JP2002107128A - 形状測定装置 - Google Patents

形状測定装置

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JP2002107128A
JP2002107128A JP2000302385A JP2000302385A JP2002107128A JP 2002107128 A JP2002107128 A JP 2002107128A JP 2000302385 A JP2000302385 A JP 2000302385A JP 2000302385 A JP2000302385 A JP 2000302385A JP 2002107128 A JP2002107128 A JP 2002107128A
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slit light
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JP2000302385A
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Hideto Fujita
日出人 藤田
Hiroshi Kano
浩 蚊野
Hiroaki Yoshida
博明 吉田
Shinpei Fukumoto
晋平 福本
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Sanyo Electric Co Ltd
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Sanyo Electric Co Ltd
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Footwear And Its Accessory, Manufacturing Method And Apparatuses (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 この発明は、被測定物の3次元形状を光切断
法によって測定した際に、被測定物の特定の部位の位置
をも検出することが可能となる部位特定用マーカを提供
することを目的とする。 【解決手段】 被測定物に対してスリット光を投影し被
測定物に投影されたスリット光を撮像素子で観察するこ
とにより被測定物の形状を測定し、測定結果を、撮像素
子で観察されたスリット光の輝度に応じて色を変えて曲
線で表示するといった形状測定を行なう際に、被測定物
の所定の部位の位置を検出する目的で被測定物の所定の
部位に貼られる部位特定用マーカにおいて、シート状で
あり、中央部の外側面にスリット光を反射する色が塗ら
れており、中央部の周囲の外側面にスリット光を吸収す
る色が塗られている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、被測定物に対し
てスリット光を投影し被測定物に投影されたスリット光
を撮像素子で観察することにより被測定物の形状を測定
し、測定結果を、撮像素子で観察されたスリット光の輝
度に応じて色を変えて曲線で表示するといった形状測定
を行なう際に、被測定物の所定の部位の位置を検出する
目的で被測定物の所定の部位に貼られる部位特定用マー
カに関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、靴のサイズは通常かかとから指
先までの長さで表現されるが、人の足形状は、長さだけ
でなく、甲の高さ、足の幅など、個人により様々であ
る。一人一人の足の形状に応じた靴を作ろうとする場
合、足の3次元形状を測定することが必要となるが、現
状では、メジャーを使って足長、足幅、足位(足周り)
等の限られた部位の大きさを測定するにとどまってい
る。
【0003】一方、被測定物に対してスリット光を投影
し被測定物に投影されたスリット光を撮像素子で観察す
ることにより被測定物の形状を測定するといった、光切
断法によって、被測定物の3次元形状を測定する形状測
定装置が知られている。
【0004】ところで、足形状に応じた靴を製造する際
には、アーチ高、足の甲位置等を測定する必要がある。
