JP2002237673A - Circuit board device - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば基板上に電
子部品を半田付けするのに好適に用いられる回路基板装
置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a circuit board device suitably used, for example, for soldering electronic components on a board.
【0002】[0002]
【従来の技術】一般に、回路基板装置は、例えば半導体
IC、トランジスタ、抵抗、コンデンサ等からなる複数
の電子部品が基板上に実装されている。そして、この種
の従来技術による回路基板装置は、電子回路を形成する
ための配線パターンが設けられた基板と、該基板の表面
側に設けられ前記配線パターンに接続された金属材料か
らなるランドと、前記基板の表面側に実装され半田によ
り該ランドと接続される電子部品とによって構成されて
いる。2. Description of the Related Art In general, a circuit board device has a plurality of electronic components including, for example, a semiconductor IC, a transistor, a resistor, and a capacitor mounted on a board. A circuit board device according to this type of related art includes a substrate provided with a wiring pattern for forming an electronic circuit, and a land made of a metal material provided on the front surface side of the substrate and connected to the wiring pattern. And electronic components mounted on the front side of the substrate and connected to the lands by solder.
【0003】ここで、基板の表面側には、複数のランド
と配線パターンとが印刷等の手段によって形成され、こ
れらのランドは各電子部品の裏面側等に設けられた電極
に対応して配置されている。また、電子部品は、各電極
が半田付けによってランドの表面側にそれぞれ固着さ
れ、これらのランドを介して配線パターンに接続される
ことにより電子回路を形成している。Here, a plurality of lands and a wiring pattern are formed on the front side of the substrate by printing or the like, and these lands are arranged corresponding to electrodes provided on the back side of each electronic component. Have been. Further, in the electronic component, each electrode is fixed to the surface side of the land by soldering, and is connected to a wiring pattern via these lands to form an electronic circuit.
【0004】また、従来技術にあっては、例えばレジス
ト等の絶縁性材料を基板上に塗布することにより保護膜
を形成し、この保護膜によって配線パターンとランドと
を覆う構成としたものもある。この場合、保護膜には、
各ランドを露出させるための開口部が設けられている。Further, in the prior art, there is also a configuration in which a protective film is formed by applying an insulating material such as a resist on a substrate, and the wiring pattern and the land are covered with the protective film. . In this case, the protective film includes
An opening for exposing each land is provided.
【0005】そして、電子部品を基板上に実装するとき
には、まずクリーム半田等の半田材料を保護膜の各開口
部からランド上に塗布した後、電子部品を基板上の所定
位置に配設し、その各電極をクリーム半田上にそれぞれ
載置する。次に、例えば加熱炉等の高温雰囲気中で基板
を加熱することによりクリーム半田を溶融させ、各電極
をランド上に半田付けする。When mounting an electronic component on a board, first, a solder material such as cream solder is applied to the land from each opening of the protective film, and then the electronic component is disposed at a predetermined position on the board. Each of the electrodes is placed on the cream solder. Next, the cream solder is melted by heating the substrate in a high-temperature atmosphere such as a heating furnace, and each electrode is soldered on the land.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来技術では、電子部品を実装するときに、基板の各ラン
ドにクリーム半田を塗布し、この半田上に電子部品の各
電極を載置した後に、半田を加熱、溶融することによっ
て電子部品を半田付けする構成としている。In the prior art described above, when mounting electronic components, cream solder is applied to each land of the substrate, and after placing each electrode of the electronic components on the solder, The electronic component is soldered by heating and melting the solder.
【0007】しかし、クリーム半田は、溶融して液状に
なると、電子部品の重さにより電極とランドとの間で押
潰されるようになるため、このときに半田の一部が電極
とランドとの間から外側に食み出し、周囲のランド、電
極等に接触する場合がある。However, when the cream solder melts and becomes liquid, it becomes crushed between the electrode and the land due to the weight of the electronic component. It may protrude outward from between and come into contact with surrounding lands, electrodes, and the like.
【0008】特に、半導体IC等の電子部品にあって
は、複数の電極が近接して配置されているため、半田
は、ランド上から僅かに食み出しただけでも、その周囲
に隣接するランドや電極に接触し易い構造となってい
る。Particularly, in an electronic component such as a semiconductor IC, since a plurality of electrodes are arranged close to each other, even if the solder slightly protrudes from the land, the solder may be adjacent to the land. It has a structure that makes it easy to contact with the electrodes.
【0009】このため、従来技術では、回路基板装置の
製造時に、半田がランド上から食み出すことによって短
絡等の接続不良が生じ易くなり、製造時の歩留まりが悪
化するばかりでなく、信頼性が低下するという問題があ
る。For this reason, according to the prior art, when the circuit board device is manufactured, the solder protrudes from the land, so that a connection failure such as a short circuit is liable to occur, which not only deteriorates the manufacturing yield but also increases the reliability. Is reduced.
【0010】また、基板上に保護膜を設ける構成として
いる場合には、溶融した半田の一部がランドと電極との
間で保護膜の開口部内に閉込められた状態となるため、
この半田に含まれるフラックス等の成分が揮発し難くな
る。この結果、半田は、比較的長い時間に亘って粘度が
低い状態を保持するようになり、ランドと電極との間に
形成された微小な隙間から周囲に食み出し易くなるとい
う問題がある。In the case where a protective film is provided on the substrate, a part of the molten solder is confined in the opening of the protective film between the land and the electrode.
Components such as flux contained in the solder hardly volatilize. As a result, the solder maintains a low viscosity state for a relatively long period of time, and there is a problem that the solder easily oozes out from a minute gap formed between the land and the electrode.
【0011】本発明は上述した従来技術の問題に鑑みな
されたもので、本発明の目的は、電子部品の実装時に半
田がランド上から周囲に食み出すのを防止でき、電子部
品をを安定的に半田付けできると共に、製造時の歩留ま
りを高め、信頼性を向上できるようにした回路基板装置
を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and an object of the present invention is to prevent the solder from leaking out from the land to the periphery when mounting the electronic component, thereby stabilizing the electronic component. It is an object of the present invention to provide a circuit board device which can be soldered efficiently, can increase the yield at the time of manufacturing, and can improve the reliability.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために請求項1の発明は、電子回路を形成するための配
線部が設けられた基板と、該基板の表面側に設けられ前
記配線部に接続された金属材料からなるランドと、前記
基板の表面側に実装され半田により該ランドと接続され
る電子部品とからなる回路基板装置に適用される。According to a first aspect of the present invention, there is provided a substrate provided with a wiring portion for forming an electronic circuit, and the wiring provided on a front surface side of the substrate. The present invention is applied to a circuit board device including a land made of a metal material connected to a portion and an electronic component mounted on the front side of the substrate and connected to the land by solder.
