JP2002287149A - Liquid crystal device, electronic equipment, and projection type liquid crystal device - Google Patents

Liquid crystal device, electronic equipment, and projection type liquid crystal device

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JP2002287149A
JP2002287149A JP2001083612A JP2001083612A JP2002287149A JP 2002287149 A JP2002287149 A JP 2002287149A JP 2001083612 A JP2001083612 A JP 2001083612A JP 2001083612 A JP2001083612 A JP 2001083612A JP 2002287149 A JP2002287149 A JP 2002287149A
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JP
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liquid crystal
crystal device
light
pixel
film
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JP2001083612A
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Japanese (ja)
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Yutaka Tsuchiya
豊 土屋
Shuhei Yamada
周平 山田
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Seiko Epson Corp
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Seiko Epson Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a liquid crystal device which has a display screen with a high contrast ratio by shading a light-absent part due to misalignment of liquid crystal which originates from an alignment film peeled and re-stuck in rubbing processing and further an unnecessary scatter area formed owing to inadequacy of a refractive index accompanying polymer stabilization processing. SOLUTION: A shading film 24 provided around a pixel is projected to the terminal part of the pixel, specially, the corner part of the pixel to shade the light-absent part and further the unnecessary scatter area. The projection part 24a is formed circularly, polygonally, etc., so as to secure the aperture rate of the pixel.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は液晶装置に関し、特
に、投射型液晶プロジェクタのライトバルブ等に用いて
好適な液晶装置におけるコントラスト比を高める技術に
関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal device, and more particularly to a technique for increasing a contrast ratio in a liquid crystal device suitable for use as a light valve of a projection type liquid crystal projector.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、パーソナルコンピューターのディ
スプレイ等に、大容量の液晶装置が使用されている。中
でも高画質、大容量の液晶表示装置として、画素電極と
信号配線との間にスイッチ作用を有する液晶駆動素子を
導入したアクティブマトリックス方式の液晶表示装置が
主流となっている。アクティブマトリックス方式の液晶
表示装置の液晶駆動素子の代表例としては、薄膜ダイオ
ード(Thin Film Diode:以下、TFDと略記する)
や、薄膜トランジスタ( Thin Film Transistor:以
下、TFTと略記する)があり、これらの液晶駆動素子
の機能を使用してマトリックス状に配置された多数の画
素を駆動させて任意の文字や図形を表示することが可能
になっている。
2. Description of the Related Art In recent years, large-capacity liquid crystal devices have been used for displays of personal computers and the like. Among them, an active matrix type liquid crystal display device in which a liquid crystal driving element having a switching function is introduced between a pixel electrode and a signal wiring is mainly used as a high quality and large capacity liquid crystal display device. A typical example of a liquid crystal driving element of an active matrix type liquid crystal display device is a thin film diode (hereinafter abbreviated as TFD).
And a thin film transistor (hereinafter abbreviated as TFT), and the function of these liquid crystal driving elements is used to drive a large number of pixels arranged in a matrix to display an arbitrary character or figure. It has become possible.

【0003】各種電子機器に用いられる液晶表示装置や
液晶プロジェクタ等の投射型液晶表示装置の構成要素で
ある液晶パネルにも、上記のアクティブマトリクス型液
晶装置が使用されている。図1は、この種のアクティブ
マトリクス型液晶装置の一例を上面側から見た斜視図を
示している。アクティブマトリクス型の液晶装置50
は、回路配線や液晶駆動素子が形成されている素子基板
10と、素子基板10に対向配置された対向基板20の
2枚の基板が、封止材を介して狭い間隙を保って接合さ
れており、この間隙の間に液晶を挟持して構成されてい
る。液晶装置の表示領域90には走査線3とデータ線6
に囲まれた多数の画素9aが形成されている。また、液
晶装置の周囲には外部の電気回路と接続するための接続
端子15,16が形成されている。なお、図1では液晶
駆動素子は省略してある。
The above-mentioned active matrix type liquid crystal device is also used for a liquid crystal panel which is a constituent element of a projection type liquid crystal display device such as a liquid crystal display device or a liquid crystal projector used for various electronic devices. FIG. 1 is a perspective view of an example of this type of active matrix liquid crystal device as viewed from above. Active matrix type liquid crystal device 50
Is formed by bonding two substrates, that is, an element substrate 10 on which circuit wiring and a liquid crystal driving element are formed, and an opposing substrate 20 opposed to the element substrate 10 with a narrow gap therebetween via a sealing material. The liquid crystal is sandwiched between the gaps. The display area 90 of the liquid crystal device has scanning lines 3 and data lines 6.
A number of pixels 9a surrounded by are formed. In addition, connection terminals 15 and 16 for connecting to an external electric circuit are formed around the liquid crystal device. In FIG. 1, the liquid crystal driving element is omitted.

【0004】図13はこのアクティブマトリクス型液晶
装置50の平面図であり、複数の画素9a周辺を上面か
ら透視して見た図である。液晶駆動素子としてはTFT
を使用したものである。液晶装置50の素子基板10に
はマトリクス状に複数の透明な画素電極9が設けられて
おり、画素電極9の縦横の境界に沿って各々データ線
6、走査線3および容量線4が設けられている。TFT
30は各画素9a間にデータ線6と重畳して設けられて
いる。また、蓄積容量は各画素9a間に容量線4と重畳
して設けられており、一部は容量線4とデータ線6の交
差点で分岐して、データ線6と重畳して設けられてい
る。画素電極9は、スイッチング素子である画素スイッ
チング用TFT30を一定期間だけそのスイッチを閉じ
ることにより、データ線6から供給される画像信号を所
定のタイミングで書き込むようになっている。
FIG. 13 is a plan view of the active matrix type liquid crystal device 50, showing the periphery of a plurality of pixels 9a as seen through from above. TFT as liquid crystal drive element
Is used. A plurality of transparent pixel electrodes 9 are provided in a matrix on the element substrate 10 of the liquid crystal device 50, and data lines 6, scanning lines 3, and capacitance lines 4 are provided along vertical and horizontal boundaries of the pixel electrodes 9. ing. TFT
Reference numeral 30 is provided between the pixels 9a so as to overlap the data line 6. The storage capacitor is provided between the pixels 9 a so as to overlap the capacitor line 4, and a part of the storage capacitor is branched at the intersection of the capacitor line 4 and the data line 6 and provided to overlap the data line 6. . The pixel electrode 9 writes the image signal supplied from the data line 6 at a predetermined timing by closing the switch of the pixel switching TFT 30 as a switching element for a predetermined period.

【0005】さらに、液晶装置50の対向基板20に
は、各画素9aの表示領域以外の周辺領域に遮光膜24
が設けられている。この遮光膜24は、走査線3、容量
線4及びデータ線6に重畳して設けられている。これに
より、遮光膜24は対向基板20の側からの入射光が液
晶駆動用のTFT30の半導体層1aに侵入するのを防
止する。
Further, a light-shielding film 24 is provided on the opposite substrate 20 of the liquid crystal device 50 in a peripheral region other than the display region of each pixel 9a.
Is provided. The light-shielding film 24 is provided so as to overlap with the scanning lines 3, the capacitance lines 4, and the data lines 6. Thereby, the light shielding film 24 prevents the incident light from the side of the counter substrate 20 from entering the semiconductor layer 1a of the TFT 30 for driving the liquid crystal.

【0006】さらに図15は、この図13に示した液晶
装置50の線C−C’に沿った断面図である。液晶装置
50は、透明な2枚の素子基板10と対向基板20との
間に液晶層40が封入されている。素子基板10の基板
11上に形成された画像信号を供給するデータ線6はコ
ンタクトホール5を介してTFT30のソース領域1d
に電気的に接続されている。また、TFT30のチャネ
ル領域1a’に交差する走査線3に、所定のタイミング
でパルス的に走査信号を順次印加するように構成されて
いる。
FIG. 15 is a cross-sectional view of the liquid crystal device 50 shown in FIG. 13 along the line CC '. The liquid crystal device 50 has a liquid crystal layer 40 sealed between two transparent element substrates 10 and a counter substrate 20. The data line 6 for supplying an image signal formed on the substrate 11 of the element substrate 10 is connected to the source region 1 d of the TFT 30 through the contact hole 5.
Is electrically connected to In addition, a scanning signal is sequentially applied to the scanning line 3 intersecting the channel region 1a 'of the TFT 30 at a predetermined timing in a pulsed manner.

【0007】画素電極9を介して液晶に書き込まれた所
定レベルの画像信号は、対向基板20に形成された対向
電極22との間で一定期間保持されるが、通常、保持さ
れた画像信号がリークするのを防ぐために、画素電極9
と対向電極22との間に形成される液晶容量と並列に蓄
積容量70を付加している。ここでは、蓄積容量70を
形成する方法として、容量形成用の配線である容量線4
と容量電極4aとが絶縁膜2を介して設けられている。
これらの素子や配線及び画素電極を覆うようにラビング
処理等の所定の配向処理が施された配向膜13が設けて
ある。通常、配向膜13はポリイミド等の有機膜から形
成されている。
An image signal of a predetermined level written to the liquid crystal via the pixel electrode 9 is held for a certain period between the counter electrode 22 formed on the counter substrate 20. Usually, the held image signal is In order to prevent leakage, the pixel electrode 9
A storage capacitor 70 is added in parallel with the liquid crystal capacitor formed between the capacitor and the counter electrode 22. Here, as a method of forming the storage capacitor 70, the capacitor line 4 which is a wiring for forming a capacitor is used.
And a capacitor electrode 4 a are provided via the insulating film 2.
An alignment film 13 on which a predetermined alignment process such as a rubbing process is performed is provided so as to cover these elements, wirings and pixel electrodes. Usually, the alignment film 13 is formed from an organic film such as polyimide.

【0008】素子基板10に対向配置された他方の基板
である対向基板20には、遮光膜24、対向電極22及
び配向膜23が形成されている。図14は対向基板20
を上から透視してみた図であり、対向基板20に設けら
れた遮光膜24の配置を示す平面図である。図に示すよ
うに、遮光膜24は画素電極9のやや内側に、画素9a
領域を規定するように格子状に形成されている。遮光膜
24は、通常クロム等の遮光性の金属膜から構成されて
いる。さらに遮光膜24を覆うように基板の全面に対向
電極22が形成されており、対向電極22の表面にはラ
ビング処理等の所定の配向処理が施された配向膜23が
形成されている。配向膜23は、前述の素子基板10側
の配向膜13と互いの直交する方向にラビング処理を施
して、液晶の配向方向を制御している。
A light-shielding film 24, a counter electrode 22, and an alignment film 23 are formed on a counter substrate 20, which is the other substrate facing the element substrate 10. FIG. 14 shows the counter substrate 20.
5 is a plan view showing the arrangement of the light shielding film 24 provided on the counter substrate 20. As shown in the figure, the light-shielding film 24 has a pixel 9a slightly inside the pixel electrode 9.
It is formed in a lattice shape so as to define an area. The light-shielding film 24 is usually made of a light-shielding metal film such as chrome. Further, a counter electrode 22 is formed on the entire surface of the substrate so as to cover the light-shielding film 24, and an alignment film 23 on which a predetermined alignment process such as a rubbing process is performed is formed on the surface of the counter electrode 22. The alignment film 23 performs a rubbing process in a direction perpendicular to the alignment film 13 on the element substrate 10 side to control the alignment direction of the liquid crystal.

【0009】通常、TN( Twisted nematic )型の液
晶装置であれば、素子基板10側の配向膜13に対して
は、例えば、方形の各画素9aに対して45度の方向
(図14において右下から左上の矢印F1の方向)にラ
ビングし、一方、対向基板20側の配向膜23に対して
は、さらに90度ひねった135度の方向(図14にお
いて左下から右上の矢印F2の方向)にラビングしてい
る。あるいはラビング方向は、方形の各画素に対して上
下方向と左右方向にラビングして、液晶をねじれ状態に
保っている。
Normally, in the case of a TN (Twisted nematic) type liquid crystal device, the orientation film 13 on the element substrate 10 side, for example, a direction of 45 degrees with respect to each square pixel 9a (right in FIG. 14). Rubbing is performed in the direction from the bottom to the upper left arrow F1), while the orientation film 23 on the counter substrate 20 side is further twisted by 90 degrees in the 135 ° direction (the direction from the lower left to the upper right arrow F2 in FIG. 14). Rubbing to. Alternatively, the rubbing direction is such that the liquid crystal is kept in a twisted state by rubbing the pixels in the square in the vertical and horizontal directions.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】ところが、ラビング処
理の際に配向膜の密着性が弱い部分が剥離して、駆動回
路配線や駆動素子が配置された画素隅の一段と高くなっ
た部分まで運ばれて、画素隅部に剥離した配向膜が再付
着する場合がある。この剥離した配向膜が再付着した部
分では表面特性が他の部分と異なり、液晶を接触させた
場合に液晶分子の配列構成が乱されて異常配向部ができ
る。異常配向を起こした部分はいわゆる”光抜け”を起
こし、例えばノーマリブラックの黒表示時に白色の表示
となり、コントラスト比が低下して表示不良を生じるこ
とになる。図15で示したように、画素隅部の配向膜が
再付着した箇所では、液晶の配向性が乱された異常配向
領域49が生じ、これが表示不良につながるからであ
る。また、耐光信頼性向上のため、液晶中に配向分散性
のモノマーを添加して高分子安定化処理を行うと、図1
6に示すように配向の正常部と異常配向領域49の境界
で屈折率の不適合による不要散乱領域48が前記光抜け
の周囲に加わることがあるため、高分子安定化処理をし
ない場合と比較してコントラスト比の低下が一層顕著に
現れる傾向にある。
However, during the rubbing process, the portion of the alignment film where the adhesion is weak is peeled off, and the rubbing is carried to a higher portion of the pixel corner where the driving circuit wiring and the driving element are arranged. As a result, the peeled alignment film may be reattached to the corner of the pixel. In the portion where the peeled alignment film is re-attached, the surface characteristics are different from those of the other portions. When the liquid crystal is brought into contact, the arrangement configuration of the liquid crystal molecules is disturbed and an abnormal alignment portion is formed. The portion where the abnormal orientation occurs causes a so-called "light leakage", for example, a white display at the time of a normally black display, and a contrast ratio is lowered to cause a display defect. This is because, as shown in FIG. 15, an abnormal alignment region 49 in which the alignment of the liquid crystal is disturbed occurs at a position where the alignment film is reattached at the corner of the pixel, which leads to display failure. In addition, in order to improve light resistance reliability, when a polymer stabilizing treatment is performed by adding an alignment dispersing monomer to the liquid crystal,
As shown in FIG. 6, an unnecessary scattering region 48 due to a refractive index mismatch at the boundary between the normal orientation region and the abnormal orientation region 49 may be added to the periphery of the light leakage. Therefore, a decrease in the contrast ratio tends to appear more remarkably.

