JP2002076207A - Bga chip and cleaning system of socket connector using the bga chip - Google Patents

Bga chip and cleaning system of socket connector using the bga chip

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JP2002076207A
JP2002076207A JP2000254758A JP2000254758A JP2002076207A JP 2002076207 A JP2002076207 A JP 2002076207A JP 2000254758 A JP2000254758 A JP 2000254758A JP 2000254758 A JP2000254758 A JP 2000254758A JP 2002076207 A JP2002076207 A JP 2002076207A
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socket connector
contact
bga chip
bga
chip
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JP2000254758A
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Tomoya Otsuki
智也 大槻
Yasue Yamazaki
靖恵 山崎
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DDK Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/12Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/13Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process of an individual bump connector

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a BGA chip 10, that can easily remote solder adhering or transferring to the surface treatment layer of a socket connector 20, by allowing a metal contact 12 of the BGA chip 10 to come into contact repeatedly with (to repeatedly insert into and extract from) the socket connector 20 over many times, and the oxide, and at the same time, to provide a cleaning system of the socket connector 20 that can easily recover contact failure. SOLUTION: In the inspection system of a connector that uses the ball grid array(BGA) chip 10, where the metal contact 12 is made of plastic, and inspects the performance of the BGA chip 10 and in this cleaning system of the socket connector 20, where the BGA chip 10 is detachably confronted with the socket connector 20 that is the connector coming into contact with a BGA element or the like; and the plurality of metal contacts 12 at the side of the BGA chip 10 are electrically connected to the socket connector 20, the contact 12 of the BGA chip 10 made of plastic is used once per several tens of times or several hundreds of times, at inspection of the BGA chip 10.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、BGAチップの複
数の金属接点(電気接点)とソケットコネクタとを一度
に電気的に接続するようにしたコネクタに関するもの
で、特にBGAチップの半田がソケットコネクタの接触
部に付着又は転移した場合のクリーニングに関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a connector in which a plurality of metal contacts (electrical contacts) of a BGA chip are electrically connected to a socket connector at a time. This is related to cleaning when it adheres or transfers to a contact portion of the image forming apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のコネクタの一つには、BGA(B
all Grid Array)チップとソケットコネ
クタ(BGA素子等に接触するコネクタをいう)とを着
脱自在に突き合わせて、BGAチップの片面側に設けた
半田などの球状突起からなる複数の金属接点とソケット
コネクタとを電気的に接続するようにしたものがある。
なお、図示しないが、BGAチップとソケットコネクタ
とはソケット構造などのような機構を持っていて、着脱
自在に装着できるようになっている。
2. Description of the Related Art One of the conventional connectors is a BGA (B
an all grid array chip and a socket connector (referred to as a connector that contacts a BGA element or the like) are detachably butted against each other to form a plurality of metal contacts made of spherical projections such as solder provided on one side of the BGA chip and a socket connector; Are electrically connected.
Although not shown, the BGA chip and the socket connector have a mechanism such as a socket structure and can be detachably mounted.