【0005】アーチ高は、たとえば、足が置かれた床面
から舟状骨(Navicular) までの高さとして計測され
る。足の甲位置は、たとえば、足が置かれた床面から第
1楔状骨(Cuneiform)までの高さとして計測される。
【0006】したがって、アーチ高、足の甲位置等を計
測するためには、舟状骨、第1楔状骨等の位置を測定す
る必要がある。しかしながら、舟状骨、第1楔状骨等の
位置は、触覚によって認識できるものであるため、足の
3次元形状の測定結果からこれらの位置を特定すること
はできない。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】この発明は、被測定物
の3次元形状を光切断法によって測定した際に、被測定
物の特定の部位の位置をも検出することが可能となる部
位特定用マーカを提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明による部位特定
用マーカは、被測定物に対してスリット光を投影し被測
定物に投影されたスリット光を撮像素子で観察すること
により被測定物の形状を測定し、測定結果を、撮像素子
で観察されたスリット光の輝度に応じて色を変えて曲線
で表示するといった形状測定を行なう際に、被測定物の
所定の部位の位置を検出する目的で被測定物の所定の部
位に貼られる部位特定用マーカにおいて、シート状であ
り、中央部の外側面にスリット光を反射する色が塗られ
ており、中央部の周囲の外側面にスリット光を吸収する
色が塗られていることを特徴とする。なお、「撮像素子
で観察されたスリット光の輝度に応じて色を変えて曲線
で表示する」における「曲線」は実際は点群によって形
成される。
【0009】部位特定用マーカの中央部の中心位置に孔
を形成することが好ましい。あるいは、部位特定用マー
カの中央部の中心位置に突起を形成してもよい。あるい
は、部位特定用マーカの中央部の中心位置に突起部材を
固着してもよい。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の実施の形態について説明する。
【0011】〔A〕形状測定装置についての説明
【0012】〔A−1〕 形状測定装置の概略構成の説
【0013】図1は、形状測定装置の概略構成を示して
いる。
【0014】測定台201には、長円形状のガイドレー
ル204が固定されており、そのガイドレール204で
囲まれる領域に被測定物としての足100が載せられて
いる。また、台201には、台201に対して脱着可能
な支柱202が取り付けられており、その上部には、水
平バー203が取り付けられている。
【0015】形状測定装置は、測定者によってガイドレ
ール204上を移動せしめられる測定ヘッド10と、水
平バー203の両端部に取り付けられたステレオカメラ
21、22と、それらの制御、各種演算等を行うパーソ
ナルコンピュータからなる制御装置30とを備えてい
る。各ステレオカメラ21、22の撮像レンズには、図
2に示す測定ヘッドマーカ14が放つ光の周波数帯を選
択的に透過するバンドパスフィルタ23が取り付けられ
ている。
【0016】〔A−2〕測定ヘッドの概略構成の説明
【0017】図2は、測定ヘッド10の概略構成を示し
ている。
【0018】測定ヘッド10は、直方体状で前方開口の
ケーシング11と、ケーシング11内に収納された1台
のCCDカメラ12及びスリット光源13と、ケーシン
グ11の上面に設けられた6つのLED光源14a〜1
4fからなる測定ヘッドマーカ14とを備えている。ス
リット光源13としては、半導体レーザが用いられてい
る。
【0019】測定ヘッドマーカ14を構成する6つのL
ED光源14a〜14fは、測定ヘッド10の方向を特
定するために、点対称な配置とせず、測定ヘッド10の
中心線に対し線対称な配置となっている。ここでは、ケ
ーシング11の上面にLED光源11b、11c、11
d、11e、11fの5点が長方形をなすように配置さ
れ、それら5点の重心にLED光源11aが配置され
る。
【0020】なお、3次元空間中での測定ヘッド10の
位置及び方向を測定するためには、測定ヘッドマーカと
して少なくとも3個のLED光源があれば十分である
が、4個以上のLED光源を用いることにより、測定ヘ
ッド10の位置及び方向の測定精度が最小2乗的に向上
