JP2002287651A - 表示装置およびその製造方法 - Google Patents

表示装置およびその製造方法

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JP2002287651A
JP2002287651A JP2001088025A JP2001088025A JP2002287651A JP 2002287651 A JP2002287651 A JP 2002287651A JP 2001088025 A JP2001088025 A JP 2001088025A JP 2001088025 A JP2001088025 A JP 2001088025A JP 2002287651 A JP2002287651 A JP 2002287651A
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Tatsuo Oshiro
達生 大城
Yosuke Fujikawa
陽介 藤川
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Sharp Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 端子電極の寸法に左右されず、また面取り加
工時にセルが汚れていても容易に認識でき、安定な切削
量で面取り加工された表示装置を提供する。 【解決手段】 素子基板2上には、複数の端子電極4か
らなる電極群41が設けられ、電極群41を電気的に短
絡させる短絡配線5が設けられている。許容される面取
り量の上限を示す上限仮想線(a−a’)と許容される
面取り量の下限を示す下限仮想線(b−b’)との間の
基板2上の領域には、矩形状の上限マーク23が設けら
れている。短絡配線5を面取り加工によって除去する際
に、上限マーク23を目印にして切削を行うことがで
き、過不足なく安定な切削量で面取り加工を行うことが
できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、表示装置およびそ
の製造方法に関する。具体的には、液晶ディスプレイ、
プラズマディスプレイ、無機または有機ELディスプレ
イなどのフラットな表示装置であって、基板の端面が面
取りされた表示装置およびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶表示装置は軽量小型であり消費電力
が小さいことから、携帯電話等の可搬性のある電子機器
のディスプレイとして広く使用されている。図10は、
携帯電話16の構成を概略的に示した斜視図である。液
晶表示装置9は、液晶層を挟持する一対の基板を貼り合
わせた構造を有する液晶セル1と、偏光板等の光学フィ
ルム6と、外部回路材7,8とから構成される。この一
対の基板の内側表面には、電圧を加えて液晶分子の配向
状態を変えるための駆動用電極や配線がそれぞれパター
ニングされている。
【0003】液晶表示装置9は、操作ボタン類12を有
する筐体10,11の内部に、キーボード基板13、各
種ICチップやコネクタを有する主基板14、バッテリ
ー15と共に収められている。一般に液晶表示装置9
は、金属製の筐体で覆われたモジュールの状態で組み込
まれる。しかし、携帯電話などの可搬性のある電子機器
では、軽量小型化が市場における優位性を訴えるための
有力手段であるので、グラム単位での軽量化を図るため
に、筐体で覆わずに実質的に液晶セル1の状態で組み込
まれることもある。
【0004】液晶セル1は、スペーサを介して貼り合わ
せられた母基板を分断して、多数のセルを形成した後、
液晶材料の注入および封止の工程を経て製造されること
が多い。図11Aは、従来の液晶セル1の斜視図であ
り、個々のセルに分断され、液晶材料の注入と封止がさ
れた後で、かつ面取り加工前の状態を示している。一般
には、図10に示す外部回路材7,8に接続させる目的
で、複数の端子電極4は基板2および基板3の周辺に露
出されており、互いに短絡配線5で電気的に接続されて
いることがある。端子電極4や短絡配線5は、例えば透
明導電体の薄膜や金属薄膜などで形成される。なお、端
子電極4上には酸化膜などを積層させ、端子電極4上の
酸化膜の一部を除去して、端子電極4を露出させること
がある。
【0005】短絡配線5は最終的には不要であるので、
外部回路材7,8を取り付けるまでに、図11Bに示す
ように基板の端面または割断面(以下、単に端面とい
う。)を、例えば切削(面取り加工)にて除去する。面
取り加工による短絡配線5の除去は、例えば特開平2−
190820号公報に開示されている。この後、光学フ
ィルム6および外部回路材7,8が液晶セル1に取り付
けられ液晶表示装置9が完成する。
【0006】短絡配線5を設けた後、基板2,3を面取
り加工する理由は以下の通りである。液晶表示装置9を
製造する工程で生じた静電気が、1本の端子電極4から
液晶表示装置9内部に入り込み不良を発生させることが
ある。このため、製造工程のある段階まで端子電極4同
士を互いに短絡させる対策が採られる。このような短絡
配線5(ショートリングあるいはガードリングとも呼称
される)は、特に薄膜ダイオードや薄膜トランジスタな
どのアクティブ素子を液晶セル1内に設けた液晶表示装
置の製造に効果的である。また短絡配線5は基板の陵と
平行(直線状)に設けることができ、この除去方法とし
て面取り加工が適している。
【0007】また液晶表示装置9の基板2,3としてガ
ラス基板が使用されることが多く、製造作業者が取り扱
い中に指等を傷つけないために面取り加工がされる。さ
らに基板2,3上に設けられる端子電極4と外部回路材
7,8との接続には、TCP(Tape Carrier Package)
が使用されたり、あるいはフレキシブル基板等の樹脂性
の柔らかく薄い基材に錫箔などで形成された配線が配さ
れたものが使用されることが多い。
【0008】このような液晶表示装置9を図10のよう
に携帯電話16に組み込む際に、配線材が鋭角な基板の
陵に押し付けられることによって、傷付いて断線するお
それがあるので、基板の端面を予め面取り加工して、配
線材の断線を防止するのである。
【0009】面取り加工の一例を図12にしたがって説
明する。まず液晶セル1を水平移動可能なステージ18
上に、ガイドピン17に合わせて吸着固定する。次に回
転する円筒状の砥石19と、霧状の水を吐出するノズル
20とを備えた面取り装置210を準備し、砥石19の
回転面に液晶セル1の基板の端面を押し付けて切削す
る。短絡配線5の幅(ここでは、短絡配線5の短手方向
(基板の陵に対して直角をなす方向)の長さをいう。以
下同じ)は通常0.3mm前後であり、面取り加工の切
削量(以下、面取り量ともいう。)は少なくともこの幅
の寸法以上の値が必要であるが、面取り量は小さ過ぎて
も大き過ぎても不都合が生じる。
【0010】面取り量が小さ過ぎた場合は、短絡配線5
が一部残り、個々の端子電極4を完全に分離できなくな
る。一方、面取り量が大き過ぎた場合は、端子電極4の
実効面積が小さくなり、外部回路材7,8との接続強度
が不足するおそれがある。特に、図10で示したよう
に、実質的に液晶セル1の状態で電子機器に組み込まれ
る場合には、端子電極4を保護する筐体がないので、接
続強度の確保と断線の防止は重要となる。
