JP2002146541A - Deposited film forming equipment, its forming method, and electrophotographic photosensitive body - Google Patents

Deposited film forming equipment, its forming method, and electrophotographic photosensitive body

Info

Publication number
JP2002146541A
JP2002146541A JP2000339160A JP2000339160A JP2002146541A JP 2002146541 A JP2002146541 A JP 2002146541A JP 2000339160 A JP2000339160 A JP 2000339160A JP 2000339160 A JP2000339160 A JP 2000339160A JP 2002146541 A JP2002146541 A JP 2002146541A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
deposited film
forming
substrate
reaction vessel
conditions
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000339160A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yukihiro Abe
幸裕 阿部
Daisuke Tazawa
大介 田澤
Hitoshi Murayama
仁 村山
Tatsuyuki Aoike
達行 青池
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2000339160A priority Critical patent/JP2002146541A/en
Publication of JP2002146541A publication Critical patent/JP2002146541A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the uniformity and reproducibility of deposited film characteristics under a superior production stability. SOLUTION: The deposited film forming equipment 100 is composed of a reaction container 102 that is capable of enclosing at least the base body 101 and reducing pressure, a supply system 104 for introducing a gaseous starting material into the reaction container 102, an evacuation system 105 for exhausting the reaction container 102, a power supply system 106 for introducing an electric power for dissolving the gas introduced, a motor 116 for rotating the base body 101 and a driving unit 118. The deposited film forming equipment 100 is provided with a base body rotation controller 120 for controlling the motor 116 and the driving unit 118 linked with a minimum of one control function among the gaseous starting material supply system 104, the evacuation system 105, and the power supply system.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、支持体上に堆積
膜、とりわけ機能性堆積膜、特に半導体デバイス、電子
写真用光受容部材、画像入力用のラインセンサー、撮像
デバイス、光起電力素子等に用いられる堆積膜を形成す
る堆積膜形成装置および堆積膜形成方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a deposited film on a support, particularly a functional deposited film, particularly a semiconductor device, a light receiving member for electrophotography, a line sensor for image input, an imaging device, a photovoltaic element, and the like. TECHNICAL FIELD The present invention relates to a deposited film forming apparatus and a deposited film forming method for forming a deposited film used in a method.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、半導体デバイス、電子写真用感光
体、画像入力ラインセンサー、撮影デバイス、光起電力
デバイス等に用いられる堆積膜は、プラズマCVD法、
イオンプレーティング法、およびプラズマエッチング法
などの高周波電力により生成されるプラズマを用いた堆
積膜形成方法により形成されており、そのため装置も数
多く実用化されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, deposited films used in semiconductor devices, photoreceptors for electrophotography, image input line sensors, photographing devices, photovoltaic devices, etc. are formed by plasma CVD,
It is formed by a deposition film forming method using plasma generated by high frequency power such as an ion plating method and a plasma etching method, and therefore, many apparatuses have been put to practical use.

【0003】例えば、プラズマCVD法を用いた堆積膜
形成方法、つまり、高周波電力のグロー放電により原料
ガスのプラズマを生成し、その分解種を基板上に堆積さ
せることによって堆積膜を形成する方法がある。この方
法を用いた場合、例えば、原料ガスにシランガスを用い
ることで、アモルファスシリコン薄膜を形成することが
可能である。ここで、プラズマCVD法によるアモルフ
ァスシリコン薄膜の形成方法の概要を、アモルファスシ
リコンを母材とした電子写真用感光体の作製方法を例に
用いて説明する。
For example, a method of forming a deposited film using a plasma CVD method, that is, a method of forming a deposited film by generating plasma of a source gas by glow discharge of high-frequency power and depositing the decomposed species on a substrate. is there. When this method is used, for example, an amorphous silicon thin film can be formed by using silane gas as a source gas. Here, an outline of a method of forming an amorphous silicon thin film by a plasma CVD method will be described using an example of a method of manufacturing an electrophotographic photosensitive member using amorphous silicon as a base material.

【0004】図3は、プラズマCVD法を用いた、アモ
ルファスシリコンを母材とした電子写真用感光体の製造
装置(堆積膜形成装置)の一例を示す模式的な構成図で
ある。
FIG. 3 is a schematic configuration diagram showing an example of a manufacturing apparatus (deposited film forming apparatus) of an electrophotographic photosensitive member using amorphous silicon as a base material by using a plasma CVD method.

【0005】この装置は、円筒形基体101を内包でき
る減圧可能な反応容器102、この反応容器102内に
原料ガスを供給するための原料ガス供給管117、およ
びこの原料ガスを分解するための電力を導入するカソー
ド114を含む堆積膜形成装置100と、反応容器10
2内に原料ガスを供給原料する原料ガス供給システム1
04と、反応容器102内を排気する排気システム10
5と、カソード114に電力を供給する電力供給システ
ム106と、を少なくとも有している。なお、図3中に
示した2つの円筒形基体101のうちの右側の円筒形基
体101は、長手方向に破断した断面を示している。
The apparatus comprises a reaction vessel 102 capable of containing a cylindrical substrate 101 and capable of reducing pressure, a source gas supply pipe 117 for supplying a source gas into the reaction vessel 102, and an electric power for decomposing the source gas. Film forming apparatus 100 including a cathode 114 for introducing
Source gas supply system 1 for supplying source gas into 2
04 and an exhaust system 10 for exhausting the inside of the reaction vessel 102
5 and a power supply system 106 that supplies power to the cathode 114. The right cylindrical body 101 of the two cylindrical bodies 101 shown in FIG. 3 shows a cross section broken in the longitudinal direction.

【0006】さらに、この装置は、堆積膜形成中に基体
101をモーター116によって駆動部118を介して
所定の速度で回転させ、基体101の周方向における堆
積膜の均一性を向上させている。なお、このような構成
(モーターおよび駆動部)を備えた堆積膜形成装置は、
特開平11−92932号公報に開示されている。
Further, in this apparatus, during the formation of the deposited film, the substrate 101 is rotated at a predetermined speed by the motor 116 via the drive unit 118, thereby improving the uniformity of the deposited film in the circumferential direction of the substrate 101. In addition, the deposited film forming apparatus provided with such a configuration (motor and drive unit)
It is disclosed in JP-A-11-92932.

【0007】また、図4は、図3に示した装置における
堆積膜形成装置の横断面を示す模式的断面図である。
FIG. 4 is a schematic sectional view showing a cross section of the deposited film forming apparatus in the apparatus shown in FIG.

【0008】図4に示すように、反応容器102の底面
の中心には排気口119が設けられている。そして、反
応容器102内には、排気口119の周りにこれと同心
円状に6つの円筒形基体101が配置されており、さら
にこれらの円筒形基体101が成す円軌道の周りには6
本の原料ガス供給管117が同様に排気口119と同心
円状に配置されている。さらに、さらに、反応容器10
2と堆積膜形成装置100の外枠部材との間には、6つ
のカソード114が配置されている。
As shown in FIG. 4, an exhaust port 119 is provided at the center of the bottom surface of the reaction vessel 102. In the reaction vessel 102, six cylindrical substrates 101 are arranged concentrically around the exhaust port 119, and further around a circular orbit formed by these cylindrical substrates 101.
The source gas supply pipe 117 is similarly arranged concentrically with the exhaust port 119. Further, the reaction vessel 10
Six cathodes 114 are arranged between 2 and the outer frame member of the deposited film forming apparatus 100.

【0009】次に、上記に説明した装置を用いて堆積膜
を形成する工程について説明する。
Next, a process of forming a deposited film using the above-described apparatus will be described.

【0010】まず、反応容器102内の、ヒーター(不
図示)を内蔵する基体支持体103に円筒形基体101
を設置し、反応容器102内を排気口119を介して排
気ポンプ107によって排気し、所望の真空度まで排気
が完了した後、例えばArガス等の不活性ガスを、原料
ガス供給システム104内のマスフローコントローラを
用いて所定の流量で反応容器102内に供給する。そし
て、排気ポンプ107の排気速度を調整することによっ
て、反応容器102内を所望の圧力に制御する。反応容
器102の内圧が所望の圧力に設定された後に、基体支
持体103に内蔵されたヒーターによって円筒形基体1
01を所望の温度まで加熱する。なお、円筒形基体10
1は、堆積膜形成中も堆積膜形成に必要な所望の温度に
保持し続ける。
First, a cylindrical substrate 101 is placed on a substrate support 103 containing a heater (not shown) in a reaction vessel 102.
Is installed, and the inside of the reaction vessel 102 is evacuated by the exhaust pump 107 through the exhaust port 119. After the evacuation to a desired degree of vacuum is completed, for example, an inert gas such as Ar gas is supplied to the source gas supply system 104. It is supplied into the reaction vessel 102 at a predetermined flow rate using a mass flow controller. Then, the pressure inside the reaction vessel 102 is controlled to a desired pressure by adjusting the exhaust speed of the exhaust pump 107. After the internal pressure of the reaction vessel 102 is set to a desired pressure, the cylindrical substrate 1 is heated by a heater built in the substrate support 103.
Heat 01 to desired temperature. The cylindrical substrate 10
1 keeps maintaining the desired temperature required for forming the deposited film even during the formation of the deposited film.