【0013】そして、請求項1の発明が採用する構成の
特徴は、基板には、前記基板の表面側と裏面側との間を
貫通して貫通孔を設け、前記基板のランドの表面側と前
記基板の裏面側との間には、該貫通孔による半田逃し孔
を設け、前記基板の裏面側には、金属材料を用いて前記
半田逃し孔を取囲んで形成され該半田逃し孔に流出した
半田を引付ける半田引付ランドを設ける構成としたこと
にある。A feature of the structure adopted in the first aspect of the present invention is that a through hole is provided in the substrate so as to penetrate between the front surface side and the back surface side of the substrate, and a through hole is provided between the land surface of the substrate and the substrate. A solder escape hole formed by the through hole is provided between the substrate and the back surface of the substrate, and a metal material is used to surround the solder escape hole on the back surface of the substrate and flows out to the solder escape hole. The present invention is configured to provide a solder attracting land for attracting the solder.
【0014】このように構成することにより、基板とラ
ンドとの間には、基板の貫通孔を利用して半田逃し孔を
形成することができる。そして、電子部品の実装時に
は、半田がランド上で溶融すると、半田のうち余剰とな
った分を半田逃し孔内に収容してランド上から逃すこと
ができる。また、半田引付ランドは、半田逃し孔内を流
下する半田と接触することにより、この半田を引付けて
基板の裏面側に導くことができ、余分な半田を半田逃し
孔と半田引付ランドとに亘って溜めることができる。ま
た、半田に含まれるフラックス等の成分を半田逃し孔か
ら基板の裏面側にも揮発させることができる。With this configuration, a solder escape hole can be formed between the substrate and the land by using the through hole of the substrate. Then, when the electronic component is mounted, if the solder melts on the land, the surplus of the solder can be accommodated in the solder escape hole and escaped from the land. In addition, the solder drawing land contacts the solder flowing down in the solder escape hole, so that this solder can be attracted and guided to the back side of the board, and excess solder can be removed from the solder escape hole and the solder drawing land. And can be stored over. Also, components such as flux contained in the solder can be volatilized from the solder escape hole to the back surface side of the substrate.
【0015】また、請求項2の発明によると、半田逃し
孔は、内壁に金属材料を付着させたスルーホール構造と
している。According to the second aspect of the present invention, the solder escape hole has a through-hole structure in which a metal material is adhered to the inner wall.
【0016】これにより、半田がランド上で溶融したと
きには、余分な半田をスルーホールを経由して半田逃し
孔内に逃すことができ、このとき半田はスルーホールを
形成する金属材料に沿って円滑に流下することができ
る。Thus, when the solder is melted on the land, excess solder can escape into the solder escape hole via the through hole, and at this time, the solder smoothly moves along the metal material forming the through hole. Can flow down.
【0017】また、請求項3の発明のように、ランドと
スルーホール内壁とを同一の金属材料を用いて形成する
構成とすることにより、これらの部材と半田逃し孔とを
一緒に、かつ同時に形成することができる。Further, by forming the land and the inner wall of the through hole using the same metal material as in the third aspect of the present invention, these members and the solder escape hole can be formed together and simultaneously. Can be formed.
【0018】さらに、請求項4の発明によると、基板の
裏面側には、前記半田逃し孔を閉塞する閉塞部材を設け
る構成としている。Further, according to the invention of claim 4, a closing member for closing the solder escape hole is provided on the back surface side of the substrate.
【0019】これにより、閉塞部材は、半田逃し孔内に
収容された余分な半田が基板の裏面側から突出するのを
防止でき、例えば基板全体の厚さ寸法等を小さく抑えた
構成とすることもできる。Thus, the closing member can prevent the extra solder contained in the solder escape hole from protruding from the back surface side of the substrate, and for example, has a configuration in which the thickness dimension of the entire substrate is kept small. Can also.
【0020】また、請求項5の発明によると、基板の裏
面側には、金属材料を用いて前記半田逃し孔を取囲んで
形成され該半田逃し孔に流出した半田を引付ける半田引
付ランドを設ける構成としている。According to a fifth aspect of the present invention, on the back surface of the substrate, a soldering land is formed using a metal material to surround the solder escape hole and attracts the solder flowing out to the solder escape hole. Is provided.
【0021】これにより、半田引付ランドは、半田逃し
孔内を流下する半田と接触することにより、この半田を
引付けて基板の裏面側に導くことができ、余分な半田を
半田逃し孔と半田引付ランドとに亘って溜めることがで
きる。Thus, the solder attracting land comes into contact with the solder flowing down in the solder escape hole, so that the solder can be attracted and guided to the back side of the substrate, and excess solder can be passed through the solder escape hole. It can be stored over the soldering land.
【0022】[0022]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態による
回路基板装置を、添付図面を参照しつつ詳細に説明す
る。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a circuit board device according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
【0023】ここで、図1ないし図6は本発明による第
1の実施の形態を示し、本実施の形態では、基板上に電
子部品として半導体IC、トランジスタ等を実装した場
合を例に挙げて述べる。FIGS. 1 to 6 show a first embodiment of the present invention. In this embodiment, a case where a semiconductor IC, a transistor, or the like is mounted as an electronic component on a substrate is exemplified. State.
【0024】図中、1は回路基板装置の本体部分をなす
基板で、該基板1は、例えば絶縁性の樹脂材料等により
形成され、その表面1A側には、金属材料等を印刷する
ことにより配線部としての複数の配線パターン2,2,
…が形成されている。また、基板1の表面1Aと裏面1
Bとの間には、図2に示す如く、後述の貫通孔6,6,
…が穿設されている。In the figure, reference numeral 1 denotes a substrate constituting a main body of the circuit board device. The substrate 1 is formed of, for example, an insulating resin material or the like, and a metal material or the like is printed on the surface 1A side thereof. A plurality of wiring patterns 2, 2, as a wiring portion
... are formed. The front surface 1A and the back surface 1 of the substrate 1
B, as shown in FIG.
