JP2002184313A - Manufacturing method of image display device and sealant filling device - Google Patents

Manufacturing method of image display device and sealant filling device

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JP2002184313A
JP2002184313A JP2000377816A JP2000377816A JP2002184313A JP 2002184313 A JP2002184313 A JP 2002184313A JP 2000377816 A JP2000377816 A JP 2000377816A JP 2000377816 A JP2000377816 A JP 2000377816A JP 2002184313 A JP2002184313 A JP 2002184313A
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JP
Japan
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sealing material
filling
substrate
metal sealing
metal
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Application number
JP2000377816A
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Japanese (ja)
Inventor
Akiyoshi Yamada
晃義 山田
Koji Nishimura
孝司 西村
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method of an image display device that can steadily and easily perform sealing in vacuum atmosphere, and a sealant filling device. SOLUTION: The vacuum outer case of the image display device has a back substrate and a front substrate 11 which are arranged opposed to each other and of which periphery parts are sealed via the side wall. When the front substrate and side wall are sealed together, a primary coat 31 and on top of it an indium layer 32 are formed on these sealing faces. The indium layer is continuously formed by filling the molten indium on the primary coat, while applying ultrasonic waves on it. By heating and melting indium in the vacuum atmosphere, the front substrate and back substrate are mutually sealed via the side wall.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、対向配置された
基板と、これら基板間に設けられた複数の画素表示素子
と、を有した画像表示装置の製造方法、および封着材充
填装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing an image display device having substrates opposed to each other and a plurality of pixel display elements provided between the substrates, and a sealing material filling device.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、次世代の軽量、薄型の平面型表示
装置として、電子放出素子(以下、エミッタと称する)
を多数並べ、蛍光面と対向配置させた表示装置の開発が
進められている。エミッタとしては、電界放出型あるい
は表面伝導型の素子が想定される。通常、エミッタとし
て電界放出型電子放出素子を用いた表示装置は、フィー
ルドエミッションディスプレイ(以下、FEDと称す
る)、また、エミッタとして表面伝導型電子放出素子を
用いた表示装置は、表面伝導型電子放出ディスプレイ
(以下、SEDと称する)と呼ばれている。
2. Description of the Related Art In recent years, electron-emitting devices (hereinafter referred to as emitters) have been developed as next-generation light-weight and thin flat-panel display devices.
Are being developed, and a display device in which the display device is arranged to face the phosphor screen is being developed. As the emitter, a field emission type or surface conduction type element is assumed. Generally, a display device using a field emission type electron-emitting device as an emitter is a field emission display (hereinafter, referred to as an FED), and a display device using a surface conduction type electron-emitting device as an emitter is a surface emission type. This is called a display (hereinafter, referred to as SED).

【0003】例えば、FEDは、一般に、所定の隙間を
置いて対向配置された前面基板および背面基板を有し、
これらの基板は、矩形枠状の側壁を介して周縁部同士を
互いに接合することにより真空外囲器を構成している。
前面基板の内面には蛍光体スクリーンが形成され、背面
基板の内面には、蛍光体を励起して発光させる電子放出
源として多数のエミッタが設けられている。また、背面
基板および前面基板に加わる大気圧荷重を支えるため
に、これら基板の間には複数の支持部材が配設されてい
る。
For example, an FED generally has a front substrate and a rear substrate opposed to each other with a predetermined gap therebetween.
These substrates constitute a vacuum envelope by joining their peripheral parts to each other via a rectangular frame-shaped side wall.
A phosphor screen is formed on the inner surface of the front substrate, and a number of emitters are provided on the inner surface of the rear substrate as electron emission sources for exciting the phosphor to emit light. In addition, a plurality of support members are disposed between the rear substrate and the front substrate to support the atmospheric load applied thereto.

【0004】背面基板側の電位はほぼ0Vであり、蛍光
面にはアノード電圧Vaが印加される。そして、蛍光体
スクリーンを構成する赤、緑、青の蛍光体にエミッタか
ら放出された電子ビームを照射し、蛍光体を発光させる
ことによって画像を表示する。
The potential on the rear substrate side is almost 0 V, and an anode voltage Va is applied to the phosphor screen. An image is displayed by irradiating the red, green, and blue phosphors constituting the phosphor screen with an electron beam emitted from the emitter to cause the phosphors to emit light.

【0005】このようなFEDでは、前面基板と背面基
板との隙間を数mm以下に設定することができ、現在の
テレビやコンピュータのディスプレイとして使用されて
いる陰極線管(CRT)と比較して、軽量化、薄型化を
達成することができる。
In such an FED, the gap between the front substrate and the rear substrate can be set to several mm or less, and compared with a cathode ray tube (CRT) currently used as a display of a television or a computer. Lightening and thinning can be achieved.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上述した平面表示装置
では、真空外囲器内部の真空度を例えば10−5〜10
−6Paに保つ必要がある。従来の排気工程では、真空
外囲器を300℃程度まで加熱するベーキング処理によ
り、外囲器内部の表面吸着ガスを放出させるとともに、
排気管を通して外囲器内を排気するようにしていたが、
このような排気方法では表面吸着ガスを十分に放出させ
ることはできない。
SUMMARY OF THE INVENTION The above-mentioned flat panel display device
Then, the degree of vacuum inside the vacuum envelope is set to, for example, 10-5-10
-6It is necessary to keep Pa. In the conventional evacuation process, vacuum
Baking process to heat the envelope to about 300 ° C
Release the surface adsorbed gas inside the envelope,
Although the inside of the envelope was exhausted through the exhaust pipe,
In such an exhaust method, the surface adsorbed gas is sufficiently released.
I can't do that.

【0007】そのため、例えば特開平9−82245号
公報には、前面基板の蛍光体スクリーン上に形成された
メタルバック上を、Ti,Zrもしくはそれらの合金か
らなるゲッタ材で被覆する構成、メタルバック自身を上
記のようなゲッタ材で形成する構成、あるいは、画像表
示領域内で、電子放出素子以外の部分に、上記のような
ゲッタ材を配置した構成の平板表示装置が記載されてい
る。
For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 9-82245 discloses a configuration in which a metal back formed on a phosphor screen of a front substrate is covered with a getter material made of Ti, Zr, or an alloy thereof. A flat panel display device having a configuration in which the device itself is formed with the above-described getter material, or a configuration in which the getter material as described above is arranged in a portion other than the electron-emitting device in the image display area is described.

【0008】しかしながら、特開平9−82245号公
報に開示された画像表示装置では、ゲッタ材を通常のパ
ネル工程で形成しているため、ゲッタ材の表面は当然酸
化することになる。ゲッタ材は、特に表面の活性度合い
が重要であるため、表面酸化したゲッタ材では満足なガ
ス吸着効果を得ることができない。
However, in the image display device disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-82245, since the getter material is formed by a normal panel process, the surface of the getter material is naturally oxidized. Since the getter material is particularly important in the degree of surface activity, a getter material whose surface has been oxidized cannot obtain a satisfactory gas adsorption effect.

【0009】真空外囲器内部の真空度を上げる方法とし
ては、背面基板、側壁、前面基板を真空装置内に投入
し、真空雰囲気中でこれらのべ一キング、電子線照射を
行って表面吸着ガスを放出させた後、ゲッタ膜を形成
し、そのまま真空雰囲気中でフリットガラスなどを用い
て側壁と背面基板および前面基板とを封着する方法が考
えられる。この方法によれば、電子線洗浄によって表面
吸着ガスを十分に放出させることができ、ゲッタ膜も酸
化されず十分なガス吸着効果を得ることができる。ま
た、排気管が不要であるため、画像表示装置のスペース
が無駄に消費されることがなくなる。
As a method of increasing the degree of vacuum inside the vacuum envelope, the back substrate, the side walls, and the front substrate are put into a vacuum apparatus, and they are subjected to baking and electron beam irradiation in a vacuum atmosphere to adsorb the surface. After the gas is released, a method of forming a getter film and sealing the side wall to the rear substrate and the front substrate using frit glass or the like in a vacuum atmosphere is considered. According to this method, the surface adsorption gas can be sufficiently released by the electron beam cleaning, and the getter film is not oxidized, and a sufficient gas adsorption effect can be obtained. Further, since no exhaust pipe is required, the space of the image display device is not wasted.

【0010】しかしながら、真空中でフリットガラスを
使用して封着を行う場合、フリットガラスを400℃以
上の高温に加熱する必要があり、その際、フリットガラ
スから多数の気泡が発生し、真空外囲器の気密性、封着
強度などが悪化し、信頼性が低下するという問題があ
る。また、電子放出素子の特性上、400℃以上の高温
にすることは避けた方がよい場合があり、そのような場
合には、フリットガラスを用いて封着する方法は好まし
くない。
However, when sealing is performed using frit glass in a vacuum, it is necessary to heat the frit glass to a high temperature of 400 ° C. or more. At that time, a number of bubbles are generated from the frit glass, and There is a problem that the hermeticity and sealing strength of the enclosure are deteriorated, and the reliability is reduced. In addition, due to the characteristics of the electron-emitting device, it may be better to avoid raising the temperature to 400 ° C. or higher. In such a case, a method of sealing with frit glass is not preferable.

