JP2002153729A - Method and device for halogen-containing gas treatment - Google Patents

Method and device for halogen-containing gas treatment

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JP2002153729A
JP2002153729A JP2000350855A JP2000350855A JP2002153729A JP 2002153729 A JP2002153729 A JP 2002153729A JP 2000350855 A JP2000350855 A JP 2000350855A JP 2000350855 A JP2000350855 A JP 2000350855A JP 2002153729 A JP2002153729 A JP 2002153729A
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昌樹 葛本
Noboru Wada
昇 和田
Masafumi Doi
雅史 土井
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a treatment method and device for halogen-containing gas capable of decomposing and treating a halogen compound in a high effi ciency not depending on a concentration of halogen in the halogen compound- containing gas. SOLUTION: The predetermined amount of water vapor based on a concentration of halogen in a halogen-compound-containing gas in mixed into the halogen compound-containing gas. This mixture gas is introduced to a discharge processing part 31 to decompose the halogen compound in the mixture gas. This decomposed product is removed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、ハロゲン含有ガ
スの処理方法及び処理装置に関するものであり、特にハ
ロゲン化合物含有ガス中のハロゲン濃度によらずに高効
率にハロゲン含有ガスを処理する方法に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and an apparatus for treating a halogen-containing gas, and more particularly to a method for treating a halogen-containing gas with high efficiency irrespective of the halogen concentration in the halogen compound-containing gas. It is.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体製造に用いられるドライエッチン
グ装置では、主としてシリコン系薄膜のエッチングガス
として、CF4,SF6などのハロゲン化合物がドライエ
ッチングガスとして用いられている。また、CVD装置
においては、処理室内に堆積した膜をエッチングするこ
とにより処理室内をクリーニングすることを目的とし
て、上記と同様のハロゲン化合物が用いられている。ハ
ロゲン化合物の多くは大気中での寿命が長く、且つ二酸
化炭素(CO2)の数千から数万倍の地球温暖化係数を
有する地球温暖化物質である。また、分子内に塩素原子
を含むハロゲン化合物はオゾン層破壊物質でもある。こ
のため、地球温暖化防止、オゾン層破壊防止を目的とし
て、半導体工場などの排気ガスからこれらのハロゲン化
合物を含むハロゲン含有ガスを除去する処理方法の研究
が進められている。
2. Description of the Related Art In a dry etching apparatus used for manufacturing semiconductors, halogen compounds such as CF 4 and SF 6 are mainly used as an etching gas for a silicon-based thin film. In the CVD apparatus, the same halogen compound as described above is used for the purpose of cleaning the processing chamber by etching a film deposited in the processing chamber. Most of the halogen compounds are global warming substances having a long life in the atmosphere and having a global warming potential of several thousands to tens of thousands of times that of carbon dioxide (CO 2 ). Further, a halogen compound containing a chlorine atom in the molecule is also an ozone layer depleting substance. Therefore, for the purpose of preventing global warming and destruction of the ozone layer, research on a processing method for removing a halogen-containing gas containing these halogen compounds from exhaust gas of a semiconductor factory or the like is being advanced.

【0003】図11は、特開平11−156156号公
報に示されている従来のハロゲン含有ガスの処理装置の
構成を説明する図である。図11に従い、従来のハロゲ
ン含有ガスの処理装置について説明する。ハロゲン含有
ガスの処理装置はハロゲン含有ガスを排出するドライエ
ッチング装置などのガス排出源1に接続した放電処理部
2を備えている。放電処理部2はチャンバー3内に一対
の放電電極4,5が対向して設けられており、これらの
電極の一方には高周波電源6が接続され、他方は接地さ
れている。また、放電処理部2は処理ガス導入側に水蒸
気発生器7が接続されており、水蒸気を放電電極4,5
間に導入できるように構成されている。放電処理部2の
排出側は生成物補集器であるバブリング器8に接続され
ており、バブリング器8内の水9中に放電処理部2から
排出されたガスを放出できるように構成されている。
FIG. 11 is a view for explaining the configuration of a conventional processing apparatus for a halogen-containing gas disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-156156. A conventional halogen-containing gas processing apparatus will be described with reference to FIG. The apparatus for processing a halogen-containing gas includes a discharge processing unit 2 connected to a gas discharge source 1 such as a dry etching apparatus for discharging a halogen-containing gas. The discharge processing unit 2 is provided with a pair of discharge electrodes 4 and 5 facing each other in a chamber 3. One of these electrodes is connected to a high-frequency power supply 6, and the other is grounded. The discharge processing section 2 has a water vapor generator 7 connected to the processing gas introduction side.
It is configured so that it can be introduced in between. The discharge side of the discharge processing unit 2 is connected to a bubbling device 8 that is a product collector, and is configured to discharge gas discharged from the discharge processing unit 2 into water 9 in the bubbling device 8. I have.

【0004】従来のハロゲン含有ガスの処理方法におい
ては、放電電極4,5間に、排出されたハロゲン含有ガ
スと、水蒸気発生器7からの水蒸気とを導入し、大気圧
下で気体放電を発生させる。この放電によってCF4
び水が電子のエネルギーによって解離し、フッ化水素
(HF)、二酸化炭素(CO2)が生成される。その後
これらのガスはバブリング器8に導かれ、水9中でバブ
リングされ放電により生成したフッ化水素が水に溶解さ
れて補集される。
In the conventional method for treating a halogen-containing gas, the discharged halogen-containing gas and the steam from the steam generator 7 are introduced between the discharge electrodes 4 and 5 to generate a gas discharge at atmospheric pressure. Let it. By this discharge, CF 4 and water are dissociated by the energy of electrons, and hydrogen fluoride (HF) and carbon dioxide (CO 2 ) are generated. Thereafter, these gases are led to a bubbling device 8, where hydrogen fluoride generated by bubbling in the water 9 and discharged is dissolved in the water and collected.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来のハ
ロゲン含有ガスの処理装置においては、排ガス中のCF
4の濃度によって、CF4の分解効率が低下するという問
題があった。この発明は、このような問題点を解決する
ためになされたものであり、特にハロゲン化合物含有ガ
ス中のハロゲン濃度によらずに地球温暖化物質あるいは
オゾン層破壊物質であるハロゲン化合物を高効率に分解
処理できるハロゲン含有ガスの処理方法及び処理装置を
得ることを目的とする。
However, the conventional c
In a processing device for a logen-containing gas, CF in exhaust gas is used.
FourDepending on the concentration of CFFourThat the decomposition efficiency of
There was a title. The present invention solves such a problem.
Especially for halogen-containing gas.
Global warming substances or
Highly efficient decomposition of halogen compounds, which are ozone depleting substances
Method and apparatus for processing halogen-containing gas that can be processed
The purpose is to gain.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】この発明に係るハロゲン
含有ガスの処理方法は、ハロゲン化合物含有ガスに、こ
のガス中のハロゲン濃度に基づく所定量の水蒸気を混合
し、この混合ガスを放電処理部へ導入して、混合ガス中
のハロゲン化合物を分解し、この分解生成物を除去する
ものである。
According to a method for treating a halogen-containing gas according to the present invention, a halogen compound-containing gas is mixed with a predetermined amount of water vapor based on the halogen concentration in the gas, and the mixed gas is discharged to a discharge treatment section. To decompose the halogen compound in the mixed gas to remove the decomposition products.

【0007】また、ハロゲン化合物含有ガスと所定量の
水蒸気との混合が、ハロゲン化合物含有ガスと所定の温
度に制御された水媒体との気液接触により行なわれるも
のである。
Further, the mixing of the halogen compound-containing gas with a predetermined amount of water vapor is performed by gas-liquid contact between the halogen compound-containing gas and an aqueous medium controlled at a predetermined temperature.

【0008】また、気液接触が、ハロゲン化合物含有ガ
スを水媒体中に放出してバブリングすることにより行わ
れるものである。
Further, the gas-liquid contact is carried out by discharging a halogen compound-containing gas into an aqueous medium and performing bubbling.

【0009】また、気液接触が、ハロゲン化合物含有ガ
スと滴下する水媒体との接触により行われるものであ
る。
Further, the gas-liquid contact is carried out by contacting a halogen compound-containing gas with an aqueous medium to be dropped.

【0010】また、混合ガス中のハロゲン原子濃度に対
する水分子の濃度比が0.25〜1となるように水蒸気
が混合されるものである。
Water vapor is mixed so that the ratio of the concentration of water molecules to the concentration of halogen atoms in the mixed gas is 0.25 to 1.

【0011】また、真空ポンプを介して供給されるハロ
ゲン化合物含有ガスに、所定量の水蒸気が混合され、か
つこの真空ポンプのパージガスとして希ガスが用いられ
るものである。
A predetermined amount of water vapor is mixed with a halogen compound-containing gas supplied via a vacuum pump, and a rare gas is used as a purge gas for the vacuum pump.

【0012】また、混合ガスが配管を通じて放電処理部
に導入され、この配管の温度が水媒体の温度よりも5℃
以上高く調温されるものである。
Further, the mixed gas is introduced into the electric discharge treatment section through a pipe, and the temperature of the pipe is set at 5 ° C. lower than the temperature of the aqueous medium.
The temperature is adjusted higher.

【0013】また、放電処理部の電極温度が水媒体の温
度よりも5℃以上高く調温されるものである。
Further, the temperature of the electrode of the discharge treatment section is controlled to be higher than the temperature of the aqueous medium by 5 ° C. or more.

