JP2002204077A - Wiring substrate, wiring substrate main body, and chip capacitor - Google Patents

Wiring substrate, wiring substrate main body, and chip capacitor

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JP2002204077A
JP2002204077A JP2000403144A JP2000403144A JP2002204077A JP 2002204077 A JP2002204077 A JP 2002204077A JP 2000403144 A JP2000403144 A JP 2000403144A JP 2000403144 A JP2000403144 A JP 2000403144A JP 2002204077 A JP2002204077 A JP 2002204077A
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JP
Japan
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lattice
terminal
conductor
connection
capacitor
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Japanese (ja)
Inventor
Yasuhiro Sugimoto
康宏 杉本
Masao Kuroda
正雄 黒田
Yukihiro Kimura
幸広 木村
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Niterra Co Ltd
Original Assignee
NGK Spark Plug Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide wiring substrate having an electronic component such as an IC chip mounted on a major surface of a main body of the substrate having a core insulating layer, which facilitates connection between terminals such as power and grounding terminals and through-hole conductors formed in the core insulating layer. SOLUTION: A wiring substrate 100 having an electronic component 20 mounted on a major surface 100b has a core insulating layer 110, and the major surface has first and second connection bumps 187 and 188 alternately arranged on the major surface in a lattice form to be formed as power and grounding terminals. Soled first and second conversion conductor layers 161 and 162 are provided between through-hole conductors 114 formed in the core insulating layer 110, and via conductors 182 and 183 on the major surface are extended from first and second bumps 187 and 188 to be connected to the first and second conductor layers. A core-side via conductor 184 is extended to be connected directly from first and second through-hole conductors 117 and 118 thereto.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、コア絶縁層を有
し、電子部品を搭載するための配線基板、及びチップコ
ンデンサを搭載した配線基板、チップコンデンサを搭載
するための配線基板本体、及びチップコンデンサに関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wiring board having a core insulating layer for mounting electronic components, a wiring board mounting chip capacitors, a wiring board body for mounting chip capacitors, and a chip. Related to capacitors.

【0002】[0002]

【従来の技術】ICチップの高集積化に伴い、ICチッ
プの各部分に低抵抗、低インダクタンスで電源電位や接
地電位を供給するため、信号等の入出力端子の他、多数
の電源端子や接地端子を設けるものがある。一方、電源
配線等にノイズが重畳されて、ICチップの誤動作を防
止すべく、ノイズ除去のため、例えば図16に示すよう
に、ICチップ1を搭載する配線基板2の主面2bある
いは裏面2cに、別途、チップコンデンサ3をパッド1
9に搭載し、パッド19を経由してコンデンサ3の2つ
の電極とそれぞれ接続するコンデンサ接続配線4やパッ
ド6との接続配線7を配線基板2の内部に設ける。これ
により、コンデンサ接続配線4及びフリップチップパッ
ド5を経由してチップコンデンサ3をICチップ1の電
源端子や接地端子に接続するとともに、信号端子等をパ
ッド6に接続することが行われている。
2. Description of the Related Art With the high integration of IC chips, a power supply potential and a ground potential are supplied to each part of the IC chip with low resistance and low inductance. Some terminals are provided with a ground terminal. On the other hand, in order to prevent noise from being superimposed on power supply wiring and the like and malfunctioning of the IC chip, the main surface 2b or the back surface 2c of the wiring board 2 on which the IC chip 1 is mounted as shown in FIG. Separately, connect chip capacitor 3 to pad 1
9, the capacitor connection wiring 4 connected to the two electrodes of the capacitor 3 via the pad 19 and the connection wiring 7 to the pad 6 are provided inside the wiring board 2. Thus, the chip capacitor 3 is connected to the power supply terminal and the ground terminal of the IC chip 1 via the capacitor connection wiring 4 and the flip chip pad 5, and the signal terminal and the like are connected to the pad 6.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、配線基板2
として、コア絶縁層8の片面あるいは両面にさらに1ま
たは複数の絶縁層9〜11,12〜14を積層して形成
してなるものを用いることがある。しかし、このような
コンデンサ接続配線4や接続配線7のうち、コア絶縁層
8の上下間を接続するためにこれを貫通するスルーホー
ル導体15同士の間隔は、加工上、フリップチップパッ
ド5同士やこれとスルーホール導体15とを結ぶための
ビア導体16同士の間隔よりも大きくならざるを得ない
ことがある。そこで、スルーホール導体15の間隔が適
切な大きさとなるように、スルーホール導体15やビア
導体16を含め、層間配線17等を用いて、コンデンサ
接続配線4や接続配線7を適切に引き回す設計を行う必
要がある。
By the way, the wiring board 2
In some cases, one obtained by laminating one or more insulating layers 9 to 11 and 12 to 14 on one or both surfaces of the core insulating layer 8 may be used. However, among the capacitor connection wirings 4 and the connection wirings 7, the interval between the through-hole conductors 15 that penetrate the core insulating layer 8 to connect the upper and lower sides of the core insulating layer 8 is different from the flip chip pads 5 due to processing. In some cases, the distance between via conductors 16 for connecting the via conductor 15 to the through hole conductor 15 must be larger than the distance between via conductors 16. Therefore, a design in which the capacitor connection wiring 4 and the connection wiring 7 are appropriately routed using the interlayer wiring 17 and the like including the through-hole conductor 15 and the via conductor 16 so that the distance between the through-hole conductors 15 is appropriate is provided. There is a need to do.

【0004】しかしながら、上記のようにICチップ1
に多数の電源端子や接地端子が存在する場合には、これ
らを裏面2c側に搭載したコンデンサ3と接続するため
のコンデンサ接続配線4や裏面側のパッド6と接続する
ための接続配線7の引き回しが困難となったり、引き回
しが複雑になりやすく、コンデンサ接続配線4や接続配
線7の抵抗やインダクタンスも大きくなりがちである。
さらに、裏面2cなどに多数のチップコンデンサを搭載
したい場合、あるいは多数の端子を有するチップコンデ
ンサに接続したい場合などにも、配線の引き回しが複雑
になりやすい。
However, as described above, the IC chip 1
When there are a large number of power terminals and ground terminals on the rear surface, a capacitor connection wiring 4 for connecting these to the capacitor 3 mounted on the back surface 2c side and a connection wiring 7 for connecting to the pads 6 on the back surface side are provided. And the wiring tends to be complicated, and the resistance and inductance of the capacitor connection wiring 4 and the connection wiring 7 tend to increase.
Further, when a large number of chip capacitors are to be mounted on the back surface 2c or the like, or when it is desired to connect to a chip capacitor having a large number of terminals, wiring routing is likely to be complicated.

【0005】一方、裏面側にチップコンデンサ3を搭載
するに当たって、チップコンデンサとして、その接続面
に多数のバンプ状端子を縦横格子状に形成し、そのバン
プ状端子で配線基板と接続するものがある。このような
チップコンデンサを搭載する配線基板でも、配線基板本
体とチップコンデンサとの接続を容易にするためには、
絶縁層12〜14に形成するビア導体18やパッド19
の配置を考慮する必要がある。
On the other hand, when mounting the chip capacitor 3 on the back surface side, there is a chip capacitor in which a large number of bump-shaped terminals are formed in a vertical and horizontal lattice on the connection surface, and the bump-shaped terminals are connected to the wiring board. . Even in a wiring board on which such a chip capacitor is mounted, in order to facilitate the connection between the wiring board body and the chip capacitor,
Via conductors 18 and pads 19 formed in insulating layers 12 to 14
Needs to be considered.

【0006】本発明は、かかる知見に鑑みてなされたも
のであって、その第1の目的は、コア絶縁層を有する配
線基板本体の主面側にICチップなどの電子部品を搭載
する配線基板において、電子部品の端子と接続する接続
端子のうち、電源端子や接地端子などの端子とコア絶縁
層に形成するスルーホール導体との接続を容易とした配
線基板を提供することにある。 また、他の目的は、配
線基板本体の搭載面にチップコンデンサを搭載した配線
基板において、チップコンデンサの端子と配線基板本体
内に形成したビア導体やパッドの配置に考慮した配線基
板、配線基板本体、及びチップコンデンサを提供するこ
とにある。
A first object of the present invention is to provide a wiring board for mounting an electronic component such as an IC chip on a main surface side of a wiring board body having a core insulating layer. In the above, it is an object of the present invention to provide a wiring board that facilitates connection between terminals such as a power supply terminal and a ground terminal among connection terminals connected to terminals of an electronic component and through-hole conductors formed in a core insulating layer. Another object of the present invention is to provide a wiring board having a chip capacitor mounted on a mounting surface of the wiring board body, the wiring board and the wiring board body taking into consideration the arrangement of the terminals of the chip capacitor and via conductors and pads formed in the wiring board body. , And a chip capacitor.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段、作用及び効果】その解決
手段は、主面と裏面とを有する配線基板であって、上記
主面側に形成され、この主面上に搭載する電子部品の端
子と接続可能な複数の接続端子であって、共通第1電位
とされる多数の第1接続端子、及び共通第2電位とされ
る多数の第2接続端子を含み、上記第1接続端子及び第
2接続端子の少なくともいずれかは、第1所定間隔の格
子状に交互に配置されて格子領域をなす第1格子接続端
子と第2格子接続端子である接続端子と、1または複数
の絶縁層からなり、コア主面とコア裏面とを有するコア
絶縁層と、このコア絶縁層の上記コア主面と上記コア裏
面との間を貫通するスルーホール導体であって、共通第
1電位とされる多数の第1スルーホール導体、及び共通
第2電位とされる多数の第2スルーホール導体を含み、
少なくとも上記格子領域を厚さ方向裏面側に向けて投影
した投影格子領域内に位置する上記第1スルーホール導
体及び第2スルーホール導体のうち少なくともいずれか
は、第2所定間隔の格子状に交互に配置された第1格子
スルーホール導体と第2格子スルーホール導体であるス
ルーホール導体と、上記コア絶縁層のコア主面と上記接
続端子との間に介在し、複数の第1貫通孔を有する第1
変換導体層と、上記第1変換導体層と上記コア絶縁層の
コア主面との間に位置し、複数の第2貫通孔を有する第
2変換導体層と、上記格子領域内の第1格子接続端子か
らそれぞれ上記配線基板の厚さ方向裏面側に向かって延
び、上記第1変換導体層とそれぞれ電気的に接続する第
1主面側ビア導体と、上記格子領域内の第2格子接続端
子からそれぞれ上記配線基板の厚さ方向裏面側に向かっ
て延び、上記第1変換導体層とはそれぞれ絶縁しつつ上
記第1貫通孔内を通って、上記第2変換導体層とそれぞ
れ電気的に接続する第2主面側ビア導体と、上記投影格
子領域内の上記第1格子スルーホール導体からそれぞれ
上記配線基板の厚さ方向主面側に向かって延び、上記第
2変換導体層とはそれぞれ絶縁しつつ上記第2貫通孔内
を通って、上記第1変換導体層に接続する第1コア側ビ
ア導体と、上記投影格子領域内の上記第2格子スルーホ
ール導体からそれぞれ上記配線基板の厚さ方向主面側に
向かって延び、上記第2変換導体層に接続する第2コア
側ビア導体と、を備え、上記第2格子間隔は上記第1格
子間隔よりも大きく、上記投影格子領域内の上記第1コ
ア側ビア導体の数は上記格子領域内の上記第1主面側ビ
ア導体の数よりも少なく、上記投影格子領域内の上記第
2コア側ビア導体の数は上記格子領域内の上記第2主面
側ビア導体の数よりも少ない配線基板である。
A means for solving the problem is a wiring board having a main surface and a back surface, which is formed on the main surface side and has terminals for electronic components mounted on the main surface. A plurality of connection terminals that can be connected to the first connection terminal and a plurality of second connection terminals that are set to a common first potential and a plurality of second connection terminals that are set to a common second potential. At least one of the two connection terminals is formed of a first grid connection terminal and a second grid connection terminal, which are alternately arranged in a grid pattern at a first predetermined interval to form a grid region, and one or more insulating layers. A core insulating layer having a core main surface and a core back surface, and a plurality of through-hole conductors penetrating between the core main surface and the core back surface of the core insulating layer. Of the first through-hole conductor and a common second potential It includes a second through-hole conductors having,
At least one of the first through-hole conductor and the second through-hole conductor located at least in the projection lattice area where the lattice area is projected toward the back side in the thickness direction is alternately arranged in a lattice pattern at a second predetermined interval. And a plurality of first through-holes interposed between the first lattice through-hole conductor and the second lattice through-hole conductor, which are disposed in the core insulating layer, and the core main surface of the core insulating layer and the connection terminal. First
A conversion conductor layer, a second conversion conductor layer located between the first conversion conductor layer and the core main surface of the core insulating layer, the second conversion conductor layer having a plurality of second through holes, and a first lattice in the lattice region. A first main surface side via conductor extending from the connection terminal toward the back side in the thickness direction of the wiring substrate and electrically connecting to the first conversion conductor layer, and a second lattice connection terminal in the lattice region Respectively, extending toward the back side in the thickness direction of the wiring board, and electrically connected to the second conversion conductor layer through the first through hole while being insulated from the first conversion conductor layer. A second main surface side via conductor extending from the first lattice through hole conductor in the projection lattice region toward the main surface side in the thickness direction of the wiring board, and being insulated from the second conversion conductor layer, respectively. While passing through the second through hole, A first core-side via conductor connected to the conversion conductor layer; and a second conversion conductor layer extending from the second grid through-hole conductor in the projection grid area toward the main surface in the thickness direction of the wiring board. A second core-side via conductor connected to the first grid-side via conductor, wherein the second grid spacing is larger than the first grid spacing, and the number of the first core-side via conductors in the projection grid area is within the grid area. A wiring board having a number smaller than the number of the first main surface side via conductors and a smaller number of the second core side via conductors in the projection grid region than the number of the second main surface side via conductors in the grid region; It is.

【0008】上記したように、コア絶縁層にスルーホー
ル導体を形成した場合、コア絶縁層に形成するスルーホ
ール導体同士の間隔は、加工手法の違いなどから、一般
にICチップなどの電子部品と接続するためのフリップ
チップバンプなどの接続端子同士やこれに接続する主面
側ビア導体などに比して大きくならざるを得ない場合が
ある。このため、電子部品の端子と接続可能な複数の接
続端子を主面側に形成する配線基板において、この接続
端子からコア絶縁層を越えて裏面側まで延ばす接続配線
を設計するものにおいては、コア絶縁層に形成できるス
ルーホール導体の間隔に制限されるため、接続配線の設
計が面倒であった。
As described above, when the through-hole conductors are formed in the core insulating layer, the distance between the through-hole conductors formed in the core insulating layer is generally different from that of electronic parts such as IC chips due to differences in processing techniques. Connection terminals such as flip-chip bumps for connection, and the main surface side via conductors connected thereto may be inevitably larger. For this reason, in a wiring board in which a plurality of connection terminals connectable to terminals of an electronic component are formed on a main surface side, a connection wiring extending from this connection terminal to a back surface side beyond a core insulating layer is designed to have a core. Since the distance between through-hole conductors that can be formed in the insulating layer is limited, the design of the connection wiring is troublesome.

【0009】これに対し、本発明の配線基板では、第
1,第2変換導体層を有しているので、格子領域におい
て格子状に交互に配置された第1格子接続端子と第2格
子接続端子とが、第1,第2変換導体層で接続位置や接
続数を変換されて、コア絶縁層のうち投影格子領域内に
形成された第1,第2格子スルーホール導体に接続す
る。しかも、第2格子間隔は第1格子間隔よりも大き
く、投影格子領域内の第1,第2コア側ビア導体の数は
格子領域内の上記第1,第2主面側ビア導体の数よりも
それぞれ少ない。従って、この格子領域内の第1,第2
格子接続端子は、第1,第2変換導体層によって接続位
置や接続数を変換されて、容易に第1,第2格子スルー
ホール導体に接続できる。従って、配線基板における接
続配線の設計が容易になる。
On the other hand, since the wiring board of the present invention has the first and second conversion conductor layers, the first grid connection terminals and the second grid connection are alternately arranged in a grid in the grid area. The terminal and the connection position and the number of connections are converted by the first and second conversion conductor layers and connected to the first and second lattice through-hole conductors formed in the projection lattice region of the core insulating layer. Moreover, the second lattice spacing is larger than the first lattice spacing, and the number of the first and second core-side via conductors in the projection lattice area is greater than the number of the first and second principal-surface side via conductors in the lattice area. Are also small. Therefore, the first and second in this lattice area
The connection position and the number of connections of the lattice connection terminals are changed by the first and second conversion conductor layers, and the lattice connection terminals can be easily connected to the first and second lattice through-hole conductors. Therefore, the design of the connection wiring on the wiring board becomes easy.

【0010】ここで、共通第1電位及び第2共通電位と
しては、一方を電源電位(例えば+電位:例えば+1.
8V、+5Vなど)とし、他方を接地電位(0V)や−
電位とするものが挙げられる。また、コア絶縁層として
は、公知の材質からなるものを用いることができる。例
えば、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、BT樹脂、PP
E樹脂などの樹脂を主成分としてもの、連続気孔を有す
るPTFEなど三次元網目構造のフッ素系樹脂にエポキ
シ樹脂などを含浸させた樹脂−樹脂複合材料等を用いる
ことができる。さらに、ガラス織布やガラス不織布など
のガラス繊維やポリアミド繊維などの有機繊維を用い
て、エポキシ樹脂などと複合化したガラス−エポキシ樹
脂複合材料などの複合材料、アルミナ、窒化アルミニウ
ム、ムライト、ガラスセラミックなどのセラミック、エ
ポキシ樹脂などの樹脂とセラミック粉末とを複合化した
ものなどが挙げられる。さらに、コア絶縁層としては、
1層の絶縁層からなるものに限らず、例えば、ガラス−
エポキシ樹脂複合材料からなるコア基板の両面に樹脂絶
縁層をそれぞれ形成したものなど複数の絶縁層からなる
ものも含まれる。
Here, one of the common first potential and the second common potential is a power supply potential (for example, a + potential: for example, +1.
8V, + 5V, etc.) and the other is ground potential (0V) or-
A potential is given. The core insulating layer may be made of a known material. For example, epoxy resin, polyimide resin, BT resin, PP
A resin-resin composite material containing a resin such as an E resin as a main component, a three-dimensional network structure fluorine resin such as PTFE having continuous pores impregnated with an epoxy resin, or the like can be used. Furthermore, composite materials such as glass-epoxy resin composite materials, which are composited with epoxy resin using glass fiber such as glass woven fabric or glass nonwoven fabric or organic fiber such as polyamide fiber, alumina, aluminum nitride, mullite, glass ceramic And a composite of a resin such as ceramic, epoxy resin and ceramic powder. Furthermore, as the core insulating layer,
Not limited to a single insulating layer, for example, glass-
Also included are those composed of a plurality of insulating layers, such as a core substrate made of an epoxy resin composite material and resin insulating layers formed on both surfaces.

