JP2002206989A - 再帰反射性能測定装置 - Google Patents
再帰反射性能測定装置Info
- Publication number
- JP2002206989A JP2002206989A JP2001002672A JP2001002672A JP2002206989A JP 2002206989 A JP2002206989 A JP 2002206989A JP 2001002672 A JP2001002672 A JP 2001002672A JP 2001002672 A JP2001002672 A JP 2001002672A JP 2002206989 A JP2002206989 A JP 2002206989A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light source
- receiving element
- retroreflective
- optical system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 サンプルを切り出すことなく、省スペースで
再帰性反射素材の反射性能を測定できる再帰性反射性能
測定装置を提供すること。 【解決手段】 光源１１と、光源１１から照射される光
を再帰性反射材１３に向けて反射する反射部材１２と、
反射部材１２と再帰性反射材１３との間に配置される集
光光学系１４とを組み合わせる。反射部材１２や集光光
学系１４で光の進路を変化させることで、再帰性反射性
能測定装置を、従来の測定装置よりコンパクトなものに
することができる。しかも、被測定物から切り取ったサ
ンプル片を装置に取り付けるといった作業が不要とされ
る。
再帰性反射素材の反射性能を測定できる再帰性反射性能
測定装置を提供すること。 【解決手段】 光源１１と、光源１１から照射される光
を再帰性反射材１３に向けて反射する反射部材１２と、
反射部材１２と再帰性反射材１３との間に配置される集
光光学系１４とを組み合わせる。反射部材１２や集光光
学系１４で光の進路を変化させることで、再帰性反射性
能測定装置を、従来の測定装置よりコンパクトなものに
することができる。しかも、被測定物から切り取ったサ
ンプル片を装置に取り付けるといった作業が不要とされ
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】再帰性反射材の反射性能を評
価する再帰反射性能測定装置に関する。
価する再帰反射性能測定装置に関する。
【０００２】
【背景技術】再帰性反射材は、光源から照射される光を
光源に向けて反射する性質を有するものであり、夜間の
標識や安全チョッキなどに用いられている。そのため、
再帰性反射材は、その用途の性質上、十分な反射性能を
有していなければならず、その反射性能は従来より種々
の方法で管理されている。再帰性反射材の反射性能の評
価方法として、従来では、JISZ8714-1995「再帰反射体
−光学特性−測定方法」及びJISZ9117-1984「保安用反
射シート及びテープ」に定められている。
光源に向けて反射する性質を有するものであり、夜間の
標識や安全チョッキなどに用いられている。そのため、
再帰性反射材は、その用途の性質上、十分な反射性能を
有していなければならず、その反射性能は従来より種々
の方法で管理されている。再帰性反射材の反射性能の評
価方法として、従来では、JISZ8714-1995「再帰反射体
−光学特性−測定方法」及びJISZ9117-1984「保安用反
射シート及びテープ」に定められている。
【０００３】通常、再帰性反射体の再帰反射性能は、主
として、夜間、自動車の前照灯によって再帰性反射体を
照射したとき、その反射光を受ける運転者が感じる明る
さに対応する測光量を得ようとするものである。したが
って、再帰反射性能の測定の分光条件は、標準の光の相
対分光分布と標準分光視感効率との組み合わせとし、照
射及び観測の幾何条件は、前照灯及び再帰性反射体と観
測者との相対的一関係によって規定する。
として、夜間、自動車の前照灯によって再帰性反射体を
照射したとき、その反射光を受ける運転者が感じる明る
さに対応する測光量を得ようとするものである。したが
って、再帰反射性能の測定の分光条件は、標準の光の相
対分光分布と標準分光視感効率との組み合わせとし、照
射及び観測の幾何条件は、前照灯及び再帰性反射体と観
測者との相対的一関係によって規定する。
【０００４】従来の技術の概略的構成が図６に示されて
いる。図６において、再帰反射性能測定装置１００は、
測定すべきサンプル片１０１を配置し、光源１０２から
サンプル片に光を照射して反射した光を集光器センサで
受光し、受光した光を基に測定値を得るようになってい
る。これらの測定は暗室の中で行われる。また、JISZ87
14-1995で示される従来例として、簡易測定方法があ
る。この簡易測定方法は、再帰反射係数を値付けした再
帰反射校正用照合片がある場合は、サンプルとこの再帰
