JP2002092940A - Optical recording medium and recording method for optical recording medium - Google Patents

Optical recording medium and recording method for optical recording medium

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JP2002092940A
JP2002092940A JP2000282163A JP2000282163A JP2002092940A JP 2002092940 A JP2002092940 A JP 2002092940A JP 2000282163 A JP2000282163 A JP 2000282163A JP 2000282163 A JP2000282163 A JP 2000282163A JP 2002092940 A JP2002092940 A JP 2002092940A
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Japan
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recording
linear velocity
layer
mark
temperature
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JP2000282163A
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Noboru Sasa
登 笹
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Ricoh Co Ltd
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Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical recording medium which can suppress the increase of a heat interference at a high recording linear velocity, the aggravation of jitter and cross talk, the deterioration of resolution or the increase of a modulation degree, and a large change of recording strategy, and conforms to a constant angular velocity(CAV) method or a zoned constant angular velocity(ZCAV) method excellent in recording/reproducing characteristics. SOLUTION: In the optical recording medium provided with at least a recording layer and a reflective layer successively on a base and which performs recording and reproduction by the CAV or ZCAV method, the film thickness of the recording layer is made thinner toward the outer periphery.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、CAV(Constant
Angular Velocity )方式もしくはZCAV(Zoned Co
nstant Angular Velocity )方式対応の光記録媒体およ
び光記録媒体への記録方法に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a CAV (Constant
Angular Velocity or ZCAV (Zoned Co.)
The present invention relates to an optical recording medium that supports the Angular Velocity (nstant Angular Velocity) method and a recording method for the optical recording medium.

【0002】[0002]

【従来の技術】記録可能な光情報記録媒体に記録を行う
光情報記録媒体の記録装置においては、記録に要する時
間短縮のために、記録線速度の高速化が図られている。
この記録線速度の高速化手法の1つとして、CAV記録
あるいはZCAV記録がある。例えば追記型DVDにお
いて記録時間の短縮のために、CAV記録や、ZCAV
記録を行うことを考えた場合、最内周で1倍速記録(基
準速度)とすると最外周では2.5倍速記録となる(記
録可能な最内周半径と最外周半径によって決まる)。
2. Description of the Related Art In a recording apparatus of an optical information recording medium for recording on a recordable optical information recording medium, the recording linear velocity is increased to shorten the time required for recording.
One of the techniques for increasing the recording linear velocity is CAV recording or ZCAV recording. For example, in order to shorten the recording time in a write-once DVD, CAV recording, ZCAV,
When recording is considered, if the innermost circumference is set to 1 × speed recording (reference speed), the outermost circumference is 2.5 × speed recording (determined by the recordable innermost radius and outermost radius).

【0003】ところで、高記録線速度に対応した記録ス
トラテジに関しては、例えば特開平11−232652
号公報には、1倍速以上の高速記録においても、良好な
記録が行える記録方法が開示されている。この記録方法
は、1倍速を超える高速記録を行うに際して、1倍速の
記録における先頭パルスのパルス幅および後続パルスの
パルス幅よりも,先頭パルスのパルス幅および後続パル
スのパルス幅を大きく設定する、あるいは1倍速を超え
る高速記録を行うに際して、記録用レーザ光のパワーを
1倍速の記録の場合よりも大きく設定することを特徴と
するものである。しかし、高記録線速度に適したディス
ク構成は十分検討されていない。
Incidentally, a recording strategy corresponding to a high recording linear velocity is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. H11-232652.
Japanese Patent Application Laid-Open Publication No. H11-209,086 discloses a recording method capable of performing good recording even at a high speed recording of 1 × speed or higher. This recording method sets a pulse width of a leading pulse and a pulse width of a succeeding pulse larger than a pulse width of a leading pulse and a pulse width of a trailing pulse in the recording at 1 × speed when performing high-speed recording exceeding 1 × speed. Alternatively, when performing high-speed recording exceeding 1 × speed, the power of the recording laser beam is set to be larger than that in the case of 1 × speed recording. However, a disc configuration suitable for a high recording linear velocity has not been sufficiently studied.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】記録した情報を正しく
再生できる記録速度の限界値は、光情報記録媒体の種類
や、製造メーカーごと、あるいは記録装置ごとに異な
る。したがって、例えば、CAVあるいはZCAV記録
の場合、内周側はエラーが少ない良好な記録が行えて
も、外周では最内周での記録線速度に対して高記録線速
度となるため、エラーが多い、あるいは再生不能な光記
録媒体を作製してしまうことになる。これは、高記録線
速度になるに従ってマーク間の熱干渉が増加し、また高
記録線速度になるに従ってより記録パワーが必要となる
ために、ジッタおよびクロストークが増大することに原
因がある。
The limit value of the recording speed at which the recorded information can be correctly reproduced differs depending on the type of the optical information recording medium, the manufacturer, or the recording apparatus. Therefore, for example, in the case of CAV or ZCAV recording, even if good recording with few errors can be performed on the inner peripheral side, the recording linear velocity on the outer peripheral side is higher than the recording linear velocity on the innermost peripheral side, so that there are many errors. Alternatively, an optical recording medium that cannot be reproduced is produced. This is because the thermal interference between the marks increases as the recording linear velocity increases, and more recording power is required as the recording linear velocity increases, so that jitter and crosstalk increase.

【0005】さらには、通常、記録ストラテジは基準記
録線速度(最内周における記録線速度)に最適化されて
いるが、記録線速度が高速化すると、高記録線速度での
最適記録ストラテジは基準記録速度で最適化されている
記録ストラテジと大きく異なり、記録ストラテジを記録
線速度に対して細かく制御できない場合は、高記録線速
度になるに従ってジッタが悪化する恐れがある。つま
り、低記録線速度時(内周側)と高記録線速度時(外周
側)では、同一の記録ストラテジが使用できず、記録線
速度に合わせて細かく制御する必要があった(同一の記
録ストラテジで記録できる記録位置が非常に狭くな
る)。
Further, the recording strategy is usually optimized to the reference recording linear velocity (the recording linear velocity at the innermost circumference). However, when the recording linear velocity increases, the optimal recording strategy at a high recording linear velocity becomes higher. In contrast to the recording strategy optimized at the reference recording speed, if the recording strategy cannot be finely controlled with respect to the recording linear speed, the jitter may deteriorate as the recording linear speed increases. That is, the same recording strategy cannot be used at the time of the low recording linear velocity (inner circumference side) and at the time of the high recording linear velocity (outer circumference side), and it is necessary to perform fine control according to the recording linear velocity (the same recording). The recording position that can be recorded by the strategy becomes very narrow).

【0006】また、一般的に低記録線速度時(内周側)
と高記録線速度時(外周側)では、レゾリューション
(最長マークの振幅に対する最短マークの振幅比)や変
調度が大きく異なる。
In general, at a low recording linear velocity (inner side)
At high recording linear velocities (on the outer circumference side), the resolution (the ratio of the amplitude of the shortest mark to the amplitude of the longest mark) and the degree of modulation differ greatly.

【0007】本発明は、上述の問題点に鑑みてなされた
もので、CAV記録あるいはZCAV記録に適した光記
録媒体構成、具体的には高記録線速度となる外周側にお
いても、熱干渉が低減され、ジッタおよびクロストーク
の増加が低減された光記録媒体を提供することを目的と
する。
[0007] The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and thermal interference is not caused even on an optical recording medium configuration suitable for CAV recording or ZCAV recording, specifically, on the outer peripheral side where a high recording linear velocity is obtained. It is an object of the present invention to provide an optical recording medium having reduced jitter and increased crosstalk.