【0014】また、ハロゲン化合物含有ガスと所定量の
水蒸気との混合が、ハロゲン化合物含有ガスに所定量よ
り過剰の水蒸気を添加した後に、この水蒸気添加ガスを
ハロゲン化合物含有ガス中のハロゲン濃度に基づく所定
の温度に調温することにより行われるものである。
Further, the mixing of the halogen compound-containing gas with a predetermined amount of water vapor is performed after adding a water vapor in excess of a predetermined amount to the halogen compound-containing gas, and then adding the water vapor added gas based on the halogen concentration in the halogen compound-containing gas. This is performed by adjusting the temperature to a predetermined temperature.

【0015】この発明に係るハロゲン含有ガスの処理装
置は、ハロゲン化合物含有ガスにこのガス中のハロゲン
濃度に基づく所定量の水蒸気を混入制御する水蒸気供給
部と、ハロゲン化合物含有ガスと水蒸気供給部により混
入された水蒸気との混合ガスを放電により分解する放電
処理部とを備えるものである。
The apparatus for treating a halogen-containing gas according to the present invention comprises a steam supply section for controlling mixing of a predetermined amount of steam based on the halogen concentration in the halogen compound-containing gas, and a halogen compound-containing gas and a steam supply section. A discharge processing unit that decomposes the mixed gas with the mixed water vapor by discharge.

【0016】また、水蒸気供給部が、ハロゲン化合物含
有ガスと水媒体とが気液接触する気液接触部と、上記ハ
ロゲン化合物含有ガス中のハロゲン濃度に基づき上記水
媒体を所定の温度に制御する温度制御部とを備えるもの
である。
Further, a water vapor supply section controls the aqueous medium to a predetermined temperature based on a gas-liquid contact section in which the halogen compound-containing gas and the aqueous medium come into gas-liquid contact with each other and a halogen concentration in the halogen compound-containing gas. A temperature control unit.

【0017】また、気液接触部が、ハロゲン化合物含有
ガスを水媒体中に放出することによりバブリングするバ
ブリング部を備えるものである。
Further, the gas-liquid contact section has a bubbling section for bubbling by discharging the halogen compound-containing gas into the aqueous medium.

【0018】また、気液接触部が、水媒体を滴下する水
媒体滴下部と、ハロゲン化合物含有ガスと上記水媒体滴
下部より滴下された水媒体とを接触させる接触部とを備
えるものである。
Further, the gas-liquid contact section has an aqueous medium dropping section for dropping the aqueous medium, and a contact section for contacting the halogen compound-containing gas with the aqueous medium dropped from the aqueous medium dropping section. .

【0019】また、ハロゲン化合物含有ガス中のハロゲ
ン濃度がハロゲン濃度センサにより検出されるものであ
る。
Further, the halogen concentration in the halogen compound-containing gas is detected by a halogen concentration sensor.

【0020】また、放電処理部を通過したガスを水媒体
中に放出してバブリングすることにより、放電処理部に
おいて生成した分解生成物を水媒体中に捕獲する捕集部
を備えるものである。
[0020] Further, the apparatus has a collection unit for capturing the decomposition products generated in the discharge processing unit in the aqueous medium by discharging the gas that has passed through the discharge processing unit into the aqueous medium and performing bubbling.

【0021】また、水蒸気供給部と放電処理部とを結ぶ
配管に温度制御部を備えるものである。
Further, a temperature control section is provided in a pipe connecting the steam supply section and the discharge processing section.

【0022】また、放電処理部は、放電電極を加熱する
加熱源を備えるものである。
The discharge processing section includes a heating source for heating the discharge electrodes.

【0023】また、ハロゲン化合物含有ガスに水蒸気を
混入させる水蒸気供給部と、この水蒸気供給部と配管に
よって結ばれ、ハロゲン化合物含有ガスと水蒸気供給部
により混入された水蒸気との混合ガスを放電により分解
する放電処理部と、配管の少なくとも一部に設けられハ
ロゲン化合物含有ガスのハロゲン濃度に基づき水蒸気を
含むハロゲン含有ガスを所定の温度に制御する温度制御
部とを備えるものである。
Further, a steam supply unit for mixing steam into the halogen compound-containing gas, and a mixed gas of the halogen compound-containing gas and the steam mixed by the steam supply unit, which is connected to the steam supply unit and a pipe, are decomposed by electric discharge. And a temperature control unit provided in at least a part of the pipe and controlling the halogen-containing gas containing water vapor to a predetermined temperature based on the halogen concentration of the halogen compound-containing gas.

【0024】[0024]

【発明の実施の形態】実施の形態1.図1はこの発明の
実施の形態1のハロゲン含有ガス処理装置の構成を説明
する図である。図1において、11はハロゲン化合物含
有ガスの排出源、21は排出源11から排出されたハロ
ゲン化合物含有ガスに水蒸気を混合する水蒸気供給部、
31は水蒸気が混合されたハロゲン化合物含有ガスの放
電処理部、41はハロゲン化合物が分解して生成する分
解生成物の捕集部である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a halogen-containing gas processing apparatus according to Embodiment 1 of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 11 denotes a discharge source of a halogen compound-containing gas, 21 denotes a steam supply unit that mixes steam with the halogen compound-containing gas discharged from the discharge source 11,
Reference numeral 31 denotes a discharge processing section for a halogen compound-containing gas mixed with water vapor, and 41 denotes a collection section for decomposition products generated by decomposition of the halogen compound.

【0025】排出源11はドライエッチング装置やCV
D装置の反応処理室12と反応処理室12中のガスを排
気する真空ポンプとして、例えばターボ分子ポンプ13
とドライポンプ14から構成されており、ターボ分子ポ
ンプ13及びドライポンプ14は、各々ポンプを保護す
るためのパージガス導入部15,16を備えている。
The discharge source 11 is a dry etching device or a CV
As a vacuum pump for evacuating the reaction processing chamber 12 of the D apparatus and the gas in the reaction processing chamber 12, for example, a turbo molecular pump 13
And a dry pump 14. The turbo molecular pump 13 and the dry pump 14 are respectively provided with purge gas introduction portions 15 and 16 for protecting the pumps.

【0026】水蒸気供給部21は、水媒体23を入れた
バブリング容器22を備えており、その水媒体23中に
排出源11から排出されたガスを導入しバブリングでき
るように、排出源11の排出側から配管24が設けられ
ている。水媒体23としては通常水を用いるが、添加物
が添加されていてもよい。この配管24の途中にはハロ
ゲン濃度センサ25が設けられている。また、バブリン
グ容器22には、水媒体23の温度を検知する温度セン
サ26と、検知された温度に基づいて水媒体23を所定
の温度に制御する温度調節器27を備えている。バブリ
ング容器22内の水媒体23の上部の空間には、バブリ
ングされたガスを放電処理部31に導く配管28が設け
られている。
The water vapor supply section 21 is provided with a bubbling container 22 containing an aqueous medium 23. The gas discharged from the discharge source 11 is introduced into the aqueous medium 23 so that the gas discharged from the discharge source 11 can be bubbled. A pipe 24 is provided from the side. Normally, water is used as the aqueous medium 23, but additives may be added. A halogen concentration sensor 25 is provided in the middle of the pipe 24. In addition, the bubbling container 22 includes a temperature sensor 26 for detecting the temperature of the aqueous medium 23 and a temperature controller 27 for controlling the aqueous medium 23 to a predetermined temperature based on the detected temperature. In a space above the aqueous medium 23 in the bubbling container 22, a pipe 28 for guiding the bubbled gas to the discharge processing unit 31 is provided.

【0027】放電処理部31には、チャンバー32内に
一対の電極33,34が設けられており、この一対の放
電電極33,34の一方には高電圧電源35が接続され
ており、他方は接地されている。また、放電電極33,
34の温度を所定の温度に制御するために、各電極に
は、液温調整器36と循環ポンプ37により循環液が流
される。
In the discharge processing section 31, a pair of electrodes 33 and 34 are provided in a chamber 32, and one of the pair of discharge electrodes 33 and 34 is connected to a high-voltage power supply 35, and the other is connected to the other. Grounded. Further, the discharge electrode 33,
In order to control the temperature of the electrode 34 to a predetermined temperature, a circulating liquid flows through each electrode by a liquid temperature regulator 36 and a circulating pump 37.

【0028】分解生成物であるハロゲン化水素を捕獲す
る捕集部41は、水媒体43を入れたバブリング容器4
2を備えており、その水媒体43中に放電処理部31で
分解されたガスを排出しバブリングできるように、放電
処理部31のチャンバー32の排出側から配管44が設
けられている。水媒体43としては通常水が用いられ
る。また、バブリング容器42内の水媒体43の上部の
空間には、バブリングされたガスを放出する配管45が
設けられている。
The collecting section 41 for capturing hydrogen halide, which is a decomposition product, is provided in a bubbling vessel 4 containing an aqueous medium 43.
A pipe 44 is provided from the discharge side of the chamber 32 of the discharge processing unit 31 so that the gas decomposed by the discharge processing unit 31 can be discharged and bubbled into the aqueous medium 43. Normally, water is used as the aqueous medium 43. Further, in a space above the aqueous medium 43 in the bubbling container 42, a pipe 45 for discharging the bubbled gas is provided.

