JP2002246441A - Wafer transfer device - Google Patents

Wafer transfer device

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JP2002246441A JP2001180663A JP2001180663A JP2002246441A JP 2002246441 A JP2002246441 A JP 2002246441A JP 2001180663 A JP2001180663 A JP 2001180663A JP 2001180663 A JP2001180663 A JP 2001180663A JP 2002246441 A JP2002246441 A JP 2002246441A
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育志 谷山
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光夫 夏目
Yasuyoshi Kitazawa
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a wafer transfer device, where cleaning in the device can be improved. SOLUTION: The wafer transfer device 10 has an opener 20 and a loader 30. The opener 20 is provided with an elevating box 22. The elevating box 22 has a support stand 28 on which an SMIF pod 200 is placed. An exhaust fan 29 is arranged below the elevating box 22. The elevating box 22 forms a small space and air in the small space is discharged by the exhaust fan 29. Air cleaned by a cleaning fan 46 generates flow passing in the elevating box 22. Even if the elevating box 22 rises, capacity in the elevating box 22 does not change. Thus, the flow of cleaned air is generated in the elevating box 22.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、SMIFポッドの
ウェハカセットを搬送することにより、ウェハの搬送を
行うウェハ搬送装置に関する。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a wafer transfer apparatus for transferring a wafer by transferring a wafer cassette of an SMIF pod.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体の製造工程においては、歩留まり
を向上させるため、素子欠陥の原因となる塵埃を管理し
たクリーンルーム内でウェハを処理している。しかし、
素子の高集積化および回路の微細化が進んでいる今日、
小さな塵を管理するクリーンルームの実現は、技術的或
いはコスト的に困難になってきているのが実情である。
2. Description of the Related Art In a semiconductor manufacturing process, a wafer is processed in a clean room in which dust causing element defects is controlled in order to improve the yield. But,
In today's high integration of elements and miniaturization of circuits,
The reality is that it is becoming technically and costly difficult to realize a clean room for managing small dust.

【0003】このため、クリーンルームのクリーン度向
上に代わる方法として、ウェハを取り囲む局所的な空間
のみクリーン度を上げて、ウェハの搬送および処理を行
う技術的手段が求められている。そして、そのための手
段として、内部がクリーンに保たれた開閉可能なSMI
F(標準メカニカルインターフェース)(Standard Mec
hanical InterFace) ポッドを利用したウェハ搬送装置
が提供されている。
[0003] Therefore, as a method for improving the cleanliness of the clean room, there is a demand for a technical means for increasing the cleanliness only in a local space surrounding the wafer, and carrying and processing the wafer. As a means for that, an openable and closable SMI with a clean inside
F (Standard mechanical interface)
hanical InterFace) A wafer transfer device using a pod is provided.

【0004】このウェハ搬送装置の構造について、図2
7ないし図29を参照しつつ説明する。図27はクリー
ンルーム1000内の配置図、図28はウェハ搬送装置
の斜視図、図29はSMIFポッドの断面図である。図
27に示すように、ウェハ搬送装置100は、SMIF
ポッド200からウェハカセット203を取り出した
り、収容したりするオープナ110と、取り出したウェ
ハカセット203を半導体製造装置300に搬送した
り、ウェハカセット203を半導体製造装置300から
オープナ110に搬送したりするローダ120とを備え
ている。また、それぞれの製造工程における装置の配置
は、図27に示す如く、作業通路側から見て、オープナ
110、ローダ120および半導体製造装置300の順
に配置されている。
FIG. 2 shows the structure of the wafer transfer apparatus.
This will be described with reference to FIGS. FIG. 27 is a layout view in the clean room 1000, FIG. 28 is a perspective view of the wafer transfer device, and FIG. 29 is a sectional view of the SMIF pod. As shown in FIG. 27, the wafer transfer device 100
An opener 110 for taking out or housing the wafer cassette 203 from the pod 200; and a loader for carrying the taken-out wafer cassette 203 to the semiconductor manufacturing apparatus 300, and for carrying the wafer cassette 203 from the semiconductor manufacturing apparatus 300 to the opener 110. 120. Further, as shown in FIG. 27, the arrangement of the devices in each manufacturing process is such that the opener 110, the loader 120, and the semiconductor manufacturing device 300 are arranged in this order when viewed from the work passage side.

【0005】半導体製造装置300は、例えば半導体露
光装置、エッチング処理装置、或いは熱処理装置等であ
る。そして、ウェハ搬送装置100および半導体製造装
置300は、図27に示すように、装置間に作業通路を
確保した状態で、クリーンルーム1000内に配置され
ている。
[0005] The semiconductor manufacturing apparatus 300 is, for example, a semiconductor exposure apparatus, an etching processing apparatus, or a heat treatment apparatus. Then, as shown in FIG. 27, the wafer transfer device 100 and the semiconductor manufacturing device 300 are arranged in a clean room 1000 with a work passage secured between the devices.

【0006】SMIFポッド200は、図29(a)に
示すように、下側が開口部201Aとなったカバー20
1と、開口部を施蓋する底板202と、この底板202
上に一体的に着脱可能に形成され、複数枚のウェハ20
4(φ200:8インチ)が支持されるウェハカセット
203とを有する。このSMIFポッド200は、図2
9(b)に示すように、底板202に載置したウェハカ
セット203を、カバー201の開口部201Aから挿
入して底板202で開口部201Aを施蓋する。これに
より、SMIFポッド200内部が密閉状態となる。
As shown in FIG. 29A, the SMIF pod 200 has a cover 20 having an opening 201A on the lower side.
1, a bottom plate 202 for covering the opening, and this bottom plate 202
A plurality of wafers 20 are formed integrally and detachably on the
4 (φ200: 8 inches). This SMIF pod 200 is shown in FIG.
As shown in FIG. 9B, the wafer cassette 203 placed on the bottom plate 202 is inserted from the opening 201A of the cover 201, and the opening 201A is covered with the bottom plate 202. As a result, the inside of the SMIF pod 200 is closed.

【0007】図28に示すように、オープナ110は、
その筐体112の上板が載置台111となっている。こ
の載置台111の所定位置には、SMIFポッド200
が載置される載置部が設けられている。オープナ110
は、この載置部に載置されたSMIFポッド200の底
板202のラッチキーを移動させて開口部201Aを開
口させる機構を有している。また、オープナ110は、
この開口部201Aを介してSMIFポッド200から
ウェハカセット203を取り出し、降下させる昇降機構
を有している。
[0007] As shown in FIG.
The upper plate of the housing 112 is the mounting table 111. At a predetermined position of the mounting table 111, the SMIF pod 200
Is provided. Opener 110
Has a mechanism for moving the latch key of the bottom plate 202 of the SMIF pod 200 mounted on the mounting portion to open the opening 201A. Also, the opener 110
An elevating mechanism for taking out the wafer cassette 203 from the SMIF pod 200 through the opening 201A and lowering the same is provided.

【0008】ローダ120は、オープナ110によって
取り出されたウェハカセット203を受け取り、このウ
ェハカセット203を半導体製造装置300のカセット
受け入れ部に供給したり、ウェハカセット203を半導
体製造装置300のカセット受け入れ部から取り出し、
オープナ110へ供給したりする機構を有している。
[0008] The loader 120 receives the wafer cassette 203 taken out by the opener 110 and supplies the wafer cassette 203 to the cassette receiving portion of the semiconductor manufacturing apparatus 300 or the wafer cassette 203 from the cassette receiving section of the semiconductor manufacturing apparatus 300. take out,
It has a mechanism for supplying to the opener 110.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来のウェハ搬送装置100におけるオープナ110は、
ウェハカセット203を下降させ、クリーンルーム10
00の床面近くの低いところでローダ120にウェハカ
セット203を引き渡す。そして、ローダ120は、こ
のウェハカセット230を上昇させて半導体製造装置の
カセット受け入れ部に供給していた。このため、ウェハ
カセット230に支持されたウェハ204がクリーンル
ーム1000の床面近くのクリーン度の低い空気に触れ
てしまうというリスクがあると共に、またウェアカセッ
ト203の上昇、下降に時間が掛かる、という問題があ
った。
The opener 110 in the above-described conventional wafer transfer device 100 is
The wafer cassette 203 is lowered to clean room 10
00, the wafer cassette 203 is delivered to the loader 120 at a low position near the floor. Then, the loader 120 raises the wafer cassette 230 and supplies the wafer cassette 230 to the cassette receiving section of the semiconductor manufacturing apparatus. Therefore, there is a risk that the wafer 204 supported by the wafer cassette 230 may come into contact with low-clean air near the floor of the clean room 1000, and that it takes time to raise and lower the wear cassette 203. was there.

