JP2002271183A - Overvoltage protective circuit - Google Patents

Overvoltage protective circuit

Info

Publication number
JP2002271183A
JP2002271183A JP2001070418A JP2001070418A JP2002271183A JP 2002271183 A JP2002271183 A JP 2002271183A JP 2001070418 A JP2001070418 A JP 2001070418A JP 2001070418 A JP2001070418 A JP 2001070418A JP 2002271183 A JP2002271183 A JP 2002271183A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
transistor
overvoltage
power supply
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2001070418A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takahisa Koyasu
貴久 子安
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2001070418A priority Critical patent/JP2002271183A/en
Publication of JP2002271183A publication Critical patent/JP2002271183A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an overvoltage protective circuit which is formed at a low cost and capable of protecting a circuit as an object of protection against overvoltage, without having to modify the structure of the circuit itself. SOLUTION: A functional circuit 14 as an object of protection and a transistor Q11 are connected in series between a power supply wires 17 and 18. The transistors Q12 and Q11 of an overvoltage detecting circuit go into off and on state respectively at normal operation times. When an overvoltage occurs between the power supply wires 17 and 18, the transistor Q12 is turned on, and the transistor Q11 is turned off. At this point, the withstand voltage of the functional circuit 14 to a power supply voltage Vcc is increased by the withstand voltage of the transistor Q11.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電源線間に介在す
る被保護回路をその電源線間に生じる過電圧から保護す
る過電圧保護回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an overvoltage protection circuit for protecting a protected circuit interposed between power supply lines from overvoltage generated between the power supply lines.

【0002】[0002]

【発明が解決しようとする課題】例えば車両に搭載され
た電子制御装置(以下、ECUと称す)の中には、車載
バッテリからバッテリラインを介して電圧の供給を受
け、その供給されたバッテリ電圧を電源電圧として動作
するものがある。このバッテリ電圧は、通常例えば12
V程度の電圧値を有している。しかし、上記バッテリラ
インには上記ECUの他にもソレノイドコイルなどの種
々の負荷が接続されているため、こうした負荷への通断
電に伴ってバッテリラインにロードダンプと呼ばれる過
電圧が発生する場合がある。
For example, an electronic control unit (hereinafter, referred to as an ECU) mounted on a vehicle receives a supply of voltage from a vehicle-mounted battery via a battery line, and receives the supplied battery voltage. Some operate with the power supply voltage. This battery voltage is typically 12
It has a voltage value of about V. However, since various loads such as solenoid coils are connected to the battery line in addition to the ECU, an overvoltage called a load dump may occur in the battery line due to power cutoff to such a load. is there.

【0003】そこで、この過電圧からECUを保護する
ために、以下の2つの手段が用いられている。第1の手
段は、ECUの電源端子間にディスクリートの保護素子
例えばパワーツェナーダイオードを接続し、このパワー
ツェナーダイオードに過電圧に伴う電力を消費させる手
段である。この手段によれば、ECU内部の回路構成を
変更することなくECUを保護できるが、コストが上昇
するとともに装置サイズが大きくなるという問題があ
る。
Therefore, the following two means are used to protect the ECU from this overvoltage. The first means is a means for connecting a discrete protection element, for example, a power zener diode between power supply terminals of the ECU, and causing the power zener diode to consume power accompanying overvoltage. According to this means, the ECU can be protected without changing the circuit configuration inside the ECU, but there is a problem that the cost increases and the device size increases.

【0004】第2の手段は、ECUを構成する回路自体
の耐圧を高める手段である。例えばバイポーラトランジ
スタにより構成される回路では、トランジスタの耐圧は
VCEO よりもVCBO の方が2倍程度高いことに着目し、
ベース接地回路を基本として回路設計を行うことにより
ECUを構成するの回路自体の耐圧向上を図ることでき
る。ここで、VCEO は製造プロセスに依存して決まり、
例えば35V程度の電圧値となる。しかし、こうした回
路設計上の制約が課されると、回路選択の自由度が狭ま
り所望する回路の設計が難しくなって、回路の冗長化や
設計工数の増大といった新たな問題が生じてしまう。
[0004] The second means is to increase the withstand voltage of the circuit itself constituting the ECU. For example, in a circuit composed of bipolar transistors, paying attention to the fact that the breakdown voltage of the transistor is about twice as high for VCBO as for VCEO.
By designing the circuit based on the grounded base circuit, the withstand voltage of the circuit itself constituting the ECU can be improved. Here, VCEO depends on the manufacturing process,
For example, the voltage value is about 35V. However, when such restrictions on circuit design are imposed, the degree of freedom in circuit selection is reduced, making it difficult to design a desired circuit, and new problems such as circuit redundancy and an increase in design man-hours arise.

【0005】そこで、トランジスタ回路の接地方式を制
約するのではなく、トランジスタを縦積みに接続して耐
圧を高める手段も考えられる。図4には、ECUを構成
する制御ICにおいて縦積み接続を用いた回路構成の一
例が示されている。この図4において、制御IC1に
は、過電圧検出回路2、定電流回路3および機能回路4
(一部のみ図示)が形成されている。これらの各回路
は、上記バッテリラインに接続される電源端子5、6間
に接続されている。
Therefore, instead of restricting the grounding method of the transistor circuit, a means for increasing the breakdown voltage by connecting the transistors in a vertical stack is also conceivable. FIG. 4 shows an example of a circuit configuration using a vertically stacked connection in a control IC constituting the ECU. In FIG. 4, the control IC 1 includes an overvoltage detection circuit 2, a constant current circuit 3, and a function circuit 4.
(Only a part is shown). These circuits are connected between power supply terminals 5 and 6 connected to the battery line.