【0011】また、第1格子接続端子と第2格子接続端
子とがなす格子領域は、第1接続端子及び第2接続端子
が配置された部分の一部であり、格子領域の形状は限定
されない。従って、略矩形状、リング状など、搭載され
る電子部品の端子の配置に応じた形状となる。また、第
1,第2接続端子の周囲には、相互間の絶縁を確実に
し、ハンダ等の濡れ拡がりを防止するためソルダーレジ
スト層を形成することもできる。
The grid region formed by the first grid connection terminal and the second grid connection terminal is a part of the portion where the first connection terminal and the second connection terminal are arranged, and the shape of the grid region is not limited. . Therefore, the shape becomes a shape corresponding to the arrangement of the terminals of the mounted electronic component, such as a substantially rectangular shape or a ring shape. In addition, a solder resist layer may be formed around the first and second connection terminals to ensure insulation between the first and second connection terminals and to prevent the spread of solder or the like.

【0012】さらに、上記配線基板であって、前記第2
格子間隔は前記第1格子間隔の奇数倍であり、前記第1
コア側ビア導体は、いずれも前記第1主面側ビア導体と
略同軸であり、前記第2コア側ビア導体は、いずれも前
記第2主面側ビア導体と略同軸である配線基板とすると
良い。
Furthermore, in the above wiring board, the second
The lattice spacing is an odd multiple of the first lattice spacing, and the first
Each of the core-side via conductors is substantially coaxial with the first principal-surface-side via conductor, and the second core-side via conductor is substantially a coaxial with the second main-surface-side via conductor. good.

【0013】第1、第2変換導体層で変換された後の第
1,第2コア側ビア導体が変換前の第1,第2主面側ビ
ア導体と略同軸でない場合には、接続端子とスルーホー
ル導体とをつなぐ経路はいずれも第1,第2主面側ビア
導体を通り、第1,第2変換導体層を平面方向に通り、
その後に第1,第2コア側ビア導体を通って、第1,第
2格子スルーホール導体にそれぞれ接続することにな
る。従って、いずれの経路も、一旦変換導体層を平面方
向に通るものであるため、この変換導体層を平面方向に
通る分だけ、各経路の合成抵抗や合成インダクタンスが
大きくなる。
If the first and second core-side via conductors converted by the first and second conversion conductor layers are not substantially coaxial with the first and second main-surface via conductors before conversion, the connection terminal And the path connecting the through-hole conductor to the first and second main surface side via conductors, the first and second conversion conductor layers in a plane direction,
After that, they are connected to the first and second lattice through-hole conductors through the first and second core-side via conductors, respectively. Therefore, since each path once passes through the conversion conductor layer in the plane direction, the combined resistance and the inductance of each path increase by the amount that passes through the conversion conductor layer in the plane direction.

【0014】これに対し本発明の配線基板では、第2格
子間隔が第1格子間隔の奇数倍、具体的には、3,5…
倍である。このように奇数倍にすると、第1格子間隔の
格子と第2所定間隔の格子とをぴったりと重ね合わせる
ことができる関係となる。しかも、第1コア側ビア導体
は、いずれも第1主面側ビア導体と略同軸であり、第2
コア側ビア導体は、いずれも第2主面側ビア導体と略同
軸である。上記したように、投影格子領域内の第1コア
側ビア導体の数は格子領域内の第1主面側ビア導体の数
よりも少ない。従って、第1主面側ビア導体から見れ
ば、第1コア側ビア導体と同軸でない第1主面側ビア導
体が存在する。この主面側ビア導体については、第1変
換導体層を平面方向に通って第1コア側ビア導体と接続
するから、第1格子接続端子と第1格子スルーホール導
体とをつなぐ経路は、この変換導体層の分だけ、各経路
の合成抵抗や合成インダクタンスが大きくなる。しか
し、同軸にされた主面側ビア導体とコア側ビア導体との
間では、変換導体層を厚さ方向に通るだけとなり、抵抗
やインダクタンスが他に比して小さくなる。従って、周
囲に位置する他の主面側ビア導体がコア側ビア導体と同
軸でないため、変換導体層を平面方向に通り、この部分
で抵抗やインダクタンスが発生していても、これらと並
列に接続される一部の経路で第1主面側ビア導体と第1
コア側ビア導体との間の抵抗やインダクタンスを低減で
きることで、第1格子接続端子と第1格子スルーホール
導体とをつなぐ経路全体としての合成抵抗や合成インダ
クタンスを低くすることができる。
On the other hand, in the wiring board of the present invention, the second grid interval is an odd multiple of the first grid interval, specifically, 3, 5,.
It is twice. When the odd multiples are used in this manner, a relationship is obtained in which the grids at the first grid interval and the grids at the second predetermined interval can be exactly overlapped. In addition, the first core-side via conductor is substantially coaxial with the first main surface-side via conductor, and
Each of the core side via conductors is substantially coaxial with the second main surface side via conductor. As described above, the number of the first core-side via conductors in the projection lattice region is smaller than the number of the first main surface-side via conductors in the lattice region. Therefore, when viewed from the first main surface side via conductor, there is a first main surface side via conductor that is not coaxial with the first core side via conductor. Since the main surface side via conductor is connected to the first core side via conductor through the first conversion conductor layer in the plane direction, the path connecting the first lattice connection terminal and the first lattice through hole conductor is The combined resistance and combined inductance of each path increase by the amount of the conversion conductor layer. However, between the coaxial main-surface via conductor and the core-side via conductor, the conductor only passes through the conversion conductor layer in the thickness direction, and the resistance and inductance are smaller than those of other conductor conductors. Therefore, since the other main surface side via conductors located in the periphery are not coaxial with the core side via conductors, they pass through the conversion conductor layer in the plane direction, and even if resistance or inductance is generated in this portion, they are connected in parallel with these. Of the first main surface side via conductor and the first
Since the resistance and inductance between the core-side via conductor can be reduced, the combined resistance and combined inductance of the entire path connecting the first lattice connection terminal and the first lattice through-hole conductor can be reduced.

【0015】なお、第2コア側ビア導体と第2主面側ビ
ア導体との関係も同様であり、一部の経路で第2主面側
ビア導体と第2コア側ビア導体との間の抵抗やインダク
タンスを低減できることで、第2格子接続端子と第2格
子スルーホール導体とをつなぐ経路全体としての合成抵
抗や合成インダクタンスを低くすることができる。従っ
て、配線基板全体としても、第1,第2格子接続端子と
第1,第2格子スルーホール導体とをつなぐ経路全体と
しての合成抵抗や合成インダクタンスを低くすることが
できる。
The relationship between the second core-side via conductor and the second main-surface via conductor is the same, and the path between the second main-surface via conductor and the second core-side via conductor is partially changed. Since the resistance and the inductance can be reduced, the combined resistance and combined inductance of the entire path connecting the second lattice connection terminal and the second lattice through-hole conductor can be reduced. Therefore, the combined resistance and the combined inductance of the entire path connecting the first and second lattice connection terminals and the first and second lattice through-hole conductors can be reduced for the entire wiring board.

【0016】さらに他の解決手段は、主面と裏面とを有
する配線基板であって、上記主面側に形成され、この主
面上に搭載する電子部品の端子と接続可能な複数の接続
端子であって、共通第1電位とされる多数の第1接続端
子、及び共通第2電位とされる多数の第2接続端子を含
み、上記第1接続端子及び第2接続端子の少なくともい
ずれかは、第1所定間隔の格子状に交互に配置されて格
子領域をなす第1格子接続端子と第2格子接続端子であ
る接続端子と、1または複数の絶縁層からなり、コア主
面とコア裏面とを有するコア絶縁層と、このコア絶縁層
の上記コア主面と上記コア裏面との間を貫通するスルー
ホール導体であって、共通第1電位とされる多数の第1
スルーホール導体、及び共通第2電位とされる多数の第
2スルーホール導体を含み、少なくとも上記格子領域を
厚さ方向裏面側に向けて投影した投影格子領域内に位置
する上記第1スルーホール導体及び第2スルーホール導
体のうち少なくともいずれかは、第2所定間隔の格子状
に交互に配置された第1格子スルーホール導体と第2格
子スルーホール導体であるスルーホール導体と、上記コ
ア絶縁層のコア主面と上記接続端子との間に介在し、複
数の第1貫通孔を有する第1変換導体層と、上記コア絶
縁層のコア主面上に位置し、複数の第2貫通孔を有する
第2変換導体層と、上記格子領域内の第1格子接続端子
からそれぞれ上記配線基板の厚さ方向裏面側に向かって
延び、上記第1変換導体層とそれぞれ電気的に接続する
第1主面側ビア導体と、上記格子領域内の第2格子接続
端子からそれぞれ上記配線基板の厚さ方向裏面側に向か
って延び、上記第1変換導体層とはそれぞれ絶縁しつつ
上記第1貫通孔内を通って、上記第2変換導体層とそれ
ぞれ電気的に接続する第2主面側ビア導体と、上記投影
格子領域内の上記第1格子スルーホール導体からそれぞ
れ上記配線基板の厚さ方向主面側に向かって延び、上記
第1変換導体層に接続する第1コア側ビア導体と、を備
え、上記第1格子スルーホール導体は、上記第2貫通孔
内に位置して上記第2変換導体層とはそれぞれ絶縁し、
上記投影格子領域内の上記第2格子スルーホール導体は
上記第2変換導体層に直接接続し、上記第2格子間隔は
上記第1格子間隔よりも大きく、上記投影格子領域内の
上記第1コア側ビア導体の数は上記格子領域内の上記第
1主面側ビア導体の数よりも少なく、上記投影格子領域
内の上記第2格子スルーホール導体の数は上記格子領域
内の上記第2主面側ビア導体の数よりも少ない配線基板
である。
Still another solution is a wiring board having a main surface and a back surface, wherein a plurality of connection terminals formed on the main surface and connectable to terminals of electronic components mounted on the main surface. And includes a number of first connection terminals having a common first potential and a number of second connection terminals having a common second potential, wherein at least one of the first connection terminal and the second connection terminal is A first lattice connection terminal and a second lattice connection terminal, which are alternately arranged in a lattice pattern at a first predetermined interval to form a lattice region, and a connection terminal serving as a second lattice connection terminal, and one or a plurality of insulating layers; And a through-hole conductor penetrating between the core main surface and the core back surface of the core insulating layer, the plurality of first insulating layers having a common first potential.
A first through-hole conductor including a through-hole conductor and a plurality of second through-hole conductors having a common second potential, wherein the first through-hole conductor is located at least in a projection grid area where the grid area is projected toward the back side in the thickness direction; And at least one of the second through-hole conductor is a first lattice through-hole conductor and a second lattice through-hole conductor, which are alternately arranged in a lattice pattern at a second predetermined interval, and the core insulating layer A first conversion conductor layer having a plurality of first through-holes interposed between the core main surface and the connection terminal, and a plurality of second through-holes located on the core main surface of the core insulating layer. A first conversion conductor layer extending from the first grid connection terminal in the grid region toward the back side in the thickness direction of the wiring board, and a first main conductor electrically connected to the first conversion conductor layer. Surface side via And extending from the second grid connection terminals in the grid area toward the back side in the thickness direction of the wiring board, and pass through the first through hole while being insulated from the first conversion conductor layer, respectively. A second main surface side via conductor electrically connected to the second conversion conductor layer, and a first main surface through hole conductor in the projection lattice region, respectively, toward a main surface side in the thickness direction of the wiring substrate. And a first core-side via conductor connected to the first conversion conductor layer. The first lattice through-hole conductor is located in the second through hole and is separated from the second conversion conductor layer. Insulate,
The second grid through-hole conductor in the projection grid area is directly connected to the second conversion conductor layer, the second grid pitch is larger than the first grid pitch, and the first core in the projection grid area is The number of the side via conductors is smaller than the number of the first main surface side via conductors in the lattice area, and the number of the second lattice through-hole conductors in the projection lattice area is the number of the second main conductors in the lattice area. The wiring board is smaller in number than the surface side via conductors.

【0017】本発明の配線基板では、第1,第2変換導
体層を有しているので、格子領域において格子状に交互
に配置された第1格子接続端子と第2格子接続端子と
が、第1,第2変換導体層で接続位置や接続数を変換さ
れて、コア絶縁層のうち投影格子領域内に形成された第
1,第2格子スルーホール導体に接続する。しかも、第
2格子間隔は第1格子間隔よりも大きく、投影格子領域
内の第1コア側ビア導体の数は格子領域内の上記第1主
面側ビア導体の数よりも少なく、第2格子スルーホール
導体の数は格子領域内の第2主面側ビア導体の数よりも
少ない。従って、この格子領域内の第1,第2格子接続
端子は、第1,第2変換導体層によって接続位置や接続
数を変換されて、容易に第1,第2格子スルーホール導
体に接続できる。従って、配線基板における接続配線の
設計が容易になる。
Since the wiring board of the present invention has the first and second conversion conductor layers, the first grid connection terminals and the second grid connection terminals alternately arranged in a grid pattern in the grid area are: The connection position and the number of connections are converted by the first and second conversion conductor layers and connected to the first and second lattice through-hole conductors formed in the projection lattice region of the core insulating layer. Moreover, the second lattice spacing is larger than the first lattice spacing, and the number of the first core-side via conductors in the projection lattice area is smaller than the number of the first main surface-side via conductors in the lattice area. The number of through-hole conductors is smaller than the number of second main surface side via conductors in the lattice area. Therefore, the connection positions and the number of connections of the first and second lattice connection terminals in this lattice region are converted by the first and second conversion conductor layers, and the first and second lattice connection terminals can be easily connected to the first and second lattice through-hole conductors. . Therefore, the design of the connection wiring on the wiring board becomes easy.

【0018】一般に、抵抗やインダクタンスは、並列な
経路が多いほど合成抵抗や合成インダクタンスを引き下
げることができる。本発明の配線基板では、第2変換導
体層がコア絶縁層のコア主面に形成されており、第2変
換導体層が直接第2格子スルーホール導体と接続してい
る。つまり本発明の配線基板では、第2変換導体層が最
もコア絶縁層側に位置しているので、各第2格子接続端
子から第2変換導体層までの経路が長く、第2変換導体
層から第2格子スルーホール導体までの経路が最も短い
(直接接続している)。ここで、第2主面側ビア導体を
含む各第2格子接続端子から第2変換導体層までの経路
は、第2格子スルーホール導体より数が多いのであるか
ら、このようにすることで、各第2格子接続端子から第
2変換導体層までの経路で発生する合成抵抗や合成イン
ダクタンスを最も小さくできる。
In general, as for the resistance and the inductance, as the number of parallel paths increases, the combined resistance and the combined inductance can be reduced. In the wiring board of the present invention, the second conversion conductor layer is formed on the core main surface of the core insulating layer, and the second conversion conductor layer is directly connected to the second lattice through-hole conductor. That is, in the wiring board of the present invention, since the second conversion conductor layer is located closest to the core insulating layer, the path from each second lattice connection terminal to the second conversion conductor layer is long, and The path to the second grid through-hole conductor is the shortest (direct connection). Here, the number of paths from each second lattice connection terminal including the second principal surface side via conductor to the second conversion conductor layer is larger than that of the second lattice through-hole conductor. The combined resistance and combined inductance generated in the path from each second lattice connection terminal to the second conversion conductor layer can be minimized.

【0019】さらに、上記配線基板であって、前記コア
絶縁層のコア主面と上記接続端子との間に複数の主面側
絶縁層を有し、前記第1変換導体層は、上記主面側絶縁
層のうち、前記コア絶縁層の最も近くに位置する主面側
絶縁層の主面側に配置されている配線基板とすると良
い。
Further, in the above-mentioned wiring board, further comprising a plurality of main surface side insulating layers between the core main surface of the core insulating layer and the connection terminals, wherein the first conversion conductor layer is provided on the main surface. It is preferable that the wiring board is arranged on the main surface side of the main surface side insulating layer located closest to the core insulating layer among the side insulating layers.

