JP2002090726A - Liquid crystal display device and method for manufacturing the same - Google Patents

Liquid crystal display device and method for manufacturing the same

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JP2002090726A
JP2002090726A JP2000276753A JP2000276753A JP2002090726A JP 2002090726 A JP2002090726 A JP 2002090726A JP 2000276753 A JP2000276753 A JP 2000276753A JP 2000276753 A JP2000276753 A JP 2000276753A JP 2002090726 A JP2002090726 A JP 2002090726A
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JP
Japan
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liquid crystal
film
crystal display
display device
contact hole
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Application number
JP2000276753A
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Japanese (ja)
Inventor
Takashi Hirose
貴司 廣瀬
Nobuyuki Tsuboi
伸行 坪井
Junji Boshita
純二 坊下
Yoshinobu Sakurai
芳亘 櫻井
Satohisa Asano
悟久 浅野
Masahito Tanabe
将人 田辺
Mitsuhiro Uno
光宏 宇野
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a liquid crystal display device in which a reflective electrode having ruggedness, can be formed so as to have a substantially high aperture ratio while suppressing the generation of cross talk and to provide a manufacturing method by which a photograph process to form the ruggedness and a contact hole can be simplified and production efficiency is improved. SOLUTION: An active element array substrate 1 provided with active elements for drive 2a, 6a and 7 has a first film 8 formed by coating the channel parts of active elements, a passive layer 20 formed on the first film, and a pixel electrode 11 formed on the upper part of the passive layer. A contact hole 21 and the ruggedness 22 are formed into a laminated film consisting of the passive layer and the first film. The pixel electrode is formed on the ruggedness and electrically connected with the electrodes of active elements through the contact hole. The ruggedness has such a shape that it has a smooth protruded structure and a recessed structure in which the diameter narrower than that of the contact hole and the bottom part is not flat.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、情報処理端末や映
像機器などの画像表示応用機器の表示部に用いられる液
晶表示装置およびその製造方法に関する。更に詳しく
は、入射光を反射することにより表示を行う反射型、も
しくは入射光および透過光の両方を用いる半透過型の液
晶表示装置およびその製造方法に関する。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a liquid crystal display device used for a display section of an image display application device such as an information processing terminal or a video device, and a method of manufacturing the same. More specifically, the present invention relates to a reflection type liquid crystal display device that performs display by reflecting incident light, or a transflective type liquid crystal display device that uses both incident light and transmitted light, and a method of manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、情報の個人化に伴い、携帯電話の
高性能化に見られるように携帯性を重視した情報端末機
器が急速に発達している。これら携帯性のキーポイント
であるバッテリーでの長時間駆動や薄型軽量化に対し、
使用環境からの入射光を反射することによりバックライ
トなしで表示が可能な、反射型液晶表示装置が注目され
ている。反射型の液晶表示装置およびその製造方法とし
ては、特許第2756206号公報に記載されたものが
知られている。
2. Description of the Related Art Conventionally, with the personalization of information, information terminal equipment which emphasizes portability has been rapidly developed as seen in higher performance of mobile phones. For long-time operation and battery thinning and weight reduction which are the key points of these portability,
Attention has been focused on a reflection type liquid crystal display device which can display without a backlight by reflecting incident light from a use environment. As a reflection type liquid crystal display device and a method of manufacturing the same, one described in Japanese Patent No. 2756206 is known.

【0003】図4は、従来の反射型の液晶表示装置を示
す平面図である。図5は、図4の液晶表示装置の製造方
法を説明するために、図4中のA−A断面を各工程ごと
に示した断面図である。
FIG. 4 is a plan view showing a conventional reflection type liquid crystal display device. FIG. 5 is a cross-sectional view showing the AA cross section in FIG. 4 for each process for explaining the method of manufacturing the liquid crystal display device of FIG.

【0004】図4において、基板(図示せず)上には、
薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor;以下TFTと
略す)を構成するゲート電極2a、チャネル層4、ソー
ス電極6a、およびドレイン電極7が形成されている。
2はゲート電極2aと一体化したゲート配線、6はソー
ス電極6aと一体化したソース配線を示す。8aは、第
1の凹凸部、10aは第2のコンタクトホール、11は
画素電極である。
In FIG. 4, on a substrate (not shown),
A gate electrode 2a, a channel layer 4, a source electrode 6a, and a drain electrode 7 constituting a thin film transistor (hereinafter, abbreviated as TFT) are formed.
Reference numeral 2 denotes a gate wiring integrated with the gate electrode 2a, and reference numeral 6 denotes a source wiring integrated with the source electrode 6a. 8a is a first uneven portion, 10a is a second contact hole, and 11 is a pixel electrode.

【0005】図5(a)に示すように、まず基板1上に、C
r、Ta等からなる分岐したゲート電極2aを有する複
数のゲート配線2(図4参照)を形成する。次に全面に
窒化シリコン(以下SiNxと略す)からなるゲート絶
縁膜3を形成後、ゲート電極2a上のゲート絶縁膜3上
に、非晶質シリコン(以下a-Siと略す)からなるチ
ャネル層4を形成する。次にチャネル層4の両端に、低
抵抗a-Siからなるコンタクト層5とTi、Al等か
らなるソース電極6aおよびドレイン電極7とを重畳形
成する。ここでソース電極6aは、ソース配線6から分
岐した形に形成する。次に、チャネル層4の保護膜とし
て全面にSiNxからなる第1の膜8を形成しTFTア
レイが得られる。
[0005] As shown in FIG. 5 (a), first, C
A plurality of gate wirings 2 (see FIG. 4) having branched gate electrodes 2a made of r, Ta or the like are formed. Next, after a gate insulating film 3 made of silicon nitride (hereinafter abbreviated as SiNx) is formed on the entire surface, a channel layer made of amorphous silicon (hereinafter abbreviated as a-Si) is formed on the gate insulating film 3 on the gate electrode 2a. 4 is formed. Next, on both ends of the channel layer 4, a contact layer 5 made of low-resistance a-Si and a source electrode 6a and a drain electrode 7 made of Ti, Al or the like are formed so as to overlap. Here, the source electrode 6a is formed so as to be branched from the source wiring 6. Next, a first film 8 made of SiNx is formed on the entire surface as a protective film of the channel layer 4 to obtain a TFT array.