… Is drilled.
【0025】3,3,…は基板1の表面1A側に各配線
パターン2と接続して設けられた複数のランドで、該各
ランド3は、図3、図4に示す如く、例えば略四角形状
の金属膜等によって形成され、後述する電子部品5の各
電極5Aに対応して配置されている。また、ランド3
は、その外縁側が後述の保護膜9によって覆われ、その
中央部は保護膜9に設けられた開口部9Aの位置で露出
している。また、基板1とランド3との間には、各貫通
孔6を利用して後述の半田逃し孔7,7,…が設けられ
ている。Are a plurality of lands provided on the front surface 1A side of the substrate 1 so as to be connected to the respective wiring patterns 2. Each of the lands 3 is, for example, a substantially square as shown in FIGS. It is formed of a shaped metal film or the like, and is arranged corresponding to each electrode 5A of the electronic component 5 described later. Land 3
The outer edge is covered with a protective film 9 described later, and a central portion thereof is exposed at a position of an opening 9A provided in the protective film 9. Also, between the substrate 1 and the lands 3, there are provided solder escape holes 7, 7,...
【0026】4は基板1上に搭載された電子回路で、該
電子回路4は、図1に示す如く、例えば半導体IC、ト
ランジスタ等の能動素子からなる後述の電子部品5と、
抵抗、コンデンサ等の受動素子からなる他の電子部品と
を含んで構成され、これらの電子部品5等は配線パター
ン2によって互いに接続されている。Reference numeral 4 denotes an electronic circuit mounted on the substrate 1. The electronic circuit 4 includes, as shown in FIG.
It is configured to include other electronic components including passive elements such as resistors and capacitors, and these electronic components 5 and the like are connected to each other by the wiring pattern 2.
【0027】5は電子回路4の一部を構成する略四角形
状の電子部品で、該電子部品5は、例えばROM、RA
M、マイクロプロセッサ等の半導体ICまたはトランジ
スタ等からなり、その裏面側には複数の電極5A,5
A,…が形成されている。そして、電子部品5は、各電
極5Aが後述の半田10によりランド3の表面側にそれ
ぞれ接続され、基板1上に実装されているものである。Reference numeral 5 denotes a substantially rectangular electronic component constituting a part of the electronic circuit 4. The electronic component 5 is, for example, a ROM or RA.
M, a semiconductor IC such as a microprocessor or a transistor, and a plurality of electrodes 5A, 5
A,... Are formed. In the electronic component 5, each electrode 5 </ b> A is connected to the surface of the land 3 by a solder 10 described later, and is mounted on the substrate 1.
【0028】6,6,…は各ランド3に対応する位置で
基板1に貫通して形成された複数の貫通孔で、該各貫通
孔6は、基板1の表面1Aと裏面1Bとに開口し、半田
逃し孔7の一部を構成している。Are a plurality of through-holes formed through the substrate 1 at positions corresponding to the lands 3. Each through-hole 6 has an opening in the front surface 1A and the back surface 1B of the substrate 1. And constitutes a part of the solder escape hole 7.
【0029】7,7,…は基板1と各ランド3との間に
設けられた複数の半田逃し孔で、該各半田逃し孔7は、
保護膜9の開口部9A内でランド3に貫通して形成され
たランド側孔部7Aと、該ランド側孔部7Aと連通し、
基板1の貫通孔6により構成された基板側孔部7Bとに
よって形成されている。また、半田逃し孔7は、貫通孔
6を経由してランド3の表面側と基板1の裏面1B側と
に開口している。Are a plurality of solder escape holes provided between the substrate 1 and each land 3. Each of the solder escape holes 7
A land side hole 7A formed through the land 3 in the opening 9A of the protective film 9, and communicates with the land side hole 7A;
It is formed by a substrate side hole 7B formed by the through hole 6 of the substrate 1. Further, the solder escape holes 7 are opened to the front surface side of the lands 3 and the back surface 1B side of the substrate 1 via the through holes 6.
【0030】そして、電子部品5の実装時には、後述の
図6に示す如く、ランド3と電子部品5の電極5Aとの
間で溶融した半田10のうち、余剰となった半田10A
がランド3上から半田逃し孔7内に流出する。これによ
り、半田逃し孔7は、余分な半田10Aを収容してラン
ド3上から逃し、この半田10Aがランド3の外側に食
み出すのを防止するものである。When the electronic component 5 is mounted, as shown in FIG. 6 to be described later, of the solder 10 melted between the land 3 and the electrode 5A of the electronic component 5, the excess solder 10A
Flows out of the land 3 into the solder escape hole 7. Thus, the solder escape hole 7 accommodates the excess solder 10A and escapes from the land 3 to prevent the solder 10A from protruding outside the land 3.
【0031】8,8,…は各半田逃し孔7に対応して基
板1の裏面1B側に設けられた複数の半田引付ランド
で、該各半田引付ランド8は、例えば金属材料等を基板
1の裏面1Bに印刷することにより半田逃し孔7の開口
部位を取囲む環状の金属膜として形成されている。.. Are a plurality of solder drawing lands provided on the back surface 1B side of the substrate 1 corresponding to the respective solder escape holes 7, and the respective solder drawing lands 8 are made of, for example, a metal material. By printing on the back surface 1B of the substrate 1, it is formed as an annular metal film surrounding the opening of the solder escape hole 7.
【0032】そして、ランド3上の半田10が溶融した
ときには、余分な半田10Aが半田逃し孔7内を流下し
て半田引付ランド8に接触すると、このときに半田10
Aは表面張力により半田引付ランド8上で凸湾曲状に盛
上がるため、半田逃し孔7内の半田10Aは半田引付ラ
ンド8に引付けられ、基板1の裏面1B側に向けて流動
し易くなる。これにより、半田引付ランド8は、余分な
半田10Aを半田逃し孔7から基板1の裏面1B側に導
き、この半田10Aを半田引付ランド8上に溜めるもの
である。When the solder 10 on the land 3 is melted, excess solder 10A flows down through the solder escape hole 7 and comes into contact with the solder drawing land 8.
