JP2002156652A5 - - Google Patents

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【発明の名称】電気光学装置及びその製造方法並びにプロジェクタPatent application title: Electro-optical device, method of manufacturing the same, and projector

【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明の電気光学装置は上記課題を解決するために、基板上に、画素電極と、該画素電極に対応して配置された薄膜トランジスタと、該薄膜トランジスタに接続された配線とを備えており、前記基板に掘られた溝内に前記薄膜トランジスタのチャネル領域を含む半導体膜パターンが配置されており、前記溝内において前記半導体膜パターンの脇にダミーパターンが形成されている。
[0008]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-described problems, the electro-optical device according to the present invention includes a pixel electrode, a thin film transistor disposed corresponding to the pixel electrode, and a wiring connected to the thin film transistor on a substrate, A semiconductor film pattern including a channel region of the thin film transistor is disposed in a trench formed in a substrate, and a dummy pattern is formed on the side of the semiconductor film pattern in the trench.

【0042】
本発明の他の電気光学装置は上記課題を解決するために、基板上に、画素電極と、該画素電極に対応して配置された薄膜トランジスタと、該薄膜トランジスタに接続された配線とを備えており、前記基板に掘られた溝内に前記薄膜トランジスタのチャネル領域を含む半導体膜パターンが配置されており、前記溝内において前記半導体膜パターンの脇に光吸収性の膜が形成されている。
[0042]
Another electro-optical device according to the present invention includes a pixel electrode, a thin film transistor disposed corresponding to the pixel electrode, and a wiring connected to the thin film transistor on a substrate. A semiconductor film pattern including a channel region of the thin film transistor is disposed in a trench dug in the substrate, and a light absorbing film is formed in the trench beside the semiconductor film pattern.

Claims (15)