【0011】この発明は以上の点に鑑みなされたもの
で、その目的は、真空雰囲気中で容易にかつ確実に封着
を行うことが可能な画像表示装置の製造方法、および封
着材充填装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above points, and has as its object to provide a method of manufacturing an image display device capable of easily and reliably performing sealing in a vacuum atmosphere, and a sealing material filling device. Is to provide.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明に係る画像表示装置の製造方法は、背面基
板、およびこの背面基板に対向配置された前面基板を有
した外囲器と、上記外囲器の内側に設けられた複数の画
素表示素子と、を備えた画像表示装置の製造方法におい
て、上記背面基板と上記前面基板との間の封着面に、超
音波を印加しながら溶融した金属封着材を充填する工程
と、上記金属封着材の充填後、真空雰囲気中で上記金属
封着材を加熱して溶融させ、上記背面基板と上記前面基
板とを上記封着面で直接あるいは間接的に封着する工程
と、を備えたことを特徴としている。
In order to achieve the above object, a method for manufacturing an image display device according to the present invention comprises: an envelope having a rear substrate, and a front substrate opposed to the rear substrate; A plurality of pixel display elements provided inside the envelope, and in a method of manufacturing an image display device including: a sealing surface between the rear substrate and the front substrate, while applying ultrasonic waves A step of filling the molten metal sealing material, and after filling the metal sealing material, heat and melt the metal sealing material in a vacuum atmosphere, and connect the back substrate and the front substrate to the sealing surface. And a step of directly or indirectly sealing.

【0013】また、この発明に係る他の画像表示装置の
製造方法は、背面基板と、この背面基板に対向配置され
た前面基板と、上記前面基板の周縁部と上記背面基板の
周縁部との間に配設され上記前面基板および背面基板に
封着された側壁とを有する外囲器と、上記外囲器の内側
に設けられた複数の画素表示素子と、を備え、上記前面
基板と側壁との間の封着面、および上記背面基板と側壁
との間の封着面の少なくとも一方が金属封着材層により
封着されている画像表示装置の製造方法において、上記
少なくとも一方の封着面に、超音波を印加しながら溶融
した金属封着材を充填する工程と、上記金属封着材の充
填後、真空雰囲気中で上記金属封着材を加熱して溶融さ
せ、上記背面基板、前面基板、および側壁を上記封着面
で封着する工程と、を備えたことを特徴としている。
According to another aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing an image display device, comprising: a back substrate, a front substrate opposed to the back substrate, a peripheral portion of the front substrate, and a peripheral portion of the rear substrate. An envelope having a side wall disposed between the front substrate and the rear substrate, and a plurality of pixel display elements provided inside the envelope, wherein the front substrate and the side wall are provided. Wherein at least one of the sealing surface between the back substrate and the side wall is sealed with a metal sealing material layer. On the surface, a step of filling the molten metal sealing material while applying ultrasonic waves, and after filling the metal sealing material, heat and melt the metal sealing material in a vacuum atmosphere, the back substrate, A step of sealing the front substrate and the side walls with the sealing surface; It is characterized by comprising a.

【0014】更に、この発明に係る画像表示装置の製造
方法によれば、上記金属封着材を充填する工程は、超音
波を印加しながら溶融した金属封着材を上記封着面に沿
って連続的に充填し、上記封着面に沿って延びた金属封
着材層を形成する工程を含んでいることを特徴としてい
る。
Further, according to the method of manufacturing an image display device according to the present invention, the step of filling the metal sealing material includes applying the molten metal sealing material along the sealing surface while applying ultrasonic waves. The method is characterized by including a step of continuously filling and forming a metal sealing material layer extending along the sealing surface.

【0015】また、この発明に係る画像表示装置の製造
方法によれば、上記金属封着材と異種の下地層を上記封
着面上に形成する工程を備え、上記下地層を形成した
後、この下地層上に上記金属封着材を充填することを特
徴としている。
Further, according to the method of manufacturing an image display device of the present invention, the method further comprises the step of forming an underlayer different from the metal sealing material on the sealing surface. It is characterized in that the above-mentioned metal sealing material is filled on this underlayer.

【0016】上記本発明に係る画像表示装置製造方法に
おいて、上記金属封着材料として、350℃以下の融点
を有した低融点金属材料を用い、例えば、インジウムま
たはインジウムを含む合金を用いている。また、上記下
地層は、金属封着材料に対して濡れ性および気密性の良
い材料、すなわち、親和性の高い材料であることが望ま
しく、銀、金、アルミニウム、ニッケル、コバルト、銅
の少なくとも1つを含む金属ペースト、銀、金、アルミ
ニウム、ニッケル、コバルト、銅の少なくとも1つを含
む金属メッキ層あるいは蒸着膜、又はガラス材料等を用
いている。
In the method for manufacturing an image display device according to the present invention, a low-melting metal material having a melting point of 350 ° C. or less is used as the metal sealing material, for example, indium or an alloy containing indium. The underlayer is preferably a material having good wettability and airtightness with respect to the metal sealing material, that is, a material having high affinity, and at least one of silver, gold, aluminum, nickel, cobalt, and copper is preferable. A metal paste containing at least one of silver, gold, aluminum, nickel, cobalt, and copper, a metal plating layer or a deposition film, or a glass material is used.

【0017】上記のように構成された画像表示装置の製
造方法によれば、金属封着材層を用いて前面基板と背面
基板と直接あるいは間接的に封着することにより、背面
基板に設けられてた電子放出素子などに熱的な損傷を与
えることのない低い温度で、封着を行なうことができ
る。また、フリットガラスを用いた場合のように多数の
気泡が発生することがなく、真空外囲器の気密性、封着
強度を向上することができる。更に、封着面に対して金
属封着材を充填する際、超音波を印加しながら金属封着
材を充填することにより、封着面に対する金属封着材の
濡れ性が向上し、金属封着材としてインジウム等を用い
た場合でも金属封着材を所望の位置に良好に充填するこ
とが可能となる。従って、真空雰囲気中で容易にかつ確
実に封着を行うことが可能な画像表示装置の製造方法を
得ることができる。
According to the method of manufacturing the image display device having the above-described structure, the front substrate and the rear substrate are directly or indirectly sealed using the metal sealing material layer, thereby being provided on the rear substrate. The sealing can be performed at a low temperature that does not thermally damage the electron-emitting device or the like. Further, unlike the case where frit glass is used, many air bubbles are not generated, and the airtightness and sealing strength of the vacuum envelope can be improved. Furthermore, when filling the metal sealing material with respect to the sealing surface, the metal sealing material is filled while applying ultrasonic waves, whereby the wettability of the metal sealing material with respect to the sealing surface is improved, Even when indium or the like is used as the adhesive, it is possible to satisfactorily fill the desired position with the metal sealing material. Therefore, it is possible to obtain a method of manufacturing an image display device that can easily and reliably perform sealing in a vacuum atmosphere.

【0018】また、溶融した金属封着材を封着面に沿っ
て連続的に充填する際、超音波を印加しながら溶融した
金属封着材を充填することにより、上記封着面に沿って
切れ目なく延びた金属封着材層を形成することが可能と
なる。
In addition, when the molten metal sealing material is continuously filled along the sealing surface, the molten metal sealing material is filled while applying ultrasonic waves, so that the molten metal sealing material is filled along the sealing surface. It is possible to form a metal sealing material layer that extends continuously.

【0019】上記金属封着材と異種の下地層を封着面上
に形成した後、この下地層上に上記金属封着材を充填す
ることにより、封着時、充填された金属封着材を加熱し
て溶融させた場合でも、下地層により金属封着材料の流
動を防止し所定位置に保持することができる。従って、
取り扱いが容易であり、真空雰囲気中で容易にかつ確実
に封着を行うことができる。特に、超音波を印加しなが
ら金属封着材を充填することにより、充填した時点で、
金属封着材の一部が下地層内に拡散して合金層を形成す
るため、封着時、金属封着材の流動を一層確実に防止し
所定位置に保持することができる。
After forming an underlayer different from the above-mentioned metal sealing material on the sealing surface, the above-mentioned metal sealing material is filled on this underlayer, so that the filled metal sealing material is used at the time of sealing. Is heated and melted, the underlying layer prevents the metal sealing material from flowing and can be held at a predetermined position. Therefore,
Handling is easy, and sealing can be easily and reliably performed in a vacuum atmosphere. In particular, by filling the metal sealing material while applying ultrasonic waves, at the time of filling,
Since a part of the metal sealing material is diffused into the underlayer to form an alloy layer, the flow of the metal sealing material can be more reliably prevented and held at a predetermined position during sealing.

