JP2002254481A - Resin mold die and method for manufacturing resin mold package - Google Patents

Resin mold die and method for manufacturing resin mold package

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JP2002254481A
JP2002254481A JP2001057372A JP2001057372A JP2002254481A JP 2002254481 A JP2002254481 A JP 2002254481A JP 2001057372 A JP2001057372 A JP 2001057372A JP 2001057372 A JP2001057372 A JP 2001057372A JP 2002254481 A JP2002254481 A JP 2002254481A
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    • H01L2924/18162Exposing the passive side of the semiconductor or solid-state body of a chip with build-up interconnect

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the generation of wrinkles in the periphery of a semiconductor chip of a release film when a chip exposing type resin mold package is to be manufactured by utilizing the release film. SOLUTION: The loseness of the release film 7 is absorbed by increasing a mold resin surface area by the projections 8 arranged to the undersurface of a floating block 5a in a lattice form so as to partition respective semiconductor chips 1 molded collectively from a resin to extend the looseness of the release film 7 and the generation of wrinkles in the peripheries of the semiconductor chips 1 at the time of mold clamping is prevented. Further, grooves are formed in the collective resin mold package by the projections 8 and the defectiveness of an outer shape due to the abrasion of a dicing blade is eliminated by forming a part of the package by the grooves at the time of dicing of the individual resin mold package and the cost reduction can be achieved by the reduction of a dicing sheet or the common use of a dicing fixture.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は樹脂モールドパッケ
ージの製造に使用する樹脂モールド金型及びその金型を
用いた樹脂モールドパッケージの製造方法に関するもの
で、特に、半導体チップをリリースフィルムを介して樹
脂モールドし、樹脂モールド後の半導体チップの一部が
樹脂でモールドされていない露出面を有する樹脂モール
ドパッケージ(チップ露出方式パッケージ)を製造する
際に使用する樹脂モールド金型及び樹脂モールドパッケ
ージの製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a resin mold used for manufacturing a resin mold package and a method for manufacturing a resin mold package using the mold. A resin mold and a method of manufacturing a resin mold package used for manufacturing a resin mold package (chip exposure type package) having an exposed surface in which a part of a semiconductor chip after molding and resin molding is not molded with resin. About.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、樹脂モールド金型内面にリリース
フィルムを介在させ、金型と製品との離型性向上や樹脂
による金型汚れに対する金型清掃レス、さらにチップ露
出方式や放熱板部の露出を目的とした封入方式が採用さ
れつつある。このリリースフィルムは、例えば、特開平
11−34066号公報にあるように、樹脂モールドパ
ッケージを形成するキャビティ内面やモールド樹脂をキ
ャビティに運び込む樹脂の通り道となるランナー内面を
含む上下金型の分割面を被覆するようにして設けられて
いる。特に、複数の半導体チップを基板上に搭載し、こ
れらの半導体チップを基板とともに一つのパッケージと
して一体に樹脂モールドする一括樹脂モールドパッケー
ジであって、かつ、全ての半導体チップの上面が樹脂モ
ールドされずにパッケージ表面から露出する封入方式で
ある樹脂モールドパッケージ(チップ露出方式パッケー
ジ)においては、樹脂モールド後に半導体チップの上面
が露出面となるように樹脂モールドを行わなければなら
ないため、リリースフィルムは金型の内面を被覆するだ
けではなく、半導体チップの露出面となる部分を被覆し
てモールド樹脂の侵入を阻止するという機能も兼ねてい
る。
2. Description of the Related Art In recent years, a release film has been interposed between resin molds to improve the releasability between the mold and the product, eliminate the need for mold cleaning for mold contamination with resin, and furthermore, use a chip exposure method and a heat sink. An enclosure method for the purpose of exposure is being adopted. For example, as disclosed in JP-A-11-34066, this release film is used to separate the upper and lower mold halves including the inner surface of a cavity forming a resin mold package and the inner surface of a runner which serves as a path for a resin to carry the mold resin into the cavity. It is provided so as to cover. In particular, a batch resin mold package in which a plurality of semiconductor chips are mounted on a substrate, and these semiconductor chips are integrally resin-molded together with the substrate as a single package, and the upper surfaces of all the semiconductor chips are not resin-molded. In a resin mold package (chip-exposure type package), which is an encapsulation method that is exposed from the package surface, the release film must be molded using a resin so that the upper surface of the semiconductor chip becomes an exposed surface after the resin molding. In addition to covering the inner surface of the semiconductor chip, it also has a function of covering the exposed surface of the semiconductor chip to prevent intrusion of the mold resin.

【0003】このチップ露出方式の樹脂モールドパッケ
ージの製造方法について図面を用いて説明する。図9は
従来のチップ露出方式の樹脂モールド金型を用いて樹脂
モールドを行う状態を示す概略断面図で、図9(a)は
金型クランプ前の状態、図9(b)は金型クランプ時の
状態を示している。次に、チップ露出方式パッケージの
製造方法の一例について説明する。
A method of manufacturing a resin mold package of this chip exposure type will be described with reference to the drawings. 9A and 9B are schematic cross-sectional views showing a state in which resin molding is performed using a conventional chip-exposed resin molding die. FIG. 9A shows a state before mold clamping, and FIG. The state at the time is shown. Next, an example of a method of manufacturing a chip exposure type package will be described.

【0004】まず、図9(a)に示すように、リリース
フィルム7を上金型3と下金型4の間に供給し、上金型
3に開けられた図示していない吸引孔によって上金型3
の下面全面にリリースフィルム7を吸着させて張り付け
る。この際、樹脂モールドパッケージ製品の方向を、上
金型封入とするか下金型封入とするかの製品の方向によ
って、リリースフィルム7の張付け方向が下金型4にな
る場合もあるが、ここでは上金型3のみに設けた場合で
説明する。上金型3には、半導体チップ1をリリースフ
ィルム7に押し当てる際のチップクラック対策として、
バネ6によって上下するフローティングブロック5が設
けられており(キャビティフローティング方式)、リリ
ースフィルム7はこのフローティングブロック5の下面
およびランナー13の内面を含む上金型3の下面全面に
吸着され張り付けられる。次いで、あらかじめ半導体チ
ップ1を搭載した基板2を下金型4に載置する。この半
導体チップ1の搭載は、半導体チップ1の主面側に設け
られた電極パッドと基板2の回路パターンに設けられた
接続端子とをフェイスダウン方式で接続することによっ
て行う。
First, as shown in FIG. 9 (a), a release film 7 is supplied between an upper mold 3 and a lower mold 4, and is released by a suction hole (not shown) opened in the upper mold 3. Mold 3
The release film 7 is attached to the entire lower surface of the device by suction. At this time, depending on the direction of the product in which the resin mold package product is to be sealed in the upper mold or the lower mold, the direction in which the release film 7 is stuck may be the lower mold 4. In the following, a case will be described in which only the upper mold 3 is provided. The upper mold 3 is provided with a countermeasure against chip cracks when the semiconductor chip 1 is pressed against the release film 7.
A floating block 5 that moves up and down by a spring 6 is provided (cavity floating system), and a release film 7 is adsorbed and attached to the entire lower surface of the upper mold 3 including the lower surface of the floating block 5 and the inner surface of the runner 13. Next, the substrate 2 on which the semiconductor chip 1 is mounted in advance is placed on the lower mold 4. The mounting of the semiconductor chip 1 is performed by connecting the electrode pads provided on the main surface side of the semiconductor chip 1 and the connection terminals provided on the circuit pattern of the substrate 2 in a face-down manner.