【0003】BGAチップ10は、剛性のあるセラミッ
クスやシリコンベースと再配線層である軟質樹脂基板等
からなり、この軟質樹脂基板の片側面には半田(PbS
n)などの球状突起からなる複数の金属接点が設けられ
ている。この金属接点は、半田ボールを軟質樹脂基板の
ランドにのせて、リフローによって形成している。ま
た、ソケットコネクタの一例としては、BGAチップの
複数の金属接点と電気的に接続できるように片面側に複
数の電気接触子が設けられている。この電気接触子は、
ソケットコネクタの基板(FPC等)の導体上に設けら
れ、当該導体の周囲の基板にはスリット状の切り込み部
を設けて当該導体部分に可撓性を持たせる構造にし、こ
の構造によってBGAチップの金属接点の高さのバラツ
キを吸収できるようにし、かつ、前記ソケットコネクタ
の電気接触子上に少なくとも1個以上の山状突起を設け
前記BGAチップの金属接点の酸化膜を突き破り確実に
接触できるようになっている。なお、電気接触子52は
接触部分なので、一般的に、ニッケル(Ni)や金(A
u)メッキなどの表面処理が施されている。この為、B
GAチップの金属接点(α)の硬度とソケットコネクタ
の電気接触子の山状突起(β)の硬度の関係は、α<β
になっている。なお、ソケットコネクタとしては、図7
のようなプロービングピンなどを用いたものも考えら
れ、例えば、剛性のある硬質樹脂プレートからなり、電
気接触子にあっては鍔部を有するピンで形成され、か
つ、硬質樹脂プレートに植設された金属製の筒体内にコ
イルスプリングなどの弾性体を介して進退自在に収納さ
れている。
The BGA chip 10 is made of a rigid ceramic or silicon base and a soft resin substrate serving as a rewiring layer. Solder (PbS) is provided on one side of the soft resin substrate.
n) and a plurality of metal contacts made of spherical projections. The metal contact is formed by reflowing a solder ball on a land of a soft resin substrate. Further, as an example of the socket connector, a plurality of electric contacts are provided on one side so as to be electrically connectable to a plurality of metal contacts of the BGA chip. This electrical contact
It is provided on a conductor of a board (FPC or the like) of a socket connector, and a slit-shaped cut portion is provided in a board surrounding the conductor to provide flexibility to the conductor portion. Variations in the height of the metal contacts can be absorbed, and at least one or more mountain-shaped protrusions are provided on the electrical contacts of the socket connector so that the oxide film of the metal contacts of the BGA chip can be broken through and reliably contacted. It has become. Since the electric contact 52 is a contact portion, generally, nickel (Ni) or gold (A
u) Surface treatment such as plating is performed. Therefore, B
The relationship between the hardness of the metal contact (α) of the GA chip and the hardness of the ridge (β) of the electrical contact of the socket connector is α <β
It has become. In addition, as a socket connector, FIG.
It is also conceivable to use a probing pin such as, for example, a rigid resin plate made of a rigid material, and in the case of an electric contact, a pin having a flange portion, and implanted in the hard resin plate. Is retractably accommodated in a metal cylinder via an elastic body such as a coil spring.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ソケットコネクタは、
BGAチップを検査するコネクタであるので、ソケット
コネクタに対しては数百個又は数十万個のBGAチップ
との接触が行われる。その為、次のような問題点が発生
した。図8に基づいて問題点について説明する。(A)
はBGAチップとソケットコネクタとが接触した状態の
部分断面図であり、(B)はBGAチップがソケットコ
ネクタから離れた状態の部分的な断面図である。BGA
チップの金属接点とソケットコネクタの電気接触子が数
百回接触すると、従来施されているような金メッキなど
の表面処理層に、図8(B)のように金属接点を形成し
ている半田(PbSn)が付着し易く、又は付着したも
のが酸化(SnO2)し、接触不良の原因になるといっ
た解決すべき課題があった。電気接触子の表面処理層に
半田が付着すると、数十回もしくは数百回に一度ブラシ
等で落とすことになる。しかしながら、付着物除去のた
めにはソケットコネクタを測定装置から取り外し、更に
はコネクタの接点部分がブラシ等で擦れる状態まで分解
し付着物を除去した後、元の装置に取付戻す作業が必要
になり、付着物を除去するには非常に手間が掛かり、ま
た、ブラシングを行う回数があまり頻繁だと工数アップ
になり、ひいてはコストアップに繋がるといった問題に
もなる。上述のような状態でのBGAチップの検査時に
おける、BGAチップの金属接点の表面硬度(α)とソ
ケットコネクタの電気接触子の山状突起の表面硬度
(β)と前記山状突起に付着又は転移した堆積物の硬度
(γ)との関係は、α≦γ<βになっている。付着とは
金属接点の半田(PbSn)若しくは半田の酸化物(S
nO2)が付いた状態をいい、転移とは付着した金属接
点の半田がソケットコネクタと金属間結合をした状態を
いう。このような状態では、一度付着又は転移した堆積
物はなかなか除去出来なかった。
SUMMARY OF THE INVENTION A socket connector comprises:
Since the connector is used to inspect a BGA chip, several hundreds or hundreds of thousands of BGA chips are brought into contact with the socket connector. Therefore, the following problems occurred. The problem will be described with reference to FIG. (A)
FIG. 2 is a partial cross-sectional view of a state where the BGA chip and the socket connector are in contact with each other, and FIG. 2B is a partial cross-sectional view of a state where the BGA chip is separated from the socket connector. BGA
When the metal contact of the chip and the electrical contact of the socket connector come into contact with each other several hundred times, the solder (see FIG. 8B) that forms the metal contact on the surface treatment layer such as gold plating, which is conventionally applied. There is a problem to be solved such that PbSn) easily adheres, or the adhered one oxidizes (SnO 2 ) and causes poor contact. If the solder adheres to the surface treatment layer of the electric contact, it will be dropped once every tens or hundreds of times with a brush or the like. However, in order to remove extraneous matter, it is necessary to remove the socket connector from the measuring device, disassemble it until the contact point of the connector is rubbed with a brush, etc., remove the extraneous matter, and then attach it back to the original device. In addition, it takes much time and effort to remove the deposits, and if the number of times of brushing is too frequent, the man-hour is increased, which leads to a problem that the cost is increased. At the time of the inspection of the BGA chip in the above-described state, the surface hardness (α) of the metal contact of the BGA chip, the surface hardness (β) of the mountain-like projection of the electrical contact of the socket connector, and the adhesion or adhesion to the mountain-like projection. The relationship between the transferred sediment and the hardness (γ) is α ≦ γ <β. Adhesion means soldering of metal contacts (PbSn) or oxide of solder (Sb).
nO 2 ) is attached, and the transition is a state in which the solder of the attached metal contact is bonded to the socket connector by metal. In such a state, the deposit once adhered or transferred could not be easily removed.