【0020】なお、上記金属封着材を充填する工程にお
いて、上記超音波の発振出力、あるいは、上記金属封着
材の吐出孔径のいずれか一方によって、金属封着材の吐
出量を制御することができる。
In the step of filling the metal sealing material, the discharge amount of the metal sealing material is controlled by one of the ultrasonic oscillation output and the discharge hole diameter of the metal sealing material. Can be.

【0021】一方、この発明に係る封着材充填装置は、
画像表示装置の製造において封着面に金属封着材を充填
する封着材充填装置であって、上記封着面を有した被封
着物を位置決め支持する支持台と、上記溶融した金属封
着材を貯溜する貯溜部、この貯溜部から送られた溶融金
属封着材を上記封着面に充填するノズル、および上記ノ
ズルから上記封着面に充填される溶融金属封着材に超音
波を印加する超音波発生部を有した充填ヘッドと、上記
充填ヘッドを上記封着面に対して相対的に移動させるヘ
ッド移動機構と、を備えたことを特徴としている。
On the other hand, the sealing material filling apparatus according to the present invention
What is claimed is: 1. A sealing material filling apparatus for filling a sealing surface with a metal sealing material in the manufacture of an image display device, comprising: a support for positioning and supporting an object to be sealed having the sealing surface; A storage portion for storing the material, a nozzle for filling the sealing surface with the molten metal sealing material sent from the storage portion, and ultrasonic waves to the molten metal sealing material filled from the nozzle to the sealing surface. It is characterized by comprising a filling head having an ultrasonic generator for applying the electric power, and a head moving mechanism for moving the filling head relatively to the sealing surface.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら、この
発明の実施の形態について詳細に説明する。まず、本実
施の形態に係る製造方法によって製造される画像表示装
置の一例として、FEDについて説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. First, an FED will be described as an example of an image display device manufactured by the manufacturing method according to the present embodiment.

【0023】図1および図2に示すように、このFED
は、絶縁基板としてそれぞれ矩形状のガラスからなる前
面基板11、および背面基板12を備え、これらの基板
は約1.5〜3.0mmの隙間を置いて対向配置されて
いる。そして、前面基板11および背面基板12は、ガ
ラスからなる矩形枠状の側壁18を介して周縁部同士が
封着され、内部が真空状態に維持された偏平な矩形状の
真空外囲器10を構成している。
As shown in FIGS. 1 and 2, this FED
Has a front substrate 11 and a rear substrate 12 each made of rectangular glass as an insulating substrate, and these substrates are opposed to each other with a gap of about 1.5 to 3.0 mm. The front substrate 11 and the rear substrate 12 have a flat rectangular vacuum envelope 10 whose peripheral edges are sealed via a rectangular frame-shaped side wall 18 made of glass and whose inside is maintained in a vacuum state. Make up.

【0024】真空外囲器10の内部には、背面基板12
および前面基板11に加わる大気圧荷重を支えるため、
複数の支持部材14が設けられている。これらの支持部
材14は、真空外囲器10の長辺と平行な方向に延出し
ているとともに、短辺と平行な方向に沿って所定の間隔
を置いて配置されている。なお、支持部材14の形状に
ついては特にこれに限定されるものではなく、柱状の支
持部材を用いてもよい。
Inside the vacuum envelope 10, a back substrate 12
And to support the atmospheric pressure load applied to the front substrate 11,
A plurality of support members 14 are provided. These support members 14 extend in a direction parallel to the long sides of the vacuum envelope 10 and are arranged at predetermined intervals along a direction parallel to the short sides. The shape of the support member 14 is not particularly limited to this, and a columnar support member may be used.

【0025】図3に示すように、前面基板11の内面に
は蛍光体スクリーン16が形成されている。この蛍光体
スクリーン16は、赤、緑、青の3色に発光する蛍光体
層R、G、Bとマトリックス状の黒色光吸収部20とで
形成されている。上述の支持部材14は、黒色光吸収部
の影に隠れるように置かれる。また、蛍光体スクリーン
16上には、メタルバックとして図示しないアルミニウ
ム層が蒸着されている。
As shown in FIG. 3, a phosphor screen 16 is formed on the inner surface of the front substrate 11. The phosphor screen 16 is formed of phosphor layers R, G, and B emitting three colors of red, green, and blue, and a matrix-shaped black light absorbing portion 20. The above-described support member 14 is placed so as to be hidden by the shadow of the black light absorbing portion. On the phosphor screen 16, an aluminum layer (not shown) is deposited as a metal back.

【0026】図2に示すように、背面基板12の内面上
には、蛍光体層R、G、Bを励起する電子放出源とし
て、それぞれ電子ビームを放出する多数の電界放出型の
電子放出素子22が設けられている。これらの電子放出
素子22は、各画素毎に対応して複数列および複数行に
配列され、画素表示素子として機能する。
As shown in FIG. 2, on the inner surface of the rear substrate 12, a large number of field emission type electron-emitting devices each emitting an electron beam are provided as electron emission sources for exciting the phosphor layers R, G, and B. 22 are provided. These electron-emitting devices 22 are arranged in a plurality of columns and a plurality of rows corresponding to each pixel, and function as a pixel display device.

【0027】詳細に述べると、背面基板12の内面上に
は、導電性カソード層24が形成され、この導電性カソ
ード層上には多数のキャビティ25を有した二酸化シリ
コン膜26が形成されている。二酸化シリコン膜26上
には、モリブデン、ニオブ等からなるゲート電極28が
形成されている。そして、背面基板12の内面上におい
て各キャビティ25内に、モリブデン等からなるコーン
状の電子放出素子22が設けられている。その他、背面
基板12上には、電子放出素子22に接続された図示し
ないマトリックス状の配線等が形成されている。
More specifically, a conductive cathode layer 24 is formed on the inner surface of the back substrate 12, and a silicon dioxide film 26 having a number of cavities 25 is formed on the conductive cathode layer. . On the silicon dioxide film 26, a gate electrode 28 made of molybdenum, niobium or the like is formed. A cone-shaped electron-emitting device 22 made of molybdenum or the like is provided in each cavity 25 on the inner surface of the back substrate 12. In addition, on the back substrate 12, a matrix-like wiring (not shown) connected to the electron-emitting device 22 is formed.

【0028】上記のように構成されたFEDにおいて、
映像信号は、単純マトリックス方式に形成された電子放
出素子22とゲート電極28に入力される。電子放出素
子22を基準とした場合、最も輝度の高い状態の時、+
100Vのゲート電圧が印加される。また、蛍光体スク
リーン16には+10kVが印加される。そして、電子
放出素子22から放出される電子ビームの大きさは、ゲ
ート電極28の電圧によって変調され、この電子ビーム
が蛍光体スクリーン16の蛍光体層を励起して発光させ
ることにより画像を表示する。
In the FED configured as described above,
The video signal is input to the electron-emitting device 22 and the gate electrode 28 formed in a simple matrix system. On the basis of the electron-emitting device 22, when the brightness is the highest, +
A gate voltage of 100 V is applied. Further, +10 kV is applied to the phosphor screen 16. The size of the electron beam emitted from the electron-emitting device 22 is modulated by the voltage of the gate electrode 28, and the electron beam excites the phosphor layer of the phosphor screen 16 to emit light, thereby displaying an image. .

【0029】このように蛍光体スクリーン16には高電
圧が印加されるため、前面基板11、背面基板12、側
壁18、および支持部材14用の板ガラスには、高歪点
ガラスが使用されている。また、後述するように、背面
基板12と側壁18との間は、フリットガラス等の低融
点ガラス30によって封着され、前面基板11と側壁1
8との間は、封着面上に形成された下地層31とこの下
地層上に形成されたインジウム層32とが融合した封着
層33によって封着されている。
As described above, since a high voltage is applied to the phosphor screen 16, a high strain point glass is used for the front substrate 11, the rear substrate 12, the side wall 18, and the plate glass for the support member 14. . Further, as described later, the space between the rear substrate 12 and the side wall 18 is sealed by a low melting point glass 30 such as frit glass, and the front substrate 11 and the side wall 1 are sealed.
8 is sealed by a sealing layer 33 in which an underlayer 31 formed on the sealing surface and an indium layer 32 formed on the underlayer are fused.