【0011】以上の手順により加熱工程が終了した後、
続いて堆積膜形成工程を行う。反応容器102内のAr
ガスを排気ポンプ107によって排気した後、排気バル
ブ108およびメイン排気バルブ109を操作し、スロ
ットルバルブ110の開度を全開にして、油拡散ポンプ
111を介してメイン排気ポンプ112によって反応容
器102内を例えば1×10-3Paの真空度まで排気す
る。続いて、反応容器102内に、原料ガス供給システ
ム104によって、各原料ガスを各供給配管に設置され
たマスフローコントローラーを用いて所定の流量で供給
する。このとき、スロットルバルブ110の開度を調節
し、排気速度を調整することで、反応容器102の内圧
を所望の圧力に制御する。反応容器102の内圧が安定
したところで、電力源113からカソード114にマッ
チングボックス115を介して電力の供給を行い、反応
容器102内にグロー放電を生起させる。この放電エネ
ルギーによって、反応容器102内に導入された原料ガ
スが分解され、各円筒形基体101上に所定の堆積膜が
同時に形成される。堆積膜が所望の膜厚に到達したらカ
ソード114に印加している電力の供給を停止し、原科
ガス供給システム104からの原料ガスの供給を停止す
ることで堆積膜の形成を終える。
After the heating step is completed by the above procedure,
Subsequently, a deposited film forming step is performed. Ar in the reaction vessel 102
After the gas is exhausted by the exhaust pump 107, the exhaust valve 108 and the main exhaust valve 109 are operated to fully open the throttle valve 110, and the inside of the reaction vessel 102 is opened by the main exhaust pump 112 via the oil diffusion pump 111. For example, the gas is evacuated to a degree of vacuum of 1 × 10 −3 Pa. Subsequently, each raw material gas is supplied into the reaction vessel 102 at a predetermined flow rate by a raw material gas supply system 104 using a mass flow controller installed in each supply pipe. At this time, the internal pressure of the reaction vessel 102 is controlled to a desired pressure by adjusting the opening of the throttle valve 110 and adjusting the exhaust speed. When the internal pressure of the reaction vessel 102 becomes stable, power is supplied from the power source 113 to the cathode 114 via the matching box 115 to generate a glow discharge in the reaction vessel 102. The source gas introduced into the reaction vessel 102 is decomposed by the discharge energy, and a predetermined deposited film is simultaneously formed on each of the cylindrical substrates 101. When the deposited film reaches a desired film thickness, the supply of the electric power applied to the cathode 114 is stopped, and the supply of the source gas from the raw material gas supply system 104 is stopped, thereby completing the formation of the deposited film.

【0012】同様の作業を複数回続けて行うことによっ
て、多層構造を持つ堆積膜を形成することが可能にな
る。
By repeating the same operation a plurality of times, a deposited film having a multilayer structure can be formed.

【0013】以上の堆積膜形成方法によれば、例えば図
5に示すように、基体201上に電荷注入阻止層20
2、光導電層203、表面層204の順に堆積膜が積層
されて成る電子写真用感光体が形成される。
According to the above-described method for forming a deposited film, for example, as shown in FIG.
2. A photoconductor for electrophotography is formed by stacking deposited films in the order of photoconductive layer 203 and surface layer 204.

【0014】[0014]

【発明が解決しようとする課題】上記従来の堆積膜形成
方法によって、比較的良好な堆積膜を形成することは可
能である。しかしながら、これらの堆積膜を用いた製品
に対する市場の要求レベルは日々高まっており、この要
求に対応すべく、より高品質の堆積膜が求められてい
る。
It is possible to form a relatively good deposited film by the above-mentioned conventional deposited film forming method. However, the demand level in the market for products using these deposited films is increasing day by day, and higher quality deposited films are required to meet this demand.

【0015】例えば、電子写真装置の場合、デジタル化
がより一層進み、デジタル複合機やカラー電子写真装置
によって出力される原稿は、文字原稿のみならず、写真
やコンピューターからのデジタル画像等の高画質を求め
る画像原稿にまでその範囲が広がってきている。特に、
このような画像原稿の出力頻度が増加しており、電子写
真用感光体に対する画像濃度むらの低減化要求が高まっ
ている。さらには、電子写真装置の小型化、低価格化の
要求も非常に強く、前述したような電子写真用感光体の
特性向上と同時に、電子写真用感光体の生産コストの低
下も強く求められており、これらの要求を満たすため
に、堆積膜形成方法の改善が求められている。
For example, in the case of an electrophotographic apparatus, digitization is further advanced, and a document output by a digital multifunction peripheral or a color electrophotographic apparatus is not limited to a character document, but also to a high quality image such as a photograph or a digital image from a computer. The range has been widened to image originals that require. In particular,
The output frequency of such an image document is increasing, and there is an increasing demand for reducing the image density unevenness on the electrophotographic photosensitive member. Furthermore, there is a strong demand for downsizing and cost reduction of electrophotographic devices, and at the same time as improving the characteristics of the electrophotographic photoconductor as described above, a reduction in the production cost of the electrophotographic photoconductor is also strongly demanded. In order to satisfy these demands, there is a demand for an improved method of forming a deposited film.

【0016】このような状況下において、前述した従来
の堆積膜形成方法においても、堆積膜特性の向上、堆積
膜形成コストの低下に関して、まだ改善の余地が残され
ているのが現状である。
Under these circumstances, there is still room for improvement in the above-described conventional method for forming a deposited film, with respect to the improvement of the deposited film characteristics and the reduction of the cost of forming the deposited film.

【0017】具体的には、例えば形成される堆積膜特性
の均一性・再現性の向上が挙げられる。堆積膜特性の均
一性・再現性が不十分であると、堆積膜特性のばらつ
き、製品品質の低下、良品率の低下につながってしま
う。特に、複数の堆積膜の積層構成よりなる部材を形成
する場合、この特性のばらつきにより、ある層の膜特性
が低下すると、他の層とのマッチングも悪化するため部
材全体として大きく影響を受けることになってしまう。
また、電子写真用感光体のように大面積の部材において
は、局所的な膜質低下であっても、その部分のみを除去
することができないため、その影響は大きい。このよう
に、堆積膜特性の均一性・再現性を向上し、堆積膜特性
のばらつきを抑制することは、堆積膜全体としての特性
向上、堆積膜形成コストの低下に大きく貢献するもので
ある。
Specifically, for example, the uniformity and reproducibility of the characteristics of the deposited film to be formed can be improved. Insufficient uniformity and reproducibility of deposited film characteristics lead to variations in deposited film characteristics, lower product quality, and lower non-defective products. In particular, when a member having a stacked configuration of a plurality of deposited films is formed, if the film characteristics of a certain layer are deteriorated due to the variation in the characteristics, matching with other layers is also deteriorated, so that the entire member is greatly affected. Become.
Further, in a large-area member such as an electrophotographic photoreceptor, even if the film quality is locally deteriorated, only the portion cannot be removed, so that the influence is large. As described above, improving the uniformity and reproducibility of the deposited film characteristics and suppressing the variation in the deposited film characteristics greatly contribute to improving the characteristics of the deposited film as a whole and lowering the cost of forming the deposited film.

【0018】さらには、堆積膜特性の均一性・再現性向
上が可能な堆積膜形成方法を、高い生産安定性で実現す
ることにより、なお一層の生産コストの低下が達成可能
となり、現在の市場の要求に応じていく上で必要不可欠
のものとなっている。
Further, by realizing a method for forming a deposited film capable of improving the uniformity and reproducibility of the deposited film characteristics with high production stability, it is possible to further reduce the production cost. It is indispensable in responding to the demands.

