JP2002161991A - 検査装置用電極付き弁座 - Google Patents

検査装置用電極付き弁座

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JP2002161991A
JP2002161991A JP2001229568A JP2001229568A JP2002161991A JP 2002161991 A JP2002161991 A JP 2002161991A JP 2001229568 A JP2001229568 A JP 2001229568A JP 2001229568 A JP2001229568 A JP 2001229568A JP 2002161991 A JP2002161991 A JP 2002161991A
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valve
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reactor
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Georges Cronimus
クロニミュス ジョルジュ
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De Dietrich et Cie SA
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De Dietrich et Cie SA
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    • F16K51/00Other details not peculiar to particular types of valves or cut-off apparatus
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F16ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
    • F16KVALVES; TAPS; COCKS; ACTUATING-FLOATS; DEVICES FOR VENTING OR AERATING
    • F16K37/00Special means in or on valves or other cut-off apparatus for indicating or recording operation thereof, or for enabling an alarm to be given
    • F16K37/0025Electrical or magnetic means
    • F16K37/0041Electrical or magnetic means for measuring valve parameters
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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    • G01N27/02Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Indication Of The Valve Opening Or Closing Status (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】安価にかつ交換容易な検出用電極を備えた弁座
を提供する。 【解決手段】 反応装置(1)、タンク、または塔(蒸
留塔や分留塔等)のような容器に取り付ける弁(11)
又はバルブ等の弁座(23)であって、少なくとも一本
の電極(24)を有する。該電極(24)は、この弁座
上に取り付けられるか、またはこの弁座に組み込まれて
いて、弁座(23)と適合可能な導電性材料でできてお
り、任意の計測または検出装置(18)と接続できるよ
うになっている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明が属する技術分野】本発明は、弁、バルブもしく
は同様のものの弁座に関し、特に、通常「エナメル・テ
スト」と呼ばれるエナメル保護層の欠陥を検出する検出
装置用の電極を備えている弁座に関する。
【0002】本発明による弁座は、反応装置、タンク、
塔(蒸留塔や分留塔等)、又はその他の容器の排出弁に
使われるが、これらの容器の内部がエナメル保護層で被
覆されており、しかもその被覆に切れ目がないことを検
証しなければならないような場合に特に有利に使われ
