JP2002093293A - 断路器用真空バルブ - Google Patents
断路器用真空バルブInfo
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- JP2002093293A JP2002093293A JP2000282569A JP2000282569A JP2002093293A JP 2002093293 A JP2002093293 A JP 2002093293A JP 2000282569 A JP2000282569 A JP 2000282569A JP 2000282569 A JP2000282569 A JP 2000282569A JP 2002093293 A JP2002093293 A JP 2002093293A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】SF6ガスの使用量を抑制して環境に調和し
た、構造が簡単でかつ絶縁の信頼性の高い断路器用真空
バルブを得ること。 【解決手段】絶縁容器21の両端が金属部材22,23a,23bで
気密に封着されてなる真空容器の内部に、一方の金属部
材22を貫通する固定通電軸25に固着された固定側接点24
を設け、他方の金属部材23a,23bを貫通する可動通電軸2
7をベローズ20を介して固着すると共に、可動通電軸27
に固着された可動側接点26を固定側接点24と対向するよ
うに配置し、可動側接点26、固定側接点24の直径よりも
内径が大きなリング状の第3の電極28を、固定側接点24
と可動側接点26との中間に設け、第3の電極28の両端の
固定側接点24と可動側接点26との対向部に、突出部28a,
28bを設ける。
た、構造が簡単でかつ絶縁の信頼性の高い断路器用真空
バルブを得ること。 【解決手段】絶縁容器21の両端が金属部材22,23a,23bで
気密に封着されてなる真空容器の内部に、一方の金属部
材22を貫通する固定通電軸25に固着された固定側接点24
を設け、他方の金属部材23a,23bを貫通する可動通電軸2
7をベローズ20を介して固着すると共に、可動通電軸27
に固着された可動側接点26を固定側接点24と対向するよ
うに配置し、可動側接点26、固定側接点24の直径よりも
内径が大きなリング状の第3の電極28を、固定側接点24
と可動側接点26との中間に設け、第3の電極28の両端の
固定側接点24と可動側接点26との対向部に、突出部28a,
28bを設ける。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、真空開閉装置に係
り、特にSF6ガスの使用量を抑制して環境に調和し
た、構造が簡単でかつ絶縁の信頼性の高い断路器用真空
バルブに関するものである。
り、特にSF6ガスの使用量を抑制して環境に調和し
た、構造が簡単でかつ絶縁の信頼性の高い断路器用真空
バルブに関するものである。
【0002】
【従来の技術】この種の従来の開閉装置について、22
/33kv、66/77kvクラスの特高変電設備を例
にとって説明する。
/33kv、66/77kvクラスの特高変電設備を例
にとって説明する。
【0003】このクラスの開閉装置は、建設費、用地の
高騰と共に、充電部汚損、安全性、および騒音等の問題
から、開閉装置の小形化や密閉化が要求され、例えばガ
ス絶縁式開閉装置(GIS:Gas Insu1ated Switchgea
r)や、キュービクル形ガス絶縁開閉装置(C−GIS:
Cubic1e type GIS)が開発されてきている。
高騰と共に、充電部汚損、安全性、および騒音等の問題
から、開閉装置の小形化や密閉化が要求され、例えばガ
ス絶縁式開閉装置(GIS:Gas Insu1ated Switchgea
r)や、キュービクル形ガス絶縁開閉装置(C−GIS:
Cubic1e type GIS)が開発されてきている。
【0004】このうち、GISは、各電気機器をパイプ
状の金属容器で覆い、絶縁媒体として高圧のSF6ガス
を封入し、小形化、密閉化した開閉装置である。
状の金属容器で覆い、絶縁媒体として高圧のSF6ガス
を封入し、小形化、密閉化した開閉装置である。
【0005】これに対して、C−GISは、GISに対
して、より高い信頼性、安全性、保守・点検の簡素化と
同時に、狭い用地に短期問で建設することができ、かつ
周囲との環境に調和させる要請にも対応すべく開発され
た開閉装置である。
して、より高い信頼性、安全性、保守・点検の簡素化と
同時に、狭い用地に短期問で建設することができ、かつ
周囲との環境に調和させる要請にも対応すべく開発され
た開閉装置である。
【0006】これは、大気圧近傍の低圧力絶縁ガスを利
用したキュービクル形の容器に、各電気機器を一括して
収納し、内部を構成単位毎に区分したものであり、他の
閉鎖配電盤と同様の外観である。
用したキュービクル形の容器に、各電気機器を一括して
収納し、内部を構成単位毎に区分したものであり、他の
閉鎖配電盤と同様の外観である。
【0007】このように、最近では、SF6ガスを絶縁
媒体として用いた開閉装置が、多数運転されるようにな
ってきている。
媒体として用いた開閉装置が、多数運転されるようにな
ってきている。
【0008】図11は、この種の従来の代表的なキュー
ビクル形ガス絶縁開閉装置の構成例を示す縦断面図であ
る。
ビクル形ガス絶縁開閉装置の構成例を示す縦断面図であ
る。
【0009】図11において、外周を軟鋼板で気密に囲
まれた箱体1の内部は、SF6ガス2が密封されてお
り、受電室1a、遮断器室1bおよび母線室1cにガス
区分されている。
まれた箱体1の内部は、SF6ガス2が密封されてお
り、受電室1a、遮断器室1bおよび母線室1cにガス
区分されている。
【0010】受電室1aには、ガス−気中の区分をした
ケーブルヘッド3が、箱1の側面に取り付けられ、避雷
器4および検電がいし5が収納され、それぞれが接続導
体7で接続されている。
ケーブルヘッド3が、箱1の側面に取り付けられ、避雷
器4および検電がいし5が収納され、それぞれが接続導
体7で接続されている。
【0011】なお、ケーブル9には、変流器8を貫通し
た電力用ケーブル9が接続されている。
た電力用ケーブル9が接続されている。
【0012】また、遮断器室1bには、受電室1aとガ
ス区分される下段の絶縁スペーサ10aを介して、図示
しない真空バルブを収納した遮断器11が収納され、こ
の遮断器11は接続導体7を介して母線室1cとガス区
分される上段の絶縁スペーサ10bに接続されている。
ス区分される下段の絶縁スペーサ10aを介して、図示
しない真空バルブを収納した遮断器11が収納され、こ
の遮断器11は接続導体7を介して母線室1cとガス区
分される上段の絶縁スペーサ10bに接続されている。
【0013】遮断器11は、絶縁・消弧媒体として高真
空を用いている。
空を用いている。
【0014】また、断路器6は、絶縁・消弧媒体として
SF6ガスを用いている。
SF6ガスを用いている。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
構成のキュービクル形ガス絶縁開閉装置において、断路
器6は、絶縁・消弧媒体としてSF6ガスを用いてい
る。
構成のキュービクル形ガス絶縁開閉装置において、断路
器6は、絶縁・消弧媒体としてSF6ガスを用いてい
る。
【0016】このSF6ガスは、空気と比較して、約1
00倍の消弧性能と約3倍の絶縁性能を持つことが知ら
れている。
00倍の消弧性能と約3倍の絶縁性能を持つことが知ら
れている。
【0017】このSF6ガスは、通常の運転状態では、
無色、無臭、無味、不燃性の非常に安定した気体であ
り、しかも無毒である。
無色、無臭、無味、不燃性の非常に安定した気体であ
り、しかも無毒である。
【0018】しかしながら、SF6ガス中でアーク放電
が発生すると、SF6ガスは、SOF 2、SO2、SO2F
2、SOF4、HF、SiF4等の分解生成物や、分解ガ
スを発生する。
が発生すると、SF6ガスは、SOF 2、SO2、SO2F
2、SOF4、HF、SiF4等の分解生成物や、分解ガ
スを発生する。
【0019】そして、このSF6ガスの分解生成物や分
解ガスは、毒性が強いため、分解したガスを回収する場
合に、特別な処理や管理が必要になる。
解ガスは、毒性が強いため、分解したガスを回収する場
合に、特別な処理や管理が必要になる。
【0020】事故電流等の遮断は、遮断器11で行なう
ため、分解生成物や分解ガスの発生はないが、変電所内
の母線切替えや線路切替えは、断路器6で行なう。
ため、分解生成物や分解ガスの発生はないが、変電所内
の母線切替えや線路切替えは、断路器6で行なう。