【0008】また本発明は、レゾリューション(最長マ
ークの振幅に対する最短マークの振幅比)や変調度のデ
ィスク半径位置での変動が小さく抑えられ、またディス
ク半径位置での記録ストラテジの変動を小さく抑制でき
るCAV記録あるいはZCAV記録に適した光記録媒体
を提供することを目的とする。
Further, according to the present invention, fluctuations in the resolution (amplitude ratio of the shortest mark to the amplitude of the longest mark) and the degree of modulation at the disk radial position are suppressed, and the fluctuation of the recording strategy at the disk radial position is reduced. An object of the present invention is to provide an optical recording medium suitable for CAV recording or ZCAV recording that can be suppressed.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】即ち本発明は、少なくと
も基板上に記録層および反射層が順次設けられ、記録再
生をCAV(Constant Angular Velocity)方式もしく
はZCAV(Zoned Constant Angular Velocity)方式
で行う光記録媒体において、記録層膜厚が外周ほど薄い
ことを特徴とする光記録媒体である。
That is, according to the present invention, a recording layer and a reflective layer are sequentially provided at least on a substrate, and recording and reproduction are performed by a CAV (Constant Angular Velocity) system or a ZCAV (Zoned Constant Angular Velocity) system. An optical recording medium characterized in that the recording layer is thinner toward the outer periphery.

【0010】また、本発明は、上記光記録媒体への記録
方法であって、全ての記録位置で記録発光パターンを同
一としたことを特徴とする光記録媒体への記録方法であ
る。
The present invention also relates to a method for recording on the optical recording medium, wherein the recording light emission pattern is the same at all recording positions.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】まず、初めに、記録線速度の高速
化に伴ってマーク間の熱干渉が増加する原因であるが、
これは記録線速度が高速化すると、特に短スペースを介
したマーク間で、過去にレーザが照射された位置(前マ
ーク)からの熱流入の影響が大きくなるためである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS First, the cause of an increase in thermal interference between marks with an increase in recording linear velocity is as follows.
This is because, when the recording linear velocity is increased, the influence of heat inflow from the position (previous mark) where the laser was irradiated in the past becomes large, particularly between marks via a short space.

【0012】図1に示すように、第一の3Tマークを形
成した後、3Tスペースを介して第二の3Tマークを形
成させた時、第二の3Tマークの温度分布が記録線速度
によってどのように変化するかを計算した(第一の3T
マークを形成させるために、1.5〜3.0(T)間矩
形波パルスを照射し、第二の3Tマークを形成させるた
めに、7.5〜9.0(T)間矩形波パルスを照射し
た)。
As shown in FIG. 1, when a second 3T mark is formed via a 3T space after forming a first 3T mark, the temperature distribution of the second 3T mark depends on the recording linear velocity. (The first 3T)
A rectangular wave pulse for 1.5 to 3.0 (T) is applied to form a mark, and a rectangular wave pulse for 7.5 to 9.0 (T) is applied to form a second 3T mark. Was irradiated).

【0013】なお、計算条件は基板上に記録層(膜厚1
50(nm))、金反射層(膜厚100(nm))、保
護層(膜厚1000(nm))を順次積層した構成で、
記録波長650(nm)であり、第一の3Tマークの温
度は2.5(T)時の、第二の3Tマークの温度は8.
5(T)時の、ディスク面内方向の温度分布を計算した
(なお、ディスク面内方向の温度分布を計算した記録層
の深さ位置は、記録層と反射層界面、および記録層と基
板界面から75(nm)離れた位置とした)。
The calculation conditions are as follows: the recording layer (film thickness 1) on the substrate
50 (nm)), a gold reflective layer (thickness 100 (nm)), and a protective layer (thickness 1000 (nm)).
The recording wavelength is 650 (nm), the temperature of the first 3T mark is 2.5 (T), and the temperature of the second 3T mark is 8.
At 5 (T), the temperature distribution in the in-plane direction of the disk was calculated (the depth position of the recording layer for which the temperature distribution in the in-plane direction of the disk was calculated is the interface between the recording layer and the reflective layer, and between the recording layer and the substrate). The position was 75 (nm) away from the interface).

【0014】図3は、第二の3Tマークの温度分布を計
算した結果であり、記録線速度は3.5(m/s)の結
果である。
FIG. 3 shows the result of calculating the temperature distribution of the second 3T mark, and the result is that the recording linear velocity is 3.5 (m / s).

【0015】図4は、第二の3Tマークの温度分布を計
算した結果であり、記録線速度は14.0(m/s)の
結果である(本来CAVあるいはZCAV記録を考えた
場合、基準記録線速度である3.5(m/s)の2.5
倍速となる記録線速度8.5(m/s)の場合を考える
べきであるが、より記録線速度の高速化による変化を把
握するために、基準記録線速度である3.5(m/s)
の4倍速である14.0(m/s)を計算した)。
FIG. 4 shows the result of calculating the temperature distribution of the second 3T mark, and the result is that the recording linear velocity is 14.0 (m / s). 2.5 of recording linear velocity 3.5 (m / s)
The case of a recording linear velocity of 8.5 (m / s), which is a double speed, should be considered. However, in order to grasp a change due to a higher recording linear velocity, a reference recording linear velocity of 3.5 (m / s) is used. s)
14.0 (m / s), which is 4 times faster than the above, was calculated).

【0016】なお、記録線速度が14.0(m/s)時
の記録パワーは、記録線速度が3.5(m/s)時の第
一の3Tマークの温度分布と記録線速度が14.0(m
/s)時の第一の3Tマークの温度分布が同じになるよ
うな記録パワーを選定した。したがって、記録線速度が
3.5(m/s)と14.0(m/s)ともに、第一の
3Tマークの温度分布は、図2に示すように同一であ
る。
When the recording linear velocity is 14.0 (m / s), the recording power is determined by the temperature distribution of the first 3T mark and the recording linear velocity when the recording linear velocity is 3.5 (m / s). 14.0 (m
/ S), the recording power was selected such that the temperature distribution of the first 3T mark was the same. Therefore, the temperature distribution of the first 3T mark is the same as shown in FIG. 2 at both the recording linear velocity of 3.5 (m / s) and 14.0 (m / s).

【0017】また、図2〜4の等高線は、外側から50
℃、100℃、150℃、200℃、250℃、300
℃の等高線を示す。
The contour lines shown in FIGS.
℃, 100 ℃, 150 ℃, 200 ℃, 250 ℃, 300
Shows contours in ° C.

【0018】これらの計算結果が示すように、記録線速
度の高速化によって第二の3Tマークの温度分布は非対
称化し、その大きさが第一の3Tマークと大きく異なる
ことがわかる。したがって、高記録線速度では、第一の
3Tマーク(すなわち前のスペースが長い場合)を形成
させる発光パルス長と、第二の3Tマーク(すなわち前
のスペース短い場合)を形成させる発光パルス長とを同
一にすることができない。つまり、記録しようとする記
録マークに対して、前のスペース長あるいは後のスペー
ス長を考慮し、その前スペース長あるいは後スペース長
によって記録しようとするマークを形成させる発光パル
ス長を制御する必要がでてくるのである(記録しようと
する記録マークの温度分布が、前スペース長あるいは後
スペース長にあまり依存しない低記録線速度に適した記
録ストラテジは、高記録線速度では適さなくなる)。
As can be seen from these calculation results, the temperature distribution of the second 3T mark is asymmetrical as the recording linear velocity is increased, and its size is significantly different from that of the first 3T mark. Therefore, at a high recording linear velocity, the emission pulse length for forming the first 3T mark (ie, when the preceding space is long) and the emission pulse length for forming the second 3T mark (ie, when the preceding space is short) Cannot be the same. In other words, for the recording mark to be recorded, it is necessary to control the emission pulse length for forming the mark to be recorded based on the preceding or following space length in consideration of the preceding or following space length. (A recording strategy suitable for a low recording linear velocity in which the temperature distribution of a recording mark to be recorded does not depend much on the front space length or the rear space length becomes unsuitable at a high recording linear velocity).