【0020】本発明の配線基板では、第1変換導体層
は、主面側絶縁層のうち、コア絶縁層の最も近くに位置
する主面側絶縁層の主面側に配置されている。つまり、
主面側絶縁層のうち、コア絶縁層の最も近くに位置する
主面側絶縁層とこれに隣接する主面側絶縁層との層間に
配置されている。このため、第2変換導体層が第2格子
スルーホール導体の最も近く位置するにばかりでなく、
第1変換導体層も、第1格子スルーホール導体の最も近
くに位置することになり、各第1格子接続端子から第1
変換導体層までの経路が長く、第1変換導体層から第1
格子スルーホール導体までの経路が最も短くなる。従っ
て、各第1格子接続端子から第1変換導体層までの経路
で発生する合成抵抗や合成インダクタンスを最も小さく
できる。従って、各第2格子接続端子から第2変換導体
層までの経路で発生する合成抵抗や合成インダクタンス
を最も小さくできることと相俟って、各第1,第2格子
接続端子から第1,第2変換導体層までの経路で発生す
る合成抵抗や合成インダクタンスを最も小さくできる。
In the wiring board of the present invention, the first conversion conductor layer is disposed on the main surface side of the main surface side insulating layer closest to the core insulating layer among the main surface side insulating layers. That is,
Of the main surface side insulating layers, the main surface side insulating layer is disposed between the main surface side insulating layer closest to the core insulating layer and the main surface side insulating layer adjacent thereto. Therefore, not only is the second conversion conductor layer located closest to the second lattice through-hole conductor,
The first conversion conductor layer is also positioned closest to the first lattice through-hole conductor, and the first conversion conductor layer is connected to the first lattice connection terminal by the first lattice connection terminal.
The path from the first conversion conductor layer to the first
The path to the grid through-hole conductor is the shortest. Therefore, the combined resistance and combined inductance generated in the path from each first lattice connection terminal to the first conversion conductor layer can be minimized. Therefore, combined with the fact that the combined resistance and the combined inductance generated in the path from each second lattice connection terminal to the second conversion conductor layer can be minimized, the first and second lattice connection terminals are connected to the first and second lattice connection terminals. The combined resistance and combined inductance generated in the path to the conversion conductor layer can be minimized.

【0021】さらに、上記いずれかに記載の配線基板で
あって、前記第2格子間隔は前記第1格子間隔の奇数倍
であり、前記第1コア側ビア導体は、いずれも前記第1
主面側ビア導体と略同軸であり、前記第2格子スルーホ
ール導体は、いずれも前記第2主面側ビア導体と略同軸
である配線基板とすると良い。
Further, in the wiring board according to any one of the above, the second grid interval is an odd multiple of the first grid interval, and the first core-side via conductors are all of the first grid via conductor.
The second lattice through-hole conductor is preferably substantially coaxial with the main surface side via conductor, and the second lattice through-hole conductor is preferably a wiring substrate substantially coaxial with the second main surface side via conductor.

【0022】第1変換導体層で変換された後の第1コア
側ビア導体が変換前の第1主面側ビア導体と略同軸でな
い場合には、第1格子接続端子と第1格子スルーホール
導体とをつなぐ経路はいずれも第1主面側ビア導体を通
り、一旦第1変換導体層を平面方向に通り、その後に第
1コア側ビア導体を通って、第1格子スルーホール導体
に接続することになる。また、第2変換導体層で変換さ
れた後の第2格子スルーホールが変換前の第2主面側ビ
ア導体と略同軸でない場合には、第2格子接続端子と第
2格子スルーホール導体とをつなぐ経路はいずれも第2
主面側ビア導体を通り、一旦第2変換導体層を平面方向
に通り、その後に第2格子スルーホール導体に接続する
ことになる。従って、いずれの経路も、変換導体層を平
面方向に通るものであるため、この変換導体層を平面方
向に通る分だけ、各経路の合成抵抗や合成インダクタン
スが大きくなる。
When the first core-side via conductor converted by the first conversion conductor layer is not substantially coaxial with the first main-surface-side via conductor before conversion, the first grid connection terminal and the first grid through hole are provided. All the paths connecting the conductors pass through the first main surface side via conductor, first pass through the first conversion conductor layer in the plane direction, and then pass through the first core side via conductor to be connected to the first lattice through-hole conductor. Will do. When the second lattice through-hole converted by the second conversion conductor layer is not substantially coaxial with the second main surface side via conductor before conversion, the second lattice connection terminal and the second lattice through-hole conductor Is the second route
After passing through the main surface side via conductor, the second conversion conductor layer is once passed in the plane direction, and then connected to the second lattice through-hole conductor. Therefore, since all the paths pass through the conversion conductor layer in the plane direction, the combined resistance and the inductance of each path are increased by the amount that passes through the conversion conductor layer in the plane direction.

【0023】これに対し本発明の配線基板では、第2格
子間隔が第1格子間隔の奇数倍、具体的には、3,5…
倍である。このように奇数倍にすると、第1格子間隔の
格子と第2所定間隔の格子とをぴったりと重ね合わせる
ことができる関係となる。しかも、第1コア側ビア導体
は、いずれも第1主面側ビア導体と略同軸である。ま
た、第2格子スルーホール導体は、いずれも第2主面側
ビア導体と略同軸である。上記したように、投影格子領
域内の第1コア側ビア導体の数は格子領域内の第1主面
側ビア導体の数よりも少ない。従って、第1主面側ビア
導体から見れば、第1コア側ビア導体と同軸でない第1
主面側ビア導体が存在する。この主面側ビア導体につい
ては、第1変換導体層を平面方向に通って第1コア側ビ
ア導体と接続するから、格子接続端子と第1格子スルー
ホール導体とをつなぐ経路は、この変換導体層の分だ
け、各経路の合成抵抗や合成インダクタンスが大きくな
る。しかし、同軸にされた主面側ビア導体とコア側ビア
導体との間では、変換導体層を厚さ方向に通るだけとな
り、抵抗やインダクタンスが他に比して小さくなる。従
って、周囲に位置する他の主面側ビア導体がコア側ビア
導体と同軸でないため、変換導体層を平面方向に通り、
この部分で抵抗やインダクタンスが発生していても、こ
れらと並列に接続される一部の経路で第1主面側ビア導
体と第1コア側ビア導体との間の抵抗やインダクタンス
を低減できることで、第1格子接続端子と第1格子スル
ーホール導体とをつなぐ経路全体としての合成抵抗や合
成インダクタンスを低くすることができる。
On the other hand, in the wiring board of the present invention, the second grid interval is an odd multiple of the first grid interval, specifically, 3, 5,.
It is twice. When the odd multiples are used in this manner, a relationship is obtained in which the grids at the first grid interval and the grids at the second predetermined interval can be exactly overlapped. In addition, the first core-side via conductor is substantially coaxial with the first main surface-side via conductor. Each of the second lattice through-hole conductors is substantially coaxial with the second main surface side via conductor. As described above, the number of the first core-side via conductors in the projection lattice region is smaller than the number of the first main surface-side via conductors in the lattice region. Therefore, when viewed from the first main surface side via conductor, the first core side via conductor which is not coaxial with the first core side via conductor.
There is a main surface side via conductor. Since the main surface side via conductor is connected to the first core side via conductor through the first conversion conductor layer in the plane direction, a path connecting the grid connection terminal and the first grid through-hole conductor is formed by the conversion conductor. The combined resistance and the combined inductance of each path are increased by the number of layers. However, between the coaxial main-surface via conductor and the core-side via conductor, the conductor only passes through the conversion conductor layer in the thickness direction, and the resistance and inductance are smaller than those of other conductor conductors. Therefore, since other main surface side via conductors located around are not coaxial with the core side via conductor, they pass through the conversion conductor layer in the plane direction,
Even if resistance and inductance are generated in this portion, the resistance and inductance between the first main surface side via conductor and the first core side via conductor can be reduced in some paths connected in parallel with these portions. In addition, the combined resistance and combined inductance of the entire path connecting the first lattice connection terminal and the first lattice through-hole conductor can be reduced.

【0024】なお、第2格子スルーホール導体と第2主
面側ビア導体との関係も同様であり、一部の経路で第2
主面側ビア導体と第2格子スルーホール導体との間の抵
抗やインダクタンスを低減できることで、第2格子接続
端子と第2格子スルーホール導体とをつなぐ経路全体と
しての合成抵抗や合成インダクタンスを低くすることが
できる。従って、配線基板全体として、第1,第2格子
接続端子と第1,第2格子スルーホール導体とをつなぐ
経路全体としての合成抵抗や合成インダクタンスを低く
することができる。
The relationship between the second lattice through-hole conductor and the second main surface side via conductor is the same, and the second lattice through-hole conductor and the second main surface side via conductor have the same structure.
The resistance and inductance between the main-surface-side via conductor and the second lattice through-hole conductor can be reduced, so that the combined resistance and the combined inductance of the entire path connecting the second lattice connection terminal and the second lattice through-hole conductor are reduced. can do. Therefore, the combined resistance and the combined inductance of the entire path connecting the first and second lattice connection terminals and the first and second lattice through-hole conductors can be reduced in the entire wiring board.

【0025】さらに前記他の目的にかかる解決手段は、
配線基板本体に1または複数のチップコンデンサコンデ
ンサを搭載してなる配線基板であって、上記チップコン
デンサは、コンデンサを構成する一方の電極及び他方の
電極、接続面、上記接続面に形成され上記一方の電極と
接続する複数の第1端子、及び、上記接続面に形成され
上記他方の電極と接続する複数の第2端子、を備え、上
記第1端子と第2端子とが所定間隔の格子状に交互に配
置されたチップコンデンサであり、上記配線基板本体
は、上記チップコンデンサを搭載するコンデンサ搭載面
と、1または複数の絶縁層と、上記絶縁層を貫通するビ
ア導体であって、共通第1電位とされる第1ビア導体、
及び共通第2電位とされる第2ビア導体を含み、上記第
1ビア導体と第2ビア導体の少なくともいずれかは、上
記所定間隔と略同一の間隔の格子状に交互に配置された
第1格子ビア導体及び第2格子ビア導体であるビア導体
と、上記絶縁層がなす面のうち最も上記コンデンサ搭載
面側の端子形成面において、上記接続面を上記コンデン
サ搭載面側に向けた上記チップコンデンサの上記第1端
子に対向する位置に形成され、上記第1格子ビア導体と
接続する第1コンデンサ接続端子と、上記端子形成面に
形成され、上記チップコンデンサの上記第2端子に対向
する位置に形成され、上記第2格子ビア導体と接続する
第2コンデンサ接続端子と、を備える配線基板である。
Further, a solution according to the other object is as follows.
A wiring board comprising one or a plurality of chip capacitor capacitors mounted on a wiring board body, wherein the chip capacitor is formed on one electrode and the other electrode constituting a capacitor, a connection surface, and the connection surface. A plurality of first terminals connected to the first electrode and a plurality of second terminals formed on the connection surface and connected to the other electrode, wherein the first terminal and the second terminal are arranged in a lattice pattern at a predetermined interval. The wiring board body is a capacitor mounting surface on which the chip capacitor is mounted, one or more insulating layers, and a via conductor penetrating the insulating layer. A first via conductor having one potential,
And at least one of the first via conductor and the second via conductor, the first via conductor and the second via conductor being alternately arranged in a grid pattern at substantially the same interval as the predetermined interval. A via conductor that is a lattice via conductor and a second lattice via conductor, and the chip capacitor having the connection surface facing the capacitor mounting surface on the terminal forming surface closest to the capacitor mounting surface among the surfaces formed by the insulating layers. A first capacitor connection terminal formed at a position facing the first terminal and connected to the first lattice via conductor; and a first capacitor connection terminal formed at the terminal formation surface and facing the second terminal of the chip capacitor. And a second capacitor connection terminal formed and connected to the second lattice via conductor.

【0026】本発明の配線基板では、チップコンデンサ
は、接続面に格子状に交互に配置された第1,第2端子
を有する。一方、配線基板本体は、格子状に交互に配置
された第1,第2格子ビア導体を有し、この格子の間隔
は、第1,第2端子の格子の間隔と略同じである。ま
た、第1,第2格子ビア導体とそれぞれ接続し、第1,
第2端子とそれぞれ対向する第1,第2コンデンサ接続
端子を有する。このため、チップコンデンサの各第1,
第2端子と、各第1,第2格子ビア導体との接続に、絶
縁層において平面方向に延びた配線層を用いる必要が無
く、第1,第2コンデンサ接続端子を介するのみで接続
できるので、チップコンデンサと第1,第2格子ビア導
体の両者を容易に接続することができる。しかも、両者
間を低抵抗、低インダクタンスで接続することができ
る。
In the wiring board of the present invention, the chip capacitor has first and second terminals alternately arranged in a grid on the connection surface. On the other hand, the wiring board body has first and second lattice via conductors alternately arranged in a lattice pattern, and the distance between the lattices is substantially the same as the distance between the lattices of the first and second terminals. In addition, the first and second lattice via conductors are respectively connected to the first and second lattice via conductors.
It has first and second capacitor connection terminals facing the second terminal, respectively. For this reason, each of the first and
The connection between the second terminal and each of the first and second lattice via conductors does not require the use of a wiring layer extending in the planar direction in the insulating layer, and the connection can be made only through the first and second capacitor connection terminals. In addition, both the chip capacitor and the first and second lattice via conductors can be easily connected. Moreover, they can be connected with low resistance and low inductance.

【0027】なお、チップコンデンサとしては、配線基
板に搭載できるものであればいずれのものでも良いが、
例えば、積層セラミックタイプや、電解コンデンサタイ
プ、フィルムコンデンサタイプのものなどが挙げられ
る。特に、積層セラミックタイプのチップコンデンサ
は、周波数特性も良好である点、また、熱が掛かるなど
しても特性が比較的安定である点で好ましい。また、第
1,第2コンデンサ接続端子の周囲には、相互間の絶縁
を確実にし、ハンダ等の濡れ拡がりを防止するためソル
ダーレジスト層を形成することもできる。
The chip capacitor may be any one as long as it can be mounted on a wiring board.
For example, a multilayer ceramic type, an electrolytic capacitor type, a film capacitor type and the like can be mentioned. In particular, a multilayer ceramic type chip capacitor is preferable because it has good frequency characteristics and its characteristics are relatively stable even when heat is applied. Further, a solder resist layer may be formed around the first and second capacitor connection terminals to ensure insulation between the first and second capacitor connection terminals and to prevent wet spread of solder or the like.

【0028】さらに上記配線基板であって、前記チップ
コンデンサは複数であり、1のチップコンデンサの上記
第1端子または第2端子と、これに隣り合う他のチップ
コンデンサの第2端子または第1端子との間隔が、前記
所定間隔の2以上の整数倍であり、前記第1格子ビア導
体のうち、前記第1コンデンサ接続端子に接続しない第
1格子ビア導体は、前記端子形成面に形成され、上記第
1コンデンサ接続端子のうちいずれかから延びる第1延
在部に接続し、前記第2格子ビア導体のうち、前記第2
コンデンサ接続端子に接続しない第2格子ビア導体は、
前記端子形成面に形成され、上記第2コンデンサ接続端
子のうちいずれかから延びる第2延在部に接続する配線
基板とすると良い。
Further, in the above wiring board, the chip capacitor is plural, and the first terminal or the second terminal of one chip capacitor and the second terminal or the first terminal of another chip capacitor adjacent thereto are provided. Is an integer multiple of 2 or more of the predetermined interval, and among the first lattice via conductors, the first lattice via conductor not connected to the first capacitor connection terminal is formed on the terminal formation surface; The first capacitor connecting terminal is connected to a first extending portion extending from any one of the first capacitor connecting terminals, and the second grid via conductor is connected to the second extending portion.
The second grid via conductor not connected to the capacitor connection terminal is
The wiring board may be formed on the terminal formation surface and connected to a second extending portion extending from any of the second capacitor connection terminals.

【0029】配線基板本体に複数のチップコンデンサを
搭載する場合には、チップコンデンサ同士の間に隙間が
生じるため、各チップコンデンサとビア導体との接続が
面倒となり易い。これに対し、本発明の配線基板では、
チップコンデンサの端子同士の関係に着目し、隣り合う
2つのチップコンデンサに属する端子同士の間隔を格子
間隔の2以上の整数倍とした。これにより、略同じ格子
間隔を持つ第1,第2格子ビア導体とそれぞれのチップ
コンデンサの第1,第2端子との接続についてみれば、
各々のチップコンデンサの各第1,第2端子と、各第
1,第2格子ビア導体とは、絶縁層において平面方向に
延びて形成された配線層が介在することなく、第1,第
2コンデンサ接続端子を介するのみで接続できる点で変
わるところがない。従って、第1,第2端子と第1,第
2格子ビア導体とを容易に、かつ低抵抗、低インダクタ
ンスで接続することができる。
When a plurality of chip capacitors are mounted on the wiring board body, a gap is formed between the chip capacitors, so that connection between each chip capacitor and the via conductor tends to be troublesome. In contrast, in the wiring board of the present invention,
Focusing on the relationship between the terminals of the chip capacitors, the interval between the terminals belonging to two adjacent chip capacitors was set to an integer multiple of 2 or more of the lattice interval. As a result, regarding the connection between the first and second lattice via conductors having substantially the same lattice spacing and the first and second terminals of each chip capacitor,
Each of the first and second terminals of each of the chip capacitors and each of the first and second lattice via conductors are connected to the first and second lattice via conductors without the interposition of a wiring layer extending in the planar direction in the insulating layer. There is no difference in that the connection can be made only through the capacitor connection terminal. Therefore, the first and second terminals and the first and second lattice via conductors can be easily connected with low resistance and low inductance.

【0030】しかも、各チップコンデンサ同士の隙間や
周囲などに対応した位置にある第1,第2格子ビア導体
は、それぞれ第1,第2延在部に接続して、これを経由
して第1,第2コンデンサ接続端子に接続するので、こ
れを通じてそれぞれ第1,第2コンデンサ接続端子に接
続することができる。このため、第1,第2延在部を有
する第1,第2コンデンサ接続端子では、接続される第
1,第2格子ビア導体が増えることとなり、チップコン
デンサを充放電する際の第1,第2格子ビア導体による
抵抗やインダクタンスを低減できる。また、これらの部
位に位置する第1,第2格子ビア導体についても、所定
間隔の格子状に交互に配置された状態を維持しているの
で、チップコンデンサの端子数などチップコンデンサの
形状等に変更があった場合でも、第1,第2格子ビア導
体の位置等を変更することなく、第1,第2延在部を含
む第1,第2コンデンサ接続端子のパターンを変更する
ことで、容易に対応することができる。
Moreover, the first and second lattice via conductors located at positions corresponding to the gaps and surroundings between the chip capacitors are connected to the first and second extension portions, respectively, and the first and second lattice via conductors are connected via the first and second extension portions. Since the first and second capacitor connection terminals are connected, they can be connected to the first and second capacitor connection terminals respectively. Therefore, in the first and second capacitor connection terminals having the first and second extension portions, the number of the connected first and second lattice via conductors increases, and the first and second grid via conductors when charging and discharging the chip capacitor are connected. Resistance and inductance due to the second lattice via conductor can be reduced. In addition, the first and second lattice via conductors located at these portions also maintain a state of being alternately arranged in a lattice pattern at a predetermined interval. Even if there is a change, by changing the pattern of the first and second capacitor connection terminals including the first and second extending portions without changing the position and the like of the first and second lattice via conductors, It can be easily handled.