【0010】本発明は、以上の問題に鑑みてなされたも
のであり、装置内のクリーン度を高めると共に、ウェハ
カセットを迅速に移動させることのできるウェハ搬送装
置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in consideration of the above problems, and has as its object to provide a wafer transfer apparatus capable of increasing the cleanliness of the apparatus and quickly moving a wafer cassette.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明によるウェハ搬送装置は、ウェハを支持した
ウェハカセットが載置される底板及びこの底板を覆って
ウェハカセットを外気から遮断するカバーとからなるカ
セット保持容器に対し、該ウェハカセットを開放または
収容させるオープナと、前記オープナによってカセット
保持容器から前記カッセトウェハが開放された場合に前
記カセット収容容器と半導体製造装置のカセット受け入
れ部との間で、前記ウェハカセットを搬送するローダと
を備え、前記オープナは、前記カセット保持容器の底板
を固定する底板固定部を有し、当該カセット保持容器を
下方から支持する支持台と、上面に前記カセット保持容
器の底板が通過し得る底板通過用開口部及びこの底板通
過用開口部の周囲にあって前記カバーを下方から支持す
るカバー支持部を有すると共に、側面にカセット通過用
開口部を有し、前記ウェハカセットの載せられた支持台
を囲んだ状態で上下動可能な昇降ボックスと、前記昇降
ボックスを上下動させる昇降ボックス駆動機構とを具備
し、前記ローダは、前記昇降ボックス駆動機構によって
前記昇降ボックスが上昇駆動され、前記カセット通過用
開口部が所定取り出し位置に至ったとき、前記支持台と
前記カセット受け入れ部との間でウェハカセットを搬送
するローディング機構を具備したことを特徴としてい
る。
In order to solve the above-mentioned problems, a wafer transfer apparatus according to the present invention comprises a bottom plate on which a wafer cassette supporting a wafer is placed, and a cover for covering the bottom plate and shielding the wafer cassette from the outside air. An opener for opening or housing the wafer cassette with respect to a cassette holding container comprising: a cassette holding container and a cassette receiving portion of a semiconductor manufacturing apparatus when the cassette wafer is opened from the cassette holding container by the opener; A loader that transports the wafer cassette, the opener has a bottom plate fixing portion that fixes a bottom plate of the cassette holding container, a support table that supports the cassette holding container from below, and the cassette on an upper surface. A bottom plate passage opening through which the bottom plate of the holding container can pass and around the bottom plate passage opening A cover supporting portion for supporting the cover from below, a cassette passage opening on the side surface, a vertically movable box that can move up and down in a state surrounding the support table on which the wafer cassette is mounted, and An elevating box drive mechanism for moving the elevating box up and down, wherein the loader is driven up by the elevating box drive mechanism, and when the cassette passage opening reaches a predetermined take-out position, the loader is supported. A loading mechanism for transporting a wafer cassette between a table and the cassette receiving section is provided.

【0012】上記構成において、前記昇降ボックス駆動
機構をオープナ内に配置することを特徴としている。
The above structure is characterized in that the lifting box drive mechanism is arranged in an opener.

【0013】上記構成において、前記ローダの筐体の上
面に、該ローダの筐体の内部に清浄空気を供給する給気
手段を設け、前記昇降ボックスの底面に、前記給気手段
によって筐体内部に供給され、前記カセット通過用開口
部を介して前記昇降ボックス内に導入された清浄空気を
前記昇降ボックスの外へ排気する排気手段を設けること
を特徴としている。
In the above construction, an air supply means for supplying clean air to the inside of the loader housing is provided on the upper surface of the housing of the loader, and the air supply means is provided on the bottom surface of the lift box by the air supply means. And an exhaust means for exhausting the clean air supplied into the elevating box through the cassette passage opening to the outside of the elevating box.

【0014】上記構成において、前記ローダは、前記半
導体製造装置においてカセット受け入れ部のある前面部
に面して配置され、前記オープナは、前記前面部に向か
って前記ローダの右側、左側または左右両側に配置され
ることを特徴としている。
In the above structure, the loader is disposed facing a front surface having a cassette receiving portion in the semiconductor manufacturing apparatus, and the opener is disposed on a right side, a left side, or both right and left sides of the loader toward the front surface. It is characterized by being arranged.

【0015】上記構成において、前記ローディング機構
は、把持したウェハカセットを水平方向に移動させるア
ーム機構を具備することを特徴としている。
In the above structure, the loading mechanism includes an arm mechanism for horizontally moving the gripped wafer cassette.

【0016】上記構成において、前記オープナの空気通
路と前記ローダの空気通路とを連通すべく、前記底板固
定部との間に空気用開口部を形成する遮蔽板を設けるこ
とを特徴としている。
In the above-mentioned structure, a shielding plate for forming an air opening is provided between the opener and the loader in order to communicate the air passage of the opener with the air passage of the loader.

【0017】上記構成において、前記オープナおよび前
記ローダの空気通路を連通すべく、前記底板固定部との
間に空気用開口部を形成する遮蔽板を前記空気通路の下
側に設け、前記昇降ボックスが下側にあって前記カバー
によって前記ウェハカセットが覆われている場合には、
前記空気用開口部と前記カセット通過用開口部とが連通
することにより前記底板固定部の下側に形成される下側
空気通路によって前記ローダ側から昇降ボックス内に清
浄空気を流し、前記昇降ボックスが上側に移動する状態
にあって前記カバーから前記ウェハカセットが開放され
る場合には、前記下側空気通路、前記カセット通過用開
口部によって前記底板固定部の上側に形成される上側空
気通路によって前記ローダから昇降ボックス内に清浄空
気を流し、前記昇降ボックスが上側に移動して前記カセ
ット通過用開口部が水平方向に現れた場合には、前記下
側空気通路が遮蔽されて前記上側空気通路によって前記
ローダから昇降ボックス内に清浄空気を流すことを特徴
としている。
In the above structure, a shielding plate forming an air opening between the opener and the bottom plate fixing portion is provided below the air passage so as to communicate the air passage of the opener and the loader. Is on the lower side and the wafer cassette is covered by the cover,
When the air opening and the cassette passage opening communicate with each other, clean air flows from the loader side into the lift box through a lower air passage formed below the bottom plate fixing part, and the lift box When the wafer cassette is opened from the cover while moving upward, the lower air passage is formed by an upper air passage formed above the bottom plate fixing portion by the cassette passage opening. When clean air flows from the loader into the lift box, and the lift box moves upward and the cassette passage opening appears in the horizontal direction, the lower air passage is blocked and the upper air passage is blocked. Thus, clean air flows from the loader into the lifting box.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態について説明する。 A.実施形態の構成 まず、本発明の一実施形態に係るウェハ搬送装置10を
添付図面に基づいて説明する。図1はクリーンルーム1
000内の配置図、図2はウェハ搬送装置の斜視図、図
3はオープナ20およびローダ30の一部を示す断面図
である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. A. First, a wafer transfer device 10 according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. Figure 1 shows a clean room 1
000, FIG. 2 is a perspective view of the wafer transfer device, and FIG. 3 is a sectional view showing a part of the opener 20 and the loader 30.

【0019】ウェハ搬送装置10は、SMIFポッド2
00からウェハカセット203を取り出したり、収納し
たりするオープナ20と、取り出したウェハカセット2
03を半導体製造装置300のカセット受け入れ部30
1(図15および13参照)に搬送したり、カセット受
け入れ部301から取り出したウェハカセット203を
オープナ20に搬送したりするローダ30とを備えてい
る。また、それぞれの製造工程では、図1に示す如く、
作業通路側から見た場合に、ローダ30は半導体製造装
置300の手前に配置されており、オープナ20は、こ
のローダ30の右側に配置されている。
The wafer transfer device 10 includes a SMIF pod 2
00, an opener 20 for taking out or storing the wafer cassette 203, and a wafer cassette 2 taken out.
03 is the cassette receiving section 30 of the semiconductor manufacturing apparatus 300.
1 (see FIGS. 15 and 13) and a loader 30 for transporting the wafer cassette 203 taken out of the cassette receiving portion 301 to the opener 20. In each manufacturing process, as shown in FIG.
When viewed from the work passage side, the loader 30 is disposed in front of the semiconductor manufacturing apparatus 300, and the opener 20 is disposed on the right side of the loader 30.

【0020】図3に示すように、オープナ20は、筐体
21内に収容される昇降ボックス22を有する。この昇
降ボックス22は、外側箱体23Aおよび内側箱体23
Bよって構成され、ボックス本体23内に小空間が形成
される。外側箱体23Aの開口部側面23A1には、ロ
ーダ30側に開口するカセット通過用開口部23Cが形
成される。この昇降ボックス22の上板にはSMIFポ
ッド200の底板202が通過する底板通過用開口部2
4が形成され、この底板通過用開口部24の周囲がSM
IFポッド200のカバー201を下側から支持するカ
バー支持部25となっている。上板の端部にはローダ3
0の開口部31Aを介して筐体31の側面内側に重なる
舌片26が形成されている。また、この筐体21の外側
にはボックス昇降機構27(図9に図示)が設けられ
る。筐体21の高さ寸法は、作業者がSMIFポッド2
00を置き易い高さ(例えば、約90cm)よりも低い
高さ寸法(例えば、45cm)となっている。また、ボ
ックス本体23の内側箱体23Bの面のうち、少なくと
も開口部側面23A1に対向する側面23B1には、図
4に示すように、下側に向いた複数のフィン23Dを備
えた挿通孔23Eが幅方向に複数個穿設されている。こ
れらの挿通孔23Eは、内側箱体23B内の空気を外側
箱体23Bとの間の空間に排出し、この際フィン23D
によって空気の流れを下側に向かせる。
As shown in FIG. 3, the opener 20 has a lifting box 22 housed in a housing 21. The lifting box 22 includes an outer box 23A and an inner box 23.
B, and a small space is formed in the box main body 23. A cassette passage opening 23C that opens toward the loader 30 is formed on the opening side surface 23A1 of the outer box 23A. The upper plate of the lifting box 22 has a bottom plate passage opening 2 through which the bottom plate 202 of the SMIF pod 200 passes.
4 are formed, and the periphery of the bottom plate passage opening 24 is SM
The cover support portion 25 supports the cover 201 of the IF pod 200 from below. Loader 3 at the end of the upper plate
A tongue piece 26 is formed so as to overlap the inside of the side surface of the housing 31 via the opening 31A. A box elevating mechanism 27 (shown in FIG. 9) is provided outside the housing 21. The height of the housing 21 is determined by the operator using the SMIF pod 2.
The height dimension (for example, 45 cm) is lower than the height (for example, about 90 cm) at which 00 is easily placed. Further, among the surfaces of the inner box body 23B of the box main body 23, at least a side surface 23B1 facing the opening side surface 23A1 has an insertion hole 23E provided with a plurality of fins 23D facing downward as shown in FIG. Are provided in the width direction. These insertion holes 23E discharge the air in the inner box 23B into the space between the outer box 23B and the fins 23D.
Directs the flow of air downward.