【0011】本発明の目的は、上記問題点を解決し、コ
ントラスト比の高い表示画像が得られる液晶装置を提供
しようとするものである。本発明はあらゆる液晶表示装
置に対して有効であるが、投射型液晶装置等のように高
いコントラスト比を要求される液晶装置に於いて特に有
効である。
An object of the present invention is to solve the above problems and to provide a liquid crystal device capable of obtaining a display image having a high contrast ratio. The present invention is effective for any liquid crystal display device, but is particularly effective for a liquid crystal device requiring a high contrast ratio, such as a projection type liquid crystal device.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の液晶装置は、間隙を保って互いに対向配
置された一対の基板のそれぞれ内側の表面に少なくとも
画素駆動用電極を有し、該画素駆動用電極の表面に配向
膜が設けられ、これら配向膜の間に液晶層を挟持した複
数の画素を有してなり、各画素の周囲には遮光膜を有
し、該遮光膜は各画素の前記一対の配向膜のうち、少な
くとも一方の配向膜のラビング方向にある各画素端部に
張り出し部を有している液晶装置とした。液晶装置をこ
のように構成することにより、ラビング処理時に配向膜
が剥離し、画素端部に再付着して液晶の異常配向を引き
起こして光抜けとなる場合でも、表示光を遮るので表示
不良と認識されることはなく、コントラスト比の高い表
示画像が得られるようになる。本液晶装置は、特に投射
型液晶装置のように高いコントラスト比を要求される液
晶装置に於いて有効である。
In order to achieve the above object, a liquid crystal device according to the present invention has at least a pixel driving electrode on the inner surface of each of a pair of substrates arranged to face each other with a gap therebetween. An alignment film is provided on the surface of the pixel driving electrode, and a plurality of pixels having a liquid crystal layer sandwiched between the alignment films are provided. The film was a liquid crystal device having an overhang at each pixel end in the rubbing direction of at least one of the pair of alignment films of each pixel. By configuring the liquid crystal device in this manner, even when the alignment film is peeled off during the rubbing process and reattached to the edge of the pixel to cause an abnormal alignment of the liquid crystal to cause light leakage, the display light is blocked, so that a display defect occurs. A display image with a high contrast ratio can be obtained without being recognized. The present liquid crystal device is particularly effective in a liquid crystal device requiring a high contrast ratio, such as a projection type liquid crystal device.

【0013】本発明の液晶装置では、前記張り出し部が
円形、あるいは三角形や四角形等の多角形であるものを
利用することができる。この張り出し部は各画素の少な
くとも一つの隅部にあれば良く、あるいはまた隣り合う
各画素の二隅に形成されていても良い。張り出し部が配
向膜のラビング方向の延長線上にあればよい。ラビング
方向が画素に対して平行である場合には、前記張り出し
部は各画素の端部に直線上に形成されたものであっても
良い。光抜けはラビング処理の際に剥離した配向膜の再
付着に起因するので、画素の隅部や端部の液晶駆動素子
や回路配線といった画素電極面よりも一段高くなったと
ころの近傍、特に画素の隅部で起こりやすい。従って、
これらの部分の表示光を遮蔽すれば、表示不良と認識さ
れることはない。本発明の液晶装置では、前記遮光膜は
素子基板側あるいは対向基板側のいずれに設けたもので
あっても良い。特に、対向基板側には液晶駆動素子や回
路配線が無く、遮光膜を任意の形状に形成し易いので容
易に設けることができる。
In the liquid crystal device according to the present invention, the overhanging portion may be a circle or a polygon such as a triangle or a quadrangle. The overhanging portion may be provided at at least one corner of each pixel, or may be formed at two corners of adjacent pixels. It is sufficient that the overhang is on an extension of the rubbing direction of the alignment film. When the rubbing direction is parallel to the pixel, the overhang may be formed linearly at the end of each pixel. Since light leakage is caused by re-adhesion of the alignment film peeled off during the rubbing process, the vicinity of the corner or end of the pixel, which is one step higher than the pixel electrode surface such as a liquid crystal driving element or circuit wiring, particularly the pixel Often occurs in the corners of the. Therefore,
If the display light of these portions is blocked, it is not recognized as a display defect. In the liquid crystal device of the present invention, the light shielding film may be provided on either the element substrate side or the counter substrate side. In particular, since there is no liquid crystal driving element or circuit wiring on the counter substrate side, and the light-shielding film is easily formed in an arbitrary shape, it can be provided easily.

【0014】本発明の液晶装置では、前記液晶装置がパ
ッシブマトリクス駆動方式でもアクティブマトリクス駆
動方式であるものにも適用できる。また、アクティブマ
トリクス駆動方式が薄膜トランジスタ方式であるものに
も適用できる。アクティブマトリクス駆動方式の液晶装
置では、基板上に液晶駆動素子や回路配線が複雑に形成
されており、配向膜面が平坦ではなく、ラビング処理の
際に剥離した配向膜が再付着し易い場所が多いので光抜
けを起こし易く、本発明が顕著な効果を発揮する。
In the liquid crystal device of the present invention, the liquid crystal device can be applied to either a passive matrix driving system or an active matrix driving system. Further, the present invention can be applied to a device in which the active matrix driving method is a thin film transistor method. In an active matrix driving type liquid crystal device, liquid crystal driving elements and circuit wiring are formed in a complicated manner on a substrate, and the alignment film surface is not flat, and there are places where the alignment film peeled off during the rubbing treatment is likely to be re-attached. Due to the large number, light leakage easily occurs, and the present invention exhibits a remarkable effect.

【0015】本発明の液晶装置は、特に、前記液晶装置
が垂直配向モードであるものにも適用できる。垂直配向
モードで配向膜として多用する垂直配向ポリイミド膜
は、金属配線部と密着性が弱く剥離しやすいため、剥離
した配向膜が再付着することにより光抜けを起こし易
い。したがって本発明を採用すれば、顕著な効果を発揮
する。また、本発明の液晶装置は、前記液晶が配向分散
性の高分子により安定化処理されたものにも適用でき
る。配向分散性の高分子により安定化処理して耐光信頼
性を高めた液晶装置は、正常配向部と異常配向部との境
界で屈折率不適合による不要散乱光が加わることがある
ため、コントラスト比の低下が顕著になる傾向がある
が、本発明を使用すればコントラスト比の高い表示画面
が得られるようになる。
The liquid crystal device according to the present invention can be applied particularly to a device in which the liquid crystal device is in a vertical alignment mode. The vertical alignment polyimide film, which is frequently used as an alignment film in the vertical alignment mode, has weak adhesion to a metal wiring portion and is easily peeled off. Therefore, when the present invention is adopted, a remarkable effect is exhibited. Further, the liquid crystal device of the present invention can also be applied to a device in which the liquid crystal has been subjected to a stabilization treatment with an alignment-dispersing polymer. In a liquid crystal device that has been stabilized with an alignment-dispersing polymer to improve light resistance, unnecessary scattered light due to refractive index mismatch may be added at the boundary between the normal alignment portion and the abnormal alignment portion, so that the contrast ratio may be reduced. Although the decrease tends to be remarkable, a display screen having a high contrast ratio can be obtained by using the present invention.

【0016】本発明の電子機器は、張り出し部を有する
遮光膜を具備した上述のいずれかの液晶装置を備えたも
のである。また、本発明の投射型液晶装置は、張り出し
部を有する遮光膜を具備した上述のいずれかの液晶装置
を備えたものである。これら本発明の投射型液晶装置な
いしは電子機器は、光抜けによる不良表示が無く、コン
トラスト比の高い表示画像が得られるものである。
An electronic apparatus according to the present invention includes any one of the above-described liquid crystal devices having a light-shielding film having an overhang. Further, a projection type liquid crystal device according to the present invention includes any one of the above liquid crystal devices provided with a light-shielding film having an overhang portion. The projection type liquid crystal device or electronic apparatus of the present invention does not have a defective display due to light leakage and can provide a display image with a high contrast ratio.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】次に、図面を使用して本発明の実
施の形態を説明する。なお、実施の形態の各図の説明に
おいては、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大
きさとするため、各層や各部材毎の縮尺は同一ではな
く、適宜異ならせてある。 (第1の実施形態)本発明の第1の実施形態の液晶装置
の構成について、図1から図4を参照して以下説明す
る。図1は、アクティブマトリクス型液晶装置の一例を
上面側から見た斜視図を示している。外観的には従来例
と同じである。図2は、液晶装置の相隣接する複数の画
素群を上から透視した平面図であり、図3は、対向基板
に形成された遮光膜の配置を示す図である。図4は図
2,図3の線A−A’に沿った断面図である。図1に示
すように、アクティブマトリクス型の液晶装置50は、
回路配線や液晶駆動素子が形成されている素子基板10
と、素子基板10に対向配置された対向基板20の2枚
の基板が、封止材を介して狭い間隙を保って接合されて
おり、この間隙の間に液晶を挟持して構成されている。
液晶装置50の表示領域90には走査線3とデータ6に
囲まれた多数の画素9aが形成されている。また、液晶
装置50の周囲には、外部の電気回路と接続するための
接続端子15,16が形成されている。なお、図1では
液晶駆動素子は省略してある。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In the description of the drawings of the embodiment, the scale of each layer and each member is not the same but is appropriately changed in order to make each layer and each member have a size recognizable in the drawings. (First Embodiment) The structure of a liquid crystal device according to a first embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. FIG. 1 is a perspective view of an example of an active matrix liquid crystal device as viewed from above. The appearance is the same as the conventional example. FIG. 2 is a plan view of a plurality of pixel groups adjacent to each other of the liquid crystal device seen through from above, and FIG. 3 is a diagram illustrating an arrangement of a light shielding film formed on a counter substrate. FIG. 4 is a cross-sectional view taken along line AA ′ in FIGS. As shown in FIG. 1, the active matrix type liquid crystal device 50 has:
Element substrate 10 on which circuit wiring and liquid crystal driving elements are formed
And the two substrates of the opposing substrate 20 disposed opposite to the element substrate 10 are joined with a narrow gap therebetween via a sealing material, and the liquid crystal is sandwiched between the gaps. .
In the display area 90 of the liquid crystal device 50, a large number of pixels 9a surrounded by the scanning lines 3 and the data 6 are formed. In addition, connection terminals 15 and 16 for connection to an external electric circuit are formed around the liquid crystal device 50. In FIG. 1, the liquid crystal driving element is omitted.

【0018】図2に示すように、本実施形態の液晶装置
50を上から透視すると、画像表示領域には複数の画素
9aがマトリクス状に形成されている。各画素9aの間
には当該画素電極9を制御するための画素駆動用のTF
T30がマトリクス状に複数形成されており、画像信号
を供給するデータ線6が当該TFT30のソース領域に
電気的に接続されている。データ線6に書き込む画像信
号は、線毎に順次に供給しても構わないし、相隣接する
複数のデータ線6同士に対して、グループ毎に供給する
ようにしても良い。また、TFT30のチャネル領域1
a’に交差する走査線3に、所定のタイミングでパルス
的に走査信号を順次印加するように構成されている。画
素電極9は、画素駆動用のTFT30のドレイン領域に
電気的に接続されており、画素駆動用のTFT30を一
定期間だけそのスイッチを閉じることにより、データ線
6から供給される画像信号を所定のタイミングで書き込
むように構成されている。
As shown in FIG. 2, when the liquid crystal device 50 of the present embodiment is seen through from above, a plurality of pixels 9a are formed in a matrix in the image display area. A pixel driving TF for controlling the pixel electrode 9 is provided between the pixels 9a.
A plurality of T30s are formed in a matrix, and the data lines 6 for supplying image signals are electrically connected to the source regions of the TFTs 30. The image signals to be written to the data lines 6 may be supplied sequentially for each line, or may be supplied to a plurality of adjacent data lines 6 for each group. The channel region 1 of the TFT 30
The scanning signal is sequentially applied to the scanning line 3 intersecting a ′ in a pulsed manner at a predetermined timing. The pixel electrode 9 is electrically connected to the drain region of the pixel driving TFT 30, and by closing the pixel driving TFT 30 for a certain period of time, an image signal supplied from the data line 6 is transmitted to a predetermined position. It is configured to write at the timing.

