JP2002092980A - Device for exposing mater disk of optical disk - Google Patents

Device for exposing mater disk of optical disk

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JP2002092980A
JP2002092980A JP2000275925A JP2000275925A JP2002092980A JP 2002092980 A JP2002092980 A JP 2002092980A JP 2000275925 A JP2000275925 A JP 2000275925A JP 2000275925 A JP2000275925 A JP 2000275925A JP 2002092980 A JP2002092980 A JP 2002092980A
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JP
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eccentricity
master
exposure apparatus
resist
optical disk
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Application number
JP2000275925A
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Japanese (ja)
Inventor
Osamu Mizuta
治 水田
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a new device for exposing master disk for obtaining rectangular groove shapes which are different in depth, and a new resist master disk structure to be exposed. SOLUTION: A resist master disk 10 is mounted on a turntable 11 after removing the eccentricity referred to the outer diameter as reference and is adsorbed thereon by an air spindle motor 12. Grooves for detecting the eccentricity on the outer periphery of the resist master disk 10 is detected by a pickup 16 and the eccentricity is calculated as (n) period × set pitch by an eccentricity calculating circuit 22 and is added to a drive controlling circuit 21 as an offset signal to a slider unit 14. The drive controlling circuit 21 performs an exposure drive for a command value from a system controlling unit 20.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク原盤露
光装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical disk master exposure apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来の
光ディスク原盤露光装置としては、例えば特開平5−0
62251号公報に開示の偏芯調整装置のように、測定
時、光ディスク原盤のような円盤状物体を保持回転する
回転テーブルに装着し、回転したとき、回転テーブルに
固定され円盤状物体の外周に接するように配置された2
個の位置決めストッパと、2個の位置決めストッパの中
心線方向に移動する移動調整機構との円柱状リングとが
均一に回転するように、円盤状物体の回転時の外周移動
量を検出するモニタ部でモニタして移動調整機構を移動
させ偏芯調整を行い、これにより、光ディスク原盤のプ
リフォーマット信号変調度の測定が正確にできる、とい
うものがある。また特開平5−266581号公報に開
示の偏芯調整装置のように、円盤状物体を保持回転する
回転テーブルと、回転テーブルに固定され、円盤状物体
の外周に接するように配置された2個の位置決めストッ
パと、2個の位置決めストッパの中心線方向に移動する
移動調整機構と、円盤状物体に形成されたパターンの外
周エッジを含む領域をモニタする映像モニタ部とで構成
し、これにより、円盤状物体の回転時のパターン偏芯を
小さくできるため、光ディスク原盤等の信号検査装置に
おいてプリフォーマット信号変調度などの測定を正確に
行うことができる、というものがある。また特開平6−
4891号公報に開示の偏芯調整装置のように、測定
時、光ディスク原盤などの円盤状物体を保持し回転する
回転機構部に装着し、回転した状態で、レーザ発振器か
ら円盤状物体に形成されたパターン上にレーザビームを
照射し、そして円盤状物体に形成されたパターンによっ
て回折する1次回折光を光位置センサ部で捕捉し、偏芯
量算出部は受光位置信号の変化量が小さくなるよう偏芯
量補正信号を出力し、位置調整部は偏芯量補正信号によ
って円盤状物体を移動し、回転機構部の回転中心と円盤
状物体上のパターン中心との偏芯を調整する、というも
のもある。さらに、特開平7−240037号公報に開
示のガラス原盤のセンタリング装置のように、各リンク
アームのピボット軸の周りの揺動によって、各案内駒
が、ターンテーブルの回転中心に対して、同一方向に等
距離だけ移動して、ターンテーブル上に載置されたガラ
ス原盤の外周に当接できるように、ガラス原盤のセンタ
リング装置を構成する、というものもある。
2. Description of the Related Art A conventional optical disk master exposure apparatus is disclosed in, for example,
As in the eccentricity adjusting device disclosed in Japanese Patent No. 62251, the disk-like object such as an optical disk master is attached to a rotating table that holds and rotates at the time of measurement. 2 arranged to touch
A monitor unit for detecting the amount of movement of the outer periphery of the disk-shaped object during rotation so that the two positioning stoppers and the cylindrical ring of the movement adjusting mechanism that moves in the center line direction of the two positioning stoppers rotate uniformly. In some cases, the eccentricity adjustment is performed by moving the movement adjustment mechanism by monitoring the eccentricity, thereby accurately measuring the preformat signal modulation degree of the master optical disc. Further, as in an eccentricity adjusting device disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-266581, a rotary table for holding and rotating a disk-shaped object, and two rotary tables fixed to the rotary table and arranged so as to be in contact with the outer periphery of the disk-shaped object A positioning stopper, a movement adjusting mechanism that moves in the direction of the center line of the two positioning stoppers, and a video monitor that monitors an area including an outer peripheral edge of a pattern formed on the disk-shaped object. In some cases, the pattern eccentricity during rotation of a disk-shaped object can be reduced, so that a signal inspection device such as an optical disk master can accurately measure a preformat signal modulation factor and the like. In addition, Japanese Unexamined Patent Publication
As in the eccentricity adjusting device disclosed in Japanese Patent No. 4891, at the time of measurement, a disk-shaped object such as an optical disk master is mounted on a rotating mechanism that rotates while holding the disk-shaped object. A laser beam is radiated onto the pattern, and the first-order diffracted light diffracted by the pattern formed on the disc-shaped object is captured by the optical position sensor unit. An eccentricity correction signal is output, and the position adjustment unit moves the disk-shaped object by the eccentricity correction signal, and adjusts the eccentricity between the rotation center of the rotating mechanism and the pattern center on the disk-shaped object. There is also. Further, as in the centering device for a glass master disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-240037, each link arm swings around the pivot axis so that each guide piece is moved in the same direction with respect to the rotation center of the turntable. A centering device for a glass master is configured such that the center of the glass master can be brought into contact with the outer periphery of a glass master placed on a turntable by moving the glass master at an equal distance.