【0011】近年では、端子電極4の長さは2mm前後
にまで短縮化が進んでおり、面取り加工の仕上げは無視
できないものとなっている。また、面取り加工は、切削
と目視確認を繰り返して作業をおこなうが、図12に示
した通り、ガイドピン17に対する液晶セル1の位置決
めが正しくなければ、基板の端面が斜めに面取りされた
り、切削を繰り返した結果、面取り量が大きくなり過ぎ
ることもある。また、適正な面取り量か否かの判断は、
作業者の勘に頼らなければならなかった。よって、切削
量を容易に、客観的に判定できる手段に基づいて正しく
切削を調整することが望まれる。
【0012】特開平10−288763号公報には、基
板の切断位置の精度を容易に判定するために、給電ライ
ンと外部端子とを連結し、切断予定線を横断する細幅部
を設け、この細幅部に沿って切断することが記載されて
いる。同公報には、細幅部に沿って切断することのみが
記載され、面取り加工については記載されていない。仮
に、同公報に記載の切断加工を面取り加工に置き換える
ことが可能であるならば、以下の面取り加工方法が考え
られる。
【0013】図13は、面取り加工される前の端子電極
4近傍を示した斜視図である。この例では、細幅部22
0が端子電極4と短絡配線5とを接続している。細幅部
220は端子電極4よりも幅を狭くしている。また細幅
部220が端子電極4と接続する端部を許容される切削
量の最大を示す仮想線(m−m’線)と一致させ、細幅
部220が短絡配線5に接続する端部を許容される切削
量の最小を示す仮想線(n−n’線)と一致させてい
る。
【0014】面取り加工は、この細幅部220を目安に
行われる。例えば切削量が不足している場合は、短絡配
線5が残っているだけでなく細幅部220が見えるの
で、再度面取り加工を実施する。また細幅部220がな
くなった場合は切削量が多すぎたと判断できるので不良
品として扱う。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】図13に示した方法に
おいては、端子電極4よりも幅の狭い細幅部220を設
けて、細幅部220を切削量の目安となるマークとして
いる。しかしながら、高精細化、大容量化、カラー化が
進んでいる近年の液晶表示装置においては、比較的小型
の液晶セル1の端部に非常に多数の端子電極4を設ける
必要があり、必然的に端子電極4の幅は小さくなる。昨
今では端子電極4の幅が35μm前後まで小さくなって
いるが、細幅部220はこの寸法より充分細く形成しな
ければならない。
【0016】これ程の寸法となると、たとえ短絡配線5
や細幅部220が金属薄膜で形成され、ガラス基板との
識別が可能であっても、作業者が容易に識別できるもの
とは言い難く、このようなマークが実質的に用をなさな
いことはすぐに理解されよう。
【0017】したがって、ルーペ等を用いて切削量の確
認を行うしか方法がない。しかしながら面取り加工が湿
式の切削作業であり、必然的に液晶セル1が切削で汚れ
た水滴で濡れていることから、水滴が付着しているとこ
ろとそうでないところで、細幅部220に対してルーペ
の焦点が合わなかったり、細幅部220が見えにくいと
いう問題が生じる。
【0018】また、特開平8−278514号公報に
は、基板端面の適正な面取り量を示す目印(線またはパ
ターン)をショート配線とは独立で割断および面取りに
より除去されない領域に形成することが記載されてい
る。しかし、目印を線で示した場合、作業者が容易に識
別できるとは言い難い。また、割断および面取りにより
除去されない領域に、言い換えれば最大面取り許容位置
よりも内側の領域に、最大面取り許容位置を示すパター
ンを設けることが記載されている。しかし、面取りライ
ンが最大面取り許容位置を僅かに越えた場合、面取り量
が適正な場合に比してパターンが僅かに小さくなるだけ
であるので、面取り量が適正かどうかを目視確認するこ
とは困難である。
【0019】したがって、上記の公報に記載された方法
では、いずれも作業性が芳しくなく、不安定な切削量で
面取り加工がされてしまい、外部回路材との接続強度に
問題がある液晶表示装置が製造され得る。さらにこの液
晶表示装置が電子機器に組み込まれた結果、電子機器の
信頼性に問題が生じることも有り得る。
【0020】本発明は上記課題を解決し、端子電極の寸
法に左右されず、また面取り加工時にセルが汚れていて
も容易に認識でき、安定な切削量で面取り加工された表
示装置を提供すること、さらにこの表示装置を使用した
電子機器の信頼性を確保することを目的とする。
【0021】
【課題を解決させるための手段】本発明の第1の局面に
よる表示装置の製造方法は、基板上の電極群に接続さ
れ、前記電極群を電気的に短絡させる短絡配線を有する
前記基板の端面を面取りすることによって、前記短絡配
線を除去する工程を含む、表示装置の製造方法であっ
て、許容される面取り量の上限を示す上限仮想線と、前
記基板の陵との間の前記基板上の領域内に、面状の上限
マークが設けられ、前記上限マークの外形線の一部は、
前記上限仮想線上に存在し、前記短絡配線の全部が除去
され、かつ前記上限マークの全部または一部が残存する
ように、前記基板の端面を面取りする、表示装置の製造
方法である。
【0022】本発明の第2の局面による表示装置の製造
方法は、基板の端面を面取りする工程を含む、表示装置
の製造方法であって、許容される面取り量の上限を示す
上限仮想線と、許容される面取り量の下限を示す下限仮
想線との間の前記基板上の領域内に、面状の上限マーク
が設けられ、前記上限マークの外形線の一部は、前記上
限仮想線上に存在し、前記下限仮想線まで前記基板の端
面を面取りし、かつ前記上限マークの全部または一部が
残存するように前記基板の端面を面取りする、表示装置
の製造方法である。
【0023】本発明の第3の局面による表示装置の製造
方法は、基板の端面を面取りする工程を含む、表示装置
の製造方法であって、許容される面取り量の下限を示す
下限仮想線と、前記基板の陵との間の前記基板上の領域
内に、面状の下限マークが設けられ、前記下限マークの
外形線の一部は、前記下限仮想線上に存在し、許容され
る面取り量の上限を示す上限仮想線と、前記下限仮想線
との間の前記基板上の領域内に、面状の上限マークが設
けられ、前記上限マークの外形線の一部は、前記上限仮
想線上に存在し、前記下限マークの全部が除去され、か
つ前記上限マークの全部または一部が残存するように、
前記基板の端面を面取りする、表示装置の製造方法であ
る。
【0024】本発明の第1および第2の局面による表示
装置の製造方法は、前記上限マークが、前記上限仮想線
が延びる方向の前記基板上の両端に設けられていること
が好ましい。
【0025】本発明の第3の局面による表示装置の製造
方法は、前記上限マークが、前記上限仮想線が延びる方
向の前記基板上の両端に設けられ、前記下限マークは、
前記下限仮想線が延びる方向の前記基板上の両端に設け
られていることが好ましい。
【0026】本発明の第1および第2の局面による表示
装置の製造方法は、前記上限マークが、遮光膜または有
色膜であって、視覚による認識が可能な膜であることが
好ましい。
【0027】本発明の第3の局面による表示装置の製造
方法は、前記上限マークおよび前記下限マークが、遮光
膜または有色膜であって、前記上限マークと前記下限マ
ークとの視覚による認識が可能な膜であることが好まし
い。