する。
【0021】測定ヘッド10は、図示しない支持機構に
よって、ガイドレール204に沿って移動可能に取り付
けられている。また、測定ヘッド10は、ガイドレール
204上における所定位置を基準とした測定ヘッド10
の位置を検出するためのエンコーダ16を備えている。
エンコーダ16の出力は、制御装置30に入力される。
【0022】〔A−3〕形状測定装置の測定原理の説明
【0023】図3は、形状測定装置の測定原理を示して
いる。
【0024】測定者によってガイドレール204上を移
動せしめられる測定ヘッド10を用いてある測定点Aの
座標を測定する。測定された座標を測定ヘッド中心の座
標系(以下、カメラ座標系という)における座標(X
c,Yc,Zc)で表す。この座標系は、測定ヘッド1
0の移動とともに移動する座標系である。
【0025】一方、被測定物100の形状は、固定した
座標系で表され、この座標系をワールド座標と呼ぶ。測
定ヘッド10によって測定された測定点のワールド座標
系における座標を(Xw,Yw,Zw)とする。被測定
物100の形状はワールド座標系で記述する必要がある
ため、測定ヘッド10によって測定された測定点Aの測
定ヘッド中心の座標系における座標(Xc,Yc,Z
c)を、ワールド座標系に変換する。この変換は、測定
ヘッド10の移動を表す回転行列Rと並進ベクトルtと
を用いて、次の数式1に基づいて行われる。
【0026】
【数1】
【0027】したがって、ワールド座標系における測定
ヘッド10の位置及び方向を、回転行列Rと並進ベクト
ルtとして求めることで、測定ヘッド中心の座標系にお
ける座標(Xc,Yc,Zc)を、ワールド座標系の座
標(Xw,Yw,Zw)に変換することができる。
【0028】〔A−4〕 形状測定装置による形状測定
処理手順の説明
【0029】この形状測定装置による形状測定は、次の
ような処理手順によって実行される。
【0030】まず、実際の形状測定を行う前に、事前処
理を行う。
【0031】(1)第1ステップ(事前処理):ワール
ド座標系における測定ヘッド10の各測定位置に関する
情報を、測定ヘッド10の各測定位置におけるエンコー
ダ16の出力値と対応付けて、制御装置30に搭載され
たメモリ(図示省略)に格納する。
【0032】事前処理の後に以下の第2ステップおよび
第3ステップからなる形状測定処理を行なう。形状測定
処理は、ステレオカメラ21、22を支持する支柱20
2を測定台201から取り外して行なうことができる。
【0033】(2)第2ステップ:ステレオカメラ2
1、22を支持する支柱202を測定台201から取り
外した後、測定ヘッド10を用いて、カメラ座標系にお
ける被測定物100上の測定点の座標を求める。
【0034】(3)第3ステップ:ワールド座標系にお
ける測定ヘッド10の位置に関する情報に基づいて、カ
メラ座標系における被測定物上の測定点の座標を、ワー
ルド座標系における座標に変換する。
【0035】以下、これら各ステップについて説明す
る。
【0036】〔A−5〕第1ステップの説明
【0037】図4は、第1ステップの処理手順を説明す
るフローチャートである。
【0038】まず、測定ヘッド10をガイドレール20
4の基準位置に配置して(ステップ1)、その位置にお
けるエンコーダ16の出力値を制御装置30のメモリに
格納する(ステップ2)。
【0039】次に、測定ヘッド10に設けられたマーカ
14のワールド座標系における座標を、ステレオカメラ
21、22によって測定する。この位置測定方法は、ス
テレオ法としてよく知られているため、その説明を省略
する(ステップ3)。
【0040】次に、マーカ14を構成する各LED光源
14a〜14fのカメラ座標系の座標をそれぞれ(Xc
i,Yci,Zci)とし、また、ステレオカメラ2
1、22によって測定された各LED光源14a〜14
fのワールド座標系における座標をそれぞれ(Xwi,
Ywi,Zwi)とする。但し、iは、1、2…6であ
る。各LED光源14a〜14fのカメラ座標系の各座
標(Xci,Yci,Zci)は、既知である。
【0041】測定ヘッド10の移動を表す回転行列Rと
並進ベクトルtを、次の数式2を満足する行列Rとベク
トルtとして求める(ステップ4)。そして、求めた行
列Rとベクトルtとを、先にメモリに格納しておいたエ