【0019】そこで本発明は、上記課題の解決を目的と
してなされたものである。すなわち、本発明の目的は、
堆積膜の形成において、堆積膜特性の均一性・再現性の
向上を、優れた生産安定性のもとで実現可能な堆積膜形
成装置および方法を提供することにある。
The present invention has been made to solve the above problems. That is, the object of the present invention is:
It is an object of the present invention to provide a deposited film forming apparatus and method capable of improving the uniformity and reproducibility of deposited film characteristics with excellent production stability in forming a deposited film.

【0020】[0020]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の堆積膜形成装置は、少なくとも基体を内包
できる減圧可能な反応容器と、前記反応容器中に原料ガ
スを導入するガス供給手段と、前記反応容器を排気する
排気手段と、前記導入されたガスを分解する電力を導入
する電力導入手段と、前記基体を回転する基体回転手段
とを備え、前記基体上に堆積膜を形成する堆積膜形成装
置において、前記原料ガス導入手段、前記排気手段、お
よび前記電力供給手段のうちの少なくとも1つの制御と
連動して前記基体回転手段を制御する基体回転制御手段
を有することを特徴とする。
In order to achieve the above object, a deposition film forming apparatus of the present invention comprises a reaction vessel capable of containing at least a substrate and a decompressible reaction vessel, and a gas supply means for introducing a raw material gas into the reaction vessel. Exhaust means for exhausting the reaction vessel, power introducing means for introducing electric power for decomposing the introduced gas, and substrate rotating means for rotating the substrate, forming a deposited film on the substrate. The deposition film forming apparatus further includes a substrate rotation control unit that controls the substrate rotation unit in conjunction with control of at least one of the source gas introduction unit, the exhaust unit, and the power supply unit. .

【0021】上記本発明の堆積膜形成装置によれば、基
体回転制御手段を有することにより、堆積膜の、所定の
形成条件とは異なる他の形成条件で形成される領域を形
成する時にのみ、基体の回転速度を増加させることが可
能になるので、基体回転軸の真空シールの特性劣化が促
進されることが抑えられる。その結果、生産安定性を損
なうことなく、堆積膜の均一性・再現性を向上させるこ
とが可能となる。
According to the deposited film forming apparatus of the present invention, the substrate rotation control means allows the deposited film to be formed only when a region of the deposited film is formed under another forming condition different from the predetermined forming condition. Since the rotation speed of the base can be increased, deterioration of the characteristics of the vacuum seal of the base rotating shaft is prevented from being promoted. As a result, the uniformity and reproducibility of the deposited film can be improved without impairing the production stability.

【0022】さらに、前記反応容器が複数の前記基体を
設置する構成であってもよい。
Further, the reaction container may have a structure in which a plurality of the substrates are provided.

【0023】さらには、前記電力導入手段の発振周波数
が50MHz〜450MHzである構成であってもよ
い。
Further, the power supply means may have an oscillation frequency of 50 MHz to 450 MHz.

【0024】また、本発明の堆積膜形成方法は、減圧可
能な反応容器中に回転可能な基体を設置し、前記反応容
器中に供給した原料ガスを電力導入手段より導入された
電力により分解し、前記基体上に堆積膜を形成する堆積
膜形成方法において、前記基体上に堆積膜を形成する工
程は、前記堆積膜を所定の形成条件で形成する工程と、
前記堆積膜を前記所定の形成条件とは異なる他の形成条
件で形成する工程とを有し、前記堆積膜を前記他の形成
条件で形成する工程では、前記基体の回転速度を、前記
堆積膜を前記所定の形成条件で形成する工程における前
記基体の回転速度よりも速くすることを特徴とする。
In the method of forming a deposited film according to the present invention, a rotatable substrate is installed in a reaction vessel capable of reducing pressure, and a raw material gas supplied into the reaction vessel is decomposed by electric power introduced from electric power introduction means. In the method for forming a deposited film on the substrate, the step of forming the deposited film on the substrate includes the steps of: forming the deposited film under predetermined forming conditions;
Forming the deposited film under another forming condition different from the predetermined forming condition, wherein the forming the deposited film under the other forming condition includes: Is made faster than the rotation speed of the substrate in the step of forming under the predetermined forming conditions.

【0025】上記本発明の堆積膜形成方法によれば、堆
積膜を所定の形成条件とは異なる他の形成条件で形成す
る工程においてのみ、基体の回転速度が増加するので、
基体回転軸の真空シールの特性劣化が促進されることが
抑えられる。その結果、生産安定性を損なうことなく、
堆積膜の均一性・再現性を向上させることが可能とな
る。
According to the method of forming a deposited film of the present invention, the rotation speed of the substrate is increased only in the step of forming the deposited film under other forming conditions different from the predetermined forming conditions.
Acceleration of characteristic deterioration of the vacuum seal of the base rotating shaft is suppressed. As a result, without sacrificing production stability,
The uniformity and reproducibility of the deposited film can be improved.

【0026】さらに、前記堆積膜を前記他の形成条件で
形成する工程中に前記堆積膜の形成条件を変化させる構
成としてもよい。
[0026] Further, the formation conditions of the deposited film may be changed during the step of forming the deposited film under the other forming conditions.

【0027】また、前記堆積膜の形成条件は、前記反応
容器内に供給する前記原料ガスの種類、前記原料ガスの
供給流量、前記反応容器内の圧力、および前記反応容器
内に導入する電力の少なくとも1つである構成としても
よい。
The conditions for forming the deposited film include the type of the source gas supplied into the reaction vessel, the supply flow rate of the source gas, the pressure in the reaction vessel, and the power supplied to the reaction vessel. At least one configuration may be used.

【0028】さらに、前記反応容器内に複数の前記基体
を設置し、該複数の基体上に同時に前記堆積膜を形成す
る構成としてもよい。
Furthermore, a configuration may be adopted in which a plurality of the substrates are provided in the reaction vessel, and the deposited film is formed on the plurality of substrates simultaneously.

【0029】さらには、前記反応容器内に発振周波数が
50MHz〜450MHzの電力を導入する構成とする
ことが好ましい。
Furthermore, it is preferable to adopt a configuration in which electric power having an oscillation frequency of 50 MHz to 450 MHz is introduced into the reaction vessel.

【0030】また、本発明の電子写真用感光体は、上記
本発明の堆積膜形成方法により形成された堆積膜を含ん
で成る。
Further, the electrophotographic photoreceptor of the present invention comprises a deposited film formed by the above-mentioned method of forming a deposited film of the present invention.

【0031】[0031]

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態について
図面を参照して説明する。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0032】多層構造を持つ堆積膜を形成する場合に
は、各層が接する領域での電気的、光学的、または機械
的特性等の改善を目的として、各層が接する領域に電気
的、光学的、または機械的特性が連続的に変化するよう
な変化領域を設ける場合がある。
When a deposited film having a multi-layer structure is formed, the electric, optical, and optical characteristics of the region where each layer is in contact are improved for the purpose of improving the electrical, optical, or mechanical properties in the region where each layer is in contact. Alternatively, there may be a case where a change region in which the mechanical characteristics change continuously is provided.

【0033】例えば図2に示すように、基体201上に
電荷注入阻止層202、光導電層203、表面層204
の順に堆積膜を積層する場合に、電荷注入阻止層202
の光導電層203側に、電荷注入阻止層202と光導電
層203との間のキャリアの移動性や機械的な密着性等
を改善する目的として電荷注入阻止層の変化領域205
を設けたり、表面層204の光導電層203側に、表面
層204と光導電層203との間のキャリアの移動性、
光の透過性や機械的な密着性等を改善する目的として表
面層の変化領域206を設ける場合がある。
For example, as shown in FIG. 2, a charge injection blocking layer 202, a photoconductive layer 203, and a surface layer 204 are formed on a substrate 201.
When the deposited films are stacked in this order, the charge injection blocking layer 202
On the side of the photoconductive layer 203 in order to improve the mobility of carriers between the charge injection blocking layer 202 and the photoconductive layer 203 and the mechanical adhesion, etc.
Or the mobility of carriers between the surface layer 204 and the photoconductive layer 203 on the photoconductive layer 203 side of the surface layer 204,
In some cases, a change region 206 of the surface layer is provided for the purpose of improving light transmittance, mechanical adhesion, and the like.

