JP2002236094A - Concentration measuring method, oxidizing-force measuring method, oxidizing-force control method and control method for oxidation process - Google Patents

Concentration measuring method, oxidizing-force measuring method, oxidizing-force control method and control method for oxidation process

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JP2002236094A JP2001029904A JP2001029904A JP2002236094A JP 2002236094 A JP2002236094 A JP 2002236094A JP 2001029904 A JP2001029904 A JP 2001029904A JP 2001029904 A JP2001029904 A JP 2001029904A JP 2002236094 A JP2002236094 A JP 2002236094A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To measure the concentration of peroxosulfuric acid in a solution. SOLUTION: The concentration measuring method includes a step, which finds an absorbance at a wavelength near 190 nm caused by the peroxosulfuric acid in the solution containing the peroxosulfuric acid and a step, in which the concentration of the peroxosulfuric acid in the solution is measured on the basis of the found absorbance.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、溶液中のペルオキ
ソ硫酸の濃度を測定する濃度測定方法、硫酸にオゾンを
溶解させたオゾン・硫酸混合溶液の酸化力測定方法、硫
酸にオゾンを溶解させたオゾン・硫酸混合溶液の酸化力
制御方法、及び前記オゾン・硫酸混合溶液を用いた酸化
工程の制御方法に関する。
The present invention relates to a method for measuring the concentration of peroxosulfuric acid in a solution, a method for measuring the oxidizing power of a mixed solution of ozone and sulfuric acid in which ozone is dissolved in sulfuric acid, and a method of dissolving ozone in sulfuric acid. The present invention relates to a method for controlling the oxidizing power of an ozone / sulfuric acid mixed solution and a method for controlling an oxidizing step using the ozone / sulfuric acid mixed solution.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体製造プロセスにおいて、ウェハ表
面の酸化処理工程特に、レジストの酸化・除去工程等に
おいては、従来から硫酸と過酸化水素の混合液が使用さ
れている。硫酸と過酸化水素の混合液の液性の管理につ
いては、通常比重によって行われる。これは、濃硫酸に
過酸化水素を添加する場合、通常の過酸化水素溶液の濃
度が30〜35%の水溶液であるため、過酸化水素溶液
の添加により硫酸の濃度が希釈されて薄くなることと、
更には、過酸化水素が分解して水を生成し硫酸濃度を低
下するため、混合液の比重が小さくなる。硫酸濃度が低
下すると混合液の沸点が下がり、レジストの分解・除去
効果が失われてしまう。このため、硫酸濃度が80%以
下で混合液を廃棄せざるを得なかった。
2. Description of the Related Art In a semiconductor manufacturing process, a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide has been conventionally used in a step of oxidizing a wafer surface, particularly in a step of oxidizing and removing a resist. The liquid property of the mixture of sulfuric acid and hydrogen peroxide is usually controlled by specific gravity. This is because when hydrogen peroxide is added to concentrated sulfuric acid, the concentration of the sulfuric acid is diluted and thinned by the addition of the hydrogen peroxide solution because the concentration of the normal hydrogen peroxide solution is an aqueous solution of 30 to 35%. When,
Further, hydrogen peroxide is decomposed to generate water and reduce the concentration of sulfuric acid, so that the specific gravity of the mixed solution is reduced. When the sulfuric acid concentration decreases, the boiling point of the mixed solution decreases, and the effect of decomposing and removing the resist is lost. For this reason, the mixed solution had to be discarded when the sulfuric acid concentration was 80% or less.

【0003】最近では、過酸化水素に替わってオゾンガ
スを熱濃硫酸に溶解させた混合液が酸化剤として使用さ
れるようになってきた。
Recently, a mixture of ozone gas dissolved in hot concentrated sulfuric acid instead of hydrogen peroxide has been used as an oxidizing agent.

【0004】硫酸にオゾンガスを溶解する方法では、硫
酸濃度を低下させる水の増加はほとんどないため、硫酸
濃度の管理を行う必要がなく、廃棄する硫酸溶液もきわ
めて少なくて済む。
In the method of dissolving ozone gas in sulfuric acid, since there is almost no increase in water for lowering the sulfuric acid concentration, there is no need to control the sulfuric acid concentration, and the amount of the sulfuric acid solution to be discarded is extremely small.

【0005】しかし、濃硫酸にオゾンガスを添加した場
合、オゾンは硫酸と反応してペルオキソ硫酸を生成し、
オゾン自身が消費される。更に、生成されたペルオキソ
硫酸自身も強い酸化剤となるが、このペルオキソ硫酸の
濃度測定方法が存在せず、オゾンの濃度を測定しただけ
では、溶液の酸化力を検出することは出来ないという問
題があった。
However, when ozone gas is added to concentrated sulfuric acid, the ozone reacts with sulfuric acid to produce peroxosulfuric acid,
Ozone itself is consumed. Furthermore, the generated peroxosulfate itself is also a strong oxidizing agent, but there is no method for measuring the concentration of peroxosulfate, and the oxidizing power of the solution cannot be detected only by measuring the concentration of ozone. was there.

【0006】溶液の酸化力がわからないために、従っ
て、精密な具体的にレジスト剥離能力を定量化出来てい
ないために、従来のレジスト膜除去には、経験的な処理
温度と処理時間で硫酸とオゾンガスを混合させているに
過ぎないという問題があった。
[0006] Because the oxidizing power of the solution is not known, and therefore, the resist stripping ability cannot be precisely quantified specifically, the conventional resist film removal requires sulfuric acid at an empirical processing temperature and processing time. There was a problem that only ozone gas was mixed.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】上述したように、溶液
中のペルオキソ硫酸の濃度を測定することが出来ず、ペ
ルオキソ硫酸を含む溶液の管理を行うことが出来ないと
いう問題があった。また、オゾンを溶解させた硫酸溶液
(オゾン・硫酸混合溶液)中のオゾン及びペルオキソ硫
酸の濃度を測定することができず、オゾン・硫酸混合溶
液の酸化力制御を行うことが出来ないという問題があっ
た。
As described above, there has been a problem that the concentration of peroxosulfuric acid in a solution cannot be measured, and a solution containing peroxosulfuric acid cannot be managed. In addition, the concentration of ozone and peroxosulfuric acid in a sulfuric acid solution in which ozone is dissolved (ozone / sulfuric acid mixed solution) cannot be measured, and the oxidizing power of the ozone / sulfuric acid mixed solution cannot be controlled. there were.

【0008】また、オゾン・硫酸混合溶液の酸化力がわ
からないので、従来のレジスト剥離等の酸化工程では、
経験的な処理時間で酸化を行っているという問題があっ
た。
In addition, since the oxidizing power of the ozone / sulfuric acid mixed solution is not known, in the conventional oxidation step such as resist stripping,
There was a problem that the oxidation was performed with an empirical processing time.

【0009】本発明の目的は、溶液中のペルオキソ硫酸
の濃度を測定可能な濃度測定方法を提供することにあ
る。
It is an object of the present invention to provide a method for measuring the concentration of peroxosulfate in a solution.

【0010】また、本発明の別の目的は、オゾンを溶解
させた硫酸溶液中のオゾン及びペルオキソ硫酸の濃度を
測定可能な濃度測定方法を提供することにある。
Another object of the present invention is to provide a method for measuring the concentration of ozone and peroxosulfuric acid in a sulfuric acid solution in which ozone is dissolved.

【0011】また、本発明の別の目的は、オゾンを溶解
させた硫酸溶液の酸化力を測定することができるオゾン
・硫酸混合溶液の酸化力測定方法を提供することにあ
る。
It is another object of the present invention to provide a method for measuring the oxidizing power of an ozone / sulfuric acid mixed solution, which can measure the oxidizing power of a sulfuric acid solution in which ozone is dissolved.

【0012】また、本発明の別の目的は、オゾンを溶解
させた硫酸溶液の酸化力を制御し得る酸化力制御方法を
提供することにある。
Another object of the present invention is to provide an oxidizing power control method capable of controlling the oxidizing power of a sulfuric acid solution in which ozone is dissolved.

【0013】また、本発明の別の目的は、被処理基板表
面に形成された被酸化物に対してオゾンを溶解させた硫
酸溶液を用いて酸化を行う酸化工程において、被酸化物
の存在の有無を判定することが可能な酸化工程の制御方
法を提供することにある。
Another object of the present invention is to provide a method for oxidizing an oxide to be formed on the surface of a substrate to be processed using a sulfuric acid solution in which ozone is dissolved. An object of the present invention is to provide a control method of an oxidation step capable of determining presence or absence.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】[構成]本発明は、上記
目的を達成するために以下のように構成されている。
Means for Solving the Problems [Configuration] The present invention is configured as follows to achieve the above object.

