JP2002174747A - 光導波路と光ファイバとの調芯方法 - Google Patents

光導波路と光ファイバとの調芯方法

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JP2002174747A JP2000373180A JP2000373180A JP2002174747A JP 2002174747 A JP2002174747 A JP 2002174747A JP 2000373180 A JP2000373180 A JP 2000373180A JP 2000373180 A JP2000373180 A JP 2000373180A JP 2002174747 A JP2002174747 A JP 2002174747A
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optical
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aligning
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Akihiro Hiruta
昭浩 蛭田
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Hitachi Cable Ltd
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Hitachi Cable Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光導波路素子のポート数が増えても調芯に掛
かる時間が比例的に増えない光導波路と光ファイバとの
調芯方法を提供する。 【解決手段】 光導波路素子20に複数本等間隔で並列
に形成された光導波路21,…29と光ファイバとを調
芯する調芯方法において、少なくとも1本の粗調芯用光
ファイバ3及び複数本の微調芯用光ファイバ4a,…4
hを、上記光導波路21,…29の間隔に合わせて形成
された光ファイバアレイ10に配列し、任意の光導波路
22と上記粗調芯用光ファイバ3とを調芯した後、上記
光ファイバアレイ10を上記光導波路21,…29の並
列方向に移動させて上記光導波路21,…29と上記微
調芯用光ファイバ4a,…4hとを調芯する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光導波路と光ファ
イバとの調芯方法に係り、光導波路素子の光学特性を測
定する際の光導波路と光ファイバとの調芯方法に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、光導波路素子の光学特性、特に
挿入損失を測定して特性評価するために、この光導波路
素子の光導波路に被測定光を入力させ、その光導波路を
通って出力された被測定光を検出する手段として、光フ
ァイバが用いられており、さらにこれら光導波路と光フ
ァイバのコア同士を突き合わせて調芯する手段として、
調芯装置が用いられている。
【0003】図5に従来の調芯装置の概略図を示す。
【0004】図5に示すように、従来の調芯装置は、複
数本の光導波路がほぼ等間隔で並列に形成された光導波
路素子20と、この光導波路素子20の入力側と調芯さ
れる入力側調芯用光ファイバと、この光導波路素子20
の出力側と調芯される出力側調芯用光ファイバとを、そ
れぞれ支持する3つの支持台31,32,33から主に
構成されている。
【0005】入力側ファイバ支持台32には、入力側調
芯用光ファイバを固定するためのフェルール34が取り
付けられており、また出力側ファイバ支持台33には、
光導波路同士の間隔と同じ間隔で2本の調芯用光ファイ
バをそれぞれ固定するためのフェルール35,36が取
り付けられている。
【0006】さらに、図示していないが、入力側ファイ
バ支持台31と出力側ファイバ支持台33は、それぞれ
光導波路素子20の光導波路の並列方向に移動自在に設
けられていると共に、所望の距離を移動させ固定できる
移動手段が設けられている。
【0007】調芯用光ファイバには、入力側に1本のS
MF(シングルモードファイバ)が用いられており、出
力側に光導波路と大まかに調芯(以下、「粗調芯」と称
する。)される1本のGIF(グレーデッドインデック
スファイバ)と、厳密に調芯(以下、「微調芯」と称す
る。)される1本のSMFとが用いられている。
【0008】この調芯装置を用いて光導波路と調芯用光
ファイバとを調芯するに際しては、入力側ファイバ支持
台32を移動してSMFと、光導波路素子20の入力側
の光導波路との概略位置合せをした後、出力側ファイバ