【0019】画素電極9を介して液晶に書き込まれた所
定レベルの画像信号は、後述する対向基板に形成された
対向電極との間で一定期間保持される。ここで、保持さ
れた画像信号がリークするのを防ぐために、画素電極9
と対向電極との間に形成される液晶容量と並列に蓄積容
量70を付加する。例えば画素電極9の電圧は、蓄積容
量70によりソース電圧が印加された時間よりも長い時
間保持される。これにより、保持特性はさらに改善さ
れ、コントラスト比の高い液晶装置が実現できる。本実
施の形態では、蓄積容量70を形成する方法として、半
導体層1aとの間で容量を形成するための配線である容
量線4を設けている。また、容量線4を設ける代わり
に、画素電極9と前段の走査線3との間で容量を形成し
ても良い。
An image signal of a predetermined level written in the liquid crystal via the pixel electrode 9 is held for a certain period between the image signal and a counter electrode formed on a counter substrate described later. Here, in order to prevent the held image signal from leaking, the pixel electrode 9 is used.
A storage capacitor 70 is added in parallel with the liquid crystal capacitor formed between the capacitor and the counter electrode. For example, the voltage of the pixel electrode 9 is held by the storage capacitor 70 for a time longer than the time during which the source voltage is applied. Thereby, the holding characteristics are further improved, and a liquid crystal device having a high contrast ratio can be realized. In the present embodiment, as a method of forming the storage capacitor 70, the capacitor line 4 that is a wiring for forming a capacitor between the storage layer 70 and the semiconductor layer 1a is provided. Further, instead of providing the capacitor line 4, a capacitor may be formed between the pixel electrode 9 and the preceding scanning line 3.

【0020】図2に示すように、液晶装置50の素子基
板上には、マトリクス状に複数の透明な画素電極9が設
けられており、画素電極9の縦横の境界に各々沿ってデ
ータ線6、走査線3および容量線4が設けられている。
データ線6は、コンタクトホール5を介して後述のポリ
シリコン膜からなる半導体層1aのうちソース領域に電
気的に接続されており、画素電極9はコンタクトホール
8を介して後述の半導体層1aのうちドレイン領域に電
気的に接続されている。また、半導体層1aのうち後述
のチャネル領域1a’(図中右下がりの斜線の領域)に
対向するように走査線3が配置されている。
As shown in FIG. 2, a plurality of transparent pixel electrodes 9 are provided in a matrix on the element substrate of the liquid crystal device 50, and the data lines 6 extend along the vertical and horizontal boundaries of the pixel electrodes 9 respectively. , A scanning line 3 and a capacitance line 4.
The data line 6 is electrically connected to the source region of the semiconductor layer 1a made of a polysilicon film described later via the contact hole 5, and the pixel electrode 9 is connected to the semiconductor layer 1a described later via the contact hole 8. Of these, it is electrically connected to the drain region. In addition, the scanning lines 3 are arranged so as to face a channel region 1a '(a hatched region falling rightward in the figure) of the semiconductor layer 1a, which will be described later.

【0021】さらに、対向基板側には、各画素9a間の
データ線6、走査線3および容量線4に重畳する位置
に、遮光膜24が設けられている。遮光膜24は各画素
9a領域を規定するように設けられており、後述する素
子基板側配向膜のラビング方向(F1)の末端の位置
(紙面上では左上隅)に、張り出し部24aを有してい
る。遮光膜24の張り出し部24aは、配向膜のラビン
グ処理に際して剥離した配向膜が再付着した結果生じ
る、液晶の異常配向に起因する光抜け部分を遮蔽する機
能を担っている。対向基板20を透視して見た遮光膜2
4の平面配置を示したのが、図3である。図3に示すと
おり、各画素9a領域を規定する遮光膜24は格子状に
形成されており、紙面左上の隅部に張り出し部24aが
形成されている。なお、図3において矢印F1は、素子
基板側の配向膜のラビング方向を示している。
Further, a light-shielding film 24 is provided on the counter substrate at a position overlapping the data line 6, the scanning line 3 and the capacitor line 4 between the pixels 9a. The light-shielding film 24 is provided so as to define the region of each pixel 9a, and has an overhang portion 24a at the end position (upper left corner on the paper) of the element substrate side alignment film in the rubbing direction (F1) described later. ing. The overhanging portion 24a of the light-shielding film 24 has a function of shielding a light leak portion caused by abnormal alignment of the liquid crystal, which is caused as a result of reattachment of the alignment film peeled off during the rubbing treatment of the alignment film. Shielding film 2 seen through opposing substrate 20
FIG. 3 shows the plane arrangement of No. 4. As shown in FIG. 3, the light shielding film 24 defining each pixel 9a region is formed in a lattice shape, and an overhang portion 24a is formed at the upper left corner of the paper. In FIG. 3, an arrow F1 indicates the rubbing direction of the alignment film on the element substrate side.

【0022】次に、断面構造を見ると、図4に示すよう
に、素子基板10側の透明基板11は、例えば石英基板
からなり、対向基板20側の透明基板21は、例えばガ
ラス基板や石英基板からなるものである。素子基板10
には、例えばITO膜等の透明導電性膜からなる画素電
極9が設けられ、各画素電極9に隣接する位置に、各画
素電極9をスイッチング制御する画素駆動用のTFT3
0が設けられている。画素駆動用のTFT30は、LD
D(Lightly Doped Drain )構造を有しており、走査線
3、当該走査線3からの電界によりチャネルが形成され
る半導体層1aのチャネル領域1a’、走査線3と半導
体層1aとを絶縁する絶縁膜2、データ線6、半導体層
1aの低濃度ソース領域1bおよび低濃度ドレイン領域
1c、半導体層1aの高濃度ソース領域1dおよび高濃
度ドレイン領域1eを備えている。
Referring to the sectional structure, as shown in FIG. 4, the transparent substrate 11 on the element substrate 10 side is made of, for example, a quartz substrate, and the transparent substrate 21 on the opposite substrate 20 side is made of, for example, a glass substrate or a quartz substrate. It consists of a substrate. Element substrate 10
Is provided with a pixel electrode 9 made of, for example, a transparent conductive film such as an ITO film. A pixel driving TFT 3 for controlling switching of each pixel electrode 9 is provided at a position adjacent to each pixel electrode 9.
0 is provided. The pixel driving TFT 30 is an LD
It has a D (Lightly Doped Drain) structure, and insulates the scanning line 3, the channel region 1a 'of the semiconductor layer 1a where a channel is formed by the electric field from the scanning line 3, and the scanning line 3 and the semiconductor layer 1a. The semiconductor device includes an insulating film 2, a data line 6, a low-concentration source region 1b and a low-concentration drain region 1c of the semiconductor layer 1a, and a high-concentration source region 1d and a high-concentration drain region 1e of the semiconductor layer 1a.

【0023】また、走査線3上、絶縁膜2上を含む素子
基板10上には、高濃度ソース領域1dへ通じるコンタ
クトホール5が形成された第1層間絶縁膜18が形成さ
れている。つまり、データ線6は、第1層間絶縁膜18
を貫通するコンタクトホール5を介して高濃度ソース領
域1dに電気的に接続されている。さらに、データ線6
上および第1層間絶縁膜18上には、第2層間絶縁膜1
7が形成されている。
On the element substrate 10 including the scanning lines 3 and the insulating film 2, a first interlayer insulating film 18 in which a contact hole 5 leading to the high-concentration source region 1d is formed. That is, the data line 6 is connected to the first interlayer insulating film 18.
Is electrically connected to the high-concentration source region 1d through a contact hole 5 penetrating through. Further, the data line 6
The second interlayer insulating film 1 is formed on the first and second interlayer insulating films 18.
7 are formed.

【0024】画素駆動用のTFT30は、好ましくは上
述のようにLDD構造を持つが、低濃度ソース領域1b
および低濃度ドレイン領域1cに不純物イオンの打ち込
みを行わないオフセット構造を採っても良いし、ゲート
電極をマスクとして高濃度で不純物イオンを打ち込み、
自己整合的に高濃度ソースおよびドレイン領域を形成す
るセルフアライン型のTFTであっても良い。また本実
施の形態では、画素駆動用のTFT30の走査線3の一
部からなるゲート電極をソース・ドレイン領域間に1個
のみ配置したシングルゲート構造としたが、これらの間
に2個以上のゲート電極を配置してもよい。この際、各
々のゲート電極には同一の信号が印加されるようにす
る。このようにデュアルゲート(ダブルゲート)あるい
はトリプルゲート以上でTFTを構成すれば、チャネル
とソース・ドレイン領域接合部のリーク電流を防止で
き、オフ時の電流を低減することができる。これらのゲ
ート電極の少なくとも1個をLDD構造あるいはオフセ
ット構造にすれば、さらにオフ電流を低減でき、安定し
たスイッチング素子を得ることができる。
The pixel driving TFT 30 preferably has the LDD structure as described above, but has a low concentration source region 1b.
And an offset structure in which impurity ions are not implanted into the low-concentration drain region 1c may be adopted, or impurity ions are implanted at a high concentration using the gate electrode as a mask.
A self-aligned TFT that forms high-concentration source and drain regions in a self-aligned manner may be used. Further, in the present embodiment, a single gate structure in which only one gate electrode made of a part of the scanning line 3 of the pixel driving TFT 30 is arranged between the source / drain regions is used. A gate electrode may be provided. At this time, the same signal is applied to each gate electrode. When a TFT is formed with a dual gate (double gate) or triple gate or more as described above, a leak current at a junction between a channel and a source / drain region can be prevented, and a current in an off state can be reduced. When at least one of these gate electrodes has an LDD structure or an offset structure, the off-state current can be further reduced and a stable switching element can be obtained.

【0025】また、容量線4と容量電極4aとを絶縁膜
2を介して対向配置することにより、蓄積容量70が構
成されている。より詳細には、半導体層1aの高濃度ド
レイン領域1eが、データ線6および走査線3に沿って
延びる容量線4部分に延設されて容量電極4aを形成し
ている。特に、蓄積容量70の誘電体としての絶縁膜2
は、高温酸化によりポリシリコン膜上に形成される画素
駆動用のTFT30のゲート絶縁膜の場合、薄くかつ高
耐圧の絶縁膜とすることができ、蓄積容量70は比較的
小面積で大容量の蓄積容量とすることができる。
The storage capacitor 70 is formed by arranging the capacitor line 4 and the capacitor electrode 4a to face each other with the insulating film 2 interposed therebetween. More specifically, the high-concentration drain region 1e of the semiconductor layer 1a extends to the portion of the capacitance line 4 extending along the data line 6 and the scanning line 3 to form a capacitance electrode 4a. In particular, the insulating film 2 as a dielectric of the storage capacitor 70
In the case of the gate insulating film of the pixel driving TFT 30 formed on the polysilicon film by high-temperature oxidation, it can be a thin and high withstand voltage insulating film, and the storage capacitor 70 has a relatively small area and a large capacity. It can be a storage capacity.

【0026】そして、本実施の形態の場合、素子基板1
0の画素駆動用のTFT30、データ線6および走査線
3の形成領域にあたる第2層間絶縁膜17上および画素
電極9上に配向膜13が設けられている。この配向膜1
3は、ポリイミド等の有機膜から形成されている。
In the case of the present embodiment, the element substrate 1
The alignment film 13 is provided on the second interlayer insulating film 17 and the pixel electrode 9 corresponding to the formation regions of the pixel driving TFT 30, the data line 6, and the scanning line 3. This alignment film 1
Reference numeral 3 is formed from an organic film such as polyimide.

【0027】他方、対向基板20には、素子基板10上
のデータ線6、走査線3、画素駆動用のTFT30の形
成領域に対向する領域、すなわち各画素の非表示領域に
遮光膜24が設けられている。さらに、遮光膜24上を
含む対向基板20上には、その全面にわたって対向電極
22が設けられ、対向電極22の表面にはラビング処理
等の所定の配向処理が施された配向膜23が形成されて
いる。対向電極22も素子基板10の画素電極9と同
様、ITO膜等の透明導電性膜から形成されている。遮
光膜24の存在により、対向基板20の側からの入射光
が画素駆動用のTFT30の半導体層1aのチャネル領
域1a’や低濃度ソース領域領域1b、低濃度ドレイン
領域1cに侵入することはない。また、遮光膜24は、
コントラスト比の向上、色材の混色防止などの機能、い
わゆるブラックマトリクスとしての機能を有している。
さらに、遮光膜24の張り出し部24aは、配向膜のラ
ビング処理に際して剥離した配向膜が再付着した結果生
じる液晶の異常配向領域49の上までカバーしており、
液晶の異常配向に起因する光抜け部分を遮蔽する機能を
担っている。
On the other hand, a light-shielding film 24 is provided on the opposing substrate 20 in a region facing the data line 6, the scanning line 3, and the pixel driving TFT 30 on the element substrate 10, that is, in a non-display region of each pixel. Have been. Further, an opposing electrode 22 is provided on the entire surface of the opposing substrate 20 including the light-shielding film 24, and an alignment film 23 on which a predetermined alignment process such as a rubbing process is performed is formed on the surface of the opposing electrode 22. ing. The counter electrode 22 is also formed of a transparent conductive film such as an ITO film, like the pixel electrode 9 of the element substrate 10. Due to the presence of the light-shielding film 24, incident light from the opposite substrate 20 does not enter the channel region 1 a ′, the low-concentration source region 1 b, and the low-concentration drain region 1 c of the semiconductor layer 1 a of the pixel driving TFT 30. . Further, the light shielding film 24
It has a function of improving a contrast ratio, preventing color mixing of color materials, and the like, that is, a function as a so-called black matrix.
Further, the overhang portion 24a of the light-shielding film 24 covers up to the abnormal alignment region 49 of the liquid crystal resulting from the re-adhesion of the alignment film peeled off during the rubbing treatment of the alignment film,
It has a function of blocking a light leaking portion caused by abnormal alignment of the liquid crystal.

