JP2002141663A - Film lamination method - Google Patents

Film lamination method

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JP2002141663A
JP2002141663A JP2000277853A JP2000277853A JP2002141663A JP 2002141663 A JP2002141663 A JP 2002141663A JP 2000277853 A JP2000277853 A JP 2000277853A JP 2000277853 A JP2000277853 A JP 2000277853A JP 2002141663 A JP2002141663 A JP 2002141663A
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JP
Japan
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resin composition
circuit board
adhesive film
film
composition layer
Prior art date
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JP2000277853A
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Japanese (ja)
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Takeyoshi Kato
丈佳 加藤
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Zeon Corp
Original Assignee
Nippon Zeon Co Ltd
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Publication date
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 積層時の配線パターン埋め込み性と積層硬化
後の平坦性に優れるビルドアップ多層配線板を短時間で
得ることができるフィルム積層方法を提供する。 【解決手段】 支持体とその表面に積層された樹脂組成
物層とを有する接着フィルムを、回路基板上の少なくと
もパターン部分に該樹脂組成物層が接するように重ね合
わせ、加熱及び加圧可能で少なくとも一つの稼動可能な
耐熱ゴム製プレス板を有する積層装置を用いて、70〜
150℃、0.05〜0.9MPaで、接着フィルムと
回路基板とをプレスし、次いで加熱及び加圧可能で少な
くとも一つの稼動可能な金属製プレス板を有する積層装
置を用いて、70〜170℃、0.1〜5MPaで、接
着フィルムと回路基板とをプレスする、ことを含む接着
フィルム積層方法により多層回路基板を得る。
(57) [Problem] To provide a film laminating method capable of obtaining a build-up multilayer wiring board having excellent wiring pattern embedding property during lamination and flatness after lamination hardening in a short time. SOLUTION: An adhesive film having a support and a resin composition layer laminated on the surface thereof is overlapped so that the resin composition layer contacts at least a pattern portion on a circuit board, and can be heated and pressed. Using a laminating device having at least one operable heat-resistant rubber press plate, 70-
The adhesive film and the circuit board are pressed at 150 ° C. and 0.05 to 0.9 MPa, and then heated and pressurized, and a laminating apparatus having at least one operable metal press plate is used. A multilayer circuit board is obtained by an adhesive film laminating method including pressing an adhesive film and a circuit board at 0.1 ° C. and 0.1 to 5 MPa.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、フィルムの積層方
法に関し、さらに詳しくは導体回路層と絶縁層とを交互
に積み上げたビルドアップ方式の多層プリント配線板の
製造方法において、フィルム状接着剤を内層回路パター
ンに積層する方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for laminating a film, and more particularly to a method for manufacturing a build-up type multilayer printed wiring board in which conductive circuit layers and insulating layers are alternately stacked. The present invention relates to a method for laminating an inner circuit pattern.

【0002】[0002]

【従来の技術】ビルドアップ方式の多層プリント配線板
は、内層回路基板の導体層上に有機絶縁層を交互に積み
上げていく。内層回路基板に有機絶縁層を積み上げてい
くために、支持体と、その表面に積層された有機絶縁層
とを有する接着フィルムを内層回路基板に重ね合わせ、
次いで加熱及び加圧可能なプレス板を有する真空積層装
置を用いて、内層回路基板と接着フィルムとをプレスし
積層する方法が知られている。プレス板は、特開平11
−340625号公報などに開示されているように、そ
の硬度が重要であり、一般に耐熱ゴム製のプレス板が用
いられている。しかし、耐熱ゴム製のプレス板だけで積
層した場合には、積層された有機絶縁層の表面が内層回
路基板の回路パターンに従って、凹凸が生じる。この凹
凸のある有機絶縁層上に次の回路基板を形成し、積層数
を増していくと、多層回路基板全体の寸法精度が悪くな
る。特に回路の導体層厚が接着フィルム上の有機絶縁層
厚より厚い場合には、表面の凹凸が顕著になる。一方、
寸法精度を高めるために、ステンレスなどの金属製プレ
ス板を用いることが提案されている。金属製プレス板を
用いた場合には内層回路基板のパターンの凹凸と接着フ
ィルムとの間に空隙が生じやすい(埋め込み性が悪い)
ため、プレス時間を長くし、プレス圧力を高めにする必
要があった。プレス時間を長くし、圧力を高くすると有
機絶縁層にかかる負荷が大きくなり、機械的強度が低下
することがあった。
2. Description of the Related Art In a build-up type multilayer printed wiring board, organic insulating layers are alternately stacked on conductor layers of an inner circuit board. In order to stack the organic insulating layer on the inner circuit board, a support and an adhesive film having an organic insulating layer laminated on the surface thereof are overlaid on the inner circuit board,
Next, a method is known in which an inner layer circuit board and an adhesive film are pressed and laminated using a vacuum laminating apparatus having a press plate capable of heating and pressing. Press plate is disclosed in
As disclosed in, for example, Japanese Patent No. 340625, the hardness is important, and a press plate made of heat-resistant rubber is generally used. However, in the case of laminating only with a heat-resistant rubber press plate, the surface of the laminated organic insulating layer has irregularities according to the circuit pattern of the inner circuit board. When the next circuit board is formed on the uneven organic insulating layer and the number of layers is increased, the dimensional accuracy of the entire multilayer circuit board is deteriorated. In particular, when the thickness of the conductor layer of the circuit is larger than the thickness of the organic insulating layer on the adhesive film, the surface irregularities become remarkable. on the other hand,
In order to increase the dimensional accuracy, it has been proposed to use a metal press plate such as stainless steel. When a metal press plate is used, a gap is easily generated between the unevenness of the pattern of the inner circuit board and the adhesive film (poor embedding property).
Therefore, it was necessary to lengthen the pressing time and increase the pressing pressure. When the pressing time is increased and the pressure is increased, the load applied to the organic insulating layer is increased, and the mechanical strength is sometimes reduced.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、積層
時の配線パターン埋め込み性と積層硬化後の平坦性に優
れるビルドアップ多層配線板を短時間で得ることができ
るフィルム積層方法を提供することにある。本発明者
は、上記目的を達成するために鋭意研究をした結果、内
層回路基板上に支持体と樹脂組成物層からなる接着フィ
ルムを積層するときに、まず最初に耐熱ゴム製のプレス
板でプレスし、次いで金属製のプレス板でプレスするこ
とにより、配線パターン埋め込み性と絶縁(樹脂組成
物)層の平坦性が大幅に改善されることを見出し、本発
明を完成するに至った。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a film laminating method capable of obtaining a build-up multilayer wiring board having excellent wiring pattern embedding during lamination and excellent flatness after lamination hardening in a short time. It is in. The present inventor has conducted intensive studies to achieve the above object, and as a result, when laminating an adhesive film composed of a support and a resin composition layer on an inner circuit board, firstly using a heat resistant rubber press plate. Pressing, and then pressing with a metal press plate, found that the wiring pattern embedding property and the flatness of the insulating (resin composition) layer were significantly improved, and the present invention was completed.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】かくして、本発明によれ
ば、支持体とその表面に積層された樹脂組成物層とを有
する接着フィルムAを、回路基板上の少なくともパター
ン部分に該樹脂組成物層が接するように重ね合わせ、加
熱及び加圧可能で少なくとも一つの稼動可能な耐熱ゴム
製プレス板を有する積層装置を用いて、接着フィルムA
と回路基板とをプレスし、次いで加熱及び加圧可能で少
なくとも一つの稼動可能な金属製プレス板を有する積層
装置を用いて、プレスする、ことを含む接着フィルム積
層方法が提供される。
Thus, according to the present invention, an adhesive film A having a support and a resin composition layer laminated on its surface is provided on at least a pattern portion on a circuit board by the resin composition. Using a laminating apparatus having at least one operable heat-resistant rubber press plate that can be superposed so that the layers are in contact with each other and that can be heated and pressed, the adhesive film A
And a circuit board, and then pressing using a laminating apparatus having at least one operable metal press plate capable of being heated and pressurized.

【0005】[0005]

【発明の実施の形態】本発明の積層方法は、支持体とそ
の表面に積層された樹脂組成物層Aとを有する接着フィ
ルムAを、回路基板上の少なくともパターン部分に該樹
脂組成物層Aが接するように重ね合わせ、加熱及び加圧
可能で少なくとも一つの稼動可能な耐熱ゴム製プレス板
を有する積層装置を用いて、接着フィルムAと回路基板
とをプレスし、次いで加熱及び加圧可能で少なくとも一
つの稼動可能な金属製プレス板を有する積層装置を用い
て、プレスする、ことを含む。また、本発明の好適な態
様として、耐熱ゴム製プレス板を有する積層装置による
プレスの後、接着フィルムAから支持体を剥がし、接着
フィルムBを、樹脂組成物層A上に重ね合わせ、金属製
プレス板を有する積層装置によって、プレスすることを
含む。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION In the laminating method of the present invention, an adhesive film A having a support and a resin composition layer A laminated on the surface thereof is provided on at least a pattern portion on a circuit board. The adhesive film A and the circuit board are pressed using a laminating apparatus having at least one operable heat-resistant rubber press plate that can be heated and pressed and contacted, and then heated and pressed. Pressing using a laminating device having at least one operable metal press plate. Further, as a preferred embodiment of the present invention, after pressing by a laminating apparatus having a heat-resistant rubber press plate, the support is peeled off from the adhesive film A, and the adhesive film B is overlaid on the resin composition layer A, and the metal film is formed. The method includes pressing by a laminating apparatus having a press plate.

