JP2002131625A - Range-finding device - Google Patents

Range-finding device

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JP2002131625A
JP2002131625A JP2000325852A JP2000325852A JP2002131625A JP 2002131625 A JP2002131625 A JP 2002131625A JP 2000325852 A JP2000325852 A JP 2000325852A JP 2000325852 A JP2000325852 A JP 2000325852A JP 2002131625 A JP2002131625 A JP 2002131625A
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active mode
sensors
distance measuring
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a hybrid type range-finding device capable of performing accurate range-finding by correcting offset caused in each of sensors constituting a photodetector when performing active mode integration without using a large- capacity non-volatile memory. SOLUTION: This range-finding device is equipped with a light projecting means for projecting light for range-finding to an object, a light receiving means consisting of multiple sensors receiving reflected signal light being the light for range-finding from the object, and a storage means for storing output data from the multiple sensors in a state where the light for range-finding is not projected. The output data from the multiple sensors of the light receiving means in a state where the light for range-finding is projected is corrected based on the output data from the multiple sensors of the light receiving means in the state where the light for range-finding is not projected and stored in the storage means.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は測距装置に係り、特
に、投光手段より被写体に向けて信号光を投光し、定常
光除去手段によって被写体からの定常光成分の除去を行
い、被写体からの信号光成分のみを積分するアクティブ
モード積分と、被写体からの定常光成分の積分を行うパ
ッシブモード積分の、二つの積分モードが実行可能なハ
イブリットタイプの測距装置において、アクティブ積分
モード積分を行った際に、固定パターンノイズ等により
受光素子を構成する各センサに発生するオフセットを補
正するようにした測距装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a distance measuring apparatus, and more particularly, to projecting a signal light from a light projecting means toward a subject, and removing a steady light component from the subject by a steady light removing means. The active integration mode integration is implemented in a hybrid type distance measuring device that can execute two integration modes, active mode integration that integrates only the signal light component from the camera and passive mode integration that integrates the steady light component from the subject. The present invention relates to a distance measuring device that corrects an offset generated in each sensor constituting a light receiving element due to a fixed pattern noise or the like when the measurement is performed.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来よりカメラで用いられているパッシ
ブAFを行う測距装置においては、暗電流により受光素
子を構成する各センサに発生するオフセットが測距性能
を劣化させるという問題があった。
2. Description of the Related Art In a distance measuring apparatus for performing passive AF conventionally used in a camera, there is a problem that an offset generated in each sensor constituting a light receiving element due to a dark current deteriorates distance measuring performance.

【0003】そこで、特開平3−10473号公報に開
示されているような、受光素子を構成する各センサ毎の
オフセットデータを製造時に不揮発性メモリ等に記憶さ
せておいて、測距時にそのオフセットデータに基づいて
オフセット補正を行うようにした技術が知られている。
Therefore, offset data for each sensor constituting the light receiving element is stored in a non-volatile memory or the like at the time of manufacture, as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 3-10473. There is known a technique for performing offset correction based on data.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開平
3−10473号公報に開示されているような方法の場
合、あらかじめ不揮発性メモリにオフセットデータを記
憶しておかなければならないため、膨大なメモリ容量が
必要となり、コストアップやメモリの実装面積の増大を
招いてしまうという問題があった。
However, in the case of the method disclosed in Japanese Patent Laid-Open Publication No. Hei 3-10473, since the offset data must be stored in a nonvolatile memory in advance, a huge memory capacity is required. However, there is a problem that the cost is increased and the mounting area of the memory is increased.

【0005】また、ハイブリットタイプの測距装置にお
いては、アクティブモード積分を行う場合に、定常光除
去動何時の積分回路内でのスイッチングによる固定パタ
ーンノイズによってもオフセットが発生し、この固定パ
ターンノイズによるオフセットの大きさはスイッチング
動作の回数と関係するため、オフセット補正を行う際に
は、定常光除去動作に伴うスイッチング動作回数を考慮
する必要がある。
In the hybrid type distance measuring apparatus, when performing the active mode integration, an offset is also generated due to fixed pattern noise due to switching in the integration circuit at the time of steady light removal operation. Since the magnitude of the offset is related to the number of switching operations, it is necessary to consider the number of switching operations accompanying the steady light removal operation when performing offset correction.

【0006】本発明の目的は、ハイブリットタイプの測
距装置において、大容量の不揮発性メモリを用いること
なく、アクティブモード積分を行った場合に、受光素子
を構成する各センサに発生するオフセットを補正し、高
精度な測距を行うことができる測距装置を提供すること
にある。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to correct an offset generated in each sensor constituting a light receiving element when active mode integration is performed without using a large-capacity nonvolatile memory in a hybrid type distance measuring apparatus. It is another object of the present invention to provide a distance measuring device capable of performing highly accurate distance measuring.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明によると、上記課
題を解決するために、(1) 被写体に測距用光を投光
する投光手段と、前記被写体からの測距用光の反射信号
光を受光する複数のセンサよりなる受光手段と、前記測
距用光の非投光状態における前記受光手段の複数のセン
サからの出力データを記憶する記憶手段とを具備し、前
記記憶手段に記憶された前記測距用光の非投光状態にお
ける前記受光手段の複数のセンサからの出力データに基
づいて、前記測距用光の投光状態における前記受光手段
の複数のセンサからの出力データを補正することを特徴
とするの測距装置が提供される。
According to the present invention, there is provided, in order to solve the above-mentioned problems, (1) a light projecting means for projecting distance measuring light to a subject, and a reflection of the distance measuring light from the subject. Light receiving means comprising a plurality of sensors for receiving the signal light, and storage means for storing output data from the plurality of sensors of the light receiving means in a non-light emitting state of the distance measuring light, wherein the storage means Based on the stored output data from the plurality of sensors of the light receiving unit in the non-projecting state of the distance measuring light, the output data from the plurality of sensors of the light receiving unit in the projecting state of the distance measuring light. Is provided.

【0008】また、本発明によると、上記課題を解決す
るために、(2) 前記受光手段の複数のセンサに対す
る積分制御を行なう積分制御手段と、前記受光手段の複
数のセンサに定常的に入射する光成分を除去する定常光
除去手段と、前記受光手段の複数のセンサから出力され
る被写体像データの読み出しを行う読み出し手段と、前
記読み出し手段によって読み出された被写体像データに
基づいて被写体距離に応じたデータを演算する演算手段
とを、さらに、具備し、前記投光手段から前記被写体に
向けて前記測距用光を投光し、前記定常光除去手段によ
って被写体からの定常光成分の除去を行い、前記積分制
御手段によって前記被写体からの測距用光成分のみを積
分する積分動作を複数回繰り返してを行うアクティブモ
ード積分と、前記被写体からの定常光成分の積分を行う
パッシブモード積分との二つの積分モードを実行可能と
することを特徴とする(1)に記載の測距装置が提供さ
れる。
According to the present invention, in order to solve the above-mentioned problems, there are provided (2) an integral control means for performing integral control on a plurality of sensors of the light receiving means, and a constant incidence on the plurality of sensors of the light receiving means. Stationary light removing means for removing a light component to be read, reading means for reading object image data output from a plurality of sensors of the light receiving means, and subject distance based on the subject image data read by the reading means. Calculating means for calculating data corresponding to the distance, projecting the distance-measuring light from the light projecting means toward the subject, and calculating the steady light component from the subject by the steady light removing means. An active mode integration in which the integration control means performs a plurality of times of an integration operation of removing only the light components for distance measurement from the subject by the integration control means; The distance measuring apparatus according to (1), which is capable of executing two integration modes, namely, a passive mode integration for integrating a stationary light component from an object, is provided.

【0009】また、本発明によると、上記課題を解決す
るために、(3) 前記測距用光の非投光状態におい
て、前記積分制御手段によってアクティブモード積分を
行ったときに前記受光手段の複数のセンサから出力され
る被写体像データによって、前記測距用光の投光状態に
おいて、前記積分制御手段によってアクティブモード積
分を行ったときに前記受光手段の複数のセンサから出力
される被写体像データを補正することを特徴とする
(2)に記載の測距装置が提供される。
According to the present invention, in order to solve the above-mentioned problems, (3) when the active mode integration is performed by the integration control means in the non-light emitting state of the distance measuring light, The subject image data output from the plurality of sensors of the light receiving unit when the integration control unit performs active mode integration in the projection state of the distance measuring light according to the subject image data output from the plurality of sensors. The distance measuring apparatus according to (2), wherein the distance is corrected.

【0010】また、本発明によると、上記課題を解決す
るために、(4) 前記測距用光の投光状態において、
前記積分制御手段によってアクティブモード積分を行っ
たときのアクティブモード積分動作の繰り返し回数と、
同じ回数だけ、前記測距用光の非投光状態において、前
記積分制御手段によってアクティブモード積分動作を行
うことによって得られる前記受光手段の複数のセンサか
らの被写体像データによって、前記測距用光の投光状態
において得られる前記受光手段の複数のセンサからの被
写体像データを補正することを特徴とする(2)に記載
の測距装置が提供される。
According to the present invention, in order to solve the above-mentioned problems, (4) in the projection state of the distance measuring light,
The number of repetitions of the active mode integration operation when performing the active mode integration by the integration control means,
By the same number of times, in the non-projection state of the distance measuring light, the distance measuring light is obtained by subject image data from a plurality of sensors of the light receiving means obtained by performing an active mode integration operation by the integration control means. The distance measuring apparatus according to (2), wherein subject image data obtained from the plurality of sensors of the light receiving means obtained in the light emitting state is corrected.

【0011】また、本発明によると、上記課題を解決す
るために、(5) 前記測距用光の投光状態において、
前記積分制御手段によってアクティブモード積分を行っ
たときのアクティブモード積分動作中の1回の積分時間
よりも短い時間で、前記測距用光の非投光状態におい
て、前記積分制御手段によってアクティブモード積分動
作を行うことによって得られる前記受光手段の複数のセ
ンサからの被写体像データによって、前記測距用光の投
光状態において得られる前記受光手段の複数のセンサか
らの被写体像データを補正することを特徴とする(2)
に記載の測距装置が提供される。
According to the present invention, in order to solve the above-mentioned problems, (5) in the projection state of the distance measuring light,
In the non-light projection state of the distance measuring light, the integration mode control unit performs the active mode integration in a time shorter than one integration time during the active mode integration operation when the integration mode control unit performs the active mode integration. Correcting subject image data from the plurality of sensors of the light receiving unit obtained in the projection state of the distance measuring light, based on subject image data from the plurality of sensors of the light receiving unit obtained by performing an operation. Features (2)
Is provided.

【0012】また、本発明によると、上記課題を解決す
るために、(6) 前記測距用光の投光状態において、
前記積分制御手段によってアクティブモード積分を行っ
たときのアクティブモード積分動作時の前記受光手段の
複数のセンサの感度よりも、低い感度で前記測距用光の
非投光状態において、前記積分制御手段によってアクテ
ィブモード積分動作を行うことによって得られる前記受
光手段の複数のセンサからの被写体像データによって、
前記測距用光の投光状態において得られる前記受光手段
の複数のセンサからの被写体像データを補正することを
特徴とする(2)に記載の測距装置が提供される。
According to the present invention, in order to solve the above-mentioned problems, (6) in the projection state of the distance measuring light,
In the non-light projection state of the distance measuring light, the sensitivity is lower than the sensitivity of the plurality of sensors of the light receiving unit during the active mode integration operation when the active mode integration is performed by the integration control unit. By subject image data from a plurality of sensors of the light receiving means obtained by performing an active mode integration operation by
The distance measuring apparatus according to (2), wherein subject image data obtained from a plurality of sensors of the light receiving means obtained in a state where the distance measuring light is projected is corrected.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の実施
の形態について説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0014】(第1の実施の形態)図1は、本発明の第
1の実施の形態によるカメラの測距装置の構成を示す要
部のブロック図である。
(First Embodiment) FIG. 1 is a block diagram of a main part showing a configuration of a camera distance measuring apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【0015】図1において、参照符号107は、被写体
に向けて測距用の一対のラインセンサ102a、102
bの測距用光(信号光)を投光する投光手段であり、参
照符号101a,101bは、一対の被写体像を一対の
ラインセンサ102a,102b上に結像させる受光レ
ンズである。
In FIG. 1, reference numeral 107 denotes a pair of line sensors 102a and 102 for distance measurement toward a subject.
Reference numeral 101a, 101b denotes a light receiving lens for forming a pair of subject images on a pair of line sensors 102a, 102b.

【0016】ここで、一対のラインセンサ102a,1
02bは、前記受光レンズ101a,101bにより結
像された一対の被写体像を光強度に応じて電気信号に変
換するものである。
Here, a pair of line sensors 102a, 102a
Numeral 02b converts a pair of subject images formed by the light receiving lenses 101a and 101b into an electric signal according to the light intensity.

【0017】また、図1において、参照符号103は、
前記一対のラインセンサ102a,102bに対する積
分動作の制御を行なう積分制御手段としての積分制御回
路であり、参照符号106は、前記一対のラインセンサ
102a,102bに定常的に入射する光成分を一対の
ラインセンサ102a,102bから出力される光電流
より、除去する定常光除去手段としての定常光除去回路
である。
In FIG. 1, reference numeral 103 denotes
An integration control circuit as integration control means for controlling the integration operation of the pair of line sensors 102a and 102b. Reference numeral 106 denotes a pair of light components which are constantly incident on the pair of line sensors 102a and 102b. This is a stationary light removing circuit as a stationary light removing unit that removes the photocurrent output from the line sensors 102a and 102b.