【0003】ところで上記のような従来技術では、図1
に示すように、レジスト原盤上にROM領域(溝深さλ
/4)とRAM領域(溝深さλ/8)を同一原盤内に形
成させるのに露光光量を切り替えて行う2層レジスト構
造にして、溝深さを切りかえる等の手法が用いられてい
る。図1中の(A)はガラス原盤1を、(B)は記録領
域になる所にレジスト2を塗布した状態を、(C)は露
光状態を、(D)は現像状態を、(E)は光量を切り替
えた状態を、(F)は2層レジストを形成した状態を、
そして(G)はRОM/RAM領域を形成したい状態を
示す。露光することによって形成する溝形状は、理想的
にはそれぞれ矩形が望ましく、通常のCD&DVD−R
OM、CD&DVD−R/RWの場合では、溝深さはガ
ラス原盤上に塗布するレジストの膜厚で制御し矩形溝を
形成している。
[0003] In the prior art as described above, FIG.
As shown in the figure, the ROM area (groove depth λ
/ 4) and the RAM area (groove depth λ / 8) are formed in the same master using a two-layer resist structure in which the amount of exposure light is switched to switch the groove depth. 1A shows a glass master 1, FIG. 1B shows a state where a resist 2 is applied to a recording area, FIG. 1C shows an exposed state, FIG. 1D shows a developed state, and FIG. Indicates a state in which the light amount is switched, (F) indicates a state in which a two-layer resist is formed,
(G) shows a state where an R @ M / RAM area is desired to be formed. Ideally, each of the grooves formed by exposure is preferably rectangular.
In the case of OM and CD & DVD-R / RW, the groove depth is controlled by the thickness of the resist applied on the glass master to form a rectangular groove.

【0004】前者の場合、露光レーザ光の強度分布の関
係でRAM領域のグルーブ部を形成する形状は矩形には
ならずV字型となる。溝深さを一定に保つためには、露
光光量変動、レジスト原盤の面振れ、対物レンズフォー
カス制御を高精度に制御する必要がある。また、溝形状
がV字形状のため記録膜との適正マージンが少なく露光
歩留まりを低下する要因となっている。
In the former case, the shape of the groove in the RAM area is not rectangular but V-shaped due to the intensity distribution of the exposure laser light. In order to keep the groove depth constant, it is necessary to control the fluctuation of the exposure light amount, the fluctuation of the surface of the resist master, and the focus control of the objective lens with high accuracy. Further, since the groove shape is a V-shape, an appropriate margin with the recording film is small, which causes a reduction in the exposure yield.