【0029】このようなハロゲン含有ガス処理装置を用
いて、ハロゲン化合物の分解効率を調べた。図2は、こ
の発明における水蒸気供給部の水媒体に純水を用いたと
きの純水温度とCF4の分解効率を調べた結果を示す図
である。測定条件は、放電電極に印加する放電電力1k
W、真空ポンプにパージガスとして1l/分のガス流量
の窒素ガスを導入し、CF4のガス濃度を0.5%、1
%、2%と変化させたときの結果である。この実験によ
りCF4のガス濃度により最適な水温が変化することが
判明した。CF4のガス濃度が高くなるにつれて、最適
な水温は高くなった。CF4濃度が5000ppmのと
きは、0℃〜20℃、望ましくは6℃〜12℃、100
00ppmのときは、15℃〜30℃、望ましくは20
℃〜25℃、20000ppmの時は、25℃〜40
℃、望ましくは30℃〜35℃が最適であった。
Using such a halogen-containing gas treatment apparatus, the decomposition efficiency of halogen compounds was examined. FIG. 2 is a diagram showing the result of examining the pure water temperature and the CF 4 decomposition efficiency when pure water is used as the aqueous medium of the steam supply section in the present invention. The measurement conditions are discharge power 1k applied to the discharge electrode.
W, a nitrogen gas having a gas flow rate of 1 l / min was introduced as a purge gas into the vacuum pump, and the gas concentration of CF 4 was 0.5%,
% And 2%. From this experiment, it was found that the optimum water temperature changes depending on the CF 4 gas concentration. The optimal water temperature increased as the gas concentration of CF 4 increased. When the concentration of CF 4 is 5000 ppm, 0 ° C. to 20 ° C., preferably 6 ° C. to 12 ° C., 100 ° C.
When the amount is 00 ppm, the temperature is 15 ° C to 30 ° C, preferably 20 ° C.
25 ° C to 25 ° C and 20,000 ppm, 25 ° C to 40 ° C
° C, preferably 30 ° C to 35 ° C.

【0030】さらに実験を重ねた結果、CF4の分解効
率はハロゲン含有ガスが放電処理部に持ち込む飽和水分
濃度とCF4濃度の関係で一義的に決定されることを発
明者らは見い出した。図3は、この発明におけるCF4
濃度に対する飽和水分濃度の比率とCF4の分解効率の
関係を調べた結果を示す図である。図3に示されるよう
に飽和水分濃度とCF4の比率は、1:1〜4:1の範
囲、望ましくは2:1〜3:1の範囲が有効であること
が明らかになった。この原因は以下の通りであると考え
る。すなわち、供給水分量が少ないと分解したCやFが
再結合してCF 4に戻り分解効率が低下する。一方、供
給水分量が多すぎると、水分子との衝突で電子のエネル
ギーが無効に消費され分解効率が低下する。この発明に
よれば、CF4の濃度が変化してもバブリングする水媒
体の温度を最適化することにより、高い分解効率を達成
することができる。
As a result of further experiments, CFFourDecomposition effect of
The percentage is the saturated moisture that the halogen-containing gas brings into the discharge treatment section.
Concentration and CFFourIt is determined that it is uniquely determined by the concentration
The bright men found them. FIG. 3 shows the CF according to the present invention.Four
Ratio of saturated water concentration to concentration and CFFourOf decomposition efficiency
It is a figure showing the result of having examined the relation. As shown in FIG.
To saturated water concentration and CFFourAre in the range of 1: 1 to 4: 1.
Enclosure, preferably a range of 2: 1 to 3: 1 is effective
Was revealed. It is thought that the cause is as follows
You. That is, if the supplied water amount is small, the decomposed C or F
Recombined and CF FourAnd the decomposition efficiency decreases. On the other hand,
If the amount of water supply is too large, the energy of electrons will be
Energy is consumed ineffectively and the decomposition efficiency is reduced. In this invention
According to CFFourWater medium that bubbles even when the concentration of
Achieve high decomposition efficiency by optimizing body temperature
can do.

【0031】また、より詳細に検討を加えた結果、最適
な水分量はCF4中のフッ素原子(F)の量で一義的に
決定されることが明らかになった。図4は、この発明に
おけるF原子濃度に対する飽和水分濃度の比率とCF4
の分解効率の関係を調べた結果を示す図である。図4よ
り飽和水分濃度とCF4中のFの比率は、0.25:1
〜1:1の範囲、望ましくは0.5:1〜0.75:1
の範囲が有効であることがわかった。
Further, as a result of further detailed examination, it has been found that the optimum amount of water is uniquely determined by the amount of fluorine atoms (F) in CF 4 . FIG. 4 shows the ratio of the saturated water concentration to the F atom concentration and CF 4 in the present invention.
FIG. 6 is a view showing the result of examining the relationship between the decomposition efficiencies. From FIG. 4, the ratio of the saturated water concentration to F in CF 4 is 0.25: 1.
~ 1: 1 range, desirably 0.5: 1 to 0.75: 1.
Range was found to be effective.

【0032】さらに、C26やNF3、SF6、CClF
3、CHF3、CHClF2、CBrF3、CCl4、CH3
CCl3、などの他のハロゲン化合物含有ガスで同様の
実験を実施した結果、最適な水分量は水分子濃度とハロ
ゲン原子数に換算した濃度Xとの比率で一義的に決定さ
れることが明らかとなった。図5は、この発明における
ハロゲン原子濃度に対する水分子濃度の比率とCF4
分解効率の関係を調べた結果を示す図である。図5より
ハロゲン原子濃度に対する水分子濃度の比率は、0.2
5:1〜1:1の範囲、望ましくは0.5:1〜0.7
5:1の範囲が最適であることがわかった。
Further, C 2 F 6 , NF 3 , SF 6 , CCIF
3 , CHF 3 , CHClF 2 , CBrF 3 , CCl 4 , CH 3
A similar experiment was conducted with other halogen compound-containing gases such as CCl 3 , and it was found that the optimum amount of water was uniquely determined by the ratio of the concentration of water molecules to the concentration X converted to the number of halogen atoms. It became. FIG. 5 is a graph showing the results of an examination of the relationship between the ratio of the concentration of water molecules to the concentration of halogen atoms and the decomposition efficiency of CF 4 in the present invention. From FIG. 5, the ratio of the water molecule concentration to the halogen atom concentration is 0.2
5: 1 to 1: 1, preferably 0.5: 1 to 0.7
A range of 5: 1 has been found to be optimal.

【0033】次にこの発明の実施の形態1のハロゲン含
有ガス処理方法について説明する。反応処理室12は、
ターボ分子ポンプ13及びドライポンプ14により排気
されており、エッチング反応生成物やCF4ガスを含む
ハロゲン化合物含有ガスはドライポンプ14の出口側よ
り排出される。ターボ分子ポンプ13及びドライポンプ
14には排出ガスによる腐食や配管の詰まりを防ぐため
に、各ポンプに設けられたパージガス導入部15,16
よりパージガスとして窒素ガスが導入される。
Next, a method for treating a halogen-containing gas according to the first embodiment of the present invention will be described. The reaction processing chamber 12
The gas is exhausted by the turbo molecular pump 13 and the dry pump 14, and the etching reaction product and the halogen compound-containing gas including the CF 4 gas are exhausted from the outlet side of the dry pump 14. In order to prevent corrosion due to exhaust gas and clogging of pipes, the turbo molecular pump 13 and the dry pump 14 have purge gas introduction sections 15 and 16 provided in each pump.
Nitrogen gas is introduced as a purge gas.

【0034】反応処理室12からの排出ガスは、パージ
ガスとともに配管24によってバブリング容器22内の
水媒体23中に導かれる。この配管24の途中にはガス
中のハロゲン濃度を検出するハロゲン濃度センサ25が
設けられており、ガス中のハロゲン濃度を精度よく求め
ることができる。このハロゲン濃度センサ25で検知さ
れた濃度を元に最も分解効率が高くなる水蒸気量を混入
できる水媒体23の温度を求める。水媒体23がこの温
度となるように、温度センサ26で水媒体23の温度を
検知しながら、温度調節器27で水媒体23の温度を調
節する。排出ガスを水媒体23中に放出してバブリング
することにより、排出ガスの内、ハロゲン化水素や不安
定な反応生成物は水媒体23に溶解し、CF4ガス及び
パージガスは、配管28を通って放電処理部31のチャ
ンバー32に導かれる。この時水媒体23中をバブリン
グすることにより、CF4ガス及びパージガスに水媒体
23の温度に対応する飽和水分濃度の水蒸気が混入され
る。このような方法により、所定量の水蒸気を簡便に供
給することができる。
The exhaust gas from the reaction processing chamber 12 is introduced into the aqueous medium 23 in the bubbling container 22 through the pipe 24 together with the purge gas. A halogen concentration sensor 25 for detecting the halogen concentration in the gas is provided in the middle of the pipe 24, so that the halogen concentration in the gas can be accurately obtained. Based on the concentration detected by the halogen concentration sensor 25, the temperature of the aqueous medium 23 into which the amount of water vapor having the highest decomposition efficiency can be mixed is determined. The temperature adjuster 27 adjusts the temperature of the aqueous medium 23 while detecting the temperature of the aqueous medium 23 with the temperature sensor 26 so that the aqueous medium 23 has this temperature. By discharging the exhaust gas into the aqueous medium 23 and performing bubbling, hydrogen halide and unstable reaction products in the exhaust gas are dissolved in the aqueous medium 23, and the CF 4 gas and the purge gas pass through the pipe 28. To the chamber 32 of the discharge processing unit 31. At this time, by bubbling in the aqueous medium 23, steam having a saturated moisture concentration corresponding to the temperature of the aqueous medium 23 is mixed into the CF 4 gas and the purge gas. By such a method, a predetermined amount of steam can be easily supplied.

