JP2002241913A - メッキ設備 - Google Patents
メッキ設備Info
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- JP2002241913A JP2002241913A JP2001036717A JP2001036717A JP2002241913A JP 2002241913 A JP2002241913 A JP 2002241913A JP 2001036717 A JP2001036717 A JP 2001036717A JP 2001036717 A JP2001036717 A JP 2001036717A JP 2002241913 A JP2002241913 A JP 2002241913A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 メッキ設備で形成されるストリップ面メッキ
厚さをライン上で安全容易に測定し、測定値に応じてエ
アワイパのエア圧力またはエア量を調節し、安定した最
適メッキ厚さを維持できるメッキ設備を提供することを
目的とする。 【解決手段】 本発明のメッキ設備５０は、メッキ厚さ
検出用磁歪測定手段２０を設け、検出されたメッキ厚さ
をもとにエアワイパ５のエア圧力またはエア量を調節す
るエアワイパ制御手段３２を設けたことを特徴とする。
メッキ厚さ検出用磁歪測定手段２０が、ライン方向４０
に並ぶ単位測定要素２１を備え、該単位測定要素２１を
ライン上を通過するストリップ面に対向させられ、測定
周波数すなわち板厚深さ方向の測定レンジを段階的にず
らせて設けたことを特徴とする。
厚さをライン上で安全容易に測定し、測定値に応じてエ
アワイパのエア圧力またはエア量を調節し、安定した最
適メッキ厚さを維持できるメッキ設備を提供することを
目的とする。 【解決手段】 本発明のメッキ設備５０は、メッキ厚さ
検出用磁歪測定手段２０を設け、検出されたメッキ厚さ
をもとにエアワイパ５のエア圧力またはエア量を調節す
るエアワイパ制御手段３２を設けたことを特徴とする。
メッキ厚さ検出用磁歪測定手段２０が、ライン方向４０
に並ぶ単位測定要素２１を備え、該単位測定要素２１を
ライン上を通過するストリップ面に対向させられ、測定
周波数すなわち板厚深さ方向の測定レンジを段階的にず
らせて設けたことを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はストリップ（帯鋼
板）のメッキ設備に関する。さらに、詳細には、本発明
は、メッキ厚さ検出測定手段およびメッキ厚さ制御手段
を有するメッキ設備に関する。
板）のメッキ設備に関する。さらに、詳細には、本発明
は、メッキ厚さ検出測定手段およびメッキ厚さ制御手段
を有するメッキ設備に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４は、従来のメッキ設備の一例を示す
概略した側面図である。メッキ設備１００は、一般的に
ペイオフリール１０１、入側ルーパロール１０２、焼鈍
炉１０３、メッキ槽１０４、メッキ槽直後のエアワイパ
１０５、メッキ後処理（加熱、保熱、冷却）手段１０
６、出側ルーパロール１０７、巻取リール１０８などを
主要部として構成されている。図４に示したストリップ
（帯鋼板）１１０はメッキ処理されるストリップであ
る。なお、このライン中には、他にスキンパスミル、テ
ンションレベラ等も工程間に設けられるが、ここでは図
示を省略している。
概略した側面図である。メッキ設備１００は、一般的に
ペイオフリール１０１、入側ルーパロール１０２、焼鈍
炉１０３、メッキ槽１０４、メッキ槽直後のエアワイパ
１０５、メッキ後処理（加熱、保熱、冷却）手段１０
６、出側ルーパロール１０７、巻取リール１０８などを
主要部として構成されている。図４に示したストリップ
（帯鋼板）１１０はメッキ処理されるストリップであ
る。なお、このライン中には、他にスキンパスミル、テ
ンションレベラ等も工程間に設けられるが、ここでは図
示を省略している。
【０００３】メッキ作業は、ストリップ１１０がメッキ