【0028】これら素子基板10と対向基板20は、画
素電極9と対向電極22とが対向するように配置され、
これら基板10、20とシール材により囲まれた空間に
液晶が封入され、液晶層40が形成される。液晶層40
は、画素電極9からの電界が印加されていない状態で、
配向膜13、23の作用により所定の配向状態をとる。
なお、液晶層40は、耐光信頼性を向上するために、液
晶中に配向分散性モノマーを前駆体として添加し注入
し、紫外線等でポリマー化する高分子安定化処理を施し
ても良い。
The element substrate 10 and the counter substrate 20 are arranged such that the pixel electrode 9 and the counter electrode 22 face each other.
Liquid crystal is sealed in a space surrounded by the substrates 10 and 20 and a sealing material, and a liquid crystal layer 40 is formed. Liquid crystal layer 40
Is a state in which no electric field from the pixel electrode 9 is applied,
A predetermined alignment state is obtained by the action of the alignment films 13 and 23.
The liquid crystal layer 40 may be subjected to a polymer stabilization treatment in which an alignment-dispersing monomer is added as a precursor into the liquid crystal and injected, and polymerized by ultraviolet rays or the like, in order to improve light resistance reliability.

【0029】本実施形態の液晶装置では、素子基板10
側の配向膜13と対向基板20側の配向膜23とは、互
いに直交する方向にラビング処理されている。すなわ
ち、図3に示すように素子基板10側の配向膜13は、
紙面右下から左上方向に向かう矢印F1の方向にラビン
グされ、対向基板20側の配向膜23は、紙面左下から
右上方向に向かう矢印F2の方向にラビングされてい
る。したがって、素子基板10側では各画素9aの紙面
左上の隅部に異常配向領域が発生し易く、対向基板20
側では各画素9aの紙面右上の隅部に異常配向領域が発
生し易い。また、素子基板10側の方が配線部分の段差
が大きく、異常配向領域が発生し易いので、本実施形態
では紙面左上隅部にのみ遮光膜の張り出し部24aを設
けてある。
In the liquid crystal device of this embodiment, the element substrate 10
The alignment film 13 on the side and the alignment film 23 on the counter substrate 20 are rubbed in directions orthogonal to each other. That is, as shown in FIG. 3, the alignment film 13 on the element substrate 10 side
The alignment film 23 on the counter substrate 20 side is rubbed in the direction of arrow F2 from the lower left of the paper to the upper right direction. Therefore, on the element substrate 10 side, an abnormal alignment region is likely to occur at the upper left corner of each pixel 9a on the paper surface, and the counter substrate 20
On the side, an abnormal alignment region is likely to occur in the upper right corner of each pixel 9a on the paper. In addition, since the level difference of the wiring portion is larger on the element substrate 10 side and an abnormal alignment region is easily generated, in this embodiment, the overhanging portion 24a of the light shielding film is provided only in the upper left corner of the drawing.

【0030】遮光膜24の張り出し部24aの大きさは
特に制限はなく、異常配向領域を遮蔽できる大きさがあ
れば良い。さらに好ましくは、高分子安定化処理を施し
た場合の不要散乱光を遮蔽できる大きさがあればなお良
い。通常、液晶の異常配向に起因する光抜け部分の大き
さは、直径2μm以下であることが多い。遮光膜24の
張り出し部24aの大きさは、液晶の異常配向に起因す
る光抜け部分の大きさよりも若干大きく、面積比で光抜
け部分の大きさの1.2〜2倍程度とするのがよい。ま
た、不要散乱光を遮蔽する場合には、さらにやや大き
く、光抜け部分の大きさの1.5〜3倍とするのが良
い。これにより斜め入射光も十分に遮蔽することができ
る。
The size of the protruding portion 24a of the light-shielding film 24 is not particularly limited, and may be any size as long as it can shield the abnormal orientation region. More preferably, a size that can block unnecessary scattered light when the polymer stabilization treatment is performed is more preferable. Usually, the size of the light-exiting portion caused by the abnormal alignment of the liquid crystal is often 2 μm or less in diameter. The size of the protruding portion 24a of the light-shielding film 24 is slightly larger than the size of the light passing portion caused by the abnormal alignment of the liquid crystal, and is preferably about 1.2 to 2 times the size of the light passing portion in area ratio. Good. Further, in the case where unnecessary scattered light is shielded, it is preferable that the size is slightly larger, and is 1.5 to 3 times the size of the light leakage portion. Thereby, obliquely incident light can be sufficiently shielded.

【0031】(第1実施形態の液晶装置の製造プロセス
について)次に、上記構造を有する第1の実施形態の液
晶装置の製造プロセスについて説明する。本実施形態の
液晶装置の製造プロセスとしては、通常のいわゆる高温
ポリシリコンプロセスが使用できるので、そのプロセス
について簡単に説明する。まず基板として、石英基板、
ハードガラス基板、シリコン基板等の基板を用意する。
ここで、好ましくはN2 (窒素)等の不活性ガス雰囲気
下、約900〜1300℃の高温でアニール処理し、後
に実施される高温プロセスにおける素子基板に生じる歪
みが少なくなるように前処理しておくのが好ましい。す
なわち、製造プロセスにおける最高温で高温処理される
温度に合わせて、事前に基板を同じ温度かそれ以上の温
度で熱処理しておくのが好ましい。
(Regarding the Manufacturing Process of the Liquid Crystal Device of the First Embodiment) Next, the manufacturing process of the liquid crystal device of the first embodiment having the above structure will be described. As a manufacturing process of the liquid crystal device of the present embodiment, a normal so-called high-temperature polysilicon process can be used, and the process will be briefly described. First, a quartz substrate,
A substrate such as a hard glass substrate or a silicon substrate is prepared.
Here, annealing is preferably performed at a high temperature of about 900 to 1300 ° C. in an atmosphere of an inert gas such as N 2 (nitrogen), and pre-processing is performed so that distortion generated in the element substrate in a high-temperature process performed later is reduced. It is preferable to keep it. That is, it is preferable to heat-treat the substrate in advance at the same temperature or a higher temperature in accordance with the highest temperature of the manufacturing process.

【0032】次に、減圧CVD(例えば、圧力約20〜
40PaのCVD)により、約450〜550℃で、流
量約400〜600cc/minのモノシランガス、ジ
シランガス等を用いて、素子用の基板上にアモルファス
シリコン膜を形成する。その後、このアモルファスシリ
コン膜に対して窒素雰囲気中で、約600〜700℃に
て約1〜10時間のアニール処理を施すことにより、ポ
リシリコン膜を約50〜200nmの厚さとなるまで固
相成長させる。
Next, low pressure CVD (for example, a pressure of about 20 to
An amorphous silicon film is formed on a device substrate by CVD (40 Pa) at a temperature of about 450 to 550 ° C. and a flow rate of about 400 to 600 cc / min using a monosilane gas, a disilane gas, or the like. Thereafter, the amorphous silicon film is annealed in a nitrogen atmosphere at about 600 to 700 ° C. for about 1 to 10 hours, so that the polysilicon film is solid-phase grown to a thickness of about 50 to 200 nm. Let it.

【0033】この際、画素駆動用TFTとして、nチャ
ネル型の画素駆動用TFTを作成する場合には、当該チ
ャネル領域にSb(アンチモン)、As(砒素)、P
(リン)などのV族元素の不純物イオンをわずかにイオ
ン注入等によりドープしても良い。また、画素駆動用T
FTをpチャネル型とする場合には、B(ボロン)、G
a(ガリウム)、In(インジウム)などの III族元素
の不純物イオンをわずかにイオン注入等によりドープし
ても良い。次に、所定パターンの半導体層を形成する。
すなわち、特にデータ線の下で容量線が形成される領域
および走査線に沿って容量線が形成される領域には、画
素駆動用TFTを構成する半導体層から延設された蓄積
容量電極を形成する。
At this time, when an n-channel type pixel driving TFT is formed as the pixel driving TFT, Sb (antimony), As (arsenic), P
Impurity ions of a group V element such as (phosphorus) may be slightly doped by ion implantation or the like. Also, the pixel driving T
When FT is a p-channel type, B (boron), G
Impurity ions of group III elements such as a (gallium) and In (indium) may be slightly doped by ion implantation or the like. Next, a semiconductor layer having a predetermined pattern is formed.
That is, a storage capacitor electrode extending from a semiconductor layer forming a pixel driving TFT is formed in a region where a capacitor line is formed below a data line and a region where a capacitor line is formed along a scanning line, in particular. I do.

【0034】次に、画素駆動用のTFT30を構成する
半導体層とともに蓄積容量電極を約900〜1300℃
の温度、好ましくは約1000℃の温度により熱酸化す
ることにより、約30nmの比較的薄い厚さの熱酸化シ
リコン膜を形成し、さらに減圧CVD法等により高温酸
化シリコン膜(HTO膜)や窒化シリコン膜を約50n
mの比較的薄い厚さに堆積し、多層構造を持つ画素駆動
用のTFTのゲート絶縁膜となるとともに容量形成用の
誘電体膜となる絶縁膜を形成する。この結果、半導体層
および蓄積容量電極の厚さは、約30〜150nmの厚
さとなり、絶縁膜の厚さは、約20〜150nmの厚さ
となる。このように高温熱酸化時間を短くすることによ
り、特に8インチ程度の大型基板を使用する場合に熱に
よる反りを防止することができる。ただし、ポリシリコ
ン膜を熱酸化することのみにより、単一層構造を持つ絶
縁膜を形成してもよい。なお、蓄積容量電極となる半導
体層部分に、例えばPイオンをドーズ量約3×1012
cm2 でドープして、低抵抗化させてもよい。
Next, the storage capacitor electrode and the semiconductor layer forming the TFT 30 for driving the pixel are heated to about 900 to 1300 ° C.
Thermal oxidation at a temperature of about 1000 ° C., preferably about 1000 ° C., to form a thermal silicon oxide film having a relatively thin thickness of about 30 nm, and a high-temperature silicon oxide film (HTO film) Silicon film about 50n
An insulating film which is deposited to a relatively small thickness of m and serves as a gate insulating film of a TFT for driving a pixel having a multilayer structure and a dielectric film for forming a capacitor is formed. As a result, the thickness of the semiconductor layer and the storage capacitor electrode is about 30 to 150 nm, and the thickness of the insulating film is about 20 to 150 nm. By shortening the high-temperature thermal oxidation time as described above, it is possible to prevent warpage due to heat, particularly when a large substrate of about 8 inches is used. However, an insulating film having a single-layer structure may be formed only by thermally oxidizing the polysilicon film. A dose of about 3 × 10 12 / P ions, for example, is added to the semiconductor layer portion serving as the storage capacitor electrode.
The resistance may be reduced by doping in cm 2 .

【0035】次に、減圧CVD法等によりポリシリコン
膜を堆積した後、Pを熱拡散し、ポリシリコン膜を導電
化する。または、Pイオンをポリシリコン膜の成膜と同
時に導入したドープトシリコン膜を用いてもよい。次
に、ポリシリコン膜をパターニングし、図2に示したよ
うな所定パターンの走査線と容量線を形成する。これら
の走査線および容量線の膜厚は、例えば約350nmと
する。
Next, after depositing a polysilicon film by a low pressure CVD method or the like, P is thermally diffused to make the polysilicon film conductive. Alternatively, a doped silicon film in which P ions are introduced simultaneously with the formation of the polysilicon film may be used. Next, the polysilicon film is patterned to form a predetermined pattern of scanning lines and capacitance lines as shown in FIG. The thickness of these scanning lines and capacitance lines is, for example, about 350 nm.

【0036】次に、画素駆動用のTFTをLDD構造を
持つnチャネル型のTFTとする場合、半導体層に、先
ず低濃度ソース領域および低濃度ドレイン領域を形成す
るために、走査線の一部となるゲート電極を拡散マスク
として、PなどのV族元素の不純物イオン60を低濃度
で(例えば、Pイオンを1×1013〜3×1013/cm
2 のドーズ量にて)ドープする。これにより、走査線下
の半導体層はチャネル領域となる。この不純物イオンの
ドープにより容量線および走査線も低抵抗化される。
Next, when the TFT for driving a pixel is an n-channel TFT having an LDD structure, a part of a scanning line is first formed in a semiconductor layer to form a low-concentration source region and a low-concentration drain region. Using a gate electrode to be a diffusion mask, a low concentration of impurity ions 60 of a group V element such as P (for example, P ions of 1 × 10 13 to 3 × 10 13 / cm 3)
Doping at a dose of 2 ). Thus, the semiconductor layer below the scanning line becomes a channel region. The resistance of the capacitance line and the scanning line is also reduced by the doping of the impurity ions.

【0037】続いて、画素駆動用のTFTを構成する高
濃度ソース領域および高濃度ドレイン領域を形成するた
めに、走査線よりも幅の広いマスクでレジスト層を走査
線上に形成した後、同じくPなどのV族元素の不純物イ
オンを高濃度で(例えば、Pイオンを1×1015〜3×
1015/cm2 のドーズ量にて)ドープする。また、画
素駆動用のTFTをpチャネル型とする場合、半導体層
に、低濃度ソース領域および低濃度ドレイン領域並びに
高濃度ソース領域および高濃度ドレイン領域を形成する
ために、B(ボロン)などの III族元素の不純物イオン
を用いてドープする。なお、例えば、低濃度の不純物イ
オンのドープを行わずに、オフセット構造のTFTとし
てもよく、走査線の一部であるゲート電極をマスクとし
て、Pイオン、Bイオン等を用いたイオン注入技術によ
りセルフアライン型のTFTとしてもよい。この不純物
のドープにより容量線および走査線もさらに低抵抗化さ
れる。
Subsequently, in order to form a high-concentration source region and a high-concentration drain region constituting a TFT for driving a pixel, a resist layer is formed on the scanning line with a mask wider than the scanning line. At a high concentration (for example, P ions of 1 × 10 15 to 3 ×
Doping (at a dose of 10 15 / cm 2 ). In the case where a TFT for driving a pixel is a p-channel type, B (boron) or the like is used to form a low-concentration source region and a low-concentration drain region and a high-concentration source region and a high-concentration drain region in a semiconductor layer. Doping is performed using an impurity ion of a group III element. Note that, for example, a TFT having an offset structure may be used without doping with low-concentration impurity ions, and an ion implantation technique using P ions, B ions, or the like may be performed using a gate electrode that is a part of a scanning line as a mask. A self-aligned TFT may be used. The resistance of the capacitance line and the scanning line is further reduced by the doping of the impurity.