【0015】(1)本発明に係わるペルオキソ硫酸の濃
度測定方法は、ペルオキソ硫酸を含む溶液のペルオキソ
硫酸に起因する波長190nm近傍での吸光度を求める
ステップと、求められた吸光度から前記溶液中のペルオ
キソ硫酸の濃度を測定するステップとを含むことを特徴
とする。
(1) The method for measuring the concentration of peroxosulfuric acid according to the present invention comprises the steps of determining the absorbance of a solution containing peroxosulfuric acid at a wavelength around 190 nm caused by peroxosulfuric acid, Measuring the concentration of sulfuric acid.

【0016】(2)本発明に係わるオゾン及びペルオキ
ソ硫酸濃度の濃度測定方法は、硫酸溶液中にオゾンを溶
解させると共に、硫酸溶液とオゾンとを反応させてペル
オキソ硫酸を生成して、オゾン・硫酸混合溶液を製造す
るステップと、前記オゾン・硫酸混合溶液のオゾンに起
因する波長254nm近傍の吸光度と、ペルオキソ硫酸
に起因する波長190nm近傍の吸光度とを測定するス
テップと、測定されたオゾンに起因する吸光度から前記
オゾン・硫酸混合溶液中のオゾンガスの濃度を求めるス
テップと、測定されたペルオキソ硫酸に起因する吸光度
から前記オゾン・硫酸混合溶液中のペルオキソ硫酸の濃
度を測定するステップとを含むことを特徴とする。
(2) The method for measuring the concentration of ozone and peroxosulfuric acid according to the present invention comprises dissolving ozone in a sulfuric acid solution, and reacting the sulfuric acid solution with ozone to generate peroxosulfuric acid. Producing a mixed solution, measuring the absorbance of the ozone / sulfuric acid mixed solution near 254 nm wavelength due to ozone, and measuring the absorbance near 190 nm wavelength due to peroxosulfuric acid; Determining the concentration of ozone gas in the ozone / sulfuric acid mixture from the absorbance, and measuring the concentration of peroxosulfuric acid in the ozone / sulfuric acid mixture from the absorbance caused by the measured peroxosulfuric acid. And

【0017】(3)本発明に係わるオゾン・硫酸混合溶
液の酸化力測定方法は、硫酸溶液中にオゾンを溶解させ
ると共に、硫酸溶液とオゾンとを反応させてペルオキソ
硫酸を生成して、オゾン・硫酸混合溶液を製造するステ
ップと、前記オゾン・硫酸混合溶液のオゾンに起因する
波長254nm近傍の吸光度と、該溶液のペルオキソ硫
酸に起因する波長190nm近傍の吸光度とを測定する
ステップと、測定されたオゾンに起因する吸光度から前
記オゾン・硫酸混合溶液中のオゾンの酸化力を求め、測
定されたペルオキソ硫酸に起因する吸光度から前記オゾ
ン・硫酸混合溶液中のペルオキソ硫酸の酸化力を求める
ステップと、求められた二つの酸化力を積算して、前記
オゾン・硫酸混合溶液の酸化力を求めるステップとを含
むことを特徴とする。
(3) The method for measuring the oxidizing power of an ozone / sulfuric acid mixed solution according to the present invention comprises dissolving ozone in a sulfuric acid solution and reacting the sulfuric acid solution with ozone to generate peroxosulfuric acid. Producing a sulfuric acid mixed solution, measuring the absorbance of the ozone / sulfuric acid mixed solution near 254 nm wavelength due to ozone, and measuring the absorbance near 190 nm wavelength caused by peroxosulfuric acid in the solution. Obtaining the oxidizing power of ozone in the ozone / sulfuric acid mixed solution from the absorbance caused by ozone, and obtaining the oxidizing power of peroxosulfuric acid in the ozone / sulfuric acid mixed solution from the measured absorbance caused by peroxosulfuric acid. Obtaining the oxidizing power of the ozone / sulfuric acid mixed solution by integrating the obtained two oxidizing powers. .

【0018】(4)本発明に係わるオゾン・硫酸混合溶
液の酸化力制御方法は、硫酸溶液中にオゾンを連続的に
導入して、硫酸溶液中にオゾンを溶解させると共に、硫
酸溶液とオゾンとを反応させてペルオキソ硫酸を生成し
て、オゾン・硫酸混合溶液を製造するステップと、前記
オゾン・硫酸混合溶液のオゾンに起因する波長254n
m近傍の吸光度と、該混合溶液のペルオキソ硫酸に起因
する波長190nm近傍の吸光度とを測定するステップ
と、測定されたオゾンに起因する吸光度から前記オゾン
・硫酸混合溶液中のオゾンの酸化力を求め、測定された
ペルオキソ硫酸に起因する吸光度から前記オゾン・硫酸
混合溶液中のペルオキソ硫酸の酸化力を求めるステップ
と、求められた二つの酸化力を積算して、前記オゾン・
硫酸混合溶液の酸化力を求めるステップと、求められた
オゾン・硫酸混合溶液の酸化力に応じて、該溶液中に溶
解させるオゾン量を制御するステップとを含むことを特
徴とする。
(4) In the method for controlling the oxidizing power of an ozone / sulfuric acid mixed solution according to the present invention, ozone is continuously introduced into a sulfuric acid solution to dissolve ozone in the sulfuric acid solution, and the sulfuric acid solution and the ozone are mixed with each other. To produce peroxosulfuric acid to produce an ozone / sulfuric acid mixed solution, and a wavelength 254n caused by ozone in the ozone / sulfuric acid mixed solution.
measuring the absorbance at around m and the absorbance at a wavelength of about 190 nm caused by peroxosulfuric acid in the mixed solution; and determining the oxidizing power of ozone in the ozone / sulfuric acid mixed solution from the measured absorbance attributable to ozone. Obtaining the oxidizing power of peroxosulfuric acid in the ozone / sulfuric acid mixed solution from the measured absorbance caused by peroxosulfuric acid, and integrating the obtained two oxidizing powers to obtain the ozone.
The method includes a step of determining the oxidizing power of the sulfuric acid mixed solution and a step of controlling the amount of ozone dissolved in the solution according to the obtained oxidizing power of the ozone / sulfuric acid mixed solution.

【0019】(5)本発明に係わるオゾン・硫酸混合溶
液を用いた酸化工程の制御方法は、硫酸溶液中にオゾン
を連続的に導入して、硫酸溶液中にオゾンを溶解させる
と共に、硫酸溶液とオゾンとを反応させてペルオキソ硫
酸を生成して、オゾン・硫酸混合溶液を製造するステッ
プと、前記オゾン・硫酸混合溶液中に被酸化物が形成さ
れた被処理基板を投入して、被酸化物を酸化させるステ
ップと、前記ウェハが導入されたオゾン・硫酸混合溶液
の254nm近傍の吸光度、及び該混合溶液の190n
m近傍の吸光度の少なくとも一方を測定するステップ
と、測定された吸光度が所定の状態になったら、前記オ
ゾン・硫酸混合溶液中のオゾン濃度から前記ウェハを引
き出すステップとを含むことを特徴とする。
(5) The method for controlling an oxidation step using an ozone / sulfuric acid mixed solution according to the present invention is a method for continuously introducing ozone into a sulfuric acid solution to dissolve ozone in the sulfuric acid solution, Producing peroxosulfuric acid by reacting the mixture with ozone to produce an ozone / sulfuric acid mixed solution, and charging the substrate to be processed having an oxide to be formed in the ozone / sulfuric acid mixed solution, Oxidizing the material, the absorbance of the ozone / sulfuric acid mixed solution into which the wafer is introduced near 254 nm, and 190 n of the mixed solution.
measuring at least one of the absorbances in the vicinity of m, and extracting the wafer from the ozone concentration in the ozone / sulfuric acid mixed solution when the measured absorbance reaches a predetermined state.

【0020】本発明(オゾン・硫酸混合溶液を用いた酸
化工程の制御方法)の好ましい実施態様を以下に記す。
前記所定の状態とは、測定された吸光度に応じた値がウ
ェハを投入する前に測定された吸光度に応じた値と同等
になった状態であること。前記所定の状態とは、測定さ
れた吸光度に応じた値が増加傾向を示した状態であるこ
と。
Preferred embodiments of the present invention (a method for controlling an oxidation step using a mixed solution of ozone and sulfuric acid) are described below.
The predetermined state is a state in which a value corresponding to the measured absorbance is equal to a value corresponding to the absorbance measured before the wafer is loaded. The predetermined state is a state in which a value corresponding to the measured absorbance shows an increasing tendency.

【0021】[作用]本発明は、上記構成によって以下
の作用・効果を有する。
[Function] The present invention has the following functions and effects by the above configuration.

【0022】190nm近傍の吸光度を測定することに
よって、ペルオキソ硫酸の濃度及び酸化力を測定するこ
とができる。
The concentration and oxidizing power of peroxosulfuric acid can be measured by measuring the absorbance near 190 nm.

