JP2002193988A - Stabilized copper complex and method of producing the same - Google Patents

Stabilized copper complex and method of producing the same

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JP2002193988A
JP2002193988A JP2000392348A JP2000392348A JP2002193988A JP 2002193988 A JP2002193988 A JP 2002193988A JP 2000392348 A JP2000392348 A JP 2000392348A JP 2000392348 A JP2000392348 A JP 2000392348A JP 2002193988 A JP2002193988 A JP 2002193988A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a copper complex for MOCVD that is easily vaporizable with high vapor pressure, easily controllable in formation rate of copper film and stable at high temperature. SOLUTION: Stabilized copper complex having general formula 1 produced by reacting β-ketimine ligand and a copper (I) compound in the presence of an electron donating compound of general formula (1) (R1 or R2 is a 1-20C fluorohydrocarbon group or 1-20C hydrocarbon group, and at least either R1 or R2 is the fluorohydrocarbon group. R3 is H, F or a 1-20C fluorohydrocarbon group. R4 is a 1-20C fluorohydrocarbon group, 1-20C hydrocarbon group or H. L is an electron donating compound such as an unsaturated hydrocarbon which may contain a hetero atom, either, silyl ether, phosphine or amine).

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、銅薄膜層の形成に
好適な銅錯体に関するものである。殊に高速高集積回路
配線、すなわち、高速演算回路用の銅配線を化学蒸着法
により形成させる際に用いるに好適な銅錯体及びその製
造方法に関するものである。
[0001] The present invention relates to a copper complex suitable for forming a copper thin film layer. In particular, the present invention relates to a copper complex suitable for use in forming a high-speed high-integration circuit wiring, that is, a copper wiring for a high-speed arithmetic circuit by a chemical vapor deposition method, and a method for producing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子産業の集積回路分野の製造技術にお
いて、高集積化かつ高速化の要求が高まっている。現
在、集積回路の大部分にアルミニウム配線が使用されて
いるが、高集積化及び高速化の要求にともなって、より
電気抵抗が低く、マイグレーション耐性のある銅による
配線技術が実用化されつつある。
2. Description of the Related Art In manufacturing technology in the field of integrated circuits in the electronics industry, demands for high integration and high speed are increasing. At present, aluminum wiring is used for most integrated circuits. However, with the demand for higher integration and higher speed, a wiring technique using copper having lower electric resistance and migration resistance is being put to practical use.

【0003】銅配線の形成技術については、0価のCu
(以下、銅(0)と記載する)スパッタリング法と二価
Cu(以下、銅(II)と記載する)の溶液メッキ法を
組み合わせた方法と主に一価Cu(以下、銅(I)と記
載する)の有機金属錯体を用いた化学蒸着法(以下MO
CVD法と記載)とがある。しかしながら、前者のスパ
ッタ法とメッキ法を組み合わせた方法では、0.15μ
m以下程度の小さい口径を有する深い溝に対する埋め込
みが困難であることが判明してきた。これを解決する為
にMOCVD法が用いられ、高い深さ/口径比(高アス
ペクト比)の溝や孔及び段差を凹凸が小さく平滑かつ良
好な膜質で被覆することが可能となった。
[0003] Regarding the technique of forming copper wiring, zero-valent Cu
A method combining a sputtering method (hereinafter referred to as copper (0)) and a solution plating method of divalent Cu (hereinafter referred to as copper (II)) and mainly a monovalent Cu (hereinafter referred to as copper (I)) Chemical vapor deposition (hereinafter referred to as MO) using an organometallic complex
CVD method). However, in the former method combining the sputtering method and the plating method, 0.15 μm
It has been found that it is difficult to fill a deep groove having a small diameter of about m or less. In order to solve this problem, the MOCVD method has been used, and it has become possible to coat grooves, holes and steps having a high depth / diameter ratio (high aspect ratio) with small unevenness and smooth and excellent film quality.

【0004】銅化合物としては、銅(II)ビス(アセ
チルセトナート)、銅(II)ビス(トリメチルアセチ
ルアセトナート)があるが、これらは固体で蒸気圧が低
く、銅MOCVD材料としては不適である。
[0004] Copper compounds include copper (II) bis (acetylsetnato) and copper (II) bis (trimethylacetylacetonate), which are solid and have a low vapor pressure and are unsuitable as copper MOCVD materials. is there.

【0005】これに対して、これらの銅化合物と類似の
構造を有し、弗素原子をその配位子に有する銅(II)
ビス(ヘキサフルオロアセチルアセトナート)銅は、固
体であるにも関わらず、蒸気圧が高い為、古くから使用
されてきた。これは、弗化することにより、分子間相互
作用が小さくなることに起因している。銅(II)ビス
(ヘキサフルオロアセチルアセトナート)銅及びその水
和物は、Van HerertらによってJ.Elec
trochem.Soc.,112,1123(196
5)でCu−MOCVD材料として使用することが報告
されている。この際、銅化合物を150℃に加熱し、キ
ャリアーガスとして90℃の水素ガスを用い、250℃
の基板上に銅(II)を銅(0)に還元しつつ、蒸着さ
せている。この際、配位子であるヘキサフルオロアセチ
ルアセトナートアニオンは水素化され、ヘキサフルオロ
アセチルアセトンとなり、系外に排出される。
On the other hand, copper (II) having a structure similar to these copper compounds and having a fluorine atom in its ligand
Bis (hexafluoroacetylacetonate) copper has been used for a long time because it has a high vapor pressure despite being solid. This is because the intermolecular interaction is reduced by the fluorination. Copper (II) bis (hexafluoroacetylacetonate) copper and its hydrates have been described by Van Herert et al. Elec
trochem. Soc. , 112, 1123 (196
It has been reported that 5) is used as a Cu-MOCVD material. At this time, the copper compound was heated to 150 ° C., and hydrogen gas at 90 ° C. was used as a carrier gas.
Is deposited while reducing copper (II) to copper (0). At this time, the hexafluoroacetylacetonate anion, which is a ligand, is hydrogenated to hexafluoroacetylacetone, and is discharged out of the system.

【0006】シッフ塩基配位子、すなわちβ−ケトイミ
ン配位子を用いた銅(II)化合物のCu−MOCVD
材料も提案されている。例えば、USP 3,594,
216号公報では、ビス(アセチルアセトンエチレンジ
イミノ)銅(II)とビス(アセチルアセトンイミノ)
銅(II)が提案されており、200℃以上で蒸発さ
せ、400℃以上で基板上に蒸着させいる。また、Ma
ter.Res.Soc.Symp.Proc.20
4,415(1990)では、弗化タイプのシッフ塩基
配位子を有する銅(II)化合物が提案されており、1
00℃程度の温度で蒸発させ、300℃程度の温度で基
板上に蒸着させている。
[0006] Cu-MOCVD of copper (II) compounds using Schiff base ligand, ie β-ketoimine ligand
Materials have also been proposed. For example, USP 3,594,
No. 216 discloses that bis (acetylacetoneethylenediimino) copper (II) and bis (acetylacetoneimino)
Copper (II) has been proposed, evaporating above 200 ° C. and depositing above 400 ° C. on a substrate. Also, Ma
ter. Res. Soc. Symp. Proc. 20
No. 4,415 (1990) proposes a copper (II) compound having a fluorinated type Schiff base ligand.
It is evaporated at a temperature of about 00 ° C. and deposited on a substrate at a temperature of about 300 ° C.