槽１０４を通過し、メッキ槽１０４直後のエアワイパ１
０５のエア圧力とエア量を調節して、ストリップ面に設
定された厚さの溶融メッキ金属を付着させるように行わ
れる。図４の下段にメッキ設備１００の出側でのメッキ
済みストリップの断面を示した。エアワイパ１０５のエ
ア圧力またはエア量が適切であると、「所定の厚さのメ
ッキ１１１ｂ」となる。しかし、エアワイパ１０５のエ
ア圧力またはエア量が過剰であると「厚さ不足のメッキ
１１１a」になり、エアワイパ１０５のエア圧力または
エア量が不足すると「厚さ過剰のメッキ１１１ｃ」にな
る。これらから分かるように、メッキ厚さを均一にする
には、エアワイパ１０５の微妙なエア圧力制御が必要で
ある。
槽１０４を通過し、メッキ槽１０４直後のエアワイパ１
０５のエア圧力とエア量を調節して、ストリップ面に設
定された厚さの溶融メッキ金属を付着させるように行わ
れる。図４の下段にメッキ設備１００の出側でのメッキ
済みストリップの断面を示した。エアワイパ１０５のエ
ア圧力またはエア量が適切であると、「所定の厚さのメ
ッキ１１１ｂ」となる。しかし、エアワイパ１０５のエ
ア圧力またはエア量が過剰であると「厚さ不足のメッキ
１１１a」になり、エアワイパ１０５のエア圧力または
エア量が不足すると「厚さ過剰のメッキ１１１ｃ」にな
る。これらから分かるように、メッキ厚さを均一にする
には、エアワイパ１０５の微妙なエア圧力制御が必要で
ある。
【０００４】従来、ライン上でメッキ厚さを計測する手
段として、蛍光Ｘ線放射式の計測装置が周知である。し
かし、蛍光Ｘ線放射式の計測装置は、設置およびメンテ
ナンスコストが高く、蛍光Ｘ線を用いるため労働従事者
の作業安全性に問題があり、監督官庁への設置許可申請
が必要であり、煩わしいなどの問題がある。
段として、蛍光Ｘ線放射式の計測装置が周知である。し
かし、蛍光Ｘ線放射式の計測装置は、設置およびメンテ
ナンスコストが高く、蛍光Ｘ線を用いるため労働従事者
の作業安全性に問題があり、監督官庁への設置許可申請
が必要であり、煩わしいなどの問題がある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述した従
来設備の状況に鑑み、メッキ設備で形成されるストリッ
プ面メッキ厚さをライン上で安全容易に測定し、測定値
に応じてエアワイパのエア圧力またはエア量を調節し、
安定した最適メッキ厚さを維持できるメッキ設備を提供
することを目的とする。
来設備の状況に鑑み、メッキ設備で形成されるストリッ
プ面メッキ厚さをライン上で安全容易に測定し、測定値
に応じてエアワイパのエア圧力またはエア量を調節し、
安定した最適メッキ厚さを維持できるメッキ設備を提供
することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のメッキ設備は、メッキ厚さ検出用磁歪測定
手段を設け、検出されたメッキ厚さをもとにエアワイパ
のエア圧力またはエア量を調節する制御手段を設けるこ
とが好適である。メッキ厚さ検出用磁歪測定手段が、ラ
イン方向に並ぶ単位測定要素を備え、これをライン上を
通過するストリップ面に対向させ、単位測定要素を測定
周波数すなわち板厚深さ方向の測定レンジを段階的にず
らせて設けることが好適である。さらに好ましくは、本
発明のメッキ設備は、メッキ厚さ検出用磁歪測定手段
を、ストリップの片面側だけに設けることが好適であ
る。さらに、本発明のメッキ設備は、メッキ厚さ検出用
磁歪測定手段を、ストリップの両面に対向して設けるこ
とが好ましい。
に、本発明のメッキ設備は、メッキ厚さ検出用磁歪測定
手段を設け、検出されたメッキ厚さをもとにエアワイパ
のエア圧力またはエア量を調節する制御手段を設けるこ
とが好適である。メッキ厚さ検出用磁歪測定手段が、ラ
イン方向に並ぶ単位測定要素を備え、これをライン上を
通過するストリップ面に対向させ、単位測定要素を測定
周波数すなわち板厚深さ方向の測定レンジを段階的にず
らせて設けることが好適である。さらに好ましくは、本
発明のメッキ設備は、メッキ厚さ検出用磁歪測定手段
を、ストリップの片面側だけに設けることが好適であ