【0034】本発明者らが詳細に検討を行ったところに
よると、このような変化領域が存在する場合には、変化
領域が存在しない場合に比して、堆積膜の均一性や再現
性が必ずしも十分に満足される特性にはならない場合が
あることが認められた。これは、堆積膜の変化領域は、
一般的には、変化領域以外の領域を形成する際の所定の
形成条件とは異なる他の形成条件で形成されるが、この
際に反応容器内に形成されるプラズマの均一性や安定性
が低下する場合があり、このような場合には堆積膜の変
化領域での特性の均一性や再現性が必ずしも十分に満足
される特性にはならないためであると推察される。
The present inventors have studied in detail that the uniformity and reproducibility of the deposited film are higher when such a change region exists than when no change region exists. It has been found that the properties may not always be fully satisfactory. This is because the change area of the deposited film is
Generally, it is formed under other forming conditions different from the predetermined forming conditions when forming the region other than the change region. At this time, the uniformity and stability of the plasma formed in the reaction vessel are reduced. It is supposed that this is because the characteristics may not be sufficiently satisfactory in the uniformity and reproducibility of the characteristics in the change region of the deposited film in such a case.

【0035】堆積膜の均一性を向上させるための効果的
な方法として、堆積膜形成中に基体を回転させる方法が
挙げられるが、本発明者らは前述した知見により、堆積
膜の均一性を向上させるために必要とされる基体の回転
速度が、堆積膜の変化領域を形成する場合とそれ以外の
領域を形成する場合とでは異なり、堆積膜の変化領域で
も十分な堆積膜の均一性や再現性を得るには、基体の回
転速度を増加させる必要があるのではないかと考えた。
As an effective method for improving the uniformity of the deposited film, there is a method of rotating the substrate during the formation of the deposited film. The rotation speed of the substrate required for improvement is different between the case where the changed region of the deposited film is formed and the case where the other region is formed, and the uniformity of the deposited film is sufficient even in the changed region of the deposited film. We thought that it would be necessary to increase the rotation speed of the substrate to obtain reproducibility.

【0036】しかしながら、堆積膜形成中は反応容器内
は減圧されているため、むやみに基体の回転速度を増加
させると、回転軸での真空シールの特性劣化が促進され
てしまい、反応容器内の原料ガスや反応容器外の雰囲気
ガスのリークが発生して堆積膜特性の悪化や堆積膜形成
装置の不具合を招いたり、真空シールを頻繁に検査又は
交換を行う必要が出てきたりという、堆積膜の生産安定
性の低下が懸念される。
However, during the formation of the deposited film, the pressure in the reaction vessel is reduced. Therefore, if the rotation speed of the substrate is increased unnecessarily, the deterioration of the characteristics of the vacuum seal on the rotating shaft is promoted, and the inside of the reaction vessel is reduced. Leakage of raw material gas or atmospheric gas outside the reaction vessel occurs, resulting in deterioration of deposited film characteristics and failure of the deposited film forming apparatus, and frequent inspection or replacement of the vacuum seal is required. It is feared that the production stability will decrease.

【0037】このような課題を解決するために本発明者
らが行った検討の結果、堆積膜を形成する際に、堆積膜
の形成条件によって基体の回転速度を変化させ、堆積膜
の変化領域を形成する際においては、それ以外の領域を
形成する際に比して基体の回転速度を増加させ、変化領
域以外を形成する際には基体の回転速度を従来と同様な
所定の回転速度とすることにより、回転軸の真空シール
の特性劣化が促進されるのを抑え、生産安定性を損なう
ことなく、堆積膜の均一性・再現性を向上させることが
達成可能となることが判明した。
As a result of studies conducted by the present inventors to solve such problems, when forming a deposited film, the rotation speed of the substrate is changed according to the conditions for forming the deposited film, and the change region of the deposited film is changed. When forming a region, the rotational speed of the substrate is increased compared to when forming the other region, and when forming the region other than the change region, the rotational speed of the substrate is set to a predetermined rotational speed similar to the conventional one. By doing so, it has been found that it is possible to suppress the deterioration of the characteristics of the vacuum seal of the rotating shaft from being promoted, and to improve the uniformity and reproducibility of the deposited film without impairing the production stability.

【0038】本発明においては、堆積膜の変化領域を形
成するときにのみ基体の回転速度を増加させることによ
り、本発明の目的を効果的に達成することが可能であ
る。しかし、例えば回転軸の真空シールの特性劣化の防
止をより重視する場合には、堆積膜の変化領域の中でも
プラズマの均一性や安定性がもっとも低下しやすい領域
を形成するときにのみ基体の回転速度を増加させる方法
が好ましい。また、堆積膜特性の再現性をより重視する
場合は、堆積膜の変化領域を含むより広い領域を形成す
る際においても基体の回転速度を増加させる方法が好ま
しい。いずれにしても、堆積膜を形成するにあたり、堆
積膜の変化領域を形成するときの基体の回転速度を、他
の領域を形成するときの回転速度よりも速くする。
In the present invention, the object of the present invention can be effectively achieved by increasing the rotation speed of the base only when forming the change region of the deposited film. However, for example, when more importance is placed on preventing the deterioration of the characteristics of the vacuum seal of the rotating shaft, the rotation of the substrate is performed only when a region where the uniformity and stability of the plasma are most likely to be reduced is formed among the changed regions of the deposited film. A method of increasing speed is preferred. In the case where importance is placed on the reproducibility of the characteristics of the deposited film, it is preferable to increase the rotation speed of the substrate even when forming a wider region including the changed region of the deposited film. In any case, in forming the deposited film, the rotation speed of the substrate when forming the change region of the deposited film is set to be higher than the rotation speed when forming another region.

【0039】本発明において、基体の回転速度は、形成
条件の変化によるプラズマの均一性や安定性、基体の回
転軸の真空シール方法、堆積膜の堆積速度等を勘案しな
がら適宜定められるが、堆積膜の変化領域以外を形成す
る際の基体の回転速度は、0.1rpm〜60rpmが
好ましい範囲として挙げられる。堆積膜の変化領域を形
成する際の基体の回転速度は、堆積膜の変化領域以外を
形成する際の基体の回転速度に対して約1.5倍から2
0倍が好ましく、約2倍から約10倍が更に好ましい範
囲として挙げられる。堆積膜の変化領域を形成する際の
基体の回転速度の増加分の上限は、基体の回転軸におけ
る真空シールの特性劣化の程度、つまりはガスのリーク
により堆積膜の特性が悪化したり、堆積膜形成装置の不
具合を招いたり、真空シールの検査や交換頻度が増加し
たりすること等による生産安定性が低下することが無い
ように勘案して決めるのが望ましい。また、堆積膜の変
化領域を形成する際の基体の回転速度の増加分の下限
は、堆積膜の均一性や再現性の向上が十二分に得られる
ように勘案して決めるのが望ましい。
In the present invention, the rotation speed of the substrate is appropriately determined in consideration of the uniformity and stability of the plasma due to the change of the forming conditions, the method of vacuum sealing the rotating shaft of the substrate, the deposition speed of the deposited film, and the like. A preferable range of the rotation speed of the base when forming a region other than the change region of the deposited film is 0.1 rpm to 60 rpm. The rotation speed of the substrate when forming the changed region of the deposited film is about 1.5 to 2 times the rotation speed of the substrate when forming the region other than the changed region of the deposited film.
0 times is preferable, and about 2 times to about 10 times is more preferable. The upper limit of the increase in the rotation speed of the substrate when forming the change region of the deposited film is the degree of deterioration of the characteristics of the vacuum seal on the rotation axis of the substrate, that is, the characteristics of the deposited film are deteriorated due to gas leakage, It is desirable that the film formation apparatus be determined in consideration of not causing a trouble of the film forming apparatus, or reducing the production stability due to an increase in inspection frequency and replacement frequency of the vacuum seal. The lower limit of the increase in the rotation speed of the base when forming the change region of the deposited film is desirably determined in consideration of the uniformity and reproducibility of the deposited film being sufficiently improved.

【0040】また、基体の回転軸を真空シールする手段
としては、Oリング、磁性流体、あるいはオムニシール
(ヒューロン社の商品名)等を用いることが好ましい。
As a means for vacuum-sealing the rotating shaft of the base, it is preferable to use an O-ring, a magnetic fluid, an omni-seal (trade name of Huron Co.) or the like.

【0041】堆積膜の変化領域を形成する際の、変化さ
せる堆積膜の形成条件としては、原料ガスの種類、原料
ガスの供給流量、反応容器内の圧力、および反応容器内
に導入する電力等の、反応容器内のプラズマに影響を与
えやすい形成条件が挙げられ、これらの条件を連続的に
又は段階的に変化させることにより、堆積膜の変化領域
が形成される。
The conditions for forming the deposited film to be changed when forming the changed region of the deposited film include the type of the source gas, the supply flow rate of the source gas, the pressure in the reaction vessel, and the electric power introduced into the reaction vessel. The formation conditions that easily affect the plasma in the reaction vessel are listed. By changing these conditions continuously or stepwise, a changed region of the deposited film is formed.