反射校正用照合片と比較してサンプルの再帰性反射係数
を求めるものである。
いる。図６において、再帰反射性能測定装置１００は、
測定すべきサンプル片１０１を配置し、光源１０２から
サンプル片に光を照射して反射した光を集光器センサで
受光し、受光した光を基に測定値を得るようになってい
る。これらの測定は暗室の中で行われる。また、JISZ87
14-1995で示される従来例として、簡易測定方法があ
る。この簡易測定方法は、再帰反射係数を値付けした再
帰反射校正用照合片がある場合は、サンプルとこの再帰
反射校正用照合片と比較してサンプルの再帰性反射係数
を求めるものである。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来例
では、光源１０２からサンプル片に光を照射して反射し
た光を集光器センサで受光するために、メートル単位の
十分な広さのスペース（暗室空間）が必要であった。例
えば、JISZ9117-1984では、暗室のスペースが１０ｍ以
上と規定されている。このため従来例では、暗室を設け
る比較的大きなスペースが必要とされ、これに伴ってコ
スト高となるという問題点がある。また、簡易測定方法
では、再帰性反射素材の反射性能を、サンプルを切り出
して測定器に入れなければならないためにその準備に時
間がかかり測定効率が低いという問題点がある。
では、光源１０２からサンプル片に光を照射して反射し
た光を集光器センサで受光するために、メートル単位の
十分な広さのスペース（暗室空間）が必要であった。例
えば、JISZ9117-1984では、暗室のスペースが１０ｍ以
上と規定されている。このため従来例では、暗室を設け
る比較的大きなスペースが必要とされ、これに伴ってコ
スト高となるという問題点がある。また、簡易測定方法
では、再帰性反射素材の反射性能を、サンプルを切り出
して測定器に入れなければならないためにその準備に時
間がかかり測定効率が低いという問題点がある。
【０００６】本発明の目的は、サンプルを切り出すこと
なく、省スペースで再帰性反射素材の反射性能を測定で
きる再帰性反射性能測定装置を提供することである。
なく、省スペースで再帰性反射素材の反射性能を測定で
きる再帰性反射性能測定装置を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】そのため、本発明は、光
源からの光を反射部材で曲折させるとともに、反射部材
と再帰性反射材との間に配置される集光光学系で光を屈
折させて前記目的を達成しようとするものである。具体
的には、本発明の再帰性反射性能測定装置は、光源と、
この光源から照射される光を測定すべき再帰性反射材に
反射する反射部材と、この反射部材と前記再帰性反射材
との間の光路中に配置された集光光学系と、前記再帰性
反射材から反射された光を受ける受光素子と、この受光
素子からの出力を表示する出力表示器と、を備えたこと
を特徴とする。
源からの光を反射部材で曲折させるとともに、反射部材
と再帰性反射材との間に配置される集光光学系で光を屈
折させて前記目的を達成しようとするものである。具体
的には、本発明の再帰性反射性能測定装置は、光源と、
この光源から照射される光を測定すべき再帰性反射材に
反射する反射部材と、この反射部材と前記再帰性反射材
との間の光路中に配置された集光光学系と、前記再帰性
反射材から反射された光を受ける受光素子と、この受光
素子からの出力を表示する出力表示器と、を備えたこと
を特徴とする。
【０００８】この発明では、光源から照射される光は反
射部材で反射された後、集光光学系を通過して再帰性反
射材に送られる。この再帰性反射材で反射された光は、
再び、集光光学系を通過して受光素子で受光され、この
受光素子から出力を出力表示器で表示される。そのた
め、反射部材や集光光学系で光の進路を変化させること
で、従来の測定装置よりコンパクトな再帰性反射性能測
定装置を得ることができる。
射部材で反射された後、集光光学系を通過して再帰性反
射材に送られる。この再帰性反射材で反射された光は、
再び、集光光学系を通過して受光素子で受光され、この
受光素子から出力を出力表示器で表示される。そのた
め、反射部材や集光光学系で光の進路を変化させること
で、従来の測定装置よりコンパクトな再帰性反射性能測
定装置を得ることができる。
【０００９】ここで、本発明では、前記反射部材がハー
フミラー又はビームスプリッタであることが好ましい。
この構成の本発明では、ハーフミラーやビームスプリッ
タを使用することで、光源と受光素子とでつくられる観
測角を見かけ上、小さなものとすることができる。例え
ば、観測角を見かけ上０．２度以下とすることができ
る。観測角は、光源と受光素子の配置のずれであり、０
度から０．２度に設定することでJISに定める観測角に
合致する観測角を得ることができる。
フミラー又はビームスプリッタであることが好ましい。
この構成の本発明では、ハーフミラーやビームスプリッ
タを使用することで、光源と受光素子とでつくられる観