【0018】また、図1において、参照符号105は、
各種制御信号の出力、各種データの入力、測距演算等を
行うCPUである。
In FIG. 1, reference numeral 105 is
It is a CPU that outputs various control signals, inputs various data, calculates distance measurement, and the like.

【0019】すなわち、このCPU105は、前記積分
制御回路103を介して前記一対のラインセンサ102
a,102bから出力される被写体像データの読み出し
を行う読み出し手段として機能するとともに、この読み
出し手段によって読み出された被写体像データに基づい
て被写体距離に応じたデータを演算する演算手段として
機能するものである。
That is, the CPU 105 controls the pair of line sensors 102 through the integration control circuit 103.
a, which functions as a reading means for reading the subject image data output from the a and 102b, and also functions as a calculating means for calculating data corresponding to the subject distance based on the subject image data read by the reading means. It is.

【0020】このCPU105は、さらに、前記投光手
段107を制御する機能を有しているとともに、前記投
光手段107より被写体に向けて信号光を投光し、前記
定常光除去手段としての定常光除去回路106によって
被写体からの定常光成分の除去を行わせ、前記積分制御
回路103によって被写体からの信号光成分のみを積分
する積分動作を複数回繰り返してを行うアクティブモー
ド積分と、被写体からの定常光成分の積分を行うパッシ
ブモード積分との二つの積分モードを実行可能なカメラ
の測距装置における全体の動作を制御する機能を有して
いる。
The CPU 105 further has a function of controlling the light projecting means 107, emits signal light from the light projecting means 107 toward an object, and outputs a signal light to the stationary light removing means. An active mode integration in which a light removal circuit 106 removes a steady light component from a subject and the integration control circuit 103 repeats an integration operation of integrating only a signal light component from the subject a plurality of times; The camera has a function of controlling the overall operation of the range finder of the camera capable of executing two integration modes, namely, passive mode integration for integrating the stationary light component.

【0021】なお、図1において、参照符号104は、
前記積分制御回路103とCPU105との間にあっ
て、積分制御回路103より被写体像信号を読み出しア
ナログ/デジタル(A/D)変換を行うA/D変換回路
である。
In FIG. 1, reference numeral 104 denotes
An A / D conversion circuit is provided between the integration control circuit 103 and the CPU 105 and reads an object image signal from the integration control circuit 103 and performs analog / digital (A / D) conversion.

【0022】すなわち、第1の実施の形態では、図1に
示す構成の測距装置において、定常光成分を除去して信
号光成分の積分を行うアクティブモード積分を信号光を
投光しながら行い、その積分によるセンサデータの読み
出し後、今度は信号光を投光しないでアクティブモード
積分を行って、その積分によるセンサデータをアクティ
ブモード積分時に発生したオフセット分として読み出
す。
That is, in the first embodiment, in the distance measuring apparatus having the configuration shown in FIG. 1, active mode integration for removing the stationary light component and integrating the signal light component is performed while projecting the signal light. After reading the sensor data by the integration, the active mode integration is performed without projecting the signal light, and the sensor data by the integration is read as the offset generated during the active mode integration.

【0023】そして、信号光を投光した場合のセンサデ
ータ(図5の(a)参照)から信号光を投光しない場合
のセンサデータ(図5の(b)参照)を差し引いて、図
5の(c)に示すようなセンサデータとし、このデータ
を用いて測距演算を行う。
Then, the sensor data when the signal light is not projected (see FIG. 5 (b)) is subtracted from the sensor data when the signal light is projected (see FIG. 5 (a)). (C) is used as sensor data, and a distance measurement calculation is performed using this data.

【0024】このような第1の実施の形態によれば、E
EPROM(図示せず)等の不揮発性メモリの容量を増
大させること無く、固定パターンノイズ等によるセンサ
データのオフセットを取り除くことができ、高精度な測
距を行うことができる。
According to such a first embodiment, E
Without increasing the capacity of a non-volatile memory such as an EPROM (not shown), offset of sensor data due to fixed pattern noise or the like can be removed, and highly accurate distance measurement can be performed.

【0025】図2は、前記定常光除去回路106の具体
的な構成を例示する図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating a specific configuration of the stationary light removing circuit 106.

【0026】この図2に示した定常光除去回路106の
構成において、参照符号110は、フォトダイオード
で、一端は電源に接続され、光信号を検出するもう一端
は転送用トランジスタ111のソースに接続されてい
る。
In the configuration of the stationary light removing circuit 106 shown in FIG. 2, reference numeral 110 denotes a photodiode, one end of which is connected to a power supply, and the other end for detecting an optical signal is connected to the source of the transfer transistor 111. Have been.

【0027】この転送用トランジスタ111のドレイン
はグランドに接続され、ゲートはスイッチングトランジ
スタ等で構成されるスイッチSW1を介して反転増幅器
112の出力に接続されている。
The drain of the transfer transistor 111 is connected to the ground, and the gate is connected to the output of the inverting amplifier 112 via a switch SW1 composed of a switching transistor or the like.

【0028】また、転送用トランジスタ111のソー
ス、ゲート間に電流記憶用の容量素子C1が接続されて
いるとともに、このソースと前記フォトダイオード11
0の接続点は反転増幅器112の入力に接続されてい
る。
A current storage capacitor C1 is connected between the source and the gate of the transfer transistor 111, and the source and the photodiode 11 are connected to each other.
The connection point of 0 is connected to the input of the inverting amplifier 112.

【0029】この反転増幅器112は、p型MOSトラ
ンジスタとn型MOSトランジスタで構成されるCMO
S構成の反転増幅器などでよい。
This inverting amplifier 112 is a CMO composed of a p-type MOS transistor and an n-type MOS transistor.
An S configuration inverting amplifier may be used.

【0030】この反転増幅器112の入出力間には、光
電流を検出するための帰還をかける容量素子C2、及び
該容量素子C2に蓄積される電荷をリセットするための
スイッチングトランジスタ等で構成されるスイッチSW
2が接続されている。
Between the input and output of the inverting amplifier 112, there is provided a capacitive element C2 for performing feedback for detecting a photocurrent, a switching transistor for resetting the electric charge accumulated in the capacitive element C2, and the like. Switch SW
2 are connected.

【0031】以上の構成の後段には容量結合型の反転増
幅回路が設けられており、この反転増幅回路は、反転増
幅器112の出力に一端が接続された容量素子C3と、
この容量素子C3の他の一端が接続された反転増幅器1
13とその入出力間に設けられた容量素子C4と、該容
量素子C4に並列に接続されたスイッチングトランジス
タ等で構成されるスイッチSW3で構成されている。
A capacitively coupled inverting amplifier circuit is provided at a stage subsequent to the above configuration. The inverting amplifier circuit includes a capacitive element C3 having one end connected to the output of the inverting amplifier 112,
Inverting amplifier 1 to which the other end of this capacitive element C3 is connected
13 and a capacitive element C4 provided between the input and output thereof and a switch SW3 composed of a switching transistor and the like connected in parallel to the capacitive element C4.

【0032】この反転増幅回路の出力VS2には、入力
VS1の信号に対して位相が反転されるとともに、容量
素子C3とC4との容量によって定まるゲイン(C3/
C4)で増幅された信号が出力される。
The output VS2 of the inverting amplifier circuit has a phase inverted with respect to the signal of the input VS1 and a gain (C3 / C3 / C4) determined by the capacitance of the capacitive elements C3 and C4.
The signal amplified in C4) is output.

【0033】図3は、前記定常光除去回路106の基本
的な動作を示すタイミングチャートである。
FIG. 3 is a timing chart showing a basic operation of the stationary light removing circuit 106.

【0034】図3の(b)に示すような、スイッチSW
2のタイミングを見て解かるように、この定常光除去回
路106は1回の投光に対してスイッチSW2を2回リ
セットし、2回の積分動作を行う。
A switch SW as shown in FIG.
As can be seen from the timing of 2, the steady light removing circuit 106 resets the switch SW2 twice for one light projection and performs two integration operations.

【0035】1回目は前記投光手段107を非投光状態
とし、2回目は投光状態とすることで、その両者の差を
検出するようにしている。
The first time, the light emitting means 107 is in the non-light emitting state, and the second time, the light emitting means 107 is in the light emitting state, so that the difference between the two can be detected.

【0036】そして、図3の(a)に示すように、期間
T1は定常光を記憶する期間で、スイッチSW1をオ
ン、スイッチSW2をオフし、フォトダイオード110
で発生している光電流IPDが転送用トランジスタ111
を介してグランドに流れるように、転送用トランジスタ
111のゲート電圧に反転増幅器112を介して帰還が
かかる。
Then, as shown in FIG. 3A, a period T1 is a period for storing the steady light. The switch SW1 is turned on, the switch SW2 is turned off, and the photodiode 110 is turned on.
The photocurrent I PD generated in the transfer transistor 111
The feedback is applied to the gate voltage of the transfer transistor 111 via the inverting amplifier 112 so that the gate voltage flows to the ground via.

【0037】これにより転送用トランジスタ111のソ
ース、ゲート間の電圧は光電流IPDに対応した電圧値と
なり、この電圧値を容量素子C1で保持することで、定
常光に応じた光電流IPDが排出される。
As a result, the voltage between the source and the gate of the transfer transistor 111 becomes a voltage value corresponding to the photocurrent I PD , and this voltage value is held by the capacitive element C1, whereby the photocurrent I PD corresponding to the steady light is obtained. Is discharged.

【0038】ここで、スイッチSW1をオフした場合、
フィードスルー電荷により容量素子C1に保持されてい
た電荷量が変化し、転送用トランジスタ111に流れる
電流にΔIPDの誤差が生じたとすると、この誤差成分Δ
PDは反転増幅器112の帰還系に流れる。
Here, when the switch SW1 is turned off,
If the amount of charge held in the capacitive element C1 changes due to the feed-through charge and an error of ΔI PD occurs in the current flowing through the transfer transistor 111, the error component Δ
I PD flows to the feedback system of inverting amplifier 112.

【0039】そこで、期間T2でスイッチSW2をオン
して容量素子C2をリセットした後、期間T3でこの誤
差成分ΔIPDの積分を行う。
Therefore, after the switch SW2 is turned on in the period T2 to reset the capacitive element C2, the error component ΔI PD is integrated in the period T3.

【0040】次に、期間T4で再びスイッチSW2をオ
ンして容量素子C2をリセットした後、期間T5で投光
手段107から信号光を投光して、誤差成分ΔIPDと投
光により加わった信号光成分IPDS の積分を行う。
Next, after the switch SW2 is turned on again in the period T4 to reset the capacitive element C2, the signal light is projected from the light projecting means 107 in the period T5, and the error component ΔI PD and the light component are added by the light projection. The signal light component I PDS is integrated.

【0041】この期間T3とT5の積分時間を同一に
し、その積分値の差分をとることで、信号光成分IPDS
に対する出力だけを検出することができる。
By making the integration times of the periods T3 and T5 the same and taking the difference between the integration values, the signal light component I PDS
Can be detected.

【0042】この差分に関しては、容量素子C3、C
4、スイッチSW3、反転増幅器113で構成される容
量結合型の反転増幅回路を次のように動作させればよ
い。
Regarding this difference, the capacitance elements C3, C3
4. The capacitively coupled inverting amplifier constituted by the switch SW3 and the inverting amplifier 113 may be operated as follows.

【0043】まず、図3の(c)に示すように、期間T
3の誤差電流成分ΔIPDの積分終了時までスイッチSW
3をオンしておき、期間T4のスイッチSW2がオンす
る直前にスイッチSW3をオフにする。
First, as shown in FIG.
3 until the end of the integration of the error current component ΔI PD of the switch SW
3 is turned on, and the switch SW3 is turned off immediately before the switch SW2 is turned on in the period T4.

【0044】これにより、図3の(e),(f)に示す
ように、反転増幅器113で構成される容量結合型の反
転増幅回路の出力VS2には、スイッチSW3がオンか
らオフに変化した時点の入力VS1の電圧を基準にそれ
以降の入力VS1の電圧の変化分が現れる。
As a result, as shown in FIGS. 3E and 3F, the switch SW3 is changed from ON to OFF in the output VS2 of the capacitively coupled inverting amplifier composed of the inverting amplifier 113. With reference to the voltage of the input VS1 at the time, a change in the voltage of the input VS1 thereafter appears.

【0045】よって、図3の(d)に示すように、期間
T5の積分終了時のVS2の出力には、期間T3の1回
目の積分終了時のVS1の出力電圧と期間T5の2回目
の積分終了時のVS1との差電圧に対応した電圧、すな
わち誤差電流成分ΔIPDの成分が除去され、投光により
発生した信号光電流成分IPDS が、 IPDS ×(t/C2)×(C3/C4)(tは投光時
間)という電圧値で検出される。
Therefore, as shown in FIG. 3D, the output of VS2 at the end of the integration of the period T5 includes the output voltage of VS1 at the end of the first integration of the period T3 and the output voltage of the VS2 at the end of the integration of the period T5. The voltage corresponding to the difference voltage from VS1 at the end of the integration, that is, the component of the error current component ΔI PD is removed, and the signal light current component I PDS generated by the light projection is given by I PDS × (t / C2) × (C3 / C4) (t is a light projection time).