【0005】本発明は、このような従来の問題点に鑑み
てなされたもので、BGAチップの金属接点とソケット
コネクタとが多数回の接触(挿抜)を繰り返して、ソケ
ットコネクタの表面処理層に付着又は転移した半田及び
その酸化物を容易に除去出来るBGAチップを提供し、
且つ接触不良を容易に回復出来るソケットコネクタのク
リーニングシステムを提供せんとするものである。
The present invention has been made in view of such a conventional problem, and a metal contact of a BGA chip and a socket connector repeat contact (insertion / extraction) many times to form a surface treatment layer of the socket connector. To provide a BGA chip that can easily remove attached or transferred solder and its oxide,
Another object of the present invention is to provide a socket connector cleaning system capable of easily recovering from poor contact.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的は、金属接点1
2(電気接点)をプラスチックで製作したBGA(Ba
ll Grid Array)チップ10を使用するこ
とにより達成できる。前記金属接点12(電気接点)を
含むBGAチップ10自体をプラスチックで製作しても
よい。このようにBGAチップ10自体をプラスチック
で製作することで、BGAチップ10製作工数が削減で
きる。また、ソケットコネクタ20のクリーニングシス
テムとしての上記目的は、前記BGAチップ10の性能
の検査を行うコネクタの検査システムにあって、BGA
チップ10とソケットコネクタ20(BGA素子等に接
触するコネクタをいう)とを着脱自在に突き合わせて、
前記BGAチップ10の片面側の複数の金属接点12と
前記ソケットコネクタ20とを電気的に接続するように
したソケットコネクタ20のクリーニングシステムにお
いて、前記BGAチップ10の検査に際して、数十回若
しくは数百回に1度の割合で、プラスチックで製作した
前記BGAチップ10の接点12を用いることで達成で
きる。プラスチック材料で製作した前記BGAチップ1
0の接点12は、前記BGAチップ10の接点12
(α)と前記ソケットコネクタ20(β)との硬度をα
<βの関係になるような材料にした方がよい。このよう
な硬度関係にすることで、ソケットコネクタ20の接触
部がプラスチック材料で製作したBGAチップ10の接
点12によって削られることがない。なお、前記ソケッ
トコネクタ20の電気接触子30を基板22の導体26
上に設けると共に、当該導体26の周囲の基板22には
スリット状の切り込み部24を設けて当該導体26部分
に可撓性を持たせ、かつ、前記ソケットコネクタ20の
電気接触子30上に少なくとも1個以上の山状突起31
を設け、BGAチップ10とソケットコネクタ20とを
嵌合させた際にプラスチックで製作したBGAチップ1
0の接点12がソケットコネクタ20の山状突起31上
を摺動させるようにする。このようにソケットコネクタ
20にスリット状の切り込み部24を設け、プラスチッ
クで製作したBGAチップ10の接点12がソケットコ
ネクタ20の山状突起31上を摺動することで、より確
実に堆積物50をかき落とすことができる。
SUMMARY OF THE INVENTION The object of the present invention is to provide a metal contact 1.
2 (electric contact) made of plastic BGA (Ba
This can be achieved by using an (II Grid Array) chip 10. The BGA chip 10 itself including the metal contacts 12 (electric contacts) may be made of plastic. By manufacturing the BGA chip 10 itself with plastic as described above, the number of manufacturing steps of the BGA chip 10 can be reduced. Further, the above-mentioned object as a cleaning system for the socket connector 20 is to provide a connector inspection system for inspecting the performance of the BGA chip 10.
The chip 10 and the socket connector 20 (referred to as a connector that contacts a BGA element or the like) are detachably butted,
In the cleaning system of the socket connector 20 in which the plurality of metal contacts 12 on one side of the BGA chip 10 and the socket connector 20 are electrically connected, the inspection of the BGA chip 10 may be performed several tens or hundreds of times. This can be achieved by using the contacts 12 of the BGA chip 10 made of plastic at a time. The BGA chip 1 made of a plastic material
0 contact 12 is the contact 12 of the BGA chip 10.
(Α) and the hardness of the socket connector 20 (β)
It is better to use a material that satisfies <β. With such a hardness relationship, the contact portion of the socket connector 20 is not scraped by the contact 12 of the BGA chip 10 made of a plastic material. The electric contact 30 of the socket connector 20 is connected to the conductor 26 of the substrate 22.
In addition to the above, the substrate 22 around the conductor 26 is provided with a slit-shaped cutout 24 so that the conductor 26 has flexibility, and at least the electric contact 30 of the socket connector 20 One or more ridges 31
BGA chip 1 made of plastic when BGA chip 10 and socket connector 20 are fitted together
The zero contact 12 slides on the ridge 31 of the socket connector 20. In this way, the slits 24 are provided in the socket connector 20, and the contacts 12 of the BGA chip 10 made of plastic slide on the mountain-shaped projections 31 of the socket connector 20, so that the deposit 50 can be more reliably removed. Can be scraped off.

【0007】[0007]

