JP2002299304A - Wet processing apparatus - Google Patents

Wet processing apparatus

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Publication number
JP2002299304A
JP2002299304A JP2002036061A JP2002036061A JP2002299304A JP 2002299304 A JP2002299304 A JP 2002299304A JP 2002036061 A JP2002036061 A JP 2002036061A JP 2002036061 A JP2002036061 A JP 2002036061A JP 2002299304 A JP2002299304 A JP 2002299304A
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JP
Japan
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guide member
liquid
vibration guide
vibration
processing
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Pending
Application number
JP2002036061A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kenichi Mimori
健一 三森
Tadahiro Omi
忠弘 大見
Yasuhiko Kasama
泰彦 笠間
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kaijo Corp
Alps Alpine Co Ltd
Original Assignee
Alps Electric Co Ltd
Kaijo Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a water-saving type wet processing apparatus, which can reduce the consumption of wet processing liquid to 1/10 times as much as conventionally and obtain higher cleanness than conventionally. SOLUTION: This wet processing apparatus is provided with a wet-processing body 15, equipped with an introduction-side passage 5 for introducing the processing liquid 3 on one side and a discharge-side passage 6 for discharging the processing liquid 3, after wet-processing on the other and further equipped with a vibration guide member 2, which guides the processing liquid 3 introduced from the introduction-side passage 5 to a body 1 to be processed and performs the wet processing of the body 1 to be processed, while giving vibration between the introduction-side passage 5 and discharge-side passage 6, and is further provided with a position adjusting member 4, which ensures a specific gap between the vibration guide member 2 and the body 1 to be processed and holds the processing liquid 3 in the gap; and the vibration guide member 2 is equipped with a vibrator 7 on the opposite external surface of the vibration guide member 2 from the side of the body to be processed and liquid 1, which transmits the vibration from the vibrator 7 to the external surface of the vibration guide member on the side of the body to be processed is provided in the vibration guide member 2.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、洗浄やエッチン
グ、現像、剥離等を含むウエット処理に用いる省液型の
ウエット処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid-saving wet processing apparatus used for wet processing including cleaning, etching, development, and peeling.

【0002】[0002]

【従来の技術】太陽電池用基板、液晶基板、磁性体基
板、プラスティックパッケージ用基板その他の大型基板
の表面のウエット処理のうち洗浄の観点から従来の技術
および課題について説明する。
2. Description of the Related Art Conventional techniques and problems will be described from the viewpoint of cleaning in the wet processing of the surface of a substrate for a solar cell, a liquid crystal substrate, a magnetic substrate, a substrate for a plastic package and other large substrates.

【0003】従来、図13に示す洗浄装置が一般的に用
いられている。図13において(a)は装置の側面図で
あり、(b)はその平面図である。
Conventionally, a cleaning apparatus shown in FIG. 13 is generally used. 13A is a side view of the device, and FIG. 13B is a plan view thereof.

【0004】この装置において、被処理物(基板)10
1を例えば、矢印Aの方向に移動しながら基板101の
上面にウエット処理液供給ノズル102を用いて超純
水、電解イオン水、オゾン水、水素水等その他の洗浄液
を供給することにより洗浄を行っている。
In this apparatus, an object to be processed (substrate) 10
Cleaning is performed by supplying another cleaning liquid such as ultrapure water, electrolytic ionic water, ozone water, hydrogen water or the like to the upper surface of the substrate 101 using the wet processing liquid supply nozzle 102 while moving 1 in the direction of arrow A, for example. Is going.

【0005】このウエット処理液供給ノズル102に
は、洗浄液供給室104、洗浄液を基板に向けて導出す
る開口部106と洗浄液を洗浄液供給室104へ導入す
るための洗浄液導入口107が形成されている。
The wet processing liquid supply nozzle 102 is provided with a cleaning liquid supply chamber 104, an opening 106 for leading the cleaning liquid toward the substrate, and a cleaning liquid inlet 107 for introducing the cleaning liquid into the cleaning liquid supply chamber 104. .

【0006】また、洗浄液にMHz帯近辺の超音波を付
与し洗浄効果を向上させるために洗浄液供給室104上
に超音波素子116を設けてある。
Further, an ultrasonic element 116 is provided on the cleaning liquid supply chamber 104 in order to improve the cleaning effect by applying ultrasonic waves in the vicinity of the MHz band to the cleaning liquid.

【0007】超純水、電解イオン水、オゾン水、水素水
等その他の洗浄液を洗浄液導入口107から洗浄液供給
室104に導入し、開口部106を介して被洗浄物であ
る基板表面に供給し洗浄を行う。この洗浄液による洗浄
の後には、被洗浄物表面から洗浄液を除去する目的で、
また、残留するパーティクルなどを除去する目的で、図
13に示すウエット処理液供給ノズル102と同じよう
な構造のノズルを用いてリンス洗浄液(一般的には超純
水)によりリンス洗浄を行う。
A cleaning liquid such as ultrapure water, electrolytic ionic water, ozone water, hydrogen water or the like is introduced into the cleaning liquid supply chamber 104 through a cleaning liquid inlet 107 and supplied to the surface of the substrate to be cleaned through an opening 106. Perform cleaning. After cleaning with this cleaning liquid, in order to remove the cleaning liquid from the surface of the object to be cleaned,
Further, for the purpose of removing remaining particles and the like, rinsing cleaning is performed with a rinsing cleaning liquid (generally ultrapure water) using a nozzle having the same structure as the wet processing liquid supply nozzle 102 shown in FIG.

【0008】しかし、上記した図13に示す従来の洗浄
技術には次のような問題点がある。第1は洗浄液やリン
ス洗浄液の使用量が多いという問題である。
However, the conventional cleaning technique shown in FIG. 13 has the following problems. The first problem is that a large amount of a cleaning liquid or a rinse cleaning liquid is used.

【0009】例えば、500mm角の基板101の洗浄
を電解イオン水などの洗浄液を用いて行い、かかる洗浄
液による洗浄とリンス洗浄水によるリンスを行った後に
おける基板101上のパーティクル(例えば、Al
粒子)の残存量を0.5個/cmレベルの清浄度を
達成しようとすると、25〜30L/min程度の洗浄
液およびリンス洗浄液を供給しなければならない。25
〜30L/minと言う量は安定して超音波を付与する
ために必要な量である。すなわち、25〜30L/mi
n以下の量にすると超音波の安定的な付与は出来なくな
り、清浄な洗浄を達成することが出来なくなってしま
う。現状、洗浄液の使用量が多くなる理由としては、上
記で述べた通りであるが、それでも、25〜30L/m
in程度の液の使用量となっているのは、超音波の周波
数を上げ、超音波洗浄ノズルスリット幅を小さくしてい
ることの結果であり、現有技術の限界が此処にある。
For example, the substrate 101 having a size of 500 mm square is cleaned using a cleaning liquid such as electrolytic ionized water, and the particles (for example, Al 2 O) on the substrate 101 after the cleaning with the cleaning liquid and the rinsing with the rinsing water are performed.
In order to achieve a cleanliness level of 0.5 particles / cm 2 at a residual amount of ( 3 particles), a cleaning liquid and a rinsing liquid of about 25 to 30 L / min must be supplied. 25
The amount of 3030 L / min is necessary to stably apply ultrasonic waves. That is, 25 to 30 L / mi
If the amount is less than n, stable application of ultrasonic waves cannot be performed, and clean cleaning cannot be achieved. At present, the reason why the use amount of the cleaning liquid is increased is as described above, but still, 25 to 30 L / m
The use amount of the liquid in about in is a result of increasing the frequency of the ultrasonic wave and decreasing the slit width of the ultrasonic cleaning nozzle, and this is the limit of the existing technology.

【0010】第2は、洗浄後の清浄度に問題がある。前
記した通り、大量の洗浄水(25〜30L/min)を
使用し、かつ洗浄後のリンス洗浄を十分行ったとしても
得られる清浄度には限界があり、平均的な清浄度として
は0.5個/cm程度である。
Second, there is a problem in cleanliness after cleaning. As described above, even if a large amount of washing water (25 to 30 L / min) is used, and the rinsing after washing is sufficiently performed, there is a limit to the degree of cleanliness that can be obtained. It is about 5 / cm 2 .

【0011】より高い清浄度(0.05個/cm程度
の清浄度)が求められる場合には、従来の洗浄技術では
対応できないという問題がある。さらに同一基板内にお
いも清浄度のばらつきがあり、図13に示す基板101
の進行反対側bの部分が進行方向側の部分aよりも清浄
度が低い。清浄度の分布状態は、進行方向先端aの部分
ほど清浄度が高く、進行方向の後端bに向かうにつれ清
浄度は悪くなる様な分布をしているという問題があるこ
とがわかった。
When higher cleanliness (cleanness of about 0.05 / cm 2 ) is required, there is a problem that conventional cleaning techniques cannot cope with the problem. Further, the degree of cleanliness varies within the same substrate, and the substrate 101 shown in FIG.
Is less clean than the part a on the traveling direction side. It has been found that the cleanliness distribution state has a problem that the cleanliness is higher at the leading end a in the traveling direction, and becomes worse toward the rear end b in the traveling direction.