【0006】機能回路4は、ECU1が有する種々の機
能を実行する回路であって、上述の過電圧から保護すべ
き被保護回路である。その入力部は、耐圧を高めるため
にトランジスタQ1、Q2とトランジスタQ3、Q4と
が縦積みに接続されており、電源端子5、6間に抵抗R
1、トランジスタQ2のエミッタ・コレクタ間およびト
ランジスタQ4のエミッタ・コレクタ間(さらにはトラ
ンジスタQ5のベース・エミッタ間)が接続された回路
形態となっている。この構成によれば、トランジスタQ
2、Q4の各コレクタ・エミッタ間の耐圧はVCEO とな
り、上記機能回路4の耐圧はほぼ2・VCEO にまで高ま
る。
[0006] The functional circuit 4 is a circuit that executes various functions of the ECU 1, and is a protected circuit to be protected from the above-mentioned overvoltage. In the input section, transistors Q1 and Q2 and transistors Q3 and Q4 are connected in cascade to increase the breakdown voltage, and a resistor R is connected between power supply terminals 5 and 6.
1. A circuit configuration in which the emitter-collector of the transistor Q2 and the emitter-collector of the transistor Q4 (and the base-emitter of the transistor Q5) are connected. According to this configuration, the transistor Q
2, the withstand voltage between the collector and the emitter of Q4 becomes VCEO, and the withstand voltage of the functional circuit 4 rises to approximately 2.VCEO.

【0007】しかしながら、こうした縦積み接続を採用
すると、機能回路4の最低動作電圧がトランジスタのV
BE(約0.7V)だけ高くなってしまう。また、この手
段では、機能回路4において電源端子5、6間に接続さ
れる耐圧の低い回路部分を全て縦積み接続とする必要が
あり、トランジスタ数の増加や消費電力の増大をもたら
す。さらに、トランジスタQ1、Q2による1段構成の
場合(図示せず)とトランジスタQ3、Q4を追加した
2段構成の場合(図4)とでは、トランジスタQ2のコ
レクタ・エミッタ間電圧が異なるため、上記段数の設計
変更を行うと回路特性が変わってしまうという不都合が
あった。
However, when such a vertical connection is adopted, the minimum operating voltage of the functional circuit 4 becomes lower than the V of the transistor.
It will be higher by BE (about 0.7V). Further, in this means, it is necessary to vertically connect all the circuit parts having a low withstand voltage connected between the power supply terminals 5 and 6 in the functional circuit 4, which leads to an increase in the number of transistors and an increase in power consumption. Further, the collector-emitter voltage of the transistor Q2 is different between the case of the single-stage configuration including the transistors Q1 and Q2 (not shown) and the case of the two-stage configuration with the addition of the transistors Q3 and Q4 (FIG. 4). If the design of the number of stages is changed, there is an inconvenience that circuit characteristics change.

【0008】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的は、低コストで構成できしかも被保護回路
自体の構成を変更することなく被保護回路を過電圧から
保護できる過電圧保護回路を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to provide an overvoltage protection circuit that can be configured at low cost and that can protect a protected circuit from overvoltage without changing the configuration of the protected circuit itself. Is to do.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載した手段
によれば、電源線間に被保護回路とトランジスタとが直
列に接続される。このトランジスタは、電源線間の電圧
が所定の保護電圧値以下の場合においてオン駆動され
て、被保護回路には電源線間の電圧がほぼそのまま印加
される。これに対し、上記トランジスタは、電源線間の
電圧が所定の保護電圧値を超えている場合においてオフ
駆動され、電源線間に生じる過電圧から被保護回路を保
護する。この手段によれば、過電圧に対する耐圧は、被
保護回路自体が持つ耐圧と上記トランジスタが持つ耐圧
との加算値となるので、被保護回路自体の構成に変更を
加えることなく耐圧の向上つまり過電圧保護が図られ
る。また、過電圧に伴う電力を消費させる素子例えば従
来用いられていた外付けのパワーツェナーダイオードが
不要となる上、上記トランジスタ、過電圧検出回路およ
び駆動回路は被保護回路とともにIC化し易いため、過
電圧保護回路の追加に伴うコストを低減することができ
る。
According to the first aspect of the present invention, a protected circuit and a transistor are connected in series between power supply lines. This transistor is turned on when the voltage between the power supply lines is equal to or lower than a predetermined protection voltage value, and the voltage between the power supply lines is applied to the protected circuit almost as it is. On the other hand, the transistor is driven off when the voltage between the power supply lines exceeds a predetermined protection voltage value, and protects the protected circuit from an overvoltage generated between the power supply lines. According to this means, the withstand voltage against overvoltage is an added value of the withstand voltage of the protected circuit itself and the withstand voltage of the transistor, so that the withstand voltage can be improved without changing the configuration of the protected circuit itself, that is, overvoltage protection. Is achieved. In addition, an element that consumes power due to an overvoltage, such as an external power zener diode that has been conventionally used, is not required. In addition, since the transistor, the overvoltage detection circuit, and the driving circuit are easily integrated with the protected circuit as an IC, the overvoltage protection circuit is used. Can be reduced.

【0010】請求項2に記載した手段によれば、電源線
と被保護回路との間にバイポーラトランジスタのコレク
タ・エミッタ間が接続され、そのベース・エミッタ間に
抵抗が接続されている。この接続形態によれば、バイポ
ーラトランジスタの耐圧はVCEO よりも高いVCER とな
るため、過電圧に対する保護性能が一層高まる。
According to the second aspect, the collector and the emitter of the bipolar transistor are connected between the power supply line and the circuit to be protected, and the resistor is connected between the base and the emitter. According to this connection form, the withstand voltage of the bipolar transistor becomes VCER higher than VCEO, so that the protection performance against overvoltage is further enhanced.

【0011】請求項3に記載した手段によれば、電源線
と被保護回路との間にFETのドレイン・ソース間が接
続され、そのゲート・ソース間にゲート保護回路が接続
されている。この接続形態によれば、FETのゲートを
保護しつつ耐圧の向上つまり過電圧保護が図られる。
According to the third aspect of the present invention, the drain and source of the FET are connected between the power supply line and the circuit to be protected, and the gate protection circuit is connected between the gate and source. According to this connection form, the withstand voltage is improved while protecting the gate of the FET, that is, overvoltage protection is achieved.

