JP2002189067A - Method for applying bias of magnetic field sensor and strain sensor, and the magnetic field sensor and strain sensor - Google Patents

Method for applying bias of magnetic field sensor and strain sensor, and the magnetic field sensor and strain sensor

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for applying bias for a magnetic field sensor and for a strain sensor, whereby the bias can be applied using a simple arrangement, in place of a magnetic field bias by a winding wire, and to provide a magnetic field sensor and a strain sensor. SOLUTION: There are provided the magnetic field sensor 1, a PZT piezoelectric element 3, attached to a rear face of the magnetic field sensor 1 for generating primary strain, and a power supply 4 for impressing a voltage on the PZT piezoelectric element 3.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、磁界バイアスの印
加が不可欠な磁界センサならびに歪みセンサのバイアス
印加方法及び磁界センサならびに歪みセンサに関するも
のである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a magnetic field sensor in which application of a magnetic field bias is indispensable, a bias applying method for a strain sensor, and a magnetic field sensor and a strain sensor.

【0002】[0002]

【従来の技術】磁性体に高周波電流を通電した際に、磁
気異方性をあらかじめ制御しておけば、外部磁界あるい
は外部から与えた歪みに対してそのインピーダンスが敏
感に変化するため、高感度磁界センサ、あるいは高感度
歪みセンサとして用いることができ、特に磁界センサは
MIセンサ、高周波キャリア型センサなどの呼称でよく
知られている。
2. Description of the Related Art When a magnetic material is energized with a high-frequency current and its magnetic anisotropy is controlled in advance, its impedance changes sensitively to an external magnetic field or externally applied strain. It can be used as a magnetic field sensor or a high-sensitivity strain sensor. In particular, the magnetic field sensor is well known by its name such as MI sensor and high-frequency carrier type sensor.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これら
のセンサはある一定の直流磁界印加下においてのみ高感
度が実現できるため、センサ周辺に巻線や永久磁石など
バイアス磁界印加のための機構が不可欠となり、大型
化、電力消費量の増加、外部へのもれ磁界の発生などの
問題を有している。同様にバイアス磁界を必要とするG
MRセンサは、センサ膜厚が極めて薄いために近傍に通
電した電流が発生する磁界を利用したSALと呼ばれる
方式が用いられるが、本センサは膜厚が数ミクロンと厚
いため、この方法は適用不可能であった。
However, since these sensors can realize high sensitivity only under a certain applied DC magnetic field, a mechanism for applying a bias magnetic field such as a winding or a permanent magnet is indispensable around the sensor. In addition, there are problems such as an increase in size, an increase in power consumption, and generation of a leakage magnetic field to the outside. G that requires a bias magnetic field
The MR sensor uses a method called SAL that uses a magnetic field that generates a current flowing in the vicinity because the sensor thickness is extremely thin. However, this sensor is not applicable because the sensor thickness is as thick as several microns. It was possible.

【0004】磁性体に歪みを与えるとそれに伴って内部
磁化の方向が変化する現象(逆磁歪効果)が知られてい
るが、本発明においては、この逆磁歪効果を利用して、
磁界センサの内部磁化の方向を制御することで、巻線不
要のバイアス印加を実現した。この方法は、従来にない
全く新しい方法である。
It is known that when a magnetic material is distorted, the direction of the internal magnetization changes in accordance with the distortion (inverse magnetostriction effect).
By controlling the direction of the internal magnetization of the magnetic field sensor, bias application without winding was realized. This method is a completely new method that has not been used before.

【0005】本発明は、上記状況に鑑みて、巻線による
磁界バイアスに代わる、簡単な構成でバイアスを印加す
ることができる磁界センサならびに歪みセンサに対する
バイアス印加方法及び磁界センサならびに歪みセンサを
提供することを目的とする。
In view of the above circumstances, the present invention provides a magnetic field sensor, a bias applying method for a strain sensor, and a magnetic field sensor and a strain sensor capable of applying a bias with a simple configuration instead of a magnetic field bias by a winding. The purpose is to.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、 〔1〕磁界センサならびに歪みセンサに対するバイアス
印加方法において、センサ素子に、逆磁歪効果を利用し
たバイアスを印加することにより、巻線による磁界バイ
アスに代えて、バイアスを印加することを特徴とする。
According to the present invention, there is provided a method for applying a bias to a magnetic field sensor and a strain sensor, wherein a bias utilizing an inverse magnetostriction effect is applied to the sensor element. Thus, a bias is applied instead of the magnetic field bias by the winding.