【0023】又、190nm近傍の吸光度と254nm
近傍の吸光度とを測定することによって、オゾン・硫酸
混合溶液中のオゾン及びペルオキソ硫酸の濃度並びに酸
化力を求めることができる。さらに、求められた酸化力
に応じて、導入するオゾン量を調整することによって、
オゾン・硫酸混合溶液の酸化力を調整することができ
る。
Also, the absorbance near 190 nm and 254 nm
By measuring the absorbance in the vicinity, the concentrations of ozone and peroxosulfuric acid in the ozone / sulfuric acid mixed solution and the oxidizing power can be obtained. Furthermore, by adjusting the amount of ozone to be introduced according to the oxidizing power determined,
The oxidizing power of the ozone / sulfuric acid mixed solution can be adjusted.

【0024】また、オゾン・硫酸混合溶液を用いた酸化
工程において、190nm近傍での吸光度及び254n
m近傍での吸光度の少なくとも一方を測定することによ
って、酸化工程の終了判定を行うことができ、プロセス
タイムの短縮化を図ることができる。
In the oxidation step using an ozone / sulfuric acid mixed solution, the absorbance at around 190 nm and the 254n
By measuring at least one of the absorbances near m, the end of the oxidation step can be determined, and the process time can be reduced.

【0025】[0025]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を以下に図面
を参照して説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0026】[第1実施形態] (第1の実験)先ず、濃硫酸にオゾンを導入した硫酸溶
液の吸光度の紫外線(UV)連続スペクトルを測定し
た。
First Embodiment (First Experiment) First, an ultraviolet (UV) continuous spectrum of the absorbance of a sulfuric acid solution in which ozone was introduced into concentrated sulfuric acid was measured.

【0027】酸素(O2 )ガスに対して放電を行ってオ
ゾン(O3 )を生成し、O3 とO2とを含むO3 /O2
混合ガスを硫酸にバブリングさせて、硫酸にオゾンを溶
解させた。硫酸溶液の量及び温度、並びにO3 /O2
合ガスの流量及び濃度をそれぞれ、200ml,130
℃,3.0SLM,150mg/Nlに一定にしつつ、
オゾンの導入時間を60分,120分,180分と変化
させて、吸光度の連続スペクトルを測定した。
[0027] Oxygen (O 2) by performing a discharge in the gas generating ozone (O 3), O 3 / O 2 containing the O 3 and O 2
The mixed gas was bubbled with sulfuric acid to dissolve ozone in the sulfuric acid. The amount and temperature of the sulfuric acid solution and the flow rate and concentration of the O 3 / O 2 mixed gas were set to 200 ml and 130 ml, respectively.
C, 3.0 SLM, while keeping it constant at 150 mg / Nl,
The continuous spectrum of the absorbance was measured while changing the ozone introduction time to 60 minutes, 120 minutes, and 180 minutes.

【0028】図1に、測定結果を示す。図1に示すよう
に、254nm近傍にピークが見られるが、このピーク
は既知であるオゾンに起因するピークである。このピー
クはオゾンガス導入時間にほとんど依存していない。
FIG. 1 shows the measurement results. As shown in FIG. 1, a peak is observed at around 254 nm, and this peak is a peak due to a known ozone. This peak hardly depends on the ozone gas introduction time.

【0029】また、190nm近傍にピークが見られ
る。このピークはオゾンガスの導入時間の増加と共に強
度ピークが増加している。又、オゾンガスを導入してい
ない状態での硫酸の190nm近傍の吸光度には、ピー
クが見られない。従って、この190nm近傍の吸光度
が、ペルオキソ硫酸に起因するものであると考えられ
る。
Further, a peak is observed at around 190 nm. As for this peak, the intensity peak increases as the introduction time of the ozone gas increases. In addition, no peak is observed in the absorbance of sulfuric acid near 190 nm in a state where the ozone gas is not introduced. Therefore, it is considered that the absorbance near 190 nm is caused by peroxosulfuric acid.

【0030】(第2の実験)次に、190nm近傍の吸
収ピークが、確かにペルオキソ硫酸に起因するものであ
るか調べるための実験を行った。ここで、硫酸にペルオ
キソ硫酸カリウムを溶解させた溶液の吸光度の連続スペ
クトルを測定した。ペルオキソ硫酸カリウムを硫酸に溶
解させることによって、ペルオキソ硫酸カリウムがイオ
ン分解して、ペルオキソ硫酸イオンができる。従って、
硫酸にペルオキソ硫酸カリウムを溶解させた溶液の吸光
度の連続スペクトルを測定することによって、190n
m近傍の吸収がペルオキソ硫酸に起因するものであるか
を調べることができる。
(Second Experiment) Next, an experiment was conducted to determine whether the absorption peak near 190 nm was actually caused by peroxosulfuric acid. Here, a continuous spectrum of absorbance of a solution in which potassium peroxosulfate was dissolved in sulfuric acid was measured. By dissolving potassium peroxosulfate in sulfuric acid, potassium peroxosulfate undergoes ionic decomposition to form peroxosulfate ions. Therefore,
By measuring the continuous spectrum of the absorbance of a solution of potassium peroxosulfate dissolved in sulfuric acid, 190 n
It can be checked whether the absorption near m is due to peroxosulfuric acid.

【0031】ここでは、室温の硫酸中のペルオキソ硫酸
カリウムの濃度を、0.01%,0.05%,0.10
%,0.20%,0.35%,0.50%,1.00%
に変化させた溶液を用意し、それの溶液の吸光度をUV
連続スペクトルで調べた。
Here, the concentration of potassium peroxosulfate in sulfuric acid at room temperature was adjusted to 0.01%, 0.05%, 0.10
%, 0.20%, 0.35%, 0.50%, 1.00%
Prepare a solution that has been changed to
Examined by continuous spectrum.

【0032】図2に吸光度の連続スペクトルを示す。図
2に示すように、硫酸溶液中では190nm近傍に吸収
ピークが見られる。さらに、ペルオキソ硫酸カリウムの
濃度が高くなるほど、ピーク位置が高波長側にシフトす
ることも分かった。
FIG. 2 shows a continuous spectrum of absorbance. As shown in FIG. 2, an absorption peak is observed at around 190 nm in the sulfuric acid solution. Furthermore, it was also found that the peak position shifted to a higher wavelength side as the concentration of potassium peroxosulfate increased.

【0033】この実験結果より、ペルオキソ硫酸に起因
する吸収が190nm近傍に現れることが確認できた。
From this experimental result, it was confirmed that the absorption due to peroxosulfuric acid appeared at around 190 nm.

【0034】(第3の実験)次に、ペルオキソ硫酸に起
因する吸収帯が判明したため、実際に硫酸中にオゾンガ
スを導入してUV吸収の変化をモニタした。最初に、溶
液中にペルオキソ二硫酸カリウムを0.1%濃度になる
ように添加した。その後、60,120,180分間オ
ゾンガスを各溶液中に導入し、その度に、吸光度の連続
スペクトルを測定した。なお、オゾンガスは酸素の放電
により生成し、1リットルの硫酸溶液に対して、オゾン
ガス濃度は約10%で、O3 /O2 混合ガスをバブリン
グにより導入して、オゾン・硫酸混合溶液を形成した。
(Third Experiment) Next, since an absorption band caused by peroxosulfuric acid was found, ozone gas was actually introduced into sulfuric acid to monitor a change in UV absorption. First, potassium peroxodisulfate was added to the solution to a concentration of 0.1%. Thereafter, ozone gas was introduced into each solution for 60, 120, and 180 minutes, and a continuous spectrum of absorbance was measured each time. Ozone gas was generated by the discharge of oxygen, and the ozone gas concentration was about 10% with respect to 1 liter of sulfuric acid solution. O 3 / O 2 mixed gas was introduced by bubbling to form an ozone / sulfuric acid mixed solution. .

【0035】図3に室温におけるペルオキソ硫酸カリウ
ム・オゾン・硫酸混合溶液中での実験結果を示した。図
3より、O3 /O2 混合ガスを導入していない硫酸溶液
の吸光度の連続スペクトルには、オゾンガスに起因する
紫外光吸収は見られなく、ペルオキソ硫酸に起因する1
90nm近傍のピークのみが観察されている。
FIG. 3 shows the experimental results in a mixed solution of potassium peroxosulfate / ozone / sulfuric acid at room temperature. As shown in FIG. 3, in the continuous spectrum of the absorbance of the sulfuric acid solution into which the O 3 / O 2 mixed gas was not introduced, no ultraviolet light absorption due to ozone gas was observed, and the absorption due to peroxosulfuric acid was not observed.
Only a peak near 90 nm is observed.

【0036】硫酸溶液中にオゾンガスを導入すると、2
54nm近傍にオゾンガスに起因する吸収ピークが現れ
ると同時に、190nm近傍の吸収ピークが増大してい
るのが分かる。この190nm近傍のピーク値こそが、
オゾンガスを硫酸中に導入した際に形成されるペルオキ
ソ硫酸の量を示唆している。
When ozone gas is introduced into the sulfuric acid solution, 2
It can be seen that the absorption peak due to the ozone gas appears near 54 nm and the absorption peak near 190 nm increases. This peak value near 190 nm is
This suggests the amount of peroxosulfuric acid formed when ozone gas is introduced into sulfuric acid.