る。
【0003】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】化学産
業においては、試薬、又は特に酸性又は腐食性のある製
品を時おり使用したり保存したりしなければならない
が、そのような物質によって鋼鉄性の内壁が浸食される
か又は破損して、反応装置、タンク、塔、その他の従来
の容器が使用できなくなることがある。
【0004】このような場合、一つの解決策は、使用す
る反応装置、あるいはその他の容器の内壁をエナメル製
の保護層で覆うことである。この皮膜は、不活性で非常
に高い耐性を有し、反応装置または容器を内容物による
浸食から確実に保護する。
【0005】しかしながら、人体、資材、及び環境にと
って有害となり得る容器破損の危険および漏出の危険の
一切を回避する為には、このエナメル製の保護皮膜が無
傷であることを常に確実にしておかなければならない。
【0006】従って、エナメル保護層の状態の常時点検
を実施する必要がある。その為、工業関係者は、エナメ
ル保護層の欠陥の検出装置を頼りにしており、通常「エ
ナメル・テスト」と呼ばれている。
【0007】エナメル塗装に欠陥があれば、それを検出
する為に、そのような装置には三本の電極が備わってい
なければならない。一本は検証の対象となる容器の金属
アースに接続され、他の二本はその容器の中の液体と接
触している。
【0008】液体と接触している二本の電極は、その二
本の間の基準電流を計測するものであり、それによっ
て、検証すべき反応装置内の溶液の導電率を測定する事
ができる。エナメル保護層に切れ目がないことを検証す
る為には、この装置を用いて、これら二本の電極全体
と、三本目の電極による反応装置の金属アースとの間に
存在する電流の強さを計測する。エナメル塗装に欠陥が
あれば漏洩電流が検出されるが、その漏洩電流の強度
は、エナメル塗装のない区域の表面積に比例している。
【0009】このような装置により、容易かつ連続的に
エナメル保護層が無傷であることを検査することができ
る。欠陥があれば、それを非常に早期に検出することが
できるので、危険な漏出を起こす程の悪化は避けられ、
修理もずっと容易で安価に行うことができる。
【0010】エナメル塗装された表面全体を検証できる
ようにする為には、液体と接触する二本の電極は、検査
すべき容器内の出来るだけ低いところに据えなければな
らない。このため、電極は、容器の最も低い部分である
排出弁のところに一般的に据えられる。
【0011】従来技術では、これらの電極は、排出弁の
ピストンの閉塞ヘッドの上面に組み込まれており、該ピ
ストンは、弁の開閉に応じて、高い位置と低い位置との
間を移動する。これらの電極を「エナメル・テスト」の
検出装置につなぐ導線は、ピストンのロッドの中を従来
のように通っている。
【0012】排出弁のピストンは、容器内に存在する浸
食性の媒質と常時接触しているので、ピストンもまた、
エナメル塗装された保護皮膜で覆われていなければなら
ない。ところで、ピストンの閉塞ヘッドの上面に組み込
まれる電極を製造するためには、このエナメル保護層に
は特別な導電性材料を使うことが不可欠であり、導電性
材料の膨張率がエナメルの膨張率と適合し、かつその化
学的耐性も同様なものでなければならない。
【0013】これらの電極の材料は、一般にプラチナで
あり、プラチナの耐性が反応媒質の腐食作用に耐えるの
に不十分である場合には、イリジウムとなる。従って、
これらの電極は、このような材料を使用し、かつ製作が
困難であることから、かなり高価なものとなる。
【0014】更に、これらの電極に問題が発生した場
合、あるいは、反応装置において最も多様な浸食(摩
耗、機械的衝撃など)に最も直に晒されている部分であ
るピストンのエナメルに問題が発生した場合には、閉塞
ピストンの全体を交換する必要がある。ところが、この
ピストンは、完全にエナメル塗装されていなければなら
ず、その費用はかなり高いのである。
【0015】本発明の目的は、より安価で、交換が容易
で、例えば「エナメル・テスト」の検出装置を備えたエ
ナメル塗装され容器の中でも使える、一体型電極付き装
置を提案することである。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明の課題を解決する
手段は、以下の通りである。第1に、例えば反応装置
(1)、タンク、または塔のような容器に取り付ける
弁、バルブもしくは同様のものの弁座(23)であっ
て、少なくとも一本の電極(24)を有し、該電極は、
この弁座上に取り付けられるか、またはこの弁座に組み
込まれており、弁座と適合可能(混合しても化学反応を
起こさない)な導電性材料でできており、任意の計測ま
たは検出装置(18)と接続できるようになっているこ