【作用】ソケットコネクタ20の電気接触子30上に少
なくとも1個以上の山状突起31を設け、かつ、クリー
ニング時のBGAチップ10の金属接点12を、前記B
GAチップ10の金属接点12(α)と前記ソケットコ
ネクタ20の電気接触子30の山状突起31の先端
(β)との硬度をα<βにし、BGAチップ10とソケ
ットコネクタ20との接触時に、BGAチップ10の金
属接点12はソケットコネクタ20の電気接触子30上
を摺動させることで、接触時に付着した堆積物50(半
田等)は前方に排除される(かき落とされるように排除
される)。BGAチップ10とソケットコネクタ20と
が嵌合した際に、BGAチップ10の接点12がソケッ
トコネクタ20の電気接触子30上を摺動する理由につ
いて説明する。上述のように摺動するのは、金属導体部
38の背面側にシリコンゴム等の弾性材料39が配置さ
れると共にソケットコネクタ20の導体26の周囲の基
板22にはスリット状の切り込み部24を設け、BGA
チップ10の金属接点12にソケットコネクタ20の電
気接触子30を押しつける接触力によって、ソケットコ
ネクタ20の電気接触子30は下方に変位し、接触位置
が変位し摺動する。この摺動について、図5に基づいて
動きを説明する。BGAチップ10の接点12は一定の
力でソケットコネクタ20の電気接触子30に押し付け
られ、BGAチップ10とソケットコネクタ20とが接
触する位置がX点(図2の状態)である。その後、一定
の力で押しつけられ続けると、上述のようにソケットコ
ネクタ20には、弾性材料層39やスリット状の切り込
み部24が設けられているために、O点を支点にしてソ
ケットコネクタ20の電気接触子30は図5の下方向へ
変位すると、ソケットコネクタ20の電気接触子30は
X点からX’点に押し下げられる。しかし、BGAチッ
プ10はソケット構造でガイドされている為、前後左右
には大きく動けず、BGAチップ10の接点12は下方
向に垂直に押し付けられるだけの動きになる。従って、
ソケットコネクタ20の電気接触子30が変位した状態
ではY点(図4の状態)で接触することになる。即ち、
BGAチップ10の接点12は、ソケットコネクタ20
の電気接触子30上をX’点からY点に一定の力で押し
つけられながら移動したことになる。この移動が摺動で
あり、移動方向が摺動方向ということになる。
At least one mountain-like projection 31 is provided on the electrical contact 30 of the socket connector 20 and the metal contact 12 of the BGA chip 10 at the time of cleaning is connected to the B contact.
The hardness between the metal contact 12 (α) of the GA chip 10 and the tip (β) of the mountain-shaped projection 31 of the electric contact 30 of the socket connector 20 is set to α <β, and the hardness of the contact between the BGA chip 10 and the socket connector 20 is increased. By sliding the metal contact 12 of the BGA chip 10 on the electric contact 30 of the socket connector 20, the deposit 50 (solder or the like) attached at the time of the contact is removed forward (eliminated so as to be scraped off). ). The reason why the contact 12 of the BGA chip 10 slides on the electric contact 30 of the socket connector 20 when the BGA chip 10 and the socket connector 20 are fitted will be described. As described above, the elastic material 39 such as silicon rubber is disposed on the back side of the metal conductor 38 and the slit-shaped cutout 24 is formed in the substrate 22 around the conductor 26 of the socket connector 20. Provided, BGA
The contact force that presses the electrical contact 30 of the socket connector 20 against the metal contact 12 of the chip 10 displaces the electrical contact 30 of the socket connector 20 downward, and the contact position is displaced and slid. The movement of this sliding will be described with reference to FIG. The contact 12 of the BGA chip 10 is pressed against the electrical contact 30 of the socket connector 20 with a certain force, and the position where the BGA chip 10 and the socket connector 20 come into contact is point X (the state of FIG. 2). Thereafter, when the socket connector 20 is continuously pressed with a certain force, the elastic material layer 39 and the slit-shaped cut portion 24 are provided in the socket connector 20 as described above. When the electric contact 30 is displaced downward in FIG. 5, the electric contact 30 of the socket connector 20 is pushed down from the point X to the point X ′. However, since the BGA chip 10 is guided by the socket structure, the BGA chip 10 does not move greatly in the front, rear, left and right directions, and the contact 12 of the BGA chip 10 is moved only to be pressed vertically downward. Therefore,
When the electric contact 30 of the socket connector 20 is displaced, the contact is made at the point Y (the state in FIG. 4). That is,
The contact 12 of the BGA chip 10 is
Is moved from the point X ′ to the point Y with a constant force. This movement is sliding, and the moving direction is the sliding direction.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】図に基づいて、本発明のBGAチ
ップとそのBGAチップを使用したソケットコネクタの
クリーニングシステムについて説明する。図1は一実施
例のソケットコネクタの部分拡大平面図であり、図2は
本発明に係るコネクタの部分拡大縦断側面図である。図
3は本発明に係る電気コネクタの部分拡大横断面図であ
る。図4はBGAチップがソケットコネクタの電気接触
子上を摺動した状態の本発明に係るコネクタの部分拡大
縦断側面図であり、図5はBGAチップがソケットコネ
クタの電気接触子上を摺動した状態の説明図である。図
6(A)はBGAチップにプラスチックで製作した接点
を取付けた断面側面図であり、(B)はBGAチップ全
体をプラスチックで製作した状態の断面側面図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Referring to the drawings, a BGA chip of the present invention and a system for cleaning a socket connector using the BGA chip will be described. FIG. 1 is a partially enlarged plan view of a socket connector according to an embodiment, and FIG. 2 is a partially enlarged longitudinal sectional side view of a connector according to the present invention. FIG. 3 is a partially enlarged cross-sectional view of the electrical connector according to the present invention. FIG. 4 is a partially enlarged longitudinal sectional side view of the connector according to the present invention in a state where the BGA chip slides on the electrical contact of the socket connector. FIG. 5 shows the BGA chip sliding on the electrical contact of the socket connector. It is explanatory drawing of a state. FIG. 6A is a cross-sectional side view in which a contact made of plastic is attached to a BGA chip, and FIG. 6B is a cross-sectional side view of a state in which the entire BGA chip is made of plastic.