【0012】請求項4に記載した手段によれば、電源線
間の電圧が所定の保護電圧値以下である期間、駆動回路
は定電流回路としての動作を行い、上記トランジスタは
この定電流回路から電流の供給を受けでオン動作する。
このようにトランジスタの駆動回路を定電流回路として
構成することにより、トランジスタの駆動について、電
源線間の電圧変動による影響を受けにくくなる。
According to the fourth aspect of the present invention, the drive circuit operates as a constant current circuit while the voltage between the power supply lines is equal to or lower than the predetermined protection voltage value, and the transistor operates from the constant current circuit. It is turned on by receiving the current.
By configuring the transistor driving circuit as a constant current circuit in this manner, the driving of the transistor is less likely to be affected by voltage fluctuation between power supply lines.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】(第1の実施形態)以下、本発明
を電子制御装置(以下、ECUと称す)の過電圧保護に
適用した第1の実施形態について図1を参照しながら説
明する。車両に搭載されたECU(全体としては図示せ
ず)は、1または複数の制御ICを備えて構成されてお
り、図1にはこうした制御ICの電気的構成の一例が示
されている。この図1に示す制御IC11には、過電圧
検出回路12、定電流回路13、NPN形のトランジス
タQ11、当該トランジスタQ11のベース・エミッタ
間に接続された抵抗R11、および機能回路14(一部
のみ図示)が形成されている。このうち機能回路14を
除く回路部分が過電圧保護回路である。制御IC11の
正側、負側の各電源端子15、16には、それぞれ図示
しない車載バッテリの正側端子、負側端子が接続され、
制御IC11はそのバッテリ電圧を電源電圧Vccとして
動作するようになっている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS (First Embodiment) A first embodiment in which the present invention is applied to overvoltage protection of an electronic control unit (hereinafter referred to as an ECU) will be described with reference to FIG. An ECU (not shown as a whole) mounted on the vehicle is provided with one or a plurality of control ICs, and FIG. 1 shows an example of an electrical configuration of such a control IC. The control IC 11 shown in FIG. 1 includes an overvoltage detection circuit 12, a constant current circuit 13, an NPN transistor Q11, a resistor R11 connected between the base and the emitter of the transistor Q11, and a functional circuit 14 (only a part is shown). ) Is formed. Of these, the circuit portion excluding the functional circuit 14 is an overvoltage protection circuit. A positive terminal and a negative terminal of an unillustrated in-vehicle battery are connected to the positive and negative power terminals 15 and 16 of the control IC 11, respectively.
The control IC 11 operates using the battery voltage as the power supply voltage Vcc.

【0014】この制御IC11の内部には、電源端子1
5、16にそれぞれ接続された電源線17、18が形成
されており、これら電源線17、18間には上記過電圧
検出回路12と定電流回路13とが接続されている。こ
のうち過電圧検出回路12は、電源線17と18との間
に接続された抵抗R12、図示極性のツェナーダイオー
ドZD11〜ZD13、図示極性のダイオードD11、
D12および抵抗R13からなる直列回路19と、前記
抵抗R13の両端子間にベース・エミッタ間が接続され
たNPN形のトランジスタQ12とから構成されてい
る。
A power supply terminal 1 is provided inside the control IC 11.
Power supply lines 17 and 18 connected to the power supply lines 5 and 16 are formed, and the overvoltage detection circuit 12 and the constant current circuit 13 are connected between the power supply lines 17 and 18. The overvoltage detection circuit 12 includes a resistor R12 connected between the power supply lines 17 and 18, zener diodes ZD11 to ZD13 having the illustrated polarity, a diode D11 having the illustrated polarity,
It comprises a series circuit 19 comprising a resistor D13 and a resistor R13, and an NPN transistor Q12 having a base and an emitter connected between both terminals of the resistor R13.

【0015】定電流回路13(駆動回路に相当)は、電
源線18に接続されたNPN形のトランジスタQ13、
Q14からなる第1のカレントミラー回路20と、電源
線17に接続されたPNP形のトランジスタQ15、Q
16からなる第2のカレントミラー回路21とを有し、
上記トランジスタQ14とQ15のコレクタ同士が接続
されている。電源線17とトランジスタQ13のコレク
タ(ベース)との間には抵抗R14が接続され、トラン
ジスタQ16のコレクタと電源線18との間には上記抵
抗R11並びに上記トランジスタQ11のコレクタ・エ
ミッタ間が接続されている。また、カレントミラー回路
21の共通ベース線は、抵抗R15とPNP形のトラン
ジスタQ17のエミッタ・コレクタ間とを介して電源線
18に接続され、そのトランジスタQ17のベースは上
記トランジスタQ14、Q15のコレクタに接続されて
いる。トランジスタQ15、Q16のベース・エミッタ
間には抵抗R16が接続されている。
The constant current circuit 13 (corresponding to a drive circuit) includes an NPN transistor Q13 connected to the power supply line 18,
A first current mirror circuit 20 composed of Q14, and PNP transistors Q15 and Q connected to the power supply line 17;
And a second current mirror circuit 21 comprising 16
The collectors of the transistors Q14 and Q15 are connected to each other. The resistor R14 is connected between the power supply line 17 and the collector (base) of the transistor Q13, and the resistor R11 and the collector and emitter of the transistor Q11 are connected between the collector of the transistor Q16 and the power supply line 18. ing. The common base line of the current mirror circuit 21 is connected to the power supply line 18 via the resistor R15 and the emitter-collector of the PNP transistor Q17. The base of the transistor Q17 is connected to the collectors of the transistors Q14 and Q15. It is connected. A resistor R16 is connected between the base and the emitter of the transistors Q15 and Q16.

【0016】機能回路14は、制御IC11が有する種
々の機能を実行する回路であって、電源線17、18間
に生じる過電圧から保護される被保護回路である。この
機能回路14は、電源線17とトランジスタQ11のコ
レクタとの間に接続されている。本発明では機能回路1
4について回路構成上の制限はないが、本実施形態にお
いては以下のような構成となっている。
The functional circuit 14 is a circuit that performs various functions of the control IC 11 and is a protected circuit that is protected from overvoltage generated between the power supply lines 17 and 18. This functional circuit 14 is connected between the power supply line 17 and the collector of the transistor Q11. In the present invention, the functional circuit 1
Although there is no restriction on the circuit configuration for No. 4, this embodiment has the following configuration.