【0005】次いで、図9(b)に示すように、上金型
3と下金型4とで半導体チップ1の露出面14(主面の
反対面)となる部分をリリースフィルム7で被覆した状
態でクランプを行う。クランプの際、フローティングブ
ロック5は半導体チップ1によってリリースフィルム7
を介して押し上げられ、半導体チップ1の周囲に空間部
(キャビティ)23が形成される。次いで、この空間部
23に樹脂10を注入する。加熱した金型によって軟化
した樹脂10は、射出シリンダ11によって加圧され、
カル9、ランナー13を経て空間部23に流入し半導体
チップ1の側面周囲を囲むようにして充填される。この
際、半導体チップ1の露出面14はリリースフィルム7
で被覆されており、また、リリースフィルム7はバネ6
の反撥力で押圧されているため、半導体チップ1の露出
面14への樹脂10の侵入は阻止され樹脂バリの発生は
起こらない。
Next, as shown in FIG. 9B, the upper die 3 and the lower die 4 cover the portion of the semiconductor chip 1 which will become the exposed surface 14 (the surface opposite to the main surface) with the release film 7. Perform clamping in the state. At the time of clamping, the floating block 5 is released from the semiconductor chip 1 by the release film 7.
And a space (cavity) 23 is formed around the semiconductor chip 1. Next, the resin 10 is injected into the space 23. The resin 10 softened by the heated mold is pressurized by the injection cylinder 11,
The semiconductor chip 1 flows into the space 23 via the cull 9 and the runner 13 and is filled so as to surround the side surface of the semiconductor chip 1. At this time, the exposed surface 14 of the semiconductor chip 1 is
The release film 7 is covered with a spring 6
, The resin 10 is prevented from entering the exposed surface 14 of the semiconductor chip 1 and no resin burrs occur.

【0006】次いで金型を開き、図10の断面図に示す
ように、露出面14を有する複数の半導体チップ1が基
板2上に一括して樹脂10でモールドされてなる一括樹
脂モールドパッケージ18を取り出す。次に、図11の
断面図に示すように、取り出した一括樹脂モールドパッ
ケージ18の基板2の裏面(半導体チップ1が搭載され
た反対面)に電極端子となる半田ボール22をマウント
する。半田ボール22のマウント方法については、各種
方法が提案されているのでここでは説明を省略する。
Next, the mold is opened, and as shown in a sectional view of FIG. 10, a package resin mold package 18 in which a plurality of semiconductor chips 1 having an exposed surface 14 are collectively molded on the substrate 2 with the resin 10 is placed. Take out. Next, as shown in the cross-sectional view of FIG. 11, the solder balls 22 serving as electrode terminals are mounted on the back surface (the opposite surface on which the semiconductor chip 1 is mounted) of the substrate 2 of the packaged resin mold package 18 taken out. Various methods for mounting the solder balls 22 have been proposed, and a description thereof will be omitted.

【0007】次に、図12の断面図に示すように、半田
ボール22が形成された基板面を上向きにした状態で一
括樹脂モールドパッケージ18をダイシングシート20
と呼ばれるシートに載置し、半導体チップ1の周囲に充
填された樹脂10を基板2とともにブレード21と呼ば
れる刃物を用いてダイシングし、図13の断面図に示す
ように、個々に分割されたチップ露出方式の個別樹脂モ
ールドパッケージ19ができ上がる。この分割された個
別樹脂モールドパッケージ19は、半導体チップ1の側
面周囲のみが樹脂10でモールドされ、半導体チップ1
の大きさとほぼ同等の小型かつ薄型のパッケージであっ
て、電子機器の軽薄化に寄与するとともに半導体チップ
1の一部が露出面14となっていることから放熱性の優
れたものとなっている。
Next, as shown in the cross-sectional view of FIG. 12, the package resin mold package 18 is mounted on the dicing sheet 20 with the substrate surface on which the solder balls 22 are formed facing upward.
The resin 10 filled around the semiconductor chip 1 is diced together with the substrate 2 by using a blade called a blade 21, and as shown in the sectional view of FIG. The individual resin mold package 19 of the exposure system is completed. In the divided individual resin mold package 19, only the periphery of the side surface of the semiconductor chip 1 is molded with the resin 10, and the semiconductor chip 1
Is a small and thin package having almost the same size as that of the first embodiment, which contributes to the weight reduction of electronic devices and has excellent heat dissipation because a part of the semiconductor chip 1 is an exposed surface 14. .

【0008】しかし、このチップ露出方式の樹脂モール
ドパッケージの製造工程にも幾つかの問題点が指摘され
ている。まず、リリースフィルム吸着後、金型クランプ
した際に、半導体チップとフローティングブロック機構
により圧縮されたリリースフィルムが、半導体チップ周
囲にフィルムシワを発生させることである。そのため、
図14の拡大断面図に示すように、流入した樹脂10が
シワ15に阻止されて半導体チップ1の周囲に沿って溝
状に樹脂10の未充填部分が発生し、外観不良となる。
However, some problems have been pointed out also in the process of manufacturing the chip-exposed resin mold package. First, when the mold is clamped after the release film is sucked, the release film compressed by the semiconductor chip and the floating block mechanism causes film wrinkles around the semiconductor chip. for that reason,
As shown in the enlarged cross-sectional view of FIG. 14, the inflowing resin 10 is blocked by the wrinkles 15 and an unfilled portion of the resin 10 is formed along the periphery of the semiconductor chip 1 in a groove shape, resulting in poor appearance.

