JP2002207208A - Liquid crystal display device - Google Patents

Liquid crystal display device

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JP2002207208A
JP2002207208A JP2001313776A JP2001313776A JP2002207208A JP 2002207208 A JP2002207208 A JP 2002207208A JP 2001313776 A JP2001313776 A JP 2001313776A JP 2001313776 A JP2001313776 A JP 2001313776A JP 2002207208 A JP2002207208 A JP 2002207208A
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JP
Japan
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liquid crystal
layer
color filter
crystal display
transparent
Prior art date
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Application number
JP2001313776A
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Japanese (ja)
Inventor
Yuichi Kumamoto
優一 熊本
Akihiro Hoshino
昭裕 星野
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Toppan Inc
Original Assignee
Toppan Printing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To eliminate various defects caused by the presence of a color filter in a liquid crystal display layer using an electrode plate, on which a transparent coloring layer (color filter) is formed, as an electrode plate on the side where switching elements such as thin film transistors(TFTs) and transparent electrodes for driving pixels are formed. SOLUTION: The device is characterized by using the electrode plate having the coloring pattern layer composed of a heat resistant acrylate resin or polyimide provided on a substrate and having the switching elements and the transparent electrodes for driving the pixels formed thereon via a transparent coating layer.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、カラー液晶表示装
置に関する。
[0001] The present invention relates to a color liquid crystal display device.

【0002】[0002]

【従来の技術】薄膜トランジスタ(TFT)等のスイッ
チング素子および画素駆動用透明電極が形成された側の
電極板に透明着色層(カラーフィルタ)を形成すること
は、対向基板の簡略化や、双方の電極板を貼り合わせる
際の位置ずれや寸法ずれを防ぐ意味からも望ましいこと
と考えられ、この構成を実現する試みが為されてきた。
しかしながら、この構成の場合においては、カラーフィ
ルタの存在に起因する諸々の不具合が発生していた。
2. Description of the Related Art Forming a transparent colored layer (color filter) on an electrode plate on which a switching element such as a thin film transistor (TFT) and a transparent electrode for driving a pixel are formed can be achieved by simplifying an opposing substrate or by using both. It is considered to be desirable from the viewpoint of preventing displacement and dimensional displacement when bonding the electrode plates, and attempts have been made to realize this configuration.
However, in the case of this configuration, various problems have occurred due to the presence of the color filters.

【0003】すなわち、これらを箇条書きすると以下の
如くである。 1.画素電極の上にカラーフィルタを配置する構成、す
なわちその層構成が、例えば図2に示すように基板11
透明画素電極31 カラーフィルタ20 配向膜51
の順となっている層構成においては、透明画素電極31
と対向電極32との間には、ポリイミドの配向膜51に
さらにカラーフィルタ20が加わるので電気抵抗がより
高くなる効果を持ち、新たな電圧損失が発生する。通常
この場合、カラーフィルタ層形成による表面の乱れを平
坦化するため、カラーフィルタ20層上にオーバーコー
ト層41を設けるので、電圧損失はさらに増大し、印加
電圧を高くする必要が生じ、あるいは液晶駆動の応答性
の劣化を招くという問題を生じる。
[0003] That is, these are listed as follows. 1. A configuration in which a color filter is arranged on a pixel electrode, that is, the layer configuration is, for example, as shown in FIG.
Transparent pixel electrode 31 Color filter 20 Alignment film 51
, The transparent pixel electrode 31
Since the color filter 20 is further added to the polyimide alignment film 51 between the and the counter electrode 32, the effect of increasing the electrical resistance is obtained, and a new voltage loss occurs. Usually, in this case, the overcoat layer 41 is provided on the color filter 20 layer in order to flatten the surface disorder due to the formation of the color filter layer, so that the voltage loss further increases, and it becomes necessary to increase the applied voltage. There is a problem that the driving response is deteriorated.