ンコーダ16の出力値と対応付けてメモリに格納する
(ステップ5)。
【0042】
【数2】
【0043】そして、測定ヘッド10をガイドレール2
04に沿って移動させ、全ての測定位置について上述し
たステップ2〜5の処理を繰り返す(ステップ6、
7)。これにより、エンコーダ16の出力値とその位置
における回転行列R及び並進ベクトルtを対応付けたテ
ーブルデータが生成され、制御装置30のメモリに格納
される。
【0044】〔A−6〕第2ステップについての説明
【0045】図5は測定ヘッド10による測定点の位置
測定方法を示している。
【0046】図5に示すように、カメラ座標系とは、C
CDカメラ12の光学中心を原点とし、光軸方向をZc
軸、CCDカメラ12の水平方向をXc軸、CCDカメ
ラ12の垂直方向をYc軸とする座標系である。CCD
カメラ12の画像面Sは、原点から焦点距離fの位置に
存在する。つまり、画像面Sは、Xc−Yc平面に平行
でかつZc=fである平面である。
【0047】測定ヘッド10による位置計測方法自体
は、光切断法と呼ばれる公知の測定方法である。被測定
物100の表面上におけるスリット光源13からのスリ
ット光が照射されている線上の所定の点を測定点Aとす
る。
【0048】この測定点Aのカメラ座標系での座標を
(Xc,Yc,Zc)とし、画像面S上での測定点Aに
対応する観察点A´の座標を(Xs,Ys,f)とし、
スリット光を表す平面の方程式をAL Xc+BL Yc+
L Zc+DL =0とする。観察点A´の座標(Xs,
Ys,f)におけるfは、CCDカメラ12の焦点距離
として既知であり、(Xs,Ys)は画像面で観察され
るスリット光の画素位置から求められる。
【0049】スリット光を表す平面の方程式は測定ヘッ
ド10の校正によって求められている。したがって、X
c,Yc,Zc,αを未知数とする次の数式3で表され
る連立方程式を解くことにより、(Xc,Yc,Zc)
が求められる。
【0050】
【数3】
【0051】この処理は、CCDカメラ12の出力に基
づいて、制御装置30によって行われる。
【0052】〔7〕第3ステップについての説明
【0053】第3ステップでは、まず、エンコーダ16
の出力に基づいて、制御装置30のメモリから対応する
回転行列Rと並進ベクトルtが読み出される。
【0054】次に、得られた回転行列Rと並進ベクトル
tとに基づいて、第3ステップで求めたカメラ座標系に
おける足100上の測定点の座標(Xc,Yc,Zc)
を、ワールド座標系の座標(Xw,Yw,Zw)に変換
する。
【0055】そして、測定ヘッド10をガイドレール2
04に沿って移動させながら、ガイドレール204上に
おける全ての観察位置について、第2ステップ及び第4
ステップの処理を繰り返すことにより、その都度得られ
る測定点のワールド座標系における座標(Xw,Yw,
Zw)の集合として、足100の形状が求められる。
【0056】なお、求められた足の3次元形状は、図6
に示すように、足の3次元形状に沿った複数の曲線によ
って制御装置30のモニタ上に表示される。上記形状測
定装置では、足の3次元形状を表す各曲線は、第2ステ
ップによってその曲線に対応するスリット光が検出され
た際の、当該スリット光の輝度に応じて色を変えてカラ
ー表示される。また、足の3次元形状を表す各曲線の幅
は、第2ステップによってその曲線に対応するスリット
光が検出された際の、当該スリット光の幅に応じた幅で
表示される。
【0057】〔B〕被測定物の所定箇所を表示させるた
めのマーカ(以下、部位特定用マーカという)について
の説明
【0058】従来技術において説明したように、足形状
に応じた靴を製造する際には、アーチ高、足の甲位置等
を測定する必要がある。アーチ高は、たとえば、足が置
かれた床面から舟状骨(Navicular) までの高さとして
計測される。足の甲位置は、たとえば、足が置かれた床
面から第1楔状骨(Cuneiform)までの高さとして計測さ
れる。
【0059】したがって、形状測定結果からアーチ高、
足の甲位置等を測定するためには、舟状骨、第1楔状骨
等の位置が、足の3次元形状が表示された画像上で認識
できるようにする必要がある。
【0060】そこで、被測定物である足の舟状骨、第1
楔状骨等の位置に、部位特定用マーカを貼った状態で、