【0046】以上のように、転送用トランジスタ111
により排出される電流が、定常光電流に対して誤差を有
していても、図2に示すような定常光除去回路106の
構成によって信号光成分のみを検出することができる。
As described above, the transfer transistor 111
Even if the current discharged by the above has an error with respect to the stationary light current, only the signal light component can be detected by the configuration of the stationary light removing circuit 106 as shown in FIG.

【0047】図4は、第1の実施の形態における積分制
御回路103、A/D変換回路104及びCPU105
による積分及びセンサデータ読み出しのシーケンスを示
すタイミングチャートである。
FIG. 4 shows an integration control circuit 103, an A / D conversion circuit 104 and a CPU 105 according to the first embodiment.
5 is a timing chart showing a sequence of integration and sensor data readout according to the first embodiment.

【0048】すなわち、図4の(a)は、積分開始制御
信号RESETを示しており、L→Hで積分開始とな
る。
That is, FIG. 4A shows an integration start control signal RESET, and integration starts when L → H.

【0049】また、図4の(b)は、積分停止制御信号
EXTENDを示しており、H→Lで積分停止となる。
FIG. 4B shows an integration stop control signal EXTEND, and integration stops when H → L.

【0050】また、図4の(c)は、アクティブモード
積分制御信号INTCLKを示しており、1パルス目と
2パルス目と3パルス目の間の期間が図3のT3に、3
パルス目と4パルス目の間の期間が図3のT5にそれぞ
れ対応し、以後はその繰り返しと成っている。
FIG. 4C shows the active mode integration control signal INTCLK. The period between the first pulse, the second pulse, and the third pulse is set to T3 in FIG.
The period between the pulse and the fourth pulse corresponds to T5 in FIG. 3, respectively, and thereafter is repeated.

【0051】また、図4の(d)は、Hの期間に信号光
が投光される信号光投光を示している。
FIG. 4D shows the signal light projection in which the signal light is projected during the H period.

【0052】また、図4の(e)は、センサデータ読み
出し制御信号RWCLKを示しており、1パルス毎に各
フォトダイオードの積分データを出力する。
FIG. 4E shows a sensor data read control signal RWCLK, which outputs integrated data of each photodiode for each pulse.

【0053】また、図4の(f)は、モニタセンサの積
分データ出力MDATAを示している。
FIG. 4F shows the integrated data output MDATA of the monitor sensor.

【0054】このモニタセンサとは、例えば、ラインセ
ンサ102a、102bを構成するフォトダイオードの
中で、最も積分速度の速いセンサである。
The monitor sensor is, for example, a sensor having the highest integration speed among the photodiodes constituting the line sensors 102a and 102b.

【0055】なお、図4において、t1は、投光有りア
クティブモード積分期間であり、前記MDATA出力が
所定レベルに達するまで1〜nサイクルの積分動作が行
われる。
In FIG. 4, t1 is an active mode integration period with light emission, and integration operations of 1 to n cycles are performed until the MDATA output reaches a predetermined level.

【0056】また、t2は、投光有りアクティブモード
積分でのセンサデータ読み出し期間である。
Further, t2 is a sensor data reading period in active mode integration with light projection.

【0057】また、t3は、投光無しアクティブモード
積分期間であり、投光有りアクティブモード積分で行っ
た、nサイクルの積分動作を投光無しで行う。
Further, t3 is an active mode integration period without light emission, in which the integration operation of n cycles performed in active mode integration with light emission is performed without light emission.

【0058】また、t4は、投光無しアクティブモード
積分でのセンサデータ読み出し期間である。
Further, t4 is a sensor data reading period in active mode integration without light projection.

【0059】図5は、前述したように、各アクティブモ
ード積分でのセンサデータを示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing sensor data in each active mode integration, as described above.

【0060】すなわち、図5の(a)は、投光有りアク
ティブモード積分でのセンサデータを示しており、図5
の(b)は、投光無しアクティブモード積分でのセンサ
データを示しており、図5の(c)は、投光有りアクテ
ィブモード積分でのセンサデータを、投光無しアクティ
ブモード積分でのセンサデータを用いて補正した後のセ
ンサデータを示している。
That is, FIG. 5A shows sensor data in active mode integration with light projection, and FIG.
5B shows sensor data in active mode integration without light projection, and FIG. 5C shows sensor data in active mode integration with light projection and sensor data in active mode integration without light projection. The sensor data after correction using the data is shown.

【0061】図6は、第1の実施の形態による測距シー
ケンスの手順を示すフローチャートである。
FIG. 6 is a flowchart showing a procedure of a distance measuring sequence according to the first embodiment.

【0062】まず、ステップS101では、アクティブ
モードまたはパッシブモードでプリ測距を行い、その結
果に基づいて測距方式を選択する。
First, in step S101, pre-ranging is performed in the active mode or the passive mode, and a ranging method is selected based on the result.

【0063】この際、測光データ等を用いて輝度判定に
より、測距方式を選択するようにしてもよい。
At this time, the distance measuring method may be selected by judging the luminance using the photometric data or the like.

【0064】次に、ステップS102では、ステップS
101での選択結果がアクティブモードであればステッ
プS103に進み、パッシブモードであればステップS
110に進む。
Next, in step S102, step S
If the selection result at step 101 is the active mode, the process proceeds to step S103; if the result is the passive mode, the process proceeds to step S103.
Proceed to 110.

【0065】次に、ステップS103では、積分モー
ド、モニタ範囲、センサ感度、積分終了条件等を設定す
る。
Next, in step S103, an integration mode, a monitor range, a sensor sensitivity, an integration end condition, and the like are set.

【0066】次に、ステップS104では、投光手段1
07より信号光を投光しながらアクティブモード積分を
行う。
Next, in step S104, the light emitting means 1
The active mode integration is performed while projecting the signal light from 07.

【0067】A/D変換回路104によりA/D変換を
行ってセンサデータを読み出し、CPU105内のRA
Mにデータを格納する。
A / D conversion is performed by the A / D conversion circuit 104 to read out sensor data.
Store data in M.

【0068】次に、ステップS106では、ステップS
103と同様に積分条件の設定を行う。
Next, in step S106, step S
The integration conditions are set in the same manner as 103.

【0069】次に、ステップS107では、信号光を投
光しないで、ステップS104における積分での投光回
数と同じサイクル回数分アクティブモード積分を行う。
Next, in step S107, the active mode integration is performed for the same number of cycles as the number of light projections in the integration in step S104 without projecting the signal light.

【0070】次に、ステップS108では、ステップS
105と同様にセンサデータを読み出し、CPU105
内のRAMにデータを格納する。
Next, in step S108, step S
CPU 105 reads out sensor data in the same manner as
The data is stored in the RAM inside.

【0071】次に、ステップS109では、ステップS
108で読み出したセンサデータに基づいて、オフセッ
ト補正を行う。
Next, in step S109, step S
Offset correction is performed based on the sensor data read at 108.

【0072】このオフセット補正は、ステップS108
でのセンサデータ読み出し中に、一つのデータを読み出
す毎に行うようにしてもよい。
This offset correction is performed in step S108
May be performed each time one data is read during the reading of the sensor data.

【0073】次に、ステップS110では、ステップS
103と同様に積分条件の設定を行う。
Next, in step S110, step S110
The integration conditions are set in the same manner as 103.

【0074】次に、ステップS111では、パッシブモ
ード積分を行う。
Next, in step S111, passive mode integration is performed.

【0075】次に、ステップS112では、ステップS
105と同様にセンサデータを読み出し、CPU105
内のRAMにデータを格納する。
Next, in step S112, step S
CPU 105 reads out sensor data in the same manner as
The data is stored in the RAM inside.

【0076】次に、ステップS113では、公知の相関
演算、補間演算等により、測距データを算出する。
Next, in step S113, distance measurement data is calculated by a known correlation operation, interpolation operation, or the like.

【0077】図7は、第1の実施の形態におけるオフセ
ット補正の手順を示すフローチャートである。
FIG. 7 is a flowchart showing a procedure of offset correction according to the first embodiment.

【0078】まず、ステップS121では、オフセット
補正を行うセンサデータ数をセットする。
First, in step S121, the number of sensor data to be subjected to offset correction is set.

【0079】次に、ステップS122では、投光有り積
分時のセンサデータでオフセット補正を行うデータの先
頭データをセットする。
Next, in step S122, the head data of the data to be subjected to offset correction is set with the sensor data at the time of integration with light projection.

【0080】次に、ステップS123では、投光無し積
分時のセンサデータでオフセット補正に用いるデータの
先頭データをセットする。
Next, in step S123, head data of data used for offset correction is set in sensor data at the time of integration without light projection.

【0081】次に、ステップS124では、基準データ
と投光無し積分時のセンサデータとの差をとり、オフセ
ットを算出する。
Next, in step S124, the offset is calculated by taking the difference between the reference data and the sensor data at the time of integration without light projection.

【0082】ここでは、8ビットA/DのMAX値の2
55を基準データとするが、積分時の基準電圧レベル等
を基準データとしてもよい。
Here, the MAX value of the 8-bit A / D 2
Although 55 is used as the reference data, a reference voltage level or the like at the time of integration may be used as the reference data.

【0083】次に、ステップS125では、投光有り積
分時のセンサデータにステップS124で算出したオフ
セットを加算し、オフセット補正を行う。
Next, in step S125, the offset calculated in step S124 is added to the sensor data at the time of integration with light projection to perform offset correction.

【0084】次に、ステップS126では、補正後のデ
ータをCPU105内のRAMに格納する。
Next, in step S126, the corrected data is stored in the RAM in the CPU 105.

【0085】次に、ステップS127では、次にオフセ
ット補正を行う投光有り積分時のセンサデータをセット
する。
Next, in step S127, sensor data at the time of integration with light projection for performing offset correction is set.

【0086】次に、ステップS128では、次にオフセ
ット補正に用いる投光無し積分時のセンサデータをセッ
トする。
Next, in step S128, sensor data at the time of integration without light projection used for offset correction is set.

【0087】次に、ステップS129では、オフセット
補正を行うセンサデータの全てについて補正が終了した
かどうかを判断し、全て終了していればステップS13
0に進み、終了していなければステップS124に戻
る。
Next, in step S129, it is determined whether or not correction has been completed for all of the sensor data for which offset correction is to be performed.
0, and if not completed, the process returns to step S124.

【0088】次に、ステップS130では、一対のライ
ンセンサ102a、102bの両方のセンサデータにつ
いて補正が終了したかどうかを判断し、両方とも終了し
ていればリターンし、終了していなければステップS1
22に戻る。
Next, in step S130, it is determined whether the correction has been completed for both sensor data of the pair of line sensors 102a and 102b, and if both have been completed, the process returns. If not completed, the process returns to step S1.
Return to 22.

【0089】図8は、第1の実施の形態において、図6
に示したステップS107の投光無し積分時のセンサデ
ータの読み出しと同時に、オフセット補正を行う場合の
手順を示すフローチャートである。
FIG. 8 shows a first embodiment of FIG.
9 is a flowchart showing a procedure when offset correction is performed simultaneously with reading of sensor data during integration without light projection in step S107 shown in FIG.

【0090】まず、ステップS131では、オフセット
補正を行うセンサデータ数をセットする。
First, in step S131, the number of sensor data to be subjected to offset correction is set.

【0091】次に、ステップS132では、投光有り積
分時のセンサデータでオフセット補正を行うデータの先
頭データをセットする。
Next, in step S132, the head data of the data to be subjected to offset correction is set with the sensor data at the time of integration with light projection.

【0092】次に、ステップS133では、投光無し積
分時のセンサデータでオフセット補正に用いるデータの
先頭データをA/D変換回路104によりA/D変換を
行って読み出す。
Next, in step S133, the A / D conversion circuit 104 performs A / D conversion and reads out the head data of the data used for offset correction in the sensor data at the time of integration without light projection.

【0093】次に、ステップS134では、基準データ
と投光無し積分時のセンサデータとの差をとり、オフセ
ットを算出する。
Next, in step S134, the difference between the reference data and the sensor data at the time of integration without light projection is calculated to calculate an offset.

【0094】ここでは、8ビットA/DのMAX値の2
55を基準データとするが、積分時の基準電圧レベル等
を基準データとしてもよい。
Here, the MAX value of the 8-bit A / D is 2
Although 55 is used as the reference data, a reference voltage level or the like at the time of integration may be used as the reference data.

【0095】次に、ステップS135では、投光有り積
分時のセンサデータにステップS134で算出したオフ
セットを加算し、オフセット補正を行う。
Next, in step S135, the offset calculated in step S134 is added to the sensor data at the time of integration with light projection to perform offset correction.

【0096】次に、ステップS136では、補正後のデ
ータをCPU105内のRAMに格納する。
Next, in step S136, the corrected data is stored in the RAM in the CPU 105.

【0097】次に、ステップS137では、次にオフセ
ット補正を行う投光有り積分時のセンサデータをセット
する。
Next, in step S137, sensor data at the time of integration with light projection for performing offset correction is set.

【0098】次に、ステップS138では、次にオフセ
ット補正に用いる投光無し積分時のセンサデータをA/
D変換回路104によりA/D変換を行って読み出す。
Next, in step S138, the sensor data at the time of integration without light projection used for the offset correction is A /
A / D conversion is performed by the D conversion circuit 104 and read.