【0012】本発明者の知見によれば、これは、供給ノ
ズル102から基板101表面に供給された洗浄液が図
13(a)に示すように大型基板表面上に液膜となって
基板エッジまで流れるうちに一度除去されたパーティク
ルが基板表面に再付着することに由来している。
According to the knowledge of the present inventor, this is because the cleaning liquid supplied from the supply nozzle 102 to the surface of the substrate 101 becomes a liquid film on the surface of the large substrate as shown in FIG. This is because particles removed once while flowing adhere to the substrate surface again.

【0013】また、廃水処理の低減の観点から液再生再
利用をねらった技術や、洗浄に要する水の量が少なくて
すむという観点の技術の報告がある。
There are also reports of techniques aiming at liquid recycling and reuse from the viewpoint of reducing wastewater treatment, and techniques of reducing the amount of water required for washing.

【0014】従来の技術は、超音波が加えられた水が、
狭まった口より噴出し、基板表面を洗浄し、液を回収す
るようになっている。
[0014] The conventional technique is that water to which ultrasonic waves are applied is
The liquid is ejected from the narrowed opening to wash the substrate surface and collect the liquid.

【0015】しかしながら、この技術には、以下の課題
がある。狭まった口の構造により、ガス抜きの効率が悪
く、洗浄液の低減は困難であり、十分にガス抜きを行な
わないと超音波素子が破損してしまう。
[0015] However, this technique has the following problems. Due to the narrowed mouth structure, the efficiency of degassing is low and it is difficult to reduce the cleaning liquid. If the gas is not sufficiently vented, the ultrasonic element will be damaged.

【0016】狭まった口の構造により、超音波が出難
く、超音波の音圧のロスが大きい。狭まった口の構造で
は、音圧が極大となる部分は振動子の大きさにもよる
が、1cmから3cmといった寸法となり、接近させす
ぎると洗浄効果は大幅に下がる。
Due to the narrowed mouth structure, it is difficult to generate ultrasonic waves, and the loss of sound pressure of ultrasonic waves is large. In the structure of the narrowed mouth, the portion where the sound pressure becomes maximum depends on the size of the vibrator, but has a size of 1 cm to 3 cm.

【0017】狭まった口の構造では、口の出口が洗浄液
の中にあり、且つ流れに沿って超音波が伝播し易いた
め、超音波出口付近に超音波が集中するため、角の部分
にダメージが入り、パーティクル発生の原因となる。ま
た、乱流が出口近くで生じるため、その部分での洗浄は
不十分となってしまう。
In the narrowed mouth structure, the outlet of the mouth is in the cleaning liquid, and the ultrasonic wave is easily propagated along the flow, so that the ultrasonic wave is concentrated near the ultrasonic outlet, so that the corner portion is damaged. , Causing the generation of particles. Further, since the turbulent flow is generated near the outlet, the cleaning at that portion becomes insufficient.

【0018】入り口と出口に圧力バランスが取られてい
ないため、液切れによる洗浄の不完全性や液漏れが生じ
波の回収率の低下につながっている。
Since the pressure is not balanced between the inlet and the outlet, incomplete cleaning and liquid leakage due to liquid shortage occur, leading to a decrease in the wave recovery rate.

【0019】パーティクルを確実に除去するためには、
洗浄水供給配管の高精度加工が必要であるが、加工が困
難な構造で配管内の不純物の除去が出来ない。
In order to reliably remove particles,
Although high-precision processing of the cleaning water supply pipe is required, it is difficult to remove impurities in the pipe due to its difficult structure.

【0020】また、比較的低周波(39kHz〜500
kHz)の超音波洗浄を行おうとしても、本構造では不
可能となってしまう。
Also, a relatively low frequency (39 kHz to 500 kHz)
Attempts to perform ultrasonic cleaning at (kHz) would not be possible with this structure.

【0021】他の従来の技術は、超音波が加えられた水
が狭まった口より噴出し、基板との平行部分を保水層と
して、基板表面を広く洗浄するようにしたものである。
In another conventional technique, water to which ultrasonic waves have been applied blows out from a narrowed opening, and a surface parallel to the substrate is used as a water retaining layer to clean the surface of the substrate widely.

【0022】しかしながら、この装置には、以下のよう
な課題がある。狭まった口の構造であるため、ガス抜き
の効率が悪い。ガス抜き効率を高めるべくガス抜き口が
上部についているが、ここから出てくる洗浄液の量が多
い。
However, this device has the following problems. Due to the narrow mouth structure, the efficiency of degassing is low. A gas vent is provided at the upper part to increase gas venting efficiency, but a large amount of cleaning liquid comes out of the gas vent.

【0023】狭まった口の構造であるため、音圧が極大
となる部分は振動子の大きさにもよるが、1から3cm
といった寸法となり、接近させすぎると洗浄効果は、大
幅に下がる。
Because of the narrow mouth structure, the part where the sound pressure becomes maximum depends on the size of the vibrator, but it is 1 to 3 cm.
If they are too close, the cleaning effect will be significantly reduced.

【0024】狭まった口の構造では、口の出口が洗浄液
の中にあり、旦つ流れに沿って超音波が伝播し易いた
め、超音波出口付近に超音波が集中するため、角の部分
にダメージが入り、パーティクル発生の原因となる。
In the narrowed mouth structure, the outlet of the mouth is in the cleaning liquid, and the ultrasonic wave is easily transmitted along the flow. Damage may occur, causing particles to be generated.

【0025】狭まった口の構造と上部のガス抜き口の大
きさのバランスが取られていないため、狭まった口から
出る波の流れ制御が出来ないため洗浄効果が大幅に下が
ってしまう。
Since the structure of the narrowed mouth and the size of the upper gas vent are not balanced, the flow of waves coming out of the narrowed mouth cannot be controlled, so that the cleaning effect is greatly reduced.

【0026】この技術では、狭まった部分に発生した気
泡の除去は難しい。つまり、上部のガス抜き口から洗浄
液が出るために、ガスが抜けにくい構造である。
With this technique, it is difficult to remove bubbles generated in a narrowed portion. That is, since the cleaning liquid flows out from the upper gas vent, the gas is hardly released.

【0027】狭まった口の構造と被処理物に平行な部分
の組み合わせのため、高均一、高清浄を実現するための
高精度の加工が出来ない。低周波の39kHz〜500
kHzの使用は極めて困難となってしまう。
Because of the combination of the narrowed mouth structure and the portion parallel to the object to be processed, high-precision processing for achieving high uniformity and high cleaning cannot be performed. Low frequency 39 kHz to 500
Use of kHz becomes extremely difficult.

【0028】また、被洗浄物の洗浄面とわずかな空隙を
保って位置せしめられた超音波振動体と、前記超音波振
動体の近傍に配置せしめられた媒質供給管とからなり、
媒質供給管から媒質を放出し、超音波振動体の振動面と
被洗浄物の洗浄面との間に媒質の層を形成するようにし
てあり、その層を介して被洗浄物に超音波を印加させる
ようにして超音波洗浄を行う技術が知られている。
The ultrasonic vibration body is positioned so as to keep a small gap from the cleaning surface of the object to be cleaned, and a medium supply pipe disposed near the ultrasonic vibration body,
The medium is discharged from the medium supply pipe, and a layer of the medium is formed between the vibration surface of the ultrasonic vibrator and the cleaning surface of the object to be cleaned, and ultrasonic waves are applied to the object to be cleaned through the layer. There is known a technique of performing ultrasonic cleaning by applying a voltage.

【0029】しかし、この技術は、超音波振動体と被洗
浄物とに、近傍から洗浄液を放出して入れる状態になっ
ているため、その流量は、一般的に知られている超音波
シャワー洗浄と近い洗浄液量となってしまう。また、わ
ずかな空隙に洗浄液を放出して入れる機体のため、一旦
液が入ってしまうとその液の抵抗などにより安定して液
が流れないことが生じたり、液の流れが悪い機構に加
え、被洗浄物の端面までいって洗浄液が被洗浄物の表面
の系外に落ちる構造になっているため、パーティクルの
再付着が生じやすいという課題がある。また、洗浄液の
出し方によっては基板が吸い上げられ、超音波洗浄面端
部に接触するという課題が生ずる。
However, in this technique, since the cleaning liquid is discharged from the vicinity into the ultrasonic vibrator and the object to be cleaned, the flow rate thereof is controlled by a generally known ultrasonic shower cleaning method. And the amount of the cleaning liquid is close to the above. In addition, since the cleaning liquid is released into a small gap, once the liquid enters, the liquid may not flow stably due to the resistance of the liquid, etc. Since the structure is such that the cleaning liquid falls outside the system on the surface of the object to be cleaned as far as the end surface of the object to be cleaned, there is a problem that particles are likely to be reattached. Further, there is a problem that the substrate is sucked up depending on how the cleaning liquid is discharged, and comes into contact with the edge of the ultrasonic cleaning surface.

【0030】[0030]

【発明が解決しようとする課題】本発明は従来のウエッ
ト処理装置が有する上記の問題を解決し、ウエット処理
液の使用量を従来の10分1以下へと低減することがで
き、しかも従来よりも高い清浄度を得ることができる省
水型のウエット処理装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention solves the above-mentioned problems of the conventional wet processing apparatus, and can reduce the amount of the wet processing liquid used to one tenth or less of the conventional one. It is another object of the present invention to provide a water-saving wet treatment apparatus capable of obtaining high cleanliness.