とを特徴とする弁座。第2に、フッ素重合体からできて
いることを特徴とする、第1に記載の弁座。第3に、ガ
ラス入PTFE(ポリテトラフルオロエチレン)製であ
ることを特徴とする、第2に記載の弁座。第4に、強化
PFA(パーフルオロアルコキシアルカン)製であるこ
とを特徴とする、第2に記載の弁座。第5に、容器の排
出弁(11)上に据える為のものであることを特徴とす
る、第1から4のいずれか一つに記載の弁座。第6に、
エナメル保護層の欠陥の検知装置(18)と協働させて
用いることを特徴とする、第1から5のいずれか一つに
記載の弁座。第7に、二本の電極(24)を備えること
を特徴とする、第1から6のいずれか一つに記載の弁
座。第8に、少なくとも一本の電極(24)が、内容物
(8)と接触できるように配置されていることを特徴と
する、第1から7のいずれか一つに記載の弁座。第9
に、少なくとも一本の電極(24)が、成形の際に挿入
され、かつ弁座(23)と一体の部分である、導電性の
固定接点としての形態を呈することを特徴とする、第1
から8のいずれか一つに記載の弁座。第10に、少なく
とも一本の電極(24)が、弁座(23)の厚みの内部
を通る導線(25)を介して、任意の計測または検出装
置(18)に接続できることを特徴とする、第1から9
のいずれか一つに記載の弁座。第11に、弁座(23)
に接触可能な位置に配置されている少なくとも一つのコ
ネクタ(31)を有し、該コネクタによって、この少な
くとも一本の電極(24)を、任意の装置(18)に接
続することができる一本の外部導線(22)を介して、
任意の装置に接続することができることを特徴とする、
第1から10のいずれか一つに記載の弁座。第12に、
コネクタ(31)を、弁座(23)の、接触可能な同一
区域にまとめて、ただ一つの接続区域を形成することを
特徴とする、第11に記載の弁座。第13に、少なくと
も一本の電極(24)が、グラファイト含有テフロン
(登録商標)を含むことを特徴とする、第1から12の
いずれか一つに記載の弁座。第14に、少なくとも一本
の電極(24)が、金属板(32)を有し、該金属板は
導線(25)に接続され、グラファイト含有テフロン
(登録商標)のブロック(33)の中に、複製型成型に
より包み込まれていることを特徴とする、第13に記載
の弁座。第15に、金属板(32)は波打つような形状
であり、複数の穿孔(34)が空けられていることを特
徴とする、第14に記載の弁座。
【0017】この技術的問題を解決する為の本発明に係
る弁座は、少なくとも一本、好ましくは二本の電極を備
えており、それらの電極は、この弁座上に取り付けられ
るか、またはこの弁座に組み込むことができるものであ
る。例えば、但しそれに限定されるものではないが、こ
れらの電極は、エナメル・テストなどの、エナメル製被
覆が無傷であることを検査する検査装置の内部で用いる
ことができる。
【0018】本発明の弁座は、例えばテフロン(登録商
標)加工された材料のようなフッ素重合体、好ましくは
ガラス入テフロン(登録商標)製のもの、または、強化テ
フロン(登録商標)製のものにより製作される。このよう
にして、弁座は、媒質による浸食に耐えることができ、
また、ピストンの閉塞ヘッドが低い位置で弁座に当接す
る場合には、押圧により完全な気密性を確保できる。
【0019】各電極は、弁座の材質と適合する導電性材
料で製作されており、弁座本体に取り付けられたり、そ
の内部に組み込まれることができる。従って、電極は、
グラファイト含有テフロン (登録商標)から製作できれ
ば好ましいが、それに限定されるわけではない。このよ
うな電極は、最も腐食性のある媒質にも完全に適応した
ものであり、その費用は、ピストンのエナメルに含まれ
るプラチナ製またはイリジウム製の電極の費用よりも際
立って少額となる。
【0020】更に、電極の交換を要する問題が発生して
も、本発明による弁座は、弁を取り外して再び取り付け
直すことにより、取り外しと再取り付けが非常に容易か
つ非常に速やかに行えるし、その際に、弁のピストンを
外す必要もない。エナメル塗装はされておらず、フッ素
重合体から実現されることから、本発明による弁座は費
用がかからず、少なくともエナメル塗装されたピストン
よりはずっと安価である。
【0021】本発明による弁座は、例えば、「エナメル
・テスト」タイプの、エナメル被膜の状態を検査する検
査装置と協働して使用することもできるが、それに限定
されるものではない。
【0022】その場合、本発明による弁座は、検査対象
となる容器の排出弁上に据えつけられ、完全な検査を実
現する為には、その位置はできるだけ低いところにな
る。そこでの二本の電極は、内容物と接触するように弁
座の壁の上部と高さを揃えた、導電性の固定接点電極の
形で備えつけられるのが望ましい。