【0007】〔2〕磁界センサならびに歪みセンサにお
いて、センサ素子と、このセンサ素子の裏面に貼付した
1次歪みを生じる圧電素子と、この圧電素子に電圧を印
加する電源とを具備することを特徴とする。
[2] A magnetic field sensor and a strain sensor are characterized in that they include a sensor element, a piezoelectric element that causes primary distortion and is attached to the back surface of the sensor element, and a power supply that applies a voltage to the piezoelectric element. And

【0008】〔3〕上記〔2〕記載の磁界センサならび
に歪みセンサにおいて、前記1次歪みを生じる圧電素子
に溝を形成し、その溝に沿った1次歪みを生じるように
構成したことを特徴とする。
[3] In the magnetic field sensor and the strain sensor according to the above [2], a groove is formed in the piezoelectric element that generates the primary distortion, and a primary distortion is generated along the groove. And

【0009】〔4〕上記〔2〕記載の磁界センサならび
に歪みセンサにおいて、前記センサ素子が 検出した信
号をフィードバック回路を介して電圧に変換し圧電素子
に印加する回路を有することを特徴とする。
[4] The magnetic field sensor and strain sensor according to [2], further comprising a circuit for converting a signal detected by the sensor element into a voltage via a feedback circuit and applying the voltage to a piezoelectric element.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail.

【0011】図1は本発明の実施例を示す磁界センサの
模式図である。
FIG. 1 is a schematic diagram of a magnetic field sensor showing an embodiment of the present invention.

【0012】図1(a)において、1はガラス基板上に
作製した磁性薄膜からなる磁界センサ、2はガラス基
板、3はPZT圧電基板(以下、単に圧電基板とい
う)、4は電源、5は圧電基板3に設けられた溝であ
る。PZT圧電基板3は、図1(b)に示すように裏面
に溝加工され、溝長手方向に一軸歪みを発生する。
In FIG. 1A, 1 is a magnetic field sensor made of a magnetic thin film formed on a glass substrate, 2 is a glass substrate, 3 is a PZT piezoelectric substrate (hereinafter simply referred to as a piezoelectric substrate), 4 is a power supply, and 5 is a power supply. This is a groove provided on the piezoelectric substrate 3. The PZT piezoelectric substrate 3 is grooved on the back surface as shown in FIG. 1B, and generates uniaxial distortion in the groove longitudinal direction.

【0013】図2は本発明における磁界センサのシステ
ム構成図である。
FIG. 2 is a system configuration diagram of the magnetic field sensor according to the present invention.

【0014】この図において、H1 は微小磁界、6は磁
界センサ、7はPZT圧電基板、8は電源、9は検出回
路、So は出力である。
In this figure, H 1 is a minute magnetic field, 6 is a magnetic field sensor, 7 is a PZT piezoelectric substrate, 8 is a power supply, 9 is a detection circuit, and So is an output.

【0015】図1及び図2によれば、磁界センサ1,6
が機械的に圧電基板3,7に接着されているため、電圧
を圧電基板1,6に印加することにより、ガラス基板2
を介して磁界センサ1,6に歪みが印加され、これによ
り磁界センサ1,6を構成する磁性材料の内部の異方性
が変化し、センサ特性が変化する。これによりセンサが
もっとも高感度となる点に動作点を定めることが可能と
なる。
According to FIGS. 1 and 2, the magnetic field sensors 1, 6
Is mechanically adhered to the piezoelectric substrates 3 and 7, so that when a voltage is applied to the piezoelectric substrates 1 and 6,
Strain is applied to the magnetic field sensors 1 and 6 via the magnetic field sensors, thereby changing the anisotropy inside the magnetic material forming the magnetic field sensors 1 and 6 and changing the sensor characteristics. This makes it possible to determine the operating point at the point where the sensor has the highest sensitivity.

【0016】図3は本発明の実施例を示す磁界センサの
実験結果を示す図、図4は本発明の実施例を示す磁界セ
ンサの動作を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing an experimental result of the magnetic field sensor showing the embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a diagram showing an operation of the magnetic field sensor showing the embodiment of the present invention.