【0021】さらに、筐体21内には支持台28が配置
されている。この支持台28は、起端が固定され、先端
が底板通過用開口部24近傍に向けて伸びる支柱28A
と、この支柱28Aの先端に形成され、底板202を固
定する底板固定部28Bとを備えている。この支柱28
Aの側面には長さ方向に延びるガイド溝28Cが形成さ
れている。一方、昇降ボックス22の底板には、この昇
降ボックス22内の空気を筐体21内に排出する排気フ
ァン29が設けられている。そして、この昇降ボックス
22は、ボックス昇降機構27によって、支持台28を
囲んだ状態で上下動させられる。
Further, a support 28 is arranged in the housing 21. The support base 28 has a starting end fixed, and a front end extending toward the vicinity of the bottom plate passage opening 24.
And a bottom plate fixing portion 28B formed at the tip of the support 28A and fixing the bottom plate 202. This support 28
A guide groove 28C extending in the length direction is formed on the side surface of A. On the other hand, on the bottom plate of the lifting box 22, an exhaust fan 29 for discharging the air in the lifting box 22 into the housing 21 is provided. The elevating box 22 is moved up and down by the box elevating mechanism 27 while surrounding the support base 28.

【0022】ここで、ボックス昇降機構27の構造を、
図5ないし図7を参照しつつ説明する。図5は図3中の
ボックス昇降機構27を示す要部拡大図、図6は図5中
の矢視E−E方向から見た断面図、図7は図5中の矢視
F−F方向から見た各部の配置を示す断面図である。ボ
ックス昇降機構27は、駆動軸272、駆動モータ27
4および昇降部275を備えて構成されている。駆動軸
272は、両端が軸受271,271によって支柱28
Aとほぼ平行に回転可能に支持され、その周面には雄ね
じ部272Aが刻設され、起端側にはプーリ272Bが
固定されている。駆動モータ274は、図6に示すよう
に、その回転軸274Aにプーリ274Aが固定され、
このプーリ274Aと駆動軸272のプーリ272Bと
の間にVベルト273を巻回させる。これにより、駆動
軸272が回転軸274Aに連結される。そして、駆動
モータ274の回転軸274Aが、その回転力を駆動軸
272に伝達する。昇降部275は、昇降ボックス22
の外側箱体23Aと内側箱体23Bとの間に固定され、
駆動軸272の雄ねじ部272Aに螺合される雌ねじ部
275Aが穿設される。そして、駆動軸272が回転す
るときに雄ねじ部272Aが雌ねじ部275Aにねじ込
まれる動作を利用して、駆動軸272Aの回転により昇
降部275は昇降させる。これにより、昇降ボックス2
2が昇降させることになる。なお、雄ねじ部272Aと
雌ねじ部275Aとの間の摩擦力を低減するために、昇
降部275内に、複数のボールが配置される循環路を形
成してボールネジの構造としてよい。さらに、駆動軸2
72および昇降部275は、外部に露出しないように、
図示しない密閉部材で覆われている。ガイド部276
は、支持台28の支柱28Aのガイド溝28Bに係合さ
せることにより、駆動軸272の回転によって昇降ボッ
クス22に生じる回転を規制する。このガイド部276
は、昇降ボックス22の昇降に伴って、支柱28のガイ
ド溝28Bを摺動しつつ昇降する。また、ボックス昇降
機構27の各部は、図8に示すように、オープナ20の
デッドスペースに配置されている。しかも、駆動モータ
274、Vベルト273および昇降部275等は、昇降
ボックス22の内側箱体23B外に位置する。このた
め、これらの動作によって発生する塵が内側箱体23B
内に侵入するのを防止して清浄空気が汚れるのを低減す
る。
Here, the structure of the box elevating mechanism 27 is as follows.
This will be described with reference to FIGS. 5 is an enlarged view of a main part of the box elevating mechanism 27 in FIG. 3, FIG. 6 is a cross-sectional view as seen from the direction of arrows EE in FIG. 5, and FIG. 7 is a direction of arrows FF in FIG. It is sectional drawing which shows arrangement | positioning of each part seen from FIG. The box elevating mechanism 27 includes a drive shaft 272, a drive motor 27
4 and an elevating unit 275. The drive shaft 272 is supported at both ends by bearings 271,271.
A male screw part 272A is engraved on the peripheral surface thereof, and a pulley 272B is fixed to the starting end side. As shown in FIG. 6, the drive motor 274 has a pulley 274A fixed to its rotating shaft 274A.
The V-belt 273 is wound between the pulley 274A and the pulley 272B of the drive shaft 272. As a result, the drive shaft 272 is connected to the rotation shaft 274A. Then, the rotation shaft 274A of the drive motor 274 transmits the rotation force to the drive shaft 272. The lifting unit 275 includes the lifting box 22
Is fixed between the outer box 23A and the inner box 23B,
A female screw part 275A screwed into the male screw part 272A of the drive shaft 272 is formed. Then, using the operation in which the male screw part 272A is screwed into the female screw part 275A when the drive shaft 272 rotates, the lift part 275 is raised and lowered by the rotation of the drive shaft 272A. Thus, the lifting box 2
2 will be raised and lowered. In order to reduce the frictional force between the male screw part 272A and the female screw part 275A, a circulation path in which a plurality of balls are arranged may be formed in the elevating part 275 to form a ball screw structure. Further, drive shaft 2
72 and the elevating unit 275 are not exposed to the outside,
It is covered with a sealing member (not shown). Guide part 276
Engages with the guide groove 28B of the column 28A of the support 28, thereby restricting the rotation of the lifting box 22 caused by the rotation of the drive shaft 272. This guide portion 276
Moves up and down while sliding in the guide groove 28B of the column 28 as the elevating box 22 moves up and down. Each part of the box elevating mechanism 27 is arranged in a dead space of the opener 20, as shown in FIG. In addition, the drive motor 274, the V-belt 273, the elevating unit 275, and the like are located outside the inner box 23B of the elevating box 22. For this reason, dust generated by these operations is generated by the inner box 23B.
To prevent the clean air from getting dirty.

【0023】図2に戻って、ローダ30は、その筐体3
1がオープナ20の筐体21よりも高い高さ寸法となっ
ており、この筐体31のうちオープナ20側の側面には
昇降ボックス22が昇降する開口部31Aが形成されて
いる。この筐体31内には、支持台28に載せられたウ
ェハカセット203を把持し、半導体製造装置300の
カセット受け入れ部301に供給したり、カセット受け
入れ部301にあるウェハカセット203をオープナ2
0に供給したりするローディング機構が備えられてい
る。このローディング機構は、オープナ20によって取
り出されたウェハカセット203を前後、左右の水平方
向に移動させるアーム機構32(図8参照)と、このア
ーム機構32の腕支持部41を上下方向に移動させるア
ーム昇降機構40と、アーム機構32およびアーム昇降
機構40を筐体31の長さ方向(半導体製造装置300
の前面部に平行な方向)に移動させるアーム移動機構4
5(図8では図示略)とを具備している。
Returning to FIG. 2, the loader 30 is
1 has a height dimension higher than that of the housing 21 of the opener 20, and an opening 31 </ b> A for the elevating box 22 to go up and down is formed on a side surface of the housing 31 on the opener 20 side. In the housing 31, the wafer cassette 203 placed on the support table 28 is gripped and supplied to the cassette receiving section 301 of the semiconductor manufacturing apparatus 300, or the wafer cassette 203 in the cassette receiving section 301 is placed in the opener 2.
There is provided a loading mechanism for supplying to zero. The loading mechanism includes an arm mechanism 32 (see FIG. 8) for moving the wafer cassette 203 taken out by the opener 20 in the front-rear, left-right, and horizontal directions, and an arm for moving the arm supporting portion 41 of the arm mechanism 32 in the up-down direction. The elevating mechanism 40, the arm mechanism 32 and the arm elevating mechanism 40 are connected in the longitudinal direction of the housing 31 (the semiconductor manufacturing apparatus 300).
Arm moving mechanism 4 for moving in the direction parallel to the front surface of the
5 (not shown in FIG. 8).

【0024】また、筐体31の上側には浄化ファン46
が設けられている。この浄化ファン46は、図3に示す
ように、ファン46Aとフィルタ46Bとを有し、ファ
ン46Aによって筐体31内に吸い込まれるクリーンル
ーム1000内の空気をフィルタ46Bによって浄化
し、クリーン度の高い清浄空気を筐体31内に供給する
ものである。
A purifying fan 46 is provided above the housing 31.
Is provided. As shown in FIG. 3, the purifying fan 46 has a fan 46A and a filter 46B. The purifying fan 46A purifies the air in the clean room 1000 sucked into the housing 31 by the filter 46B, and purifies the air with high cleanliness. Air is supplied into the housing 31.

【0025】アーム昇降機構40は、腕支持部41を支
柱42(図8参照)に沿って上下動させることにより、
アーム機構32を昇降させる。そして、本実施形態で
は、アーム昇降機構40によりアーム機構32を上側に
移動させた状態で、アーム機構32の把持部33を半導
体製造装置300のカセット受け入れ部301に届かせ
る。このとき、カセット受け入れ部301の高さ寸法
は、例えば110cmとなる。
The arm lifting / lowering mechanism 40 moves the arm supporting portion 41 up and down along a column 42 (see FIG. 8),
The arm mechanism 32 is moved up and down. In the present embodiment, the grip portion 33 of the arm mechanism 32 reaches the cassette receiving section 301 of the semiconductor manufacturing apparatus 300 in a state where the arm mechanism 32 is moved upward by the arm elevating mechanism 40. At this time, the height dimension of the cassette receiving portion 301 is, for example, 110 cm.

【0026】ここで、アーム機構32は、図8に示すよ
うに、ウェハカセット203を把持する把持部33と、
先端に把持部33が取り付けられた下腕34と、上腕3
5と、下腕34と上腕35とを連結する肘関節36と、
下腕34を腕支持部41に連結する肩関節37とを具備
している。そして、肘関節36の折曲、肩関節37を中
心とした旋回は、図示しないモータによって行われる。
ここで、肩関節37の旋回中心をアーム機構32の旋回
軸Oと呼ぶものとする。また、把持部33においても、
下腕34の先端で回動可能に支持されている。
Here, as shown in FIG. 8, the arm mechanism 32 includes a holding portion 33 for holding the wafer cassette 203,
A lower arm 34 having a gripper 33 attached to a tip thereof;
5, an elbow joint 36 connecting the lower arm 34 and the upper arm 35,
And a shoulder joint 37 connecting the lower arm 34 to the arm support 41. The bending of the elbow joint 36 and the turning around the shoulder joint 37 are performed by a motor (not shown).
Here, the turning center of the shoulder joint 37 is referred to as a turning axis O of the arm mechanism 32. Also, in the gripping portion 33,
It is rotatably supported at the tip of the lower arm 34.