測角を見かけ上、小さなものとすることができる。例え
ば、観測角を見かけ上０．２度以下とすることができ
る。観測角は、光源と受光素子の配置のずれであり、０
度から０．２度に設定することでJISに定める観測角に
合致する観測角を得ることができる。
【００１０】さらに、前記光源及び前記受光素子は前記
集光光学系の焦点距離となる位置に配置されている構成
が好ましい。この構成の本発明では、光源及び受光素子
を集光光学系の焦点距離に配置したので、発射光は、近
似的平行光となる。このため測定光の当たる領域は、測
定装置と、被測定物の距離の影響をほとんど受けなくな
る。
集光光学系の焦点距離となる位置に配置されている構成
が好ましい。この構成の本発明では、光源及び受光素子
を集光光学系の焦点距離に配置したので、発射光は、近
似的平行光となる。このため測定光の当たる領域は、測
定装置と、被測定物の距離の影響をほとんど受けなくな
る。
【００１１】また、再帰反射した光は再び集光光学系に
よって集光され、受光素子に到達する。受光素子をレン
ズの焦点距離に配置することで、再帰反射を起こした領
域以外の光は、受光素子には届かない。したがって、暗
室環境が不要になり、設備を簡略化することができる。
よって集光され、受光素子に到達する。受光素子をレン
ズの焦点距離に配置することで、再帰反射を起こした領
域以外の光は、受光素子には届かない。したがって、暗
室環境が不要になり、設備を簡略化することができる。
【００１２】さらに本発明では、集光光学系の焦点距離
が５００ｍｍ以下であることが好ましい。装置本体の大
きさは、集光光学系の焦点距離に依存するが、この構成
の本発明では、焦点距離が前記長さ以内であるため、装
置の小型化を実現することができる。
が５００ｍｍ以下であることが好ましい。装置本体の大
きさは、集光光学系の焦点距離に依存するが、この構成
の本発明では、焦点距離が前記長さ以内であるため、装
置の小型化を実現することができる。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施形態を図面
に基づいて説明する。図１には本発明の一実施形態が示
されている。図１を参照すると、本実施形態の再帰反射
性能測定装置１０は、再帰性反射材１３の反射性能を測
定するもので、装置本体１０Ａと、計測装置１０Ｂと、
電源装置１０Ｃとを備えて構成されている。装置本体１
０Ａは、発光ダイオードからなる光源１１と、光源１１
から照射される光を再帰性反射材１３に反射する反射部
材としてのハーフミラー１２と、光源１１とハーフミラ
ー１２との間に配置された集光光学系としての凸レンズ
１４と、再帰性反射材１３から反射された光を受ける受
光素子１５と、これらの部材を収納する収納部Ｂとを備
えて構成されている。
に基づいて説明する。図１には本発明の一実施形態が示
されている。図１を参照すると、本実施形態の再帰反射
性能測定装置１０は、再帰性反射材１３の反射性能を測
定するもので、装置本体１０Ａと、計測装置１０Ｂと、
電源装置１０Ｃとを備えて構成されている。装置本体１
０Ａは、発光ダイオードからなる光源１１と、光源１１
から照射される光を再帰性反射材１３に反射する反射部
材としてのハーフミラー１２と、光源１１とハーフミラ
ー１２との間に配置された集光光学系としての凸レンズ
１４と、再帰性反射材１３から反射された光を受ける受
光素子１５と、これらの部材を収納する収納部Ｂとを備
えて構成されている。
【００１４】収納部Ｂの凸レンズ１４の前方には開口Ｐ
が設けられており、この開口Ｐの面積を調整するように
図示しない絞りが設けられている。受光素子１５は、そ
の出力信号を受け、その出力信号を計測装置１０Ｂに送
る。本実施形態では、受光素子１５は、例えば、Ｃd素
子、フォトダイオードが用いられる。計測装置１０Ｂ
は、受光素子１５のゲインを調整するゲイン調整回路１
６と、このゲイン調整回路１６の出力を表示する出力表
示器としての電圧計１７とを備え、受光素子１５で受光
した光の受光量からJIS等で規定される一般的な計算式
に基づいて再帰反射性能を測定する。電源装置１０Ｃ
は、光源１１に一定の電流を供給する定電流回路２０
と、この定電流回路２０に直流電流を供給する直流電源
２１とを備えている。
が設けられており、この開口Ｐの面積を調整するように
図示しない絞りが設けられている。受光素子１５は、そ
の出力信号を受け、その出力信号を計測装置１０Ｂに送
る。本実施形態では、受光素子１５は、例えば、Ｃd素
子、フォトダイオードが用いられる。計測装置１０Ｂ
は、受光素子１５のゲインを調整するゲイン調整回路１
６と、このゲイン調整回路１６の出力を表示する出力表
示器としての電圧計１７とを備え、受光素子１５で受光
した光の受光量からJIS等で規定される一般的な計算式
に基づいて再帰反射性能を測定する。電源装置１０Ｃ
は、光源１１に一定の電流を供給する定電流回路２０
と、この定電流回路２０に直流電流を供給する直流電源
２１とを備えている。
【００１５】光源１１及び受光素子１５は凸レンズ１４