【0017】すなわち、入力端子22と電源線18との
間には、PNP形のトランジスタQ18のエミッタ・コ
レクタ間とNPN形トランジスタQ19のコレクタ・エ
ミッタ間とが直列に接続されている。トランジスタQ1
8のベースはそのコレクタに接続されるとともにPNP
形のトランジスタQ20のベースに接続されており、ト
ランジスタQ19のベースは上記カレントミラー回路2
0の共通ベース線に接続されている。トランジスタQ2
0のエミッタは、抵抗R17を介して電源線17に接続
されており、2つのコレクタのうち1つは直接、他の1
つはNPN形のトランジスタQ21のコレクタ・エミッ
タ間を介して上記トランジスタQ11のコレクタに接続
されている。トランジスタQ22は、上記トランジスタ
Q21とともにカレントミラー回路23を構成してい
る。
That is, between the input terminal 22 and the power supply line 18, the emitter-collector of the PNP transistor Q18 and the collector-emitter of the NPN transistor Q19 are connected in series. Transistor Q1
8 base is connected to its collector and PNP
The transistor Q19 is connected to the base of the current mirror circuit 2
0 is connected to the common base line. Transistor Q2
0 is connected to the power supply line 17 via a resistor R17, and one of the two collectors is directly connected to the other one.
One is connected to the collector of the transistor Q11 via the collector and the emitter of the NPN transistor Q21. The transistor Q22 forms a current mirror circuit 23 together with the transistor Q21.

【0018】次に、上記制御IC11の動作について説
明する。ECUに供給されるバッテリ電圧(電源電圧V
cc)は通常12V程度の電圧値を持っている。しかし、
車載バッテリにはECUの他にもソレノイドコイルなど
の種々の負荷が接続されているため、こうした負荷への
通断電に伴ってバッテリ電圧にロードダンプと呼ばれる
過電圧が発生する場合がある。そこで、過電圧検出回路
12においては、上記通常の電圧値よりも高く且つ機能
回路14の有する耐圧よりも低い電圧値を有する保護電
圧Vaが設定され、電源電圧Vccがその保護電圧Va以
上の過電圧になるとトランジスタQ12がオン状態とな
ること(過電圧信号の出力に相当)により過電圧保護が
行われる。
Next, the operation of the control IC 11 will be described. Battery voltage (power supply voltage V) supplied to the ECU
cc) usually has a voltage value of about 12V. But,
Since various loads such as solenoid coils are connected to the vehicle-mounted battery in addition to the ECU, an overvoltage called a load dump may be generated in the battery voltage due to the power cutoff to such a load. Therefore, in the overvoltage detection circuit 12, a protection voltage Va having a voltage value higher than the normal voltage value and lower than the withstand voltage of the functional circuit 14 is set, and the power supply voltage Vcc is set to an overvoltage equal to or higher than the protection voltage Va. Then, the transistor Q12 is turned on (corresponding to the output of the overvoltage signal), thereby performing overvoltage protection.

【0019】ここで、ツェナーダイオードZD11〜Z
D13のツェナー電圧をVz、ダイオードD11、D1
2の順方向電圧とオン状態にあるトランジスタQ12の
VBEをVF、抵抗R12、R13の各抵抗値を符号と同
じくR12、R13とすれば、上記保護電圧Vaは次の
(1)式のように定まる。 Va=3・Vz+3・VF+VF・R12/R13 …(1)
Here, Zener diodes ZD11-ZD
The zener voltage of D13 is Vz, the diodes D11, D1
Assuming that the forward voltage of 2 and VBE of the transistor Q12 in the ON state are VF and the resistances of the resistors R12 and R13 are R12 and R13, respectively, the protection voltage Va is expressed by the following equation (1). Is determined. Va = 3 · Vz + 3 · VF + VF · R12 / R13 (1)

【0020】通常動作時つまり電源電圧Vccが保護電圧
Vaよりも低い場合には、過電圧検出回路12の抵抗R
13の両端電圧がVFよりも低くなってトランジスタQ
12がオフ状態となる。この場合、定電流回路13は定
電流動作を行い、抵抗R14の抵抗値を符号と同じくR
14とすれば、トランジスタQ16、Q19のコレクタ
電流Icは次の(2)式のようになる。 Ic=(Vcc−VBE)/R14 …(2)
During normal operation, that is, when the power supply voltage Vcc is lower than the protection voltage Va, the resistance R of the overvoltage detection circuit 12
13 becomes lower than VF and the transistor Q
12 turns off. In this case, the constant current circuit 13 performs a constant current operation, and sets the resistance value of the resistor R14 to R
If it is 14, the collector current Ic of the transistors Q16 and Q19 is as shown in the following equation (2). Ic = (Vcc-VBE) / R14 (2)

【0021】トランジスタQ16のコレクタ電流は、抵
抗R11に流れるとともにトランジスタQ11のベース
電流となり、トランジスタQ11は飽和オン状態とな
る。これにより、トランジスタQ11のコレクタ・エミ
ッタ間電圧は十分に小さくなって、機能回路14には電
源電圧Vccにほぼ等しい電圧が印加される。機能回路1
4は、入力端子22に与えられる所定の電圧Vbと電源
電圧Vccとの差電圧を検出し、その差電圧に応じた電流
をトランジスタQ22のコレクタ電流として出力する回
路であって、トランジスタQ19に上記(2)式で示さ
れる電流が流れることにより動作状態となる。
The collector current of the transistor Q16 flows through the resistor R11 and becomes the base current of the transistor Q11, so that the transistor Q11 is turned on. As a result, the voltage between the collector and the emitter of the transistor Q11 becomes sufficiently small, and a voltage substantially equal to the power supply voltage Vcc is applied to the functional circuit 14. Functional circuit 1
Reference numeral 4 denotes a circuit for detecting a voltage difference between a predetermined voltage Vb applied to the input terminal 22 and the power supply voltage Vcc and outputting a current corresponding to the voltage difference as a collector current of the transistor Q22. When the current shown by the equation (2) flows, the operation state is established.

【0022】これに対し、過電圧時つまり電源電圧Vcc
が保護電圧Va以上となった場合には、過電圧検出回路
12の抵抗R13の両端電圧がVF以上となってトラン
ジスタQ12がオン状態となる。トランジスタQ12が
オン状態になると、トランジスタQ13のベース・エミ
ッタ間電圧がトランジスタQ12の飽和電圧にまで低下
し、トランジスタQ13がオフとなる。これに伴って、
定電流回路13はその定電流動作を停止し、トランジス
タQ14〜Q17ひいてはトランジスタQ11、Q18
〜Q22が全てオフ状態となる。
On the other hand, at the time of overvoltage, that is, the power supply voltage Vcc
Is higher than the protection voltage Va, the voltage across the resistor R13 of the overvoltage detection circuit 12 becomes higher than VF, and the transistor Q12 is turned on. When the transistor Q12 is turned on, the base-emitter voltage of the transistor Q13 decreases to the saturation voltage of the transistor Q12, and the transistor Q13 is turned off. Along with this,
The constant current circuit 13 stops its constant current operation, and the transistors Q14 to Q17, and thus the transistors Q11 and Q18
To Q22 are all turned off.