【0038】また、上記の工程を再度繰り返し、Bイオ
ンなどの III族元素の不純物イオンを行うことにより、
pチャネル型TFTを形成することができる。これによ
り、nチャネル型TFTおよびpチャネル型TFTから
構成される相補型構造を持つデータ線駆動回路および走
査線駆動回路を素子基板上の周辺部に形成することが可
能となる。このように、画素駆動用TFTを構成する半
導体層をポリシリコン膜で形成すれば、画素駆動用TF
Tの形成時にほぼ同一工程で、データ線駆動回路および
走査線駆動回路を形成することができ、製造上有利であ
る。
By repeating the above steps again and performing impurity ions of group III elements such as B ions,
A p-channel TFT can be formed. Accordingly, it is possible to form a data line driving circuit and a scanning line driving circuit having a complementary structure composed of an n-channel TFT and a p-channel TFT in a peripheral portion on the element substrate. As described above, when the semiconductor layer forming the pixel driving TFT is formed of a polysilicon film, the pixel driving TF can be formed.
The data line driving circuit and the scanning line driving circuit can be formed in substantially the same steps when forming T, which is advantageous in manufacturing.

【0039】次に、画素駆動用TFTにおける走査線と
容量線を覆うように、例えば、常圧又は減圧CVD法等
によりTEOS(テトラ・エチル・オルソ・シリケー
ト)ガス、TEB(テトラ・エチル・ボートレート)ガ
ス、TMOP(テトラ・メチル・オキシ・フォスレー
ト)ガス等を用いて、NSG(ノンシリケートガラ
ス)、PSG(リンシリケートガラス)、BSG(ボロ
ンシリケートガラス)、BPSG(ボロンリンシリケー
トガラス)などのシリケートガラス膜、窒化シリコン膜
や酸化シリコン膜等からなる第1層間絶縁膜を形成す
る。第1層間絶縁膜の膜厚は、約500〜1500nm
が好ましい。
Next, a TEOS (tetra-ethyl-ortho-silicate) gas and a TEB (tetra-ethyl-boat) are formed so as to cover the scanning lines and the capacitance lines in the pixel driving TFT by, for example, normal pressure or reduced pressure CVD. NSG (non-silicate glass), PSG (phosphorus silicate glass), BSG (boron silicate glass), BPSG (boron phosphor silicate glass), etc. A first interlayer insulating film made of a silicate glass film, a silicon nitride film, a silicon oxide film, or the like is formed. The thickness of the first interlayer insulating film is about 500 to 1500 nm
Is preferred.

【0040】次に、高濃度ソース領域および高濃度ドレ
イン領域を活性化するために約1000℃のアニール処
理を20分程度行った後、データ線に対するコンタクト
ホールを、反応性イオンエッチング、反応性イオンビー
ムエッチング等のドライエッチングにより、あるいはウ
ェットエッチングにより形成する。また、走査線や容量
線を接続するためのコンタクトホールを第1層間絶縁膜
に開孔する。
Next, after performing an annealing process at about 1000 ° C. for about 20 minutes to activate the high-concentration source region and the high-concentration drain region, a contact hole for the data line is formed by reactive ion etching and reactive ion etching. It is formed by dry etching such as beam etching or by wet etching. Further, a contact hole for connecting a scanning line or a capacitance line is formed in the first interlayer insulating film.

【0041】次に、第1層間絶縁膜の上に、スパッタリ
ング等により、アルミニウム等の低抵抗金属や金属シリ
サイド等を約100〜500nmの厚さに堆積し、さら
に、フォトリソグラフィー工程、エッチング工程等によ
り、パターニングしてデータ線を形成する。次に、デー
タ線上を覆うように、例えば常圧または減圧CVD法や
TEOSガス等を用いて、NSG、PSG、BSG、B
PSGなどのシリケートガラス膜、窒化シリコン膜や酸
化シリコン膜等からなる第2層間絶縁膜を形成する。第
2層間絶縁膜の膜厚は、約500〜1500nmが好ま
しい。
Next, a low-resistance metal such as aluminum, a metal silicide, or the like is deposited on the first interlayer insulating film by sputtering or the like to a thickness of about 100 to 500 nm, and further, a photolithography step, an etching step, and the like. To form a data line by patterning. Next, NSG, PSG, BSG, BSG are used to cover the data lines by using, for example, normal pressure or reduced pressure CVD, TEOS gas, or the like.
A second interlayer insulating film made of a silicate glass film such as PSG, a silicon nitride film, a silicon oxide film, or the like is formed. The thickness of the second interlayer insulating film is preferably about 500 to 1500 nm.

【0042】次に、画素駆動用TFTにおいて、画素電
極と高濃度ドレイン領域とを電気的に接続するためのコ
ンタクトホールを、反応性イオンエッチング、反応性イ
オンビームエッチング等のドライエッチングにより第2
層間絶縁膜に形成する。次に、第2層間絶縁膜の上に、
スパッタリング等により、ITO膜等の透明導電性膜
を、約50〜200nmの厚さに堆積し、さらにこの透
明導電性膜をパターニングして画素電極を形成する。次
に、ポリイミド等の配向膜材料をスピンコーターを用い
て膜厚30nmから50nm程度に塗布して全面に配向
膜を形成する。続いて、上記のようにして形成した配向
膜を所定のプレティルト角を持つようにするために、例
えば図2に示す場合には紙面右下から左上の矢印F1の
所定の方向でラビング処理を施す。
Next, in the pixel driving TFT, a contact hole for electrically connecting the pixel electrode and the high-concentration drain region is formed by dry etching such as reactive ion etching or reactive ion beam etching.
It is formed on an interlayer insulating film. Next, on the second interlayer insulating film,
A transparent conductive film such as an ITO film is deposited to a thickness of about 50 to 200 nm by sputtering or the like, and the transparent conductive film is patterned to form a pixel electrode. Next, an alignment film material such as polyimide is applied to a film thickness of about 30 to 50 nm using a spin coater to form an alignment film on the entire surface. Subsequently, in order to make the alignment film formed as described above have a predetermined pretilt angle, for example, in the case shown in FIG. 2, a rubbing process is performed in a predetermined direction indicated by an arrow F1 from the lower right to the upper left of the drawing. .

【0043】他方、対向基板20については、ガラス基
板等が先ず用意され、遮光膜として、例えば金属クロム
をスパッタリングした後、フォトリソグラフィー工程、
エッチング工程を経て、図3に示した所定のパターンに
形成する。なお、これら遮光膜は、Cr、Ni、Alな
どの金属材料の他、カーボンやTiをフォトレジストに
分散した樹脂ブラックなどの材料から形成してもよい。
On the other hand, for the counter substrate 20, a glass substrate or the like is first prepared, and after a metal chromium is sputtered as a light shielding film, for example, a photolithography step is performed.
After an etching process, the substrate is formed into a predetermined pattern shown in FIG. These light-shielding films may be formed of a material such as resin black in which carbon or Ti is dispersed in a photoresist, in addition to a metal material such as Cr, Ni, or Al.

【0044】その後、対向基板の全面にスパッタリング
等により、ITO等の透明導電性膜を、約50〜200
nmの厚さに堆積することにより、対向電極を形成す
る。さらに、素子基板側と同様、膜厚10nmから50
nm程度のポリイミド等の有機膜からなる配向膜を形成
する。続いて、所定のプレティルト角を持つようにする
ために配向膜にラビング処理を施す。ラビング方向は、
先の素子基板側のラビング方向と直交する方向、すなわ
ち図3に示す場合には紙面左下から右上の矢印F2の所
定の方向でラビング処理を施すことにより、配向膜が形
成される。
Thereafter, a transparent conductive film such as ITO is formed on the entire surface of the opposing substrate by sputtering or the like to a thickness of about 50 to 200
The counter electrode is formed by depositing to a thickness of nm. Further, similarly to the element substrate side, a film thickness of 10 nm to 50 nm
An alignment film made of an organic film such as polyimide of about nm is formed. Subsequently, a rubbing process is performed on the alignment film to have a predetermined pretilt angle. The rubbing direction is
The alignment film is formed by performing the rubbing process in a direction perpendicular to the rubbing direction on the previous element substrate side, that is, in a predetermined direction indicated by an arrow F2 from the lower left to the upper right in FIG.

【0045】最後に、上述のように各層が形成された素
子基板と対向基板とをラビング方向が90°に交差する
ように配置し、セルギャップが4μmになるようにシー
ル材により貼り合わせてパネルを作製する。パネル内に
リターデーションを最適化した液晶を封入し、各画素の
隅部に張り出し部を備えた遮光膜が形成された、本実施
形態の液晶装置が得られる。
Finally, the element substrate on which the layers are formed as described above and the opposing substrate are arranged so that the rubbing directions intersect at 90 °, and are bonded together with a sealing material so that the cell gap becomes 4 μm. Is prepared. A liquid crystal device of the present embodiment is obtained in which liquid crystal with optimized retardation is sealed in a panel and a light-shielding film having a protruding portion is formed at a corner of each pixel.

【0046】なお、上記実施形態の液晶装置において
は、本発明をTFT(Thin-Film Transistor)素子に代
表される3端子型素子を用いるアクティブマトリクス型
の液晶装置に適用した場合について説明したが、TFD
(Thin-Film Diode)素子に代表される2端子型素子を
用いるアクティブマトリクス型の液晶装置や、パッシブ
マトリクス型の液晶装置にも適用できる。また、本発明
は透過型の液晶装置だけでなく、反射型の液晶装置にも
適用可能である。また、本発明は表示方式がカラー表示
方式であっても適用できる。
In the liquid crystal device of the above embodiment, a case has been described where the present invention is applied to an active matrix type liquid crystal device using a three-terminal element represented by a TFT (Thin-Film Transistor) element. TFD
The present invention can also be applied to an active matrix type liquid crystal device using a two-terminal type device represented by a (Thin-Film Diode) device and a passive matrix type liquid crystal device. Further, the present invention can be applied to not only a transmission type liquid crystal device but also a reflection type liquid crystal device. Further, the present invention can be applied even when the display system is a color display system.

【0047】(第2の実施形態)次に、本発明の第2の
実施形態について説明する。第2の実施形態が先の第1
の実施形態と異なる点は、遮光膜の張り出し部が画素の
2つの隅部に形成されている点である。他の部分はすべ
て第1の実施形態と同じである。従ってここでは遮光膜
が形成されている対向基板についてのみ説明する。図5
は、本実施形態の対向基板の平面配置を示す図であっ
て、第1の実施形態の図3に対応する図である。図5に
示すとおり、本実施形態の遮光膜24は画素9a領域を
規定するように格子状に形成されており、さらに画素9
aの2つの隅部(図5では紙面左上部及び右上部)に張
り出し部24a及び24a’が形成されている。この2
つの張り出し部24a及び24a’は、それぞれ素子基
板側の配向膜のラビング方向F1と対向基板側の配向膜
のラビング方向F2の延長方向に位置している。また、
張り出し部24a’は剥離した配向膜がこの段差部分に
再付着するのを防ぐために、張り出し部24a及び遮光
膜24よりも薄い薄膜で形成されている。
(Second Embodiment) Next, a second embodiment of the present invention will be described. The second embodiment is the first embodiment.
The difference from the third embodiment is that the overhanging portion of the light-shielding film is formed at two corners of the pixel. All other parts are the same as in the first embodiment. Therefore, here, only the counter substrate on which the light shielding film is formed will be described. FIG.
FIG. 4 is a diagram showing a planar arrangement of the counter substrate of the present embodiment, and is a diagram corresponding to FIG. 3 of the first embodiment. As shown in FIG. 5, the light shielding film 24 of the present embodiment is formed in a lattice so as to define the pixel 9a region.
Overhangs 24a and 24a 'are formed at two corners (the upper left and upper right in FIG. 5). This 2
The two overhang portions 24a and 24a 'are located in the extending directions of the rubbing direction F1 of the alignment film on the element substrate side and the rubbing direction F2 of the alignment film on the counter substrate side, respectively. Also,
The overhang portion 24a 'is formed of a thinner film than the overhang portion 24a and the light-shielding film 24 in order to prevent the peeled alignment film from reattaching to the step.

【0048】本実施形態での断面構造は図4とほぼ同様
である。素子基板10側の配向膜13のラビング方向
(F1方向)には、図4に示すように走査線3やTFT
30が形成されており、画素9aの部分に比較して高く
盛り上がっている。したがってラビング処理を施す際
に、剥離した配向膜はこの高く盛り上がった隅部にまで
運ばれて再付着することがある。配向膜が再付着した部
分は液晶の異常配向領域が発生し、光抜け部分となる。
The sectional structure of this embodiment is substantially the same as that of FIG. In the rubbing direction (F1 direction) of the alignment film 13 on the element substrate 10 side, as shown in FIG.
30 are formed, and are raised higher than the portion of the pixel 9a. Therefore, when the rubbing treatment is performed, the peeled alignment film may be transported to the high protruding corner and re-attached. An abnormal alignment region of the liquid crystal is generated in a portion where the alignment film is re-attached, and becomes a light-exit portion.