【0007】以上の提案においては、蒸着温度が200
℃以上であり、より低温で蒸着可能なCu−MOCVD
材料が望まれていた。
[0007] In the above proposal, the deposition temperature is 200
Cu-MOCVD which can be deposited at a lower temperature than ℃
Material was desired.

【0008】この200℃以下の蒸着温度を実現したの
は、銅(I)の有機金属化合物である。具体的には、シ
クロペンタジエニル銅(I)トリアルキルホスフィン錯
体であり、Chem.Mater.2,636(199
0)では、シクロペンタジエニル銅(I)トリメチルホ
スフィンを130℃〜200℃温度で蒸着させている。
しかしながら、シクロペンタジエニル銅(I)トリアル
キルホスフィンによるCu−MOCVDは、基板上の燐
汚染及び金属及び絶縁体への選択性の問題等を有してい
る。更にシクロペンタジエニル銅(I)トリアルキルホ
スフィン自体も70℃近傍の比較的低い温度で長時間使
用した場合でも銅(0)の析出を伴う分解が起こり、安
定性の問題を有していた。
[0008] The organic metal compound of copper (I) has realized the deposition temperature of 200 ° C or less. Specifically, it is a cyclopentadienyl copper (I) trialkylphosphine complex, which is described in Chem. Mater. 2,636 (199
In (0), cyclopentadienyl copper (I) trimethylphosphine is deposited at a temperature of 130 ° C to 200 ° C.
However, Cu-MOCVD using cyclopentadienyl copper (I) trialkylphosphine has problems such as phosphorus contamination on the substrate and selectivity to metals and insulators. Furthermore, cyclopentadienyl copper (I) trialkyl phosphine itself has a problem of stability even when used for a long time at a relatively low temperature of around 70 ° C. with precipitation of copper (0). .

【0009】更に、上述の銅(II)と同様に固体であ
り、蒸発速度及び蒸着速度が固体粒子形状、粒度、粒度
分布に依存するという問題点をも有していた。
Further, it is a solid like copper (II) described above, and has a problem that the evaporation rate and the evaporation rate depend on the shape, particle size and particle size distribution of the solid particles.

【0010】液状で比較的安定な銅化合物の提案は、ビ
ニルシランを配位させた銅(I)錯体によって実現され
た。特許第2132693号公報にて提案されているヘ
キサフルオロアセチルアセトナート銅(I)ビニルトリ
メチルシランである。液状である為、供給量が液体流量
計で制御可能であり、蒸気圧も比較的高く、従来の固体
の化合物に比し、MOCVD材料としては、使い易くな
っている。しかしながら、ヘキサフルオロアセチルアセ
トナート銅(I)ビニルトリメチルシランは、気化のた
めの長時間加熱によって徐々に分解し、銅(0)の析出
があったり、ビニルシラン化合物をその構造中有してい
る為に、高温で長時間の気化操作を行うとそのオリゴマ
ー及びポリマーが生成し、装置内の閉塞原因となる場合
があった。
The proposal of a liquid and relatively stable copper compound has been realized by a copper (I) complex coordinated with vinylsilane. Hexafluoroacetylacetonate copper (I) vinyltrimethylsilane proposed in Japanese Patent No. 2132693. Since it is liquid, the supply amount can be controlled by a liquid flow meter, the vapor pressure is relatively high, and it is easier to use as a MOCVD material than a conventional solid compound. However, hexafluoroacetylacetonate copper (I) vinyltrimethylsilane is gradually decomposed by prolonged heating for vaporization, copper (0) is deposited, and a vinylsilane compound is contained in the structure. In addition, when the vaporization operation is performed at a high temperature for a long time, oligomers and polymers thereof are generated, which may cause blockage in the apparatus.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】本発明は上記の課題に
鑑みてなされたものであり、その目的は、従来技術の問
題を解決すること、すなわち、本発明は、蒸気圧が高く
気化が容易で銅薄膜の形成速度の制御が容易で且つ高温
で安定なMOCVD用銅錯体の提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to solve the problems of the prior art. That is, the present invention has a high vapor pressure and facilitates vaporization. It is an object of the present invention to provide a copper complex for MOCVD which can easily control the formation rate of a copper thin film and is stable at a high temperature.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、β−ケト
イミン配位子と電子供与性化合物として有する銅化合物
が熱的に安定であり、蒸気圧が高いことを見出し、すな
わち、MOCVD材料として良質の銅薄膜を制御可能な
速度で形成可能な銅化合物を見出し、本発明を完成させ
るに至った。
Means for Solving the Problems The present inventors have found that a β-ketoimine ligand and a copper compound having an electron donating compound are thermally stable and have a high vapor pressure. As a result, they have found a copper compound capable of forming a high-quality copper thin film at a controllable rate, and have completed the present invention.

【0013】すなわち、本発明は、下記一般式(1)That is, the present invention provides the following general formula (1)

【0014】[0014]

【化4】 Embedded image

【0015】(式中、R1,R2は、炭素数1〜20の弗
化炭化水素基又は炭素数1〜20の炭化水素基であり、
1,R2の少なくとも一方は弗化炭化水素基である。R
3は水素原子、弗素原子又は炭素数1〜20の弗化炭化
水素基を表わし、R4は炭素数1〜20の弗化炭化水素
基、炭素数1〜20の炭化水素基又は水素原子を表わ
す。Lは、ヘテロ原子を含んでよい不飽和炭化水素、エ
ーテル、シリルエーテル、ホスフィン又はアミン等の電
子供与性化合物を表わす。)で示される安定化された銅
錯体、それを用いてなる銅錯体組成物、及びそれらの製
造方法に関するものである。
(Wherein R 1 and R 2 are a fluorinated hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms or a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms,
At least one of R 1 and R 2 is a fluorinated hydrocarbon group. R
3 is a hydrogen atom, a fluorinated hydrocarbon radical of fluorine atom or a C 1-20, R 4 is fluorinated hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, a hydrocarbon group or a hydrogen atom having 1 to 20 carbon atoms Express. L represents an electron-donating compound such as an unsaturated hydrocarbon, ether, silyl ether, phosphine or amine which may contain a hetero atom. ), A copper complex composition using the stabilized copper complex, and methods for producing the same.

【0016】以下、本発明について詳細に説明する。Hereinafter, the present invention will be described in detail.

【0017】前述の一般式(1)おいて、R1,R2は、
炭素数1〜20の弗化炭化水素基又は炭素数1〜20の
炭化水素基であり、R1,R2の少なくとも一方は弗化炭
化水素基である。炭素数が20を越える場合は、原料の
調達の困難さ及び純度の高いものの調達の困難さから好
ましくない。
In the above general formula (1), R 1 and R 2 are:
It is a fluorinated hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms or a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, and at least one of R 1 and R 2 is a fluorinated hydrocarbon group. If the number of carbon atoms exceeds 20, it is not preferable because it is difficult to procure raw materials and to purchase high-purity raw materials.