【0017】図3において、磁界に対する出力信号が示
されており、aは大きな出力信号、bは最適な直流磁
界、cは微小交流磁界であり、圧電材料に電界を加えて
いない場合(V=0)に、最大の磁界検出感度を示す点
で動作させるには、図4に示すように、直流磁界の印加
が必要であることが明らかであるが、圧電材料に電界を
加え、センサに歪みを加えるとそれに伴って動作点が変
化し、ある最適の歪みを与えることにより(V=
3 )、外部から直流磁界を印加することがなく、最大
の磁界検出感度が得られることが明らかである。
FIG. 3 shows an output signal with respect to a magnetic field, where a is a large output signal, b is an optimal DC magnetic field, c is a minute AC magnetic field, and no electric field is applied to the piezoelectric material (V = V). In order to operate at the point showing the maximum magnetic field detection sensitivity at 0), it is clear that application of a DC magnetic field is necessary, as shown in FIG. Is added, the operating point changes accordingly, and by giving some optimal distortion (V =
V 3 ), it is clear that the maximum magnetic field detection sensitivity can be obtained without applying an external DC magnetic field.

【0018】以上のように、磁気センサのバイアス方式
として歪みを利用する方法が適用できることを明確にし
た。加えて、この方法は直流磁界を利用したバイアス方
式に比べて数多くの利点を有する。例えば、圧電材料に
は電界を印加しているが、一般に圧電材料は絶縁物であ
るために高抵抗であり電流は流れず、バイアス印加のた
めに必要な電力は極めてわずかである。これは電流を通
電し続ける直流磁界バイアスに比べ極めて大きな利点で
ある。さらに、センサにとって感度と同程度に重要な直
線性を実現するために、出力をフィードバックする方法
が一般的に取られるが、磁界バイアスの場合には電流フ
ィードバックであるのに対し、歪みバイアスの場合には
電圧フィードバックであるため、回路が単純であり、作
製が容易であるばかりでなく、回路全体の小型化にも貢
献する。もちろんバイアス磁界発生用コイルのサイズに
比べて圧電材料は極めて小型で済むためにセンサ素子自
体の小型化を図ることができる。
As described above, it has been clarified that a method utilizing distortion can be applied as a bias method of a magnetic sensor. In addition, this method has a number of advantages over the bias method using a DC magnetic field. For example, although an electric field is applied to a piezoelectric material, generally, the piezoelectric material is an insulator and therefore has a high resistance and no current flows, and the power required for bias application is extremely small. This is an extremely great advantage as compared with a DC magnetic field bias in which a current is continuously supplied. Furthermore, in order to achieve linearity that is as important as sensitivity for the sensor, a method of feedback of the output is generally used. Since this is a voltage feedback, the circuit is simple and not only easy to manufacture, but also contributes to miniaturization of the entire circuit. Needless to say, the piezoelectric material is extremely small in size as compared with the size of the bias magnetic field generating coil, so that the size of the sensor element itself can be reduced.

【0019】本発明は歪みを利用してバイアスをかける
ことが可能であることを示すものであり、適用範囲は広
いと考えられる。
The present invention shows that it is possible to apply a bias using distortion, and it is considered that the applicable range is wide.

【0020】まず、センサにおいては磁性体としてワイ
ヤを用いるものと薄膜を用いるものが現在使われている
が、本発明はどちらにも適用可能である。
First, a sensor using a wire as a magnetic material and a sensor using a thin film are currently used, but the present invention is applicable to both.

【0021】また、歪みを与える手段として上記実験で
は圧電材料(PZT)を用いたが、これに限るものでは
なく、さらにその形状についてもバルク・薄膜を問わ
ず、センサに対して十分な歪みを与える能力があれば適
用可能である。
In the above experiment, a piezoelectric material (PZT) was used as a means for imparting distortion. However, the present invention is not limited to this. Further, the shape of the sensor is not limited to bulk or thin film, and sufficient distortion can be applied to the sensor. Applicable if given.

【0022】なお、磁気センサは極めて広い用途に用い
られており、磁気センサの開発に関する経済的波及効果
は極めて大きい。たとえば、脳磁図・心磁図計測等の医
療分野、ハイウェイ自動運転システムなどの運輸交通分
野、紙幣識別、CRT用地磁気補償、磁気記録等の工業
分野などにおいて広く用いられ、より高精度で小型のセ
ンサが熱望されている。本発明は、それらの期待に十分
応えられるものである。
The magnetic sensor is used for a very wide range of applications, and the economic ripple effect on the development of the magnetic sensor is extremely large. For example, it is widely used in the medical field such as magnetoencephalogram and magnetocardiogram measurement, the transportation field such as highway automatic driving system, and the industrial fields such as banknote recognition, geomagnetic compensation for CRT, and magnetic recording. Is eagerly awaited. The present invention satisfies those expectations.

【0023】次に、本発明の第2実施例について説明す
る。
Next, a second embodiment of the present invention will be described.

【0024】この実施例では、歪みセンサについて説明
する。
In this embodiment, a strain sensor will be described.