【0049】一方、対向基板20側の配向膜23のラビ
ング方向(F2方向)には、図4に示すように遮光膜2
4が配置されていて、画素9aの部分に比較してやや盛
り上がっている。したがってラビング処理を施す際に、
剥離した配向膜はこの盛り上がった隅部にまで運ばれて
再付着することがある。配向膜が再付着した部分は液晶
の異常配向領域が発生し、光抜け部分となる。
On the other hand, in the rubbing direction (F2 direction) of the alignment film 23 on the counter substrate 20 side, as shown in FIG.
4 are arranged and are slightly raised compared to the portion of the pixel 9a. Therefore, when performing rubbing treatment,
The peeled alignment film may be transported to the raised corner and re-attached. An abnormal alignment region of the liquid crystal is generated in a portion where the alignment film is re-attached, and becomes a light-exit portion.

【0050】このように素子基板10側及び対向基板2
0側のいずれにも、ラビング処理を施す際に剥離した配
向膜が再付着する可能性があるので、光抜け部分の起点
となる可能性を含んである。したがって、たとえ配向膜
が再付着して異常配向領域が発生し、光抜け部分の起点
となっても、両隅部に遮光膜の張り出し部24a及び2
4a’を設けておけば、表示不良が認識されることはな
い。張り出し部24a及び24a’の大きさは、先の第
1の実施形態と同様でよい。すなわち、液晶の異常配向
に起因する光抜け部分を遮蔽できる大きさがあれば良い
ので、光抜け部分の大きさよりも若干大きく、面積比で
光抜け部分の大きさの1.2〜2倍程度とするのがよ
い。また、不要散乱光を遮蔽する場合には、さらにやや
大きく、光抜け部分の大きさの1.5〜3倍とするのが
良い。これにより斜め入射光も十分に遮蔽することがで
きる。また、対向基板の製造方法で、先の第1の実施形
態と異なるのは、張り出し部24a’を張り出し部24
a及び遮光膜24よりも薄い膜厚で形成するために、パ
ターニングを2段階に分けて行うことと、パターニング
マスクの形状が異なることである。先ず第1段階では、
張り出し部24a、24a’及び遮光膜24とを同時に
形成し、次に第2段階では、第1段階で形成した張り出
し部24a及び遮光膜24とに重ねるように、張り出し
部24aと遮光膜24とをもう一度同時に形成する。こ
れにより、張り出し部24a’を張り出し部24a及び
遮光膜24よりも薄い膜厚で形成することができる。
As described above, the element substrate 10 side and the opposing substrate 2
Since there is a possibility that the alignment film peeled off at the time of performing the rubbing treatment may be re-attached to any of the 0 sides, there is a possibility that the alignment film may become a starting point of a light leakage portion. Therefore, even if the alignment film is re-adhered and an abnormal alignment region is generated and becomes the starting point of the light leakage portion, the overhanging portions 24a and 24a of the light shielding film are provided at both corners.
If 4a 'is provided, a display defect is not recognized. The sizes of the overhang portions 24a and 24a 'may be the same as those in the first embodiment. That is, it is only necessary to have a size capable of blocking the light-exiting portion caused by the abnormal alignment of the liquid crystal. It is good to do. Further, in the case where unnecessary scattered light is shielded, it is preferable that the size is slightly larger, and is 1.5 to 3 times the size of the light leakage portion. Thereby, obliquely incident light can be sufficiently shielded. The method of manufacturing the opposing substrate differs from that of the first embodiment in that the overhang portion 24a 'is
The patterning is performed in two stages in order to form a film having a thickness smaller than that of the light shielding film 24 and the light shielding film 24, and the shape of the patterning mask is different. First, in the first stage,
The overhangs 24a, 24a 'and the light-shielding film 24 are simultaneously formed, and then, in the second stage, the overhangs 24a and the light-shielding film 24 are overlapped with the overhangs 24a and the light-shielding film 24 formed in the first stage. Are formed simultaneously again. Thus, the overhang portion 24a 'can be formed with a smaller film thickness than the overhang portion 24a and the light shielding film 24.

【0051】(第3の実施形態)次に、本発明の第3の
実施形態について説明する。第3の実施形態が先の第1
の実施形態及び第2の実施形態と異なる点は、遮光膜の
張り出し部が5角形に形成されている点である。他の部
分はすべて第1及び第2の実施形態と同じである。従っ
てここでは遮光膜が形成されている対向基板についての
み説明する。図6は、本実施形態の対向基板の平面配置
を示す図であって、第1の実施形態の図3に対応する図
である。図6に示すとおり、本実施形態の遮光膜24は
画素9a領域を規定するように格子状に形成されてお
り、さらに画素9aの2つの隅部に5角形の張り出し部
24a及び24a’が形成されている。この2つの張り
出し部24a及び24a’は、それぞれ素子基板側の配
向膜のラビング方向F1と対向基板側の配向膜のラビン
グ方向F2の延長方向に位置している。また、張り出し
部24a’は剥離した配向膜がこの段差部分に再付着す
るのを防ぐために、張り出し部24a及び遮光膜24よ
りも薄い膜厚で形成されている。
(Third Embodiment) Next, a third embodiment of the present invention will be described. The third embodiment is similar to the first embodiment.
The second embodiment differs from the second and third embodiments in that the overhanging portion of the light-shielding film is formed in a pentagonal shape. All other parts are the same as in the first and second embodiments. Therefore, here, only the counter substrate on which the light shielding film is formed will be described. FIG. 6 is a diagram showing a planar arrangement of the counter substrate of the present embodiment, and is a diagram corresponding to FIG. 3 of the first embodiment. As shown in FIG. 6, the light-shielding film 24 of the present embodiment is formed in a lattice shape so as to define the pixel 9a region, and pentagonal projections 24a and 24a 'are formed at two corners of the pixel 9a. Have been. The two overhang portions 24a and 24a 'are respectively located in the extending directions of the rubbing direction F1 of the alignment film on the element substrate side and the rubbing direction F2 of the alignment film on the counter substrate side. The overhang portion 24a 'is formed to have a smaller thickness than the overhang portion 24a and the light shielding film 24 in order to prevent the peeled alignment film from re-adhering to the step portion.

【0052】このように遮光膜の張り出し部は円に限ら
ず、三角形、四角形、五角形等の多角形で構成しても良
い。異常配向領域や周辺の不要散乱光を効果的に遮蔽
し、しかもなるべく画素9aの開口率を大きくとれるよ
うに形成する。張り出し部24a及び24a’の大きさ
は、先の第1の実施形態と同様でよい。すなわち、液晶
の異常配向に起因する光抜け部分を遮蔽できる大きさが
あれば良いので、光抜け部分の大きさよりも若干大き
く、面積比で光抜け部分の大きさの1.2〜2倍程度と
するのがよい。また、不要散乱光を遮蔽する場合には、
さらにやや大きく、光抜け部分の大きさの1.5〜3倍
とするのが良い。これにより斜め入射光も十分に遮蔽す
ることができる。また、対向基板の製造方法で、先の第
1の実施形態と異なるのは、張り出し部24a’を張り
出し部24a及び遮光膜24よりも薄い膜厚で形成する
ために、パターニングを2段階に分けて行うことと、パ
ターニングマスクの形状が異なることである。先ず第1
段階では、張り出し部24a、24a’及び遮光膜24
とを同時に形成し、次に第2段階では、第1段階で形成
した張り出し部24a及び遮光膜24とに重ねるよう
に、張り出し部24aと遮光膜24とをもう一度同時に
形成する。これにより、張り出し部24a’を張り出し
部24a及び遮光膜24よりも薄い膜厚で形成すること
ができる。
As described above, the overhanging portion of the light-shielding film is not limited to a circle, but may be a polygon such as a triangle, a quadrangle, and a pentagon. The pixel 9a is formed so as to effectively block unnecessary scattered light in the abnormal alignment region and the periphery thereof and to increase the aperture ratio of the pixel 9a as much as possible. The sizes of the overhang portions 24a and 24a 'may be the same as those in the first embodiment. That is, it is only necessary to have a size capable of blocking the light-exiting portion caused by the abnormal alignment of the liquid crystal, so that it is slightly larger than the size of the light-exiting portion, and about 1.2 to 2 times the size of the light-exiting portion in area ratio. It is good to do. When shielding unnecessary scattered light,
Further, it is preferable that the size is slightly larger and is 1.5 to 3 times the size of the light leakage portion. Thereby, obliquely incident light can be sufficiently shielded. The method of manufacturing the opposing substrate is different from that of the first embodiment in that the patterning is divided into two steps in order to form the overhang 24a 'with a smaller thickness than the overhang 24a and the light shielding film 24. And that the shape of the patterning mask is different. First,
In the stage, the overhang portions 24a, 24a 'and the light shielding film 24 are formed.
Are formed at the same time, and then, in the second stage, the overhang portion 24a and the light-shielding film 24 are simultaneously formed once again so as to overlap the overhang portion 24a and the light-shielding film 24 formed in the first stage. Thus, the overhang portion 24a 'can be formed with a smaller film thickness than the overhang portion 24a and the light shielding film 24.

【0053】(第4の実施形態)次に、本発明の第4の
実施形態について説明する。第4の実施形態が先の第1
の実施形態と異なる点は、配向膜のラビング方向が画素
に対して斜め方向ではなくて、方形の画素の縦横2辺に
沿った方向となっている点である。他の部分はすべて第
1の実施形態と同じである。従ってここでは遮光膜が形
成されている対向基板についてのみ説明する。図7は、
本実施形態の対向基板の平面配置を示す図であって、第
1の実施形態の図3に対応する図である。図7に示すと
おり、本実施形態の遮光膜24は画素9a領域を規定す
るように格子状に形成されており、さらに画素9aの4
辺の内の1辺では、他の3辺よりも画素9a内に多く張
り出している。すなわち、図7において紙面上方、下方
及び紙面左方では画素9aと遮光膜24との間隔d1,
d2,d4は極く僅かであるのに対して、紙面右方では
画素9aと遮光膜24との間隔d3は約2.5μmと大
きくなっている。
(Fourth Embodiment) Next, a fourth embodiment of the present invention will be described. The fourth embodiment is the first embodiment.
The difference from the third embodiment is that the rubbing direction of the alignment film is not diagonal to the pixel but is along two vertical and horizontal sides of the square pixel. All other parts are the same as in the first embodiment. Therefore, here, only the counter substrate on which the light shielding film is formed will be described. FIG.
FIG. 4 is a diagram illustrating a planar arrangement of a counter substrate of the present embodiment, and is a diagram corresponding to FIG. 3 of the first embodiment. As shown in FIG. 7, the light-shielding film 24 of the present embodiment is formed in a lattice so as to define the pixel 9a region.
One of the sides protrudes more in the pixel 9a than the other three sides. That is, in FIG. 7, the distance d1 between the pixel 9a and the light-shielding film 24 is above and below the paper and on the left of the paper.
While the distances d2 and d4 are extremely small, the distance d3 between the pixel 9a and the light shielding film 24 is as large as about 2.5 μm on the right side of the drawing.

【0054】(第5の実施形態)次に、本発明の第5の
実施形態について説明する。第5の実施形態が先の第1
の実施形態ないし第4の実施形態と異なる点は、液晶の
配向モードがTN( Twisted nematic ) 液晶を使用し
た水平配向モードではなく、垂直配向モードを使用して
いる点である。投射型液晶装置等では、高いコントラス
ト比を実現するために垂直配向モードを採用している。
液晶層は画素電極からの電界が印加されていない状態
で、配向膜の作用により所定の配向状態をとる。垂直配
向モードでは、液晶分子は電界が印加されていない状態
で、数度のプレチルト角を持った垂直配向状態をとる。
液晶分子にプレチルト角を持った垂直配向状態を与える
ため、有機膜からなる配向膜にはラビング処理が施され
る。
(Fifth Embodiment) Next, a fifth embodiment of the present invention will be described. The fifth embodiment is the first embodiment.
The difference from the fourth to fourth embodiments is that the alignment mode of the liquid crystal uses a vertical alignment mode instead of the horizontal alignment mode using a TN (twisted nematic) liquid crystal. In a projection type liquid crystal device or the like, a vertical alignment mode is adopted to realize a high contrast ratio.
The liquid crystal layer assumes a predetermined alignment state by the action of the alignment film when no electric field is applied from the pixel electrode. In the vertical alignment mode, the liquid crystal molecules assume a vertical alignment state having a pretilt angle of several degrees when no electric field is applied.
A rubbing process is performed on the alignment film made of an organic film in order to give the liquid crystal molecules a vertical alignment state having a pretilt angle.

【0055】配向膜のラビング方向は、液晶分子をプレ
チルトさせる方向とする。従って、液晶装置を上から透
視してみた場合、素子基板側の配向膜と対向基板側の配
向膜とでは、互いに反対方向にラビング(アンチパラレ
ルラビング)する。図8に垂直配向モードを使用した本
実施形態の液晶装置の、対向基板の平面配置を示す。図
8に示すとおり、遮光膜24は画素9a領域を規定する
ように格子状に形成されており、さらに画素9aの4辺
のうち、図の上側の1辺の遮光膜24の張り出し部(d
4)は、他の3辺の張り出し部よりも大きくなってい
る。また、図中矢印F1は素子基板側の配向膜のラビン
グ方向を示し、矢印F2は対向基板側の配向膜のラビン
グ方向を示している。このようにラビング方向F1とF
2とは、互いに逆方向になっている。
The rubbing direction of the alignment film is a direction in which the liquid crystal molecules are pretilted. Therefore, when the liquid crystal device is seen through from above, the rubbing (anti-parallel rubbing) is performed between the alignment film on the element substrate side and the alignment film on the counter substrate side in opposite directions. FIG. 8 shows a planar arrangement of the opposing substrate in the liquid crystal device of the present embodiment using the vertical alignment mode. As shown in FIG. 8, the light-shielding film 24 is formed in a lattice shape so as to define the pixel 9a region, and among the four sides of the pixel 9a, the overhanging portion (d
4) is larger than the other three side overhangs. In the figure, arrow F1 indicates the rubbing direction of the alignment film on the element substrate side, and arrow F2 indicates the rubbing direction of the alignment film on the counter substrate side. Thus, the rubbing directions F1 and F
2 are opposite to each other.

