぼみの計測には影響を与えないようになっている。The shadow of the light illuminating the sample surface is outside the measurement length of the depression of the Vickers hardness tester 1 and does not affect the measurement of the depression.
【００２７】なお、本発明は上記実施形態に限定される
ものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形
・改良等は本発明に含まれるものとする。例えば、本発
明では、オペレータは接眼レンズ９を介して試料表面の
像を観察し対物レンズ５と試料表面の焦点を検出すると
したが、必ずしも接眼レンズ９を介して試料表面を観察
する必要はなく、試料表面の像をテレビモニタなどに写
して焦点の検出を行っても良い。It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiment, but includes modifications and improvements as long as the object of the present invention can be achieved. For example, in the present invention, the operator observes the image of the sample surface through the eyepiece 9 and detects the focus of the objective lens 5 and the sample surface. However, it is not always necessary to observe the sample surface through the eyepiece 9. Alternatively, the focus may be detected by transferring an image of the sample surface to a television monitor or the like.
【００２８】また、本実施例では、本発明をビッカース
硬さ試験機に適用したが、必ずしもビッカース硬さ試験
機である必要はなく、本発明はブリネル硬さ試験機やヌ
ープ硬さ試験機のように、試料表面にくぼみを形成しそ
のくぼみの形状によって硬さを計測する硬さ試験機に適
用される。In this embodiment, the present invention is applied to a Vickers hardness tester. However, the present invention is not necessarily required to be a Vickers hardness tester, and the present invention relates to a Brinell hardness tester and a Knoop hardness tester. As described above, the present invention is applied to a hardness tester which forms a depression on the surface of a sample and measures hardness according to the shape of the depression.
【００２９】[0029]
【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、対物レン
ズの焦点を含む平面には、遮光部によって形成された投
影像が結像し、その投影像は接眼レンズの視野に含まれ
るため、オペレータは、前記投影像を基準として焦点合
わせができるようになり、コントラストの変化がはっき
りし、試料表面の焦点合わせが効率よく、確実に実施で
きるようになる。According to the first aspect of the present invention, the projection image formed by the light shielding portion is formed on the plane including the focal point of the objective lens, and the projection image is included in the field of view of the eyepiece. The operator can focus on the projection image as a reference, the change in contrast becomes clear, and the focusing on the sample surface can be performed efficiently and reliably.
【００３０】請求項２記載の発明によれば、試料表面に
投影される投影像は、硬さ試験機が測定できるくぼみの
最大計測長よりも外側に投影されるようになっており、
投影像がくぼみの計測に影響を与えないようになってい
る。According to the second aspect of the present invention, the projection image projected on the sample surface is projected outside the maximum measurement length of the depression that can be measured by the hardness tester,
The projection image does not affect the measurement of the depression.
【図１】本発明を適用したビッカース硬さ試験機の構造
を示す概略正面図である。FIG. 1 is a schematic front view showing the structure of a Vickers hardness tester to which the present invention is applied.
【図２】光学顕微鏡の構造を示す光学顕微鏡要部の縦断
面図である。FIG. 2 is a longitudinal sectional view of a main part of the optical microscope showing a structure of the optical microscope.
【図３】光源部の構造を示す正面図である。FIG. 3 is a front view showing a structure of a light source unit.
【図４】光源部の内部構造を示す断面図である。FIG. 4 is a sectional view showing an internal structure of a light source unit.
【図５】開口リングの構造を示す斜視図である。FIG. 5 is a perspective view showing a structure of an opening ring.
【図６】試料表面の投影像を示す図である。FIG. 6 is a view showing a projected image of a sample surface.
１ 硬さ試験機 ４ 圧子 ５ 対物レンズ ８ ハンドル ９ 接眼レンズ １０ 制御部 １４ ランプハウス １９ ガラス板 Ｓ 試料 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Hardness tester 4 Indenter 5 Objective lens 8 Handle 9 Eyepiece 10 Control part 14 Lamp house 19 Glass plate S Sample
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2H044 BB07 2H052 AC04 AD09 AD19 AF02 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2H044 BB07 2H052 AC04 AD09 AD19 AF02
Claims (2)
光源と、 前記試料の表面の像を観察する接眼レンズと、 前記試料もしくは前記対物レンズの少なくとも一方を前
記対物レンズの光軸に沿って移動させる移動手段と、を
有する硬さ試験機において、 前記光源と前記対物レンズとの間に前記光源から放射さ
れた光の一部を遮断する遮光部を設け、 前記遮光部は、 その投影像を前記対物レンズの焦点を含む前記対物レン
ズに平行な平行面であり、かつ、前記接眼レンズの視野
の範囲に結像するように配置されていることを特徴とす
る硬さ試験機。1. A light source for irradiating a surface of a sample via an objective lens, an eyepiece for observing an image of the surface of the sample, and at least one of the sample and the objective lens along an optical axis of the objective lens And a moving means for moving the light source. The light source further comprises: a light-shielding unit that intercepts a part of light emitted from the light source between the light source and the objective lens; A hardness tester, wherein an image is arranged in a parallel plane parallel to the objective lens including a focal point of the objective lens, and is arranged so as to form an image in a range of a visual field of the eyepiece.