【0023】この状態で電源線17、18間に印加され
る過電圧は、過電圧検出回路12、定電流回路13、お
よび機能回路14とトランジスタQ11との直列回路に
それぞれ印加される。このうち定電流回路13において
は、トランジスタQ14、Q15、Q16、Q17の耐
圧は、それぞれVCES 、VCER 、VCER 、VCEO とな
る。一般に、トランジスタの耐圧はVCES >VCER >V
CEO の大小関係を有しているため、トランジスタQ17
の耐圧が最も低くなる。しかし、このトランジスタQ1
7には抵抗R15が直列に接続されているため、この抵
抗R15により電流が制限され、以て耐圧の向上が図ら
れている。
In this state, the overvoltage applied between the power supply lines 17 and 18 is applied to the overvoltage detection circuit 12, the constant current circuit 13, and the series circuit of the function circuit 14 and the transistor Q11. In the constant current circuit 13, the breakdown voltages of the transistors Q14, Q15, Q16, and Q17 are VCES, VCER, VCER, and VCEO, respectively. Generally, the breakdown voltage of the transistor is VCES>VCER> V
Because of the CEO relationship, transistor Q17
Has the lowest breakdown voltage. However, this transistor Q1
7, a resistor R15 is connected in series, so that the current is limited by the resistor R15, thereby improving the withstand voltage.

【0024】機能回路14の耐圧は、図1に示された回
路部分に限ればトランジスタQ20のVCEO で決まる。
勿論、図示されていない回路部分にさらに耐圧の低い回
路部分が存在すればその耐圧で決まることとなる。機能
回路14を電源線17、18間に直接接続した従来構成
(図4参照)においては、トランジスタQ20に上記過
電圧に耐え得るだけの高耐圧のものを採用したり、縦積
み接続としたり、上記過電圧の侵入を防止するために外
部素子例えばパワーツェナーダイオードを付加する必要
があった。
The breakdown voltage of the functional circuit 14 is determined by VCEO of the transistor Q20 only in the circuit portion shown in FIG.
Of course, if there is a circuit portion having a lower withstand voltage in a circuit portion not shown, it is determined by the withstand voltage. In the conventional configuration in which the functional circuit 14 is directly connected between the power supply lines 17 and 18 (see FIG. 4), a transistor Q20 having a high withstand voltage enough to withstand the above-mentioned overvoltage, a vertically stacked connection, It has been necessary to add an external element, for example, a power zener diode, in order to prevent intrusion of overvoltage.

【0025】これに対し、機能回路14とトランジスタ
Q11とが直列接続された本実施形態では、電源線1
7、18間にトランジスタQ20とQ11とが直列に接
続されることとなるので、全体としての耐圧は、トラン
ジスタQ20のVCEO とトランジスタQ11のVCER と
が加算された値となる。特に、トランジスタQ11のベ
ース・エミッタ間に抵抗R11が接続されているので、
トランジスタQ11の耐圧はVCEO よりも高いVCER と
なっている。
On the other hand, in this embodiment in which the functional circuit 14 and the transistor Q11 are connected in series, the power supply line 1
Since transistors Q20 and Q11 are connected in series between 7 and 18, the withstand voltage as a whole is a value obtained by adding VCEO of transistor Q20 and VCER of transistor Q11. In particular, since the resistor R11 is connected between the base and the emitter of the transistor Q11,
The withstand voltage of the transistor Q11 is VCER higher than VCEO.

【0026】このように本実施形態によれば、電源線1
7、18間に機能回路14とトランジスタQ11とが直
列接続され、過電圧状態においてトランジスタQ11が
オフ駆動されるので、電源電圧Vccに対する機能回路1
4の耐圧がトランジスタQ11の耐圧VCER だけ高ま
り、以て過電圧保護が図られる。従って、機能回路14
を過電圧から保護する上で、トランジスタQ20に高耐
圧のものを採用したり縦積み接続とするなど機能回路1
4自体を設計変更して高耐圧化を図る必要がなくなる。
このため、回路変更や回路特性の合わせ込みなどに要す
る設計コストを低減できるとともに、縦積み接続に伴う
最低動作電圧の上昇や消費電力の増大といった問題から
開放される。
As described above, according to the present embodiment, the power line 1
7 and 18, the functional circuit 14 and the transistor Q11 are connected in series, and the transistor Q11 is turned off in an overvoltage state.
4 is increased by the withstand voltage VCER of the transistor Q11, whereby overvoltage protection is achieved. Therefore, the function circuit 14
In order to protect the transistor from overvoltage, a functional circuit 1 such as adopting a transistor having a high withstand voltage as the transistor Q20 or connecting the transistor Q20 in a vertical connection is used.
There is no need to change the design of 4 itself to increase the breakdown voltage.
Therefore, it is possible to reduce the design cost required for the circuit change or the adjustment of the circuit characteristics, and to be free from the problems such as an increase in the minimum operating voltage and an increase in the power consumption due to the vertical connection.

【0027】また、パワーツェナーダイオードなどの外
部素子が不要となる一方で、過電圧検出回路12、定電
流回路13、抵抗R11およびトランジスタQ11はI
C化に適した回路構成となっているので、製造コストを
低減できる。
Further, while external elements such as a power Zener diode are not required, the overvoltage detection circuit 12, the constant current circuit 13, the resistor R11 and the transistor Q11 are
Since the circuit configuration is suitable for C, manufacturing costs can be reduced.

【0028】さらに、トランジスタQ11のベース・エ
ミッタ間に抵抗R11が接続されているので、トランジ
スタQ11の耐圧がVCER に高まる。また、過電圧の侵
入がない通常動作時においては、トランジスタQ11が
飽和オン状態となっているため、トランジスタQ11の
コレクタ損失を極力低減できるとともに、機能回路14
に与えられる電源電圧の低下を最小限に止めることがで
きる。
Further, since the resistor R11 is connected between the base and the emitter of the transistor Q11, the breakdown voltage of the transistor Q11 increases to VCER. Further, during normal operation without intrusion of overvoltage, the transistor Q11 is in the saturation ON state, so that the collector loss of the transistor Q11 can be reduced as much as possible and the function circuit 14
Can be minimized.