【0031】[0031]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本発明のウエット処装置は、一側に処理液を導入する
導入側通路と他側にウエット処理後の処理液を排出する
排出側通路とを備えるとともに、前記導入側通路と前記
排出側通路との間に、被処理物に対し前記導入側通路か
ら導入した処理液をガイドしかつ振動を与えながら被処
理物をウエット処理する振動ガイド部材を備えたウエッ
ト処理本体を設け、該振動ガイド部材と前記被処理物と
を所定間隙に維持し、該間隙に処理液を保持させる位置
調整部材を設けてなり、前記振動ガイド部材が振動子を
備えており、前記振動ガイド部材の被処理物側と反対の
外面に前記振動子を形成し、前記振動ガイド部材の内部
に前記振動子からの振動を該振動ガイド部材の被処理物
側の外面に伝える液(空打ち防止液)を備えたことを特
徴とする。
A wet processing apparatus according to the present invention for solving the above-mentioned problems comprises an inlet passage for introducing the processing liquid on one side and a discharge side for discharging the processing liquid after the wet processing on the other side. A vibration which guides the processing liquid introduced from the introduction-side passage to the processing object and applies vibration to the processing object, between the introduction-side passage and the discharge-side passage, and wet-processes the processing object. A wet processing body provided with a guide member, a position adjusting member for maintaining the vibration guide member and the object to be processed in a predetermined gap, and holding a processing liquid in the gap, and providing the vibration guide member with vibration A vibrator is formed on the outer surface of the vibration guide member opposite to the object side, and the vibration from the vibrator is applied to the object side of the vibration guide member inside the vibration guide member. Tell the outside Characterized by comprising a (idle driving preventing liquid).

【0032】本発明の他のウエット処理装置は、一側に
処理液を導入する通路を備えるとともに、被処理物に対
し前記導入側通路から導入した処理液をガイドしつつ他
側に送液してかつ振動を与えながら被処理物をウエット
処理する振動ガイド部材を備えたウエット処理本体を設
け、該振動ガイド部材と前記被処理物とを所定間隙に維
持し、該間隙に処理液を保持させる位置調整部材を設
け、前記振動ガイド部材によって送液された処理液を排
出させる排出側通路を設けてなり、前記振動ガイド部材
が振動子を備えており、前記振動ガイド部材の被処理物
側と反対の外面に前記振動子を形成し、前記振動ガイド
部材の内部に前記振動子からの振動を該振動ガイド部材
の被処理物側の外面に伝える液(空打ち防止液)を備え
たことを特徴とする。
Another wet processing apparatus according to the present invention has a passage for introducing a processing liquid on one side, and guides the processing liquid introduced from the introduction-side passage to the object to be processed and sends it to the other side. A wet processing main body provided with a vibration guide member for wet-processing the object to be processed while applying vibration, maintaining the vibration guide member and the object to be processed in a predetermined gap, and holding the processing liquid in the gap. A position adjusting member is provided, and a discharge-side passage for discharging the processing liquid sent by the vibration guide member is provided.The vibration guide member includes a vibrator, and the vibration guide member includes a vibrator. The vibrator is formed on the opposite outer surface, and a liquid (anti-firing liquid) for transmitting vibration from the vibrator to the outer surface of the vibrating guide member on the workpiece side is provided inside the vibrating guide member. Feature

【0033】かかる構成とすることにより、処理液が被
処理物の被処理面と振動ガイド部材との間隙に確実に保
持され、必要最小限の処理液量で被処理面をウエット処
理することが可能となる。また被処理面に処理液が供給
されると共に、使用済み処理液を排出側通路を介して適
宜排出することが可能となるため、常に新鮮な処理液で
被処理面を処理することが可能となり、使用済みの処理
液による被処理面の再汚染が防止できる。
With this configuration, the processing liquid is reliably held in the gap between the surface of the object to be processed and the vibration guide member, and the surface to be processed can be wet-processed with the minimum necessary amount of the processing liquid. It becomes possible. In addition, since the processing liquid is supplied to the surface to be processed and the used processing liquid can be appropriately discharged through the discharge side passage, the surface to be processed can always be processed with fresh processing liquid. Further, re-contamination of the surface to be processed by the used processing solution can be prevented.

【0034】さらに、本発明のウエット処理装置は、前
記振動ガイド部材が、超音波振動源である超音波振動子
と、該超音波振動子と空打ち防止液を介して対向配置さ
れ前記被処理面に超音波振動を付与する超音波振動ガイ
ド部材とを有する。
Further, in the wet processing apparatus according to the present invention, the vibration guide member is disposed so as to face an ultrasonic vibrator serving as an ultrasonic vibration source with the ultrasonic vibrator opposed to the ultrasonic vibrator with an anti-firing liquid. An ultrasonic vibration guide member for applying ultrasonic vibration to the surface.

【0035】この構成とすることにより、たとえ超音波
振動ガイド部材と被処理面との間の処理液が不足したと
しても、超音波振動子と超音波振動ガイド部材との間に
空打ち防止液を有することとなり、超音波振動子の空打
ちを確実に防止することができる。
According to this configuration, even if the processing liquid between the ultrasonic vibration guide member and the surface to be processed is insufficient, the idling prevention liquid is provided between the ultrasonic vibrator and the ultrasonic vibration guide member. Therefore, it is possible to reliably prevent the ultrasonic vibrator from idling.

【0036】この空打ち防止液としては、脱気した液を
用いることが好ましい。脱気することにより、空打ち防
止流量も大幅に低減できる。また、空打ち防止液に冷却
機構をつけておくと、さらに、少ない液で、空打ち防止
液として機能する。もしこの空打ち防止液中に気泡が多
数存在するとやはり空打ちと同様な現象が生じることが
あるためである。なお、脱気は、膜脱気でDO2.4p
pm以下まで行うことが好ましい。
It is preferable to use a degassed liquid as the anti-blanking liquid. By degassing, the idling prevention flow rate can be significantly reduced. Further, if a cooling mechanism is provided for the idle hit prevention liquid, the liquid can function as an idle hit prevention liquid with a smaller amount of liquid. This is because if a large number of air bubbles are present in the blanking prevention liquid, the same phenomenon as in blanking may occur. In addition, deaeration is performed by DO 2.4p by membrane deaeration.
pm or less.

【0037】また、処理液が被処理面と振動ガイド部材
との間隙に界面張力で保持されるため、必要最小限の処
理液で被処理面をウエット処理することができると共
に、確実に被処理面に超音波振動を付与することが可能
となる。
Further, since the processing liquid is held by the interfacial tension in the gap between the surface to be processed and the vibration guide member, the surface to be processed can be wet-processed with the minimum necessary amount of the processing liquid, and the processing target can be surely processed. Ultrasonic vibration can be applied to the surface.

【0038】また本発明のウエット処理装置は、前記処
理液排出部材が前記使用済み処理液を前記間隙から吸引
除去する吸引装置を設けることが好ましい。
In the wet processing apparatus of the present invention, it is preferable that the processing liquid discharging member is provided with a suction device for suctioning and removing the used processing liquid from the gap.

【0039】この構成とすることにより、使用済みの処
理液が被処理面から迅速に排出除去されるため、使用済
みの処理液による被処理面の再汚染がより確実に防止で
きる。
With this configuration, since the used processing liquid is quickly discharged and removed from the surface to be processed, recontamination of the surface to be processed by the used processing liquid can be more reliably prevented.

【0040】また、振動子が貼られる振動ガイド部材と
被洗浄物とをほぼ平行となるようにし、その間に洗浄液
が入るようにして、それに超音波を重畳させることによ
り、超音波の音圧のロスが非常に少なく出来る。
Further, the vibration guide member to which the vibrator is attached and the object to be cleaned are substantially parallel to each other, and the cleaning liquid is inserted between the vibration guide member and the ultrasonic wave. Very low loss.

【0041】狭まった口の構造で超音波が重畳された洗
浄液をださないので、振動ガイド部材と洗浄液等供給部
の交差部のダメージがない。
Since the cleaning liquid on which the ultrasonic wave is superimposed is not discharged with the narrowed mouth structure, there is no damage at the intersection between the vibration guide member and the cleaning liquid supply section.

【0042】振動子が貼られる振動ガイド部材と被洗浄
物とをほぼ平行となるようにし、その間に洗浄液が入る
ように、界面張力等の圧力バランスをとることにより、
ごくわずかな洗浄液で洗浄出来る。
The vibration guide member to which the vibrator is attached and the object to be cleaned are substantially parallel to each other, and the pressure such as interfacial tension is balanced so that the cleaning liquid enters between the members.
Can be cleaned with a very small amount of cleaning solution.

【0043】振動子が貼られる振動ガイド部材と被洗浄
物との間の洗浄液の流速は、振動ガイド部材と被洗浄物
との間の洗浄液の界面張力等の圧力バランスをとること
により、制御出来、洗浄効果が上げられる。
The flow rate of the cleaning liquid between the vibration guide member to which the vibrator is attached and the object to be cleaned can be controlled by balancing the pressure such as the interfacial tension of the cleaning liquid between the vibration guide member and the object to be cleaned. The cleaning effect is improved.