【0025】図5は本発明の第2実施例を示す歪みセン
サの模式図、図6はその歪みセンサの動作の説明図であ
る。
FIG. 5 is a schematic diagram of a strain sensor according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 6 is an explanatory diagram of the operation of the strain sensor.

【0026】これらの図において、10はベース、11
は歪みセンサ、12はカンチレバー、12Aはカンチレ
バー先端、13はPZT圧電基板、14は凸面部であ
る。
In these figures, 10 is a base, 11
Is a strain sensor, 12 is a cantilever, 12A is a cantilever tip, 13 is a PZT piezoelectric substrate, and 14 is a convex surface portion.

【0027】図6に示すように、カンチレバー12の先
端部12Aに凸面部14により外力が加わると、カンチ
レバー12が歪み、歪みセンサ11から出力信号が出力
される。この出力信号をフィードバック回路を介してP
ZT圧電基板13に電圧として印加すると、圧電基板1
3はそれにより自ら湾曲し、カンチレバー先端12Aの
接触圧力が零になるまで変形する。そのためPZT圧電
基板13に印加された電圧をモニターすることにより、
先端部12Aの接触圧力を検出することができる。
As shown in FIG. 6, when an external force is applied to the tip portion 12A of the cantilever 12 by the convex portion 14, the cantilever 12 is distorted, and an output signal is output from the distortion sensor 11. This output signal is output to P through a feedback circuit.
When a voltage is applied to the ZT piezoelectric substrate 13, the piezoelectric substrate 1
3 is thereby bent and deforms until the contact pressure of the cantilever tip 12A becomes zero. Therefore, by monitoring the voltage applied to the PZT piezoelectric substrate 13,
The contact pressure of the tip 12A can be detected.

【0028】加えて、上記機構を用いると、カンチレバ
ー12が接触する面に凹凸があっても、カンチレバー1
2の先端12Aの接触圧力を常に零に保つことにより、
あるいは、フィードバック回路にオフセットをかけるこ
とにより、カンチレバー先端12Aの接触圧力をある一
定の力に制御することが可能である。これを利用すれ
ば、AFM(原子間力顕微鏡)のプローブや磁気記録ヘ
ッドを保持するアームなどへの適用が可能である。すな
わち、カンチレバー状のアクチェータにおいて、先端が
接触する対象物に凹凸があっても、接触圧力を常に一定
に保ちたい場合に適用可能である。
In addition, if the above mechanism is used, even if the surface contacting the cantilever 12 has irregularities, the cantilever 1
By always keeping the contact pressure of the tip 12A of the second at zero,
Alternatively, by applying an offset to the feedback circuit, it is possible to control the contact pressure of the cantilever tip 12A to a certain constant force. If this is used, it can be applied to an AFM (atomic force microscope) probe, an arm holding a magnetic recording head, and the like. That is, in a cantilever-shaped actuator, the present invention can be applied to a case where it is desired to always maintain a constant contact pressure even if an object to be contacted at the tip has irregularities.

【0029】なお、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、本発明の趣旨に基づいて種々の変形が可能
であり、これらを本発明の範囲から排除するものではな
い。
It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications are possible based on the gist of the present invention, and these are not excluded from the scope of the present invention.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば、以下のような効果を奏することができる。
As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained.

【0031】MIセンサが直流バイアス磁界を必要とす
る理由は、ある方向に内部磁化の向きを固定している異
方性の大きさを制御するためである。よって、外部から
磁界を印加する方法に代えて、内部磁界を回転させるエ
ネルギー(異方性エネルギー)を別の方法で与えてもよ
いことになる。本発明は、この考え方に基づいて行われ
たもので、逆磁歪効果によるエネルギーを用いている。
The reason why the MI sensor requires a DC bias magnetic field is to control the magnitude of anisotropy that fixes the direction of internal magnetization in a certain direction. Therefore, instead of the method of applying a magnetic field from the outside, energy for rotating the internal magnetic field (anisotropic energy) may be given by another method. The present invention is based on this concept, and uses energy due to the inverse magnetostriction effect.

【0032】逆磁歪効果を発生させるために、例えば、
センサ裏面に貼付した圧電素子に電圧を印加しセンサに
歪みを与え、これにより巻線に電流を流すことによるバ
イアス磁界印加と同様の効果を得ることができた。その
場合、歪みは一軸歪みであることが必要であるため、圧
電素子に溝を形成し、その溝にのみ沿った一軸歪みを発
生させるようにした。
In order to generate the inverse magnetostriction effect, for example,
A voltage was applied to the piezoelectric element attached to the back surface of the sensor to apply a distortion to the sensor, thereby obtaining the same effect as applying a bias magnetic field by flowing a current through the winding. In this case, since the strain needs to be uniaxial strain, a groove is formed in the piezoelectric element, and uniaxial strain is generated only along the groove.