支持台33を移動してGIFと、光導波路素子20の出
力側の光導波路の1番ポートとの概略位置合せを行い、
その光導波路から入力した被測定光の強度のピークを検
出するピーク調芯を行う。そして、大まかなピークを検
出できたら、その光導波路との微調芯をSMFにて行う
ため、出力側のSMFをGIFの位置まで移動する。
【0009】この移動量は出力側のGIFとSMFがセ
ットされたギャップ(フェルールの間隔)分移動する。
移動後、微調芯してピークを検出できたら、さらにSM
Fを光導波路素子20の光導波路のピッチ(ΔL)分移
動する。これを、光導波路素子20のポートの数だけ繰
り返して全ての光導波路の光学特性を測定する。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
光導波路と光ファイバとの調芯方法は、光導波路素子2
0のポートの数だけSMFを移動して光学特性を測定す
るため、光導波路素子20のポートの数が増えるとその
数に応じて比例的に調芯用SMFの移動数が増える。こ
のため、SMFの移動に時間が掛かり特性評価も時間が
掛かるという問題があった。
【0011】また、毎回、SMFを光導波路のピッチ
(ΔL)分移動させるため、すなわちSMFの微調芯の
時の移動量と比べて遥かに大きなポート間の移動を毎回
行うため、移動後の光導波路素子20のポートに対する
位置ずれが大きくなり、微調芯時の移動範囲が大きくな
って、ポート数に比例してピーク検出・調芯に時間が掛
かるという問題があった。
【0012】そこで、本発明の目的は、光導波路素子の
ポート数が増えても調芯に掛かる時間が比例的に増えな
い光導波路と光ファイバとの調芯方法を提供することに
ある。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に請求項1の発明は、光導波路素子に複数本等間隔で並
列に形成された光導波路と光ファイバとを調芯する調芯
方法において、少なくとも1本の粗調芯用光ファイバ及
び複数本の微調芯用光ファイバを、上記光導波路の間隔
に合わせて形成された光ファイバアレイに配列し、任意
の光導波路と上記粗調芯用光ファイバとを調芯した後、
上記光ファイバアレイを上記光導波路の並列方向に移動
させて上記光導波路と上記微調芯用光ファイバとを調芯
する方法である。
【0014】請求項2の発明は、上記構成に加え、上記
光ファイバアレイを上記光導波路の間隔のn倍分(n=
1,2,3…)移動させ、上記任意の光導波路と上記微
調芯用光ファイバとを調芯する方法である。
【0015】請求項3の発明は、上記構成に加え、上記
光ファイバアレイを移動させて上記任意の光導波路と上
記微調芯用光ファイバとを調芯した後、他の光導波路と
該光導波路に対向する微調芯用光ファイバとを順次調芯
する方法である。
【0016】請求項4の発明は、上記粗調芯用光ファイ
バのコアの直径が、上記微調芯用光ファイバのコアの直
径よりも大きいものを用いる方法である。
【0017】請求項5の発明は、上記粗調芯用光ファイ
バとしてGIFを用い、上記微調芯用光ファイバとして
SMFを用いる方法である。
【0018】上記構成によれば、粗調芯用光ファイバと
複数の微調芯用光ファイバとが等間隔で配列されている
ので、任意の光導波路と粗調芯用光ファイバを調芯した
後、その間隔のn倍分(n=1,2,3…)移動させる
ことにより、全ての光導波路と微調芯用光ファイバとが
ほぼ調芯される。
【0019】また、粗調芯用光ファイバの直径が、微調
芯用光ファイバの直径よりも大きいものを用いることに
より、この粗調芯用光ファイバと調芯される任意の光導
波路とのずれ方向・量が分かるので狭い移動範囲で調芯
できると共に、粗調芯用光ファイバよりもコアの直径が
小さい微調芯用光ファイバを用いて、光導波路と高精度
で調芯できる。
【0020】
【発明の実施の形態】次に、本発明の好適一実施の形態
を添付図面に基づいて詳述する。
【0021】図1に本発明にかかる調芯装置の概略図を
示す。
【0022】図1に示すように、この調芯装置は、光導
波路素子20と、この光導波路素子20の入力側と調芯
されるSMF(シングルモードファイバ)からなる入力
側調芯用光ファイバ15と、この光導波路素子20の出
力側と調芯される出力側調芯用光ファイバとを、それぞ
れ支持する3つの支持台11,12,13から主に構成
されている。
【0023】入力側ファイバ支持台11には、入力側調
芯用光ファイバ15を固定するフェルール14が取り付
けられており、また出力側ファイバ支持台13には、出
力側調芯用光ファイバを光導波路同士の間隔と同じ間隔
で固定する光ファイバアレイ10が取り付けられてい
る。
【0024】さらに、図示していないが、入力側ファイ