【0042】本発明の堆積膜形成方法は、反応容器内に
複数の基体を設置する場合、つまりは反応容器内の基体
周囲のプラズマの対称性が少ない場合でも、堆積膜の均
一性や再現性を向上させるのに好ましい。
The method for forming a deposited film according to the present invention can provide uniformity and reproducibility of a deposited film even when a plurality of substrates are placed in a reaction vessel, that is, even when the plasma around the substrates in the reaction vessel has little symmetry. It is preferable to improve

【0043】また、原料ガスを分解するための電力に
は、直流、交流、高周波等のいずれの発振周波数も用い
ることができ、反応容器内の構成や堆積膜の種類等によ
り適宜選択される。特には、より広範囲の形成条件、例
えばより高真空でも安定したプラズマが得られ、反応容
器の構成に依存せずにより均一性の高いプラズマが得ら
れやすい等の観点から、50MHz〜450MHzの発
振周波数の電力を用いることが好ましい範囲として挙げ
られ、本発明による効果をより一層得ることができる。
本発明の堆積膜形成方法を行う堆積膜形成装置は、原科
ガスが限られた成膜空間内に留まる構成であれば良く、
基本的には減圧可能な反応容器を有することによりこの
ような条件は満たされるが、実際に堆積膜を形成するに
際しては反応空間内は減圧状態、大気圧状態、または加
圧状態のいずれであってもよい。
As the power for decomposing the raw material gas, any oscillation frequency such as direct current, alternating current, and high frequency can be used, and it is appropriately selected according to the configuration in the reaction vessel, the type of the deposited film, and the like. In particular, from the viewpoint that stable plasma can be obtained even under a wider range of forming conditions, for example, higher vacuum, and more uniform plasma can be easily obtained without depending on the configuration of the reaction vessel, the oscillation frequency is 50 MHz to 450 MHz. It is mentioned as a preferable range to use the above power, and the effect of the present invention can be further obtained.
The deposited film forming apparatus for performing the deposited film forming method of the present invention may be any configuration as long as the source gas stays in the limited deposition space.
Basically, such a condition is satisfied by having a reaction vessel that can be depressurized. However, when actually forming a deposited film, the inside of the reaction space is in any of a depressurized state, an atmospheric pressure state, and a pressurized state. You may.

【0044】また、本発明の堆積膜形成方法は、比較的
大面積の基体上に均一な特性の堆積膜を得ることができ
るため、特性均一性の優れた電子写真感光体を形成する
ことができ、特には光学的特性が重視される露光の入射
側に堆積膜の変化領域がある場合に、より一層の優れた
特性を有する電子写真感光体が得られる。
In the method of forming a deposited film of the present invention, a deposited film having uniform characteristics can be obtained on a substrate having a relatively large area, so that an electrophotographic photosensitive member having excellent uniformity in characteristics can be formed. In particular, when there is a change region of the deposited film on the light incident side where the optical characteristics are important, an electrophotographic photosensitive member having more excellent characteristics can be obtained.

【0045】上記のような堆積膜形成方法の概略を、電
子写真感光体の作製例に基づいて図1に示される製造装
置の一構成例を用いて以下に説明する。なお、図1にお
いて、図3と同じ引き出し番号で示される部材は図3の
ものと同じ部材を示している。また、反応容器102の
概略的断面図は図4に示したとおりである。
An outline of the above-described method of forming a deposited film will be described below based on an example of manufacturing an electrophotographic photoreceptor and using one configuration example of a manufacturing apparatus shown in FIG. In FIG. 1, the members indicated by the same drawer numbers as those in FIG. 3 indicate the same members as those in FIG. Further, a schematic sectional view of the reaction vessel 102 is as shown in FIG.

【0046】まず、反応容器102内の、ヒーター(不
図示)を内蔵する基体支持体103に円筒形基体101
を設置し、反応容器102内を排気口119を介して排
気ポンプ107によって排気し、所望の真空度まで排気
が完了した後、例えばArガス等の不活性ガスを、原料
ガス供給システム104内のマスフローコントローラを
用いて所定の流量で反応容器102内に供給する。そし
て、排気ポンプ107の排気速度を調整することによっ
て、反応容器102内を所望の圧力に制御する。反応容
器102の内圧が所望の圧力に設定された後に、基体支
持体103に内蔵されたヒーターによって円筒形基体1
01を所望の温度まで加熱する。なお、円筒形基体10
1は、堆積膜形成中も堆積膜形成に必要な所望の温度に
保持し続ける。
First, a cylindrical substrate 101 is placed on a substrate support 103 containing a heater (not shown) in a reaction vessel 102.
Is installed, and the inside of the reaction vessel 102 is evacuated by the exhaust pump 107 through the exhaust port 119. After the evacuation to a desired degree of vacuum is completed, for example, an inert gas such as Ar gas is supplied to the source gas supply system 104. It is supplied into the reaction vessel 102 at a predetermined flow rate using a mass flow controller. Then, the pressure inside the reaction vessel 102 is controlled to a desired pressure by adjusting the exhaust speed of the exhaust pump 107. After the internal pressure of the reaction vessel 102 is set to a desired pressure, the cylindrical substrate 1 is heated by a heater built in the substrate support 103.
Heat 01 to desired temperature. The cylindrical substrate 10
1 keeps maintaining the desired temperature required for forming the deposited film even during the formation of the deposited film.

【0047】以上の手順により加熱工程が終了した後、
続いて堆積膜形成工程を行う。反応容器102内のAr
ガスを排気ポンプ107によって排気した後、排気バル
ブ108およびメイン排気バルブ109を操作し、スロ
ットルバルブ110の開度を全開にして、油拡散ポンプ
111を介してメイン排気ポンプ112によって反応容
器102内を例えば1×10-3Paの真空度まで排気す
る。続いて、反応容器102内に、原料ガス供給システ
ム104によって、各原料ガスを各供給配管に設置され
たマスフローコントローラーを用いて所定の流量(ここ
では、電荷注入阻止層を形成するときの流量条件)で供
給する。ここで、本発明の実施形態に係る堆積膜形成装
置は、原料ガス導入手段としての原料ガス供給システム
104、排気手段としての排気システム105、および
電力供給手段としての電力供給システム106のうちの
少なくとも1つの制御と連動して基体回転手段としての
モータ116および駆動部118を制御する基体回転制
御装置120を備えており、この基体回転制御装置12
0によって、モーター116の回転数を制御し、例えば
基体回転速度が3rpmになるように回転させる。そし
て、スロットルバルブ110の開度を調節し、排気速度
を調整することで、反応容器102の内圧を所望の圧力
に制御する。反応容器102の内圧が安定したところ
で、電力源113からカソード114にマッチングボッ
クス115を介して電力の供給を行い、反応容器102
内にグロー放電を生起させる。この放電エネルギーによ
って、反応容器102内に導入された原料ガスが分解さ
れ、各円筒形基体101上に電荷注入阻止層としての堆
積膜が同時に形成される。電荷注入阻止層が所望の膜厚
に到達したら、基体回転制御手段120は、原料ガス種
及びその流量をガス供給システム104内のマスフロー
コントローラー及びバルブによって連続的に変更し、ま
たは/かつ、電力供給システム106の電力源113の
出力値を連続的に変更し、または/かつ、反応容器内の
圧力を排気システム105内のバルブ108,109,1
10で制御し、それらの操作と連動して、モーター11
6の回転数を例えば基体回転速度が6rpmになるよう
に増加する。
After the heating step is completed by the above procedure,
Subsequently, a deposited film forming step is performed. Ar in the reaction vessel 102
After the gas is exhausted by the exhaust pump 107, the exhaust valve 108 and the main exhaust valve 109 are operated to fully open the throttle valve 110, and the inside of the reaction vessel 102 is opened by the main exhaust pump 112 via the oil diffusion pump 111. For example, the gas is evacuated to a degree of vacuum of 1 × 10 −3 Pa. Subsequently, each raw material gas is supplied into the reaction vessel 102 by the raw material gas supply system 104 at a predetermined flow rate (here, a flow rate condition for forming the charge injection blocking layer) using a mass flow controller installed in each supply pipe. ). Here, the deposited film forming apparatus according to the embodiment of the present invention includes at least a source gas supply system 104 as a source gas introduction unit, an exhaust system 105 as an exhaust unit, and a power supply system 106 as a power supply unit. A base rotation control device 120 that controls a motor 116 and a driving unit 118 as base rotation means in conjunction with one control is provided.
With 0, the number of rotations of the motor 116 is controlled, for example, so that the substrate rotation speed becomes 3 rpm. Then, the internal pressure of the reaction vessel 102 is controlled to a desired pressure by adjusting the opening of the throttle valve 110 and adjusting the exhaust speed. When the internal pressure of the reaction vessel 102 is stabilized, power is supplied from the power source 113 to the cathode 114 via the matching box 115, and the reaction vessel 102
A glow discharge is generated inside. The source gas introduced into the reaction vessel 102 is decomposed by this discharge energy, and a deposited film as a charge injection blocking layer is formed on each cylindrical substrate 101 at the same time. When the charge injection blocking layer reaches a desired film thickness, the substrate rotation control means 120 continuously changes the source gas type and its flow rate by a mass flow controller and a valve in the gas supply system 104 and / or supplies electric power. The output value of the power source 113 of the system 106 is continuously changed and / or the pressure in the reaction vessel is changed by the valves 108, 109, 1 in the exhaust system 105.
10 and the motor 11
The number of rotations of 6 is increased, for example, so that the substrate rotation speed becomes 6 rpm.