【0027】さらに、オープナ20とローダ30との間
には、図3に示すように、底板固定部28Bとの間に空
気用開口部47Aを形成する遮蔽板47が下側から延び
て設けられている。昇降ボックス22が下側にあって
は、図3に示すように、空気用開口部47Aとカセット
通過用開口部23Cとが連通して、オープナ20内とロ
ーダ30内とを繋ぐ下側空気通路48が底板固定部28
Bの下側に形成される。また、昇降ボックス22が上昇
する状態にあっては、図25に示すように、下側空気通
路48が底板固定部28Bの上側に形成されると共に、
カセット通過用開口部23Cによって上側空気通路49
が形成され、これらの通路48、49によってオープナ
20内とローダ30内とが繋がれることになる。さら
に、昇降ボックス22が上側にあっては、図26に示す
ように、上側空気通路49によってオープナ20内とロ
ーダ30内とが繋がれることになる。
Further, between the opener 20 and the loader 30, as shown in FIG. 3, a shielding plate 47 forming an air opening 47A between the opener 20 and the bottom plate fixing portion 28B is provided extending from the lower side. ing. When the lifting box 22 is on the lower side, as shown in FIG. 3, the air opening 47A and the cassette passage opening 23C communicate with each other to connect the inside of the opener 20 and the loader 30 to the lower air passage. 48 is the bottom plate fixing portion 28
B is formed below B. In addition, when the lifting box 22 is in the ascending state, as shown in FIG. 25, the lower air passage 48 is formed above the bottom plate fixing portion 28B,
The upper air passage 49 is formed by the cassette passage opening 23C.
Are formed, and the inside of the opener 20 and the inside of the loader 30 are connected by these passages 48 and 49. Further, when the lifting box 22 is on the upper side, the inside of the opener 20 and the inside of the loader 30 are connected by the upper air passage 49 as shown in FIG.

【0028】次に、このウェハ搬送装置10の制御系に
ついて、図9の制御ブロック図を参照しつつ説明する。
コントローラ50は、CPU、RAM、ROM等からな
るマイクロコンピュータによって構成されている。この
コントローラ50の入力側には、各部位に設けられたセ
ンサ51および各部位の動きを入力するキーボード等の
入力部52が接続される。出力側には、オープナ20の
ボックス昇降機構27、ローダ30のアーム機構32、
アーム昇降機構40およびアーム移動機構45が接続さ
れている。そして、このコントローラ50のROMは読
み出し専用のプログラムメモリであり、CPUはROM
から読出した制御プログラムを実行することにより、ボ
ックス昇降機構27、アーム機構32、アーム昇降機構
40およびアーム移動機構45を制御するものである。
Next, a control system of the wafer transfer apparatus 10 will be described with reference to a control block diagram of FIG.
The controller 50 is configured by a microcomputer including a CPU, a RAM, a ROM, and the like. The input side of the controller 50 is connected to a sensor 51 provided in each part and an input part 52 such as a keyboard for inputting the movement of each part. On the output side, a box elevating mechanism 27 of the opener 20, an arm mechanism 32 of the loader 30,
The arm lifting mechanism 40 and the arm moving mechanism 45 are connected. The ROM of the controller 50 is a read-only program memory, and the CPU is a ROM.
By executing the control program read out from the CPU, the box elevating mechanism 27, the arm mechanism 32, the arm elevating mechanism 40, and the arm moving mechanism 45 are controlled.

【0029】B.実施形態の動作 次に、図10ないし図24を参照しつつ、ウェハ搬送装
置10によるウェハカセット203の搬送動作について
説明する。図10ないし図14はオープナ20およびロ
ーダ30を横方向で切った要部断面であり、図15およ
び図16はローダ30および半導体製造装置300を前
後方向で切った断面である。また、図17ないし図24
は、アーム機構32の動きを示す平面図である。なお、
便宜上、各図面では、各部の特徴部分を強調するため
に、寸法等は実際と異なっている各図中において、a、
b、cは、アーム移動機構45によって移動されるアー
ム機構32の旋回軸Oの位置を示したもので、位置aが
初期位置、位置bが把持部33でウェハカセット203
を掴むカセット捕捉位置、位置cがカセット受け渡し位
置である。また、本実施形態では、初期位置aが腕3
4、35を縮めるアーム折り畳み位置、カセット受け渡
し位置cが腕34、35を伸ばすアーム伸長位置とな
る。
B. Operation of Embodiment Next, a transfer operation of the wafer cassette 203 by the wafer transfer device 10 will be described with reference to FIGS. 10 to 14 are cross-sectional views of a main part of the opener 20 and the loader 30 cut in the horizontal direction. FIGS. 15 and 16 are cross-sectional views of the loader 30 and the semiconductor manufacturing apparatus 300 cut in the front-rear direction. 17 to 24.
6 is a plan view showing the movement of the arm mechanism 32. FIG. In addition,
For the sake of convenience, in each drawing, in order to emphasize the characteristic portion of each part, dimensions and the like are different from actual ones in each drawing.
b and c show the positions of the pivot axis O of the arm mechanism 32 moved by the arm moving mechanism 45, where the position a is the initial position and the position b is the gripper 33 and the wafer cassette 203
Is a cassette capture position at which the cassette is held, and a position c is a cassette transfer position. Further, in the present embodiment, the initial position a is the arm 3
The arm folding position for contracting the arms 4 and 35 and the cassette transfer position c are the arm extending positions for extending the arms 34 and 35.

【0030】まず、作業者は、図10に示すように、オ
ープナ20にSMIFポッド200を載置し、底板20
2を底板固定部28Bに固定する。コントローラ50
は、SMIFポッド200が底板固定部28Bに配置さ
れたことをセンサ51で検出して、搬送動作を開始す
る。この際、アーム機構32は、図17に示すように、
アーム機構32の旋回軸Oが初期位置aにあって、下腕
34と上腕35とが肘関節36で折り曲げられ、把持部
33は旋回軸Oとウェハカセット203との中心線上に
位置する。
First, as shown in FIG. 10, the worker places the SMIF pod 200 on the opener 20 and
2 is fixed to the bottom plate fixing portion 28B. Controller 50
Detects that the SMIF pod 200 is disposed on the bottom plate fixing portion 28B by the sensor 51, and starts the transport operation. At this time, as shown in FIG.
The pivot axis O of the arm mechanism 32 is at the initial position a, the lower arm 34 and the upper arm 35 are bent at the elbow joint 36, and the grip 33 is located on the center line between the pivot axis O and the wafer cassette 203.

【0031】コントローラ50は、オープナ20により
SMIFポッド200の開口部201Aを開にさせると
共に、オープナ20のボックス昇降機構27(駆動モー
タ274)を作動させ、昇降ボックス22を、図10の
矢印方向に上昇させる。この際、カバー201の開口部
201Aは昇降ボックス22のカバー支持部25で支持
されるため、SMIFポッド200のカバー201のみ
が昇降ボックス22と共に上昇することになる。これに
より、図11に示すように、ウェハカセット203およ
び底板202がカバー201から取り出され、ウェハカ
セット203および底板202は、支持台28の底板固
定部28B上に残される。そして、ボックス昇降機構2
7は、カバー201の載った昇降ボックス22をボック
ス上昇位置Aまで上昇させる。このボックス上昇位置A
は、アーム機構32の把持部33から見て昇降ボックス
22のカセット通過用開口部23Cを介してウェハカセ
ット203が現れる位置となっている。
The controller 50 causes the opening 201A of the SMIF pod 200 to be opened by the opener 20, and activates the box lifting mechanism 27 (drive motor 274) of the opener 20 to move the lifting box 22 in the direction of the arrow in FIG. To raise. At this time, since the opening 201A of the cover 201 is supported by the cover support 25 of the elevating box 22, only the cover 201 of the SMIF pod 200 rises together with the elevating box 22. Thereby, as shown in FIG. 11, the wafer cassette 203 and the bottom plate 202 are taken out from the cover 201, and the wafer cassette 203 and the bottom plate 202 are left on the bottom plate fixing portion 28B of the support base 28. And the box lifting mechanism 2
7 raises the lifting box 22 on which the cover 201 is placed to the box lifting position A. This box rise position A
Is a position where the wafer cassette 203 appears through the cassette passage opening 23C of the elevating box 22 when viewed from the gripping portion 33 of the arm mechanism 32.

【0032】次に、コントローラ50は、図11および
図17の矢印に示すように、アーム移動機構45によっ
てアーム機構32をオープナ20側(横方向)に移動さ
せ、アーム機構32の旋回軸Oをカセット捕捉位置bに
移動させる(図12および図18)。これにより、下腕
34はカセット通過用開口部23Cを介してオープナ2
0内に伸び、把持部33をウェハカセット203の上側
に位置させる。そして、アーム機構32の把持部33
が、ウェハカセット203の上部を掴むことにより、ウ
ェハカセット203を捕捉する。
Next, the controller 50 causes the arm moving mechanism 45 to move the arm mechanism 32 toward the opener 20 (lateral direction) as shown by arrows in FIGS. The cassette is moved to the cassette capturing position b (FIGS. 12 and 18). As a result, the lower arm 34 is connected to the opener 2 through the cassette passage opening 23C.
0, and the grip 33 is positioned above the wafer cassette 203. Then, the grip 33 of the arm mechanism 32
Captures the wafer cassette 203 by grasping the upper part of the wafer cassette 203.