【0021】従って、断路器6には、ループ電流の遮断
責務が要求される。このループ電流は、定格電流に近い
電流値となり、その際に断路器6で分解生成物や分解ガ
スを発生する。
責務が要求される。このループ電流は、定格電流に近い
電流値となり、その際に断路器6で分解生成物や分解ガ
スを発生する。
【0022】そして、このような断路器6のガスを回収
する場合、吸着材を通して回収する等、取扱いに苦慮し
ている。
する場合、吸着材を通して回収する等、取扱いに苦慮し
ている。
【0023】また、SF6ガスは、地球温暖化の原因と
なる温室効果ガスであり、温室効果係数が二酸化炭素の
24000倍である。
なる温室効果ガスであり、温室効果係数が二酸化炭素の
24000倍である。
【0024】そのため、1997年12月に京都で開催
された“第3回気候変動に関する国際連合枠組み条約締
約国会議(CPO3)”において、SF6ガスも削減対
象ガスとして加えられ、排出の抑制と削減についての対
応が要求されてきている。
された“第3回気候変動に関する国際連合枠組み条約締
約国会議(CPO3)”において、SF6ガスも削減対
象ガスとして加えられ、排出の抑制と削減についての対
応が要求されてきている。
【0025】このように環境の面からも、断路器6の絶
縁・消弧媒体として、SF6ガスを使用しないようにす
るのが望ましい。
縁・消弧媒体として、SF6ガスを使用しないようにす
るのが望ましい。
【0026】そこで、断路器6の絶縁媒体を真空とした
真空断路器が考えられているが、絶縁媒体としての真空
は絶縁性能のばらつきが大きく、例えば絶縁性能のばら
つきを標準偏差で表わすと、SF6ガスが6〜7%に対
して、真空ギャップは通常10〜13%程度であるが、
開閉条件によっては18%程度に達することもある。
真空断路器が考えられているが、絶縁媒体としての真空
は絶縁性能のばらつきが大きく、例えば絶縁性能のばら
つきを標準偏差で表わすと、SF6ガスが6〜7%に対
して、真空ギャップは通常10〜13%程度であるが、
開閉条件によっては18%程度に達することもある。
【0027】そして、断路器6では、安全性の観点から
絶縁の信頼性が強く要求されているが、このように真空
を絶縁媒体として用いた断路器6では、絶縁性能のばら
つきが大きく、絶縁の信頼性に欠けるという問題点があ
る。
絶縁の信頼性が強く要求されているが、このように真空
を絶縁媒体として用いた断路器6では、絶縁性能のばら
つきが大きく、絶縁の信頼性に欠けるという問題点があ
る。
【0028】そのため、真空を断路器6の絶縁媒体とし
て用いる場合に、何らかの対策が求められている。
て用いる場合に、何らかの対策が求められている。
【0029】このような理由から、SF6ガスを使用し
ない開閉装置の実現が困難になっているのが実状であ
る。
ない開閉装置の実現が困難になっているのが実状であ
る。
【0030】本発明の目的は、SF6ガスの使用量を抑
制して環境に調和した、構造が簡単でかつ絶縁の信頼性
の高い断路器用真空バルブを提供することにある。
制して環境に調和した、構造が簡単でかつ絶縁の信頼性
の高い断路器用真空バルブを提供することにある。
【0031】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、請求項1に対応する発明の断路器用真空バルブ
は、絶縁容器の両端が金属部材で気密に封着されてなる
真空容器の内部に、一方の金属部材を貫通する固定通電
軸に固着された固定側接点を設け、他方の金属部材を貫
通する可動通電軸をベローズを介して固着すると共に、
可動通電軸に固着された可動側接点を固定側接点と対向
するように配置し、可動側接点、固定側接点の直径より
も内径が大きなリング状の第3の電極を、固定側接点と
可動側接点との中間に設け、第3の電極の両端の固定側
接点と可動側接点との対向部に、突出部を設けている。
めに、請求項1に対応する発明の断路器用真空バルブ
は、絶縁容器の両端が金属部材で気密に封着されてなる
真空容器の内部に、一方の金属部材を貫通する固定通電
軸に固着された固定側接点を設け、他方の金属部材を貫
通する可動通電軸をベローズを介して固着すると共に、
可動通電軸に固着された可動側接点を固定側接点と対向
するように配置し、可動側接点、固定側接点の直径より
も内径が大きなリング状の第3の電極を、固定側接点と
可動側接点との中間に設け、第3の電極の両端の固定側
接点と可動側接点との対向部に、突出部を設けている。
【0032】従って、請求項1に対応する発明の断路器
用真空バルブにおいては、可動側接点、固定側接点の直
径よりも内径が大きなリング状の第3の電極を、固定側
接点と可動側接点との中間に設け設けて2点ギャップに
することにより、低い電圧での破壊確率を低減すること
ができる。これにより、絶縁媒体として真空を用いた真
空断路器の絶縁の信頼性を向上させることができる。ま
た、温室効果ガスであるSF6ガスを使用しないため、
環境に調和した断路器を実現することができる。
用真空バルブにおいては、可動側接点、固定側接点の直
径よりも内径が大きなリング状の第3の電極を、固定側
接点と可動側接点との中間に設け設けて2点ギャップに
することにより、低い電圧での破壊確率を低減すること
ができる。これにより、絶縁媒体として真空を用いた真
空断路器の絶縁の信頼性を向上させることができる。ま
た、温室効果ガスであるSF6ガスを使用しないため、
環境に調和した断路器を実現することができる。
【0033】また、請求項2に対応する発明の断路器用
真空バルブは、上記請求項1に対応する発明の断路器用
真空バルブにおいて、第3の電極の軸方向の両側に、固
定側接点および可動側接点を覆うシールドを設け、第3
の電極の突出部の内径と固定側接点および可動側接点の
外径との差の2分の1をD1、シールドの内径と第3の
電極の内径との差の2分の1をD2、シールドの長さを
L1とした場合に、D1、D2、L1の関係が、D2=
(0.25〜0.8)D1、L1=(0.5〜2.0)D
1となるようにしている。
真空バルブは、上記請求項1に対応する発明の断路器用
真空バルブにおいて、第3の電極の軸方向の両側に、固
定側接点および可動側接点を覆うシールドを設け、第3
の電極の突出部の内径と固定側接点および可動側接点の
外径との差の2分の1をD1、シールドの内径と第3の
電極の内径との差の2分の1をD2、シールドの長さを
L1とした場合に、D1、D2、L1の関係が、D2=
(0.25〜0.8)D1、L1=(0.5〜2.0)D
1となるようにしている。
【0034】従って、請求項2に対応する発明の断路器
用真空バルブにおいては、第3の電極の背後にシールド
を設けることにより、絶縁容器の表面への金属蒸気の蒸
着が防止され、絶縁容器の沿面の絶縁性能の低下を防止
することができる。また、D1、D2、L1の関係を、D2
=(0.25〜0.8)D1、L1=(0.5〜2.0)
D1の範囲とすることにより、第3の電極の突出部の電
界強度の方がシールド端部の電界強度よりも高くなり、
破壊経路が第3の電極を介した破壊経路となる。また、
絶縁容器の径も大きくならず、経済的である。これによ
り、ループ電流等の遮断時の金属蒸気による絶縁容器の
沿面絶縁性能の低下を防止でき、かつ破壊経路が第3の
電極を介した経路となり、低い電圧での破壊確率を低減
することができ、より一層絶縁の信頼性を向上すること
ができる。
用真空バルブにおいては、第3の電極の背後にシールド
を設けることにより、絶縁容器の表面への金属蒸気の蒸
着が防止され、絶縁容器の沿面の絶縁性能の低下を防止
することができる。また、D1、D2、L1の関係を、D2
=(0.25〜0.8)D1、L1=(0.5〜2.0)
D1の範囲とすることにより、第3の電極の突出部の電
界強度の方がシールド端部の電界強度よりも高くなり、
破壊経路が第3の電極を介した破壊経路となる。また、
絶縁容器の径も大きくならず、経済的である。これによ
り、ループ電流等の遮断時の金属蒸気による絶縁容器の
沿面絶縁性能の低下を防止でき、かつ破壊経路が第3の
電極を介した経路となり、低い電圧での破壊確率を低減
することができ、より一層絶縁の信頼性を向上すること
ができる。
【0035】一方、請求項3に対応する発明の断路器用
真空バルブは、上記請求項1または請求項2に対応する
発明の断路器用真空バルブにおいて、第3の電極の突出
部の凸部と凹部の内径の差をD3とした場合に、D1、D
3の関係が、D3=(0.1〜0.4)D1となるように
している。
真空バルブは、上記請求項1または請求項2に対応する
発明の断路器用真空バルブにおいて、第3の電極の突出
部の凸部と凹部の内径の差をD3とした場合に、D1、D