【0009】まず、本発明のポイントであるBGAチッ
プ10について説明する。図2から図4は、本発明に係
るBGAチップ10の一つの実施の形態を示したもの
で、図中、10は金属やプラスチック材料からなるBG
Aチップ、12はBGAチップ10の片面側に設けられ
たプラスチック材料で製作した球状突起からなる複数の
接点である。プラスチックで製作された接点12は、図
6(A)のように圧入や接着等によって固定されてい
る。本実施例では、接点部分のみを図示したが、図6
(B)のようにBGAチップ10自体を全てプラスチッ
ク材料で製作した方がよい。このようにBGAチップ1
0を一体でプラスチック材料で製作することによって、
金属接点12部分を固定するなどの工数の削減や金属接
点12部分の位置精度を得やすくなる。上述したプラス
チック材料としては、相手コネクタであるソケットコネ
クタ20の接触部分の硬度や寸法安定性や加工性やコス
ト等を考慮して適宜選択するが、一般的にはポリブチレ
ンテレフタレート(PBT)やポリアミド(66PA、
46PA)や液晶ポリマー(LCP)やポリカーボネー
ト(PC)やこれらの合成材料を挙げることができる。
このように接点12をプラスチック材料で製作したBG
Aチップ10は、ソケットコネクタ20の電気接触子3
0部分をクリーニングするためのものである。
First, the BGA chip 10, which is the point of the present invention, will be described. 2 to 4 show one embodiment of the BGA chip 10 according to the present invention, in which 10 is a BG made of metal or plastic material.
A chip and 12 are a plurality of contacts formed on a single side of the BGA chip 10 and formed of spherical protrusions made of a plastic material. The contact 12 made of plastic is fixed by press-fitting or bonding as shown in FIG. In this embodiment, only the contact portion is shown.
It is preferable that the BGA chip 10 itself is entirely made of a plastic material as shown in FIG. Thus, the BGA chip 1
By making 0 integrally with plastic material,
It is easy to reduce the number of steps such as fixing the metal contact 12 and to obtain the positional accuracy of the metal contact 12. The above-mentioned plastic material is appropriately selected in consideration of hardness, dimensional stability, workability, cost, and the like of the contact portion of the socket connector 20, which is a mating connector. Generally, polybutylene terephthalate (PBT) or polyamide is used. (66PA,
46PA), liquid crystal polymer (LCP), polycarbonate (PC), and synthetic materials thereof.
BG in which the contact 12 is made of a plastic material in this way
The A chip 10 is provided with the electric contact 3 of the socket connector 20
This is for cleaning the zero part.

【0010】次に、上述したBGAチップ10と、この
BGAチップ10と嵌合するソケットコネクタ20とを
使用したコネクタ1について説明する。このコネクタ1
は、BGAチップ10とソケットコネクタ20とから構
成される。このコネクタ1において、図示しないが、B
GAチップ10とソケットコネクタ20とは、従来と同
様ソケット構造などのような機構を持っていて、着脱自
在に装着できるようになっている。ソケットコネクタに
ついて説明すると、20は適度の剛性を有する軟質樹脂
などの基板22からなるソケットコネクタ、26は基板
22の片面側に設けられた円盤状の金属層からなる導
体、28は基板22の導体形成側に施した絶縁材料など
からなる保護被覆層、30は導体26上に施された電気
接触子、31は電気接触子30に設けられた山状突起で
ある。前記電気接触子30は、BGAチップ10の複数
の金属接点12と電気的に接続できるように設けられた
ものであり、ソケットコネクタ20の基板22(FPC
等)の導体26上に設けられ、当該導体26の周囲の基
板22には図1のようにスリット状の切り込み部24を
設けて当該導体26部分に可撓性を持たせる構造にし、
この構造によってBGAチップ10の金属接点12の高
さのバラツキを吸収できるようにしている。
Next, a connector 1 using the above-described BGA chip 10 and a socket connector 20 fitted with the BGA chip 10 will be described. This connector 1
Is composed of a BGA chip 10 and a socket connector 20. In this connector 1, although not shown, B
The GA chip 10 and the socket connector 20 have a mechanism such as a socket structure as in the prior art, and can be detachably mounted. The socket connector will be described. Reference numeral 20 denotes a socket connector formed of a substrate 22 made of a soft resin having appropriate rigidity, reference numeral 26 denotes a conductor formed of a disk-shaped metal layer provided on one side of the substrate 22, and reference numeral 28 denotes a conductor of the substrate 22. A protective coating layer made of an insulating material or the like provided on the formation side, 30 is an electric contact provided on the conductor 26, and 31 is a mountain-like projection provided on the electric contact 30. The electric contact 30 is provided so as to be able to be electrically connected to the plurality of metal contacts 12 of the BGA chip 10, and is provided on the substrate 22 (FPC) of the socket connector 20.
1, etc.), and the substrate 22 around the conductor 26 is provided with a slit-shaped cutout 24 as shown in FIG. 1 so that the conductor 26 has flexibility.
With this structure, variations in the height of the metal contacts 12 of the BGA chip 10 can be absorbed.