【0044】振動子が貼られる振動ガイド部材と被洗浄
物との間に洗浄液を入れる方法としては、洗浄ノズルに
対する基板の移動方向と同様な方向から洗浄液を供給す
る方法が好ましい。
As a method of supplying the cleaning liquid between the vibration guide member to which the vibrator is attached and the object to be cleaned, a method of supplying the cleaning liquid from the same direction as the moving direction of the substrate with respect to the cleaning nozzle is preferable.

【0045】振動子が貼られる振動ガイド部材と被洗浄
物との間に洗浄液を入れる方法としては、洗浄液供給部
を洗浄ノズルの中央とする方法が好ましい。
As a method for putting the cleaning liquid between the vibration guide member to which the vibrator is attached and the object to be cleaned, a method in which the cleaning liquid supply unit is located at the center of the cleaning nozzle is preferable.

【0046】振動子が貼られる振動ガイド部材と被洗浄
物との間に洗浄液を入れる方法としては、洗浄ノズルに
対する基板の移動方向に一定の傾きを持ち、その傾きが
大きくなる時には、洗浄ノズルの出口側から供給する方
法が、又、その傾きが小くなる時には、洗浄ノズルの入
り口側から洗浄液を供給する方法が好ましい。
As a method of pouring the cleaning liquid between the vibration guide member to which the vibrator is attached and the object to be cleaned, the cleaning liquid has a constant inclination in the moving direction of the substrate with respect to the cleaning nozzle. It is preferable to supply the cleaning liquid from the outlet side, or when the inclination becomes small, to supply the cleaning liquid from the inlet side of the cleaning nozzle.

【0047】吸引装置を設ける場合は、次のようにすれ
ばよい。導入側通路をウエット処理本体の中央とし、排
出側通路を左右対称に形成し、この排出側通路に吸引装
置を接続し、振動ガイド部材と被洗浄物との間の洗浄液
の界面張力等の圧力バランスをとる。これにより洗浄液
の流速の制御、及び、汚染物の速やかな系外への排出が
可能となり、洗浄液の大幅な削減を達成しつつ洗浄効果
を向上出来る。
When a suction device is provided, the following may be performed. The introduction-side passage is set at the center of the wet processing main body, the discharge-side passage is formed symmetrically, a suction device is connected to the discharge-side passage, and the pressure such as the interfacial tension of the cleaning liquid between the vibration guide member and the object to be cleaned. to keep balance. This makes it possible to control the flow rate of the cleaning liquid and quickly discharge contaminants to the outside of the system, thereby improving the cleaning effect while achieving a significant reduction in the cleaning liquid.

【0048】あるいは、導入側通路をウエット処理本体
の一端に形成し、他端に排出側通路を形成し、吸引装置
をウエット処理本体の排出側通路に接続し、振動ガイド
部材と被洗浄物との間の洗浄液の界面張力等の圧力バラ
ンスをとる。これにより、洗浄液の流速の制御、及び、
汚染物の速やかな系外への排出が可能となり、洗浄液の
大福な削減を達成しつつ洗浄効果を向上出来る。
Alternatively, the introduction-side passage is formed at one end of the wet processing main body, the discharge-side passage is formed at the other end, and the suction device is connected to the discharge-side passage of the wet processing main body. The pressure balance such as the interfacial tension of the cleaning liquid during the period is taken. Thereby, control of the flow rate of the cleaning liquid, and
Contaminants can be quickly discharged to the outside of the system, and the cleaning effect can be improved while achieving a drastic reduction of the cleaning liquid.

【0049】半導体の洗浄用として本ウエット処理装置
を用いる場合には、特に、振動子が貼られる振動ガイド
部材の大きさを被洗浄物の大きさ以上にし、ウエット処
理本体に排出側通路が形成されている場合は、導入側通
路をウエット処理本体の中央に設け、排出側通路をウエ
ット処理本体に同心円状に一つ以上設置し、振動ガイド
部材と被洗浄物との間の洗浄液の界面張力等の圧力バラ
ンスをとることにより、洗浄液の流速の制御及び、汚染
物の速やかな系外への排出が可能となり、洗浄液の大幅
な削減を達成しつつ洗浄効果を向上出来る。排出側通路
には吸引装置を接続することが好ましい。
When the present wet processing apparatus is used for cleaning semiconductors, in particular, the size of the vibration guide member to which the vibrator is attached is made larger than the size of the object to be cleaned, and the discharge side passage is formed in the wet processing main body. If so, the inlet side passage is provided at the center of the wet processing main body, and the discharge side passage is provided at least one concentrically in the wet processing main body, and the interfacial tension of the cleaning liquid between the vibration guide member and the object to be cleaned. By controlling the pressure balance, the flow rate of the cleaning liquid can be controlled, and the contaminants can be quickly discharged out of the system. As a result, the cleaning effect can be improved while achieving a significant reduction in the cleaning liquid. It is preferable to connect a suction device to the discharge side passage.

【0050】なお、装置をいくつかのブロックに分け製
作することにより、高精度加工が出来又最適表面処理も
可能で且つ、使用材料の選択性が上がり、それにより各
種の薬液の使用が可能となる。製作工程も大幅に簡略化
できる。
By dividing the apparatus into several blocks, it is possible to perform high-precision processing and to perform an optimal surface treatment, and to increase the selectivity of materials to be used, thereby making it possible to use various chemicals. Become. The manufacturing process can be greatly simplified.

【0051】振動ガイド部材と被洗浄物との間の洗浄液
の界面張力等の圧力バランスをとる為の振動ガイド部材
と被洗浄物との間の間隔の制御は、位置調整部材を上下
に駆動することにより行う。なお、高精度位置検知ロボ
ットを設けておき、このロボットにより間隔の検知を行
いながら位置調整部材を駆動すればより高精度の間隔の
制御を行うことができる。
The control of the distance between the vibration guide member and the object to be cleaned for balancing the pressure such as the interfacial tension of the cleaning liquid between the vibration guide member and the object to be cleaned is performed by driving the position adjusting member up and down. It is done by doing. If a high-precision position detection robot is provided and the position adjustment member is driven while detecting the distance by the robot, the distance can be controlled with higher precision.

【0052】[0052]

【発明の実施の形態】以下図面を用いて本発明の実施の
形態を詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0053】(実施形態1)図1に第1の実施の形態を
示す。
(Embodiment 1) FIG. 1 shows a first embodiment.

【0054】本形態のウエット処理装置12は、一側に
処理液3を導入する導入側通路5と他側にウエット処理
後の処理液3を排出する排出側通路6とを備えるととも
に、導入側通路5と排出側通路6との間に、被処理物1
に対し導入側通路5から導入した処理液3をガイドしか
つ振動を与えながら被処理物1をウエット処理する振動
ガイド部材2を備えたウエット処理本体15を設け、振
動ガイド部材2と被処理物1とを所定間隙に維持し、該
間隙に処理液3を保持させる位置調整部材4を設けてい
る。
The wet processing apparatus 12 of the present embodiment includes an inlet passage 5 for introducing the processing liquid 3 on one side and a discharge passage 6 for discharging the processing liquid 3 after the wet processing on the other side. Between the passage 5 and the discharge side passage 6,
A wet processing main body 15 provided with a vibration guide member 2 for guiding the processing liquid 3 introduced from the introduction side passage 5 and performing wet processing on the processing object 1 while giving vibration, and the vibration guide member 2 and the processing object are provided. 1 is maintained in a predetermined gap, and a position adjusting member 4 for holding the processing liquid 3 in the gap is provided.

【0055】以下より詳細に説明する。本形態のウエッ
ト処理装置12は、保持台25上に載置された被処理基
板1の被処理面8に対向する位置に振動ガイド部材2を
有している。この振動ガイド部材2は被処理面8に超音
波を付与するためのものである。
This will be described in more detail below. The wet processing apparatus 12 of the present embodiment includes the vibration guide member 2 at a position facing the processing surface 8 of the processing target substrate 1 placed on the holding table 25. The vibration guide member 2 is for applying ultrasonic waves to the surface 8 to be processed.

【0056】振動ガイド部材2は、位置調整部材4の支
持柱21b,21cに固着されている。支持柱21b,
21cは横棒により連結されている。横棒端の16はバ
ランサーである。バランサー16の手前にはネジボック
ス26が設けられておりネジボックス26内には横棒を
上下動させるための送りネジ機構が設けられている。2
1aはネジボックス25を支持する支持柱であり、その
下端は保持台に固着してある。送りネジ機構により横棒
を上下動させることにより振動ガイド部材2を上下動さ
せ、振動ガイド部材2と被処理面8と近接離反自在に保
持せしめる。
The vibration guide member 2 is fixed to the supporting columns 21b and 21c of the position adjusting member 4. Support column 21b,
21c are connected by a horizontal bar. 16 at the end of the horizontal bar is a balancer. A screw box 26 is provided in front of the balancer 16, and a feed screw mechanism for moving the horizontal bar up and down is provided in the screw box 26. 2
Reference numeral 1a denotes a support column for supporting the screw box 25, and the lower end thereof is fixed to a holding table. By moving the horizontal bar up and down by the feed screw mechanism, the vibration guide member 2 is moved up and down, and the vibration guide member 2 and the processing surface 8 are held so as to be able to approach and separate from each other.