【0035】チャンバー32に導かれたガスは、一対の
電極33,34間を通過する。この時一対の電極33,
34間には、高電圧電源35により高電圧が印加され、
一対の電極33,34間で放電が発生し、高エネルギー
電子が生成される。CF4のC−F結合の解離エネルギ
ーよりも高いエネルギーの電子がCF4に衝突すること
によって、下記式(1)のように難分解性のCF4が分
解する。ここで水蒸気が添加されることによって下記式
(2)に表わされるように分解した炭素やフッ素が除去
される。 CF4+e→C+4F+e……(1) CF4+2H2O+e→CO2+4HF+e……(2)
The gas guided to the chamber 32 passes between the pair of electrodes 33 and 34. At this time, a pair of electrodes 33,
Between 34, a high voltage is applied by a high voltage power supply 35,
Discharge occurs between the pair of electrodes 33 and 34, and high-energy electrons are generated. By high energy electrons than the dissociation energy of CF bond of CF 4 collides with the CF 4, degrade hardly degradable CF 4 is as the following equation (1). Here, the addition of steam removes the decomposed carbon and fluorine as represented by the following formula (2). CF 4 + e → C + 4F + e (1) CF 4 + 2H 2 O + e → CO 2 + 4HF + e (2)

【0036】一対の電極33,34は、液温調節器36
と循環ポンプ37によって、水媒体23の温度よりも5
℃以上、望ましくは10℃以上高い温度に加熱制御され
る。これによって、一対の電極33,34の表面への結
露による、放電の停止、電極の一部で短絡して破損する
という事故を防ぐことができ、安定した処理が可能であ
る。
The pair of electrodes 33 and 34 are provided with a liquid temperature controller 36.
And the temperature of the aqueous medium 23 by 5
The heating is controlled to a temperature higher by at least 10 ° C, preferably by at least 10 ° C. Accordingly, it is possible to prevent the occurrence of an accident such as a stop of discharge due to dew condensation on the surfaces of the pair of electrodes 33 and 34 and a short-circuit at a part of the electrodes to cause breakage, thereby enabling a stable treatment.

【0037】上記式(2)によって生成した二酸化炭素
(CO2)とフッ化水素(HF)及びパージガスの窒素
は配管44を通って捕集部41に導かれる。放電処理部
31から排出されたガスは、バブリング容器42内の水
媒体43中に放出され、バブリングされる。フッ化水素
(HF)は水媒体43に溶解されてフッ化水素酸として
捕集される。二酸化炭素(CO2)やパージガスは大気
中に放出される。
The carbon dioxide (CO 2 ), hydrogen fluoride (HF), and nitrogen of the purge gas generated by the above equation (2) are led to the collection unit 41 through the pipe 44. The gas discharged from the discharge processing unit 31 is released into the aqueous medium 43 in the bubbling container 42 and is bubbled. Hydrogen fluoride (HF) is dissolved in the aqueous medium 43 and collected as hydrofluoric acid. Carbon dioxide (CO 2 ) and purge gas are released into the atmosphere.

【0038】以上のようなハロゲン含有ガスの処理にお
いては、排ガス中のハロゲン濃度に基づき、ハロゲン化
合物の分解効率が最大になるような所定量の水蒸気をハ
ロゲン化合物含有ガスに混合するため、排ガス中のハロ
ゲン濃度によらずに地球温暖化物質あるいはオゾン層破
壊物質であるハロゲン化合物を高効率に分解することが
でき、分解生成物であるハロゲン化水素を捕集し除去す
ることができる。
In the treatment of the halogen-containing gas as described above, a predetermined amount of water vapor that maximizes the decomposition efficiency of the halogen compound is mixed with the halogen-containing gas based on the halogen concentration in the exhaust gas. Halogen compounds, which are global warming substances or ozone depleting substances, can be decomposed with high efficiency regardless of the halogen concentration, and hydrogen halide, which is a decomposition product, can be collected and removed.

【0039】尚、上記の方法では、ハロゲン濃度センサ
25を用いてハロゲン濃度を検知し、これを元に水媒体
23の設定温度を決めたが、ハロゲン濃度センサ25を
用いずに、供給するハロゲン化合物濃度及びパージガス
流量からハロゲン濃度を算出し、水媒体23の設定温度
を決めてもよい。この場合にはハロゲン濃度センサ25
を不要にすることができ、処理装置のコストを低減でき
る。
In the above method, the halogen concentration is detected using the halogen concentration sensor 25, and the set temperature of the aqueous medium 23 is determined based on the detected halogen concentration. The set temperature of the aqueous medium 23 may be determined by calculating the halogen concentration from the compound concentration and the purge gas flow rate. In this case, the halogen concentration sensor 25
Can be eliminated, and the cost of the processing apparatus can be reduced.

【0040】尚、上記の方法では、放電処理部31の出
口側に捕集部41を設けたが、多くの半導体工場では、
ハロゲン化水素を酸排気によって工場で一括して処理す
る方法が採用されている。このような場合には放電処理
部31の出口側に捕集部41を設ける必要はなく、放電
処理部31の出口側を直接工場の酸排気設備に接続する
ことによりハロゲン化水素を捕集することができる。
In the above method, the collecting section 41 is provided on the outlet side of the discharge processing section 31, but in many semiconductor factories,
A method is adopted in which hydrogen halide is treated at once in a factory by acid exhaust. In such a case, it is not necessary to provide the collecting section 41 on the outlet side of the discharge processing section 31, and the outlet side of the discharge processing section 31 is directly connected to the acid exhaust equipment of the factory to collect hydrogen halide. be able to.

【0041】尚、上記の方法では、捕集部41の水媒体
43として水を用いたが、水酸化カルシウム水溶液を用
いてもよい。この場合にはフッ化カルシウムとして回収
することができるので、後処理が容易である。
In the above method, water is used as the aqueous medium 43 of the collecting section 41, but an aqueous solution of calcium hydroxide may be used. In this case, since it can be recovered as calcium fluoride, post-treatment is easy.

【0042】尚、上記の説明では、ハロゲン化合物とし
てCF4について説明したが、ハロゲン化合物として、
26、NF3、SF6、CClF3、CHF3、CHCl
2、CBrF3、CCl4、CH3CCl3などの分子内
にハロゲンとして、フッ素(F)、塩素(Cl)を含む
ものであってもよい。これらのハロゲン化合物を含むハ
ロゲン含有ガスの処理にも用いることができる。
In the above description, CF 4 was described as a halogen compound.
C 2 F 6 , NF 3 , SF 6 , CCIF 3 , CHF 3 , CHCl
F 2 , CBrF 3 , CCl 4 , CH 3 CCl 3 or the like may contain fluorine (F) or chlorine (Cl) as a halogen in the molecule. It can also be used for treating halogen-containing gases containing these halogen compounds.

【0043】実施の形態2.尚、上記の説明では、真空
ポンプのパージガスとして窒素ガスを用いた。しかしな
がら、この場合には、放電処理部31において窒素ガス
が分解されて、排ガス中に酸素が含まれていると酸素ガ
スと結合して窒素酸化物(NOx)が生成する。特に酸
素濃度が低い場合には生成されるNOxの大半はN2Oで
あった。本発明の主な目的は地球温暖化ガスであるハロ
ゲン化合物を除去することにあるが、ハロゲン化合物を
除去しても新たな地球温暖化ガスとしてNOxを生成し
てしまってはハロゲン含有ガス処理装置を設ける効果が
薄れてしまう。
Embodiment 2 In the above description, nitrogen gas was used as the purge gas for the vacuum pump. However, in this case, the nitrogen gas is decomposed in the discharge processing unit 31, and when the exhaust gas contains oxygen, it is combined with the oxygen gas to generate nitrogen oxides (NO x ). In particular, when the oxygen concentration was low, most of the generated NO x was N 2 O. The main purpose of the present invention is to remove the halogen compound is a greenhouse gas, but the halogen-containing gas processing is ended and generates NO x as a new greenhouse gases be removed halogen compound The effect of providing the device is diminished.