【0009】また、一括樹脂モールドパッケージを個別
樹脂モールドパッケージに分割するダイシング工程にお
いて、樹脂モールドパッケージの切断代を広くとるパッ
ケージについては2回切りを行わなくて済むようにダイ
シングブレード幅を厚くしてインデックス低下を防止し
ているが、ブレード幅が厚くなるとブレード先端が摩耗
し易くなり、その結果、ブレード先端のR形状が大きく
なって、図15の断面図に示すように、切断後の個別樹
脂モールドパッケージ19の樹脂10の断面形状が反対
方向に逆R部16となって突出し、外形不良が発生す
る。この形状不具合を防止しようとすると、ダイシング
の際、パッケージを固定しているダイシングシートの厚
みを厚くしてブレード深さを深くする必要が生じ、ダイ
シングシートが厚くなることによって大幅なコストアッ
プとなってしまう。
In the dicing step of dividing the collective resin mold package into individual resin mold packages, the width of the dicing blade is increased so that the package for which the cutting margin of the resin mold package is wide is not required to be cut twice. Although the index reduction is prevented, the blade tip is easily worn when the blade width is increased, and as a result, the R shape of the blade tip is increased, and as shown in the sectional view of FIG. The cross-sectional shape of the resin 10 of the mold package 19 protrudes in the opposite direction as an inverted R portion 16, and an external defect occurs. In order to prevent this shape defect, it is necessary to increase the thickness of the dicing sheet that fixes the package and increase the blade depth during dicing, resulting in a significant increase in cost due to the thicker dicing sheet. Would.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】上記したように、従来
のチップ露出方式パッケージの製造に使用する樹脂モー
ルド金型においては、半導体チップ露出面への樹脂バリ
の発生を押さえるために設けたリリースフィルムを金型
でクランプする際に、このリリースフィルムがシワとな
って半導体チップの周囲に押し寄せるため、このシワに
阻止されて半導体チップ周囲に樹脂未充填部分が発生
し、外観不良となるばかりでなく、パッケージの製造工
程において、一括樹脂モールドパッケージから個別樹脂
モールドパッケージをダイシングする際に、ブレード幅
が厚い場合にはブレードの摩耗によって個別樹脂モール
ドパッケージの切断面に逆R状の切り残し部が発生し、
外形寸法不良となる問題がある。
As described above, in a resin mold used for manufacturing a conventional chip exposure type package, a release film provided to suppress the generation of resin burrs on an exposed surface of a semiconductor chip. When the release film is clamped with a mold, the release film becomes wrinkled and pushes up around the semiconductor chip. In the package manufacturing process, when dicing an individual resin mold package from a collective resin mold package, if the blade width is large, an abrasion of the blade causes an inverted R-shaped uncut portion to be formed on the cut surface of the individual resin mold package. And
There is a problem that the external dimensions are defective.

【0011】本発明はこれらの問題点を解決するために
なされたもので、樹脂モールド金型の内面をリリースフ
ィルムで被覆して樹脂モールドする際に、リリースフィ
ルムにシワが生じないようにすることによって、パッケ
ージ外形を維持して製造歩留りの向上を図ることを目的
とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve these problems, and it is an object of the present invention to prevent the release film from wrinkling when the resin molding is performed by covering the inner surface of a resin mold with a release film. Accordingly, an object of the present invention is to improve the manufacturing yield while maintaining the package outer shape.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明の樹脂モールド金
型は、複数の半導体チップを縦横等間隔に配置して搭載
した基板を下金型にセットし、バネによって上下に可動
するフローティングブロックを有する上金型と基板をセ
ットした下金型との間に配置されたリリースフィルムを
フローティングブロックで半導体チップ上面に押し付け
てクランプし、半導体チップ周囲に樹脂を注入して基板
上に複数の半導体チップを一括樹脂モールドする際に半
導体チップ上面への樹脂の流入を阻止してなるチップ露
出方式の樹脂モールドパッケージの製造に使用する樹脂
モールド金型であって、金型クランプ時にリリースフィ
ルムを押し下げて引き延ばすことができるように、フロ
ーティングブロックの下面に、一括樹脂モールドされる
各半導体チップを仕切るように格子状に配置された凸状
突起を設けている。この凸状突起の高さは半導体チップ
の厚さよりも低く、幅はパッケージをダイシングで切断
する時の切断代よりも狭く形成され、また、凸状突起の
形状は、断面がV字形または山形に形成されている。
According to the present invention, there is provided a resin mold having a plurality of semiconductor chips arranged at equal intervals in the vertical and horizontal directions, a board mounted thereon, and a floating block movable up and down by a spring. A release film disposed between the upper mold having the lower mold and the substrate set thereon is pressed against the upper surface of the semiconductor chip with a floating block, clamped, and resin is injected around the semiconductor chip to form a plurality of semiconductor chips on the substrate. This is a resin mold used to manufacture a chip-exposed resin mold package that prevents the resin from flowing into the upper surface of the semiconductor chip when performing resin molding of the package, and presses down and extends the release film when clamping the mold Each semiconductor chip to be collectively resin-molded on the lower surface of the floating block The convex projections arranged in a lattice form is provided to cut. The height of the projection is lower than the thickness of the semiconductor chip, the width is formed to be narrower than the cutting allowance when the package is cut by dicing, and the shape of the projection is V-shaped or mountain-shaped in cross section. Is formed.

【0013】本発明の樹脂モールドパッケージの製造方
法は、複数の半導体チップを縦横等間隔に配置して搭載
した基板を下金型にセットし、バネによって上下に可動
するフローティングブロックを有する上金型と基板をセ
ットした下金型との間に配置されたリリースフィルムを
フローティングブロックで半導体チップ上面に押し付け
てクランプし、半導体チップ周囲に樹脂を注入して基板
上に複数の半導体チップを一括樹脂モールドする際に半
導体チップ上面への樹脂の流入を阻止してなるチップ露
出方式の樹脂モールドパッケージの製造方法であって、
フローティングブロックに凸状突起を有する樹脂モール
ド金型を使用し、一括樹脂モールドパッケージの半導体
チップ露出面と同一平面にある樹脂面に各半導体チップ
を仕切るように格子状に配置された溝を形成する方法で
ある。
The method of manufacturing a resin mold package according to the present invention is characterized in that a substrate on which a plurality of semiconductor chips are arranged at equal intervals in the vertical and horizontal directions is set in a lower die, and an upper die having a floating block movable up and down by a spring. The release film placed between the mold and the lower mold on which the board is set is pressed against the upper surface of the semiconductor chip with a floating block, clamped, resin is injected around the semiconductor chip, and multiple semiconductor chips are collectively resin-molded on the board A method of manufacturing a resin mold package of a chip exposure type, wherein a resin is prevented from flowing into the upper surface of a semiconductor chip when performing
Using a resin mold having a convex protrusion on the floating block, forming grooves arranged in a grid pattern on the resin surface on the same plane as the semiconductor chip exposed surface of the collective resin mold package so as to partition each semiconductor chip. Is the way.