【0019】本発明では、CAVまたはZCAV記録に
おいて、この熱干渉を低減させるためには、記録層内に
熱を蓄積させすぎないようにすることが重要で、これは
記録線速度が高速化するディスク外周ほど記録層膜厚を
薄くすることで改善できることを見出した。
In the present invention, in CAV or ZCAV recording, in order to reduce this thermal interference, it is important that heat is not excessively accumulated in the recording layer, which increases the recording linear velocity. It has been found that improvement can be achieved by reducing the thickness of the recording layer toward the outer periphery of the disk.

【0020】したがって、本発明の光記録媒体によっ
て、記録線速度の高速化による熱干渉の増加を抑制でき
るため、記録線速度あるいは記録位置こ対する最適記録
ストラテジの変化を小さくすることが可能となる。
Therefore, with the optical recording medium of the present invention, an increase in thermal interference due to an increase in the recording linear velocity can be suppressed, and a change in the recording linear velocity or the optimum recording strategy for the recording position can be reduced. .

【0021】次に記録線速度の高速化によって、長マー
クに対して短マークが形成されづらくなる現象、および
記録線速度の高速化によって、基準記録線速度に対する
エネルギー低下分を補併するパワー以上の記録パワーが
必要となる原因を述べる。
[0021] Next, a phenomenon that it is difficult to form a short mark with respect to a long mark due to an increase in the recording linear velocity, and a power equal to or more than a power that compensates for an energy decrease with respect to a reference recording linear velocity due to the increase in the recording linear velocity The reason why the recording power is required will be described.

【0022】図5および図6は記録線速度による温度分
布の変化をシュミレーションによって検証した結果を示
す。図5は単純矩形波パルスによる記録で、記録線速度
が3.5(m/s)(DVD基準線速度)の場合の各マ
ーク長に対する記録層温度を計算した結果、図6は単純
矩形波パルスによる記録で、記録線速度が14.0(m
/s)(DVD基準線速度に対し、4倍速)の場合の各
マーク長に対する記録層温度を計算した結果である(本
来2.5倍速の場合を計算すべきであるが、1倍速との
結果を比較しやすくするために4倍速の計算を行っ
た)。
FIGS. 5 and 6 show the results of verifying the change in temperature distribution due to the recording linear velocity by simulation. FIG. 5 shows recording using a simple rectangular wave pulse, and FIG. 6 shows the result of calculating the recording layer temperature for each mark length when the recording linear velocity is 3.5 (m / s) (DVD reference linear velocity). In the recording by pulse, the recording linear velocity is 14.0 (m
/ S) (4 times the DVD reference linear velocity) is the result of calculating the recording layer temperature for each mark length. A quadruple speed calculation was performed to facilitate comparison of the results).

【0023】なお、計算条件は基板上に記録層(膜厚1
50(nm))、金反射層(膜厚100(nm))、保
護層(膜厚1000(nm))を順次積層した構成で、
記録波長650(nm)であり、温度を計算した記録層
の深さ位置は、記録層と反射層界面、および記録層と基
板界面から75(nm)離れた位置とした。
The calculation conditions are as follows: the recording layer (film thickness 1)
50 (nm)), a gold reflective layer (thickness 100 (nm)), and a protective layer (thickness 1000 (nm)).
The recording wavelength was 650 (nm), and the depth position of the recording layer for which the temperature was calculated was a position 75 (nm) away from the interface between the recording layer and the reflective layer, and from the interface between the recording layer and the substrate.

【0024】また図5および図6中では、横軸は記録ク
ロック周波数(記録線速度が3.5(m/s)の場合、
26.16MHz。1T=38.2nsであり、記録線
速度が14.0(m/s)の場合、104.64MH
z。1T=9.55nsとなる)で規格化された記録マ
ーク長を表し、縦軸は最高到達温度で規格化した温度を
表す。
5 and 6, the horizontal axis represents the recording clock frequency (when the recording linear velocity is 3.5 (m / s),
26.16 MHz. When 1T = 38.2 ns and the recording linear velocity is 14.0 (m / s), 104.64 MH
z. 1T = 9.55 ns), and the recording mark length is normalized, and the vertical axis represents the temperature normalized by the maximum attained temperature.

【0025】この各マーク長に対する記録層温度を計算
した結果から、3Tや4Tなどの短マークは長マークに
対して温度が十分に上昇せず、記録線速度が上がるとよ
り長マークに対する短マークの温度は低下し、また温度
分布の記録層の深さ方向依存性を計算した結果、長マー
クに対して短マークは記録層の深さ方向の温度分布バラ
ツキが大きくなることがわかった。したがって高記録線
速度では、短マークを明瞭に形成させるため、記録線速
度の増加によるエネルギー低下分を補償する記録パワー
より、一層の高記録パワーが必要となる。
From the result of calculation of the recording layer temperature for each mark length, short marks such as 3T and 4T do not sufficiently raise the temperature with respect to the long marks. As a result of calculating the dependence of the temperature distribution on the recording layer in the depth direction, it was found that the variation in the temperature distribution in the depth direction of the recording layer was larger for the short mark than for the long mark. Therefore, at a high recording linear velocity, in order to form a short mark clearly, a higher recording power is required than a recording power for compensating for a decrease in energy due to an increase in the recording linear velocity.

【0026】つまり、CD−R(最短記録マーク長0.
83(μm))では、記録線速度に対する記録パワーの
変化が、 (記録パワー)≦(基準記録速度の記録パワー)×(基
準記録速度に対する速度比)1/2 となるが、追記型のDVD(最短記録マーク長0.40
(μm))では、例えば「Jpn.J.Appl.Phys.Vol.39(200
0)Pt.1、 No.2B 」で記載されているように、 (記録パワー)=(基準記録速度の記録パワー)×(基
準記録速度に対する速度比)1/2 という関係が成り立たず、むしろ、 (記録パワー)>(基準記録速度の記録パワー)×(基
準記録速度に対する速度比)1/2 となり、高記録線速度で記録パワーが余分に必要になる
ため、より高記録線速度の記録特性が悪化することがわ
かった(図8参照。◆はCD−R、▲はDVD−Rの記
録線速度と記録パワーの関係を表し、■はCD−Rの1
倍速記録の結果をもとに(記録パワー)=(基準記録速
度の記録パワー)×(基準記録速度に対する速度比)
1/2 という関係式を用いて高記録線速度の記録パワーを
推定した結果を表す。なお、図8の横軸は各メディアの
基準線速度に対する記録線速度比である)。
That is, the CD-R (the shortest recording mark length 0.
83 (μm)), the change in the recording power with respect to the recording linear velocity is (recording power) ≦ (recording power of the reference recording speed) × (speed ratio to the reference recording speed) 1/2. (Shortest recording mark length 0.40
(Μm)), for example, “Jpn.J.Appl.Phys.Vol.39 (200
0) Pt.1, No. 2B ”, the relationship of (recording power) = (recording power of reference recording speed) × (speed ratio to reference recording speed) 1/2 does not hold, but rather , (Recording power)> (recording power of reference recording speed) × (speed ratio to reference recording speed) 1/2 , and extra recording power is required at high recording linear velocity, so recording at higher recording linear velocity It was found that the characteristics were deteriorated (see FIG. 8). Δ represents the relationship between the recording linear velocity and recording power of the DVD-R, ▲ represents the relationship between the recording linear velocity and the recording power, and Δ represents the CD-R of 1
Based on the result of double speed recording, (recording power) = (recording power at reference recording speed) × (speed ratio to reference recording speed)
This shows the result of estimating the recording power at a high recording linear velocity using the relational expression of 1/2 . The horizontal axis in FIG. 8 is the recording linear velocity ratio of each medium to the reference linear velocity.)