バ支持台11と出力側ファイバ支持台13は、それぞれ
光導波路素子20の光導波路の並列方向に移動自在に設
けられていると共に、所望の距離を移動させ固定できる
移動手段が設けられている。
【0025】光導波路素子20は、図2に示すように、
入力側の1本の光導波路21が数段階にY分岐されて出
力側でN本、例えば8本の光導波路22,…29が等間
隔(ΔL)で並列に形成されたNo.1からNo.8のポートを
備えている。
【0026】また、光ファイバアレイ10は、図3に示
すように、光導波路の本数と同じ本数のSMF(シング
ルモードファイバ)からなる微調芯用光ファイバ4a,
…4h、及び1本のGIF(グレーデッドインデックス
ファイバ)からなる粗調芯用光ファイバ3を、光導波路
同士の間隔と同じ間隔(ΔL)の等間隔で把持できるよ
うになっている。
【0027】具体的には、図4に示すように、光ファイ
バアレイ10は、光ファイバ3,4a,…4hを収容す
るためのV溝2がΔLの等間隔で9本並列に形成された
下板1と、そのV溝2内に収容された光ファイバ3,4
a,…4hを押えて固定するための上板5とから構成さ
れており、一端側に形成されたV溝2内に粗調芯用光フ
ァイバ3が収容され、さらにその粗調芯用光ファイバ3
の隣のV溝2から他端側のV溝2内にNo.1からNo.8の微
調芯用光ファイバ4a,…4hが順に収容されている。
【0028】次に、本発明にかかる光導波路と光ファイ
バとの調芯方法を作用と共に説明する。
【0029】この調芯装置を用いて光導波路と光ファイ
バとを調芯するに際しては、光導波路素子20、入力側
調芯用光ファイバ15及び出力側調芯用光ファイバ3,
4a,…4hをそれぞれ所定の支持台11,12,13
に取り付ける。
【0030】そして、入力側ファイバ支持台11を移動
して入力側調芯用光ファイバ15と、光導波路素子20
の入力側の光導波路21との概略位置合せをした後、入
力側調芯用光ファイバ15から光導波路素子20に被測
定光を入力すると共に、出力側ファイバ支持台13を移
動して粗調芯用光ファイバ3と、光導波路素子20の出
力側のNo.1の光導波路22との概略位置合せを行い、そ
の光導波路22から入力した被測定光の強度のピークを
検出するピーク調芯を行う。
【0031】こうして大まかなピークを検出できたら、
その光導波路22との微調芯をSMFにて行うため、N
o.1の微調芯用光ファイバ4aをΔLの距離分、No.1の
光導波路22側に移動する。
【0032】このとき、光ファイバアレイ10のピッチ
はサブミクロン(1μm以下)の精度で形成されてお
り、かつピッチから移動量も決定されるので、光ファイ
バアレイ10を移動した後の光導波路22のコアとNo.1
の微調芯用光ファイバ(SMF)4aのコアとの位置ず
れが小さくなり、高精度の位置決めが可能となる。
【0033】さらに、光導波路22のコアとNo.1の微調
芯用光ファイバ(SMF)4aのコアとの位置ずれは小
さいので、狭いサーチ範囲でピーク検出が可能となる。
従って、調芯時間を短縮することができる。
【0034】そして、No.1の微調芯用光ファイバ4aに
てピーク検出ができたら、続いて、No.2の光導波路23
とNo.2の微調芯用光ファイバ4bとの微調芯を行う。N
o.2の微調芯用光ファイバ4bにてピーク検出ができた
ら、以下、No.3の光導波路24とNo.3の微調芯用光ファ
イバ4c、No.4の光導波路25とNo.4の微調芯用光ファ
イバ4d、No.5の光導波路26とNo.5の微調芯用光ファ
イバ4e、No.6の光導波路27とNo.6の微調芯用光ファ
イバ4f、No.7の光導波路28とNo.7の微調芯用光ファ
イバ4g、No.8の光導波路29とNo.8の微調芯用光ファ
イバ4hを、同様の工程を経て順次調芯を行い、光導波
路素子20の光学特性が測定される。
【0035】以上説明したように、本発明は、光導波路
素子20の任意のポートと粗調芯用光ファイバ3とを概
略位置合せした後、光ファイバアレイ10をポートの間
隔分移動させることにより、全てのポートに微調芯用光
ファイバ4a,…4hが概略位置合せされるので、微調
芯用光ファイバ4a,…4hの僅かな移動で、それぞれ
の光導波路22,…29と微調芯用光ファイバ4a,…
4hとを調芯できる。これにより、光導波路素子のポー
ト数が増えても、微調芯用光ファイバとの調芯に掛かる
時間が比例的に増えない。
【0036】さらに、粗調芯用光ファイバ3として、コ
ア径が大きくかつコアの屈折率が変化したGIFを用い
ることにより、この粗調芯用光ファイバ3と調芯される
任意の光導波路との位置ずれ方向・量が分かるので狭い
移動範囲で調芯できると共に、微調芯用光ファイバ4
a,…4hとしてコア径の小さなSMFを用いて、光導