【0023】
【発明の実施の形態】本発明の他の特徴と利点は、添付
図面を参照しつつ、以下の詳細な説明を読むことにより
明らかとなっていく。
【0024】図1は、エナメル塗装された化学反応装置
の概略的縦断面図であり、その排出弁上には、エナメル
・テスト検査装置用の電極を備えた本発明による弁座が
ある。
【0025】図2は、図1の反応装置の下部の拡大断面
図であり、排出弁と弁座とをより詳細に示していて、エ
ナメル・テストの電極が本発明による弁座に収納されて
いる。
【0026】図3は、従来型のエナメル・テスト検査装
置が設置された、エナメル塗装された化学反応装置の概
略的縦断面図であり、排出弁の可動ピストンの閉塞ヘッ
ド内に従来技術により配置された電極を備えている。
【0027】図4は、図3の反応装置の下部の拡大断面
図であり、排出弁と可動ピストンとをより詳細に示して
いて、従来技術によるエナメル・テストの電極がピスト
ン上に配置されている。
【0028】図5は、本発明による弁座の一つの実施態
様の一部切断斜視図であり、該弁座は例えばエナメル・
テスト用の電極を備えている。
【0029】図6は、本発明の弁座の別の実施態様の縦
断面図である。
【0030】図7は、図6に示された弁座の実施態様の
平面図である。
【0031】図8は、本発明による弁座内に組み込むこ
とのできる、例えばエナメル・テスト用の電極の実施態
様の透視図である。
【0032】図1〜8を参照しつつ、本発明による一体
型電極付き弁座をこれから詳細に説明していく。それぞ
れの図に示された構成部品で同じものは、同じ参照番号
を付することにする。
【0033】図3及び図4が示す反応装置は、通常「エ
ナメル・テスト」と呼ばれるエナメル保護層を検査する
検査装置を備えており、排出弁のピストンの中には従来
技術により電極が配置されている。
【0034】図3に示される化学反応装置1には、三つ
の上部開口2、3及び4が設けられており、それら三つ
の上部開口は、様々な反応体や試薬、溶媒や触媒を反応
装置1に導入したり、各種の器具や付属品(攪拌器、波
避け、探針、抜取器等)を挿入したりする役目を果たす
ことができる。
【0035】反応装置1に備え付けられた機械的な攪拌
器5の棒6は、中央の上部開口3を通り、反応装置の下
部に向かって浸り込んでいる。棒6の末端にある三枚の
傾斜翼7は、反応装置の外に配置された駆動モーターに
よって棒が回転駆動すると、反応装置1の内容物(反応
液、反応媒質など)8を攪拌する。但し、その駆動モー
ターは図示されていない。
【0036】非常に腐食性の強い反応媒質等の内容物8
の浸食に耐えられるようにする為には、反応装置1の内
面を完全にエナメル保護層9で覆うことが出来る。同様
に、反応媒質等の内容物8と接触する可能性のある全表
面にもエナメル塗装をする必要がある。棒6と攪拌器5
の傾斜翼7については言うまでもない。
【0037】従来の方法では、反応装置1には、その最
も低い部分に孔10があり、そこに排出弁11が備えら
れていて、それにより内容物を完全に排出することがで
きる。
【0038】排出弁11には、固定された弁本体12
と、その弁本体内に可動式ピストン13があり、該可動
式ピストンは、排出弁11が開いた時には上がった位
置、閉じた時には下がった位置というように二つの位置
の間を動くようになっている。可動式ピストン13に
は、ロッド14と閉塞ヘッド15があるが、この閉塞ヘ
ッドもエナメル被覆で覆われている。
【0039】図1〜図4に示された閉鎖時の下がった位
置では、反応装置の孔10と排出弁11の弁本体12の
間に介在する弁座16の上部に、閉塞ヘッド15が当接
している。このようにして、反応装置1の排出弁11
を、気密性を保って確実に閉鎖することができる。
【0040】図示されてはいないが、開いた時の上がっ
た位置で、可動式ピストン13の閉塞ヘッド15は高い
方に動かされ、排出路をあけるので、反応装置1中の液
体等の内容物8は、弁座16を通り、弁本体12を過ぎ
て、排出孔17に至るように流れ出す。
【0041】エナメル塗装された反応装置1は、通常
「エナメル・テスト」と呼ばれる、エナメル保護層9の
切れ目の無さを検査する検出装置18を備えている。
【0042】この「エナメル・テスト」検出装置18に
は三本の電極があり、そのうち一本19は反応装置1の
金属アースに接続され、他の二本20はその容器の中に
封入された液体等の内容物8と接触している。
【0043】反応装置1のどのような場所に欠陥があっ
てもそれを検知できるように、二本の電極20を反応装
置内部のできるだけ低いところに据えなければならな
い。図3及び図4に示された従来技術によると、該電極
は、排出弁11の可動式ピストン13の閉塞ヘッド15
の上面に組み込まれている。
