JP2002243782A - 近傍界測定方法および近傍界測定システム - Google Patents
近傍界測定方法および近傍界測定システムInfo
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ４５°偏波の被測定アンテナの主偏波成分の
指向性を容易に且つ効率的に測定できるようにする。 【解決手段】 測定の開始が指示されると、プローブを
ＸＹ座標面に対して１回走査し、各測定座標毎の測定デ
ータを記憶する（Ｓ１〜Ｓ６）。次に、この記憶した測
定データに基づいて、ＸＺ平面における結合積Ｄ（Ｋ
ｖ）ＸとＹＺ平面における結合積Ｄ（Ｋｖ）Ｙとを求め
る（Ｓ７）。そして、結合積Ｄ（Ｋｖ）Ｘと、予め既知
なプローブのＸＺ平面における主偏波成分および比例係
数Ａとに基づいて、被測定アンテナのＸＺ平面における
主偏波（４５°）成分の指向性を求め（Ｓ８）、同様
に、結合積Ｄ（Ｋｖ）Ｙと、予め既知なプローブのＹＺ
平面における主偏波成分および比例係数Ａとに基づい
て、被測定アンテナのＹＺ平面における主偏波（４５
°）成分の指向性を求める（Ｓ９）。
指向性を容易に且つ効率的に測定できるようにする。 【解決手段】 測定の開始が指示されると、プローブを
ＸＹ座標面に対して１回走査し、各測定座標毎の測定デ
ータを記憶する（Ｓ１〜Ｓ６）。次に、この記憶した測
定データに基づいて、ＸＺ平面における結合積Ｄ（Ｋ
ｖ）ＸとＹＺ平面における結合積Ｄ（Ｋｖ）Ｙとを求め
る（Ｓ７）。そして、結合積Ｄ（Ｋｖ）Ｘと、予め既知
なプローブのＸＺ平面における主偏波成分および比例係
数Ａとに基づいて、被測定アンテナのＸＺ平面における
主偏波（４５°）成分の指向性を求め（Ｓ８）、同様
に、結合積Ｄ（Ｋｖ）Ｙと、予め既知なプローブのＹＺ
平面における主偏波成分および比例係数Ａとに基づい
て、被測定アンテナのＹＺ平面における主偏波（４５
°）成分の指向性を求める（Ｓ９）。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、アンテナの近傍界
の特性を測定する近傍界測定システムにおいて、４５°
偏波のアンテナの特性を容易に求めるための技術に関す
る。
の特性を測定する近傍界測定システムにおいて、４５°
偏波のアンテナの特性を容易に求めるための技術に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】アンテナの近傍界測定（ＮＦＭ）は、電
波無反射室内において、被測定アンテナの近傍でプロー
ブを相対的に移動して、その位置毎の振幅や位相を測定
し、その測定結果に基づいて、被測定アンテナの指向特
性等を算出するための測定方法であり、戸外等の広大な
場所で行う遠方界測定（ＦＦＭ）と比べて、反射による
影響、外来電波による影響あるいは風雨の影響を考慮せ
ずに済み、また開発中のアンテナの秘密を保持できると
いう利点がある。
波無反射室内において、被測定アンテナの近傍でプロー
ブを相対的に移動して、その位置毎の振幅や位相を測定
し、その測定結果に基づいて、被測定アンテナの指向特
性等を算出するための測定方法であり、戸外等の広大な
場所で行う遠方界測定（ＦＦＭ）と比べて、反射による
影響、外来電波による影響あるいは風雨の影響を考慮せ
ずに済み、また開発中のアンテナの秘密を保持できると
いう利点がある。
【０００３】また、屋内で行う遠方界測定では、大型の
電波無反射室が必要で、かつ、被測定アンテナの大きさ
に制限が生じるが、近傍界測定では、小さな電波無反射
室でも大口径のアンテナを測定できるという利点もあ
る。
電波無反射室が必要で、かつ、被測定アンテナの大きさ
に制限が生じるが、近傍界測定では、小さな電波無反射
室でも大口径のアンテナを測定できるという利点もあ
る。
【０００４】この近傍界測定におけるプローブの走査方
法としては、円筒面走査法、球面走査法、極平面走査法
等があるが、一般的には、図７に示すように、被測定ア
ンテナ１の放射面１ａと平行なＸＹ平面上でプローブ２
を走査する平面走査法が用いられており、また、プロー
ブ２としては、例えばミリ波帯のアンテナを測定する場
合には先端が開放された標準導波管が用いられている。
法としては、円筒面走査法、球面走査法、極平面走査法
等があるが、一般的には、図７に示すように、被測定ア
ンテナ１の放射面１ａと平行なＸＹ平面上でプローブ２
を走査する平面走査法が用いられており、また、プロー
ブ２としては、例えばミリ波帯のアンテナを測定する場
合には先端が開放された標準導波管が用いられている。
【０００５】このような近傍界測定システムによって実
際にアンテナの測定を行う場合、一般的には、被測定ア
ンテナ１の主偏波成分とこれに直交する交差偏波成分と
を考慮し、その一方の偏波方向に合わせて指向性既知の
プローブ２を対向させた状態でＸＹ平面上を走査して電
磁界の分布を測定してから、被測定アンテナ１の他方の
偏波方向に合わせてプローブ２の受信面をＸＹ平面に直
交する線を中心にして９０度回転させた状態で再度ＸＹ
平面上を走査して測定し、この２回の走査で得られた測
定データとプローブ２の指向性等に基づいて、被測定ア
ンテナの指向性を決定する。
際にアンテナの測定を行う場合、一般的には、被測定ア
ンテナ１の主偏波成分とこれに直交する交差偏波成分と
を考慮し、その一方の偏波方向に合わせて指向性既知の
プローブ２を対向させた状態でＸＹ平面上を走査して電
磁界の分布を測定してから、被測定アンテナ１の他方の
偏波方向に合わせてプローブ２の受信面をＸＹ平面に直
交する線を中心にして９０度回転させた状態で再度ＸＹ
平面上を走査して測定し、この２回の走査で得られた測
定データとプローブ２の指向性等に基づいて、被測定ア
ンテナの指向性を決定する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特性が
全く未知のアンテナを解析するのではなく、アンテナを
設計したり、製品検査をする際には、そのアンテナの主