の焦点距離Ｆ上に配置されている。図２において、受光
素子１５と凸レンズ１４との間の距離f1は、凸レンズ１
４の焦点距離Ｆと同じである。光源１１とハーフミラー
１２との間の距離f2と、ハーフミラー１２と凸レンズ１
４との間の距離f3との合計値（f2＋f3）は焦点距離Ｆと
同じである。
の焦点距離Ｆ上に配置されている。図２において、受光
素子１５と凸レンズ１４との間の距離f1は、凸レンズ１
４の焦点距離Ｆと同じである。光源１１とハーフミラー
１２との間の距離f2と、ハーフミラー１２と凸レンズ１
４との間の距離f3との合計値（f2＋f3）は焦点距離Ｆと
同じである。
【００１６】光源１１を凸レンズ１４の焦点位置に配置
することで、光源１１からの発射光は凸レンズ１４と再
帰性反射材１３との間では近似的平行光となる。このた
め測定光の当たる領域は、レンズ焦点距離Ｆの約２０倍
以下において、測定装置と被測定物の距離の影響をほと
んど受けなくなる。また、再帰反射した光は再びレンズ
によって集光され、受光素子１５に到達する。受光素子
１５をレンズの焦点位置に配置することで、再帰反射を
起こした領域以外の光は、受光素子１５には届かない。
このため従来必要であった暗室環境は不要となる。
することで、光源１１からの発射光は凸レンズ１４と再
帰性反射材１３との間では近似的平行光となる。このた
め測定光の当たる領域は、レンズ焦点距離Ｆの約２０倍
以下において、測定装置と被測定物の距離の影響をほと
んど受けなくなる。また、再帰反射した光は再びレンズ
によって集光され、受光素子１５に到達する。受光素子
１５をレンズの焦点位置に配置することで、再帰反射を
起こした領域以外の光は、受光素子１５には届かない。
このため従来必要であった暗室環境は不要となる。
【００１７】凸レンズ１４の焦点距離Ｆは５００ｍｍ以
下であることが好ましい。装置本体１０Ａの大きさは、
凸レンズ１４の焦点距離に依存する。焦点距離が長すぎ
ると装置の大きさが大きくなる。焦点距離が短すぎる
と、部品配置精度が厳格になり、コスト高となる。ま
た、光源１１と受光素子１５自体に有限の面積があるた
めに、見かけの観測角が大きくなるという問題が生じ
る。したがって、実用的な焦点距離は、５０ないし１５
０ｍｍである。
下であることが好ましい。装置本体１０Ａの大きさは、
凸レンズ１４の焦点距離に依存する。焦点距離が長すぎ
ると装置の大きさが大きくなる。焦点距離が短すぎる
と、部品配置精度が厳格になり、コスト高となる。ま
た、光源１１と受光素子１５自体に有限の面積があるた
めに、見かけの観測角が大きくなるという問題が生じ
る。したがって、実用的な焦点距離は、５０ないし１５
０ｍｍである。
【００１８】観測角αは、光源１１と、受光素子１５と
の配置のずれである。つまり、凸レンズ１４の光軸Ｃ
と、ハーフミラー１２から凸レンズ１４に向かう光源１
１の照射光の光軸Ｑとの間の角度αが観測角である。こ
の観測角αは０度ないし０．２度に設定することでJIS
に定める０．２度の観測角と合致した観測角が得られ
る。
の配置のずれである。つまり、凸レンズ１４の光軸Ｃ
と、ハーフミラー１２から凸レンズ１４に向かう光源１
１の照射光の光軸Ｑとの間の角度αが観測角である。こ
の観測角αは０度ないし０．２度に設定することでJIS
に定める０．２度の観測角と合致した観測角が得られ
る。
【００１９】したがって、本実施形態によれば、次の作
用効果がある。光源１１と、光源１１から照射される光
を再帰性反射材１３に向けて反射する反射部材１２と、
反射部材１２と再帰性反射材１３との間に配置される凸
レンズ１４とを組み合わせて装置本体１０Ａを構成した
から、反射部材１２や凸レンズ１４で光の進路を変化さ
せることで、再帰性反射性能測定装置を、従来の測定装
置よりコンパクトなものにすることができる。しかも、
被測定物から切り取ったサンプル片を装置に取り付ける
といった従来の作業が不要とされ、被測定物をそのまま
再帰反射性能測定装置の前方に配置すればよいので、測
定作業が容易に効率的になる。
用効果がある。光源１１と、光源１１から照射される光
を再帰性反射材１３に向けて反射する反射部材１２と、
反射部材１２と再帰性反射材１３との間に配置される凸
レンズ１４とを組み合わせて装置本体１０Ａを構成した
から、反射部材１２や凸レンズ１４で光の進路を変化さ
せることで、再帰性反射性能測定装置を、従来の測定装
置よりコンパクトなものにすることができる。しかも、
被測定物から切り取ったサンプル片を装置に取り付ける
といった従来の作業が不要とされ、被測定物をそのまま
再帰反射性能測定装置の前方に配置すればよいので、測
定作業が容易に効率的になる。
【００２０】さらに、反射部材１２をハーフミラーにし
たので、光源１１と受光素子１５とでつくられる観測角
αに関してJISに定める観測角を得ることができる。ま
た、光源１１及び受光素子１５を凸レンズ１４の焦点距
離に配置したので、発射光は、近似的平行光となる。こ
のため測定光の当たる領域は、測定装置１０と、被測定
物である再帰性反射材１３の距離の影響をほとんど受け