形状測定を行なうことが考えられる。部位特定用マーカ
として、シート状の円形マーカを用いる場合を想定す
る。
【0061】形状測定を行なう場合には、被測定物の足
に靴下を履いた状態で行なう場合と、靴下を履かずに行
なう場合とがある。いずれにしても、部位特定用マーカ
の色が1色である場合には、地の色(肌色または靴下の
色)と同じであれば、部位特定用マーカが抽出されない
という問題がある。また、マーカの色として、測定ヘッ
ド10から照射されるスリット光を吸収するような濃い
色を用いた場合には、マーカが抽出されないという問題
がある。
【0062】そこで、この実施の形態では、以下のよう
な部位特定用マーカを使用することにする。
【0063】〔B−1〕第1の部位特定用マーカの具体
例についての説明
【0064】図7および図8は、第1の部位特定用マー
カ300を示している。
【0065】この部位特定用マーカ300は、円形のシ
ート状であり、中央部の円形領域300aと、円形領域
300aの周囲の環状領域300bとからなる。円形領
域300aの外側面には、スリット光を反射する色が塗
られている。環状領域300bの外側面には、スリット
光を吸収する色が塗られている。部位特定用マーカ30
0の内側面には、足にマーカを貼着できるように貼着部
材が塗布されている。
【0066】図6の曲線のピッチ(計測ピッチ)を4.
2mmとすると、部位特定用マーカ300の直径は、た
とえば、15mmに、円形領域300aの直径は例え
ば、8mmに設定される。
【0067】測定ヘッド10から照射されるスリット光
が、たとえば、赤色レーザ光である場合には、円形領域
300aの外側面には、赤色レーザ光を反射する色、た
とえば、白色、赤色等が塗られる。また、環状部300
bの外側面には、赤色レーザ光を吸収する色、たとえ
ば、青、黒等が塗られる。
【0068】したがって、測定ヘッド10から照射され
るスリット光が、たとえば、赤色レーザ光である場合に
は、円形領域300aの外側面の色と環状部300bの
外側面の色の組合わせとしては、以下のような組み合わ
せがある。
【0069】(1)円形領域300aの外側面の色が白
で、環状部300bの外側面の色が黒 (2)円形領域300aの外側面の色が白で、環状部3
00bの外側面の色が青 (3)円形領域300aの外側面の色が赤で、環状部3
00bの外側面の色が黒 (4)円形領域300aの外側面の色が赤で、環状部3
00bの外側面の色が青
【0070】このように、中央部(円形領域300a)
の外側面にスリット光を反射する色が塗られ、周囲部
(環状領域300b)の外側面にスリット光を吸収する
色が塗られた部位特定用マーカを用いると、周囲部(環
状領域300b)は形状測定時において抽出されず、中
央部(円形領域300a)は形状測定時において抽出さ
れるので、測定結果の表示画面上で、部位特定用マーカ
の中央部(円形領域300a)と周囲部(環状領域30
0b)との境界が認識できるようになる。このため、測
定結果の表示画面上で部位特定用マーカの位置、つま
り、特定部位の位置を検出することが可能となる。
【0071】〔B−2〕第2の部位特定用マーカの具体
例についての説明
【0072】被測定物である特定の部位(舟状骨、第1
楔状骨等)に部位特定用マーカを正確に貼るためには、
つまり、部位特定用マーカの中心が特定の部位の真上に
位置するように貼るためには、部位特定用マーカを小さ
くすることが好ましいが、計測ピッチ等の関係で、部位
特定用マーカを小さくすることは困難である。
【0073】第2の部位特定用マーカは、特定の部位に
部位特定用マーカを正確に貼るための工夫が施されてい
る。つまり、第2の部位特定用マーカ301は、図9お
よび図10に示すように、第1の部位特定用マーカ30
0と同様なマーカの中央部(円形領域300a)の中心
部に、指の触覚で認識できるような孔300cが形成さ
れている。
【0074】〔B−3〕第3の部位特定用マーカの具体
例についての説明
【0075】図11および図12は、第3の部位特定用
マーカ302を示している。第3の部位特定用マーカ3
02においても、第2の部位特定用マーカ301と同様
に、特定の部位に部位特定用マーカを正確に貼るための
工夫が施されている。つまり、第3の部位特定用マーカ
302は、第1の部位特定用マーカ300と同様なマー