【0099】次に、ステップS139では、オフセット
補正を行うセンサデータの全てについて補正が終了した
かどうかを判断し、全て終了していればステップS14
0に進み、終了していなければステップS134に戻
る。
Next, in step S139, it is determined whether or not the correction has been completed for all of the sensor data for which offset correction is to be performed.
0, and if not completed, the process returns to step S134.

【0100】次に、ステップS140では、一対のライ
ンセンサ102a、102bの両方のセンサデータにつ
いて補正が終了したかどうかを判断し、両方とも終了し
ていればリターンし、終了していなければステップS1
32に戻る。
Next, in step S140, it is determined whether the correction has been completed for both sensor data of the pair of line sensors 102a and 102b, and if both have been completed, the process returns. If not completed, the process returns to step S1.
Return to 32.

【0101】(第2の実施の形態)この第2の実施の形
態によるカメラの測距装置の構成は、図1に示した第1
の実施の形態によるカメラの測距装置の構成と同様であ
る。
(Second Embodiment) The configuration of a distance measuring device for a camera according to the second embodiment is the same as that of the first embodiment shown in FIG.
This is the same as the configuration of the distance measuring device of the camera according to the embodiment.

【0102】すなわち、前述した第1の実施の形態にお
いては、信号光投光有りのアクティブモード積分の投光
回数と同じ回数分、投光無しのアクティブモードの積分
動作の結果に基づいてオフセット補正を行うようにした
ものであるのに対し、この第2の実施の形態では、投光
無しのアクティブモードの積分動作回数を、投光有りの
アクティブモード積分の投光回数の半分にしてオフセッ
トを検出し、そのオフセットに基づいて補正を行うよう
にしたものである。
That is, in the above-described first embodiment, the offset correction is performed by the same number of times as the number of times of the active mode integration with the signal light projection, based on the result of the integration operation in the active mode without the light projection. In contrast to this, in the second embodiment, the number of integration operations in the active mode without light emission is set to half of the number of light emission in the active mode integration with light emission, and the offset is set. The offset is detected and corrected based on the offset.

【0103】ただし、投光無しのアクティブモードの積
分動作回数は、投光有りのアクティブモード積分の投光
回数の半分に限るものではなく、1/3や1/4にして
もよい。
However, the number of integration operations in the active mode without light emission is not limited to half of the number of light emission times in active mode integration with light emission, but may be 1/3 or 1/4.

【0104】このような第2の実施の形態によれば、前
述した第1の実施の形態よりも測距時間を短縮すること
ができ、高速で高精度な測距を行うことができる。
According to the second embodiment, the distance measurement time can be reduced as compared with the first embodiment, and high-speed and high-accuracy distance measurement can be performed.

【0105】図9は、第2の実施の形態による測距シー
ケンスの手順を示すフローチャートである。
FIG. 9 is a flowchart showing a procedure of a distance measuring sequence according to the second embodiment.

【0106】まず、ステップS201では、アクティブ
モードまたはバッシブモードでプリ測距を行い、その結
果に基づいて測距方式を選択する。
First, in step S201, pre-ranging is performed in the active mode or the passive mode, and a ranging method is selected based on the result.

【0107】この際、測光データ等を用いて輝度判定に
より測距方式を選択するようにしてもよい。
At this time, a distance measuring method may be selected by judging luminance using photometric data or the like.

【0108】次に、ステップS202では、ステップS
201での選択結果がアクティブモードであればステッ
プS203に進み、パッシブモードであればステップS
210に進む。
Next, in step S202, step S
If the selection result at step 201 is the active mode, the process proceeds to step S203, and if the result is the passive mode, the process proceeds to step S203.
Proceed to 210.

【0109】次に、ステップS203では、積分モー
ド、モニタ範囲、センサ感度、積分終了条件等を設定す
る。
Next, in step S203, an integration mode, a monitor range, a sensor sensitivity, an integration end condition, and the like are set.

【0110】次に、ステップS204では、投光手段1
07より信号光を投光しながらアクティブモード積分を
行う。
Next, in step S204, the light emitting means 1
The active mode integration is performed while projecting the signal light from 07.

【0111】次に、ステップS205では、A/D変換
回路104によりA/Dを行ってセンサデータを読み出
し、CPU105内のRAMにデータを格納する。
Next, in step S205, A / D conversion is performed by the A / D conversion circuit 104 to read out sensor data, and the data is stored in the RAM in the CPU 105.

【0112】次に、ステップS206では、ステップS
203と同様に積分条件の設定を行う。
Next, in step S206, step S206
The integration conditions are set in the same manner as 203.

【0113】次に、ステップS207では、信号光を投
光しないで、ステップS204での積分での投光回数の
1/2のサイクル回数分アクティブモード積分を行う。
Next, in step S207, the active mode integration is performed for half the number of cycles of the light emission in the integration in step S204 without projecting the signal light.

【0114】次に、ステップS208では、ステップS
205と同様にセンサデータを読み出し、CPU105
内のRAMにデータを格納する。
Next, in step S208, step S
The sensor data is read out in the same manner as
The data is stored in the RAM inside.

【0115】次に、ステップS209では、ステップS
208で読み出したセンサデータに基づいて、オフセッ
ト補正を行う。
Next, in step S209, step S
Offset correction is performed based on the sensor data read in 208.

【0116】このオフセット補正は、ステップS208
でのセンサデータ読み出し中に、一つのデータを読み出
す毎に行うようにしてもよい。
This offset correction is performed in step S208.
May be performed each time one data is read during the reading of the sensor data.

【0117】次に、ステップS210では、ステップS
203と同様に積分条件の設定を行う。
Next, in step S210, step S210
The integration conditions are set in the same manner as 203.

【0118】次に、ステップS211では、パッシブモ
ード積分を行う。
Next, in step S211, passive mode integration is performed.

【0119】次に、ステップS212では、ステップS
205と同様にセンサデータを読み出し、CPU105
内のRAMにデータを格納する。
Next, in step S212, step S212
The sensor data is read out in the same manner as
The data is stored in the RAM inside.

【0120】次に、ステップS213では、公知の相関
演算、補間演算等により、測距データを算出する。
Next, in step S213, distance measurement data is calculated by a known correlation operation, interpolation operation, or the like.

【0121】図10は、第2の実施の形態によるオフセ
ット補正の手順を示すフローチャートである。
FIG. 10 is a flowchart showing the procedure of offset correction according to the second embodiment.

【0122】まず、ステップS221では、オフセット
補正を行うセンサデータ数をセットする。
First, in step S221, the number of sensor data to be subjected to offset correction is set.

【0123】次に、ステップS222では、投光有り積
分時のセンサデータでオフセット補正を行うデータの先
頭データをセットする。
Next, in step S222, the head data of the data to be subjected to offset correction is set with the sensor data at the time of integration with light projection.

【0124】次に、ステップS223では、投光無し積
分時のセンサデータでオフセット補正に用いるデータの
先頭データをセットする。
Next, in step S223, head data of data used for offset correction is set in sensor data at the time of integration without light projection.

【0125】次に、ステップS224では、基準データ
と投光無し積分時のセンサデータとの差をとり、オフセ
ットを算出する。
Next, in step S224, an offset is calculated by taking the difference between the reference data and the sensor data at the time of integration without light projection.

【0126】ここでは、8ビットA/DのMAX値の2
55を基準データとするが、積分時の基準電圧レベル等
を基準データとしてもよい。
Here, the MAX value of the 8-bit A / D is 2
Although 55 is used as the reference data, a reference voltage level or the like at the time of integration may be used as the reference data.

【0127】次に、ステップS225では、投光有り積
分時のセンサデータにステップS224で算出したオフ
セットを2倍して加算し、オフセット補正を行う。
Next, in step S225, the offset calculated in step S224 is doubled and added to the sensor data at the time of integration with light projection to perform offset correction.

【0128】次に、ステップS226では、補正後のデ
ータをCPU105内のRAMに格納する。
Next, in step S226, the corrected data is stored in the RAM in the CPU 105.

【0129】次に、ステップS227では、次にオフセ
ット補正を行う投光有り積分時のセンサデータをセット
する。
Next, in step S227, sensor data at the time of integration with light projection for performing offset correction is set.

【0130】次に、ステップS228では、次にオフセ
ット補正に用いる投光無し積分時のセンサデータをセッ
トする。
Next, in step S228, sensor data at the time of integration without light projection used for offset correction is set.

【0131】次に、ステップS229では、オフセット
補正を行うセンサデータの全てについて補正が終了した
かどうかを判断し、全て終了していればステップS23
0に進み、終了していなければステップS224に戻
る。
Next, in step S229, it is determined whether or not the correction has been completed for all of the sensor data for which offset correction is to be performed.
0, and if not finished, the process returns to step S224.

【0132】次に、ステップS230では、一対のライ
ンセンサ102a、102bの両方のセンサデータにつ
いて補正が終了したかどうかを判断し、両方とも終了し
ていればリターンし、終了していなければステップS2
22に戻る。
Next, in step S230, it is determined whether or not the correction has been completed for both sensor data of the pair of line sensors 102a and 102b. If both have been completed, the process returns. If not, the process returns to step S2.
Return to 22.

【0133】(第3の実施の形態)この第3の実施の形
態によるカメラの測距装置の構成は、図1に示した第1
の実施の形態によるカメラの測距装置の構成と同様であ
る。
(Third Embodiment) The configuration of a distance measuring apparatus for a camera according to the third embodiment is similar to that of the first embodiment shown in FIG.
This is the same as the configuration of the distance measuring device of the camera according to the embodiment.

【0134】すなわち、前述した第2の実施の形態にお
いては、投光無しのアクティブモードの積分動作回数
を、投光有りのアクティブモード積分の投光回数の半分
にしてオフセットを検出し、そのオフセットに基づいて
補正を行うようにしたものであるのに対し、この第3の
実施の形態では、まず、投光無しのアクティブモードの
1回の積分動作を行ってオフセットを検出した後、投光
有りのアティブモード積分を行い、検出された1回の積
分動作によるオフセットに基づいて、補正を行うように
したものである。
That is, in the above-described second embodiment, the offset is detected by setting the number of times of integration in the active mode without light projection to half of the number of times of light emission in the active mode integration with light projection. In contrast, in the third embodiment, the offset is first detected by performing one integration operation in the active mode without light projection, and then the light emission is performed. An active mode integration is performed, and correction is performed based on the detected offset due to one integration operation.

【0135】この第3の実施の形態によれば、第2の実
施の形態よりもさらに測距時間を短縮することができ、
高速で高精度な測距を行うことができる。
According to the third embodiment, the distance measuring time can be further reduced than in the second embodiment,
High-speed and high-accuracy ranging can be performed.

【0136】図11は、第3の実施の形態による測距シ
ーケンスの手順を示すフローチャートである。
FIG. 11 is a flowchart showing a procedure of a distance measuring sequence according to the third embodiment.

【0137】まず、ステップS301では、アクティブ
モードまたはバッシブモードでプリ測距を行い、その結
果に基づいて測距方式を選択する。
First, in step S301, pre-ranging is performed in the active mode or the passive mode, and a ranging method is selected based on the result.

【0138】この際、測光データ等を用いて輝度判定に
より測距方式を選択するようにしてもよい。
At this time, the distance measuring method may be selected by judging the luminance using the photometric data or the like.

【0139】次に、ステップS302では、ステップS
301での選択結果がアクティブモードであればステッ
プS303に進み、パッシブモードであればステップ3
10に進む。
Next, in step S302, step S
If the selection result at step 301 is the active mode, the process proceeds to step S303.
Go to 10.

【0140】次に、ステップS303では、積分モー
ド、モニタ範囲、センサ感度、積分終了条件等を設定す
る。
Next, in step S303, an integration mode, a monitor range, a sensor sensitivity, an integration termination condition, and the like are set.

【0141】次に、ステップS304では、信号光を投
光しないで、1サイクルのアクティブモード積分を行
う。
Next, in step S304, one cycle of active mode integration is performed without projecting the signal light.

【0142】次に、ステップS305では、A/D変換
回路104によりA/D変換を行ってセンサデータを読
み出し、CPU105内のRAMにデータを格納する。
Next, in step S305, A / D conversion is performed by the A / D conversion circuit 104 to read out sensor data, and the data is stored in the RAM in the CPU 105.

【0143】次に、ステップS306では、ステップS
303と同様に積分条件の設定を行う。
Next, in step S306, step S306
The integration condition is set in the same manner as in 303.

【0144】次に、ステップS307では、投光手段1
07より信号光を投光しながらアクティブモード積分を
行う。
Next, in step S307, the light emitting means 1
The active mode integration is performed while projecting the signal light from 07.

【0145】次に、ステップS308では、ステップS
305と同様にセンサデータを読み出し、CPU105
内のRAMにデータを格納する。
Next, at step S308, at step S308
The sensor data is read out in the same manner as
The data is stored in the RAM inside.

【0146】次に、ステップS309では、ステップS
305で読み出したセンサデータに基づいて、オフセッ
ト補正を行う。
Next, in step S309, step S309
Offset correction is performed based on the sensor data read in 305.

【0147】このオフセット補正は、ステップS308
のセンサデータ読み出し中に、一つのデータを読み出す
毎に行うようにしてもよい。
This offset correction is performed in step S308.
May be performed each time one data is read during the reading of the sensor data.