【0004】2.そこで、上記の問題を解消するためカ
ラーフィルタ20上に透明画素電極31を設ける場合、
すなわちその層構成が、例えば図3に示すように基板1
1カラーフィルタ20 透明画素電極31 配向膜51
の順となっている層構成においては、透明画素電極31
とスイッチング素子30との導通をスルーホールAを介
して行うことになるが、この場合、カラーフィルタ20
の位置ずれやスルーホールA形成時の形状不良などの不
具合により、スイッチング素子30と透明画素電極31
との接触抵抗を一定に保つことが難しくなり、ひどい場
合には接触不良、即ち欠陥画素の発生の原因となるもの
であった。
[0004] 2. Therefore, when the transparent pixel electrode 31 is provided on the color filter 20 to solve the above problem,
That is, as shown in FIG.
1 color filter 20 transparent pixel electrode 31 alignment film 51
, The transparent pixel electrode 31
And the switching element 30 is conducted through the through hole A. In this case, the color filter 20
Of the switching element 30 and the transparent pixel electrode 31
This makes it difficult to keep the contact resistance constant with the contact resistance, and in severe cases, it causes poor contact, that is, the generation of defective pixels.

【0005】3.また、カラーフィルタ20の表面は、
段差や不均一が発生しやすく、このために液晶61の配
向乱れ、液晶層の厚み(ギャップ幅)の不均一などが生
じ、表示画像にむらがみられることがあった。以上のよ
うな現状から、従来より現在でもなお、ほとんどの液晶
表示装置においては、カラーフィルタ20はスイッチン
グ素子30と対向するもう一方の電極板の側に設けられ
ていた。
[0005] 3. The surface of the color filter 20 is
Steps and non-uniformity are apt to occur, which may cause disorder in the alignment of the liquid crystal 61 and non-uniformity in the thickness (gap width) of the liquid crystal layer, resulting in uneven display images. In view of the above situation, the color filter 20 has been provided on the other electrode plate side facing the switching element 30 in most liquid crystal display devices.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】本発明では、上記のよ
うな様々な不具合点を一挙に解決可能な電極板を用いた
液晶表示装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a liquid crystal display device using an electrode plate which can solve the above-mentioned various problems at once.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、基板上に耐熱
性のアクリレート樹脂またはポリイミドの着色パターン
層を形成し、次いで透明被覆層を介在させ、その上にス
イッチング素子と画素駆動用透明電極とを形成した電極
板を用いたことを特徴とする液晶表示装置である。
According to the present invention, a colored pattern layer of a heat-resistant acrylate resin or polyimide is formed on a substrate, a transparent coating layer is interposed therebetween, and a switching element and a transparent electrode for driving pixels are formed thereon. A liquid crystal display device characterized by using an electrode plate formed with (1) and (2).

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】すなわち本発明は、既に述べたカ
ラーフィルタの存在に起因する諸々の不具合を解消する
ため、カラーフィルタの上に絶縁性の透明被覆層を介し
て、スイッチング素子及び画素駆動用透明電極を形成す
る。これらのことが可能になるよう、カラーフィルタに
は、後工程の熱処理の温度に耐え得るだけの耐熱性が要
求される。それ故、カラーフィルタの材料として、着色
材料は染料よりも耐熱性に優れる顔料が用いられる。こ
の顔料を分散させる媒体は、カラーフィルタの骨格成分
となる樹脂であり、この樹脂は耐熱性のある樹脂が望ま
しい。具体的には、耐熱温度230〜250℃のアクリ
レート樹脂やポリイミド樹脂が挙げられる。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS In order to solve the various problems caused by the existence of the color filter, the present invention provides a switching element and a pixel drive through an insulating transparent coating layer on the color filter. A transparent electrode for use. In order to make these possible, the color filter is required to have heat resistance enough to withstand the temperature of the heat treatment in the subsequent step. Therefore, as a material of the color filter, a pigment having higher heat resistance than a dye is used as a coloring material. The medium in which the pigment is dispersed is a resin serving as a skeleton component of the color filter, and the resin is preferably a resin having heat resistance. Specifically, an acrylate resin or a polyimide resin having a heat-resistant temperature of 230 to 250 ° C. is exemplified.