【0018】弗化炭化水素基としては、少なくとも一つ
以上の弗素原子を有する炭素数1〜20の炭化水素基で
あれば特に限定されるものではなく、弗化飽和炭化水素
基又は弗化不飽和炭化水素基が挙げられる。
The fluorinated hydrocarbon group is not particularly limited as long as it is a hydrocarbon group having at least one fluorine atom and having 1 to 20 carbon atoms, and is a fluorinated saturated hydrocarbon group or a non-fluorinated hydrocarbon group. And a saturated hydrocarbon group.

【0019】弗化飽和炭化水素基としては、例えば、ト
リフルオロメチル基、パーフルオロエチル基、パーフル
オロプロピル基、パーフルオロシクロプロピル基、パー
フルオロメチルシクロプロピル基、パーフルオロブチル
基、パーフルオロシクロブチル基、パーフルオロペンチ
ル基、パーフルオロシクロペンチル基、パーフルオロメ
チルシクロペンチル基、パーフルオロヘキシル基、パー
フルオロシクロヘキシル基、パーフルオロ−1,2−ジ
メチルシクロヘキシル基、パーフルオロヘプチル基等の
パーフルオロカーボン残基、フルオロメチル基、ジフル
オロメチル基、1,1,1−トリフルオロエチル基、2
−パーフルオロアルキルエチル基のフルオロハイドロカ
ーボン残基等を挙げることができる。
Examples of the fluorinated saturated hydrocarbon group include trifluoromethyl, perfluoroethyl, perfluoropropyl, perfluorocyclopropyl, perfluoromethylcyclopropyl, perfluorobutyl, and perfluorocyclo. Perfluorocarbon residues such as butyl group, perfluoropentyl group, perfluorocyclopentyl group, perfluoromethylcyclopentyl group, perfluorohexyl group, perfluorocyclohexyl group, perfluoro-1,2-dimethylcyclohexyl group and perfluoroheptyl group , Fluoromethyl group, difluoromethyl group, 1,1,1-trifluoroethyl group, 2
And a fluorohydrocarbon residue of a perfluoroalkylethyl group.

【0020】更に弗化不飽和炭化水素基としては、例え
ば、パーフルオロエテニル基、パーフルオロプロペニル
基、パーフルオロ−1,3−ブタジエニル基、シクロブ
テニル基、パーフルオロ−2−ブチニル基、ペンタフル
オロフェニル基、パーフルオロトルイル基、ビス(トリ
フルオロメチル)フェニル基、パーフルオロナフタレニ
ル基、パーフルオロインデニル基、パーフルオロフルオ
レニル基等を挙げることができる。
Examples of the fluorinated unsaturated hydrocarbon group include, for example, perfluoroethenyl, perfluoropropenyl, perfluoro-1,3-butadienyl, cyclobutenyl, perfluoro-2-butynyl, pentafluoro Examples include a phenyl group, a perfluorotoluyl group, a bis (trifluoromethyl) phenyl group, a perfluoronaphthalenyl group, a perfluoroindenyl group, and a perfluorofluorenyl group.

【0021】炭化水素基としては、炭素数1〜20の炭
化水素基であり、好ましくは、炭素数1〜10のアルキ
ル基,アリール基,アリールアルキル基,アルキルアリ
ール基を挙げることができる。具体的には、例えば、メ
チル基、エチル基、n−プロピル基、i−プロピル基、
n−ブチル基、i−ブチル基、sec−ブチル基、te
rt.−ブチル基、n−ペンチル基、tert.−アミ
ル基、n−ヘキシル基、シクロヘキシル基、フェニル
基、トルイル基等を挙げることができる。
The hydrocarbon group is a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, and preferably includes an alkyl group, an aryl group, an arylalkyl group and an alkylaryl group having 1 to 10 carbon atoms. Specifically, for example, a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an i-propyl group,
n-butyl group, i-butyl group, sec-butyl group, te
rt. -Butyl group, n-pentyl group, tert. -Amyl, n-hexyl, cyclohexyl, phenyl, toluyl and the like.

【0022】R1,R2は、同一であっても異なっても良
い。
R 1 and R 2 may be the same or different.

【0023】R3は、水素原子、弗素原子又はR1,R2
と同様の炭素数1〜20の弗化炭化水素基を示す。炭素
数が20を越える場合は、原料の調達の困難さ及び純度
の高いものの調達の困難さから好ましくない。
R 3 is a hydrogen atom, a fluorine atom or R 1 , R 2
And the same fluorocarbon groups having 1 to 20 carbon atoms. If the number of carbon atoms exceeds 20, it is not preferable because it is difficult to procure raw materials and to purchase high-purity raw materials.

【0024】R4は、R1,R2と同様の炭素数1〜20
の弗化炭化水素基、炭素数1〜20の炭化水素基、又は
水素原子を表わす。炭素数が20を越える場合は、原料
の調達の困難さ及び純度の高いものの調達の困難さから
好ましくない。
R 4 has the same carbon number as 1 to 20 as R 1 and R 2.
Represents a fluorinated hydrocarbon group, a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, or a hydrogen atom. If the number of carbon atoms exceeds 20, it is not preferable because it is difficult to procure raw materials and to purchase high-purity raw materials.

【0025】Lは、ヘテロ原子を含んで良い不飽和炭化
水素、エーテル、シリルエーテル、ホスフィン又はアミ
ン等の電子供与性化合物の群から選ばれる。
L is selected from the group of electron-donating compounds such as unsaturated hydrocarbons, ethers, silyl ethers, phosphines or amines which may contain heteroatoms.

【0026】ヘテロ原子を含んで良い不飽和炭化水素
は、例えば、アルケン、ヘテロ原子含有アルケン、アル
キン、ヘテロ原子含有アルキンを挙げることができる。
アルケンとしては、直鎖状オレフィン、分岐鎖状オレフ
ィンを挙げることができ、ヘテロ原子含有アルケンとし
ては、ビニルシラン化合物を挙げることができる。アル
キンもしくはヘテロ原子含有アルケンとしては、三重結
合に直結する水素原子を有しない構造の化合物が好まし
く、三重結合の両端に炭化水素基もしくは珪素等のヘテ
ロ原子含有置換基が結合したものを挙げることができ
る。その具体例については後述する。
The unsaturated hydrocarbon which may contain a hetero atom includes, for example, alkene, alkene containing a hetero atom, alkyne and alkyne containing a hetero atom.
Alkenes include linear olefins and branched olefins, and heteroatom-containing alkenes include vinylsilane compounds. As the alkyne or the hetero atom-containing alkene, a compound having a structure having no hydrogen atom directly connected to a triple bond is preferable, and a compound having a hetero atom-containing substituent such as a hydrocarbon group or silicon bonded to both ends of the triple bond may be mentioned. it can. A specific example thereof will be described later.