【0031】さらに、上記配線基板であって、前記1の
チップコンデンサの上記第1端子または第2端子と、こ
れに隣り合う他のチップコンデンサの第2端子または第
1端子との間隔が、前記所定間隔の2倍である配線基板
とすると良い。
Further, in the above wiring board, the distance between the first terminal or the second terminal of the one chip capacitor and the second terminal or the first terminal of another chip capacitor adjacent to the first terminal may be the same as that of the first chip capacitor. It is preferable that the wiring board be twice as long as the predetermined interval.

【0032】複数のチップコンデンサを搭載するに当た
っては、搭載面のうち限られた領域にできるだけ多数の
チップコンデンサを搭載することで、チップコンデンサ
全体の静電容量を大きくしたい場合などにおいて、チッ
プコンデンサ相互間の隙間を小さくすることが望まれる
ことがある。このような場合には、前記配線基板であっ
て、前記チップコンデンサは複数であり、1のチップコ
ンデンサの上記第1端子または第2端子と、これに隣り
合う他のチップコンデンサの第1端子または第2端子と
の間隔が、前記所定間隔に略等しい配線基板とするのが
好ましい。但し、このようにすると、チップコンデンサ
に設けた第1,第2端子が接続面の周縁のすぐ近くに位
置することとなり、チップコンデンサ自身を形成しにく
くなる上、隣り合うチップコンデンサ同士の絶縁を維持
しにくくなりがちである。
When mounting a plurality of chip capacitors, as many chip capacitors as possible are mounted on a limited area of the mounting surface to increase the capacitance of the entire chip capacitor. It may be desirable to reduce the gap between them. In such a case, the wiring board is provided with a plurality of the chip capacitors, and the first terminal or the second terminal of one chip capacitor and the first terminal or the other terminal of another chip capacitor adjacent thereto. It is preferable that the wiring board has a distance from the second terminal that is substantially equal to the predetermined distance. However, in this case, the first and second terminals provided on the chip capacitor are located very close to the peripheral edge of the connection surface, which makes it difficult to form the chip capacitor itself, and insulates the adjacent chip capacitors. It tends to be difficult to maintain.

【0033】本発明の配線基板では、隣り合うチップコ
ンデンサの端子同士の間隔が、所定間隔の2倍、すなわ
ち、第1,第2格子ビア導体の格子間隔の2倍である。
このため、略同じ格子間隔を持つ第1,第2格子ビア導
体とそれぞれのチップコンデンサの第1,第2端子との
接続についてみれば、各々のチップコンデンサの各第
1,第2端子と、各第1,第2格子ビア導体とは、第
1,第2コンデンサ接続端子を介するのみで接続でき
る。従って、第1,第2端子と第1,第2格子ビア導体
とを容易に、かつ低抵抗、低インダクタンスで接続する
ことができる。しかも、隣り合うチップコンデンサの端
子同士の間隔を所定間隔の2倍という小さな間隔にした
ので、チップコンデンサを密集して搭載することができ
る。
In the wiring board of the present invention, the interval between the terminals of adjacent chip capacitors is twice the predetermined interval, that is, twice the lattice interval between the first and second lattice via conductors.
For this reason, regarding the connection between the first and second lattice via conductors having substantially the same lattice spacing and the first and second terminals of each chip capacitor, each of the first and second terminals of each chip capacitor includes: Each of the first and second lattice via conductors can be connected only through the first and second capacitor connection terminals. Therefore, the first and second terminals and the first and second lattice via conductors can be easily connected with low resistance and low inductance. In addition, since the interval between the terminals of adjacent chip capacitors is set to a small interval twice as large as the predetermined interval, the chip capacitors can be densely mounted.

【0034】さらに、他の解決手段は、1または複数の
チップコンデンサコンデンサを搭載して配線基板とする
ための配線基板本体であって、上記チップコンデンサ
は、コンデンサを構成する一方の電極及び他方の電極、
接続面、上記接続面に形成され上記一方の電極と接続す
る複数の第1端子、及び、上記接続面に形成され上記他
方の電極と接続する複数の第2端子、を備え、上記第1
端子と第2端子とが第1所定間隔の格子状に交互に配置
されたチップコンデンサであり、上記配線基板本体は、
上記チップコンデンサを搭載するコンデンサ搭載面と、
1または複数の絶縁層と、上記絶縁層を貫通するビア導
体であって、共通第1電位とされる第1ビア導体、及び
共通第2電位とされる第2ビア導体を含み、上記第1ビ
ア導体と第2ビア導体の少なくともいずれかは、上記所
定間隔と略同一の間隔の格子状に交互に配置された第1
格子ビア導体及び第2格子ビア導体であるビア導体と、
上記絶縁層がなす面のうち最も上記コンデンサ搭載面側
の面において、上記接続面を上記コンデンサ搭載面側に
向けた上記チップコンデンサを搭載する際に上記第1端
子に対向する位置に形成され、上記第1格子ビア導体と
接続する第1コンデンサ接続端子と、上記第1コンデン
サ接続端子と同じ面に形成され、上記チップコンデンサ
を搭載する際に上記第2端子に対向する位置に形成さ
れ、上記第2格子ビア導体と接続する第2コンデンサ接
続端子と、を備える配線基板本体である。
Still another solution is a wiring board body for mounting one or a plurality of chip capacitor capacitors to form a wiring board, wherein the chip capacitor has one electrode and another electrode constituting the capacitor. electrode,
A first terminal formed on the connection surface and connected to the one electrode, and a plurality of second terminals formed on the connection surface and connected to the other electrode;
A terminal and a second terminal are chip capacitors alternately arranged in a grid pattern at a first predetermined interval, and the wiring board body includes:
A capacitor mounting surface for mounting the above chip capacitor,
The first via conductor including one or more insulating layers and a via conductor penetrating the insulating layer, the first via conductor having a common first potential, and the second via conductor having a common second potential; At least one of the via conductors and the second via conductors is a first conductor that is alternately arranged in a grid pattern at substantially the same interval as the predetermined interval.
Via conductors that are lattice via conductors and second lattice via conductors;
Of the surfaces formed by the insulating layers, the surface closest to the capacitor mounting surface is formed at a position facing the first terminal when mounting the chip capacitor with the connection surface facing the capacitor mounting surface side, A first capacitor connection terminal connected to the first lattice via conductor, and a first capacitor connection terminal formed on the same surface as the first capacitor connection terminal and formed at a position facing the second terminal when the chip capacitor is mounted; And a second capacitor connection terminal connected to the second lattice via conductor.

【0035】本発明の配線基板本体では、これに搭載す
るチップコンデンサが、接続面に格子状に交互に配置さ
れた第1,第2端子を有する。一方、配線基板本体は、
格子状に交互に配置された第1,第2格子ビア導体を有
し、この格子の間隔は、第1,第2端子の格子の間隔と
略同じである。また、第1,第2格子ビア導体とそれぞ
れ接続し、第1,第2端子とそれぞれ対向する第1,第
2コンデンサ接続端子を有する。このため、チップコン
デンサの各第1,第2端子と、各第1,第2格子ビア導
体との接続のために、絶縁層において平面方向に延びた
配線層を形成しておく必要が無く、第1,第2コンデン
サ接続端子を介するのみで接続できるので、チップコン
デンサと第1,第2格子ビア導体の両者を容易に接続す
ることができる。しかも、両者間を低抵抗、低インダク
タンスで接続することができる。
In the wiring board body of the present invention, the chip capacitor mounted on the wiring board body has first and second terminals alternately arranged in a grid on the connection surface. On the other hand, the wiring board body
It has first and second lattice via conductors alternately arranged in a lattice, and the lattice spacing is substantially the same as the lattice spacing of the first and second terminals. In addition, the semiconductor device has first and second capacitor connection terminals connected to the first and second lattice via conductors and facing the first and second terminals, respectively. Therefore, it is not necessary to form a wiring layer extending in the planar direction in the insulating layer for connecting the first and second terminals of the chip capacitor to the first and second lattice via conductors. Since the connection can be made only through the first and second capacitor connection terminals, both the chip capacitor and the first and second lattice via conductors can be easily connected. Moreover, they can be connected with low resistance and low inductance.

【0036】さらに、上記配線基板本体であって、前記
チップコンデンサは複数であり、1のチップコンデンサ
の上記第1端子または第2端子と、これに隣り合う他の
チップコンデンサの第2端子または第1端子との間隔
が、前記所定間隔の2以上の整数倍であり、前記第1格
子ビア導体のうち、前記第1コンデンサ接続端子に接続
しない第1格子ビア導体は、前記端子形成面に形成さ
れ、上記第1コンデンサ接続端子のうちいずれかから延
びる第1延在部に接続し、前記第2格子ビア導体のう
ち、前記第2コンデンサ接続端子に接続しない第2格子
ビア導体は、前記端子形成面に形成され、上記第2コン
デンサ接続端子のうちいずれかから延びる第2延在部に
接続する配線基板本体。
Further, in the wiring board main body, the chip capacitor is plural, and the first terminal or the second terminal of one chip capacitor is connected to the second terminal or the second terminal of another chip capacitor adjacent thereto. An interval between the first lattice via conductor and the first lattice via conductor that is not integral with the first capacitor connection terminal is formed on the terminal formation surface. A second lattice via conductor connected to a first extension extending from any one of the first capacitor connection terminals and not connected to the second capacitor connection terminal among the second lattice via conductors, A wiring board main body formed on a formation surface and connected to a second extending portion extending from any one of the second capacitor connection terminals.

【0037】配線基板本体に複数のチップコンデンサを
搭載する場合には、チップコンデンサ同士の間に隙間が
生じるため、各チップコンデンサとビア導体との接続が
面倒となり易い。これに対し、本発明の配線基板本体で
は、隣り合う2つのチップコンデンサに属する端子同士
の間隔を格子間隔の2以上の整数倍とした。このため、
略同じ格子間隔を持つ第1,第2格子ビア導体とそれぞ
れのチップコンデンサの第1,第2端子との接続につい
てみれば、各々のチップコンデンサの各第1,第2端子
と、各第1,第2格子ビア導体とは、絶縁層において平
面方向に延びて形成された配線層が介在することなく、
第1,第2コンデンサ接続端子を介するのみで接続でき
る点で変わるところがない。従って、第1,第2端子と
第1,第2格子ビア導体とを容易に、かつ低抵抗、低イ
ンダクタンスで接続することができる。
When a plurality of chip capacitors are mounted on the wiring board body, a gap is formed between the chip capacitors, so that connection between each chip capacitor and the via conductor tends to be troublesome. On the other hand, in the wiring board body of the present invention, the interval between terminals belonging to two adjacent chip capacitors is set to an integral multiple of 2 or more of the lattice interval. For this reason,
Regarding the connection between the first and second lattice via conductors having substantially the same lattice spacing and the first and second terminals of each chip capacitor, the first and second terminals of each chip capacitor and the first and second terminals , The second lattice via conductor means that the wiring layer formed in the insulating layer and extending in the planar direction does not intervene.
There is no change in that the connection can be made only through the first and second capacitor connection terminals. Therefore, the first and second terminals and the first and second lattice via conductors can be easily connected with low resistance and low inductance.

【0038】しかも、チップコンデンサを搭載した場合
の各チップコンデンサ同士の隙間や周囲などに対応した
位置にある第1,第2格子ビア導体は、それぞれ第1,
第2延在部に接続して、これを経由して第1,第2コン
デンサ接続端子に接続するので、これを通じてそれぞれ
第1,第2コンデンサ接続端子に接続する。このため、
第1,第2延在部を有する第1,第2コンデンサ接続端
子では、接続される第1,第2格子ビア導体が増えるこ
ととなり、チップコンデンサを充放電する際の第1,第
2格子ビア導体による抵抗やインダクタンスを低減でき
る。また、これらの部位に位置する第1,第2格子ビア
導体についても、所定間隔の格子状に交互に配置された
状態を維持しているので、本発明の配線基板本体に搭載
するチップコンデンサの端子数などチップコンデンサの
形状等に変更があった場合でも、第1,第2格子ビア導
体の位置等を変更することなく、第1,第2延在部を含
む第1,第2コンデンサ接続端子のパターンを変更する
ことで、容易に対応することができる。
Moreover, when the chip capacitors are mounted, the first and second lattice via conductors located at positions corresponding to the gaps and surroundings between the chip capacitors are the first and second grid via conductors, respectively.
Since it is connected to the second extending portion and connected to the first and second capacitor connection terminals via this, it is connected to the first and second capacitor connection terminals respectively through this. For this reason,
In the first and second capacitor connection terminals having the first and second extending portions, the number of first and second grid via conductors connected increases, and the first and second grids for charging and discharging the chip capacitor are increased. Resistance and inductance due to via conductors can be reduced. In addition, the first and second lattice via conductors located at these portions also maintain a state of being alternately arranged in a lattice at a predetermined interval, so that the chip capacitor mounted on the wiring board body of the present invention can be used. Even when the shape of the chip capacitor such as the number of terminals is changed, the first and second capacitor connections including the first and second extending portions are not changed without changing the positions and the like of the first and second grid via conductors. By changing the pattern of the terminals, it is possible to easily cope with the problem.

【0039】さらに他の解決手段は、コンデンサを構成
する一方の電極及び他方の電極を備えるチップコンデン
サであって、略直方体形状をなし、略矩形状の接続面
と、これに直交する4つの側面と、上記接続面に形成さ
れ、上記一方の電極と接続する複数の第1端子と、上記
接続面に形成され、上記他方の電極と接続する複数の第
2端子と、を備え、上記第1端子と第2端子とが、所定
間隔で、かつ上記接続面のいずれかの周縁辺と平行及び
直交する格子状に交互に配置され、上記第1端子及び第
2端子のうち上記接続面の最外周に位置する最外第1端
子及び最外第2端子と上記4つの側面との間隔が、いず
れも上記所定間隔よりも小さいチップコンデンサであ
る。
Still another solution is a chip capacitor having one electrode and the other electrode constituting a capacitor. The chip capacitor has a substantially rectangular parallelepiped shape, a substantially rectangular connection surface, and four side surfaces orthogonal to the connection surface. And a plurality of first terminals formed on the connection surface and connected to the one electrode; and a plurality of second terminals formed on the connection surface and connected to the other electrode. The terminals and the second terminals are alternately arranged at a predetermined interval in a lattice shape parallel and orthogonal to any one of the peripheral edges of the connection surface, and the terminal and the second terminal of the connection surface of the first terminal and the second terminal are arranged at the end of the connection surface. The distance between the outermost first terminal and the outermost second terminal located on the outer circumference and the four side surfaces is a chip capacitor smaller than the predetermined distance.

【0040】本発明のチップコンデンサでは、第1端子
と第2端子とが、所定間隔で、かつ接続面のいずれかの
周縁辺と平行及び直交する格子状に交互に配置されてい
る。しかも、第1端子及び第2端子のうち接続面の最外
周に位置する最外第1端子及び最外第2端子と4つの側
面との間隔が、いずれも上記した所定間隔よりも小さ
い。従って、このチップコンデンサを用いると、隣り合
うチップコンデンサ間で端子同士の間隔を、所定間隔の
2倍として複数のチップコンデンサを配置することがで
きる。またさらには、隣り合うチップコンデンサ間で端
子同士の間隔を、2倍以内に近づけるもことができる。
つまり、複数のチップコンデンサを狭い間隔で並べるこ
とができる。従って、例えば、多数のチップコンデンサ
を配線基板本体に搭載することができる。
In the chip capacitor of the present invention, the first terminals and the second terminals are alternately arranged at a predetermined interval and in a lattice shape parallel and orthogonal to any one of the peripheral edges of the connection surface. In addition, the distance between the outermost first terminal and the outermost second terminal located at the outermost periphery of the connection surface of the first terminal and the second terminal and the four side surfaces is smaller than the above-described predetermined distance. Therefore, when this chip capacitor is used, a plurality of chip capacitors can be arranged with the interval between terminals between adjacent chip capacitors being twice the predetermined interval. Furthermore, the interval between terminals between adjacent chip capacitors can be reduced to within twice.
That is, a plurality of chip capacitors can be arranged at narrow intervals. Therefore, for example, a large number of chip capacitors can be mounted on the wiring board body.

【0041】[0041]

【発明の実施の形態】(実施形態1)本発明の第1の実
施形態を、図1〜図7を参照しつつ説明する。図1に示
す配線基板100は、中心となるコア絶縁層110と、
その上下にそれぞれ積層されたエポキシ樹脂からなる主
面側絶縁層122〜125、裏面側絶縁層132〜13
5とを有する。配線基板100の主面100bの中央部
には、接続パッド185及びその上に形成された接続バ
ンプ189が多数配置され、破線で示すICチップ20
の下面21に多数形成された端子22とそれぞれフリッ
プチップ接続可能とされている。また、図中裏面100
cの中央部には、第1,第2コンデンサ接続パッド19
5,196が格子状に交互に配置され、ハンダ199を
介して、チップコンデンサ210の第1,第2コンデン
サ端子212と接続され、このチップコンデンサ210
が裏面100cに搭載されている。また、裏面100c
の周縁には、接続パッド194が多数形成され、マザー
ボード等の他の基板(図示しない)と接続可能となって
いる。
(Embodiment 1) A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. The wiring board 100 shown in FIG. 1 includes a core insulating layer 110 serving as a center,
The main surface side insulating layers 122 to 125 and the back side insulating layers 132 to 13 made of epoxy resin are respectively stacked on the upper and lower sides.
And 5. In the center of the main surface 100b of the wiring substrate 100, a large number of connection pads 185 and a large number of connection bumps 189 formed thereon are arranged.
And a plurality of terminals 22 formed on the lower surface 21 of each of them can be flip-chip connected. Also, the back surface 100 in FIG.
c, the first and second capacitor connection pads 19
5, 196 are alternately arranged in a grid pattern and connected to the first and second capacitor terminals 212 of the chip capacitor 210 via solder 199.
Is mounted on the back surface 100c. Also, the back 100c
A large number of connection pads 194 are formed on the periphery of, and can be connected to another substrate (not shown) such as a motherboard.