【0148】次に、ステップS310では、ステップS
303と同様に積分条件の設定を行う。
Next, in step S310, step S310
The integration condition is set in the same manner as in 303.

【0149】次に、ステップS311では、パッシブモ
ード積分を行う。
Next, in step S311, passive mode integration is performed.

【0150】次に、ステップS312では、ステップS
305と同様にセンサデータを読み出し、CPU105
内のRAMにデータを格納する。
Next, in step S312, step S3
The sensor data is read out in the same manner as
The data is stored in the RAM inside.

【0151】次に、ステップS313では、公知の相関
演算、補間演算等により、測距データを算出する。
Next, in step S313, distance measurement data is calculated by a known correlation operation, interpolation operation, or the like.

【0152】図12は、第3の実施の形態によるオフセ
ット補正の手順を示すフローチャートである。
FIG. 12 is a flowchart showing a procedure of offset correction according to the third embodiment.

【0153】まず、ステップS321では、オフセット
補正を行うセンサデータ数をセットする。
First, in step S321, the number of sensor data to be subjected to offset correction is set.

【0154】次に、ステップS322では、投光有り積
分時のセンサデータでオフセット補正を行うデータの先
頭データをセットする。
Next, in step S322, the head data of the data to be subjected to offset correction is set with the sensor data at the time of integration with light projection.

【0155】次に、ステップS323では、投光無し積
分時のセンサデータでオフセット補正に用いるデータの
先頭データをセットする。
Next, in step S323, head data of data used for offset correction is set in sensor data at the time of integration without light projection.

【0156】次に、ステップS324では、基準データ
と投光無し積分時のセンサデータとの差をとり、オフセ
ットを算出する。
Next, in step S324, an offset is calculated by taking the difference between the reference data and the sensor data at the time of integration without light projection.

【0157】ここでは、8ビットA/DのMAX値の2
55を基準データとするが、積分時の基準電圧レベル等
を基準データとしてもよい。
Here, the MAX value of the 8-bit A / D is 2
Although 55 is used as the reference data, a reference voltage level or the like at the time of integration may be used as the reference data.

【0158】次に、ステップS325では、投光有り積
分時のセンサデータにステップS324で算出したオフ
セットを投光有り積分時の投光回数倍して加算し、オフ
セット補正を行う。
Next, in step S325, the offset calculated in step S324 is added to the sensor data at the time of integration with light projection multiplied by the number of times of light emission at the time of integration with light projection to add offset.

【0159】次に、ステップS326では、補正後のデ
ータをCPU105内のRAMに格納する。
Next, in step S326, the corrected data is stored in the RAM in the CPU 105.

【0160】次に、ステップS327では、次にオフセ
ット補正を行う投光有り積分時のセンサデータをセット
する。
Next, in step S327, sensor data at the time of integration with light projection for performing offset correction is set.

【0161】次に、ステップS328では、次にオフセ
ット補正に用いる投光無し積分時のセンサデータをセッ
トする。
Next, in step S328, sensor data at the time of integration without light projection used for offset correction is set.

【0162】次に、ステップS329では、オフセット
補正を行うセンサデータの全てについて補正が終了した
かどうかを判断し、全て終了していればステップS33
0に進み、終了していなければステップS324に戻
る。
Next, in step S329, it is determined whether or not correction has been completed for all of the sensor data for which offset correction is to be performed.
0, and if not completed, the process returns to step S324.

【0163】次に、ステップS330では、一対のライ
ンセンサ102a、102bの両方のセンサデータにつ
いて補正が終了したかどうかを判断し、両方とも終了し
ていればリターンし、終了していなければステップS3
22に戻る。
Next, in step S330, it is determined whether the correction has been completed for both sensor data of the pair of line sensors 102a and 102b, and if both have been completed, the process returns. If not completed, the process returns to step S3.
Return to 22.

【0164】(第4の実施の形態)この第4の実施の形
態によるカメラの測距装置の構成は、図1に示した第1
の実施の形態によるカメラの測距装置の構成と同様であ
る。
(Fourth Embodiment) The configuration of a distance measuring apparatus for a camera according to the fourth embodiment is similar to that of the first embodiment shown in FIG.
This is the same as the configuration of the distance measuring device of the camera according to the embodiment.

【0165】すなわち、この第4の実施の形態は、信号
光の検出能力を上げるために、センサ感度を高感度とし
て投光有りのアクティブモード積分を行うが、オフセッ
トの検出時には、ランダムノイズ等の影響によるオフセ
ット検出精度の劣化を防ぐために、センサ感度を低感度
として投光無しのアクティブモードの積分を行うように
したものである。
That is, in the fourth embodiment, active mode integration with light emission is performed with a high sensor sensitivity in order to enhance the signal light detection capability. However, when an offset is detected, random noise or the like is detected. In order to prevent the offset detection accuracy from deteriorating due to the influence, the sensor sensitivity is set low and the integration in the active mode without light projection is performed.

【0166】そして、この第4の実施の形態によれば、
より一層高精度な測距を行うことができる。
Then, according to the fourth embodiment,
Even more accurate distance measurement can be performed.

【0167】図13は、第4の実施の形態による測距シ
ーケンスの手順を示すフローチャートである。
FIG. 13 is a flowchart showing a procedure of a distance measuring sequence according to the fourth embodiment.

【0168】まず、ステップS401では、アクティブ
モードまたはパッシブモードでプリ測距を行い、その結
果に基づいて測距方式を選択する。
First, in step S401, pre-ranging is performed in the active mode or the passive mode, and a ranging method is selected based on the result.

【0169】この際、測光データ等を用いて輝度判定に
より測距方式を選択するようにしてもよい。
At this time, the distance measuring method may be selected by judging luminance using photometric data or the like.

【0170】次に、ステップS402では、ステップS
401での選択結果がアクティブモードであればステッ
プS403に進み、パッシブモードであればステップS
410に進む。
Next, in step S402, step S
If the selection result at step 401 is the active mode, the process proceeds to step S403. If the selection result is the passive mode, the process proceeds to step S403.
Proceed to 410.

【0171】次に、ステップS403では、積分モー
ド、モニタ範囲、センサ感度、積分終了条件等を設定す
る。
Next, in step S403, an integration mode, a monitor range, a sensor sensitivity, an integration end condition, and the like are set.

【0172】ここで、センサ感度は高感度に設定され
る。
Here, the sensor sensitivity is set to a high sensitivity.

【0173】次に、ステップS404では、投光手段1
07より信号光を投光しながらアクティブモード積分を
感度を高感度として行う。
Next, in step S404, the light emitting means 1
From 07, active mode integration is performed with high sensitivity while projecting signal light.

【0174】次に、ステップS405では、A/D変換
回路104によりA/D変換を行ってセンサデータを読
み出し、CPU105内のRAMにデータを格納する。
Next, in step S405, A / D conversion is performed by the A / D conversion circuit 104 to read out sensor data, and the data is stored in the RAM in the CPU 105.

【0175】次に、ステップS406では、ステップS
403と同様に積分条件の設定を行う。
Next, in step S406, step S406
The integration conditions are set in the same manner as in 403.

【0176】ここで、センサ感度は低感度に設定され
る。
Here, the sensor sensitivity is set to low sensitivity.

【0177】次に、ステップS407では、信号光を投
光しないで、ステップS404での積分での投光回数と
同じサイクル回数分、アクティブモード積分をセンサ感
度を低感度として行う。
Next, in step S407, the active mode integration is performed with the sensor sensitivity set to be low for the same number of cycles as the number of projections in the integration in step S404 without projecting the signal light.

【0178】次に、ステップS408では、ステップS
405と同様にセンサデータを読み出し、CPU105
内のRAMにデータを格納する。
Next, in step S408, step S408
The sensor data is read out in the same manner as
The data is stored in the RAM inside.

【0179】次に、ステップS409では、ステップS
408で読み出したセンサデータに基づいて、オフセッ
ト補正を行う。
Next, in step S409, step S
Offset correction is performed based on the sensor data read in 408.

【0180】このオフセット補正は、ステップS408
のセンサデータ読み出し中に、一つのデータを読み出す
毎に行うようにしてもよい。
This offset correction is performed in step S408.
May be performed each time one data is read during the reading of the sensor data.

【0181】次に、ステップS410では、ステップS
403と同様に積分条件の設定を行う。
Next, in step S410, step S
The integration conditions are set in the same manner as in 403.

【0182】次に、ステップS411では、パッシブモ
ード積分を行う。
Next, in step S411, passive mode integration is performed.

【0183】次に、ステップS412では、ステップS
405と同様にセンサデータを読み出し、CPU105
内のRAMにデータを格納する。
Next, in step S412, step S412
The sensor data is read out in the same manner as
The data is stored in the RAM inside.

【0184】次に、ステップS413では、公知の相関
演算、補間演算等により、測距データを算出する。
Next, in step S413, distance measurement data is calculated by a known correlation operation, interpolation operation, or the like.

【0185】図14は、第4の実施の形態によるオフセ
ット補正の手順を示すフローチャートである。
FIG. 14 is a flowchart showing the procedure of offset correction according to the fourth embodiment.

【0186】まず、ステップS421では、オフセット
補正を行うセンサデータ数をセットする。
First, in step S421, the number of sensor data to be subjected to offset correction is set.

【0187】次に、ステップS422では、投光有り積
分時のセンサデータでオフセット補正を行うデータの先
頭データをセットする。
Next, in step S422, the head data of the data to be subjected to offset correction is set with the sensor data at the time of integration with light projection.

【0188】次に、ステップS423では、投光無し積
分時のセンサデータでオフセット補正に用いるデータの
先頭データをセットする。
Next, in step S423, head data of data used for offset correction is set in sensor data at the time of integration without light projection.

【0189】次に、ステップS424では、基準データ
と投光無し積分時のセンサデータとの差をとり、オフセ
ットを算出する。
Next, in step S424, an offset is calculated by taking the difference between the reference data and the sensor data at the time of integration without light projection.

【0190】ここでは、8ビットA/DのMAX値の2
55を基準データとするが、積分時の基準電圧レベル等
を基準データとしてもよい。
Here, the MAX value of the 8-bit A / D 2
Although 55 is used as the reference data, a reference voltage level or the like at the time of integration may be used as the reference data.

【0191】次に、ステップS425では、投光有り積
分時のセンサデータにステップS424で算出したオフ
セットに、センサ感度の違いによるオフセットの誤差を
補正する感度係数をかけて加算し、オフセット補正を行
う。
Next, at step S425, the sensor data at the time of integration with light projection is added to the offset calculated at step S424 by multiplying the offset by a sensitivity coefficient for correcting an offset error due to a difference in sensor sensitivity, thereby performing offset correction. .

【0192】次に、ステップS426では、補正後のデ
ータをCPU105内のRAMに格納する。
Next, in step S426, the corrected data is stored in the RAM in the CPU 105.

【0193】次に、ステップS427では、次にオフセ
ット補正を行う投光有り積分時のセンサデータをセット
する。
Next, in step S427, sensor data at the time of integration with light projection for performing offset correction is set.

【0194】次に、ステップS428では、次にオフセ
ット補正に用いる投光無し積分時のセンサデータをセッ
トする。
Next, in step S428, sensor data at the time of integration without light projection used for offset correction is set.

【0195】次に、ステップS429では、オフセット
補正を行うセンサデータの全てについて補正が終了した
かどうかを判断し、全て終了していればステップS43
0に進み、終了していなければステップS424に戻
る。
Next, in step S429, it is determined whether or not correction has been completed for all of the sensor data for which offset correction is to be performed.
0, and if not completed, the process returns to step S424.

【0196】次に、ステップS430では、一対のライ
ンセンサ102a、102bの両方のセンサデータにつ
いて補正が終了したかどうかを判断し、両方とも終了し
ていればリターンし、終了していなければステップS4
22に戻る。
Next, in step S430, it is determined whether correction has been completed for both sensor data of the pair of line sensors 102a and 102b, and if both have been completed, the process returns.
Return to 22.

【0197】(第5の実施の形態)この第5の実施の形
態によるカメラの測距装置の構成は、図1に示した第1
の実施の形態によるカメラの測距装置の構成と同様であ
る。
(Fifth Embodiment) The configuration of a camera distance measuring apparatus according to the fifth embodiment is similar to that of the first embodiment shown in FIG.
This is the same as the configuration of the distance measuring device of the camera according to the embodiment.

【0198】すなわち、この第5の実施の形態では、オ
フセット検出のための信号光投光無しのアクティブモー
ドの積分時間を、投光有りのアクティブモードの積分時
間よりも短くしたものである。
In other words, in the fifth embodiment, the integration time in the active mode without signal light emission for offset detection is shorter than the integration time in the active mode with light emission.

【0199】この第5の実施の形態は、オフセットの発
生の主要因が定常光去回路及び積分回路内のスイッチン
グ動作である場合に有効である。
The fifth embodiment is effective when the main factor of the occurrence of the offset is a switching operation in the steady light removing circuit and the integrating circuit.

【0200】この第5の実施の形態によれば、より一層
測距時間を短縮することができ、高速で高精度な測距を
行うことができる。
According to the fifth embodiment, the distance measurement time can be further reduced, and high-speed and high-accuracy distance measurement can be performed.