【0028】また、前記上限マークと前記下限マークと
は、それぞれ構成材料が異なることが好ましい。
【0029】本発明の第1の局面による表示装置は、基
板上の電極群に接続され、前記電極群を電気的に短絡さ
せる短絡配線を有する前記基板の端面が面取りされるこ
とによって、前記短絡配線が除去された、表示装置であ
って、許容される面取り量の上限を示す上限仮想線と、
前記基板の陵との間の前記基板上の領域内に、面状の上
限マークが設けられ、前記上限マークの外形線の一部
は、前記上限仮想線上に存在し、前記短絡配線の全部が
除去され、かつ前記上限マークの全部または一部が残存
するように、前記基板の端面が面取りされた、表示装置
である。
【0030】本発明の第2の局面による表示装置は、基
板の端面が面取りされた、表示装置であって、許容され
る面取り量の上限を示す上限仮想線と、許容される面取
り量の下限を示す下限仮想線との間の前記基板上の領域
内に、面状の上限マークが設けられ、前記上限マークの
外形線の一部は、前記上限仮想線上に存在し、前記下限
仮想線まで前記基板の端面が面取りされ、かつ前記上限
マークの全部または一部が残存するように前記基板の端
面が面取りされた、表示装置である。
【0031】本発明の第3の局面による表示装置は、基
板の端面が面取りされた、表示装置であって、許容され
る面取り量の下限を示す下限仮想線と、前記基板の陵と
の間の前記基板上の領域内に、面状の下限マークが設け
られ、前記下限マークの外形線の一部は、前記下限仮想
線上に存在し、許容される面取り量の上限を示す上限仮
想線と、前記下限仮想線との間の前記基板上の領域内
に、面状の上限マークが設けられ、前記上限マークの外
形線の一部は、前記上限仮想線上に存在し、前記下限マ
ークの全部が除去され、かつ前記上限マークの全部また
は一部が残存するように、前記基板の端面が面取りされ
た、表示装置である。
【0032】本発明の第1および第2の局面による表示
装置は、前記上限マークが、前記上限仮想線が延びる方
向の前記基板上の両端に設けられていることが好まし
い。
【0033】本発明の第3の局面による表示装置は、前
記上限マークが、前記上限仮想線が延びる方向の前記基
板上の両端に設けられ、前記下限マークは、前記下限仮
想線が延びる方向の前記基板上の両端に設けられている
ことが好ましい。
【0034】本発明の第1および第2の局面による表示
装置は、前記上限マークが、遮光膜または有色膜であっ
て、視覚による認識が可能な膜であることが好ましい。
【0035】本発明の第3の局面による表示装置のは、
前記上限マークおよび前記下限マークが、遮光膜または
有色膜であって、前記上限マークと前記下限マークとの
視覚による認識が可能な膜であることが好ましい。
【0036】また、前記上限マークと前記下限マークと
は、それぞれ構成材料が異なることが好ましい。
【0037】本発明の電子機器は、上記表示装置のうち
いずれかが組み込まれた電子機器である。
【0038】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
による実施形態を説明する。液晶表示装置を例に本発明
の実施形態を説明するが、本発明の表示装置は、プラズ
マディスプレイ、無機または有機ELディスプレイなど
のフラットな表示装置にも適用され得る。なお、基板に
は、ガラス基板が通常用いられる。
【0039】(実施形態1)図1Aは、本実施形態の液
晶表示装置の液晶セル101の面取り加工前の状態を示
した斜視図であり、図1Bは面取り加工後の状態を示し
た斜視図である。図2は図1Aにおける端子部分の拡大
図である。図3Aは端子部分を拡大した平面図であり、
図3Bは図3AのB−B’線断面図である。なお、図3
Aにおいては、分かりやすさのために、上限マーク23
に斜線を付している。
【0040】液晶セル101は、複数のアクティブ素子
を形成した素子基板2と、対向基板3とを有する。素子
基板2は、複数のアクティブ素子にそれぞれ接続された
端子電極4を有しており、2つの電極群41,42が形
成されている。各電極群41,42は、短絡配線5によ
って互いに電気的に接続され、アクティブ素子の静電気
による破壊を防いでいる。なお、各端子電極4は、素子
基板2上に形成された信号配線線や走査配線に接続さ
れ、アクティブ素子と電気的に接続されている。
【0041】本実施形態では、素子基板2上の端子電極
4および短絡配線5の形成領域外に矩形状の上限マーク
23が設けられている。この矩形状の上限マーク23
は、許容される面取り量の上限を示す上限仮想線(a−
a’線)と、許容される面取り量の下限を示す下限仮想
線(b−b’線)との間の基板2上の領域内に設けられ
ている。上限仮想線(a−a’線)は、外部回路材との
十分な接続強度を確保できる程度に端子電極4が露出す
るように設定され、基板2の厚さ、研磨角度、面取り量
のばらつきなどを考慮して決定される。下限仮想線(b
−b’線)は、短絡配線5の幅、すなわち短絡配線5の
短手方向の長さなどを考慮して決定される。本実施形態
では、端子電極4と接続する短絡配線5の端部を通る線
を下限仮想線としている。上限仮想線(a−a’線)お
よび下限仮想線(b−b’線)は、いずれも基板2の陵
21に対して平行であり、両仮想線の間隔は0.3mm
程度である。
【0042】上限マーク23の外形線の一部は、上限仮
想線(a−a’線)上に存在している。すなわち、上限
マーク23は、上限仮想線(a−a’線)の一部を一辺
とする矩形状のパターンであり、面取り加工において許
容される切削量の最大(上限)を示す。また、短絡配線
5は、面取り加工の切削量の最小(下限)を示す面状の
下限マークとして機能する。
【0043】本実施形態では、各電極群41,42のそ
れぞれの両端に接するように、それぞれ2つの上限マー
ク23が形成されている。こうすることで、上限マーク
23と端子電極4の一部とを合わせた、いわばL状のパ
ターンが1つのマークとして見えるので、目視に都合が
良く作業時に上限マーク23を探し易くなる。無論、上
限マーク23は端子電極4に接続されていなくても構わ
ない。
【0044】本実施形態によれば、図13に示した細幅
部220とは異なり、端子電極4の幅と無関係に上限マ
ーク23が設けられているので、基板2の表面に汚濁水
が付着しても目視で見える程度の大きさの上限マーク2
3とすることができる。
【0045】上限マーク23は、基板2上に形成された
駆動用電極や配線あるいは端子電極の形成工程と同一工
程でパターニングすることによって形成できるので、何
ら新しい工程を追加することなく形成可能である。
【0046】素子基板2上に形成され得るアクティブ素
子としては、薄膜ダイオードや薄膜トランジスタが挙げ
られる。薄膜ダイオードとしては、金属−絶縁体−金属
(MIM)構造のものが実用化されている。このMIM
素子を使用した液晶表示装置には、素子の下部電極とし
てTa膜、絶縁体としてTaOx 膜、上部電極としてT
i,Cr,Alの各薄膜、画素電極としてITOなどの
透明導電膜やAlなどの反射性を有する薄膜が使用され
る。
【0047】上限パターン23は、視覚による認識が可
能な膜であれば、その構成材料を問わず、例えばAlな
どの反射性を有する薄膜を使用することができる。但
し、上記の薄膜のうち遮光性を有するTa,Cr,T
i,Alの薄膜、またはこれらの薄膜うち少なくとも1