【0057】ウエット処理時に、この位置調整部材4を
用いて、振動ガイド部材2と被処理面8との間隙を、処
理液3が被処理面8および振動ガイド部材2との界面張
力により前記間隙に保持可能な間隔に保持する。
During the wet processing, the gap between the vibration guide member 2 and the surface 8 to be processed is formed by using the position adjusting member 4 so that the processing liquid 3 is interposed between the surface 8 to be processed and the vibration guide member 2 by the interfacial tension. At an interval that can be held.

【0058】さらに処理液3を被処理面8と振動ガイド
部材2との間隙に供給する処理液の導入側通路5と、使
用済み処理液を排出除去する処理液の排出側通路6とが
備えられており、処理液導入側通路5から被処理面8と
振動ガイド部材2との間隙に処理液を満たすべく供給
し、使用済み処理液を処理液排出側通路6を用いて排出
除去する。導入側通路5の入口には導入部材22が接続
され、排出側通路6の出口には排出部材23が接続され
ている。
Further, a processing liquid inlet passage 5 for supplying the processing liquid 3 to the gap between the surface 8 to be processed and the vibration guide member 2 and a processing liquid discharge passage 6 for discharging and removing the used processing liquid are provided. The processing liquid is supplied from the processing liquid introduction side passage 5 to the gap between the processing target surface 8 and the vibration guide member 2 so as to be filled with the processing liquid, and the used processing liquid is discharged and removed using the processing liquid discharge side passage 6. An introduction member 22 is connected to an entrance of the introduction-side passage 5, and a discharge member 23 is connected to an exit of the discharge-side passage 6.

【0059】(実施形態2)図2を用いて第2の実施の
形態を説明する。
(Embodiment 2) A second embodiment will be described with reference to FIG.

【0060】本実施の形態のウエット処理装置は、振動
ガイド部材2と導入側通路5および排出側通路6とが各
々別体で形成されている。なお、図2において、位置調
整部材の図示は省略してある。
In the wet processing apparatus of the present embodiment, the vibration guide member 2 and the introduction-side passage 5 and the discharge-side passage 6 are formed separately from each other. In FIG. 2, illustration of the position adjusting member is omitted.

【0061】この構成とすることにより、振動ガイド部
材2と導入側通路5および排出側通路6とを個別に加工
することが可能となる。振動ガイド部材2の材料として
は、超音波の効率的伝搬のため、ステンレスや石英、等
が適しており、導入側通路5および排出側通路6の材料
としては、汚染がなく、加工性に優れていることの要求
から、PVCやPFA、PTFE、PEEK等の材料が
各々適している。これらを個別に加工することにより高
精度の加工が可能である。さらに、振動面がダメージを
受けたような場合には、全体を交換することなく、ダメ
ージを受けた部分だけを適宜交換することが可能とな
る。他の点は、実施の形態1と同様である。
With this configuration, the vibration guide member 2 and the introduction-side passage 5 and the discharge-side passage 6 can be individually processed. As the material of the vibration guide member 2, stainless steel, quartz, or the like is suitable for efficient transmission of ultrasonic waves. The material of the introduction-side passage 5 and the discharge-side passage 6 is free from contamination and excellent in workability. Therefore, materials such as PVC, PFA, PTFE, and PEEK are suitable. By processing these individually, high-precision processing is possible. Further, when the vibration surface is damaged, it is possible to appropriately replace only the damaged portion without replacing the whole. Other points are the same as in the first embodiment.

【0062】(実施形態3)次に図3を用いて第3の実
施の形態を説明する。
(Embodiment 3) Next, a third embodiment will be described with reference to FIG.

【0063】本実施の形態のウエット処理装置では、ウ
エット処理装置に排出側通路を形成し、その排出側通路
6にポンプから構成される吸引装置9が接続されてい
る。なお、位置調整部材の図示は省略してある。
In the wet processing apparatus of the present embodiment, a discharge-side passage is formed in the wet processing apparatus, and a suction device 9 composed of a pump is connected to the discharge-side passage 6. The illustration of the position adjusting member is omitted.

【0064】吸引装置9を用いて使用済みの処理液を前
記間隙から排出側通路6を介して強制的に排出除去す
る。
The used processing liquid is forcibly discharged and removed from the gap through the discharge side passage 6 by using the suction device 9.

【0065】このように強制的に処理液を排出できるた
め、使用済みの処理液の排出をより一層速やかに行うこ
とができ、より清浄度の高い洗浄を行うことができる。
さらに、吸引装置9の吸引圧力の調整により振動ガイド
部材2と被処理物1との間の間隙における圧力を調整す
ることができる。他の点は、実施の形態1と同様であ
る。
Since the processing liquid can be forcibly discharged as described above, the used processing liquid can be discharged more quickly, and the cleaning with higher cleanliness can be performed.
Further, the pressure in the gap between the vibration guide member 2 and the workpiece 1 can be adjusted by adjusting the suction pressure of the suction device 9. Other points are the same as in the first embodiment.

【0066】(実施形態4)さらに図4を用いて第4の
実施の形態を説明する。本形態は、振動子のいわゆる空
打ちを防止するための形態である。
(Fourth Embodiment) A fourth embodiment will be described with reference to FIG. This embodiment is an embodiment for preventing a so-called idling of the vibrator.

【0067】すなわち、本形態では、振動ガイド部材2
の被処理物1側と反対の外面に振動子7を形成し、振動
ガイド部材2の内部に振動子7からの振動を振動ガイド
部材2の被処理物1側の外面に伝える液を備えている。
That is, in this embodiment, the vibration guide member 2
A vibrator 7 is formed on the outer surface opposite to the workpiece 1 side, and a liquid for transmitting vibration from the vibrator 7 to the outer surface of the vibration guide member 2 on the workpiece 1 side is provided inside the vibration guide member 2. I have.

【0068】すなわち、本形態のウエット処理装置12
においては、振動ガイド部材2は、超音波振動源である
超音波振動子7と被処理物1の被処理面8に超音波振動
を付与する超音波振動ガイド部材13との間に常に空打
ち防止液11を有している。
That is, the wet processing apparatus 12 of the present embodiment
In the above, the vibration guide member 2 is always idled between the ultrasonic vibrator 7 serving as an ultrasonic vibration source and the ultrasonic vibration guide member 13 for applying ultrasonic vibration to the processing surface 8 of the processing target 1. The prevention liquid 11 is provided.

【0069】なお、図4においては、振動ガイド部材2
と、空打ち防止液の収納部材20とは一体に形成されて
いる。すなわち、空打ち防止液11を収納する凹状の収
納部材20の底辺が振動ガイド部材2を兼用している。
収納部材20の底辺と振動部材2とを別体とした場合に
は超音波の伝播効率は悪くなるが、上記のように兼用さ
せた場合には、伝播効率は良好であり、高い洗浄効果を
達成させることができる。他の点は、実施の形態1と同
様である。
In FIG. 4, the vibration guide member 2
And the idling prevention liquid storage member 20 are integrally formed. That is, the bottom side of the concave storage member 20 that stores the idling prevention liquid 11 also serves as the vibration guide member 2.
When the bottom side of the storage member 20 and the vibration member 2 are separated from each other, the ultrasonic wave propagation efficiency is deteriorated. However, when the vibration member 2 is also used as described above, the propagation efficiency is good, and a high cleaning effect is obtained. Can be achieved. Other points are the same as in the first embodiment.

【0070】(実施形態5)図5を用いて第5の実施の
形態を説明する。
(Fifth Embodiment) A fifth embodiment will be described with reference to FIG.

【0071】本形態のウエット処理装置では、一側に処
理液3を導入する導入側通路5を備えるとともに、被処
理物1に対し導入側通路5から導入した処理液3をガイ
ドしつつ他側に送液してかつ振動を与えながら被処理物
1をウエット処理する振動ガイド部材2を備えたウエッ
ト処理本体15を設け、振動ガイド部材2と被処理物1
とを所定間隙に維持し、間隙に処理液3を保持させる位
置調整部材(図示せず)を設け、振動ガイド部材2によ
って送液された処理液3を排出させる排出側通路6を設
けてなる。
The wet processing apparatus of the present embodiment is provided with an introduction path 5 for introducing the processing liquid 3 on one side, and the processing liquid 3 introduced from the introduction path 5 to the workpiece 1 while guiding the processing liquid 3 to the other side. A wet processing main body 15 having a vibration guide member 2 for wet-treating the workpiece 1 while applying liquid to the workpiece and applying vibration thereto is provided, and the vibration guide member 2 and the workpiece 1 are provided.
Are maintained at a predetermined gap, a position adjusting member (not shown) for holding the processing liquid 3 in the gap is provided, and a discharge side passage 6 for discharging the processing liquid 3 sent by the vibration guide member 2 is provided. .

【0072】排出側通路6は、被処理体1の周囲に設け
られたドレイン容器35の底面に形成されている。
The discharge side passage 6 is formed on the bottom of a drain container 35 provided around the object 1.