【0201】図15は、第5の実施の形態における積分
及びセンサデータ読み出しのシーケンスを示すタイミン
グチャートである。
FIG. 15 is a timing chart showing a sequence of integration and reading of sensor data in the fifth embodiment.

【0202】すなわち、図15の(a)は、積分開始制
御信号RESETを示しており、L→Hで積分開始とな
る。
That is, FIG. 15A shows the integration start control signal RESET, and the integration starts when L → H.

【0203】また、図15の(b)は、積分停止制御信
号EXTENDを示しており、H→Lで積分停止とな
る。
FIG. 15B shows an integration stop control signal EXTEND, and integration stops when H → L.

【0204】また、図15の(c)は、アクティブモー
ド積分制御信号INTCLKを示しており、1パルス目
と2パルス目と3パルス目の間の期間が図3のT3に、
3パルス目と4パルス目の間の期間が図3のT5にそれ
ぞれ対応し、以後はその繰り返しとなっている。
FIG. 15C shows the active mode integration control signal INTCLK, and the period between the first pulse, the second pulse, and the third pulse is T3 in FIG.
The period between the third pulse and the fourth pulse corresponds to T5 in FIG. 3, respectively, and thereafter, it is repeated.

【0205】また、図15の(d)は、Hの期間に信号
光が投光される信号光投光を示している。
FIG. 15D shows the signal light projection in which the signal light is projected in the H period.

【0206】また、図15の(e)は、センサデータ読
み出し制御信号RWCLKを示しており、1パルス毎に
各フォトダイオードの積分データを出力する。
FIG. 15E shows the sensor data read control signal RWCLK, which outputs the integrated data of each photodiode for each pulse.

【0207】また、図4の(f)は、モニタセンサの積
分データ出力MDATAを示している。
FIG. 4F shows the integrated data output MDATA of the monitor sensor.

【0208】このモニタセンサとは、例えば、ラインセ
ンサ102a、102bを構成するフォトダイオードの
中で、最も積分速度の速いセンサである。
This monitor sensor is, for example, a sensor having the highest integration speed among the photodiodes constituting the line sensors 102a and 102b.

【0209】なお、図15において、t1は、投光有り
アクティブモード積分期間であり、前記MDATA出力
が所定レベルに達するまで1〜nサイクルの積分動作が
行われる。
In FIG. 15, t1 is an active mode integration period with light emission, and integration operations of 1 to n cycles are performed until the MDATA output reaches a predetermined level.

【0210】また、t2は、投光有りアクティブモード
積分でのセンサデータ読み出し期間である。
Further, t2 is a sensor data reading period in active mode integration with light projection.

【0211】また、t3は、投光無しアクティブモード
積分期間であり、投光有りアクティブモード積分で行っ
た、nサイクルの積分動作を投光無しで行う。
Further, t3 is an active mode integration period without light emission, in which the integration operation of n cycles performed in active mode integration with light emission is performed without light emission.

【0212】但し、積分動作の1サイクルの時間は投光
有りアクティブモード積分時よりも短い時間に設定され
る。
However, the time of one cycle of the integration operation is set to a time shorter than that in the active mode integration with light emission.

【0213】また、t4は、投光無しアクティブモード
積分でのセンサデータ読み出し期間である。
Further, t4 is a sensor data reading period in active mode integration without light projection.

【0214】(第6の実施の形態)この第6の実施の形
態によるカメラの測距装置の構成は、図1に示した第1
の実施の形態によるカメラの測距装置の構成と同様であ
る。
(Sixth Embodiment) The configuration of a camera distance measuring apparatus according to the sixth embodiment is similar to that of the first embodiment shown in FIG.
This is the same as the configuration of the distance measuring device of the camera according to the embodiment.

【0215】すなわち、この第6の実施の形態は、第3
の実施の形態の変形例で、オフセットの検出のための信
号光投光無しのアクティブモード1回の積分動作を、測
距シーケンスの最初に実行するようにしたものである。
That is, the sixth embodiment is similar to the third embodiment.
In the modification of the third embodiment, one integration operation in the active mode without signal light projection for detecting an offset is executed at the beginning of the distance measurement sequence.

【0216】図16は、第6の実施の形態による測距シ
ーケンスの手順を示すフローチャートである。
FIG. 16 is a flowchart showing a procedure of a distance measuring sequence according to the sixth embodiment.

【0217】まず、ステップS601では、積分モー
ド、モニタ範囲、センサ感度、積分終了条件等を設定す
る。
First, in step S601, an integration mode, a monitor range, a sensor sensitivity, an integration termination condition, and the like are set.

【0218】次に、ステップS602では、信号光を投
光しないで、1サイクルのアクティブモード積分を行
う。
Next, in step S602, one cycle of active mode integration is performed without projecting signal light.

【0219】次に、ステップS603では、A/D変換
回路104によりA/D変換を行ってセンサデータを読
み出し、CPU105内のRAMにデータを格納する。
Next, in step S603, A / D conversion is performed by the A / D conversion circuit 104 to read out sensor data, and the data is stored in the RAM in the CPU 105.

【0220】次に、ステップS604では、アクティブ
モードまたはパッシブモードでプリ測距を行い、その結
果に基づいて測距方式を選択する。
Next, in step S604, pre-ranging is performed in the active mode or the passive mode, and a ranging method is selected based on the result.

【0221】この際、測光データ等を用いて輝度判定に
より測距方式を選択するようにしてもよい。
At this time, a distance measurement method may be selected by judging luminance using photometric data or the like.

【0222】次に、ステップS605では、ステップS
604での選択結果がアクティブモードであればステッ
プS606に進み、パッシブモードであればステップS
610に進む。
Next, in step S605, step S605
If the selection result in step 604 is the active mode, the process proceeds to step S606, and if the selection result is the passive mode, the process proceeds to step S606.
Proceed to 610.

【0223】次に、ステップS606では、ステップS
601と同様に積分条件の設定を行う。
Next, in step S606, step S606
The integration conditions are set in the same manner as in 601.

【0224】次に、ステップS607では、投光手段1
07より信号光を投光しながらアクティブモード積分を
行う。
Next, in step S607, the light emitting means 1
The active mode integration is performed while projecting the signal light from 07.

【0225】次に、ステップS608では、ステップS
603と同様にセンサデータを読み出し、CPU105
内のRAMにデータを格納する。
Next, in step S608, step S608
The sensor data is read out in the same manner as
The data is stored in the RAM inside.

【0226】次に、ステップS609では、ステップ6
08で読み出したセンサデータに基づいて、オフセット
補正を行う。
Next, in step S609, step 6
Offset correction is performed based on the sensor data read in step 08.

【0227】このオフセット補正は、ステップS608
でのセンサデータ読み出し中に、一つのデータを読み出
す毎に行うようにしてもよい。
This offset correction is performed in step S608.
May be performed each time one data is read during the reading of the sensor data.

【0228】次に、ステップS610では、ステップS
601と同様に積分条件の設定を行う。
Next, at step S610, step S610
The integration conditions are set in the same manner as in 601.

【0229】次に、ステップS611では、パッシブモ
ード積分を行う。
Next, in step S611, passive mode integration is performed.

【0230】次に、ステップS612では、ステップS
603と同様にセンサデータを読み出し、CPU105
内のRAMにデータを格納する。
Next, in step S612, step S612
The sensor data is read out in the same manner as
The data is stored in the RAM inside.

【0231】次に、ステップS613では、公知の相関
演算、補間演算等により、測距データを算出する。
Next, in step S613, distance measurement data is calculated by a known correlation operation, interpolation operation, or the like.

【0232】(第7の実施の形態)この第7の実施の形
態によるカメラの測距装置の構成は、図1に示した第1
の実施の形態によるカメラの測距装置の構成と同様であ
る。
(Seventh Embodiment) The configuration of a camera distance measuring apparatus according to the seventh embodiment is similar to that of the first embodiment shown in FIG.
This is the same as the configuration of the distance measuring device of the camera according to the embodiment.

【0233】そして、この第7の実施の形態は、オフセ
ットの検出のための信号光投光無しのアクティブモード
の1回の積分動作を、カメラのパワースイッチがオンさ
れたとき及びカメラが撮影待機状態にあるときに実行す
るようにしたものである。
In the seventh embodiment, one integration operation in the active mode without signal light projection for detecting an offset is performed when the power switch of the camera is turned on and when the camera is on standby. It is designed to be executed when in the state.

【0234】このような第7の実施の形態によれば、測
距シーケンス中でオフセット検出を行う場合に対して、
さらに測距時間を短縮することができ、高速で高精度な
測距を行うことができる。
According to the seventh embodiment, the case where the offset detection is performed in the distance measurement sequence is as follows.
Further, the distance measurement time can be shortened, and high-speed and high-accuracy distance measurement can be performed.

【0235】図17は、第7の実施の形態によるカメラ
シーケンスの手順を示すフローチャートである。
FIG. 17 is a flowchart showing the sequence of a camera sequence according to the seventh embodiment.

【0236】まず、ステップS701では、カメラのレ
ンズバリアの開口、鏡枠のセットアップ等カメラの状態
を初期化する。
First, in step S701, the state of the camera such as the opening of the lens barrier of the camera and the setup of the lens frame is initialized.

【0237】次に、ステップS702では、図示しない
EEPROM等の不揮発性メモリより、調整値等のデー
タを読み出してCPU105のRAMに展開する。
Next, in step S702, data such as adjustment values are read out from a non-volatile memory such as an EEPROM (not shown) and expanded in the RAM of the CPU 105.

【0238】次に、ステップS703では、積分モー
ド、モニタ範囲、センサ感度、積分終了条件等を設定す
る。
Next, in step S703, an integration mode, a monitor range, a sensor sensitivity, an integration termination condition, and the like are set.

【0239】次に、ステップS704では、信号光を投
光しないで、1サイクルのアクティブモード積分を行
う。
Next, in step S704, one cycle of active mode integration is performed without projecting signal light.

【0240】次に、ステップS705では、A/D変換
回路104によりA/D変換を行ってセンサデータを読
み出し、CPU105内のRAMデータを格納する。
Next, in step S705, A / D conversion is performed by the A / D conversion circuit 104 to read out sensor data, and RAM data in the CPU 105 is stored.

【0241】次に、ステップS706では、カメラのフ
ァーストレリーズ釦が押されているかどうかを判断し、
押されていればステップS711進み、押されていなけ
ればステップS707に進む。
Next, in a step S706, it is determined whether or not the first release button of the camera is pressed.
If it has been pressed, the process proceeds to step S711, and if it has not been pressed, the process proceeds to step S707.

【0242】次に、ステップS707では、ステップS
703と同様に積分条件の設定を行う。
Next, in step S707, step S707
The integration conditions are set in the same manner as in step 703.

【0243】次に、ステップS708では、ステップS
704と同様に信号光を投光しないで、1サイクルのア
クティブモード積分を行う。
Next, in step S708, step S708
As in 704, one cycle of active mode integration is performed without projecting signal light.

【0244】次に、ステップS709では、ステップS
705と同様にセンサデータを読み出し、CPU105
内のRAMにデータを格納する。
Next, at step S709, step S709
The sensor data is read out in the same way as
The data is stored in the RAM inside.

【0245】次に、ステップS710では、カメラのパ
ワースイッチがオフされたかどうかを判断し、オフされ
ていればカメラシーケンスを終了し、オンのままであれ
ばステップS706に戻る。
Next, in step S710, it is determined whether or not the power switch of the camera has been turned off. If the power switch has been turned off, the camera sequence ends, and if it has been turned on, the process returns to step S706.

【0246】次に、ステップS711では、撮影時の露
出制御を行うための測光データを測定する。
Next, in step S711, photometric data for performing exposure control during photographing is measured.

【0247】次に、ステップS712では、ピント調節
用レンズの駆動制御に用いる被写体距離データを測定す
る。
Next, in step S712, subject distance data used for drive control of the focus adjusting lens is measured.

【0248】このとき、ステップS705またはステッ
プ709で読み出したセンサデータを用いて、オフセッ
ト補正を行う。
At this time, offset correction is performed using the sensor data read in step S705 or step 709.

【0249】次に、ステップS713では、ステップS
712で測定した被写体距離データよりピント調節用レ
ンズの繰り出し量を演算する。
Next, in step S713, step S713
The extension amount of the focus adjusting lens is calculated from the subject distance data measured in 712.

【0250】次に、ステップS714では、ステップS
706と同様に、カメフのファーストレリーズ釦が押さ
れているかどうかを判断し、押されていればステップS
715に進み、押されていなければステップS706に
戻る。
Next, in step S714, step S714
As in step 706, it is determined whether or not the first release button of Kamefu has been pressed.
The process proceeds to 715, and if not pressed, returns to step S706.

【0251】次に、ステップS715では、カメラのセ
カンドレリーズ釦が押されているかどうかを判断し、押
されていればステップS716に引み、押されていなけ
ればステップS714に戻る.次に、ステップS716
では、ステップS713で求めた繰り出し量に基づいて
ピント調節用レンズの駆動を行う次に、ステップS71
7では、ステップS711で求めた測光データに基づい
てフィルム面への露光を行う。
Next, in step S715, it is determined whether or not the second release button of the camera has been pressed. If the second release button has been pressed, the process returns to step S716. If not, the process returns to step S714. Next, step S716
Then, the focus adjustment lens is driven based on the amount of extension determined in step S713. Next, in step S71.
In step 7, the film surface is exposed based on the photometric data obtained in step S711.