【0029】(第2の実施形態)次に、本発明をECU
の過電圧保護に適用した第2の実施形態について図2を
参照しながら説明する。図2は、ECUに用いられる制
御ICの電気的構成を示しており、図1と同一構成部分
には同一符号を付して示している。この図2に示す制御
IC24には、過電圧検出回路12、駆動回路に相当す
る抵抗R18、トランジスタQ11、抵抗R11、およ
び機能回路25(一部のみ図示)が形成されている。
(Second Embodiment) Next, the present invention is applied to an ECU.
A second embodiment applied to the overvoltage protection will be described with reference to FIG. FIG. 2 shows an electrical configuration of a control IC used in the ECU, and the same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals. In the control IC 24 shown in FIG. 2, an overvoltage detection circuit 12, a resistor R18 corresponding to a drive circuit, a transistor Q11, a resistor R11, and a function circuit 25 (only a part is shown) are formed.

【0030】抵抗R11とトランジスタQ11のベース
との共通接続点は、抵抗R18を介して電源線17に接
続されるとともにトランジスタQ12のコレクタに接続
されている。また、機能回路25において、電源線17
とトランジスタQ11のコレクタとの間には、抵抗R1
9とNPN形のトランジスタQ23のコレクタ・エミッ
タ間とが直列に接続されており、トランジスタQ18の
コレクタとトランジスタQ11のコレクタとの間には、
NPN形のトランジスタQ24のコレクタ・エミッタ間
が接続されている。これらトランジスタQ23とQ24
とはカレントミラー回路26を構成しており、カレント
ミラー回路26と抵抗R19とは定電流回路27を構成
している。
The common connection point between the resistor R11 and the base of the transistor Q11 is connected to the power supply line 17 via the resistor R18 and to the collector of the transistor Q12. In the functional circuit 25, the power supply line 17
And a collector of the transistor Q11.
9 and the collector and emitter of the NPN transistor Q23 are connected in series, and between the collector of the transistor Q18 and the collector of the transistor Q11,
The collector and the emitter of the NPN transistor Q24 are connected. These transistors Q23 and Q24
Form a current mirror circuit 26, and the current mirror circuit 26 and the resistor R19 form a constant current circuit 27.

【0031】この制御IC24は、第1の実施形態で説
明した制御IC11と比較して、機能回路25とトラン
ジスタQ11とが直列接続されている点において同じ構
成となっており、機能回路25を動作させるために必要
となる定電流回路27を当該機能回路25内に備えてい
る点において異なる構成となっている。
The control IC 24 has the same configuration as the control IC 11 described in the first embodiment in that the functional circuit 25 and the transistor Q11 are connected in series. The configuration is different in that a constant current circuit 27 necessary for the operation is provided in the functional circuit 25.

【0032】この制御IC24によれば、通常動作時に
はトランジスタQ12がオフ状態となり、抵抗R18を
介してトランジスタQ11にベース電流が流れ、トラン
ジスタQ11は飽和オン状態となる。一方、過電圧時に
はトランジスタQ12がオン状態となり、トランジスタ
Q11は、そのベース・エミッタ間がほぼ短絡された状
態となってオフ状態となる。従って、本実施形態によっ
ても第1の実施形態と同様の効果を得ることができる。
According to the control IC 24, during normal operation, the transistor Q12 is turned off, a base current flows to the transistor Q11 via the resistor R18, and the transistor Q11 is turned on in saturation. On the other hand, at the time of overvoltage, the transistor Q12 is turned on, and the transistor Q11 is turned off with the base and the emitter almost short-circuited. Therefore, according to the present embodiment, the same effect as that of the first embodiment can be obtained.

【0033】また、過電圧時におけるトランジスタQ1
1の耐圧はVCER ではなくVCES となる。上述したよう
にVCES はVCER よりも高いため、電源電圧Vccに対す
る機能回路25の耐圧は一層高まる。また、定電流回路
27が機能回路25内に形成されているので、定電流回
路27も過電圧から保護される。従って、制御IC24
全体として十分な過電圧保護が図られる。
The transistor Q1 at the time of overvoltage
The breakdown voltage of 1 is not VCER but VCES. As described above, since VCES is higher than VCER, the withstand voltage of the functional circuit 25 with respect to the power supply voltage Vcc is further increased. Further, since the constant current circuit 27 is formed in the functional circuit 25, the constant current circuit 27 is also protected from overvoltage. Therefore, the control IC 24
As a whole, sufficient overvoltage protection is achieved.

【0034】(第3の実施形態)次に、第1の実施形態
に変更を加えた第3の実施形態について、制御ICの電
気的構成を示す図3を参照しながら説明する。この図3
に示す制御IC28は、図1に示す制御IC11に対
し、トランジスタQ11に替えてNチャネル型のMOS
FETQ25を用いた点、およびそのゲート・ソース間
に図示極性のツェナーダイオードZD14(ゲート保護
回路に相当)を接続した点が異なっている。この構成に
よっても、第1の実施形態と同様の作用および効果を得
ることができる。
(Third Embodiment) Next, a third embodiment, which is a modification of the first embodiment, will be described with reference to FIG. 3, which shows the electrical configuration of a control IC. This figure 3
1 is different from the control IC 11 shown in FIG. 1 in that an N-channel MOS
The difference is that the FET Q25 is used, and that a Zener diode ZD14 (corresponding to a gate protection circuit) having the illustrated polarity is connected between its gate and source. According to this configuration, the same operation and effect as those of the first embodiment can be obtained.

【0035】さらに、オン抵抗の小さいMOSFETQ
25を用いれば、オン状態におけるドレイン・ソース間
電圧を低く維持できるため、機能回路14の規模がある
程度大きい場合であっても、その機能回路14全体とM
OSFETQ25とを直列接続した回路構成とできる。
その結果、機能回路14全体を一様に保護することがで
き、機能回路14について耐圧の低い回路部分を調査し
て選択的に保護する必要がなくなる。
Further, a MOSFET Q having a small on-resistance
25, the drain-source voltage in the ON state can be kept low. Therefore, even if the size of the functional circuit 14 is large to some extent, the entire functional circuit 14 and M
A circuit configuration in which the OSFET Q25 is connected in series can be provided.
As a result, the entire functional circuit 14 can be uniformly protected, and it is not necessary to investigate and selectively protect the functional circuit 14 having a low breakdown voltage.

