JP2002221494A - Inspecting equipment for light reflector - Google Patents
Inspecting equipment for light reflectorInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、反射型ホ
ログラムのような、所定の入射角度で入射された光を一
定の出射角度で反射する光反射体の品質を検査する光反
射体検査装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a light reflector inspection apparatus for inspecting the quality of a light reflector, such as a reflection type hologram, which reflects light incident at a predetermined incident angle at a constant output angle. It is about.
【０００２】[0002]
【従来の技術】図５は、従来の検査装置を示す図であ
る。ホログラムには、反射型ホログラム、透過型ホログ
ラム等がある。この反射型ホログラムは、光の入射角度
と反射角度とを異なる角度にすることができるという特
性を有しており、この特性を利用すると、従来には無か
ったような意匠性を得ることができ、また、模造が困難
であるので、クレジットカードや商品券等の偽造防止手
段として、広く普及している。2. Description of the Related Art FIG. 5 shows a conventional inspection apparatus. The hologram includes a reflection hologram and a transmission hologram. This reflection type hologram has a characteristic that the incident angle and the reflection angle of light can be made different angles, and by utilizing this characteristic, it is possible to obtain a design that has never been provided before. Also, since imitation is difficult, it is widely used as means for preventing counterfeiting of credit cards and gift certificates.
【０００３】従来、このようなホログラムの検査には、
図５に示すような、通常の印刷物や無地シート等を検査
する装置５０が使用されている。この検査装置５０は、
検査対象物であるホログラム２０の幅方向（図５中、奥
行方向）に、互いに並行に設けられた２本の蛍光灯５１
と、その間の部分の上方に設けられたカメラ５２を備
え、ホログラム２０を蛍光灯５１で照らして、上方のカ
メラ５２で撮像する。この検査装置５０を使用すれば、
ホログラム２０の表面に付着したゴミの有無について検
査することができる。しかし、ホログラムは、ある決ま
った角度で、かつ、方向の揃った入射光を反射した場合
に、その反射方向にホログラム像を結像するが、従来の
検査装置５０の照射光は、そのような、方向の揃った光
ではないので、ホログラム像を検査することができなか
った。したがって、ホログラム像を記録するときに光学
系の経路の中にゴミ等があった場合に、そのゴミを像と
して記録してしまうことにより生じる欠けや傷付き等の
欠陥については検査することができなかった。Conventionally, such a hologram inspection has been performed by:
As shown in FIG. 5, an apparatus 50 for inspecting a normal printed matter or a plain sheet is used. This inspection device 50
Two fluorescent lamps 51 provided in parallel with each other in the width direction (the depth direction in FIG. 5) of the hologram 20 to be inspected.
A hologram 20 is illuminated by a fluorescent lamp 51 and an image is taken by the upper camera 52. If this inspection device 50 is used,
The presence or absence of dust attached to the surface of the hologram 20 can be inspected. However, when the hologram forms a hologram image in a certain angle and reflects the incident light having a uniform direction in the reflection direction, the irradiation light of the conventional inspection apparatus 50 has such a hologram. The hologram image could not be inspected because the light was not in the same direction. Therefore, when there is dust or the like in the path of the optical system when recording a hologram image, it is possible to inspect for defects such as chips or scratches caused by recording the dust as an image. Did not.
【０００４】図６は、従来のホログラム検査装置を示す
図である。ホログラムの傷付きや欠け等について検査す
るためには、図６のようなホログラム検査装置６０が使
用されている。ホログラム検査装置６０は、光源６１
と、ハーフミラー６２と、カメラ６３とを備え、ホログ
ラム２０の品質を検査する。光源６１より照射された平
行光７０は、ハーフミラー６２で反射して、ホログラム
２０に照射される。そして、そのホログラム２０で反射
する。その際、ホログラム部分に入射した光は、拡散反
射し、それ以外の部分に入射した光は、ハーフミラー６
２に戻る。そして、この反射光を、カメラ６３で撮像す
ると、コントラストが鮮やかになって、ホログラム部分
が非常にくっきりと見え、０．２〜０．３ｍｍといった
微小な傷付きや欠け等でも発見しやすい。FIG. 6 is a diagram showing a conventional hologram inspection apparatus. A hologram inspection device 60 as shown in FIG. 6 is used for inspecting a hologram for scratches, chipping, and the like. The hologram inspection device 60 includes a light source 61
, A half mirror 62 and a camera 63 for inspecting the quality of the hologram 20. The parallel light 70 emitted from the light source 61 is reflected by the half mirror 62 and applied to the hologram 20. Then, the light is reflected by the hologram 20. At this time, the light incident on the hologram portion is diffusely reflected, and the light incident on other portions is
Return to 2. Then, when the reflected light is imaged by the camera 63, the contrast becomes vivid, the hologram portion looks very sharp, and even a minute scratch or chip of 0.2 to 0.3 mm can be easily found.