【0006】以上のようにTFTを形成後、図5(b)に
示すように、第1の膜8上にレジスト9をパターン形成
する。次に図5(c)に示すように、レジスト9をマスク
として第1の膜8を加工し、反射電極の形成部に多数の
微細な第1の凹凸部8aを、ドレイン電極7上に第1の
コンタクトホール8bを形成後、レジスト9を除去す
る。次に図5(d)に示すように、全面にアクリル系樹脂
を塗布し、第2のコンタクトホール10aを有する第2
の膜10を形成する。次に図5(e)に示すように、A
l、Ag等の光反射率の高い金属からなる画素電極11
を、凹凸を有する第2の膜10上、ならびに第2のコン
タクトホール10aを介してドレイン電極7に接続して
形成することにより、アクティブ素子アレイ基板が得ら
れる。さらに、図示しないが、上記のアクティブ素子ア
レイ基板に対向してカラーフィルターと透明電極を有す
る基板を貼り合わせ、間に液晶を封入して液晶表示装置
が完成する。
After forming the TFT as described above, a resist 9 is patterned on the first film 8 as shown in FIG. Next, as shown in FIG. 5C, the first film 8 is processed using the resist 9 as a mask, and a number of fine first uneven portions 8a are formed on the reflection electrode forming portion, and the first After forming one contact hole 8b, the resist 9 is removed. Next, as shown in FIG. 5D, an acrylic resin is applied to the entire surface to form a second contact hole 10a having a second contact hole 10a.
Is formed. Next, as shown in FIG.
a pixel electrode 11 made of a metal having a high light reflectance such as l, Ag, etc.
Is formed on the second film 10 having projections and depressions and the drain electrode 7 through the second contact hole 10a, whereby an active element array substrate is obtained. Further, although not shown, a color filter and a substrate having a transparent electrode are attached to face the active element array substrate, and a liquid crystal is sealed therebetween to complete a liquid crystal display device.

【0007】上記のように、第2の膜10を用い、第1
の膜8からなる平面状態の多い第1の凹凸部8a上に曲
面状態からなる凹凸を形成し、その上に画素電極11を
形成することにより、画素電極11による正反射成分
(平面による反射で鏡面状態を示す)が少なくなる。従
って、鏡面状態でなく散乱面状態に近い画素電極が得ら
れ、周辺光の映り込みが抑制されるとともに、曲面状態
からなる凹凸を制御することにより、反射光を集光する
ことによる反射効率の高い液晶表示装置を得ることが可
能となる。
As described above, the first film 10 is formed by using the second film 10.
By forming irregularities having a curved surface state on the first uneven portion 8a having many planar states composed of the film 8 of the above, and forming the pixel electrode 11 thereon, the regular reflection component (reflection by a plane) by the pixel electrode 11 is formed. (Indicating a mirror surface state). Therefore, a pixel electrode that is close to a scattering surface state rather than a mirror surface state is obtained, and the reflection of peripheral light is suppressed, and the reflection efficiency is improved by condensing the reflected light by controlling the unevenness of the curved surface state. A high liquid crystal display device can be obtained.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】この従来の液晶表示装
置およびその製造方法では、保護膜としてのSiNxか
らなる第1の凹凸部8aの形状でもって入射光に対する
反射特性を大まかに決定し、その正反射成分低減を目的
として第2の膜10の塗布形成を行っている。そのた
め、第2の膜10は、第1の凹凸部8aの平坦部を曲面
状態にする程度に薄く、例えば0.5μm程度に形成す
る必要がある。第2の膜10を0.5μmより厚く、例
えば1μm以上とすると、第1の凹凸部8aが埋まって
しまい全面平坦な鏡面状態となってしまう。従って、液
晶表示装置としての明るさを求めて開口率を大きく、す
なわち画素電極11を大きくすると、画素電極11とソ
ース配線6ならびにゲート配線2とが近接し、この間の
寄生容量が大きくなることによるクロストークの発生が
懸念される。
In the conventional liquid crystal display device and the method of manufacturing the same, the reflection characteristic with respect to incident light is roughly determined by the shape of the first uneven portion 8a made of SiNx as a protective film. The second film 10 is formed by coating for the purpose of reducing the regular reflection component. Therefore, the second film 10 needs to be formed thin enough to make the flat portion of the first uneven portion 8a a curved surface, for example, about 0.5 μm. If the thickness of the second film 10 is larger than 0.5 μm, for example, 1 μm or more, the first uneven portion 8a is buried, and the entire surface becomes a flat mirror surface state. Therefore, when the aperture ratio is increased to obtain the brightness of the liquid crystal display device, that is, when the pixel electrode 11 is increased, the pixel electrode 11 is closer to the source wiring 6 and the gate wiring 2 and the parasitic capacitance therebetween is increased. There is concern that crosstalk will occur.