ぼみ測定機構を備え、 前記遮光部は、前記くぼみ測定機構により測定可能な大
きさのくぼみの外側の試料表面に前記投影像を投影させ
るように配置されていることを特徴とする硬さ試験機。2. The hardness tester according to claim 1, further comprising: a dent measuring mechanism for measuring a size of the dent formed on the surface of the sample, wherein the light shielding unit has a size that can be measured by the dent measuring mechanism. A hardness tester, wherein the hardness tester is arranged so as to project the projection image onto a sample surface outside a recess.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001121468A JP2002310870A (en) | 2001-04-19 | 2001-04-19 | Hardness tester |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001121468A JP2002310870A (en) | 2001-04-19 | 2001-04-19 | Hardness tester |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002310870A true JP2002310870A (en) | 2002-10-23 |
Family
ID=18971335
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001121468A Pending JP2002310870A (en) | 2001-04-19 | 2001-04-19 | Hardness tester |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002310870A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002310869A (en) * | 2001-04-19 | 2002-10-23 | Akashi Corp | Hardness tester |
| JP2007024784A (en) * | 2005-07-20 | 2007-02-01 | Shimadzu Corp | Material testing machine |
| CN106546502A (en) * | 2017-01-10 | 2017-03-29 | 上海奥龙星迪检测设备有限公司 | It is a kind of to be used for the scleroscopic optical measuring system of gear |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6126153U (en) * | 1984-07-24 | 1986-02-17 | 大同特殊鋼株式会社 | Hardness tester with marker |
| JPH10185789A (en) * | 1996-12-20 | 1998-07-14 | Akashi:Kk | Hardness tester with auto-focusing device, and auto-focusing method |
| JP2001337276A (en) * | 2000-05-26 | 2001-12-07 | Akashi Corp | Optical microscope for vickers hardness test |
-
2001
- 2001-04-19 JP JP2001121468A patent/JP2002310870A/en active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6126153U (en) * | 1984-07-24 | 1986-02-17 | 大同特殊鋼株式会社 | Hardness tester with marker |
| JPH10185789A (en) * | 1996-12-20 | 1998-07-14 | Akashi:Kk | Hardness tester with auto-focusing device, and auto-focusing method |
| JP2001337276A (en) * | 2000-05-26 | 2001-12-07 | Akashi Corp | Optical microscope for vickers hardness test |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002310869A (en) * | 2001-04-19 | 2002-10-23 | Akashi Corp | Hardness tester |
| JP4519353B2 (en) * | 2001-04-19 | 2010-08-04 | 株式会社ミツトヨ | Hardness testing machine |
| JP2007024784A (en) * | 2005-07-20 | 2007-02-01 | Shimadzu Corp | Material testing machine |
| CN106546502A (en) * | 2017-01-10 | 2017-03-29 | 上海奥龙星迪检测设备有限公司 | It is a kind of to be used for the scleroscopic optical measuring system of gear |
| CN106546502B (en) * | 2017-01-10 | 2023-05-16 | 上海奥龙星迪检测设备有限公司 | Optical measurement system for gear hardness tester |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5166290B2 (en) | Method for illuminating and imaging the inner diameter of a stent | |
| US6992820B2 (en) | Illuminating optical system and microscope provided with the same | |
| KR100293126B1 (en) | Inspection device | |
| KR100885560B1 (en) | Apparatus for inspecting a substrate | |
| JP3385432B2 (en) | Inspection device | |
| JP2010096554A (en) | Heightening of sensitivity of method for detecting defect | |
| JP2002310870A (en) | Hardness tester | |
| US6865021B2 (en) | Incident illumination unit and microscope to which incident illumination unit is applied | |
| JP4668381B2 (en) | Focusing filament for automatic focusing system | |
| JP2577960B2 (en) | Specular surface inspection equipment | |
| JP4136911B2 (en) | Infrared microscope and measuring position determination method thereof | |
| JP2006047780A (en) | Infrared microscope | |
| JP2022170900A (en) | Analyzer | |
| JP5938981B2 (en) | Projection system | |
| JP2003177325A (en) | Total reflection fluorescence microscope | |
| JP2002340738A (en) | Optical member inspecting apparatus | |
| US5307098A (en) | Projection inspecting machine | |
| US7164470B2 (en) | Depth of field enhancement for optical comparator | |
| JP4519353B2 (en) | Hardness testing machine | |
| JPH0618410A (en) | Infrared micromeasuring device | |
| JPH0738807Y2 (en) | Projection inspection machine | |
| JPH0783845A (en) | Inspection device | |
| CN219122497U (en) | Shooting device | |
| EP0770848A1 (en) | Projection inspecting machine | |
| KR0120646Y1 (en) | Auto collimator for optical axis adjustment |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20050304 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080306 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100512 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100518 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100928 |