【0048】その後、光導電層を形成するための一定条
件に達したら、即ち、原料ガス種及びその流量、電力源
113の出力値、反応容器内の圧力が一定になったら、
基体回転制御手段は基体回転速度を例えば3rpmに下
げる。
Thereafter, when certain conditions for forming the photoconductive layer are reached, that is, when the kind of source gas and its flow rate, the output value of the power source 113, and the pressure in the reaction vessel become constant,
The substrate rotation control means reduces the substrate rotation speed to, for example, 3 rpm.

【0049】同様に、表面層まで堆積膜を形成し、堆積
膜の形成が終了したら、カソード114に印加している
電力の供給を停止し、原科ガス供給システム104から
の原料ガスの供給を停止することで堆積膜の形成を終え
る。こうして、本発明の電子写真感光体が形成される。
Similarly, a deposited film is formed up to the surface layer. When the formation of the deposited film is completed, the supply of the power applied to the cathode 114 is stopped, and the supply of the source gas from the raw gas supply system 104 is stopped. By stopping, the formation of the deposited film is completed. Thus, the electrophotographic photosensitive member of the present invention is formed.

【0050】[0050]

【実施例】以下に、実施例により本発明を詳細に説明す
るが、本発明はこれらの実施例に何ら制限されるもので
はない。
EXAMPLES The present invention will be described in detail below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.

【0051】(実施例1)図1に示した装置を用いて、
直径80mm、長さ358mmの円筒状アルミ製シリン
ダー(基体)101上に、発振周波数が105MHzの
高周波電源113を用いて表1に示す堆積膜の形成条件
により、図2に示すアモルファスシリコンを母材とした
電子写真用感光体を作製した。
(Example 1) Using the apparatus shown in FIG.
The amorphous silicon shown in FIG. 2 was formed on a cylindrical aluminum cylinder (substrate) 101 having a diameter of 80 mm and a length of 358 mm using a high-frequency power source 113 having an oscillation frequency of 105 MHz under the conditions for forming the deposited film shown in Table 1. An electrophotographic photoreceptor was prepared.

【0052】[0052]

【表1】 [Table 1]

【0053】本実施例においては、電荷注入阻止層の変
化領域205および表面層の変化領域206における基
体の回転速度を表2に示す条件とし、実施例1(a)は
10ロット、実施例1(b)〜(d)は各々3ロットづ
つ電子写真用感光体を作製した。
In the present embodiment, the rotation speed of the substrate in the change region 205 of the charge injection blocking layer and the change region 206 of the surface layer is set to the conditions shown in Table 2, and Example 1 (a) has 10 lots and Example 1 (a). In (b) to (d), electrophotographic photoconductors were manufactured in three lots.

【0054】[0054]

【表2】 [Table 2]

【0055】<比較例1>全層の形成時にわたって基体
の回転速度を一定とした以外は、第1の実施例と同様の
条件で電子写真用感光体を作製した。比較例1(a)に
おいては基体の回転速度を3rpmとして3ロットの電
子写真用感光体を作製し、比較例1(b)においては基
体の回転速度を6rpmとして10ロットの電子写真用
感光体を作製した。
Comparative Example 1 An electrophotographic photosensitive member was manufactured under the same conditions as in the first example except that the rotation speed of the substrate was kept constant during the formation of all the layers. In Comparative Example 1 (a), three lots of electrophotographic photoconductors were prepared with the rotation speed of the substrate being 3 rpm, and in Comparative Example 1 (b), ten lots of electrophotographic photoconductors were formed with the rotation speed of the substrate being 6 rpm. Was prepared.

【0056】実施例1、比較例1で作製した電子写真用
感光体に対し、キヤノン製の複写機NP−6750を用
いて以下の具体的評価法により各項目の評価を行った。
なお、評価に用いた複写機は、画像露光光源を波長65
5nmの半導体レーザーに、前露光光源を波長660n
mのLEDに変更してある。
Each of the electrophotographic photoreceptors manufactured in Example 1 and Comparative Example 1 was evaluated by the following specific evaluation method using a Canon copier NP-6750.
The copier used for the evaluation had an image exposure light source of wavelength 65.
A pre-exposure light source with a wavelength of 660n was applied to a 5nm semiconductor laser.
The LED has been changed to m.

【0057】−帯電能の均一性・再現性− 複写機の主帯電器に一定の電流を流したときの現像器位
置での暗部電位を測定する。帯電能の均一性としては、
電子写真用感光体が基体の周囲を一周する際の暗部電位
の変動幅(暗部電位の周むら)を評価した。変動幅が小
さいほど均一性が改善されている。帯電能の再現性とし
ては、最初の3ロットの電子写真用感光体における暗部
電位の標準偏差を評価した。標準偏差が小さいほど再現
性が改善されている。
-Uniformity and Reproducibility of Charging Ability-A dark portion potential at the developing device position when a constant current is applied to the main charging device of the copying machine is measured. As for the uniformity of the charging ability,
The variation width of the dark portion potential (unevenness of the dark portion potential) when the electrophotographic photoreceptor makes a round around the substrate was evaluated. The smaller the fluctuation width, the better the uniformity. Regarding the reproducibility of the charging ability, the standard deviation of the dark area potential in the electrophotographic photosensitive members of the first three lots was evaluated. The smaller the standard deviation, the better the reproducibility.

【0058】−感度の均一性・再現性− 複写機の現像器位置での暗部電位を一定値となるように
主帯電器電流を調整した後に、一定の光量の画像露光を
照射し、現像器位置での明部電位を測定する。感度の均
一性としては、電子写真用感光体が基体の周囲を一周す
る際の明部電位の変動幅(明部電位の周むら)を評価し
た。変動幅が小さいほど均一性が改善されている。感度
の再現性としては、最初の3ロットの電子写真用感光体
における明部電位の標準偏差を評価した。標準偏差が小
さいほど再現性が改善されている。
-Uniformity and Reproducibility of Sensitivity-The main charger current is adjusted so that the dark area potential at the developing device position of the copying machine becomes a constant value, and then a constant amount of image exposure is applied to the developing device. Measure the bright spot potential at the location. The uniformity of the sensitivity was evaluated by the fluctuation width of the light portion potential (unevenness of the light portion potential) when the electrophotographic photoreceptor circled around the substrate. The smaller the fluctuation width, the better the uniformity. As the reproducibility of the sensitivity, the standard deviation of the light portion potential in the electrophotographic photosensitive members of the first three lots was evaluated. The smaller the standard deviation, the better the reproducibility.

【0059】さらに、実施例1(a)および比較例1
(b)の電子写真用感光体を、以下の具体的評価法によ
り各項目について評価した。
Further, Example 1 (a) and Comparative Example 1
The electrophotographic photosensitive member of (b) was evaluated for each item by the following specific evaluation method.