【０００５】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述のハーフ
ミラーを使用するホログラム検査装置６０で、大形のホ
ログラムを検査するには、大形のハーフミラーを配置で
きるだけの空間が必要であり、装置が非常に大きくな
る。また、それに対応するためには、光源の出力（明る
さ）も大きくしなければならないので、現実的には、１
００ｍｍ×１００ｍｍ程度の大きさまでのホログラムし
か、検査することができない。ところが、最近は、大形
のホログラムの需要が増大してきており、その大量生産
が望まれている。特に、そのようなホログラムを大量生
産するには、大判の原反を製造した後、打ち抜いて製造
することが望ましいが、従来のハーフミラーを使用する
方法では、そのような大判の原反を検査できない。ま
た、従来のホログラム検査装置６０では、垂直方向に撮
像する欠陥しか検査できない。However, in order to inspect a large hologram with the hologram inspection apparatus 60 using the above-mentioned half mirror, a space is required for arranging a large half mirror. Becomes very large. Further, in order to cope with this, the output (brightness) of the light source must be increased.
Only holograms up to about 100 mm × 100 mm can be inspected. However, recently, demand for large holograms has been increasing, and mass production thereof is desired. In particular, in order to mass-produce such holograms, it is desirable to manufacture a large-format raw material and then punch it out. However, the conventional method using a half mirror inspects such a large-size raw material. Can not. Further, the conventional hologram inspection apparatus 60 can inspect only a defect that is imaged in the vertical direction.
【０００６】本発明の課題は、例えば、ホログラムのよ
うな光反射体について、その大きさにかかわらず、検査
することができる光反射体検査装置を提供することであ
る。[0006] An object of the present invention is to provide a light reflector inspection apparatus capable of inspecting a light reflector such as a hologram, regardless of its size.
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】本発明は、以下のような
解決手段により、前記課題を解決する。なお、理解を容
易にするために、本発明の実施形態に対応する符号を付
して説明するが、これに限定されるものではない。前記
課題を解決するために、請求項１の発明は、所定の入射
角度で入射された光を一定の角度で反射する光反射体
（２０）の欠陥を検査する光反射体検査装置であって、
前記光反射体（２０）に照射する光を発生する光源（１
１ａ）と、前記光源（１１ａ）の光の進行方向を特定の
方向に揃えて前記光反射体（２０）に照射する光方向規
制手段（１１ｂ）と、前記光方向規制手段（１１ｂ）か
ら照射され、前記光反射体（２０）で反射した光を撮像
する撮像手段（１２）と、前記撮像手段（１２）が撮像
した画像を、基準画像と比較して、欠陥を検査する検査
処理手段（１３）とを備えることを特徴とする光反射体
検査装置である。The present invention solves the above-mentioned problems by the following means. In addition, in order to make it easy to understand, description is given with reference numerals corresponding to the embodiment of the present invention, but the present invention is not limited to this. In order to solve the above-mentioned problem, the invention according to claim 1 is a light reflector inspection device for inspecting a defect of a light reflector (20) that reflects light incident at a predetermined incident angle at a fixed angle. ,
A light source (1) for generating light for irradiating the light reflector (20)
1a), light direction regulating means (11b) for irradiating the light reflector (20) with the light traveling direction of the light source (11a) aligned in a specific direction, and irradiation from the light direction regulating means (11b). An imaging unit (12) for imaging light reflected by the light reflector (20); and an inspection processing unit (7) for comparing an image captured by the imaging unit (12) with a reference image to inspect for defects. 13) is a light reflector inspection apparatus characterized by comprising:
【０００８】請求項２の発明は、請求項１に記載の光反
射体検査装置において、前記光方向規制手段（１１ｂ）
は、屈折率分布レンズ（１１ｃ）で光の進行方向を特定
の方向に揃えることを特徴とする光反射体検査装置であ
る。According to a second aspect of the present invention, in the light reflector inspection apparatus according to the first aspect, the light direction regulating means (11b).