【0056】図9は本実施形態の液晶装置の断面構造を
説明する図であって、図8の線B−B’に沿った断面図
である。図9に示す本実施形態の液晶装置の断面構造
が、図4に示すTNモードの液晶装置の断面構造と異な
る点は、液晶層40の配向方向である。図9に示す本実
施形態では、理解を容易にするため実際よりもやや斜め
から見ているが、液晶分子は図8に示すラビング方向F
1,F2に沿ってプレチルトして垂直配向している。そ
の他の素子基板や対向基板の構成は、図4の場合と同様
であるので、ここでは説明は省略する。本実施形態でも
ラビング方向の画素端部に異常配向領域49が生じる場
合がある。
FIG. 9 is a view for explaining the cross-sectional structure of the liquid crystal device according to the present embodiment, and is a cross-sectional view along the line BB 'in FIG. 9 differs from the cross-sectional structure of the TN mode liquid crystal device shown in FIG. 4 in the orientation direction of the liquid crystal layer 40. In the present embodiment shown in FIG. 9, the liquid crystal molecules are viewed slightly obliquely from the actual state for easy understanding.
1 and pre-tilt along F2 and vertically aligned. Other configurations of the element substrate and the counter substrate are the same as those in FIG. Also in this embodiment, the abnormal alignment region 49 may be generated at the pixel end in the rubbing direction.

【0057】異常配向領域は、ラビングによって剥離し
た配向膜が、ラビング方向の画素端部の一段高くなった
部分に移動し、再付着することによって発生する。従っ
て、ラビング方向の画素端部の遮光膜を若干張り出させ
ておけば、液晶の異常配向に起因する光抜け部分を遮蔽
することができる。図8の例では素子基板側のラビング
方向にある、画素9aの上部に遮光膜24の張り出し部
24aを設けてある。遮光膜の再付着は、特に画素9a
の配線交差部に隣接する2隅(図8の左上隅及び右上
隅)で起こりやすい。従って、遮光膜24の張り出し部
24aはこの2隅に円形に設けるのも効果的である。
The abnormal alignment region is generated when the alignment film peeled by the rubbing moves to a higher portion of the pixel end portion in the rubbing direction and adheres again. Therefore, if the light-shielding film at the edge of the pixel in the rubbing direction is slightly extended, it is possible to shield the light-exited portion caused by the abnormal alignment of the liquid crystal. In the example of FIG. 8, an overhanging portion 24a of the light-shielding film 24 is provided above the pixel 9a in the rubbing direction on the element substrate side. The re-attachment of the light-shielding film is particularly effective in
8 are likely to occur at two corners (upper left corner and upper right corner in FIG. 8) adjacent to the wiring intersection. Therefore, it is also effective to provide the projecting portions 24a of the light-shielding film 24 in a circular shape at these two corners.

【0058】液晶装置をこのように構成することによ
り、ラビング処理時に配向膜が剥離し、画素端部に再付
着して液晶の異常配向を引き起こして光抜けとなる場合
でも、表示光を遮るので表示不良と認識されることはな
く、コントラスト比の高い表示画像が得られるようにな
る。
By configuring the liquid crystal device in this manner, even if the alignment film is peeled off during the rubbing process and re-attached to the edge of the pixel to cause an abnormal alignment of the liquid crystal to cause light leakage, the display light is blocked. A display image having a high contrast ratio can be obtained without being recognized as a display defect.

【0059】次に、本発明の液晶装置を使用した電子機
器の例を図10ないし図12に示す。図10(a)は携
帯電話の例を示す斜視図である。1000は携帯電話本
体を示し、そのうち1001は本発明の液晶装置であ
る。図10(b)は腕時計型電子機器の例を示す斜視図
である。1100は時計本体を示し、1101が本発明
の液晶装置である。図10(c)はワープロ、パソコン
等の携帯型情報処理装置の例を示す斜視図である。図中
1200は情報処理装置を示し、1202はキーボード
等の入力部、1204は情報処理装置本体、1206は
本発明の液晶装置である。これらの電子機器に本発明の
液晶装置を使用すれば、画素の隅部に発生する液晶の異
常配向に起因する光抜け部分を効果的に遮蔽しているの
で、コントラスト比の強い鮮明な画像表示の電子機器が
得られる。
Next, examples of electronic equipment using the liquid crystal device of the present invention are shown in FIGS. FIG. 10A is a perspective view illustrating an example of a mobile phone. Reference numeral 1000 denotes a mobile phone main body, of which 1001 is a liquid crystal device of the present invention. FIG. 10B is a perspective view illustrating an example of a wristwatch-type electronic device. Reference numeral 1100 denotes a watch main body, and 1101 denotes a liquid crystal device of the present invention. FIG. 10C is a perspective view illustrating an example of a portable information processing device such as a word processor or a personal computer. In the figure, reference numeral 1200 denotes an information processing apparatus; 1202, an input unit such as a keyboard; 1204, an information processing apparatus main body; 1206, a liquid crystal device of the present invention. When the liquid crystal device of the present invention is used in these electronic devices, the light leakage portion caused by the abnormal alignment of the liquid crystal generated in the corner of the pixel is effectively shielded, so that a clear image display with a strong contrast ratio is obtained. Electronic device is obtained.

【0060】前記に説明した各実施形態における液晶装
置は、例えば投射型カラー液晶装置にも適用することが
できる。他の電子機器の例として、本発明の液晶装置を
使用した透過型液晶ライトバルブを搭載した、投射型カ
ラー液晶装置(カラー液晶プロジェクタ)の例を図11
に示す。図11は、透過型液晶ライトバルブを搭載した
投射型カラー液晶装置の要部を示す概略構成図である。
図中符号2700は光源、2013及び2014はダイ
クロックミラー、2015,2016及び2017は反
射ミラー、2300R,2300G及び2300Bは本
発明の液晶装置を使用した透過型の液晶ライトバルブ、
2400はクロスダイクロイックプリズム、2500は
投射レンズを示す。光源2700は超高圧水銀灯等のラ
ンプ2711と、光を反射するリフレクタ2710とか
らなっている。青色光・緑色光反射用のダイクロックミ
ラー2013は、光源2700からの光束のうち赤色光
を透過させるとともに、青色光と緑色光とを反射させ
る。透過した赤色光は反射ミラー2017で反射され
て、赤色光用の液晶ライトバルブ2300Rに入射す
る。一方、ダイクロックミラー2013で反射された色
光のうち、緑色光は緑色光用のダイクロックミラー20
14で反射されて、緑色光用の液晶ライトバルブ230
0Gに入射する。一方、青色光は第2のダイクロックミ
ラー2014も透過する。透過した青色光は、反射ミラ
ー2015,2016で反射されて、青色光用の液晶ラ
イトバルブ2300Bに入射する。青色光の他色光との
光路差を補正するためには、リレーレンズ系を光路内に
配置すると良い。
The liquid crystal device in each of the embodiments described above can be applied to, for example, a projection type color liquid crystal device. As an example of another electronic apparatus, an example of a projection type color liquid crystal device (color liquid crystal projector) equipped with a transmission type liquid crystal light valve using the liquid crystal device of the present invention is shown in FIG.
Shown in FIG. 11 is a schematic configuration diagram showing a main part of a projection type color liquid crystal device equipped with a transmission type liquid crystal light valve.
In the figure, reference numeral 2700 denotes a light source, 2013 and 2014 denote dichroic mirrors, 2015, 2016 and 2017 denote reflection mirrors, 2300R, 2300G and 2300B denote transmissive liquid crystal light valves using the liquid crystal device of the present invention,
Reference numeral 2400 denotes a cross dichroic prism, 2500 denotes a projection lens. The light source 2700 includes a lamp 2711 such as an ultra-high pressure mercury lamp, and a reflector 2710 that reflects light. The dichroic mirror 2013 for reflecting blue light and green light transmits red light of the light flux from the light source 2700 and reflects blue light and green light. The transmitted red light is reflected by the reflection mirror 2017 and enters the liquid crystal light valve 2300R for red light. On the other hand, among the color lights reflected by the dichroic mirror 2013, the green light is the dichroic mirror 20 for the green light.
The liquid crystal light valve 230 for green light reflected by 14
It is incident on 0G. On the other hand, the blue light also passes through the second dichroic mirror 2014. The transmitted blue light is reflected by the reflection mirrors 2015 and 2016, and enters the liquid crystal light valve 2300B for blue light. In order to correct the optical path difference between blue light and other color light, it is preferable to arrange a relay lens system in the optical path.

【0061】各液晶ライトバルブにより変調された3つ
の色光は、クロスダイクロイックプリズム2400に入
射する。このプリズムは4つの直角プリズムが貼り合わ
され、その内面に赤色光を反射する誘電体多層膜と青色
光を反射する誘電体多層膜とが十字状に形成されてい
る。これらの誘電体多層膜によって3つの色光が合成さ
れて、カラー画像を示す光が形成される。合成された光
は、投射光学系である投射レンズ2500によってスク
リーン2600上に投射され、画像が拡大されて表示さ
れる。上記3つの液晶ライトバルブ2300R、230
0G、2300Bには、それぞれ本発明の液晶装置が使
用されている。本発明の液晶装置を使用することによ
り、画素の隅部に発生する液晶の異常配向に起因する光
る抜け部を効果的に遮蔽しているので、コントラスト比
の強い鮮明な画像表示が得られる投射型カラー液晶装置
とすることができる。特に、耐光信頼性を向上させるた
めに高分子安定化処理を施した液晶を使用した場合にお
いては、不要散乱光が効果的に遮蔽されているので、コ
ントラスト比の強い鮮明な画像表示が得られる投射型カ
ラー液晶装置とすることができる。
The three color lights modulated by the respective liquid crystal light valves enter the cross dichroic prism 2400. This prism is formed by bonding four right angle prisms, and a dielectric multilayer film that reflects red light and a dielectric multilayer film that reflects blue light are formed in a cross shape on the inner surface. The three color lights are combined by these dielectric multilayer films to form light indicating a color image. The synthesized light is projected on a screen 2600 by a projection lens 2500 as a projection optical system, and an image is displayed in an enlarged manner. The above three liquid crystal light valves 2300R, 230
The liquid crystal device of the present invention is used for each of 0G and 2300B. The use of the liquid crystal device of the present invention effectively shields a light dropout caused by an abnormal alignment of liquid crystal generated at a corner of a pixel, thereby obtaining a clear image display with a strong contrast ratio. Type color liquid crystal device. In particular, in the case of using a liquid crystal that has been subjected to a polymer stabilization treatment in order to improve light resistance reliability, unnecessary scattered light is effectively shielded, so that a clear image display with a strong contrast ratio can be obtained. A projection type color liquid crystal device can be obtained.