【0009】また、透明被覆膜は、カラーフィルタ表面
の段差や微細な凹凸を緩和するためのものであって、平
滑化層とも言い得るものである。表面を平坦化すること
で、この上に形成されるスイッチング素子や、画素駆動
用透明電極の特性に好結果をもたらす。透明被覆層の材
料としては、カラーフィルタに用いられた樹脂と同様の
耐熱性樹脂のほか、二酸化ケイ素(SiO2)、五酸化
タンタル(Ta2O5)、窒化ケイ素(Si3N4)等の透
明無機物質を用いることができる。耐熱性樹脂の上に透
明無機物質を積層する複層構造にした透明被覆層であっ
ても良い。
[0009] The transparent coating film is provided for alleviating steps and fine irregularities on the surface of the color filter, and can be called a smoothing layer. By flattening the surface, the characteristics of the switching element formed thereon and the characteristics of the transparent electrode for driving a pixel are advantageously obtained. As the material of the transparent coating layer, in addition to the same heat-resistant resin used for the color filter, a transparent inorganic substance such as silicon dioxide (SiO2), tantalum pentoxide (Ta2O5), and silicon nitride (Si3N4) should be used. Can be. A transparent coating layer having a multilayer structure in which a transparent inorganic substance is laminated on a heat-resistant resin may be used.

【0010】次いで、スイッチング素子について述べ
る。スイッチング素子として薄膜トランジスタ(TF
T)を設ける場合、基本的にゲート電極、ゲート絶縁
膜、アモルファスシリコン層、パシベーション層、オー
ミック層、ソース電極、およびドレイン電極よりなる。
このうち、ゲート絶縁膜、アモルファスシリコン層、お
よびパシベーション層は、層構造として稠密性が要求さ
れるので、プラズマCVD法により成膜する際も、基板
温度をある程度加温する必要があるとされていた。しか
し、本発明では、スイッチング素子の下にあるカラーフ
ィルタの耐熱温度230〜250℃を踏まえて、その温
度以下の低温で成膜するプロセスを採用する。具体的手
段の一つとしては、プラズマCVD中に水素ラジカル
(H*)を導入することであり、これにより所望の物性
を有する各種の膜構造が得られる。
Next, the switching element will be described. Thin film transistor (TF
When T) is provided, it basically includes a gate electrode, a gate insulating film, an amorphous silicon layer, a passivation layer, an ohmic layer, a source electrode, and a drain electrode.
Among them, the gate insulating film, the amorphous silicon layer, and the passivation layer are required to have a dense layer structure, and therefore it is necessary to raise the substrate temperature to some extent even when forming the film by the plasma CVD method. Was. However, the present invention adopts a process of forming a film at a low temperature equal to or lower than the heat resistance temperature of 230 to 250 ° C. of the color filter below the switching element. One of the specific means is to introduce hydrogen radicals (H *) during plasma CVD, whereby various film structures having desired physical properties can be obtained.

【0011】[0011]

【実施例】<実施例1>TFT方式液晶表示装置のTF
T形成側電極板の製造プロセスの一例を、以下に図1に
沿って説明する。ガラス基板11上に複数色パターン形
成した、アクリレート樹脂を樹脂成分とする顔料分散カ
ラーフィルタ20の上に、アクリル系樹脂のオーバーコ
ート層41を形成し、この上にクロムのゲート電極33
と、ITO(酸化インジウム−スズ)の透明画素電極3
1をパターン形成した。
<Example 1> TF of TFT type liquid crystal display device
An example of the manufacturing process of the T-forming side electrode plate will be described below with reference to FIG. An overcoat layer 41 made of an acrylic resin is formed on a pigment-dispersed color filter 20 having an acrylate resin as a resin component and having a plurality of color patterns formed on a glass substrate 11, and a chromium gate electrode 33 is formed thereon.
And transparent pixel electrode 3 of ITO (indium-tin oxide)
1 was patterned.