【0037】次にそれぞれの硫酸溶液の温度を70〜7
5℃程度に上げてオゾンガスを導入し、同様の検討を行
った。図4に硫酸溶液の結果を示した。図3に示した吸
光度の紫外光連続スペクトルと同様に、254nm近傍
にオゾンに起因する吸収が現れ、且つ190nm近傍で
ペルオキソ二硫酸に起因する吸収が現れる。
Next, the temperature of each sulfuric acid solution was raised to 70 to 7
The temperature was raised to about 5 ° C., and ozone gas was introduced. FIG. 4 shows the results of the sulfuric acid solution. Similar to the ultraviolet continuous spectrum of the absorbance shown in FIG. 3, absorption due to ozone appears near 254 nm, and absorption due to peroxodisulfuric acid appears near 190 nm.

【0038】これらの実験の結果から、硫酸中のオゾン
ガスを導入することによって生じるペルオキソ硫酸に起
因する吸収は190nm近傍に現れることが明らかとな
った。従って、硫酸中のオゾン及びペルオキソ硫酸を同
時にモニタするためには、190nm〜260nmの吸
収を同時にモニタする必要があることが判明した。
From the results of these experiments, it was clarified that absorption caused by peroxosulfuric acid caused by introducing ozone gas in sulfuric acid appears at around 190 nm. Therefore, in order to simultaneously monitor ozone and peroxosulfuric acid in sulfuric acid, it was found that it was necessary to simultaneously monitor absorption at 190 nm to 260 nm.

【0039】吸光度の連続スペクトルを測定に使う方法
以外に、190nm近傍の光吸収を利用して硫酸中のペ
ルオキソ硫酸をモニタする方法と、254nm近傍のオ
ゾンに起因する光吸収を測定する方法とを組み合わせる
ことによっても両酸化剤の濃度をモニタすることができ
る。
In addition to the method of using a continuous spectrum of absorbance for measurement, a method of monitoring peroxosulfuric acid in sulfuric acid using light absorption near 190 nm and a method of measuring light absorption due to ozone near 254 nm are described. The concentration of both oxidants can also be monitored by combining them.

【0040】次に、測定された吸光度からオゾン及びペ
ルオキソ硫酸の濃度(酸化力)を求める方法について説
明する。先ず、予めオゾン・硫酸混合溶液の酸化力を定
量する。オゾン・硫酸混合溶液の酸化力の定量にはヨウ
素滴定法を用いた。
Next, a method for obtaining the concentrations (oxidizing power) of ozone and peroxosulfuric acid from the measured absorbance will be described. First, the oxidizing power of the ozone / sulfuric acid mixed solution is determined in advance. The iodine titration method was used to determine the oxidizing power of the ozone / sulfuric acid mixed solution.

【0041】先ず純水中にオゾンを導入した際の254
nmでの吸光度と、ヨウ素滴定を用いて定量した純水中
のオゾン酸化力との関係から、オゾンに起因する吸光度
に対するオゾンの酸化力の検量線を作成する。また、オ
ゾンの酸化力から濃度を求めることができるので、直ち
にオゾンに起因する吸光度に対するオゾンの濃度の検量
線を作成することができる。そして、測定されたオゾン
に起因する吸光度と検量線とからオゾンの酸化力又は濃
度を求めることができる。
First, 254 when ozone was introduced into pure water.
From the relationship between the absorbance at nm and the ozone oxidizing power in pure water determined using iodine titration, a calibration curve of the oxidizing power of ozone with respect to the absorbance caused by ozone is created. Further, since the concentration can be obtained from the oxidizing power of ozone, a calibration curve of the concentration of ozone with respect to the absorbance caused by ozone can be immediately created. Then, the oxidizing power or concentration of ozone can be determined from the measured absorbance due to ozone and the calibration curve.

【0042】今回の硫酸中のオゾン及びペルオキソ硫酸
の酸化力に関して、オゾンの濃度は、純水を用いて作成
された検量線を用いて補正を行っておくことにより、2
54nmでの吸光度から容易に酸化力(濃度)を求める
ことができる。
With respect to the oxidizing power of ozone and peroxosulfuric acid in the sulfuric acid this time, the concentration of ozone was corrected by using a calibration curve prepared using pure water to obtain a value of 2%.
The oxidizing power (concentration) can be easily obtained from the absorbance at 54 nm.

【0043】ペルオキソ硫酸の酸化力は、ヨウ素滴定に
て定量されたオゾン・硫酸混合溶液の酸化力から、オゾ
ン・硫酸混合溶液の254nm近傍の吸光度から求めら
れた混合溶液中のオゾンの酸化力を差し引いたものを、
ペルオキソ硫酸の酸化力として求める。そして、求めら
れたペルオキソ硫酸の酸化力と190nm近傍の吸光度
との関係を調べて、190nm近傍の吸光度に対するペ
ルオキソ硫酸の酸化力の検量線を作成する。そして、測
定されたペルオキソ硫酸に起因する吸光度と検量線とか
らペルオキソ硫酸の酸化力を求めることができる。ま
た、ペルオキソ硫酸の酸化力から濃度を直ちに求めるこ
とができるので、ペルオキソ硫酸に起因する吸光度に対
するペルオキソ硫酸の濃度の検量線を作成することがで
きる。従って、190nm近傍の吸光度を測定し、濃度
の検量線を参照することによって、オゾン・硫酸混合溶
液中のペルオキソ硫酸の濃度を求めることができる。
The oxidizing power of peroxosulfuric acid is calculated from the oxidizing power of the ozone / sulfuric acid mixed solution determined by iodine titration and the oxidizing power of ozone in the mixed solution obtained from the absorbance near 254 nm of the ozone / sulfuric acid mixed solution. After subtracting,
Determined as the oxidizing power of peroxosulfuric acid. Then, the relationship between the obtained oxidizing power of peroxosulfuric acid and the absorbance near 190 nm is examined, and a calibration curve of the oxidizing power of peroxosulfuric acid with respect to the absorbance near 190 nm is created. Then, the oxidizing power of peroxosulfuric acid can be determined from the measured absorbance due to peroxosulfuric acid and the calibration curve. Further, since the concentration can be immediately obtained from the oxidizing power of peroxosulfate, a calibration curve of the concentration of peroxosulfate with respect to the absorbance caused by peroxosulfate can be created. Therefore, the concentration of peroxosulfuric acid in the ozone / sulfuric acid mixed solution can be determined by measuring the absorbance near 190 nm and referring to the calibration curve of the concentration.

【0044】そして、測定された254nm近傍及び1
90nm近傍の紫外光吸収と、予め求められた二つの定
量線とを参照することによって、オゾン・硫酸混合溶液
中のオゾンとペルオキソ硫酸との濃度をそれぞれ求める (第3の実験)次に、200mLの硫酸中に導入するオ
ゾンガス量(オゾン及び酸素ガスの混合ガス:オゾン濃
度160mg/NL)を変化させた場合のペルオキソ硫
酸(190nm)及びオゾン(254nm)の溶解量を
時間に対して調べた結果を述べる。
Then, the measured values around 254 nm and 1
The concentration of ozone and peroxosulfuric acid in the ozone / sulfuric acid mixed solution is determined by referring to the ultraviolet light absorption near 90 nm and two previously determined quantitative lines (third experiment). Of dissolved amounts of peroxosulfuric acid (190 nm) and ozone (254 nm) with respect to time when the amount of ozone gas (mixed gas of ozone and oxygen gas: ozone concentration 160 mg / NL) introduced into sulfuric acid was changed. State.

【0045】図5,6は、190nm及び254nm吸
光度のオゾンガスのバブリング量に対する時間変化をそ
れぞれ示している。ペルオキソ硫酸は、導入するオゾン
ガス量を増すと増加速度が速まり、且つ導入時間を増や
すと生成量が増加する。
FIGS. 5 and 6 show the change with time of the ozone gas bubbling at 190 nm and 254 nm absorbance, respectively. Peroxosulfuric acid increases its rate of increase as the amount of ozone gas to be introduced is increased, and increases in the amount of peroxosulfuric acid as the introduction time is increased.

【0046】一方、硫酸に溶解するオゾン量は多少の時
間差はあるが、硫酸中に導入するガス量を増やしても、
さらに導入時間を延ばして一定濃度で飽和する。従っ
て、溶解するオゾンはその硫酸溶液の温度に依存する飽
和濃度にまで達すると変化しなくなる。一方、ペルオキ
ソ硫酸はオゾンの導入と同時に飽和濃度に達しないこと
から、オゾンガスと硫酸との反応によって生成している
様子がわかる。
On the other hand, although the amount of ozone dissolved in sulfuric acid has some time lag, even if the amount of gas introduced into sulfuric acid is increased,
The introduction time is further extended to saturate at a constant concentration. Thus, the dissolved ozone does not change when it reaches a temperature-dependent saturated concentration of the sulfuric acid solution. On the other hand, since peroxosulfuric acid does not reach the saturation concentration at the same time as the introduction of ozone, it can be seen that it is generated by the reaction between ozone gas and sulfuric acid.