カの中央部(円形領域300a)の中心部に、指の触覚
で認識できるような突起300dが形成されている。こ
の突起300dは、たとえば、点字を形成する際に用い
られるエンボス加工によって形成される。
【0076】〔B−4〕第4の部位特定用マーカの具体
例についての説明
【0077】図13および図14は、第4の部位特定用
マーカ303を示している。
【0078】第4の部位特定用マーカ303は、第3の
部位特定用マーカ302の突起300dの代わりに、マ
ーカの中央部(円形領域300a)の中心部に、指の触
覚で認識できるような突起部材300eが固着されてい
る。
【0079】
【発明の効果】この発明によれば、被測定物の3次元形
状を光切断法によって測定した際に、被測定物の特定の
部位の位置をも検出することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】形状測定装置の外観を表す斜視図である。
【図2】測定ヘッドを示す斜視図である。
【図3】測定原理を説明する説明図である。
【図4】第1ステップにおける処理手順を説明するフロ
ーチャートである。
【図5】測定ヘッドによる測定点の位置測定方法を説明
する説明図である。
【図6】形状測定装置によって得られた足の3次元形状
の表示例を示す模式図である。
【図7】第1の部位特定用マーカ300を示す平面図で
ある。
【図8】第1の部位特定用マーカ300を示す側面図で
ある。
【図9】第2の部位特定用マーカ301を示す平面図で
ある。
【図10】図9のX-X 線に沿う断面図である。
【図11】第3の部位特定用マーカ302を示す平面図
である。
【図12】図11のXII −XII に沿う断面図である。
【図13】第4の部位特定用マーカ303を示す平面図
である。
【図14】第4の部位特定用マーカ303を示す側面図
である。
【符号の説明】
10 測定ヘッド 12 CCDカメラ 13 スリット光源 14 マーカ 16 エンコーダ 21 ステレオカメラ 22 ステレオカメラ 201 測定台 204 ガイドレール 300、301、302、303 部位特定用マーカ 300a 円形領域 300b 環状領域 300c 孔 300d 突起 300e 突起部材
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉田 博明 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 福本 晋平 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 Fターム(参考) 2F065 AA53 BB28 CC16 FF01 FF02 FF05 FF09 FF15 FF46 GG06 GG07 GG25 HH05 JJ03 JJ05 JJ26 MM09 QQ23 SS13 4F050 AA01 AA06 LA01 NA88

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定物に対してスリット光を投影し被
    測定物に投影されたスリット光を撮像素子で観察するこ
    とにより被測定物の形状を測定し、測定結果を、撮像素
    子で観察されたスリット光の輝度に応じて色を変えて曲
    線で表示するといった形状測定を行なう際に、被測定物
    の所定の部位の位置を検出する目的で被測定物の所定の
    部位に貼られる部位特定用マーカにおいて、 シート状であり、中央部の外側面にスリット光を反射す
    る色が塗られており、中央部の周囲の外側面にスリット
    光を吸収する色が塗られていることを特徴とする部位特
    定用マーカ。
  2. 【請求項2】 中央部の中心位置に孔が形成されている
    ことを特徴とする請求項1に記載の部位特定用マーカ。
  3. 【請求項3】 中央部の中心位置に突起が形成されてい
    ることを特徴とする請求項1に記載の部位特定用マー
    カ。
  4. 【請求項4】 中央部の中心位置に突起部材が固着され
    ていることを特徴とする請求項1に記載の部位特定用マ
    ーカ。
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