【0033】コントローラ50は、ローダ30のアーム
移動機構45によって、図12および図18の矢印に示
すように、把持部33でウェハカセット203を捕捉し
た状態で、アーム機構32を移動させて旋回軸Oを初期
位置aに戻す(図13および図19)。これにより、ウ
ェハカセット203は、底板202から取り出され、水
平方向に引き出されてローダ30内に収容されることに
なる。
The controller 50 moves the arm mechanism 32 with the gripper 33 capturing the wafer cassette 203 by the arm moving mechanism 45 of the loader 30 as shown by the arrows in FIGS. O is returned to the initial position a (FIGS. 13 and 19). As a result, the wafer cassette 203 is taken out from the bottom plate 202, pulled out in the horizontal direction, and housed in the loader 30.

【0034】その後、コントローラ50は、ウェハカセ
ット203を把持部33で捕捉した状態のまま、図13
の矢印で示すようにアーム昇降機構40によってウェハ
カセット203を半導体製造装置300のカセット受け
入れ部301の高さに合わせるためにアーム機構32を
上昇させ、このアーム機構32を所定アーム上昇位置B
まで移動させる(図14)。
After that, the controller 50 keeps the wafer cassette 203 held by the
As shown by the arrow, the arm mechanism 32 is raised by the arm raising / lowering mechanism 40 to adjust the wafer cassette 203 to the height of the cassette receiving portion 301 of the semiconductor manufacturing apparatus 300, and the arm mechanism 32 is moved to a predetermined arm raising position B.
(Fig. 14).

【0035】次に、コントローラ50は、図19の矢印
で示すように、肘関節36の折り曲げ動作を開始する。
そして、図20に示すように、上腕35の角度が所定角
度θになると、次の動作に移る。ここで、所定角度θ
は、上腕35を固定して、肘関節36を中心として下腕
34を旋回運動させても、下腕34の先端がローダ30
の筐体31の壁に接触しない角度となっている。また、
所定角度θのとき肘関節36の位置がローダ30の奥行
き幅を超えて半導体製造装置300側に入り込んでいる
が、この位置は肘関節36等の入り込んだ部分が当たる
ものが無い位置となっている。コントローラ50は、図
20の矢印に示すように、肩関節37を時計方向に旋回
させながら、肘関節36を折り曲げる協調動作を行うこ
とにより、上腕35の角度を所定角度θに保ったまま、
上腕35に対して下腕34を折り畳み把持部33を旋回
軸O上に位置させる(図21)。さらに、コントローラ
50は、肩関節37を中心として時計方向(図21の矢
印)に上腕35、下腕34を角度θ分だけ旋回させる
(図15および図22)。
Next, the controller 50 starts the bending operation of the elbow joint 36 as shown by the arrow in FIG.
Then, as shown in FIG. 20, when the angle of the upper arm 35 reaches the predetermined angle θ, the operation proceeds to the next operation. Here, the predetermined angle θ
Is that even if the upper arm 35 is fixed and the lower arm 34 is swiveled about the elbow joint 36, the tip of the lower arm 34
The angle does not contact the wall of the housing 31. Also,
At the predetermined angle θ, the position of the elbow joint 36 extends beyond the depth width of the loader 30 and enters the semiconductor manufacturing apparatus 300 side, but this position is a position where the part where the elbow joint 36 or the like enters does not hit. I have. As shown by the arrow in FIG. 20, the controller 50 performs a cooperative operation of bending the elbow joint 36 while rotating the shoulder joint 37 clockwise, thereby maintaining the angle of the upper arm 35 at the predetermined angle θ.
The lower arm 34 is folded with respect to the upper arm 35 to position the grip 33 on the pivot axis O (FIG. 21). Further, the controller 50 rotates the upper arm 35 and the lower arm 34 in the clockwise direction (the arrow in FIG. 21) about the shoulder joint 37 by the angle θ (FIGS. 15 and 22).

【0036】次に、コントローラ50は、図22の矢印
で示すように、アーム移動機構45によって旋回軸Oを
初期位置aからカセット受け渡し位置cに移動させる
(図23)。
Next, the controller 50 moves the turning axis O from the initial position a to the cassette transfer position c by the arm moving mechanism 45 as shown by the arrow in FIG. 22 (FIG. 23).

【0037】その後、ローダ30は、図23の矢印に示
すように、肘関節36を伸ばして、上腕35を反時計方
向に下腕34を時計方向に旋回させる。これにより、肘
関節36を伸ばすことにより、図16および図24に示
すように、半導体製造装置300上のカセット受け入れ
部301上に把持部33を届かせる。このように、本実
施形態によるウェハ搬送装置10のローダ30は、オー
プナ20内に収容されたウェハカセット203を略90
度の位置にある半導体製造装置300に供給するもので
ある。
Thereafter, the loader 30 extends the elbow joint 36 as shown by the arrow in FIG. 23, and pivots the upper arm 35 counterclockwise and the lower arm 34 clockwise. Thus, by extending the elbow joint 36, the grip portion 33 reaches the cassette receiving portion 301 on the semiconductor manufacturing apparatus 300 as shown in FIGS. As described above, the loader 30 of the wafer transfer apparatus 10 according to the present embodiment is capable of moving the wafer cassette 203 accommodated in the opener 20 to approximately 90
It is supplied to the semiconductor manufacturing apparatus 300 at the position of the degree.

【0038】以上、ウェハ搬送装置10において、ウェ
ハカセット203を半導体製造装置300のカセット受
け入れ部301に供給する場合の動作について述べた
が、カセット受け入れ部301にあるウェハカセット2
03をオープナ20にあるカバー201内に収容する場
合には、前述した動作の逆の動作を行うことによって実
現できるため、その動作説明は省略するものとする。
The operation of the wafer transfer apparatus 10 for supplying the wafer cassette 203 to the cassette receiving section 301 of the semiconductor manufacturing apparatus 300 has been described.
When the cover 03 is housed in the cover 201 of the opener 20, the operation can be performed by performing the operation opposite to the above-described operation, and the description of the operation will be omitted.

【0039】C.オープナ20内の空気の流れ 次に、オープナ20内の空気の流れについて、図3、図
25および図26を参照しつつ説明する。図3は昇降ボ
ックス22を上昇させないで筐体21内に収容した状
態、図25は昇降ボックス22が上昇しつつある状態、
図26は昇降ボックス22がボックス上昇位置Aに達し
た状態における空気の流れをそれぞれ示したものであ
る。
C. Next, the flow of air in the opener 20 will be described with reference to FIGS. 3, 25, and 26. 3 shows a state in which the lifting box 22 is housed in the housing 21 without being raised, FIG. 25 shows a state in which the lifting box 22 is being raised,
FIG. 26 shows the flow of air when the lifting box 22 has reached the box lifting position A.

【0040】C−1.昇降ボックス22が下側にある場
合 図3に示すように、ローダ30内においては、浄化ファ
ン46からの清浄空気が筐体31内を上側から下側に向
けて流れる。また、オープナ20内においては、昇降ボ
ックス22の排気ファン29によって、昇降ボックス2
2で形成される小空間内の空気が外側(筐体21を介し
て)に排出されるため、ローダ30側の浄化された空気
は、空気用開口部47Aおよびカセット通過用開口部2
3Cによって形成される下側空気通路48を介してオー
プナ20内に供給されることになる。また、未だにSM
IFポッド200のカバー201は外れていないため、
SMIFポッド200は密閉状態にある。
C-1. When the lifting box 22 is on the lower side As shown in FIG. 3, in the loader 30, the clean air from the purification fan 46 flows from the upper side to the lower side in the housing 31. In the opener 20, the elevating box 2 is moved by the exhaust fan 29 of the elevating box 22.
Since the air in the small space formed by the air outlet 2 is discharged to the outside (via the housing 21), the purified air on the loader 30 side is supplied to the air opening 47A and the cassette passage opening 2A.
It will be supplied into the opener 20 via the lower air passage 48 formed by 3C. Also, still SM
Since the cover 201 of the IF pod 200 is not detached,
SMIF pod 200 is in a sealed state.

【0041】C−2.昇降ボックス22が上昇しつつあ
る場合 次に、図25に示すように、ボックス昇降機構27によ
って昇降ボックス22を上昇させると、SMIFポッド
200のカバー201が底板202から外れ、オープナ
20内の容積が増加する。しかし、昇降ボックス22内
に形成された小空間は変化しないため、排気ファン29
の空気排出量に見合った空気がローダ30側から流れ込
むことになる。この際、ローダ30内の空気は、底板固
定部28Bの下側に形成された下側空気通路48と上側
に形成された上側空気通路49を介してオープナ20内
に供給される。これにより、支持台28上に載置された
ウェハカセット203は、浄化された空気に安定して晒
されることになる。
C-2. Next, as shown in FIG. 25, when the elevating box 22 is raised by the box elevating mechanism 27, the cover 201 of the SMIF pod 200 is detached from the bottom plate 202, and the volume in the opener 20 is reduced. To increase. However, since the small space formed in the lifting box 22 does not change, the exhaust fan 29
Of air discharged from the loader 30 side. At this time, the air in the loader 30 is supplied into the opener 20 via a lower air passage 48 formed below the bottom plate fixing portion 28B and an upper air passage 49 formed above. As a result, the wafer cassette 203 placed on the support table 28 is stably exposed to the purified air.

【0042】C−3.昇降ボックス22が上昇した場合 さらに、図26に示すように、昇降ボックス22をボッ
クス上昇位置Aまで上昇させると、図25と同様に、昇
降ボックス22内の容積は変化しない。一方、昇降ボッ
クス22の開口部側面23A1によって遮蔽板47Aの
空気用開口部47Aが遮蔽されることになり、カセット
通過用開口23Cによって形成される上側空気通路49
によって、オープナ20内とローダ30内とが連通され
ることになる。このため、ローダ30側からの浄化した
空気は、上側空気通路49を介して昇降ボックス22内
に供給される。これにより、支持台28上に載置された
ウェハカセット203は、浄化された空気に安定して晒
されることになる。
C-3. When the lifting box 22 is raised Further, as shown in FIG. 26, when the lifting box 22 is raised to the box lifting position A, the volume in the lifting box 22 does not change as in FIG. On the other hand, the air opening 47A of the shielding plate 47A is shielded by the opening side surface 23A1 of the lifting box 22, and the upper air passage 49 formed by the cassette passage opening 23C.
Thereby, the inside of the opener 20 and the inside of the loader 30 are communicated. For this reason, the purified air from the loader 30 side is supplied into the lifting box 22 via the upper air passage 49. As a result, the wafer cassette 203 placed on the support table 28 is stably exposed to the purified air.