【0005】後者の場合、2層レジストを塗り分けるた
めの中間層選定、上下層のレジスト選定が困難であり、
そのフォトリソプロセスが複雑になり欠陥を増加しやす
く、これも歩留まり低下の要因となっている。
[0005] In the latter case, it is difficult to select an intermediate layer for separately applying a two-layer resist and to select resists for upper and lower layers.
The photolithography process becomes complicated and defects tend to increase, which also causes a decrease in yield.

【0006】そこで図2に示すように、ガラス原盤1自
体にあらかじめROM領域になる所にレジスト2を塗布
した後(同図B)、λ/4となるように研磨しておき、
露光することによって(同図C)、それぞれの領域を矩
形にする方式が検討されている(同図D)。
Therefore, as shown in FIG. 2, after a resist 2 is applied to the glass master 1 itself in a place to be a ROM area (B in FIG. 2), it is polished to λ / 4.
A method of making each area rectangular by exposing (FIG. C) is under study.

【0007】この方式の場合問題となるのは、ガラス原
盤1の中心とROM領域の中心、露光回転中心が同軸上
に合致していないと、偏芯のためROM/RAM切り替
り部のピット深さグルーブ深さが均一に出来ないという
ことである。
The problem with this method is that if the center of the glass master 1 and the center of the ROM area and the center of rotation of the exposure do not coincide with each other coaxially, the pit depth of the ROM / RAM switching part due to the eccentricity. This means that the groove depth cannot be made uniform.

【0008】本発明は上記の従来技術の問題点を解決
し、異なる深さの矩形の溝形状を得るための新規な原盤
露光装置及び新規な露光するレジスト原盤構造を提供し
ようとするものである。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art and to provide a novel master exposure apparatus and a novel resist master structure for exposure for obtaining rectangular groove shapes having different depths. .

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に係る
画像形成装置は、上記目的を達成するために、定盤上に
固定されたスピンドルユニット、該スピンドルユニット
の中心軸に平行に設置されたスライドユニットを用いて
上記スピンドルユニット上にレジスト原盤を吸着回転
し、上記定番上に設置された露光光源と光学系によって
変調されたレーザ光を上記スライドユニット上に設置し
た対物レンズによって上記レジスト原盤上に集光して潜
像を形成する光ディスク原盤露光装置において、回転吸
着される上記レジスト原盤の偏芯を検出し、該偏芯に対
して上記スライドユニットを連動させて駆動することを
特徴とする。
In order to achieve the above object, an image forming apparatus according to a first aspect of the present invention is provided with a spindle unit fixed on a surface plate and installed in parallel with a center axis of the spindle unit. The resist master is sucked and rotated on the spindle unit by using the slide unit, and the resist light is modulated by an exposure light source installed on the standard and a laser beam modulated by an optical system by the objective lens installed on the slide unit. In an optical disc master exposure apparatus that forms a latent image by condensing on a master, an eccentricity of the resist master that is rotatably attracted is detected, and the slide unit is driven in conjunction with the eccentricity. And

【0010】同請求項2に係るものは、上記目的を達成
するために、請求項1の光ディスク原盤露光装置におい
て、上記偏芯を検出する偏芯検出手段は、上記定盤上に
設置された上記スピンドルユニット及び上記スライドユ
ニットの中心軸上に設置してあり、光ディスクドライブ
等に用いらるピックアップ等を検出手段として用い、該
ピックアップから得られる信号を偏芯量検出信号とする
ことを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, in order to achieve the above object, in the optical disk master exposure apparatus of the first aspect, the eccentricity detecting means for detecting the eccentricity is provided on the surface plate. It is installed on the central axis of the spindle unit and the slide unit, and uses a pickup or the like used in an optical disk drive or the like as a detection unit, and uses a signal obtained from the pickup as an eccentricity detection signal. I do.