【0012】次いでゲート絶縁膜34をSiNxにてプ
ラズマCVDで厚さ0.5μmに形成した。ここでは、
基板温度は230℃、水素を170sccm、水素で希
釈した10%シラン(SiH4:10%、H2:90%)
を流量50sccm、同じく水素希釈のアンモニアを流
量34sccmで反応室内に供給し、圧力1torr、
負荷電力180W、堆積速度1Å/secにて成膜を行
った。この際、230℃という低温成膜を実現するた
め、マイクロ波(2.45GHz、400W)により形
成した水素ラジカル(H*)(水素20sccm)をS
iNxのプラズマCVD中に導入した。これは、図5に
示すように、発振器71からのマイクロ波を導波管72
に導き、この導波管72の途中から水素を供給すること
で水素ラジカルを生成し、これをCVDチャンバー73
内で主に基板11に向けて供給するものである。
Next, a gate insulating film 34 was formed to a thickness of 0.5 μm by plasma CVD using SiNx. here,
The substrate temperature is 230 ° C., 170 sccm of hydrogen, 10% silane diluted with hydrogen (SiH4: 10%, H2: 90%)
Is supplied into the reaction chamber at a flow rate of 50 sccm, and ammonia diluted with hydrogen is also supplied at a flow rate of 34 sccm.
Film formation was performed at a load power of 180 W and a deposition rate of 1 ° / sec. At this time, in order to realize a low-temperature film formation of 230 ° C., hydrogen radicals (H *) (hydrogen 20 sccm) formed by microwaves (2.45 GHz, 400 W) are converted to S
Introduced during plasma CVD of iNx. This is because, as shown in FIG.
, And hydrogen is supplied from the middle of the waveguide 72 to generate hydrogen radicals.
It is mainly supplied to the substrate 11.

【0013】続いてアモルファスシリコン(a−Si:
H)層35をプラズマCVDにて厚さ0.05μmに形
成した。ここでは、基板温度は230℃、水素で希釈し
た10%シラン(SiH4:10%、H2:90%)を流
量300sccmで反応室内に供給し、圧力1tor
r、負荷電力60W、堆積速度1Å/secにて成膜を
行った。続いてパシベーション層36をSiNxにて同
様にしてプラズマCVDで厚さ0.5μmに形成した。
この際にも、水素ラジカル(H*)(水素20scc
m)をSiNxのプラズマCVD中に導入した。この
後、フォトレジストをパターン耐蝕膜とする反応性イオ
ンエッチングをCF4ガス中にて行ってゲート絶縁膜3
4、アモルファスシリコン層35、およびパシベーショ
ン層36を所望のパターンとした。
Subsequently, amorphous silicon (a-Si:
H) The layer 35 was formed to a thickness of 0.05 μm by plasma CVD. Here, the substrate temperature is 230 ° C., 10% silane diluted with hydrogen (SiH4: 10%, H2: 90%) is supplied into the reaction chamber at a flow rate of 300 sccm, and the pressure is 1 torr.
The film was formed at a load power of 60 W and a deposition rate of 1 ° / sec. Subsequently, the passivation layer 36 was similarly formed to a thickness of 0.5 μm by plasma CVD using SiNx.
Also in this case, hydrogen radicals (H *) (hydrogen 20 scc)
m) was introduced during SiNx plasma CVD. Thereafter, reactive ion etching using a photoresist as a pattern corrosion-resistant film is performed in CF4 gas to form the gate insulating film 3.
4. The amorphous silicon layer 35 and the passivation layer 36 have a desired pattern.