【0043】このように、ローダ30の上側に浄化ファ
ン46を設け、昇降ボックス22の底板に排気ファン2
9を設けることにより、ローダ30から供給される清浄
空気は、昇降ボックス22内を通って昇降ボックス22
の底側から排気されるという空気の循環が行われる。こ
の結果、昇降ボックス22内は、常に一定の気圧の清浄
空気によって十分に満たされることになる。しかも、昇
降ボックス22が上側に移動してSMIFポッド200
のカバー201が底板202から外された段階では、上
側空気通路49からウェハカセット203に清浄な空気
を積極的に供給することができ、このウェハカセット2
03にクリーン度の高い清浄空気を供給することが可能
となる。
As described above, the purification fan 46 is provided above the loader 30, and the exhaust fan 2 is mounted on the bottom plate of the lifting box 22.
9 allows the clean air supplied from the loader 30 to pass through the lift box 22
The air is circulated to be exhausted from the bottom side. As a result, the inside of the elevating box 22 is always sufficiently filled with clean air having a constant pressure. In addition, the lifting box 22 moves upward and the SMIF pod 200
When the cover 201 is removed from the bottom plate 202, clean air can be positively supplied from the upper air passage 49 to the wafer cassette 203.
03 can be supplied with clean air having a high degree of cleanliness.

【0044】D.実施形態の効果 このように、本実施形態によるウェハ搬送装置10で
は、ローダ30の筐体31上面に、筐体31内に清浄空
気を供給する浄化ファン46を設け、この筐体31内に
開口するカセット通過用開口部23Cを有した昇降ボッ
クス22の下側に排気ファン29を設けるようにしてい
る。ローダ30側の清浄空気は、排気ファン29によっ
て昇降ボックス22内に積極的に流れ込み、昇降ボック
ス22の昇降位置に拘わらず、昇降ボックス22内のク
リーン度を高く保つことができる。これにより、ウェハ
カセット203に収容されたウェハ204は、クリーン
度の高い清浄空気に安定して晒されることになる。
D. As described above, in the wafer transfer device 10 according to the present embodiment, the purification fan 46 that supplies clean air to the inside of the housing 31 is provided on the upper surface of the housing 31 of the loader 30, and the opening inside the housing 31 is opened. An exhaust fan 29 is provided below the elevating box 22 having a cassette passage opening 23C. The clean air on the loader 30 side positively flows into the elevating box 22 by the exhaust fan 29, so that the degree of cleanness in the elevating box 22 can be kept high regardless of the elevating position of the elevating box 22. As a result, the wafers 204 accommodated in the wafer cassette 203 are stably exposed to clean air having a high degree of cleanliness.

【0045】また、昇降ボックス22が上側に移動した
段階では、昇降ボックス22の形状および遮蔽板47に
より、昇降ボックス22内には、上側空気通路49を介
して清浄な空気が積極的に供給される。これにより、こ
のウェハカセット203は、クリーン度を高めた空気に
常に晒すことができる。
When the lifting box 22 moves upward, clean air is actively supplied into the lifting box 22 through the upper air passage 49 due to the shape of the lifting box 22 and the shielding plate 47. You. This allows the wafer cassette 203 to be constantly exposed to the air having a higher degree of cleanliness.

【0046】さらに、昇降ボックス22を昇降させるボ
ックス昇降機構27は、オープナ20内のデッドスペー
スに配置することにより、オープナ20外にボックス昇
降機構27が飛び出すのを防止して作業者に対する作業
スペースを確保することができる。また、ボックス昇降
機構27のうち、機械的な動作によって塵が発生し易い
部分は、内側箱体23B外となるため、内側箱体23B
内に塵が入り込むのを防止し、昇降ボックス22内のク
リーン度を確保することができる。さらに、駆動軸27
2および昇降部275が密閉部材によって覆われること
により、機械的な動作により発生する塵が昇降ボックス
23内に侵入するのを防止でき、昇降ボックス23内の
クリーン度をより高く保つことができる。
Further, the box elevating mechanism 27 for elevating the elevating box 22 is arranged in a dead space inside the opener 20 to prevent the box elevating mechanism 27 from jumping out of the opener 20 and to provide a working space for the operator. Can be secured. Further, a portion of the box elevating mechanism 27 where dust is likely to be generated due to mechanical operation is outside the inner box 23B, so that the inner box 23B
It is possible to prevent dust from entering the inside, and to secure a clean degree in the elevating box 22. Further, the drive shaft 27
By covering the elevating part 2 and the elevating part 275 with the sealing member, it is possible to prevent dust generated by a mechanical operation from entering the elevating box 23, and to maintain a higher degree of cleanness in the elevating box 23.

【0047】オープナ20は、カバー201を支持して
いる昇降ボックス22を上昇させ、昇降ボックス22内
にあるウェハカセット203をカセット通過用開口部2
3Cを介して水平方向に引き出して取り出すことを可能
にする。このように、ウェハ搬送装置10は、SMIF
ポッド200の底板202に載ったウェハカセット20
3を水平方向にのみ移動させて取り出すようになってい
るため、ウェハカセット203をオープナ20の下部付
近のクリーン度の低いおそれのある空気に触れさせなく
て済む。
The opener 20 raises the elevating box 22 supporting the cover 201, and moves the wafer cassette 203 in the elevating box 22 to the cassette passage opening 2.
3C makes it possible to take out by taking out in the horizontal direction. As described above, the wafer transfer device 10
Wafer cassette 20 placed on bottom plate 202 of pod 200
Since the wafer cassette 3 is moved only in the horizontal direction and is taken out, the wafer cassette 203 does not have to be exposed to the air near the lower portion of the opener 20 which may be low in cleanliness.

【0048】また、本実施形態によるオープナ20は、
ウェハカセット203の取り出しを、カバー201を引
き上げて行っており、従来技術によるオープナは、カバ
ー201に対してウェハカセット203を下げることに
よって行っていた。このため、ウェハカセット203を
捕捉したアーム機構32を半導体製造装置300のウェ
ハ受け入れ部301まで上昇させる距離は、従来技術に
比べて本実施形態の方が遙かに短くなり、アーム昇降機
構40の動作距離が短くなる。この結果、ウェハカセッ
ト203の搬送時間を短縮することができる。しかも、
オープナ20内のウェハ搬送装置10は、昇降ボックス
22外に配置されていため、機械的な動作により発生し
た塵が昇降ボックス22内に侵入するのを低減し、昇降
ボックス22内のクリーン度をより高めることができ
る。
The opener 20 according to the present embodiment is
The removal of the wafer cassette 203 is performed by pulling up the cover 201, and the opener according to the related art is performed by lowering the wafer cassette 203 with respect to the cover 201. For this reason, the distance by which the arm mechanism 32 capturing the wafer cassette 203 is raised to the wafer receiving portion 301 of the semiconductor manufacturing apparatus 300 is much shorter in the present embodiment than in the related art, and the arm lifting mechanism 40 The operating distance becomes shorter. As a result, the transfer time of the wafer cassette 203 can be reduced. Moreover,
Since the wafer transfer device 10 in the opener 20 is disposed outside the elevating box 22, dust generated by a mechanical operation is reduced from entering the elevating box 22, and the cleanness in the elevating box 22 is improved. Can be enhanced.

【0049】しかも、本実施形態では、ローダ30の横
にオープナ20を配置することにより、図1に示すよう
に、従来技術に比べてウェハ搬送装置10の幅寸法を小
さくでき、ウェハ搬送装置10の占有面積を小さくす
る。そして、クリーンルーム1000内に設置された装
置間に形成される作業通路を広く確保することができ
る。
Further, in the present embodiment, by arranging the opener 20 beside the loader 30, as shown in FIG. 1, the width of the wafer transfer device 10 can be reduced as compared with the prior art, and Occupied area is reduced. Further, a wide working path formed between the devices installed in the clean room 1000 can be secured.

【0050】さらに、ローダ30のアーム機構32は、
コントローラ50の制御によって異なった位置にあるカ
セット受け入れ部301に対しても搬送が可能である。
これにより、半導体製造装置300が複数のカセット受
け入れ部301を有する場合であっても、1台のオープ
ナ20で順次取り出されたウェハカセット203を異な
ったカセット受け入れ部301に搬送することが可能と
なる。この場合、コントローラ50は、カセット受け渡
し位置cを複数のカセット受け入れ部301に順次対応
させればよい。
Further, the arm mechanism 32 of the loader 30
Under the control of the controller 50, it is possible to carry the cartridge to the cassette receiving portion 301 at a different position.
Thus, even when the semiconductor manufacturing apparatus 300 has a plurality of cassette receiving sections 301, the wafer cassettes 203 sequentially taken out by one opener 20 can be transferred to different cassette receiving sections 301. . In this case, the controller 50 may make the cassette transfer position c correspond to the plurality of cassette receiving units 301 sequentially.

【0051】E.変形例なお、本発明は、上述した実施
形態に限定されるものではなく、以下のような種々の変
形が可能である。
E. Modifications The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications as described below are possible.

【0052】(1)前記実施形態では、ローダ30によ
ってオープナ20からウェハカセット203が取り出さ
れる高さ位置が、半導体製造装置300のカセット受け
入れ部301との高さ位置よりも低くした場合について
述べたが、この高さ位置を等しくすることも可能であ
り、この場合には、アーム昇降機構40の移動距離をカ
セット取り出し時の持ち上げ、持ち下げの最小の動きに
することができる。
(1) In the above embodiment, the case where the height position at which the wafer cassette 203 is taken out from the opener 20 by the loader 30 is set lower than the height position with respect to the cassette receiving portion 301 of the semiconductor manufacturing apparatus 300 has been described. However, it is also possible to make the height positions equal, and in this case, the moving distance of the arm elevating mechanism 40 can be set to the minimum movement of lifting and lowering when taking out the cassette.