【0027】ところで、CD−Rの最短記録マークはD
VDの約6Tに相当する。したがって図5〜6の結果よ
り、もともとCD−Rは短マークと長マークの記録層温
度差がDVD−Rのように大きくなく、また記録線速度
が上がっても短マークと長マークの記録層温度差がDV
D−Rのように大きくならないため、本発明の技術課題
やその対応策は、CD−Rに基づいて見出された公開技
術では見出されることのないものである。
The shortest recording mark of a CD-R is D
It corresponds to about 6T of VD. Therefore, from the results shown in FIGS. 5 and 6, the CD-R originally has a recording layer temperature difference between the short mark and the long mark that is not so large as that of the DVD-R, and even if the recording linear velocity increases, the recording layer of the short mark and the long mark increases. Temperature difference is DV
Since it does not become as large as DR, the technical problem and the countermeasure of the present invention are not found in the published technology found based on CD-R.

【0028】このように、記録線速度の高速化によって
短マークが形成されづらくなり、それによって最適記録
パワーがより高まるため、低記録線速度時(内周側)に
対し高記録線速度時(外周側)では、レゾリューション
(最長マークの振幅に対する長短マークの振幅比)は低
下し、変調度は逆に増加することになる。またこのよう
に、記録線速度によってレゾリューション(最長マーク
の振幅に対する最短マークの振幅比)や変調度に差が生
じるため、記録位置によって記録ストラテジを細かく変
える必要がでてくるのである(同一の記録ストラテジで
記録できる半径位置が狭くなる)。
As described above, it is difficult to form a short mark due to an increase in the recording linear velocity, thereby further increasing the optimum recording power. On the outer periphery), the resolution (the ratio of the length of the long and short marks to the amplitude of the longest mark) decreases and the degree of modulation increases. As described above, since the resolution (the ratio of the amplitude of the shortest mark to the amplitude of the longest mark) and the degree of modulation are different depending on the recording linear velocity, it is necessary to finely change the recording strategy depending on the recording position (the same). The radial position that can be recorded by the recording strategy of (1) becomes narrower).

【0029】本発明では、CAVまたはZCAV記録に
おいて、記録線速度によってレゾリューション(最長マ
ークの振幅に対する長短マークの振幅比)や変調度に差
が生じる現象、さらには記録ストラテジが広い記録線速
度範囲(半径位置範囲)に対応できない問題が、高記録
線速度となる外周ほど記録層膜厚を薄くすることで改善
できることを見出した。
According to the present invention, in CAV or ZCAV recording, a difference in resolution (amplitude ratio of long and short marks with respect to the amplitude of the longest mark) and a degree of modulation depending on the recording linear velocity, and a recording linear velocity with a wide recording strategy It has been found that the problem that cannot be dealt with in the range (radial position range) can be improved by making the recording layer film thickness thinner at the outer periphery where the recording linear velocity becomes higher.

【0030】次に、記録線速度が高速化するに従って、
ジッタおよびクロストークが増加する原因であるが、こ
れは記録線速度が高速化すると、短マークがより形成さ
れずらくなり高い記録パワーが必要になること、またこ
の高記録パワー化によって基板変形量、記録層変形量、
反射層変形量等が増加するためである。
Next, as the recording linear velocity increases,
The cause of the increase in jitter and crosstalk is that, as the recording linear velocity increases, short marks are more difficult to form, and higher recording power is required. , Recording layer deformation,
This is because the amount of deformation of the reflective layer and the like increases.

【0031】そこで以下記録メカニズムについて述べ
る。熱可塑性を示す基板上に直接記録層が形成された構
造を有する光記録媒体の記録部は、主に基板の熱膨張に
よる変形と、記録層材料の分解により形成される。この
記録層材料の分解は、例えば記録層材料が有機材料の場
合、有機物の基本骨格の分解や基本骨格に導入された置
換基の離脱あるいはその置換基の分解を意味する。これ
らの分解物の1部は熱膨張して密度が低下した基板中へ
拡散する。また基本骨格からの置換基の離脱あるいはそ
の置換基の分解によって、立体障害性が緩和される現象
も加わって記録層の体積は減少する。この記録層材料の
体積減少によって、記録層上に設けられた反射層や保護
層は記録層の体積変化方向に同じように変形する。つま
り記録層上に設けられた反射層や保護層も基板側にへこ
む。
The recording mechanism will be described below. A recording portion of an optical recording medium having a structure in which a recording layer is directly formed on a substrate showing thermoplasticity is formed mainly by deformation due to thermal expansion of the substrate and decomposition of the recording layer material. The decomposition of the recording layer material means, for example, when the recording layer material is an organic material, decomposes the basic skeleton of the organic substance, detaches a substituent introduced into the basic skeleton, or decomposes the substituent. Some of these decomposed products are thermally expanded and diffuse into the reduced density substrate. In addition, elimination of a substituent from the basic skeleton or decomposition of the substituent adds to a phenomenon in which steric hindrance is alleviated, and the volume of the recording layer is reduced. Due to the decrease in the volume of the recording layer material, the reflective layer and the protective layer provided on the recording layer are similarly deformed in the direction in which the volume of the recording layer changes. That is, the reflective layer and the protective layer provided on the recording layer are also dented on the substrate side.

【0032】また記録層材料の分解では、閾値以上の狭
い温度範囲で分解が完全に起こらない場合(熱重量分析
において、分解時の温度に対する重量変化の傾きが小さ
い場合に相当する)、あるいは基板の熱膨張量が大きい
場合(例えば記録層膜厚が厚い場合や高記録パワー
時)、記録層材料の分解による圧力によって、記録領域
の外側には大きなリム部が形成され、このリム部は凸変
形する。
In the decomposition of the recording layer material, if the decomposition does not completely occur in a narrow temperature range equal to or higher than the threshold (corresponding to the case where the slope of the weight change with respect to the temperature during decomposition is small in thermogravimetric analysis), or When the thermal expansion amount of the recording layer is large (for example, when the recording layer thickness is large or when the recording power is high), a large rim portion is formed outside the recording area due to the pressure due to the decomposition of the recording layer material. Deform.

【0033】基板変形と記録層材料の分解、変質等によ
る体積変化(凹変形)によって、またこの記録領域の周
りのリム部(凸変形)によって記録層上の反射層などに
変形が生じるが、記録線速度の高速化によってこれらの
記録層に生ずる凸部や凹部の大きさが増し、記録層と反
射層が剥離する可能性があることが本発明によりわかっ
た。
Deformation occurs in the reflective layer on the recording layer due to the deformation of the substrate and the volume change (concave deformation) due to the decomposition and alteration of the material of the recording layer, and the rim portion (convex deformation) around the recording area. According to the present invention, it has been found that the increase in the recording linear velocity increases the size of the convex portions and concave portions generated in these recording layers, and there is a possibility that the recording layer and the reflective layer are separated.

【0034】この記録層と反射層の剥離は、凸変形や凹
変形がそれぞれ単独に生じる場合、それらの変形量が著
しく増大した場合生じるが、凸変形と凹変形の両者が同
時に存在する場合は比較的それぞれの変形量が小さくて
も生じるようになる。また、この記録層と剥離現象は、
分解がシャープにおきない記録材料や、配録層膜厚が厚
い場合に多発し、これらの場合には、記録マークの外側
に大きなリム部が形成されている。
The separation of the recording layer and the reflective layer occurs when the convex deformation and the concave deformation are generated independently or when the amount of the deformation is significantly increased, but when both the convex deformation and the concave deformation are present at the same time. This occurs even when the respective deformation amounts are relatively small. Also, this recording layer and the peeling phenomenon
This occurs frequently when the recording material does not decompose sharply or when the recording layer thickness is large. In these cases, a large rim portion is formed outside the recording mark.