【0044】導線21は、可動式ピストン13のロッド
14の中を通っており、電極20を「エナメル・テス
ト」検出装置18の外部導線22に接続する。
【0045】可動式ピストン13の閉塞ヘッド15は、
容器内に存在する溶液等の内容物8と常に接触している
ので、これもまたエナメル塗装された保護皮膜に覆われ
ている。このエナメル保護層には特別な導電性材料を使
うことが不可欠であり、ピストンの閉塞ヘッド15の上
面に組み込まれる電極20を製造する為には、エナメル
と適合し、かつエナメルの圧力に耐えられるものでなけ
ればならない。
【0046】これらの電極の材料は、一般にプラチナで
あり、プラチナの耐性が反応媒質等の内容物8の腐食作
用に耐えるのに不十分である場合には、イリジウムとな
る。これらの電極20はかなり高価なものである。
【0047】更に、問題が発生した場合には、可動式ピ
ストン13の全体を交換する必要があるが、エナメル加
工されているため、割合高くつく。
【0048】図1及び図2に示されているのは、本発明
による電極付き弁座を備えた反応装置1である。
【0049】反応装置1は、図3及び図4のものと同じ
ものである。該反応装置1には同様に上部開口2、3及
び4が設けられており、末端に三枚の傾斜翼7のあるほ
ぼ垂直な棒6を有する機械的な攪拌器5を備えている。
その内面は、エナメル保護層9で覆われていて、反応媒
質等の内容物8の浸食から保護している。
【0050】反応装置は最も低い部分に孔10を有し、
該孔には、排出弁11が備えられている。該排出弁に
は、従来のように、固定された弁本体12と可動式ピス
トン13がある。可動式ピストンは、弁本体の内部を、
閉じた時の低い位置と、開いた時の高い位置との間で移
動できるようになっており、開いた時には弁本体12の
排出孔17から内容物が出ていくようになっている。
【0051】弁座23は、反応装置のエナメル塗装され
た孔10と、固定された弁本体12との間に介在してい
る。
【0052】図1及び図2に示されたような閉じた時の
低い位置では、可動式ピストン13の閉塞ヘッド15が
弁座23の上部に当接し、反応装置1の排出弁11を気
密性を保って確実に閉鎖する。
【0053】エナメル塗装された反応装置1は、エナメ
ル保護層9に切れ目のないことを検査する「エナメル・
テスト」の検出装置18も備えている。この装置は三つ
の電極に接続されていなければならない。そのうちの一
本の電極19は、反応装置1の金属アースと接触してお
り、他の二つは液体等の内容物8と接触している。
【0054】本発明によると、弁座23には少なくとも
一本の電極24があり、それは弁座23上に取り付けら
れるか、またはこの弁座23に組み込まれている。図1
及び図2、図5〜図7に示された各実施様態では、本発
明の弁座の電極は二本である。しかしながら、それは例
示の為のものであり、いかなる場合にも限定的なもので
はない。どのような用途かにより、弁座の電極の数は変
わりうる。
【0055】「エナメル・テスト」タイプの装置と協働
して使用する場合には、本発明による弁座23は、検査
すべき反応装置に封入された溶液等の内容物8と接触す
るように、弁座の壁の上部に二本の電極24が配置され
ていることが望ましい。
【0056】本発明の弁座23を反応装置1の内部に設
置する場合には、弁座の壁の上部は、反応装置1の内部
の最も低いところに位置する部分にあれば、特に有利で
ある。従って、この高さに配置された電極24により、
反応装置のどの部分にあるエナメル塗装の欠陥もすべて
検知できる。それよりも上にある可動式ピストン13の
閉塞ヘッド15のエナメル塗装の検査さえも可能であ
る。
【0057】導線25は、弁座23の中を通っており、
電極24を外部導線22に、そして、そこを経由して
「エナメル・テスト」の検出装置18に接続する。
【0058】これから図5から図7を参照しつつ、本発
明の弁座23を更に詳細に説明していく。
【0059】弁座23は、全体的にほぼ管状で、中空の
内部空間27を規定する形状のシリンダ本体26を有し
ており、可動式ピストン13の可動ロッド14を受入
れ、排出弁11が開放位置にある時には流体を通過させ
られるようにするのに適している。
【0060】シリンダ本体26の内壁の上部には、円錐
形の傾斜のある面取り部分28があると好ましく、該面
取り部分は、閉塞ヘッド15を弁座23に接触させるこ
とでより良く嵌合させ、排出弁11が閉鎖位置にある時
に完全な気密性を確保する。
【0061】シリンダ本体26の下部の延びる先には周
辺フランジ29があり、該周辺フランジは、弁座23の
外側に向かって、例えばシリンダ本体26にほぼ直角な
方向に伸びている。弁座23を反応装置1上に設置する
際には、このフランジ29を反応装置の孔10の鍔と弁
本体12の入口の管の鍔との間に挟むことにより、弁座