【0006】本発明に用いる接着フィルムA又はBは支
持体とその表面に積層された樹脂組成物層A又はBとを
有する。本発明に用いる支持体は格別限定されないが、
例えば、樹脂フィルム、金属箔などが挙げられる。樹脂
フィルムとしては、通常、熱可塑性樹脂フィルムが挙げ
られる。具体的には、ポリプロピレンフィルム、ポリエ
チレンフィルム、ポリブテンフィルム、ポリペンテンフ
ィルム、ポリ塩化ビニルフィルム、ポリカーボネイトフ
ィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリエ
チレンナフタレートフィルム、ポリアリレートフィル
ム、ナイロンフィルム、エチレン−酢酸ビニル共重合体
フィルム、エチレン−エチルアクリレート共重合体フィ
ルム、アクリル樹脂フィルムなどが挙げられる。これら
樹脂フィルムのうち、耐熱性や耐薬品性、積層後の剥離
性などの観点からポリエチレンテレフタレートフィル
ム、ポリエチレンナフタレートフィルム等のポリエステ
ルフィルムが好ましい。金属箔としては、銅箔、アルミ
箔、ニッケル箔、クロム箔、金箔、銀箔などが挙げられ
る。これら金属箔のうち、導電性が良好で安価である点
から、銅箔、特に電解銅箔や圧延銅箔が好適である。
The adhesive film A or B used in the present invention has a support and a resin composition layer A or B laminated on the surface of the support. The support used in the present invention is not particularly limited,
For example, a resin film, a metal foil and the like can be mentioned. As the resin film, a thermoplastic resin film is usually mentioned. Specifically, polypropylene film, polyethylene film, polybutene film, polypentene film, polyvinyl chloride film, polycarbonate film, polyethylene terephthalate film, polyethylene naphthalate film, polyarylate film, nylon film, ethylene-vinyl acetate copolymer film , An ethylene-ethyl acrylate copolymer film, an acrylic resin film, and the like. Among these resin films, polyester films such as a polyethylene terephthalate film and a polyethylene naphthalate film are preferred from the viewpoints of heat resistance, chemical resistance, and peelability after lamination. Examples of the metal foil include a copper foil, an aluminum foil, a nickel foil, a chrome foil, a gold foil, and a silver foil. Among these metal foils, copper foils, particularly electrolytic copper foils and rolled copper foils, are preferred because of their good conductivity and low cost.

【0007】支持体の厚さは特に制限されないが、作業
性等の観点から、通常1μm〜200μm、好ましくは
3μm〜100μm、より好ましくは10〜50μmで
ある。支持体の弾性率は、格別な限定はないが、セイコ
ーインスツルメンツ株式会社製粘弾性測定装置DSM6
100で測定される弾性率で、通常100〜1,500
MPa、好ましくは1,000〜10,000MPa、
より好ましくは3,000〜8,000MPaである。
支持体の弾性率がこの範囲にあるときに、取扱い時の耐
剥離性、積層後の支持体の剥離性、硬化性樹脂組成物層
の配線パターンの埋め込み性及び平坦性が高度にバラン
スされ好適である。また、本発明で使用する支持体は、
その帯電電圧(絶対値)が500V以下、好ましくは2
00V以下、より好ましくは100V以下になったもの
が好ましい。
Although the thickness of the support is not particularly limited, it is usually 1 μm to 200 μm, preferably 3 μm to 100 μm, more preferably 10 to 50 μm from the viewpoint of workability and the like. The elastic modulus of the support is not particularly limited, but a viscoelasticity measuring device DSM6 manufactured by Seiko Instruments Inc.
The modulus of elasticity measured at 100, usually between 100 and 1,500
MPa, preferably 1,000 to 10,000 MPa,
More preferably, it is 3,000 to 8,000 MPa.
When the elastic modulus of the support is in this range, the peel resistance during handling, the peelability of the support after lamination, the embedding property of the wiring pattern of the curable resin composition layer, and the flatness are highly balanced and suitable. It is. Further, the support used in the present invention,
The charging voltage (absolute value) is 500 V or less, preferably 2
Those having a voltage of 00 V or less, more preferably 100 V or less are preferable.

【0008】支持体上に積層される硬化性樹脂組成物と
しては、従来から知られている硬化性樹脂組成物を用い
ることができる。硬化性樹脂組成物は、通常、樹脂と硬
化剤とを含有する。硬化性樹脂組成物を構成する樹脂と
しては、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、アクリル樹
脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリイソシアネ
ート樹脂、ポリエステル樹脂、ポリフェニルエーテル樹
脂、脂環式オレフィン重合体などが挙げられる。本発明
に用いる好適な硬化性樹脂組成物は、低誘電特性、低吸
水性、耐熱性等の観点から、絶縁性樹脂として環構造を
含有する樹脂を含有するものである。
As the curable resin composition laminated on the support, conventionally known curable resin compositions can be used. The curable resin composition usually contains a resin and a curing agent. Examples of the resin constituting the curable resin composition include an epoxy resin, a phenol resin, an acrylic resin, a polyimide resin, a polyamide resin, a polyisocyanate resin, a polyester resin, a polyphenyl ether resin, and an alicyclic olefin polymer. The curable resin composition suitable for use in the present invention contains a resin having a ring structure as an insulating resin from the viewpoints of low dielectric properties, low water absorption, heat resistance, and the like.

【0009】環構造含有樹脂中の環構造は、主鎖及び/
または側鎖のいずれに在ってもよいが、耐熱性や低誘電
特性などの観点から、主鎖に環構造が在るものが好まし
い。また、環構造として、例えば、芳香環構造や脂環構
造などがあげられる。環構造としては、単環、多環、縮
合多環、橋架け環、これらの組み合わせ多環などが挙げ
られる。環構造を構成する炭素原子数は、格別な制限は
ないが、通常4〜30個、好ましくは5〜20個、より
好ましくは5〜15個の範囲である。かかる環構造を含
有する樹脂としては、例えば、環構造含有エポキシ樹
脂、環構造含有アクリル樹脂、環構造含有ポリイミド樹
脂、環構造含有ポリアミド樹脂、環構造ポリイソシアネ
ート樹脂、環構造含有ポリエステル樹脂、ポリフェニレ
ンエーテル樹脂、ベンゾシクロブテン樹脂、ポリノルボ
ルネン系樹脂等が挙げられ、これらのうち、環構造含有
エポキシ樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ベンゾシ
クロブテン樹脂、ポリノルボルネン系樹脂などが好まし
く、特にポリノルボルネン系樹脂が好ましい。
The ring structure in the ring structure-containing resin has a main chain and / or
Alternatively, it may be present in any of the side chains, but from the viewpoint of heat resistance and low dielectric properties, those having a ring structure in the main chain are preferred. Examples of the ring structure include an aromatic ring structure and an alicyclic structure. Examples of the ring structure include a monocyclic ring, a polycyclic ring, a condensed polycyclic ring, a bridged ring, and a polycyclic ring obtained by combining these. The number of carbon atoms constituting the ring structure is not particularly limited, but is usually in the range of 4 to 30, preferably 5 to 20, and more preferably 5 to 15. Examples of the resin having a ring structure include a ring structure-containing epoxy resin, a ring structure-containing acrylic resin, a ring structure-containing polyimide resin, a ring structure-containing polyamide resin, a ring structure polyisocyanate resin, a ring structure-containing polyester resin, and a polyphenylene ether. Resins, benzocyclobutene resins, polynorbornene resins, and the like. Among these, ring structure-containing epoxy resins, polyphenylene ether resins, benzocyclobutene resins, polynorbornene resins, and the like are preferable, and polynorbornene resins are particularly preferable. .

【0010】本発明に用いる硬化性樹脂組成物を構成す
る硬化剤としては、格別な限定はなく、例えば、イオン
性硬化剤、ラジカル性硬化剤又はイオン性とラジカル性
とを兼ね備えた硬化剤等が用いられる。絶縁抵抗性、耐
熱性、耐薬品性、及び脂環式オレフィン重合体との相溶
性の観点でイオン性硬化剤が好ましい。また、硬化反応
を促進させるために、硬化促進剤や硬化助剤を使用する
こともできる。
The curing agent constituting the curable resin composition used in the present invention is not particularly limited, and examples thereof include an ionic curing agent, a radical curing agent, and a curing agent having both ionic and radical properties. Is used. An ionic curing agent is preferred from the viewpoints of insulation resistance, heat resistance, chemical resistance, and compatibility with the alicyclic olefin polymer. Further, in order to accelerate the curing reaction, a curing accelerator or a curing aid can be used.

【0011】環構造含有エポキシ樹脂を用いた組成物と
して、特開平11−1547号公報などに記載のものが
挙げられ、ポリフェニレンエーテル樹脂を用いた組成物
として、特開平9−290481号公報などに記載のも
のが挙げられ、ベンゾシクロブテン樹脂を用いた組成物
として、特開平11−16883号公報などに記載のも
のが挙げられ、ポリノルボルネン系樹脂を用いた組成物
として国際公開WO/98/56011号公報などに記
載のものが挙げられる。
Examples of the composition using a ring structure-containing epoxy resin include those described in JP-A-11-1547, and the composition using a polyphenylene ether resin is described in JP-A-9-290481. Examples of the composition using a benzocyclobutene resin include those described in JP-A-11-16883 and the like. The composition using a polynorbornene-based resin is described in International Publication WO / 98/98. No. 56011 and the like.