【0027】エーテルとしては、分子中に少なくとも一
つ以上の酸素原子を含む、モノエーテル類及びポリエー
テル類を使用することができ、直鎖状、分岐鎖状、環状
構造のものが使用できる。例えば、モノエーテル類とし
て、ジエチルエーテル、ジイソプロピルエーテル、ジブ
チルエーテル、tert.−ブチルメチルエーテル、テ
トラヒドロフラン、ジヒドロピラン、テトラヒドロピラ
ン等を挙げることができ、ポリエーテル類としては、
1,2−ジメトキシエタン、1,3−ジメトキシプロパ
ン、2,2−ジ−tert.−ブチル−1,3−ジメト
キシプロパン、2,2−ジ−i−ブチル−1,3−ジメ
トキシプロパン、2,2−ジフェニル−1,3−ジメト
キシプロパン等が挙げられる。
As the ether, monoethers and polyethers containing at least one oxygen atom in the molecule can be used, and those having a linear, branched or cyclic structure can be used. For example, as monoethers, diethyl ether, diisopropyl ether, dibutyl ether, tert. -Butyl methyl ether, tetrahydrofuran, dihydropyran, tetrahydropyran and the like, and as the polyethers,
1,2-dimethoxyethane, 1,3-dimethoxypropane, 2,2-di-tert. -Butyl-1,3-dimethoxypropane, 2,2-di-i-butyl-1,3-dimethoxypropane, 2,2-diphenyl-1,3-dimethoxypropane and the like.

【0028】シリルエーテルとしては、下記一般式
(4)
As the silyl ether, the following general formula (4)

【0029】[0029]

【化5】 Embedded image

【0030】(R13,R14は、炭素数1〜50の炭化水
素基であり、好ましくは、炭素数1〜20の炭化水素基
を表わし、nは1〜3の整数を表わす。)で示されるシ
リルエーテルを用いることができる。例えば、トリメチ
ルメトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、メチル
トリメトキシシラン、トリエチルメトキシシラン、ジエ
チルジメトキシシラン、エチルトリメトキシシラン、n
−プロピルトリメトキシシラン、ジ−n−プロピルジメ
トキシシラン、トリ−n−プロピルメトキシシラン、i
−プロピルトリメトキシシラン、ジ−i−プロピルジメ
トキシシラン、トリ−i−プロピルメトキシシラン、n
−ブチルトリメトキシシラン、i−ブチルトリメトキシ
シラン、sec.−ブチルトリメトキシシラン、ter
t.−ブチルトリメトキシシラン、ジ−i−ブチルジメ
トキシシラン、ジ−tert.−ブチルジメトキシシラ
ン、tert.−ブチルメチルジメトキシシラン、te
rt.−ブチルエチルジメトキシシラン、tert.−
ブチル−n−プロピルジメトキシシラン、ジフェニルジ
メトキシシラン、tert.−ブチル−tert.−ブ
トキシジメトキシシラン等を挙げることができる。
(R 13 and R 14 each represent a hydrocarbon group having 1 to 50 carbon atoms, preferably a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, and n represents an integer of 1 to 3). The indicated silyl ethers can be used. For example, trimethylmethoxysilane, dimethyldimethoxysilane, methyltrimethoxysilane, triethylmethoxysilane, diethyldimethoxysilane, ethyltrimethoxysilane, n
-Propyltrimethoxysilane, di-n-propyldimethoxysilane, tri-n-propylmethoxysilane, i
-Propyltrimethoxysilane, di-i-propyldimethoxysilane, tri-i-propylmethoxysilane, n
-Butyltrimethoxysilane, i-butyltrimethoxysilane, sec. -Butyltrimethoxysilane, ter
t. -Butyltrimethoxysilane, di-i-butyldimethoxysilane, di-tert. -Butyldimethoxysilane, tert. -Butylmethyldimethoxysilane, te
rt. -Butylethyldimethoxysilane, tert. −
Butyl-n-propyldimethoxysilane, diphenyldimethoxysilane, tert. -Butyl-tert. -Butoxydimethoxysilane and the like.

【0031】ホスフィンとしては、下記一般式(5)As the phosphine, the following general formula (5)

【0032】[0032]

【化6】 Embedded image

【0033】(R15は、炭素数1〜50の炭化水素基で
あり、好ましくは、炭素数1〜20の炭化水素基を表わ
す。)で示されるホスフィンを用いることができる。例
えば、トリメチルホスフィン、トリエチルホスフィン、
トリ−n−プロピルホスフィン、トリ−i−プロピルホ
スフィン、トリ−n−ブチルホスフィン、トリ−i−ブ
チルホスフィン、トリ−sec.−ブチルホスフィン、
トリ−tert.−ブチルホスフィン、トリフェニルホ
スフィン、トリトルイルホスフィンが挙げられる。
(R 15 is a hydrocarbon group having 1 to 50 carbon atoms, and preferably represents a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms). For example, trimethylphosphine, triethylphosphine,
Tri-n-propylphosphine, tri-i-propylphosphine, tri-n-butylphosphine, tri-i-butylphosphine, tri-sec. -Butylphosphine,
Tri-tert. -Butylphosphine, triphenylphosphine, tritolylphosphine.

【0034】アミンとしては、モノアミン、ポリアルキ
レンポリアミン等のポリアミンを用いることができる。
As the amine, polyamines such as monoamine and polyalkylene polyamine can be used.

【0035】例えば、モノアミン類として、メチルアミ
ン、ジメチルアミン、トリメチルアミン、エチルアミ
ン、ジエチルアミン、トリエチルアミン、n−プロピル
アミン、ジ−n−プロピルアミン、トリ−n−プロピル
アミン、i−プロピルアミン、ジ−i−プロピルアミ
ン、トリ−i−プロピルアミン、n−ブチルアミン、ジ
−n−ブチルアミン、トリ−n−ブチルアミン、i−ブ
チルアミン、sec.−ブチルアミン、tert.−ブ
チルアミン、トリ−n−オクチルアミン、2−エチルヘ
キシルアミン、ジ−2−エチルヘキシルアミン、アリル
アミン、ジアリルアミン、トリアリルアミン等を挙げる
ことができ、ポリアミン類としては、エチレンジアミ
ン、テトラメチルエチレンジアミン、ジエチレントリア
ミン、トリエチレンテトラミン、テトラエチレンペンタ
ミン、ピペラジン、N−メチルピペラジン、N−アミノ
エチルピペラジン等のポリアルキレンポリアミンを挙げ
ることができる。
For example, as monoamines, methylamine, dimethylamine, trimethylamine, ethylamine, diethylamine, triethylamine, n-propylamine, di-n-propylamine, tri-n-propylamine, i-propylamine, di-i -Propylamine, tri-i-propylamine, n-butylamine, di-n-butylamine, tri-n-butylamine, i-butylamine, sec. -Butylamine, tert. -Butylamine, tri-n-octylamine, 2-ethylhexylamine, di-2-ethylhexylamine, allylamine, diallylamine, triallylamine, and the like.Examples of polyamines include ethylenediamine, tetramethylethylenediamine, diethylenetriamine, and triethylene. Examples thereof include polyalkylene polyamines such as tetramine, tetraethylenepentamine, piperazine, N-methylpiperazine, and N-aminoethylpiperazine.

【0036】これらの電子供与性化合物は、単独で使用
しても複数の混合物として使用しても良い。
These electron donating compounds may be used alone or as a mixture of a plurality.