【0030】次に、上記のように構成されたFEDの製
造方法について詳細に説明する。まず、前面基板11と
なる板ガラスに蛍光体スクリーン16を形成する。これ
は、前面基板11と同じ大きさの板ガラスを準備し、こ
の板ガラスにプロッターマシンで蛍光体層のストライプ
パターンを形成する。この蛍光体ストライプパターンを
形成された板ガラスと前面基板用の板ガラスとを位置決
め治具に載せて露光台にセットすることにより、露光、
現像して蛍光体スクリーン16を生成する。
Next, a method of manufacturing the FED configured as described above will be described in detail. First, the phosphor screen 16 is formed on a plate glass to be the front substrate 11. For this, a glass sheet having the same size as the front substrate 11 is prepared, and a stripe pattern of the phosphor layer is formed on the glass sheet by a plotter machine. Exposure is achieved by placing the plate glass on which the phosphor stripe pattern is formed and the plate glass for the front substrate on a positioning jig and setting it on an exposure table.
Develop to produce phosphor screen 16.

【0031】続いて、背面基板用の板ガラスに電子放出
素子22を形成する。この場合、板ガラス上にマトリッ
クス状の導電性カソード層を形成し、この導電性カソー
ド層上に、例えば熱酸化法、CVD法、あるいはスパッ
タリング法により二酸化シリコン膜の絶縁膜を形成す
る。
Subsequently, the electron-emitting devices 22 are formed on the glass plate for the rear substrate. In this case, a matrix-shaped conductive cathode layer is formed on a sheet glass, and an insulating film of a silicon dioxide film is formed on the conductive cathode layer by, for example, a thermal oxidation method, a CVD method, or a sputtering method.

【0032】その後、この絶縁膜上に、例えばスパッタ
リング法や電子ビーム蒸着法によりモリブデンやニオブ
などのゲート電極形成用の金属膜を形成する。次に、こ
の金属膜上に、形成すべきゲート電極に対応した形状の
レジストパターンをリソグラフィーにより形成する。こ
のレジストパターンをマスクとして金属膜をウェットエ
ッチング法またはドライエッチング法によりエッチング
し、ゲート電極28を形成する。
Thereafter, a metal film for forming a gate electrode such as molybdenum or niobium is formed on the insulating film by, for example, a sputtering method or an electron beam evaporation method. Next, a resist pattern having a shape corresponding to the gate electrode to be formed is formed on the metal film by lithography. Using the resist pattern as a mask, the metal film is etched by a wet etching method or a dry etching method to form a gate electrode 28.

【0033】次に、レジストパターン及びゲート電極を
マスクとして絶縁膜をウェットエッチングまたはドライ
エッチング法によりエッチングして、キャビティ25を
形成する。そして、レジストパターンを除去した後、背
面基板表面に対して所定角度傾斜した方向から電子ビー
ム蒸着を行うことにより、ゲート電極28上に、例えば
アルミニウムやニッケルからなる剥離層を形成する。こ
の後、背面基板表面に対して垂直な方向から、カソード
形成用の材料として、例えばモリブデンを電子ビーム蒸
着法により蒸着する。これによって、各キャビティ25
の内部に電子放出素子22を形成する。続いて、剥離層
をその上に形成された金属膜とともにリフトオフ法によ
り除去する。
Next, the insulating film is etched by wet etching or dry etching using the resist pattern and the gate electrode as a mask to form a cavity 25. Then, after removing the resist pattern, a release layer made of, for example, aluminum or nickel is formed on the gate electrode 28 by performing electron beam evaporation from a direction inclined at a predetermined angle with respect to the rear substrate surface. Thereafter, for example, molybdenum as a material for forming a cathode is deposited by an electron beam evaporation method from a direction perpendicular to the surface of the rear substrate. Thereby, each cavity 25
Is formed inside the device. Subsequently, the release layer is removed by a lift-off method together with the metal film formed thereon.

【0034】続いて、電子放出素子22の形成された背
面基板12の周縁部と矩形枠状の側壁18との間を、大
気中で低融点ガラス30により互いに封着する。同時
に、大気中で、背面基板12上に複数の支持部材14を
低融点ガラス30により封着する。
Subsequently, the space between the peripheral portion of the rear substrate 12 on which the electron-emitting devices 22 are formed and the rectangular frame-shaped side wall 18 are sealed to each other with low-melting glass 30 in the atmosphere. At the same time, the plurality of support members 14 are sealed on the rear substrate 12 with the low-melting glass 30 in the atmosphere.

【0035】その後、背面基板12と前面基板11とを
側壁18を介して互いに封着する。この場合、図4に示
すように、まず、封着面となる側壁18の上面、および
前面基板11の内面周縁部上に、それぞれ下地層31を
全周に亘って所定幅に形成する。本実施の形態におい
て、下地層31は銀ペーストを塗布して形成する。
Thereafter, the rear substrate 12 and the front substrate 11 are sealed to each other via the side wall 18. In this case, as shown in FIG. 4, first, a base layer 31 is formed to have a predetermined width over the entire circumference on the upper surface of the side wall 18 serving as the sealing surface and on the inner peripheral edge of the front substrate 11. In the present embodiment, the base layer 31 is formed by applying a silver paste.

【0036】続いて、各下地層31の上に、金属封着材
料としてのインジウムを塗布し、それぞれ下地層の全周
に亘り連続して延びたインジウム層32を形成する。こ
のインジウム層32の幅は、下地層31の幅よりも狭く
形成し、インジウム層の両側縁が下地層31の両側縁か
らそれぞれ所定の隙間を置いた状態に塗布する。例え
ば、側壁18の幅を9mmとした場合、下地層31の幅
は8mm、インジウム層32の幅は6mm程度に形成さ
れる。
Subsequently, indium as a metal sealing material is applied on each underlayer 31 to form an indium layer 32 extending continuously over the entire circumference of each underlayer. The width of the indium layer 32 is formed to be smaller than the width of the underlayer 31, and the indium layer is applied in such a manner that both side edges of the indium layer are separated from the both side edges of the underlayer 31 by predetermined gaps. For example, if the width of the side wall 18 is 9 mm, the width of the underlayer 31 is 8 mm, and the width of the indium layer 32 is about 6 mm.

【0037】なお、金属封着材料としては、融点が約3
50℃以下で密着性、接合性に優れた低融点金属材料を
使用することが望ましい。本実施の形態で用いるインジ
ウム(In)は、融点156.7℃と低いだけでなく、
蒸気圧が低い、軟らかく衝撃に対して強い、低温でも脆
くならないなどの優れた特徴がある。しかも、条件によ
ってはガラスに直接接合することができるので、本発明
の目的に好適した材料である。
The metal sealing material has a melting point of about 3
It is desirable to use a low melting point metal material excellent in adhesion and bonding at 50 ° C. or lower. Indium (In) used in the present embodiment has a melting point as low as 156.7 ° C.,
It has excellent features such as low vapor pressure, soft and strong impact resistance, and does not become brittle even at low temperatures. In addition, it can be directly bonded to glass depending on conditions, and is a material suitable for the purpose of the present invention.

【0038】また、低融点金属材料としては、Inの単
体ではなく、酸化銀、銀、金、銅、アルミニウム、亜
鉛、錫等の元素を単独あるいは複合で添加した合金を用
いることもできる。例えば、In97%−Ag3%の共
晶合金では、融点が141℃とさらに低くなり、しかも
機械的強度を高めることができる。
Further, as the low melting point metal material, an alloy to which elements such as silver oxide, silver, gold, copper, aluminum, zinc, tin and the like are added alone or in combination can be used instead of In alone. For example, in the eutectic alloy of In97% -Ag3%, the melting point is further reduced to 141 ° C., and the mechanical strength can be increased.

【0039】なお、上記説明では、「融点」という表現
を用いているが、2種以上の金属からなる合金では、融
点が単一に定まらない場合がある。一般にそのような場
合には、液相線温度と固相線温度が定義される。前者
は、液体の状態から温度を下げていった際、合金の一部
が固体化し始める温度であり、後者は合金の全てが固体
化する温度である。本実施の形態では、説明の便宜上、
このような場合においても融点という表現を用いること
にし、固相線温度を融点と呼ぶことにする。
In the above description, the expression "melting point" is used, but in the case of an alloy composed of two or more kinds of metals, the melting point may not be determined singly. Generally, in such a case, the liquidus temperature and the solidus temperature are defined. The former is the temperature at which part of the alloy starts to solidify when the temperature is lowered from the liquid state, and the latter is the temperature at which all of the alloy solidifies. In the present embodiment, for convenience of explanation,
In such a case, the expression "melting point" will be used, and the solidus temperature will be called the melting point.