つを含んだ積層膜は、明るい照明を背景にして視覚によ
り容易に認識できるので、上限マーク23として非常に
好ましい。また、面取り加工により除去される短絡配線
5も、遮光性を有する膜であることが好ましい。さら
に、上限パターン23と短絡配線5とが異なる構成材料
で形成されていてもよく、例えば遮光性の差異によっ
て、上限パターン23と短絡配線5との区別が容易にな
るようにしても良い。
【0048】薄膜トランジスタにおいても、上記遮光性
を有する薄膜が配線や電極材料として使われている。ま
たMo膜などの他の薄膜も上限マーク23として使用で
きる。すなわち、アクティブ素子を使用した液晶表示装
置の素子基板の製造においては、上記の遮光性を有する
薄膜で上限マーク23を形成することができる。よっ
て、上限マーク23は、パターニングに使用するフォト
マスクの変更のみで容易に形成できるのである。本実施
形態では、上限マーク23、端子電極4および短絡配線
5が、基板2上に積層された遮光膜(例えばTa)をパ
ターニングすることによって、同時に形成される。
【0049】次に、液晶セル101の面取り加工につい
て説明する。面取り加工は、図12で説明した面取り装
置210を用いて行うことができる。まず液晶セル10
1を水平移動できるステージ18上に、ガイドピン17
に合わせて吸着固定する。回転する円筒状の砥石19と
吐水ノズル20を準備し、砥石19の回転面に液晶セル
101の基板2の端面22を押し付けて切削する。
【0050】切削量は、ステージ18の水平移動操作、
すなわち液晶セル101を砥石19に押し付ける強弱や
時間に左右される。面取り加工にあたっては、まず短時
間に弱く押し付けて1回目の切削を行って、切削量の最
小(下限)を示す下限仮想線(b−b’線)に達するよ
うに切削を行い、短絡配線5の減り具合や基板2の陵2
1近傍に設けた上限マーク23の減り具合を確認する。
【0051】減り具合の確認には、ルーペを用いても良
いが、上限マーク23が比較的大きく設けられ、あるい
は遮光膜を用いて設けられている場合、例えば明るい照
明を背景にして液晶セル101を肉眼で眺めるだけで、
減り具合の確認ができる。よって、切削とその都度おこ
なう切削量の確認の作業の切り替えがし易く、湿式の面
取り加工で生じる汚水で液晶セル101が汚れても作業
性が落ちることがない。
【0052】例えば、図3B中のd線まで切削した場合
には、上限マーク23の全部だけでなく、残存する短絡
配線5も見えるので、切削量が不足していることが確認
できる。図3B中のe線は下限仮想線(b−b’線)ま
で切削した場合を示しており、この場合には、短絡配線
5がなく、かつ上限マーク23が見えるので、切削量が
許容範囲内で仕上がったことが確認できる。また、図3
B中のf線まで切削した場合にも、同様に上限マーク2
3のみが見えるので、切削量が許容範囲内で仕上がった
ことが確認できる。このように、上限マーク23のみが
見える場合には、良品の液晶セルとして扱うことができ
る。
【0053】一方、図3B中のg線は上限仮想線(a−
a’線)まで切削した場合を示しており、この場合に
は、上限マーク23が見えないので、切削量が過大であ
ることが確認できる。図3B中のh線まで切削した場合
も同様である。したがって、図3B中のg線まで、また
はg線を越えて切削した場合には、上限マーク23が見
えなくなるので、図3B中のg線を境にして、良品か不
良品かを判断することができる。
【0054】これに対して、特開平8−278514号
公報に記載の方法では、面取りにより除去されない領域
に目印(パターン)が形成されているので、例えば図3
B中のg線の僅か手前まで切削した場合と、g線を僅か
に越えた場合との間のパターンの変化は乏しく、パター
ンが僅かに小さくなるだけである。したがって、面取り
ラインが最大面取り許容位置付近の場合、良品か不良品
かを判断することが困難である。
【0055】本実施形態では、上限マーク23の外形線
の一部が上限仮想線(a−a’線)上に存在し、かつ上
限マーク23が上限仮想線(a−a’線)と、下限仮想
線(b−b’線)との間の基板2上の領域内に設けられ
ているので、図3B中のg線を境界にして、上限マーク
23の存在の有無が変化し、上限マーク23が存在する
ときは良品、上限マーク23が存在しないときは不良品
と判断できる。すなわち、上限マーク23の存在の有無
で良品か不良品かを判断できるので、目印の大小で判断
する場合よりも容易に判断できる。
【0056】このように、上限マーク23が見えない場
合には、切削量が過大であるので不良品の液晶セルとし
て扱わなければならない。但し、上限マーク23が見易
く設けられているので、複数回行われる切削毎に、徐々
に削られていく上限マーク23を注意して見ていれば、
不良品となるような過大な切削を行う可能性は小さく、
実質的に不良品となるような仕上がりになるおそれはほ
とんどないのである。
【0057】また、本実施形態では、面取り加工される
基板2上の上限仮想線(a−a’線)が延びる方向の両
端に少なくとも2個の上限マーク23が設けられている
ので、基板2の陵21に対して斜めに切削された場合も
容易に判断できる。斜めに切削された場合は、ガイドピ
ン17に対する液晶セル101の吸着位置を再確認して
再度切削を行えば良い。あるいは、上限マーク23を設
けたダミーの液晶セルを別途準備し、試験的に切削を行
って、ガイドピン17やステージ18の事前調整、作業
の習熟に利用しても良い。このように、本実施形態によ
れば、斜めに仕上がっても容易に判断でき、面取り加工
の際に速やかに再切削の処置を行うか、あるいは不良セ
ルとして処理するか判断がし易く、作業の効率が改善さ
れる。
【0058】以上のように、本実施形態によれば、端子
電極4の幅に左右されない矩形状の上限マーク23が遮
光膜で形成され、基板2の陵21近傍に設けられている
ので、液晶セル101に水滴や汚れが付着していても容
易に面取り加工の切削量を判断できる。短絡配線5の全
部が除去され、上限マーク23の一部が残るように、基
板2の端面22を面取りすることによって、安定して不
良が少ない面取り加工がされた液晶セル101を得るこ
とができる。したがって、液晶セル101に外部回路材
を接続することによって、外部回路材との接続強度が確
保された液晶表示装置を製造することができる。
【0059】また、この液晶表示装置が、金属等の剛性
の筐体で覆われたモジュールではなく、実質的に液晶セ
ルの状態で電子機器に組み込まれた場合、組み立て時の
外力や、電子機器の筐体を介して外部から液晶表示装置
の端子部に力が加わっても、電気的な接続の信頼性に問
題のない電子機器を得ることができる。
【0060】本実施形態では、上限マーク23が端子電
極4の一部に接続するように形成されているが、上限マ
ーク23が端子電極4から離れていても良い。例えば、
図4Aに示すように、上限マーク23が端子電極4から
離れて、上限仮想線(a−a’線)が延びる方向の基板
2の両端に設けられていても良い。また、本実施形態で
は、上限マーク23は矩形状であるが、上限マーク23
の外形は矩形に限らず、面状の上限マーク23の外形線
の一部が上限仮想線(a−a’線)上に存在する限り、
様々な形状とすることができる。例えば、三角形、五角
形などの多角形の他、円弧形、楕円形、円形などであ
る。さらに、本実施形態では、上限マーク23は上限仮