【0011】同請求項3に係るものは、上記目的を達成
するために、請求項2の光ディスク原盤露光装置におい
て、上記偏芯検出信号は上記レジスト原盤の露光領域外
に形成されている複数ピッチで形成されている同心円の
微細溝からトラッキングエラー信号を検出し、該トラッ
キングエラー信号から上記レジスト原盤の偏芯量を随時
演算してスライド制御ユニットへオフセット信号として
加算することを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, in order to achieve the above object, in the optical disk master exposure apparatus according to the second aspect, the eccentricity detection signal includes a plurality of pitches formed outside the exposure area of the resist master. A tracking error signal is detected from the concentric fine grooves formed by the above, and the amount of eccentricity of the resist master is calculated as needed from the tracking error signal and added to the slide control unit as an offset signal.

【0012】同請求項4に係るものは、上記目的を達成
するために、請求項2の光ディスク原盤露光装置におい
て、上記ピックアップが、上記スピンドルユニットに回
転吸着される上記レジスト原盤の面振れに追従するため
のフォーカスサーボ制御構造のみの1軸ピックアップで
あることを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, in order to achieve the above object, in the optical disk master exposure apparatus according to the second aspect, the pickup follows a surface deflection of the resist master which is rotationally attracted to the spindle unit. It is a single-axis pickup having only a focus servo control structure for performing the operation.

【0013】同請求項5に係るものは、上記目的を達成
するために、請求項3の光ディスク原盤露光装置におい
て、上記スライドユニットと上記スピンドルユニットの
制御ユニットは、システム制御ユニットからの同期信号
で駆動することでスパイラル、同心円駆動を可能とし、
上記偏芯量を演算したオフセット信号を上記スライド制
御ユニットに加算して上記レジスト原盤の偏芯に追従す
ることを可能としてなることを特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, in order to achieve the above object, in the optical disk master exposing apparatus according to the third aspect, the control unit for the slide unit and the spindle unit uses a synchronization signal from a system control unit. By driving, spiral, concentric driving is enabled,
The offset signal obtained by calculating the eccentric amount is added to the slide control unit, so that the eccentricity of the resist master can be followed.

【0014】同請求項6に係るものは、上記目的を達成
するために、請求項3の光ディスク原盤露光装置におい
て、上記露光領域外に偏芯量検出溝のついたレジスト原
盤を用い、上記露光領域内にレジスト層を含んでλ/4
の深さで加工された同心円溝を形成し、該同心円溝と偏
芯量検出溝の中心が一致していることを特徴とする。
According to a sixth aspect of the present invention, in order to achieve the above object, in the optical disk master exposure apparatus of the third aspect, a resist master having an eccentricity detection groove outside the exposure area is used. Λ / 4 including resist layer in region
Is formed, and the center of the concentric groove coincides with the center of the eccentricity detection groove.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態を図面を
参照して説明する。なお以下では従来と共通する部分に
は共通する符号を付すにとどめ重複する説明は省略す
る。図3は本発明に係る光ディスク原盤露光装置の一実
施形態を示す概念図である。本実施形態装置は、レジス
ト原盤10を吸着、回転させるターンテーブル11付き
のエアスピンドルモータ12、ターンテーブル11上に
位置する記録ヘッド13を移動させるエアスライダ14
と、記録するための露光光学系15(詳細は図示せず)
となっており、エアスピンドルモータ12の外周部にレ
ジスト原盤10の中心位置検出用のピックアップ16が
搭載されている。図中17は露光ピックアップである。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In the following, portions common to the related art are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted. FIG. 3 is a conceptual diagram showing an embodiment of an optical disk master exposure apparatus according to the present invention. The apparatus of this embodiment includes an air spindle motor 12 having a turntable 11 for sucking and rotating a resist master 10, and an air slider 14 for moving a recording head 13 located on the turntable 11.
Optical system 15 for recording (details not shown)
A pickup 16 for detecting the center position of the resist master 10 is mounted on the outer periphery of the air spindle motor 12. In the figure, reference numeral 17 denotes an exposure pickup.

【0016】レジスト原盤10は、図4に示すように、
λ/4ピット、原盤偏芯検出用溝を形成するための溝1
8、19が形成されている。これらの溝18、19は、
同時加工によるものなので中心位置は合致しているもの
を用いる。
The resist master 10 is, as shown in FIG.
Groove 1 for forming λ / 4 pit, groove for detecting master eccentricity
8 and 19 are formed. These grooves 18, 19 are
Since the processing is performed by simultaneous processing, the one whose center position matches is used.