【0035】以上のようなメカニズムによって、つま
り、記録線速度の高速化によって、記録線速度の増加に
よるエネルギー低下分を補償する記録パワーより、さら
に高記録パワーが必要となり、これが高記録線速度で基
板変形、色素変形、反射層変形をより増大させ、あるい
は記録層と反射層の剥離を引き起こし、高記録線速度で
のジッタやクロストークを悪化させるのである。
By the mechanism described above, that is, by increasing the recording linear velocity, a higher recording power is required than the recording power for compensating for the energy decrease due to the increase in the recording linear velocity. The deformation of the substrate, the deformation of the dye, and the deformation of the reflective layer are further increased, or the recording layer and the reflective layer are separated from each other, thereby deteriorating jitter and crosstalk at a high recording linear velocity.

【0036】本発明では、CAVまたはZCAV記録に
おいて、記録線速度の高速化によって記録パワーが急激
に増加する問題、またそれによってジッタやクロストー
クが悪化する問題が、記録層膜厚を記録線速度が高速化
するディスク外周に行くほど薄くすることで改善できる
ことを見出した。
In the present invention, in CAV or ZCAV recording, the problem that the recording power sharply increases due to the increase in the recording linear velocity, and the problem that the jitter and the crosstalk deteriorate due to the increase in the recording linear velocity. It has been found that it can be improved by making the disk thinner toward the outer periphery of the disk where the speed is increased.

【0037】なお、本発明では基板上に記録層が形成さ
れ、さらに記録層上に反射層が設けられた光記録媒体に
広く適用できるが、記録メカニズムで説明した理由によ
って、少なくとも熱可塑性を示す基板上に記録層が形成
され、さらに記録層上に反射層が設けられ、記録によっ
て記録層材料の体積変化が起こる光記録媒体に特に有効
である。
The present invention can be widely applied to an optical recording medium in which a recording layer is formed on a substrate and a reflection layer is further provided on the recording layer. A recording layer is formed on a substrate, and a reflective layer is further provided on the recording layer. This is particularly effective for an optical recording medium in which the volume of the recording layer material changes due to recording.

【0038】また本発明は全ての記録位置で同一な記録
発光パターンを用いる場合に有効である。この同一な記
録発光パターンを用いるとは、例えば、DVD Speci
fications for Recordable Disk (DVD−R)Par
t1 PHYSICAL SPECIFICATIONS
Version1.0 July 1997に記載された記録スラテ
ジである、マルチパルス記録を用いる場合、形成しよう
とする記録マーク長と記録発光パルス数の関係を全ての
記録位置(記録線速度)で同一とすることを意味する。
The present invention is effective when the same recording light emission pattern is used at all recording positions. The use of the same recording light emission pattern means, for example, DVD Speci
fications for Recodable Disk (DVD-R) Par
t1 PHYSICAL SPECIFICATIONS
When multi-pulse recording, which is a recording strategy described in Version 1.0 July 1997, is used, the relationship between the length of a recording mark to be formed and the number of recording light emission pulses must be the same at all recording positions (recording linear velocity). Means

【0039】すなわち、DVD Specifications for
Recordable Disk (DVD−R)Part1 PHYSI
CAL SPECIFICATIONS Version1.0
July1997に記載されたマルチパルス記録では、いわ
ゆるn−2記録となっているが(3Tマークは1つの発
光パルスで記録、4Tは2つの発光パルスで記録、5T
は3つの発光パルスで記録というように、任意の記録マ
ークは(記録マーク長)−2個の発光パルス列で記録す
る方式)、このn−2記録というパターンを全ての記録
位置(記録線速度)で同一とする場合、本発明の光記録
媒体は特に有効である。
That is, DVD Specifications for DVD
Recordable Disk (DVD-R) Part1 PHYSI
CAL SPECIFICATIONS Version1.0
In the multi-pulse recording described in July 1997, so-called n-2 recording is performed (3T mark is recorded with one light emission pulse, 4T is recorded with two light emission pulses, 5T
Is a method in which an arbitrary recording mark is recorded with (recording mark length) -2 light emitting pulse trains, such as recording with three light emitting pulses), and this n-2 recording pattern is recorded at all recording positions (recording linear velocity). Is the same, the optical recording medium of the present invention is particularly effective.

【0040】これは本発明は、記録線速度の高速化によ
る記録再生特性の変化を光記録媒体側で吸収させようと
するものであるためで、記録線速度の高速化による記録
再生特性の変化を記録ストラテジで補償させようとする
場合、すなわち記録位置で記録発光パターンを変える場
合は、本発明の有効性が薄れる場合がある。
This is because the present invention is intended to absorb the change in the recording / reproducing characteristics due to the increase in the recording linear velocity on the optical recording medium side. If the recording strategy attempts to compensate for this, that is, if the recording light emission pattern is changed at the recording position, the effectiveness of the present invention may be reduced.

【0041】本発明の方式は、全ての記録位置で同一な
記録発光パターンを用いる場合に非常に有効であるた
め、従来の記録装置に対応し、また記録装置の負担を非
常に低減することができるという利点がある。
Since the method of the present invention is very effective when the same recording light emission pattern is used at all recording positions, it is possible to cope with a conventional recording apparatus and to greatly reduce the load on the recording apparatus. There is an advantage that you can.

【0042】[0042]

【実施例】次に本発明の実施例について説明する。厚さ
0.6mm、トラックピッチ0.74(μm)のポリカ
ーボネート基板上(4.7ギガバイト対応)に次の化学
式(1):
Next, an embodiment of the present invention will be described. The following chemical formula (1) is formed on a polycarbonate substrate having a thickness of 0.6 mm and a track pitch of 0.74 (μm) (for 4.7 GB):

【0043】[0043]

【化1】 Embedded image

【0044】を主成分とする記録層をスピンコートによ
って成膜し、その上にスパッタにより膜厚を変えた金反
射層または銀反射層を設け光記録媒体を作成した。
An optical recording medium was prepared by forming a recording layer mainly comprising spin-coating, and providing a gold reflecting layer or a silver reflecting layer having a changed thickness by sputtering on the recording layer.

【0045】さらに、厚さ0.6mm、トラックピッチ
0.74(μm)のポリカーボネート基板上(4.7ギ
ガバイト対応)に、上記化学式(1)を主成分とする記
録層をスピンコートによって成膜し、その上にスパッタ
により膜厚を変えた金反射層または銀反射層を設け、そ
の上に紫外線硬化型樹脂からなる保護層を有する光記録
媒体、および該紫外線硬化型樹脂からなる保護層上に接
着層を介して第二のディスクを貼り合わせた光記録媒体
を作成した。
Further, on a polycarbonate substrate (corresponding to 4.7 gigabytes) having a thickness of 0.6 mm and a track pitch of 0.74 (μm), a recording layer having the above-mentioned chemical formula (1) as a main component is formed by spin coating. An optical recording medium having a gold reflective layer or a silver reflective layer having a thickness changed by sputtering provided thereon, and having a protective layer made of an ultraviolet curable resin thereon, and a protective layer made of the ultraviolet curable resin. An optical recording medium was prepared by laminating a second disc with an adhesive layer interposed therebetween.