偏波成分の指向性が把握できればよい場合が多い。
全く未知のアンテナを解析するのではなく、アンテナを
設計したり、製品検査をする際には、そのアンテナの主
偏波成分の指向性が把握できればよい場合が多い。
【０００７】例えば、近年開発されているミリ波帯を用
いた車載用レーダシステムでは、対向車からのレーダ波
の妨害を防ぐために４５°偏波を主偏波成分とするアン
テナを使用するが、このように主偏波成分の角度が決ま
っているアンテナを多数測定するような場合、その４５
°の主偏波成分のＸＺ面（水平面）およびＹＺ面（垂直
面）の指向特性を効率的に測定できることが要求され
る。
いた車載用レーダシステムでは、対向車からのレーダ波
の妨害を防ぐために４５°偏波を主偏波成分とするアン
テナを使用するが、このように主偏波成分の角度が決ま
っているアンテナを多数測定するような場合、その４５
°の主偏波成分のＸＺ面（水平面）およびＹＺ面（垂直
面）の指向特性を効率的に測定できることが要求され
る。
【０００８】ところが、このような４５°偏波のアンテ
ナの主偏波の特性を求めるために、プローブ２を被測定
アンテナ１の主偏波方向に合わせて回転させたとして
も、その測定結果には、プローブ２自体の交差偏波成分
が含まれてしまうため、結局この交差偏波成分の補正の
ために前記した２回の走査が必要となってしまい、上記
した効率的な測定が行えない。
ナの主偏波の特性を求めるために、プローブ２を被測定
アンテナ１の主偏波方向に合わせて回転させたとして
も、その測定結果には、プローブ２自体の交差偏波成分
が含まれてしまうため、結局この交差偏波成分の補正の
ために前記した２回の走査が必要となってしまい、上記
した効率的な測定が行えない。
【０００９】本発明は、上記問題を解決して、４５°偏
波の被測定アンテナの主偏波成分の指向性を容易に且つ
効率的に測定できる近傍界測定方法およびシステムを提
供することを目的としている。
波の被測定アンテナの主偏波成分の指向性を容易に且つ
効率的に測定できる近傍界測定方法およびシステムを提
供することを目的としている。
【００１０】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の請求項１の近傍界測定方法は、被測定アン
テナとの間で電磁波の送受信が可能なプローブを前記被
測定アンテナの近傍の直交座標面上で走査しながら電磁
界測定を行い、該測定結果に基づいて前記被測定アンテ
ナの特性を求める近傍界測定方法において、少なくとも
前記被測定アンテナを望む角度範囲内で磁界面の指向性
と電界面の指向性とがほぼ等しいプローブを、その電界
面が前記直交座標面の直交軸に対して４５°傾いた状態
で走査し、前記プローブの前記直交座標面に対する一回
の走査によって得られた測定結果に基づいて、前記被測
定アンテナの主偏波成分の指向性を求めることを特徴と
している。
に、本発明の請求項１の近傍界測定方法は、被測定アン
テナとの間で電磁波の送受信が可能なプローブを前記被
測定アンテナの近傍の直交座標面上で走査しながら電磁
界測定を行い、該測定結果に基づいて前記被測定アンテ
ナの特性を求める近傍界測定方法において、少なくとも
前記被測定アンテナを望む角度範囲内で磁界面の指向性
と電界面の指向性とがほぼ等しいプローブを、その電界
面が前記直交座標面の直交軸に対して４５°傾いた状態
で走査し、前記プローブの前記直交座標面に対する一回
の走査によって得られた測定結果に基づいて、前記被測
定アンテナの主偏波成分の指向性を求めることを特徴と
している。
【００１１】また、本発明の請求項２の近傍界測定シス
テムは、被測定アンテナとの間で電磁波の送受信が可能
なプローブを、走査手段によって前記被測定アンテナの
近傍の直交座標面上で走査しながら電磁界測定を行い、
該測定結果に対する演算を演算処理部によって行って前
記被測定アンテナの特性を求める近傍界測定システムに
おいて、前記プローブは、少なくとも前記被測定アンテ
ナを望む角度範囲内で、磁界面の指向性と電界面の指向
性とがほぼ等しくなるように構成され、その電界面が前
記直交座標面の直交軸に対して４５°傾いた状態で前記
走査手段に支持されて前記直交座標面上を走査され、前
記演算処理部は、前記直交座標面に対する前記プローブ
の一回の走査によって得られた測定結果に基づいて、前
記被測定アンテナの主偏波成分の指向性を算出するよう
に構成されていることを特徴としている。
テムは、被測定アンテナとの間で電磁波の送受信が可能
なプローブを、走査手段によって前記被測定アンテナの
近傍の直交座標面上で走査しながら電磁界測定を行い、
該測定結果に対する演算を演算処理部によって行って前
記被測定アンテナの特性を求める近傍界測定システムに
おいて、前記プローブは、少なくとも前記被測定アンテ
ナを望む角度範囲内で、磁界面の指向性と電界面の指向
性とがほぼ等しくなるように構成され、その電界面が前
記直交座標面の直交軸に対して４５°傾いた状態で前記
走査手段に支持されて前記直交座標面上を走査され、前
記演算処理部は、前記直交座標面に対する前記プローブ
の一回の走査によって得られた測定結果に基づいて、前
記被測定アンテナの主偏波成分の指向性を算出するよう
に構成されていることを特徴としている。
【００１２】また、本発明の請求項３の近傍界測定シス
テムは、請求項２記載の近傍界測定システムにおいて、
前記プローブは、開放された先端側を前記被測定アンテ
ナに向けた状態で前記走査手段に支持された導波管と、
前記導波管の先端側の開口部のほぼ中央に挿入され、前
記導波管の磁界面の指向性と電界面の指向性とを前記開
口部から前記被測定アンテナを望む角度範囲内でほぼ等
しくする誘電体板とによって構成されていることを特徴
としている。
テムは、請求項２記載の近傍界測定システムにおいて、
前記プローブは、開放された先端側を前記被測定アンテ
ナに向けた状態で前記走査手段に支持された導波管と、
前記導波管の先端側の開口部のほぼ中央に挿入され、前
記導波管の磁界面の指向性と電界面の指向性とを前記開