想線(a−a’線)と下限仮想線(b−b’線)との間
の基板2上の領域内に設けられているが、上限仮想線
(a−a’線)と、基板2の陵21との間の基板2上の
領域内に、上限マーク23が設けられていても良い。例
えば、図4Bに示すように、上限マーク23が三角形状
であって、三角形の底辺が上限仮想線(a−a’線)上
に存在し、三角形の頂点が基板2の陵21に達する形状
であってもよい。
【0061】本実施形態では、端子電極4、短絡配線5
および上限マーク23がいずれも露出している場合につ
いて説明したが、端子電極4、短絡配線5および上限マ
ーク23が酸化膜などによって覆われている場合でも、
本実施形態と同様に、面取り加工を行うことができる。
また、端子電極4および短絡配線5と上限マーク23と
が、異なる層に設けられていても良い。例えば、MIM
素子の下部電極を形成する際に端子電極4および短絡配
線5を形成した後に、上部電極を形成する際に上限マー
ク23を形成しても良い。このように、端子電極4およ
び短絡配線5と上限マーク23とが、異なる層に設けら
れていても、基板2上に形成される積層膜の膜厚は極め
て小さいので、目視ではこれらの層のずれは認識されな
いからである。
【0062】(実施形態2)図5Aは、本実施形態の液
晶表示装置の液晶セル201の面取り加工前の状態を示
した斜視図であり、図5Bは面取り加工後の状態を示し
た斜視図である。図6は図5Aにおける端子部分の拡大
図である。
【0063】液晶セル201は、複数のアクティブ素子
を形成した素子基板2と、対向基板3とを有する。実施
形態1では、アクティブ素子を形成した素子基板2にお
ける端子電極4、短絡配線5および上限マーク23の形
成例を説明した。本実施形態では、素子基板2に貼り合
される対向基板3の形成例について説明する。
【0064】一般に、対向基板3には、顔料や染料など
で形成された赤、緑、青の各色を呈するカラーフィルタ
ーと、顔料や金属薄膜で形成されたブラックマトリクス
と、透明電極で形成された対向電極や端子電極とが設け
られている。なお、カラーフィルターおよびブラックマ
トリクス上には、アクリル系樹脂等の平坦化層を伴うこ
とがある。
【0065】透過型液晶表示装置おいては、対向電極と
して例えばITOなどからなる透明電極が使用される
が、反射型液晶表示装置においては、反射性を有する薄
膜を対向電極に使用する。例えば、Alなどの金属薄膜
が用いられる。
【0066】本実施形態では、基板3上には、複数の対
向電極40が形成され、2つの電極群41,42が形成
されている。各電極群41,42は、短絡配線5によっ
て互いに電気的に接続されている。また、対向電極40
および短絡配線5は、基板3上に積層された遮光膜(例
えばAl)をパターニングすることによって、同時に形
成される。
【0067】本実施形態では、対向電極40および短絡
配線5の形成領域外に矩形状の上限マーク23が複数設
けられている。矩形状の上限マーク23は、基板3の両
端に設けられた上限マーク23aと、隣接する対向電極
40の間に設けられた上限マーク23bとからなる。上
限マーク23aは、許容される面取り量の上限を示す上
限仮想線(a−a’線)から基板3の陵31までの基板
3上の領域に、対向電極40に接するようにして設けら
れている。上限マーク23bは、上限仮想線(a−a’
線)から許容される面取り量の下限を示す下限仮想線
(b−b’線)までの基板3上の領域に、対向電極40
および短絡配線5に接するようにして設けられている。
【0068】上限仮想線(a−a’線)は、外部回路材
との十分な接続強度を確保できる程度に端子電極4が露
出するように設定され、基板3の厚さ、研磨角度、面取
り量のばらつきなどを考慮して決定される。下限仮想線
(b−b’線)は、短絡配線5の幅、すなわち短絡配線
5の短手方向の長さなどを考慮して決定される。本実施
形態では、端子電極4と接続する短絡配線5の端部を通
る線を下限仮想線としている。上限仮想線(a−a’
線)および下限仮想線(b−b’線)は、いずれも基板
3の陵31に対して平行であり、両仮想線の間隔は0.
3mm程度である。上限マーク23a,23bは全体と
して、基板3の陵31に沿った不連続な帯状のマークを
形成している。
【0069】上限マーク23a,23bの外形線の一部
は、上限仮想線(a−a’線)上に存在している。すな
わち、上限マーク23a,23bは、上限仮想線(a−
a’線)の一部を一辺とする矩形状のパターンであり、
面取り加工において許容される切削量の最大(上限)を
示す。また、短絡配線5は、面取り加工の切削量の最小
(下限)を示す面状の下限マークとして機能する。
【0070】本実施形態では、面取り加工の目安となる
パターンとして、対向基板3の陵31に沿って帯状の上
限マーク23a,23bを、カラーフィルターの赤色膜
を用いて形成する。なお、上限マーク23a,23b
は、カラーフィルターもしくはブラックマトリクスを構
成する他の着色膜または遮光膜を用いても良く、視覚に
よる認識が可能であり、短絡配線5との識別が容易な膜
が望ましい。したがって、上限マーク23a,23b
は、着色膜または遮光膜を形成するときのフォトマスク
の変更のみで形成できる。
【0071】本実施形態では、上限マーク23bは、隣
接する対向電極40に接するようにして設けられている
ので、隣接する対向電極40が短絡することを避けるた
めに、非導電性膜で形成することが必要である。なお、
上限マーク23bを導電性膜で形成した場合でも、上限
マーク23b上を絶縁性樹脂等で被覆し、その上に対向
電極40を形成することは可能である。
【0072】上限マーク23a,23bは、カラーフィ
ルターもしくはブラックマトリクスの形成工程と同一工
程でパターニングすることによって形成できるので、何
ら新しい工程を追加することなく形成可能である。
【0073】上限マーク23a,23bは、基板3の陵
31に沿った不連続な帯状のパターンであり、カラーフ
ィルターの1色を用いて形成されているので、目視でも
十分に判るパターンとなっている。この上限マーク23
a,23bを形成した液晶セル201の面取り加工は図
12で説明した方法で行うことができる。
【0074】まず、液晶セル201を水平移動できるス
テージ18上に、ガイドピン17に合わせて吸着固定す
る。次に、回転する円筒状の砥石19と吐水ノズル20
とを備えた面取り装置210を準備し、この砥石19の
回転面に液晶セル201の基板3の端面31を押し付け
て切削する。
【0075】切削量は、ステージ18の水平移動操作、
すなわち液晶セル201を砥石19に押し付ける強弱や
時間に左右される。面取り加工にあたっては、まず短時
間に弱く押し付けて1回目の切削を行い、切削量の最小
(下限)を示す下限仮想線(b−b’線)に達するよう
に切削を行い、短絡配線5の減り具合や基板3の陵31
近傍に設けた上限マーク23の減り具合を確認する。
【0076】減り具合の確認には、ルーペを用いても良
いが、上限マーク23が基板3の一方端から他方端にま
でまたがるパターンであり、カラーフィルターを用いて
形成されているので、例えば明るい照明を背景にして液
晶セル201を肉眼で眺めるだけで上限マーク23の確
認ができる。よって、切削とその都度おこなう切削量の
確認の作業の切り替えが行い易い。
【0077】もしも切削後に短絡配線5がなく、かつ上
限マーク23の一部が呈する色が見えれば、切削量は許