る。さらに、本発明のメッキ設備は、メッキ厚さ検出用
磁歪測定手段を、ストリップの両面に対向して設けるこ
とが好ましい。
【０００７】本発明において、ストリップとは、メッキ
される帯鋼板のことである。メッキ厚さ検出用磁歪測定
手段は、メッキされたストリップに非接触で接近し、励
磁し、ストリップの金属とメッキの金属との磁界の傾向
の違いを測定することによってメッキ厚さを検出する手
段である。エアワイパとは、ストリップに付着した凝固
前のメッキ膜を適当量吹き除くことにより、メッキ厚さ
を調整するための手段である。ライン方向とは、ストリ
ップがメッキをされる際に、メッキ設備内を移動する方
向のことである。単位測定要素とは、メッキ厚さを測定
する際、実際に磁歪を利用してメッキ厚さを測定する測
定手段のことである。
される帯鋼板のことである。メッキ厚さ検出用磁歪測定
手段は、メッキされたストリップに非接触で接近し、励
磁し、ストリップの金属とメッキの金属との磁界の傾向
の違いを測定することによってメッキ厚さを検出する手
段である。エアワイパとは、ストリップに付着した凝固
前のメッキ膜を適当量吹き除くことにより、メッキ厚さ
を調整するための手段である。ライン方向とは、ストリ
ップがメッキをされる際に、メッキ設備内を移動する方
向のことである。単位測定要素とは、メッキ厚さを測定
する際、実際に磁歪を利用してメッキ厚さを測定する測
定手段のことである。
【０００８】上記した本発明にかかるメッキ設備によれ
ば、ストリップ面のメッキ厚さをライン上で安全容易に
測定し、測定値に応じてエアワイパのエア圧力またはエ
ア量を調節し、安定した最適メッキ厚さを維持できる。
この構成のメッキ設備では、ストリップの両面でメッキ
厚さを測定検出し、エアワイパ制御手段によりエアワイ
パのエア圧力またはエア量を最適に調節できるようにな
るからである。この結果、メッキ厚さの測定精度はさら
に向上し、測定精度の向上によりさらにメッキ厚さのば
らつきが少ない高品質のメッキが生産できる。
ば、ストリップ面のメッキ厚さをライン上で安全容易に
測定し、測定値に応じてエアワイパのエア圧力またはエ
ア量を調節し、安定した最適メッキ厚さを維持できる。
この構成のメッキ設備では、ストリップの両面でメッキ
厚さを測定検出し、エアワイパ制御手段によりエアワイ
パのエア圧力またはエア量を最適に調節できるようにな
るからである。この結果、メッキ厚さの測定精度はさら
に向上し、測定精度の向上によりさらにメッキ厚さのば
らつきが少ない高品質のメッキが生産できる。
【０００９】
【発明の実施の形態】次に、図面にもとづいて、本発明
にかかるメッキ設備の好適な実施の形態を説明する。図
１は、本発明の実施の形態にかかるメッキ設備５０の概
略された側面図である。図２は、図１に示すメッキ設備
５０中におけるメッキ厚さ検出用磁歪測定手段２０の構
成要素である単位測定要素２１の斜視図である。
にかかるメッキ設備の好適な実施の形態を説明する。図
１は、本発明の実施の形態にかかるメッキ設備５０の概
略された側面図である。図２は、図１に示すメッキ設備
５０中におけるメッキ厚さ検出用磁歪測定手段２０の構
成要素である単位測定要素２１の斜視図である。
【００１０】図１に示すように、本実施の形態によるメ
ッキ設備５０は、ライン方向４０に順番に構成要素を述
べていくと、ラインの最先にあるペイオフリール１と、
入側ルーパロール２と、焼鈍炉３と、メッキ槽４と、エ
アワイパ５と、メッキ後処理手段６と、出側ルーパロー
ル７と、巻取リール８とを設ける。また、メッキ槽４と
出側ルーパロール７との間には、磁歪測定手段２０を設
ける。磁歪測定手段２０は、単位測定要素２１で構成さ
れている。
ッキ設備５０は、ライン方向４０に順番に構成要素を述
べていくと、ラインの最先にあるペイオフリール１と、
入側ルーパロール２と、焼鈍炉３と、メッキ槽４と、エ
アワイパ５と、メッキ後処理手段６と、出側ルーパロー
ル７と、巻取リール８とを設ける。また、メッキ槽４と
出側ルーパロール７との間には、磁歪測定手段２０を設
ける。磁歪測定手段２０は、単位測定要素２１で構成さ
れている。