【0060】−生産安定性− 前述した感度の評価方法と同様の手順により、1〜2ロ
ット目における感度の平均値と9〜10ロット目におけ
る感度の平均値とを求め、感度の平均値の変動幅を評価
した。変動幅が小さいほど堆積膜特性の悪化要因となる
リークが少なく生産安定性が改善されている。さらに、
1ロット目の電子写真用感光体を作製する前と、10ロ
ット目の電子写真用感光体を作製した後に、反応容器の
基体の回転軸部分の真空リーク量をヘリウムリークディ
テクター(Varian社製PORTATEST2)に
より測定し、真空リーク量の変動幅を評価した。変動幅
が小さいほど生産安定性が良好である。
-Production stability- The average value of the sensitivity in the first to second lots and the average value of the sensitivity in the ninth to tenth lots are obtained by the same procedure as the above-described sensitivity evaluation method, and the average value of the sensitivity is calculated. The range of fluctuation was evaluated. The smaller the fluctuation width is, the smaller the leak which is a factor of deteriorating the deposited film characteristics is, and the more the production stability is improved. further,
Before manufacturing the electrophotographic photoconductor of the first lot and after manufacturing the electrophotographic photoconductor of the tenth lot, the amount of vacuum leak at the rotating shaft portion of the base of the reaction vessel was measured using a helium leak detector (PORTANTEST2 manufactured by Varian). ) To evaluate the fluctuation range of the amount of vacuum leak. The smaller the fluctuation width, the better the production stability.

【0061】以上の結果を表2に示す。表2において
は、均一性・再現性は比較例1(a)を基準とし、生産
安定性については比較例1(b)を基準とし、10〜2
0%改善された場合はA、20〜30%改善された場合
はB、30〜40%改善された場合はC、40%以上改
善された場合はDとした。表2からわかるように、変化
領域での回転速度を増加させることにより、堆積膜の均
一性・再現性が向上することが判明し、堆積膜全体では
なくて変化領域を形成する際にのみ基体の回転速度を増
加させることにより生産安定性が向上することが確認さ
れ、本発明の堆積膜形成方法の優れた効果が確認され
た。
Table 2 shows the above results. In Table 2, the uniformity and reproducibility were based on Comparative Example 1 (a), and the production stability was based on Comparative Example 1 (b).
The case of 0% improvement was A, the case of 20-30% improvement was B, the case of 30-40% improvement was C, and the case of 40% or more improvement was D. As can be seen from Table 2, it was found that increasing the rotation speed in the change region improved the uniformity and reproducibility of the deposited film, and showed that the base material was formed only when the change region was formed instead of the entire deposited film. It was confirmed that the production stability was improved by increasing the rotation speed of the above, and the excellent effect of the deposited film forming method of the present invention was confirmed.

【0062】(実施例2)表3に示す堆積膜の形成条件
を用いた以外は、実施例1と同様の条件で電子写真用感
光体を3ロット作製した。
Example 2 Three lots of electrophotographic photosensitive members were manufactured under the same conditions as in Example 1 except that the conditions for forming the deposited film shown in Table 3 were used.

【0063】[0063]

【表3】 [Table 3]

【0064】<比較例2>全層の形成時にわたって基体
の回転速度を3rpmで一定とした以外は、実施例2と
同様の条件で電子写真用感光体を作製した。
Comparative Example 2 An electrophotographic photoreceptor was manufactured under the same conditions as in Example 2 except that the rotation speed of the substrate was kept constant at 3 rpm throughout the formation of all the layers.

【0065】実施例2、比較例2で作製した電子写真用
感光体を実施例1と同様な評価法により上記の各項目に
ついて評価した。その結果、比較例2に対して実施例2
の電子写真用感光体は、帯電能と感度の均一性が共に
B、帯電能の再現性がA、感度の再現性がBと各々向上
することが判明し、本発明の椎積膜形成方法の優れた効
果が確認された。
The electrophotographic photosensitive members produced in Example 2 and Comparative Example 2 were evaluated for the above items by the same evaluation method as in Example 1. As a result, Example 2 was compared to Comparative Example 2.
It has been found that the electrophotographic photoreceptor has improved chargeability and sensitivity uniformity B, chargeability reproducibility A, and sensitivity reproducibility B, respectively. Excellent effect was confirmed.

【0066】(実施例3)本実施例では、発振周波数を
50MHzの高周波電極に変更し、表4に示す堆積膜の
形成条件を用いた以外は、実施例1と同様の条件で電子
写真用感光体を3ロット作製した。
(Example 3) In this example, an electrophotographic apparatus was used under the same conditions as in Example 1 except that the oscillation frequency was changed to a high-frequency electrode of 50 MHz and the deposition film forming conditions shown in Table 4 were used. Three lots of photoconductors were produced.

【0067】[0067]

【表4】 [Table 4]

【0068】<比較例3>全層の形成時にわたって基体
の回転速度を10rpmで一定とした以外は、実施例3
と同様の条件で電子写真用感光体を作製した。
Comparative Example 3 Example 3 was repeated except that the rotation speed of the substrate was kept constant at 10 rpm throughout the formation of all the layers.
Under the same conditions as in the above, an electrophotographic photoconductor was prepared.

【0069】実施例3、比較例3で作製した電子写真用
感光体を実施例1と同様の評価法により上記の各項目に
ついて評価をした。その結果、比較例3に対して実施例
3の電子写真用感光体は、帯電能と均一性がB、感度の
均一性がC、帯電能の再現性がB、感度の再現性がCと
各々向上することが判明し、本発明の堆積膜形成方法の
優れた効果が確認された。
The electrophotographic photosensitive members produced in Example 3 and Comparative Example 3 were evaluated for the above items by the same evaluation method as in Example 1. As a result, as compared with Comparative Example 3, the electrophotographic photoreceptor of Example 3 had a chargeability and uniformity of B, a uniformity of sensitivity of C, a reproducibility of chargeability of B, and a reproducibility of sensitivity of C. Each of them was found to be improved, and the excellent effect of the deposited film forming method of the present invention was confirmed.

【0070】[0070]

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、堆積膜
を所定の形成条件と、この所定の形成条件とは異なる他
の形成条件とで形成し、堆積膜を他の形成条件で形成す
る際には、基体の回転速度を、堆積膜を所定の形成条件
で形成する際における基体の回転速度よりも速くするよ
うに構成されているので、堆積膜の均一性・再現性の向
上を優れた生産安定性のもとで実現することができ、そ
の結果、特性の優れた半導体デバイスや電子写真用感光
体等を低いコストで安定して生産することが可能とな
る。
As described above, according to the present invention, a deposited film is formed under a predetermined forming condition and other forming conditions different from the predetermined forming condition, and the deposited film is formed under another forming condition. In this case, the rotation speed of the substrate is set to be higher than the rotation speed of the substrate when the deposited film is formed under predetermined forming conditions, so that the uniformity and reproducibility of the deposited film can be improved. It can be realized under excellent production stability, and as a result, it becomes possible to stably produce semiconductor devices and electrophotographic photoreceptors with excellent characteristics at low cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の電子写真用感光体の製造装置(堆積膜
形成装置)の一実施形態を示す模式的な構成図である。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram illustrating an embodiment of a manufacturing apparatus (deposited film forming apparatus) for an electrophotographic photosensitive member of the present invention.

【図2】電子写真用感光体の一例を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating an example of an electrophotographic photoconductor.

【図3】従来の電子写真用感光体の製造装置の一例を示
す模式的な構成図である。
FIG. 3 is a schematic configuration diagram illustrating an example of a conventional apparatus for manufacturing a photoconductor for electrophotography.

【図4】図3に示した装置における堆積膜形成装置の横
断面を示す断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a cross section of a deposited film forming apparatus in the apparatus shown in FIG.