3の関係が、D3=(0.1〜0.4)D1となるように
している。
【0036】従って、請求項3に対応する発明の断路器
用真空バルブにおいては、D1、D3の関係を、D3=
(0.1〜0.4)D1とすることにより、破壊経路が
第3の電極を介した経路となり、低い電圧での破壊確率
を低減することができ、より一層真空断路器の絶縁の信
頼性を向上することができる。
用真空バルブにおいては、D1、D3の関係を、D3=
(0.1〜0.4)D1とすることにより、破壊経路が
第3の電極を介した経路となり、低い電圧での破壊確率
を低減することができ、より一層真空断路器の絶縁の信
頼性を向上することができる。
【0037】また、請求項4に対応する発明の断路器用
真空バルブは、上記請求項1乃至請求項3のいずれか1
項に対応する発明の断路器用真空バルブにおいて、第3
の電極の突出部の曲率半径をR1、シールドの両端の曲
率半径をR2とした場合に、R 1、R2の関係が、R2=
(1.4〜3.0)R1となるようにしている。
真空バルブは、上記請求項1乃至請求項3のいずれか1
項に対応する発明の断路器用真空バルブにおいて、第3
の電極の突出部の曲率半径をR1、シールドの両端の曲
率半径をR2とした場合に、R 1、R2の関係が、R2=
(1.4〜3.0)R1となるようにしている。
【0038】従って、請求項4に対応する発明の断路器
用真空バルブにおいては、R1、R2の関係を、R2=
(1.4〜3.0)R1とすることにより、破壊経路が
第3の電極を介した経路となり、低い電圧での破壊確率
を低減することができ、より一層真空断路器の絶縁の信
頼性を向上することができる。
用真空バルブにおいては、R1、R2の関係を、R2=
(1.4〜3.0)R1とすることにより、破壊経路が
第3の電極を介した経路となり、低い電圧での破壊確率
を低減することができ、より一層真空断路器の絶縁の信
頼性を向上することができる。
【0039】さらに、請求項5に対応する発明の断路器
用真空バルブは、上記請求項1乃至請求項4のいずれか
1項に対応する発明の断路器用真空バルブにおいて、第
3の電極の突出部を、銅・クロム合金で構成している。
用真空バルブは、上記請求項1乃至請求項4のいずれか
1項に対応する発明の断路器用真空バルブにおいて、第
3の電極の突出部を、銅・クロム合金で構成している。
【0040】従って、請求項5に対応する発明の断路器
用真空バルブにおいては、第3の電極の突出部の材質
を、銅・クロム合金とすることにより、ループ電流・進
み小電流・遅れ小電流等の遮断電流が第3の電極を流れ
た場合、遮断電流による第3の電極表面の損傷を防止す
ることができるため、絶縁性能の低下を防止することが
できる。
用真空バルブにおいては、第3の電極の突出部の材質
を、銅・クロム合金とすることにより、ループ電流・進
み小電流・遅れ小電流等の遮断電流が第3の電極を流れ
た場合、遮断電流による第3の電極表面の損傷を防止す
ることができるため、絶縁性能の低下を防止することが
できる。
【0041】さらにまた、請求項6に対応する発明の断
路器用真空バルブは、上記請求項1乃至請求項4のいず
れか1項に対応する発明の断路器用真空バルブにおい
て、第3の電極の突出部を、銅・タングステン合金で構
成している。
路器用真空バルブは、上記請求項1乃至請求項4のいず
れか1項に対応する発明の断路器用真空バルブにおい
て、第3の電極の突出部を、銅・タングステン合金で構
成している。
【0042】従って、請求項6に対応する発明の断路器
用真空バルブにおいては、第3の電極の突出部の材質
を、銅・タングステン合金とすることにより、ループ電
流・進み小電流・遅れ小電流等の遮断電流が第3の電極
を流れた場合、遮断電流による第3の電極表面の損傷を
防止することができるため、絶縁性能の低下を防止する
ことができる。
用真空バルブにおいては、第3の電極の突出部の材質
を、銅・タングステン合金とすることにより、ループ電
流・進み小電流・遅れ小電流等の遮断電流が第3の電極
を流れた場合、遮断電流による第3の電極表面の損傷を
防止することができるため、絶縁性能の低下を防止する
ことができる。
【0043】一方、請求項7に対応する発明の断路器用
真空バルブは、上記請求項2に対応する発明の断路器用
真空バルブにおいて、第3の電極の両側に設けられたシ
ールドの先端部に、一端が凹部となったリング状の絶縁
部材を設けている。
真空バルブは、上記請求項2に対応する発明の断路器用
真空バルブにおいて、第3の電極の両側に設けられたシ
ールドの先端部に、一端が凹部となったリング状の絶縁
部材を設けている。
【0044】従って、請求項7に対応する発明の断路器
用真空バルブにおいては、第3の電極の両側に設けられ
たシールドの先端部に、一端が凹部となったリング状の
絶縁部材を設けることにより、破壊経路が第3の電極を
介した経路となり、低い電圧での破壊確率を低減するこ
とができ、より一層真空断路器の絶縁の信頼性を向上す
ることができる。
用真空バルブにおいては、第3の電極の両側に設けられ
たシールドの先端部に、一端が凹部となったリング状の
絶縁部材を設けることにより、破壊経路が第3の電極を
介した経路となり、低い電圧での破壊確率を低減するこ
とができ、より一層真空断路器の絶縁の信頼性を向上す
ることができる。
【0045】また、請求項8に対応する発明の断路器用
真空バルブは、上記請求項2に対応する発明の断路器用
真空バルブにおいて、第3の電極の両側に設けられたシ
ールドを、セラミックで構成している。
真空バルブは、上記請求項2に対応する発明の断路器用
真空バルブにおいて、第3の電極の両側に設けられたシ
ールドを、セラミックで構成している。
【0046】従って、請求項8に対応する発明の断路器
用真空バルブにおいては、第3の電極の両側に設けられ
たシールドの材質を、セラミックとすることにより、破
壊経路が第3の電極を介した経路となり、低い電圧での
破壊確率を低減することができ、より一層真空断路器の
絶縁の信頼性を向上することができる。また、シールド
を設けることにより、ループ電流等の電流遮断によって
発生する金属蒸気が絶縁容器の内面に蒸着せず、絶縁容
器の沿面の絶縁性能の低下を防止することができる。
用真空バルブにおいては、第3の電極の両側に設けられ
たシールドの材質を、セラミックとすることにより、破
壊経路が第3の電極を介した経路となり、低い電圧での
破壊確率を低減することができ、より一層真空断路器の
絶縁の信頼性を向上することができる。また、シールド
を設けることにより、ループ電流等の電流遮断によって
発生する金属蒸気が絶縁容器の内面に蒸着せず、絶縁容
器の沿面の絶縁性能の低下を防止することができる。
【0047】さらに、請求項9に対応する発明の断路器
用真空バルブは、上記請求項1に対応する発明の断路器
用真空バルブにおいて、第3の電極の軸方向の両側に、
セラミックからなる円筒状のシールドを設け、第3の電
極の両側に設けられた円筒状のシールドの先端部に曲率
を設け、第3の電極の両側に設けられた円筒状のシール
ドの外表面に導電層を設けている。
用真空バルブは、上記請求項1に対応する発明の断路器
用真空バルブにおいて、第3の電極の軸方向の両側に、
セラミックからなる円筒状のシールドを設け、第3の電
極の両側に設けられた円筒状のシールドの先端部に曲率
を設け、第3の電極の両側に設けられた円筒状のシール
ドの外表面に導電層を設けている。
【0048】従って、請求項9に対応する発明の断路器
用真空バルブにおいては、第3の電極の両側に設けられ
たシールドがセラミックからなり、外表面に導電層を設
けることにより、シールドの端部で絶縁破壊が発生する
ことが無く、破壊経路が第3の電極を介した経路とな
る。これにより、低い電圧での破壊確率を低減すること
ができ、より一層真空断路器の絶縁の信頼性を向上する
ことができる。また、シールドを設けることにより、ル
ープ電流等の電流遮断によって発生する金属蒸気が絶縁
容器の内面に蒸着せず、絶縁容器の沿面の絶縁性能の低
下を防止することができる。
用真空バルブにおいては、第3の電極の両側に設けられ
たシールドがセラミックからなり、外表面に導電層を設
けることにより、シールドの端部で絶縁破壊が発生する
ことが無く、破壊経路が第3の電極を介した経路とな
る。これにより、低い電圧での破壊確率を低減すること
ができ、より一層真空断路器の絶縁の信頼性を向上する
ことができる。また、シールドを設けることにより、ル
ープ電流等の電流遮断によって発生する金属蒸気が絶縁
容器の内面に蒸着せず、絶縁容器の沿面の絶縁性能の低
下を防止することができる。
【0049】さらにまた、請求項10に対応する発明の