【0014】ここでは、TFTのゲート電極33と、ソ
ース電極38、ドレイン電極39が重なる部分の界面が
特性上重要であるため、上記のゲート絶縁膜34とアモ
ルファスシリコン(a−Si:H)層35は必ず連続形
成し、パシベーション層36も続いて連続形成すること
が望ましい。そののちパターニングする。
Here, since the interface of the portion where the gate electrode 33 of the TFT overlaps the source electrode 38 and the drain electrode 39 is important in characteristics, the gate insulating film 34 and the amorphous silicon (a-Si: H) layer It is preferable that the passivation layer 36 be formed continuously and the passivation layer 36 be formed continuously. After that, patterning is performed.

【0015】続いて、フォトレジストをパターン耐蝕膜
とし、パシベーション層36に、同様に反応性イオンエ
ッチングをCF4ガス中にて行って長方形のスルーホー
ルを2箇所形成し、ここにオーミック層37をプラズマ
CVDにて厚さ0.05μmに形成した。ここで、基板
温度は230℃、水素を150sccmと、水素で希釈
した10%シラン(SiH4:10%、H2:90%)を
流量300sccm、水素希釈1000ppmのPH3
を流量90sccmで反応室内に供給し、圧力1tor
r、負荷電力60W、堆積速度0.6Å/secにて成
膜を行った。次いでソース電極38とドレイン電極39
を金属アルミニウム膜にて厚さ0.8μmにスパッタリ
ングにて成膜し、ウエットエッチングにてパターン形成
した。
Subsequently, a photoresist is used as a pattern corrosion-resistant film, and reactive ion etching is similarly performed in the passivation layer 36 in CF 4 gas to form two rectangular through holes. It was formed to a thickness of 0.05 μm by CVD. Here, the substrate temperature is 230 ° C., hydrogen is 150 sccm, 10% silane diluted with hydrogen (SiH4: 10%, H2: 90%) is 300 sccm in flow rate, and hydrogen diluted 1000 ppm PH3.
Is supplied into the reaction chamber at a flow rate of 90 sccm, and the pressure is 1 torr.
The film was formed at a load power of 60 W and a deposition rate of 0.6 ° / sec. Next, the source electrode 38 and the drain electrode 39
Was formed with a metal aluminum film to a thickness of 0.8 μm by sputtering, and a pattern was formed by wet etching.

【0016】このあと、全面にポリイミドの配向膜を塗
布し、ラビング工程を経て、対向電極板と対向させて位
置合わせをしながら貼り合わせ、液晶を両電極板の間に
注入し、密封して液晶表示装置とした。得られた液晶表
示装置は、欠陥画素や色ムラなどは発生せず高品位な画
面が得られた。
Thereafter, an alignment film of polyimide is applied to the entire surface, and a rubbing process is performed. The polyimide film is bonded to the counter electrode plate while being aligned, and liquid crystal is injected between the two electrode plates and sealed to form a liquid crystal display. The device. In the obtained liquid crystal display device, a high-quality screen was obtained without occurrence of defective pixels or color unevenness.

【0017】<実施例2>TFT方式液晶表示装置のT
FT形成側電極板の製造プロセスの別の一例を、以下に
図4に沿って説明する。ガラス基板11上に複数色パタ
ーン形成した、ポリイミドを樹脂成分とする顔料分散カ
ラーフィルタ20の上に、ポリイミド系樹脂のオーバー
コート層41を形成し、この上にクロムのゲート電極3
3と、IPS(In-Plane Switching:平面スイッチン
グ)方式の対向電極32aをパターン形成した。
<Embodiment 2> T of a TFT type liquid crystal display device
Another example of the manufacturing process of the FT formation side electrode plate will be described below with reference to FIG. A polyimide resin overcoat layer 41 is formed on a pigment-dispersed color filter 20 containing polyimide as a resin component and having a plurality of color patterns formed on a glass substrate 11, and a chromium gate electrode 3 is formed thereon.
3 and an opposite electrode 32a of the IPS (In-Plane Switching) type were patterned.