Is a light reflector inspection apparatus characterized in that the traveling direction of light is aligned in a specific direction by a refractive index distribution lens (11c).
【０００９】請求項３の発明は、請求項１又は請求項２
に記載の光反射体検査装置において、前記屈折率分布レ
ンズ（１１ｃ）は、その開口角度が、前記光反射体（２
０）の反射光を観察可能な観察角度以内であることを特
徴とする光反射体検査装置である。[0009] The invention of claim 3 is claim 1 or claim 2.
In the light reflector inspection device according to the above, the refractive index distribution lens (11c) has an opening angle of the light reflector (2).
0) The light reflector inspection device is characterized in that the reflected light is within an observation angle at which the reflected light can be observed.
【００１０】請求項４の発明は、請求項１から請求項３
までのいずれか１項に記載の光反射体検査装置におい
て、前記光源（１１ａ）は、蛍光灯であることを特徴と
する光反射体検査装置である。[0010] The invention of claim 4 is the first to third aspects of the present invention.
The light reflector inspection apparatus according to any one of the above, wherein the light source (11a) is a fluorescent lamp.
【００１１】請求項５の発明は、請求項１から請求項４
までのいずれか１項に記載の光反射体検査装置におい
て、前記光源（１１ａ）は、発生した光を前記光方向規
制手段（１１ｂ）に導く導光部（１１ｄ）を備えること
を特徴とする光反射体検査装置である。[0011] The invention of claim 5 is the invention of claims 1 to 4.
In the light reflector inspection apparatus according to any one of the above, the light source (11a) includes a light guide (11d) for guiding the generated light to the light direction regulating means (11b). It is a light reflector inspection device.
【００１２】[0012]
【発明の実施の形態】以下、図面等を参照して、本発明
の実施の形態について、さらに詳しく説明する。 （第１実施形態）図１は、本発明による光反射体検査装
置の第１実施形態を示す図である。光反射体検査装置１
０は、照明１１と、カメラ１２と、検査処理部１３とを
備え、連続状態のホログラムシート２０を検査対象とす
る。このホログラムシート２０は、図１に示す通り、図
中奥側のロールから順次搬出されている。本実施形態の
ホログラムシート２０の幅は、３００〜４００ｍｍ程度
である。Embodiments of the present invention will be described below in more detail with reference to the drawings. (First Embodiment) FIG. 1 is a view showing a first embodiment of a light reflector inspection apparatus according to the present invention. Light reflector inspection device 1
Numeral 0 includes the illumination 11, the camera 12, and the inspection processing unit 13, and inspects the hologram sheet 20 in a continuous state. As shown in FIG. 1, the hologram sheet 20 is sequentially carried out from a roll on the far side in the figure. The width of the hologram sheet 20 of the present embodiment is about 300 to 400 mm.
【００１３】ホログラムは、ある角度（入射角）で入射
した光を反射して、一定の方向に、ホログラム像を結像
するという特性を有する。このようにして結像したホロ
グラム像は、その方向（観察角度）から観察することに
より確認可能である。ホログラムに何らかの欠陥がある
場合には、このホログラム像に異常が見られ、基準画像
と比較することで、欠陥を発見することができる。な
お、この入射角及びその角度の許容範囲、並びに、ホロ
グラム像の結像方向については、ホログラムを設計する
ときに自由に決めることができる。また、ホログラム
は、コスト等の面から、天地方向又は左右方向のいずれ
かの方向からの入射光によってホログラム像を呈するよ
うに設計されることが多い。本実施形態では、ホログラ
ムシート２０の幅方向からの入射光によって、ホログラ
ム像が結像するように設計されている。The hologram has the property of reflecting light incident at a certain angle (incident angle) and forming a hologram image in a certain direction. The hologram image formed in this manner can be confirmed by observing from the direction (observation angle). If there is any defect in the hologram, an abnormality is found in the hologram image, and the defect can be found by comparing with the reference image. The incident angle, the allowable range of the angle, and the imaging direction of the hologram image can be freely determined when designing the hologram. Further, the hologram is often designed so as to present a hologram image by incident light from either the top or bottom direction or the left and right direction in terms of cost and the like. In this embodiment, the hologram sheet is designed so that a hologram image is formed by incident light from the width direction of the hologram sheet 20.