口部から前記被測定アンテナを望む角度範囲内でほぼ等
しくする誘電体板とによって構成されていることを特徴
としている。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の実
施の形態を説明する。始めに、平面走査型の近傍界測定
システムにおいて、被測定アンテナの主偏波成分の指向
性を測定する方法について説明する。
施の形態を説明する。始めに、平面走査型の近傍界測定
システムにおいて、被測定アンテナの主偏波成分の指向
性を測定する方法について説明する。
【００１４】平面走査型の近傍界測定では、前記図７で
示したように、被測定アンテナ１の放射面に対向するＸ
Ｙ平面上でプローブ２を走査して、予め定められた格子
点（ｘｎ，ｙｍ）毎の電界Ｅ（ｘｎ，ｙｍ）を測定す
る。この測定によって得られる測定データは複素量であ
り振幅と位相を含んでいる。また、ｎ＝１，２，…，
Ｎ、ｍ＝１，２，…，Ｍである。
示したように、被測定アンテナ１の放射面に対向するＸ
Ｙ平面上でプローブ２を走査して、予め定められた格子
点（ｘｎ，ｙｍ）毎の電界Ｅ（ｘｎ，ｙｍ）を測定す
る。この測定によって得られる測定データは複素量であ
り振幅と位相を含んでいる。また、ｎ＝１，２，…，
Ｎ、ｍ＝１，２，…，Ｍである。
【００１５】次に、求めた各測定データＥ（ｘｎ，
ｙｍ）に対しフーリエ変換を行うことで、被測定アンテ
ナ１の指向性に関係した量で、被測定アンテナ１の開口
中心からの方向ベクトルＫｖの関数で表される結合積Ｄ
（Ｋｖ）が得られる。なお、以下、添字ｖはベクトルを
表すものとする。
ｙｍ）に対しフーリエ変換を行うことで、被測定アンテ
ナ１の指向性に関係した量で、被測定アンテナ１の開口
中心からの方向ベクトルＫｖの関数で表される結合積Ｄ
（Ｋｖ）が得られる。なお、以下、添字ｖはベクトルを
表すものとする。
【００１６】近傍界測定法の理論によれば、被測定アン
テナ１のＫｖ方向のベクトル指向性関数εｖ（Ｋｖ）
と、プローブ２の前記Ｋｖと反対向きの−Ｋｖ方向のベ
クトル指向性関数ε′ｖ（−Ｋｖ）とのスカラー積は、
次式（１）のように、結合積Ｄ（Ｋｖ）に比例すること
が知られている。
テナ１のＫｖ方向のベクトル指向性関数εｖ（Ｋｖ）
と、プローブ２の前記Ｋｖと反対向きの−Ｋｖ方向のベ
クトル指向性関数ε′ｖ（−Ｋｖ）とのスカラー積は、
次式（１）のように、結合積Ｄ（Ｋｖ）に比例すること
が知られている。
【００１７】 εｖ（Ｋｖ）・ε′ｖ（−Ｋｖ）＝ＡＤ（Ｋｖ） ……（１） ただし、Ａは測定系で決まる比例係数である。
【００１８】そこで、被測定アンテナ１のベクトル指向
性関数εｖ（Ｋｖ）を主偏波成分ε ｃｐ（Ｋｖ）と交差
偏波成分εｘｐ（Ｋｖ）に分け、プローブ２のベクトル
指向性関数ε′ｖ（−Ｋｖ）を、主偏波成分ε′
ｃｐ（−Ｋｖ）と交差偏波成分ε′ ｘｐ（−Ｋｖ）とに
分けると、上記式（１）は次式（２）のようになる。
性関数εｖ（Ｋｖ）を主偏波成分ε ｃｐ（Ｋｖ）と交差
偏波成分εｘｐ（Ｋｖ）に分け、プローブ２のベクトル
指向性関数ε′ｖ（−Ｋｖ）を、主偏波成分ε′
ｃｐ（−Ｋｖ）と交差偏波成分ε′ ｘｐ（−Ｋｖ）とに
分けると、上記式（１）は次式（２）のようになる。
【００１９】 εｃｐ（Ｋｖ）・ε′ｃｐ（−Ｋｖ） ＋εｘｐ（Ｋｖ）・ε′ｘｐ（−Ｋｖ） ＝ＡＤ（Ｋｖ） ……（２）
【００２０】上式（２）において、比例係数Ａは前記し
たように測定系によって決まる値、結合積Ｄ（Ｋｖ）は
測定によって得られる値、主偏波成分ε′ｃｐ（−Ｋ
ｖ）、交差偏波成分ε′ｘｐ（−Ｋｖ）はプローブ２に
よって決まる値でいずれも既知となるが、被測定アンテ
ナ１の２つの偏波成分εｃｐ（Ｋｖ）、εｘｐ（Ｋｖ）
が未知数であるため、上式（２）だけではこれらの偏波
成分のいずれも求めることができない。
たように測定系によって決まる値、結合積Ｄ（Ｋｖ）は
測定によって得られる値、主偏波成分ε′ｃｐ（−Ｋ
ｖ）、交差偏波成分ε′ｘｐ（−Ｋｖ）はプローブ２に
よって決まる値でいずれも既知となるが、被測定アンテ
ナ１の２つの偏波成分εｃｐ（Ｋｖ）、εｘｐ（Ｋｖ）
が未知数であるため、上式（２）だけではこれらの偏波
成分のいずれも求めることができない。
【００２１】このため、従来では前記したように、プロ
ーブ２を９０°回転させて測定を行い、そのときに得ら
れた測定結果に対する結合積Ｄ′（Ｋｖ）を用いた式を
たて、その式と上式（２）との連立方程式を解くこと
で、被測定アンテナ１の偏波成分εｃｐ（Ｋｖ）、ε
ｘｐ（Ｋｖ）を求めている。
ーブ２を９０°回転させて測定を行い、そのときに得ら
れた測定結果に対する結合積Ｄ′（Ｋｖ）を用いた式を
たて、その式と上式（２）との連立方程式を解くこと
で、被測定アンテナ１の偏波成分εｃｐ（Ｋｖ）、ε
ｘｐ（Ｋｖ）を求めている。
【００２２】しかし、仮にプローブ２の交差偏波成分
ε′ｘｐ（−Ｋｖ）が０であれば、上式（２）は、 εｃｐ（Ｋｖ）・ε′ｃｐ（−Ｋｖ）＝ＡＤ（Ｋｖ） ……（３） となり、被測定アンテナ１の主偏波成分εｃｐ（Ｋｖ）
のみが未知数となるから、その解を得ることができる。
ε′ｘｐ（−Ｋｖ）が０であれば、上式（２）は、 εｃｐ（Ｋｖ）・ε′ｃｐ（−Ｋｖ）＝ＡＤ（Ｋｖ） ……（３） となり、被測定アンテナ１の主偏波成分εｃｐ（Ｋｖ）
のみが未知数となるから、その解を得ることができる。
【００２３】つまり、１回の走査で被測定アンテナ１の
主偏波成分を求めるためには、交差偏波成分ε′
ｘｐ（−Ｋｖ）が０となるプローブ２を実現できればよ
いことになる。
主偏波成分を求めるためには、交差偏波成分ε′
ｘｐ（−Ｋｖ）が０となるプローブ２を実現できればよ
いことになる。
【００２４】そこで、前記した車載用レーダシステム等
で使用される４５°偏波について交差偏波成分ε′ｘｐ
（−Ｋｖ）が０となるプローブの条件を調べる。
で使用される４５°偏波について交差偏波成分ε′ｘｐ
（−Ｋｖ）が０となるプローブの条件を調べる。
【００２５】図１の（ａ）のように、先端が開放された