【0018】次いでゲート絶縁膜34をSiNxにてプ
ラズマCVDで厚さ0.5μmに形成した。ここでは、
基板温度は250℃、水素を170sccm、水素で希
釈した10%シラン(SiH4:10%、H2:90%)
を流量50sccm、同じく水素希釈のアンモニアを流
量34sccmで反応室内に供給し、圧力1torr、
負荷電力180W、堆積速度1Å/secにて成膜を行
った。この際、250℃という低温成膜を実現するた
め、マイクロ波(2.45GHz、400W)により形
成した水素ラジカル(H*)(水素20sccm)をS
iNxのプラズマCVD中に導入した。これは、図5に
示すように、発振器71からのマイクロ波を導波管72
に導き、この導波管72の途中から水素を供給すること
で水素ラジカルを生成し、これをCVDチャンバー73
内で主に基板11に向けて照射するものである。
Next, a gate insulating film 34 was formed with a thickness of 0.5 μm by plasma CVD using SiNx. here,
The substrate temperature is 250 ° C., hydrogen is 170 sccm, and 10% silane diluted with hydrogen (SiH4: 10%, H2: 90%)
Is supplied into the reaction chamber at a flow rate of 50 sccm, and ammonia diluted with hydrogen is also supplied at a flow rate of 34 sccm.
Film formation was performed at a load power of 180 W and a deposition rate of 1 ° / sec. At this time, in order to realize a film formation at a low temperature of 250 ° C., hydrogen radicals (H *) (hydrogen 20 sccm) formed by microwaves (2.45 GHz, 400 W) are converted to S
Introduced during plasma CVD of iNx. This is because, as shown in FIG.
, And hydrogen is supplied from the middle of the waveguide 72 to generate hydrogen radicals.
The irradiation is mainly performed toward the substrate 11.

【0019】続いてアモルファスシリコン(a−Si:
H)層35をプラズマCVDにて厚さ0.05μmに形
成した。ここでは、基板温度は250℃、水素で希釈し
た10%シラン(SiH4:10%、H2:90%)を流
量300sccmで反応室内に供給し、圧力1tor
r、負荷電力60W、堆積速度1Å/secにて成膜を
行った。続いてパシベーション層36をSiNxにて同
様にしてプラズマCVDで厚さ0.5μmに形成した。
この際にも、水素ラジカル(H*)(水素20scc
m)をSiNxのプラズマCVD中に導入した。その
後、フォトレジストをパターン耐蝕膜とする反応性イオ
ンエッチングをCF4ガス中にて行ってアモルファスシ
リコン層35、およびパシベーション層36を所望のパ
ターンとした。
Subsequently, amorphous silicon (a-Si:
H) The layer 35 was formed to a thickness of 0.05 μm by plasma CVD. Here, the substrate temperature is 250 ° C., 10% silane diluted with hydrogen (SiH4: 10%, H2: 90%) is supplied into the reaction chamber at a flow rate of 300 sccm, and the pressure is 1 torr.
The film was formed at a load power of 60 W and a deposition rate of 1 ° / sec. Subsequently, a passivation layer 36 was formed to a thickness of 0.5 μm by plasma CVD using SiNx in the same manner.
Also in this case, hydrogen radicals (H *) (hydrogen 20 scc)
m) was introduced during SiNx plasma CVD. Then, reactive ion etching using a photoresist as a pattern corrosion-resistant film was performed in CF4 gas to form the amorphous silicon layer 35 and the passivation layer 36 into desired patterns.

【0020】ここでは、TFTのゲート電極33と、ソ
ース電極38、ドレイン電極39が重なる部分の界面が
特性上重要であるため、上記のゲート絶縁膜34とアモ
ルファスシリコン(a−Si:H)層35は必ず連続形
成し、パシベーション層36も続いて連続形成すること
が望ましい。そののちパターニングする。
Here, since the interface of the portion where the gate electrode 33 of the TFT overlaps the source electrode 38 and the drain electrode 39 is important in characteristics, the gate insulating film 34 and the amorphous silicon (a-Si: H) layer It is preferable that the passivation layer 36 be formed continuously and the passivation layer 36 be formed continuously. After that, patterning is performed.