【0012】本発明に用いる硬化性樹脂組成物は、それ
を硬化して得られる硬化物の誘電率によって特に限定さ
れないが、JIS C6481に準じて1MHzにおい
て測定される誘電率の値が、通常4以下、好ましくは
3.5以下、より好ましくは3以下のものである。本発
明に用いる硬化性樹脂組成物は、それを硬化して得られ
る硬化物の吸水率が、JIS C6481に準じて測定
される値で、通常0.5%以下、好ましくは0.3%以
下、より好ましくは0.1%以下のものである。
The curable resin composition used in the present invention is not particularly limited by the dielectric constant of a cured product obtained by curing the same, but the value of the dielectric constant measured at 1 MHz according to JIS C6481 is usually 4%. Or less, preferably 3.5 or less, more preferably 3 or less. The curable resin composition used in the present invention has a water absorption of a cured product obtained by curing the composition, which is a value measured according to JIS C6481 and is usually 0.5% or less, preferably 0.3% or less. , More preferably 0.1% or less.

【0013】本発明の硬化性樹脂組成物は、支持体上に
積層させた後、硬化させる前の、120℃における溶融
粘度特性によって特に限定されないが、好適にはレオメ
トリックス社製型式RDA−IIの動的粘弾性測定装置
を用いて測定される値において、接着フィルムA上の硬
化性樹脂組成物Aは、通常1,000〜100,000
Pa・s、好ましくは5,000〜80,000Pa・
s、より好ましくは10,000〜30,000Pa・
sのものであり、接着フィルムB上の硬化性樹脂組成物
Bは、通常10,000〜200,000Pa・s、好
ましくは15,000〜100,000Pa・s、より
好ましくは20,000〜50,000Pa・sのもの
である。硬化性樹脂組成物層の120℃における溶融粘
度特性が過度に小さいと、樹脂層表面の平坦性に劣り、
また樹脂組成物がプレス時に染み出しプレス板を汚染す
る等の問題を生じることがある。逆に、過度に大きいと
配線パターン埋め込み性や平坦性に劣ることがある。
The curable resin composition of the present invention is not particularly limited by the melt viscosity characteristics at 120 ° C. before being cured after being laminated on the support, but is preferably RDA-II manufactured by Rheometrics. Of the curable resin composition A on the adhesive film A is usually 1,000 to 100,000 at a value measured using a dynamic viscoelasticity measuring device of
Pa · s, preferably 5,000 to 80,000 Pa · s
s, more preferably 10,000 to 30,000 Pa.
s, and the curable resin composition B on the adhesive film B is usually 10,000 to 200,000 Pa · s, preferably 15,000 to 100,000 Pa · s, more preferably 20,000 to 50 Pa · s. 2,000 Pa · s. When the melt viscosity property at 120 ° C. of the curable resin composition layer is excessively small, the flatness of the resin layer surface is poor,
Further, the resin composition may exude at the time of pressing and cause problems such as contamination of the press plate. Conversely, if it is too large, the wiring pattern embedding property and flatness may be poor.

【0014】接着フィルムA及びB上の硬化性樹脂組成
物層の厚みは、通常10〜200μm、好ましくは15
〜150μm、より好ましくは20〜100μmの範囲
である。接着フィルムAとBとを積層する場合には、接
着フィルムA上の硬化性樹脂組成物層の厚みは、接着フ
ィルムB上のものと同等か、もしくは接着フィルムB上
のものより厚い方が好ましい。また、接着フィルムAと
Bとを積層する場合には、接着フィルムA及びB上の硬
化性樹脂組成物層の厚みを、回路基板の導体層厚よりも
薄くすることが好ましく、具体的には約30μm以下と
することが好ましい。支持体と硬化性樹脂組成物層の面
積は、両者が同一面積であっても良いが、内層基板上に
積層された後、支持体を剥がす操作があることから、支
持体が硬化性樹脂組成物の層よりも僅かに大きな面積を
持つようになっているものが好ましい。
The thickness of the curable resin composition layer on the adhesive films A and B is usually 10 to 200 μm, preferably 15 to 200 μm.
To 150 μm, more preferably 20 to 100 μm. When the adhesive films A and B are laminated, the thickness of the curable resin composition layer on the adhesive film A is preferably equal to or greater than that on the adhesive film B or greater than that on the adhesive film B. . When the adhesive films A and B are laminated, it is preferable that the thickness of the curable resin composition layer on the adhesive films A and B is smaller than the thickness of the conductor layer of the circuit board. Preferably, it is about 30 μm or less. The area of the support and the curable resin composition layer may be the same area, but since the support is peeled off after being laminated on the inner layer substrate, the support is hardened by the curable resin composition. Those having a slightly larger area than the material layer are preferred.

【0015】支持体と硬化性樹脂組成物層とを積層させ
る方法として、フィルム状に形成した硬化性樹脂組成物
とフィルム状の支持体とを重ね合わせ加圧密着させる方
法も採り得るが、通常は、溶液キャスト法や溶融キャス
ト法で積層するのが好ましい。溶液キャスト法では、硬
化性樹脂組成物の溶液又は分散液を支持体に塗布した後
に、溶媒を乾燥除去する。
As a method of laminating the support and the curable resin composition layer, a method in which the curable resin composition formed in the form of a film and the support in the form of a film are superimposed and brought into close contact with each other can be employed. Are preferably laminated by a solution casting method or a melt casting method. In the solution casting method, after applying a solution or dispersion of the curable resin composition to a support, the solvent is removed by drying.

【0016】硬化性樹脂組成物を溶解又は分散させるた
めに使用する溶媒としては、例えば、トルエン、キシレ
ン、エチルベンゼン、トリメチルベンゼンなどの芳香族
炭化水素系溶媒;n−ペンタン、n−ヘキサン、n−ヘ
プタンなどの脂肪族炭化水素系溶媒;シクロペンタン、
シクロヘキサンなどの脂環式炭化水素系溶媒;クロロベ
ンゼン、ジクロロベンゼン、トリクロロベンゼンなどの
ハロゲン化炭化水素系溶媒;メチルエチルケトン、メチ
ルイソブチルケトン、シクロペンタノン、シクロヘキサ
ノンなどのケトン系溶媒などを挙げることができる。こ
れらの溶媒は、それぞれ単独で、あるいは2種以上を組
み合わせて用いることができる。これら溶媒のなかで
も、微細配線への埋め込み性に優れ、気泡等を生じさせ
ないものとして、芳香族炭化水素系溶媒や脂環式炭化水
素系溶媒のごとき非極性溶媒と、ケトン系溶媒のごとき
極性溶媒とを混合した混合溶媒が好ましい。これらの非
極性溶媒と極性溶媒の混合比は適宜選択できるが、重量
比で、通常5:95〜95:5、好ましくは10:90
〜90:10、より好ましくは20:80〜80:20
の範囲である。溶媒の使用量は、使用目的に応じて適宜
選択されるが、硬化性樹脂組成物の溶液又は分散液の固
形分濃度が、通常5〜70重量%、好ましくは10〜6
5重量%、より好ましくは20〜60重量%になる範囲
である。
The solvent used for dissolving or dispersing the curable resin composition includes, for example, aromatic hydrocarbon solvents such as toluene, xylene, ethylbenzene and trimethylbenzene; n-pentane, n-hexane and n-hexane. Aliphatic hydrocarbon solvents such as heptane; cyclopentane,
Alicyclic hydrocarbon solvents such as cyclohexane; halogenated hydrocarbon solvents such as chlorobenzene, dichlorobenzene and trichlorobenzene; ketone solvents such as methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclopentanone and cyclohexanone; These solvents can be used alone or in combination of two or more. Among these solvents, non-polar solvents such as aromatic hydrocarbon-based solvents and alicyclic hydrocarbon-based solvents and polar solvents such as ketone-based solvents have excellent embedding properties in fine wiring and do not generate bubbles. A mixed solvent obtained by mixing with a solvent is preferred. The mixing ratio of the nonpolar solvent and the polar solvent can be appropriately selected, but is usually 5:95 to 95: 5, preferably 10:90 by weight.
9090: 10, more preferably 20:80 to 80:20
Range. The amount of the solvent used is appropriately selected depending on the purpose of use, but the solid concentration of the solution or dispersion of the curable resin composition is usually 5 to 70% by weight, preferably 10 to 6% by weight.
The range is 5% by weight, more preferably 20 to 60% by weight.