波路22,…29と高精度で調芯できる。
【0037】また、本発明は、光学特性が測定される光
導波路素子20が1入力・多数出力のスプリッタ素子
(1×nスプリッタ)の場合だけでなく、多数入力・多
数出力のスプリッタ素子(n×nスプリッタ)の入力側
にも適用することで、同様な効果が得られる。さらに、
出力側で全て等間隔な光導波路22,…29が形成され
た光導波路素子20だけでなく、部分的に等間隔な光導
波路が形成されている光導波路素子に適用しても良い。
【0038】また、本実施の形態では、光導波路22,
…29又は光ファイバ3,4a,…4hの間隔が誤差を
含むものとして調芯方法を説明したが、これらのピッチ
を正確にΔLの等間隔で形成することができれば、No.1
の光導波路22とNo.1の微調芯用光ファイバ4aとを調
芯することにより、全ての光導波路22,…29と微調
芯用光ファイバ4a,…4hとを調芯できる。
【0039】尚、本実施の形態では、測定する光導波路
素子20のポート数と同じ本数の微調芯用光ファイバ
(SMF)4a,…4hを収容した光ファイバアレイ1
0を用いて調芯する方法を説明したが、この微調芯用光
ファイバ(SMF)の本数を光導波路の本数よりも多く
配列しても良い。さらに、粗調芯用光ファイバ(GI
F)も2本以上配列しても良い。
【0040】また、本実施の形態では、粗調芯用光ファ
イバ(GIF)3を光ファイバアレイ10の端側のV溝
2に収容させたが、微調芯用光ファイバ(SMF)で挟
んで収容させても調芯は可能である。
【0041】
【発明の効果】以上要するに本発明によれば、光導波路
素子の任意のポートと粗調芯用光ファイバとを概略位置
合せした後、光ファイバアレイをポートの間隔分移動さ
せることにより、全てのポートに微調芯用光ファイバが
概略位置合せされるので、光導波路素子のポート数が増
えても、微調芯用光ファイバとの調芯に掛かる時間が比
例的に増えない。
【0042】さらに、光ファイバアレイの移動量をごく
わずか(数10μm以下)にできるため、調芯用光ファ
イバの移動時間を少なくできると共に、微調芯用光ファ
イバによるサーチ範囲を狭くできるため、調芯時間を短
縮できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態を示す調芯装置の概略図
である。
【図2】図1の調芯装置で調芯される光ファイバ素子の
拡大図である。
【図3】図1の調芯装置に設けられた光ファイバアレイ
の拡大図である。
【図4】図3の光ファイバアレイの断面図である。
【図5】従来の調芯装置の斜視図である。
【符号の説明】
3 粗調芯用光ファイバ(GIF:グレーデッドインデ
ックスファイバ) 4a,…4h 微調芯用光ファイバ(SMF:シングル
モードファイバ) 10 光ファイバアレイ 20 光導波路素子 21,…29 光導波路

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光導波路素子に複数本等間隔で並列に形
    成された光導波路と光ファイバとを調芯する調芯方法に
    おいて、少なくとも1本の粗調芯用光ファイバ及び複数
    本の微調芯用光ファイバを、上記光導波路の間隔に合わ
    せて形成された光ファイバアレイに配列し、任意の光導
    波路と上記粗調芯用光ファイバとを調芯した後、上記光
    ファイバアレイを上記光導波路の並列方向に移動させて
    上記光導波路と上記微調芯用光ファイバとを調芯するこ
    とを特徴とする光導波路と光ファイバとの調芯方法。
  2. 【請求項2】 上記光ファイバアレイを上記光導波路の
    間隔のn倍分(n=1,2,3…)移動させ、上記任意
    の光導波路と上記微調芯用光ファイバとを調芯する請求
    項1に記載の光導波路と光ファイバとの調芯方法。
  3. 【請求項3】 上記光ファイバアレイを移動させて上記
    任意の光導波路と上記微調芯用光ファイバとを調芯した
    後、他の光導波路と該光導波路に対向する微調芯用光フ
    ァイバとを順次調芯する請求項1又は2に記載の光導波
    路と光ファイバとの調芯方法。
  4. 【請求項4】 上記粗調芯用光ファイバのコアの直径
    が、上記微調芯用光ファイバのコアの直径よりも大きい
    請求項1から3のいずれかに記載の光導波路と光ファイ
    バとの調芯方法。
  5. 【請求項5】 上記粗調芯用光ファイバとしてGIFを
    用い、上記微調芯用光ファイバとしてSMFを用いる請
    求項1から3のいずれかに記載の光導波路と光ファイバ
    との調芯方法。
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