なくなる。再帰反射を起こした領域以外の光は、受光素
子１５には届かないので、暗室環境が不要になり、装置
を小型化することができる。
たので、光源１１と受光素子１５とでつくられる観測角
αに関してJISに定める観測角を得ることができる。ま
た、光源１１及び受光素子１５を凸レンズ１４の焦点距
離に配置したので、発射光は、近似的平行光となる。こ
のため測定光の当たる領域は、測定装置１０と、被測定
物である再帰性反射材１３の距離の影響をほとんど受け
なくなる。再帰反射を起こした領域以外の光は、受光素
子１５には届かないので、暗室環境が不要になり、装置
を小型化することができる。
【００２１】さらに、凸レンズ１４の焦点距離が５００
ｍｍ以下であり５０ｍｍ以上としたので、次の効果を達
成できる。つまり、焦点距離を５００ｍｍとしたから、
装置を小型化することができる。焦点距離を５０ｍｍ以
上としたので、部品精度もそれほど厳格なものでなくて
もよく、コストを低く抑えることができ、容易に実施可
能な再帰反射性能測定装置を提供することができる。ま
た、光源１１を発光ダイオードとしたから、装置本体を
小型化すること、及び出力を安定させ、温度上昇を防ぐ
という効果を達成することができる。
ｍｍ以下であり５０ｍｍ以上としたので、次の効果を達
成できる。つまり、焦点距離を５００ｍｍとしたから、
装置を小型化することができる。焦点距離を５０ｍｍ以
上としたので、部品精度もそれほど厳格なものでなくて
もよく、コストを低く抑えることができ、容易に実施可
能な再帰反射性能測定装置を提供することができる。ま
た、光源１１を発光ダイオードとしたから、装置本体を
小型化すること、及び出力を安定させ、温度上昇を防ぐ
という効果を達成することができる。
【００２２】次に、本実施形態の測定結果を確認するた
めの実験例を説明する。凸レンズ１４は、直径２３ｍ
ｍ、有効径２０ｍｍ、焦点距離１０５ｍｍの凸レンズを
使用した。光源１１は、白色ＬＥＤ（日亜化学株式会社
製のＮＰＳＷ５００ＢＳ）を使用した。受光素子１５は
フォトダイオード（シャープ株式会社製ＢＳ５２０）を
使用した。収納部Ｂの寸法は４０ｍｍ×７０ｍｍ×１２
０ｍｍである。このような構造の装置を用いた測定と、
JISZ9117（日本車輌検査協会）による測定との双方を複
数の再帰性反射材１３で行った。その結果を表１に示
す。
めの実験例を説明する。凸レンズ１４は、直径２３ｍ
ｍ、有効径２０ｍｍ、焦点距離１０５ｍｍの凸レンズを
使用した。光源１１は、白色ＬＥＤ（日亜化学株式会社
製のＮＰＳＷ５００ＢＳ）を使用した。受光素子１５は
フォトダイオード（シャープ株式会社製ＢＳ５２０）を
使用した。収納部Ｂの寸法は４０ｍｍ×７０ｍｍ×１２
０ｍｍである。このような構造の装置を用いた測定と、
JISZ9117（日本車輌検査協会）による測定との双方を複
数の再帰性反射材１３で行った。その結果を表１に示
す。
【００２３】
【表１】
【００２４】この表１において、本実施形態で測定され
た電圧値（mv)は、M8,M6,M4,M2,M0において、それぞ
れ、43,59,109250,670mvである。ここで、MBは電圧補正
値であり、この電圧補正値22mvを各測定電圧から引いた
値が補正電圧となる。そのため、補正電圧は、それぞ
れ、21,37,87,228,648mvである。同様に、M8,M6,M4,M2,
M0に関してJISZ9117（日本車輌検査協会）による測定を
行った。その測定値は、M8,M6,M4,M2,M0において、それ
ぞれ、16,44,118,348,997［lx/cd/m2］ となっている。
補正電圧とJISZ9117（日本車輌検査協会による）の測定
結果とを対比したグラフを図３に示す。図３において、
これらの値が相関関係（直線関係）にあり、本実施形態
の実験結果が通常行われている測定方法の結果と一致し
ていることがわかる。つまり、相関係数をＲ（１００％
一致する時に1.00で示す）とすると、本実験例では、Ｒ
の二乗が0.999であり、相関関係が強いことがわかる。
た電圧値（mv)は、M8,M6,M4,M2,M0において、それぞ
れ、43,59,109250,670mvである。ここで、MBは電圧補正
値であり、この電圧補正値22mvを各測定電圧から引いた
値が補正電圧となる。そのため、補正電圧は、それぞ
れ、21,37,87,228,648mvである。同様に、M8,M6,M4,M2,
M0に関してJISZ9117（日本車輌検査協会）による測定を
行った。その測定値は、M8,M6,M4,M2,M0において、それ
ぞれ、16,44,118,348,997［lx/cd/m2］ となっている。
補正電圧とJISZ9117（日本車輌検査協会による）の測定
結果とを対比したグラフを図３に示す。図３において、
これらの値が相関関係（直線関係）にあり、本実施形態
の実験結果が通常行われている測定方法の結果と一致し
ていることがわかる。つまり、相関係数をＲ（１００％
一致する時に1.00で示す）とすると、本実験例では、Ｒ