【００１４】照明１１は、ホログラムシート２０に対し
て光を照射する部分である。照明１１は、光源部１１ａ
と、光方向規制部１１ｂとを備える。光源部１１ａは、
ホログラムシート２０に照射する光を発生する部分であ
り、例えば、一般的な蛍光灯等を使用することができ
る。光方向規制部１１ｂは、光源部１１ａから射出され
た光の進行方向を揃える部分であり、詳細については、
後述する。なお、カメラ１２でホログラムシート２０の
反射光を撮像するときに、照明１１がその反射光を遮っ
てしまうことを防止するために、照明１１は傾斜して設
置されている。すなわち、図１において、手前側の辺
が、奥側の辺よりも高くなるように、設置されている。
これにより、図１に示す通り、照明１１が照射した光
は、照明１１よりも手前に設けられたカメラ１２で撮像
可能である。The illumination 11 irradiates light to the hologram sheet 20. The lighting 11 is a light source unit 11a
And a light direction restricting portion 11b. The light source unit 11a
This is a portion that generates light to irradiate the hologram sheet 20, and for example, a general fluorescent lamp or the like can be used. The light direction restricting portion 11b is a portion for aligning the traveling directions of the light emitted from the light source portion 11a.
It will be described later. When the camera 12 captures the reflected light from the hologram sheet 20, the illumination 11 is installed at an angle in order to prevent the illumination 11 from blocking the reflected light. That is, in FIG. 1, it is installed such that the side on the near side is higher than the side on the back side.
Thereby, as shown in FIG. 1, the light emitted by the illumination 11 can be imaged by the camera 12 provided before the illumination 11.
【００１５】カメラ１２は、ホログラムシート２０の反
射光を撮像する。カメラ１２は、ラインセンサタイプの
ＣＣＤカメラであり、撮像素子がホログラムシート２０
の幅方向に並んでおり、図１中、破線で示す範囲を撮像
することができる。また、カメラ１２は、上述の通り、
照明１１よりも手前に設けられている。なお、カメラ１
２の画角が大きいことは、望ましくないので、ホログラ
ムシート２０から５００ｍｍ程度の距離を離して配置す
る。The camera 12 captures the reflected light from the hologram sheet 20. The camera 12 is a line sensor type CCD camera.
1 can be imaged in the range indicated by the broken line in FIG. Also, as described above, the camera 12
It is provided before the lighting 11. Camera 1
Since it is not desirable that the angle of view of 2 is large, it is arranged at a distance of about 500 mm from the hologram sheet 20.
【００１６】検査処理部１３は、カメラ１２に接続さ
れ、そのカメラ１２が出力した画像信号を入力して処理
する。具体的な処理方法は、例えば、特開平９−７６４
７０号公報に示されている方法と同様であり、搬送中の
ホログラムシート２０の画像を、基準画像と比較して欠
陥の有無を判断する。The inspection processing section 13 is connected to the camera 12 and receives and processes an image signal output by the camera 12. A specific processing method is described in, for example, JP-A-9-764.
The method is the same as that described in Japanese Patent Application Publication No. 70-70, in which the image of the hologram sheet 20 being conveyed is compared with a reference image to determine whether there is a defect.
【００１７】図２は、本発明による光反射体検査装置の
第１実施形態の光方向規制部を示す図である。光方向規
制部１１ｂは、点線に示すように、屈折率分布レンズ１
１ｃを、側面に対して角度θ１で傾斜させて並べてい
る。この角度θ１は、検査対象であるホログラムシート
２０が、ホログラム像を結像する入射角に等しい。ま
た、屈折率分布レンズ１１ｃの開口角度は、ホログラム
シート２０がホログラム像を結像する入射角の許容範囲
以下の角度である。通常、４°、１０°等の開口角度の
屈折率分布レンズが市販されているので、検査対象であ
るホログラムシート２０に応じて、適宜、選択すればよ
い。このようにすれば、コストを低く抑えることができ
る。FIG. 2 is a view showing a light direction restricting portion of the first embodiment of the light reflector inspection apparatus according to the present invention. The light direction restricting portion 11b includes a refractive index distribution lens 1 as shown by a dotted line.