【0046】記録装置(記録再生装置)は、パルステッ
ク工業製のDDU−1000(波長が660(nm)、
開口率NAが0.63)を用いた。
The recording device (recording / reproducing device) is a DDU-1000 manufactured by Pulstec Industrial (having a wavelength of 660 (nm),
An aperture ratio NA of 0.63) was used.

【0047】(1)高記録線速度に伴うジッタ悪化の原
因 ここでは、記録線速度の高速化によって、ジッタやクロ
ストークが悪化する原因を調べた。図9は、変調度の記
録線速度依存性を評価した結果である(対応可能な最高
の記録速度まで各記録速度における最適記録パワーで記
録した時の変調度を測定)。図中、◆は基板/記録層/
金反射層(膜厚10nm)、■は基板/記録層/金反射
層(膜厚100nm)、▲は基板/記録層/金反射層
(膜厚100nm)/保護層、×は基板/記録層/金反
射層(膜厚100nm)/保護層/接着層/第二のディ
スク、○は基板/記録層/銀反射層(膜厚100nm)
/保護層/接着層/第二のディスクという構成のメディ
アの、各記録線速度時の最適記録パワーで記録した場合
の変調度を測定した結果である。この結果、図9におい
て変調度が急激に増加する領域(破線で囲んだ部分)
で、ジッタやクロストークが急激に悪化することがわか
った。すなわち、記録線速度の高速化に伴うジッタやク
ロストークの悪化が、変調度の急激な変化にあることが
わかった(記録線速度に対する変調度の変化に変極点が
現れる)。
(1) Causes of Jitter Deterioration Associated with High Recording Linear Velocity Here, the cause of deterioration in jitter and crosstalk due to an increase in recording linear velocity was examined. FIG. 9 shows the result of evaluation of the recording linear velocity dependency of the modulation degree (measurement of the modulation degree when recording was performed with the optimum recording power at each recording speed up to the highest possible recording speed). In the figure, Δ indicates the substrate / recording layer /
Gold reflective layer (thickness 10 nm), △: substrate / recording layer / gold reflective layer (thickness 100 nm), ▲: substrate / recording layer / gold reflective layer (thickness 100 nm) / protective layer, ×: substrate / recording layer / Gold reflective layer (100 nm thick) / Protective layer / Adhesive layer / Second disk, ○: substrate / recording layer / Silver reflective layer (100 nm thick)
It is a result of measuring a modulation degree of a medium having a configuration of / protective layer / adhesive layer / second disk when recording was performed at an optimum recording power at each recording linear velocity. As a result, in FIG. 9, a region where the degree of modulation sharply increases (portion surrounded by a broken line)
It was found that jitter and crosstalk rapidly deteriorated. That is, it was found that the deterioration of jitter and crosstalk due to the increase of the recording linear velocity was caused by the rapid change of the modulation degree (an inflection point appears in the change of the modulation degree with respect to the recording linear velocity).

【0048】図10は基板/記録層/金反射層(膜厚1
00nm)という構成メディアの記録線速度5.0(m
/s)時のアイパターン、図11は記録線速度7.0
(m/s)時のアイパターンである。この結果からも、
記録線速度の高速化に伴うジッタやクロストークの悪化
が、変調度の急激な変化(乱れ)にあることがわかった
(図9において変調度の急増が観測された光記録媒体で
は、図11のような変調度の増加、乱れが観測され
た)。
FIG. 10 shows a substrate / recording layer / gold reflective layer (film thickness 1).
Recording speed of 5.0 (m)
/ S), and FIG. 11 shows a recording linear velocity of 7.0.
The eye pattern at (m / s). From this result,
It was found that the deterioration of jitter and crosstalk due to the increase in the recording linear velocity was caused by a rapid change (turbulence) in the modulation degree (in the optical recording medium in which a rapid increase in the modulation degree was observed in FIG. Increase in modulation and disturbance were observed).

【0049】次に、この変調度の急激な増加、あるいは
乱れの原因を調べた結果、図12に示すように(反射層
を剥がした色素面上のSEM写真)、記録マークには色
素分解領域とリム部(細矢印)の他に、第三の記録マー
ク(太矢印)が形成されていることがわかり、これが変
調度の急激な増加、あるいは乱れの原因となっているこ
とが確かめられた(この第三の記録マークは、変調度が
急増する記録パワー近傍から高パワーで出現する)。
Next, as a result of examining the cause of the sudden increase or disturbance of the modulation degree, as shown in FIG. 12 (SEM photograph on the dye surface from which the reflective layer was peeled off), the recording mark was shown on the recording mark. It was found that a third recording mark (thick arrow) was formed in addition to the rim portion (thin arrow) and the rim portion (thin arrow), and it was confirmed that this was a cause of a sudden increase in modulation factor or disturbance. (The third recording mark appears at a high power near the recording power at which the degree of modulation sharply increases).

【0050】なお、この第三の記録マークは長マークに
現れやすく、また短スペースを介した記録マーク全体を
覆うように現れ、かつリム部よりもかなり広い領域にわ
たって形成されること、また基板膨張や記録層の体積変
化、あるいは記録層材料の屈折率変化は、連続的な変化
であり、記録パワー、あるいは記録線速度の増加に対し
て不連続には変化しないこと(徐々に飽和するような変
化をするはずである)、さらに記録層のリム部が非常に
小さい記録材料では第三の記録マークは観察されないこ
となどから、基板膨張と記録部のリム部等の増大によっ
て反射層が記録層から剥離した跡と考えられる。この結
果から、本発明に示された技術的内容が支持された。
The third recording mark is likely to appear in the long mark, appears to cover the entire recording mark via the short space, and is formed over a considerably larger area than the rim portion. And the change in the volume of the recording layer or the change in the refractive index of the material of the recording layer are continuous changes, and do not change discontinuously with an increase in the recording power or the recording linear velocity (such as gradually saturating). The third recording mark is not observed in the recording material having a very small rim portion of the recording layer. Therefore, the reflection layer is formed by the expansion of the substrate and the increase in the rim portion of the recording portion. It is considered to be a trace that peeled off from. From these results, the technical content shown in the present invention was supported.

【0051】(2)CAVあるいはZCAV記録におい
て外周ほど記録層膜厚を薄くした場合の熱干渉の低減効
果の確認 図1に示すように、第一の3Tマーク形成した後3Tス
ぺースを介し、第二の3Tマークを形成させた時、第二
の3Tマークの温度中心位置近傍の温度が冷却する過程
が記録線速度によってどのように変化するかを計算した
(第一の3Tマークを形成させるために、1.5〜3.
0(T)間矩形波パルスを照射し、第二の3Tマークを
形成させるために、7.5〜9.0(T)間矩形波パル
スを照射した)。
(2) Confirmation of the effect of reducing thermal interference when the thickness of the recording layer is reduced toward the outer periphery in CAV or ZCAV recording. As shown in FIG. When the second 3T mark was formed, it was calculated how the process of cooling the temperature near the temperature center position of the second 3T mark changes depending on the recording linear velocity (forming the first 3T mark). 1.5-3.
A rectangular wave pulse was applied for 0 (T) to form a second 3T mark, and a rectangular wave pulse for 7.5 to 9.0 (T) was applied.