の二乗が0.999であり、相関関係が強いことがわかる。
【００２５】なお、本発明は前述の実施の形態に限定さ
れるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での
変形、改良等は本発明に含まれるものである。例えば、
前記実施形態では、集光光学系を凸レンズ１４とした
が、本発明では、図４に示される通り、集光光学系を凹
面鏡１４０としてもよい。この場合、光源１１と凹面鏡
１４０との間にハーフミラー１２を配置しておき、光源
１１から凹面鏡１４０に向けて光を照射し、凹面鏡１４
０で反射した光を再帰性反射材１３で反射させた後、再
度、凹面鏡１４０で反射させ、ハーフミラー１２を介し
て受光素子１５で受光させる。
れるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での
変形、改良等は本発明に含まれるものである。例えば、
前記実施形態では、集光光学系を凸レンズ１４とした
が、本発明では、図４に示される通り、集光光学系を凹
面鏡１４０としてもよい。この場合、光源１１と凹面鏡
１４０との間にハーフミラー１２を配置しておき、光源
１１から凹面鏡１４０に向けて光を照射し、凹面鏡１４
０で反射した光を再帰性反射材１３で反射させた後、再
度、凹面鏡１４０で反射させ、ハーフミラー１２を介し
て受光素子１５で受光させる。
【００２６】さらに、本発明では、図５に示される通
り、光源１１と受光素子１５との位置を交換、つまり、
凸レンズ１４の光軸上に光源１１を配置し、この光軸と
直交する位置に受光素子１５を配置してもよく、ハーフ
ミラー１２に代えてビームスプリッタ１２０を反射部材
として用いてもよい。このビームスプリッタ１２０は、
複数のプリズム１２１，１２２を組み合わせることで構
成される。また、前記実施形態では、光源１１は発光ダ
イオードを使用するものとして説明したが、白熱ランプ
（ハロゲンランプ）、ナトリウムランプ、またはそれら
を光ファイバーなどで導いたものを使用可能である。
り、光源１１と受光素子１５との位置を交換、つまり、
凸レンズ１４の光軸上に光源１１を配置し、この光軸と
直交する位置に受光素子１５を配置してもよく、ハーフ
ミラー１２に代えてビームスプリッタ１２０を反射部材
として用いてもよい。このビームスプリッタ１２０は、
複数のプリズム１２１，１２２を組み合わせることで構
成される。また、前記実施形態では、光源１１は発光ダ
イオードを使用するものとして説明したが、白熱ランプ
（ハロゲンランプ）、ナトリウムランプ、またはそれら
を光ファイバーなどで導いたものを使用可能である。
【００２７】また、受光素子１５は、Ｃd素子、フォト
ダイオードが用いられるとして説明したが、フォトトラ
ンジスタ等も使用可能である。さらに、使用する光の波
長は任意の波長の光を使用することができるが、取り扱
いの容易性、体感輝度との関係から、可視光域が望まし
い。光源１１及び受光素子１５は、使用する光の波長に
対応したものを選択する。
ダイオードが用いられるとして説明したが、フォトトラ
ンジスタ等も使用可能である。さらに、使用する光の波
長は任意の波長の光を使用することができるが、取り扱
いの容易性、体感輝度との関係から、可視光域が望まし
い。光源１１及び受光素子１５は、使用する光の波長に
対応したものを選択する。
【００２８】
【発明の効果】以上、本発明によれば、光源と、この光
源から照射される光を測定すべき再帰性反射材に反射す
る反射部材と、この反射部材と前記再帰性反射材との間
の光路中に配置された集光光学系と、前記再帰性反射材
から反射された光を受ける受光素子と、この受光素子か
らの出力を表示する出力表示器と、を備えたから、反射
部材や集光光学系で光の進路を変化させることで、従来
の測定装置よりコンパクトな再帰性反射性能測定装置を
得ることができる。
源から照射される光を測定すべき再帰性反射材に反射す
る反射部材と、この反射部材と前記再帰性反射材との間
の光路中に配置された集光光学系と、前記再帰性反射材
から反射された光を受ける受光素子と、この受光素子か
らの出力を表示する出力表示器と、を備えたから、反射
部材や集光光学系で光の進路を変化させることで、従来
の測定装置よりコンパクトな再帰性反射性能測定装置を
得ることができる。
【図１】本発明の一実施形態に係る再帰反射性能測定装
置の全体構成図である。
置の全体構成図である。
【図２】前記実施形態の要部を示す構成図である。
【図３】前記実施形態に係る再帰反射性能測定装置によ
って測定された値と従来の測定装置で求められた値との
関係を示したグラフである。
って測定された値と従来の測定装置で求められた値との
関係を示したグラフである。
【図４】本発明の変形例に係る再帰反射性能測定装置の
全体構成図である。
全体構成図である。
【図５】本発明の異なる変形例に係る再帰反射性能測定
装置の全体構成図である。
装置の全体構成図である。
【図６】従来技術の再帰反射性能測定装置の概略構成図
である。
である。