【0042】コア絶縁層110は、中心となるガラス−
エポキシ樹脂複合材料からなる絶縁層111の上下にエ
ポキシ樹脂からなる絶縁層112,113をそれぞれ形
成した3層の絶縁層からなり、コア主面110bとコア
裏面110cとの間を厚さ方向に貫通するコア貫通孔1
10h内には、スルーホール導体114が多数形成され
ている。このスルーホール導体114には、信号配線の
一部となるスルーホール導体115の他、+の電源電位
(共通第1電位)とされる第1スルーホール導体11
7、接地電位(共通第2電位)とされる第2スルーホー
ル導体118がある。特に、後述するように、投影格子
領域PLA内(図1中、中央部分)に位置する第1,第
2スルーホール導体層117,118は、所定の格子間
隔TP(本実施形態ではTP=450μm)に交互に配
置された第1格子スルーホール導体層117及び第2格
子スルーホール導体層118となっている。
The core insulating layer 110 is made of a glass
It is composed of three insulating layers formed of insulating layers 112 and 113 made of epoxy resin on and under an insulating layer 111 made of an epoxy resin composite material, and penetrates between the core main surface 110b and the core back surface 110c in the thickness direction. Core through hole 1
Many through-hole conductors 114 are formed in 10h. The through-hole conductor 114 includes a through-hole conductor 115 serving as a part of a signal wiring and a first through-hole conductor 11 having a positive power supply potential (common first potential).
7. There is a second through-hole conductor 118 which is set to the ground potential (common second potential). In particular, as described later, the first and second through-hole conductor layers 117 and 118 located in the projection grating area PLA (the central portion in FIG. 1) have a predetermined grating interval TP (TP = 450 μm in the present embodiment). ) Are the first lattice through-hole conductor layers 117 and the second lattice through-hole conductor layers 118 alternately arranged.

【0043】次いで、このコア絶縁層110より主面側
(図中上方)の構造について説明する。コア絶縁層11
0のコア主面110b上には、主面側絶縁層122〜1
25及びソルダーレジスト層126が積層されている。
これらの層間141〜145のうち、層間141(コア
主面110b上)には、略ベタ状の第2変換導体層16
1が形成されている(図5参照)。また、コア主面11
0bに接する主面側絶縁層122の主面側(すなわち主
面側絶縁層122と123の層間142)には、略ベタ
状の第1変換導体層162が形成されている(図4参
照)。さらに、層間143,144にはそれぞれ配線層
163,164が形成されている。主面100b側に形
成された接続バンプ189は、それぞれ接続パッド18
5を通じて主面側絶縁層125等を貫通して裏面100
c側に延びている。
Next, the structure on the main surface side (upper side in the figure) of the core insulating layer 110 will be described. Core insulating layer 11
0 on the core main surface 110b.
25 and a solder resist layer 126 are laminated.
Of these layers 141 to 145, the substantially solid second conversion conductor layer 16 is provided between layers 141 (on the core main surface 110 b).
1 are formed (see FIG. 5). Also, the core main surface 11
A substantially solid first conversion conductor layer 162 is formed on the main surface side of the main surface side insulating layer 122 in contact with Ob (ie, between the main surface side insulating layers 122 and 123) (see FIG. 4). . Further, wiring layers 163 and 164 are formed between the layers 143 and 144, respectively. The connection bumps 189 formed on the main surface 100b side are connected to the connection pads 18 respectively.
5, through the main surface side insulating layer 125, etc.
It extends to the c side.

【0044】ここで、この配線基板100の接続バンプ
189の配置は、図2に示すようになっている、。すな
わち、主面100bの中央部分に多数の接続バンプ18
9が所定間隔BP(本実施形態ではBP=150μm)
で縦横格子状に並んでいる。このうち、一点鎖線で囲む
格子領域LAよりも外側には、主として信号の入出力な
どを行うための接続バンプ189が並んでいる。一方、
格子領域LA内は、図3に示すように、+の電源電位
(共通第1電位)とされる第1格子接続バンプ187L
及び接地電位(共通第2電位)とされる第2格子接続バ
ンプ188Lが、所定間隔BPで交互に格子状に配置さ
れている。なお、+の電源電位とされる第1接続バンプ
187及び接地電位とされる第2接続バンプ188は、
格子領域LAの外側にも形成される場合がある。
Here, the arrangement of the connection bumps 189 of the wiring board 100 is as shown in FIG. That is, a large number of connection bumps 18 are provided at the central portion of main surface 100b.
9 is a predetermined interval BP (BP = 150 μm in this embodiment)
Are arranged in a vertical and horizontal lattice. Of these, connection bumps 189 mainly for inputting / outputting signals and the like are arranged outside the lattice area LA surrounded by a dashed line. on the other hand,
As shown in FIG. 3, the first grid connection bumps 187L which are set to the + power supply potential (common first potential) in the grid area LA.
And the second grid connection bumps 188L which are set to the ground potential (common second potential) are alternately arranged in a grid pattern at a predetermined interval BP. In addition, the first connection bump 187 which is a power supply potential of + and the second connection bump 188 which is a ground potential are:
It may be formed outside the lattice area LA.

【0045】このように配置された接続バンプ189う
ち、格子領域LAの外側に形成され信号配線などに用い
る接続バンプ186は、図1に示すように、主面側絶縁
層125あるいは主面側絶縁層125と124とを貫通
して、配線層163,164に接続し、一旦さらに外側
(図中左右方向)にファンアウトし、主面側絶縁層12
4〜122または123,122を貫通するビア導体1
72によって、コア絶縁層110に形成したスルーホー
ル導体115に接続する。その後、裏面側絶縁層132
〜135を貫通するビア導体191によって、裏面側絶
縁層135の裏面側に形成された接続パッド194に接
続している。これにより、前述したように、他の基板と
の接続が可能となる。
Of the connection bumps 189 thus arranged, the connection bumps 186 formed outside the lattice area LA and used for signal wiring and the like are, as shown in FIG. The layers 125 and 124 penetrate and are connected to the wiring layers 163 and 164, and are once further fanned out (in the left-right direction in the drawing), and
Via conductor 1 penetrating through 4-122 or 123, 122
72 connects to the through-hole conductor 115 formed in the core insulating layer 110. Then, the back side insulating layer 132
135 are connected to connection pads 194 formed on the back surface side of the back surface side insulating layer 135 by via conductors 191. This enables connection to another substrate as described above.

【0046】一方、格子領域LA内に位置している第1
格子接続バンプ187Lは、主面側絶縁層125,12
4,123を貫通して延びる第1主面側ビア導体182
によって、第1変換導体層162に接続する。図4に示
す図は、図1におけるM−M’断面のうち、格子領域L
Aを裏面100c側に投影した投影格子領域PLA内の
部分を示したもので、図3に示す第1,第2格子接続バ
ンプ187L,188Lの配置に対応させてある。図4
においては、主面側から第1変換導体層162に接続す
る第1主面側ビア導体182の接続位置を×印によって
表している。さらにこの第1変換導体層162の裏面側
(コア絶縁層110側)には、破線の○印で示す第1コ
ア側ビア導体184が接続している。すなわち、この第
1変換導体層162から第1コア側ビア導体184が裏
面側に向けて延びている。ここで、第1コア側ビア導体
184の数と位置は、図4に示すようになっている。つ
まり、第1主面側ビア導体182と第1コア側ビア導体
184の数を比較すると、容易に理解できるように、第
1コア側ビア導体184の数が少なくされている。ま
た、第1コア側ビア導体184は第1主面側ビア導体1
82と図4において重なる位置に形成されている。つま
り、第1コア側ビア導体184は第1主面側ビア導体1
82と同軸に形成されている。従って、同軸とされた第
1コア側ビア導体184は第1主面側ビア導体182と
の間では、第1変換導体層162の厚さ分だけ離れてい
るに過ぎないため、この部分で生じる抵抗やインダクタ
ンスが極めて小さいから、全体としても合成抵抗や合成
インダクタンスを小さくすることができる。
On the other hand, the first region located in the lattice area LA
The grid connection bumps 187L are formed on the main surface side insulating layers 125 and 12.
First main surface side via conductor 182 extending through 4,123
By this, the connection is made to the first conversion conductor layer 162. FIG. 4 shows the lattice region L in the MM ′ section in FIG.
3A shows a portion in the projection grid area PLA where A is projected on the back surface 100c side, and corresponds to the arrangement of the first and second grid connection bumps 187L and 188L shown in FIG. FIG.
In the figure, the connection position of the first main surface side via conductor 182 connected to the first conversion conductor layer 162 from the main surface side is indicated by a mark x. Further, a first core-side via conductor 184 indicated by a dashed circle is connected to the back surface side (core insulating layer 110 side) of the first conversion conductor layer 162. That is, the first core-side via conductor 184 extends from the first conversion conductor layer 162 toward the rear surface. Here, the number and positions of the first core-side via conductors 184 are as shown in FIG. That is, when the number of the first main surface side via conductors 182 and the number of the first core side via conductors 184 are compared, the number of the first core side via conductors 184 is reduced so as to be easily understood. The first core-side via conductor 184 is the first main-surface-side via conductor 1.
4 is formed at a position overlapping with FIG. That is, the first core side via conductor 184 is the first main surface side via conductor 1
82 is formed coaxially. Accordingly, the coaxial first core side via conductor 184 is separated from the first main surface side via conductor 182 only by the thickness of the first conversion conductor layer 162, and thus occurs at this portion. Since the resistance and inductance are extremely small, the combined resistance and combined inductance can be reduced as a whole.

【0047】さらに、第1コア側ビア導体184の位置
は規則的にされており、第1主面側ビア導体182が構
成する格子(図4において斜めに現れる格子)に対し、
間隔が3倍の格子を構成するように選択している。この
ようにして、第1変換導体層によって、第1主面側ビア
導体182の接続位置と接続数を変換して、第1コア側
ビア導体184と容易に接続することができる。
Further, the positions of the first core-side via conductors 184 are regular, and the positions of the first main-side via conductors 182 are different from the lattices (lattices which appear obliquely in FIG. 4) formed by the first main surface side via conductors 182.
The spacing has been chosen to form a triple grid. In this manner, the connection position and the number of connections of the first main surface side via conductor 182 can be changed by the first conversion conductor layer, and the first main surface side via conductor 182 can be easily connected to the first core side via conductor 184.

【0048】また同様に、格子領域LA内に位置してい
る第2格子接続バンプ188Lは、主面側絶縁層12
5,124,123,122を貫通して延びる第2主面
側ビア導体183によって、第2変換導体層161に接
続する(図5参照)。但し、第1変換導体層162との
関係では、図4に示すように、第1変換導体層162に
形成された第1貫通孔162h内を第2主面側ビア導体
183が通り、第1変換導体層162との絶縁を保つよ
うにする。図5に示す図は、図1におけるN−N’断面
のうち、投影格子領域PLA内の部分を示したもので、
図3の第1,第2格子接続バンプ187L,188Lの
配置に対応するものである。図5においては、主面側か
ら第2変換導体層161に接続する第2主面側ビア導体
183の接続位置を×印によって表している。さらにこ
の第2変換導体層161の裏面側(コア絶縁層側)で
は、破線の○印で示す位置で、第2格子スルーホール導
体118Lが接続している。ここで、第2格子スルーホ
ール導体118Lの数と位置は、図5に示すようになっ
ている。つまり、第2主面側ビア導体183と第2格子
スルーホール導体118Lの数を比較すると、容易に理
解できるように、第2格子スルーホール導体118Lの
数が少なくされている。また、第2格子スルーホール導
体118Lは第2主面側ビア導体183と図5において
重なる位置に形成されている。つまり、第2格子スルー
ホール導体118Lは第2主面側ビア導体183と同軸
に形成されている。従って、同軸とされた第2格子スル
ーホール導体118Lは第2主面側ビア導体183との
間では、第2変換導体層161の厚さ分だけ離れている
に過ぎないため、この部分で生じる抵抗やインダクタン
スが極めて小さいから、全体としても合成抵抗や合成イ
ンダクタンスを小さくすることができる。
Similarly, the second grid connection bump 188L located in the grid area LA is connected to the main surface side insulating layer 12
5, 124, 123, and 122 are connected to the second conversion conductor layer 161 by the second main surface side via conductor 183 extending through the conductor (see FIG. 5). However, in relation to the first conversion conductor layer 162, as shown in FIG. 4, the second main surface side via conductor 183 passes through the first through hole 162h formed in the first conversion conductor layer 162, and The insulation from the conversion conductor layer 162 is maintained. FIG. 5 shows a portion in the projection grating area PLA in the NN ′ cross section in FIG.
This corresponds to the arrangement of the first and second lattice connection bumps 187L and 188L in FIG. In FIG. 5, the connection position of the second main surface side via conductor 183 connected to the second conversion conductor layer 161 from the main surface side is indicated by an x mark. Further, on the back surface side (core insulating layer side) of the second conversion conductor layer 161, the second lattice through-hole conductor 118L is connected at a position indicated by a broken circle. Here, the number and positions of the second lattice through-hole conductors 118L are as shown in FIG. That is, when the number of the second main surface side via conductors 183 and the number of the second lattice through-hole conductors 118L are compared, the number of the second lattice through-hole conductors 118L is reduced so as to be easily understood. The second lattice through-hole conductor 118L is formed at a position overlapping the second main surface side via conductor 183 in FIG. That is, the second lattice through-hole conductor 118L is formed coaxially with the second main surface side via conductor 183. Therefore, the coaxial second lattice through-hole conductor 118L is separated from the second main surface side via conductor 183 by only the thickness of the second conversion conductor layer 161 and is generated at this portion. Since the resistance and inductance are extremely small, the combined resistance and combined inductance can be reduced as a whole.

【0049】しかも、本実施形態では、コア絶縁層11
0のコア主面110bに第2変換導体層161を形成
し、これに接する主面側絶縁層122の主面側(層間1
42)に第1変換導体層162を形成しているから、第
1,第2変換導体層とも、スルーホール導体に最も近い
位置となっており、第1,第2変換導体層161,16
2から第1,第2格子接続バンプ187L,188Lま
での距離が最も長く、第1,第2格子スルーホール導体
117L、118Lまでの距離が最も短くなるように構
成してある。従って、並列な経路が長く形成されるの
で、全体として低抵抗、低インダクタンスで第1,第2
格子接続バンプ187L,188Lと、第1,第2格子
スルーホール導体117L、118Lとを結ぶことがで
きる。
In the present embodiment, the core insulating layer 11
The second conversion conductor layer 161 is formed on the core main surface 110b of the first main surface 110b, and the main surface side of the main surface side insulating layer 122 (the interlayer 1)
42), since the first conversion conductor layer 162 is formed, both the first and second conversion conductor layers are located closest to the through-hole conductor, and the first and second conversion conductor layers 161, 16
The distance from the second to the first and second lattice connection bumps 187L and 188L is the longest, and the distance from the first and second lattice through-hole conductors 117L and 118L is the shortest. Therefore, since the parallel paths are formed long, the first and second paths have low resistance and low inductance as a whole.
The grid connection bumps 187L and 188L can be connected to the first and second grid through-hole conductors 117L and 118L.

【0050】さらに、第2格子スルーホール導体118
Lの位置は規則的にされており、第2主面側ビア導体1
83が構成する格子(図5において斜めに現れる格子)
に対し、間隔が3倍の格子を構成するように選択してい
る。このようにして、第2変換導体層によって、第2主
面側ビア導体183の接続位置と接続数を変換して、第
2格子スルーホール導体118Lと容易に接続すること
ができる。さらに、この第2変換導体層161には、第
2貫通孔161hが各所に形成されており、この中に
は、第1格子スルーホール導体117Lが位置してお
り、第2変換導体層161との絶縁を保つようにしてい
る。ここで、図1、及び図4と図5との関係から容易に
理解できるように、第1変換導体層162から裏面側に
延びる第1コア側ビア導体184は、第1格子スルーホ
ール導体117Lに接続している。
Further, the second lattice through-hole conductor 118
The position of L is regular, and the second main surface side via conductor 1
The grid constituted by 83 (the grid which appears obliquely in FIG. 5)
Is selected so as to form a grid having a triple interval. In this manner, the connection position and the number of connections of the second main surface side via conductor 183 can be changed by the second conversion conductor layer, and can be easily connected to the second lattice through-hole conductor 118L. Further, in the second conversion conductor layer 161, second through holes 161h are formed at various places, in which the first lattice through-hole conductor 117L is located. Try to keep the insulation. Here, as can be easily understood from FIG. 1 and the relationship between FIG. 4 and FIG. 5, the first core-side via conductor 184 extending from the first conversion conductor layer 162 to the back side is the first lattice through-hole conductor 117L. Connected to

【0051】このようにして、第1,第2変換導体層1
61,162で、第1,第2格子接続バンプ187L,
188Lから延びる第1,第2主面側ビア導体182,
183の接続位置や接続数の変換を行うことで、図6に
示すように、コア絶縁層110に形成された第1、第2
格子スルーホール導体117L,118Lは、再び縦横
格子状に交互に配置され、しかも、その格子間隔TP
は、第1,第2格子接続バンプ187L,188Lの格
子間隔BPの3倍となっている。
Thus, the first and second conversion conductor layers 1
61, 162, the first and second lattice connection bumps 187L,
188L, the first and second main surface side via conductors 182,
By converting the connection position and the number of connections in the core insulating layer 110, as shown in FIG.
The lattice through-hole conductors 117L and 118L are alternately arranged in a vertical and horizontal lattice again, and have a lattice spacing TP.
Is three times the lattice spacing BP of the first and second lattice connection bumps 187L and 188L.