Since A rises in a convex curved shape on the solder drawing land 8 due to surface tension, the solder 10A in the solder escape hole 7 is attracted to the solder drawing land 8 and easily flows toward the back surface 1B side of the substrate 1. Become. Thus, the solder drawing land 8 guides the excess solder 10A from the solder escape hole 7 to the back surface 1B side of the substrate 1 and stores the solder 10A on the solder drawing land 8.
【0033】9は基板1の表面1A側に設けられた保護
膜で、該保護膜9は、例えばレジスト等の絶縁性材料を
基板1上に塗布することにより形成され、各配線パター
ン2とランド3の外縁側とを覆っている。また、保護膜
9には、図4に示す如く、各ランド3の中央部を露出さ
せる複数の開口部9Aが設けられている。Reference numeral 9 denotes a protective film provided on the front surface 1A side of the substrate 1. The protective film 9 is formed by applying an insulating material such as a resist on the substrate 1, and includes a wiring pattern 2 and a land. 3 and the outer edge side. As shown in FIG. 4, the protective film 9 is provided with a plurality of openings 9A for exposing the center of each land 3.
【0034】10,10,…は電子部品5の各電極5A
とランド3との間にそれぞれ設けられた半田で、該各半
田10は、例えばクリーム半田等の半田材料をランド3
上に塗布することにより形成されている。また、電子部
品5の実装時に余剰となった半田10Aは、半田逃し孔
7と半田引付ランド8とに亘って保持されている。Are electrodes 5A of the electronic component 5.
The solder 10 is provided between the land 3 and the land 3, for example.
It is formed by coating on top. The excess solder 10A when the electronic component 5 is mounted is held over the solder escape hole 7 and the solder drawing land 8.
【0035】本実施の形態による回路基板装置は上述の
如き構成を有するもので、次に電子部品5の実装作業に
ついて説明する。The circuit board device according to the present embodiment has the above-described configuration. Next, a mounting operation of the electronic component 5 will be described.
【0036】まず、電子部品5の実装時には、図5に示
す如く、基板1に対して配線パターン2、ランド3、半
田逃し孔7(貫通孔6)、半田引付ランド8、保護膜9
等を予め形成しておく。そして、例えばクリーム半田等
の半田材料10′を保護膜9の各開口部9Aからランド
3上に塗布する。First, when the electronic component 5 is mounted, as shown in FIG. 5, the wiring pattern 2, land 3, solder escape hole 7 (through hole 6), solder drawing land 8, protective film 9
Are formed in advance. Then, a solder material 10 ′, such as cream solder, is applied onto the lands 3 through the openings 9 A of the protective film 9.
【0037】次に、電子部品5を基板1上の所定位置に
配設し、その各電極5Aを図6に示す如く半田材料1
0′上にそれぞれ載置した後に、例えば加熱炉等の高温
雰囲気中で基板1を加熱して半田材料10′を溶融させ
る。これにより、各半田材料10′は、保護膜9の開口
部9A内で半田10となり、基板1側の各ランド3と電
子部品5の電極5Aとを接続する。このとき、半田10
に含まれるフラックス等の成分は半田逃し孔7から基板
1の裏面1B側にも揮発するようになる。Next, the electronic component 5 is disposed at a predetermined position on the substrate 1, and each electrode 5A is connected to the solder material 1 as shown in FIG.
After each of them is placed on 0 ', the substrate 1 is heated in a high-temperature atmosphere such as a heating furnace to melt the solder material 10'. Thus, each solder material 10 ′ becomes the solder 10 in the opening 9 A of the protective film 9, and connects each land 3 on the substrate 1 and the electrode 5 A of the electronic component 5. At this time, the solder 10
Is volatilized from the solder escape hole 7 to the back surface 1B side of the substrate 1 as well.
【0038】また、半田10のうち余剰となった半田1
0Aは、その自重や電子部品5の重さ等により半田逃し
孔7のランド側孔部7Aから基板側孔部7B(貫通孔
6)内に流出する。The surplus solder 1 of the solder 10
0A flows out of the land side hole 7A of the solder escape hole 7 into the board side hole 7B (through hole 6) due to its own weight, the weight of the electronic component 5, and the like.
【0039】このとき、半田10Aは、半田逃し孔7内
を流下して半田引付ランド8に接触すると、半田引付ラ
ンド8に引付けられて基板1の裏面1B側へと流動し易
くなるため、余分な半田10Aを半田逃し孔7内へと円
滑に逃すことができ、半田10Aを半田逃し孔7と半田
引付ランド8とに亘って溜めることができる。At this time, when the solder 10A flows down through the solder escape hole 7 and comes into contact with the solder attracting land 8, it is attracted to the solder attracting land 8 and easily flows to the back surface 1B side of the substrate 1. Therefore, the excess solder 10A can smoothly escape into the solder escape hole 7, and the solder 10A can be accumulated between the solder escape hole 7 and the solder drawing land 8.
【0040】かくして、本実施の形態によれば、基板1
とランド3との間には、基板1の貫通孔6等により半田
逃し孔7を設け、基板1の裏面1B側には半田引付ラン
ド8を設ける構成としたので、半田10がランド3上で
溶融したときには、余分な半田10Aをランド3上から
半田逃し孔7内へと確実に逃すことができる。Thus, according to the present embodiment, the substrate 1
A solder escape hole 7 is provided between the substrate 1 and the land 3 by a through hole 6 or the like of the substrate 1, and a solder attracting land 8 is provided on the back surface 1 </ b> B side of the substrate 1. When the solder melts, the excess solder 10A can be reliably released from the land 3 into the solder release hole 7.
【0041】このとき、半田引付ランド8は、半田逃し
孔7内を流下する半田10Aに対して基板1の裏面1B
側で接触でき、半田10Aを引付けて裏面1B側に導く
ことができる。これにより、半田10Aをランド3上か
ら半田逃し孔7内へと円滑に流出させることができ、例
えば半田10Aの余剰量が比較的多い場合でも、これら
の半田逃し孔7と半田引付ランド8とに亘って十分な量
の半田10Aを溜めることができる。At this time, the solder attracting land 8 is attached to the back surface 1B of the substrate 1 with respect to the solder 10A flowing down in the solder escape hole 7.