容範囲内で仕上がったことを示しているので良品セルと
して扱えば良い。また切削後に短絡配線5の一部が見え
たり、色を呈する上限マーク23が太く見えていれば、
切削量が不足している。よって再度切削を行い短絡配線
5と上限マーク23の確認を行なえば良い。
【0078】一方、切削後に上限マーク23が見えなけ
れば切削量過大であるので不良品として扱わなければな
らない。しかしながら上限マーク23が色を呈し、見易
くなっているので、複数回行われる切削毎に、徐々に削
られていく上限マーク23を注意して見ていれば不良品
となるような過大な切削を行う可能性は小さく、実質的
に不良品となるような仕上がりになるおそれは非常に小
さいのである。
【0079】また、面取り加工される基板3の一方端か
ら他方端にまでまたがる不連続な帯状に上限マーク23
を設けているので、基板3の陵31に対して斜めに切削
された場合も容易に判断できる。斜めに切削された場合
は、ガイドピン17に対する液晶セル201の吸着位置
を再確認して再度切削を行えば良い。あるいは、上限マ
ーク23を設けたダミーの液晶セルを別途準備し、試験
的に切削を行って、ガイドピン17やステージ18の事
前調整、作業の習熟に利用しても良い。
【0080】以上のように、本実施形態によれば、カラ
ーフィルターで形成した不連続な帯状の上限マーク23
を基板3の陵31に沿って設け、上限マーク23の一部
が残るように切削加工するので、液晶セル201に水滴
や汚れが付着していても容易に面取り加工の切削量を判
断できる。短絡配線5の全部が除去され、上限マーク2
3の一部が残るように、基板3の端面32を面取りする
ことによって、安定して不良が少ない面取り加工がされ
た液晶セル201を得ることができる。したがって、外
部回路材との接続強度が確保された液晶表示装置を製造
することができる。
【0081】また、この液晶表示装置が、金属等の剛性
の筐体で覆われたモジュールではなく、実質的に液晶セ
ルの状態で電子機器に組み込まれた場合、組み立て時の
外力や、電子機器の筐体を介して外部から液晶表示装置
の端子部に力が加わっても、電気的な接続の信頼性に問
題のない電子機器を得ることができる。
【0082】本実施形態では、許容される面取り量の上
限を示す上限仮想線(a−a’線)から基板3の陵31
までの基板3上の領域に、上限マーク23aを設けてい
るが、上限仮想線(a−a’線)から切削量の最小(下
限)を示す下限仮想線(b−b’線)までの基板3上の
領域に、上限マーク23aを設けても良い。
【0083】(実施形態3)図7Aは、本実施形態の液
晶表示装置の液晶セル301の面取り加工前の状態を示
した斜視図であり、図7Bは面取り加工後の状態を示し
た斜視図である。図8は図7Aにおける端子部分の拡大
図である。
【0084】実施形態2では、短絡配線5を面取り加工
の切削量の最小を示すパターンとして利用している。し
かしながら、短絡配線5が透明電極で形成されている場
合は視認性に欠ける。この場合でも、上限マーク23b
が充分視認できるパターンであり、上限マーク23bが
短絡配線5に接しているので、この上限マーク23bを
目安にして、面取り加工を行うことはできる。但し、実
作業上の問題は小さいとは言っても、短絡配線の有無、
形状または材料に制約が伴うことを考慮すると、上限マ
ーク23の更なる工夫が必要である。
【0085】本実施形態では、基板3には、複数の端子
電極4が形成され、2つの電極群41,42が形成され
ている。端子電極4は、基板3上に積層された透明電極
(例えばITO)をパターニングすることによって形成
される。
【0086】本実施形態の液晶セル301は、対向基板
3上にカラーフィルター、ブラックマトリクスおよび端
子電極4が設けられているが、短絡配線5が形成されて
いない。本実施形態では、面取り加工の切削量の目安と
なる上限マーク23と下限マーク24とが基板3上に設
けられている。
【0087】上限マーク23は、許容される面取り量の
上限を示す上限仮想線(a−a’線)から、許容される
面取り量の下限を示す下限仮想線(b−b’線)までの
基板3上の領域に設けられている。下限マーク24は、
下限仮想線(b−b’線)から基板3の陵31までの基
板3上の領域に設けられている。上限マーク23および
下限マーク24は、いずれも、端子電極4の形成領域以
外の基板3上の領域に形成され、全体として基板3の陵
31に沿った不連続なストライプ状のマークを形成して
いる。
【0088】上限仮想線(a−a’線)および下限仮想
線(b−b’線)は、外部回路材との十分な接続強度を
確保できる程度に端子電極4が露出するように設定さ
れ、基板3の厚さ、研磨角度、面取り量のばらつきなど
を考慮して決定される。上限仮想線(a−a’線)およ
び下限仮想線(b−b’線)は、いずれも基板3の陵3
1に対して平行であり、両仮想線の間隔は0.3mm程
度である。
【0089】上限マーク23の外形線の一部は、上限仮
想線(a−a’線)および下限仮想線(b−b’線)上
に存在している。すなわち、矩形状の上限マーク23
は、上限仮想線(a−a’線)の一部を一辺とし、この
辺に対向する下限仮想線(b−b’線)の一部を他辺と
している。また、下限マーク24の外形線の一部は、下
限仮想線(b−b’線)および基板3の陵31上に存在
している。すなわち、矩形状の下限マーク24は、下限
仮想線(a−a’線)の一部を一辺とし、この辺に対向
する基板3の陵31の一部を他辺としている。
【0090】上限マーク23は、面取り加工において許
容される切削量の最大(上限)を示し、下限マーク24
は、面取り加工の切削量の最小(下限)を示す。見やす
くするために、上限マーク23と下限マーク24とは、
それぞれ構成材料が異なることが適切である。本実施形
態では、上限マーク23はカラーフィルターの赤色で形
成し、下限マーク24はブラックマトリクスを使用して
形成する。上限マーク23と下限マーク24とは、視覚
による認識が可能な膜であれば、上記の有色膜に限定さ
れない。また、有色膜の代わりに、光の透過率の異なる
遮光膜を用いて、上限マーク23と下限マーク24との
識別が可能となるようにしても良い。
【0091】上限マーク23および下限マーク24は、
カラーフィルターもしくはブラックマトリクスの形成工
程と同一工程でパターニングすることによって形成でき
るので、何ら新しい工程を追加することなく形成可能で
ある。
【0092】このように本実施形態では、許容される切
削量の最大値と最小値を示す仮想線に対応するように、
基板3の陵31からの距離に応じて段階的に上限マーク
23の構成材料を変え、上限マーク23と下限マーク2
4とを設けている。よって、端子電極4の幅や短絡配線
の有無にかかわらずに、面取り加工の切削の最大許容量
と最小許容量との識別が可能である。
【0093】上限マーク23および下限マーク24を形
成した液晶セル301の面取り加工は、図12で説明し
た方法で行うことができる。まず、液晶セル301を水
平移動できるステージ18上に、ガイドピン17に合わ
せて吸着固定する。次に、回転する円筒状の砥石19と
吐水ノズル20とを備えた面取り装置210を準備し、
この砥石19の回転面に液晶セル301の基板3の端面
31を押し付けて切削する。
【0094】切削量は、ステージ18の水平移動操作、
すなわち液晶セル301を砥石19に押し付ける強弱や