【００１１】図示ように、メッキ厚さ検出用磁歪測定手
段２０は、単位測定要素２１を測定手段とする。この単
位測定要素２１はメッキ後処理（加熱、保熱、冷却）手
段６の出側にストリップ１０の立ち上がり部の外側片面
に対し側部から対向させるように設ける。また、ストリ
ップ１０の水平通板面に対向するように設けてもよい。
単位測定要素２１は、通板ライン方向４０に延びる架台
（図示省略）に絶縁体（図示省略）を介し固定支持して
設ける。単位測定要素２１は、１列６個並べて固定配置
し、６個の単位測定要素２１は測定周波数（板厚深さ方
向の測定レンジ）を少しずつずらすことにより、様々な
メッキ厚さに対応できるように構成している。この単位
測定要素２１の列数と個数とは、それぞれ１列と、６個
とに限定されるものではなく、メッキ厚さを検出する目
的ならば、数は限定されるものではない。
段２０は、単位測定要素２１を測定手段とする。この単
位測定要素２１はメッキ後処理（加熱、保熱、冷却）手
段６の出側にストリップ１０の立ち上がり部の外側片面
に対し側部から対向させるように設ける。また、ストリ
ップ１０の水平通板面に対向するように設けてもよい。
単位測定要素２１は、通板ライン方向４０に延びる架台
（図示省略）に絶縁体（図示省略）を介し固定支持して
設ける。単位測定要素２１は、１列６個並べて固定配置
し、６個の単位測定要素２１は測定周波数（板厚深さ方
向の測定レンジ）を少しずつずらすことにより、様々な
メッキ厚さに対応できるように構成している。この単位
測定要素２１の列数と個数とは、それぞれ１列と、６個
とに限定されるものではなく、メッキ厚さを検出する目
的ならば、数は限定されるものではない。
【００１２】図２に示すように、単位測定要素２１は、
下面を開放した筐体２３内に、互いに非接触に門形の励
磁用コア２４と検出用コア２５とを絶縁状態にかつ交叉
方向に、各コア２４、２５の下端を筐体２３の下端より
わずか上に維持して支持する。励磁用コア２４には交流
電源３０に接続される励磁用コイル２６を設ける。検出
用コア２５には検出用コイル２７を設け、検出用コイル
２７と交流電源３０とに接続した同期整流回路３１と、
エアワイパ制御手段３３を設ける。エアワイパ制御手段
３２には同期整流回路３１から取込むメッキ厚さ信号値
の表示計３３を設ける。
下面を開放した筐体２３内に、互いに非接触に門形の励
磁用コア２４と検出用コア２５とを絶縁状態にかつ交叉
方向に、各コア２４、２５の下端を筐体２３の下端より
わずか上に維持して支持する。励磁用コア２４には交流
電源３０に接続される励磁用コイル２６を設ける。検出
用コア２５には検出用コイル２７を設け、検出用コイル
２７と交流電源３０とに接続した同期整流回路３１と、
エアワイパ制御手段３３を設ける。エアワイパ制御手段
３２には同期整流回路３１から取込むメッキ厚さ信号値
の表示計３３を設ける。
【００１３】以上の構成を備えた本形態にかかるメッキ
設備５０の作用を次に説明する。まず、ストリップ（帯
鋼板）１０は、ペイオフリール１からメッキ設備５０に
供給される。供給されたストリップ１０は、入側ルーパ
ロール２を通過した後、焼鈍炉３で、800℃付近まで温
度上昇させられる。次に、温度上昇されたストリップ１
０はメッキ槽４に入れられ、メッキされる。メッキ後処
理手段６にストリップ１０は送られ、加熱、保熱、冷却
などの後処理が行われる。メッキ後処理されたストリッ
プ１０は、磁歪測定手段２０の前を通り、単位測定要素
２１によりメッキ厚さが測定される。この単位測定要素
２１は、鋼構造体の内部に発生する応力を測定検査する
器材である。応力の測定では、筐体２３の下面を鋼材面
にあてがい、励磁用コア２４の端部間にかけた電圧によ
る磁界が鋼材内の応力発生部において歪み、その非対称
となった磁界により発生する電圧を検出用コイル２７で
検出し、検出値を同期整流回路３１を通って、表示計３
３に取出し、測定された磁歪による電圧値から内部応力
の大きさを特定する。エアワイパ制御手段３２は検出さ
れたメッキ厚さ信号値に応じて必要な最適エア圧力また
はエア量を計算選定しエアワイパ５を自動または手動制
御する。