【0047】この様に、硫酸中に導入されたオゾンガス
はある一定の飽和濃度にまで硫酸に溶解するだけでな
く、硫酸と反応してペルオキソ硫酸を形成することが分
かる。
As described above, it can be seen that ozone gas introduced into sulfuric acid not only dissolves in sulfuric acid to a certain saturation concentration but also reacts with sulfuric acid to form peroxosulfuric acid.

【0048】このペルオキソ硫酸の生成状況は190n
m近傍のUV吸収をモニタすることで、その生成状況を
モニタできる。言い換えると、ペルオキソ硫酸の生成量
を、導入するオゾンガス濃度及びオゾンガス量の少なく
とも一方をコントロールすることによって、硫酸中にあ
る一定濃度以上のペルオキソ硫酸を濃度コントロールし
て生成できる。
The production state of this peroxosulfuric acid is 190 n.
By monitoring the UV absorption near m, the generation state can be monitored. In other words, by controlling at least one of the concentration of ozone gas and the amount of ozone gas to be introduced, the amount of peroxosulfuric acid produced can be controlled by controlling the concentration of peroxosulfuric acid at a certain concentration or higher in sulfuric acid.

【0049】(第4の実験)オゾンガスが硫酸溶液に常
時供給されている状態で、オゾンをある一定濃度に飽和
させた硫酸溶液中にレジスト膜を塗布したウェハを挿入
した際のオゾンに起因する吸光度の時間変化を測定し
た。測定結果を図7に示す。吸光度は濃度に依存するの
で、濃度の上下に対応して吸光度も上下する。
(Fourth experiment) In a state where the ozone gas is constantly supplied to the sulfuric acid solution, it is caused by ozone when the wafer coated with the resist film is inserted into the sulfuric acid solution saturated with ozone to a certain concentration. The time change of the absorbance was measured. FIG. 7 shows the measurement results. Since the absorbance depends on the concentration, the absorbance also rises and falls according to the rise and fall of the concentration.

【0050】図7に示すように、ウェハが導入されるこ
とでレジスト膜がオゾン硫酸溶液中で溶解するため、吸
光度(オゾン濃度)が低下する様子が見られる。これ
は、オゾンによりレジスト膜を酸化・剥離しているため
に、オゾンの濃度が低下するためである。
As shown in FIG. 7, since the introduction of the wafer dissolves the resist film in the ozone sulfuric acid solution, it can be seen that the absorbance (ozone concentration) decreases. This is because the concentration of ozone decreases because the resist film is oxidized and stripped by ozone.

【0051】さらに、レジスト膜の溶解反応が終わる
と、被酸化物が無くなってオゾンが消費されることがな
いために、オゾン濃度が飽和濃度まで回復するため、吸
光度がウェハを挿入する前の状態に戻る。従って、硫酸
溶液中の酸化剤として、オゾンに起因する吸光度をモニ
タすることによって、レジスト膜の剥離状況をインライ
ンでモニタすることができ、レジスト膜剥離の終点検知
を行うことができる。
Further, when the dissolution reaction of the resist film is completed, the ozone concentration is restored to the saturation concentration because the oxide is not consumed and the ozone is not consumed. Return to Therefore, by monitoring the absorbance due to ozone as the oxidizing agent in the sulfuric acid solution, the state of peeling of the resist film can be monitored in-line, and the end point of resist film peeling can be detected.

【0052】本実施例では、オゾンに起因する254n
m近傍の吸光度の変化からレジスト剥離状況を説明した
が、同様にペルオキソ硫酸195nm近傍を用いても評
価できることは言うまでも無い。また、オゾンに起因す
る吸光度とペルオキソ硫酸に起因する吸光度とを同時に
測定しても、レジスト膜剥離の終点検知を行うことがで
きる。また、吸光度から濃度を求め、濃度の変化からレ
ジスト膜の剥離終点検知を行っても良い。
In this embodiment, 254n due to ozone
Although the resist stripping state was explained based on the change in absorbance near m, it goes without saying that the evaluation can be similarly performed using peroxosulfuric acid near 195 nm. Further, even if the absorbance caused by ozone and the absorbance caused by peroxosulfuric acid are simultaneously measured, the end point of the resist film peeling can be detected. Alternatively, the concentration may be obtained from the absorbance, and the end point of the resist film peeling may be detected from the change in the concentration.

【0053】なお、レジスト膜の剥離以外のオゾン・硫
酸混合溶液を用いた酸化工程に用いることができる。
The present invention can be used in an oxidation step using a mixed solution of ozone and sulfuric acid other than stripping of the resist film.

【0054】(第1の実施形態)以上の実験結果から、
オゾンに起因する254nm近傍の吸光度と、ペルオキ
ソ硫酸に起因する190nm近傍の吸光度とを測定する
ことによって、オゾン・硫酸混合溶液の酸化能を求める
ことができることがわかった。また、レジスト膜の剥離
工程において、オゾンに起因する吸収及びペルオキソ硫
酸に起因する吸収の少なくとも一方の時間変化を測定す
ることによって、レジストの剥離終点検知を行うことが
できる 本実施形態では、254nm近傍の吸光度と190nm
近傍の吸光度とからオゾン・硫酸混合溶液の酸化能を求
め、求められた酸化能からに応じて酸化能を調整するオ
ゾン・硫酸混合溶液の形成方法について説明する。さら
に、図8は、本発明の第1の実施形態に係わるオゾン・
硫酸混合溶液を用いたレジスト膜除去システムの概略構
成を示すブロック図である。又、図9は、図8に示した
システムのレジスト膜除去方法を説明するためのフロー
チャートである。
(First Embodiment) From the above experimental results,
It was found that the oxidizing ability of the ozone / sulfuric acid mixed solution can be determined by measuring the absorbance near 254 nm caused by ozone and the absorbance near 190 nm caused by peroxosulfuric acid. Further, in the resist film stripping step, the end point of the resist stripping can be detected by measuring at least one of the time change of absorption caused by ozone and the absorption caused by peroxosulfuric acid. Absorbance of 190nm
A method for forming an ozone / sulfuric acid mixed solution in which the oxidizing ability of the ozone / sulfuric acid mixed solution is determined from the absorbance in the vicinity and the oxidizing ability is adjusted according to the determined oxidizing ability will be described. Further, FIG. 8 shows an ozone gas according to the first embodiment of the present invention.
It is a block diagram showing a schematic structure of a resist film removal system using a sulfuric acid mixed solution. FIG. 9 is a flowchart for explaining the resist film removing method of the system shown in FIG.

【0055】図9のフローチャートを参照してオゾン・
硫酸混合溶液の形成方法及びレジスト膜剥離工程を説明
しつつ、図8に示すシステムの構成を説明する。
Referring to the flowchart of FIG.
The configuration of the system shown in FIG. 8 will be described while explaining the method for forming the sulfuric acid mixed solution and the resist film removing step.

【0056】(ステップS101)酸素(O2 )ボンベ
101内の酸素ガスが、ガス流量を調整するマスフロー
コントローラ102を介して、オゾン生成機103に導
入される。オゾン生成機103では、酸素雰囲気中で放
電することによりオゾンを生成する。オゾンの生成率は
低いので、オゾン生成機103から排出されるガスはO
3 とO2 との混合ガスである。
(Step S101) The oxygen gas in the oxygen (O 2 ) cylinder 101 is introduced into the ozone generator 103 via the mass flow controller 102 for adjusting the gas flow rate. The ozone generator 103 generates ozone by discharging in an oxygen atmosphere. Since the ozone generation rate is low, the gas discharged from the ozone generator 103 is O
It is a mixed gas of 3 and O 2 .

【0057】オゾン生成機103から排出されたO3
2 混合ガスは、硫酸溶液が満たされた溶液槽104内
に設けられたバブラー105から硫酸溶液に放出され
る。放出されたO3 /O2 混合ガスが硫酸溶液内をバブ
リングすることにより、硫酸溶液にオゾンが溶解し、オ
ゾン・硫酸混合溶液が形成される。また、O3 の一部は
硫酸と反応してペルオキソ硫酸を生成する。そして、オ
ゾン・硫酸混合溶液は、溶液槽104とセル106との
間を循環する。
O 3 / emitted from the ozone generator 103
The O 2 mixed gas is released into the sulfuric acid solution from the bubbler 105 provided in the solution tank 104 filled with the sulfuric acid solution. The released O 3 / O 2 mixed gas bubbling in the sulfuric acid solution dissolves ozone in the sulfuric acid solution to form an ozone / sulfuric acid mixed solution. Further, a part of O 3 reacts with sulfuric acid to generate peroxosulfuric acid. Then, the ozone / sulfuric acid mixed solution circulates between the solution tank 104 and the cell 106.