【0017】図示の光ディスク原盤露光装置の一連の駆
動制御は、システム制御ユニット20から駆動制御回路
21を経て光学系の制御ユニットを構成するエアスピン
ドルモータ12やエアスライダ14へ同期して指令を送
るようになっている。これら制御ユニットはそれぞれス
ライダなら基準スケール(図示せず)により位置制御を
行い、正確な露光ピッチを実現する。エアスピンドルモ
ータ12もシステム制御ユニット20から送られてくる
制御信号によって回転制御を行う。これらの制御信号は
すべて同期して行われるので、スパイラルまたは同心円
駆動が可能となっている。一方、露光光学系15もシス
テム制御ユニット20から制御信号を受けて所望の光変
調が行われるので、スパイラルまたは同心円露光が可能
となる。
A series of drive controls of the optical disk master exposure apparatus shown in FIG. 1 are synchronously sent from the system control unit 20 to the air spindle motor 12 and the air slider 14 constituting the control unit of the optical system via the drive control circuit 21. It has become. These control units perform position control using a reference scale (not shown) in the case of a slider, thereby realizing an accurate exposure pitch. The air spindle motor 12 also performs rotation control by a control signal sent from the system control unit 20. Since all of these control signals are performed synchronously, spiral or concentric drive is possible. On the other hand, since the exposure optical system 15 also receives a control signal from the system control unit 20 and performs desired light modulation, spiral or concentric exposure can be performed.

【0018】なお露光時にはレジスト原盤10上にサブ
ミクロンまでレーザ光を集光させるための対物レンズが
回転するレジスト原盤の面振れに常に焦点深度内に収め
るためのフォーカス制御も行われている(図示せず)。
At the time of exposure, focus control is also performed so that the objective lens for converging laser light to the submicron level on the resist master 10 always keeps within the depth of focus within the surface deflection of the rotating resist master (see FIG. 1). Not shown).

【0019】次に本実施形態の偏芯除去動作について説
明する。露光されるレジスト原盤10は、まず外径基準
でその偏芯を除去してターンテーブル11上に搭載し、
エアスピンドルモータ12でその上に吸着させる。この
時点でレジスト原盤10内に形成されている溝18、1
9の偏芯は100μm程度になっている。
Next, the eccentricity removing operation of this embodiment will be described. The resist master 10 to be exposed is first mounted on a turntable 11 after removing its eccentricity on the basis of the outer diameter,
An air spindle motor 12 is used to adsorb it. At this point, the grooves 18, 1 formed in the resist master 10 are
The eccentricity of No. 9 is about 100 μm.

【0020】次に、吸着させたレジスト原盤10の外周
部に設置した偏芯検出用溝18を、位置を固定したピッ
クアップ16によって検出する。検出方法としては、ピ
ックアップ16でフォーカスを行い、レジスト原盤10
が回転することで光干渉によるTe信号が発生する(図
5、6、7参照)ので、このTe信号と設定ピッチによ
ってレジスト原盤10の偏芯量はn周期×設定ピッチで
表すことができる。これらの演算は、偏芯量演算回路2
2内で演算され、駆動制御回路21へスライダユニット
14へのオフセット信号として加算される。なお図5中
のRpは読み取りビームスポット、Tpはトラックピッ
チである。また図6、7中のRは1回転を示す。図6は
偏芯大の状態のTe信号、図7は偏芯小の状態のTe信
号を示す。
Next, the eccentricity detecting groove 18 installed on the outer periphery of the resist master 10 that has been sucked is detected by the pickup 16 whose position is fixed. As a detection method, focusing is performed by the pickup 16 and the resist master 10
Is rotated, a Te signal is generated due to optical interference (see FIGS. 5, 6, and 7). Therefore, the eccentricity of the resist master 10 can be represented by n cycles × set pitch by the Te signal and the set pitch. These calculations are performed by the eccentricity calculation circuit 2
2 and is added to the drive control circuit 21 as an offset signal to the slider unit 14. Note that Rp in FIG. 5 is a reading beam spot, and Tp is a track pitch. R in FIGS. 6 and 7 indicates one rotation. 6 shows a Te signal in a state of large eccentricity, and FIG. 7 shows a Te signal in a state of small eccentricity.