【0014】また、本発明の樹脂モールドパッケージの
製造方法は、一括樹脂モールドパッケージを溝を下向き
にしてダイシングシートに載せ、ブレードを溝位置に合
わせて基板とともにダイシングを行い、個別樹脂モール
ドパッケージに分割する方法であり、ダイシングの際
は、溝幅より狭い厚さを有するブレードを用いてダイシ
ングを行い、分割された個別樹脂モールドパッケージの
樹脂部に、溝の斜面が面取り状に残るようにした方法で
ある。
Further, according to the method of manufacturing a resin mold package of the present invention, the batch resin mold package is placed on a dicing sheet with the groove facing downward, the blade is aligned with the groove, dicing is performed with the substrate, and divided into individual resin mold packages. In the case of dicing, dicing is performed using a blade having a thickness smaller than the groove width, so that the slope of the groove remains in a chamfered shape in the resin portion of the divided individual resin mold package. It is.

【0015】また、本発明の樹脂モールドパッケージの
製造方法は、溝幅より狭い厚さを有するブレードを用い
てダイシングを行う際、ブレードの切り込み深さをブレ
ード先端がダイシングシートにわずか接触する位置とす
るか、またはブレードの切り込み深さをブレード先端が
ダイシングシートからわずか離間した位置とする方法で
ある。
In the method of manufacturing a resin mold package according to the present invention, when dicing is performed using a blade having a thickness smaller than the groove width, the cutting depth of the blade is adjusted to a position where the tip of the blade is slightly in contact with the dicing sheet. Alternatively, the cutting depth of the blade is set at a position where the blade tip is slightly separated from the dicing sheet.

【0016】また、本発明の樹脂モールドパッケージの
製造方法は、一括樹脂モールドパッケージを溝を下向き
にして吸着台に載せ、ブレードを溝位置に合わせて基板
とともにダイシングを行い、ダイシングシートを用いる
ことなく個別樹脂モールドパッケージに分割する方法で
あって、ダイシングの際は、ブレードの切り込み深さを
ブレード先端が吸着台からわずか離間した位置とする方
法である。
Further, according to the method for manufacturing a resin mold package of the present invention, the batch resin mold package is placed on a suction table with the groove facing downward, the blade is aligned with the groove, and the substrate is diced, without using a dicing sheet. This is a method of dividing into individual resin mold packages, and in dicing, the cutting depth of the blade is set to a position where the tip of the blade is slightly separated from the suction table.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。図1は、本実施の形態の樹
脂モールド金型及びそれを用いた樹脂モールドパッケー
ジの製造方法を示す概略断面図で、図1(a)は金型ク
ランプ前の状態、図1(b)は金型クランプ時の状態を
示している。また、図2は図1(b)の部分拡大図であ
る。本実施の形態で対象としている樹脂モールドパッケ
ージは、半導体チップの大きさとほぼ同等の小型かつ薄
型のパッケージであって、さらに半導体チップの一面が
樹脂モールドされていない露出面を有するチップ露出方
式の樹脂モールドパッケージである。次に、このチップ
露出方式パッケージの製造方法の一例について説明す
る。なお、従来技術と同じ部品は同じ符号を用いて説明
する。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing a resin mold according to the present embodiment and a method for manufacturing a resin mold package using the same. FIG. 1A shows a state before the mold is clamped, and FIG. The state at the time of mold clamping is shown. FIG. 2 is a partially enlarged view of FIG. The resin mold package targeted in the present embodiment is a small and thin package having a size substantially equal to the size of a semiconductor chip, and furthermore, a chip-exposed resin having an exposed surface on which one surface of the semiconductor chip is not resin-molded. It is a mold package. Next, an example of a method of manufacturing the chip exposure type package will be described. Note that the same parts as those in the related art will be described using the same reference numerals.

【0018】まず、図1(a)に示すように、下金型4
に載置する半導体チップ1を搭載した基板2の構成につ
いて説明すると、回路パターンが形成されたシート状の
基板2上に、あらかじめ複数の半導体チップ1を配列し
て搭載する。この搭載は、半導体チップ1の表面側に設
けられた電極パッドと基板2の回路パターンに設けられ
た接続端子とをフェイスダウン方式で接続することによ
って行う。また、基板2上における半導体チップ1の配
列は、1列に9個並べた半導体チップ1を2列設け、計
18個を一枚の基板2上に縦横等間隔に配列したものを
用いている。
First, as shown in FIG.
The configuration of the substrate 2 on which the semiconductor chips 1 are mounted will be described. A plurality of semiconductor chips 1 are arranged and mounted in advance on a sheet-like substrate 2 on which a circuit pattern is formed. This mounting is performed by connecting the electrode pads provided on the front surface side of the semiconductor chip 1 and the connection terminals provided on the circuit pattern of the substrate 2 in a face-down manner. Also, the arrangement of the semiconductor chips 1 on the substrate 2 is such that nine semiconductor chips 1 arranged in nine rows are provided in two rows, and a total of 18 semiconductor chips 1 are arranged on a single substrate 2 at equal vertical and horizontal intervals. .

【0019】また、上金型3にはキャビティフローティ
ング方式を採用し、金型クランプ時に半導体チップ1に
かかる圧力を逃がすためにバネ6によって上下に可動す
るフローティングブロック5aを設け、このフローティ
ングブロック5aの下面には本発明の特徴である凸状突
起8が形成されている。この凸状突起8は断面形状がV
字型あるいは山型の凸状に形成され、突起先端部にはや
や丸みを持たせ、接触するリリースフィルム7を破損し
ないようにしている。また、凸状突起8は、図3のフロ
ーティングブロック5aの下面図に示すように、上記し
た基板2上に配列された18個の半導体チップ1のそれ
ぞれを仕切るように列方向3本、行方向10本を格子状
に配置している。また、凸状突起8の幅は樹脂モールド
パッケージをダイシングで切断する時の切断代よりも狭
く、かつ高さは半導体チップ1の厚さよりも低くしてい
る。このような構造を有する上金型3と下金型4の間に
リリースフィルム7を供給し、次いで半導体チップ1を
搭載した基板2を下金型4に載置する。この際、パッケ
ージ方向によってリリースフィルムは7は下金型4にも
張り付けてもよいが、ここでは上金型にのみ用いた場合
について説明する。
The upper mold 3 employs a cavity floating method, and has a floating block 5a which can be moved up and down by a spring 6 to release the pressure applied to the semiconductor chip 1 at the time of clamping the mold. On the lower surface, a convex protrusion 8 which is a feature of the present invention is formed. The cross section of this convex projection 8 is V
It is formed in the shape of a letter or a mountain, and the tip of the projection is slightly rounded so that the release film 7 in contact with the projection is not damaged. Further, as shown in the bottom view of the floating block 5a in FIG. 3, three convex protrusions 8 are provided in the column direction and the row direction so as to partition each of the 18 semiconductor chips 1 arranged on the substrate 2 described above. Ten are arranged in a grid. The width of the projection 8 is smaller than the cutting margin when the resin mold package is cut by dicing, and the height is smaller than the thickness of the semiconductor chip 1. The release film 7 is supplied between the upper mold 3 and the lower mold 4 having such a structure, and then the substrate 2 on which the semiconductor chip 1 is mounted is placed on the lower mold 4. At this time, the release film 7 may be attached to the lower mold 4 depending on the package direction, but the case where only the upper mold is used will be described here.