【0040】一方、前述した下地層31は、金属封着材
料に対して濡れ性および気密性の良い材料、つまり、金
属封着材料に対して親和性の高い材料を用いる。上述し
た銀ペーストの他、金、アルミニウム、ニッケル、コバ
ルト、銅等の金属ペーストを用いすることができる。金
属ペーストの他、下地層31として、銀、金、アルミニ
ウム、ニッケル、コバルト、銅等の金属メッキ層あるい
は蒸着膜、又はガラス材料層を用いることもできる。
On the other hand, for the underlayer 31 described above, a material having good wettability and airtightness with respect to the metal sealing material, that is, a material having high affinity for the metal sealing material is used. In addition to the silver paste described above, a metal paste such as gold, aluminum, nickel, cobalt, and copper can be used. In addition to the metal paste, as the base layer 31, a metal plating layer of silver, gold, aluminum, nickel, cobalt, copper, or the like, a deposited film, or a glass material layer can be used.

【0041】ここで、封着面に形成された下地層31上
へのインジウムの充填、すなわち、インジウムの塗布は
以下の封着材充填装置を用いて行う。図5に示すよう
に、この封着材充填装置は、平坦な載置面40aを有し
た支持台40を備え、載置面上には、平坦な矩形板状の
ホットプレート42、ホットプレート上に被封着物を位
置決めする位置決め機構44、被封着物上に封着材を充
填する充填ヘッド46、および被封着物に対して充填ヘ
ッドを相対的に移動されるヘッド移動機構48が設けら
れている。
Here, the filling of the indium onto the underlayer 31 formed on the sealing surface, that is, the application of the indium, is performed using the following sealing material filling apparatus. As shown in FIG. 5, the sealing material filling apparatus includes a support table 40 having a flat mounting surface 40a, and a flat rectangular plate-shaped hot plate 42 and a hot plate on the hot plate. A positioning mechanism 44 for positioning an object to be sealed, a filling head 46 for filling a sealing material on the object to be sealed, and a head moving mechanism 48 for moving the filling head relative to the object to be sealed. I have.

【0042】ホットプレート42には、被封着物とし
て、前述した側壁18の封着された背面基板12、ある
いは前面基板11が載置される。そして、このホットプ
レート42は載置された被封着物を加熱する加熱手段と
しても機能する。
On the hot plate 42, the back substrate 12 or the front substrate 11 on which the side wall 18 is sealed is placed as an object to be sealed. The hot plate 42 also functions as a heating unit for heating the mounted object.

【0043】位置決め機構44は、例えば、ホットプレ
ート42上に載置された前面基板11の直交する2辺に
それぞれ当接する3つの固定の位置決め爪50と、前面
基板11の他の2辺にそれぞれ当接し、位置決め爪50
に向かって前面基板11を弾性的に押付ける2つの押え
爪52と、を有している。
The positioning mechanism 44 includes, for example, three fixed positioning claws 50 abutting on two orthogonal sides of the front substrate 11 placed on the hot plate 42, and two other positioning claws 50 on the front substrate 11, respectively. Abutment, positioning claw 50
And two pressing claws 52 for elastically pressing the front substrate 11 toward the front side.

【0044】図5および図6に示すように、充填ヘッド
46は、溶融したインジウムを貯溜した貯溜部54、こ
の貯溜部から送られた溶融インジウムを前面基板11の
封着面に充填するノズル55、およびこのノズル55の
外面に固定され超音波発生部として機能する超音波振動
子56を備えている。また、充填ヘッド46には、パー
ジガスを供給する供給パイプ58が接続されているとと
もに、ノズル55を加熱するヒータ部60が設けられて
いる。
As shown in FIGS. 5 and 6, the filling head 46 is provided with a storage portion 54 for storing the molten indium, and a nozzle 55 for filling the sealing surface of the front substrate 11 with the molten indium sent from the storage portion. And an ultrasonic transducer 56 fixed to the outer surface of the nozzle 55 and functioning as an ultrasonic generator. Further, a supply pipe 58 for supplying a purge gas is connected to the filling head 46, and a heater unit 60 for heating the nozzle 55 is provided.

【0045】ヘッド移動機構48は、図5に示すよう
に、充填ヘッド46を支持台40の載置面40aに対し
て垂直な、つまり、ホットプレート42上に載置された
前面基板11に対して垂直なZ軸方向に沿って昇降駆動
自在に支持したZ軸駆動ロボット62と、このZ軸駆動
ロボット62を上記前面基板11の短辺と平行なY軸方
向に沿って往復駆動自在に支持したY軸駆動ロボット6
4とを備えている。更に、Y軸駆動ロボット64は、載
置面40a上に固定されたX軸駆動ロボット66および
補助レール67により、上記前面基板11の長辺と平行
なX軸方向に沿って往復駆動自在に支持されている。
As shown in FIG. 5, the head moving mechanism 48 moves the filling head 46 perpendicular to the mounting surface 40a of the support table 40, that is, with respect to the front substrate 11 mounted on the hot plate 42. And a Z-axis driving robot 62 movably supported in a vertical Z-axis direction, and a Z-axis driving robot 62 supported in a reciprocating manner in a Y-axis direction parallel to the short side of the front substrate 11. Y-axis driving robot 6
4 is provided. Further, the Y-axis driving robot 64 is supported by the X-axis driving robot 66 and the auxiliary rail 67 fixed on the mounting surface 40a so as to be reciprocally driven along the X-axis direction parallel to the long side of the front substrate 11. Have been.

【0046】上述した封着材充填装置を用いてインジウ
ムを塗布する場合、図5に示したように、封着面を上に
して前面基板11をホットプレート42上に載置し、位
置決め機構44によって所定位置に位置決めする。続い
て、図6に示すように、溶融状態のインジウムが貯溜さ
れている充填ヘッド46を所望の充填開始位置にセット
した後、ヘッド移動機構48により、前面基板11の封
着面、ここでは、前面基板11上に形成された下地層3
1、に沿って充填ヘッド46を所定の速度で移動させ
る。そして、充填ヘッド46を移動させながら、ノズル
55から下地層32上に溶融インジウムを連続的に充填
し、下地層に沿って連続的に延びたインジウム層32を
全周に亘り形成する。また、この際、同時に超音波振動
子56を作動させ、溶融インジウムに超音波を印加しな
がら下地層31上に充填する。
When applying indium using the above-described sealing material filling apparatus, as shown in FIG. 5, the front substrate 11 is placed on the hot plate 42 with the sealing surface facing upward, and the positioning mechanism 44 is used. To a predetermined position. Subsequently, as shown in FIG. 6, after setting the filling head 46 in which the molten indium is stored to a desired filling start position, the sealing surface of the front substrate 11, here, Underlayer 3 formed on front substrate 11
The filling head 46 is moved at a predetermined speed along (1). Then, while moving the filling head 46, the molten indium is continuously filled from the nozzle 55 onto the base layer 32, and the indium layer 32 continuously extending along the base layer is formed over the entire circumference. At this time, the ultrasonic transducer 56 is operated at the same time, and the molten indium is filled onto the base layer 31 while applying ultrasonic waves to the molten indium.

【0047】ここで、上記超音波は、前面基板11の封
着面、つまり、下地層表面に対して垂直な方向に印加
し、超音波の振動数は、例えば、30〜40kHzに設
定する。
Here, the ultrasonic waves are applied in a direction perpendicular to the sealing surface of the front substrate 11, that is, the surface of the underlying layer, and the frequency of the ultrasonic waves is set to, for example, 30 to 40 kHz.

【0048】このように、超音波を印加しながらインジ
ウムを充填することにより、封着面あるいは下地層31
に対するインジウムの濡れ性が向上し、インジウムを所
望の位置に良好に充填することが可能となる。また、溶
融したインジウムを下地層31に沿って連続的に充填す
ることことができ、下地層に沿って切れ目なく延びたイ
ンジウム層を形成することが可能となる。更に、超音波
を印加しながら溶融インジウムを充填することにより、
充填した時点で、インジウムの一部が下地層31の表面
部内に拡散して合金層を形成することができる。
As described above, by filling indium while applying ultrasonic waves, the sealing surface or the underlying layer 31 is filled.
The wettability of indium with respect to the indium is improved, and it becomes possible to satisfactorily fill the desired position with indium. Further, the molten indium can be continuously filled along the underlayer 31, so that an indium layer extending continuously along the underlayer can be formed. Furthermore, by filling the molten indium while applying ultrasonic waves,
At the time of filling, a part of indium diffuses into the surface portion of the underlayer 31 to form an alloy layer.

【0049】なお、インジウムを充填する工程におい
て、上記超音波の発振出力、あるいは、ノズル55のイ
ンジウムの吐出孔径のいずれか一方を調整することによ
り、インジウムの吐出量を制御し、形成されるインジウ
ム層の厚さ、幅等を調整することができる。
In the step of filling indium, either the oscillation output of the ultrasonic wave or the diameter of the indium discharge hole of the nozzle 55 is adjusted to control the amount of indium discharged, thereby forming the indium formed. The thickness, width and the like of the layer can be adjusted.