１０ 再帰反射性能測定装置 １０Ａ 装置本体 １０Ｂ 計測装置 １０Ｃ 電源装置 １１ 光源 １２ ハーフミラー（反射部材） １３ 再帰性反射材 １４ 凸レンズ（集光光学系） １５ 受光素子 １６ ゲイン調整回路 １７ 電圧計（出力表示器） ２０ 定電圧回路 ２１ 直流電源 １２０ ビームスプリッタ（反射部材） １４０ 凹面鏡（集光光学系）
Claims (4)
- 【請求項１】 光源と、この光源から照射される光を測
定すべき再帰性反射材に反射する反射部材と、この反射
部材と前記再帰性反射材との間の光路中に配置された集
光光学系と、前記再帰性反射材から反射された光を受け
る受光素子と、この受光素子からの出力を表示する出力
表示器と、を備えたことを特徴とする再帰反射性能測定
装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載の再帰反射性能測定装置
において、 前記反射部材は、ハーフミラー又はビームスプリッタで
あることを特徴とする再帰反射性能測定装置。 - 【請求項３】 請求項１又は２に記載の再帰反射性能測
定装置において、 前記光源及び前記受光素子は前記集光光学系の焦点距離
となる位置に配置されていることを特徴とする再帰反射
性能測定装置。 - 【請求項４】 請求項３に記載の再帰反射性能測定装置
において、 前記集光光学系の焦点距離は５００ｍｍ以下であること
を特徴とする再帰反射性能測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001002672A JP2002206989A (ja) | 2001-01-10 | 2001-01-10 | 再帰反射性能測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001002672A JP2002206989A (ja) | 2001-01-10 | 2001-01-10 | 再帰反射性能測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002206989A true JP2002206989A (ja) | 2002-07-26 |
Family
ID=18871141
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001002672A Withdrawn JP2002206989A (ja) | 2001-01-10 | 2001-01-10 | 再帰反射性能測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002206989A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104748945A (zh) * | 2015-03-27 | 2015-07-01 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 角反射器或角反射器阵列光轴指向一致性检测系统及方法 |
| JP2017504017A (ja) * | 2013-12-27 | 2017-02-02 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 計測機器、システム、及びプログラム |
| JP2018519523A (ja) * | 2015-07-01 | 2018-07-19 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 測定デバイス、システム、方法、及びプログラム |
| CN108534995A (zh) * | 2018-05-25 | 2018-09-14 | 北京中交工程仪器研究所 | 一种逆反射材料测量装置 |
| CN112557348A (zh) * | 2021-01-04 | 2021-03-26 | 中交国通公路工程技术有限公司 | 一种便于使用的逆反射系数测试仪 |
-
2001
- 2001-01-10 JP JP2001002672A patent/JP2002206989A/ja not_active Withdrawn
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017504017A (ja) * | 2013-12-27 | 2017-02-02 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 計測機器、システム、及びプログラム |
| CN104748945A (zh) * | 2015-03-27 | 2015-07-01 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 角反射器或角反射器阵列光轴指向一致性检测系统及方法 |
| JP2018519523A (ja) * | 2015-07-01 | 2018-07-19 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 測定デバイス、システム、方法、及びプログラム |