時間に左右される。面取り加工にあたっては、まず短時
間に弱く押し付けて1回目の切削を行い、切削量の最小
(下限)を示す下限仮想線(b−b’線)に達するよう
に切削を行い、下限マーク24の減り具合を確認する。
【0095】減り具合の確認には、ルーペを用いても良
いが、両マーク23,24が基板3の一方端から他方端
にまでまたがるパターンであり、カラーフィルターおよ
びブラックマトリクスを用いて形成されているので、例
えば明るい照明を背景にして液晶セル301を肉眼で眺
めるだけで両マーク23,24の確認ができる。よっ
て、切削とその都度おこなう切削量の確認の作業の切り
替えが行い易い。
【0096】もしも切削後に下限マーク24がなく、か
つ上限マーク23の一部が見えれば、切削量は許容範囲
内で仕上がったことを示しているので、良品セルとして
扱えば良い。また切削後に下限マーク24の一部が見え
れば、切削量が不足している。よって再度切削を行い上
限マーク23および下限マーク24の確認を行なえば良
い。
【0097】一方、切削後に上限マーク23が見えなけ
れば切削量過大であるので不良品として扱わなければな
らない。しかしながら両マーク23,24が見易く設け
られているので、複数回行われる切削毎に、徐々に削ら
れていく両マーク23,24を注意して見ていれば不良
品となるような過大な切削を行う可能性は小さく、実質
的に不良品となるような仕上がりになるおそれは非常に
小さいのである。
【0098】また、面取り加工される基板3の一方端か
ら他方端にまでまたがる不連続なストライプ状に両マー
ク23,24を設けているので、基板3の陵31に対し
て斜めに切削された場合も容易に判別できる。斜めに切
削された場合は、ガイドピン17に対する液晶セル30
1の吸着位置を再確認して再度切削を行えば良い。ある
いは、両マーク23,24を設けたダミーの液晶セルを
別途準備し、試験的に切削を行って、ガイドピン17や
ステージ18の事前調整、作業の習熟に利用しても良
い。
【0099】本実施形態では、上限マーク23および下
限マーク24が異なる有色膜のパターンであり、その境
界が視覚によって容易に認識できる。すなわち、どこま
で切削すべきかを容易に判断することができる。これに
より、面取り加工後の下限マーク24の幅から、再度行
う面取り加工によって、どの程度切削すべきかを予測す
ることができ、再度行う面取り加工時の条件を適宜設定
することができる。また、下限マーク24が有色膜のパ
ターンであるので、最初の面取り加工による切削量を認
識し易く、再度行う面取り加工をどのような条件にすべ
きかを予測することができる。したがって、面取り加工
の工程数を減らすことができ、製造効率が向上する。
【0100】本実施形態によれば、短絡配線がなくて
も、面取り加工の許容最大量と許容最小量を示すマーク
を設けることができる。したがって、短絡配線が透明で
あったり、あるいは短絡配線がない液晶セルにおいて
も、面取り加工の目安となるマークを設けることができ
る。
【0101】以上のように、本実施形態によれば、許容
される切削量の最大値と最小値を示す仮想線に対応する
ように、段階的に両マーク23,24の構成材料を変え
ているので、液晶セル301に水滴や汚れが付着してい
ても容易に面取り加工の切削量を判断できる。下限マー
ク24の全部が除去され、上限マーク23の一部が残る
ように、基板3の端面32を面取りすることによって、
安定して不良が少ない面取り加工がされた液晶セル30
1を得ることができる。したがって、外部回路材との接
続強度が確保された液晶表示装置を製造することができ
る。
【0102】また、この液晶表示装置が、金属等の剛性
の筐体で覆われたモジュールではなく、実質的に液晶セ
ルの状態で電子機器に組み込まれた場合、組み立て時の
外力や、電子機器の筐体を介して外部から液晶表示装置
の端子部に力が加わっても、電気的な接続の信頼性に問
題のない電子機器を得ることができる。
【0103】本実施形態では、上限マーク23および下
限マーク24を設けているが、図9に示すように、上限
マーク23のみが設けられていても良い。下限マークが
なくても、上限マーク23の減り具合を確認することに
よって、過大な切削を避けることができる。
【0104】以上の実施形態の液晶表示装置が組み込ま
れた電子機器は、液晶表示装置の基板が面取りされてい
るので、製造作業者が取り扱い中にけがをする可能性が
低くなり、また電子機器に組み込む際に、基板の陵によ
って配線材が傷つき、断線するのを防止することができ
る。また、液晶表示装置の基板上の電極の実効面積が過
少となるのを防ぎ、外部回路材との接続強度を確保する
ことができるので、電子機器の電気的な接続の信頼性が
高い。さら、上限マークの有無が良品か不良品かを判断
する際の指標となるので、例えば、市場に不良品が流通
した場合、上限マークの有無を確認することによって、
不良品か否かを容易に判断でき、不良品を回収する際の
省力化を図ることができる。
【0105】本発明の電子機器には、液晶表示装置に限
らず、プラズマディスプレイ、無機または有機ELディ
スプレイなどのフラットな表示装置を組み込むことがで
きる。また、電子機器には、携帯電話、PDA(Person
al Digital Assistants )などの小型軽量な情報携帯端
末だけでなく、家庭用または業務用テレビなどの大型電
化製品が含まれる。
【0106】本発明の表示装置およびその製造方法は、
種々の改変が可能である。また、表示装置以外の技術分
野に広く適応することもでき、基板の端面を面取り加工
することが望まれるデバイスなどに適応することができ
る。
【0107】
【発明の効果】本発明によれば、端子電極の寸法に左右
されず、また面取り加工時にセルが汚れていても容易に
認識でき、安定な切削量で面取り加工された表示装置を
提供することができる。また、本発明の表示装置を使用
した信頼性の高い電子機器を提供することができる。さ
らに、本発明の表示装置を効率良く製造できる、表示装
置の製造方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態1の液晶セル101の斜視図であり、
図1Aは面取り加工前の状態を示し、図1Bは面取り加
工後の状態を示している。
【図2】図1Aにおける端子部分の拡大図である。
【図3A】実施形態1の液晶セル101の端子部分を拡
大した平面図である。
【図3B】図3AのB−B’線断面図である。
【図4A】他の実施形態の上限マーク23の外形を説明
する平面図である。
【図4B】他の実施形態の上限マーク23の外形を説明
する平面図である。
【図5】実施形態2の液晶セル201の斜視図であり、
図5Aは面取り加工前の状態を示し、図5Bは面取り加
工後の状態を示している。
【図6】図5Aにおける端子部分の拡大図である。
【図7】実施形態3の液晶セル301の斜視図であり、
図7Aは面取り加工前の状態を示し、図7Bは面取り加
工後の状態を示している。
【図8】図7Aにおける端子部分の拡大図である。
【図9】他の実施形態を示す端子部分の拡大図である。
【図10】携帯電話16の構成を概略的に示した斜視図
である。
【図11】従来の液晶セル1の斜視図であり、図11A
は面取り加工前の状態を示し、図11Bは面取り加工後
の状態を示している。
【図12】面取り加工の一例を説明する斜視図である。
【図13】面取り加工される前の端子電極4近傍を示し