1c are arranged at an angle θ1 with respect to the side surface. The angle θ1 is equal to the incident angle at which the hologram sheet 20 to be inspected forms a hologram image. Further, the opening angle of the refractive index distribution lens 11c is an angle equal to or less than an allowable range of an incident angle at which the hologram sheet 20 forms a hologram image. Usually, a refractive index distribution lens having an opening angle of 4 °, 10 °, or the like is commercially available, and may be appropriately selected according to the hologram sheet 20 to be inspected. In this way, the cost can be kept low.
【００１８】ここに、屈折率分布レンズとは、屈折率が
媒質の内部で勾配を持って変わるような光学材料で作ら
れるレンズであり、ＧＲＩＮレンズ、不均質媒質レンズ
などとも呼ばれる。光線は、屈折率が勾配を持つ媒質内
では曲線となるという特性があり、この特性を生かすこ
とにより、図２に示すような棒状体に、レンズと同等の
結像作用を持たせることができる。このような棒状の屈
折率分布レンズの焦点距離は、長さに依存し、長さしだ
いで凸レンズにも凹レンズにもなるという特性を有す
る。Here, the refractive index distribution lens is a lens made of an optical material whose refractive index changes with a gradient inside the medium, and is also called a GRIN lens, a heterogeneous medium lens, or the like. A light ray has a characteristic that it becomes a curve in a medium having a gradient refractive index. By making use of this characteristic, a rod-shaped body as shown in FIG. 2 can have an imaging effect equivalent to that of a lens. . The focal length of such a rod-shaped refractive index distribution lens depends on the length, and has a characteristic that it becomes a convex lens or a concave lens depending on the length.
【００１９】図３は、本発明による光反射体検査装置の
第１実施形態の照明を示す図である。なお、図中、点線
矢印は、光の進行方向を示す。照明１１は、前述したよ
うに、蛍光灯等の光源部１１ａと、屈折率分布レンズ１
１ｃを有する光方向規制部１１ｂとを備える。光源部１
１ａから射出された光は、拡散光であるが、光方向規制
部１１ａを通過することで、進行方向が揃えられ、ホロ
グラムシート２０に対して角度θ１で入射する。FIG. 3 is a view showing the illumination of the first embodiment of the light reflector inspection apparatus according to the present invention. In the drawings, dotted arrows indicate the traveling directions of light. As described above, the illumination 11 includes a light source unit 11 a such as a fluorescent lamp and the refractive index distribution lens 1.
1c, and a light direction restricting portion 11b having 1c. Light source unit 1
Although the light emitted from 1a is diffuse light, it passes through the light direction restricting portion 11a, so that the traveling directions are aligned and enters the hologram sheet 20 at an angle θ1.
【００２０】本実施形態によれば、光源部１１ａから射
出された光の進行方向が、光方向規制部１１ｂによって
揃えられ、所定の角度でホログラムシート２０に照射さ
れるので、その反射光によってホログラム像を結像させ
ることができる。そして、このホログラム像を基準画像
と比較することで、ホログラムシート２０の欠陥を検査
可能である。また、屈折率分布レンズ１１ｃを使用する
ので、光の進行方向を、確実に、揃えることができる。
また、この屈折率分布レンズ１１ｃの開口角度を、ホロ
グラムシート２０がホログラム像を結像するための光の
入射角の許容範囲以下の角度にすることで、すべての光
を無駄なく検査に活用することができる。その際、その
開口角度は、市販品のなかから、適宜、選択するとよ
い。According to the present embodiment, the traveling direction of the light emitted from the light source 11a is aligned by the light direction regulating portion 11b, and the hologram sheet 20 is irradiated at a predetermined angle. An image can be formed. Then, by comparing this hologram image with the reference image, it is possible to inspect the hologram sheet 20 for defects. Further, since the gradient index lens 11c is used, the traveling directions of light can be surely aligned.
Further, by setting the opening angle of the refractive index distribution lens 11c to an angle equal to or less than the allowable range of the incident angle of light for forming the hologram image by the hologram sheet 20, all the light is used for the inspection without waste. be able to. At this time, the opening angle may be appropriately selected from commercially available products.