23が保持される。
【0062】完全な気密性を確保する為に、フランジ2
9には、平らな環状継手二つを受け入れられるように側
壁をくり抜いた外周溝30が二本あると好ましい。
【0063】シリンダ本体26とフランジ29の、寸
法、形状、及び傾斜は、図示し前述したものと異なって
いてもよい。これらの要素の選択は、孔10と、取り付
ける排出弁11の要素に応じて、弁座23ができるだけ
最適のものになるように行われる。
【0064】本発明によれば、弁座23には、少なくと
も一本、好ましくは二本の電極24があり、その電極
を、なんらかの方法で弁座に取り付けられるか固定され
る。一本または複数の導線25は、これらの電極をなん
らかの装置、例えば、「エナメル・テスト」の検出装置
18に接続することができる。
【0065】図5から図7に示された推奨実施様態によ
ると、弁座23には、弁座の壁の上部に組み込まれた二
本の電極24がある。これらの電極24の形状は、成形
の際に挿入された導電性の固定接点電極として、あるい
は材料に混ぜ合わせて弁座23に組み込まれた一部分と
しての形をとるのが望ましい。それらの電極は、内容物
8と接触するように、弁座の内壁の上部と同じ高さに露
出する。
【0066】他のもう一つの変形例によると、各電極
は、特定の区域を弁座の材料で構成して、導線を封入あ
るいは挿入してもよい。
【0067】電極24から出た導線25を、例えば、弁
座23の厚みの内部を通し、弁座23に接触可能な位置
に配置されたコネクタ31に届くようにしてもよい。こ
れらのコネクタ31の位置は、好ましくはフランジ29
の側壁の中であることが望ましく、そうすることによ
り、検出装置18に接続することができる外部導線22
を介して、電極24を検出装置に接続することができ
る。
【0068】図7に示された推奨実施様態によると、コ
ネクタ31は、有利には、弁座23の、接触可能な同一
区域にまとめることができる。その区域は、例えばフラ
ンジ29の同一区域であって、ただ一つの接続区域を形
成する。
【0069】本発明による弁座は、例えばテフロン(登
録商標)加工された材料のようなフッ素重合体から実現
されることが望ましい。このようにして、弁座は、媒質
からの浸食に耐えることができ、また、可動式ピストン
13の閉塞ヘッド15が下がった位置で弁座の上に当接
するとき、押圧により、完全な気密性を確保することが
できる。従って、例えばガラス入PTFE(ポリテトラ
フルオロエチレンpolytetrafluoroethilene)か、内部
を鋼鉄製の鉄筋で補強したPFA(パーフルオロアルコ
キシアルカン)を材料にしてもよい。
【0070】その場合、各電極24の材質は、弁座23
の材料と適合可能な導電性材料であり、弁座上に取り付
けたり、あるいは、弁座本体の中に組み込んだりするこ
とが可能となる。また、その材料はグラファイト含有テ
フロン(登録商標)であれば望ましいが、それに限ると
いうわけではない。例えば黒鉛とか貴金属のような他の
材料を使うことも考えてもよい。
【0071】本発明の弁座23に組み込み可能な電極の
一例を特に図8に示したが、これは限定的なものではな
い。
【0072】電極24は金属板32を有し、該金属板
は、導線25に接続され、グラファイト含有テフロン
(登録商標)のブロック33中に、一度型をとったもの
から更に型をとって成形する複製型成形により包み込ま
れている。金属板32は波打つような形状にして、複数
の穿孔34が空いていることが望ましく、その穿孔によ
って、複製型成形の際に金属板32を通してグラファイ
ト含有テフロン(登録商標)が相互に浸透できることに
なり、金属板がよりしっかりと定着する。
【0073】図8のブロック33は、ほぼ平行六面体の
形をしているが、弁座23に組み込むのに適した形状で
あれば他のどのようなものでも構わない。該ブロックに
は、特に、図5から図7に示されたような面取りされた
表面があってもよい。
【0074】本発明による電極を備えた弁座は、「エナ
メル・テスト」タイプの検出装置と協働して用いるのに
特に適している。しかしながら、この用途に限定されて
使うものではないことは、よく理解されたい。従って、
反応媒質との接触の有無にかかわらず、電極を必要とす
る装置ならどんなタイプのものとでも使用可能である。
例えば、本発明による弁座のもう一つの他の用途とし
て、反応装置の空の状態を電極で検知できるようにする
ことも考えられる。
【0075】同様に、本発明による弁座は、エナメル塗
装された反応装置用の排出弁に限定されるものではな
い。このような弁座は、エナメル塗装の有無にかかわら
ず、例えば、反応装置、タンク、塔、その他のような極
めて多種多様な容器に取り付けることのできる非常に多
くの種類の弁に用いることができる。