断路器用真空バルブは、上記請求項1に対応する発明の
断路器用真空バルブにおいて、絶縁容器の内面に、複数
の凸部を設けている。
断路器用真空バルブは、上記請求項1に対応する発明の
断路器用真空バルブにおいて、絶縁容器の内面に、複数
の凸部を設けている。
【0050】従って、請求項10に対応する発明の断路
器用真空バルブにおいては、複数の凸部を設けることに
より、絶縁容器の内面にはループ電流等の電流遮断によ
って発生する金属蒸気が蒸着しない部分ができるため、
絶縁容器の沿面の絶縁性能の低下を防止することがで
き、第3の電極の両側に設けていたシールドが不要にな
り、破壊経路が第3の電極を介した経路となる。これに
より、低い電圧での破壊確率を低減することができ、真
空断路器の絶縁の信頼性を向上することができる。
器用真空バルブにおいては、複数の凸部を設けることに
より、絶縁容器の内面にはループ電流等の電流遮断によ
って発生する金属蒸気が蒸着しない部分ができるため、
絶縁容器の沿面の絶縁性能の低下を防止することがで
き、第3の電極の両側に設けていたシールドが不要にな
り、破壊経路が第3の電極を介した経路となる。これに
より、低い電圧での破壊確率を低減することができ、真
空断路器の絶縁の信頼性を向上することができる。
【0051】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。
て図面を参照して詳細に説明する。
【0052】(第1の実施の形態)図1は、本実施の形
態による断路器用真空バルブの構成例を示す縦断面図で
あり、前述した従来の図11の断路器6に対応している
図である。
態による断路器用真空バルブの構成例を示す縦断面図で
あり、前述した従来の図11の断路器6に対応している
図である。
【0053】図1において、セラミックまたはガラスか
らなる絶縁容器21を使って真空容器を形成し、その両
端開口部を、金属部材である固定側端板22および可動
側端板23a,23bでそれぞれ密封して、気密な容器
を構成している。
らなる絶縁容器21を使って真空容器を形成し、その両
端開口部を、金属部材である固定側端板22および可動
側端板23a,23bでそれぞれ密封して、気密な容器
を構成している。
【0054】固定側端板22には、固定側接点24を接
合した固定通電軸25を支持固定し、この固定側接点2
4と対向して可動側接点26を可動通電軸27に接合し
ている。
合した固定通電軸25を支持固定し、この固定側接点2
4と対向して可動側接点26を可動通電軸27に接合し
ている。
【0055】この可動通電軸27は、図示しない操作機
構に連結している。
構に連結している。
【0056】可動通電軸27と可動側蓋板23aとの間
にはベローズ20を設け、可動側接点26、可動通電軸
27が直線的に移動できるようにしている。
にはベローズ20を設け、可動側接点26、可動通電軸
27が直線的に移動できるようにしている。
【0057】固定側接点24と可動側接点26との中間
部には固定側接点24、可動側接点26の直径よりも内
径が大きなリング状の第3の電極28を設け、2個の絶
縁容器21の間に封着金具29a,29bを介して支持
固定している。
部には固定側接点24、可動側接点26の直径よりも内
径が大きなリング状の第3の電極28を設け、2個の絶
縁容器21の間に封着金具29a,29bを介して支持
固定している。
【0058】第3の電極28の両端には、固定側接点2
4と可動側接点26との対向部に、突出部28a,28
bを設けている。
4と可動側接点26との対向部に、突出部28a,28
bを設けている。
【0059】次に、以上のように構成した本実施の形態
による断路器用真空バルブの作用について説明する。
による断路器用真空バルブの作用について説明する。
【0060】図1において、図示しない開閉装置の制御
回路または手動による断路器の断路指令があった場合に
は、可動側接点26、可動通電軸27が移動して、断路
状態となる。
回路または手動による断路器の断路指令があった場合に
は、可動側接点26、可動通電軸27が移動して、断路
状態となる。
【0061】図2は、この断路状態での固定側接点24
と可動側接点26の部分と、固定側接点24の電界強度
分布の一例を示す縦断面図である。
と可動側接点26の部分と、固定側接点24の電界強度
分布の一例を示す縦断面図である。
【0062】ここで、矢印の大きさは電界強度の大きさ
を示す。
を示す。
【0063】絶縁破壊は、固定側接点24の端部の電界
強度が高いので、固定側接点24と第3の電極28との
ギャップG1が絶縁破壊し、その後全ての印加電圧がギ
ャップG2に加わる。
強度が高いので、固定側接点24と第3の電極28との
ギャップG1が絶縁破壊し、その後全ての印加電圧がギ
ャップG2に加わる。
【0064】第3の電極28の可動側接点26の対向部
には、突出部28bが設けられているので、この部分の
電界強度が高くなり、ギャップG2が絶縁破壊する(破
壊の経路を点線矢印で示す)。
には、突出部28bが設けられているので、この部分の
電界強度が高くなり、ギャップG2が絶縁破壊する(破
壊の経路を点線矢印で示す)。
【0065】一般に、真空ギャップの絶縁破壊確率は、
ワイブル分布関数で表わすことができ、累積破壊確率F
(v)は次式で表わされる。
ワイブル分布関数で表わすことができ、累積破壊確率F
(v)は次式で表わされる。
【0066】
【数1】
【0067】ここで、V1は尺度パラメータ、mは形状
パラメータ、V0は位置パラメータで、V≦V0において
破壊確率が零となる電圧を示す。
パラメータ、V0は位置パラメータで、V≦V0において
破壊確率が零となる電圧を示す。
【0068】従って、印加電圧をVとし、第3の電極2
8と固定側接点24とのギャップG 1に加わる電圧をV
/2とし、ギャップG1の破壊確率をf(V/2)と
し、ギャップG2の破壊確率をf(V)とすると、図2
に示すような2点ギャップの絶縁破壊確率は、次式で表
わされる。
8と固定側接点24とのギャップG 1に加わる電圧をV
/2とし、ギャップG1の破壊確率をf(V/2)と
し、ギャップG2の破壊確率をf(V)とすると、図2
に示すような2点ギャップの絶縁破壊確率は、次式で表
わされる。
【0069】F(V)=f(V/2)・f(V) 図3は、インパルス電圧で、1点ギャップと2点ギャッ
プの絶縁破壊特性を調査し、累積破壊確率をワイブルプ
ロットで比較して示した特性図である。
プの絶縁破壊特性を調査し、累積破壊確率をワイブルプ
ロットで比較して示した特性図である。
【0070】図3から明らかなように、第3の電極28
を設けて2点ギャップにすることにより、低い電圧での
破壊確率を低減することができる。
を設けて2点ギャップにすることにより、低い電圧での
破壊確率を低減することができる。
【0071】これにより、絶縁媒体として真空を用いた
真空断路器の絶縁の信頼性を向上させることができる。
真空断路器の絶縁の信頼性を向上させることができる。
【0072】また、温室効果ガスであるSF6ガスを使
用しないので、環境に調和した断路器を実現することが
できる。
用しないので、環境に調和した断路器を実現することが
できる。
【0073】上述したように、本実施の形態では、SF
6ガスの使用量を抑制して環境に調和した、構造が簡単
でかつ絶縁の信頼性の高い断路器用真空バルブを得るこ
とが可能となる。
6ガスの使用量を抑制して環境に調和した、構造が簡単
でかつ絶縁の信頼性の高い断路器用真空バルブを得るこ
とが可能となる。
【0074】(第2の実施の形態)図4は、本実施の形
態による断路器用真空バルブの構成例を示す縦断面図で
あり、図1と同一部分には同一符号を付してその説明を
省略し、ここでは異なる部分についてのみ述べる。
態による断路器用真空バルブの構成例を示す縦断面図で
あり、図1と同一部分には同一符号を付してその説明を
省略し、ここでは異なる部分についてのみ述べる。
【0075】図4において、前記第3の電極28の軸方
向の両側には、固定側接点24および可動側接点26を
包囲する円筒状のシールド30a,30bを設けてい
る。
向の両側には、固定側接点24および可動側接点26を
包囲する円筒状のシールド30a,30bを設けてい
る。
【0076】さらに、第3の電極28の突出部28a,
28bの内径と固定側接点24および可動側接点26の
外径との差の2分の1をD1、シールド30a,30b
の内径と第3の電極28の内径との差の2分の1を
D2、シールド30a,30bの長さをL1とした場合
に、D1、D2、L1の関係が、 D2=(0.25〜0.8)D1、 L1=(0.5〜
2.0)D1 となるようにしている。
28bの内径と固定側接点24および可動側接点26の