Side, and the solder 10A can be attracted and guided to the back surface 1B side. Thereby, the solder 10A can be smoothly discharged from the land 3 into the solder escape hole 7. For example, even when the surplus amount of the solder 10A is relatively large, the solder escape hole 7 and the solder drawing land 8 can be used. Thus, a sufficient amount of solder 10A can be stored.
【0042】従って、電子部品5の実装時には、ランド
3と電極5Aとの間から余分な半田10Aが食み出して
周囲の配線パターン2、ランド3、電極5A等に接触す
るのを確実に防止でき、電子部品5の各電極5Aを所定
のランド3にそれぞれ安定的に半田付けできると共に、
短絡等の接続不良を阻止して製造時の歩留まりを高め、
信頼性を向上させることができる。Therefore, when the electronic component 5 is mounted, it is ensured that the excess solder 10A does not protrude from between the land 3 and the electrode 5A and come into contact with the surrounding wiring pattern 2, land 3, electrode 5A and the like. It is possible to stably solder the respective electrodes 5A of the electronic component 5 to the predetermined lands 3, respectively.
Improves manufacturing yield by preventing connection failures such as short circuits,
Reliability can be improved.
【0043】また、半田逃し孔7を貫通孔6等により形
成したので、電子部品5の実装時には、溶融した半田1
0がランド3と電極5Aとの間に位置して保護膜9の開
口部9A内に閉込められた状態であっても、この半田1
0に含まれるフラックス等の成分を基板1の貫通孔6か
ら裏面1B側にも揮発させることができ、その揮発性を
高めて半田10の食み出しをより確実に防止することが
できる。Further, since the solder escape hole 7 is formed by the through hole 6 or the like, when the electronic component 5 is mounted, the molten solder 1
0 is located between the land 3 and the electrode 5A and is confined in the opening 9A of the protective film 9,
Components such as flux contained in the substrate 0 can also be volatilized from the through hole 6 of the substrate 1 to the back surface 1B side, and the volatility can be increased to prevent the solder 10 from leaching more reliably.
【0044】次に、図7は本発明による第2の実施の形
態を示し、本実施の形態の特徴は、基板とランドとの間
にスルーホールを経由した半田逃し孔を設ける構成とし
たことにある。なお、本実施の形態では、前記第1の実
施の形態と同一の構成要素に同一の符号を付し、その説
明を省略するものとする。Next, FIG. 7 shows a second embodiment of the present invention, which is characterized in that a solder escape hole is provided between a substrate and a land via a through hole. It is in. Note that, in the present embodiment, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.
【0045】11は例えば絶縁性の樹脂材料等により形
成された基板で、該基板11には、第1の実施の形態と
ほぼ同様に、その表面11A側に配線パターン2、ラン
ド3、電子部品5、保護膜9等が設けられている。しか
し、基板11には、その表面11Aと裏面11Bとの間
に位置して後述の貫通孔12にスルーホール13等が形
成されている。Reference numeral 11 denotes a substrate formed of, for example, an insulating resin material. The substrate 11 has a wiring pattern 2, lands 3, and electronic components on its front surface 11A side in substantially the same manner as in the first embodiment. 5, a protective film 9 and the like are provided. However, the substrate 11 is provided with a through hole 13 and the like in a through hole 12 described below, which is located between the front surface 11A and the back surface 11B.
【0046】12,12,…は各ランド3に対応する位
置で基板11に貫通して形成された複数の貫通孔(1個
のみ図示)で、該各貫通孔12は基板11の表面11A
と裏面11Bとに開口している。Are a plurality of through-holes (only one is shown) formed through the substrate 11 at positions corresponding to the lands 3, and each of the through-holes 12 is a surface 11A of the substrate 11.
And the back surface 11B.
【0047】13,13,…は各貫通孔12の内壁に金
属材料が設けられた複数のスルーホールで、該各スルー
ホール13は、各貫通孔12の内壁を覆う円筒状の薄膜
からなり、ランド3を構成する金属材料と同一の金属材
料を用いて一緒に(一体に)形成されている。Are a plurality of through holes in which a metal material is provided on the inner wall of each through hole 12. Each through hole 13 is formed of a cylindrical thin film that covers the inner wall of each through hole 12. The lands 3 are formed together (integrally) using the same metal material as the metal material constituting the lands 3.
【0048】14,14,…は基板11と各ランド3と
の間に設けられた複数の半田逃し孔で、該各半田逃し孔
14は、保護膜9の開口部9A内でランド3に貫通して
形成されたランド側孔部14Aと、該ランド側孔部14
Aと連通し、スルーホール13の内側に形成された基板
側孔部14Bとによって構成されている。また、半田逃
し孔14は、スルーホール13を経由してランド3の表
面側と基板11の裏面11B側とに開口している。Are a plurality of solder escape holes provided between the substrate 11 and each land 3. Each of the solder escape holes 14 penetrates the land 3 within the opening 9A of the protective film 9. The land side hole 14A formed by
A and a substrate side hole 14B formed inside the through hole 13 and communicating with A. The solder escape holes 14 are opened through the through holes 13 on the front surface side of the lands 3 and on the back surface 11B side of the substrate 11.
【0049】そして、電子部品5の実装時には、第1の
実施の形態とほぼ同様に、ランド3と電子部品5の電極
5Aとの間で溶融した半田10のうち、余分な半田10
Aが半田逃し孔14のランド側孔部14Aから基板側孔
部14B内に流出する。このとき、半田逃し孔14の内
壁は金属材料からなるスルーホール13により形成され
ているため、半田10Aはスルーホール13に沿って下
方へと円滑に流動し、例えば後述の絶縁膜15と接触す
る位置まで流下するようになる。これにより、半田逃し
孔14は余分な半田10Aを収容してランド3上から逃
し、この半田10Aがランド3の外側に食み出すのを防
止するものである。When the electronic component 5 is mounted, the excess solder 10 out of the solder 10 melted between the land 3 and the electrode 5A of the electronic component 5 is substantially similar to the first embodiment.