設備５０の作用を次に説明する。まず、ストリップ（帯
鋼板）１０は、ペイオフリール１からメッキ設備５０に
供給される。供給されたストリップ１０は、入側ルーパ
ロール２を通過した後、焼鈍炉３で、800℃付近まで温
度上昇させられる。次に、温度上昇されたストリップ１
０はメッキ槽４に入れられ、メッキされる。メッキ後処
理手段６にストリップ１０は送られ、加熱、保熱、冷却
などの後処理が行われる。メッキ後処理されたストリッ
プ１０は、磁歪測定手段２０の前を通り、単位測定要素
２１によりメッキ厚さが測定される。この単位測定要素
２１は、鋼構造体の内部に発生する応力を測定検査する
器材である。応力の測定では、筐体２３の下面を鋼材面
にあてがい、励磁用コア２４の端部間にかけた電圧によ
る磁界が鋼材内の応力発生部において歪み、その非対称
となった磁界により発生する電圧を検出用コイル２７で
検出し、検出値を同期整流回路３１を通って、表示計３
３に取出し、測定された磁歪による電圧値から内部応力
の大きさを特定する。エアワイパ制御手段３２は検出さ
れたメッキ厚さ信号値に応じて必要な最適エア圧力また
はエア量を計算選定しエアワイパ５を自動または手動制
御する。
【００１４】この形式のメッキ厚さ検出用磁歪測定手段
２０が、メッキ設備５０でメッキされたストリップ１０
に非接触で接近し励磁した場合に、ストリップ１０とメ
ッキ金属１１とでは、磁界の傾向に大きな違いがあるこ
とを見出し、この知見をもとに、単位測定要素２１を要
素部品としたメッキ厚さ検出用の磁歪測定手段２０を設
けた。
２０が、メッキ設備５０でメッキされたストリップ１０
に非接触で接近し励磁した場合に、ストリップ１０とメ
ッキ金属１１とでは、磁界の傾向に大きな違いがあるこ
とを見出し、この知見をもとに、単位測定要素２１を要
素部品としたメッキ厚さ検出用の磁歪測定手段２０を設
けた。
【００１５】メッキ厚さ検出用磁歪測定手段２０の単位
測定要素２１により検出されたメッキ厚さが、設定され
た許容メッキ厚さ以下、または設定された許容メッキ厚
さ以上の場合、エアワイパ制御手段３２は、メッキ厚さ
が設定された許容メッキ厚さ範囲になるようにエア圧力
またはエア量を調節制御する。こうして、メッキ槽４か
ら出たストリップ１０が、常時最適エア圧力またはエア
量範囲でワイピングされ、最適メッキ厚さが連続して得
られるようになる。
測定要素２１により検出されたメッキ厚さが、設定され
た許容メッキ厚さ以下、または設定された許容メッキ厚
さ以上の場合、エアワイパ制御手段３２は、メッキ厚さ
が設定された許容メッキ厚さ範囲になるようにエア圧力
またはエア量を調節制御する。こうして、メッキ槽４か
ら出たストリップ１０が、常時最適エア圧力またはエア
量範囲でワイピングされ、最適メッキ厚さが連続して得
られるようになる。
【００１６】［他の実施の形態］図３は本発明の他の実
施の形態にかかるメッキ設備６０の概略側面図である。
図３に示したメッキ設備６０の各部の参照番号は、図１
に示したメッキ設備５０で用いられる部と同じ場合は、
同じ参照番号を付けてある。本実施の形態は、上述した
実施の形態であるメッキ厚さ検出用磁歪測定手段２０の
構成要素である単位測定要素２０、２１をメッキ後処理
手段６の出側位置でストリップ１０の両面側に配置して
メッキ設備を構成した場合である。他の構成要素であ
る、ペイオフリール１、入側ルーパロール２、焼鈍炉
３、メッキ槽４、エアワイパ５、メッキ後処理手段６、
出側ルーパロール７、巻取りリール８、磁歪測定手段２
０、交流電源３０、同期整流回路３１、エアワイパ制御
手段３２の構成と作用は、上述した実施の形態（図１）
と同様である。本実施の形態であるメッキ厚さ検出用磁
歪測定手段２０をストリップ１０の両面側に配置するこ
とにより、メッキ厚さ検出がより正確に測定できるよう
になる。
施の形態にかかるメッキ設備６０の概略側面図である。
図３に示したメッキ設備６０の各部の参照番号は、図１
に示したメッキ設備５０で用いられる部と同じ場合は、
同じ参照番号を付けてある。本実施の形態は、上述した
実施の形態であるメッキ厚さ検出用磁歪測定手段２０の
構成要素である単位測定要素２０、２１をメッキ後処理