外径との差の2分の1をD1、シールド30a,30b
の内径と第3の電極28の内径との差の2分の1を
D2、シールド30a,30bの長さをL1とした場合
に、D1、D2、L1の関係が、 D2=(0.25〜0.8)D1、 L1=(0.5〜
2.0)D1 となるようにしている。
【0077】次に、以上のように構成した本実施の形態
による断路器用真空バルブの作用について説明する。
による断路器用真空バルブの作用について説明する。
【0078】図4において、ループ電流等の定格電流遮
断時には、固定側接点24および可動側接点26の間で
金属蒸気が発生し、絶縁容器21の内面に蒸着される。
断時には、固定側接点24および可動側接点26の間で
金属蒸気が発生し、絶縁容器21の内面に蒸着される。
【0079】そして、この金属蒸気が絶縁容器21の内
面に蒸着されると、絶縁容器21の沿面の絶縁性能が低
下することが懸念される。
面に蒸着されると、絶縁容器21の沿面の絶縁性能が低
下することが懸念される。
【0080】この点、本実施の形態では、第3の電極2
8の背後にシールド30a,30bを設けていることに
より、絶縁容器21の表面への金属蒸気の蒸着が防止さ
れ、絶縁容器21の沿面の絶縁性能の低下を防止するこ
とができる。
8の背後にシールド30a,30bを設けていることに
より、絶縁容器21の表面への金属蒸気の蒸着が防止さ
れ、絶縁容器21の沿面の絶縁性能の低下を防止するこ
とができる。
【0081】また、シールド30a,30bを設けてい
ることにより、第3の電極28の突出部28a,28b
の電界強度E1がシールド30a,30bによって緩和
され、シールド30a,30bの先端部で絶縁破壊する
可能性がある。
ることにより、第3の電極28の突出部28a,28b
の電界強度E1がシールド30a,30bによって緩和
され、シールド30a,30bの先端部で絶縁破壊する
可能性がある。
【0082】図5は、第3の電極28の突出部28a,
28bの電界強度をE1、シールド30a,30bの先
端部の電界強度をE2、第3の電極28の突出部28
a,28bの内径と固定側接点24および可動側接点2
6の外径との差の2分の1をD 1、シールド30a,3
0bの内径と第3の電極28の内径との差の2分の1を
D2、シールド30a,30bの長さをL1とした場合の
電界強度比E1/E2とD 1、D2、L1の関係を示す特性
図である。
28bの電界強度をE1、シールド30a,30bの先
端部の電界強度をE2、第3の電極28の突出部28
a,28bの内径と固定側接点24および可動側接点2
6の外径との差の2分の1をD 1、シールド30a,3
0bの内径と第3の電極28の内径との差の2分の1を
D2、シールド30a,30bの長さをL1とした場合の
電界強度比E1/E2とD 1、D2、L1の関係を示す特性
図である。
【0083】例えば、D2/D1が0.25以上になる
と、第3の電極28の突出部28a,28bの電界強度
E1が、シールド30a,30b端部の電界強度E2より
も高くなる。
と、第3の電極28の突出部28a,28bの電界強度
E1が、シールド30a,30b端部の電界強度E2より
も高くなる。
【0084】また、D2/D1が大きくなると、絶縁容器
21の径が大きくなり、真空バルブのコストが高くな
る。
21の径が大きくなり、真空バルブのコストが高くな
る。
【0085】そこで、上記D1、D2、L1の関係が、 D2=(0.25〜0.8)D1、 L1=(0.5〜
2.0)D1 の範囲となるようにすることにより、第3の電極28の
突出部28a,28bの電界強度E1の方が、シールド
30a,30b端部の電界強度E2よりも高くなり、前
記図2に示すようなギャップG1,G2の破壊経路とな
る。
2.0)D1 の範囲となるようにすることにより、第3の電極28の
突出部28a,28bの電界強度E1の方が、シールド
30a,30b端部の電界強度E2よりも高くなり、前
記図2に示すようなギャップG1,G2の破壊経路とな
る。
【0086】また、絶縁容器21の径も大きくならず、
経済的である。
経済的である。
【0087】これにより、ループ電流等の遮断時の金属
蒸気による絶縁容器21の沿面絶縁性能の低下を防止す
ることができ、かつ破壊経路が第3の電極28を介した
経路となり、低い電圧での破壊確率を低減することがで
き、より一層真空断路器の絶縁の信頼性が向上する。
蒸気による絶縁容器21の沿面絶縁性能の低下を防止す
ることができ、かつ破壊経路が第3の電極28を介した
経路となり、低い電圧での破壊確率を低減することがで
き、より一層真空断路器の絶縁の信頼性が向上する。
【0088】上述したように、本実施の形態では、前述
した第1の実施の形態と同様の効果が得られるのに加え
て、絶縁容器21の沿面絶縁性能の低下を防止すること
ができ、かつ低い電圧での破壊確率を低減することがで
き、より一層真空断路器の絶縁の信頼性を向上すること
が可能となる。
した第1の実施の形態と同様の効果が得られるのに加え
て、絶縁容器21の沿面絶縁性能の低下を防止すること
ができ、かつ低い電圧での破壊確率を低減することがで
き、より一層真空断路器の絶縁の信頼性を向上すること
が可能となる。
【0089】(第3の実施の形態)本実施の形態による
断路器用真空バルブは、前述した第1の実施の形態また
は第2の実施の形態の断路器用真空バルブにおいて、前
記第3の電極28の突出部28a,28bの内径と固定
側接点24および可動側接点26の外径との差の2分の
1をD1、第3の電極28の突出部28a,28bの凸
部と凹部の内径の差をD3とした場合に、D1、D3の関
係が、 D3=(0.1〜0.4)D1 となるようにしている。
断路器用真空バルブは、前述した第1の実施の形態また
は第2の実施の形態の断路器用真空バルブにおいて、前
記第3の電極28の突出部28a,28bの内径と固定
側接点24および可動側接点26の外径との差の2分の
1をD1、第3の電極28の突出部28a,28bの凸
部と凹部の内径の差をD3とした場合に、D1、D3の関
係が、 D3=(0.1〜0.4)D1 となるようにしている。
【0090】次に、以上のように構成した本実施の形態
による断路器用真空バルブの作用について説明する。
による断路器用真空バルブの作用について説明する。
【0091】図6は、前述のD1やL1を一定にした場合
の第3の電極28の突出部28a,28bの電界強度E
1と、シールド30a,30bの先端部の電界強度をE2
との比率E1/E2と、D1、D3の関係を示す特性図であ
る。
の第3の電極28の突出部28a,28bの電界強度E
1と、シールド30a,30bの先端部の電界強度をE2
との比率E1/E2と、D1、D3の関係を示す特性図であ
る。
【0092】例えば、D3/D1が0.1以上になると、
第3の電極28の突出部28a,28bの電界強度E1
が、シールド30a,30b端部の電界強度E2よりも
高くなり、破壊経路が前記図2に示すようにギャップG
1,G2となる。
第3の電極28の突出部28a,28bの電界強度E1
が、シールド30a,30b端部の電界強度E2よりも
高くなり、破壊経路が前記図2に示すようにギャップG
1,G2となる。
【0093】また、D3/D1が0.4以上になると、E
1/E2は飽和する傾向にある。
1/E2は飽和する傾向にある。
【0094】従って、上記D1、D3の関係が、 D3=(0.1〜0.4)D1 となるようにすることにより、破壊経路が第3の電極2
8を介した経路となる。
8を介した経路となる。
【0095】これにより、低い電圧での破壊確率を低減
することができ、より一層真空断路器の絶縁の信頼性が
向上する。
することができ、より一層真空断路器の絶縁の信頼性が
向上する。
【0096】上述したように、本実施の形態では、前述
した第1または第2の実施の形態と同様の効果が得られ
るのに加えて、低い電圧での破壊確率を低減することが
でき、より一層真空断路器の絶縁の信頼性を向上するこ
とが可能となる。
した第1または第2の実施の形態と同様の効果が得られ
るのに加えて、低い電圧での破壊確率を低減することが
でき、より一層真空断路器の絶縁の信頼性を向上するこ
とが可能となる。
【0097】(第4の実施の形態)本実施の形態による
断路器用真空バルブは、前述した第1の実施の形態乃至
第3の実施の形態のいずれかの実施の形態の断路器用真
空バルブにおいて、前記第3の電極28の突出部28
a,28bの曲率半径をR1、シールドシールド30
a,30bの両端の曲率半径をR2とした場合に、R1、
R2の関係が、 R2=(1.4〜3.0)R1 となるようにしている。
断路器用真空バルブは、前述した第1の実施の形態乃至