【0058】(ステップS102)250nm以上に強
い放射強度を持つオゾン測定用光源111から放射され
た光が第1のハーフミラー112に入射する。第1のハ
ーフミラー112を透過した光は、セル106内のオゾ
ン・硫酸混合溶液に入射する。セル106内のオゾン・
硫酸混合溶液を透過した透過光は、254nm近傍に吸
光感度特性を持つ第1の測定側受光素子113に入射
し、光強度が測定される。又、第1のハーフミラー11
2で反射された光は、254nm近傍に吸光感度特性を
持つ第1の比較側受光素子114に入射し、光強度が測
定される。第1の測定側受光素子113及び第1の比較
側受光素子114で測定されたそれぞれの測定強度は、
オゾン用吸光度測定部に入力される。オゾン用吸光度測
定部では、入力された二つの光強度からオゾンに起因す
る254nm近傍での吸光度を測定する。
(Step S 102) Light emitted from the ozone measurement light source 111 having a strong radiation intensity of 250 nm or more is incident on the first half mirror 112. The light transmitted through the first half mirror 112 enters the ozone / sulfuric acid mixed solution in the cell 106. Ozone in the cell 106
The transmitted light that has passed through the sulfuric acid mixed solution is incident on the first measurement-side light receiving element 113 having an absorption sensitivity characteristic near 254 nm, and the light intensity is measured. Also, the first half mirror 11
The light reflected by 2 enters the first comparison-side light receiving element 114 having an absorption sensitivity characteristic near 254 nm, and the light intensity is measured. The respective measured intensities measured by the first measurement side light receiving element 113 and the first comparison side light receiving element 114 are as follows:
Input to the ozone absorbance measurement unit. The ozone absorbance measurement unit measures the absorbance near 254 nm due to ozone from the two input light intensities.

【0059】また、250nm以下で強い放射強度を持
つペルオキソ硫酸側光源121から放射された光が第2
のハーフミラー122に入射する。第2のハーフミラー
122を透過した光は、セル106内のオゾン・硫酸混
合溶液に入射する。セル106内のオゾン・硫酸混合溶
液を透過した透過光は、150〜220nmに吸光感度
特性を持つ第2の測定側受光素子123に入射し、光強
度が測定される。又、第2のハーフミラー122で反射
された光は、150〜220nmに吸光感度特性を持つ
第2の比較側受光素子に入射し、光強度が測定される。
第2の測定側受光素子123及び第2の比較側受光素子
124で測定されたそれぞれの測定強度は、ペルオキソ
硫酸用吸光度測定部125に入力される。ペルオキソ硫
酸用吸光度測定部125では、入力された二つの光強度
からペルオキソ硫酸に起因する吸光度を測定する。
The light emitted from the peroxosulfate side light source 121 having a strong radiation intensity of 250 nm or less is the second light.
Is incident on the half mirror 122. The light transmitted through the second half mirror 122 enters the ozone / sulfuric acid mixed solution in the cell 106. The transmitted light that has passed through the ozone / sulfuric acid mixed solution in the cell 106 is incident on the second measurement-side light receiving element 123 having an absorption sensitivity characteristic at 150 to 220 nm, and the light intensity is measured. The light reflected by the second half mirror 122 is incident on a second comparison side light receiving element having an absorption sensitivity characteristic at 150 to 220 nm, and the light intensity is measured.
The respective measured intensities measured by the second measuring-side light receiving element 123 and the second comparing-side light receiving element 124 are input to the absorbance measuring unit 125 for peroxosulfuric acid. The absorbance measuring unit 125 for peroxosulfuric acid measures the absorbance due to peroxosulfuric acid from the two input light intensities.

【0060】(ステップS103)オゾン用吸光度測定
部115及びペルオキソ硫酸用吸光度測定部125で求
められたそれぞれの吸光度が酸化力算出部131に入力
される。酸化力算出部131では、オゾン用吸光度測定
部115で測定されたオゾンに起因する吸光度と予め求
めておいた定量線とから、オゾンに起因する酸化力を求
める。ここで、オゾン・硫酸混合溶液中のオゾンの濃度
を求めても良い。また、ペルオキソ硫酸用吸光度測定部
125で求められたペルオキソ硫酸に起因する吸光度と
予め求めておいた定量線とから、ペルオキソ硫酸に起因
する酸化力を求める。ここで、オゾン・硫酸混合溶液中
のペルオキソ硫酸の濃度を求めても良い。そして、酸化
力算出部131は、求められた二つの酸化力を足し合わ
せることで、オゾン・硫酸混合溶液の酸化力を求める。
(Step S103) The respective absorbances obtained by the ozone absorbance measurement section 115 and the peroxosulfuric acid absorbance measurement section 125 are input to the oxidizing power calculation section 131. The oxidizing power calculating unit 131 obtains the oxidizing power due to ozone from the absorbance due to ozone measured by the absorbance measuring unit 115 for ozone and a previously determined quantitative line. Here, the concentration of ozone in the ozone / sulfuric acid mixed solution may be determined. Further, the oxidizing power due to peroxosulfuric acid is determined from the absorbance due to peroxosulfuric acid determined by the absorbance measuring unit 125 for peroxosulfuric acid and the previously determined quantitative line. Here, the concentration of peroxosulfuric acid in the ozone / sulfuric acid mixed solution may be determined. Then, the oxidizing power calculating unit 131 calculates the oxidizing power of the ozone / sulfuric acid mixed solution by adding the two obtained oxidizing powers.

【0061】(ステップS104)酸化力算出部131
で求められたオゾン・硫酸混合溶液の酸化力はオゾン量
制御部132に入力される。オゾン量制御部132で
は、入力された酸化力と所定値とを比較し、酸化力が所
定値以上になっているか判定する。この所定値は、レジ
スト膜を酸化・剥離するのに必要な酸化力から決められ
る。
(Step S104) Oxidizing power calculator 131
The oxidizing power of the ozone / sulfuric acid mixed solution obtained in step (1) is input to the ozone amount control unit 132. The ozone amount control unit 132 compares the input oxidizing power with a predetermined value, and determines whether the oxidizing power is equal to or more than the predetermined value. This predetermined value is determined from the oxidizing power required to oxidize and peel off the resist film.

【0062】(ステップS105)ステップS104の
判定の結果、酸化力が所定値になっていない場合、オゾ
ン量制御部132は、O3 /O2 混合ガス中のオゾン濃
度、及びO3 /O2 混合ガスの流量の少なくとも一方を
調整することによって、オゾン・硫酸混合溶液に溶解さ
せるオゾン量を調整する。O3 /O2 混合ガスの流量制
御はマスフローコントローラ102を制御することによ
って行う。また、O3 /O2 混合ガス中のオゾン濃度
は、オゾン生成機103での放電電圧を制御することに
よって行う。
(Step S105) If the result of determination in step S104 is that the oxidizing power has not reached the predetermined value, the ozone amount control unit 132 sets the ozone concentration in the O 3 / O 2 mixed gas and O 3 / O 2 By adjusting at least one of the flow rates of the mixed gas, the amount of ozone dissolved in the ozone / sulfuric acid mixed solution is adjusted. The flow rate control of the O 3 / O 2 mixed gas is performed by controlling the mass flow controller 102. The ozone concentration in the O 3 / O 2 mixed gas is controlled by controlling the discharge voltage of the ozone generator 103.

【0063】(ステップS106)ステップS104の
判定の結果、オゾン・硫酸混合溶液の酸化力が所定値に
なっていた場合、オゾン量制御部132は、剥離制御部
141にオゾン・硫酸混合溶液の酸化力が所定値になっ
たことを伝達する。
(Step S106) If the oxidizing power of the ozone / sulfuric acid mixed solution has reached a predetermined value as a result of the determination in step S104, the ozone amount control unit 132 causes the stripping control unit 141 to oxidize the ozone / sulfuric acid mixed solution. Signals that the force has reached a predetermined value.

【0064】剥離制御部141は、ウェハ昇降部142
のステージを下降させてオゾン・硫酸混合溶液槽内のオ
ゾン・硫酸混合溶液内に表面にレジスト膜152が形成
された半導体ウェハ151を投入する。
The peeling control unit 141 includes a wafer elevating unit 142
Is lowered, and the semiconductor wafer 151 having the resist film 152 formed on the surface thereof is loaded into the ozone / sulfuric acid mixed solution in the ozone / sulfuric acid mixed solution tank.

【0065】前述した方法を用いてオゾン用吸光度測定
部115でオゾンに起因する吸光度を求める。
Using the above-described method, the absorbance due to ozone is obtained by the ozone absorbance measurement unit 115.

【0066】(ステップS107)次いで、オゾン用吸
光度測定部115で求められたオゾンに起因する吸光度
は剥離制御部141に入力される。剥離制御部は入力さ
れた吸光度から、オゾン・硫酸混合溶液中のオゾン濃度
を算出する。
(Step S 107) Next, the absorbance caused by ozone obtained by the ozone absorbance measuring section 115 is input to the peeling control section 141. The peeling controller calculates the ozone concentration in the ozone / sulfuric acid mixed solution from the input absorbance.