【0036】(その他の実施形態)なお、本発明は上記
し且つ図面に示す各実施形態に限定されるものではな
く、例えば以下のように変形または拡張が可能である。
トランジスタQ11、MOSFETQ25に替えてある
いはトランジスタQ11、MOSFETQ25ととも
に、電源線17と機能回路14、25との間にトランジ
スタを接続し、そのトランジスタを過電圧時にオフ駆動
するように構成しても良い。
(Other Embodiments) The present invention is not limited to the embodiments described above and shown in the drawings. For example, the present invention can be modified or expanded as follows.
Instead of the transistor Q11 and the MOSFET Q25, or together with the transistor Q11 and the MOSFET Q25, a transistor may be connected between the power supply line 17 and the functional circuits 14 and 25, and the transistor may be turned off when an overvoltage occurs.

【0037】過電圧検出回路は、電源線17、18間の
電源電圧Vccが保護電圧Vaを超えている期間過電圧信
号を出力する回路であれば他の回路構成であっても良
い。駆動回路は、定電流回路13や抵抗R18に限られ
ず、過電圧検出回路12のトランジスタQ12がオン状
態にある期間(つまり過電圧信号が出力されている期
間)トランジスタQ11、MOSFETQ25をオフ駆
動する回路であれば良い。
The overvoltage detection circuit may have another circuit configuration as long as the circuit outputs an overvoltage signal while the power supply voltage Vcc between the power supply lines 17 and 18 exceeds the protection voltage Va. The drive circuit is not limited to the constant current circuit 13 and the resistor R18, and may be a circuit that drives the transistor Q11 and the MOSFET Q25 off while the transistor Q12 of the overvoltage detection circuit 12 is in an on state (that is, a period during which an overvoltage signal is output). Good.

【0038】第1および第3の実施形態において、トラ
ンジスタQ14のコレクタとトランジスタQ17のベー
スとの間、トランジスタQ16のコレクタとトランジス
タQ11のベース(MOSFETQ25のゲート)との
間にそれぞれ抵抗を接続することにより、定電流回路1
3の耐圧を高められる。第3の実施形態において、MO
SFETQ25に替えてIGBTを用いても良い。上述
した過電圧保護回路は、車両に搭載されたECUへの適
用に限られず、過電圧が侵入(発生)する虞のある回路
に適用可能である。
In the first and third embodiments, a resistor is connected between the collector of the transistor Q14 and the base of the transistor Q17, and between the collector of the transistor Q16 and the base of the transistor Q11 (gate of the MOSFET Q25). The constant current circuit 1
3, the withstand voltage can be increased. In the third embodiment, the MO
An IGBT may be used instead of the SFET Q25. The above-described overvoltage protection circuit is not limited to application to an ECU mounted on a vehicle, but can be applied to a circuit in which an overvoltage may enter (generate).

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施形態を示す制御ICの電気
的構成図
FIG. 1 is an electrical configuration diagram of a control IC showing a first embodiment of the present invention;

【図2】本発明の第2の実施形態を示す図1相当図FIG. 2 is a view corresponding to FIG. 1, showing a second embodiment of the present invention;

【図3】本発明の第3の実施形態を示す図1相当図FIG. 3 is a view corresponding to FIG. 1, showing a third embodiment of the present invention;

【図4】従来技術を示す図1相当図FIG. 4 is a diagram corresponding to FIG. 1 showing a conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

12は過電圧検出回路、13は定電流回路(駆動回
路)、14、25は機能回路(被保護回路)、17、1
8は電源線、Q11はトランジスタ、Q25はMOSF
ET(トランジスタ)、R11は抵抗、R18は抵抗
(駆動回路)、ZD14はツェナーダイオード(ゲート
保護回路)である。
12 is an overvoltage detection circuit, 13 is a constant current circuit (drive circuit), 14 and 25 are functional circuits (protected circuits), 17, 1
8 is a power supply line, Q11 is a transistor, Q25 is a MOSF
ET (transistor), R11 is a resistor, R18 is a resistor (drive circuit), and ZD14 is a Zener diode (gate protection circuit).

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H03K 17/687 G05F 1/10 304G 5J055 19/003 3/26 // G05F 1/10 304 H03K 17/60 A 3/26 17/687 A Fターム(参考) 5G004 AA04 AB02 BA08 DC04 DC10 EA01 FA01 5G053 AA09 BA04 CA01 DA01 EC03 FA05 5H410 BB02 CC02 EA10 EB01 FF03 LL02 5H420 BB12 CC02 EA11 EA18 EB01 FF03 LL02 5J032 AA02 AA03 AB02 AC18 5J055 AX32 AX55 AX64 BX16 CX28 DX03 DX22 DX55 EX06 EX07 EY01 EY12 EY13 EY17 EY21 EZ03 EZ04 FX12 FX17 FX35 FX36 GX01 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H03K 17/687 G05F 1/10 304G 5J055 19/003 3/26 // G05F 1/10 304 H03K 17/60 A 3/26 17/687 A F-term (reference) 5G004 AA04 AB02 BA08 DC04 DC10 EA01 FA01 5G053 AA09 BA04 CA01 DA01 EC03 FA05 5H410 BB02 CC02 EA10 EB01 FF03 LL02 5H420 BB12 CC02 EA11 EA18 EB01 A035A03 5A02 5A04 AX55 AX64 BX16 CX28 DX03 DX22 DX55 EX06 EX07 EY01 EY12 EY13 EY17 EY21 EZ03 EZ04 FX12 FX17 FX35 FX36 GX01