【0062】他の電子機器の例として、本発明の液晶装
置を使用した反射型の液晶ライトバルブを搭載した投射
型カラー液晶装置の例を図12に示す。図12は、反射
型液晶ライトバルブを搭載した投射型カラー液晶装置の
要部を示す概略構成図である。図12の投射型カラー液
晶装置は、システム光軸Lに沿って配置した光源部17
10、インテグレータレンズ1720、偏光変換素子1
730から概略構成される偏光照明装置1700、偏光
照明装置1700から出射されたS偏光光束を、S偏光
光束反射面1401により反射させる偏光ビームスプリ
ッタ1400、偏光ビームスプリッタ1400のS偏光
反射面1401から反射された光のうち、青色光(B)
の成分を分離するダイクロイックミラー1412、分離
された青色光(B)を変調する液晶ライトバルブ130
0B、青色光が分離された後の光束のうち赤色光(R)
の成分を反射させて分離するダイクロイックミラー14
13、分離された赤色光(R)を変調する液晶ライトバ
ルブ1300R、ダイクロイックミラー1413を透過
する残りの緑色光(G)を変調する液晶ライトバルブ1
300G、3つの液晶ライトバルブ1300B、130
0R、1300Gにて変調された光をダイクロイックミ
ラー1412、1413、偏光ビームスプリッタ140
0にて合成し、この合成光をスクリーン1600に投射
する投射レンズからなる投射光学系1500から構成さ
れている。上記3つの液晶ライトバルブ1300R、1
300G、1300Bには、それぞれ本発明の液晶装置
が使用されている。なお、本実施形態の反射型液晶ライ
トバルブ1300R、1300G、1300Bでは、素
子基板側の画素電極(例えば、図4における符号9)を
透明性導電膜ではなく高光反射性の金属膜に変えて構成
する。本発明の液晶装置を使用することにより、画素の
隅部に発生する液晶の異常配向に起因する光抜け部を効
果的に遮蔽しているので、コントラスト比の強い鮮明な
画像表示が得られる投射型カラー液晶装置とすることが
できる。特に、耐光信頼性を向上させるために高分子安
定化処理を施した液晶を使用した場合においても、不要
散乱光が効果的に遮蔽されているので、コントラスト比
の強い鮮明な画像表示が得られる投射型カラー液晶装置
とすることができる。
FIG. 12 shows an example of a projection type color liquid crystal device equipped with a reflection type liquid crystal light valve using the liquid crystal device of the present invention as another example of electronic equipment. FIG. 12 is a schematic configuration diagram showing a main part of a projection type color liquid crystal device equipped with a reflection type liquid crystal light valve. The projection type color liquid crystal device of FIG. 12 has a light source unit 17 arranged along the system optical axis L.
10, integrator lens 1720, polarization conversion element 1
730, a polarization beam splitter 1400 that reflects an S-polarized light beam emitted from the polarization illumination device 1700 by an S-polarized light beam reflection surface 1401, and a reflection from an S-polarized light reflection surface 1401 of the polarization beam splitter 1400. Blue light (B)
Dichroic mirror 1412 for separating the blue light component, and liquid crystal light valve 130 for modulating the separated blue light (B)
0B, red light (R) of the luminous flux after blue light is separated
Dichroic mirror 14 that reflects and separates the components of
13. A liquid crystal light valve 1300R for modulating the separated red light (R), and a liquid crystal light valve 1 for modulating the remaining green light (G) transmitted through the dichroic mirror 1413.
300G, three liquid crystal light valves 1300B, 130
The light modulated by the 0R and 1300G is converted to dichroic mirrors 1412 and 1413 and a polarization beam splitter 140
The projection optical system 1500 is composed of a projection lens that combines light at 0 and projects the combined light onto the screen 1600. The above three liquid crystal light valves 1300R, 1
The liquid crystal device of the present invention is used in each of 300G and 1300B. In the reflective liquid crystal light valves 1300R, 1300G, and 1300B of the present embodiment, the pixel electrodes (for example, reference numeral 9 in FIG. 4) on the element substrate side are changed from a transparent conductive film to a highly light-reflective metal film. I do. The use of the liquid crystal device of the present invention effectively shields a light leak portion caused by an abnormal alignment of liquid crystal generated at a corner of a pixel, thereby obtaining a clear image display with a strong contrast ratio. Type color liquid crystal device. In particular, even when using a liquid crystal that has been subjected to a polymer stabilization treatment to improve light stability, unnecessary scattered light is effectively shielded, so that a clear image display with a strong contrast ratio can be obtained. A projection type color liquid crystal device can be obtained.

【0063】[0063]

【発明の効果】本発明によれば、ラビング処理の際に配
向膜が剥離して、駆動回路配線や駆動素子が配置された
画素隅の一段と高くなった部分まで運ばれて、画素隅部
に剥離した配向膜が再付着して、液晶分子の異常配向部
が生じ、いわゆる”光抜け”を起こしても、遮光膜によ
って効果的に遮蔽しているので表示不良は認められず、
コントラスト比の高い表示画像が得られる。また、本発
明によれば、異常配向部のみを局部的に遮蔽しているの
で、画素の開口率を比較的大きく確保することが可能と
なる。
According to the present invention, the alignment film is peeled off during the rubbing treatment, and is carried to a higher part of the pixel corner where the driving circuit wiring and the driving element are arranged, and is moved to the pixel corner. Even if the peeled alignment film is re-adhered and an abnormal alignment portion of liquid crystal molecules is generated, so-called "light leakage", display failure is not recognized because it is effectively shielded by the light shielding film,
A display image having a high contrast ratio can be obtained. Further, according to the present invention, since only the abnormally oriented portion is locally shielded, it is possible to ensure a relatively large aperture ratio of the pixel.

【0064】特に、ラビング処理の際に剥離し易い垂直
配向膜を使用した場合でも、表示不良とはならず、コン
トラスト比の高い表示画面が得られる。また、耐光信頼
性を高めるために配向分散性の高分子により安定化処理
を施した液晶を使用した際に現れる不要散乱光も効果的
に遮蔽するので、一層コントラスト比の高い表示画像が
得られる。本発明はあらゆる液晶表示装置に対して有効
であるが、投射型液晶装置では高いコントラスト比を実
現するために、液晶は垂直配向モードを採用することが
あり、この場合に本発明が特に有効である。また、本発
明はTFT素子に代表される3端子型素子を用いるアク
ティブマトリクス型の液晶装置ばかりでなく、TFD素
子に代表される2端子型素子を用いるアクティブマトリ
クス型の液晶装置や、パッシブマトリクス型の液晶装置
にも適用できる。また、本発明は透過型の液晶装置だけ
でなく、反射型の液晶装置にも適用可能である。さらに
本発明は表示方式がカラー表示方式であっても適用でき
る。
In particular, even when a vertical alignment film which is easily peeled off during the rubbing treatment is used, display failure does not occur and a display screen having a high contrast ratio can be obtained. In addition, unnecessary scattered light that appears when using a liquid crystal that has been subjected to a stabilization treatment with an alignment-dispersible polymer in order to enhance light resistance reliability is effectively shielded, so that a display image with a higher contrast ratio can be obtained. . Although the present invention is effective for all liquid crystal display devices, in order to realize a high contrast ratio in a projection type liquid crystal device, the liquid crystal may adopt a vertical alignment mode. In this case, the present invention is particularly effective. is there. The present invention is applicable not only to an active matrix type liquid crystal device using a three-terminal type device represented by a TFT device, but also to an active matrix type liquid crystal device using a two-terminal type device represented by a TFD element, and to a passive matrix type liquid crystal device. The present invention can also be applied to liquid crystal devices. Further, the present invention can be applied to not only a transmission type liquid crystal device but also a reflection type liquid crystal device. Further, the present invention is applicable even if the display system is a color display system.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の液晶装置の全体を上面から見た斜視
図である。
FIG. 1 is a perspective view of the entire liquid crystal device of the present invention as viewed from above.

【図2】 図1に示す液晶装置を上から透視して見た、
相隣接する複数の画素群を示す平面図である。
FIG. 2 is a perspective view of the liquid crystal device shown in FIG.
FIG. 3 is a plan view showing a plurality of pixel groups adjacent to each other.

【図3】 対向基板を上面から透視して見た平面図であ
る。
FIG. 3 is a plan view of the opposing substrate seen through from above.

【図4】 図2,図3の線A−A’に沿った断面図であ
る。
FIG. 4 is a sectional view taken along line AA ′ of FIGS. 2 and 3;

【図5】 本発明の第2の実施形態の対向基板を、上面
から透視して見た平面図である。
FIG. 5 is a plan view of an opposing substrate according to a second embodiment of the present invention as seen through from above.

【図6】 本発明の第3の実施形態の対向基板を、上面
から透視して見た平面図である。
FIG. 6 is a plan view of a counter substrate according to a third embodiment of the present invention as seen through from above.

【図7】 本発明の第4の実施形態の対向基板を、上面
から透視して見た平面図である。
FIG. 7 is a plan view of a counter substrate according to a fourth embodiment of the present invention as seen through from above.

【図8】 本発明の第5の実施形態の対向基板を、上面
から透視して見た平面図である。
FIG. 8 is a plan view of a counter substrate according to a fifth embodiment of the present invention as seen through from above.

【図9】 図8の線B−B’に沿った断面図である。FIG. 9 is a sectional view taken along the line B-B 'of FIG.

【図10】 本発明の液晶装置を用いた電子機器の一例
を示す図である。
FIG. 10 illustrates an example of an electronic apparatus using the liquid crystal device of the present invention.

【図11】 本発明の液晶装置を用いた投射型液晶装置
の一例を示す概略構成図である。
FIG. 11 is a schematic configuration diagram illustrating an example of a projection type liquid crystal device using the liquid crystal device of the present invention.

【図12】 本発明の液晶装置を用いた投射型液晶装置
の他の例を示す概略構成図である
FIG. 12 is a schematic configuration diagram showing another example of a projection type liquid crystal device using the liquid crystal device of the present invention.

【図13】 従来の液晶装置を上から透視して見た、相
隣接する複数の画素群を示す平面図である。
FIG. 13 is a plan view showing a plurality of pixel groups adjacent to each other when a conventional liquid crystal device is seen through from above.

【図14】 図13に示す液晶装置の対向基板を、上面
から透視して見た平面図である。
14 is a plan view of the counter substrate of the liquid crystal device shown in FIG. 13 as seen through from above.

【図15】 図14線C−C’に沿った断面図である。FIG. 15 is a sectional view taken along the line C-C ′ in FIG. 14;

【図16】 異常配向領域と不要散乱領域を説明する図
である。
FIG. 16 is a diagram illustrating an abnormal alignment region and an unnecessary scattering region.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

3・・・走査線、4・・・容量線、6・・・データ線、9・・・画素
電極、10・・・素子基板、13・・・配向膜、20・・・対向
基板、22・・・対向電極、23・・・配向膜、24・・・遮光
膜、30・・・TFT、40・・・液晶層、50・・・液晶装
置、
3 scanning line, 4 capacitance line, 6 data line, 9 pixel electrode, 10 element substrate, 13 alignment film, 20 counter substrate, 22 ... counter electrode, 23 ... alignment film, 24 ... light shielding film, 30 ... TFT, 40 ... liquid crystal layer, 50 ... liquid crystal device,

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G03B 21/00 G03B 21/00 E 21/14 21/14 Z G09F 9/30 338 G09F 9/30 338 349 349C Fターム(参考) 2H088 EA12 HA03 HA08 HA14 JA05 MA02 2H090 HB08Y KA05 MA01 MB01 2H091 FA34Y GA06 GA13 HA07 LA17 MA07 2H092 GA29 JA24 JA41 JA46 JB51 JB69 KA05 KA10 MA05 MA27 MA41 NA07 NA25 PA02 QA07 RA05 5C094 AA06 AA10 BA03 BA16 BA43 CA19 CA24 DA14 DA15 DB04 EA04 EA07 EB02 ED15 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) G03B 21/00 G03B 21/00 E 21/14 21/14 Z G09F 9/30 338 G09F 9/30 338 349 349C F-term (reference) 2H088 EA12 HA03 HA08 HA14 JA05 MA02 2H090 HB08Y KA05 MA01 MB01 2H091 FA34Y GA06 GA13 HA07 LA17 MA07 2H092 GA29 JA24 JA41 JA46 JB51 JB69 KA05 KA10 MA05 MA27 MA41 NA07 BA05A04 BA07A09 DA14 DA15 DB04 EA04 EA07 EB02 ED15

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 間隙を保って互いに対向配置された一対
の基板のそれぞれ内側の表面に少なくとも画素駆動用電
極を有し、該画素駆動用電極の表面に配向膜が設けら
れ、これら配向膜の間に液晶層を挟持した複数の画素を
有してなり、各画素の周囲には遮光膜を有し、該遮光膜
は各画素の前記一対の配向膜のうち、少なくとも一方の
配向膜のラビング方向にある各画素端部に張り出し部を
有していることを特徴とする液晶装置。
At least a pixel driving electrode is provided on an inner surface of each of a pair of substrates arranged to face each other with a gap therebetween, and an alignment film is provided on a surface of the pixel driving electrode. A plurality of pixels having a liquid crystal layer interposed therebetween; a light-shielding film provided around each pixel; and the light-shielding film is rubbed by at least one of the pair of alignment films of each pixel. A liquid crystal device having an overhang at each pixel end in the direction.
【請求項2】 前記張り出し部が円形であることを特徴
とする請求項1に記載の液晶装置。
2. The liquid crystal device according to claim 1, wherein the overhang is circular.
【請求項3】 前記張り出し部が多角形であることを特
徴とする請求項1に記載の液晶装置。
3. The liquid crystal device according to claim 1, wherein the overhang is a polygon.
【請求項4】 前記張り出し部が各画素の隣り合う二隅
に形成されてなることを特徴とする請求項1から請求項
3のいずれかに記載の液晶装置。
4. The liquid crystal device according to claim 1, wherein the overhanging portions are formed at two adjacent corners of each pixel.
【請求項5】 前記張り出し部が各画素の端部に直線上
に形成されてなることを特徴とする請求項1に記載の液
晶装置。
5. The liquid crystal device according to claim 1, wherein the overhang portion is formed linearly at an end of each pixel.
【請求項6】 前記遮光膜が対向基板側に設けられてい
ることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれかに
記載の液晶装置。
6. The liquid crystal device according to claim 1, wherein the light shielding film is provided on a counter substrate side.
【請求項7】 前記液晶装置がアクティブマトリクス駆
動方式であることを特徴とする請求項1から請求項6の
いずれかに記載の液晶装置。
7. The liquid crystal device according to claim 1, wherein the liquid crystal device is of an active matrix driving type.
【請求項8】 アクティブマトリクス駆動方式が薄膜ト
ランジスタ方式であることを特徴とする請求項7に記載
の液晶装置。
8. The liquid crystal device according to claim 7, wherein the active matrix driving method is a thin film transistor method.
【請求項9】 液晶が垂直配向モードであることを特徴
とする請求項1から請求項8のいずれかに記載の液晶装
置。
9. The liquid crystal device according to claim 1, wherein the liquid crystal is in a vertical alignment mode.
【請求項10】 液晶が配向分散性の高分子により安定
化処理されたものであることを特徴とする請求項1から
請求項9のいずれかに記載の液晶装置。
10. The liquid crystal device according to claim 1, wherein the liquid crystal is subjected to a stabilization treatment with an alignment-dispersing polymer.
【請求項11】 請求項1から請求項10のいずれかに
記載の液晶装置を具備してなることを特徴とする電子機
器。
11. An electronic apparatus comprising the liquid crystal device according to claim 1.
【請求項12】 請求項1から請求項10のいずれかに
記載の液晶装置を具備してなることを特徴とする投射型
液晶装置。
12. A projection type liquid crystal device comprising the liquid crystal device according to claim 1. Description:
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