【0050】一方、背面基板12に封着された側壁18
の封着面上、ここでは、下地層31上にインジウムを充
填する場合、上記と同様に、背面基板12を封着材充填
装置のホットパネル42上に位置決めし、充填ヘッド4
6により、超音波を印加しながら溶融したインジウムを
下地層31に沿って連続的に充填し、この下地層31に
沿って連続的に延びたインジウム層32を形成する。
On the other hand, the side wall 18 sealed to the back substrate 12
In the case where indium is filled on the sealing surface, here, the underlayer 31, the back substrate 12 is positioned on the hot panel 42 of the sealing material filling device and the filling head 4 is filled in the same manner as described above.
According to 6, the molten indium is continuously filled along the underlayer 31 while applying the ultrasonic wave, and the indium layer 32 continuously extended along the underlayer 31 is formed.

【0051】次に、封着面に下地層31およびインジウ
ム層32が形成された前面基板11と、背面基板12に
側壁18が封着されているとともにこの側壁上面に下地
層31およびインジウム層32が形成された背面側組立
体とは、図7に示すように、封着面同士が向かい合った
状態で、かつ、所定の距離をおいて対向した状態で図示
しない治具等により保持され、真空処理装置に投入され
る。
Next, a front substrate 11 having an underlayer 31 and an indium layer 32 formed on a sealing surface, and a side wall 18 sealed to a back substrate 12 and an underlayer 31 and an indium layer 32 As shown in FIG. 7, the back side assembly formed with is held by a jig or the like (not shown) in a state where the sealing surfaces face each other and at a predetermined distance so as to face each other. It is put into the processing equipment.

【0052】図8に示すように、この真空処理装置10
0は、順に並んで設けられたロード室101、ベーキン
グ、電子線洗浄室102、冷却室103、ゲッタ膜の蒸
着室104、組立室105、冷却室106、およびアン
ロード室107を有している。これら各室は真空処理が
可能な処理室として構成され、FEDの製造時には全室
が真空排気されている。また、隣合う処理室間はゲート
バルブ等により接続されている。
As shown in FIG. 8, this vacuum processing apparatus 10
Numeral 0 has a load chamber 101, a baking, electron beam cleaning chamber 102, a cooling chamber 103, a getter film deposition chamber 104, an assembling chamber 105, a cooling chamber 106, and an unloading chamber 107 provided in order. . Each of these chambers is configured as a processing chamber capable of performing vacuum processing, and all the chambers are evacuated during the manufacture of the FED. Adjacent processing chambers are connected by a gate valve or the like.

【0053】所定の間隔をおいて対向した背面側組立体
および前面基板11は、ロード室101に投入され、こ
のロード室101内を真空雰囲気とした後、ベーキン
グ、電子線洗浄室102へ送られる。べーキング、電子
線洗浄室102では、10−5Pa程度の高真空度に達
した時点で、背面側組立体および前面基板11を300
℃程度の温度に加熱してベーキングし、各部材の表面吸
着ガスを十分に放出させる。
The rear-side assembly and the front substrate 11 facing each other at a predetermined interval are put into a load chamber 101, and after the inside of the load chamber 101 is evacuated to a vacuum atmosphere, they are sent to a baking and electron beam cleaning chamber 102. . In the baking and electron beam cleaning chamber 102, when the high vacuum degree of about 10 −5 Pa is reached, the back-side assembly and the front substrate 11 are removed by 300 mm.
Baking is performed by heating to a temperature of about ° C. to sufficiently release the surface adsorption gas of each member.

【0054】この温度ではインジウム層(融点約156
℃)32が溶融する。しかし、インジウム層32は親和
性の高い下地層31上に形成されているため、インジウ
ムが流動することなく下地層31上に保持され、電子放
出素子22側や背面基板の外側、あるいは蛍光体スクリ
ーン16側への流出が防止される。
At this temperature, the indium layer (having a melting point of about 156)
C) 32 melts. However, since the indium layer 32 is formed on the base layer 31 having a high affinity, the indium is held on the base layer 31 without flowing, and the indium layer 32 is provided on the electron emission element 22 side, the outside of the back substrate, or the phosphor screen. Outflow to the 16 side is prevented.

【0055】また、べーキング、電子線洗浄室102で
は、加熱と同時に、べーキング、電子線洗浄室102に
取り付けられた図示しない電子線発生装置から、前面基
板11の蛍光体スクリーン面、および背面基板12の電
子放出素子面に電子線を照射する。この電子線は、電子
線発生装置外部に装着された偏向装置によって偏向走査
されるため、蛍光体スクリーン面、および電子放出素子
面の全面を電子線洗浄することが可能となる。
In the baking / electron beam cleaning chamber 102, simultaneously with heating, an electron beam generator (not shown) attached to the baking / electron beam cleaning chamber 102 sends a phosphor screen surface of the front substrate 11 and a back surface. An electron beam is irradiated on the electron-emitting device surface of the substrate 12. Since the electron beam is deflected and scanned by a deflecting device mounted outside the electron beam generator, it is possible to clean the entire surface of the phosphor screen surface and the electron emission element surface with the electron beam.

【0056】加熱、電子線洗浄後、背面基板側組立体お
よび前面基板11は冷却室103に送られ、例えば約1
00℃の温度の温度まで冷却される。続いて、背面側組
立体および前面基板11はゲッタ膜の蒸着室104へ送
られ、ここで蛍光体スクリーンの外側にゲッタ膜として
Ba膜が蒸着形成される。このBa膜は、表面が酸素や
炭素などで汚染されることが防止され、活性状態を維持
することができる。
After the heating and the electron beam cleaning, the rear substrate side assembly and the front substrate 11 are sent to the cooling chamber 103, for example, about 1 mm.
Cool to a temperature of 00 ° C. Subsequently, the back-side assembly and the front substrate 11 are sent to a getter film deposition chamber 104, where a Ba film is deposited as a getter film outside the phosphor screen. The surface of the Ba film is prevented from being contaminated with oxygen, carbon, or the like, and can maintain an active state.

【0057】次に、背面側組立体および前面基板11は
組立室105に送られ、ここで200℃まで加熱されイ
ンジウム層32が再び液状に溶融あるいは軟化される。
この状態で、前面基板11と側壁18とを接合して所定
の圧力で加圧した後、インジウムを除冷して固化させ
る。これにより、前面基板11と側壁18とが、インジ
ウム層32および下地層31を融合した封着層33によ
って封着され、真空外囲器10が形成される。
Next, the rear-side assembly and the front substrate 11 are sent to an assembly chamber 105, where they are heated to 200 ° C., and the indium layer 32 is again melted or softened into a liquid state.
In this state, the front substrate 11 and the side wall 18 are joined and pressurized at a predetermined pressure, and then the indium is cooled and solidified. Thus, the front substrate 11 and the side wall 18 are sealed by the sealing layer 33 in which the indium layer 32 and the base layer 31 are fused, and the vacuum envelope 10 is formed.

【0058】このようにして形成された真空外囲器10
は、冷却室106で常温まで冷却された後、アンロード
室107から取り出される。以上の工程により、FED
が完成する。
The vacuum envelope 10 thus formed is
Is cooled to room temperature in the cooling chamber 106 and then taken out of the unloading chamber 107. By the above process, FED
Is completed.

【0059】以上のように構成されたFEDおよびその
製造方法によれば、真空雰囲気中で前面基板11、およ
び背面基板12の封着を行なうことにより、ベーキング
および電子線洗浄の併用によって基板の表面吸着ガスを
十分に放出させることができ、ゲッタ膜も酸化されず十
分なガス吸着効果を得ることができる。これにより、高
い真空度を維持可能なFEDを得ることができる。
According to the FED and the method of manufacturing the same as described above, the front substrate 11 and the rear substrate 12 are sealed in a vacuum atmosphere, so that the surface of the substrate can be combined with baking and electron beam cleaning. The adsorbed gas can be sufficiently released, and the getter film is not oxidized, so that a sufficient gas adsorbing effect can be obtained. Thereby, an FED that can maintain a high degree of vacuum can be obtained.

【0060】また、封着材料としてインジウムを使用す
ることにより封着時の発泡を抑えることができ、気密性
および封着強度の高いFEDを得ることが可能となる。
同時に、インジウム層32の下に下地層31を設けるこ
とにより、封着工程においてインジウムが溶融した場合
でもインジウムの流出を防止し所定位置に保持すること
ができる。従って、インジウムの取り扱いが簡単とな
り、50インチ以上の大型の画像表示装置であっても容
易にかつ確実に封着することができる。
Further, by using indium as a sealing material, foaming at the time of sealing can be suppressed, and an FED having high airtightness and sealing strength can be obtained.
At the same time, by providing the underlayer 31 under the indium layer 32, even when indium is melted in the sealing step, inflow of indium can be prevented and the indium can be held at a predetermined position. Therefore, handling of indium becomes simple, and even a large-sized image display device having a size of 50 inches or more can be easily and reliably sealed.