【0021】駆動制御回路21は、システム制御ユニッ
ト20からの指令値に対して露光駆動を行うが、スライ
ダユニット14については、オフセット信号が加算され
ることでレジスト原盤10に既に形成されている溝の偏
芯に同期しながら駆動される。スライダユニット14の
基準スケールは、一般的にマグネスケール、レーザスケ
ールを用いているが、分解能は1〜8nm/パルスと原
盤吸着時の偏芯100μmに対して十分な分解能があ
り、露光溝仕様として一般的なピッチ変動±0.03μ
mに対しても十分な分解能であることから、露光溝中心
とレジスト原盤中心の偏芯を除去することができる。
The drive control circuit 21 performs exposure drive in response to a command value from the system control unit 20. For the slider unit 14, a groove already formed in the resist master 10 by adding an offset signal. Driven in synchronism with the eccentricity. The reference scale of the slider unit 14 is generally a magnescale or a laser scale, but has a resolution of 1 to 8 nm / pulse and a sufficient resolution for the eccentricity of 100 μm when the master is attracted. General pitch fluctuation ± 0.03μ
Since the resolution is sufficient for m, the eccentricity between the center of the exposure groove and the center of the resist master can be removed.

【0022】図8は、CLV(線速度一定)モードでエ
アスピンドル12とスライダユニット14を駆動した場
合を示す。図8によれば、記録領域の内周〜外周にかけ
て同期して内周は早く、外周は遅く駆動されている。こ
の駆動制御の中で、スライダユニット14の送り速度が
レジスト原盤1の1回転の偏芯に同期しているため、実
際の露光されたレジスト原盤1には基準溝に対して偏芯
の無い露光が可能となる。
FIG. 8 shows a case where the air spindle 12 and the slider unit 14 are driven in the CLV (constant linear velocity) mode. According to FIG. 8, the inner periphery is driven earlier and the outer periphery is driven later synchronously from the inner periphery to the outer periphery of the recording area. In this drive control, the feed speed of the slider unit 14 is synchronized with the eccentricity of one rotation of the resist master 1, so that the actually exposed resist master 1 does not have eccentricity with respect to the reference groove. Becomes possible.

【0023】従って図2に示すようなレジスト原盤1に
形成されているレジスト膜2を塗布した時点でROM
(λ/4)深さの領域とRAM(λ/8〜λ/10)深
さとなるレジスト原盤1を用いて露光した場合、領域の
切り替り部でレジスト原盤1の偏芯による深さ変動を防
止することができ、それぞれの信号特性にあった深さの
異なる矩形溝が形成されることになる。
Therefore, when the resist film 2 formed on the resist master 1 as shown in FIG.
When exposure is performed using the resist master 1 having a region of (λ / 4) depth and a RAM (λ / 8 to λ / 10) depth, the depth variation due to the eccentricity of the resist master 1 at the region switching portion is reduced. Therefore, rectangular grooves having different depths corresponding to the respective signal characteristics are formed.

【0024】[0024]

【発明の効果】請求項1に係る光ディスク原盤露光装置
は、以上説明してきたようものなので、偏芯検出基準溝
を設けたレジスト原盤に合致して露光することでピッチ
変動を低減することができるという効果がある。
The optical disk master exposure apparatus according to the first aspect is as described above. Therefore, pitch fluctuation can be reduced by performing exposure in conformity with a resist master having an eccentricity detection reference groove. This has the effect.

【0025】同請求項2、3に係る光ディスク原盤露光
装置は、以上説明してきたようものなので、偏芯検出手
段を移動軸中心に合致させることで、楕円状に回転する
レジスト原盤中心に対してスライドユニットの一方向の
移動量に変換することができるという効果がある。
Since the optical disk master exposure apparatus according to claims 2 and 3 is as described above, by aligning the eccentricity detection means with the center of the moving axis, the center of the resist master rotating in an elliptical shape can be adjusted. There is an effect that it can be converted into the amount of movement of the slide unit in one direction.