【0052】このような手法によれば、コア絶縁層11
0に形成する第1,第2格子スルーホール導体117
L,118Lの格子間隔TPを大きくしつつ、第1,第
2格子スルーホール導体117L,118Lと、格子間
隔BPの狭い第1,第2格子接続バンプ187L,18
8Lとの接続を容易に行うことができ、配線基板の配線
引き回し設計が極めて容易となる。
According to such a method, the core insulating layer 11
0, first and second lattice through-hole conductors 117
The first and second lattice through-hole conductors 117L and 118L and the first and second lattice connection bumps 187L and 18 having a small lattice spacing BP are formed while increasing the lattice spacing TP of the L and 118L.
The connection with 8L can be easily made, and the wiring layout design of the wiring board becomes extremely easy.

【0053】かくして、格子間隔が3倍に大きくされた
第1,第2格子スルーホール導体117L,118L
は、コア裏面110cから裏面側絶縁層132〜135
を貫通する第1,第2裏面側ビア導体192,193に
それぞれ接続する。第1,第2裏面側ビア導体192,
193もその格子間隔VP(VP=TP=450μm)
を保った状態で、格子状に交互に配置され、裏面側絶縁
層135の裏面側に形成された第1,第2コンデンサ接
続パッド195,196にそれぞれ接続している。この
第1,第2コンデンサ接続パッド195,196には、
前述したように、チップコンデンサ210が接続されて
いる。
Thus, the first and second lattice through-hole conductors 117L and 118L whose lattice spacing is tripled are provided.
Are from the core back surface 110c to the back side insulating layers 132 to 135
Are connected to the first and second back side via conductors 192 and 193, respectively. First and second backside via conductors 192,
193 also has its lattice spacing VP (VP = TP = 450 μm)
, And are alternately arranged in a grid pattern, and are connected to the first and second capacitor connection pads 195 and 196 formed on the back surface of the back surface insulating layer 135, respectively. The first and second capacitor connection pads 195 and 196 include:
As described above, the chip capacitor 210 is connected.

【0054】なお、このチップコンデンサ210は、図
7(a)に示すように、略直方体形状をなし、接続面2
10bに多数のコンデンサ端子212が格子状に配置さ
れたものであり、図7(b)に示すような構造を有する
積層セラミックコンデンサである。すなわち、チップコ
ンデンサ210は、BaTiO3等からなる高誘電率セ
ラミック215と電極層221,222とが交互に積層
された積層構造を有しており、しかも、ビア223は1
層おきの電極221と接続し、ビア224は、残りの1
層おきの電極222と接続するようにしてある。これら
のビア223,224はそれぞれ接続面210b側に形
成された第1,第2コンデンサ端子213,214に接
続される。第1,第2コンデンサ端子213,214
は、第1,第2裏面側ビア導体192,193の格子間
隔VPに略等しい所定の格子間隔CP(本実施形態で
は、CP=VP=450μm)の格子状に交互に配置さ
れている。第1,第2コンデンサ端子213,214に
は必要に応じて、ハンダ199が付着される。また、ハ
ンダの濡れ拡がりによる不具合を防止するため、第1,
第2コンデンサ端子213,214の周囲にソルダーレ
ジスト層216を形成することもある。このチップコン
デンサ210は上記のような構造を有しているので、第
1コンデンサ端子213と第2コンデンサ端子214と
の間に、図7(c)に示すようなコンデンサが形成され
たことになる。
The chip capacitor 210 has a substantially rectangular parallelepiped shape as shown in FIG.
A large number of capacitor terminals 212 are arranged in a grid pattern on 10b, which is a multilayer ceramic capacitor having a structure as shown in FIG. 7B. That is, the chip capacitor 210 has a laminated structure in which the high dielectric constant ceramics 215 made of BaTiO3 or the like and the electrode layers 221 and 222 are alternately laminated.
The via 224 is connected to the electrode 221 of every other layer,
The electrode 222 is connected to every other layer. These vias 223 and 224 are respectively connected to first and second capacitor terminals 213 and 214 formed on the connection surface 210b side. First and second capacitor terminals 213 and 214
Are alternately arranged in a grid with a predetermined grid interval CP (in the present embodiment, CP = VP = 450 μm) substantially equal to the grid interval VP of the first and second back side via conductors 192 and 193. Solder 199 is attached to the first and second capacitor terminals 213 and 214 as necessary. In addition, in order to prevent the problem due to the spread of solder wet,
A solder resist layer 216 may be formed around the second capacitor terminals 213 and 214. Since the chip capacitor 210 has the above-described structure, a capacitor as shown in FIG. 7C is formed between the first capacitor terminal 213 and the second capacitor terminal 214. .

【0055】このように、上記したチップコンデンサ2
10では、第1,第2コンデンサ端子213,214
が、第1,第2裏面側ビア導体192,193の格子間
隔VPに略等しい所定間隔CP(本実施形態では、CP
=VP=450μm)の格子状に交互に配置されてい
る。このため、チップコンデンサの第1,第2コンデン
サ端子213,214をそれぞれ配線基板本体101の
第1,第2コンデンサ接続パッド195,196に容易
に接続することができる。しかも、第1,第2裏面側ビ
ア導体192,193と、第1,第2コンデンサ端子2
13,214との間には、第1,第2コンデンサ接続パ
ッド195,196が介在するだけであるので、両者の
間に生じる抵抗やインダクタンスをも抑制することがで
きる。
As described above, the above-described chip capacitor 2
10, the first and second capacitor terminals 213 and 214
Is a predetermined interval CP substantially equal to the lattice interval VP of the first and second back side via conductors 192 and 193 (in the present embodiment, the predetermined interval CP is
= VP = 450 μm). Therefore, the first and second capacitor terminals 213 and 214 of the chip capacitor can be easily connected to the first and second capacitor connection pads 195 and 196 of the wiring board main body 101, respectively. Moreover, the first and second back side via conductors 192 and 193 and the first and second capacitor terminals 2
Since only the first and second capacitor connection pads 195 and 196 are interposed between the first and second capacitors 13 and 214, the resistance and inductance generated between them can be suppressed.

【0056】また、本実施形態では、図1左側に示すよ
うに、接続パッド194から、裏面側ビア導体191、
第1,第2スルーホール導体117,118、コア側ビ
ア導体172を経由して、第1,第2変換導体層16
1,162に+の電源電位や接地電位(+あるいはGの
記号で表示)を供給することで、チップコンデンサ21
0及び電子部品20に電力を供給する。このようなチッ
プコンデンサ210を配線基板100の裏面100cに
搭載したことにより、ICチップ等の電子部品20の直
下にチップコンデンサ210を配置し、多数のビア導体
等を用いて並列の経路で両者の間を接続しているため、
低抵抗、低インダクタンスな経路により安定した電源電
位や接地電位を供給することができる。
Further, in the present embodiment, as shown on the left side of FIG.
Via the first and second through-hole conductors 117 and 118 and the core-side via conductor 172, the first and second conversion conductor layers 16
By supplying a + power supply potential or a ground potential (represented by a + or G symbol) to the first
0 and the electronic component 20. By mounting such a chip capacitor 210 on the back surface 100c of the wiring board 100, the chip capacitor 210 is arranged immediately below the electronic component 20 such as an IC chip, and both of them are connected in parallel by using a large number of via conductors. Because the connection between
A stable power supply potential and ground potential can be supplied through a low resistance and low inductance path.

【0057】次いで、配線基板100の製造方法につい
て説明する。配線基板100は、公知のビルドアップ配
線基板及び積層セラミックコンデンサの形成手法により
形成すれば良い。例えば、ガラス−エポキシ樹脂複合材
料からなる樹脂層111を用意し、その上下面に、樹脂
層112,113及び銅箔をそれぞれ積層し硬化させ
る。その後、必要な部位に、貫通孔110hをレーザ、
ドリル等により穿孔し、パネルメッキし、貫通孔内に樹
脂を充填する。硬化後上下面を研磨し、無電解メッキ及
び電解メッキを行って充填樹脂の上部(下部)にもメッ
キ層を形成した後、パターンニングして、スルーホール
導体を形成したコア絶縁層110を完成する。その後
は、ビルドアップ手法、メッキ、エッチング技術によ
り、絶縁層や配線層、変換導体層、ビア導体等を順次形
成して、配線基板本体101を完成させる。その後、別
途形成しておいた、チップコンデンサ210をハンダ付
けにより搭載して、配線基板100を完成する。
Next, a method of manufacturing the wiring board 100 will be described. The wiring board 100 may be formed by a known method of forming a build-up wiring board and a multilayer ceramic capacitor. For example, a resin layer 111 made of a glass-epoxy resin composite material is prepared, and resin layers 112 and 113 and a copper foil are respectively laminated and cured on the upper and lower surfaces. Then, a laser is inserted through the through hole 110h at a necessary portion,
Drill holes and perform panel plating, and fill the through holes with resin. After curing, the upper and lower surfaces are polished, electroless plating and electrolytic plating are performed to form a plating layer also on the upper portion (lower portion) of the filling resin, and then patterning is performed to complete the core insulating layer 110 in which a through-hole conductor is formed. I do. Thereafter, an insulating layer, a wiring layer, a conversion conductor layer, a via conductor, and the like are sequentially formed by a build-up technique, plating, and an etching technique to complete the wiring board main body 101. After that, the separately formed chip capacitor 210 is mounted by soldering to complete the wiring board 100.

【0058】(変形形態1)次いで、本実施形態の変形
形態1について、図8を参照して説明する。上記実施形
態1の配線基板100では、3層の絶縁層からなるコア
絶縁層110を中心とし、主面側絶縁層122〜125
及び裏面側絶縁層132〜135を備え、コア絶縁層1
10のコア主面110bに第2変換導体層161を、そ
れに隣り合う層間142に第1変換導体層162を備
え、第2変換導体層161と第2格子スルーホール導体
118Lとが直接接続してなるものを示した。これに対
し、本変形形態2の配線基板300は図8に示すよう
に、コア絶縁層として1層のコア絶縁層311を用い、
第2変換導体層161を主面側絶縁層の層間に形成して
も良い。具体的には、本変形形態では、主面側絶縁層3
21と122との層間341に第2変換導体層161を
形成している。また、第1変換導体層162を主面側絶
縁層122とこれに隣り合う主面側絶縁層123との層
間142に形成している。但し、この配線基板300で
は、図4,図5に示すように、第1変換導体層162か
ら第1コア側ビア導体184に代えて、第1コア側ビア
導体384が延びている。また、第2変換導体層161
の第2貫通孔161h内を通って、第1格子スルーホー
ル導体317Lに接続している。さらに、第2変換導体
層161からは、第2コア側ビア導体385が延びて、
第2格子スルーホール導体318Lに接続している。
(Modification 1) Next, Modification 1 of this embodiment will be described with reference to FIG. In the wiring board 100 according to the first embodiment, the core insulating layer 110 composed of three insulating layers is the center, and the main-surface-side insulating layers 122 to 125 are used.
And a back insulating layer 132 to 135, and a core insulating layer 1
10 is provided with a second conversion conductor layer 161 on the core main surface 110b and a first conversion conductor layer 162 between adjacent layers 142. The second conversion conductor layer 161 is directly connected to the second lattice through-hole conductor 118L. It was shown. On the other hand, as shown in FIG. 8, the wiring board 300 according to the second modification uses a single core insulating layer 311 as a core insulating layer,
The second conversion conductor layer 161 may be formed between the main surface side insulating layers. Specifically, in the present modification, the main surface side insulating layer 3
The second conversion conductor layer 161 is formed between the layers 341 between the layers 21 and 122. Further, the first conversion conductor layer 162 is formed between the main surface side insulating layer 122 and the interlayer 142 between the main surface side insulating layer 123 adjacent thereto. However, in the wiring board 300, as shown in FIGS. 4 and 5, a first core-side via conductor 384 extends from the first conversion conductor layer 162 instead of the first core-side via conductor 184. Also, the second conversion conductor layer 161
Through the second through hole 161h, and is connected to the first lattice through-hole conductor 317L. Further, a second core-side via conductor 385 extends from the second conversion conductor layer 161,
It is connected to the second lattice through-hole conductor 318L.

【0059】このようにしても、実施形態1と同様に、
コア絶縁層110に形成するスルーホール導体の格子間
隔を大きくしつつ、スルーホール導体317,318
と、格子間隔の狭い第1,第2接続バンプ187,18
8との接続を容易に行うことができ、配線基板の配線引
き回し設計が極めて容易となる。
Even in this case, similar to the first embodiment,
The through-hole conductors 317 and 318 are formed while increasing the lattice spacing of the through-hole conductors formed in the core insulating layer 110.
And the first and second connection bumps 187 and 18 having a narrow lattice spacing.
8 can be easily made, and the wiring layout design of the wiring board becomes extremely easy.

【0060】(変形形態2)さらに他の変形形態につい
て、図9〜図12を参照して説明する。上記実施形態1
では、配線基板100に搭載するチップコンデンサとし
て、単一のチップコンデンサ210を用いた例を示し
た。しかし、複数のチップコンデンサを搭載するように
しても良い。本変形形態では、チップコンデンサ410
を複数搭載した配線基板について説明する。配線基板本
体501は、実施形態1に用いた配線基板本体101と
ほぼ同様である。但し、複数のチップコンデンサ410
を搭載するのに対応して、隣り合うチップコンデンサ4
10の隙間(境界)付近において、第1,第2コンデン
サ接続パッド195,196及びハンダを介して、第1
コンデンサ端子413あるいは第2コンデンサ端子41
4に接続しない第1,第2裏面側ビア導体192,19
3が発生することがある。これに対応するため、配線基
板本体501は、付近の第1,第2コンデンサ接続パッ
ド195,196から延びた第1,第2延在部595E
L,596ELを形成し、この第1,第2延在部595
EL,596ELに余った第1,第2裏面側ビア導体1
92,193を接続するようにしたものである。
(Modification 2) Still another modification will be described with reference to FIGS. Embodiment 1
In the above, an example in which a single chip capacitor 210 is used as the chip capacitor mounted on the wiring board 100 has been described. However, a plurality of chip capacitors may be mounted. In this modification, the chip capacitor 410
The following describes a wiring board on which a plurality of components are mounted. The wiring board body 501 is substantially the same as the wiring board body 101 used in the first embodiment. However, a plurality of chip capacitors 410
The chip capacitors 4 adjacent to each other
In the vicinity of the gap (boundary) of No. 10, the first and second capacitor connection pads 195 and 196 and the solder
Capacitor terminal 413 or second capacitor terminal 41
4, the first and second back side via conductors 192, 19
3 may occur. To cope with this, the wiring substrate body 501 includes first and second extending portions 595E extending from the first and second capacitor connection pads 195 and 196 in the vicinity.
L, 596EL, and the first and second extending portions 595
First and second backside via conductors 1 left over EL and 596EL
92 and 193 are connected.

【0061】すなわち、図9に示すように、配線基板本
体501に複数のチップコンデンサ410を搭載する際
には、あるチップコンデンサ410の側面417S1
と、他のチップコンデンサの側面417S3との間隙を
極端に小さくすることができないため、隣り合うチップ
コンデンサ410同士の隙間(境界)に対応する部分
に、ちょうど第1,第2裏面側ビア導体192,193
が位置することとなる場合がある(例えば、図9中、中
心の第1裏面側ビア導体192)。かかる場合には、こ
のような第1,第2裏面側ビア導体192,193につ
いてだけ、他との接続をしないように、絶縁することも
考えられる。しかし、図10に示す本変形形態のよう
に、付近の第1,第2コンデンサ接続パッド195,1
96から延びた第1,第2延在部595EL,596E
Lをそれぞれ形成し、この第1,第2延在部595E
L,596ELに、隙間に対応する部分に位置する第
1,第2裏面側ビア導体192,193を接続する。こ
のようにすれば、図11に示すように、このような第
1,第2裏面側ビア導体192,193についても、こ
の第1,第2延在部595EL,596ELを介して、
第1,第2コンデンサ端子413,414と接続させこ
とができる。しかも、第1,第2延在部595EL,5
95ELを経由して第1,第2裏面側ビア導体192,
193に接続する経路が増えたことになるので、第1,
第2裏面側ビア導体192,193と第1,第2コンデ
ンサ端子413,414との間に発生する抵抗やインダ
クタンスをより抑制することができる。
That is, as shown in FIG. 9, when a plurality of chip capacitors 410 are mounted on the wiring substrate body 501, the side surfaces 417S1
And the gap between the chip capacitor 410 and the side surface 417S3 of another chip capacitor cannot be made extremely small. , 193
May be located (for example, the center first backside via conductor 192 in FIG. 9). In such a case, it is conceivable to insulate only the first and second back-side via conductors 192 and 193 so as not to connect them to others. However, as in the present modification shown in FIG. 10, nearby first and second capacitor connection pads 195, 1
First and second extending portions 595EL, 596E extending from 96
L are formed, and the first and second extending portions 595E are formed.
L and 596EL are connected to the first and second rear surface side via conductors 192 and 193 located at portions corresponding to the gaps. By doing so, as shown in FIG. 11, the first and second back side via conductors 192 and 193 are also provided via the first and second extending portions 595EL and 596EL.
It can be connected to the first and second capacitor terminals 413 and 414. Moreover, the first and second extending portions 595EL, 5
95EL via the first and second back side via conductors 192,
Since the number of routes connecting to 193 has increased,
Resistance and inductance generated between the second back side via conductors 192 and 193 and the first and second capacitor terminals 413 and 414 can be further suppressed.