導波管からなり、その開口面の短辺方向に沿った電界面
を有する直線偏波のプローブ２を、その開口面がＺ軸と
直交する平面に平行でその長辺方向がＸ軸およびＹ軸に
対して４５°をなすように傾けて配置する。このとき、
プローブ２の電界面の方向Ｘ′および磁界面の方向Ｙ′
は、Ｘ軸およびＹ軸に対して４５°（＝π／４）回転す
る。
導波管からなり、その開口面の短辺方向に沿った電界面
を有する直線偏波のプローブ２を、その開口面がＺ軸と
直交する平面に平行でその長辺方向がＸ軸およびＹ軸に
対して４５°をなすように傾けて配置する。このとき、
プローブ２の電界面の方向Ｘ′および磁界面の方向Ｙ′
は、Ｘ軸およびＹ軸に対して４５°（＝π／４）回転す
る。
【００２６】また、図１の（ｂ）のように、プローブ２
の開口面の中心を原点とし、点Ｐの座標を、原点から点
Ｐを結ぶ線ＬのＺ軸に対する角度θと、線ＬをＸＹ平面
に投影した線Ｌ′のＸ軸に対する角度φとで表す球座標
（θ，φ）を定義し、プローブ２の電界面（Ｅ面）にお
ける指向性をＥ（θ）、電界面と直交する磁界面（Ｈ
面）における指向性をＨ（θ）とする。
の開口面の中心を原点とし、点Ｐの座標を、原点から点
Ｐを結ぶ線ＬのＺ軸に対する角度θと、線ＬをＸＹ平面
に投影した線Ｌ′のＸ軸に対する角度φとで表す球座標
（θ，φ）を定義し、プローブ２の電界面（Ｅ面）にお
ける指向性をＥ（θ）、電界面と直交する磁界面（Ｈ
面）における指向性をＨ（θ）とする。
【００２７】ここで、被測定アンテナ１について求めた
い指向性の一方の主平面（垂直面）であるＸＺ面を球座
標（θ，φ）で表すと（θ，０）となり、他方の主平面
（水平面）であるＹＺ面を球座標（θ，φ）で表すと
（θ，π／２）となる。
い指向性の一方の主平面（垂直面）であるＸＺ面を球座
標（θ，φ）で表すと（θ，０）となり、他方の主平面
（水平面）であるＹＺ面を球座標（θ，φ）で表すと
（θ，π／２）となる。
【００２８】また、θ方向の単位ベクトルをθｖ、φ方
向の単位ベクトルをφｖとすると、４５°傾けたプロー
ブ２の主偏波成分の方向ベクトルは、ＸＺ平面内では
（θｖ＋φｖ）、ＹＺ平面内では（θｖ−φｖ）とな
る。
向の単位ベクトルをφｖとすると、４５°傾けたプロー
ブ２の主偏波成分の方向ベクトルは、ＸＺ平面内では
（θｖ＋φｖ）、ＹＺ平面内では（θｖ−φｖ）とな
る。
【００２９】したがって、（θ，φ）座標系におけるプ
ローブ２の指向性を２つの主平面に分けて表すと、ＸＺ
面では、 ε′（θ，０）＝［Ｅ（θ）＋Ｈ（θ）］（θｖ＋φｖ）／２ ＋［Ｅ（θ）−Ｈ（θ）］（θｖ−φｖ）／２ ……（４） となる。
ローブ２の指向性を２つの主平面に分けて表すと、ＸＺ
面では、 ε′（θ，０）＝［Ｅ（θ）＋Ｈ（θ）］（θｖ＋φｖ）／２ ＋［Ｅ（θ）−Ｈ（θ）］（θｖ−φｖ）／２ ……（４） となる。
【００３０】また、ＹＺ面では、 ε′（θ，π／２）＝［Ｅ（θ）−Ｈ（θ）］（θｖ＋φｖ）／２ ＋［Ｅ（θ）＋Ｈ（θ）］（θｖ−φｖ）／２ ……（５） となる。
【００３１】もし、上式（４）、（５）で、Ｅ（θ）＝
Ｈ（θ）が成立すれば、 ε′（θ，０） ＝｛［Ｅ（θ）＋Ｈ（θ）］（θｖ＋φｖ）／２｝ ……（６） ε′（θ，π／２） ＝｛［Ｅ（θ）＋Ｈ（θ）］（θｖ−φｖ）／２｝ ……（７） となり、プローブ２のＸＺ面およびＹＺ面における偏波
成分は、それぞれ（θｖ＋φｖ）および（θｖ−φ
ｖ）、即ち、主偏波成分のみとなることがわかる。
Ｈ（θ）が成立すれば、 ε′（θ，０） ＝｛［Ｅ（θ）＋Ｈ（θ）］（θｖ＋φｖ）／２｝ ……（６） ε′（θ，π／２） ＝｛［Ｅ（θ）＋Ｈ（θ）］（θｖ−φｖ）／２｝ ……（７） となり、プローブ２のＸＺ面およびＹＺ面における偏波
成分は、それぞれ（θｖ＋φｖ）および（θｖ−φ
ｖ）、即ち、主偏波成分のみとなることがわかる。
【００３２】したがって、少なくとも被測定アンテナ１
を望む角度範囲内で、電界面（Ｅ面）と磁界面（Ｈ面）
の指向性が等しいプローブを用いることで、被測定アン
テナ１の４５°の主偏波成分の指向性を１回の近傍界走
査で求めることができる。
を望む角度範囲内で、電界面（Ｅ面）と磁界面（Ｈ面）
の指向性が等しいプローブを用いることで、被測定アン
テナ１の４５°の主偏波成分の指向性を１回の近傍界走
査で求めることができる。
【００３３】次に、上記原理を用いた近傍界測定システ
ムの具体的な構成について説明する。図２は、本発明を
適用した近傍界測定システムの全体構成を示している。
ムの具体的な構成について説明する。図２は、本発明を
適用した近傍界測定システムの全体構成を示している。
【００３４】図２において、被測定アンテナ１０は、支
持装置２１によって所定位置に支持される。この被測定
アンテナ１０は、例えば車載用レーダに用いるために設
計された平面型のアンテナであり、ほぼ鉛直線に沿った
放射面１０ａから鉛直線に対して４５°傾いた偏波の電
磁波を放射する。
持装置２１によって所定位置に支持される。この被測定
アンテナ１０は、例えば車載用レーダに用いるために設
計された平面型のアンテナであり、ほぼ鉛直線に沿った
放射面１０ａから鉛直線に対して４５°傾いた偏波の電
磁波を放射する。
【００３５】被測定アンテナ１０の近傍でその放射面１
０ａに対向するＸＹ直交座標面（以下ＸＹ平面と記す）
上の位置には、プローブ２２がその先端側の開口面をＸ
Ｙ平面に一致させた状態で配置されている。
０ａに対向するＸＹ直交座標面（以下ＸＹ平面と記す）
上の位置には、プローブ２２がその先端側の開口面をＸ
Ｙ平面に一致させた状態で配置されている。
【００３６】プローブ２２は、先端側が開放されたミリ
波帯（６０〜９０ＧＨｚ）で標準的に使用される導波管
（例えばＷＲ１２）２３からなり、その開口面の短辺方
向に沿った電界面を有する直線偏波のものであり、電界
面が被測定アンテナ１０の主偏波成分の方向と一致する
ように開口面の長辺方向がＸ軸およびＹ軸に対して４５
°傾くように支持されている。
波帯（６０〜９０ＧＨｚ）で標準的に使用される導波管