【0061】更に、超音波を印加しながらインジウムを
充填することにより、封着面あるいは下地層31に対す
るインジウムの濡れ性が向上し、金属封着材としてイン
ジウムを用いた場合でも、インジウムを所望の位置に良
好に充填することが可能となる。また、溶融したインジ
ウムを下地層31に沿って連続的に充填することことが
でき、下地層に沿って切れ目なく延びたインジウム層を
形成することが可能となる。更に、本実施の形態のよう
に下地層31を用いた場合、超音波を印加しながら溶融
インジウムを充填することにより、充填した時点で、イ
ンジウムの一部が下地層31の表面部内に拡散して合金
層を形成することができる。そのため、封着時にインジ
ウムが溶融した場合でも、インジウムの流動を一層確実
に防止し所定位置に保持することができる。以上のこと
から、金属封着材の取り扱いが容易であり、真空雰囲気
中で容易にかつ確実に封着を行うことが可能な画像表示
装置の製造方法を得ることができる。
Further, by filling indium while applying ultrasonic waves, the wettability of indium to the sealing surface or the underlying layer 31 is improved, and even when indium is used as a metal sealing material, indium can be used in a desired manner. It is possible to fill the position well. Further, the molten indium can be continuously filled along the underlayer 31, so that an indium layer extending continuously along the underlayer can be formed. Furthermore, when the underlayer 31 is used as in the present embodiment, by filling the molten indium while applying ultrasonic waves, at the time of filling, a part of the indium diffuses into the surface portion of the underlayer 31. To form an alloy layer. Therefore, even when indium is melted at the time of sealing, the flow of indium can be more reliably prevented and held at a predetermined position. From the above, it is possible to obtain a method of manufacturing an image display device that can easily handle a metal sealing material and can easily and reliably perform sealing in a vacuum atmosphere.

【0062】なお、上述した実施の形態では、前面基板
11の封着面と側壁18の封着面との両方に下地層31
およびインジウム層32を形成した状態で封着する構成
としたが、いずれか一方の封着面のみに、例えば、図9
に示すように、前面基板11の封着面のみに下地層31
およびインジウム層32を形成した状態で封着する構成
としてもよい。
In the above-described embodiment, the base layer 31 is provided on both the sealing surface of the front substrate 11 and the sealing surface of the side wall 18.
And in a state where the indium layer 32 is formed, but the sealing is performed only on one of the sealing surfaces, for example, as shown in FIG.
As shown in FIG.
The sealing may be performed in a state where the indium layer 32 is formed.

【0063】また、上述した実施の形態では、封着面に
下地層を形成し、その上にインジウム層を形成する構成
としたが、下地層を用いることなく直接、封着面上にイ
ンジウム層を充填する構成としても良い。この場合にお
いても、超音波を印加しながら溶融したインジウムを充
填することにより、封着面に対するインジウムの濡れ性
を向上し、所望位置にかつ連続的にインジウムを充填す
ることができる。
In the above-described embodiment, the underlayer is formed on the sealing surface, and the indium layer is formed thereon. However, the indium layer is directly formed on the sealing surface without using the underlayer. May be filled. Also in this case, by filling the molten indium while applying ultrasonic waves, the wettability of the indium to the sealing surface can be improved, and the desired position can be continuously and continuously filled with the indium.

【0064】その他、この発明は上述した実施の形態に
限定されることなく、この発明の範囲内で種々変形可能
である。例えば、背面基板と側壁との間を、上記と同様
の下地層31およびインジウム層32を融合した封着層
によって封着してもよい。また、前面基板あるいは背面
基板の一方の周縁部を折り曲げて形成し、これらの基板
を側壁を介することなく直接的に接合する構成としても
よい。更に、インジウム層は、全周に亘って下地層の幅
よりも小さな幅に形成されている構成としたが、下地層
の少なくとも一部分において下地層の幅よりも小さな幅
に形成されていれば、インジウムの流動を防止すること
が可能となる。
In addition, the present invention is not limited to the above-described embodiment, but can be variously modified within the scope of the present invention. For example, the space between the rear substrate and the side wall may be sealed by a sealing layer in which the underlayer 31 and the indium layer 32 are fused as described above. Alternatively, one peripheral portion of the front substrate or the back substrate may be formed by bending, and these substrates may be directly joined without interposing a side wall. Furthermore, the indium layer is configured to have a width smaller than the width of the underlayer over the entire circumference, but if at least a portion of the underlayer is formed to have a width smaller than the width of the underlayer, It is possible to prevent the flow of indium.

【0065】また、上述した実施の形態では、電子放出
素子として電界放出型の電子放出素子を用いたが、これ
に限らず、pn型の冷陰極素子あるいは表面伝導型の電
子放出素子等の他の電子放出素子を用いてもよい。ま
た、この発明は、プラズマ表示パネル(PDP)、エレ
クトロルミネッセンス(EL)等の他の画像表示装置の
製造にも適用可能である。
In the above-described embodiment, a field emission type electron-emitting device is used as an electron-emitting device. However, the present invention is not limited to this, and other devices such as a pn-type cold cathode device or a surface conduction type electron-emitting device may be used. May be used. Further, the present invention is applicable to the manufacture of other image display devices such as a plasma display panel (PDP) and electroluminescence (EL).

【0066】[0066]

【発明の効果】以上詳述したように、この本発明によれ
ば、超音波を印加しながら溶融金属封着材を封着面に充
填し、この金属封着材によって基板同士を封着すること
により、真空雰囲気中で容易に封着を行うことができる
とともに気密性および封着強度の高い画像表示装置を製
造可能な製造方法、および封着材充填装置を提供するこ
とができる。
As described above in detail, according to the present invention, the sealing surface is filled with the molten metal sealing material while applying ultrasonic waves, and the substrates are sealed with the metal sealing material. Accordingly, it is possible to provide a manufacturing method capable of easily performing sealing in a vacuum atmosphere and manufacturing an image display device having high airtightness and sealing strength, and a sealing material filling device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の実施の形態に係るFEDを示す斜視
図。
FIG. 1 is a perspective view showing an FED according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の線A−Aに沿った断面図。FIG. 2 is a sectional view taken along the line AA of FIG. 1;

【図3】上記FEDの蛍光体スクリーンを示す平面図。FIG. 3 is a plan view showing a phosphor screen of the FED.

【図4】上記FEDの真空外囲器を構成する側壁の封着
面および前面基板の封着面に下地層およびインジウム層
を形成した状態を示す斜視図。
FIG. 4 is a perspective view showing a state in which a base layer and an indium layer are formed on a sealing surface of a side wall and a sealing surface of a front substrate constituting a vacuum envelope of the FED.

【図5】この発明の実施の形態に係る封着材充填装置を
示す斜視図。
FIG. 5 is a perspective view showing a sealing material filling device according to the embodiment of the present invention.

【図6】上記封着材充填装置により前面基板の封着面に
インジウムを充填する工程を示す斜視図。
FIG. 6 is a perspective view showing a step of filling the sealing surface of the front substrate with indium by the sealing material filling apparatus.

【図7】上記封着部に下地層およびインジウム層が形成
された背面側組立体と前面基板とを対向配置した状態を
示す断面図。
FIG. 7 is a cross-sectional view showing a state in which a back-side assembly having a base layer and an indium layer formed on the sealing portion and a front substrate are opposed to each other.

【図8】上記FEDの製造に用いる真空処理装置を概略
的に示す図。
FIG. 8 is a view schematically showing a vacuum processing apparatus used for manufacturing the FED.