【0044】そこで、実施の形態2では、真空ポンプの
パージガスとして、窒素ガスの代わりにヘリウム、ネオ
ン、アルゴン、クリプトン、キセノンなどの希ガスを用
いる。図6は、各種パージガスを用いたときのパージガ
ス流量とハロゲン含有ガスの分解効率の関係を調べた結
果の例を示す図である。図6においては、ハロゲン化合
物としてCF4を0.1l/分の一定流量で流し、パー
ジガス流量を変化させた。パージガスとして窒素
(N2)、空気(AIR)、酸素(O2)ガスを用いた場
合パージガス流量の増大とともに急激にハロゲン化合物
の分解効率が低下した。しかも、窒素及び空気をパージ
ガスを用いた場合には多量のNOxが生成した。一方、
パージガスとして、ヘリウム(He)、ネオン(N
e)、アルゴン(Ar)を用いた場合には、パージガス
流量が増大してもハロゲン化合物の分解効率の極端な低
下はなかった。さらに、NOxの発生もなかった。クリ
プトン、キセノンなどの他の希ガスを用いる場合も同様
であった。このようにパージガスとして希ガスを用いる
場合に分解効率の低下が小さいのは、電子と希ガスとの
衝突によって電子エネルギーが無駄に消費されてしまう
ことがないためと推測される。
Therefore, in the second embodiment, a rare gas such as helium, neon, argon, krypton, or xenon is used as the purge gas for the vacuum pump instead of the nitrogen gas. FIG. 6 is a diagram showing an example of a result obtained by examining a relationship between a purge gas flow rate and a decomposition efficiency of a halogen-containing gas when various purge gases are used. In FIG. 6, CF 4 as a halogen compound was flowed at a constant flow rate of 0.1 l / min to change the flow rate of the purge gas. When nitrogen (N 2 ), air (AIR), or oxygen (O 2 ) gas was used as the purge gas, the halogen compound decomposition efficiency sharply decreased as the purge gas flow rate increased. Moreover, in the case where the nitrogen and air with purge gas produced a large amount of NO x. on the other hand,
Helium (He), neon (N
e) When argon (Ar) was used, the decomposition efficiency of the halogen compound was not extremely reduced even when the flow rate of the purge gas was increased. Furthermore, there was no generation of NO x . The same applies when other rare gases such as krypton and xenon are used. The reason why the degradation of the decomposition efficiency is small when the rare gas is used as the purge gas is presumed to be that the electron energy is not wasted by the collision between the electrons and the rare gas.

【0045】以上のように、真空ポンプのパージガスと
して、希ガスを用いることにより、パージガス流量を増
やした場合でもハロゲン化合物の分解効率は低下が小さ
く、通常用いられている窒素ガスに比べてハロゲン化合
物の分解効率が大きい。また、NOxなどの有害な物質
を生成しないという点でも優れている。希ガスの中でも
アルゴンは最も安価であるという利点がある。
As described above, by using a rare gas as the purge gas for the vacuum pump, even when the flow rate of the purge gas is increased, the efficiency of decomposition of the halogen compound is small, and it is smaller than that of the nitrogen gas which is generally used. Has high decomposition efficiency. It is also superior in that it does not generate harmful substances such as NO x. Among the rare gases, argon has the advantage of being the least expensive.

【0046】実施の形態3.図7はこの発明の実施の形
態3のハロゲン含有ガス処理装置の構成を説明する図で
ある。実施の形態3のハロゲン含有ガス処理装置の構成
が実施の形態1の構成と異なるのは、水媒体23の温度
を制御する温度センサ26及び温度調節器27を設けず
に配管28に温度制御部としてガス温度調節器51を設
ける点である。この点を除けば実施の形態1と同じであ
る。実施の形態3では、ガス温度調節器51によりハロ
ゲン化合物含有ガスと水蒸気との混合ガスの温度を水媒
体23の温度以下の所定の温度に調温する。ガス温度調
節器51としては、通常の熱交換器などが用いられる。
これによって、配管28内を流れる混合ガス中の過剰量
の水蒸気がコールドトラップされ、ガス温度調節器51
を通過した混合ガスはガス温度調節器51により冷却さ
れた温度に対応する飽和水蒸気量を含んでいる。このよ
うに本実施の形態においても、ハロゲン化合物含有ガス
と水蒸気との混合ガス中の水蒸気量を所定の量に制御で
きるので、ハロゲン化合物の分解を高効率で行うことが
できる。特に、本実施の形態においては、水媒体23は
調温していないため通常水媒体23の温度は室温であ
り、室温の飽和水蒸気量以下の微量な水蒸気量を制御し
て添加する方法として適している。
Embodiment 3 FIG. 7 is a diagram illustrating a configuration of a halogen-containing gas processing apparatus according to Embodiment 3 of the present invention. The configuration of the halogen-containing gas processing apparatus of the third embodiment is different from that of the first embodiment in that a temperature sensor 26 for controlling the temperature of the aqueous medium 23 and a temperature controller 27 are not provided in the pipe 28 without providing a temperature controller. Is that a gas temperature controller 51 is provided. Except for this point, the third embodiment is the same as the first embodiment. In the third embodiment, the temperature of the mixed gas of the halogen compound-containing gas and the steam is adjusted to a predetermined temperature equal to or lower than the temperature of the aqueous medium 23 by the gas temperature controller 51. As the gas temperature controller 51, a normal heat exchanger or the like is used.
As a result, an excessive amount of water vapor in the mixed gas flowing in the pipe 28 is cold trapped, and the gas temperature controller 51
The mixed gas that has passed through contains a saturated water vapor amount corresponding to the temperature cooled by the gas temperature controller 51. Thus, also in the present embodiment, the amount of water vapor in the mixed gas of the halogen compound-containing gas and the water vapor can be controlled to a predetermined amount, so that the halogen compound can be decomposed with high efficiency. In particular, in the present embodiment, since the temperature of the aqueous medium 23 is not regulated, the temperature of the aqueous medium 23 is usually room temperature, which is suitable as a method for controlling and adding a small amount of water vapor less than the saturated water vapor amount at room temperature. ing.

【0047】実施の形態4.図8はこの発明の実施の形
態4のハロゲン含有ガス処理装置の構成を説明する図で
ある。実施の形態4のハロゲン含有ガス処理装置の構成
が実施の形態3の構成と異なるのは、水蒸気をバブリン
グではなく水蒸気発生器52を用いて供給する点であ
る。この点を除けば実施の形態3と同じである。実施の
形態4においては、ガス温度調節器51によりハロゲン
含有ガスと水蒸気との混合ガスの温度を所定の温度に調
温する。これによって、配管28内を流れる混合ガス中
の過剰量の水蒸気がコールドトラップされ、ガス温度調
節器51を通過した混合ガスはガス温度調節器51によ
り冷却された温度に対応する飽和水蒸気量を含んでい
る。このように本実施の形態においても、ハロゲン含有
ガスと水蒸気との混合ガス中の水蒸気量を所定の量に制
御できるので、ハロゲン含有ガスの分解を高効率で行う
ことができる。
Embodiment 4 FIG. 8 is a diagram illustrating a configuration of a halogen-containing gas processing apparatus according to Embodiment 4 of the present invention. The configuration of the halogen-containing gas processing apparatus of the fourth embodiment is different from that of the third embodiment in that steam is supplied using a steam generator 52 instead of bubbling. Except for this point, the third embodiment is the same as the third embodiment. In the fourth embodiment, the gas temperature controller 51 adjusts the temperature of the mixed gas of the halogen-containing gas and the steam to a predetermined temperature. As a result, an excessive amount of water vapor in the mixed gas flowing in the pipe 28 is cold trapped, and the mixed gas that has passed through the gas temperature controller 51 contains a saturated water vapor amount corresponding to the temperature cooled by the gas temperature controller 51. In. Thus, also in the present embodiment, the amount of water vapor in the mixed gas of the halogen-containing gas and the water vapor can be controlled to a predetermined amount, so that the decomposition of the halogen-containing gas can be performed with high efficiency.

【0048】実施の形態5.図9はこの発明の実施の形
態5のハロゲン含有ガス処理装置の構成を説明する図で
ある。実施の形態5のハロゲン含有ガス処理装置の構成
が実施の形態1の構成と異なるのは、配管28に温度制
御部としてリボンヒーター53を設ける点である。この
点を除けば実施の形態1と同じである。実施の形態5で
は、リボンヒーター53により、配管28の温度を水媒
体23の温度よりも5℃以上、望ましくは10℃以上高
くなるように制御する。これにより、配管28内で結露
することによって供給する水蒸気量が低下するという問
題は回避でき、水媒体23の温度によって決まる水蒸気
量を精度よく供給することができるので、供給水蒸気量
の低下によるハロゲン化合物の分解効率の低下を防ぐこ
とができる。
Embodiment 5 FIG. FIG. 9 is a diagram illustrating a configuration of a halogen-containing gas processing apparatus according to Embodiment 5 of the present invention. The configuration of the halogen-containing gas processing apparatus of the fifth embodiment is different from that of the first embodiment in that a ribbon heater 53 is provided as a temperature controller in the pipe 28. Except for this point, the third embodiment is the same as the first embodiment. In the fifth embodiment, the ribbon heater 53 controls the temperature of the pipe 28 to be higher than the temperature of the aqueous medium 23 by 5 ° C. or more, preferably by 10 ° C. or more. Thus, the problem that the amount of water vapor supplied due to condensation in the pipe 28 decreases can be avoided, and the amount of water vapor determined by the temperature of the aqueous medium 23 can be accurately supplied. A decrease in the decomposition efficiency of the compound can be prevented.

【0049】実施の形態6.図10は、この発明の実施
の形態6のハロゲン含有ガス処理装置の水蒸気供給部の
構成を説明する図である。実施の形態1乃至5の水蒸気
供給部21は、バブリングによる気液接触により水蒸気
を供給するものであるが、この実施の形態6の水蒸気供
給部61は、滴下する水媒体との気液接触により水蒸気
を供給するものである。水蒸気供給部以外の構成は、実
施の形態1乃至5と同じである。
Embodiment 6 FIG. FIG. 10 is a diagram illustrating a configuration of a steam supply unit of a halogen-containing gas processing apparatus according to Embodiment 6 of the present invention. The steam supply unit 21 of Embodiments 1 to 5 supplies steam by gas-liquid contact by bubbling, but the steam supply unit 61 of Embodiment 6 uses gas-liquid contact with a dripping aqueous medium. It supplies steam. The configuration other than the steam supply unit is the same as in the first to fifth embodiments.