（例えばＷＲ１２）２３からなり、その開口面の短辺方
向に沿った電界面を有する直線偏波のものであり、電界
面が被測定アンテナ１０の主偏波成分の方向と一致する
ように開口面の長辺方向がＸ軸およびＹ軸に対して４５
°傾くように支持されている。
【００３７】この導波管２３の開口された先端側には、
図３に示すように、誘電体板２４が挿入されている。
図３に示すように、誘電体板２４が挿入されている。
【００３８】この誘電体板２４は、前記した広い角度範
囲で電界面（Ｅ面）と磁界面（Ｈ面）の指向性を等しく
させるためのものであり、導波管２３内でその長辺方向
（磁界面に沿った方向）に広く分布する電磁界を中央側
に集中させて、磁界面の指向性を広げて電界面の指向性
に合わせている。
囲で電界面（Ｅ面）と磁界面（Ｈ面）の指向性を等しく
させるためのものであり、導波管２３内でその長辺方向
（磁界面に沿った方向）に広く分布する電磁界を中央側
に集中させて、磁界面の指向性を広げて電界面の指向性
に合わせている。
【００３９】実際の例で説明すると、開口部の幅が３．
１ｍｍ、高さが１．５５ｍｍのＷＲ１２の導波管２３の
みで構成したプローブでは、図４の（ｂ）の点線で示す
ようにその磁界面の指向性Ｈ（θ）が、実線で示した電
界面の指向性Ｅ（θ）に比べて狭く、両者は狭い角度範
囲（約±２０°）でしか一致しておらず、角度が大きく
なる程その差が大きくなっている。
１ｍｍ、高さが１．５５ｍｍのＷＲ１２の導波管２３の
みで構成したプローブでは、図４の（ｂ）の点線で示す
ようにその磁界面の指向性Ｈ（θ）が、実線で示した電
界面の指向性Ｅ（θ）に比べて狭く、両者は狭い角度範
囲（約±２０°）でしか一致しておらず、角度が大きく
なる程その差が大きくなっている。
【００４０】これに対し、図３に示したように、導波管
２３の先端側の開口部の中央に、厚さｗが０．８ｍｍ、
高さが導波管２３の開口部の短辺の長さとほぼ等しいア
ルミナ製の誘電体板２４を、導波管２３の開口面からの
突出長ｓが１．５ｍｍとなるように挿入したプローブ２
２では、図４の（ａ）の点線で示しているようにその磁
界面の指向性Ｈ（θ）が広がって、実線で示す電界面の
指向性Ｅ（θ）と広い角度範囲（約±９０°）でほぼ一
致している。
２３の先端側の開口部の中央に、厚さｗが０．８ｍｍ、
高さが導波管２３の開口部の短辺の長さとほぼ等しいア
ルミナ製の誘電体板２４を、導波管２３の開口面からの
突出長ｓが１．５ｍｍとなるように挿入したプローブ２
２では、図４の（ａ）の点線で示しているようにその磁
界面の指向性Ｈ（θ）が広がって、実線で示す電界面の
指向性Ｅ（θ）と広い角度範囲（約±９０°）でほぼ一
致している。
【００４１】したがって、このプローブ２２は、前記し
た広い角度範囲でＥ（θ）＝Ｈ（θ）となる条件を満た
している。
た広い角度範囲でＥ（θ）＝Ｈ（θ）となる条件を満た
している。
【００４２】このような指向特性を有するプローブ２２
は、移動装置２５によって被測定アンテナ１０の放射面
１０ａに対向するＸＹ平面上を移動する。
は、移動装置２５によって被測定アンテナ１０の放射面
１０ａに対向するＸＹ平面上を移動する。
【００４３】なお、図示していないが、被測定アンテナ
１０からプローブ２２までの空間は、外来の電磁波がプ
ローブ２２に入射されたり、被測定アンテナ１０から放
射された電磁波が反射してプローブ２２に入射されるこ
とを防止するために、電波吸収材からなる壁面で囲まれ
ていて、被測定アンテナ１０から放射された直接波のみ
がプローブ２２に入射するようにしている。
１０からプローブ２２までの空間は、外来の電磁波がプ
ローブ２２に入射されたり、被測定アンテナ１０から放
射された電磁波が反射してプローブ２２に入射されるこ
とを防止するために、電波吸収材からなる壁面で囲まれ
ていて、被測定アンテナ１０から放射された直接波のみ
がプローブ２２に入射するようにしている。
【００４４】移動装置２５は走査制御部２６によって駆
動制御される。走査制御部２６は、移動装置２５ととも
にこの実施形態の走査手段を構成するものであり、プロ
ーブ２２を支持して、ＸＹ平面上の所定範囲内をＸ軸方
向にΔｘ、Ｙ軸方向にΔｙで格子状に分割する全ての測
定位置（格子点）に所定順に移動させるとともに、その
各測定位置の座標情報を出力する。
動制御される。走査制御部２６は、移動装置２５ととも
にこの実施形態の走査手段を構成するものであり、プロ
ーブ２２を支持して、ＸＹ平面上の所定範囲内をＸ軸方
向にΔｘ、Ｙ軸方向にΔｙで格子状に分割する全ての測
定位置（格子点）に所定順に移動させるとともに、その
各測定位置の座標情報を出力する。
【００４５】一方、給電部２７は所定周波数（被測定ア
ンテナ１０の使用周波数範囲内）の高周波信号を被測定
アンテナ１０に供給して、被測定アンテナ１０からその
周波数の電磁波を放射させるとともに、この高周波信号
を測定部２８に基準信号として与える。
ンテナ１０の使用周波数範囲内）の高周波信号を被測定
アンテナ１０に供給して、被測定アンテナ１０からその
周波数の電磁波を放射させるとともに、この高周波信号
を測定部２８に基準信号として与える。
【００４６】測定部２８は、プローブ２２の出力信号か
ら前記所定周波数の信号を選択的に受信し、その受信信
号の振幅および位相（基準信号に対する位相差）を測定
し、その測定データを走査制御部２６からの座標情報と
ともにメモリ２９に記憶する。
ら前記所定周波数の信号を選択的に受信し、その受信信
号の振幅および位相（基準信号に対する位相差）を測定
し、その測定データを走査制御部２６からの座標情報と
ともにメモリ２９に記憶する。
【００４７】演算処理部３０は、メモリ２９に記憶され
た測定データおよび座標情報に基づいて、被測定アンテ
ナ１０の主偏波成分の垂直面（ＸＺ面）および水平面
（ＹＺ面）の指向性に関する情報を求める。
た測定データおよび座標情報に基づいて、被測定アンテ
ナ１０の主偏波成分の垂直面（ＸＺ面）および水平面
（ＹＺ面）の指向性に関する情報を求める。