【0052】なお、計算条件は基板上に記録層(膜厚1
50(nm))、金反射層(膜厚100(nm))、保
護層(膜厚1000(nm))を順次積層した構成で、
記録波長650(nm)であり、第二の3Tマークの温
度中心位置における温度変化を計算した(なお、温度変
化を計算した記録層の深さ位置は、記録層と反射層界
面、および記録層と基板界面から75(nm)離れた位
置とした)。図13は、記録線速度3.5(m/s)の
結果である。図14は、記録線速度14.0(m/s)
の結果である(本来CAVあるいはZCAV記録を考え
た場合、記録線速度が8.5(m/s)の場合を考える
べきであるが、より記録線速度の高速化による変化を把
握するために、基準速度となる3.5(m/s)の4倍
速である14.0(m/s)を計算した)。
The calculation conditions are as follows: the recording layer (film thickness 1) on the substrate
50 (nm)), a gold reflective layer (thickness 100 (nm)), and a protective layer (thickness 1000 (nm)).
The recording wavelength was 650 (nm), and the temperature change at the temperature center position of the second 3T mark was calculated (the depth position of the recording layer at which the temperature change was calculated was the interface between the recording layer and the reflective layer, and the recording layer). 75 (nm) away from the substrate interface). FIG. 13 shows the result at a recording linear velocity of 3.5 (m / s). FIG. 14 shows a recording linear velocity of 14.0 (m / s).
(When CAV or ZCAV recording is originally considered, it is necessary to consider the case where the recording linear velocity is 8.5 (m / s). 14.0 (m / s), which is four times the reference speed of 3.5 (m / s), was calculated.)

【0053】なお、記録線速度が14.0(m/s)時
の記録パワーは、記録線速度が3.5(m/s)時の第
一の3Tマークの温度分布と記録線速度が14.0(m
/s)の時の第一の3Tマークの温度分布が同じになる
ような記録パワーを選定した。この結果から、明らかに
記録線速度の高速化によって、温度冷却時間が長くなり
(記録クロック周波数で規格化された時間)、後方への
熱流入が大きくなることが確認できた。
When the recording linear velocity is 14.0 (m / s), the recording power is determined by the temperature distribution of the first 3T mark and the recording linear velocity when the recording linear velocity is 3.5 (m / s). 14.0 (m
/ S), the recording power was selected such that the temperature distribution of the first 3T mark was the same. From this result, it was confirmed that the temperature cooling time was prolonged (time standardized by the recording clock frequency) and the heat flow backward increased due to the apparent increase in the recording linear velocity.

【0054】次に本発明の効果を検証した。すなわち、
単純矩形波パルスによる記録で、記録線速度が14.0
(m/s)の熱干渉を抑制するために(温度冷却時間を
短くする)、記録層膜厚を120(nm)とした。図1
5は、記録層膜厚を120(nm)とした場合、第二の
3Tマークの温度中心位置近傍の温度が冷却される過程
を計算した結果を示す(温度を計算した記録層の深さ位
置は、記録層と反射層界面、および記録層と基板界面か
ら60(nm)離れた位置とした)。
Next, the effect of the present invention was verified. That is,
Recording with a simple rectangular wave pulse, the recording linear velocity is 14.0
In order to suppress the thermal interference (m / s) (to shorten the temperature cooling time), the recording layer thickness was set to 120 (nm). FIG.
5 shows the result of calculating the process of cooling the temperature near the temperature center position of the second 3T mark when the thickness of the recording layer is 120 (nm) (depth position of the recording layer at which the temperature was calculated). Was set at a position 60 (nm) away from the interface between the recording layer and the reflective layer and from the interface between the recording layer and the substrate.

【0055】この結果から、記録層膜厚を薄くすること
で、温度上昇後の冷却時間を短くすることができ、後方
への熱流入を抑制できる、すなわち熱干渉を抑制するこ
とができることが確かめられた。
From these results, it is confirmed that the cooling time after the temperature rise can be shortened by reducing the thickness of the recording layer, and the heat inflow to the rear side can be suppressed, that is, the heat interference can be suppressed. Was done.

【0056】(3)CAVあるいはZCAV記録におい
て外周ほど記録層膜厚を薄くした場合の短マーク変調度
向上効果の確認 図5は単純矩形波パルスによる記録で、記録線速度が
3.5(m/s)(DVD基準線速度)の場合の各マー
ク長に対する記録層温度を計算した結果、図6は単純矩
形波パルスによる記録で、記録線速度が14.0(m/
s)(DVD基準線速度に対し、4倍速)の場合の各マ
ーク長に対する記録層温度を計算した結果である(本来
2.5倍速の場合を計算すべきであるが、1倍速との結
果を比較しやすくするために4倍速の計算を行った)。
(3) Confirmation of Short Mark Modulation Improvement Effect in CAV or ZCAV Recording When Recording Layer Thickness is Decreased on the Outer Periphery FIG. 5 shows recording using a simple rectangular wave pulse and a recording linear velocity of 3.5 (m). / S) (DVD reference linear velocity), the recording layer temperature for each mark length was calculated. As a result, FIG. 6 shows recording using a simple rectangular wave pulse, and the recording linear velocity was 14.0 (m / cm).
s) This is the result of calculating the recording layer temperature for each mark length in the case of (4 times the DVD reference linear velocity) (it should be calculated in the case of 2.5 times speed, but the result of 1 time speed). Was calculated at a quadruple speed in order to make the comparison easier.)

【0057】なお、計算条件は基板上に記録層(膜厚1
50(nm))、金反射層(膜厚100(nm))、保
護層(膜厚1000(nm))を順次積層した構成で、
記録波長650(nm)であり、温度を計算した記録層
の深さ位置は、記録層と反射層界面、および記録層と基
板界面から75(nm)離れた位置とした。
The calculation conditions are as follows: the recording layer (film thickness 1) on the substrate
50 (nm)), a gold reflective layer (thickness 100 (nm)), and a protective layer (thickness 1000 (nm)).
The recording wavelength was 650 (nm), and the depth position of the recording layer for which the temperature was calculated was a position 75 (nm) away from the interface between the recording layer and the reflective layer, and from the interface between the recording layer and the substrate.

【0058】また図5および図6中では、横軸は記録ク
ロック周波数(記録線速度が3.5(m/s)の場合、
26.16MHz。1T=38.2nsであり、記録線
速度が14.0(m/s)の場合、104.64MH
z。1T=9.55nsとなる)で規格化された記録マ
ーク長を表し、縦軸は最高到達温度で規格化した温度を
表す。
5 and 6, the horizontal axis represents the recording clock frequency (when the recording linear velocity is 3.5 (m / s),
26.16 MHz. When 1T = 38.2 ns and the recording linear velocity is 14.0 (m / s), 104.64 MH
z. 1T = 9.55 ns), and the recording mark length is normalized, and the vertical axis represents the temperature normalized by the maximum attained temperature.

【0059】この結果から、記録線速度の高速化による
長マークに対する短マークの温度がより低下し、記録線
速度の高速化によってレゾリューションが低下すること
や、それによって高記録パワー化が起こることがわか
る。
From this result, the temperature of the short mark with respect to the long mark is further reduced due to the increase in the recording linear velocity, and the resolution is reduced due to the increase in the recording linear velocity, thereby increasing the recording power. You can see that.

【0060】次に本発明の効果を検証した。すなわち、
単純矩形波パルスによる記録で、記録線速度が14.0
(m/s)の長マークに対する短マークの温度低下を抑
制するために、記録層膜厚を120(nm)とした。こ
の時のマーク長と温度の関係は図7に示す(温度を計算
した記録層の深さ位置は、記録層と反射層界面、および
記録層と基板界面から60(nm)離れた位置とし
た)。
Next, the effect of the present invention was verified. That is,
Recording with a simple rectangular wave pulse, the recording linear velocity is 14.0
The recording layer thickness was set to 120 (nm) in order to suppress a decrease in the temperature of the short mark with respect to the long mark (m / s). The relationship between the mark length and the temperature at this time is shown in FIG. 7 (the depth position of the recording layer where the temperature was calculated was a position 60 (nm) away from the interface between the recording layer and the reflective layer and between the interface between the recording layer and the substrate. ).