【0050】実施の形態6のハロゲン含有ガス処理装置
の水蒸気供給部61は、水媒体63を入れた容器62
と、排出源から排出されたハロゲン化合物含有ガスを容
器62内に導入する配管24と、この配管24に設けら
れたハロゲン濃度センサ25と、放電処理部に向けて排
出する配管28と、水媒体63をハロゲン濃度に基づく
所定の温度に制御する温度調節器64と、温度制御され
た水媒体63を配管65を通して容器62の上部に導く
循環ポンプ66と、容器62の上部に設けられ配管65
に接続された多数の小孔67を有する水媒体滴下部68
とを備えている。
The steam supply unit 61 of the halogen-containing gas treatment apparatus according to the sixth embodiment includes a container 62 containing an aqueous medium 63.
A pipe 24 for introducing the halogen compound-containing gas discharged from the discharge source into the container 62, a halogen concentration sensor 25 provided on the pipe 24, a pipe 28 for discharging to the discharge processing unit, and an aqueous medium. A temperature controller 64 for controlling the temperature of the aqueous medium 63 to a predetermined temperature based on the halogen concentration; a circulation pump 66 for guiding the temperature-controlled aqueous medium 63 to the upper part of the container 62 through a pipe 65;
Medium dropping section 68 having a number of small holes 67 connected to
And

【0051】実施の形態1と同様に、排出源から排出さ
れたハロゲン化合物含有ガスは、配管24を通して水蒸
気供給部61に導入される。ハロゲン化合物含有中のハ
ロゲン濃度を配管24に設けられたハロゲン濃度センサ
25で検知し、検知されたハロゲン濃度に基づき、最も
分解効率が高くなる水蒸気量を混入できる水媒体63の
温度を求める。水媒体63がこの温度となるように温度
調節器64により水媒体63が調温される。調温された
水媒体63は循環ポンプ66により配管65を通して容
器62の上部に導かれ、水媒体滴下部68からシャワー
状に滴下される。配管24を通して容器62内に導入さ
れたハロゲン化合物含有ガスは、容器62内の水媒体6
3上の空間にある滴下する水媒体69と気液接触するこ
とにより、ハロゲン化合物含有ガスに所定量の水蒸気が
混入される。ハロゲン化合物含有ガスと水蒸気との混合
ガスは、配管28により実施の形態1と同様に放電処理
部に導かれ、同様の処理が施される。実施の形態6のハ
ロゲン含有ガス処理装置は、上述のような水蒸気供給部
61を備えるので、ハロゲン化合物含有ガスが水媒体中
を通過しないため、トラブル発生時にも水媒体の逆流を
防ぐことができ、安定した処理が可能である。
As in the first embodiment, the halogen compound-containing gas discharged from the discharge source is introduced into the steam supply section 61 through the pipe 24. The halogen concentration contained in the halogen compound is detected by the halogen concentration sensor 25 provided in the pipe 24, and the temperature of the aqueous medium 63 into which the amount of water vapor having the highest decomposition efficiency is mixed is determined based on the detected halogen concentration. The temperature of the aqueous medium 63 is adjusted by the temperature controller 64 so that the temperature of the aqueous medium 63 becomes this temperature. The temperature-controlled aqueous medium 63 is guided to the upper part of the container 62 through a pipe 65 by a circulation pump 66, and is dropped from the aqueous medium dropping section 68 in a shower shape. The halogen compound-containing gas introduced into the container 62 through the pipe 24 is supplied to the aqueous medium 6 in the container 62.
A predetermined amount of water vapor is mixed into the halogen compound-containing gas by coming into gas-liquid contact with the aqueous medium 69 to be dropped in the space above 3. The mixed gas of the halogen compound-containing gas and the water vapor is guided to the discharge processing unit by the pipe 28 in the same manner as in the first embodiment, and is subjected to the same processing. Since the halogen-containing gas treatment apparatus of the sixth embodiment includes the water vapor supply unit 61 as described above, the halogen compound-containing gas does not pass through the aqueous medium, so that the backflow of the aqueous medium can be prevented even when a trouble occurs. , Stable processing is possible.

【0052】[0052]

【発明の効果】この発明に係るハロゲン含有ガス処理方
法は、ハロゲン化合物含有ガスに、このガス中のハロゲ
ン濃度に基づく所定量の水蒸気を混合し、この混合ガス
を放電処理部へ導入して、混合ガス中のハロゲン化合物
を分解し、この分解生成物を除去するので、ハロゲン化
合物の分解効率の制御ができ、ハロゲン化合物含有ガス
中のハロゲン濃度によらずに高効率にハロゲン含有ガス
を処理することができる。
According to the method for treating a halogen-containing gas according to the present invention, a halogen compound-containing gas is mixed with a predetermined amount of water vapor based on the halogen concentration in the gas, and the mixed gas is introduced into a discharge treatment section. Since the halogen compound in the mixed gas is decomposed and the decomposition product is removed, the decomposition efficiency of the halogen compound can be controlled, and the halogen-containing gas can be treated with high efficiency regardless of the halogen concentration in the halogen compound-containing gas. be able to.

【0053】また、ハロゲン化合物含有ガスと所定量の
水蒸気との混合が、ハロゲン化合物含有ガスと所定の温
度に制御された水媒体との気液接触により行われるの
で、簡便に所定量の水蒸気を混入制御することができ
る。
Further, the mixing of the halogen compound-containing gas and the predetermined amount of water vapor is performed by gas-liquid contact between the halogen compound-containing gas and the aqueous medium controlled at a predetermined temperature. Mixing control can be performed.

【0054】また、気液接触が、ハロゲン化合物含有ガ
スを水媒体中に放出してバブリングすることにより行わ
れるので、ハロゲン化合物含有ガスと水媒体とを簡便に
気液接触させることができる。
Further, since the gas-liquid contact is performed by discharging the halogen compound-containing gas into the aqueous medium and performing bubbling, the gas-liquid contact between the halogen compound-containing gas and the aqueous medium can be easily performed.

【0055】また、気液接触がハロゲン化合物含有ガス
と滴下する水媒体との接触により行われるので、トラブ
ル発生時にも水媒体の逆流を防ぐことができる。
Further, since the gas-liquid contact is performed by contact between the halogen compound-containing gas and the aqueous medium dropped, it is possible to prevent the aqueous medium from flowing backward even when a trouble occurs.

【0056】また、混合ガス中のハロゲン原子濃度に対
する水分子の濃度比が0.25〜1となるように水蒸気
が混合されるので、ハロゲン化合物を高効率に分解処理
することができる。
Further, since the water vapor is mixed such that the concentration ratio of water molecules to the halogen atom concentration in the mixed gas becomes 0.25 to 1, the halogen compound can be decomposed with high efficiency.

【0057】また、真空ポンプを介して供給されるハロ
ゲン化合物含有ガスに、所定量の水蒸気が混合され、か
つこの真空ポンプのパージガスとして希ガスが用いられ
るので、大流量のパージガスを流してもハロゲン化合物
の分解効率の低下が小さい。
Also, since a predetermined amount of water vapor is mixed with the halogen compound-containing gas supplied via the vacuum pump, and a rare gas is used as the purge gas for the vacuum pump, the halogen gas is supplied even if a large flow rate of the purge gas is supplied. The decrease in the decomposition efficiency of the compound is small.

【0058】また、混合ガスが通過する配管の温度が水
媒体の温度よりも5℃以上高く調温されるので、配管で
の結露を防ぐことができ、これにより混合ガス中の水蒸
気量の低下を防ぐことができる。
Further, since the temperature of the piping through which the mixed gas passes is adjusted to be higher than the temperature of the aqueous medium by 5 ° C. or more, dew condensation on the piping can be prevented, thereby reducing the amount of water vapor in the mixed gas. Can be prevented.

【0059】また、放電処理部の放電電極温度が水媒体
の温度よりも5℃以上高く調温されるので、放電電極で
の結露を防ぐことができ、安定した処理が可能である。
Further, since the temperature of the discharge electrode of the discharge processing section is controlled to be higher than the temperature of the aqueous medium by 5 ° C. or more, dew condensation on the discharge electrode can be prevented, and stable processing can be performed.

【0060】また、ハロゲン化合物含有ガスに所定量よ
り過剰の水蒸気を添加した後に、この水蒸気添加ガスが
ハロゲン化合物含有ガス中のハロゲン濃度に基づく所定
の温度に調温されるので、混合ガス中の水蒸気量を所定
量に制御することができる。
Further, after adding an excess of steam to the halogen compound-containing gas in excess of a predetermined amount, the steam added gas is adjusted to a predetermined temperature based on the halogen concentration in the halogen compound-containing gas. The amount of water vapor can be controlled to a predetermined amount.

【0061】この発明に係るハロゲン含有ガス処理装置
は、ハロゲン化合物含有ガスにこのガス中のハロゲン濃
度に基づく所定量の水蒸気を混入制御する水蒸気供給部
と、ハロゲン化合物含有ガスと水蒸気供給部により混入
された水蒸気との混合ガスを放電により分解する放電処
理部とを備えるので、ハロゲン化合物の分解効率の制御
ができ、ハロゲン化合物含有ガス中のハロゲン濃度によ
らずに高効率にハロゲン含有ガスを処理することができ
る。
The halogen-containing gas treatment apparatus according to the present invention comprises a steam supply section for controlling the mixing of a predetermined amount of steam based on the halogen concentration in the halogen compound-containing gas, and a halogen compound-containing gas and a steam supply section. And a discharge processing unit that decomposes the mixed gas with the discharged water vapor by discharge, so that the decomposition efficiency of the halogen compound can be controlled, and the halogen-containing gas can be processed efficiently regardless of the halogen concentration in the halogen compound-containing gas. can do.