A flows out from the land side hole 14A of the solder escape hole 14 into the board side hole 14B. At this time, since the inner wall of the solder escape hole 14 is formed by the through hole 13 made of a metal material, the solder 10A smoothly flows downward along the through hole 13 and comes into contact with, for example, an insulating film 15 described later. It will flow down to the position. Thus, the solder escape hole 14 accommodates the excess solder 10A and escapes from the land 3 to prevent the solder 10A from protruding outside the land 3.
【0050】15は基板11の裏面11B側に設けられ
た閉塞部材としての絶縁膜で、該絶縁膜15は、例えば
レジスト等の絶縁性材料により形成され、半田逃し孔1
4(スルーホール13)を基板11の裏面11B側で閉
塞している。そして、絶縁膜15は、半田逃し孔14内
を流下する半田10Aが基板11の裏面11Bから突出
するのを防止している。Reference numeral 15 denotes an insulating film as a closing member provided on the back surface 11B side of the substrate 11. The insulating film 15 is formed of an insulating material such as a resist, for example.
4 (through hole 13) is closed on the back surface 11B side of the substrate 11. The insulating film 15 prevents the solder 10A flowing down in the solder escape hole 14 from protruding from the back surface 11B of the substrate 11.
【0051】かくして、このように構成される本実施の
形態でも、前記第1の実施の形態とほぼ同様の作用効果
を得ることができる。そして、特に本実施の形態では、
スルーホール13を経由した半田逃し孔14を設ける構
成としたので、半田10がランド3上で溶融したときに
は、余分な半田10Aを半田逃し孔14内でスルーホー
ル13に沿って円滑に流下させることができ、半田10
Aを半田逃し孔14内に効率よく逃すことができる。Thus, also in the present embodiment configured as described above, it is possible to obtain substantially the same operation and effect as in the first embodiment. And especially in this embodiment,
Since the solder escape hole 14 is provided via the through hole 13, when the solder 10 is melted on the land 3, the excess solder 10 </ b> A flows smoothly along the through hole 13 in the solder escape hole 14. , Solder 10
A can efficiently escape into the solder escape hole 14.
【0052】また、半田逃し孔14を絶縁膜15により
基板11の裏面11B側で閉塞するようにしたので、半
田逃し孔14内に流出した半田10Aが基板11の裏面
11B側から突出するのを防止することができる。これ
により、基板11の裏面11B側で各スルーホール13
が誤って短絡されるのを防止できると共に、例えば半田
10A等を含めて基板11全体の厚さ寸法を小さく抑え
た構成とすることもできる。Further, since the solder escape hole 14 is closed on the back surface 11B side of the substrate 11 by the insulating film 15, it is possible to prevent the solder 10A flowing into the solder escape hole 14 from projecting from the back surface 11B side of the substrate 11. Can be prevented. As a result, each through hole 13 is formed on the back surface 11B side of the substrate 11.
Can be prevented from being erroneously short-circuited, and the thickness of the entire substrate 11 including the solder 10A can be reduced.
【0053】また、スルーホール13を、ランド3と同
一の金属材料を用いて一体に形成したので、これらのラ
ンド3、スルーホール13と一緒に、かつ同時に半田逃
し孔14を効率よく形成することができる。Further, since the through holes 13 are integrally formed using the same metal material as the lands 3, the solder escape holes 14 can be efficiently formed together with the lands 3 and the through holes 13 at the same time. Can be.
【0054】次に、図8は本発明による第3の実施の形
態を示し、本実施の形態の特徴は、スルーホールを経由
した半田逃し孔と半田引付ランドとを一緒に設ける構成
としたことにある。なお、本実施の形態では、前記第1
の実施の形態と同一の構成要素に同一の符号を付し、そ
の説明を省略するものとする。Next, FIG. 8 shows a third embodiment of the present invention, which is characterized in that a solder escape hole via a through hole and a solder drawing land are provided together. It is in. In the present embodiment, the first
The same reference numerals are given to the same components as those of the embodiment, and the description thereof will be omitted.
【0055】21は例えば絶縁性の樹脂材料等により形
成された基板で、該基板21には、前記第2の実施の形
態とほぼ同様に、その表面21A側に配線パターン2、
ランド3、電子部品5、保護膜9等が設けられ、表面2
1Aと裏面21Bとの間には、貫通孔22、スルーホー
ル23等が形成されている。そして、基板21とランド
3との間には、ランド側孔部24Aと基板側孔部24B
とからなる半田逃し孔24がスルーホール23を経由し
て設けられている。Reference numeral 21 denotes a substrate formed of, for example, an insulating resin material. The substrate 21 has a wiring pattern 2 on its front surface 21A side in substantially the same manner as in the second embodiment.
Land 3, electronic component 5, protective film 9, etc. are provided, and surface 2
A through hole 22, a through hole 23, and the like are formed between 1A and the back surface 21B. A land side hole 24A and a substrate side hole 24B are provided between the substrate 21 and the land 3.
Is formed through the through hole 23.
【0056】25,25,…は各半田逃し孔24に対応
して基板21の裏面21B側に設けられた複数の半田引
付ランド(1個のみ図示)で、該各半田引付ランド25
は、前記第1の実施の形態とほぼ同様に、例えば基板2
1の裏面21Bで半田逃し孔24の開口部位を取囲む環
状の金属膜からなり、ランド3とスルーホール23と同
一の金属材料によって一体的に形成されている。Are a plurality of solder drawing lands (only one is shown) provided on the back surface 21B side of the substrate 21 corresponding to each solder escape hole 24.
Is substantially the same as that of the first embodiment, for example, the substrate 2
The first back surface 21B is formed of an annular metal film surrounding the opening of the solder escape hole 24, and is integrally formed of the same metal material as the land 3 and the through hole 23.