【0252】次に、ステップS718では、ステップS
717で露光を行ったフィルムを巻き上げ、ステップS
706に戻る。
Next, in step S718, step S718
The film exposed at 717 is wound up, and step S
Return to 706.

【0253】(第8の実施の形態)図18は、第8の実
施の形態によるカメラの測距装置の構成を示すブロック
図である。
(Eighth Embodiment) FIG. 18 is a block diagram showing a configuration of a camera distance measuring apparatus according to an eighth embodiment.

【0254】図18において、参照符号801a,80
1bは、被写体像をエリアセンサ802a、802b上
に結像させるための受光レンズであり、参照符号802
a,802bは、受光レンズ801a、801bにより
結像された被写体像をその光強度に応じて光電変換し、
電気信号に変換する一対のエリアセンサである。
In FIG. 18, reference numerals 801a and 801a
Reference numeral 1b denotes a light receiving lens for forming a subject image on the area sensors 802a and 802b.
a and 802b photoelectrically convert the subject image formed by the light receiving lenses 801a and 801b in accordance with the light intensity thereof;
It is a pair of area sensors that convert to electric signals.

【0255】また、図18において、参照符号803
は、一対のエリアセンサ802a、802bの積分動作
の制御を行い、積分結果の被写体像信号を出力す積分制
御回路であり、参照符号804は、積分制御回路803
より被写体像信号を読み出しA/D変換を行なうA/D
変換回路である。
Also, in FIG.
Is an integration control circuit that controls the integration operation of the pair of area sensors 802a and 802b and outputs a subject image signal as the integration result. Reference numeral 804 denotes an integration control circuit 803.
A / D for reading the subject image signal and performing A / D conversion
It is a conversion circuit.

【0256】また、図18において、参照符号805
は、各種制御信号の出力、各種データの入力、測距演算
等を行なうCPUであり、参照符号806は、一対のエ
リアセンサ802a、802bから出力される光電流よ
り、定常光電流成分を除去する定常光除去回路である。
Also, in FIG.
Is a CPU for outputting various control signals, inputting various data, calculating distances, and the like. Reference numeral 806 removes a stationary photocurrent component from the photocurrent output from the pair of area sensors 802a and 802b. This is a stationary light removal circuit.

【0257】また、図18において、参照符号807
は、被写体に向けて測距用の一対のエリアセンサ802
a、802bの測距用光(信号光)を投光する投光手段
であり、CPU805によって制御される。
Further, in FIG. 18, reference numeral 807
Is a pair of area sensors 802 for distance measurement toward a subject.
a light projecting means for projecting the distance measuring light (signal light) a and 802 b, and is controlled by the CPU 805.

【0258】この第8の実施の形態によるカメラの測距
装置は、図1に示した第1の実施の形態によるカメラの
測距装置の一対のラインセンサ102a、102bに代
えて一対のエリアセンサ802a、802bを用いてい
る以外は同様である。
The camera distance measuring apparatus according to the eighth embodiment has a pair of area sensors instead of the pair of line sensors 102a and 102b of the camera distance measuring apparatus according to the first embodiment shown in FIG. The same applies except that 802a and 802b are used.

【0259】すなわち、この第8の実施の形態は、撮影
画面内を2次元的に測距するために、受光素子として一
対のエリアセンサ802a、802bを用いるものであ
る。
That is, in the eighth embodiment, a pair of area sensors 802a and 802b are used as light receiving elements in order to two-dimensionally measure the distance in a photographing screen.

【0260】そして、この第8の実施の形態によれば、
一対のエリアセンサ802a、802bを用いることに
よって、撮影画面内を2次元的に測距できるので、より
高機能な測距を行うことができる。
According to the eighth embodiment,
By using the pair of area sensors 802a and 802b, it is possible to two-dimensionally measure the distance in the shooting screen, so that more sophisticated distance measurement can be performed.

【0261】以上説明したように、本発明のカメラの測
距装置によれば、大容量の不揮発性メモリを用いること
なく、ハイブリットタイプの測距装置において、アクテ
ィブモード積分を行った場合に、受光素子を構成する各
センサに発生するオフセットを補正することができるの
で、安価かつ小型の構成で高精度な測距を行うことがで
きる。
As described above, according to the camera distance measuring apparatus of the present invention, when active mode integration is performed in a hybrid type distance measuring apparatus without using a large-capacity non-volatile memory, light is not received. Since the offset generated in each sensor constituting the element can be corrected, a highly accurate distance measurement can be performed with an inexpensive and small configuration.

【0262】なお、本発明は、ハイブリットタイプAF
にのみ限定されることなく、受光側をセンサアレイにし
たアクティブAFにも適用することが可能である。
The present invention relates to a hybrid type AF
However, the present invention can be applied to an active AF in which the light receiving side is a sensor array.

【0263】そして、上述したような実施の形態で示し
た本明細書には、特許請求の範囲に示した請求項1乃至
3以外にも、以下に付記1乃至付記10として示すよう
な発明が含まれている。
In the present specification described in the above-described embodiments, in addition to claims 1 to 3 described in the claims, the inventions shown below as supplementary notes 1 to 10 are described. include.

【0264】(付記1) 被写体に向けて信号光を投光
する投光手段と、一対の被写体像を一対のラインセンサ
上に結像させる受光レンズと、前記受光レンズにより結
像された一対の被写体像を光強度に応じて電気信号に変
換する一対のラインセンサと、前記一対のラインセンサ
に対する積分制御を行なう積分制御手段と、前記一対の
ラインセンサに定常的に入射する光成分を除去する定常
光除去手段と、前記一対のラインセンサから出力される
被写体像データの読み出しを行う読み出し手段と、前記
読み出し手段によって読み出された被写体像データに基
づいて被写体距離に応じたデータを演算する演算手段と
から成り、前記投光手段より被写体に向けて信号光を投
光し、前記定常光除去手段によって被写体からの定常光
成分の除去を行い、被写体からの信号光成分のみを積分
する積分動作を複数回繰り返してを行うアクティブモー
ド積分と、被写体からの定常光成分の積分を行うパッシ
ブモード積分との二つの積分モードを実行可能なカメラ
の測距装置において、前記投光手段より被写体に向けて
信号光を投光しない場合のアクティブモード積分を行っ
たときに前記一対のラインセンサから出力される被写体
像データによって、信号光を投光した場合のアクティブ
モード積分を行ったときに前記一対のラインセンサから
出力される被写体像データを補正することを特徴とする
測距装置。
(Supplementary Note 1) Light projecting means for projecting signal light toward a subject, a light receiving lens for forming a pair of subject images on a pair of line sensors, and a pair of light beams formed by the light receiving lens A pair of line sensors for converting a subject image into an electric signal according to the light intensity; an integral control means for performing integral control on the pair of line sensors; and removing a light component constantly incident on the pair of line sensors. Stationary light removing means, reading means for reading the subject image data output from the pair of line sensors, and calculation for calculating data according to the subject distance based on the subject image data read by the reading means Means, projecting signal light from the light projecting means toward the subject, removing the steady light component from the subject by the steady light removing means, A camera capable of executing two integration modes, an active mode integration that repeats the integration operation of integrating only the signal light component from the subject a plurality of times and a passive mode integration that integrates the steady light component from the subject. In the distance device, when signal light is projected by subject image data output from the pair of line sensors when performing active mode integration when signal light is not projected toward the subject from the light projecting means. Wherein the subject image data output from the pair of line sensors is corrected when the active mode integration is performed.

【0265】(付記2) 前記投光手段より被写体に向
けて信号光を投光した場合のアクティブモード積分動作
の繰り返し回数と、同じ回数の信号光を投光しない場合
のアクティブモード積分動作を行うことによって得られ
る前記一対のラインセンサから出力される被写体像デー
タによって、信号光を投光した場合に得られる前記一対
のラインセンサから出力される被写体像データを補正す
ることを特徴とする付記1に記載の測距装置。
(Supplementary Note 2) The number of repetitions of the active mode integration operation when the signal light is projected from the light projecting unit toward the subject and the active mode integration operation when the same number of signal lights are not projected are performed. The subject image data output from the pair of line sensors obtained when the signal light is projected is corrected based on the subject image data output from the pair of line sensors obtained as described above. 3. The distance measuring device according to 1.

【0266】(付記3) 信号光を投光した場合のアク
ティブ積分動作の繰り返し回数よりも、少ない回数の信
号光を投光しない場合の積分動作を行い、それにより得
られるセンサデータを繰り返し回数の比率に応じて加工
し、信号光を投光した場合のセンサデータを補正するこ
とを特徴とする付記1に記載の測距装置。
(Supplementary Note 3) An integration operation in which the signal light is not projected a smaller number of times than the active integration operation in the case where the signal light is projected is performed. 2. The distance measuring apparatus according to claim 1, wherein the processing is performed in accordance with the ratio, and the sensor data when the signal light is projected is corrected.

【0267】(付記4) 信号光を投光しない場合のア
クティブ積分動作を固定繰り返し回数で行い、それによ
り得られるセンサデータを、信号光を投光した場合の積
分動作の繰り返し回数との比率に応じて加工し、信号光
を投光した場合のセンサデータを補正することを特徴と
するに付記1に記載の測距装置。
(Supplementary Note 4) The active integration operation in the case where the signal light is not projected is performed with a fixed number of repetitions, and the sensor data obtained thereby is calculated by comparing the ratio of the sensor data with the number of times the integration operation is repeated in the case where the signal light is projected. 2. The distance measuring apparatus according to claim 1, wherein the sensor data is processed according to the correction, and the sensor data when the signal light is projected is corrected.

【0268】(付記5) 前記投光手段より被写体に向
けて信号光を投光した場合のアクティブモード積分動作
中の1回の積分時間よりも短い時間で信号光を投光しな
い場合のアクティブモード積分動作を行うことによって
得られる前記一対のラインセンサから出力される被写体
像データによって、信号光を投光した場合に得られる前
記一対のラインセンサから出力される被写体像データを
補正することを特徴とする付記1に記載の測距装置。
(Supplementary Note 5) Active mode when signal light is projected from the light projecting means toward the subject Active mode when signal light is not projected in a shorter time than one integration time during the integration operation The subject image data output from the pair of line sensors obtained when the signal light is projected is corrected based on the subject image data output from the pair of line sensors obtained by performing the integration operation. 2. The distance measuring device according to claim 1, wherein

【0269】(付記6) 前記投光手段より被写体に向
けて信号光を投光した場合のアクティブモード積分動作
時の前記一対のラインセンサの感度よりも、低い感度で
信号光を投光しない場合のアクティブモード積分動作を
行うことによって得られる前記一対のラインセンサから
出力される被写体像データによって、信号光を投光した
場合に得られる前記一対のラインセンサから出力される
被写体像データを補正することを特徴とする付記1に記
載の測距装置。
(Supplementary Note 6) A case where the signal light is not projected with a lower sensitivity than the sensitivity of the pair of line sensors during the active mode integration operation when the signal light is projected from the light projecting means toward the subject. The subject image data output from the pair of line sensors obtained when the signal light is projected is corrected based on the subject image data output from the pair of line sensors obtained by performing the active mode integration operation. 3. The distance measuring device according to claim 1, wherein

【0270】(付記7) 信号光を投光した場合のアク
ティブ積分動作後に、信号光を投光しない場合の積分動
作を行い、センサデータを補正することを特徴とする付
記1に記載の測距装置。
(Supplementary note 7) The distance measurement according to Supplementary note 1, wherein after the active integration operation when the signal light is projected, the integration operation when the signal light is not projected is performed to correct the sensor data. apparatus.

【0271】(付記8) 測距開始前に信号光を投光し
ない場合の積分動作を行い、そのときのセンサデータに
よって信号光を投光した場合のセンサデータを補正する
ことを特徴とする付記1に記載の測距装置。
(Supplementary Note 8) An additional operation characterized in that an integration operation when no signal light is projected is performed before the distance measurement is started, and the sensor data when the signal light is projected is corrected based on the sensor data at that time. 2. The distance measuring device according to 1.

【0272】(付記9) 信号光を投光する場合のアク
ティブ積分動作前に、信号光を投光しない場合の積分動
作を行い、センサデータを補正することを特徴とする付
記1に記載の測距装置。
(Supplementary Note 9) Before the active integration operation when projecting the signal light, the integration operation when the signal light is not projected is performed to correct the sensor data. Distance device.

【0273】(付記10) カメラの電源投入時に信号
光を投光しない場合の積分動作を行い、そのときのセン
サデータによって信号光を投光した場合のセンサデータ
を補正することを特徴とする付記1に記載の測距装置。
(Supplementary Note 10) An additional operation characterized in that an integration operation is performed when no signal light is projected when the power of the camera is turned on, and the sensor data when the signal light is projected is corrected based on the sensor data at that time. 2. The distance measuring device according to 1.