【0021】続いて、フォトレジストをパターン耐蝕膜
とし、パシベーション層36に、同様に反応性イオンエ
ッチングをCF4ガス中にて行って長方形のスルーホー
ルを2箇所形成し、ここにオーミック層37をプラズマ
CVDにて厚さ0.05μmに形成した。ここで、基板
温度は250℃、水素を150sccmと、水素で希釈
した10%シラン(SiH4:10%、H2:90%)を
流量300sccm、水素希釈1000ppmのPH3
を流量90sccmで反応室内に供給し、圧力1tor
r、負荷電力60W、堆積速度0.6Å/secにて成
膜を行った。その後、CF4ガスを用いた反応性イオン
エッチングにてオーミック層37をパターン化した。次
いでソース電極38とドレイン電極39を金属アルミニ
ウム膜にて厚さ0.8μmにスパッタリングにて成膜、
ウエットエッチングにてパターン成膜した。
Subsequently, a photoresist is used as a pattern corrosion-resistant film, and reactive ion etching is similarly performed in the CF 4 gas to form two rectangular through holes in the passivation layer 36. It was formed to a thickness of 0.05 μm by CVD. Here, the substrate temperature is 250 ° C., hydrogen is 150 sccm, 10% silane diluted with hydrogen (SiH4: 10%, H2: 90%) is 300 sccm, and PH3 diluted with hydrogen is 1000 ppm.
Is supplied into the reaction chamber at a flow rate of 90 sccm, and the pressure is 1 torr.
The film was formed at a load power of 60 W and a deposition rate of 0.6 ° / sec. Thereafter, the ohmic layer 37 was patterned by reactive ion etching using CF4 gas. Next, the source electrode 38 and the drain electrode 39 were formed by sputtering with a metal aluminum film to a thickness of 0.8 μm,
A pattern was formed by wet etching.

【0022】このあと、対向基板を貼り合わせ、液晶を
両基板の間に注入し、密封して液晶表示装置とした。得
られた液晶表示装置は、欠陥画素や色ムラなどは発生せ
ず、IPS方式の特徴である広視野角の高品位な画面が
得られた。
Thereafter, the opposing substrate was bonded, and liquid crystal was injected between the two substrates and sealed to obtain a liquid crystal display device. In the obtained liquid crystal display device, a defective pixel, color unevenness, and the like did not occur, and a high-quality screen having a wide viewing angle characteristic of the IPS system was obtained.

【0023】[0023]

【発明の効果】本発明の構成によれば、従来の構成での
既述の諸々の不具合、すなわち電圧損失や、欠陥画素の
発生、液晶の配向乱れによる表示ムラなどが生じない。
また従来、形状や精度の改善のために施していた工夫や
精度の維持管理等の手数が低減され、工程が簡素化され
るため、製造が比較的容易になる。
According to the structure of the present invention, the above-mentioned various problems in the conventional structure, such as the voltage loss, the occurrence of defective pixels, and the display unevenness due to the disorder of the alignment of the liquid crystal, do not occur.
In addition, the number of steps conventionally required for improving the shape and accuracy and the number of steps for maintaining and managing the accuracy are reduced, and the process is simplified, so that the manufacturing becomes relatively easy.

【0024】[0024]

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の液晶表示装置用電極板の一例を示す断
面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating an example of an electrode plate for a liquid crystal display device of the present invention.

【図2】従来の、透明画素電極上にカラーフィルタを設
ける構成の液晶表示装置用電極板を示す断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a conventional electrode plate for a liquid crystal display device in which a color filter is provided on a transparent pixel electrode.

【図3】従来の、カラーフィルタ上に透明画素電極を設
ける構成の液晶表示装置用電極板を示す断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a conventional electrode plate for a liquid crystal display device in which a transparent pixel electrode is provided on a color filter.