【0033】本発明により、センサ単体の感度を維持し
たまま電圧でバイアスを印加できることになり、フィー
ドバック回路が単純になるとともに、消費電力を低下さ
せ、さらにセンサ素子全体寸法を小さくすることができ
る。
According to the present invention, a bias can be applied with a voltage while maintaining the sensitivity of the sensor alone, so that the feedback circuit is simplified, the power consumption is reduced, and the overall size of the sensor element can be reduced.

【0034】また、本発明の歪みセンサは、カンチレバ
ー状のアクチェータにおいて、先端が接触する対象物に
凹凸があっても、接触圧力を常に一定に保ちたい場合に
好適である。
Further, the strain sensor of the present invention is suitable for a cantilever-shaped actuator in which it is desired to always maintain a constant contact pressure even if an object whose tip comes into contact has irregularities.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例を示す磁界センサの模式図であ
る。
FIG. 1 is a schematic diagram of a magnetic field sensor showing an embodiment of the present invention.

【図2】本発明における磁界センサのシステム構成図で
ある。
FIG. 2 is a system configuration diagram of a magnetic field sensor according to the present invention.

【図3】本発明の実施例を示す磁界センサの実験結果を
示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing experimental results of a magnetic field sensor showing an example of the present invention.

【図4】本発明の実施例を示す磁界センサの動作を示す
図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating an operation of the magnetic field sensor according to the embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第2実施例を示す歪みセンサの模式図
である。
FIG. 5 is a schematic view of a strain sensor according to a second embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第2実施例を示す歪みセンサの動作の
説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram of an operation of a strain sensor according to a second embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,6 ガラス基板上に作製した磁性薄膜からなる磁
界センサ 2 ガラス基板 3,7,13 PZT圧電基板 4,8 電源 5 溝 9 検出回路 10 ベース 11 歪みセンサ 12 カンチレバー 12A カンチレバー先端 14 凸面部
1,6 Magnetic field sensor made of a magnetic thin film formed on a glass substrate 2 Glass substrate 3,7,13 PZT piezoelectric substrate 4,8 Power supply 5 Groove 9 Detection circuit 10 Base 11 Strain sensor 12 Cantilever 12A Cantilever tip 14 Convex part

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 磁界センサならびに歪みセンサのバイア
ス印加方法において、センサ素子に、逆磁歪効果を利用
したバイアスを印加することにより、巻線による磁界バ
イアスに代えて、バイアスを印加することを特徴とする
磁界センサならびに歪みセンサのバイアス印加方法。
1. A method of applying a bias to a magnetic field sensor and a strain sensor, wherein a bias is applied to the sensor element instead of a magnetic field bias by a winding by applying a bias utilizing an inverse magnetostriction effect to the sensor element. Method for applying a bias to a magnetic field sensor and a strain sensor.
【請求項2】(a)センサ素子と、(b)該センサ素子
の裏面に貼付した1次歪みを生じる圧電素子と、(c)
該圧電素子に電圧を印加する電源とを具備することを特
徴とする磁界センサならびに歪みセンサ。
(A) a sensor element; (b) a piezoelectric element which causes primary distortion and is attached to the back surface of the sensor element;
A magnetic field sensor and a strain sensor, comprising: a power supply for applying a voltage to the piezoelectric element.
【請求項3】 請求項2記載の磁界ならびに歪みセンサ
において、前記1次歪みを生じる圧電素子に溝を形成
し、該溝に沿った1次歪みを生じるように構成したこと
を特徴とする磁界センサならびに歪みセンサ。
3. The magnetic field and strain sensor according to claim 2, wherein a groove is formed in the piezoelectric element that generates the primary distortion, and a primary distortion is generated along the groove. Sensors and strain sensors.
【請求項4】 請求項2記載の磁界センサならびに歪み
センサにおいて、前記センサ素子が 検出した信号をフ
ィードバック回路を介して電圧に変換し圧電素子に印加
する回路を有することを特徴とする磁界センサならびに
歪みセンサ。
4. The magnetic field sensor and strain sensor according to claim 2, further comprising a circuit for converting a signal detected by the sensor element into a voltage via a feedback circuit and applying the voltage to a piezoelectric element. Strain sensor.
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