【0037】中でも上記の電子供与性化合物Lが、アル
ケン、アルキン、ヘテロ原子含有アルケン、ヘテロ原子
含有アルキンである銅錯体が好ましい。なかんずく、下
記一般式(2)
Among them, a copper complex in which the electron donating compound L is an alkene, alkyne, alkene containing a hetero atom, or alkyne containing a hetero atom is preferable. Above all, the following general formula (2)

【0038】[0038]

【化7】 Embedded image

【0039】(式中、R1,R2は、炭素数1〜20の弗
化炭化水素基又は炭素数1〜20の炭化水素基であり、
1,R2の少なくとも一方は弗化炭化水素基である。R
3は水素原子、弗素原子又は炭素数1〜20の弗化炭化
水素基を表わし、R4は炭素数1〜20の弗化炭化水素
基、炭素数1〜20の炭化水素基又は水素原子を表わ
す。R5,R6,R7,R8は、水素原子、炭素数1〜20
の炭化水素基、又はヘテロ原子含有置換基を表わす。)
で示される電子供与性化合物がアルケンであることが好
ましい。
(Wherein R 1 and R 2 are a fluorinated hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms or a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms,
At least one of R 1 and R 2 is a fluorinated hydrocarbon group. R
3 is a hydrogen atom, a fluorinated hydrocarbon radical of fluorine atom or a C 1-20, R 4 is fluorinated hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, a hydrocarbon group or a hydrogen atom having 1 to 20 carbon atoms Express. R 5 , R 6 , R 7 , and R 8 each represent a hydrogen atom and have 1 to 20 carbon atoms.
Represents a hydrocarbon group or a hetero atom-containing substituent. )
Is preferably an alkene.

【0040】R1,R2,R3,R4は、上記一般式(1)
と同様であり、具体例も上記の例に準ずる。原料の調
達、純度等を考慮すると炭素数20以下が好ましい。
R 1 , R 2 , R 3 and R 4 are represented by the above general formula (1)
The specific example is similar to the above example. Taking into account the procurement of raw materials and purity, the number of carbon atoms is preferably 20 or less.

【0041】アルケンの具体例としては、例えば、ブテ
ン−1、ペンテン−1、ヘキセン−1、オクテン−1、
デセン−1、ドデセン−1等の直鎖状オレフィン、イソ
ブテン、3−メチル−ブテン−1、4−メチルペンテン
−1等の分岐鎖状オレフィン、ビニルシクロヘキサン等
の環状アルキル置換オレフィン、シクロヘキセン、シク
ロオクタジエン等の環状オレフィン、スチレン、p−メ
チルスチレン、p−tert.−ブトキシスチレン、p
−トリメチルシリルスチレン等の芳香族置換ビニル化合
物、ビニルトリメチルシラン、ビニルトリメトキシシラ
ン、ジビニルジメチルシラン、アリルトリメチルシラン
等のビニルシランを挙げることができる。
Specific examples of alkenes include, for example, butene-1, pentene-1, hexene-1, octene-1,
Linear olefins such as decene-1 and dodecene-1, branched olefins such as isobutene, 3-methyl-butene-1, and 4-methylpentene-1; cyclic alkyl-substituted olefins such as vinylcyclohexane; cyclohexene; Cyclic olefins such as dienes, styrene, p-methylstyrene, p-tert. -Butoxystyrene, p
-Aromatic substituted vinyl compounds such as trimethylsilylstyrene, and vinylsilanes such as vinyltrimethylsilane, vinyltrimethoxysilane, divinyldimethylsilane, and allyltrimethylsilane.

【0042】なかんずく、下記一般式(3)Above all, the following general formula (3)

【0043】[0043]

【化8】 Embedded image

【0044】(式中、R9は水素原子、炭素数1〜20
の炭化水素基、又は炭素数1〜20の弗化炭化水素基で
あり、R10,R11,R12は炭素数1〜20の炭化水素基
を表わし、nは0〜20の整数を表わす)で示される電
子供与性化合物Lが珪素含有アルケンである銅錯体が更
に好ましい。
(Wherein R 9 is a hydrogen atom, having 1 to 20 carbon atoms)
Or a fluorinated hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, wherein R 10 , R 11 and R 12 represent a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, and n represents an integer of 0 to 20. ) Is more preferably a copper complex in which the electron donating compound L is a silicon-containing alkene.

【0045】R9は、上記一般式(1)のR1,R2と同
様の弗化炭化水素基、炭化水素基、又は水素原子であ
り、具体例も上記の例に準ずる。原料の調達、純度等を
考慮すると炭素数20以下が好ましい。
R 9 is the same fluorinated hydrocarbon group, hydrocarbon group or hydrogen atom as R 1 and R 2 in the general formula (1), and specific examples thereof are the same as those described above. Taking into account the procurement of raw materials and purity, the number of carbon atoms is preferably 20 or less.

【0046】アルケンの種類としては、ビニルトリメチ
ルシラン、アリルトリメチルシラン、ブテニルトリメチ
ルシラン、ペンテニルトリメチルシラン、ヘキセニルト
リメチルシラン、ヘプテニルトリメチルシラン、オクテ
ニルトリメチルシラン、デセニルトリメチルシラン、ビ
ニルtert.−ブチルジメチルシラン、アリルter
t.−ブチルジメチルシラン、ブテニルtert.−ブ
チルジメチルシラン、ペンテニルtert.−ブチルジ
メチルシラン、ヘキセニルtert.−ブチルジメチル
シラン、ヘプテニルtert.−ブチルジメチルシラ
ン、オクテニルtert.−ブチルジメチルシラン、デ
セニルtert.−ブチルジメチルシラン、ビニルジt
ert.−ブチルメチルシラン、アリルジtert.−
ブチルメチルシラン、ブテニルジtert.−ブチルメ
チルシラン、ペンテニルジtert.−ブチルメチルシ
ラン、ヘキセニルジtert.−ブチルメチルシラン、
ヘプテニルジtert.−ブチルジメチルシラン、オク
テニルジtert.−ブチルメチルシラン、デセニルジ
tert.−ブチルメチルシラン、ビニルジメチルメト
キシシラン、アリルジメチルメトシキシラン、ビニルメ
チルジメトキシシラン、アリルメチルジメトシキシラ
ン、ビニルトリメトキシシラン、アリルトリメトキシシ
ラン、ビニルtert.−ブチルジメトキシシラン、ア
リルtert.−ブチルジメトシキシラン、ビニルジt
ert.−ブチルメトキシシラン、アリルジtert.
−ブチルメトシキシランが挙げられる。
Examples of the alkene include vinyltrimethylsilane, allyltrimethylsilane, butenyltrimethylsilane, pentenyltrimethylsilane, hexenyltrimethylsilane, heptenyltrimethylsilane, octenyltrimethylsilane, decenyltrimethylsilane, vinyl tert. -Butyldimethylsilane, allyl ter
t. -Butyldimethylsilane, butenyl tert. -Butyldimethylsilane, pentenyl tert. -Butyldimethylsilane, hexenyl tert. -Butyldimethylsilane, heptenyl tert. -Butyldimethylsilane, octenyl tert. -Butyldimethylsilane, decenyl tert. -Butyldimethylsilane, vinyl di-t
ert. -Butylmethylsilane, allyl ditert. −
Butylmethylsilane, butenyl ditert. -Butylmethylsilane, pentenylditert. -Butylmethylsilane, hexenylditert. -Butylmethylsilane,
Heptenyl ditert. -Butyldimethylsilane, octenylditert. -Butylmethylsilane, decenylditert. -Butylmethylsilane, vinyldimethylmethoxysilane, allyldimethylmethoxysilane, vinylmethyldimethoxysilane, allylmethyldimethoxysilane, vinyltrimethoxysilane, allyltrimethoxysilane, vinyl tert. -Butyldimethoxysilane, allyl tert. -Butyl dimethoxysilane, vinyl di-t
ert. -Butylmethoxysilane, allyl ditert.
-Butylmethoxysilane.