【0073】すなわち、本形態では、ウエット処理本体
15には、導入側通路5は設けてあるが排出側通路は設
けていない。従って、処理後の処理液3は、振動ガイド
部材2と被処理体1の被処理面とで形成される空隙の周
側面からドレイン容器35に流出し、ドレイン容器35
の底面に形成された排出側通路6からウエット処理装置
の系外に排出される。
That is, in this embodiment, the wet processing main body 15 is provided with the introduction-side passage 5 but is not provided with the discharge-side passage. Therefore, the treated liquid 3 after the treatment flows out to the drain container 35 from the peripheral side surface of the gap formed by the vibration guide member 2 and the surface of the object 1 to be treated,
Is discharged out of the system of the wet processing apparatus from the discharge side passage 6 formed on the bottom surface of the wet processing apparatus.

【0074】本形態では、ウエット処理本体15には排
出側通路を設けていないため、圧力制御が、処理液導入
側のみで行う形態となり、より装置構造、機構が簡単と
なるという利点を有している。なお、他の点は、実施の
形態1と同様である。
In this embodiment, since the discharge side passage is not provided in the wet processing main body 15, the pressure control is performed only on the processing liquid introduction side, and there is an advantage that the apparatus structure and mechanism are simplified. ing. The other points are the same as in the first embodiment.

【0075】(実施形態6)図6を用いて第6の実施の
形態を説明する。
(Embodiment 6) A sixth embodiment will be described with reference to FIG.

【0076】本実施の形態のウエット処理置は、基板1
を振動ガイド部材2と対向した状態で図面中の矢印A方
向に移させる基板搬送部材30を有するものである。
The wet processing apparatus according to the present embodiment
Is moved in the direction of arrow A in the drawing while facing the vibration guide member 2.

【0077】かかる構成では、大型の被処理物であって
もその全面にわたり均一な清浄度を得ることができるウ
エット処理が可能となる。他の点は、実施の形態5と同
様である。
With this configuration, it is possible to perform wet processing that can obtain uniform cleanliness over the entire surface of a large workpiece. Other points are the same as in the fifth embodiment.

【0078】(実施形態7)また図7を用いて第7の実
施の形態を説明する。
(Embodiment 7) A seventh embodiment will be described with reference to FIG.

【0079】本実施の形態のウエット処理装置12は、
振動ガイド部材2と被処理面8との間隙に処理液3を界
面張力で保持した状態を保ちつつ基板1を回転する機構
を設けたものである。
The wet processing apparatus 12 of the present embodiment
A mechanism is provided in the gap between the vibration guide member 2 and the surface 8 to be processed, for rotating the substrate 1 while maintaining the state where the processing liquid 3 is held at the interfacial tension.

【0080】この構成とすると小型のウエット処理装置
12で大面積の被処理物の処理が可能となる。
With this configuration, a large-sized workpiece can be processed by the small-sized wet processing apparatus 12.

【0081】基板1は、基板ホルダー41の載置部42
上に載置することにより保持されており、基板ホルダー
41の底面には回転軸40が設けられている。
The substrate 1 is placed on the mounting portion 42 of the substrate holder 41.
The rotating shaft 40 is provided on the bottom surface of the substrate holder 41.

【0082】また、導入側通路5は振動ガイド部材2の
中心に形成されている。そして、振動子は、導入側通路
5に関して対称的に複数(7a,7b)個設けてある。
The introduction passage 5 is formed at the center of the vibration guide member 2. A plurality (7a, 7b) of vibrators are provided symmetrically with respect to the introduction-side passage 5.

【0083】4は位置調整部材であり、位置調整部材4
を上下に駆動させることにより、振動ガイド部材2と被
処理面8との間隙の処理液3を界面張力で保持できるよ
う適宜調整する。回転軸40を回転させることにより基
板1を回転するとともに、導入側通路5から処理液を間
隙に導入し、また、振動子7により処理液3に超音波を
付与する。
Reference numeral 4 denotes a position adjusting member.
Is adjusted up and down so that the processing liquid 3 in the gap between the vibration guide member 2 and the processing target surface 8 can be held at the interfacial tension. By rotating the rotation shaft 40, the substrate 1 is rotated, the processing liquid is introduced into the gap from the introduction-side passage 5, and ultrasonic waves are applied to the processing liquid 3 by the vibrator 7.

【0084】間隙に導入された処理液は、被処理面8を
洗浄し、遠心力により間隙の周辺側面から排出する。
The processing liquid introduced into the gap cleans the surface 8 to be processed and is discharged from the peripheral side face of the gap by centrifugal force.

【0085】(実施形態8)図8を用いて第8の実施の
形態を説明する。
(Eighth Embodiment) An eighth embodiment will be described with reference to FIG.

【0086】本実施の形態のウエット処理装置12は基
板1の被処理面8より広い振動ガイド部材2の振動面を
有する場合に最適な形態である。
The wet processing apparatus 12 of the present embodiment is the most suitable form in the case where the vibration surface of the vibration guide member 2 is wider than the processing surface 8 of the substrate 1.

【0087】基板1はホルダー41の載置部42上に載
置されて保持されるが、この載置部42の内側部には段
差が設けられている。この段差の高さは基板の厚さと同
じにしてあるため、載置部42の上面と基板1の被処理
面8とは面一となる。
The substrate 1 is placed and held on the placing portion 42 of the holder 41, and a step is provided inside the placing portion 42. Since the height of the step is the same as the thickness of the substrate, the upper surface of the mounting portion 42 and the surface 8 to be processed of the substrate 1 are flush with each other.

【0088】このため処理液3は空隙内から空隙外にス
ムーズに流れる。従って、基板1の表面全面を均一に処
理することが可能となる。
Therefore, the processing liquid 3 flows smoothly from the inside of the gap to the outside of the gap. Therefore, the entire surface of the substrate 1 can be uniformly processed.

【0089】(実施形態9)図9を用いて次の実施の形
態を説明する。
(Embodiment 9) The following embodiment will be described with reference to FIG.

【0090】本形態は、処理液導入側通路5、排出側通
路6を振動ガイド部材2と別体に形成し、空打ち防止液
11を備えた例である。
This embodiment is an example in which the processing liquid introduction side passage 5 and the discharge side passage 6 are formed separately from the vibration guide member 2 and are provided with the idling prevention liquid 11.

【0091】本例では、振動ガイド部材2は凹形状をし
ており、その側面に部材50を設けてある。部材50に
導入側通路5が形成されている。
In this example, the vibration guide member 2 has a concave shape, and a member 50 is provided on a side surface thereof. The introduction side passage 5 is formed in the member 50.

【0092】また、本例では振動ガイド部材2の底面と
部材50の底面とは面一となっている。
In this embodiment, the bottom surface of the vibration guide member 2 and the bottom surface of the member 50 are flush.

【0093】(実施形態10)図10を用いて次の実施
の形態を説明する。
(Embodiment 10) The following embodiment will be described with reference to FIG.

【0094】本形態は、処理液導入側通路5、排出側通
路6を振動ガイド部材2と別体に形成し、空打ち防止液
11を備えた例である。
This embodiment is an example in which the processing liquid introduction side passage 5 and the discharge side passage 6 are formed separately from the vibration guide member 2 and are provided with the idling prevention liquid 11.

【0095】基本構造は、図9に示す例と同様である
が、本例では、振動ガイド部材2の底面と部材50の底
面とは面一ではなく、部材50の底面を振動ガイド部材
2の底面よりHだけ下げてある。
The basic structure is the same as the example shown in FIG. 9, but in this example, the bottom surface of the vibration guide member 2 and the bottom surface of the member 50 are not flush, and the bottom surface of the member 50 is It is lowered by H from the bottom.

【0096】Hとしては、0〜3mm程度が好ましい。
他の点は、図9に示す形態と同様である。
H is preferably about 0 to 3 mm.
Other points are the same as those in the embodiment shown in FIG.

【0097】(実施形態11)図11を用いて次の実施
の形態を説明する。
(Embodiment 11) The following embodiment will be described with reference to FIG.

【0098】本形態は、処理液導入側通路5、排出側通
路6を振動ガイド部材2と別体に形成し、空打ち防止液
11を備えた例である。
This embodiment is an example in which the processing liquid introduction side passage 5 and the discharge side passage 6 are formed separately from the vibration guide member 2, and are provided with the idling prevention liquid 11.

【0099】基本構造は、図10に示す例と同様に、振
動ガイド部材2の底面と部材50の底面とは面一ではな
く、部材50の底面を振動ガイド部材2の底面よりHだ
け下げてある。
The basic structure is the same as the example shown in FIG. 10. The bottom surface of the vibration guide member 2 and the bottom surface of the member 50 are not flush, and the bottom surface of the member 50 is lower than the bottom surface of the vibration guide member 2 by H. is there.

【0100】ただ、本例では、振動ガイド部材2の底面
の周囲には周壁52を設けてある。この周壁52の底面
は部材50の底面と面一にしてある。
In this embodiment, however, a peripheral wall 52 is provided around the bottom surface of the vibration guide member 2. The bottom surface of the peripheral wall 52 is flush with the bottom surface of the member 50.