【0009】反射型液晶表示装置の特徴のひとつは、画
素電極11をアクティブ素子アレイ基板の最上層に形成
することにより、透過型では開口率を規制する要因とな
る配線やアクティブ素子の面積を考慮する必要がない点
である。本来高開口率化に適する反射型でありながら、
上記従来の液晶表示装置およびその製造方法では、クロ
ストーク発生の懸念から開口率を犠牲にする必要が生じ
る。ここで第1の膜8であるSiNxを厚くすることが
考えられるが、その場合SiNxの成膜時間ならびに第
1の凹凸部8aおよび第1のコンタクトホール8bの加
工形成時間が長くなること、SiNx厚膜化による応力
増加に伴う基板のそりによる破損等の、生産性課題の発
生が懸念される。さらにまた、凹凸形成を、第1の凹凸
部8aの形成と第2の膜10の塗布形成との2工程によ
り行っているため、生産効率の低下をもたらしている。
One of the features of the reflection type liquid crystal display device is that the pixel electrode 11 is formed on the uppermost layer of the active element array substrate. There is no need to do this. Although it is a reflection type that is originally suitable for high aperture ratio,
In the above-described conventional liquid crystal display device and the method of manufacturing the same, it is necessary to sacrifice the aperture ratio due to concern about the occurrence of crosstalk. Here, it is conceivable to increase the thickness of SiNx, which is the first film 8, but in that case, the time for forming the SiNx and the time for forming and processing the first uneven portion 8a and the first contact hole 8b become longer. There is a concern that productivity problems may occur, such as breakage of the substrate due to warpage of the substrate due to an increase in stress due to thickening. Furthermore, since the unevenness is formed by two steps of forming the first uneven portion 8a and applying and forming the second film 10, the production efficiency is reduced.

【0010】本発明は上記課題に鑑み、凹凸を有する反
射電極を、クロストークの発生を抑制しつつ本来の高開
口率を得るべく形成することが可能であり、また、生産
効率を向上させることが可能な、液晶表示装置およびそ
の製造方法を得ることを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and it is possible to form a reflective electrode having irregularities so as to obtain an original high aperture ratio while suppressing occurrence of crosstalk, and to improve production efficiency. It is an object of the present invention to obtain a liquid crystal display device and a method for manufacturing the same, which can perform the following.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明の液晶表示装置
は、液晶表示パネルを構成する2枚の基板間に挟持され
た液晶を複数の画素電極を介して駆動することにより画
像を表示する液晶表示装置において、2枚の基板の一方
である駆動用のアクティブ素子を設けたアクティブ素子
アレイ基板が以下の構成を有することを特徴とする。す
なわち上記の課題を解決するために、アクティブ素子ア
レイ基板は、アクティブ素子のチャネル部を被覆して形
成された第1の膜と、第1の膜の上に形成された絶縁膜
と、絶縁膜の上部に形成された画素電極とを有し、コン
タクトホールおよび凹凸が絶縁膜および第1の膜からな
る積層膜に形成され、画素電極はその凹凸上に形成され
るとともにコンタクトホールを介してアクティブ素子の
電極と電気的に接続され、凹凸は滑らかな凸構造とコン
タクトホールの径より小さく底部が平坦でない凹構造と
を有する凹凸形状である。
According to the present invention, there is provided a liquid crystal display device which displays an image by driving a liquid crystal sandwiched between two substrates constituting a liquid crystal display panel through a plurality of pixel electrodes. In the display device, an active element array substrate provided with a driving active element, which is one of the two substrates, has the following configuration. That is, in order to solve the above problem, the active element array substrate includes a first film formed by covering a channel portion of the active element, an insulating film formed on the first film, and an insulating film. A contact electrode and an unevenness are formed in a laminated film composed of an insulating film and a first film, and the pixel electrode is formed on the unevenness and activated through the contact hole. The concavo-convex structure is electrically connected to the electrodes of the element, and the concavo-convex shape has a smooth convex structure and a concave structure having a smaller bottom than the diameter of the contact hole and an uneven bottom.

【0012】この構成によれば、画素電極による正反射
成分を低減させるための凹凸を、厚い層間絶縁膜を用い
て形成することができるので、クロストーク発生を抑制
しつつ本来の高開口率を得ることが可能である。またこ
の構成は、コンタクトホールおよび凹凸を、絶縁膜およ
び第1の膜に同時に形成することにより得られるので、
第1の膜にコンタクトホールおよび凹凸を形成した後に
絶縁膜を成膜するという従来の工程が簡略化され、生産
効率を向上させることが可能となる。
According to this structure, the unevenness for reducing the regular reflection component by the pixel electrode can be formed by using the thick interlayer insulating film, so that the original high aperture ratio can be reduced while suppressing the occurrence of crosstalk. It is possible to get. In addition, since this configuration can be obtained by simultaneously forming the contact hole and the unevenness in the insulating film and the first film,
The conventional process of forming an insulating film after forming a contact hole and unevenness in the first film is simplified, and the production efficiency can be improved.

【0013】上記の構成を変形して、コンタクトホール
が絶縁膜および第1の膜からなる積層膜に形成され、凹
凸が絶縁膜に形成された構成としても、同様の効果が得
られる。
[0013] Similar effects can be obtained by modifying the above structure and forming a structure in which a contact hole is formed in a laminated film composed of an insulating film and a first film and irregularities are formed in the insulating film.

【0014】本発明の液晶表示装置の製造方法は、液晶
表示パネルを構成する2枚の基板間に挟持された液晶を
複数の画素電極を介して駆動することにより画像を表示
する液晶表示装置の製造方法において、2枚の基板の一
方である駆動用のアクティブ素子を設けたアクティブ素
子アレイ基板が、以下の工程により製造されることを特
徴とする。すなわち、基板上にアクティブ素子をアレイ
状に形成する工程と、アクティブ素子のチャネルを保護
する第1の膜を全面に形成する工程と、第1の膜上に絶
縁膜を塗布後、解像度に比べ十分大きい穴形状のコンタ
クトホールパターンと凹部の径を解像度限界とした凹凸
形成パターンとを有するフォトマスクを用いて露光後現
像して、絶縁膜にコンタクトホール部および凹凸部を形
成する工程と、熱処理によって絶縁膜の角形状を滑らか
にしつつ硬化させる工程と、絶縁膜をマスクとして第1
の膜をドライエッチングすることにより、少なくともコ
ンタクトホール部直下のアクティブ素子のドレイン電極
を露出させコンタクトホールを形成すると共に、凹凸部
の凸部の一部を除去しさらに滑らかな凸部と底部が平坦
でない凹構造とを有する凹凸を形成する工程と、コンタ
クトホールを介してドレイン電極と電気的に接続されか
つ凹凸を被覆した画素電極を形成する工程とを有する。
According to a method of manufacturing a liquid crystal display device of the present invention, a liquid crystal device sandwiched between two substrates constituting a liquid crystal display panel is driven through a plurality of pixel electrodes to display an image. In the manufacturing method, an active element array substrate provided with a driving active element, which is one of the two substrates, is manufactured by the following steps. That is, a step of forming active elements in an array on a substrate, a step of forming a first film for protecting the channels of the active elements over the entire surface, and a step of applying an insulating film on the first film and comparing the resolution with the resolution. Using a photomask having a sufficiently large hole-shaped contact hole pattern and a concavo-convex formation pattern with the diameter of the concave portion as the resolution limit, developing after exposure, forming a contact hole portion and a concavo-convex portion in the insulating film; Hardening while smoothing the square shape of the insulating film, and the first step using the insulating film as a mask.
By dry-etching the film, at least the drain electrode of the active element immediately below the contact hole is exposed to form a contact hole, and a portion of the protrusion of the uneven portion is removed, and the smooth protrusion and the bottom are flattened. Forming a pixel electrode that is electrically connected to the drain electrode through a contact hole and covers the unevenness.