【0057】そして、電子部品5の実装時には、ランド
3と電子部品5の電極5Aとの間で溶融した半田10の
うち、余分な半田10Aが半田逃し孔24のランド側孔
部24Aから基板側孔部24B内に流出し、この半田1
0Aはスルーホール23に沿って円滑に流下する。さら
に、この半田10Aは半田引付ランド25に接触するこ
とにより、半田逃し孔24から半田引付ランド25に向
けて引付けられ、半田逃し孔24と半田引付ランド25
とに亘って溜る構成となっている。When the electronic component 5 is mounted, the excess solder 10A of the solder 10 melted between the land 3 and the electrode 5A of the electronic component 5 is transferred from the land side hole 24A of the solder escape hole 24 to the substrate side. The solder 1 flows out into the hole 24B,
0A flows down smoothly along the through hole 23. Further, the solder 10 </ b> A comes into contact with the solder drawing land 25 to be drawn from the solder escape hole 24 toward the solder drawing land 25, and the solder escape hole 24 and the solder drawing land 25 are formed.
It is configured to accumulate over this.
【0058】かくして、このように構成される本実施の
形態でも、前記第1,第2の実施の形態とほぼ同様の作
用効果を得ることができる。そして、特に本実施の形態
では、基板21の裏面21B側に各半田逃し孔24を取
囲む半田引付ランド25を設ける構成としたので、半田
逃し孔24と半田引付ランド25とによりランド3上の
余分な半田10Aを効率よく逃すことができ、これらの
部位に十分な量の半田10Aを溜めることができる。Thus, in the present embodiment configured as described above, substantially the same operation and effect as those of the first and second embodiments can be obtained. In particular, in the present embodiment, since the solder attracting land 25 surrounding each solder escape hole 24 is provided on the back surface 21B side of the substrate 21, the land 3 is formed by the solder escape hole 24 and the solder attracting land 25. The upper excess solder 10A can be efficiently escaped, and a sufficient amount of solder 10A can be stored in these portions.
【0059】なお、前記第2の実施の形態では、絶縁膜
15により半田逃し孔14を基板11の裏面11B側で
閉塞する構成としたが、本発明はこれに限らず、絶縁膜
15に代えて他の閉塞部材を用いる構成としてもよく、
また閉塞部材を省略する構成としてもよい。In the second embodiment, the solder escape hole 14 is closed by the insulating film 15 on the back surface 11B side of the substrate 11. However, the present invention is not limited to this. May be configured to use another closing member,
Further, a configuration in which the closing member is omitted may be adopted.
【0060】また、各実施の形態では、半導体IC、ト
ランジスタ等からなる電子部品5を基板1,11,21
上に実装する構成としたが、本発明はこれに限らず、例
えば抵抗、コンデンサ等を含めた各種の電子部品に適用
する構成としてもよい。In each of the embodiments, the electronic component 5 composed of a semiconductor IC, a transistor and the like is mounted on the substrate 1, 11, 21 or
Although the configuration is described above, the present invention is not limited to this, and may be configured to be applied to various electronic components including, for example, a resistor and a capacitor.
【0061】[0061]
【発明の効果】以上詳述した通り、請求項1の発明によ
れば、基板とランドとの間には、基板の貫通孔による半
田逃し孔を設け、基板の裏面側には半田引付ランドを設
ける構成としたので、半田がランド上で溶融したときに
は、余分な半田を半田逃し孔内に確実に逃すことがで
き、このとき半田を半田引付ランドにより引付けて各半
田逃し孔内へと円滑に導くことができると共に、これら
の半田逃し孔と半田引付ランドとに亘って十分な量の半
田を溜めることができる。従って、電子部品の実装時に
は、余分な半田がランドから食み出して周囲の導体等に
接触するのを防止でき、電子部品をランドに安定的に半
田付けできると共に、短絡等の接続不良を防止して製造
時の歩留まりを高め、信頼性を向上させることができ
る。また、半田中のフラックス等を半田逃し孔から基板
の裏面側にも揮発させることができ、その揮発性を高め
て半田の食み出しをより確実に防止することができる。As described above in detail, according to the first aspect of the present invention, a solder escape hole is formed between the substrate and the land by a through hole of the substrate, and the solder drawing land is formed on the back side of the substrate. When the solder melts on the lands, the excess solder can be reliably released into the solder escape holes.At this time, the solder is attracted by the solder attraction lands and into each solder escape hole. And a sufficient amount of solder can be stored over these solder escape holes and solder drawing lands. Therefore, when mounting electronic components, excess solder can be prevented from protruding from the lands and coming into contact with surrounding conductors and the like, and the electronic components can be stably soldered to the lands and connection defects such as short circuits can be prevented As a result, the yield during manufacturing can be increased, and the reliability can be improved. Further, the flux and the like in the solder can be volatilized from the solder escape hole to the back surface of the substrate, and the volatility can be increased to prevent the solder from leaching more reliably.
【0062】また、請求項2の発明によれば、半田逃し
孔をスルーホール構造としたので、半田がランド上で溶
融したときには、余分な半田を、スルーホールを形成す
る金属材料に沿って半田逃し孔内へと円滑に逃すことが
できる。従って、電子部品の実装時には、余分な半田が
ランドから食み出して周囲の導体等に接触するのを確実
に防止でき、製造時の歩留まりを高め、信頼性を向上さ
せることができる。According to the second aspect of the present invention, since the solder escape hole has a through-hole structure, when the solder is melted on the land, excess solder is removed along the metal material forming the through-hole. It can smoothly escape into the escape hole. Therefore, at the time of mounting the electronic component, it is possible to reliably prevent excess solder from protruding from the land and coming into contact with the surrounding conductors and the like, and it is possible to increase the production yield and improve the reliability.
【0063】また、請求項3の発明によれば、ランドと
スルーホール内壁とを同一の金属材料を用いて形成する
構成としたので、これらのランド、スルーホールと一緒
に、かつ同時に半田逃し孔を効率よく形成することがで
きる。According to the third aspect of the present invention, since the land and the inner wall of the through hole are formed by using the same metal material, the solder escape hole is formed together with the land and the through hole and simultaneously. Can be formed efficiently.