【0062】また、水蒸気供給部が、ハロゲン化合物含
有ガスと水媒体とが気液接触する気液接触部と、上記ハ
ロゲン化合物含有ガス中のハロゲン濃度に基づき上記水
媒体を所定の温度に制御する温度制御部とを備えるの
で、所定量の水蒸気を簡便に混入制御が可能である。
Further, the water vapor supply section controls the aqueous medium to a predetermined temperature based on the gas-liquid contact section where the halogen compound-containing gas and the aqueous medium come into gas-liquid contact with each other and the halogen concentration in the halogen compound-containing gas. Since the temperature controller is provided, a predetermined amount of steam can be easily mixed and controlled.

【0063】また、気液接触部が、ハロゲン化合物含有
ガスを水媒体中に放出することによりバブリングするバ
ブリング部を備えるので、ハロゲン化合物含有ガスと水
媒体とを簡便に気液接触させることができる。
Further, since the gas-liquid contact portion is provided with the bubbling portion for bubbling by discharging the halogen compound-containing gas into the aqueous medium, the gas-liquid contact between the halogen compound-containing gas and the aqueous medium can be easily performed. .

【0064】また、気液接触部が、水媒体を滴下する水
媒体滴下部と、ハロゲン化合物含有ガスと上記水媒体滴
下部より滴下された水媒体とを接触させる接触部とを備
えるので、トラブル発生時にも水媒体の逆流を防ぐこと
ができる。
Further, since the gas-liquid contact section has an aqueous medium dropping section for dropping the aqueous medium and a contact section for contacting the halogen compound-containing gas with the aqueous medium dropped from the aqueous medium dropping section, troubles are caused. The backflow of the aqueous medium can be prevented even at the time of occurrence.

【0065】また、ハロゲン化合物含有ガス中のハロゲ
ン濃度をハロゲン濃度センサにより検出するので、精度
良くハロゲン濃度の検出が可能である。
Further, since the halogen concentration in the halogen compound-containing gas is detected by the halogen concentration sensor, the halogen concentration can be detected with high accuracy.

【0066】また、放電処理部を通過したガスを水媒体
中に放出してバブリングすることにより、放電処理部に
おいて生成した分解生成物を水媒体中に捕獲する捕集部
を備えるので、ハロゲン化合物の分解生成物の捕集が可
能である。
Further, since the gas passing through the discharge treatment section is discharged into the aqueous medium and subjected to bubbling, a trapping section for trapping decomposition products generated in the discharge treatment section in the aqueous medium is provided. It is possible to collect the decomposition products of.

【0067】また、水蒸気供給部と放電処理部とを結ぶ
配管に温度制御部を備えるので、放電処理部に導入する
混合ガス中の水蒸気量を所定の量に精度良く制御するこ
とが可能である。
Further, since the temperature control section is provided in the pipe connecting the steam supply section and the discharge processing section, the amount of water vapor in the mixed gas introduced into the discharge processing section can be accurately controlled to a predetermined amount. .

【0068】また、放電処理部は、放電電極を加熱する
加熱源を備えるので、放電電極での結露を防ぐことがで
き、安定した処理が可能である。
Further, since the discharge processing section is provided with a heating source for heating the discharge electrode, it is possible to prevent dew condensation on the discharge electrode and to perform stable processing.

【0069】また、ハロゲン化合物含有ガスに水蒸気を
混入させる水蒸気供給部と、この水蒸気供給部と配管に
よって結ばれ、ハロゲン含有ガスと水蒸気供給部により
混入された水蒸気との混合ガスを放電により分解する放
電処理部と、配管の少なくとも一部に設けられハロゲン
含有ガスのハロゲン濃度に基づき混合ガスを所定の温度
に制御する温度制御部とを備えるので、ハロゲン化合物
の分解効率の制御ができ、ハロゲン化合物含有ガス中の
ハロゲン濃度によらずに高効率にハロゲン含有ガスを処
理することができる。
Further, a steam supply unit for mixing steam into the halogen compound-containing gas, and a gas mixture of the halogen-containing gas and the steam mixed by the steam supply unit, which are connected by a pipe to the steam supply unit, are decomposed by electric discharge. Since the discharge processing section and the temperature control section provided at least in part of the pipe and controlling the mixed gas to a predetermined temperature based on the halogen concentration of the halogen-containing gas are provided, the decomposition efficiency of the halogen compound can be controlled, and the halogen compound can be controlled. The halogen-containing gas can be treated with high efficiency regardless of the halogen concentration in the contained gas.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 この発明の実施の形態1のハロゲン含有ガス
処理装置の構成を説明する図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a halogen-containing gas processing apparatus according to Embodiment 1 of the present invention.

【図2】 この発明における水蒸気供給部の水媒体に純
水を用いたときの純水温度とCF4の分解効率の関係を
調べた結果を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a result of examining a relationship between a pure water temperature and a CF 4 decomposition efficiency when pure water is used as an aqueous medium of a steam supply unit in the present invention.

【図3】 この発明におけるCF4濃度に対する飽和水
分濃度の比率とCF4の分解効率の関係を調べた結果を
示す図である。
FIG. 3 is a graph showing the result of examining the relationship between the ratio of the saturated water concentration to the CF 4 concentration and the decomposition efficiency of CF 4 in the present invention.

【図4】 この発明におけるF原子濃度に対する飽和水
分濃度の比率とCF 4の分解効率の関係を調べた結果を
示す図である。
FIG. 4 shows saturated water with respect to F atom concentration in the present invention.
Fraction concentration ratio and CF FourThe result of examining the relationship between the decomposition efficiency of
FIG.

【図5】 この発明におけるハロゲン原子濃度に対する
水分子濃度の比率とCF4の分解効率の関係を調べた結
果を示す図である。
FIG. 5 is a graph showing the result of examining the relationship between the ratio of the concentration of water molecules to the concentration of halogen atoms and the decomposition efficiency of CF 4 in the present invention.

【図6】 各種パージガスを用いたときのパージガス流
量とハロゲン化合物の分解効率の関係を調べた結果の例
を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing an example of a result of examining a relationship between a purge gas flow rate and a halogen compound decomposition efficiency when various purge gases are used.

【図7】 この発明の実施の形態3のハロゲン含有ガス
処理装置の構成を説明する図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating a configuration of a halogen-containing gas processing apparatus according to Embodiment 3 of the present invention.

【図8】 この発明の実施の形態4のハロゲン含有ガス
処理装置の構成を説明する図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating a configuration of a halogen-containing gas processing apparatus according to Embodiment 4 of the present invention.

【図9】 この発明の実施の形態5のハロゲン含有ガス
処理装置の構成を説明する図である。
FIG. 9 is a diagram illustrating a configuration of a halogen-containing gas processing apparatus according to Embodiment 5 of the present invention.

【図10】 この発明の実施の形態6のハロゲン含有ガ
ス処理装置の水蒸気供給部の構成を説明する図である。
FIG. 10 is a diagram illustrating a configuration of a steam supply unit of a halogen-containing gas processing apparatus according to Embodiment 6 of the present invention.

【図11】 従来のハロゲン含有ガス処理装置の構成を
説明する図である。
FIG. 11 is a diagram illustrating a configuration of a conventional halogen-containing gas processing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21水蒸気供給部、22 バブリング容器、23 水媒
体、24,28配管、25 ハロゲン濃度センサ、26
温度センサ、27 温度調節器、31 放電処理部、
33,34 放電電極、35 高電圧電源、36 液
温調節器、37循環ポンプ、41 捕集部、43 水媒
体、51 ガス温度調節器、52 水蒸気発生器、53
リボンヒーター、 61水蒸気供給部、68 水媒体
滴下部。
21 steam supply unit, 22 bubbling container, 23 aqueous medium, 24, 28 piping, 25 halogen concentration sensor, 26
Temperature sensor, 27 temperature controller, 31 discharge processing unit,
33, 34 discharge electrode, 35 high voltage power supply, 36 liquid temperature controller, 37 circulation pump, 41 collection unit, 43 aqueous medium, 51 gas temperature controller, 52 steam generator, 53
Ribbon heater, 61 steam supply unit, 68 aqueous medium dropping unit.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 土井 雅史 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 Fターム(参考) 4D002 AA21 AA22 AA24 AC10 BA07 CA01 CA06 CA13 DA05 DA12 DA35 EA02 GA01 GA02 GA03 GB02 GB03 GB08 GB11 GB20 4D020 AA10 BA23 BB03 CB01 CD10 DA03 DB03 DB20 4G075 AA03 AA37 AA42 AA51 AA52 AA53 AA63 BA01 BA05 BB01 BB06 BD05 BD12 BD22 BD27 CA02 CA15 CA57 CA63 DA01 DA13 EA02 EA06 EB01 EC01 EC21  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Masafumi Doi 2-3-2 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo F-term (reference) in Mitsubishi Electric Corporation 4D002 AA21 AA22 AA24 AC10 BA07 CA01 CA06 CA13 DA05 DA12 DA35 EA02 GA01 GA02 GA03 GB02 GB03 GB08 GB11 GB20 4D020 AA10 BA23 BB03 CB01 CD10 DA03 DB03 DB20 4G075 AA03 AA37 AA42 AA51 AA52 AA53 AA63 BA01 BA05 BB01 BB06 BD05 BD12 BD22 BD27 CA02 CA15 CA57 CA63 DA01 DA13 EA02 EC21