【0026】請求項4に係る光ディスク原盤露光装置
は、以上説明してきたようものなので、1軸PUを用い
ることで偏芯方向にピックアップが駆動されないので、
外乱等による偏芯方向の影響を受けずにレジスト原盤の
偏芯量を正確に検出することができるという効果があ
る。
Since the optical disk master exposure apparatus according to claim 4 is as described above, the pickup is not driven in the eccentric direction by using the uniaxial PU.
There is an effect that the eccentric amount of the resist master can be accurately detected without being affected by the eccentric direction due to disturbance or the like.

【0027】請求項5に係る光ディスク原盤露光装置
は、以上説明してきたようものなので、スピンドルユニ
ットとスライドユニットを同期駆動させることで、レジ
スト原盤の偏芯に追従した真円度の高いCLV、CAV
駆動が可能となるという効果がある。
Since the optical disk master exposure apparatus according to the fifth aspect is as described above, by driving the spindle unit and the slide unit synchronously, CLV and CAV having a high roundness following the eccentricity of the resist master are realized.
There is an effect that driving becomes possible.

【0028】請求項6に係る光ディスク原盤露光装置
は、以上説明してきたようものなので、レジスト原盤上
に同心円上の段差を設けることで、深さの異なる矩形溝
を形成することが可能となり、またレジスト原盤の偏芯
を除去して露光するため、レジスト原盤内に形成されて
いる段差の切替部の露光溝深さ変動を防止することがで
きるという効果がある。
Since the optical disk master exposure apparatus according to claim 6 is as described above, by providing concentric steps on the resist master, it is possible to form rectangular grooves having different depths. Since the exposure is performed by removing the eccentricity of the resist master, there is an effect that a variation in the depth of the exposure groove of the step change portion formed in the resist master can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】従来の原盤露光プロセスを示す断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view showing a conventional master exposure process.

【図2】他の従来の原盤露光プロセスを示す断面図であ
る。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing another conventional master exposure process.

【図3】本発明に係る光ディスク原盤露光装置の一実施
形態を示す概念図である。
FIG. 3 is a conceptual diagram showing an embodiment of an optical disk master exposure apparatus according to the present invention.

【図4】本発明に係る光ディスク原盤露光装置の一実施
形態で用いるガラス原盤の平面図(A)と断面図(B)
である。
FIG. 4 is a plan view (A) and a cross-sectional view (B) of a glass master used in an embodiment of an optical disk master exposure apparatus according to the present invention.
It is.

【図5】本発明に係る光ディスク原盤露光装置の一実施
形態における偏芯量検出を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing eccentricity detection in an optical disk master exposure apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図6】同偏芯大の時のTe信号を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a Te signal when the eccentricity is large.

【図7】同偏芯小の時のTe信号を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a Te signal when the eccentricity is small.

【図8】線速度一定モードでエアスピンドルとスライダ
ユニットを駆動した例の横送り速度を示す図(A)と回
転数を示す図(B)である。
FIGS. 8A and 8B are a diagram illustrating a lateral feed speed and a diagram illustrating a rotation speed of an example in which an air spindle and a slider unit are driven in a constant linear velocity mode.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 レジスト原盤 11 ターンテーブル 12 エアスピンドルモータ 13 記録ヘッド 14 エアスライダ 15 露光光学系 16 ピックアップ 17 露光ピックアップ 18、19 溝 20 システム制御ユニット 21 駆動制御回路 22 偏芯量演算回路 Reference Signs List 10 resist master 11 turntable 12 air spindle motor 13 recording head 14 air slider 15 exposure optical system 16 pickup 17 exposure pickup 18, 19 groove 20 system control unit 21 drive control circuit 22 eccentricity calculation circuit