【0020】次に、リリースフィルム7は凸状突起8を
含むフローティングブロック5aの下面およびランナー
13の内面を含む上金型3の下面全面に沿って吸着され
張り付けられる。次いで、図1(b)に示すように、上
金型3と下金型4との間に配置されたリリースフィルム
7で半導体チップ1の露出面14(基板側と反対面)を
被覆した状態で金型クランプを行う。図2の部分拡大図
に示すように、リリースフィルム7は、まず凸状突起8
によって樹脂モールド表面積が増加したことにより全体
が引き延ばされ、従来技術において半導体チップ1上で
発生していた弛みや半導体チップ1の周囲に発生してい
たシワがなくなった状態で半導体チップ1を被覆するこ
とができる。
Next, the release film 7 is attracted and adhered along the entire lower surface of the upper mold 3 including the lower surface of the floating block 5a including the convex protrusion 8 and the inner surface of the runner 13. Next, as shown in FIG. 1B, the exposed surface 14 (the surface opposite to the substrate side) of the semiconductor chip 1 is covered with a release film 7 disposed between the upper mold 3 and the lower mold 4. Perform mold clamping with. As shown in the partially enlarged view of FIG.
As a result, the entire surface of the semiconductor chip 1 is stretched due to an increase in the surface area of the resin mold, and the semiconductor chip 1 is removed in a state where the slack generated on the semiconductor chip 1 and the wrinkles generated around the semiconductor chip 1 in the related art are eliminated. Can be coated.

【0021】金型クランプ終了後、この空間部23に樹
脂10を注入する。樹脂10は、180℃付近まで加熱
した金型で軟化され、図1(b)に示すように射出シリ
ンダ11によって加圧され、カル9、ランナー13を経
て基板2上の半導体チップ1の周囲に充填されるが、半
導体チップ1の露出面14はリリースフィルム7で被覆
されているため樹脂10の侵入が阻止され、樹脂バリの
発生は起こらない。また、半導体チップ1の周囲に発生
していたリリースフィルム7のシワがなくなるので樹脂
未充填部分がなくなり、外観不良もなくなる。
After completion of the mold clamping, the resin 10 is injected into the space 23. The resin 10 is softened by a mold heated to around 180 ° C., pressurized by an injection cylinder 11 as shown in FIG. 1 (b), passes through a cull 9, a runner 13 and surrounds the semiconductor chip 1 on the substrate 2. Although filled, the exposed surface 14 of the semiconductor chip 1 is covered with the release film 7, so that the intrusion of the resin 10 is prevented, and no resin burr occurs. Further, since the wrinkles of the release film 7 generated around the semiconductor chip 1 are eliminated, the unfilled portion of the resin is eliminated and the appearance defect is also eliminated.

【0022】また、図2に示す空間部23に注入される
樹脂には、凸状突起8のレプリカとして断面V字型ある
いは山型の溝が形成されることになる。この溝は、後で
説明するようにダイシング時に効果を発揮する。次いで
金型を開き、図4の断面図に示すように、露出面14を
有する複数の半導体チップ1が基板2上に一括して樹脂
10でモールドされた一括樹脂モールドパッケージ18
aを取り出す。この一括樹脂モールドパッケージ18a
の半導体チップ露出面14と同一平面にある樹脂10の
面には、図3で示した凸状突起8によって各半導体チッ
プ1を仕切るようにモールド樹脂部に列方向3本、行方
向10本の溝12が格子状に形成されている。次に、図
5の断面図に示すように、取り出した一括樹脂モールド
パッケージ18aの基板2の裏面(半導体チップ1が搭
載された反対面)に電極端子となる半田ボール22をマ
ウントする。半田ボール22のマウント方法について
は、各種方法が提案されているのでここでは説明を省略
する。
In the resin injected into the space 23 shown in FIG. 2, a V-shaped or mountain-shaped groove is formed as a replica of the projection 8. This groove exhibits an effect at the time of dicing as described later. Next, the mold is opened, and as shown in the sectional view of FIG. 4, a plurality of semiconductor chips 1 each having an exposed surface 14 are collectively molded on
Take out a. This batch resin mold package 18a
The surface of the resin 10 on the same plane as the semiconductor chip exposed surface 14 is formed in three rows and ten rows in the mold resin portion so that each semiconductor chip 1 is partitioned by the convex protrusions 8 shown in FIG. The grooves 12 are formed in a lattice shape. Next, as shown in the cross-sectional view of FIG. 5, a solder ball 22 serving as an electrode terminal is mounted on the back surface (the opposite surface on which the semiconductor chip 1 is mounted) of the substrate 2 of the taken-out package resin mold package 18a. Various methods for mounting the solder balls 22 have been proposed, and a description thereof will be omitted.

【0023】次に、図6の断面図に示すように、半田ボ
ール22がマウントされた面を上向きにした状態で一括
樹脂モールドパッケージ18aをダイシングシート20
に固定し、ブレード21の切断方向を溝12に合わせ、
ブレード21の先端が少なくとも溝12に達する深さま
で送り込み、半導体チップ1の周囲をモールドしている
樹脂10を溝12に沿って基板2とともにダイシング
し、図7の断面図に示すように、個々のチップ露出方式
による個別樹脂モールドパッケージ19aができ上が
る。
Next, as shown in the sectional view of FIG. 6, the package resin mold package 18a is placed on the dicing sheet 20 with the surface on which the solder balls 22 are mounted facing upward.
And the cutting direction of the blade 21 is aligned with the groove 12,
The tip of the blade 21 is fed at least to a depth reaching the groove 12, the resin 10 molding the periphery of the semiconductor chip 1 is diced along with the substrate 2 along the groove 12, and as shown in the sectional view of FIG. The individual resin mold package 19a by the chip exposure method is completed.