【0061】この結果から、記録層膜厚を薄くすること
で、長マークに対する短マークの温度が高めることが
(短マークに対して長マークの温度が上昇しすぎるのを
抑制する)可能であることが証明された。
From this result, it is possible to increase the temperature of the short mark with respect to the long mark (suppress the temperature of the long mark with respect to the short mark from increasing too much) by reducing the thickness of the recording layer. It was proved.

【0062】以上の結果から、本発明の光記録媒体によ
って高記録線速度での熱干渉の増加、および長マークに
対する短マークの温度低下を抑制することができるた
め、記録線速度(記録位置)に合わせて記録ストラテジ
を変化させる量(パルス補正1)を小さくすることが可
能であり、特定の記録ストラテジが対応できる記録線速
度(記録位置)範囲を広げることも可能となる。
From the above results, the optical recording medium of the present invention can suppress an increase in thermal interference at a high recording linear velocity and a decrease in the temperature of a short mark relative to a long mark. In this case, the amount by which the recording strategy is changed (pulse correction 1) can be reduced, and the range of the recording linear velocity (recording position) that can be supported by a specific recording strategy can be expanded.

【0063】[0063]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の光記録媒
体によって、高記録線速度での熱干渉の増加、ジッタや
クロストークの悪化、レゾリューションの低下や変調度
の増加、さらには記録ストラテジの大幅な変化を抑制す
ることができ、記録再生特性に優れたCAVあるいはZ
CAV対応の光記録媒体が提供できる。
As described above, according to the optical recording medium of the present invention, an increase in thermal interference at a high recording linear velocity, an increase in jitter and crosstalk, a decrease in resolution and an increase in modulation degree, and CAV or Z, which can suppress a large change in the recording strategy and have excellent recording / reproducing characteristics.
An optical recording medium compatible with CAV can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】光記録媒体への形成マークと矩形波パルスとの
関係を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a relationship between a mark formed on an optical recording medium and a rectangular wave pulse.

【図2】記録線速度3.5(m/s)と14.0(m/
s)における第一の3Tマークの温度分布を計算した結
果を示す図である。
FIG. 2 shows recording linear velocities of 3.5 (m / s) and 14.0 (m / s).
It is a figure showing the result of having computed the temperature distribution of the first 3T mark in s).

【図3】記録線速度3.5(m/s)における第二の3
Tマークの温度分布を計算した結果を示す図である。
FIG. 3 shows a second 3 at a recording linear velocity of 3.5 (m / s).
It is a figure showing the result of having computed the temperature distribution of T mark.

【図4】記録線速度14.0(m/s)における第二の
3Tマークの温度分布を計算した結果を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a result of calculating a temperature distribution of a second 3T mark at a recording linear velocity of 14.0 (m / s).

【図5】記録線速度が3.5(m/s)(DVD基準線
速度)、記録層膜厚が150(nm)の場合の各マーク
長と記録層温度との関係を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing the relationship between each mark length and the recording layer temperature when the recording linear velocity is 3.5 (m / s) (DVD reference linear velocity) and the recording layer thickness is 150 (nm). .

【図6】記録線速度が14.0(m/s)(DVD基準
線速度)、記録層膜厚が150(nm)の場合の各マー
ク長と記録層温度との関係を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing the relationship between each mark length and the recording layer temperature when the recording linear velocity is 14.0 (m / s) (DVD reference linear velocity) and the recording layer thickness is 150 (nm). .

【図7】記録線速度が14.0(m/s)(DVD基準
線速度)、記録層膜厚が120(nm)の場合の各マー
ク長と記録層温度との関係を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing the relationship between each mark length and the recording layer temperature when the recording linear velocity is 14.0 (m / s) (DVD reference linear velocity) and the recording layer thickness is 120 (nm). .

【図8】各メディアの基準線速度に対する記録線速度比
と記録パワーとの関係を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing a relationship between a recording linear velocity ratio with respect to a reference linear velocity of each medium and recording power.

【図9】種々のメディアの、各記録線速度時の最適記録
パワーで記録した場合の変調度を測定した結果を示す図
である。
FIG. 9 is a diagram showing the results of measuring the degree of modulation of various media when recording at the optimum recording power at each recording linear velocity.

【図10】基板/記録層/金反射層(膜厚100nm)
の構成メディアの記録線速度5.0(m/s)時のアイ
パターンを示す図である。
FIG. 10: substrate / recording layer / gold reflective layer (100 nm thick)
FIG. 7 is a diagram showing an eye pattern of the constituent medium of FIG. 5 at a recording linear velocity of 5.0 (m / s).

【図11】基板/記録層/金反射層(膜厚100nm)
の構成メディアの記録線速度7.0(m/s)時のアイ
パターンを示す図である。
FIG. 11: substrate / recording layer / gold reflective layer (film thickness 100 nm)
FIG. 7 is a diagram showing an eye pattern of the configuration media at a recording linear velocity of 7.0 (m / s).

【図12】反射層を剥がした色素面上のSEM写真を示
す図である。
FIG. 12 is a view showing an SEM photograph on a dye surface from which a reflection layer is removed.

【図13】記録層膜厚150(nm)、記録線速度3.
5(m/s)の場合の、第二の3Tマークの温度中心位
置近傍の温度変化を示す図である。
FIG. 13: recording layer thickness 150 (nm), recording linear velocity 3.
FIG. 9 is a diagram showing a temperature change near the temperature center position of the second 3T mark in the case of 5 (m / s).

【図14】記録層膜厚150(nm)、記録線速度1
4.0(m/s)の場合の、第二の3Tマークの温度中
心位置近傍の温度変化を示す図である。
FIG. 14: recording layer thickness 150 (nm), recording linear velocity 1
It is a figure which shows the temperature change in the case of 4.0 (m / s) near the temperature center position of a 2nd 3T mark.

【図15】記録層膜厚120(nm)、記録線速度1
4.0(m/s)の場合の、第二の3Tマークの温度中
心位置近傍の温度変化を示す図である。
FIG. 15: recording layer thickness 120 (nm), recording linear velocity 1
It is a figure which shows the temperature change in the case of 4.0 (m / s) near the temperature center position of a 2nd 3T mark.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) B41M 5/26 Y ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI theme coat ゛ (reference) B41M 5/26 Y

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 少なくとも基板上に記録層および反射層
が順次設けられ、記録再生をCAV(Constant Angular
Velocity )方式もしくはZCAV(ZonedConstant An
gular Velocity )方式で行う光記録媒体において、記
録層膜厚が外周ほど薄いことを特徴とする光記録媒体。
At least a recording layer and a reflection layer are sequentially provided on at least a substrate, and recording and reproduction are performed by CAV (Constant Angular
Velocity) method or ZCAV (ZonedConstant An)
An optical recording medium that uses a gular velocity (velocity) method, wherein the thickness of the recording layer is smaller toward the outer periphery.
【請求項2】 前記基板が熱可塑性を示す基板であり、
前記光記録媒体が記録によって記録層材料の体積変化が
起こるものであることを特徴とする請求項1記載の光記
録媒体。
2. The substrate according to claim 1, wherein the substrate is a thermoplastic substrate.
2. The optical recording medium according to claim 1, wherein the volume of the recording layer material changes due to the recording.
【請求項3】 全ての記録位置で記録発光パターンを同
一としたことを特徴とする請求項1または2に記載の光
記録媒体。
3. The optical recording medium according to claim 1, wherein the recording light emission pattern is the same at all recording positions.
【請求項4】 請求項1または2に記載された光記録媒
体への記録方法であって、全ての記録位置で記録発光パ
ターンを同一としたことを特徴とする光記録媒体への記
録方法。
4. A method for recording on an optical recording medium according to claim 1, wherein the recording light emission pattern is the same at all recording positions.
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