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 定盤上に固定されたスピンドルユニッ
ト、該スピンドルユニットの中心軸に平行に設置された
スライドユニットを用いて上記スピンドルユニット上に
レジスト原盤を吸着回転し、上記定番上に設置された露
光光源と光学系によって変調されたレーザ光を上記スラ
イドユニット上に設置した対物レンズによって上記レジ
スト原盤上に集光して潜像を形成する光ディスク原盤露
光装置において、回転吸着される上記レジスト原盤の偏
芯を検出し、該偏芯に対して上記スライドユニットを連
動させて駆動することを特徴とする光ディスク原盤露光
装置。
1. A resist master is sucked and rotated on the spindle unit by using a spindle unit fixed on a surface plate and a slide unit installed in parallel with a center axis of the spindle unit. An exposure light source and a laser beam modulated by an optical system are condensed on the resist master by an objective lens installed on the slide unit to form a latent image in the optical disc master exposure apparatus. An optical disc master disc exposure apparatus, wherein the eccentricity is detected and the slide unit is driven in association with the eccentricity.
【請求項2】 請求項1の光ディスク原盤露光装置にお
いて、上記偏芯を検出する偏芯検出手段は、上記定盤上
に設置された上記スピンドルユニット及び上記スライド
ユニットの中心軸上に設置してあり、光ディスクドライ
ブ等に用いらるピックアップ等を検出手段として用い、
該ピックアップから得られる信号を偏芯量検出信号とす
ることを特徴とする光ディスク原盤露光装置。
2. The optical disk master exposure apparatus according to claim 1, wherein the eccentricity detecting means for detecting the eccentricity is installed on a center axis of the spindle unit and the slide unit installed on the surface plate. Yes, using a pickup or the like used for an optical disk drive or the like as a detecting means,
An optical disk master exposure apparatus, wherein a signal obtained from the pickup is used as an eccentricity detection signal.
【請求項3】 請求項2の光ディスク原盤露光装置にお
いて、上記偏芯検出信号は上記レジスト原盤の露光領域
外に形成されている複数ピッチで形成されている同心円
の微細溝からトラッキングエラー信号を検出し、該トラ
ッキングエラー信号から上記レジスト原盤の偏芯量を随
時演算してスライド制御ユニットへオフセット信号とし
て加算することを特徴とする光ディスク原盤露光装置。
3. The optical disk master exposure apparatus according to claim 2, wherein the eccentricity detection signal detects a tracking error signal from concentric fine grooves formed at a plurality of pitches formed outside an exposure area of the resist master. An optical disc master exposure apparatus, wherein the eccentricity of the resist master is calculated as needed from the tracking error signal and added to the slide control unit as an offset signal.
【請求項4】 請求項2の光ディスク原盤露光装置にお
いて、上記ピックアップが、上記スピンドルユニットに
回転吸着される上記レジスト原盤の面振れに追従するた
めのフォーカスサーボ制御構造のみの1軸ピックアップ
であることを特徴とする光ディスク原盤露光装置。
4. The optical disk master exposure apparatus according to claim 2, wherein the pickup is a single-axis pickup having only a focus servo control structure for following a surface deflection of the resist master which is rotationally attracted to the spindle unit. An optical disc master exposure apparatus characterized by the following:
【請求項5】 請求項3の光ディスク原盤露光装置にお
いて、上記スライドユニットと上記スピンドルユニット
の制御ユニットは、システム制御ユニットからの同期信
号で駆動することでスパイラル、同心円駆動を可能と
し、上記偏芯量を演算したオフセット信号を上記スライ
ド制御ユニットに加算して上記レジスト原盤の偏芯に追
従することを可能としてなることを特徴とする光ディス
ク原盤露光装置。
5. The optical disk master exposure apparatus according to claim 3, wherein the control unit for the slide unit and the spindle unit is driven by a synchronization signal from a system control unit, thereby enabling spiral and concentric drive, and the eccentricity. An optical disc master exposure apparatus, characterized in that an offset signal whose amount has been calculated is added to the slide control unit so as to follow the eccentricity of the resist master.
【請求項6】 請求項3の光ディスク原盤露光装置にお
いて、上記露光領域外に偏芯量検出溝のついたレジスト
原盤を用い、上記露光領域内にレジスト層を含んでλ/
4の深さで加工された同心円溝を形成し、該同心円溝と
偏芯量検出溝の中心が一致していることを特徴とする光
ディスク原盤露光装置。
6. The optical disk master exposure apparatus according to claim 3, wherein a resist master having an eccentricity detection groove outside the exposure area is used, and a resist layer is included in the exposure area.
An optical disk master exposure apparatus, wherein a concentric groove machined at a depth of 4 is formed, and the center of the concentric groove coincides with the center of the eccentricity detection groove.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003029421A (en) * 2001-07-17 2003-01-29 Seiko Epson Corp Pattern exposure system

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