【0064】さらに、請求項4の発明によれば、基板の
裏面側には、半田逃し孔を閉塞する閉塞部材を設ける構
成としたので、閉塞部材は、半田逃し孔内に収容された
余分な半田が基板の裏面側から突出するのを防止でき、
基板の裏面側で各スルーホールが誤って短絡されるのを
防止できると共に、例えば基板全体の厚さ寸法を小さく
抑えた構成とすることができる。Further, according to the fourth aspect of the present invention, since the closing member for closing the solder escape hole is provided on the back surface side of the substrate, the closing member is provided with an extra part accommodated in the solder escape hole. It can prevent solder from protruding from the back side of the board,
It is possible to prevent each through-hole from being erroneously short-circuited on the back surface side of the substrate, and to make the thickness of the entire substrate small, for example.
【0065】また、請求項5の発明によれば、基板の裏
面側には、半田逃し孔を取囲む半田引付ランドを設ける
構成としたので、半田引付ランドは、半田逃し孔内を流
下する半田と接触することにより、余分な半田を引付け
て半田逃し孔内に円滑に導くことができ、この半田を半
田逃し孔と半田引付ランドとに亘って安定的に溜めるこ
とができる。According to the fifth aspect of the present invention, since the solder drawing land surrounding the solder escape hole is provided on the back side of the substrate, the solder pull land flows down in the solder escape hole. By contacting the solder, the excess solder can be attracted and smoothly guided into the solder escape hole, and the solder can be stably stored over the solder escape hole and the solder attachment land.
【図1】本発明の第1の実施の形態による回路基板装置
を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing a circuit board device according to a first embodiment of the present invention.
【図2】図1中の矢示II−II方向からみた基板、電子部
品等の拡大断面図である。FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view of a substrate, an electronic component, and the like as viewed from a direction indicated by arrows II-II in FIG.
【図3】ランドと電子部品との接続部位を示す図2中の
要部拡大断面図である。FIG. 3 is an enlarged sectional view of a main part in FIG. 2 showing a connection portion between a land and an electronic component.
【図4】ランドと電子部品との接続部位を図3中の矢示
IV-IV方向からみた横断面図である。FIG. 4 shows a connection portion between a land and an electronic component in an arrow in FIG.
FIG. 4 is a cross-sectional view as viewed from the IV-IV direction.
【図5】基板上に電子部品を実装する前の状態を示す拡
大断面図である。FIG. 5 is an enlarged sectional view showing a state before electronic components are mounted on a substrate.
【図6】電子部品をランド上に実装するときに余分な半
田がランド上から半田逃し孔に流出する状態を示す図2
中の要部拡大断面図である。FIG. 6 is a diagram showing a state in which excess solder flows out of the land into the solder escape hole when the electronic component is mounted on the land.
It is an important section enlarged sectional view in the inside.
【図7】本発明の第2の実施の形態による回路基板装置
の一部を示す図6と同様位置の要部拡大断面図である。FIG. 7 is an enlarged cross-sectional view of a main part at a position similar to FIG. 6 showing a part of a circuit board device according to a second embodiment of the present invention.
【図8】本発明の第3の実施の形態による回路基板装置
の一部を示す図6と同様位置の要部拡大断面図である。FIG. 8 is an enlarged sectional view of a main part at a position similar to FIG. 6 showing a part of a circuit board device according to a third embodiment of the present invention.
1,11,21 基板 1A,11A,21A 表面 1B,11B,21B 裏面 2 配線パターン(配線部) 3 ランド 4 電子回路 5 電子部品 5A 電極 6,12,22 貫通孔 7,14,24 半田逃し孔 7A,14A,24A ランド側孔部 7B,14B,24B 基板側孔部 8,25 半田引付ランド 9 保護膜 9A 開口部 10,10A 半田 13,23 スルーホール 15 絶縁膜(閉塞部材) 1, 11, 21 Substrate 1A, 11A, 21A Front surface 1B, 11B, 21B Back surface 2 Wiring pattern (wiring portion) 3 Land 4 Electronic circuit 5 Electronic component 5A Electrode 6, 12, 22 Through hole 7, 14, 24 Solder escape hole 7A, 14A, 24A Land side hole 7B, 14B, 24B Board side hole 8, 25 Solder land 9 Protective film 9A Opening 10, 10A Solder 13, 23 Through hole 15 Insulating film (blocking member)
Claims (5)
られた基板と、該基板の表面側に設けられ前記配線部に
接続された金属材料からなるランドと、前記基板の表面
側に実装され半田により該ランドと接続される電子部品
とからなる回路基板装置において、 前記基板には、前記基板の表面側と裏面側との間を貫通
して貫通孔を設け、 前記基板のランドの表面側と前記基板の裏面側との間に
は、該貫通孔による半田逃し孔を設け、 前記基板の裏面側には、金属材料を用いて前記半田逃し
孔を取囲んで形成され該半田逃し孔に流出した半田を引
付ける半田引付ランドを設ける構成としたことを特徴と
する回路基板装置。1. A substrate on which a wiring portion for forming an electronic circuit is provided, a land made of a metal material provided on the front surface side of the substrate and connected to the wiring portion, and mounted on the front surface side of the substrate A circuit board device comprising an electronic component connected to the land by soldering, wherein the substrate has a through-hole penetrating between a front side and a back side of the substrate; A solder escape hole formed by the through hole is provided between the solder escape hole and the back surface side of the substrate. The solder escape hole is formed on the back surface side of the substrate by surrounding the solder escape hole using a metal material. A circuit board device characterized in that a solder attracting land for attracting the solder flowing to the circuit board is provided.
着させたスルーホール構造としてなる請求項1に記載の
回路基板装置。2. The circuit board device according to claim 1, wherein the solder escape hole has a through-hole structure in which a metal material is attached to an inner wall.
の金属材料を用いて形成してなる請求項2に記載の回路
基板装置。3. The circuit board device according to claim 2, wherein the land and the inner wall of the through hole are formed using the same metal material.
を閉塞する閉塞部材を設けてなる請求項2または3に記
載の回路基板装置。4. The circuit board device according to claim 2, wherein a closing member for closing the solder escape hole is provided on a back surface side of the board.
て前記半田逃し孔を取囲んで形成され該半田逃し孔に流
出した半田を引付ける半田引付ランドを設けてなる請求
項2または3に記載の回路基板装置。5. A soldering land which is formed on a rear surface side of the substrate using a metal material so as to surround the solder escape hole and attracts solder flowing out to the solder escape hole. Or the circuit board device according to 3.
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