【0015】この構成の製造方法によれば、生産効率を
向上しつつ、高開口率な反射型もしくは半透過型アクテ
ィブ素子アレイ基板を得ることができる。
According to the manufacturing method having this configuration, a reflective or transflective active element array substrate having a high aperture ratio can be obtained while improving production efficiency.

【0016】上記いずれかの構成の液晶表示装置、また
は液晶表示装置の製造方法において、絶縁膜を有機膜と
することにより、容易に厚い層間絶縁膜を形成すること
ができる。
In the liquid crystal display device of any one of the above structures or the method of manufacturing a liquid crystal display device, a thick interlayer insulating film can be easily formed by using an organic film as the insulating film.

【0017】また、第1の膜として、絶縁膜をマスクと
して加工形成された窒化シリコン膜を用いることによ
り、工程数を低減できる。
Further, the number of steps can be reduced by using, as the first film, a silicon nitride film processed and formed using an insulating film as a mask.

【0018】また、画素電極が高光反射金属である反射
型もしくは半透過型に構成することにより、高光反射金
属の膜厚を制御して、明るい反射型もしくは半透過型の
液晶表示装置を得ることができる。
Further, by forming the pixel electrode of a reflective or semi-transmissive type which is a high light reflective metal, the thickness of the high light reflective metal can be controlled to obtain a bright reflective or semi-transmissive liquid crystal display device. Can be.

【0019】また、画素電極が高光反射金属部と透明電
極部とからなる半透過型に構成することにより、使用環
境が明るい場合での反射型としての明るさと、使用環境
が暗い場合での透過型としての明るさを併せ持つことが
できる。
Further, by forming the pixel electrode of a semi-transmissive type composed of a high-reflection metal part and a transparent electrode part, the brightness as a reflective type when the use environment is bright and the transmission when the use environment is dark are reduced. It can also have the brightness as a mold.

【0020】また、上記の構成において高光反射金属ま
たは高光反射金属部を、Al、Al合金、AgおよびA
g合金から選ばれた金属を用いて形成することにより、
膜厚を制御して、明るい反射型もしくは半透過型の液晶
表示装置を得ることができる。
Further, in the above structure, the high light reflecting metal or the high light reflecting metal portion is made of Al, Al alloy, Ag and A.
By using a metal selected from g alloy,
By controlling the film thickness, a bright reflective or transflective liquid crystal display device can be obtained.

【0021】また、透明電極部をインジュウム錫酸化物
を用いて形成することにより、透過表示において明るい
半透過型の液晶表示装置を得ることができる。
Further, by forming the transparent electrode portion using indium tin oxide, a transflective liquid crystal display device which is bright in transmissive display can be obtained.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について、図
1、図2および図3を用いて説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

【0023】図1は液晶表示装置のアクティブ素子アレ
イ基板における画素部の断面構造を示し、図2は同様に
画素部の平面図である。図1は、図2のB−Bにおける
断面である。図3は製造方法の各工程を、図2のB−B
における断面で示したものである。
FIG. 1 shows a sectional structure of a pixel portion on an active element array substrate of a liquid crystal display device, and FIG. 2 is a plan view of the pixel portion similarly. FIG. 1 is a cross section taken along line BB of FIG. FIG. 3 shows each step of the manufacturing method,
Are shown in cross section.

【0024】図1、図2および図3において、図4およ
び図5に示した従来例の要素と同一の要素については、
同一符号を付して説明を省略する。本実施の形態が従来
例と相違する部分は、絶縁膜20、コンタクトホール2
1、および凹凸22である。
In FIGS. 1, 2 and 3, the same elements as those of the conventional example shown in FIGS.
The same reference numerals are given and the description is omitted. The present embodiment is different from the conventional example in that the insulating film 20 and the contact hole 2
1 and irregularities 22.