【図5】電子写真用感光体の一例を示す図である。FIG. 5 is a diagram illustrating an example of an electrophotographic photoconductor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100 堆積膜形成装置 101 円筒形基体 102 反応容器 103 基体支持体 104 原料ガス供給システム 105 排気システム 106 電源供給システム 107 排気ポンプ 108 排気バルブ 109 メイン排気バルブ 110 スロットルバルブ 111 油拡散ポンプ 112 メイン排気ポンプ 113 電力源 114 カソード 115 マッチングボックス 116 モーター 117 原料ガス供給管 118 駆動部 119 排気口 120 基板回転制御装置 201 基体 202 電荷注入阻止層 203 光導電層 204 表面層 205 電荷注入阻止層の変化領域 206 表面層の変化領域 REFERENCE SIGNS LIST 100 deposited film forming apparatus 101 cylindrical substrate 102 reaction vessel 103 substrate support 104 source gas supply system 105 exhaust system 106 power supply system 107 exhaust pump 108 exhaust valve 109 main exhaust valve 110 throttle valve 111 oil diffusion pump 112 main exhaust pump 113 Power source 114 Cathode 115 Matching box 116 Motor 117 Source gas supply pipe 118 Driving unit 119 Exhaust port 120 Substrate rotation control device 201 Base 202 Charge injection blocking layer 203 Photoconductive layer 204 Surface layer 205 Change area of charge injection blocking layer 206 Surface layer Area of change

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 村山 仁 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 青池 達行 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 Fターム(参考) 2H068 EA25 EA30 FA11 FA30 4K030 AA06 AA09 AA17 BA30 CA02 CA16 FA03 GA09 JA18 KA05 LA17 5F045 AA08 AB04 AC01 AC16 AC19 AE15 CA16 EH15 EM10 GB15 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Jin Murayama 3-30-2 Shimomaruko, Ota-ku, Tokyo Within Canon Inc. (72) Inventor Tatsuyuki Aoike 3-30-2 Shimomaruko, Ota-ku, Tokyo Kia Non-corporation F term (reference) 2H068 EA25 EA30 FA11 FA30 4K030 AA06 AA09 AA17 BA30 CA02 CA16 FA03 GA09 JA18 KA05 LA17 5F045 AA08 AB04 AC01 AC16 AC19 AE15 CA16 EH15 EM10 GB15

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 少なくとも基体を内包できる減圧可能な
反応容器と、前記反応容器中に原料ガスを導入するガス
供給手段と、前記反応容器を排気する排気手段と、前記
導入されたガスを分解する電力を導入する電力導入手段
と、前記基体を回転する基体回転手段とを備え、前記基
体上に堆積膜を形成する堆積膜形成装置において、 前記原料ガス導入手段、前記排気手段、および前記電力
供給手段のうちの少なくとも1つの制御と連動して前記
基体回転手段を制御する基体回転制御手段を有すること
を特徴とする堆積膜形成装置。
1. A reaction vessel capable of containing at least a substrate and capable of being decompressed, a gas supply means for introducing a raw material gas into the reaction vessel, an exhaust means for exhausting the reaction vessel, and decomposing the introduced gas. A deposition film forming apparatus for forming a deposition film on the substrate, comprising: a power introduction unit for introducing electric power; and a substrate rotation unit for rotating the substrate, wherein the source gas introduction unit, the exhaust unit, and the power supply An apparatus for forming a deposited film, comprising: substrate rotation control means for controlling said substrate rotation means in conjunction with control of at least one of the means.
【請求項2】 前記反応容器が複数の前記基体を設置す
る構成である、請求項1に記載の堆積膜形成装置。
2. The deposited film forming apparatus according to claim 1, wherein said reaction container has a configuration in which a plurality of said substrates are installed.
【請求項3】 前記電力導入手段の発振周波数が50M
Hz〜450MHzである、請求項1または2に記載の
堆積膜形成装置。
3. An oscillation frequency of said power introduction means is 50M.
The deposition film forming apparatus according to claim 1, wherein the frequency is in the range of Hz to 450 MHz.
【請求項4】 減圧可能な反応容器中に回転可能な基体
を設置し、前記反応容器中に供給した原料ガスを電力導
入手段より導入された電力により分解し、前記基体上に
堆積膜を形成する堆積膜形成方法において、 前記基体上に堆積膜を形成する工程は、前記堆積膜を所
定の形成条件で形成する工程と、前記堆積膜を前記所定
の形成条件とは異なる他の形成条件で形成する工程とを
有し、 前記堆積膜を前記他の形成条件で形成する工程では、前
記基体の回転速度を、前記堆積膜を前記所定の形成条件
で形成する工程における前記基体の回転速度よりも速く
することを特徴とする堆積膜形成方法。
4. A rotatable substrate is provided in a reaction vessel that can be decompressed, and a raw material gas supplied into the reaction container is decomposed by electric power introduced from a power introduction unit to form a deposited film on the substrate. In the method for forming a deposited film, the step of forming a deposited film on the substrate includes the step of forming the deposited film under predetermined forming conditions and the step of forming the deposited film under other forming conditions different from the predetermined forming conditions. Forming the deposited film under the other forming conditions, wherein the rotational speed of the substrate is set to be smaller than the rotational speed of the substrate in the step of forming the deposited film under the predetermined forming conditions. A method for forming a deposited film, wherein the method is also fast.
【請求項5】 前記堆積膜を前記他の形成条件で形成す
る工程中に前記堆積膜の形成条件を変化させる、請求項
4に記載の堆積膜形成方法。
5. The deposited film forming method according to claim 4, wherein the forming conditions of the deposited film are changed during the step of forming the deposited film under the other forming conditions.
【請求項6】 前記堆積膜の形成条件は、前記反応容器
内に供給する前記原料ガスの種類、前記原料ガスの供給
流量、前記反応容器内の圧力、および前記反応容器内に
導入する電力の少なくとも1つである、請求項4または
5に記載の堆積膜形成方法。
6. The conditions for forming the deposited film include the type of the source gas supplied into the reaction vessel, the supply flow rate of the source gas, the pressure in the reaction vessel, and the electric power introduced into the reaction vessel. The method for forming a deposited film according to claim 4, wherein the method is at least one.
【請求項7】 前記反応容器内に複数の前記基体を設置
し、該複数の基体上に同時に前記堆積膜を形成する、請
求項4から6のいずれか1項に記載の堆積膜形成方法。
7. The deposited film forming method according to claim 4, wherein a plurality of said substrates are provided in said reaction vessel, and said deposited film is formed simultaneously on said plurality of substrates.
【請求項8】 前記反応容器内に発振周波数が50MH
z〜450MHzの電力を導入する、請求項4から7の
いずれか1項に記載の堆積膜形成方法。
8. An oscillation frequency of 50 MH in the reaction vessel.
The method for forming a deposited film according to claim 4, wherein power of z to 450 MHz is introduced.
【請求項9】 請求項4から8のいずれか1項に記載の
堆積膜形成方法により形成された堆積膜を含んで成る電
子写真用感光体。
9. An electrophotographic photoconductor comprising a deposited film formed by the deposited film forming method according to claim 4. Description:
JP2000339160A 2000-11-07 2000-11-07 Deposited film forming equipment, its forming method, and electrophotographic photosensitive body Pending JP2002146541A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000339160A JP2002146541A (en) 2000-11-07 2000-11-07 Deposited film forming equipment, its forming method, and electrophotographic photosensitive body

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000339160A JP2002146541A (en) 2000-11-07 2000-11-07 Deposited film forming equipment, its forming method, and electrophotographic photosensitive body

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002146541A true JP2002146541A (en) 2002-05-22

Family

ID=18814267

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000339160A Pending JP2002146541A (en) 2000-11-07 2000-11-07 Deposited film forming equipment, its forming method, and electrophotographic photosensitive body

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002146541A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4775938B2 (en) Method for forming electrophotographic photoreceptor
JP3745095B2 (en) Deposited film forming apparatus and deposited film forming method
JP2003027246A (en) Plasma treatment method, semiconductor device manufacturing method, and semiconductor device
JPH108259A (en) Plasma treatment and plasma treating apparatus
JP3619119B2 (en) Vacuum processing method
JP2000073173A (en) Formation of deposited film and deposited film forming device
JP4497811B2 (en) Plasma processing method
JP2002146541A (en) Deposited film forming equipment, its forming method, and electrophotographic photosensitive body
JP3428865B2 (en) Apparatus and method for forming deposited film
JP3387616B2 (en) Plasma processing equipment
JP2001314755A (en) Vacuum treating method and vacuum treating device
JP2002241939A (en) Vacuum sealing structure and vacuum processing apparatus
JPH08250439A (en) Deposited film forming equipment
JP2004193419A (en) Vacuum processing method
JP3402952B2 (en) Method and apparatus for forming deposited film
JP2005266307A (en) Method for forming electrophotographic photoreceptor
JP2004124143A (en) Method for depositing deposition film and electrophotographic photoreceptor
JP2006106431A (en) Method for manufacturing electrophotographic photoreceptor
JP2020002421A (en) Deposition film forming device and deposition film forming method
JP2006126473A (en) Method for forming deposited film and electrophotographic photoreceptor
JP2004149825A (en) Vacuum treatment system, and vacuum treatment method
JPH0931659A (en) Deposited film forming device
JP2006108504A (en) Reactive sputtering method and apparatus thereof
JP2003313668A (en) Process for fabricating semiconductor device
JPH11181571A (en) Formation of deposited coating and device therefor