【００４８】次に、この近傍界測定システムの動作を図
５のフローチャートに基づいて説明する。なお、予めプ
ローブ２２の主偏波成分ε′ｃｐ（−Ｋｖ）および比例
係数Ａは既知であるものとする。
５のフローチャートに基づいて説明する。なお、予めプ
ローブ２２の主偏波成分ε′ｃｐ（−Ｋｖ）および比例
係数Ａは既知であるものとする。
【００４９】測定の開始が指示されると、走査制御部２
６がプローブ２２を測定開始座標に位置させる（Ｓ１、
Ｓ２）。
６がプローブ２２を測定開始座標に位置させる（Ｓ１、
Ｓ２）。
【００５０】そして、この測定開始座標における測定が
測定部２８で行われ、その測定データがメモリ２９に記
憶される（Ｓ３、Ｓ４）。
測定部２８で行われ、その測定データがメモリ２９に記
憶される（Ｓ３、Ｓ４）。
【００５１】以下、プローブ２２の次の測定座標への移
動および測定が所定順に行われて、全ての測定座標にお
ける測定データＥ（ｘｎ，ｙｍ）がメモリ２９に記憶さ
れる（Ｓ５、Ｓ６）。
動および測定が所定順に行われて、全ての測定座標にお
ける測定データＥ（ｘｎ，ｙｍ）がメモリ２９に記憶さ
れる（Ｓ５、Ｓ６）。
【００５２】次に、演算処理部３０によって、メモリ２
９から測定データが読み出され、その測定データをフー
リエ変換することにより、各ベクトル方向Ｋｖ１〜Ｋｖ
ＬのＸＺ平面における結合積Ｄ（Ｋｖ１）Ｘ〜Ｄ（Ｋｖ
Ｌ）Ｘと、ＹＺ平面における結合積Ｄ（Ｋｖ１）Ｙ〜Ｄ
（ＫｖＬ）Ｙが求められる（Ｓ７）。
９から測定データが読み出され、その測定データをフー
リエ変換することにより、各ベクトル方向Ｋｖ１〜Ｋｖ
ＬのＸＺ平面における結合積Ｄ（Ｋｖ１）Ｘ〜Ｄ（Ｋｖ
Ｌ）Ｘと、ＹＺ平面における結合積Ｄ（Ｋｖ１）Ｙ〜Ｄ
（ＫｖＬ）Ｙが求められる（Ｓ７）。
【００５３】そして、ＸＺ平面における結合積Ｄ（Ｋｖ
１）Ｘ〜Ｄ（ＫｖＬ）Ｘと予め既知なプローブ２２のＸ
Ｚ平面における主偏波成分ε′ｃｐ（−Ｋｖ１）Ｘ〜
ε′ｃ ｐ（−ＫｖＬ）Ｘおよび比例係数Ａとを、前記式
（３）を変形した次式（８）に代入して、被測定アンテ
ナ１０のＸＺ平面における主偏波（４５°）成分の指向
性εｃｐ（Ｋｖｉ）Ｘを求める（Ｓ８）。
１）Ｘ〜Ｄ（ＫｖＬ）Ｘと予め既知なプローブ２２のＸ
Ｚ平面における主偏波成分ε′ｃｐ（−Ｋｖ１）Ｘ〜
ε′ｃ ｐ（−ＫｖＬ）Ｘおよび比例係数Ａとを、前記式
（３）を変形した次式（８）に代入して、被測定アンテ
ナ１０のＸＺ平面における主偏波（４５°）成分の指向
性εｃｐ（Ｋｖｉ）Ｘを求める（Ｓ８）。
【００５４】 εｃｐ（Ｋｖｉ）Ｘ＝ＡＤ（Ｋｖｉ）Ｘ／ε′ｃｐ（−Ｋｖｉ）Ｘ ……（８）
【００５５】同様に、ＹＺ平面における結合積Ｄ（Ｋｖ
１）Ｙ〜Ｄ（ＫｖＬ）Ｙと予め既知なプローブ２２のＹ
Ｚ平面における主偏波成分ε′ｃｐ（−Ｋｖ１）Ｙ〜
ε′ｃ ｐ（−ＫｖＬ）Ｙおよび比例係数Ａとを、前記式
（３）を変形した次式（９）に代入して、被測定アンテ
ナ１０のＹＺ平面における主偏波（４５°）成分の指向
性εｃｐ（Ｋｖｉ）Ｙを求める（Ｓ９）。
１）Ｙ〜Ｄ（ＫｖＬ）Ｙと予め既知なプローブ２２のＹ
Ｚ平面における主偏波成分ε′ｃｐ（−Ｋｖ１）Ｙ〜
ε′ｃ ｐ（−ＫｖＬ）Ｙおよび比例係数Ａとを、前記式
（３）を変形した次式（９）に代入して、被測定アンテ
ナ１０のＹＺ平面における主偏波（４５°）成分の指向
性εｃｐ（Ｋｖｉ）Ｙを求める（Ｓ９）。
【００５６】 εｃｐ（Ｋｖｉ）Ｙ＝ＡＤ（Ｋｖｉ）Ｙ／ε′ｃｐ（−Ｋｖｉ）Ｙ ……（９）
【００５７】上記処理によって得られた被測定アンテナ
１０の主偏波成分の指向性に基づいて、例えば被測定ア
ンテナ１０の遠方界における主偏波成分の垂直面および
水平面の指向特性を求めることができる。
１０の主偏波成分の指向性に基づいて、例えば被測定ア
ンテナ１０の遠方界における主偏波成分の垂直面および
水平面の指向特性を求めることができる。
【００５８】このように実施形態の近傍界測定システム
では、電界面の指向性と磁界面の指向性が広い角度範囲
でほぼ一致するように構成されたプローブ２２を、４５
°偏波の被測定アンテナ１０に対して、その偏波方向に
合わせて４５°傾けた状態で平面走査しているので、プ
ローブ２２の交差偏波成分による影響がなくなり、一回
の走査で被測定アンテナ１０の主偏波成分の主平面にお
ける指向特性を得ることができ、効率的な測定が可能と
なる。
では、電界面の指向性と磁界面の指向性が広い角度範囲
でほぼ一致するように構成されたプローブ２２を、４５
°偏波の被測定アンテナ１０に対して、その偏波方向に
合わせて４５°傾けた状態で平面走査しているので、プ
ローブ２２の交差偏波成分による影響がなくなり、一回
の走査で被測定アンテナ１０の主偏波成分の主平面にお
ける指向特性を得ることができ、効率的な測定が可能と
なる。
【００５９】また、上記したプローブ２２は、先端側が
開放された導波管２３の開口部に誘電体板２４を挿入し
て、電界面の指向性と磁界面の指向性とが広い角度範囲
でほぼ等しくなるようにしているので、既存の導波管か
らなるプローブに誘電体板を挿入するだけで簡単に構成
できるという利点がある。
開放された導波管２３の開口部に誘電体板２４を挿入し
て、電界面の指向性と磁界面の指向性とが広い角度範囲
でほぼ等しくなるようにしているので、既存の導波管か
らなるプローブに誘電体板を挿入するだけで簡単に構成
できるという利点がある。
【００６０】なお、前記した近傍界測定システムでは、
導波管２３の先端側の開口部に誘電体板２４を挿入し
て、電界面の指向性と磁界面の指向性とが広い角度範囲
でほぼ等しいプローブ２２を用いていたが、例えば、図
６に示すプローブ３２のように、導波管２３′の先端部
２３ａの開口面の短辺の長さｂ′を標準値ｂより大きく
して、電界面の指向性を狭めて磁界面の指向性に合わせ
てもよい。
導波管２３の先端側の開口部に誘電体板２４を挿入し
て、電界面の指向性と磁界面の指向性とが広い角度範囲
でほぼ等しいプローブ２２を用いていたが、例えば、図
６に示すプローブ３２のように、導波管２３′の先端部