【0017】塗布方法として、デイップコート、ロール
コート、カーテンコート、ダイコート、スリットコート
などの方法が挙げられる。また溶媒の除去乾燥の条件
は、溶媒の種類により適宜選択され、乾燥温度は、通常
20〜300℃、好ましくは30〜200℃であり、乾
燥時間は、通常30秒〜1時間、好ましくは1分〜30
分である。硬化性樹脂組成物層は、いわゆるBステージ
の状態にあることが好ましい。Bステージ状態は、上記
の乾燥条件を適宜選択することにより得ることができ
る。本発明の好適な接着フィルムの製法においては、支
持体に軟X線を照射する操作、アルコール又は界面活性
剤を接触させる操作を行い、さらに硬化性樹脂組成物の
層を支持体上に積層させる操作を行う。これら操作全て
を微粒子数の少ないクリーンルーム内で行うことが好ま
しい。クリーンルームは、通常、クラス10000以
下、好ましくはクラス1000以下、特に好ましくはク
ラス500以下のクリーン度のものである。常温固形の
樹脂組成物層と支持体とからなる接着フィルムは、その
まま又は樹脂組成物層の他面に保護フィルムをさらに積
層し、ロール状に巻き取って貯蔵される。プレスに際し
ては、前記保護フィルムを除去した後、パターン加工さ
れた回路基板に接着フィルムの樹脂組成物層を重ね合わ
せる。
The coating method includes dip coating, roll coating, curtain coating, die coating, slit coating and the like. The conditions for removing and drying the solvent are appropriately selected depending on the type of the solvent, the drying temperature is usually 20 to 300 ° C., preferably 30 to 200 ° C., and the drying time is usually 30 seconds to 1 hour, preferably 1 second. Min to 30
Minutes. The curable resin composition layer is preferably in a so-called B-stage state. The B stage state can be obtained by appropriately selecting the above drying conditions. In the preferred method for producing an adhesive film of the present invention, an operation of irradiating the support with soft X-rays, an operation of contacting an alcohol or a surfactant, and further laminating a layer of the curable resin composition on the support are performed. Perform the operation. All of these operations are preferably performed in a clean room with a small number of fine particles. The clean room usually has a cleanness of class 10000 or less, preferably class 1000 or less, particularly preferably class 500 or less. The adhesive film comprising the resin composition layer at room temperature solid and the support is stored as it is or by further laminating a protective film on the other surface of the resin composition layer, winding up in a roll shape, and storing. At the time of pressing, after removing the protective film, the resin composition layer of the adhesive film is superimposed on the patterned circuit board.

【0018】本発明に用いる回路基板は、片面または両
面に導体層からなる回路パターンが加工されていてもよ
い。両面にパターン加工されている場合、回路基板両面
に合わせて接着フィルム2枚を用いれば、パターン加工
された回路基板上に接着フィルムの樹脂組成物層を回路
基板両面に同時に積層することができる。回路基板の導
体層厚は特に制限されないものの、通常1〜400μ
m、好ましくは10〜20 0μm、より好ましくは3
0〜100μmである。
The circuit board used in the present invention may have a circuit pattern formed of a conductor layer on one or both sides. When both sides are patterned, if two adhesive films are used on both sides of the circuit board, the resin composition layer of the adhesive film can be simultaneously laminated on both sides of the circuit board on the patterned circuit board. Although the thickness of the conductor layer of the circuit board is not particularly limited, it is usually 1 to 400 μm.
m, preferably 10 to 200 μm, more preferably 3 to 200 μm.
0 to 100 μm.

【0019】本発明の積層方法においては、先ず、前記
接着フィルムAを、回路基板上の少なくともパターン部
分に該樹脂組成物層が接するように重ね合わせ、接着フ
ィルムAと回路基板との位置決めをする。次いで、加熱
及び加圧可能で少なくとも一つの稼動可能な耐熱ゴム製
プレス板を有する積層装置を用いて、接着フィルムAと
回路基板とをプレスし、さらに加熱及び加圧可能で少な
くとも一つの稼動可能な金属製プレス板を有する積層装
置を用いて、プレスする。積層装置は加熱および加圧可
能なプレス板を有するものであればよく、積層装置にお
けるプレス機構はプレス板が一枚でこれが稼動する方式
でも、プレス板が一対で構成され双方が稼動する方式で
もよい。また、プレス板は、積層装置に固定されていて
もよいし、又取り外し可能なものであってもよい。積層
装置としては、例えば、モートン・インターナショナル
・インコーポレーティッド社製バキューム・アプリケー
タ、名機製作所社製真空プレス機、OPTEK社製真空
ラミネーター等市販の真空積層機などを挙げることがで
きる。
In the laminating method of the present invention, first, the adhesive film A is overlaid so that the resin composition layer is in contact with at least the pattern portion on the circuit board, and the adhesive film A and the circuit board are positioned. . Next, the adhesive film A and the circuit board are pressed by using a laminating apparatus having at least one heat-resistant rubber press plate capable of being heated and pressed, and further heated and pressurized and at least one operable. Is pressed using a laminating apparatus having a metal press plate. The laminating apparatus may have a press plate capable of heating and pressurizing, and the press mechanism in the laminating apparatus may be a method in which one press plate is operated, or a method in which a pair of press plates are operated and both are operated. Good. Further, the press plate may be fixed to the laminating device or may be removable. Examples of the laminating apparatus include commercially available vacuum laminating machines such as a vacuum applicator manufactured by Morton International Incorporated, a vacuum press machine manufactured by Meiki Seisakusho, and a vacuum laminator manufactured by OPTEK.

【0020】耐熱ゴム製プレス板によるプレス工程で
は、位置決めされた接着フィルムAと回路基板とを、接
着フィルムAの支持体側からプレスする(以下、一次プ
レスということがある。)。一次プレス温度は、通常7
0〜150℃、好ましくは80〜130℃であり、一次
プレス圧は、通常0.05〜0.9MPa、好ましくは
0.1〜0.7MPaである。一次プレス時間は通常1
秒〜120秒程度である。接着フィルムAと回路基板と
の密着性を高めるためにプレス雰囲気を常圧以下にする
ことが好ましい。真空度は、好ましくは400mmHg
vac.〜760mmHg vac.である。
In the pressing step using a heat-resistant rubber press plate, the positioned adhesive film A and the circuit board are pressed from the support side of the adhesive film A (hereinafter, sometimes referred to as a primary press). Primary press temperature is usually 7
The temperature is 0 to 150 ° C, preferably 80 to 130 ° C, and the primary pressing pressure is usually 0.05 to 0.9 MPa, preferably 0.1 to 0.7 MPa. Primary press time is usually 1
Seconds to about 120 seconds. In order to enhance the adhesion between the adhesive film A and the circuit board, it is preferable to set the press atmosphere to normal pressure or lower. The degree of vacuum is preferably 400 mmHg
vac. 7760 mmHg vac. It is.

【0021】金属製プレス板によるプレス工程では、一
次プレスされた接着フィルムAと回路基板とを再度プレ
スする(以下、二次プレスということがある。)。二次
プレス温度は、通常110〜170℃、好ましくは12
0〜150℃であり、二次プレス圧は通常0.1〜5M
Pa、好ましくは0.5〜3MPaである。二次プレス
時間は通常1秒〜120秒程度である。接着フィルムと
回路基板との密着性を高めるためにプレス雰囲気を常圧
以下にすることが好ましい。真空度は、好ましくは40
0mmHg vac.〜760mmHg vac.であ
る。金属製プレス板によるプレス工程で用いる金属製プ
レス板は、積層装置に固定されたものだけに限られるも
のではなく、耐熱ゴム製プレス板を備えた積層装置にお
いて、耐熱ゴム製プレス板と接着フィルムおよび回路基
板との間にステンレスなどの金属板を挟んで、プレスす
るものであってもよい。本発明の好適な態様として、金
属製プレス板によるプレス工程において、一次プレスさ
れた接着フィルムAの支持体を剥がし、接着フィルムB
を樹脂組成物層A上に重ね合わせ、接着フィルムBを樹
脂組成物層A上にプレスする。接着フィルムBを積層す
る場合の二次プレス温度は、通常70〜150℃、好ま
しくは80〜130℃である。
In the pressing step using a metal press plate, the adhesive film A and the circuit board that have been subjected to the primary press are pressed again (hereinafter sometimes referred to as a secondary press). The secondary pressing temperature is usually 110 to 170 ° C, preferably 12 to 170 ° C.
0 to 150 ° C, secondary press pressure is usually 0.1 to 5M
Pa, preferably 0.5 to 3 MPa. The secondary pressing time is usually about 1 second to 120 seconds. In order to enhance the adhesion between the adhesive film and the circuit board, it is preferable to set the press atmosphere to normal pressure or lower. The degree of vacuum is preferably 40
0 mmHg vac. 7760 mmHg vac. It is. The metal press plate used in the pressing process using the metal press plate is not limited to the one fixed to the laminating device, but may be used in a laminating device having a heat resistant rubber press plate. Alternatively, a metal plate such as stainless steel may be interposed between the substrate and the circuit board and pressed. As a preferred embodiment of the present invention, in a pressing step using a metal press plate, the support of the primary pressed adhesive film A is peeled off, and the adhesive film B is removed.
Is superimposed on the resin composition layer A, and the adhesive film B is pressed on the resin composition layer A. The secondary pressing temperature when laminating the adhesive film B is usually 70 to 150 ° C, preferably 80 to 130 ° C.

【0022】耐熱ゴム製プレス板による工程のプレス時
間と、金属製プレス板による工程のプレス時間は、ほぼ
同じにすることが好ましい。プレス時間を同じに揃える
ことによって、耐熱ゴム製プレス板による工程から、金
属製プレス板による工程に至るときの待ち時間が無くな
り、生産性を高くすることができる。
It is preferable that the pressing time in the step using the heat-resistant rubber press plate and the pressing time in the step using the metal press plate are substantially the same. By making the pressing times the same, the waiting time from the process using the heat-resistant rubber press plate to the process using the metal press plate is eliminated, and the productivity can be increased.