【0025】まず図3(a)に示すように、ガラスからな
る基板1上に、Arガスを用いたスパッタリング法によ
りTi/Al/Tiをそれぞれ100/200/100nm積層して成
膜後、分岐したゲート電極2aを有する複数のゲート配
線2(図2参照)を形成する。次に、プラズマ化学気相
蒸着法(以下p-CVD法と略す)によりSiNx、a-S
i、低抵抗a-Siの3層を成膜後、TFT領域以外の
a-Si、低抵抗a-Siをエッチング除去し、島状のそ
れぞれチャネル層4とコンタクト層5ならびに全面にわ
たるゲート絶縁膜3を形成する。次に、再度Arガスを
用いたスパッタリング法によりTi/Al/Tiをそれぞ
れ100/200/100nm積層して成膜後、複数のソース配線6
(図2参照)と、これから分岐したTFTのソース電極
6aならびにドレイン電極7のパターンに加工する。こ
こで同時にコンタクト層5は、ソースならびにドレイン
の領域に分離形成される。次に、全面にp-CVD法により
チャネル層4の保護膜としてSiNxからなる第1の膜
8を形成して、TFTアレイを得る。
First, as shown in FIG. 3A, a Ti / Al / Ti layer is formed on a glass substrate 1 by sputtering using Ar gas at a thickness of 100/200/100 nm, and then branched. A plurality of gate wires 2 (see FIG. 2) having the gate electrodes 2a thus formed are formed. Next, SiNx and a-S are formed by plasma enhanced chemical vapor deposition (hereinafter abbreviated as p-CVD).
i, after forming three layers of low-resistance a-Si, a-Si and low-resistance a-Si other than the TFT region are removed by etching to form island-like channel layers 4 and contact layers 5 and a gate insulating film over the entire surface. Form 3 Next, a Ti / Al / Ti layer is again stacked by 100/200/100 nm by a sputtering method using Ar gas to form a film.
(Refer to FIG. 2), and processed into a pattern of a source electrode 6a and a drain electrode 7 of a TFT branched therefrom. At this time, the contact layer 5 is formed separately in the source and drain regions. Next, a first film 8 made of SiNx is formed on the entire surface as a protective film of the channel layer 4 by a p-CVD method, and a TFT array is obtained.

【0026】以上のように従来例と同様にTFTアレイ
を形成後、第1の膜8上に感光性アクリル系樹脂(JS
R社製PC305)を約3μm塗布する。次に、短辺が
解像度に比べ十分大きい約8μmである楕円形状のコン
タクトホールパターンと、凹部の径が解像度限界の約4
μmである凹凸形成パターンとを有するフォトマスクを
用い、露光機(CANON社製MA3000)により露光後
現像する。それにより、図3(b)に示すように、下地の
第1の膜8が十分露出したコンタクトホール部20a
と、下地の第1の膜8が約1μ以下の径で露出した凹凸
部20bを有する絶縁膜20を形成する。
As described above, after forming a TFT array in the same manner as in the conventional example, a photosensitive acrylic resin (JS
R Company PC305) is applied about 3 μm. Next, an elliptical contact hole pattern whose short side is about 8 μm, which is sufficiently larger than the resolution,
Using a photomask having a concavo-convex pattern having a size of μm, development is performed after exposure by an exposure machine (MA3000 manufactured by CANON). As a result, as shown in FIG. 3B, the contact hole portion 20a where the underlying first film 8 is sufficiently exposed is formed.
Then, an insulating film 20 having an uneven portion 20b in which the underlying first film 8 is exposed with a diameter of about 1 μ or less is formed.

【0027】次に図3(c)に示すように、220℃の熱
処理を行い、絶縁膜20を温度上昇に伴う軟化により角
形状を滑らかにしつつ硬化させる。さらに塩素系ガスプ
ラズマを用いたドライエッチングにより、少なくともコ
ンタクトホール部20a直下のドレイン電極7を露出さ
せ、コンタクトホール21を形成すると共に、凹凸部2
0bの凸部の一部を除去して、さらに滑らかな凸部と底
部が平坦でない凹部を有する凹凸22を形成する。次に
図3(d)に示すように、全面にAlを成膜後、画素電極
11に加工形成する。すなわち、凹凸22を覆うととも
に、コンタクトホール21を通じてドレイン電極7と電
気的に接続され、さらにゲート配線2の一部ならびにソ
ース配線6の一部に重なり合うまで伸延した形状とする
(図2参照)。このようにして、アクティブ素子アレイ
基板が得られる。さらに、従来例と同様に、上記のアク
ティブ素子アレイ基板に対向してカラーフィルターと透
明電極を有する基板を貼り合わせ、間に液晶を封入して
液晶表示装置が完成する。
Next, as shown in FIG. 3C, a heat treatment at 220 ° C. is performed to harden the insulating film 20 while softening the square shape by softening with a rise in temperature. Further, at least the drain electrode 7 immediately below the contact hole portion 20a is exposed by dry etching using chlorine-based gas plasma to form a contact hole 21 and to form the uneven portion 2
By removing a part of the convex portion of Ob, unevenness 22 having a smoother convex portion and a concave portion whose bottom is not flat is formed. Next, as shown in FIG. 3D, an Al film is formed on the entire surface, and then the pixel electrode 11 is processed and formed. That is, it has a shape that covers the irregularities 22, is electrically connected to the drain electrode 7 through the contact hole 21, and extends to partially overlap the gate wiring 2 and the source wiring 6 (see FIG. 2). Thus, an active element array substrate is obtained. Further, similarly to the conventional example, a substrate having a color filter and a transparent electrode is attached to face the active element array substrate, and a liquid crystal is sealed therebetween to complete a liquid crystal display device.

【0028】以上の実施の形態によれば、厚い絶縁膜2
0により、クロストークの発生懸念を低減して画素電極
11をソース配線6ならびにゲート配線2近傍にまで形
成できる。また凹凸22ならびにコンタクトホール21
を形成するためのフォト工程を1回に低減できる。さら
に、滑らかな凸部と底部が平坦でない凹部を有する凹凸
22上に画素電極11を形成することにより、正反射成
分が少なく周辺光の映り込みが抑制されるとともに、曲
面状態からなる凸部を制御することにより、反射効率を
高くすなわち明るくできる。
According to the above embodiment, the thick insulating film 2
With 0, the pixel electrode 11 can be formed in the vicinity of the source wiring 6 and the gate wiring 2 with reduced concern about occurrence of crosstalk. The unevenness 22 and the contact hole 21
Can be reduced to one photo step. Further, by forming the pixel electrode 11 on the unevenness 22 having a smooth convex portion and a concave portion whose bottom is not flat, the reflection of the peripheral light is reduced with a small specular reflection component, and the convex portion having a curved surface state is formed. By controlling, the reflection efficiency can be increased, that is, brightened.