【0062】なお、本変形形態では、チップコンデンサ
410として、図12に示すように、各コンデンサ端子
412(第1,第2コンデンサ端子413,414)
が、接続面410bの周縁辺410P1,410P2,
410P3,410P4と平行または直交する格子状に
配置されており、最外周に位置する第1,第2コンデン
サ端子413,414と4つの側面417S1,417
S2,417S3,417S4との間隔SS1,SS
2,SS3,SS4が、コンデンサ端子412の格子間
隔CPよりも小さいものを使用している。このため、図
11に示すように、隣り合うチップコンデンサの端子間
の間隔をコンデンサ端子の格子間隔CP同士の2倍(2
CP=900μm)とした本変形形態2でも、隣り合う
チップコンデンサ410同士の間に隙間△Sを設けて、
容易に配置できるようにされている。但し、本実施形態
では、間隔SS1等がいずれもひとしいものを用いたの
で、間隔SSで代表させてある。
In this modification, as shown in FIG. 12, each of the capacitor terminals 412 (first and second capacitor terminals 413 and 414) is used as the chip capacitor 410.
Are the peripheral edges 410P1, 410P2 of the connection surface 410b.
The first and second capacitor terminals 413 and 414 located on the outermost periphery and the four side surfaces 417S1 and 417 are arranged in a lattice shape parallel or orthogonal to 410P3 and 410P4.
Intervals SS1 and SS with S2, 417S3 and 417S4
2, SS3 and SS4 are smaller than the lattice spacing CP of the capacitor terminal 412. Therefore, as shown in FIG. 11, the distance between the terminals of adjacent chip capacitors is twice (2 times) the lattice spacing CP of the capacitor terminals.
Also in the second modification in which CP = 900 μm), a gap ΔS is provided between adjacent chip capacitors 410,
It can be easily arranged. However, in the present embodiment, since the intervals SS1 and the like are all the same, they are represented by the intervals SS.

【0063】(変形形態3)さらに他の変形形態につい
て、図13〜図15を参照して説明する。上記変形形態
2では、隣り合うチップコンデンサ410の端子間の間
隔をコンデンサ端子の格子間隔CP同士の2倍(2C
P)としたが、端子間の間隔は、さらに広くすることも
できる。すなわち、図13〜図15に示す本変形形態3
では、配線基板本体601において、搭載するチップコ
ンデンサ410の端子間の間隔をコンデンサ端子の格子
間隔CP同士の3倍(3CP)とした。
(Modification 3) Still another modification will be described with reference to FIGS. In the second modification, the interval between the terminals of the adjacent chip capacitors 410 is twice (2C) the lattice intervals CP of the capacitor terminals.
P), but the interval between the terminals can be further increased. That is, the third modification shown in FIGS.
In the wiring board body 601, the spacing between the terminals of the chip capacitor 410 to be mounted is set to be three times (3CP) the lattice spacing CP of the capacitor terminals.

【0064】このようにした場合にも、図13〜図15
に示すように、付近の第1,第2コンデンサ接続パッド
195,196から延びた第1,第2延在部695E
L,696ELを形成し、この第1,第2延在部695
EL,696ELに、隙間に対応する位置の近傍にある
第1,第2裏面側ビア導体192,193を接続するよ
うにする。このようにすれば、図13、図14に示すよ
うに、コンデンサ端子413,414に接続できなかっ
た第1,第2裏面側ビア導体192,193について
も、この第1,第2延在部695EL,696ELを介
して、第1,第2コンデンサ端子413,414と接続
することができる。しかも、第1,第2延在部695E
L,695ELを経由して第1,第2裏面側ビア導体1
92,193に接続する経路が増えたことになるので、
第1,第2裏面側ビア導体192,193と第1,第2
コンデンサ端子413,414との間に発生する抵抗や
インダクタンスをより抑制することができる。
Also in this case, FIGS.
, The first and second extending portions 695E extending from the nearby first and second capacitor connection pads 195 and 196.
L, 696EL are formed, and the first and second extending portions 695 are formed.
The first and second backside via conductors 192 and 193 near the position corresponding to the gap are connected to EL and 696EL. In this way, as shown in FIGS. 13 and 14, the first and second back-side via conductors 192 and 193 which could not be connected to the capacitor terminals 413 and 414 are also provided with the first and second extending portions. It can be connected to the first and second capacitor terminals 413 and 414 via 695EL and 696EL. Moreover, the first and second extension portions 695E
L, 695EL via first and second backside via conductors 1
Since the number of routes connecting to 92 and 193 has increased,
The first and second back side via conductors 192 and 193 and the first and second
Resistance and inductance generated between the capacitor terminals 413 and 414 can be further suppressed.

【0065】以上において、本発明を実施形態及び変形
形態1〜3に即して説明したが、本発明は上記実施形態
等に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範
囲で、適宜変更して適用できることはいうまでもない。
Although the present invention has been described with reference to the embodiment and the first to third modifications, the present invention is not limited to the above-described embodiment and the like, and may be appropriately modified without departing from the gist thereof. Needless to say, it can be applied.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施形態1にかかる配線基板の断面図である。FIG. 1 is a sectional view of a wiring board according to a first embodiment.

【図2】実施形態1にかかる配線基板の平面図である。FIG. 2 is a plan view of the wiring board according to the first embodiment.

【図3】実施形態1にかかる配線基板のうち、格子領域
内に位置する第1,第2格子接続端子の配置を示す説明
図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing an arrangement of first and second grid connection terminals located in a grid area in the wiring board according to the first embodiment;

【図4】実施形態1にかかる配線基板のうち、投影格子
領域内における第1変換導体層と第1主面側ビア導体及
び第2主面側ビア導体との関係を示す説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram illustrating a relationship between a first conversion conductor layer, a first main surface side via conductor, and a second main surface side via conductor in a projection grid region in the wiring board according to the first exemplary embodiment.

【図5】実施形態1にかかる配線基板のうち、投影格子
領域内における第2変換導体層と第1コア側ビア導体及
び第2主面側ビア導体との関係を示す説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram illustrating a relationship between a second conversion conductor layer, a first core-side via conductor, and a second main surface-side via conductor in a projection grid region in the wiring board according to the first exemplary embodiment.

【図6】実施形態1にかかる配線基板のうち、投影格子
領域内における第1格子スルーホール導体と第2格子ス
ルーホール導体相互の関係、及び第1,第2格子端子と
の関係を示す説明図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating a relationship between a first lattice through-hole conductor and a second lattice through-hole conductor and a relationship between first and second lattice terminals in a projection lattice region in the wiring board according to the first embodiment; FIG.

【図7】実施形態1にかかる配線基板の裏面側に搭載す
るチップコンデンサの(a)は斜視図、(b)はコンデ
ンサの内部構造を説明するための断面説明図、(c)は
コンデンサと第1,第2端子との関係を示す回路図であ
る。
7A is a perspective view of a chip capacitor mounted on the back side of the wiring board according to the first embodiment, FIG. 7B is a cross-sectional explanatory view for explaining the internal structure of the capacitor, and FIG. FIG. 3 is a circuit diagram illustrating a relationship with first and second terminals.

【図8】変形形態1にかかる配線基板の断面図である。FIG. 8 is a sectional view of a wiring board according to a first modification;

【図9】変形形態2にかかる配線基板であって、裏面側
に複数のチップコンデンサを搭載した場合における、チ
ップコンデンサの各端子とその近傍の配線板本体の構造
との関係を示す断面図である。
FIG. 9 is a cross-sectional view showing a relationship between each terminal of a chip capacitor and a structure of a wiring board body near the terminal when a plurality of chip capacitors are mounted on the back surface side of the wiring board according to Modification 2; is there.

【図10】変形形態2にかかる配線基板であって、第
1,第2格子ビア導体と、第1、第2コンデンサ接続パ
ッド及び第1,第2延在部との関係を示す断面図であ
る。
FIG. 10 is a cross-sectional view showing a relationship between the first and second lattice via conductors, the first and second capacitor connection pads, and the first and second extending portions, in the wiring board according to Modification 2; is there.

【図11】変形形態2にかかる配線基板であって、第
1、第2コンデンサ接続パッド及び第1,第2 延在部
と、チップコンデンサの第1,第2端子との関係を示す
断面図である。
FIG. 11 is a cross-sectional view showing a relationship between first and second capacitor connection pads and first and second extending portions, and first and second terminals of a chip capacitor in the wiring board according to Modification 2; It is.

【図12】変形形態2にかかる配線基板の裏面側に搭載
するチップコンデンサは斜視図である。
FIG. 12 is a perspective view of a chip capacitor mounted on a rear surface side of a wiring board according to a second modification.

【図13】変形形態3にかかる配線基板であって、裏面
側に複数のチップコンデンサを搭載した場合における、
チップコンデンサの各端子とその近傍の配線板本体の構
造との関係を示す断面図である。
FIG. 13 is a diagram illustrating a wiring board according to Modification 3, in which a plurality of chip capacitors are mounted on the back surface side.
It is sectional drawing which shows the relationship between each terminal of a chip capacitor, and the structure of the wiring-board main body of the vicinity.

【図14】変形形態3にかかる配線基板であって、第
1,第2格子ビア導体と、第1、第2コンデンサ接続パ
ッド及び第1,第2延在部との関係を示す断面図であ
る。
FIG. 14 is a cross-sectional view illustrating a relationship between first and second lattice via conductors, first and second capacitor connection pads, and first and second extending portions, in the wiring board according to Modification 3. is there.

【図15】変形形態3にかかる配線基板であって、第
1、第2コンデンサ接続パッド及び第1,第2 延在部
と、チップコンデンサの第1,第2端子との関係を示す
断面図である。
FIG. 15 is a wiring board according to Modification 3, and is a cross-sectional view showing a relationship between first and second capacitor connection pads and first and second extending portions, and first and second terminals of a chip capacitor. It is.

【図16】基板の主面や裏面にチップコンデンサを搭載
した従来の配線基板を示す説明図である。
FIG. 16 is an explanatory diagram showing a conventional wiring board having a chip capacitor mounted on a main surface or a back surface of the substrate.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

20 ICチップ(電子部品) 100,300 配線基板 100b,300b 主面 100c,300c 裏面 101,301 配線基板本体 110,311 コア絶縁層 110b,311b コア主面 110c,311c コア裏面 111,112,113 絶縁層 114,115,117,118,314,315,3
17,318 スルーホール導体 117L,317L 第1格子スルーホール導体 118L,318L 第2格子スルーホール導体 122,123,124,125,321 主面側樹脂
絶縁層 132,133,134,135,331 裏面側樹脂
絶縁層 126,136 ソルダーレジスト層 161 第2変換導体層 161h 第2貫通孔 162 第1変換導体層 162h 第1貫通孔 182 第1主面側ビア導体 183 第2主面側ビア導体 184,384 第1コア側ビア導体 185 接続パッド 187 第1接続バンプ(第1接続端子) 188 第2接続バンプ(第2接続端子) 187L 第1格子接続バンプ(第1格子接続端子) 188L 第2格子接続バンプ(第2格子接続端子) 189 接続バンプ(接続端子) 385 第2コア側ビア導体 192 第1裏面側ビア導体 193 第2裏面側ビア導体 195 第1コンデンサ接続パッド(第1コンデンサ接
続端子) 196 第2コンデンサ接続パッド(第2コンデンサ接
続端子) 210,410 チップコンデンサ 210b,410b 接続面 212 コンデンサ端子 213,413 第1コンデンサ端子(第1端子) 214,414 第2コンデンサ端子(第2端子) LA 格子領域 PLA 投影格子領域 CP コンデンサ端子の格子間隔 VP 第1接続バンプ及び第2接続バンプの格子間隔
Reference Signs List 20 IC chip (electronic component) 100, 300 Wiring board 100b, 300b Main surface 100c, 300c Back surface 101, 301 Wiring substrate body 110, 311 Core insulating layer 110b, 311b Core main surface 110c, 311c Core back surface 111, 112, 113 Insulation Layers 114, 115, 117, 118, 314, 315, 3
17,318 Through-hole conductor 117L, 317L First lattice through-hole conductor 118L, 318L Second lattice through-hole conductor 122,123,124,125,321 Main surface side resin insulation layer 132,133,134,135,331 Back side Resin insulation layer 126, 136 Solder resist layer 161 Second conversion conductor layer 161h Second through hole 162 First conversion conductor layer 162h First through hole 182 First main surface side via conductor 183 Second main surface side via conductor 184, 384 First core side via conductor 185 Connection pad 187 First connection bump (first connection terminal) 188 Second connection bump (second connection terminal) 187L First lattice connection bump (first lattice connection terminal) 188L Second lattice connection bump (Second lattice connection terminal) 189 Connection bump (Connection terminal) 385 Second core side via conductor 192 First backside via conductor 193 Second backside via conductor 195 First capacitor connection pad (first capacitor connection terminal) 196 Second capacitor connection pad (second capacitor connection terminal) 210, 410 Chip capacitor 210b, 410b Connection surface 212 capacitor terminal 213, 413 first capacitor terminal (first terminal) 214, 414 second capacitor terminal (second terminal) LA lattice area PLA projection lattice area CP lattice spacing of capacitor terminals VP first connection bump and second connection bump Grid spacing

フロントページの続き (72)発明者 木村 幸広 愛知県名古屋市瑞穂区高辻町14番18号 日 本特殊陶業株式会社内 Fターム(参考) 5E001 AB03 5E082 AA01 AB03 DD11 DD13 EE35 FF05 5E346 AA04 AA06 AA12 AA15 AA32 AA43 BB02 BB03 BB04 BB06 BB07 BB11 BB16 BB20 FF01 FF45 GG15 GG17 GG28 HH01 HH22 Continued on the front page (72) Inventor Yukihiro Kimura 14-18 Takatsuji-cho, Mizuho-ku, Nagoya-shi, Aichi F-term in Japan Special Ceramics Co., Ltd. 5E001 AB03 5E082 AA01 AB03 DD11 DD13 EE35 FF05 5E346 AA04 AA06 AA12 AA15 AA32 AA43 BB02 BB03 BB04 BB06 BB07 BB11 BB16 BB20 FF01 FF45 GG15 GG17 GG28 HH01 HH22