Claims (18)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ハロゲン化合物含有ガスに、このガス中
のハロゲン濃度に基づく所定量の水蒸気を混合し、この
混合ガスを放電処理部へ導入して、上記混合ガス中のハ
ロゲン化合物を分解し、この分解生成物を除去すること
からなるハロゲン含有ガス処理方法。
1. A method according to claim 1, wherein a predetermined amount of water vapor based on a halogen concentration in the gas is mixed with the halogen compound-containing gas, and the mixed gas is introduced into a discharge treatment unit to decompose the halogen compound in the mixed gas. A method for treating a halogen-containing gas, comprising removing the decomposition product.
【請求項2】 ハロゲン化合物含有ガスと所定量の水蒸
気との混合が、上記ハロゲン化合物含有ガスと所定の温
度に制御された水媒体との気液接触により行われてなる
請求項1記載のハロゲン含有ガス処理方法。
2. The halogen according to claim 1, wherein the mixing of the halogen compound-containing gas with a predetermined amount of water vapor is performed by gas-liquid contact between the halogen compound-containing gas and an aqueous medium controlled at a predetermined temperature. Gas containing method.
【請求項3】 気液接触が、ハロゲン化合物含有ガスを
水媒体中に放出してバブリングすることにより行われて
なる請求項2記載のハロゲン含有ガス処理方法。
3. The method for treating a halogen-containing gas according to claim 2, wherein the gas-liquid contact is performed by discharging the halogen compound-containing gas into an aqueous medium and performing bubbling.
【請求項4】 気液接触が、ハロゲン化合物含有ガスと
滴下する水媒体との接触により行われてなる請求項2記
載のハロゲン含有ガス処理方法。
4. The method for treating a halogen-containing gas according to claim 2, wherein the gas-liquid contact is performed by contacting the halogen compound-containing gas with a dropping aqueous medium.
【請求項5】 混合ガス中のハロゲン原子濃度に対する
水分子の濃度比が0.25〜1となるように水蒸気が混
合される請求項1〜4のいずれかに記載のハロゲン含有
ガス処理方法。
5. The halogen-containing gas treatment method according to claim 1, wherein the water vapor is mixed such that a concentration ratio of water molecules to a halogen atom concentration in the mixed gas becomes 0.25 to 1.
【請求項6】 真空ポンプを介して供給される上記ハロ
ゲン化合物含有ガスに、上記所定量の水蒸気が混合さ
れ、かつこの真空ポンプのパージガスとして希ガスが用
いられる請求項1〜5のいずれかに記載のハロゲン含有
ガス処理方法。
6. The method according to claim 1, wherein said predetermined amount of steam is mixed with said halogen compound-containing gas supplied via a vacuum pump, and a rare gas is used as a purge gas of said vacuum pump. The method for treating a halogen-containing gas described in the above.
【請求項7】 上記混合ガスが配管を通じて放電処理部
に導入され、この配管の温度が水媒体の温度よりも5℃
以上高く調温されてなる請求項2〜6のいずれかに記載
のハロゲン含有ガス処理方法。
7. The mixed gas is introduced into a discharge treatment section through a pipe, and the temperature of the pipe is set to 5 ° C. below the temperature of the aqueous medium.
The method for treating a halogen-containing gas according to any one of claims 2 to 6, wherein the temperature is adjusted to be higher.
【請求項8】 放電処理部の電極温度が上記水媒体の温
度よりも5℃以上高く調温されてなる請求項2〜7のい
ずれかに記載のハロゲン含有ガス処理方法。
8. The method for treating a halogen-containing gas according to claim 2, wherein an electrode temperature of the discharge treatment section is adjusted to be 5 ° C. or more higher than a temperature of the aqueous medium.
【請求項9】 ハロゲン化合物含有ガスと所定量の水蒸
気との混合が、上記ハロゲン化合物含有ガスに上記所定
量より過剰の水蒸気を添加した後に、この水蒸気添加ガ
スを上記ハロゲン化合物含有ガス中のハロゲン濃度に基
づく所定の温度に調温することにより行われてなる請求
項1記載のハロゲン含有ガス処理方法。
9. A method of mixing a halogen compound-containing gas with a predetermined amount of water vapor, after adding an excess of water vapor to the halogen compound-containing gas in excess of the predetermined amount. 2. The method for treating a halogen-containing gas according to claim 1, wherein the method is performed by adjusting the temperature to a predetermined temperature based on the concentration.
【請求項10】 ハロゲン化合物含有ガスに、このガス
中のハロゲン濃度に基づく所定量の水蒸気を混入制御す
る水蒸気供給部と、上記ハロゲン化合物含有ガスと上記
水蒸気供給部により混入された水蒸気との混合ガスを放
電により分解する放電処理部とを備えるハロゲン含有ガ
ス処理装置。
10. A steam supply unit for controlling mixing of a predetermined amount of water vapor based on the halogen concentration in the halogen compound-containing gas, and mixing of the halogen compound-containing gas with water vapor mixed by the water vapor supply unit. A halogen-containing gas processing apparatus comprising: a discharge processing unit configured to decompose a gas by discharge.
【請求項11】 水蒸気供給部が、ハロゲン化合物含有
ガスと水媒体とが気液接触する気液接触部と、上記ハロ
ゲン化合物含有ガス中のハロゲン濃度に基づき上記水媒
体を所定の温度に制御する温度制御部と、を備える請求
項10記載のハロゲン含有ガス処理装置。
11. A water vapor supply unit controls a temperature of the aqueous medium to a predetermined temperature based on a gas-liquid contacting part in which the halogen compound-containing gas and the aqueous medium come into gas-liquid contact with each other and a halogen concentration in the halogen compound-containing gas. The halogen-containing gas processing apparatus according to claim 10, further comprising: a temperature control unit.
【請求項12】 気液接触部が、ハロゲン化合物含有ガ
スを水媒体中に放出することによりバブリングするバブ
リング部を備える請求項11記載のハロゲン含有ガス処
理装置。
12. The halogen-containing gas treatment apparatus according to claim 11, wherein the gas-liquid contact unit includes a bubbling unit that performs bubbling by discharging the halogen compound-containing gas into the aqueous medium.
【請求項13】 気液接触部が、水媒体を滴下する水媒
体滴下部と、ハロゲン化合物含有ガスと上記水媒体滴下
部より滴下された水媒体とを接触させる接触部と、を備
える請求項11記載のハロゲン含有ガス処理装置。
13. The gas-liquid contact section includes an aqueous medium dropping section for dropping an aqueous medium, and a contact section for contacting the halogen compound-containing gas with the aqueous medium dropped from the aqueous medium dropping section. 12. The halogen-containing gas treatment apparatus according to 11.
【請求項14】 ハロゲン化合物含有ガス中のハロゲン
濃度がハロゲン濃度センサにより検出される請求項10
〜13のいずれかに記載のハロゲン含有ガス処理装置。
14. The method according to claim 10, wherein the halogen concentration in the halogen compound-containing gas is detected by a halogen concentration sensor.
The halogen-containing gas treatment apparatus according to any one of claims 13 to 13.
【請求項15】 放電処理部を通過したガスを水媒体中
に放出してバブリングすることにより、上記放電処理部
において生成した分解生成物を上記水媒体中に捕獲する
捕集部を備える請求項10〜14のいずれかに記載のハ
ロゲン含有ガス処理装置。
15. A collecting unit for capturing a decomposition product generated in the discharge processing unit in the aqueous medium by discharging the gas that has passed through the discharge processing unit into the aqueous medium and performing bubbling. 15. The halogen-containing gas treatment apparatus according to any one of 10 to 14.
【請求項16】 水蒸気供給部と放電処理部とを結ぶ配
管に温度制御部を備える請求項10〜15のいずれかに
記載のハロゲン含有ガス処理装置。
16. The halogen-containing gas processing apparatus according to claim 10, further comprising a temperature control section provided in a pipe connecting the steam supply section and the discharge processing section.
【請求項17】 放電処理部は、放電電極を加熱する加
熱源を備える請求項10〜16のいずれかに記載のハロ
ゲン含有ガス処理装置。
17. The halogen-containing gas processing apparatus according to claim 10, wherein the discharge processing unit includes a heating source that heats the discharge electrode.
【請求項18】 ハロゲン化合物含有ガスに水蒸気を混
入させる水蒸気供給部と、この水蒸気供給部と配管によ
って結ばれ、上記ハロゲン化合物含有ガスと上記水蒸気
供給部により混入された水蒸気との混合ガスを放電によ
り分解する放電処理部と、上記配管の少なくとも一部に
設けられ上記ハロゲン化合物含有ガスのハロゲン濃度に
基づき上記混合ガスを所定の温度に制御する温度制御部
と、を備えるハロゲン含有ガス処理装置。
18. A steam supply unit for mixing steam into a halogen compound-containing gas, and a mixed gas of the halogen compound-containing gas and steam mixed by the steam supply unit, which is connected by a pipe to the steam supply unit. A halogen-containing gas processing apparatus, comprising: a discharge processing unit that is decomposed by a gas;
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