| US10571250B2 (en) | 2015-07-01 | 2020-02-25 | 3M Innovative Properties Company | Measuring device, system, method, and program |
| US11060848B2 (en) | 2015-07-01 | 2021-07-13 | 3M Innovative Properties Company | Measuring device, system, method, and program |
| CN108534995A (zh) * | 2018-05-25 | 2018-09-14 | 北京中交工程仪器研究所 | 一种逆反射材料测量装置 |
| CN112557348A (zh) * | 2021-01-04 | 2021-03-26 | 中交国通公路工程技术有限公司 | 一种便于使用的逆反射系数测试仪 |
| CN112557348B (zh) * | 2021-01-04 | 2023-12-19 | 中交国通公路工程技术有限公司 | 一种便于使用的逆反射系数测试仪 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4494881A (en) | Intra-optical light beam sighting system for an infrared thermometer | |
| TW200533884A (en) | Telescopic sight with laser rangefinder | |
| KR101658673B1 (ko) | 전체 광속을 측정하기 위한 전체 광속 측정 장치 및 전체 광속 측정 방법 | |
| CN108594246B (zh) | 一种多功能激光测距仪 | |
| TW200602630A (en) | Optical cell measurement apparatus | |
| US3658426A (en) | Alignment telescope | |
| JPS63255630A (ja) | 放射測定装置 | |
| JP2000065566A5 (ja) | ||
| JPH074967A (ja) | 測量装置 | |
| JP2002206989A (ja) | 再帰反射性能測定装置 | |
| EP1495308A2 (en) | Method and apparatus for measuring light reflections of an object | |
| CN203274910U (zh) | 一种窄光束led灯光强测量装置 | |
| RU2307322C2 (ru) | Лазерный дальномер | |
| US3441348A (en) | Energy concentrating and sighting device for radiometric apparatus | |
| RU2335751C1 (ru) | Устройство для контроля лазерного прибора | |
| CN215179657U (zh) | 逆反射系数测量装置 | |
| RU2193789C2 (ru) | Прибор для дневного и ночного наблюдения | |
| RU24573U1 (ru) | Оптический автоколлимационный модуль | |
| CN2663955Y (zh) | 大距离系数的便携式红外测温光学装置 | |
| RU2222792C2 (ru) | Устройство для контроля лазерного дальномера | |
| RU194537U1 (ru) | Устройство для контроля лазерного дальномера | |
| RU2547891C1 (ru) | Осветительный узел малогабаритного спектрофотометра | |
| RU2311631C2 (ru) | Короткобазный прибор для измерения возвратно-отражающей способности световозвращающих изделий | |
| US20020027664A1 (en) | Method and apparatus for optical position detection | |
| JP2544288B2 (ja) | 光学式測長装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20070703 |
|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20080401 |