第3の実施の形態のいずれかの実施の形態の断路器用真
空バルブにおいて、前記第3の電極28の突出部28
a,28bの曲率半径をR1、シールドシールド30
a,30bの両端の曲率半径をR2とした場合に、R1、
R2の関係が、 R2=(1.4〜3.0)R1 となるようにしている。
【0098】次に、以上のように構成した本実施の形態
による断路器用真空バルブの作用について説明する。
による断路器用真空バルブの作用について説明する。
【0099】図7は、前述のD1、D2、D3やL1を一定
にした場合の第3の電極28の突出部28a,28bの
電界強度E1と、シールド30a,30bの先端部の電
界強度をE2との比率E1/E2と、R1、R2の関係を示
す特性図である。
にした場合の第3の電極28の突出部28a,28bの
電界強度E1と、シールド30a,30bの先端部の電
界強度をE2との比率E1/E2と、R1、R2の関係を示
す特性図である。
【0100】例えば、R2/R1が1.4以上になると、
第3の電極28の突出部28a,28bの電界強度E1
が、シールド30a,30b端部の電界強度E2よりも
高くなり、破壊経路が前記図2に示すようにギャップG
1,G2となる。
第3の電極28の突出部28a,28bの電界強度E1
が、シールド30a,30b端部の電界強度E2よりも
高くなり、破壊経路が前記図2に示すようにギャップG
1,G2となる。
【0101】また、R2が大きくなると、絶縁容器21
の径が大きくなり、真空バルブのコストがアップし、経
済的でない。
の径が大きくなり、真空バルブのコストがアップし、経
済的でない。
【0102】従って、上記R1、R2の関係が、 R2=(1.4〜3.0)R1 となるようにすることにより、破壊経路が第3の電極2
8を介した経路となる。
8を介した経路となる。
【0103】これにより、低い電圧での破壊確率を低減
することができ、より一層真空断路器の絶縁の信頼性が
向上する。
することができ、より一層真空断路器の絶縁の信頼性が
向上する。
【0104】上述したように、本実施の形態では、前述
した第1の実施の形態乃至第3の実施の形態のいずれか
の実施の形態と同様の効果が得られるのに加えて、低い
電圧での破壊確率を低減することができ、より一層真空
断路器の絶縁の信頼性を向上することが可能となる。
した第1の実施の形態乃至第3の実施の形態のいずれか
の実施の形態と同様の効果が得られるのに加えて、低い
電圧での破壊確率を低減することができ、より一層真空
断路器の絶縁の信頼性を向上することが可能となる。
【0105】(第5の実施の形態)本実施の形態による
断路器用真空バルブは、前述した第1の実施の形態乃至
第4の実施の形態のいずれかの実施の形態の断路器用真
空バルブにおいて、前記第3の電極28の突出部28
a,28bを、銅・クロム合金で構成している。
断路器用真空バルブは、前述した第1の実施の形態乃至
第4の実施の形態のいずれかの実施の形態の断路器用真
空バルブにおいて、前記第3の電極28の突出部28
a,28bを、銅・クロム合金で構成している。
【0106】次に、以上のように構成した本実施の形態
による断路器用真空バルブにおいては、第3の電極28
の突出部28a,28bの材質を、銅・クロム合金とし
ていることにより、ループ電流・進み小電流・遅れ小電
流等の遮断電流が第3の電極28を流れた場合、遮断電
流による第3の電極28表面の損傷を防止することがで
きるため、絶縁性能の低下を防止することができる。
による断路器用真空バルブにおいては、第3の電極28
の突出部28a,28bの材質を、銅・クロム合金とし
ていることにより、ループ電流・進み小電流・遅れ小電
流等の遮断電流が第3の電極28を流れた場合、遮断電
流による第3の電極28表面の損傷を防止することがで
きるため、絶縁性能の低下を防止することができる。
【0107】上述したように、本実施の形態では、本実
施の形態では、前述した第1の実施の形態乃至第4の実
施の形態のいずれかの実施の形態と同様の効果が得られ
るのに加えて、絶縁性能の低下を防止することが可能と
なる。
施の形態では、前述した第1の実施の形態乃至第4の実
施の形態のいずれかの実施の形態と同様の効果が得られ
るのに加えて、絶縁性能の低下を防止することが可能と
なる。
【0108】(第6の実施の形態)本実施の形態による
断路器用真空バルブは、前述した第1の実施の形態乃至
第4の実施の形態のいずれかの実施の形態の断路器用真
空バルブにおいて、前記第3の電極28の突出部28
a,28bを、銅・タングステン合金で構成している。
断路器用真空バルブは、前述した第1の実施の形態乃至
第4の実施の形態のいずれかの実施の形態の断路器用真
空バルブにおいて、前記第3の電極28の突出部28
a,28bを、銅・タングステン合金で構成している。
【0109】次に、以上のように構成した本実施の形態
による断路器用真空バルブにおいては、第3の電極28
の突出部28a,28bの材質を、銅・タングステン合
金としていることにより、ループ電流・進み小電流・遅
れ小電流等の遮断電流が第3の電極28を流れた場合、
遮断電流による第3の電極28表面の損傷を防止するこ
とができるため、絶縁性能の低下を防止することができ
る。
による断路器用真空バルブにおいては、第3の電極28
の突出部28a,28bの材質を、銅・タングステン合
金としていることにより、ループ電流・進み小電流・遅
れ小電流等の遮断電流が第3の電極28を流れた場合、
遮断電流による第3の電極28表面の損傷を防止するこ
とができるため、絶縁性能の低下を防止することができ
る。
【0110】上述したように、本実施の形態では、本実
施の形態では、前述した第1の実施の形態乃至第4の実
施の形態のいずれかの実施の形態と同様の効果が得られ
るのに加えて、絶縁性能の低下を防止することが可能と
なる。
施の形態では、前述した第1の実施の形態乃至第4の実
施の形態のいずれかの実施の形態と同様の効果が得られ
るのに加えて、絶縁性能の低下を防止することが可能と
なる。
【0111】(第7の実施の形態)図8は、本実施の形
態による断路器用真空バルブの構成例を示す縦断面図で
あり、図4と同一部分には同一符号を付してその説明を
省略し、ここでは異なる部分についてのみ述べる。
態による断路器用真空バルブの構成例を示す縦断面図で
あり、図4と同一部分には同一符号を付してその説明を
省略し、ここでは異なる部分についてのみ述べる。
【0112】図8において、前記第3の電極28の両側
に設けられたシールド30a,30bの先端部に、一端
が凹部となったリング状の絶縁部材31a,31bを設
けている。
に設けられたシールド30a,30bの先端部に、一端
が凹部となったリング状の絶縁部材31a,31bを設
けている。
【0113】また、絶縁部材31a,31bの凹部に
は、メタライズ層を塗布し、シールド30a,30bの
先端部をろう付けしている。
は、メタライズ層を塗布し、シールド30a,30bの
先端部をろう付けしている。
【0114】ここで、絶縁部材31a,31bの材質と
しては、例えばセラミックを用いることが好ましい。
しては、例えばセラミックを用いることが好ましい。
【0115】次に、以上のように構成した本実施の形態
による断路器用真空バルブにおいては、シールド30
a,30bの先端部の電界強度は高くなるが、絶縁部材
31a,31bで覆っていることにより、シールド30
a,30bの先端部で絶縁破壊が発生することが無い。
による断路器用真空バルブにおいては、シールド30
a,30bの先端部の電界強度は高くなるが、絶縁部材
31a,31bで覆っていることにより、シールド30
a,30bの先端部で絶縁破壊が発生することが無い。
【0116】このため、破壊経路が前記図2に示すよう
にギャップG1,G2となり、第3の電極28を介した経
路となる。
にギャップG1,G2となり、第3の電極28を介した経
路となる。
【0117】これにより、低い電圧での破壊確率を低減
することができ、より一層真空断路器の絶縁の信頼性が
向上する。
することができ、より一層真空断路器の絶縁の信頼性が
向上する。
【0118】また、シールド30a,30bを設けてい
ることにより、前述した第2の実施の形態と同様に、ル
ープ電流等の電流遮断によって発生する金属蒸気が、絶
縁容器21の内面に蒸着せず、絶縁容器21の沿面の絶
縁性能の低下を防止することができる。
ることにより、前述した第2の実施の形態と同様に、ル
ープ電流等の電流遮断によって発生する金属蒸気が、絶
縁容器21の内面に蒸着せず、絶縁容器21の沿面の絶
縁性能の低下を防止することができる。
【0119】上述したように、本実施の形態では、前述