【0076】
【発明の効果】本発明によれば、排出弁のピストンの閉
塞ヘッドにではなく、排出弁の弁座に検出用電極を備え
ることにより、安価にかつ交換容易な検出用電極が実現
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、エナメル塗装された化学反応装置の概
略的縦断面図であり、その排出弁には、本発明による弁
座がある。
【図2】図2は、図1の反応装置の下部の拡大断面図で
あり、排出弁と弁座とをより詳細に示している。
【図3】図3は、従来型の検査装置が設置された、エナ
メル塗装された化学反応装置の概略的縦断面図である。
【図4】図4は、図3の反応装置の下部の拡大断面図で
あり、排出弁と可動ピストンとをより詳細に示してい
る。
【図5】図5は、本発明による弁座の一つの実施態様の
一部切断斜視図であり、該弁座は例えばエナメル・テス
ト用の電極を備えている。
【図6】図6は、本発明の弁座の別の実施態様の縦断面
図である。
【図7】図7は、図6に示された弁座の実施態様の平面
図である。
【図8】図8は、本発明による弁座内に組み込むことの
できる、例えばエナメル・テスト用の電極の実施態様の
透視図である。
【符号の説明】
1 反応装置 2 上部開口 3 中央の上部開口 4 上部開口 5 攪拌器 6 棒 7 傾斜翼 8 内容物 9 エナメル保護層 10 孔 11 排出弁 12 弁本体 13 可動式ピストン 14 ロッド 15 閉塞ヘッド 16 弁座 17 排出孔 18 検出装置 19 電極 20 電極 21 導線 22 外部導線 23 弁座 24 電極 25 導線 26 シリンダ本体 27 内部空間 28 面取り部分 29 フランジ 30 外周溝 31 コネクタ 32 金属板 33 ブロック 34 穿孔
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G014 AA16 AB54 AB62 AC06 2G060 AA06 AA10 AE01 AF07 AG11 AG15 EA04 EA06 HC10 KA11 3E070 AA01 AB01 CA20 CB02 DA20 GB15 3H065 AA01 BA01 BA07 BB14 CA01

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 反応装置、タンク、または塔のような容
    器に取り付ける弁又はバルブ等の弁座であって、少なく
    とも一本の電極を有し、該電極は、この弁座上に取り付
    けられるか、またはこの弁座に組み込まれていて、弁座
    と適合可能な導電性材料でできており、任意の計測また
    は検出装置と接続できるようになっていることを特徴と
    する弁座。
  2. 【請求項2】 フッ素重合体からできていることを特徴
    とする、請求項1に記載の弁座。
  3. 【請求項3】 ガラス入PTFE製であることを特徴と
    する、請求項2に記載の弁座。
  4. 【請求項4】 強化PFA製であることを特徴とする、
    請求項2に記載の弁座。
  5. 【請求項5】 容器の排出弁上に据える為のものである
    ことを特徴とする、請求項1から4のいずれか一つに記
    載の弁座。
  6. 【請求項6】 エナメル保護層の欠陥の検知装置と協働
    させて用いることを特徴とする、請求項1から5のいず
    れか一つに記載の弁座。
  7. 【請求項7】 二本の電極を備えることを特徴とする、
    請求項1から6のいずれか一つに記載の弁座。
  8. 【請求項8】 少なくとも一本の電極が、内容物と接触
    できるように配置されていることを特徴とする、請求項
    1から7のいずれか一つに記載の弁座。
  9. 【請求項9】 少なくとも一本の電極が、成形の際に挿
    入され、かつ弁座と一体の部分である、導電性の固定接
    点としての形態を呈することを特徴とする、請求項1か
    ら8のいずれか一つに記載の弁座。
  10. 【請求項10】 少なくとも一本の電極が、弁座の厚み
    の内部を通る導線を介して、任意の計測または検出装置
    に接続できることを特徴とする、請求項1から9のいず
    れか一つに記載の弁座。
  11. 【請求項11】 弁座に接触可能な位置に配置されてい
    る少なくとも一つのコネクタを有し、該コネクタによっ
    て、この少なくとも一本の電極を、任意の装置に接続す
    ることができる一本の外部導線を介して、任意の装置に
    接続することができることを特徴とする、請求項1から
    10のいずれか一つに記載の弁座。
  12. 【請求項12】 コネクタを、弁座の、接触可能な同一
    区域にまとめて、ただ一つの接続区域を形成することを