【0047】本発明における前述の一般式(1)の安定
化された銅錯体の合成方法は、弗化β−ジケトンにアン
モニアもしくはアミンを反応させ、β−ケトイミンとし
た後、電子供与性化合物の共存下、銅(I)化合物を反
応させることにより合成することができる。電子供与性
化合物の非共存下にβ−ケトイミンのケトンとイミン間
の炭素上のプロトンをアルカリ金属等で引き抜き、銅
(I)化合物を反応させ、β−ケトイミン銅錯体を合成
した後、電子供与性化合物を添加し配位させる方法を採
用することも可能である。
The method for synthesizing the stabilized copper complex represented by the above general formula (1) in the present invention comprises reacting a fluorinated β-diketone with ammonia or an amine to form β-ketoimine, and then converting the electron donating compound. It can be synthesized by reacting a copper (I) compound in the coexistence. A proton on the carbon between the ketone and the imine of β-ketimine is extracted with an alkali metal or the like in the absence of an electron donating compound, and the copper (I) compound is reacted to synthesize a β-ketoimine copper complex. It is also possible to adopt a method of adding an active compound to coordinate.

【0048】安定化された銅錯体を合成する際の溶媒
は、当該技術分野で使用されるものであれば特に限定さ
れるものではない。例えば、n−ペンタン、i−ペンタ
ン、n−ヘキサン、n−ヘプタン、n−デカン等の飽和
炭化水素類、トルエン、キシレン、デセン−1等の不飽
和炭化水素類、ジエチルエーテル、テトラヒドロフラ
ン、テトラヒドロピラン等のエーテル類、ジクロロメタ
ン、ジクロロエタン、クロロホルム、クロロベンゼン等
のハロゲン化炭化水素類を挙げることができる。
The solvent used for synthesizing the stabilized copper complex is not particularly limited as long as it is used in the art. For example, saturated hydrocarbons such as n-pentane, i-pentane, n-hexane, n-heptane, n-decane, unsaturated hydrocarbons such as toluene, xylene and decene-1, diethyl ether, tetrahydrofuran, tetrahydropyran And halogenated hydrocarbons such as dichloromethane, dichloroethane, chloroform, and chlorobenzene.

【0049】安定化された銅錯体を合成する際の反応温
度は、特に限定されないが、生成する銅化合物が分解し
ない様な温度範囲で行うことが好ましい。通常、工業的
に使用されている温度である−78〜200℃の範囲、
好ましくは、−50〜150℃の範囲で行うことが好ま
しい。反応の圧力条件は、加圧下、常圧下、減圧下いず
れであっても可能である。
The reaction temperature at the time of synthesizing the stabilized copper complex is not particularly limited, but it is preferable to perform the reaction in a temperature range that does not decompose the formed copper compound. Usually, in the range of −78 to 200 ° C., which is a temperature used industrially,
Preferably, it is performed in the range of -50 to 150 ° C. The pressure condition of the reaction may be any of pressurization, normal pressure and reduced pressure.

【0050】合成した安定化された銅錯体の精製方法
は、特に限定されないが、減圧蒸留及びシリカ、アルミ
ナ、高分子ゲルを用いたカラム分離精製を使用すること
ができる。この際の操作は、当該有機金属化合物合成分
野での方法に従う。すなわち、脱水及び脱酸素された窒
素又はアルゴン雰囲気下で行い、使用する溶媒及び精製
用のカラム充填剤等は、予め脱水操作を施しておくこと
が好ましい。この操作により、生成する銅化合物の収量
及び純度が向上する場合がある。
The method of purifying the synthesized stabilized copper complex is not particularly limited, but distillation under reduced pressure and column separation and purification using silica, alumina or a polymer gel can be used. The operation at this time follows the method in the field of organometallic compound synthesis. That is, it is preferable that the dehydration and deoxygenation be performed in a nitrogen or argon atmosphere, and the solvent to be used and the column filler for purification be subjected to a dehydration operation in advance. This operation may improve the yield and purity of the produced copper compound.

【0051】こうして精製した安定化された銅錯体は、
そのまま化学蒸着法による基板上への銅薄膜形成に用い
ることができる。安定化された銅錯体1molに対し、
上述の電子供与性化合物Lを更に0.01mol〜10
mol添加した組成物を用いることによって、長時間の
化学蒸着操作を施した場合においても、装置内での閉塞
等の問題が生じない、若しくは、緩和される。
The stabilized copper complex thus purified is
It can be used as it is for forming a copper thin film on a substrate by a chemical vapor deposition method. For 1 mol of stabilized copper complex,
The above electron donating compound L is further added to 0.01 mol to 10 mol
By using the composition to which mol has been added, even when a chemical vapor deposition operation is performed for a long time, problems such as blockage in the apparatus do not occur or are alleviated.

【0052】本発明における化学蒸着操作の際の温度
は、特に限定されないが、通常、0℃〜200℃の範囲
である。また、キャリアーガスとした当該技術分野で使
用されるものであれば使用でき、例えば、水素、窒素、
アルゴン等が挙げられる。
The temperature during the chemical vapor deposition operation in the present invention is not particularly limited, but is usually in the range of 0 ° C. to 200 ° C. Further, any carrier used in the technical field as a carrier gas can be used. For example, hydrogen, nitrogen,
Argon etc. are mentioned.

【0053】[0053]

【実施例】以下に実施例を示すが、本発明は、これらの
実施例によって何ら限定されるものではない。
EXAMPLES Examples are shown below, but the present invention is not limited to these examples.

【0054】実施例1 窒素気流下200mlのシュレンク管に、Journa
l of Fluorine Chemistry,2
7(1985)371−378に記載の方法でヘキサフ
ルオロアセチルアセトンとアンモニアより合成した1,
1,1,5,5,5−ヘキサフルオロ−2−アミノペン
タン−4−4オン 20.70g(0.100mol)
を脱水したテトラヒドロフラン 100mlに希釈し、
水素化カリウム 4.01g(0.100mol)を添
加した後、室温で攪拌してカリウム塩溶液とした。
Example 1 In a nitrogen stream, a Journa was placed in a 200 ml Schlenk tube.
l of Fluorine Chemistry, 2
7 (1985) 371-378, synthesized from hexafluoroacetylacetone and ammonia.
1,1,5,5,5-hexafluoro-2-aminopentan-4-4one 20.70 g (0.100 mol)
Is diluted with 100 ml of dehydrated tetrahydrofuran,
After adding 4.01 g (0.100 mol) of potassium hydride, the mixture was stirred at room temperature to obtain a potassium salt solution.