した第2の実施の形態と同様の効果が得られるのに加え
て、低い電圧での破壊確率を低減することができ、より
一層真空断路器の絶縁の信頼性を向上することが可能と
なる。
した第2の実施の形態と同様の効果が得られるのに加え
て、低い電圧での破壊確率を低減することができ、より
一層真空断路器の絶縁の信頼性を向上することが可能と
なる。
【0120】(第8の実施の形態)本実施の形態による
断路器用真空バルブは、前述した第2の実施の形態の断
路器用真空バルブにおいて、前記第3の電極28の両側
に設けられたシールド30a,30bを、セラミックで
構成している。
断路器用真空バルブは、前述した第2の実施の形態の断
路器用真空バルブにおいて、前記第3の電極28の両側
に設けられたシールド30a,30bを、セラミックで
構成している。
【0121】次に、以上のように構成した本実施の形態
による断路器用真空バルブにおいては、第3の電極28
の両側に設けられたシールド30a,30bの材質を、
セラミックとしていることにより、第3の電極28の突
出部28a,28bの電界強度がシールド30a,30
bによって低減されることが無い。
による断路器用真空バルブにおいては、第3の電極28
の両側に設けられたシールド30a,30bの材質を、
セラミックとしていることにより、第3の電極28の突
出部28a,28bの電界強度がシールド30a,30
bによって低減されることが無い。
【0122】このため、破壊経路が前記図2に示すよう
にギャップG1,G2となり、第3の電極28を介した経
路となる。
にギャップG1,G2となり、第3の電極28を介した経
路となる。
【0123】これにより、低い電圧での破壊確率を低減
することができ、より一層真空断路器の絶縁の信頼性が
向上する。
することができ、より一層真空断路器の絶縁の信頼性が
向上する。
【0124】また、シールド30a,30bを設けてい
ることにより、前述した第2の実施の形態と同様に、ル
ープ電流等の電流遮断によって発生する金属蒸気が、絶
縁容器21の内面に蒸着せず、絶縁容器21の沿面の絶
縁性能の低下を防止することができる。
ることにより、前述した第2の実施の形態と同様に、ル
ープ電流等の電流遮断によって発生する金属蒸気が、絶
縁容器21の内面に蒸着せず、絶縁容器21の沿面の絶
縁性能の低下を防止することができる。
【0125】上述したように、本実施の形態では、前述
した第2の実施の形態と同様の効果が得られるのに加え
て、低い電圧での破壊確率を低減することができ、より
一層真空断路器の絶縁の信頼性を向上することが可能と
なる。
した第2の実施の形態と同様の効果が得られるのに加え
て、低い電圧での破壊確率を低減することができ、より
一層真空断路器の絶縁の信頼性を向上することが可能と
なる。
【0126】(第9の実施の形態)図9は、本実施の形
態による断路器用真空バルブの構成例を示す縦断面図で
あり、図1と同一部分には同一符号を付してその説明を
省略し、ここでは異なる部分についてのみ述べる。
態による断路器用真空バルブの構成例を示す縦断面図で
あり、図1と同一部分には同一符号を付してその説明を
省略し、ここでは異なる部分についてのみ述べる。
【0127】図9において、前記第3の電極28の軸方
向の両側に、セラミックからなる円筒状のシールド32
a,32bを設けている。
向の両側に、セラミックからなる円筒状のシールド32
a,32bを設けている。
【0128】また、第3の電極28の両側に設けられた
円筒状のシールド32a,32bの先端部に、曲率を設
けている。
円筒状のシールド32a,32bの先端部に、曲率を設
けている。
【0129】さらに、第3の電極28の両側に設けられ
た円筒状のシールド32a,32bの外表面に、導電層
を設けている。
た円筒状のシールド32a,32bの外表面に、導電層
を設けている。
【0130】ここで、導電層は、第3の電極28と電気
的に同電位としている。
的に同電位としている。
【0131】次に、以上のように構成した本実施の形態
による断路器用真空バルブにおいては、第3の電極28
の両側に設けられたシールド32a,32bがセラミッ
クからなり、外表面に導電層を設けていることにより、
シールド32a,32bの端部で絶縁破壊が発生するこ
とが無いる。
による断路器用真空バルブにおいては、第3の電極28
の両側に設けられたシールド32a,32bがセラミッ
クからなり、外表面に導電層を設けていることにより、
シールド32a,32bの端部で絶縁破壊が発生するこ
とが無いる。
【0132】このため、破壊経路が前記図2に示すよう
にギャップG1,G2となり、第3の電極28を介した経
路となる。
にギャップG1,G2となり、第3の電極28を介した経
路となる。
【0133】これにより、低い電圧での破壊確率を低減
することができ、より一層真空断路器の絶縁の信頼性が
向上する。
することができ、より一層真空断路器の絶縁の信頼性が
向上する。
【0134】また、シールド32a,32bを設けてい
ることにより、前述した第1の実施の形態と同様に、ル
ープ電流等の電流遮断によって発生する金属蒸気が、絶
縁容器21の内面に蒸着せず、絶縁容器21の沿面の絶
縁性能の低下を防止することができる。
ることにより、前述した第1の実施の形態と同様に、ル
ープ電流等の電流遮断によって発生する金属蒸気が、絶
縁容器21の内面に蒸着せず、絶縁容器21の沿面の絶
縁性能の低下を防止することができる。
【0135】上述したように、本実施の形態では、前述
した第1の実施の形態と同様の効果が得られるのに加え
て、低い電圧での破壊確率を低減することができ、より
一層真空断路器の絶縁の信頼性を向上することが可能と
なる。
した第1の実施の形態と同様の効果が得られるのに加え
て、低い電圧での破壊確率を低減することができ、より
一層真空断路器の絶縁の信頼性を向上することが可能と
なる。
【0136】(第10の実施の形態)図10は、本実施
の形態による断路器用真空バルブの構成例を示す縦断面
図であり、図1と同一部分には同一符号を付してその説
明を省略し、ここでは異なる部分についてのみ述べる。
の形態による断路器用真空バルブの構成例を示す縦断面
図であり、図1と同一部分には同一符号を付してその説
明を省略し、ここでは異なる部分についてのみ述べる。
【0137】図10において、絶縁容器33の内面に、
複数の凸部を設けている。
複数の凸部を設けている。
【0138】次に、以上のように構成した本実施の形態
による断路器用真空バルブにおいては、絶縁容器33の
内面に複数の凸部を設けていることにより、絶縁容器3
3の内面には、ループ電流等の電流遮断によって発生す
る金属蒸気が蒸着しない部分ができるため、絶縁容器3
3の沿面の絶縁性能の低下を防止することができる。
による断路器用真空バルブにおいては、絶縁容器33の
内面に複数の凸部を設けていることにより、絶縁容器3
3の内面には、ループ電流等の電流遮断によって発生す
る金属蒸気が蒸着しない部分ができるため、絶縁容器3
3の沿面の絶縁性能の低下を防止することができる。
【0139】これにより、第3の電極28の両側に設け
ていたシールドが不要となり、破壊経路が前記図2に示
すようにギャップG1,G2となり、第3の電極28を介
した経路となる。
ていたシールドが不要となり、破壊経路が前記図2に示
すようにギャップG1,G2となり、第3の電極28を介
した経路となる。
【0140】これにより、低い電圧での破壊確率を低減
することができ、より一層真空断路器の絶縁の信頼性が
向上する。
することができ、より一層真空断路器の絶縁の信頼性が
向上する。
【0141】上述したように、本実施の形態では、前述
した第1の実施の形態と同様の効果が得られるのに加え
て、低い電圧での破壊確率を低減することができ、より
一層真空断路器の絶縁の信頼性を向上することが可能と
なる。
した第1の実施の形態と同様の効果が得られるのに加え
て、低い電圧での破壊確率を低減することができ、より
一層真空断路器の絶縁の信頼性を向上することが可能と
なる。
【0142】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、S
F6ガスの使用量を抑制して環境に調和した、構造が簡
単でかつ絶縁の信頼性の高い断路器用真空バルブを提供
することが可能となる。
F6ガスの使用量を抑制して環境に調和した、構造が簡
単でかつ絶縁の信頼性の高い断路器用真空バルブを提供
することが可能となる。
【図1】本発明による断路器用真空バルブの第1、第
5、第6の実施の形態をそれぞれ示す縦断面図。
5、第6の実施の形態をそれぞれ示す縦断面図。
【図2】本発明による断路器用真空バルブの第1、第3