    特徴とする、請求項11に記載の弁座。
  13. 【請求項13】 少なくとも一本の電極が、グラファイ
    ト含有テフロン(登録商標)を含むことを特徴とする、
    請求項1から12のいずれか一つに記載の弁座。
  14. 【請求項14】 少なくとも一本の電極が、金属板を有
    し、該金属板は導線に接続され、グラファイト含有テフ
    ロン(登録商標)のブロックの中に、複製型成型により
    包み込まれていることを特徴とする、請求項13に記載
    の弁座。
  15. 【請求項15】 金属板は波打つような形状であり、複
    数の穿孔が空けられていることを特徴とする、請求項1
    4に記載の弁座。
JP2001229568A 2000-07-28 2001-07-30 検査装置用電極付き弁座 Pending JP2002161991A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020085746A (ja) * 2018-11-28 2020-06-04 株式会社豊田自動織機 ステータの検査システム

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2912798B1 (fr) * 2007-02-21 2012-12-21 De Dietrich Ensemble de vidange a ouverture vers le haut et siege plat sans zones de retention pour reacteur chimique.
FR3038960B1 (fr) * 2015-07-13 2017-08-11 De Dietrich Vanne a securite anti-feu amelioree
DE102019116161A1 (de) 2019-06-13 2020-12-17 Bürkert Werke GmbH & Co. KG Ventileinheit zur Dosierung von Fluiden, Ventilbaugruppe mit Ventileinheit und Verfahren zur Prüfung eines Schließzustands einer Ventileinheit

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH501224A (de) * 1968-01-24 1970-12-31 Pfaudler Werke Ag Verfahren zur elektrischen Feststellung von Beschädigungen einer Emailschicht eines emaillierten Apparats
GB1367361A (en) * 1969-11-26 1974-09-18 Froelich M Method and apparatus for checking seals
CH558012A (de) * 1972-11-15 1975-01-15 Hoffmann La Roche Verfahren und vorrichtung zur elektrischen feststellung von beschaedigungen einer auskleidung.
GB2072853B (en) * 1980-03-31 1983-10-05 Sybron Corp Electrode probe assemblies
GB9104296D0 (en) * 1991-03-01 1991-04-17 Imi Pactrol Valve
EP0773359A1 (en) * 1995-11-08 1997-05-14 Isuzu Ceramics Research Institute Co., Ltd. Damage detecting apparatus for ceramic parts
US5912561A (en) * 1997-10-01 1999-06-15 Colgate-Palmolive Company Method and apparatus for package wall testing

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020085746A (ja) * 2018-11-28 2020-06-04 株式会社豊田自動織機 ステータの検査システム
JP7028144B2 (ja) 2018-11-28 2022-03-02 株式会社豊田自動織機 ステータの検査システム

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