【0023】本発明の樹脂組成物層をパターン加工され
た回路基板上に真空積層する方法は、ビルドアップ用の
層間樹脂組成物層に使用する場合に限定されるものでな
く、熱流動性を有する樹脂組成物層全般、例えばソルダ
ーレジスト等のドライフィルムにも適用可能である。積
層後は、通常、オーブン中で硬化反応を行う。硬化条件
は、硬化剤の種類に応じて適宜選択されるが、硬化温度
は、通常30〜400℃、好ましくは70〜300℃、
より好ましくは100〜200℃であり、硬化時間は、
通常0.1〜5時間、好ましくは0.5〜3時間であ
る。前記支持体付きフィルム又はシートを内層基板に積
層させた場合には、前記支持体が付いたままで、硬化性
樹脂組成物からなるフィルム又はシートを加熱し硬化さ
せてもよいが、通常は前記支持体を剥がした後に硬化性
樹脂組成物からなるフィルム又はシートを加熱し硬化さ
せる。
The method of vacuum laminating the resin composition layer of the present invention on a patterned circuit board is not limited to the case where the resin composition layer is used for an interlayer resin composition layer for build-up. The present invention is also applicable to general resin composition layers, for example, dry films such as solder resists. After lamination, a curing reaction is usually performed in an oven. The curing conditions are appropriately selected according to the type of the curing agent, and the curing temperature is usually 30 to 400 ° C, preferably 70 to 300 ° C,
More preferably 100 to 200 ° C., and the curing time is
It is usually 0.1 to 5 hours, preferably 0.5 to 3 hours. When the support-attached film or sheet is laminated on an inner layer substrate, the film or sheet made of a curable resin composition may be heated and cured while the support is attached, but usually the support After the body is peeled off, the film or sheet made of the curable resin composition is heated and cured.

【0024】[0024]

【実施例】以下に、実施例及び比較例を挙げて本発明を
具体的に説明する。なお、実施例中、〔部〕は、特に断
りのない限り〔重量部〕のことである。 (1)分子量は、特に断りのない限り、トルエンを溶媒
とするゲル・パーミエーション・クロマトグラフィー
(GPC)によるポリスチレン換算値として測定した。 (2)水素化率(水素添加前の重合体中の不飽和結合の
モル数に対する水素添加された水素のモル数の割合)及
びカルボキシル基含有率(重合体中の総モノマー単位数
に対するカルボキシル基のモル数の割合)は、H−N
MRにより測定結果から求めた。 (3)ガラス移転温度(Tg)は、示差走査熱量法(D
SC法)により測定した。 (4)溶融粘度(Eta*)は、レオメトリックス社R
DA−IIを用いて測定した。支持体上の樹脂組成物を
支持体から剥がし、測定周波数0.5Hz,測定温度6
0〜180℃、昇温速度2℃/分で測定し、120℃で
の溶融粘度を評価した。
The present invention will be specifically described below with reference to examples and comparative examples. In the examples, “parts” means “parts by weight” unless otherwise specified. (1) Unless otherwise specified, the molecular weight was measured as a polystyrene equivalent value by gel permeation chromatography (GPC) using toluene as a solvent. (2) Hydrogenation rate (ratio of moles of hydrogenated hydrogen to moles of unsaturated bond in polymer before hydrogenation) and carboxyl group content (carboxyl group to total number of monomer units in polymer) Is the ratio of 1 H-N
It was determined from the measurement results by MR. (3) The glass transition temperature (Tg) is determined by the differential scanning calorimetry (D
SC method). (4) Melt viscosity (Eta *) is measured by Rheometrics R
It measured using DA-II. The resin composition on the support was peeled from the support, and the measurement frequency was 0.5 Hz and the measurement temperature was 6
The melt viscosity at 120 ° C. was evaluated by measuring the temperature at 0 ° C. to 180 ° C. at a temperature rising rate of 2 ° C./min.

【0025】(5)タクトタイムは基板1枚あたりの加
工時間として表した。なお、一次プレスと二次プレスと
は並列処理することができるので、一次プレスと二次プ
レスそれぞれにかかった時間の長い方をタクトタイムと
した。また複数枚を同時に処理した場合は総加工時間を
処理枚数で除した値で示した。 (6)配線時の埋め込み性は配線板を切断し、走査型電
子顕微鏡にて空隙の有無を観察した。評価は配線100
本につき空隙を生じていないものは◎、空隙が1ヶ所以
上3ヶ所以下のものは○、空隙が4ヶ所以上6ヶ所以下
のものは△、空隙が7ヶ所以上のものは×とした。 (7)積層時の気泡の発生は配線板の硬化物層を上面よ
り目視で観察し、気泡の有無を確認した。100mmエ
リア内で気泡が全く観察されないものを○、1ヶ所以上
5ヶ所以下のものを△、6ヶ所以上10ヶ所以下のもの
を×として評価した。 (8)硬化物の平面平滑性は、配線厚18ミクロンの配
線板を切断し、走査型顕微鏡にて硬化物層の厚みを測定
した。評価は最薄部と最厚部の差が0ミクロン以上2ミ
クロン未満のものは◎、2ミクロン以上3ミクロン未満
のものは○、3ミクロン以上8ミクロン未満のものは
△、8ミクロン以上のものを×とした。 (9)導体層上の硬化物樹脂層厚みは回路基板を切断
し、走査型顕微鏡にて観察し測定した。
(5) Tact time is represented as processing time per substrate. Since the primary press and the secondary press can be processed in parallel, the longer time taken for each of the primary press and the secondary press was taken as the tact time. When a plurality of sheets were processed at the same time, the total processing time was divided by the number of processed sheets. (6) Regarding the embedding property during wiring, the wiring board was cut, and the presence or absence of voids was observed with a scanning electron microscope. Evaluation is wiring 100
Regarding the book, ◎ indicates that no voids were formed, ○ indicates that the voids were at 1 to 3 locations, △ indicates that the voids were at 4 to 6 locations, and x indicates that the voids were 7 or more. (7) The generation of bubbles during the lamination was visually observed from the upper surface of the cured product layer of the wiring board, and the presence or absence of bubbles was confirmed. A sample in which no air bubbles were observed in the 100 mm area was evaluated as ○, a sample in 1 to 5 locations was rated as Δ, and a sample in 6 to 10 locations was rated as ×. (8) The flatness of the cured product was measured by cutting a wiring board having a wiring thickness of 18 μm and measuring the thickness of the cured product layer with a scanning microscope. The evaluation is as follows: the difference between the thinnest part and the thickest part is 0 micron or more and less than 2 microns. ◎: 2 microns or more and less than 3 microns. ○: 3 microns or more but less than 8 microns. Δ: 8 microns or more. Is indicated by x. (9) The thickness of the cured resin layer on the conductor layer was measured by cutting a circuit board and observing it with a scanning microscope.

【0026】実施例1 テトラシクロドデセン(TCD)50モル%と8−メチ
ルテトラシクロドデセン(MTD)50モル%を開環重
合し、次いで水素添加率99%になるように水素添加し
て、数平均分子量(Mn)=31,200、重量平均分
子量(Mw)=55,800、Tg=158℃のTCD
/MTD開環共重合体水素化物を得た。この開環共重合
体水素化物28部、無水マレイン酸12部及びジクミル
パーオキシド3部をt−ブチルベンゼン130部に溶解
し、140℃で6時間反応を行った。得られた反応生成
物溶液を300部のメタノール中に注ぎ、反応生成物を
凝固させた。該凝固物を100℃で20時間真空乾燥し
マレイン酸変性開環重合体水素化物を得た。このマレイ
ン酸変性開環重合体水素化物の分子量はMn=33,2
00、Mw=68,300で、Tgは170℃で、マレ
イン酸基含有率は25モル%であった。
Example 1 50 mol% of tetracyclododecene (TCD) and 50 mol% of 8-methyltetracyclododecene (MTD) were subjected to ring-opening polymerization, and then hydrogenated to a hydrogenation rate of 99%. TCD with number average molecular weight (Mn) = 31,200, weight average molecular weight (Mw) = 55,800, and Tg = 158 ° C.
/ MTD ring-opening copolymer hydride was obtained. 28 parts of this hydrogenated ring-opening copolymer, 12 parts of maleic anhydride and 3 parts of dicumyl peroxide were dissolved in 130 parts of t-butylbenzene and reacted at 140 ° C. for 6 hours. The obtained reaction product solution was poured into 300 parts of methanol to coagulate the reaction product. The coagulated product was vacuum dried at 100 ° C. for 20 hours to obtain a hydrogenated maleic acid-modified ring-opened polymer. The molecular weight of the hydrogenated maleic acid-modified ring-opening polymer is Mn = 33.2.
00, Mw = 68,300, Tg was 170 ° C., and the maleic acid group content was 25 mol%.