【００２１】（第２実施形態）図４は、本発明による光
反射体検査装置の第２実施形態のを示す図である。な
お、前述した第１実施形態と同様の機能を果たす部分に
同一の符号を付して、重複する説明を適宜省略する。本
実施形態の光源部１１ａは、ハロゲンランプ、キセノン
ランプ、メタルハライドランプ又は水銀ランプなどであ
る。また、光源部１１ａの先端には、光ファイバ１１ｄ
が連接されており、光源部１１ａの光を光方向規制部１
１ｂへ導く。(Second Embodiment) FIG. 4 is a view showing a light reflector inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention. Note that the same reference numerals are given to portions that perform the same functions as in the above-described first embodiment, and overlapping descriptions will be omitted as appropriate. The light source unit 11a of the present embodiment is a halogen lamp, a xenon lamp, a metal halide lamp, a mercury lamp, or the like. An optical fiber 11d is provided at the tip of the light source 11a.
Are connected to each other, and the light from the light source unit 11a is
Lead to 1b.
【００２２】本実施形態によれば、光ファイバ１１ｄを
使用するので、光源にハロゲンランプ、キセノンラン
プ、メタルハライドランプ又は水銀ランプ等を用いるこ
とができ、明るい。そのため、一層、正確に検査するこ
とができる。According to the present embodiment, since the optical fiber 11d is used, a halogen lamp, a xenon lamp, a metal halide lamp, a mercury lamp, or the like can be used as a light source, which is bright. Therefore, the inspection can be performed more accurately.
【００２３】（変形形態）以上説明した実施形態に限定
されることなく、種々の変形や変更が可能であって、そ
れらも本発明の均等の範囲内である。例えば、上記各実
施形態では、検査対象物として、ホログラムを挙げて説
明したが、所定の入射角度で入射された光を一定の角度
に回折する回折格子についても、本検査装置を使用し
て、同様の効果が得ることができる。(Modifications) Various modifications and changes are possible without being limited to the embodiment described above, and these are also within the equivalent scope of the present invention. For example, in each of the above embodiments, a hologram was described as an inspection object, but a diffraction grating that diffracts light incident at a predetermined incident angle to a certain angle is also used by using the present inspection apparatus. Similar effects can be obtained.
【００２４】[0024]
【発明の効果】以上詳しく説明したように、請求項１の
発明によれば、光源の光の進行方向を特定の方向に揃え
て光反射体に照射する光方向規制手段を備えるので、そ
の照射光によって結像したホログラム像によって、欠陥
を検査することができる。As described above in detail, according to the first aspect of the present invention, since the light direction regulating means for irradiating the light reflector with the light traveling direction of the light source aligned in a specific direction is provided. The defect can be inspected by the hologram image formed by the light.
【００２５】請求項２の発明によれば、光方向規制手段
は、屈折率分布レンズで光の進行方向を特定の方向に揃
えるので、光の進行方向を、確実に揃えることができ
る。According to the second aspect of the present invention, since the light direction regulating means aligns the light traveling direction to a specific direction by the refractive index distribution lens, the light traveling direction can be surely aligned.
【００２６】請求項３の発明によれば、屈折率分布レン
ズは、その開口角度が、光反射体の反射光を観察可能な
観察角度以内であるので、すべての光を無駄なく検査に
活用することができる。According to the third aspect of the present invention, since the aperture angle of the gradient index lens is within the observation angle at which the reflected light of the light reflector can be observed, all the light is utilized for the inspection without waste. be able to.
【００２７】請求項４の発明によれば、光源は、蛍光灯
であるので、安価かつ長寿命である。According to the fourth aspect of the present invention, since the light source is a fluorescent lamp, it is inexpensive and has a long life.
【００２８】請求項５の発明によれば、光源は、発生し
た光を光方向規制手段に導く導光部を備えるので、ハロ
ゲンランプ、キセノンランプ、メタルハライドランプ又
は水銀ランプなどを使用することができ、明るく、一
層、正確に検査することができる。According to the fifth aspect of the present invention, since the light source is provided with the light guide for guiding the generated light to the light direction regulating means, it is possible to use a halogen lamp, a xenon lamp, a metal halide lamp or a mercury lamp. It can be inspected brighter and more accurately.