【0011】ソケットコネクタ20では、基板22の片
面側に例えば予め施してある銅箔などの金属層部分を、
例えば基板製造技術の一つであるプリント配線パターン
成形法によって処理して、図2に示すように、所望の導
体26を設けてある。前記導体26のBGAチップ10
との接触部分には、導電性の良い材料で電気接触子30
が設けられている。この電気接触子30は、前記導体2
6にめっきなどによって設けられている。導体26の材
料としては、導電性の良い材料であれば如何なるもので
もよく、黄銅やベリリウム銅やリン青銅などが挙げられ
る。電気接触子30はBGAチップの電気接点12と接
触する部分であり、前記導体26上に施されるめっきと
してはまず銅めっきをし、次にニッケルめっき層35を
し、最後に金めっき層33をしている。
In the socket connector 20, for example, a metal layer portion such as a copper foil applied in advance on one side of the
For example, a desired conductor 26 is provided as shown in FIG. 2 by processing by a printed wiring pattern forming method which is one of the substrate manufacturing techniques. The BGA chip 10 of the conductor 26
The electric contact 30 is made of a material having good conductivity
Is provided. The electric contact 30 is connected to the conductor 2
6 is provided by plating or the like. As the material of the conductor 26, any material may be used as long as it has good conductivity, and examples thereof include brass, beryllium copper, and phosphor bronze. The electrical contact 30 is a portion that contacts the electrical contact 12 of the BGA chip. The plating applied to the conductor 26 is first copper plating, then nickel plating layer 35, and finally gold plating layer 33. You are.

【0012】BGAチップとテスト時に、前記BGAチ
ップ10の金属接点12との接触の際に、前記金属接点
12の酸化膜を突き破れるように、ソケットコネクタ2
0の前記電気接触子30上に少なくとも1個以上の山状
突起31を設け、その先端部はある程度鋭くとがった方
がよい。即ち、この山状突起31は、金属接点12の酸
化膜を突き破るためのものである。上述した作用と役割
を考えると、前記BGAチップ10の金属接点12の摺
動方向とソケットコネクタ20の山状突起31を平行に
配列したほうがよい。このように配列させることで、確
実に接触時に金属接点12の酸化膜を突き破ることがで
きる。また、電気接触子30上に山状突起31を設ける
ことで、BGAチップ10とソケットコネクタ20との
嵌合の際に、金属接点12の酸化膜を突き破るだけでな
く、確実に堆積物50をクリーニングしたところに次の
BGAチップ10の金属接点12が接触できるようにな
る。ソケットコネクタ20の電気接触子30の山状突起
31のクリーニング時には、上述した金属接点12をプ
ラスチック材料で製作したBGAチップ10を用いて、
上述のソケットコネクタ20に接触させ、摺動させるこ
とで、ソケットコネクタ20の電気接触子30に付着又
は転移した堆積物50を除去することができる。
At the time of contact with the BGA chip and the metal contact 12 of the BGA chip 10 at the time of the test, the socket connector 2 is pierced so as to break through the oxide film of the metal contact 12.
It is preferable that at least one or more mountain-shaped projections 31 are provided on the zero electrical contact 30 and the tip end is sharpened to some extent. That is, the mountain-shaped protrusion 31 is for breaking through the oxide film of the metal contact 12. In consideration of the above-described operation and role, it is preferable that the sliding direction of the metal contact 12 of the BGA chip 10 and the mountain-shaped projection 31 of the socket connector 20 be arranged in parallel. By arranging in this manner, it is possible to reliably break through the oxide film of the metal contact 12 at the time of contact. In addition, by providing the mountain-shaped protrusion 31 on the electric contact 30, when the BGA chip 10 and the socket connector 20 are fitted, not only the oxide film of the metal contact 12 is pierced, but also the deposit 50 is surely removed. The metal contact 12 of the next BGA chip 10 can be brought into contact with the cleaned portion. At the time of cleaning the projections 31 of the electric contacts 30 of the socket connector 20, the BGA chip 10 in which the above-described metal contacts 12 are made of a plastic material is used.
The deposit 50 adhered or transferred to the electric contact 30 of the socket connector 20 can be removed by making the socket connector 20 contact and slide.