【0101】(実施形態12)図12に次の実施形態を
示す。
(Embodiment 12) FIG. 12 shows the following embodiment.

【0102】本例では、導入側通路5と排出側通路6と
の間の処理液3をガスと置換するためのガス供給系53
を有している。
In this embodiment, a gas supply system 53 for replacing the processing liquid 3 between the introduction-side passage 5 and the discharge-side passage 6 with a gas is used.
have.

【0103】本例では、ガス供給系は次のように構成さ
れている。すなわち、導入側通路5の入口に管が接続さ
れ、この管は三方バルブ60を介して、一方は処理液源
に他方はガス源に接続されている。
In this example, the gas supply system is configured as follows. That is, a pipe is connected to the inlet of the introduction-side passage 5, and this pipe is connected via the three-way valve 60, one to the processing liquid source and the other to the gas source.

【0104】処理液3による被処理物1の処理後、振動
ガイド部材2を被処理物1から引き離す際に、被処理物
1は振動ガイド部材2に吸着することがある。
When the vibration guide member 2 is separated from the workpiece 1 after the processing of the workpiece 1 with the processing liquid 3, the workpiece 1 may be attracted to the vibration guide member 2.

【0105】本例では、被処理物1の処理終了後、三方
バルブ60をガス源側に連通させ、ガスを導入側通路5
から振動ガイド部材2と被処理物1との間に導入する。
このように、振動ガイド部材2と被処理物1との間隙に
ガスを導入することにより、振動ガイド部材2を被処理
物1から容易に引き離すことが可能となる。また、ガス
により被処理物1の面の乾燥を容易に行うことが可能と
なる。
In this example, after the treatment of the object 1 is completed, the three-way valve 60 is connected to the gas source side, and the gas is introduced into the introduction side passage 5.
From the vibration guide member 2 and the workpiece 1.
As described above, by introducing gas into the gap between the vibration guide member 2 and the workpiece 1, the vibration guide member 2 can be easily separated from the workpiece 1. Further, the surface of the processing object 1 can be easily dried by the gas.

【0106】[0106]

【実施例】図1に示すウエット処理装置を用いて洗浄力
の評価を行った。なお、比較のため従来例として図13
に示す装置(市販のMSシャワーノズル)についても洗
浄力の評価を行った。
EXAMPLE A cleaning performance was evaluated using a wet processing apparatus shown in FIG. For comparison, FIG.
The cleaning power was also evaluated for the apparatus (commercially available MS shower nozzle) shown in (1).

【0107】洗浄力の評価条件は次の通りである。 被処理体 被処理体として、(1)ガラス基板上に
Crを堆積した基板と、(2)Siウエハとを用意し
た。 基板の強制的汚染 (1)の基板については、Al粒子を分散した液
を500μL分取し、それを超純水で5Lまで希釈(濃
度:1.0×10個/mL)し、この液中に(1)の
基板を1秒間浸漬後取り出し、再度1秒間浸漬後リンス
及び乾燥した。(2)の基板については、PSL(ポリ
スチレンラテックス標準粒子)(径:0.309μm)
粒子を分散した液(濃度:6.1×1011個/mL)
を113μL分取し、分取した液を0.5%DHF(希
フッ酸)で5Lまで希釈した。基板の汚染は、基板を3
分間浸漬を行い、10分間リンス及び乾燥した。 洗浄条件 ・実施例 ・洗浄液:UPW(超純水)、洗浄液流量:0.5L/
min ・振動面と基板表面の距離:3mm ・超音波:950kHz、300W(パワー密度=約5
W/cm :振動子サイズ=約40mm×約160mm) ・洗浄時間:10sec
The evaluation conditions for the detergency are as follows. Object to be processed As the object to be processed, (1) On a glass substrate
Prepare a substrate on which Cr is deposited and (2) a Si wafer
Was. Compulsory contamination of substrate For substrate (1), Al2O3Liquid with dispersed particles
And dilute it to 5 L with ultrapure water (concentration).
Degree: 1.0 × 104/ Ml), and the solution of (1)
After immersing the substrate for 1 second, take it out, immerse again for 1 second, and rinse
And dried. For the substrate of (2), PSL (poly
Styrene latex standard particles) (diameter: 0.309 μm)
Liquid in which particles are dispersed (concentration: 6.1 × 1011Pieces / mL)
Was collected in an amount of 113 μL, and the collected liquid was added to 0.5% DHF (diluted).
Diluted with hydrofluoric acid) to 5 L. Contamination of the substrate, 3
Immersion for 10 minutes, rinsing and drying for 10 minutes. Cleaning conditions-Example-Cleaning solution: UPW (ultra pure water), cleaning solution flow rate: 0.5 L /
min Distance between vibration surface and substrate surface: 3 mm Ultrasonic wave: 950 kHz, 300 W (power density = about 5
W / cm2  : Vibrator size = about 40mm x about 160mm) ・ Washing time: 10sec

【0108】純水とは、一般に原水を凝集沈殿装置、砂
ろ過装置、活性炭ろ過装置、逆浸透膜装置、2床3塔式
イオン交換装置、混床式イオン交換装置、精密フィルタ
ー等の1次純水処理系の装置で処理して得た水(1次純
水)である。
[0108] Pure water generally refers to raw water that is subjected to primary coagulation and sedimentation, sand filtration, activated carbon filtration, reverse osmosis membrane, two-bed, three-column ion exchanger, mixed-bed ion exchanger, precision filter, etc. It is water (primary pure water) obtained by treatment with a pure water treatment system.

【0109】又一般に超純水とは、上記純水をさらに2
次純水処理系で処理して得た水で、2次純水処理系装置
とは以下の通り、純水槽に貯留した純水を紫外線照射装
置、混床式ポリッシャー、限外ろ膜過装置や逆浸透膜装
置のような膜処理装置を用いて順次2次処理し、前記純
水に残留する微粒子、コロイダル物質、有機物金属、陰
イオン等を可及的に取り除いて、被処理物のウエット処
理に適する超純水(2次純水)とするものである。超純
水(2次純水)の水質は、表1に示した。本発明では上
記純水及び超純水を総称して純水とした。
Generally, ultrapure water is defined as the above pure water being further added for 2 hours.
The secondary pure water treatment system is the water obtained by the treatment with the secondary pure water treatment system, and the pure water stored in the pure water tank is irradiated with an ultraviolet ray irradiation device, a mixed-bed polisher, and an ultrafiltration device as follows. And secondary treatment using a membrane treatment device such as a reverse osmosis membrane device to remove as much as possible fine particles, colloidal substances, organic metals, anions and the like remaining in the pure water, and wet the object to be treated. Ultrapure water (secondary pure water) suitable for processing. The water quality of ultrapure water (secondary pure water) is shown in Table 1. In the present invention, the pure water and the ultrapure water are collectively referred to as pure water.

【0110】[0110]

【表1】 [Table 1]

【0111】・従来例 ・洗浄液:UPW(超純水) 洗浄液流量;10L/min(10L/minが本ノズ
ルの最少流量) ・ノズル先端と基板表面の距離:8mm ・超音波:950kHz、300W(パワー密度=約5
W/cm :振動子サイズ=約40mm×約160m
m) ・洗浄時間:10sec 測定 ・Al粒子 測定器:PI1100FP(QCO)パーティクル測定
機 0.5μm以上をカウントした。 ・PSL(0.309μm)粒子 測定器:WIS(キヤノン株式会社製)パーティクル測
定機 0.3μm以上をカウントした 評価 強制汚染の前後及び洗浄後におけるパーティクルの数を
測定し洗浄力を評価した。その結果を表2(Al
粒子汚染)及び表3(PSL粒子汚染)に示す。
Conventional example Cleaning liquid: UPW (ultra pure water) Cleaning liquid flow rate: 10 L / min (10 L / min is
・ Distance between nozzle tip and substrate surface: 8mm ・ Ultrasonic wave: 950kHz, 300W (power density = about 5)
W / cm2 : Transducer size = about 40mm x about 160m
m) ・ Washing time: 10 sec measurement ・ Al2O3Particle measuring device: PI1100FP (QCO) particle measurement
Machine 0.5 μm or more was counted.・ PSL (0.309μm) particle measuring device: WIS (manufactured by Canon Inc.) particle measurement
Estimated by counting 0.3 μm or more of the standard equipment The number of particles before and after forced contamination and after cleaning
It measured and evaluated the detergency. The results are shown in Table 2 (Al2O3
Particle contamination) and Table 3 (PSL particle contamination).

【0112】[0112]

【表2】 [Table 2]

【0113】[0113]

【表3】 [Table 3]

【0114】表2及び表3に示すように、本実施例にお
いては、従来例に比べて約20分の1の洗浄液量を使用
したにもかかわらず洗浄力も従来例よりもはるかに優れ
ていた。
As shown in Tables 2 and 3, in the present embodiment, the cleaning power was much better than that of the conventional example although the cleaning liquid amount was about 1/20 of that of the conventional example. .

【0115】なお、他の実施の形態のウエット処理装置
の場合については、図5の実施形態で、洗浄力がほぼ従
来例程度と下がるが、他は実施形態と同様の結果が得ら
れた。
In the case of the wet processing apparatus according to the other embodiment, the cleaning effect in the embodiment of FIG. 5 is reduced to substantially the same level as that of the conventional example, but the same result as in the embodiment is obtained in other respects.