【図9】この発明の他の実施の形態に係るFEDの真空
外囲器を形成する工程において、前面基板の封着面に下
地層およびインジウム層を形成した状態を示す断面図。
FIG. 9 is a cross-sectional view showing a state in which a base layer and an indium layer are formed on a sealing surface of a front substrate in a step of forming a vacuum envelope of an FED according to another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…真空外囲器 11…前面基板 12…背面基板 14…支持部材 16…蛍光体スクリーン 18…側壁 22…電子放出素子 30…低融点ガラス 31…下地層 32…インジウム層 40…支持台 42…ホットプレート 44…位置決め機構 46…充填ヘッド 48…ヘッド移動機構 54…貯溜部 55…ノズル 56…超音波振動素子 100…真空処理装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Vacuum envelope 11 ... Front board 12 ... Back board 14 ... Support member 16 ... Phosphor screen 18 ... Side wall 22 ... Electron emission element 30 ... Low melting point glass 31 ... Underlayer 32 ... Indium layer 40 ... Support 42 ... Hot plate 44 ... Positioning mechanism 46 ... Filling head 48 ... Head moving mechanism 54 ... Reservoir 55 ... Nozzle 56 ... Ultrasonic vibration element 100 ... Vacuum processing device

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】背面基板、およびこの背面基板に対向配置
された前面基板を有した外囲器と、上記外囲器の内側に
設けられた複数の画素表示素子と、を備えた画像表示装
置の製造方法において、 上記背面基板と上記前面基板との間の封着面に、超音波
を印加しながら溶融した金属封着材を充填する工程と、 上記金属封着材の充填後、真空雰囲気中で上記金属封着
材を加熱して溶融させ、上記背面基板と上記前面基板と
を上記封着面で直接あるいは間接的に封着する工程と、 を備えたことを特徴とする画像表示装置の製造方法。
1. An image display device comprising: an envelope having a rear substrate, a front substrate opposed to the rear substrate, and a plurality of pixel display elements provided inside the envelope. In the manufacturing method, a step of filling a sealing surface between the rear substrate and the front substrate with a molten metal sealing material while applying ultrasonic waves, and after filling the metal sealing material, a vacuum atmosphere Wherein the metal sealing material is heated and melted therein, and the back substrate and the front substrate are directly or indirectly sealed with the sealing surface. Manufacturing method.
【請求項2】背面基板と、この背面基板に対向配置され
た前面基板と、上記前面基板の周縁部と上記背面基板の
周縁部との間に配設され上記前面基板および背面基板に
封着された側壁とを有する外囲器と、 上記外囲器の内側に設けられた複数の画素表示素子と、
を備え、 上記前面基板と側壁との間の封着面、および上記背面基
板と側壁との間の封着面の少なくとも一方が金属封着材
層により封着されている画像表示装置の製造方法におい
て、 上記少なくとも一方の封着面に、超音波を印加しながら
溶融した金属封着材を充填する工程と、 上記金属封着材の充填後、真空雰囲気中で上記金属封着
材を加熱して溶融させ、上記背面基板、前面基板、およ
び側壁を上記封着面で封着する工程と、 を備えたことを特徴とする画像表示装置の製造方法。
2. A rear substrate, a front substrate opposed to the rear substrate, and disposed between a peripheral portion of the front substrate and a peripheral portion of the rear substrate and sealed to the front substrate and the rear substrate. An envelope having a side wall, a plurality of pixel display elements provided inside the envelope,
A method for manufacturing an image display device, wherein at least one of a sealing surface between the front substrate and the side wall and a sealing surface between the rear substrate and the side wall is sealed with a metal sealing material layer. In the step of filling the at least one sealing surface with a molten metal sealing material while applying ultrasonic waves, after filling the metal sealing material, heating the metal sealing material in a vacuum atmosphere And bonding the back substrate, the front substrate, and the side wall with the sealing surface.
【請求項3】上記金属封着材を充填する工程は、超音波
を印加しながら溶融した金属封着材を上記封着面に沿っ
て連続的に充填し、上記封着面に沿って延びた金属封着
材層を形成する工程を含んでいることを特徴とする請求
項1又は2に記載の画像表示装置の製造方法。
3. The step of filling the metal sealing material comprises continuously filling the molten metal sealing material along the sealing surface while applying ultrasonic waves, and extending along the sealing surface. 3. The method according to claim 1, further comprising the step of forming a metal sealing material layer.
【請求項4】上記金属封着材を充填する工程において、
上記封着面とほぼ垂直な方向に超音波を印加することを
特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の画
像表示装置の製造方法。
4. In the step of filling the metal sealing material,
4. The method according to claim 1, wherein ultrasonic waves are applied in a direction substantially perpendicular to the sealing surface. 5.
【請求項5】上記金属封着材と異種の下地層を上記封着
面上に形成する工程を備え、 上記下地層を形成した後、この下地層上に上記金属封着
材を充填することを特徴とする請求項1ないし4のいず
れか1項に記載の画像表示装置の製造方法。
5. The method according to claim 1, further comprising the step of forming an underlayer different from the metal sealing material on the sealing surface. After forming the underlayer, filling the metal sealing material on the underlayer. The method for manufacturing an image display device according to claim 1, wherein:
【請求項6】上記下地層は、銀、金、アルミニウム、ニ
ッケル、コバルト、銅の少なくとも1つを含む金属ペー
ストを塗布して形成することを特徴とする請求項5に記
載の画像表示装置の製造方法。
6. The image display device according to claim 5, wherein the underlayer is formed by applying a metal paste containing at least one of silver, gold, aluminum, nickel, cobalt, and copper. Production method.
【請求項7】上記下地層は、銀、金、アルミニウム、ニ
ッケル、コバルト、銅の少なくとも1つを含む金属メッ
キ層あるいは蒸着膜、又はガラス材料により形成するこ
とを特徴とする請求項5に記載の画像表示装置の製造方
法。
7. The method according to claim 5, wherein the underlayer is formed of a metal plating layer or a deposited film containing at least one of silver, gold, aluminum, nickel, cobalt, and copper, or a glass material. Manufacturing method of an image display device.
【請求項8】上記金属封着材を充填する工程において、
上記超音波の発振出力、あるいは、上記金属封着材の吐
出孔径のいずれか一方によって、金属封着材の吐出量を
制御することを特徴とする請求項1ないし7のいずれか
1項に記載の画像表示装置の製造方法。
8. In the step of filling the metal sealing material,
The discharge amount of the metal sealing material is controlled by any one of the oscillation output of the ultrasonic wave and the discharge hole diameter of the metal sealing material. Manufacturing method of an image display device.
【請求項9】上記金属封着材は、融点が350℃以下の
低融点金属材料を用いることを特徴とする請求項1ない
し8のいずれか1項に記載の画像表示装置の製造方法。
9. The method according to claim 1, wherein the metal sealing material is a low melting point metal material having a melting point of 350 ° C. or less.
【請求項10】上記低融点金属材料は、インジウムまた
はインジウムを含む合金であることを特徴とする請求項
9記載の画像表示装置の製造方法。
10. The method according to claim 9, wherein the low melting point metal material is indium or an alloy containing indium.
【請求項11】背面基板、およびこの背面基板に対向配
置されているとともに金属封着材により上記背面基板に
直接あるいは間接的に封着された前面基板を有した真空
外囲器と、 上記前面基板の内面に形成された蛍光体スクリーンと、 上記背面基板上に設けられ、上記蛍光体スクリーンに電
子ビームを放出し蛍光体スクリーンを発光させる電子放
出源と、を備え画像表示装置の製造方法において、 上記背面基板と上記前面基板との間の封着面に、超音波
を印加しながら溶融した金属封着材を充填する工程と、 上記金属封着材の充填後、真空雰囲気中で上記金属封着
材を加熱して溶融させ、上記背面基板と上記前面基板と
を上記封着面で直接あるいは間接的に封着する工程と、 を備えたことを特徴とする画像表示装置の製造方法。
11. A vacuum envelope having a back substrate, a front substrate disposed opposite to the back substrate, and directly or indirectly sealed to the back substrate by a metal sealing material; A method of manufacturing an image display device, comprising: a phosphor screen formed on an inner surface of a substrate; and an electron emission source provided on the rear substrate and emitting an electron beam to the phosphor screen to emit light from the phosphor screen. Filling a sealing surface between the rear substrate and the front substrate with a molten metal sealing material while applying ultrasonic waves; and after filling the metal sealing material, the metal in a vacuum atmosphere. A method of heating and melting a sealing material, and directly or indirectly sealing the back substrate and the front substrate on the sealing surface.
【請求項12】請求項1ないし11のいずれか1項に記
載の画像表示装置の製造方法において封着面に対し金属
封着材を充填する封着材充填装置であって、 上記封着面を有した被封着物を位置決め支持する支持台
と、 上記溶融した金属封着材を貯溜した貯溜部、この貯溜部
から送られた溶融金属封着材を上記封着面に充填するノ
ズル、および上記ノズルから上記封着面に充填される溶
融金属封着材に超音波を印加する超音波発生部を有した
充填ヘッドと、 上記充填ヘッドを上記封着面に対して相対的に移動させ
るヘッド移動機構と、 を備えたことを特徴とする封着材充填装置。
12. A sealing material filling apparatus for filling a sealing surface with a metal sealing material in the method of manufacturing an image display device according to claim 1. A support base for positioning and supporting the sealed object having a storage portion storing the molten metal sealing material, a nozzle for filling the sealing surface with the molten metal sealing material sent from the storage portion, and A filling head having an ultrasonic generator for applying ultrasonic waves from the nozzle to the molten metal sealing material to be filled in the sealing surface, and a head for moving the filling head relative to the sealing surface A sealing material filling device, comprising: a moving mechanism.
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