手段６の出側位置でストリップ１０の両面側に配置して
メッキ設備を構成した場合である。他の構成要素であ
る、ペイオフリール１、入側ルーパロール２、焼鈍炉
３、メッキ槽４、エアワイパ５、メッキ後処理手段６、
出側ルーパロール７、巻取りリール８、磁歪測定手段２
０、交流電源３０、同期整流回路３１、エアワイパ制御
手段３２の構成と作用は、上述した実施の形態（図１）
と同様である。本実施の形態であるメッキ厚さ検出用磁
歪測定手段２０をストリップ１０の両面側に配置するこ
とにより、メッキ厚さ検出がより正確に測定できるよう
になる。
【００１７】
【発明の効果】前記のように連続メッキ設備ラインにメ
ッキ厚さ測定用の磁歪測定手段を設けることにより、以
下の効果を上げることができる。メッキされたストリッ
プのサンプルを摘出することなく、オンラインで連続的
にメッキ厚さを測定できるようになる。瞬時にこのメッ
キ厚さを測定できるので、効率的であり、生産性を損な
うことがない。常時測定できるので常時最適なエア圧力
またはエア量を選定できる。また、最適なエア圧力また
はエア量を常時選定できるので、メッキ厚さが安定し歩
留まりが大幅に向上する。最適なエア圧力またはエア量
を常時選定できるので、メッキ厚さの過不足が防止され
製品の品質が大幅に改善される。オンラインで安価にか
つ安全にメッキ厚さを検出でき、最適エア圧力またはエ
ア量を調整するので、大幅な省力化、効率化を達成でき
るようになる。
ッキ厚さ測定用の磁歪測定手段を設けることにより、以
下の効果を上げることができる。メッキされたストリッ
プのサンプルを摘出することなく、オンラインで連続的
にメッキ厚さを測定できるようになる。瞬時にこのメッ
キ厚さを測定できるので、効率的であり、生産性を損な
うことがない。常時測定できるので常時最適なエア圧力
またはエア量を選定できる。また、最適なエア圧力また
はエア量を常時選定できるので、メッキ厚さが安定し歩
留まりが大幅に向上する。最適なエア圧力またはエア量
を常時選定できるので、メッキ厚さの過不足が防止され
製品の品質が大幅に改善される。オンラインで安価にか
つ安全にメッキ厚さを検出でき、最適エア圧力またはエ
ア量を調整するので、大幅な省力化、効率化を達成でき
るようになる。
【００１８】よって、本発明のメッキ設備によれば、ス
トリップ面のメッキ厚さをライン上で安全容易に測定
し、測定値に応じてエアワイパのエア圧力またはエア量
を調節し、安定した最適メッキ厚さを維持できる。この
構成のメッキ設備では、ストリップの片面または両面で
メッキ厚さを測定検出し、エアワイパ制御手段によりエ
アワイパのエア圧力またはエア量を最適に調節できるか
らである。このため、メッキ厚さの測定精度はさらに向
上し、測定精度の向上によりさらにメッキ厚さのばらつ
きが少ない高品質のメッキが生産できる。
トリップ面のメッキ厚さをライン上で安全容易に測定
し、測定値に応じてエアワイパのエア圧力またはエア量
を調節し、安定した最適メッキ厚さを維持できる。この
構成のメッキ設備では、ストリップの片面または両面で
メッキ厚さを測定検出し、エアワイパ制御手段によりエ
アワイパのエア圧力またはエア量を最適に調節できるか
らである。このため、メッキ厚さの測定精度はさらに向
上し、測定精度の向上によりさらにメッキ厚さのばらつ
きが少ない高品質のメッキが生産できる。
【図１】本発明にかかるメッキ設備の一実施の形態を示
した側面図である。
した側面図である。
【図２】本発明にかかる単位測定要素の一例を示した斜
視図である。
視図である。
【図３】本発明にかかるメッキ設備の他の実施の形態を
示した側面図である。
示した側面図である。
【図４】従来技術におけるメッキ設備を示した側面図で
ある。
ある。
１ ペイオフリール ２ 入側ルーパロール ３ 焼鈍炉 ４ メッキ槽 ５ エアワイパ ６ メッキ後処理手段 ７ 出側ルーパロール ８ 巻取リール １０ ストリップ ２０ メッキ厚さ検出用磁歪測定手段 ２１、２２ 単位測定要素 ２３ 筐体 ２４ 励磁用コア ２５ 検出用コア ２６ 励磁用コイル ２７ 検出用コイル ３０ 交流電源 ３１ 同期整流回路 ３２ エアワイパ制御手段 ３３ 表示計