基板上に、
画素電極と、
該画素電極に対応して配置された薄膜トランジスタと、
該薄膜トランジスタに接続された配線と
を備えており、
前記基板に掘られた溝内に前記薄膜トランジスタのチャネル領域を含む半導体膜パターンが配置されており、
前記溝内において前記半導体膜パターンの脇にダミーパターンが形成されていることを特徴とする電気光学装置。
On the board
A pixel electrode,
A thin film transistor disposed corresponding to the pixel electrode;
And a wire connected to the thin film transistor,
A semiconductor film pattern including a channel region of the thin film transistor is disposed in a groove dug in the substrate,
An electro-optical device, wherein a dummy pattern is formed on the side of the semiconductor film pattern in the groove.
前記ダミーパターンは、前記溝内における前記半導体膜パターンの両脇に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置。The electro-optical device according to claim 1, wherein the dummy pattern is disposed on both sides of the semiconductor film pattern in the groove. 前記ダミーパターンは、前記溝の側壁上に配置されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の電気光学装置。The electro-optical device according to claim 1, wherein the dummy pattern is disposed on a side wall of the groove. 前記ダミーパターンは、前記溝の底部上に配置されていることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の電気光学装置。The electro-optical device according to any one of claims 1 to 3, wherein the dummy pattern is disposed on a bottom of the groove. 前記ダミーパターンは、前記半導体膜パターンと同一膜からなることを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の電気光学装置。The electro-optical device according to any one of claims 1 to 4, wherein the dummy pattern is made of the same film as the semiconductor film pattern. 前記ダミーパターンは、少なくとも部分的に前記半導体膜パターンと比較して導電性が低いことを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載の電気光学装置。The electro-optical device according to any one of claims 1 to 5, wherein the dummy pattern has a conductivity that is at least partially lower than that of the semiconductor film pattern. 前記配線は、前記チャネル領域に対向配置されるゲート電極に接続された走査線を含み、
前記ダミーパターンは、少なくとも前記走査線に対向する部分において前記導電性が低いことを特徴とする請求項6に記載の電気光学装置。
The wire includes a scan line connected to a gate electrode disposed opposite to the channel region,
7. The electro-optical device according to claim 6, wherein the dummy pattern has low conductivity at least in a portion facing the scanning line.
前記配線は、前記チャネル領域に対向配置されるゲート電極に接続された走査線を含み、
前記ダミーパターンは、前記走査線に対向する平面領域を避けて配置されていることを特徴とする請求項1から6のいずれか一項に記載の電気光学装置。
The wire includes a scan line connected to a gate electrode disposed opposite to the channel region,
The electro-optical device according to any one of claims 1 to 6, wherein the dummy pattern is disposed so as to avoid a planar region facing the scanning line.
前記ダミーパターンは、前記画素電極に対して蓄積容量を構築する一対の容量電極のうち一方の電極としても機能し、
前記ダミーパターンに誘電体膜を介して対向配置された他方の電極を更に備えたことを特徴とする請求項1から8のいずれか一項に記載の電気光学装置。
The dummy pattern also functions as one of a pair of capacitance electrodes that form a storage capacitance with respect to the pixel electrode,
The electro-optical device according to any one of claims 1 to 8, further comprising: another electrode disposed opposite to the dummy pattern via a dielectric film.
前記ダミーパターンは、前記半導体膜パターンのドレイン領域から延設されており、前記一方の電極は画素電位側容量電極であることを特徴とする請求項9に記載の電気光学装置。10. The electro-optical device according to claim 9, wherein the dummy pattern is extended from the drain region of the semiconductor film pattern, and the one electrode is a pixel potential side capacitance electrode. 前記他方の電極は、金属又は合金を含む遮光膜からなることを特徴とする請求項9又は10に記載の電気光学装置。11. The electro-optical device according to claim 9, wherein the other electrode is made of a light shielding film containing a metal or an alloy. 前記配線は、前記チャネル領域に対向配置されるゲート電極に接続された走査線を含み、
前記他方の電極は、前記基板上において前記一方の電極の上層側に位置し且つ前記走査線よりも下層側に位置することを特徴とする請求項9から11のいずれか一項に記載の電気光学装置。
The wire includes a scan line connected to a gate electrode disposed opposite to the channel region,
12. The electricity according to any one of claims 9 to 11, wherein the other electrode is located on the substrate above the one electrode and below the scanning line. Optical device.
請求項1から12のいずれか一項に記載の電気光学装置を製造する電気光学装置の製造方法であって、
前記基板に溝を掘る工程と、
前記溝内に前記半導体膜パターンと前記ダミーパターンとを同一レジストを用いて同時にフォトリソグラフィ処理及びエッチング処理により形成する工程と
を備えたことを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A method of manufacturing an electro-optical device for manufacturing the electro-optical device according to any one of claims 1 to 12,
Digging a groove in the substrate;
A method of manufacturing an electro-optical device, comprising the steps of: simultaneously forming the semiconductor film pattern and the dummy pattern by photolithography and etching using the same resist in the groove.
基板上に、
画素電極と、
該画素電極に対応して配置された薄膜トランジスタと、
該薄膜トランジスタに接続された配線と
を備えており、
前記基板に掘られた溝内に前記薄膜トランジスタのチャネル領域を含む半導体膜パターンが配置されており、
前記溝内において前記半導体膜パターンの脇に光吸収性の膜が形成されていることを特徴とする電気光学装置。
On the board
A pixel electrode,
A thin film transistor disposed corresponding to the pixel electrode;
And a wire connected to the thin film transistor,
A semiconductor film pattern including a channel region of the thin film transistor is disposed in a groove dug in the substrate,
An electro-optical device, wherein a light absorbing film is formed on the side of the semiconductor film pattern in the groove.
請求項1から12、14のいずれか一項に記載の電気光学装置をライトバルブとして用いることを特徴とするプロジェクタ。A projector using the electro-optical device according to any one of claims 1 to 12 as a light valve.
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