【0116】[0116]

【発明の効果】本発明のウエット処理装置によれば、ウ
エット処理液の使用量を従来の10分の1以下へと低減
することができ、しかも従来より高い処理効率、例えば
洗浄処理における高い清浄度を得ることが可能となる。
According to the wet processing apparatus of the present invention, the amount of the wet processing liquid used can be reduced to 1/10 or less of the conventional one, and the processing efficiency is higher than the conventional one, for example, the high cleaning in the cleaning process. It is possible to gain a degree.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】第1の実施の形態に係るウエット処理装置の断
面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view of a wet processing apparatus according to a first embodiment.

【図2】第2の実施の形態に係るウエット処理装置の断
面図である。
FIG. 2 is a sectional view of a wet processing apparatus according to a second embodiment.

【図3】第3の実施の形態に係るウエット処理装置の断
面図である。
FIG. 3 is a sectional view of a wet processing apparatus according to a third embodiment.

【図4】第4の実施の形態に係るウエット処理装置の断
面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view of a wet processing apparatus according to a fourth embodiment.

【図5】第5の実施の形態に係るウエット処理装置の断
面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view of a wet processing apparatus according to a fifth embodiment.

【図6】第6の実施の形態に係るウエット処理装置の断
面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view of a wet processing apparatus according to a sixth embodiment.

【図7】第7の実施の形態に係るウエット処理装置の断
面図である。
FIG. 7 is a cross-sectional view of a wet processing apparatus according to a seventh embodiment.

【図8】第8の実施の形態に係るウエット処理装置の断
面図である。
FIG. 8 is a sectional view of a wet processing apparatus according to an eighth embodiment.

【図9】第9の実施の形態に係るウエット処理装置の断
面図である。
FIG. 9 is a cross-sectional view of a wet processing apparatus according to a ninth embodiment.

【図10】第10の実施の形態に係るウエット処理装置
の断面図である。
FIG. 10 is a sectional view of a wet processing apparatus according to a tenth embodiment.

【図11】第11の実施の形態に係るウエット処理装置
の断面図である。
FIG. 11 is a sectional view of a wet processing apparatus according to an eleventh embodiment.

【図12】第12の実施の形態に係るウエット処理装置
の断面図である。
FIG. 12 is a sectional view of a wet processing apparatus according to a twelfth embodiment.

【図13】従来例に係るウエット処理装置の断面図であ
る。
FIG. 13 is a cross-sectional view of a wet processing apparatus according to a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 被処理物、 2 振動ガイド部材、 3 処理液、 4 位置調整部材、 5 導入側通路、 6 排出側通路、 7 超音波振動子、 8 被処理面、 9 吸引装置、 11 空打ち防止液、 12 ウエット処理装置、 13 超音波振動ガイド部材、 15 ウエット処理本体、 20 収納部材、 21a,21b,21c 支持柱、 22 導入部材、 23 排出部材、 25 保持台、 26 ネジボックス、 30 基板搬送部材、 35 ドレイン容器、 40 回転軸、 41 基板ホルダー、 42 載置部、 50 部材、 52 周壁、 53 ガス供給系、 60 三方バルブ、 101 被処理物(基板)、 102 ウエット処理液供給ノズル、 104 洗浄液供給室、 105 洗浄液、 106 開口部、 107 洗浄液導入口、 116 超音波素子。 REFERENCE SIGNS LIST 1 workpiece, 2 vibration guide member, 3 treatment liquid, 4 position adjustment member, 5 introduction side passage, 6 discharge side passage, 7 ultrasonic vibrator, 8 surface to be treated, 9 suction device, 11 idle discharge prevention liquid, Reference Signs List 12 wet treatment device, 13 ultrasonic vibration guide member, 15 wet treatment main body, 20 storage member, 21a, 21b, 21c support column, 22 introduction member, 23 discharge member, 25 holder, 26 screw box, 30 substrate transport member, 35 drain container, 40 rotating shaft, 41 substrate holder, 42 mounting part, 50 members, 52 peripheral wall, 53 gas supply system, 60 three-way valve, 101 workpiece (substrate), 102 wet processing liquid supply nozzle, 104 cleaning liquid supply Chamber, 105 cleaning liquid, 106 opening, 107 cleaning liquid inlet, 116 ultrasonic element.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 三森 健一 宮城県仙台市泉区明通三丁目31番地株式会 社フロンテック内 (72)発明者 大見 忠弘 宮城県仙台市青葉区米ヶ袋2の1の17の 301 (72)発明者 笠間 泰彦 宮城県仙台市泉区明通三丁目31番地株式会 社フロンテック内 Fターム(参考) 3B201 AA02 AA03 AB42 BB03 BB72 BB77 BB85 BB92 BB93 CC01 CC11 5F043 AA02 AA40 BB27 DD12 DD19 GG10  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Kenichi Mimori 3-31, Meido, Izumi-ku, Sendai City, Miyagi Prefecture Inside Frontech Co., Ltd. (72) Inventor Tadahiro Omi 2 Yonegabukuro, Aoba-ku, Sendai City, Miyagi Prefecture. 3-11-1301 (72) Inventor Yasuhiko Kasama 3-31 Akimitsu, Izumi-ku, Sendai, Miyagi Prefecture F-Tech Co., Ltd. F-term (Reference) 3B201 AA02 AA03 AB42 BB03 BB72 BB77 BB85 BB92 BB93 CC01 CC11 5F043 AA02 AA40 BB27 DD12 DD19 GG10

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 一側に処理液を導入する導入側通路と他
側にウエット処理後の処理液を排出する排出側通路とを
備えるとともに、前記導入側通路と前記排出側通路との
間に、被処理物に対し前記導入側通路から導入した前記
処理液をガイドしかつ振動を与えながら被処理物をウエ
ット処理する振動ガイド部材を備えたウエット処理本体
を設け、該振動ガイド部材と前記被処理物とを所定間隙
に維持し、該間隙に前記処理液を保持させる位置調整部
材を設けてなり、 前記振動ガイド部材が振動子を備えており、前記振動ガ
イド部材の前記被処理物側と反対の外面に前記振動子を
形成し、前記振動ガイド部材の内部に前記振動子からの
振動を該振動ガイド部材の前記被処理物側の外面に伝え
る液(空打ち防止液)を備えたことを特徴とするウエッ
ト処理装置。
A first passage for introducing a treatment liquid on one side and a discharge passage for discharging the treatment liquid after the wet treatment on the other side; and a passage between the introduction passage and the discharge passage. A wet processing main body having a vibration guide member for guiding the processing liquid introduced from the introduction-side passage to the workpiece and applying a vibration to the workpiece while applying vibration thereto; and providing the vibration guide member with the vibration guide member. The processing object is maintained at a predetermined gap, and a position adjusting member for holding the processing liquid in the gap is provided.The vibration guide member includes a vibrator, and the vibration guide member includes a vibrator. The vibrator is formed on the opposite outer surface, and a liquid for transmitting vibration from the vibrator to the outer surface of the vibration guide member on the workpiece side is provided inside the vibration guide member. Characterized by a web Processing apparatus.
【請求項2】 一側に処理液を導入する導入側通路を備
えるとともに、被処理物に対し前記導入側通路から導入
した前記処理液をガイドしつつ他側に送液してかつ振動
を与えながら前記被処理物をウエット処理する振動ガイ
ド部材を備えたウエット処理本体を設け、該振動ガイド
部材と前記被処理物とを所定間隙に維持し、該間隙に前
記処理液を保持させる位置調整部材を設け、前記振動ガ
イド部材によって送液された前記処理液を排出させる排
出側通路を設けてなり、 前記振動ガイド部材が振動子を備えており、前記振動ガ
イド部材の前記被処理物側と反対の外面に前記振動子を
形成し、前記振動ガイド部材の内部に前記振動子からの
振動を該振動ガイド部材の前記被処理物側の外面に伝え
る液(空打ち防止液)を備えたことを特徴とするウエッ
ト処理装置。
2. An apparatus according to claim 1, further comprising an introduction passage for introducing the processing liquid on one side, and feeding the processing liquid introduced from the introduction passage to the object to be processed while feeding the processing liquid to the other side and applying vibration. A position adjustment member for providing a wet processing main body having a vibration guide member for wet processing the object to be processed while maintaining the vibration guide member and the object to be processed in a predetermined gap and holding the processing liquid in the gap; And a discharge-side passage for discharging the processing liquid sent by the vibration guide member. The vibration guide member includes a vibrator, and is opposite to the object side of the vibration guide member. The vibrator is formed on an outer surface of the vibrator, and a liquid (anti-flush prevention liquid) for transmitting vibration from the vibrator to the outer surface of the vibration guide member on the side of the workpiece is provided inside the vibration guide member. Feature Ett processing apparatus.
【請求項3】 前記空打ち防止液は脱気した液であるこ
とを特徴とする請求項1または3記載のウエット処理装
置。
3. The wet processing apparatus according to claim 1, wherein the idle hit prevention liquid is a degassed liquid.
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