【図１】本発明による光反射体検査装置の第１実施形態
を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a first embodiment of a light reflector inspection apparatus according to the present invention.
【図２】本発明による光反射体検査装置の第１実施形態
の光方向規制部を示す図である。FIG. 2 is a view showing a light direction restricting unit of the first embodiment of the light reflector inspection apparatus according to the present invention.
【図３】本発明による光反射体検査装置の第１実施形態
の照明を示す図である。FIG. 3 is a view showing illumination of the first embodiment of the light reflector inspection apparatus according to the present invention.
【図４】本発明による光反射体検査装置の第２実施形態
のを示す図である。FIG. 4 is a view showing a second embodiment of the light reflector inspection apparatus according to the present invention.
【図５】従来の検査装置を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a conventional inspection device.
【図６】従来のホログラム検査装置を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a conventional hologram inspection device.
１０ 光反射体検査装置 １１ 照明 １１ａ 光源部 １１ｂ 光方向規制部 １１ｃ 屈折率分布レンズ １１ｄ 光ファイバ １２ カメラ １３ 検査処理部 ２０ ホログラムシート Reference Signs List 10 light reflector inspection device 11 illumination 11a light source unit 11b light direction regulating unit 11c refractive index distribution lens 11d optical fiber 12 camera 13 inspection processing unit 20 hologram sheet
Claims (5)
角度で反射する光反射体の欠陥を検査する光反射体検査
装置であって、 前記光反射体に照射する光を発生する光源と、 前記光源の光の進行方向を特定の方向に揃えて前記光反
射体に照射する光方向規制手段と、 前記光方向規制手段から照射され、前記光反射体で反射
した光を撮像する撮像手段と、 前記撮像手段が撮像した画像を、基準画像と比較して、
欠陥を検査する検査処理手段とを備えることを特徴とす
る光反射体検査装置。1. A light reflector inspection device for inspecting a defect of a light reflector that reflects light incident at a predetermined angle at a predetermined angle, wherein the light source generates light to irradiate the light reflector. A light direction regulating unit that irradiates the light reflector with the light traveling direction of the light source aligned in a specific direction; and an imaging unit that captures light emitted from the light direction regulating unit and reflected by the light reflector. Means, comparing the image taken by the imaging means with a reference image,
A light reflector inspection apparatus, comprising: an inspection processing unit for inspecting a defect.
いて、 前記光方向規制手段は、屈折率分布レンズで光の進行方
向を特定の方向に揃えることを特徴とする光反射体検査
装置。2. The light reflector inspection apparatus according to claim 1, wherein the light direction restricting means aligns the traveling direction of light with a refractive index distribution lens in a specific direction. .
検査装置において、 前記屈折率分布レンズは、その開口角度が、前記光反射
体の反射光を観察可能な観察角度以内であることを特徴
とする光反射体検査装置。3. The light reflector inspection apparatus according to claim 1, wherein an opening angle of the refractive index distribution lens is within an observation angle at which reflected light of the light reflector can be observed. A light reflector inspection device, characterized in that:
項に記載の光反射体検査装置において、 前記光源は、蛍光灯であることを特徴とする光反射体検
査装置。4. One of claims 1 to 3
The light reflector inspection device according to claim 1, wherein the light source is a fluorescent lamp.
項に記載の光反射体検査装置において、 前記光源は、発生した光を前記光方向規制手段に導く導
光部を備えることを特徴とする光反射体検査装置。5. The method according to claim 1, wherein:
The light reflector inspection device according to claim 1, wherein the light source includes a light guide unit that guides generated light to the light direction regulating unit.
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP2001018877A JP2002221494A (en) | 2001-01-26 | 2001-01-26 | Inspecting equipment for light reflector |
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| Country | Link |
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| JP (1) | JP2002221494A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1832910A2 (en) | 2006-03-08 | 2007-09-12 | Kabushi Kaisha Toshiba | Optical fiber illumination device and hologram inspection apparatus |
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| JP2009133743A (en) * | 2007-11-30 | 2009-06-18 | Toshiba Corp | Hologram inspection apparatus |
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-
2001
- 2001-01-26 JP JP2001018877A patent/JP2002221494A/en active Pending
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