の実施の形態をそれぞれ示す縦断面図。
の実施の形態をそれぞれ示す縦断面図。
【図3】本発明による断路器用真空バルブの第1の実施
の形態の作用を説明するための特性図。
の形態の作用を説明するための特性図。
【図4】本発明による断路器用真空バルブの第2、第
4、第8の実施の形態をそれぞれ示す縦断面図。
4、第8の実施の形態をそれぞれ示す縦断面図。
【図5】本発明による断路器用真空バルブの第2の実施
の形態の作用を説明するための特性図。
の形態の作用を説明するための特性図。
【図6】本発明による断路器用真空バルブの第3の実施
の形態の作用を説明するための特性図。
の形態の作用を説明するための特性図。
【図7】本発明による断路器用真空バルブの第4の実施
の形態の作用を説明するための特性図。
の形態の作用を説明するための特性図。
【図8】本発明による断路器用真空バルブの第7の実施
の形態を示す縦断面図。
の形態を示す縦断面図。
【図9】本発明による断路器用真空バルブの第9の実施
の形態を示す縦断面図。
の形態を示す縦断面図。
【図10】本発明による断路器用真空バルブの第10の
実施の形態を示す縦断面図。
実施の形態を示す縦断面図。
【図11】従来の代表的なキュービクル形ガス絶縁開閉
装置の構成例を示す縦断面図。
装置の構成例を示す縦断面図。
1…開閉装置の箱体、 1a…受電室、 1b…遮断器室、 1c…母線室、 2…SF6ガス、 3…ケーブルヘッド、 4…避雷器、 5…検電がいし、 6…断路器、 7…接続導体、 8…変流器、 9…ケーブル、 10a…スペーサ、 10b…スペーサ、 11…遮断器、 12…接続母線、 13…操作機構、 14…制御箱、 20…ベローズ、 21…絶縁容器、 22…固定側端板、 23…可動側端板、 24…固定側接点、 25…固定通電軸、 26…可動側接点、 27…可動通電軸、 28…第3の電極、 28a…第3の電極の突出部、 28b…第3の電極の突出部、 29a…封着金具、 29b…封着金具、 30a…シールド、 30b…シールド、 31a…絶縁部材、 31b…絶縁部材、 32a…シールド、 32b…シールド、 33…絶縁容器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大島 巖 東京都府中市東芝町1番地 株式会社東芝 府中事業所内 Fターム(参考) 5G026 BB02 BB12 BB14 CB01 EA04 EB04 EB08 HA01 HB02
Claims (10)
- 【請求項1】 絶縁容器の両端が金属部材で気密に封着
されてなる真空容器の内部に、前記一方の金属部材を貫
通する固定通電軸に固着された固定側接点を設け、 前記他方の金属部材を貫通する可動通電軸をベローズを
介して固着すると共に、前記可動通電軸に固着された可
動側接点を前記固定側接点と対向するように配置し、 前記可動側接点、固定側接点の直径よりも内径が大きな
リング状の第3の電極を、前記固定側接点と可動側接点
との中間に設け、 前記第3の電極の両端の固定側接点と可動側接点との対
向部に、突出部を設けて成ることを特徴とする断路器用
真空バルブ。 - 【請求項2】 前記請求項1に記載の断路器用真空バル
ブにおいて、 前記第3の電極の軸方向の両側に、前記固定側接点およ
び可動側接点を覆うシールドを設け、 前記第3の電極の突出部の内径と前記固定側接点および
可動側接点の外径との差の2分の1をD1、 前記シールドの内径と前記第3の電極の内径との差の2
分の1をD2、 前記シールドの長さをL1とした場合に、 前記D1、D2、L1の関係が、 D2=(0.25〜0.8)D1、 L1=(0.5〜
2.0)D1 となるようにしたことを特徴とする断路器用真空バル
ブ。 - 【請求項3】 前記請求項1または請求項2に記載の断
路器用真空バルブにおいて、 前記第3の電極の突出部の凸部と凹部の内径の差をD3
とした場合に、 前記D1、D3の関係が、 D3=(0.1〜0.4)D1 となるようにしたことを特徴とする断路器用真空バル
ブ。 - 【請求項4】 前記請求項1乃至請求項3のいずれか1
項に記載の断路器用真空バルブにおいて、 前記第3の電極の突出部の曲率半径をR1、前記シール
ドの両端の曲率半径をR2とした場合に、 前記R1、R2の関係が、 R2=(1.4〜3.0)R1 となるようにしたことを特徴とする断路器用真空バル
ブ。 - 【請求項5】 前記請求項1乃至請求項4のいずれか1
項に記載の断路器用真空バルブにおいて、 前記第3の電極の突出部を、銅・クロム合金で構成した
ことを特徴とする断路器用真空バルブ。 - 【請求項6】 前記請求項1乃至請求項4のいずれか1
項に記載の断路器用真空バルブにおいて、 前記第3の電極の突出部を、銅・タングステン合金で構
成したことを特徴とする断路器用真空バルブ。 - 【請求項7】 前記請求項2に記載の断路器用真空バル
ブにおいて、 前記第3の電極の両側に設けられたシールドの先端部
に、一端が凹部となったリング状の絶縁部材を設けたこ
とを特徴とする断路器用真空バルブ。 - 【請求項8】 前記請求項2に記載の断路器用真空バル
ブにおいて、 前記第3の電極の両側に設けられたシールドを、セラミ
ックで構成したことを特徴とする断路器用真空バルブ。 - 【請求項9】 前記請求項1に記載の断路器用真空バル
ブにおいて、 前記第3の電極の軸方向の両側に、セラミックからなる
円筒状のシールドを設け、 前記第3の電極の両側に設けられた円筒状のシールドの
先端部に曲率を設け、 前記第3の電極の両側に設けられた円筒状のシールドの
外表面に導電層を設けたことを特徴とする断路器用真空
バルブ。 - 【請求項10】 前記請求項1に記載の断路器用真空バ
ルブにおいて、 前記絶縁容器の内面に、複数の凸部を設けたことを特徴
とする断路器用真空バルブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000282569A JP2002093293A (ja) | 2000-09-18 | 2000-09-18 | 断路器用真空バルブ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000282569A JP2002093293A (ja) | 2000-09-18 | 2000-09-18 | 断路器用真空バルブ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002093293A true JP2002093293A (ja) | 2002-03-29 |
Family
ID=18767061
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000282569A Pending JP2002093293A (ja) | 2000-09-18 | 2000-09-18 | 断路器用真空バルブ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002093293A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003317583A (ja) * | 2002-04-24 | 2003-11-07 | Mitsubishi Electric Corp | 真空バルブ |
JP2007134231A (ja) * | 2005-11-11 | 2007-05-31 | Toshiba Corp | 真空開閉装置 |
JP2009277615A (ja) * | 2008-05-19 | 2009-11-26 | Toshiba Corp | 真空バルブおよびその製造方法 |
JP2012064416A (ja) * | 2010-09-15 | 2012-03-29 | Toshiba Corp | 真空バルブ |
JP2018108026A (ja) * | 2018-04-03 | 2018-07-05 | 株式会社東芝 | タンク形真空遮断器 |
-
2000
- 2000-09-18 JP JP2000282569A patent/JP2002093293A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP4695496B2 (ja) * | 2005-11-11 | 2011-06-08 | 株式会社東芝 | 真空開閉装置 |
JP2009277615A (ja) * | 2008-05-19 | 2009-11-26 | Toshiba Corp | 真空バルブおよびその製造方法 |
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