【0027】マレイン酸変性開環重合体水素化物100
部、ジアリルモノグリシジルイソシアネート53.2
部、ジクミルパーオキサイド5.42部およびポリ燐酸
メラミン塩(商品名:MPP−C:株式会社三和ケミカ
ル)30部をキシレン170部及びシクロペンタノン1
10部の混合溶媒に溶解させて硬化性樹脂組成物のワニ
スを得た。このワニスを孔径10ミクロンのテフロン
(登録商標)製精密フィルターでろ過した後、ダイコー
ターを用いて、300mm角の厚さ75ミクロンのポリ
エチレンナフタレートフィルム(商品名:テオネック
ス:帝人株式会社製 )に塗工し、その後窒素オーブン
中で100℃で600秒乾燥させ樹脂厚み40ミクロン
の支持体付きドライフィルムを得た。この支持体上の樹
脂組成物の溶融粘度は25,000Pa・sであった。
Maleic acid-modified ring-opening polymer hydride 100
Parts, diallyl monoglycidyl isocyanate 53.2
Parts, dicumyl peroxide 5.42 parts and polyphosphoric acid melamine salt (trade name: MPP-C: Sanwa Chemical Co., Ltd.) 30 parts xylene 170 parts and cyclopentanone 1
It was dissolved in 10 parts of a mixed solvent to obtain a varnish of the curable resin composition. This varnish was filtered through a precision filter made of Teflon (registered trademark) having a pore size of 10 μm, and then, using a die coater, a 300 mm square 75 μm thick polyethylene naphthalate film (trade name: Teonex: manufactured by Teijin Limited) was used. It was coated and then dried in a nitrogen oven at 100 ° C. for 600 seconds to obtain a dry film with a support having a resin thickness of 40 μm. The melt viscosity of the resin composition on the support was 25,000 Pa · s.

【0028】配線幅及び配線間距離が165ミクロンで
導体層厚みが18ミクロンの導電体配線層と、直径0.
2mmのメッキスルーホールが形成された、厚さ0.8
mmの内層基板を、1mol/lの水酸化ナトリウム水
溶液で洗浄し、基板上の不純物を除去し、水洗し、乾燥
させた。次いで、前述の支持体付きドライフィルムを支
持体が外側、硬化性樹脂組成物層が内側になるようにし
て、前記洗浄処理後の内層基板の両面に重ね合わせた。
これを、耐熱ゴム製プレス板を上下に備えた真空積層装
置を用いて、真空度758mmHg vac.にて、温
度110℃、圧力0.5MPaで60秒間加熱圧着した
(一次プレス)。次いで、ステンレス製プレス板で覆わ
れた耐熱ゴム製プレス板を上下に備えた真空積層装置を
用いて、真空度758mmHg vac.にて、温度1
40℃、圧力1.0MPaで60秒間加熱圧着した(二
次プレス)。そして、支持体のみを剥がし、150℃の
窒素オーブン中に120分間放置し、内層基板上に電気
絶縁層を形成した。この回路基板の評価結果を表1に示
す。
A conductor wiring layer having a wiring width and an inter-wiring distance of 165 microns and a conductor layer thickness of 18 microns;
0.8mm thick with 2mm plated through hole
The inner substrate having a thickness of 1 mm was washed with a 1 mol / l aqueous solution of sodium hydroxide to remove impurities on the substrate, washed with water, and dried. Next, the above-described dry film with a support was superposed on both surfaces of the inner layer substrate after the above-mentioned cleaning treatment, with the support being on the outside and the curable resin composition layer being on the inside.
Using a vacuum laminator equipped with heat-resistant rubber press plates on the top and bottom, this was vacuumed at 758 mmHg vac. At a temperature of 110 ° C. and a pressure of 0.5 MPa for 60 seconds (primary press). Next, using a vacuum laminating apparatus having upper and lower heat resistant rubber press plates covered with a stainless steel press plate, a degree of vacuum of 758 mmHg vac. At temperature 1
Thermocompression bonding was performed at 40 ° C. and a pressure of 1.0 MPa for 60 seconds (secondary press). Then, only the support was peeled off and left in a nitrogen oven at 150 ° C. for 120 minutes to form an electric insulating layer on the inner substrate. Table 1 shows the evaluation results of the circuit board.

【0029】実施例2 一次プレス工程のプレス圧および加熱温度をそれぞれ
0.1MPaおよび100℃に変えた他は実施例1と同
様にして回路基板を得た。評価結果を表1に示す。 実施例3 硬化性樹脂組成物のワニスとしてマレイン酸変性開環重
合体水素添加物100部、臭素化ビスフェノールA型エ
ポキシ樹脂(商品名:アラルダイトAER8049:旭
チバ株式会社製)50部、1−ベンジル−2−フェニル
イミダゾール0.1部、五酸化アンチモン10部及びシ
リコンレジン(トスパール120:東芝シリコーン社
製)5部をキシレン135部及びシクロペンタノン90
部の混合溶媒に溶解させて得た硬化性樹脂組成物のワニ
スを用いた他は実施例1と同様にして回路基板を得た。
支持体上の樹脂組成物の溶融粘度は38,000Pa・
sであった。評価結果を表1に示す。
Example 2 A circuit board was obtained in the same manner as in Example 1 except that the pressing pressure and the heating temperature in the primary pressing step were changed to 0.1 MPa and 100 ° C., respectively. Table 1 shows the evaluation results. Example 3 As a varnish of a curable resin composition, 100 parts of a hydrogenated maleic acid-modified ring-opening polymer, 50 parts of a brominated bisphenol A type epoxy resin (trade name: Araldite AER8049: manufactured by Asahi Ciba Co., Ltd.), 1-benzyl 0.1 part of 2-phenylimidazole, 10 parts of antimony pentoxide, and 5 parts of silicone resin (Tospearl 120: manufactured by Toshiba Silicone Co., Ltd.) are 135 parts of xylene and 90 parts of cyclopentanone.
A circuit board was obtained in the same manner as in Example 1 except for using a varnish of a curable resin composition obtained by dissolving in a part of a mixed solvent.
The melt viscosity of the resin composition on the support is 38,000 Pa ·
s. Table 1 shows the evaluation results.

【0030】実施例4 臭素化ビスフェノールA型エポキシ樹脂の量を100部
とした他は実施例3と同様にして回路基板を得た。この
支持体上の樹脂組成物の溶融粘度は11000Pa・s
であった。評価結果を表1に示す。実施例5二次プレス
において、10枚の基板と9枚のステンレス板とを交互
に重ね合わせ、基板10枚を、真空積層装置を用いて、
真空度750mmHg vac.、温度130℃、プレ
ス圧2MPaで20分間加熱圧着した他は実施例1と同
様にして回路基板を得た。評価結果を表1に示す。
Example 4 A circuit board was obtained in the same manner as in Example 3 except that the amount of the brominated bisphenol A type epoxy resin was changed to 100 parts. The melt viscosity of the resin composition on this support is 11,000 Pa · s
Met. Table 1 shows the evaluation results. Example 5 In a secondary press, ten substrates and nine stainless steel plates were alternately stacked, and ten substrates were formed using a vacuum laminating apparatus.
Vacuum degree 750 mmHg vac. A circuit board was obtained in the same manner as in Example 1, except that the substrate was heated and pressed at a temperature of 130 ° C. and a press pressure of 2 MPa for 20 minutes. Table 1 shows the evaluation results.

【0031】比較例1 真空積層装置による二次プレスを行なわなかった以外
は、実施例1と同様にして回路基板を得た。評価結果を
表1に示す。 比較例2 一次プレスを行わず、ステンレス板による二次プレスを
真空度758mmHgvac.にて、温度120℃、プ
レス圧1.0MPaで60秒間行った他は、実施例1と
同様にして回路基板を得た。評価結果を表1に示す。 比較例3 ステンレス板の代わりに、厚さ0.1mmのポリプロピ
レンシートを挟んで二次プレスを行った他は比較例2と
同様にして回路基板を得た。評価結果を表1に示す。 比較例4 加熱圧着時間を600秒とした他は比較例3と同様にし
て回路基板を得た。評価結果を表1に示す。埋め込み性
を良くするために加圧時間を長くしなければならないこ
とがわかる。加圧時間を長くしても平滑性はほとんど変
わらない(改善されない)こともわかる。
Comparative Example 1 A circuit board was obtained in the same manner as in Example 1 except that the secondary press using the vacuum laminating apparatus was not performed. Table 1 shows the evaluation results. Comparative Example 2 A secondary press using a stainless steel plate was performed without performing the primary press, and the degree of vacuum was 758 mmHgvac. A circuit board was obtained in the same manner as in Example 1 except that the test was performed at a temperature of 120 ° C. and a press pressure of 1.0 MPa for 60 seconds. Table 1 shows the evaluation results. Comparative Example 3 A circuit board was obtained in the same manner as in Comparative Example 2 except that a secondary press was performed with a polypropylene sheet having a thickness of 0.1 mm being sandwiched in place of the stainless steel plate. Table 1 shows the evaluation results. Comparative Example 4 A circuit board was obtained in the same manner as in Comparative Example 3, except that the heating and pressing time was changed to 600 seconds. Table 1 shows the evaluation results. It can be seen that the pressurization time must be increased in order to improve the embedding property. It can also be seen that the smoothness hardly changes (is not improved) even when the pressing time is increased.