【0053】(2)ウェハ搬送装置10では、ローダ3
0に対してオープナ20を右側に配置した場合について
述べたが、本発明はこれに限らず、左側でも、左右両側
に配置してもよい。
(2) In the wafer transfer device 10, the loader 3
Although the case where the opener 20 is disposed on the right side with respect to 0 has been described, the present invention is not limited to this, and the opener 20 may be disposed on the left side or both right and left sides.

【0054】(3)前記実施形態では、肘関節36を中
心として下腕34を折り畳むとき、ローダ30の奥行き
幅内で該下腕34が旋回できない場合を例示したが、下
腕34が旋回可能な場合には、前述した旋回軸Oを初期
位置aに移動させた上で、上腕35を所定角度θに保つ
ように肘関節36と肩関節37の協調制御を行う必要が
なくなる。これにより、この協調制御を省略することに
より、略90度の位置関係にあるオープナ20と半導体
製造装置300のカセット受け入れ部301との間での
ウェハカセット203の移動を行うことができる。
(3) In the above embodiment, the case where the lower arm 34 cannot be turned within the depth of the loader 30 when the lower arm 34 is folded about the elbow joint 36 has been exemplified. In such a case, it is not necessary to perform the coordinated control of the elbow joint 36 and the shoulder joint 37 so as to keep the upper arm 35 at the predetermined angle θ after moving the pivot axis O to the initial position a. Thus, by omitting the cooperative control, the wafer cassette 203 can be moved between the opener 20 and the cassette receiving portion 301 of the semiconductor manufacturing apparatus 300 having a positional relationship of about 90 degrees.

【0055】(4)また、ローダ30は、図9に示すよ
うに、コントローラ50で位置制御を行うようにしてい
るので、ローダ30のアーム機構32は、任意の複数位
置を状況に応じてティーチングまたはプログラムするこ
とが可能となる。
(4) Further, as shown in FIG. 9, the position of the loader 30 is controlled by the controller 50, so that the arm mechanism 32 of the loader 30 can teach a plurality of arbitrary positions according to the situation. Or it can be programmed.

【0056】(5)ローダ30におけるウェハカセット
203の移動動作は、前記実施形態に限るものではな
く、アーム機構32の肘関節36および肩関節37の旋
回を同時に行っても、アーム昇降機構40によってアー
ム機構32を昇降させているときに、アーム機構32を
動作させてもよい。要は、アーム機構32の腕34、3
5を曲げ伸ばしするとき、肘関節36を邪魔もののない
位置で半導体製造装置300側に突出させて動作させる
ようにすればよい。
(5) The operation of moving the wafer cassette 203 in the loader 30 is not limited to the above-described embodiment. Even if the elbow joint 36 and the shoulder joint 37 of the arm mechanism 32 are simultaneously rotated, the arm elevating mechanism 40 can be used. The arm mechanism 32 may be operated while the arm mechanism 32 is being moved up and down. In short, the arms 34, 3 of the arm mechanism 32
When bending and extending 5, the elbow joint 36 may be operated by protruding toward the semiconductor manufacturing apparatus 300 at a position where there is no obstruction.

【0057】(6)前記実施形態では、ボックス昇降機
構27をオープナ20内で昇降ボックス22外に配置す
るようにしたが、本発明はこれに限らず、オープナ20
外に配置するようにしてもよい。この場合、塵を発生す
る誘因となる機構がオープナ20内に配置されていない
ため、昇降ボックス22内のクリーン度をより高めるこ
とができる。
(6) In the above embodiment, the box elevating mechanism 27 is arranged outside the elevating box 22 inside the opener 20, but the present invention is not limited to this.
It may be arranged outside. In this case, since a mechanism that causes dust to be generated is not arranged in the opener 20, the cleanliness in the lifting box 22 can be further increased.

【0058】[0058]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ウェハを支持したウェハカセットを収容するカセット保
持容器から、カバーのみを引き上げる昇降ボックス内に
清浄空気の流れを発生させる。これにより、ウェハ搬送
装置内のクリーン度を高める。
As described above, according to the present invention,
A flow of clean air is generated from a cassette holding container accommodating a wafer cassette supporting wafers in an elevating box for lifting only the cover. Thereby, the degree of cleanness in the wafer transfer device is increased.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の一実施形態に係るウェハ搬送装置等
が配置されたクリーンルーム内の配置を示す配置図であ
る。
FIG. 1 is an arrangement view showing an arrangement in a clean room where a wafer transfer device and the like according to an embodiment of the present invention are arranged.

【図2】 同実施形態によるウェハ搬送装置の斜視図で
ある。
FIG. 2 is a perspective view of the wafer transfer device according to the same embodiment.

【図3】 同実施形態によるオープナおよびローダの一
部を示す断面図である。
FIG. 3 is a sectional view showing a part of the opener and the loader according to the embodiment;

【図4】 図3中のD部を拡大して示す要部拡大図であ
る。
FIG. 4 is an enlarged view of a main part showing a D part in FIG. 3 in an enlarged manner.

【図5】 図3中のボックス昇降機構を拡大して示す要
部拡大図である。
FIG. 5 is an enlarged view of a main part of the box elevating mechanism in FIG. 3 in an enlarged manner.

【図6】 図3中の矢視E-E方向から見た断面図であ
る。
FIG. 6 is a cross-sectional view as seen from the direction of arrows EE in FIG. 3;

【図7】 図3中の矢視F-F方向から見た図である。FIG. 7 is a view as seen from the direction of arrows FF in FIG. 3;

【図8】 同実施形態に用いられるアーム機構の斜視図
である。
FIG. 8 is a perspective view of an arm mechanism used in the embodiment.

【図9】 同実施形態によるウェハ搬送装置の制御ブロ
ック図である。
FIG. 9 is a control block diagram of the wafer transfer device according to the same embodiment.

【図10】 同実施形態によるウェハ搬送装置の動作を
示す部分断面図である。
FIG. 10 is a partial cross-sectional view showing the operation of the wafer transfer device according to the same embodiment.

【図11】 図10に続く、ウェハ搬送装置の動作を示
す部分断面図である。
FIG. 11 is a partial cross-sectional view showing the operation of the wafer transfer device following FIG. 10;

【図12】 図11に続く、ウェハ搬送装置の動作を示
す部分断面図である。
FIG. 12 is a partial cross-sectional view showing the operation of the wafer transfer device following FIG. 11;

【図13】 図12に続く、ウェハ搬送装置の動作を示
す部分断面図である。
FIG. 13 is a partial cross-sectional view showing the operation of the wafer transfer device following FIG. 12;

【図14】 図13に続く、ウェハ搬送装置の動作を示
す部分断面図である。
FIG. 14 is a partial cross-sectional view showing the operation of the wafer transfer device following FIG. 13;

【図15】 図14に続く、ウェハ搬送装置の動作を示
す部分断面図である。
FIG. 15 is a partial sectional view showing the operation of the wafer transfer device following FIG. 14;

【図16】 図15に続く、ウェハ搬送装置の動作を示
す部分断面図である。
FIG. 16 is a partial sectional view showing the operation of the wafer transfer device following FIG. 15;

【図17】 同実施形態によるウェハ搬送装置に用いら
れるアーム機構の動作を示す平面図である。
FIG. 17 is a plan view showing the operation of the arm mechanism used in the wafer transfer device according to the same embodiment.

【図18】 図17に続く、同実施形態によるウェハ搬
送装置に用いられるアーム機構の動作を示す平面図であ
る。
FIG. 18 is a plan view following FIG. 17 showing the operation of the arm mechanism used in the wafer transfer device according to the same embodiment.

【図19】 図18に続く、同実施形態によるウェハ搬
送装置に用いられるアーム機構の動作を示す平面図であ
る。
FIG. 19 is a plan view following FIG. 18 showing the operation of the arm mechanism used in the wafer transfer device according to the same embodiment.

【図20】 図19に続く、同実施形態によるウェハ搬
送装置に用いられるアーム機構の動作を示す平面図であ
る。
FIG. 20 is a plan view following FIG. 19 illustrating the operation of the arm mechanism used in the wafer transfer device according to the same embodiment.

【図21】 図20に続く、同実施形態によるウェハ搬
送装置に用いられるアーム機構の動作を示す平面図であ
る。
FIG. 21 is a plan view showing the operation of the arm mechanism used in the wafer transfer device according to the embodiment, following FIG. 20;

【図22】 図21に続く、同実施形態によるウェハ搬
送装置に用いられるアーム機構の動作を示す平面図であ
る。
FIG. 22 is a plan view following FIG. 21 showing the operation of the arm mechanism used in the wafer transfer device according to the same embodiment.

【図23】 図22に続く、同実施形態によるウェハ搬
送装置に用いられるアーム機構の動作を示す平面図であ
る。
FIG. 23 is a plan view showing the operation of the arm mechanism used in the wafer transfer device according to the embodiment, following FIG. 22;

【図24】 図23に続く、同実施形態によるウェハ搬
送装置に用いられるアーム機構の動作を示す平面図であ
る。
FIG. 24 is a plan view following FIG. 23 showing the operation of the arm mechanism used in the wafer transfer device according to the same embodiment.

【図25】 同実施形態によるオープナにおいて、昇降
ボックスを上昇させた状態を示す断面図である。
FIG. 25 is a cross-sectional view showing a state where the lifting box is raised in the opener according to the embodiment.

【図26】 同実施形態によるオープナにおいて、昇降
ボックスをボックス上昇位置まで上昇させた状態を示す
断面図である。
FIG. 26 is a cross-sectional view showing a state where the lifting box is raised to the box lifting position in the opener according to the embodiment.

【図27】 従来技術によるウェハ搬送装置等が配置さ
れたクリーンルーム内の配置を示す配置図である。
FIG. 27 is an arrangement diagram showing an arrangement in a clean room in which a wafer transfer device and the like according to the related art are arranged.