【図4】本発明の液晶表示装置用電極板の他の一実施例
を示す断面図である。
FIG. 4 is a sectional view showing another embodiment of the electrode plate for a liquid crystal display device of the present invention.

【図5】本発明に用いる水素ラジカル供給部を示す説明
図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing a hydrogen radical supply unit used in the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 ガラス基板 12 対向基板 20 カラーフィルタ 30 スイッチング素子 31 透明画素電極 32 対向電極 33 ゲート電極 34 ゲート絶縁膜 35 アモルファスシリコン層 36 パシベーション層 37 オーミック層 38 ソース電極 39 ドレイン電極 41 オーバーコート層 42 透明絶縁層 51 配向膜 61 液晶 71 発振器 72 導波管 73 CVDチャンバー DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Glass substrate 12 Counter substrate 20 Color filter 30 Switching element 31 Transparent pixel electrode 32 Counter electrode 33 Gate electrode 34 Gate insulating film 35 Amorphous silicon layer 36 Passivation layer 37 Ohmic layer 38 Source electrode 39 Drain electrode 41 Overcoat layer 42 Transparent insulating layer 51 Alignment film 61 Liquid crystal 71 Oscillator 72 Waveguide 73 CVD chamber

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G09F 9/30 348 G09F 9/30 348A 5F110 349 349B 9/35 9/35 H01L 29/786 H01L 29/78 626C Fターム(参考) 2H048 BA45 BA48 BB02 BB37 BB44 2H090 HB02 HB03X HB07X HD13 2H091 FA02Y FB02 FB06 FD04 GA03 GA13 GA16 LA12 LA15 2H092 JA24 JB57 JB58 MA07 MA17 NA11 NA27 NA29 PA08 5C094 AA03 AA43 BA03 BA43 CA19 CA24 DA14 DA15 DB04 EA04 EA07 EB02 ED03 5F110 AA16 AA18 BB01 CC07 DD02 DD12 EE04 FF03 FF30 GG02 GG25 GG45 HK03 HK09 HK33 HK35 NN02 NN12 NN24 NN27 NN35 NN72 QQ09 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) G09F 9/30 348 G09F 9/30 348A 5F110 349 349B 9/35 9/35 H01L 29/786 H01L 29/78 626C F-term (Reference) 2H048 BA45 BA48 BB02 BB37 BB44 2H090 HB02 HB03X HB07X HD13 2H091 FA02Y FB02 FB06 FD04 GA03 GA13 GA16 LA12 LA15 2H092 JA24 JB57 JB58 MA07 MA17 NA11 NA27 NA29 PA03 A04 BA03 A03 BA03 A04 ED03 5F110 AA16 AA18 BB01 CC07 DD02 DD12 EE04 FF03 FF30 GG02 GG25 GG45 HK03 HK09 HK33 HK35 NN02 NN12 NN24 NN27 NN35 NN72 QQ09

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】基板上に耐熱性のアクリレート樹脂または
ポリイミドの着色パターン層を設け、その上に透明被覆
層を介して、スイッチング素子と画素駆動用透明電極と
を形成した電極板を用いたことを特徴とする液晶表示装
置。
1. An electrode plate having a heat-resistant acrylate resin or polyimide colored pattern layer provided on a substrate, and a switching element and a transparent electrode for driving pixels formed thereon with a transparent coating layer interposed therebetween. A liquid crystal display device characterized by the above-mentioned.
【請求項2】透明被覆層が、カラーフィルタに用いられ
る樹脂と同様の耐熱性樹脂、二酸化ケイ素、五酸化タン
タル、もしくは窒化ケイ素から選択される少なくとも一
種からなる単層または複層であることを特徴とする請求
項1記載の液晶表示装置。
2. The method according to claim 1, wherein the transparent coating layer is a single layer or a multiple layer made of at least one selected from the same heat-resistant resin as the resin used for the color filter, silicon dioxide, tantalum pentoxide, or silicon nitride. 2. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein:
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