【0274】[0274]

【発明の効果】従って、以上説明したように、本発明に
よれば、ハイブリットタイプの測距装置において、大容
量の不揮発性メモリを用いることなく、アクティブモー
ド積分を行った場合に、受光素子を構成する各センサに
発生するオフセットを補正し、高精度な測距を行うこと
ができる測距装置を提供することができる。
Therefore, as described above, according to the present invention, in a hybrid type distance measuring apparatus, when active mode integration is performed without using a large-capacity nonvolatile memory, a light receiving element is used. It is possible to provide a distance measuring device capable of correcting an offset generated in each of the constituent sensors and performing highly accurate distance measurement.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1は、本発明の第1の実施の形態によるカメ
ラの測距装置の構成を示す要部のブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram of a main part showing a configuration of a camera distance measuring apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図2は、図1の定常光除去回路の具体的な構成
を例示する図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating a specific configuration of a stationary light removing circuit in FIG. 1;

【図3】図3は、図1の定常光除去回路の基本的な動作
を説明するために示すタイミングチャートである。
FIG. 3 is a timing chart shown to explain a basic operation of the steady light removing circuit of FIG. 1;

【図4】図4は、第1の実施の形態による積分及びセン
サデータ読み出しのシーケンスを示すタイミングチャー
トである。
FIG. 4 is a timing chart showing a sequence of integration and reading of sensor data according to the first embodiment;

【図5】図5は、第1の実施の形態による各アクティブ
モード積分でのセンサデータを示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing sensor data in each active mode integration according to the first embodiment.

【図6】図6は、第1の実施の形態による測距シーケン
スの手順を示すフローチャートである。
FIG. 6 is a flowchart illustrating a procedure of a distance measurement sequence according to the first embodiment;

【図7】図7は、第1の実施の形態におけるオフセット
補正の手順を示すフローチャートである。
FIG. 7 is a flowchart illustrating a procedure of offset correction according to the first embodiment;

【図8】図8は、第1の実施の形態において、図6に示
したステップS107の投光無し積分時のセンサデータ
の読み出しと同時に、オフセット補正を行う場合の手順
を示すフローチャートである。
FIG. 8 is a flowchart illustrating a procedure in the first embodiment when offset correction is performed simultaneously with reading of sensor data during integration without light projection in step S107 shown in FIG. 6;

【図9】図9は、本発明の第2の実施の形態による測距
シーケンスの手順を示すフローチャートである。
FIG. 9 is a flowchart illustrating a procedure of a distance measurement sequence according to the second embodiment of the present invention.

【図10】図10は、第2の実施の形態によるオフセッ
ト補正の手順を示すフローチャートである。
FIG. 10 is a flowchart illustrating a procedure of offset correction according to the second embodiment;

【図11】図11は、本発明の第3の実施の形態による
測距シーケンスの手順を示すフローチャートである。
FIG. 11 is a flowchart illustrating a procedure of a distance measurement sequence according to the third embodiment of the present invention.

【図12】図12は、第3の実施の形態によるオフセッ
ト補正の手順を示すフローチャートである。
FIG. 12 is a flowchart illustrating a procedure of offset correction according to the third embodiment;

【図13】図13は、本発明の第4の実施の形態による
測距シーケンスの手順を示すフローチャートである。
FIG. 13 is a flowchart illustrating a procedure of a distance measurement sequence according to the fourth embodiment of the present invention.

【図14】図14は、第4の実施の形態によるオフセッ
ト補正の手順を示すフローチャートである。
FIG. 14 is a flowchart illustrating a procedure of offset correction according to a fourth embodiment;

【図15】図15は、本発明の第5の実施の形態におけ
る積分及びセンサデータ読み出しのシーケンスを示すタ
イミングチャートである。
FIG. 15 is a timing chart showing a sequence of integration and reading of sensor data according to a fifth embodiment of the present invention.

【図16】図16は、本発明の第6の実施の形態による
測距シーケンスの手順を示すフローチャートである。
FIG. 16 is a flowchart illustrating a procedure of a distance measurement sequence according to the sixth embodiment of the present invention.

【図17】図17は、本発明の第7の実施の形態による
カメラシーケンスの手順を示すフローチャートである。
FIG. 17 is a flowchart showing a camera sequence procedure according to the seventh embodiment of the present invention.

【図18】図18は、本発明の第8の実施の形態による
カメラの測距装置の構成を示すブロック図である。
FIG. 18 is a block diagram showing a configuration of a camera distance measuring apparatus according to an eighth embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101a,101b…受光レンズ、 102a,102b…一対のラインセンサ、 103…積分制御手段としての積分制御回路、 104…アナログ/デジタル(A/D)変換回路、 105…CPU、 106…定常光除去手段としての定常光除去回路、 107…投光手段、 110…フォトダイオード、 111…転送用トランジスタ、 SW1,SW2,SW3…スイッチ、 112…反転増幅器、 C1,C2,C3,C4…容量素子、 113…反転増幅器、 VS1…反転増幅回路の入力、 VS2…反転増幅回路の出力、 IPD…定常光に応じた光電流、 ΔIPD…誤差成分、 IPDS …信号光成分、 RESET…積分開始制御信号、 EXTEND…積分停止制御信号、 INTCLK…アクティブモード積分制御信号、 RWCLK…センサデータ読み出し制御信号、 MDATA…モニタセンサの積分データ出力、 801a,801b…受光レンズ、 802a,802b…一対のエリアセンサ、 803…積分制御回路、 804…アナログ/デジタル(A/D)変換回路、 805…CPU、 806…定常光除去回路、 807…投光手段。101a, 101b: light receiving lens, 102a, 102b: pair of line sensors, 103: integration control circuit as integration control means, 104: analog / digital (A / D) conversion circuit, 105: CPU, 106: stationary light removal means 107: Light emitting means, 110: Photodiode, 111: Transfer transistor, SW1, SW2, SW3: Switch, 112: Inverting amplifier, C1, C2, C3, C4: Capacitance element, 113: inverting amplifier, VS1 ... input of the inverting amplifier circuit, VS2 ... output of the inverting amplifier circuit, photocurrent corresponding to the I PD ... stationary light, [Delta] I PD ... error component, I PDS ... signal light component, RESET ... integration start control signal, EXTEND: integration stop control signal, INTCLK: active mode integration control signal, RWCLK: sensor data Readout control signal, MDATA ... Integrated data output of monitor sensor, 801a, 801b ... Light receiving lens, 802a, 802b ... A pair of area sensors, 803 ... Integration control circuit, 804 ... Analog / digital (A / D) conversion circuit, 805 ... CPU, 806: steady light removing circuit, 807: light emitting means.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G03B 13/36 G03B 3/00 A Fターム(参考) 2F112 AA08 AA09 BA07 BA10 CA02 DA05 EA05 FA03 FA07 FA21 FA25 FA29 FA45 2H011 AA01 BA05 BA14 BB04 BB05 CA28 2H051 BB07 BB20 CB20 CD01 CE06 CE08 CE21 DA02 DA11 GB12 5J084 AA05 AB07 AC08 AD07 BA39 BB01 CA44 CA49 EA04 EA11──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) G03B 13/36 G03B 3/00 A F term (Reference) 2F112 AA08 AA09 BA07 BA10 CA02 DA05 EA05 FA03 FA07 FA21 FA25 FA29 FA45 2H011 AA01 BA05 BA14 BB04 BB05 CA28 2H051 BB07 BB20 CB20 CD01 CE06 CE08 CE21 DA02 DA11 GB12 5J084 AA05 AB07 AC08 AD07 BA39 BB01 CA44 CA49 EA04 EA11

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被写体に測距用光を投光する投光手段
と、 前記被写体からの測距用光の反射信号光を受光する複数
のセンサよりなる受光手段と、 前記測距用光の非投光状態における前記受光手段の複数
のセンサからの出力データを記憶する記憶手段とを具備
し、 前記記憶手段に記憶された前記測距用光の非投光状態に
おける前記受光手段の複数のセンサからの出力データに
基づいて、前記測距用光の投光状態における前記受光手
段の複数のセンサからの出力データを補正することを特
徴とするの測距装置。
1. A light projecting means for projecting light for distance measurement to a subject, a light receiving means comprising a plurality of sensors for receiving reflected signal light of the light for distance measurement from the subject, Storage means for storing output data from a plurality of sensors of the light receiving means in a non-light emitting state, wherein a plurality of the light receiving means in the non-light emitting state of the distance measuring light stored in the storage means are provided. A distance measuring device for correcting output data from a plurality of sensors of the light receiving means in a light projection state of the distance measuring light based on output data from the sensor.
【請求項2】 前記受光手段の複数のセンサに対する積
分制御を行なう積分制御手段と、 前記受光手段の複数のセンサに定常的に入射する光成分
を除去する定常光除去手段と、 前記受光手段の複数のセンサから出力される被写体像デ
ータの読み出しを行う読み出し手段と、 前記読み出し手段によって読み出された被写体像データ
に基づいて被写体距離に応じたデータを演算する演算手
段とを、さらに、具備し、 前記投光手段から前記被写体に向けて前記測距用光を投
光し、前記定常光除去手段によって被写体からの定常光
成分の除去を行い、前記積分制御手段によって前記被写
体からの測距用光成分のみを積分する積分動作を複数回
繰り返してを行うアクティブモード積分と、前記被写体
からの定常光成分の積分を行うパッシブモード積分との
二つの積分モードを実行可能とすることを特徴とする請
求項1に記載の測距装置。
2. An integral control means for performing integral control on a plurality of sensors of the light receiving means, a steady light removing means for removing light components constantly incident on the plurality of sensors of the light receiving means, A reading unit that reads subject image data output from the plurality of sensors; and a computing unit that computes data corresponding to a subject distance based on the subject image data read by the reading unit. Projecting the distance-measuring light from the light projecting means toward the subject, removing the steady light component from the subject by the steady light removing means, and measuring the distance from the subject by the integration control means. Active mode integration in which the integration operation for integrating only the light component is repeated a plurality of times, and passive mode integration in which the steady light component from the subject is integrated Distance measuring apparatus according to claim 1, characterized in that a viable two integration modes.
【請求項3】 前記測距用光の非投光状態において、前
記積分制御手段によってアクティブモード積分を行った
ときに前記受光手段の複数のセンサから出力される被写
体像データによって、前記測距用光の投光状態におい
て、前記積分制御手段によってアクティブモード積分を
行ったときに前記受光手段の複数のセンサから出力され
る被写体像データを補正することを特徴とする請求項2
に記載の測距装置。
3. In the non-light emitting state of the distance measuring light, the distance measuring light is obtained by subject image data output from a plurality of sensors of the light receiving means when the integration control means performs active mode integration. 3. An object image data output from a plurality of sensors of said light receiving means when active mode integration is performed by said integration control means in a light projection state.
3. The distance measuring device according to 1.
【請求項4】 前記測距用光の投光状態において、前記
積分制御手段によってアクティブモード積分を行ったと
きのアクティブモード積分動作の繰り返し回数と、同じ
回数だけ、前記測距用光の非投光状態において、前記積
分制御手段によってアクティブモード積分動作を行うこ
とによって得られる前記受光手段の複数のセンサからの
被写体像データによって、前記測距用光の投光状態にお
いて得られる前記受光手段の複数のセンサからの被写体
像データを補正することを特徴とする請求項2に記載の
測距装置。
4. In the projection state of the distance measuring light, the non-projection of the distance measuring light is the same as the number of repetitions of the active mode integration operation when the integration control means performs the active mode integration. In the light state, a plurality of the light receiving means obtained in the light emitting state of the distance measuring light by subject image data from a plurality of sensors of the light receiving means obtained by performing an active mode integration operation by the integration control means. 3. The distance measuring apparatus according to claim 2, wherein subject image data from said sensor is corrected.
【請求項5】 前記測距用光の投光状態において、前記
積分制御手段によってアクティブモード積分を行ったと
きのアクティブモード積分動作中の1回の積分時間より
も短い時間で、前記測距用光の非投光状態において、前
記積分制御手段によってアクティブモード積分動作を行
うことによって得られる前記受光手段の複数のセンサか
らの被写体像データによって、前記測距用光の投光状態
において得られる前記受光手段の複数のセンサからの被
写体像データを補正することを特徴とする請求項2に記
載の測距装置。
5. In the projection state of the distance measurement light, the distance measurement is performed in a time shorter than one integration time during an active mode integration operation when the integration control means performs the active mode integration. In the light non-projecting state, the subject obtained in the projecting state of the distance measuring light by subject image data from a plurality of sensors of the light receiving unit obtained by performing an active mode integration operation by the integration control unit. 3. The distance measuring apparatus according to claim 2, wherein subject image data from a plurality of sensors of the light receiving means is corrected.
【請求項6】 前記測距用光の投光状態において、前記
積分制御手段によってアクティブモード積分を行ったと
きのアクティブモード積分動作時の前記受光手段の複数
のセンサの感度よりも、低い感度で前記測距用光の非投
光状態において、前記積分制御手段によってアクティブ
モード積分動作を行うことによって得られる前記受光手
段の複数のセンサからの被写体像データによって、前記
測距用光の投光状態において得られる前記受光手段の複
数のセンサからの被写体像データを補正することを特徴
とする請求項2に記載の測距装置。
6. In the projection state of the distance-measuring light, the sensitivity of the plurality of sensors of the light receiving unit is lower than that of the plurality of sensors in active mode integration operation when active mode integration is performed by the integration control unit. In the non-projection state of the distance-measuring light, the projection state of the distance-measuring light is determined by subject image data from a plurality of sensors of the light-receiving means obtained by performing an active mode integration operation by the integration control means. 3. The distance measuring apparatus according to claim 2, wherein the object image data obtained from the plurality of sensors of the light receiving means obtained in step (c) is corrected.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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