【0024】ダイシングの際には、溝の幅や深さ、ブレ
ードの幅や送り量、などを考慮して種々の最適条件の下
でダイシングを行うことができる。例えば、図8の断面
図に示すように、ブレード21の幅よりも溝12の幅を
広くしておけば、溝12が切断の際に発生する応力の逃
げ部となるため樹脂10のクラックの発生を低減でき
る。同時に、図7に示すように溝12の斜面17が面取
り部として残るので、ブレード21が摩耗しても従来発
生していた逆R面取り部が発生することがなくなり、ブ
レードの摩耗に影響されない個別樹脂モールドパッケー
ジ19aの樹脂10の断面を得ることができる。また、
樹脂10に溝12の跡を残したくない場合には、逆にブ
レード21の幅よりも溝12の幅を狭くし、位置精度を
考慮してダイシングを行うことによって溝12の跡の残
らない個別樹脂モールドパッケージを作ることができ
る。さらに、溝の大きさや深さをコントロールすること
によって、一括樹脂モールドパッケージを樹脂モールド
する際にパッケージにそりが発生しても、後工程におい
てパッケージを水平に押さえる際に溝が形成されている
ことによってそりの矯正がし易くなる。
At the time of dicing, dicing can be performed under various optimum conditions in consideration of the width and depth of the groove, the width and feed amount of the blade, and the like. For example, as shown in the cross-sectional view of FIG. 8, if the width of the groove 12 is made wider than the width of the blade 21, the groove 12 serves as a relief part for stress generated at the time of cutting, so that cracks in the resin 10 are reduced. Generation can be reduced. At the same time, as shown in FIG. 7, the inclined surface 17 of the groove 12 remains as a chamfered portion, so that even if the blade 21 is worn, the reverse R chamfered portion which is conventionally generated does not occur, and individual blades which are not affected by blade wear are eliminated. The cross section of the resin 10 of the resin mold package 19a can be obtained. Also,
If it is not desired to leave traces of the groove 12 on the resin 10, the width of the groove 12 is made narrower than the width of the blade 21, and dicing is performed in consideration of positional accuracy. A resin mold package can be made. In addition, by controlling the size and depth of the grooves, even if the package warps during resin molding of the package, the grooves are formed when the package is pressed horizontally in the subsequent process This makes it easier to correct the warpage.

【0025】また、溝12が形成されていることによっ
てブレード21をダイシングシート20に深く切り込む
必要がなくなるため、ダイシングシート20の薄化およ
び再利用が可能となり、さらに図8のようにブレード2
1の切り込み深さをダイシングシート20に達しない溝
の途中までとすれば、ダイシングシート20を用いる必
要がなくなるので、ダイシングシートのコストダウンが
可能となる。また、ダイシングシートを用いない場合
は、一括樹脂モールドパッケージを品種に関係なく吸着
台に固定するだけでダイシングが可能となるので、品種
ごとに固定治具を設ける必要がなくなる。
Further, the formation of the groove 12 eliminates the need to cut the blade 21 deep into the dicing sheet 20, so that the dicing sheet 20 can be thinned and reused.
If the depth of cut is set to a point in the groove that does not reach the dicing sheet 20, the dicing sheet 20 does not need to be used, so that the cost of the dicing sheet can be reduced. In addition, when a dicing sheet is not used, dicing can be performed only by fixing the collective resin mold package to the suction table irrespective of the type, so that it is not necessary to provide a fixing jig for each type.

【0026】[0026]

【発明の効果】本発明は、リリースフィルムを用いてチ
ップ露出方式の一括樹脂モールドパッケージを製造する
際の樹脂モールド金型及びその製造方法に関するもの
で、リリースフィルムを引き延ばすことができるよう
に、上金型のフローティングブロックの下面に、一括樹
脂モールドされる各半導体チップを仕切るように凸状突
起を格子状に配置して設け、また、この金型を用いて一
括樹脂モールドパッケージの半導体チップ露出面と同一
平面にある樹脂面に、各半導体チップを仕切るように格
子状に配置された溝を形成し、また、この一括樹脂モー
ルドパッケージを溝を下向きにしてダイシングシートに
固定し、あるいはダイシングシートを用いることなくブ
レードを溝位置に合わせて基板とともにダイシングを行
い、個別樹脂モールドパッケージに分割するようにした
ので、下記のような効果が得られる。
The present invention relates to a resin mold and a method for manufacturing a resin-molded package of a chip-exposed type using a release film. On the lower surface of the floating block of the mold, convex protrusions are arranged in a grid so as to partition each semiconductor chip to be collectively resin-molded. On the resin surface on the same plane as the above, grooves arranged in a lattice pattern are formed so as to partition each semiconductor chip, and this package resin mold package is fixed to a dicing sheet with the grooves facing down, or Dicing with the substrate by aligning the blade with the groove position without using Because be divided into a Kkeji, the following effects can be obtained.

【0027】リリースフィルムの弛みがなくなったの
で、リリースフィルムの潰れによってチップ周囲に発生
するシワがなくなり、この部分への樹脂の未充填がなく
なって外観不良をなくすことができる。
Since the release film is no longer slack, wrinkles generated around the chip due to the collapse of the release film are eliminated, and this portion is not filled with the resin, so that appearance defects can be eliminated.

【0028】ダイシングの際、溝幅をブレード幅よりも
小さくすることによって、分割した個別樹脂モールドパ
ッケージに溝跡が残らなくなる。また、溝幅をブレード
幅よりも大きく取ることによって、ブレードの摩耗に影
響されないパッケージ切断面を得ることができると同時
に、切断面に溝の斜面を構成することで切断時の樹脂ク
ラックを低減できる。
By making the groove width smaller than the blade width at the time of dicing, no groove mark remains on the divided individual resin mold packages. Further, by setting the groove width larger than the blade width, it is possible to obtain a package cut surface which is not affected by wear of the blade, and at the same time, it is possible to reduce resin cracks at the time of cutting by forming a slope of the groove in the cut surface. .

【0029】ブレード幅が厚くても、切断部に溝を設け
たことによってブレードを深く設定する必要がないため
ダイシングシートを薄くすることができ、コストダウン
が可能となる。また、溝を大きく(深く)することによ
り、ダイシングシートまでブレードを切り込ませずにパ
ッケージを切断することができるので、ダイシングシー
トの再利用が可能となる。
Even if the blade width is large, the dicing sheet can be made thinner because the groove is provided in the cut portion, so that the blade does not need to be set deeply, and the cost can be reduced. Also, by making the groove larger (deeper), the package can be cut without cutting the blade to the dicing sheet, so that the dicing sheet can be reused.