２３ａの開口面の短辺の長さｂ′を標準値ｂより大きく
して、電界面の指向性を狭めて磁界面の指向性に合わせ
てもよい。
【００６１】また、上記近傍界測定システムでは、被測
定アンテナを送信アンテナとし、プローブを受信アンテ
ナとしていたが、内部にフェライトなどの非可逆素子を
含まない通常のアンテナでは、送受の可逆性が成立する
ので、プローブを送信アンテナとし、被測定アンテナを
受信アンテナとしても、同様の測定を行うことができ
る。
定アンテナを送信アンテナとし、プローブを受信アンテ
ナとしていたが、内部にフェライトなどの非可逆素子を
含まない通常のアンテナでは、送受の可逆性が成立する
ので、プローブを送信アンテナとし、被測定アンテナを
受信アンテナとしても、同様の測定を行うことができ
る。
【００６２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の請求項１
の近傍界測定方法は、被測定アンテナとの間で電磁波の
送受信が可能なプローブを前記被測定アンテナの近傍の
直交座標面上で走査しながら電磁界測定を行い、該測定
結果に基づいて前記被測定アンテナの特性を求める近傍
界測定方法において、少なくとも前記被測定アンテナを
望む角度範囲内で磁界面の指向性と電界面の指向性とが
ほぼ等しいプローブを、その電界面が前記直交座標面の
直交軸に対して４５°傾いた状態で走査し、前記プロー
ブの前記直交座標面に対する一回の走査によって得られ
た測定結果に基づいて、前記被測定アンテナの主偏波成
分の指向性を求めることを特徴としている。
の近傍界測定方法は、被測定アンテナとの間で電磁波の
送受信が可能なプローブを前記被測定アンテナの近傍の
直交座標面上で走査しながら電磁界測定を行い、該測定
結果に基づいて前記被測定アンテナの特性を求める近傍
界測定方法において、少なくとも前記被測定アンテナを
望む角度範囲内で磁界面の指向性と電界面の指向性とが
ほぼ等しいプローブを、その電界面が前記直交座標面の
直交軸に対して４５°傾いた状態で走査し、前記プロー
ブの前記直交座標面に対する一回の走査によって得られ
た測定結果に基づいて、前記被測定アンテナの主偏波成
分の指向性を求めることを特徴としている。
【００６３】また、本発明の請求項２の近傍界測定シス
テムは、被測定アンテナとの間で電磁波の送受信が可能
なプローブを、走査手段によって前記被測定アンテナの
近傍の直交座標面上で走査しながら電磁界測定を行い、
該測定結果に対する演算を演算処理部によって行って前
記被測定アンテナの特性を求める近傍界測定システムに
おいて、前記プローブは、少なくとも前記被測定アンテ
ナを望む角度範囲内で、磁界面の指向性と電界面の指向
性とがほぼ等しくなるように構成され、その電界面が前
記直交座標面の直交軸に対して４５°傾いた状態で前記
走査手段に支持されて前記直交座標面上を走査され、前
記演算処理部は、前記直交座標面に対する前記プローブ
の一回の走査によって得られた測定結果に基づいて、前
記被測定アンテナの主偏波成分の指向性を算出するよう
に構成されていることを特徴としている。
テムは、被測定アンテナとの間で電磁波の送受信が可能
なプローブを、走査手段によって前記被測定アンテナの
近傍の直交座標面上で走査しながら電磁界測定を行い、
該測定結果に対する演算を演算処理部によって行って前
記被測定アンテナの特性を求める近傍界測定システムに
おいて、前記プローブは、少なくとも前記被測定アンテ
ナを望む角度範囲内で、磁界面の指向性と電界面の指向
性とがほぼ等しくなるように構成され、その電界面が前
記直交座標面の直交軸に対して４５°傾いた状態で前記
走査手段に支持されて前記直交座標面上を走査され、前
記演算処理部は、前記直交座標面に対する前記プローブ
の一回の走査によって得られた測定結果に基づいて、前
記被測定アンテナの主偏波成分の指向性を算出するよう
に構成されていることを特徴としている。
【００６４】このため、プローブの交差偏波成分による
影響がなくなり、一回の走査で４５°偏波の被測定アン
テナの主偏波成分の指向特性を得ることができ、効率的
な測定が可能となる。
影響がなくなり、一回の走査で４５°偏波の被測定アン
テナの主偏波成分の指向特性を得ることができ、効率的
な測定が可能となる。
【００６５】また、本発明の請求項３の近傍界測定シス
テムは、請求項２記載の近傍界測定システムにおいて、
前記プローブは、開放された先端側を前記被測定アンテ
ナに向けた状態で前記走査手段に支持された導波管と、
前記導波管の先端側の開口部のほぼ中央に挿入され、前
記導波管の磁界面の指向性と電界面の指向性とを前記開
口部から前記被測定アンテナを望む角度範囲内でほぼ等
しくする誘電体板とによって構成されていることを特徴
としている。
テムは、請求項２記載の近傍界測定システムにおいて、
前記プローブは、開放された先端側を前記被測定アンテ
ナに向けた状態で前記走査手段に支持された導波管と、
前記導波管の先端側の開口部のほぼ中央に挿入され、前
記導波管の磁界面の指向性と電界面の指向性とを前記開
口部から前記被測定アンテナを望む角度範囲内でほぼ等
しくする誘電体板とによって構成されていることを特徴
としている。
【００６６】このため、既存の導波管からなるプローブ
に誘電体板を挿入するだけで簡単に構成できる。
に誘電体板を挿入するだけで簡単に構成できる。
【図１】本発明の原理を説明するための図
【図２】本発明を適用した近傍界測定システムの構成を
示す図
示す図
【図３】実施形態のプローブの構造を示す拡大斜視図
【図４】プローブの指向性を示す図
【図５】実施形態の処理手順を示すフローチャート
【図６】他の実施形態のプローブの構造を示す拡大斜視
図
図
【図７】平面走査型の近傍界測定システムの概略図
１０ 被測定アンテナ ２２ プローブ ２１ 支持装置 ２３ 導波管 ２４ 誘電体板 ２５ 移動装置 ２６ 走査制御部 ２７ 給電部 ２８ 測定部 ２９ メモリ ３０ 演算処理部
Claims (3)