【0013】最後に、上述したプラスチックで製作した
接点12を使用したBGAチップ10を用いたソケット
コネクタ20のクリーニングシステムについて説明す
る。プラスチックで製作した接点12を使用したBGA
チップ10と製品としてのBGAチップ10を検査する
ソケットコネクタ20とは、上述のような構造である。
製品としてのBGAチップ10は、従来の技術で記述し
たように剛性のあるセラミックスやシリコンベースと再
配線層である軟質樹脂基板などからなり、この軟質樹脂
基板の片側面には半田(PbSn)などの球状突起から
なる複数の金属接点12が設けられ、この金属接点12
は半田ボールを軟質樹脂基板のランドにのせて、リフロ
ーによって形成している。前記BGAチップ10の性能
の検査を行うコネクタ1の検査システムにあって、前記
コネクタ1のクリーニングシステムでは、製品としての
前記BGAチップ10の検査に際して、数百回若しくは
数千回に1度の割合で、金属接点をプラスチック材料で
製作した前記BGAチップ10を用いることによって、
ソケットコネクタ20の電気接触子30の表面に付着又
は転移した堆積物50を取り除くことができる。つま
り、検査工程にクリーニング可能なBGAチップ10を
使用し、ソケットコネクタ20のクリーニングを検査工
程に組込んだシステムにできる。クリーニング時の本発
明のプラスチックで製作した前記BGAチップ10の接
点(α)と前記ソケットコネクタ20の電気接触子30
の山状突起31の先端(β)との硬度関係は、α<βに
する。このような硬度関係にすることで、間違ってもソ
ケットコネクタ20の電気接触子30の山状突起31の
先端を削ることがない。
Finally, a description will be given of a system for cleaning the socket connector 20 using the BGA chip 10 using the contacts 12 made of the plastic described above. BGA using contacts 12 made of plastic
The chip 10 and the socket connector 20 for inspecting the BGA chip 10 as a product have the above-described structure.
The BGA chip 10 as a product is made of rigid ceramics or a silicon base and a soft resin substrate as a rewiring layer as described in the related art, and a solder (PbSn) or the like is provided on one side of the soft resin substrate. And a plurality of metal contacts 12 comprising spherical projections.
Are formed by reflowing a solder ball on a land of a soft resin substrate. In the inspection system of the connector 1 for inspecting the performance of the BGA chip 10, the cleaning system of the connector 1, when inspecting the BGA chip 10 as a product, at a rate of once every hundreds or thousands of times. By using the BGA chip 10 in which metal contacts are made of a plastic material,
The deposit 50 adhered or transferred to the surface of the electrical contact 30 of the socket connector 20 can be removed. That is, a system can be provided in which the cleaning of the socket connector 20 is incorporated in the inspection process using the BGA chip 10 that can be cleaned in the inspection process. The contact (α) of the BGA chip 10 made of the plastic of the present invention and the electric contact 30 of the socket connector 20 at the time of cleaning
The hardness relationship with the tip (β) of the mountain-like projection 31 is set to α <β. By adopting such a hardness relationship, the tip of the mountain-shaped protrusion 31 of the electrical contact 30 of the socket connector 20 is not cut off even if it is mistaken.

【0014】[0014]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
のBGAチップやソケットコネクタのクリーニングシス
テムによると、次のような優れた効果が得られる。 (1)クリーニング時に、金属接点12をプラスチック
材料で製作したBGAチップ10を使用することで、容
易にソケットコネクタ20の接触部分に付着又は転移し
た堆積物50を除去することができる。 (2)クリーニング時のプラスチックで製作した前記B
GAチップ10の接点12(α)とソケットコネクタ2
0の接触部分(β)との硬度をα<βにすることによ
り、間違ってもソケットコネクタ20の接触部分を傷つ
けたり、削ったりすることがない。 (3)クリーニング時に、プラスチックで製作したBG
Aチップ10の接点12を摺動させると、より確実にソ
ケットコネクタ20の接触部分に付着又は転移した堆積
物50を除去することができる。 (4)電気接触子30上に山状突起31を設けること
で、BGAチップ10とソケットコネクタ20との嵌合
の際に、金属接点12の酸化膜を突き破るだけでなく、
確実に堆積物50をクリーニングしたところに次のBG
Aチップ10の金属接点12が接触できるようになる。 (5)クリーニング時のBGAチップ10の金属接点1
2をプラスチック材料にしているので、容易に、前記B
GAチップ10の金属接点12(α)とソケットコネク
タ20の接触部分(β)との硬度をα<βにすることが
できる。 (6)製品の前記BGAチップ10の検査に際して、数
十回若しくは数百回に1度の割合で、金属接点12をプ
ラスチック材料で製作した前記BGAチップ10を用い
ることによって、ソケットコネクタ20の電気接触子3
0の表面に付着又は転移した堆積物50を取り除くこと
ができ、取り外してクリーニングすることがなく、検査
工程の中で容易にクリーニングすることができる。
As is apparent from the above description, the following excellent effects can be obtained by the cleaning system for a BGA chip or socket connector of the present invention. (1) At the time of cleaning, by using the BGA chip 10 in which the metal contact 12 is made of a plastic material, the deposit 50 adhered or transferred to the contact portion of the socket connector 20 can be easily removed. (2) B made of plastic at the time of cleaning
Contact 12 (α) of GA chip 10 and socket connector 2
By setting the hardness of the contact portion (β) of 0 to α <β, the contact portion of the socket connector 20 is not damaged or scraped even if it is wrong. (3) BG made of plastic during cleaning
When the contact 12 of the A chip 10 is slid, the deposit 50 adhered or transferred to the contact portion of the socket connector 20 can be more reliably removed. (4) By providing the mountain-shaped protrusion 31 on the electric contact 30, when the BGA chip 10 and the socket connector 20 are fitted, not only the oxide film of the metal contact 12 is broken but also
After the deposit 50 is surely cleaned, the next BG
The metal contact 12 of the A chip 10 can be contacted. (5) Metal contact 1 of BGA chip 10 during cleaning
2 is made of a plastic material.
The hardness of the metal contact 12 (α) of the GA chip 10 and the contact portion (β) of the socket connector 20 can be set to α <β. (6) When inspecting the BGA chip 10 of a product, the BGA chip 10 in which the metal contacts 12 are made of a plastic material is used at a rate of once every tens or hundreds of times, so that the electrical connection of the socket connector 20 is improved. Contact 3
The deposit 50 adhered or transferred to the surface of No. 0 can be removed, and can be easily cleaned in the inspection process without being removed and cleaned.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】一実施例のソケットコネクタの部分拡大平面図
である。
FIG. 1 is a partially enlarged plan view of a socket connector according to an embodiment.