【0067】(ステップS108)剥離制御部141
は、算出されたオゾン濃度が飽和濃度に達しているか判
定する。この飽和濃度は予め実験で求めておく。
(Step S108) Peeling control section 141
Determines whether the calculated ozone concentration has reached the saturation concentration. This saturation concentration is determined in advance by an experiment.

【0068】(ステップS109)ステップS108で
の判定の結果、オゾン濃度が飽和濃度に戻っていないと
判定された場合には、半導体ウェハ151表面のレジス
ト膜152が剥離されていないと判断し、半導体ウェハ
151を溶液槽104内にとどめる。
(Step S109) If the result of determination in step S108 is that the ozone concentration has not returned to the saturated concentration, it is determined that the resist film 152 on the surface of the semiconductor wafer 151 has not been peeled off, and the semiconductor The wafer 151 is kept in the solution tank 104.

【0069】(ステップS110)ステップS108で
の判定の結果、オゾン濃度が飽和濃度に戻っていると判
定された場合には、半導体ウェハ151表面からレジス
ト膜152が剥離されたと判断し、剥離制御部141は
ウェハ昇降部142を制御して、ステージを上昇させて
溶液槽104内から半導体ウェハ151を引き上げる。
以上で、半導体ウェハ表面のレジスト膜の剥離工程が終
了する。
(Step S110) If it is determined in step S108 that the ozone concentration has returned to the saturated concentration, it is determined that the resist film 152 has been stripped from the surface of the semiconductor wafer 151, and the stripping control unit 141 controls the wafer elevating unit 142 to elevate the stage and lift the semiconductor wafer 151 from the solution tank 104.
Thus, the step of removing the resist film on the surface of the semiconductor wafer is completed.

【0070】なお、オゾンの飽和濃度がわからなくて
も、ウェハ投入前のオゾン濃度を記憶しておき、オゾン
濃度がウェハ投入前の値以上になったときに、レジスト
膜が剥離されたものとして判定しても良い。また、オゾ
ン濃度の経時変化を測定し、オゾン濃度が増加傾向を示
したら、レジスト膜が剥離されたものとして判定するこ
とができる。
Even if the saturation concentration of ozone is not known, the ozone concentration before the introduction of the wafer is stored, and when the ozone concentration exceeds the value before the introduction of the wafer, it is assumed that the resist film is peeled off. It may be determined. Further, the change with time of the ozone concentration is measured, and when the ozone concentration shows a tendency to increase, it can be determined that the resist film has been stripped.

【0071】なお、濃度を求めずに、測定された紫外光
吸収の値を比較することによって、レジスト膜の剥離終
了の判定を行っても良い。
It should be noted that the end of the resist film peeling may be determined by comparing the measured ultraviolet light absorption values without obtaining the concentration.

【0072】なお、本発明は、上記実施形態に限定され
るものではない。例えば、その他、本発明は、その要旨
を逸脱しない範囲で、種々変形して実施することが可能
である。
The present invention is not limited to the above embodiment. For example, the present invention can be variously modified and implemented without departing from the gist thereof.

【0073】[0073]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、1
90nm近傍の吸光度を測定することによって、ペルオ
キソ硫酸の濃度及び酸化力を測定することができる。
As described above, according to the present invention, 1
By measuring the absorbance near 90 nm, the concentration and oxidizing power of peroxosulfuric acid can be measured.

【0074】又、190nm近傍の吸光度と254nm
近傍の吸光度とを測定することによって、オゾン・硫酸
混合溶液中のオゾン及びペルオキソ硫酸の濃度並びに酸
化力を求めることができる。さらに、求められた酸化力
に応じて、導入するオゾン量を調整することによって、
オゾン・硫酸混合溶液の酸化力を調整することができ
る。
Further, the absorbance near 190 nm and 254 nm
By measuring the absorbance in the vicinity, the concentrations of ozone and peroxosulfuric acid in the ozone / sulfuric acid mixed solution and the oxidizing power can be obtained. Furthermore, by adjusting the amount of ozone to be introduced according to the oxidizing power determined,
The oxidizing power of the ozone / sulfuric acid mixed solution can be adjusted.

【0075】また、オゾン・硫酸混合溶液を用いた酸化
工程において、190nm近傍での吸光度及び254n
m近傍での吸光度の少なくとも一方を測定することによ
って、酸化工程の終了判定を行うことができ、プロセス
タイムの短縮化を図ることができる。
In the oxidation step using an ozone / sulfuric acid mixed solution, the absorbance at around 190 nm and the 254 n
By measuring at least one of the absorbances near m, the end of the oxidation step can be determined, and the process time can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】硫酸にオゾンを溶解させたオゾン・硫酸混合溶
液の吸光度の連続スペクトルを示す図。
FIG. 1 is a diagram showing a continuous spectrum of absorbance of an ozone / sulfuric acid mixed solution in which ozone is dissolved in sulfuric acid.

【図2】ペルオキソ硫酸カリウムを添加した硫酸のペル
オキソ硫酸カリウム・硫酸混合溶液の吸光度の連続スペ
クトルを示す図。
FIG. 2 is a diagram showing a continuous spectrum of the absorbance of a mixed solution of sulfuric acid with potassium peroxosulfate and sulfuric acid to which potassium peroxosulfate is added.

【図3】ペルオキソ硫酸カリウムを添加した硫酸(室
温)にオゾンを溶解させたペルオキソ硫酸カリウム・オ
ゾン・硫酸混合溶液の吸光度の連続スペクトルを示す
図。
FIG. 3 is a diagram showing a continuous spectrum of absorbance of a mixed solution of potassium peroxosulfate / ozone / sulfuric acid in which ozone is dissolved in sulfuric acid (room temperature) to which potassium peroxosulfate is added.

【図4】ペルオキソ硫酸カリウムを添加した硫酸(75
℃)にオゾンを溶解させたペルオキソ硫酸カリウム・オ
ゾン・硫酸混合溶液の吸光度の連続スペクトルを示す
図。
FIG. 4: Sulfuric acid (75
The figure which shows the continuous spectrum of the light absorbency of the potassium peroxosulfate / ozone / sulfuric acid mixed solution which melt | dissolved ozone in (C).

【図5】硫酸溶液(130℃)中に導入するオゾンガス
量を変化させた際の195nmの吸光度の時間変化を示
す特性図。
FIG. 5 is a characteristic diagram showing a temporal change in absorbance at 195 nm when the amount of ozone gas introduced into a sulfuric acid solution (130 ° C.) is changed.

【図6】硫酸溶液(130℃)中に導入するオゾンガス
量を変化させた際の254nmの吸光度の時間変化を示
す特性図。
FIG. 6 is a characteristic diagram showing a temporal change in absorbance at 254 nm when the amount of ozone gas introduced into a sulfuric acid solution (130 ° C.) is changed.

【図7】オゾンをある一定濃度に飽和させた硫酸溶液中
にレジスト膜を塗布したウェハを挿入した際のオゾンに
起因する吸光度の時間変化を示す特性図。
FIG. 7 is a characteristic diagram showing a temporal change in absorbance caused by ozone when a wafer coated with a resist film is inserted into a sulfuric acid solution saturated with ozone to a certain concentration.

【図8】第1の実施形態に係わるオゾン・硫酸混合溶液
を用いたレジスト膜除去システムの概略構成を示すブロ
ック図。
FIG. 8 is a block diagram showing a schematic configuration of a resist film removing system using an ozone / sulfuric acid mixed solution according to the first embodiment.

【図9】図8に示したシステムのレジスト膜除去方法を
説明するためのフローチャート。
FIG. 9 is a flowchart for explaining a resist film removing method of the system shown in FIG. 8;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101…酸素ボンベ 102…マスフローコントローラ 103…オゾン生成機 104…溶液槽 105…バブラー 106…セル 111…オゾン測定用光源 112…第1のハーフミラー 113…第1の測定側受光素子 114…第1の比較側受光素子 115…オゾン用吸光度測定部 121…ペルオキソ硫酸側光源 122…第2のハーフミラー 123…第2の測定側受光素子 124…第2の比較側受光素子 125…ペルオキソ硫酸用吸光度測定部 131…酸化力算出部 132…オゾン量制御部 141…剥離制御部 142…ウェハ昇降部 151…半導体ウェハ 152…レジスト膜 DESCRIPTION OF SYMBOLS 101 ... Oxygen cylinder 102 ... Mass flow controller 103 ... Ozone generator 104 ... Solution tank 105 ... Bubbler 106 ... Cell 111 ... Ozone measurement light source 112 ... 1st half mirror 113 ... 1st measurement side light receiving element 114 ... 1st Comparison side light receiving element 115 ... Ozone absorbance measurement unit 121 ... Peroxosulfuric acid side light source 122 ... Second half mirror 123 ... Second measurement side light receiving element 124 ... Second comparison side light receiving element 125 ... Peroxosulfuric acid absorbance measurement unit 131: Oxidizing power calculation unit 132: Ozone amount control unit 141: Peeling control unit 142: Wafer elevating unit 151: Semiconductor wafer 152: Resist film