【0029】なお底部が平坦でない凹部を有する凹凸2
2の形成を、上記の方法のように、下地の第1の膜8が
約1μ以下の径で露出した凹凸部20bを有する絶縁膜
20をマスクとして、第1の膜8をドライエッチングす
る方法ではなく、以下の方法で行うこともできる。すな
わち、絶縁膜20の凹凸部20bにおける凹部の形成
を、凹部の径が解像度限界以下、例えば約3μmとした
凹凸形成パターンを有するフォトマスクを用い、露光現
像することにより行う。それにより、下地の第1の膜8
を露出しない凹凸部20bを形成し、さらにドレイン電
極7を露出させるドライエッチング後も、下地の第1の
膜8を露出させずに、底部が平坦でない凹部すなわち滑
らかな凹部を有する凹凸22を形成する。
The unevenness 2 having a concave portion whose bottom is not flat
2 is a method of dry-etching the first film 8 using the insulating film 20 having the irregularities 20b in which the underlying first film 8 is exposed with a diameter of about 1 μ or less as a mask, as in the above method. Instead, the following method can be used. That is, the formation of the concave portion in the concave and convex portion 20b of the insulating film 20 is performed by exposure and development using a photomask having a concave and convex forming pattern in which the diameter of the concave portion is equal to or less than the resolution limit, for example, about 3 μm. Thereby, the underlying first film 8
Is formed without forming a concave / convex portion 20b which does not expose the drain electrode 7, and even after the dry etching for exposing the drain electrode 7, the concave / convex portion 22 having a concave portion whose bottom is not flat, that is, a smooth concave portion is formed without exposing the underlying first film 8. I do.

【0030】また、画素電極11の材料は、Alに限ら
ず、ドレイン電極7と電気的に接合し高反射率のもので
あれば何でもよい。例えばAl合金であるAlTi、A
lTa、AlW、AlNd、AlZr等、またはAgま
たはAg合金であるAgCu、AgPdCu,AgTi
Cu等からなるものを用いてもよい。
The material of the pixel electrode 11 is not limited to Al, but may be any material as long as it is electrically connected to the drain electrode 7 and has a high reflectance. For example, Al alloy, AlTi, A
lTa, AlW, AlNd, AlZr, etc., or Ag or Ag alloy AgCu, AgPdCu, AgTi
A material made of Cu or the like may be used.

【0031】さらに、アクティブ素子をTFTからなる
ものとしたが、MIM等の非線形2端子素子としてもよ
い。
Further, although the active elements are made of TFTs, they may be non-linear two-terminal elements such as MIM.

【0032】[0032]

【発明の効果】本発明によれば、厚い絶縁膜によりクロ
ストークの発生懸念を低減して、画素電極をソース配線
ならびにゲート配線近傍にまで形成することにより、高
開口率の明るい反射型もしくは半透過型の液晶表示装置
が得られる。かつ、凹凸ならびにコンタクトホールを形
成するためのフォト工程を1回に低減することにより、
生産性の大幅な向上がもたらされる。
According to the present invention, the fear of occurrence of crosstalk is reduced by a thick insulating film, and a pixel electrode is formed in the vicinity of a source wiring and a gate wiring. A transmissive liquid crystal display device is obtained. In addition, by reducing the number of photo steps for forming irregularities and contact holes to one,
A significant increase in productivity results.

【0033】さらに、滑らかな凸部と底部が平坦でない
凹部を有する凹凸上に画素電極を形成することにより、
正反射成分が少なく周辺光の映り込みが抑制されるとと
もに、曲面状態からなる凸部を制御することにより、反
射効率の高いすなわち明るい反射型もしくは半透過型の
液晶表示装置が得られる。
Further, by forming a pixel electrode on unevenness having a smooth convex portion and a concave portion whose bottom is not flat,
By suppressing the reflection of the ambient light with a small amount of the regular reflection component and controlling the convex portion having the curved surface state, it is possible to obtain a liquid crystal display device of high reflection efficiency, that is, a bright reflective or transflective liquid crystal display device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態における液晶表示装置を
示す断面図
FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施の形態における液晶表示装置を
示す平面図
FIG. 2 is a plan view showing a liquid crystal display device according to one embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施の形態における液晶表示装置の
製造方法を各工程における断面で示す断面図
FIGS. 3A to 3C are cross-sectional views illustrating a method for manufacturing a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention in cross sections in respective steps.

【図4】従来例の液晶表示装置を示す平面図FIG. 4 is a plan view showing a conventional liquid crystal display device.

【図5】従来の液晶表示装置の製造方法における各工程
を示す断面図
FIG. 5 is a sectional view showing each step in a conventional method for manufacturing a liquid crystal display device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 ゲート配線 2a ゲート電極 3 ゲート絶縁膜 4 チャネル層 5 コンタクト層 6 ソース配線 6a ソース電極 7 ドレイン電極 8 第1の膜 8a 第1の凹凸部 8b 第1のコンタクトホール 9 レジスト 10 第2の膜 10a 第2のコンタクトホール 11 画素電極 20a コンタクトホール部 20b 凹凸部 21 コンタクトホール 22 凹凸 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Gate wiring 2a Gate electrode 3 Gate insulating film 4 Channel layer 5 Contact layer 6 Source wiring 6a Source electrode 7 Drain electrode 8 First film 8a First uneven part 8b First contact hole 9 Resist 10 Second Film 10a Second contact hole 11 Pixel electrode 20a Contact hole 20b Uneven part 21 Contact hole 22 Uneven