【図28】 従来技術によるウェハ搬送装置の斜視図で
ある。
FIG. 28 is a perspective view of a conventional wafer transfer device.

【図29】 SMIFポッドを示す図である。FIG. 29 shows a SMIF pod.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10・・・ウェハ搬送装置 20・・・オープナ 21、31・・・筐体 22・・・昇降ボックス 23・・・カセット通過用開口部 24・・・底板通過用開口部 25・・・カバー支持部 27・・・ボックス昇降機構 272・・・駆動軸 272A・・・雄ねじ部 274・・・駆動モータ 275・・・昇降部 275A・・・雌ねじ部 276・・・ガイド部 28・・・支持台 28A・・・支柱 28B・・・底板固定部 28C・・・ガイド溝 29・・・排気ファン 30・・・ローダ 32・・・アーム機構 33・・・把持部 34・・・下腕 35・・・上腕 36・・・肘関節 37・・・肩関節 40・・・アーム昇降機構 41・・・腕支持部 45・・・アーム移動機構 46・・・浄化ファン 50・・・コントローラ DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Wafer transfer apparatus 20 ... Opener 21, 31 ... Case 22 ... Elevating box 23 ... Cassette passage opening 24 ... Bottom plate passage opening 25 ... Cover support Part 27: Box elevating mechanism 272: Drive shaft 272A: Male screw part 274: Drive motor 275: Elevating part 275A: Female screw part 276: Guide part 28: Support base 28A · · · Support 28B · · · Bottom plate fixing part 28C · · · Guide groove 29 · · · Exhaust fan 30 · · · Loader 32 · · · Arm mechanism 33 · · · Holder 34 · · · Lower arm 35 · · · ·・ Upper arm 36 ・ ・ ・ Elbow joint 37 ・ ・ ・ Shoulder joint 40 ・ ・ ・ Arm raising / lowering mechanism 41 ・ ・ ・ Arm support part 45 ・ ・ ・ Arm moving mechanism 46 ・ ・ ・ Purification fan 50 ・ ・ ・ Controller

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 夏目 光夫 愛知県豊橋市三弥町字元屋敷150 神鋼電 機株式会社豊橋事業所内 (72)発明者 北澤 保良 愛知県豊橋市三弥町字元屋敷150 神鋼電 機株式会社豊橋事業所内 Fターム(参考) 5F031 CA02 DA01 DA09 EA14 FA03 FA07 FA14 GA19 GA30 GA43 GA47 GA48 GA49 GA60 LA12 LA13 NA02 NA03 NA10 NA16 NA18 5F046 AA21 CD01 CD04 CD06  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Mitsuo Natsume 150, Motoyashiki, Miyamachi, Toyohashi-shi, Aichi Prefecture Shinko Electric Machinery Co., Ltd., Toyohashi Plant (72) Inventor Yasuyoshi Kitazawa 150, Yomiyashiki, Miyamachi, Toyohashi-shi, Aichi Prefecture Shinko 5F031 CA02 DA01 DA09 EA14 FA03 FA07 FA14 GA19 GA30 GA43 GA47 GA48 GA49 GA60 LA12 LA13 NA02 NA03 NA10 NA16 NA18 5F046 AA21 CD01 CD04 CD06

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ウェハを支持したウェハカセットが載置
される底板及びこの底板を覆ってウェハカセットを外気
から遮断するカバーとからなるカセット保持容器に対
し、該ウェハカセットを開放または収容させるオープナ
と、 前記オープナによってカセット保持容器から前記カッセ
トウェハが開放された場合に前記カセット収容容器と半
導体製造装置のカセット受け入れ部との間で、前記ウェ
ハカセットを搬送するローダとを備え、 前記オープナは、 前記カセット保持容器の底板を固定する底板固定部を有
し、当該カセット保持容器を下方から支持する支持台
と、 上面に前記カセット保持容器の底板が通過し得る底板通
過用開口部及びこの底板通過用開口部の周囲にあって前
記カバーを下方から支持するカバー支持部を有すると共
に、側面にカセット通過用開口部を有し、前記ウェハカ
セットの載せられた支持台を囲んだ状態で上下動可能な
昇降ボックスと、 前記昇降ボックスを上下動させる昇降ボックス駆動機構
とを具備し、 前記ローダは、 前記昇降ボックス駆動機構によって前記昇降ボックスが
上昇駆動され、前記カセット通過用開口部が所定取り出
し位置に至ったとき、前記支持台と前記カセット受け入
れ部との間でウェハカセットを搬送するローディング機
構を具備したことを特徴とするウェハ搬送装置。
An opener for opening or storing a wafer cassette in a cassette holding container including a bottom plate on which a wafer cassette supporting a wafer is placed and a cover covering the bottom plate and shielding the wafer cassette from the outside air. A loader that transports the wafer cassette between the cassette housing container and a cassette receiving portion of a semiconductor manufacturing apparatus when the cassette wafer is released from a cassette holding container by the opener; A support base having a bottom plate fixing portion for fixing the bottom plate of the holding container, and supporting the cassette holding container from below, a bottom plate passage opening through which the bottom plate of the cassette holding container can pass on the upper surface, and a bottom plate passage opening A cover supporting portion around the portion and supporting the cover from below, An elevating box having a cassette passage opening and capable of moving up and down while enclosing the support table on which the wafer cassette is mounted; and an elevating box drive mechanism for moving the elevating box up and down; A loading mechanism for transporting a wafer cassette between the support table and the cassette receiving portion when the lifting box is driven up by the lifting box drive mechanism and the cassette passage opening reaches a predetermined take-out position; A wafer transfer device, comprising:
【請求項2】 請求項1記載のウェハ搬送装置におい
て、 前記昇降ボックス駆動機構をオープナ内に配置したこと
を特徴とするウェハ搬送装置。
2. The wafer transfer device according to claim 1, wherein said lifting box drive mechanism is disposed in an opener.
【請求項3】 請求項1または2記載のウェハ搬送装置
において、 前記ローダの筐体の上面に、該ローダの筐体の内部に清
浄空気を供給する給気手段を設け、 前記昇降ボックスの底面に、前記給気手段によって筐体
内部に供給され、前記カセット通過用開口部を介して前
記昇降ボックス内に導入された清浄空気を前記昇降ボッ
クスの外へ排気する排気手段を設けたことを特徴とする
ウェハ搬送装置。
3. The wafer transfer device according to claim 1, wherein an air supply means for supplying clean air to the inside of the loader housing is provided on an upper surface of the housing of the loader, and a bottom surface of the elevating box is provided. Exhaust means for exhausting the clean air supplied into the housing by the air supply means and introduced into the elevating box through the cassette passage opening to the outside of the elevating box. Wafer transfer device.
【請求項4】 請求項1〜3記載のウェハ搬送装置にお
いて、 前記ローダは、前記半導体製造装置においてカセット受
け入れ部のある前面部に面して配置され、 前記オープナは、前記前面部に向かって前記ローダの右
側、左側または左右両側に配置されることを特徴とする
ウェハ搬送装置。
4. The wafer transfer device according to claim 1, wherein the loader is disposed to face a front surface having a cassette receiving portion in the semiconductor manufacturing device, and the opener is directed toward the front surface. A wafer transfer device, which is disposed on the right side, left side, or both right and left sides of the loader.
【請求項5】 請求項1〜4記載のウェハ搬送装置にお
いて、 前記ローディング機構は、把持したウェハカセットを水
平方向に移動させるアーム機構を具備することを特徴と
するウェハ搬送装置。
5. The wafer transfer device according to claim 1, wherein said loading mechanism includes an arm mechanism for moving a gripped wafer cassette in a horizontal direction.
【請求項6】 請求項1〜5記載のウェハ搬送装置にお
いて、 前記オープナの空気通路と前記ローダの空気通路とを連
通すべく、前記底板固定部との間に空気用開口部を形成
する遮蔽板を設けたことを特徴とするウェハ搬送装置。
6. The wafer transfer device according to claim 1, wherein an air opening is formed between the bottom plate fixing portion and the air passage of the opener so as to communicate with the air passage of the loader. A wafer transfer device comprising a plate.
【請求項7】 請求項1〜5記載のウェハ搬送装置にお
いて、 前記オープナおよび前記ローダの空気通路を連通すべ
く、前記底板固定部との間に空気用開口部を形成する遮
蔽板を前記空気通路の下側に設け、 前記昇降ボックスが下側にあって前記カバーによって前
記ウェハカセットが覆われている場合には、前記空気用
開口部と前記カセット通過用開口部とが連通することに
より前記底板固定部の下側に形成される下側空気通路に
よって前記ローダ側から昇降ボックス内に清浄空気を流
し、 前記昇降ボックスが上側に移動する状態にあって前記カ
バーから前記ウェハカセットが開放される場合には、前
記下側空気通路、前記カセット通過用開口部によって前
記底板固定部の上側に形成される上側空気通路によって
前記ローダから昇降ボックス内に清浄空気を流し、 前記昇降ボックスが上側に移動して前記カセット通過用
開口部が水平方向に現れた場合には、前記下側空気通路
が遮蔽されて前記上側空気通路によって前記ローダから
昇降ボックス内に清浄空気を流すことを特徴とするウェ
ハ搬送装置。
7. The wafer transfer device according to claim 1, wherein a shielding plate that forms an air opening between the opener and the bottom plate fixing portion is formed to communicate with an air passage of the opener and the loader. Provided below the passage, when the elevating box is on the lower side and the wafer cassette is covered by the cover, the opening for air and the opening for passing the cassette communicate with each other. The clean air flows from the loader side into the lift box by a lower air passage formed below the bottom plate fixing part, and the wafer cassette is opened from the cover in a state where the lift box moves upward. In the case, the lower air passage, the upper and lower boxes from the loader by an upper air passage formed above the bottom plate fixing portion by the cassette passage opening. When the elevating box moves upward and the cassette passage opening appears in the horizontal direction, the lower air passage is blocked and the lower air passage is lifted from the loader by the upper air passage. A wafer transfer device characterized by flowing clean air into a box.
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