【0030】また、溝を大きく(深く)することによ
り、半導体チップ厚以上にブレードを切り込ます必要が
ないため、ダイシングシートを用いなくてもダイシング
が可能となり、品種ごとのパッケージ固定治具を必要と
しなくなってコストダウンが可能となる。
Further, by making the groove large (deep), it is not necessary to cut the blade more than the thickness of the semiconductor chip, so that dicing can be performed without using a dicing sheet. It is no longer necessary and cost can be reduced.

【0031】また、溝の大きさ、深さをコントロールす
ることによって、樹脂モールド時に発生したパッケージ
のそりを後工程において水平に矯正することが容易とな
る。
Further, by controlling the size and depth of the groove, it becomes easy to straighten the package warpage generated during the resin molding in a later step.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の樹脂モールド金型及びこの金型を用い
たパッケージの製造方法の実施の形態を示す概略断面図
で、同図(a)は金型クランプ前、同図(b)は金型ク
ランプ時の状態を示す。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an embodiment of a resin mold according to the present invention and a method of manufacturing a package using the mold, wherein FIG. 1 (a) is before a mold clamp, and FIG. The state at the time of mold clamping is shown.

【図2】図1(b)の拡大断面図である。FIG. 2 is an enlarged sectional view of FIG. 1 (b).

【図3】本発明の樹脂モールド金型の実施の形態を示す
フローティングブロックの下面図である。
FIG. 3 is a bottom view of a floating block showing an embodiment of a resin mold according to the present invention.

【図4】本発明の樹脂モールド金型を用いて成形した一
括樹脂モールドパッケージの断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view of a batch resin mold package molded using the resin mold of the present invention.

【図5】図4に示す一括樹脂モールドパッケージに半田
ボールをマウントした断面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view in which solder balls are mounted on the collective resin mold package shown in FIG.

【図6】本発明の樹脂モールド金型を用いて成形された
一括樹脂モールドパッケージをダイシングする状態を示
す断面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view showing a state in which a batch resin mold package formed using the resin mold of the present invention is diced.

【図7】図7に示す一括樹脂モールドパッケージをダイ
シングによって分割した個別樹脂モールドパッケージの
断面図である。
FIG. 7 is a cross-sectional view of an individual resin mold package obtained by dividing the collective resin mold package shown in FIG. 7 by dicing.

【図8】本発明のパッケージの製造方法における実施の
形態を説明する断面図である。
FIG. 8 is a cross-sectional view illustrating an embodiment of a package manufacturing method according to the present invention.

【図9】従来のチップ露出方式の樹脂モールド金型及び
この金型を用いたパッケージの製造方法を示す断面図
で、同図(a)は金型クランプ前、同図(b)は金型ク
ランプ時の状態を示している。
FIGS. 9A and 9B are cross-sectional views illustrating a conventional chip-exposed resin mold and a method of manufacturing a package using the mold, wherein FIG. 9A is a view before a mold is clamped, and FIG. The state at the time of clamping is shown.

【図10】従来の樹脂モールド金型を用いて成形した一
括樹脂モールドパッケージの断面図である。
FIG. 10 is a cross-sectional view of a batch resin mold package formed using a conventional resin mold.

【図11】図10に示す一括樹脂モールドパッケージに
半田ボールをマウントした断面図である。
FIG. 11 is a cross-sectional view of a package resin mold package shown in FIG. 10 on which solder balls are mounted.

【図12】従来の樹脂モールド金型を用いて成形された
一括樹脂モールドパッケージをダイシングする状態を示
す断面図である。
FIG. 12 is a cross-sectional view showing a state of dicing a batch resin mold package formed using a conventional resin mold.

【図13】図12に示す一括樹脂モールドパッケージを
ダイシングによって分割した個別樹脂モールドパッケー
ジの一般的な形状を示す断面図である。
13 is a cross-sectional view showing a general shape of an individual resin mold package obtained by dividing the collective resin mold package shown in FIG. 12 by dicing.

【図14】従来の問題点を説明する金型クランプ時にお
ける部分拡大断面図である。
FIG. 14 is a partially enlarged cross-sectional view illustrating a conventional problem during mold clamping.

【図15】従来の問題点を説明する個別樹脂モールドパ
ッケージの断面図である。
FIG. 15 is a sectional view of an individual resin mold package for explaining a conventional problem.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体チップ 2 基板 3 上金型 4 下金型 5、5a フローティングブロック 6 バネ 7 リリースフィルム 8 凸状突起 9 カル 10 樹脂 11 射出シリンダ 12 溝 13 ランナー 14 露出面 15 シワ 16 逆R部 17 斜面 18、18a 一括樹脂モールドパッケージ 19、19a 個別樹脂モールドパッケージ 20 ダイシングシート 21 ブレード 22 半田ボール 23 空間部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Semiconductor chip 2 Substrate 3 Upper mold 4 Lower mold 5, 5a Floating block 6 Spring 7 Release film 8 Convex projection 9 Cal 10 Resin 11 Injection cylinder 12 Groove 13 Runner 14 Exposed surface 15 Wrinkle 16 Reverse R part 17 Slope 18 , 18a Bulk resin mold package 19, 19a Individual resin mold package 20 Dicing sheet 21 Blade 22 Solder ball 23 Space

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) B29K 105:22 B29K 105:22 B29L 9:00 B29L 9:00 31:34 31:34 Fターム(参考) 4F202 AD03 AD05 AD08 AD35 AG03 AH37 AR12 CA11 CB01 CB12 CB13 CB17 CB20 CK52 CK75 CL02 CQ01 CQ03 CQ07 4F206 AD03 AD05 AD08 AD35 AG03 AH37 AR12 JA01 JA07 JB12 JB13 JB17 JB20 JF05 JL02 JM04 JN11 JN32 JQ81 JW23 JW24 5F061 AA01 BA03 CA21 DA01 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) B29K 105: 22 B29K 105: 22 B29L 9:00 B29L 9:00 31:34 31:34 F term (reference) 4F202 AD03 AD05 AD08 AD35 AG03 AH37 AR12 CA11 CB01 CB12 CB13 CB17 CB20 CK52 CK75 CL02 CQ01 CQ03 CQ07 4F206 AD03 AD05 AD08 AD35 AG03 AH37 AR12 JA01 JA07 JB12 JB13 JB17 JB20 JF23 J01 JN02 JM03 J01