【0055】得られたカリウム塩溶液を塩化銅(I)
9.90g(0.100mol)とビニルトリメチルシ
ラン 10.01g(0.100mol)とテトラヒド
ロフラン100mlを混合したものに室温で滴下し、5
0℃で4時間攪拌した。残渣をガラスフィルターで濾別
した後、テトラヒドロフランを留去させ、減圧蒸留し、
目的物である(1,1,1,5,5,5−ヘキサフルオ
ロ−2−アミノペンタン−4−オナート)銅(I)ビニ
ルトリメチルシラン 25.13g(0.0680mo
l)を得た。収率は、68%に相当した。元素分析の結
果は以下の通り。
The obtained potassium salt solution was treated with copper (I) chloride.
A mixture of 9.90 g (0.100 mol), 10.01 g (0.100 mol) of vinyltrimethylsilane, and 100 ml of tetrahydrofuran was dropped at room temperature.
Stirred at 0 ° C. for 4 hours. After the residue was filtered off with a glass filter, tetrahydrofuran was distilled off and distilled under reduced pressure.
25.13 g of (1,1,1,5,5,5-hexafluoro-2-aminopentane-4-onato) copper (I) vinyltrimethylsilane as the target substance (0.0680 mol)
1) was obtained. The yield corresponded to 68%. The results of the elemental analysis are as follows.

【0056】C1014NOF6SiCu wt% 実測値(C32.2,H3.7,N3.8,F30.
9,Cu17.1,Si7.4) 理論値(C32.5,H3.8,N3.8,F30.
8,Cu17.2,Si7.6) 実施例2 実施例1において、ビニルトリメチルシラン 10.0
1g(0.100mol)に変えて、アリルトリメチル
シラン 11.41g(0.100mol)としたこと
以外は、実施例1と同様にして、(1,1,1,5,
5,5−ヘキサフルオロ−2−アミノペンタン−4−オ
ナート)銅(I)アリルトリメチルシランの合成を行っ
た。結果は、収率72%であり、元素分析の結果は、以
下の通りであった。
C 10 H 14 NOF 6 SiCu wt% Actual values (C32.2, H3.7, N3.8, F30.
9, Cu 17.1, Si 7.4) Theoretical values (C32.5, H3.8, N3.8, F30.
8, Cu 17.2, Si 7.6) Example 2 In Example 1, vinyltrimethylsilane 10.0
(1,1,1,5,) in the same manner as in Example 1 except that 11.1 g (0.100 mol) of allyltrimethylsilane was used instead of 1 g (0.100 mol).
5,5-Hexafluoro-2-aminopentane-4-onato) copper (I) allyltrimethylsilane was synthesized. The result was a yield of 72%, and the result of elemental analysis was as follows.

【0057】C1014NOF6SiCu wt% 実測値(C34.5,H4.2,N4.0,F29.
9,Cu16.8,Si7.1) 理論値(C34.4,H4.2,N4.2,F29.
7,Cu16.6,Si7.3)
C 10 H 14 NOF 6 SiCu wt% Measured value (C34.5, H4.2, N4.0, F29.
9, Cu 16.8, Si 7.1) Theoretical values (C34.4, H4.2, N4.2, F29.
7, Cu 16.6, Si 7.3)

【0058】[0058]

【発明の効果】以上、本発明によれば、熱安定性が高
く、室温で蒸気圧を有する新規な銅錯体を得られ、殊に
銅配線用MOCVD材料として好適な銅錯体を得られる
ことは明らかである。
As described above, according to the present invention, it is possible to obtain a novel copper complex having high thermal stability and a vapor pressure at room temperature, and particularly to obtain a copper complex suitable as a MOCVD material for copper wiring. it is obvious.

【0059】さらに、β−ケトイミンを配位子として有
する銅(I)錯体を合成するにあたり、極めて効率的
で、経済的な合成処方を提供できる。
Further, in synthesizing a copper (I) complex having β-ketoimine as a ligand, an extremely efficient and economical synthesis recipe can be provided.

フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/285 301 H01L 21/285 301Z Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat II (Reference) H01L 21/285 301 H01L 21/285 301Z

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】下記一般式(1) 【化1】 (式中、R1,R2は、炭素数1〜20の弗化炭化水素基
又は炭素数1〜20の炭化水素基であり、R1,R2の少
なくとも一方は弗化炭化水素基である。R3は水素原
子、弗素原子又は炭素数1〜20の弗化炭化水素基を表
わし、R4は炭素数1〜20の弗化炭化水素基、炭素数
1〜20の炭化水素基又は水素原子を表わす。Lは、ヘ
テロ原子を含んで良い不飽和炭化水素、エーテル、シリ
ルエーテル、ホスフィン又はアミン等の電子供与性化合
物を表わす。)で示される安定化された銅錯体。
(1) The following general formula (1): (Wherein, R 1 and R 2 are a fluorocarbon group having 1 to 20 carbon atoms or a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, and at least one of R 1 and R 2 is a fluorohydrocarbon group. R 3 represents a hydrogen atom, a fluorine atom or a fluorinated hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, and R 4 represents a fluorinated hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms or L represents a hydrogen atom, and L represents an electron-donating compound such as an unsaturated hydrocarbon, ether, silyl ether, phosphine or amine which may contain a hetero atom.)
【請求項2】Lが、アルケン、アルキン、ヘテロ原子含
有アルケン、又はヘテロ原子含有アルキンであることを
特徴とする請求項1記載の安定化された銅錯体。
2. The stabilized copper complex according to claim 1, wherein L is alkene, alkyne, alkene containing a hetero atom, or alkyne containing a hetero atom.
【請求項3】下記一般式(2) 【化2】 (式中、R1,R2は、炭素数1〜20の弗化炭化水素基
又は炭素数1〜20の炭化水素基であり、R1,R2の少
なくとも一方は弗化炭化水素基である。R3は水素原
子、弗素原子又は炭素数1〜20の弗化炭化水素基を表
わし、R4は炭素数1〜20の弗化炭化水素基、炭素数
1〜20の炭化水素基又は水素原子を表わす。R5
6,R7,R8は、水素原子、炭素数1〜20の炭化水
素基又は炭素数1〜20のヘテロ原子含有置換基を表わ
す。)で示される請求項2記載の安定化された銅錯体。
3. The following general formula (2): (Wherein, R 1 and R 2 are a fluorocarbon group having 1 to 20 carbon atoms or a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, and at least one of R 1 and R 2 is a fluorohydrocarbon group. R 3 represents a hydrogen atom, a fluorine atom or a fluorinated hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, and R 4 represents a fluorinated hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms or Represents a hydrogen atom, R 5 ,
R 6 , R 7 and R 8 each represent a hydrogen atom, a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms or a heteroatom-containing substituent having 1 to 20 carbon atoms. 3. The stabilized copper complex according to claim 2, wherein
【請求項4】下記一般式(3) 【化3】 (式中、R9は水素原子、炭素数1〜20の炭化水素基
又は炭素数1〜20の弗化炭化水素基であり、R10,R
11,R12は炭素数1〜20の炭化水素基を表わし、nは
0〜20の整数を表わす)で示される請求項3記載の安
定化された銅錯体。
4. A compound represented by the following general formula (3): (Wherein, R 9 is a hydrogen atom, a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms or a fluorinated hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, and R 10 and R 10
11 and R 12 represent a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, and n represents an integer of 0 to 20).
【請求項5】請求項1〜請求項4のいずれかに記載の安
定化された銅錯体1molに対し、0.01mol〜1
0molの電子供与性化合物を添加してなる銅錯体組成
物。
5. The stabilized copper complex according to any one of claims 1 to 4, wherein the amount of the copper complex is 0.01 mol to 1 mol.
A copper complex composition to which 0 mol of an electron donating compound is added.
【請求項6】請求項1〜請求項4のいずれかに記載の安
定化された銅錯体、もしくは、請求項5記載の銅錯体組
成物を用い、化学蒸着法により、基板上に銅薄膜を形成
する方法。
6. A copper thin film is formed on a substrate by chemical vapor deposition using the stabilized copper complex according to any one of claims 1 to 4 or the copper complex composition according to claim 5. How to form.
【請求項7】弗化β−ジケトンにアンモニアもしくはア
ミンを反応させ、β−ケトイミンとした後、電子供与性
化合物の共存下、一価銅化合物を反応させることを特徴
する請求項1〜請求項4のいずれかに記載の安定化され
た銅錯体の製造方法。
7. A method according to claim 1, wherein ammonia or an amine is reacted with the fluorinated β-diketone to form β-ketoimine, and then a monovalent copper compound is reacted in the presence of an electron donating compound. 5. The method for producing a stabilized copper complex according to any one of 4.
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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005170852A (en) * 2003-12-11 2005-06-30 Tosoh Corp Copper complex and/or copper complex composition containing polysubstituted vinylsilane compound
EP1676849A1 (en) * 2004-12-30 2006-07-05 Air Products and Chemicals, Inc. Volatile metal beta-ketoiminate complexes
EP1676850A1 (en) 2004-12-30 2006-07-05 Air Products and Chemicals, Inc. Volatile beta-ketoiminate and metal beta-diiminate complexes
EP1792907A1 (en) * 2004-12-30 2007-06-06 Air Products and Chemicals, Inc. Volatile metal beta-ketoiminate complexes
EP1849789A1 (en) 2006-04-25 2007-10-31 Air Products and Chemicals, Inc. Metal complexes of polydentate beta-ketoiminates
CN100393727C (en) * 2004-12-30 2008-06-11 气体产品与化学公司 Volatile metal beta-ketoiminate complexes
JP2009033125A (en) * 2007-06-21 2009-02-12 Air Products & Chemicals Inc Process for forming continuous copper thin film via vapor phase growth
JP2009161512A (en) * 2007-11-05 2009-07-23 Air Products & Chemicals Inc Copper precursor for thin film deposition
US7691984B2 (en) 2007-11-27 2010-04-06 Air Products And Chemicals, Inc. Metal complexes of tridentate β-ketoiminates
KR101288919B1 (en) 2011-01-25 2013-07-24 에어 프로덕츠 앤드 케미칼스, 인코오포레이티드 Novel metal complexes for metal-containing film deposition
US9079923B2 (en) 2010-08-05 2015-07-14 Air Products And Chemicals, Inc. Multidentate ketoimine ligands for metal complexes