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】主面と裏面とを有する配線基板であって、 上記主面側に形成され、この主面上に搭載する電子部品
の端子と接続可能な複数の接続端子であって、 共通第1電位とされる多数の第1接続端子、及び共通第
2電位とされる多数の第2接続端子を含み、 上記第1接続端子及び第2接続端子の少なくともいずれ
かは、第1所定間隔の格子状に交互に配置されて格子領
域をなす第1格子接続端子と第2格子接続端子である接
続端子と、 1または複数の絶縁層からなり、コア主面とコア裏面と
を有するコア絶縁層と、 このコア絶縁層の上記コア主面と上記コア裏面との間を
貫通するスルーホール導体であって、 共通第1電位とされる多数の第1スルーホール導体、及
び共通第2電位とされる多数の第2スルーホール導体を
含み、 少なくとも上記格子領域を厚さ方向裏面側に向けて投影
した投影格子領域内に位置する上記第1スルーホール導
体及び第2スルーホール導体のうち少なくともいずれか
は、第2所定間隔の格子状に交互に配置された第1格子
スルーホール導体と第2格子スルーホール導体であるス
ルーホール導体と、 上記コア絶縁層のコア主面と上記接続端子との間に介在
し、複数の第1貫通孔を有する第1変換導体層と、 上記第1変換導体層と上記コア絶縁層のコア主面との間
に位置し、複数の第2貫通孔を有する第2変換導体層
と、 上記格子領域内の第1格子接続端子からそれぞれ上記配
線基板の厚さ方向裏面側に向かって延び、上記第1変換
導体層とそれぞれ電気的に接続する第1主面側ビア導体
と、 上記格子領域内の第2格子接続端子からそれぞれ上記配
線基板の厚さ方向裏面側に向かって延び、上記第1変換
導体層とはそれぞれ絶縁しつつ上記第1貫通孔内を通っ
て、上記第2変換導体層とそれぞれ電気的に接続する第
2主面側ビア導体と、 上記投影格子領域内の上記第1格子スルーホール導体か
らそれぞれ上記配線基板の厚さ方向主面側に向かって延
び、上記第2変換導体層とはそれぞれ絶縁しつつ上記第
2貫通孔内を通って、上記第1変換導体層に接続する第
1コア側ビア導体と、 上記投影格子領域内の上記第2格子スルーホール導体か
らそれぞれ上記配線基板の厚さ方向主面側に向かって延
び、上記第2変換導体層に接続する第2コア側ビア導体
と、を備え、 上記第2格子間隔は上記第1格子間隔よりも大きく、 上記投影格子領域内の上記第1コア側ビア導体の数は上
記格子領域内の上記第1主面側ビア導体の数よりも少な
く、 上記投影格子領域内の上記第2コア側ビア導体の数は上
記格子領域内の上記第2主面側ビア導体の数よりも少な
い配線基板。
1. A wiring board having a main surface and a back surface, comprising: a plurality of connection terminals formed on the main surface side and connectable to terminals of electronic components mounted on the main surface; A plurality of first connection terminals having a first potential and a plurality of second connection terminals having a common second potential, wherein at least one of the first connection terminal and the second connection terminal has a first predetermined interval A first grid connection terminal and a second grid connection terminal, which are alternately arranged in a grid pattern to form a grid area, and a core insulation having one or a plurality of insulating layers and having a core main surface and a core back surface A plurality of first through-hole conductors having a common first potential, a plurality of first through-hole conductors having a common first potential, and a plurality of first through-hole conductors penetrating between the core main surface and the core back surface of the core insulating layer. Including a large number of second through-hole conductors Also, at least one of the first through-hole conductors and the second through-hole conductors located in the projection lattice area where the lattice area is projected toward the back side in the thickness direction is alternately arranged in a lattice pattern at a second predetermined interval. A first lattice through-hole conductor and a second lattice through-hole conductor, which are arranged in the first lattice through-hole conductor; and a plurality of first through-holes interposed between the core main surface of the core insulating layer and the connection terminal. A first conversion conductor layer having a plurality of second through-holes located between the first conversion conductor layer and the core main surface of the core insulating layer; A first main surface side via conductor extending from the first lattice connection terminal toward the back surface side in the thickness direction of the wiring substrate, and electrically connected to the first conversion conductor layer; The above wiring from the grid connection terminals A second main conductor extending toward the back side in the thickness direction of the substrate and electrically connected to the second conversion conductor layer through the first through hole while being insulated from the first conversion conductor layer, respectively. A surface-side via conductor and each of the first lattice through-hole conductors in the projection lattice region extend toward the principal surface side in the thickness direction of the wiring board, and are respectively insulated from the second conversion conductor layer. (2) a first core-side via conductor connected to the first conversion conductor layer through the through-hole, and a main surface side in the thickness direction of the wiring board from the second lattice through-hole conductor in the projection lattice region, And a second core-side via conductor connected to the second conversion conductor layer, wherein the second lattice interval is larger than the first lattice interval, and the first core in the projection lattice region is provided. The number of side via conductors is above the grid area A wiring board having a number smaller than the number of the first main surface side via conductors and a number of the second core side via conductors in the projection grid region smaller than the number of the second main surface side via conductors in the grid region; .
【請求項2】請求項1に記載の配線基板であって、 前記第2格子間隔は前記第1格子間隔の奇数倍であり、 前記第1コア側ビア導体は、いずれも前記第1主面側ビ
ア導体と略同軸であり、 前記第2コア側ビア導体は、いずれも前記第2主面側ビ
ア導体と略同軸である配線基板。
2. The wiring board according to claim 1, wherein the second lattice spacing is an odd multiple of the first lattice spacing, and each of the first core-side via conductors is the first main surface. A wiring board which is substantially coaxial with a side via conductor, and wherein the second core side via conductor is substantially coaxial with the second main surface side via conductor.
【請求項3】主面と裏面とを有する配線基板であって、 上記主面側に形成され、この主面上に搭載する電子部品
の端子と接続可能な複数の接続端子であって、 共通第1電位とされる多数の第1接続端子、及び共通第
2電位とされる多数の第2接続端子を含み、 上記第1接続端子及び第2接続端子の少なくともいずれ
かは、第1所定間隔の格子状に交互に配置されて格子領
域をなす第1格子接続端子と第2格子接続端子である接
続端子と、 1または複数の絶縁層からなり、コア主面とコア裏面と
を有するコア絶縁層と、 このコア絶縁層の上記コア主面と上記コア裏面との間を
貫通するスルーホール導体であって、 共通第1電位とされる多数の第1スルーホール導体、及
び共通第2電位とされる多数の第2スルーホール導体を
含み、 少なくとも上記格子領域を厚さ方向裏面側に向けて投影
した投影格子領域内に位置する上記第1スルーホール導
体及び第2スルーホール導体のうち少なくともいずれか
は、第2所定間隔の格子状に交互に配置された第1格子
スルーホール導体と第2格子スルーホール導体であるス
ルーホール導体と、 上記コア絶縁層のコア主面と上記接続端子との間に介在
し、複数の第1貫通孔を有する第1変換導体層と、 上記コア絶縁層のコア主面上に位置し、複数の第2貫通
孔を有する第2変換導体層と、 上記格子領域内の第1格子接続端子からそれぞれ上記配
線基板の厚さ方向裏面側に向かって延び、上記第1変換
導体層とそれぞれ電気的に接続する第1主面側ビア導体
と、 上記格子領域内の第2格子接続端子からそれぞれ上記配
線基板の厚さ方向裏面側に向かって延び、上記第1変換
導体層とはそれぞれ絶縁しつつ上記第1貫通孔内を通っ
て、上記第2変換導体層とそれぞれ電気的に接続する第
2主面側ビア導体と、 上記投影格子領域内の上記第1格子スルーホール導体か
らそれぞれ上記配線基板の厚さ方向主面側に向かって延
び、上記第1変換導体層に接続する第1コア側ビア導体
と、を備え、 上記第1格子スルーホール導体は、上記第2貫通孔内に
位置して上記第2変換導体層とはそれぞれ絶縁し、 上記投影格子領域内の上記第2格子スルーホール導体は
上記第2変換導体層に直接接続し、 上記第2格子間隔は上記第1格子間隔よりも大きく、 上記投影格子領域内の上記第1コア側ビア導体の数は上
記格子領域内の上記第1主面側ビア導体の数よりも少な
く、 上記投影格子領域内の上記第2格子スルーホール導体の
数は上記格子領域内の上記第2主面側ビア導体の数より
も少ない配線基板。
3. A wiring board having a main surface and a back surface, comprising: a plurality of connection terminals formed on the main surface and connectable to terminals of electronic components mounted on the main surface; A plurality of first connection terminals having a first potential and a plurality of second connection terminals having a common second potential, wherein at least one of the first connection terminal and the second connection terminal has a first predetermined interval A first grid connection terminal and a second grid connection terminal, which are alternately arranged in a grid pattern to form a grid area, and a core insulation having one or a plurality of insulating layers and having a core main surface and a core back surface A plurality of first through-hole conductors having a common first potential, a plurality of first through-hole conductors having a common first potential, and a plurality of first through-hole conductors penetrating between the core main surface and the core back surface of the core insulating layer. Including a large number of second through-hole conductors Also, at least one of the first through-hole conductors and the second through-hole conductors located in the projection lattice area where the lattice area is projected toward the back side in the thickness direction is alternately arranged in a lattice pattern at a second predetermined interval. A first lattice through-hole conductor and a second lattice through-hole conductor, which are arranged in the first lattice through-hole conductor; and a plurality of first through-holes interposed between the core main surface of the core insulating layer and the connection terminal. A first conversion conductor layer, a second conversion conductor layer located on a core main surface of the core insulating layer, the second conversion conductor layer having a plurality of second through holes, and a first grid connection terminal in the grid region. A first main surface side via conductor extending toward the back side in the thickness direction of the substrate and electrically connected to the first conversion conductor layer, respectively; Towards the back side in the thickness direction A second main-surface-side via conductor that extends through the first conversion conductor layer and electrically connects to the second conversion conductor layer through the first through hole while being insulated from the first conversion conductor layer; A first core-side via conductor extending from the first lattice through-hole conductor in the region toward the main surface in the thickness direction of the wiring board, and connected to the first conversion conductor layer; The grid through-hole conductor is located in the second through-hole and insulated from the second conversion conductor layer, and the second grid through-hole conductor in the projection grid region is directly in contact with the second conversion conductor layer. The second lattice spacing is greater than the first lattice spacing, and the number of the first core-side via conductors in the projection lattice area is greater than the number of the first main surface-side via conductors in the lattice area. And the number of the Less wiring board than the number of the number of grid through-hole conductors is the second main surface side via conductors within the grating region.
【請求項4】請求項3に記載の配線基板であって、 前記コア絶縁層のコア主面と上記接続端子との間に複数
の主面側絶縁層を有し、 前記第1変換導体層は、上記主面側絶縁層のうち、前記
コア絶縁層に最も近くに位置する主面側絶縁層の主面側
に配置されている配線基板。
4. The wiring board according to claim 3, further comprising a plurality of main surface side insulating layers between a core main surface of the core insulating layer and the connection terminal, wherein the first conversion conductor layer is provided. Is a wiring board arranged on the main surface side of the main surface side insulating layer closest to the core insulating layer among the main surface side insulating layers.
【請求項5】請求項3または請求項4に記載の配線基板
であって、 前記第2格子間隔は前記第1格子間隔の奇数倍であり、 前記第1コア側ビア導体は、いずれも前記第1主面側ビ
ア導体と略同軸であり、 前記第2格子スルーホール導体は、いずれも前記第2主
面側ビア導体と略同軸である配線基板。
5. The wiring board according to claim 3, wherein the second grid interval is an odd multiple of the first grid interval, and the first core-side via conductors are all the same. A wiring board which is substantially coaxial with the first main surface side via conductor, and wherein each of the second lattice through-hole conductors is substantially coaxial with the second main surface side via conductor.
【請求項6】配線基板本体に1または複数のチップコン
デンサコンデンサを搭載してなる配線基板であって、 上記チップコンデンサは、 コンデンサを構成する一方の電極及び他方の電極、 接続面、 上記接続面に形成され上記一方の電極と接続する複数の
第1端子、及び、 上記接続面に形成され上記他方の電極と接続する複数の
第2端子、 を備え、 上記第1端子と第2端子とが所定間隔の格子状に交互に
配置されたチップコンデンサであり、 上記配線基板本体は、 上記チップコンデンサを搭載するコンデンサ搭載面と、 1または複数の絶縁層と、 上記絶縁層を貫通するビア導体であって、 共通第1電位とされる第1ビア導体、及び共通第2電位
とされる第2ビア導体を含み、 上記第1ビア導体と第2ビア導体の少なくともいずれか
は、上記所定間隔と略同一の間隔の格子状に交互に配置
された第1格子ビア導体及び第2格子ビア導体であるビ
ア導体と、 上記絶縁層がなす面のうち最も上記コンデンサ搭載面側
の端子形成面において、上記接続面を上記コンデンサ搭
載面側に向けた上記チップコンデンサの上記第1端子に
対向する位置に形成され、上記第1格子ビア導体と接続
する第1コンデンサ接続端子と、 上記端子形成面に形成され、上記チップコンデンサの上
記第2端子に対向する位置に形成され、上記第2格子ビ
ア導体と接続する第2コンデンサ接続端子と、を備える
配線基板。
6. A wiring board comprising one or a plurality of chip capacitor capacitors mounted on a wiring board body, wherein the chip capacitor comprises one electrode and the other electrode constituting a capacitor, a connection surface, and the connection surface. A plurality of first terminals formed on the connection surface and connected to the one electrode, and a plurality of second terminals formed on the connection surface and connected to the other electrode, wherein the first terminal and the second terminal are Chip capacitors that are alternately arranged in a grid pattern at a predetermined interval. The wiring board body includes a capacitor mounting surface on which the chip capacitors are mounted, one or more insulating layers, and a via conductor penetrating the insulating layers. And a first via conductor having a common first potential and a second via conductor having a common second potential, wherein at least one of the first via conductor and the second via conductor includes: Via conductors, which are first lattice via conductors and second lattice via conductors, which are alternately arranged in a lattice at substantially the same interval as the predetermined interval, and a terminal on the capacitor mounting surface side of the surface formed by the insulating layer A first capacitor connection terminal formed on the formation surface at a position facing the first terminal of the chip capacitor with the connection surface facing the capacitor mounting surface side, and connected to the first lattice via conductor; And a second capacitor connection terminal formed on a formation surface, facing the second terminal of the chip capacitor, and connected to the second lattice via conductor.
【請求項7】請求項6に記載の配線基板であって、 前記チップコンデンサは複数であり、 1のチップコンデンサの上記第1端子または第2端子
と、これに隣り合う他のチップコンデンサの第2端子ま
たは第1端子との間隔が、前記所定間隔の2以上の整数
倍であり、 前記第1格子ビア導体のうち、前記第1コンデンサ接続
端子に接続しない第1格子ビア導体は、前記端子形成面
に形成され、上記第1コンデンサ接続端子のうちいずれ
かから延びる第1延在部に接続し、 前記第2格子ビア導体のうち、前記第2コンデンサ接続
端子に接続しない第2格子ビア導体は、前記端子形成面
に形成され、上記第2コンデンサ接続端子のうちいずれ
かから延びる第2延在部に接続する配線基板。
7. The wiring board according to claim 6, wherein the chip capacitor includes a plurality of chip capacitors, and the first terminal or the second terminal of one chip capacitor and the chip terminal of another chip capacitor adjacent to the first terminal or the second terminal. The interval between the two terminals or the first terminal is an integer multiple of 2 or more of the predetermined interval, and among the first lattice via conductors, the first lattice via conductor not connected to the first capacitor connection terminal is the terminal A second grid via conductor connected to a first extending portion formed on a formation surface and extending from any one of the first capacitor connection terminals, and not connected to the second capacitor connection terminal among the second grid via conductors Is a wiring board formed on the terminal formation surface and connected to a second extending portion extending from any one of the second capacitor connection terminals.
【請求項8】請求項7に記載の配線基板であって、 前記1のチップコンデンサの上記第1端子または第2端
子と、これに隣り合う他のチップコンデンサの第2端子
または第1端子との間隔が、前記所定間隔の2倍である
配線基板。
8. The wiring board according to claim 7, wherein the first terminal or the second terminal of the one chip capacitor and a second terminal or a first terminal of another chip capacitor adjacent thereto. The wiring board whose interval is twice the predetermined interval.
【請求項9】1または複数のチップコンデンサコンデン
サを搭載して配線基板とするための配線基板本体であっ
て、 上記チップコンデンサは、 コンデンサを構成する一方の電極及び他方の電極、 接続面、 上記接続面に形成され上記一方の電極と接続する複数の
第1端子、及び、 上記接続面に形成され上記他方の電極と接続する複数の
第2端子、 を備え、 上記第1端子と第2端子とが第1所定間隔の格子状に交
互に配置されたチップコンデンサであり、上記配線基板
本体は、 上記チップコンデンサを搭載するコンデンサ搭載面と、 1または複数の絶縁層と、 上記絶縁層を貫通するビア導体であって、 共通第1電位とされる第1ビア導体、及び共通第2電位
とされる第2ビア導体を含み、 上記第1ビア導体と第2ビア導体の少なくともいずれか
は、上記所定間隔と略同一の間隔の格子状に交互に配置
された第1格子ビア導体及び第2格子ビア導体であるビ
ア導体と、 上記絶縁層がなす面のうち最も上記コンデンサ搭載面側
の面において、上記接続面を上記コンデンサ搭載面側に
向けた上記チップコンデンサを搭載する際に上記第1端
子に対向する位置に形成され、上記第1格子ビア導体と
接続する第1コンデンサ接続端子と、 上記第1コンデンサ接続端子と同じ面に形成され、上記
チップコンデンサを搭載する際に上記第2端子に対向す
る位置に形成され、上記第2格子ビア導体と接続する第
2コンデンサ接続端子と、を備える配線基板本体。
9. A wiring board main body for mounting one or a plurality of chip capacitor capacitors to form a wiring board, wherein the chip capacitor comprises one electrode and the other electrode constituting a capacitor, a connection surface, A plurality of first terminals formed on the connection surface and connected to the one electrode; and a plurality of second terminals formed on the connection surface and connected to the other electrode, wherein the first terminal and the second terminal Are chip capacitors alternately arranged in a grid pattern at a first predetermined interval, wherein the wiring board body has a capacitor mounting surface on which the chip capacitors are mounted, one or a plurality of insulating layers, and penetrates the insulating layers. A first via conductor having a common first potential and a second via conductor having a common second potential, wherein at least one of the first via conductor and the second via conductor is provided. The first and second lattice via conductors are alternately arranged in a lattice pattern at substantially the same interval as the predetermined interval, and the capacitor mounting is the most of the surfaces formed by the insulating layers. A first capacitor formed at a position facing the first terminal when mounting the chip capacitor with the connection surface facing the capacitor mounting surface on the surface side, and connected to the first lattice via conductor; A connection terminal, a second capacitor connection formed on the same surface as the first capacitor connection terminal, formed at a position facing the second terminal when the chip capacitor is mounted, and connected to the second lattice via conductor; A wiring board body comprising: a terminal;
【請求項10】請求項9に記載の配線基板本体であっ
て、 前記チップコンデンサは複数であり、 1のチップコンデンサの上記第1端子または第2端子
と、これに隣り合う他のチップコンデンサの第2端子ま
たは第1端子との間隔が、前記所定間隔の2以上の整数
倍であり、 前記第1格子ビア導体のうち、前記第1コンデンサ接続
端子に接続しない第1格子ビア導体は、前記端子形成面
に形成され、上記第1コンデンサ接続端子のうちいずれ
かから延びる第1延在部に接続し、 前記第2格子ビア導体のうち、前記第2コンデンサ接続
端子に接続しない第2格子ビア導体は、前記端子形成面
に形成され、上記第2コンデンサ接続端子のうちいずれ
かから延びる第2延在部に接続する配線基板本体。
10. The wiring board body according to claim 9, wherein said chip capacitor is plural, and said first terminal or second terminal of one chip capacitor is connected to another chip capacitor adjacent thereto. An interval between the second terminal and the first terminal is an integer multiple of 2 or more of the predetermined interval, and among the first lattice via conductors, the first lattice via conductor not connected to the first capacitor connection terminal is A second lattice via formed on the terminal formation surface and connected to a first extension extending from any one of the first capacitor connection terminals, and not connected to the second capacitor connection terminal among the second lattice via conductors A wiring board body, wherein a conductor is formed on the terminal formation surface and is connected to a second extending portion extending from any one of the second capacitor connection terminals.
【請求項11】コンデンサを構成する一方の電極及び他
方の電極を備えるチップコンデンサであって、 略直方体形状をなし、 略矩形状の接続面と、 これに直交する4つの側面と、 上記接続面に形成され、上記一方の電極と接続する複数
の第1端子と、 上記接続面に形成され、上記他方の電極と接続する複数
の第2端子と、を備え、 上記第1端子と第2端子とが、所定間隔で、かつ上記接
続面のいずれかの周縁辺と平行及び直交する格子状に交
互に配置され、 上記第1端子及び第2端子のうち上記接続面の最外周に
位置する最外第1端子及び最外第2端子と上記4つの側
面との間隔が、いずれも上記所定間隔よりも小さいチッ
プコンデンサ。
11. A chip capacitor comprising one electrode and the other electrode constituting a capacitor, the chip capacitor having a substantially rectangular parallelepiped shape, a substantially rectangular connection surface, four side surfaces orthogonal to the connection surface, and the connection surface. And a plurality of first terminals connected to the one electrode, and a plurality of second terminals formed on the connection surface and connected to the other electrode. The first terminal and the second terminal Are alternately arranged at a predetermined interval in a lattice shape parallel and orthogonal to any one of the peripheral edges of the connection surface, and the first terminal and the second terminal, which are located at the outermost periphery of the connection surface, A chip capacitor in which the distance between the outer first terminal and the outermost second terminal and the four side surfaces is smaller than the predetermined distance.
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