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G09F 9/30 349 G02F 1/136 500 (72)発明者 坊下 純二 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 櫻井 芳亘 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 浅野 悟久 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 田辺 将人 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 宇野 光宏 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 2H091 FA14Y FB08 FC10 FC26 FC29 FC30 FD04 FD23 GA13 2H092 HA05 JA26 JA29 JA38 JA42 JA44 JB13 JB23 JB32 JB33 JB38 JB57 KA05 KA07 KA16 KA18 KB14 KB24 MA05 MA08 MA14 MA15 MA16 MA18 MA19 MA20 MA27 MA35 MA37 MA41 NA25 NA27 PA04 PA12 QA06 5C094 AA09 AA10 AA43 BA03 BA43 CA19 CA24 DA14 DA15 EA04 EA05 EA07 EB02 ED11 FB01 FB12 FB15 5G435 AA03 AA17 BB12 BB15 BB16 EE33 FF03 HH12 HH14 KK05──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) G09F 9/30 349 G02F 1/136 500 (72) Inventor Junji Boshita 1006 Odakazuma Kadoma, Kadoma City, Osaka Matsushita Inside Electric Industrial Co., Ltd. (72) Inventor Yoshinari Sakurai 1006 Kadoma Kadoma, Osaka Prefecture Inside Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (72) Inventor Gohisa Asano 1006 Okadoma Kadoma, Osaka Pref. Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 72) Inventor Masato Tanabe 1006 Kadoma Kadoma, Kadoma-shi, Osaka Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (72) Inventor Mitsuhiro Uno 1006 Kadoma Kadoma, Kadoma-shi, Osaka Pref. FC10 FC26 FC29 FC30 FD04 FD23 GA13 2H092 HA05 JA26 JA29 JA38 JA42 JA44 JB13 JB23 JB32 JB33 JB38 JB57 KA05 KA07 KA16 KA18 KB14 K B24 MA05 MA08 MA14 MA15 MA16 MA18 MA19 MA20 MA27 MA35 MA37 MA41 NA25 NA27 PA04 PA12 QA06 5C094 AA09 AA10 AA43 BA03 BA43 CA18 CA24