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JPN6010057771, J.Chem.Soc.Chem.Commun., 1992, 3, p.217−219 *

Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005170852A (en) * 2003-12-11 2005-06-30 Tosoh Corp Copper complex and/or copper complex composition containing polysubstituted vinylsilane compound
JP4529434B2 (en) * 2003-12-11 2010-08-25 東ソー株式会社 Copper complex and copper complex composition comprising a polysubstituted vinylsilane compound
EP1792906A1 (en) * 2004-12-30 2007-06-06 Air Products and Chemicals, Inc. Volatile metal beta-ketoiminate complexes
EP1676849A1 (en) * 2004-12-30 2006-07-05 Air Products and Chemicals, Inc. Volatile metal beta-ketoiminate complexes
US7205422B2 (en) 2004-12-30 2007-04-17 Air Products And Chemicals, Inc. Volatile metal β-ketoiminate and metal β-diiminate complexes
EP1792907A1 (en) * 2004-12-30 2007-06-06 Air Products and Chemicals, Inc. Volatile metal beta-ketoiminate complexes
EP1676850A1 (en) 2004-12-30 2006-07-05 Air Products and Chemicals, Inc. Volatile beta-ketoiminate and metal beta-diiminate complexes
KR100737260B1 (en) * 2004-12-30 2007-07-10 에어 프로덕츠 앤드 케미칼스, 인코오포레이티드 Volatile metal ?-ketoiminate complexes
KR100759779B1 (en) * 2004-12-30 2007-10-04 에어 프로덕츠 앤드 케미칼스, 인코오포레이티드 VOLATILE METAL β-KETOIMINATE COMPLEXES
JP4643452B2 (en) * 2004-12-30 2011-03-02 エア プロダクツ アンド ケミカルズ インコーポレイテッド Volatile metal β-ketoiminate and metal β-diiminate complexes
CN100393727C (en) * 2004-12-30 2008-06-11 气体产品与化学公司 Volatile metal beta-ketoiminate complexes
JP2006193523A (en) * 2004-12-30 2006-07-27 Air Products & Chemicals Inc VOLATILE METAL beta-KETOIMINATE AND METAL beta-DIIMINATE COMPLEX
JP2010180221A (en) * 2004-12-30 2010-08-19 Air Products & Chemicals Inc VOLATILE METAL beta-KETOIMINATE AND METAL beta-DIIMINATE COMPLEX
EP1849789A1 (en) 2006-04-25 2007-10-31 Air Products and Chemicals, Inc. Metal complexes of polydentate beta-ketoiminates
KR100950393B1 (en) 2006-04-25 2010-03-29 에어 프로덕츠 앤드 케미칼스, 인코오포레이티드 Metal complexes of polydentate beta-ketoiminates
US7947814B2 (en) 2006-04-25 2011-05-24 Air Products And Chemicals, Inc. Metal complexes of polydentate beta-ketoiminates
CN101074203B (en) * 2006-04-25 2010-12-29 气体产品与化学公司 Metal complexes of polydentate beta-ketoiminates
KR100950392B1 (en) 2006-04-25 2010-03-29 에어 프로덕츠 앤드 케미칼스, 인코오포레이티드 Metal complexes of polydentate beta-ketoiminates
JP2009033125A (en) * 2007-06-21 2009-02-12 Air Products & Chemicals Inc Process for forming continuous copper thin film via vapor phase growth
US8283485B2 (en) 2007-06-21 2012-10-09 Air Products And Chemicals, Inc. Process for selectively depositing copper thin films on substrates with copper and ruthenium areas via vapor deposition
JP2009161512A (en) * 2007-11-05 2009-07-23 Air Products & Chemicals Inc Copper precursor for thin film deposition
US7723493B2 (en) 2007-11-27 2010-05-25 Air Products And Chemicals, Inc. Metal complexes of tridentate BETA -ketoiminates
US7691984B2 (en) 2007-11-27 2010-04-06 Air Products And Chemicals, Inc. Metal complexes of tridentate β-ketoiminates
US9079923B2 (en) 2010-08-05 2015-07-14 Air Products And Chemicals, Inc. Multidentate ketoimine ligands for metal complexes
KR101288919B1 (en) 2011-01-25 2013-07-24 에어 프로덕츠 앤드 케미칼스, 인코오포레이티드 Novel metal complexes for metal-containing film deposition
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