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電源線間に介在する被保護回路を前記電
源線間に生じる過電圧から保護する過電圧保護回路にお
いて、 前記電源線と前記被保護回路との間に接続されたトラン
ジスタと、 前記電源線間の電圧が所定の保護電圧値を超えている期
間過電圧信号を出力する過電圧検出回路と、 前記過電圧検出回路から過電圧信号が出力されていない
期間前記トランジスタをオン駆動し、前記過電圧検出回
路から過電圧信号が出力されている期間前記トランジス
タをオフ駆動する駆動回路とを備えて構成されているこ
とを特徴とする過電圧保護回路。
1. An overvoltage protection circuit for protecting a protected circuit interposed between power supply lines from overvoltage generated between the power supply lines, comprising: a transistor connected between the power supply line and the protected circuit; An overvoltage detection circuit that outputs an overvoltage signal during a period when the voltage between the lines exceeds a predetermined protection voltage value; and an overvoltage detection circuit that turns on the transistor while the overvoltage signal is not output from the overvoltage detection circuit. A drive circuit that turns off the transistor during a period in which the overvoltage signal is being output.
【請求項2】 前記トランジスタはバイポーラトランジ
スタであって、前記電源線と前記被保護回路との間にそ
のコレクタ・エミッタ間が接続されているとともに、そ
のベース・エミッタ間に抵抗が接続されていることを特
徴とする請求項1記載の過電圧保護回路。
2. The transistor is a bipolar transistor, wherein a collector and an emitter are connected between the power supply line and the protected circuit, and a resistor is connected between the base and the emitter. The overvoltage protection circuit according to claim 1, wherein:
【請求項3】 前記トランジスタはFETであって、前
記電源線と前記被保護回路との間にそのドレイン・ソー
ス間が接続されているとともに、そのゲート・ソース間
にゲート保護回路が接続されていることを特徴とする請
求項1記載の過電圧保護回路。
3. The semiconductor device according to claim 1, wherein the transistor is an FET, a drain and a source are connected between the power supply line and the protected circuit, and a gate protection circuit is connected between the gate and the source. The overvoltage protection circuit according to claim 1, wherein
【請求項4】 前記駆動回路は、前記過電圧検出回路か
ら過電圧信号が出力されていないことを条件として動作
する定電流回路であって、前記トランジスタは前記定電
流回路から電流の供給を受けることによりオン動作する
ことを特徴とする請求項1ないし3の何れかに記載の過
電圧保護回路。
4. The constant current circuit which operates on condition that no overvoltage signal is output from the overvoltage detection circuit, wherein the transistor receives a current from the constant current circuit. 4. The overvoltage protection circuit according to claim 1, wherein the overvoltage protection circuit is turned on.
JP2001070418A 2001-03-13 2001-03-13 Overvoltage protective circuit Withdrawn JP2002271183A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001070418A JP2002271183A (en) 2001-03-13 2001-03-13 Overvoltage protective circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001070418A JP2002271183A (en) 2001-03-13 2001-03-13 Overvoltage protective circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002271183A true JP2002271183A (en) 2002-09-20

Family

ID=18928299

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001070418A Withdrawn JP2002271183A (en) 2001-03-13 2001-03-13 Overvoltage protective circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002271183A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102760484A (en) * 2011-04-29 2012-10-31 阿尔特拉公司 Systems and methods for securing a programmable device against an over-voltage attack
WO2013128227A1 (en) * 2012-02-29 2013-09-06 Freescale Semiconductor, Inc. Electrostatic discharge protection circuit arrangement, electronic circuit and esd protection method
CN106089462A (en) * 2015-04-27 2016-11-09 瑞萨电子株式会社 Semiconductor device, power control semiconductors device, vehicle-mounted electronic control unit and vehicle
WO2017002527A1 (en) * 2015-07-01 2017-01-05 日立オートモティブシステムズ株式会社 Electronic circuit device

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102760484A (en) * 2011-04-29 2012-10-31 阿尔特拉公司 Systems and methods for securing a programmable device against an over-voltage attack
JP2012235459A (en) * 2011-04-29 2012-11-29 Altera Corp System and method for securing programmable device against overvoltage attack
WO2013128227A1 (en) * 2012-02-29 2013-09-06 Freescale Semiconductor, Inc. Electrostatic discharge protection circuit arrangement, electronic circuit and esd protection method
US9438031B2 (en) 2012-02-29 2016-09-06 Freescale Semiconductor, Inc. Electrostatic discharge protection circuit arrangement, electronic circuit and ESD protection method
CN106089462A (en) * 2015-04-27 2016-11-09 瑞萨电子株式会社 Semiconductor device, power control semiconductors device, vehicle-mounted electronic control unit and vehicle
JP2016208406A (en) * 2015-04-27 2016-12-08 ルネサスエレクトロニクス株式会社 Semiconductor device, semiconductor device for power control, in-vehicle electronic control unit and vehicle including the same
WO2017002527A1 (en) * 2015-07-01 2017-01-05 日立オートモティブシステムズ株式会社 Electronic circuit device
US10637232B2 (en) 2015-07-01 2020-04-28 Hitachi Automotive Systems, Ltd. Electric circuit device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3864864B2 (en) Clamp circuit
JP2003258581A (en) Clamp circuit
KR950001309B1 (en) Overvoltage protected circuit
JPS63208324A (en) Semiconductor integrated circuit device
JP4479570B2 (en) Switching circuit with protection function and protection circuit
JP3678156B2 (en) ESD protection circuit
KR100778203B1 (en) Power supply protection circuit for an in-vehicle eletronic device
JPH0350423B2 (en)
JPH03172017A (en) Adaptation gate discharge circuit for power fet
JP2003273227A (en) Semiconductor integrated circuit device
JP2002271183A (en) Overvoltage protective circuit
JP3983622B2 (en) Power device drive circuit
US5670829A (en) Precision current limit circuit
WO2006093204A1 (en) Semiconductor integrated circuit device
JP2017073657A (en) Erroneous output prevention circuit
JPH08286771A (en) Semiconductor electronic circuit
JPH08172162A (en) Semiconductor integrated circuit
JPH11113169A (en) Protection device for semiconductor circuit
JP3762264B2 (en) Driving circuit for automobile and ignition device for internal combustion engine using the same
JP3250169B2 (en) Switch having a first switching element configured as a bipolar transistor
JP3834480B2 (en) Clamp circuit and input interface circuit
JPH0795015A (en) Semiconductor integrated circuit
EP0408124B1 (en) Circuit for protection against negative overvoltages across the power supply of an integrated circuit comprising a power device with related control circuit
US6218873B1 (en) Driver stage for switching a load
JP3724690B2 (en) Switching circuit

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070329

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20090619