- 【請求項１】被測定アンテナとの間で電磁波の送受信が
可能なプローブを前記被測定アンテナの近傍の直交座標
面上で走査しながら電磁界測定を行い、該測定結果に基
づいて前記被測定アンテナの特性を求める近傍界測定方
法において、 少なくとも前記被測定アンテナを望む角度範囲内で磁界
面の指向性と電界面の指向性とがほぼ等しいプローブ
を、その電界面が前記直交座標面の直交軸に対して４５
°傾いた状態で走査し、 前記プローブの前記直交座標面に対する一回の走査によ
って得られた測定結果に基づいて、前記被測定アンテナ
の主偏波成分の指向性を求めることを特徴とする近傍界
測定方法。 - 【請求項２】被測定アンテナとの間で電磁波の送受信が
可能なプローブを、走査手段によって前記被測定アンテ
ナの近傍の直交座標面上で走査しながら電磁界測定を行
い、該測定結果に対する演算を演算処理部によって行っ
て前記被測定アンテナの特性を求める近傍界測定システ
ムにおいて、 前記プローブは、少なくとも前記被測定アンテナを望む
角度範囲内で、磁界面の指向性と電界面の指向性とがほ
ぼ等しくなるように構成され、その電界面が前記直交座
標面の直交軸に対して４５°傾いた状態で前記走査手段
に支持されて前記直交座標面上を走査され、 前記演算処理部は、 前記直交座標面に対する前記プローブの一回の走査によ
って得られた測定結果に基づいて、前記被測定アンテナ
の主偏波成分の指向性を算出するように構成されている
ことを特徴とする近傍界測定システム。 - 【請求項３】前記プローブは、 開放された先端側を前記被測定アンテナに向けた状態で
前記走査手段に支持された導波管と、 前記導波管の先端側の開口部のほぼ中央に挿入され、前
記導波管の磁界面の指向性と電界面の指向性とを前記開
口部から前記被測定アンテナを望む角度範囲内でほぼ等
しくする誘電体板とによって構成されていることを特徴
とする請求項２記載の近傍界測定システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001041992A JP2002243782A (ja) | 2001-02-19 | 2001-02-19 | 近傍界測定方法および近傍界測定システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001041992A JP2002243782A (ja) | 2001-02-19 | 2001-02-19 | 近傍界測定方法および近傍界測定システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002243782A true JP2002243782A (ja) | 2002-08-28 |
Family
ID=18904354
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001041992A Pending JP2002243782A (ja) | 2001-02-19 | 2001-02-19 | 近傍界測定方法および近傍界測定システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002243782A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104297737A (zh) * | 2013-10-26 | 2015-01-21 | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 | 一种数字阵列雷达天线的近场测试设备及其测试方法 |
| CN107024621A (zh) * | 2016-01-29 | 2017-08-08 | 安立股份有限公司 | Massive‑MIMO天线测量装置及其指向性测量方法 |
| JP2017211211A (ja) * | 2016-05-23 | 2017-11-30 | アンリツ株式会社 | 電界強度分布測定装置及び電界強度分布測定方法 |
| JP2018009840A (ja) * | 2016-07-12 | 2018-01-18 | アンリツ株式会社 | 電界強度分布測定装置及び電界強度分布測定方法 |
| WO2022097192A1 (ja) * | 2020-11-04 | 2022-05-12 | 日本電信電話株式会社 | 高周波アンテナ測定システム |
-
2001
- 2001-02-19 JP JP2001041992A patent/JP2002243782A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104297737A (zh) * | 2013-10-26 | 2015-01-21 | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 | 一种数字阵列雷达天线的近场测试设备及其测试方法 |
| CN107024621A (zh) * | 2016-01-29 | 2017-08-08 | 安立股份有限公司 | Massive‑MIMO天线测量装置及其指向性测量方法 |
| CN107024621B (zh) * | 2016-01-29 | 2019-05-28 | 安立股份有限公司 | Massive-MIMO天线测量装置及其指向性测量方法 |
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| JP2018009840A (ja) * | 2016-07-12 | 2018-01-18 | アンリツ株式会社 | 電界強度分布測定装置及び電界強度分布測定方法 |
| WO2022097192A1 (ja) * | 2020-11-04 | 2022-05-12 | 日本電信電話株式会社 | 高周波アンテナ測定システム |
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