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の半導体チップを縦横等間隔に配置
して搭載した基板を下金型にセットし、バネによって上
下に可動するフローティングブロックを有する上金型と
基板をセットした下金型との間に配置されたリリースフ
ィルムをフローティングブロックで半導体チップ上面に
押し付けてクランプし、半導体チップ周囲に樹脂を注入
して基板上に複数の半導体チップを一括樹脂モールドす
る際に半導体チップ上面への樹脂の流入を阻止してなる
チップ露出方式の樹脂モールドパッケージの製造に使用
する樹脂モールド金型において、前記フローティングブ
ロックの下面に、一括樹脂モールドされる各半導体チッ
プを仕切るように格子状に配置された凸状突起を設け、
金型クランプ時にリリースフィルムを押し下げて引き延
ばすことを特徴とする樹脂モールド金型。
1. A substrate on which a plurality of semiconductor chips are arranged at equal intervals in the vertical and horizontal directions is set in a lower die, and an upper die having a floating block movable up and down by a spring and a lower die on which the substrate is set. The release film placed between them is pressed against the upper surface of the semiconductor chip with a floating block and clamped, and resin is injected around the semiconductor chip and resin is applied to the upper surface of the semiconductor chip when multiple semiconductor chips are collectively resin-molded on the board. In a resin mold used for manufacturing a chip-exposed resin mold package that prevents inflow of semiconductor chips, a plurality of semiconductor chips to be collectively resin-molded are arranged in a grid on the lower surface of the floating block. Provide convex protrusions,
A resin mold, characterized in that the release film is pushed down and stretched during mold clamping.
【請求項2】 前記凸状突起の高さは半導体チップの厚
さよりも低く、幅はパッケージをダイシングで切断する
時の切断代よりも狭く形成されていることを特徴とする
請求項1記載の樹脂モールド金型。
2. The semiconductor device according to claim 1, wherein a height of the projection is smaller than a thickness of the semiconductor chip, and a width of the projection is smaller than a cutting margin when the package is cut by dicing. Resin mold.
【請求項3】 前記凸状突起の形状は、断面がV字形ま
たは山形に形成されていることを特徴とする請求項1ま
たは請求項2記載の樹脂モールド金型。
3. The resin mold according to claim 1, wherein the convex protrusion has a V-shaped or mountain-shaped cross section.
【請求項4】 複数の半導体チップを縦横等間隔に配置
して搭載した基板を下金型にセットし、バネによって上
下に可動するフローティングブロックを有する上金型と
基板をセットした下金型との間に配置されたリリースフ
ィルムをフローティングブロックで半導体チップ上面に
押し付けてクランプし、半導体チップ周囲に樹脂を注入
して基板上に複数の半導体チップを一括樹脂モールドす
る際に半導体チップ上面への樹脂の流入を阻止してなる
チップ露出方式の樹脂モールドパッケージの製造方法に
おいて、前記フローティングブロックに凸状突起を有す
る樹脂モールド金型を使用し、前記一括樹脂モールドパ
ッケージの半導体チップ露出面と同一平面にある樹脂面
に各半導体チップを仕切るように格子状に配置された溝
を形成することを特徴とする樹脂モールドパッケージの
製造方法。
4. A substrate on which a plurality of semiconductor chips are arranged at equal intervals vertically and horizontally is set in a lower die, and an upper die having a floating block movable up and down by a spring and a lower die on which the substrate is set. The release film placed between them is pressed against the upper surface of the semiconductor chip with a floating block and clamped, and resin is injected around the semiconductor chip and resin is applied to the upper surface of the semiconductor chip when multiple semiconductor chips are collectively resin-molded on the board. In the method of manufacturing a chip-exposed type resin mold package in which the inflow of a semiconductor chip is prevented, a resin mold having a convex protrusion on the floating block is used, and is flush with a semiconductor chip exposed surface of the package resin mold package. A special feature is to form grooves arranged in a grid on a certain resin surface to partition each semiconductor chip. A method of manufacturing a resin mold package.
【請求項5】 前記一括樹脂モールドパッケージを個片
分離する際、ダイシングシートと呼ばれるシートに一括
樹脂モールドパッケージの溝部を下向きにして固定し、
一括樹脂モールドパッケージを個片に分離するためのブ
レードと呼ばれる刃物で溝部に合わせて基板とともにダ
イシング切断を行い、個別樹脂モールドパッケージに分
割することを特徴とする樹脂モールドパッケージの製造
方法。
5. When separating the package resin mold package into individual pieces, the package resin mold package is fixed to a sheet called a dicing sheet with the groove of the package resin mold package facing downward,
A method for manufacturing a resin mold package, comprising: performing dicing and cutting along with a substrate in accordance with a groove with a blade called a blade for separating the collective resin mold package into individual pieces; and dividing the package into individual resin mold packages.
【請求項6】 前記ダイシングの際は、溝幅より狭い厚
さを有するブレードを用いてダイシングを行うことを特
徴とする請求項5記載の樹脂モールドパッケージの製造
方法。
6. The method according to claim 5, wherein the dicing is performed using a blade having a thickness smaller than a groove width.
【請求項7】 前記ダイシングによって分割された個別
樹脂モールドパッケージの樹脂部に、溝の斜面が面取り
状に残ることを特徴とする請求項5または請求項6記載
の樹脂モールドパッケージの製造方法。
7. The method for manufacturing a resin mold package according to claim 5, wherein a slope of the groove is left in a chamfered shape in a resin portion of the individual resin mold package divided by the dicing.
【請求項8】 前記ダイシングの際は、ブレードの切り
込み深さをブレード先端がダイシングシートにわずか接
触する位置とすることを特徴とする請求項5記載の樹脂
モールドパッケージの製造方法。
8. The method for manufacturing a resin mold package according to claim 5, wherein, during the dicing, the cutting depth of the blade is set at a position where the tip of the blade slightly contacts the dicing sheet.
【請求項9】 前記ダイシングの際は、ブレードの切り
込み深さをブレード先端がダイシングシートからわずか
離間した位置とすることを特徴とする請求項5記載の樹
脂モールドパッケージの製造方法。
9. The method for manufacturing a resin mold package according to claim 5, wherein, at the time of dicing, the cutting depth of the blade is set at a position where the tip of the blade is slightly separated from the dicing sheet.
【請求項10】 前記一括樹脂モールドパッケージを溝
を下向きにして吸着台に載せ、ブレードを溝位置に合わ
せて基板とともにダイシングを行い、ダイシングシート
を用いることなく個別樹脂モールドパッケージに分割す
ることを特徴とする樹脂モールドパッケージの製造方
法。
10. The package resin mold package is mounted on a suction table with a groove facing down, a blade is aligned with the groove, dicing is performed with the substrate, and the package is divided into individual resin mold packages without using a dicing sheet. Manufacturing method of a resin mold package.
【請求項11】 前記ダイシングの際は、ブレードの切
り込み深さをブレード先端が吸着台からわずか離間した
位置とすることを特徴とする請求項10記載の樹脂モー
ルドパッケージの製造方法。
11. The method for manufacturing a resin mold package according to claim 10, wherein, during the dicing, the cutting depth of the blade is set at a position where the tip of the blade is slightly separated from the suction table.
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