た斜視図である。
【符号の説明】
101、201、301 液晶セル 2 素子基板 3 対向基板 21、31 陵 22、32 端面 4 端子電極 40 対向電極 41、42 電極群 5 短絡配線 9 液晶表示装置 16 携帯電話 23 上限マーク 24 下限マーク a−a’ 許容される面取り量の上限を示す上限仮想線 b−b’ 許容される面取り量の下限を示す下限仮想線
フロントページの続き Fターム(参考) 2H090 JC01 2H092 GA40 GA50 NA25 PA09 5G435 AA17 BB12 EE41 KK03 KK05 KK10

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上の電極群に接続され、前記電極群
    を電気的に短絡させる短絡配線を有する前記基板の端面
    を面取りすることによって、前記短絡配線を除去する工
    程を含む、表示装置の製造方法であって、 許容される面取り量の上限を示す上限仮想線と、前記基
    板の陵との間の前記基板上の領域内に、面状の上限マー
    クが設けられ、 前記上限マークの外形線の一部は、前記上限仮想線上に
    存在し、 前記短絡配線の全部が除去され、かつ前記上限マークの
    全部または一部が残存するように、前記基板の端面を面
    取りする、表示装置の製造方法。
  2. 【請求項2】 基板の端面を面取りする工程を含む、表
    示装置の製造方法であって、 許容される面取り量の上限を示す上限仮想線と、許容さ
    れる面取り量の下限を示す下限仮想線との間の前記基板
    上の領域内に、面状の上限マークが設けられ、前記上限
    マークの外形線の一部は、前記上限仮想線上に存在し、 前記下限仮想線まで前記基板の端面を面取りし、かつ前
    記上限マークの全部または一部が残存するように前記基
    板の端面を面取りする、表示装置の製造方法。
  3. 【請求項3】 基板の端面を面取りする工程を含む、表
    示装置の製造方法であって、 許容される面取り量の下限を示す下限仮想線と、前記基
    板の陵との間の前記基板上の領域内に、面状の下限マー
    クが設けられ、 前記下限マークの外形線の一部は、前記下限仮想線上に
    存在し、 許容される面取り量の上限を示す上限仮想線と、前記下
    限仮想線との間の前記基板上の領域内に、面状の上限マ
    ークが設けられ、 前記上限マークの外形線の一部は、前記上限仮想線上に
    存在し、 前記下限マークの全部が除去され、かつ前記上限マーク
    の全部または一部が残存するように、前記基板の端面を
    面取りする、表示装置の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記上限マークは、前記上限仮想線が延
    びる方向の前記基板上の両端に設けられている、請求項
    1または2に記載の表示装置の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記上限マークは、前記上限仮想線が延
    びる方向の前記基板上の両端に設けられ、 前記下限マークは、前記下限仮想線が延びる方向の前記
    基板上の両端に設けられている、請求項3に記載の表示
    装置の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記上限マークは、遮光膜または有色膜
    であって、視覚による認識が可能な膜である、請求項
    1、2および4のいずれかに記載の表示装置の製造方
    法。
  7. 【請求項7】 前記上限マークおよび前記下限マーク
    は、遮光膜または有色膜であって、前記上限マークと前
    記下限マークとの視覚による認識が可能な膜である、請
    求項3または5に記載の表示装置の製造方法。
  8. 【請求項8】 前記上限マークと前記下限マークとは、
    それぞれ構成材料が異なる、請求項3、5および7のい
    ずれかに記載の表示装置の製造方法。
  9. 【請求項9】 基板上の電極群に接続され、前記電極群
    を電気的に短絡させる短絡配線を有する前記基板の端面
    が面取りされることによって、前記短絡配線が除去され
    た、表示装置であって、 許容される面取り量の上限を示す上限仮想線と、前記基
    板の陵との間の前記基板上の領域内に、面状の上限マー
    クが設けられ、 前記上限マークの外形線の一部は、前記上限仮想線上に
    存在し、 前記短絡配線の全部が除去され、かつ前記上限マークの
    全部または一部が残存するように、前記基板の端面が面
    取りされた、表示装置。
  10. 【請求項10】 基板の端面が面取りされた、表示装置
    であって、 許容される面取り量の上限を示す上限仮想線と、許容さ
    れる面取り量の下限を示す下限仮想線との間の前記基板
    上の領域内に、面状の上限マークが設けられ、前記上限
    マークの外形線の一部は、前記上限仮想線上に存在し、 前記下限仮想線まで前記基板の端面が面取りされ、かつ
    前記上限マークの全部または一部が残存するように前記
    基板の端面が面取りされた、表示装置。
  11. 【請求項11】 基板の端面が面取りされた、表示装置
    であって、 許容される面取り量の下限を示す下限仮想線と、前記基
    板の陵との間の前記基板上の領域内に、面状の下限マー
    クが設けられ、 前記下限マークの外形線の一部は、前記下限仮想線上に
    存在し、 許容される面取り量の上限を示す上限仮想線と、前記下
    限仮想線との間の前記基板上の領域内に、面状の上限マ
    ークが設けられ、 前記上限マークの外形線の一部は、前記上限仮想線上に
    存在し、 前記下限マークの全部が除去され、かつ前記上限マーク
    の全部または一部が残存するように、前記基板の端面が
    面取りされた、表示装置。
  12. 【請求項12】 前記上限マークは、前記上限仮想線が
    延びる方向の前記基板上の両端に設けられた、請求項9
    または10に記載の表示装置。
  13. 【請求項13】 前記上限マークは、前記上限仮想線が
    延びる方向の前記基板上の両端に設けられ、 前記下限マークは、前記下限仮想線が延びる方向の前記
    基板上の両端に設けられた、請求項11に記載の表示装
    置。
  14. 【請求項14】 前記上限マークは、遮光膜または有色
    膜であって、視覚による認識が可能な膜である、請求項
    9、10および12のいずれかに記載の表示装置。
  15. 【請求項15】 前記上限マークおよび前記下限マーク
    は、遮光膜または有色膜であって、前記上限マークと前
    記下限マークとの視覚による認識が可能な膜である、請
    求項11または13に記載の表示装置の製造方法。
  16. 【請求項16】 前記上限マークと前記下限マークと
    は、それぞれ構成材料が異なる、請求項11、13およ
    び15のいずれかに記載の表示装置。
  17. 【請求項17】 請求項9ないし16のいずれかに記載
    の表示装置が組み込まれた電子機器。
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