【0032】実施例6 実施例1で用いたワニスを下記の方法で得られたワニス
に変えた他は実施例1と同様にして回路基板を得た。8
−エチル−テトラシクロ〔4.4.0.12,5.1
7,10〕−ドデカ−3−エンを開環重合し、次いで水
素添加反応を行い、数平均分子量(Mn)=31,20
0、重量平均分子量(Mw)=55,800、Tg=約
140℃の水素化重合体を得た。得られたポリマーの水
素化率は99%以上であった。得られた水素化重合体2
8部、無水マレイン酸10部及びジクミルパーオキシド
3部をt−ブチルベンゼン130部に溶解し、140℃
で6時間反応を行った。得られた反応生成物溶液を30
0部のメタノール中に注ぎ、反応生成物を凝固させマレ
イン酸変性水素化重合体を得た。この変性水素化重合体
を100℃で20時間真空乾燥した。この変性水素化重
合体の分子量はMn=33,200、Mw=68,30
0でTgは170℃であった。マレイン酸基含有率は2
5モル%であった。マレイン酸変性開環重合体水素添加
物100部、1,3−ジアリル−5−グリシジルイソシ
アヌレート50部、ジクミルパーオキサイド5部および
ポリ燐酸メラミン塩(商品名:MPP−C:株式会社三
和ケミカル)30部をキシレン170部及びシクロペン
タノン110部の混合溶媒に溶解させて硬化性樹脂組成
物のワニスを得た。このワニスを孔径10ミクロンのテ
フロン製精密フィルターでろ過した。このワニスを用い
た。支持体上の樹脂組成物の溶融粘度は24,000P
a・sであった。評価結果を表1に示す。
Example 6 A circuit board was obtained in the same manner as in Example 1 except that the varnish used in Example 1 was changed to a varnish obtained by the following method. 8
-Ethyl-tetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1
7,10 ] -Dodeca-3-ene is subjected to ring-opening polymerization, followed by a hydrogenation reaction, and number average molecular weight (Mn) = 31,20.
A hydrogenated polymer having a weight average molecular weight (Mw) of 55,800 and a Tg of about 140 ° C. was obtained. The hydrogenation rate of the obtained polymer was 99% or more. Obtained hydrogenated polymer 2
8 parts, 10 parts of maleic anhydride and 3 parts of dicumyl peroxide are dissolved in 130 parts of t-butylbenzene.
For 6 hours. The obtained reaction product solution was added to 30
The reaction product was solidified by pouring into 0 parts of methanol to obtain a maleic acid-modified hydrogenated polymer. The modified hydrogenated polymer was vacuum dried at 100 ° C. for 20 hours. The molecular weight of this modified hydrogenated polymer is Mn = 33,200, Mw = 68,30.
At 0, the Tg was 170 ° C. Maleic acid group content is 2
It was 5 mol%. 100 parts of hydrogenated maleic acid-modified ring-opening polymer, 50 parts of 1,3-diallyl-5-glycidyl isocyanurate, 5 parts of dicumyl peroxide and melamine polyphosphate (trade name: MPP-C: Sanwa Corporation) (Chemical) 30 parts was dissolved in a mixed solvent of xylene 170 parts and cyclopentanone 110 parts to obtain a varnish of a curable resin composition. The varnish was filtered with a Teflon precision filter having a pore diameter of 10 microns. This varnish was used. The melt viscosity of the resin composition on the support is 24,000P
a · s. Table 1 shows the evaluation results.

【0033】[0033]

【表1】 [Table 1]

【0034】表1から、耐熱ゴム製プレス板によるプレ
ス工程(一次プレス)および引き続き行われるステンレ
ス製プレス板によるプレス工程(二次プレス)とを行っ
て得られる回路基板は、埋め込み性が良好で、且つ表面
平滑性にも優れていることがわかる。特に樹脂組成物の
溶融粘度が、10000〜30000Pa・sのものは
平滑性および埋め込み性のバランスに優れている(実施
例1又は6)。これに対して、耐熱ゴム製プレス板によ
るプレス工程のみを行って得られる回路基板は内層基板
のパターンに従って凹凸ができ表面平滑性に劣ることが
わかる(比較例1)。また金属製プレス板によるプレス
工程のみを行って得られる回路基板は埋め込み性に劣
り、気泡が発生するなどの不具合が生じることがわかる
(比較例2)。さらにポリプロピレンフィルムなどのシ
ートを介在させた場合には、埋め込み性および平滑性を
所望の基準にまでにするために長時間の加熱圧着が必要
であることがわかる(比較例3および4)。
From Table 1, it can be seen that the circuit board obtained by performing the press step (primary press) using a heat-resistant rubber press plate and the subsequent press step (secondary press) using a stainless steel press plate has a good embedding property. It can be seen that the surface smoothness is excellent. Particularly, a resin composition having a melt viscosity of 10,000 to 30,000 Pa · s has an excellent balance between smoothness and embedding property (Example 1 or 6). On the other hand, it can be seen that the circuit board obtained by performing only the pressing step using a heat-resistant rubber press plate has irregularities in accordance with the pattern of the inner layer substrate and has poor surface smoothness (Comparative Example 1). In addition, it can be seen that a circuit board obtained by performing only the pressing step using a metal press plate is inferior in embedding property and causes problems such as generation of bubbles (Comparative Example 2). Further, when a sheet such as a polypropylene film is interposed, it can be seen that long-time heat-compression bonding is necessary to bring the embedding property and the smoothness to desired standards (Comparative Examples 3 and 4).

【0035】実施例7 実施例6で使用したワニスを、ダイコーターで、300
mm角の厚さ75μmのポリエチレンナフタレートフィ
ルム(商品名:テオネックス:帝人株式会社製)に塗工
し、その後窒素オーブン中で100℃で600秒乾燥さ
せ樹脂厚み25μmの支持体付きドライフィルムA及び
Bを得た。この支持体上の樹脂組成物A及びBの溶融粘
度は25,000Pa・sであった。導体層除去率60
%のパターンでかつ配線幅及び配線間距離が165μm
で導体層厚みが50μmの導電体配線層と、直径0.3
mmのメッキスルーホールが形成された、厚さ0.8m
mの内層基板を、1mol/lの水酸化ナトリウム水溶
液で洗浄し、基板上の不純物を除去し、水洗し、乾燥さ
せた。次いで、前述の支持体付きドライフィルムAを、
支持体が外側、硬化性樹脂組成物層が内側になるように
して、前記洗浄処理後の内層基板の両面に重ね合わせ
た。これを、耐熱ゴム製プレス板を上下に備えた真空積
層装置を用いて、真空度758mmHg vac.に
て、温度110℃、圧力0.5MPaで60秒間加熱圧
着した(一次プレス)。ドライフィルムAから支持体を
剥がし、次いで支持体付きドライフィルムBを重ね、金
属製プレス板で覆われた耐熱ゴム製プレス板を上下に備
えた真空積層装置を用いて、真空度758mmHg v
ac.にて、温度130℃、圧力0.5MPaで60秒
間加熱圧着した(二次プレス)。そして、ドライフィル
ムBから支持体を剥がし、150℃の窒素オーブン中に
120分間放置し、内層基板上に電気絶縁層を形成し
た。この回路基板の評価結果を表2に示す。
Example 7 The varnish used in Example 6 was treated with a die coater for 300 minutes.
A 75 μm-thick polyethylene naphthalate film (trade name: Teonex: manufactured by Teijin Limited) having a thickness of 75 mm square, dried in a nitrogen oven at 100 ° C. for 600 seconds, and dried with a 25 μm-thick resin-supported dry film A and B was obtained. The melt viscosities of the resin compositions A and B on the support were 25,000 Pa · s. Conductive layer removal rate 60
% Pattern and wiring width and distance between wirings are 165 μm
And a conductor wiring layer having a conductor layer thickness of 50 μm and a diameter of 0.3
0.8m thick with plated through holes of mm
m of the inner layer substrate was washed with a 1 mol / l aqueous solution of sodium hydroxide to remove impurities on the substrate, washed with water, and dried. Next, the aforementioned dry film A with a support was
The substrate was superposed on both sides of the inner layer substrate after the above-mentioned cleaning treatment, with the support on the outside and the curable resin composition layer on the inside. Using a vacuum laminator equipped with heat-resistant rubber press plates on the top and bottom, this was vacuumed at 758 mmHg vac. At a temperature of 110 ° C. and a pressure of 0.5 MPa for 60 seconds (primary press). The support was peeled off from the dry film A, then the dry film B with the support was overlaid, and the vacuum degree was 758 mmHg v using a vacuum laminating apparatus equipped with a heat-resistant rubber press plate covered with a metal press plate.
ac. At a temperature of 130 ° C. and a pressure of 0.5 MPa for 60 seconds (secondary press). Then, the support was peeled off from the dry film B, and left in a nitrogen oven at 150 ° C. for 120 minutes to form an electric insulating layer on the inner substrate. Table 2 shows the evaluation results of this circuit board.