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 灘原 壮一 神奈川県横浜市磯子区新杉田町8番地 株 式会社東芝横浜事業所内 Fターム(参考) 2G042 AA01 BB10 BB13 BB20 BE03 CA02 CB03 DA03 2G054 AA02 CA08 EA04 EB02 FA33 GA02 2G059 AA01 BB01 BB16 DD13 DD15 EE12 GG03 GG10 HH03 HH06 JJ01 JJ13 KK03 MM05 MM10 2H096 AA25 LA03  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page (72) Inventor Soichi Nadahara 8 Shinsugita-cho, Isogo-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Prefecture F-term in Toshiba Yokohama Office (reference) 2G042 AA01 BB10 BB13 BB20 BE03 CA02 CB03 DA03 2G054 AA02 CA08 EA04 EB02 FA33 GA02 2G059 AA01 BB01 BB16 DD13 DD15 EE12 GG03 GG10 HH03 HH06 JJ01 JJ13 KK03 MM05 MM10 2H096 AA25 LA03

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ペルオキソ硫酸を含む溶液のペルオキソ硫
酸に起因する波長190nm近傍での吸光度を求めるス
テップと、 求められた吸光度から前記溶液中のペルオキソ硫酸の濃
度を測定するステップとを含むことを特徴とする濃度測
定方法。
1. A method comprising: determining the absorbance of a solution containing peroxosulfuric acid at a wavelength near 190 nm caused by peroxosulfuric acid; and measuring the concentration of peroxosulfuric acid in the solution from the determined absorbance. Concentration measurement method.
【請求項2】硫酸溶液中にオゾンを溶解させると共に、
硫酸溶液とオゾンとを反応させてペルオキソ硫酸を生成
して、オゾン・硫酸混合溶液を製造するステップと、 前記オゾン・硫酸混合溶液のオゾンに起因する波長25
4nm近傍の吸光度と、ペルオキソ硫酸に起因する波長
190nm近傍の吸光度とを測定するステップと、 測定されたオゾンに起因する吸光度から前記オゾン・硫
酸混合溶液中のオゾンガスの濃度を求めるステップと、 測定されたペルオキソ硫酸に起因する吸光度から前記オ
ゾン・硫酸混合溶液中のペルオキソ硫酸の濃度を測定す
るステップとを含むことを特徴とする濃度測定方法。
2. Dissolving ozone in a sulfuric acid solution,
Reacting the sulfuric acid solution with ozone to generate peroxosulfuric acid to produce an ozone / sulfuric acid mixed solution;
Measuring the absorbance around 4 nm and the absorbance around 190 nm wavelength caused by peroxosulfuric acid; obtaining the concentration of ozone gas in the ozone / sulfuric acid mixed solution from the measured absorbance caused by ozone; Measuring the concentration of peroxosulfuric acid in said ozone / sulfuric acid mixed solution from the absorbance caused by said peroxosulfuric acid.
【請求項3】硫酸溶液中にオゾンを溶解させると共に、
硫酸溶液とオゾンとを反応させてペルオキソ硫酸を生成
して、オゾン・硫酸混合溶液を製造するステップと、 前記オゾン・硫酸混合溶液のオゾンに起因する波長25
4nm近傍の吸光度と、該溶液のペルオキソ硫酸に起因
する波長190nm近傍の吸光度とを測定するステップ
と、 測定されたオゾンに起因する吸光度から前記オゾン・硫
酸混合溶液中のオゾンの酸化力を求め、測定されたペル
オキソ硫酸に起因する吸光度から前記オゾン・硫酸混合
溶液中のペルオキソ硫酸の酸化力を求めるステップと、 求められた二つの酸化力を積算して、前記オゾン・硫酸
混合溶液の酸化力を求めるステップとを含むことを特徴
とする酸化力測定方法。
3. Dissolving ozone in a sulfuric acid solution,
Reacting the sulfuric acid solution with ozone to generate peroxosulfuric acid to produce an ozone / sulfuric acid mixed solution;
Measuring the absorbance around 4 nm and the absorbance around 190 nm wavelength caused by peroxosulfuric acid in the solution; obtaining the oxidizing power of ozone in the ozone / sulfuric acid mixed solution from the measured absorbance due to ozone; Obtaining the oxidizing power of peroxosulfuric acid in the ozone / sulfuric acid mixed solution from the measured absorbance caused by peroxosulfuric acid; and integrating the obtained two oxidizing powers to obtain the oxidizing power of the ozone / sulfuric acid mixed solution. Determining the oxidizing power.
【請求項4】硫酸溶液中にオゾンを連続的に導入して、
硫酸溶液中にオゾンを溶解させると共に、硫酸溶液とオ
ゾンとを反応させてペルオキソ硫酸を生成して、オゾン
・硫酸混合溶液を製造するステップと、 前記オゾン・硫酸混合溶液のオゾンに起因する波長25
4nm近傍の吸光度と、該混合溶液のペルオキソ硫酸に
起因する波長190nm近傍の吸光度とを測定するステ
ップと、 測定されたオゾンに起因する吸光度から前記オゾン・硫
酸混合溶液中のオゾンの酸化力を求め、測定されたペル
オキソ硫酸に起因する吸光度から前記オゾン・硫酸混合
溶液中のペルオキソ硫酸の酸化力を求めるステップと、 求められた二つの酸化力を積算して、前記オゾン・硫酸
混合溶液の酸化力を求めるステップと、 求められたオゾン・硫酸混合溶液の酸化力に応じて、該
溶液中に溶解させるオゾン量を制御するステップとを含
むことを特徴とする酸化力制御方法。
4. Ozone is continuously introduced into a sulfuric acid solution,
Dissolving ozone in the sulfuric acid solution and reacting the sulfuric acid solution with ozone to produce peroxosulfuric acid to produce an ozone / sulfuric acid mixed solution; and a wavelength 25 due to ozone of the ozone / sulfuric acid mixed solution.
Measuring the absorbance around 4 nm and the absorbance around 190 nm caused by peroxosulfuric acid in the mixed solution; and determining the oxidizing power of ozone in the ozone / sulfuric acid mixed solution from the measured absorbance caused by ozone. Obtaining the oxidizing power of peroxosulfuric acid in the ozone / sulfuric acid mixed solution from the measured absorbance caused by peroxosulfuric acid; and integrating the obtained two oxidizing powers to obtain the oxidizing power of the ozone / sulfuric acid mixed solution. And controlling the amount of ozone dissolved in the ozone / sulfuric acid mixed solution according to the determined oxidizing power of the mixed solution.
【請求項5】硫酸溶液中にオゾンを連続的に導入して、
硫酸溶液中にオゾンを溶解させると共に、硫酸溶液とオ
ゾンとを反応させてペルオキソ硫酸を生成して、オゾン
・硫酸混合溶液を製造するステップと、 前記オゾン・硫酸混合溶液中に被酸化物が形成された被
処理基板を投入して、被酸化物を酸化させるステップ
と、 前記ウェハが導入されたオゾン・硫酸混合溶液の254
nm近傍の吸光度、及び該混合溶液の190nm近傍の
吸光度の少なくとも一方を測定するステップと、 測定された吸光度が所定の状態になったら、前記オゾン
・硫酸混合溶液中のオゾン濃度から前記ウェハを引き出
すステップとを含むことを特徴とする酸化工程の制御方
法。
5. A method for continuously introducing ozone into a sulfuric acid solution,
Dissolving ozone in the sulfuric acid solution, and reacting the sulfuric acid solution with ozone to produce peroxosulfuric acid, thereby producing an ozone / sulfuric acid mixed solution; and forming an oxide in the ozone / sulfuric acid mixed solution. Charging the substrate to be processed and oxidizing the oxide; and 254 of the ozone / sulfuric acid mixed solution into which the wafer has been introduced.
measuring at least one of the absorbance near nm and the absorbance near 190 nm of the mixed solution, and when the measured absorbance is in a predetermined state, extracting the wafer from the ozone concentration in the ozone / sulfuric acid mixed solution. And a method for controlling an oxidation process.
【請求項6】前記所定の状態とは、測定された吸光度に
応じた値がウェハを投入する前に測定された吸光度に応
じた値と同等になった状態であることを特徴とする請求
項5に記載のオゾン・硫酸混合溶液を用いた酸化工程の
制御方法。
6. The predetermined state is a state in which a value corresponding to the measured absorbance is equal to a value corresponding to the absorbance measured before loading the wafer. 6. The method for controlling an oxidation step using the ozone / sulfuric acid mixed solution according to 5.
【請求項7】前記所定の状態とは、測定された吸光度に
応じた値が増加傾向を示した状態であることを特徴とす
る請求項5に記載の酸化工程の制御方法。
7. The method according to claim 5, wherein the predetermined state is a state in which a value corresponding to the measured absorbance shows an increasing tendency.
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