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2F063 AA16 BA30 BB03 BB05 BD13 BD18 DA01 DA05 DD06 GA01 KA01 ZA01 4K027 AA02 AA22 AC52 AE23
Claims (4)
- 【請求項１】 メッキ厚さ検出用磁歪測定手段と、検出
されたメッキ厚さをもとにエアワイパのエア圧力または
エア量を調節する制御手段を設けたことを特徴とするメ
ッキ設備。 - 【請求項２】 前記メッキ厚さ検出用磁歪測定手段が、
ライン方向に並ぶ単位測定要素を備え、該単位測定要素
をライン上を通過するストリップ面に対向して設け、測
定周波数すなわち板厚深さ方向の測定レンジを段階的に
ずらせて設けたことを特徴とする請求項１に記載のメッ
キ設備。 - 【請求項３】前記メッキ厚さ検出用磁歪測定手段を、ス
トリップの片面側だけに設けたことを特徴とする請求項
１または２に記載のメッキ設備。 - 【請求項４】前記メッキ厚さ検出用磁歪測定手段を、ス
トリップの両面に対向して設けたことを特徴とする請求
項１または２に記載のメッキ設備。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001036717A JP2002241913A (ja) | 2001-02-14 | 2001-02-14 | メッキ設備 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001036717A JP2002241913A (ja) | 2001-02-14 | 2001-02-14 | メッキ設備 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002241913A true JP2002241913A (ja) | 2002-08-28 |
Family
ID=18899954
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001036717A Withdrawn JP2002241913A (ja) | 2001-02-14 | 2001-02-14 | メッキ設備 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002241913A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007063647A (ja) * | 2005-09-01 | 2007-03-15 | Nisshin Steel Co Ltd | 溶融めっき鋼板の製造方法 |
| CN103363887A (zh) * | 2012-04-11 | 2013-10-23 | 北京华夏聚龙自动化股份公司 | 一种新型的材料厚度测量方法 |
| JP2020016636A (ja) * | 2017-12-21 | 2020-01-30 | 国立虎尾科技大学 | Ｐｃｂ多層板に応用した非接触式上下層銅厚の測量方法 |
-
2001
- 2001-02-14 JP JP2001036717A patent/JP2002241913A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007063647A (ja) * | 2005-09-01 | 2007-03-15 | Nisshin Steel Co Ltd | 溶融めっき鋼板の製造方法 |
| CN103363887A (zh) * | 2012-04-11 | 2013-10-23 | 北京华夏聚龙自动化股份公司 | 一种新型的材料厚度测量方法 |
| JP2020016636A (ja) * | 2017-12-21 | 2020-01-30 | 国立虎尾科技大学 | Ｐｃｂ多層板に応用した非接触式上下層銅厚の測量方法 |
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