【0036】実施例8 支持体付きドライフィルムAの樹脂厚みを35μm、支
持体付きドライフィルムBの樹脂厚みを15μmに変え
た他は実施例7と同様にして回路基板を得た。評価結果
を表2に示す。 実施例9 硬化性樹脂組成物のワニスを実施例3で使用したワニス
に変えた他は、実施例7と同様にして回路基板を得た。
支持体上の樹脂組成物A及びBの溶融粘度は38,00
0Pa・s、樹脂厚みは25μmであった。評価結果を
表2に示す。 実施例10 支持体付きドライフィルムAを実施例6で用いたワニス
によって得、樹脂組成物Aの溶融粘度を25,000P
a・s、樹脂厚みを45μmに変え、また、支持体付き
ドライフィルムBを実施例3で用いたワニスによって
得、樹脂組成物Bの溶融粘度を38,000Pa・s、
樹脂厚みを15μmに変えた他は実施例7と同様にして
回路基板を得た。評価結果を表2に示す。
Example 8 A circuit board was obtained in the same manner as in Example 7 except that the resin thickness of the dry film A with the support was changed to 35 μm and the resin thickness of the dry film B with the support was changed to 15 μm. Table 2 shows the evaluation results. Example 9 A circuit board was obtained in the same manner as in Example 7, except that the varnish of the curable resin composition was changed to the varnish used in Example 3.
The melt viscosities of the resin compositions A and B on the support were 38,000
0 Pa · s and the resin thickness was 25 μm. Table 2 shows the evaluation results. Example 10 A dry film A with a support was obtained by the varnish used in Example 6, and the melt viscosity of the resin composition A was 25,000 P
a · s, the resin thickness was changed to 45 μm, and a dry film B with a support was obtained by the varnish used in Example 3, and the melt viscosity of the resin composition B was 38,000 Pa · s.
A circuit board was obtained in the same manner as in Example 7, except that the thickness of the resin was changed to 15 μm. Table 2 shows the evaluation results.

【0037】比較例5 樹脂組成物の樹脂厚みが50μmの支持体付きドライフ
ィルムを用い、一次プレスだけ行い、真空積層装置によ
る二次プレスを行なわなかった以外は、実施例7と同様
にして回路基板を得た。評価結果を表2に示す。 比較例6 樹脂組成物の樹脂厚みが50μmの支持体付きドライフ
ィルムを用い、一次プレスは行わずに、真空度758m
mHg vac.、プレス温度120℃、プレス圧1.
0MPaで60秒間二次プレスだけを行った他は、実施
例7と同様にして回路基板を得た。評価結果を表2に示
す。
COMPARATIVE EXAMPLE 5 A circuit was prepared in the same manner as in Example 7 except that a primary press was performed using a dry film with a resin of a resin composition having a thickness of 50 μm and a secondary press was not performed using a vacuum laminating apparatus. A substrate was obtained. Table 2 shows the evaluation results. Comparative Example 6 A dry film with a support having a resin thickness of 50 μm of the resin composition was used, and the degree of vacuum was 758 m without primary pressing.
mHg vac. , Press temperature 120 ° C, press pressure 1.
A circuit board was obtained in the same manner as in Example 7, except that only the secondary press was performed at 0 MPa for 60 seconds. Table 2 shows the evaluation results.

【0038】[0038]

【表2】 [Table 2]

【0039】表2から、一次プレスと二次プレスとを行
うことによって、導体層厚みが厚い配線パターンを持つ
回路への埋め込み性が良好で、且つ表面平滑性にも優れ
ていることがわかる。一次プレスに用いる樹脂組成物の
溶融粘度が10000〜30000Pa・s、二次プレ
スに用いる樹脂組成物が20000〜50000Pa・
sであり、かつ樹脂層の厚みが一次プレスに用いるもの
が二次プレスに用いるものに比べ、同じかまたは厚いも
のを用いた場合には、平滑性および埋め込み性のバラン
スが特に優れている(実施例10)。これに対して、耐
熱ゴム製プレス板によるプレス工程のみを行って得られ
る回路基板は内層基板のパターンに従って凹凸ができ表
面平滑性に劣ることがわかる(比較例5)。また金属製
プレス板によるプレス工程のみを行って得られる回路基
板は埋め込み性に劣り、気泡が発生するなどの不具合が
生じることがわかる(比較例6)。
From Table 2, it can be seen that by performing the primary press and the secondary press, the embedding property into a circuit having a wiring pattern with a thick conductor layer is good and the surface smoothness is also excellent. The melt viscosity of the resin composition used for the primary press is 10,000 to 30,000 Pa · s, and the resin composition used for the secondary press is 20,000 to 50,000 Pa · s.
s, and the thickness of the resin layer used for the primary press is the same or larger than that used for the secondary press, and when the same or thicker is used, the balance between smoothness and embedding properties is particularly excellent ( Example 10). On the other hand, it can be seen that the circuit board obtained by performing only the pressing step using the heat-resistant rubber press plate has irregularities in accordance with the pattern of the inner layer substrate and has poor surface smoothness (Comparative Example 5). In addition, it can be seen that a circuit board obtained by performing only the pressing step using a metal press plate is inferior in embedding property and causes problems such as generation of bubbles (Comparative Example 6).

【0040】[0040]

【発明の効果】本発明の積層方法によれば、加熱圧着の
時間を短くしても、埋め込み性および表面平滑性に優れ
る多層回路基板が得られる。特に本発明積層方法は、導
体層厚みが厚い配線パターンをもつ回路の埋め込み性及
び表面平滑性に優れている。本発明によって得られる多
層回路基板は多層回路基板は小型で多機能な電子機器に
好適に用いられる。
According to the laminating method of the present invention, it is possible to obtain a multilayer circuit board which is excellent in embedding property and surface smoothness even if the time for thermocompression bonding is shortened. In particular, the lamination method of the present invention is excellent in embedding property and surface smoothness of a circuit having a wiring pattern with a thick conductor layer. The multilayer circuit board obtained by the present invention is preferably used for a small and multifunctional electronic device.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 支持体とその表面に積層された樹脂組成
物層Aとを有する接着フィルムAを、回路基板上の少な
くともパターン部分に該樹脂組成物層Aが接するように
重ね合わせ、 加熱及び加圧可能で少なくとも一つの稼動可能な耐熱ゴ
ム製プレス板を有する積層装置を用いて、接着フィルム
Aと回路基板とをプレスし、 次いで加熱及び加圧可能で少なくとも一つの稼動可能な
金属製プレス板を有する積層装置を用いて、プレスす
る、ことを含むフィルム積層方法。
1. An adhesive film A having a support and a resin composition layer A laminated on the surface thereof is superposed such that the resin composition layer A is in contact with at least a pattern portion on a circuit board. The adhesive film A and the circuit board are pressed using a laminating apparatus having at least one pressurizable and heat-resistant rubber press plate that is operable, and then at least one operable metal press that is heatable and pressurizable. A film laminating method, which comprises pressing using a laminating apparatus having a plate.
【請求項2】 支持体とその表面に積層された樹脂組成
物層Aとを有する接着フィルムAを、回路基板上の少な
くともパターン部分に該樹脂組成物層Aが接するように
重ね合わせ、 加熱及び加圧可能で少なくとも一つの稼動可能な耐熱ゴ
ム製プレス板を有する積層装置を用いて、接着フィルム
Aと回路基板とをプレスし、 次いで接着フィルムAから支持体を剥がし、 支持体とその表面に積層された樹脂組成物層Bとを有す
る接着フィルムBを、樹脂組成物層A上に樹脂組成物層
Bが接するように重ね合わせ、 加熱及び加圧可能で少なくとも一つの稼動可能な金属製
プレス板を有する積層装置を用いて、接着フィルムBを
樹脂組成物層A上にプレスする、ことを含むフィルム積
層方法。
2. An adhesive film A having a support and a resin composition layer A laminated on the surface thereof is superposed such that the resin composition layer A contacts at least a pattern portion on a circuit board. The adhesive film A and the circuit board are pressed using a laminating apparatus having at least one operable heat-resistant rubber press plate that can be pressurized, and then the support is peeled off from the adhesive film A. An adhesive film B having the laminated resin composition layer B is superimposed on the resin composition layer A such that the resin composition layer B is in contact with the resin composition layer A, and at least one operable metal press that can be heated and pressurized. A film laminating method, comprising: pressing an adhesive film B on a resin composition layer A using a laminating apparatus having a plate.
【請求項3】 耐熱ゴム製プレス板を有する積層装置に
よるプレスを、プレス温度70〜150℃、プレス圧
0.05〜0.9MPaの条件で行い、 金属製プレス板を有する積層装置によるプレスを、プレ
ス温度70〜170℃、プレス圧0.1〜5MPaの条
件で行うことを含む請求項1又は2記載のフィルム積層
方法。
3. A press by a laminating apparatus having a heat-resistant rubber press plate is performed under the conditions of a press temperature of 70 to 150 ° C. and a press pressure of 0.05 to 0.9 MPa. 3. The film laminating method according to claim 1, wherein the method is performed under the conditions of a pressing temperature of 70 to 170 [deg.] C. and a pressing pressure of 0.1 to 5 MPa.
【請求項4】 接着フィルムA又はBの樹脂組成物層が
Bステージ状態にある請求項1又は2記載のフィルム積
層方法。
4. The film laminating method according to claim 1, wherein the resin composition layer of the adhesive film A or B is in a B-stage state.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008296495A (en) * 2007-06-01 2008-12-11 Denki Kagaku Kogyo Kk Manufacturing method of metal base substrate
JP2020029562A (en) * 2019-10-30 2020-02-27 味の素株式会社 Method for producing protective film-fitted adhesive sheet
JP2022142042A (en) * 2021-03-16 2022-09-30 イビデン株式会社 Method for manufacturing printed wiring board and laminate system used for executing the same

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