Claims (16)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 液晶表示パネルを構成する2枚の基板間
に挟持された液晶を複数の画素電極を介して駆動するこ
とにより画像を表示する液晶表示装置において、 前記2枚の基板の一方であって前記駆動用のアクティブ
素子を設けたアクティブ素子アレイ基板が、前記アクテ
ィブ素子のチャネル部を被覆して形成された第1の膜
と、前記第1の膜の上に形成された絶縁膜と、前記絶縁
膜の上部に形成された画素電極とを有し、 コンタクトホールおよび凹凸が前記絶縁膜および前記第
1の膜からなる積層膜に形成され、前記画素電極は前記
凹凸上に形成されるとともに前記コンタクトホールを介
して前記アクティブ素子の電極と電気的に接続され、前
記凹凸は滑らかな凸構造と前記コンタクトホールより径
小で底部が平坦でない凹構造とを有する凹凸形状である
ことを特徴とする液晶表示装置。
1. A liquid crystal display device which displays an image by driving a liquid crystal sandwiched between two substrates constituting a liquid crystal display panel through a plurality of pixel electrodes, wherein one of the two substrates is provided. An active element array substrate provided with the driving active elements, a first film formed by covering a channel portion of the active element, and an insulating film formed on the first film. A pixel electrode formed on the insulating film, a contact hole and unevenness are formed in a laminated film including the insulating film and the first film, and the pixel electrode is formed on the unevenness Electrically connected to the electrode of the active element through the contact hole, the unevenness has a smooth convex structure and a concave structure having a smaller diameter than the contact hole and a flat bottom. The liquid crystal display device which is a convex shape.
【請求項2】 液晶表示パネルを構成する2枚の基板間
に挟持された液晶を複数の画素電極を介して駆動するこ
とにより画像を表示する液晶表示装置において、 前記2枚の基板の一方であって前記駆動用のアクティブ
素子を設けたアクティブ素子アレイ基板が、前記アクテ
ィブ素子のチャネル部を被覆して形成された第1の膜
と、前記第1の膜の上に形成された絶縁膜と、前記絶縁
膜の上部に形成された画素電極とを有し、 コンタクトホールが前記絶縁膜および前記第1の膜から
なる積層膜に形成され、凹凸が前記絶縁膜に形成され、
前記画素電極は前記凹凸上に形成されるとともに前記コ
ンタクトホールを介して前記アクティブ素子の電極と電
気的に接続され、前記凹凸は滑らかな凸構造と前記コン
タクトホールの径より小さく底部が平坦でない凹構造と
を有する凹凸形状であることを特徴とする液晶表示装
置。
2. A liquid crystal display device which displays an image by driving a liquid crystal sandwiched between two substrates constituting a liquid crystal display panel through a plurality of pixel electrodes, wherein one of the two substrates is provided. An active element array substrate provided with the driving active elements, a first film formed by covering a channel portion of the active element, and an insulating film formed on the first film. A pixel electrode formed on the insulating film, a contact hole is formed in a laminated film including the insulating film and the first film, and irregularities are formed in the insulating film;
The pixel electrode is formed on the unevenness and is electrically connected to the electrode of the active element through the contact hole. The unevenness has a smooth convex structure and a concave portion having a smaller diameter than the diameter of the contact hole and an uneven bottom. A liquid crystal display device having an uneven shape having a structure.
【請求項3】 絶縁膜が有機膜である請求項1または2
記載の液晶表示装置。
3. The method according to claim 1, wherein the insulating film is an organic film.
The liquid crystal display device according to the above.
【請求項4】 第1の膜が絶縁膜をマスクとして加工形
成された窒化シリコン膜である請求項1または2記載の
液晶表示装置。
4. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the first film is a silicon nitride film formed by using an insulating film as a mask.
【請求項5】 画素電極が高光反射金属である反射型も
しくは半透過型に構成された請求項1または2記載の液
晶表示装置。
5. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the pixel electrode is of a reflective or semi-transmissive type made of a highly light-reflective metal.
【請求項6】 画素電極が高光反射金属部と透明電極部
とからなる半透過型に構成された請求項1または2記載
の液晶表示装置。
6. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the pixel electrode is configured as a semi-transmissive type including a high light reflection metal portion and a transparent electrode portion.
【請求項7】 高光反射金属または高光反射金属部が、
Al、Al合金、AgおよびAg合金から選ばれた金属
を用いて形成された請求項5または6記載の液晶表示装
置。
7. The high light reflection metal or the high light reflection metal portion,
7. The liquid crystal display device according to claim 5, wherein the liquid crystal display device is formed using a metal selected from Al, an Al alloy, Ag, and an Ag alloy.
【請求項8】 透明電極部がインジュウム錫酸化物を用
いて形成された請求項6記載の液晶表示装置。
8. The liquid crystal display device according to claim 6, wherein the transparent electrode portion is formed using indium tin oxide.
【請求項9】 液晶表示パネルを構成する2枚の基板間
に挟持された液晶を複数の画素電極を介して駆動するこ
とにより画像を表示する液晶表示装置の製造方法におい
て、 前記駆動用のアクティブ素子を設けたアクティブ素子ア
レイ基板の製造工程が、基板上に前記アクティブ素子を
アレイ状に形成する工程と、前記アクティブ素子のチャ
ネルを保護する第1の膜を全面に形成する工程と、前記
第1の膜上に絶縁膜を塗布後、解像度に比べ十分大きい
穴形状のコンタクトホールパターンと凹部の径を解像度
限界とした凹凸形成パターンとを有するフォトマスクを
用いて露光後現像して、前記絶縁膜にコンタクトホール
部および凹凸部を形成する工程と、熱処理によって前記
絶縁膜の角形状を滑らかにしつつ硬化させる工程と、前
記絶縁膜をマスクとして前記第1の膜をドライエッチン
グすることにより、少なくとも前記コンタクトホール部
直下の前記アクティブ素子のドレイン電極を露出させコ
ンタクトホールを形成すると共に、前記凹凸部の凸部の
一部を除去しさらに滑らかな凸部と底部が平坦でない凹
構造とを有する凹凸を形成する工程と、前記コンタクト
ホールを介して前記ドレイン電極と電気的に接続されか
つ前記凹凸を被覆した画素電極を形成する工程とを有す
ることを特徴とする液晶表示装置の製造方法。
9. A manufacturing method of a liquid crystal display device for displaying an image by driving a liquid crystal sandwiched between two substrates constituting a liquid crystal display panel through a plurality of pixel electrodes, wherein the driving active A step of manufacturing the active element array substrate provided with the elements, a step of forming the active elements in an array on the substrate, a step of forming a first film for protecting a channel of the active element over the entire surface, After applying an insulating film on the first film, the film is exposed and developed using a photomask having a contact hole pattern having a hole shape sufficiently larger than the resolution and a concavo-convex forming pattern with the diameter of the concave portion as the resolution limit, and developing the insulating film A step of forming a contact hole portion and an uneven portion in the film; a step of hardening while smoothing the square shape of the insulating film by heat treatment; The first film is dry-etched to form a contact hole by exposing at least the drain electrode of the active element immediately below the contact hole portion, and removing a part of the convex portion of the uneven portion. A step of forming irregularities having a smooth convex portion and a concave structure in which the bottom is not flat, and a step of forming a pixel electrode electrically connected to the drain electrode through the contact hole and covering the irregularities. A method for manufacturing a liquid crystal display device, comprising:
【請求項10】 絶縁膜が有機膜である請求項9記載の
液晶表示装置の製造方法。
10. The method according to claim 9, wherein the insulating film is an organic film.
【請求項11】 第1の膜が窒化シリコン膜である請求
項9記載の液晶表示装置の製造方法。
11. The method according to claim 9, wherein the first film is a silicon nitride film.
【請求項12】 画素電極が高光反射金属である反射型
または半透過型に構成する請求項9記載の液晶表示装置
の製造方法。
12. The method for manufacturing a liquid crystal display device according to claim 9, wherein the pixel electrode is of a reflective type or a semi-transmissive type, which is made of a highly light reflective metal.
【請求項13】 画素電極が高光反射金属部と透明電極
部とからなる半透過型に構成する請求項9記載の液晶表
示装置の製造方法。
13. The method of manufacturing a liquid crystal display device according to claim 9, wherein the pixel electrode is configured as a transflective type including a high light reflective metal portion and a transparent electrode portion.
【請求項14】 高光反射金属または高光反射金属部
を、Al、Al合金、AgおよびAg合金から選ばれた
金属を用いて形成する請求項12または13記載の液晶
表示装置の製造方法。
14. The method for manufacturing a liquid crystal display device according to claim 12, wherein the high light reflection metal or the high light reflection metal portion is formed using a metal selected from Al, an Al alloy, Ag, and an Ag alloy.
【請求項15】 透明電極部をインジュウム錫酸化物を
用いて形成する請求項13記載の液晶表示装置の製造方
法。
15. The method according to claim 13, wherein the transparent electrode portion is formed using indium tin oxide.
【請求項16】 請求項1〜8のいずれか1項に記載の
液晶表示装置を表示部に用いた画像表示応用機器。
16. An image display application device using the liquid crystal display device according to claim 1 for a display unit.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006048027A (en) * 2004-07-09 2006-02-16 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Display device
CN100412638C (en) * 2004-12-24 2008-08-20 京东方显示器科技公司 Method for manufacturing LCD
JP2012032818A (en) * 2004-07-09 2012-02-16 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Display device
CN104076561A (en) * 2014-07-18 2014-10-01 深圳市华星光电技术有限公司 Method for fabricating HVA (high vertical alignment) pixel electrode and array substrate

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006048027A (en) * 2004-07-09 2006-02-16 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Display device
JP2012032818A (en) * 2004-07-09 2012-02-16 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Display device
CN100412638C (en) * 2004-12-24 2008-08-20 京东方显示器科技公司 Method for manufacturing LCD
CN104076561A (en) * 2014-07-18 2014-10-01 深圳市华星光电技术有限公司 Method for fabricating HVA (high vertical alignment) pixel electrode and array substrate
WO2016008183A1 (en) * 2014-07-18 2016-01-21 深圳市华星光电技术有限公司 Method for manufacturing hva pixel electrode and array substrate
US9891477B2 (en) 2014-07-18 2018-02-13 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Method for manufacturing HVA pixel electrode and array substitute

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