【図2】本発明に係るコネクタの部分拡大縦断側面図で
ある。
FIG. 2 is a partially enlarged longitudinal sectional side view of the connector according to the present invention.

【図3】本発明に係るコネクタの部分拡大横断面図であ
る。
FIG. 3 is a partial enlarged cross-sectional view of the connector according to the present invention.

【図4】BGAチップがソケットコネクタの電気接触子
上を摺動した状態の本発明に係るコネクタの部分拡大縦
断側面図である。
FIG. 4 is a partially enlarged longitudinal sectional side view of the connector according to the present invention in a state where the BGA chip slides on the electric contact of the socket connector.

【図5】BGAチップがソケットコネクタの電気接触子
上を摺動した状態の説明図である。
FIG. 5 is an explanatory view showing a state in which the BGA chip slides on the electric contacts of the socket connector.

【図6】(A)BGAチップにプラスチックで製作した
接点を取付けた断面側面図である。 (B)BGAチップ全体をプラスチックで製作した状態
の断面側面図である。
FIG. 6A is a cross-sectional side view in which a contact made of plastic is attached to a BGA chip. (B) It is a sectional side view in the state where the whole BGA chip was manufactured with plastic.

【図7】プロービングピンなどを用いたソケットコネク
タとBGAチップの部分拡大縦断側面図である。
FIG. 7 is a partially enlarged longitudinal sectional side view of a socket connector using probing pins and the like and a BGA chip.

【図8】(A)BGAチップとソケットコネクタとが接
触した状態の部分断面図である。 (B)BGAチップがソケットコネクタから離れた状態
の部分的な断面図である。
FIG. 8A is a partial cross-sectional view showing a state in which a BGA chip and a socket connector are in contact with each other. FIG. 3B is a partial cross-sectional view illustrating a state where the BGA chip is separated from the socket connector.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 コネクタ 10 BGAチップ 12 金属接点 20、201 ソケットコネクタ 22 基板 24 スリット状の切り込み部 26 導体 28 保護被覆層 30、42 電気接触子 31 山状突起 32 開口 33 金めっき層 34 リード線 35 ニッケルめっき層 36 舌状の可動小片部分 38 金属導体部 39 弾性材料層 40 スルホール 44 鍔部 46 接触子用筒体 48 弾性体 50 堆積物 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Connector 10 BGA chip 12 Metal contact 20 and 201 Socket connector 22 Substrate 24 Slit cutout 26 Conductor 28 Protective coating layer 30 and 42 Electrical contact 31 Mountain protrusion 32 Opening 33 Gold plating layer 34 Lead wire 35 Nickel plating layer 36 Tongue-shaped movable small piece part 38 Metal conductor part 39 Elastic material layer 40 Through hole 44 Flange part 46 Contact cylinder 48 Elastic body 50 Deposit

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 金属接点(電気接点)をプラスチックで
製作したことを特徴とするBGA(Ball Grid
Array)チップ。
1. A BGA (Ball Grid) wherein a metal contact (electric contact) is made of plastic.
Array) chips.
【請求項2】 金属接点(電気接点)を含むBGAチッ
プ自体をプラスチックで製作したことを特徴とする請求
項1記載のBGAチップ。
2. The BGA chip according to claim 1, wherein the BGA chip including metal contacts (electric contacts) is made of plastic.
【請求項3】前記BGAチップの性能の検査を行うコネ
クタの検査システムにあって、BGAチップとソケット
コネクタ(BGA素子等に接触するコネクタをいう)と
を着脱自在に突き合わせて、前記BGAチップの片面側
の複数の金属接点と前記ソケットコネクタとを電気的に
接続するようにしたソケットコネクタのクリーニングシ
ステムにおいて、 前記BGAチップの検査に際して、数十回若しくは数百
回に1度の割合で、プラスチックで製作した前記BGA
チップの接点を用いたことを特徴とするソケットコネク
タのクリーニングシステム。
3. A connector inspection system for inspecting the performance of the BGA chip, wherein the BGA chip and a socket connector (referred to as a connector that contacts a BGA element or the like) are detachably butted to each other to check the performance of the BGA chip. In a cleaning system for a socket connector in which a plurality of metal contacts on one side are electrically connected to the socket connector, the inspection of the BGA chip may be performed at a rate of once every tens or hundreds of times. The BGA manufactured by
A socket connector cleaning system using a contact point of a chip.
【請求項4】 プラスチック材料で製作した前記BGA
チップの接点を、前記BGAチップの接点(α)と前記
ソケットコネクタ(β)との硬度をα<βの関係になる
ような材料にしたことを特徴とする請求項3記載のソケ
ットコネクタのクリーニングシステム。
4. The BGA made of a plastic material
4. The cleaning method for a socket connector according to claim 3, wherein the contact of the chip is made of a material such that the hardness between the contact (α) of the BGA chip and the socket connector (β) has a relation of α <β. system.
【請求項5】 前記ソケットコネクタの電気接触子を基
板の導体上に設けると共に、当該導体の周囲の基板には
スリット状の切り込み部を設けて当該導体部分に可撓性
を持たせ、かつ、前記ソケットコネクタの電気接触子上
に少なくとも1個以上の山状突起を設け、BGAチップ
とソケットコネクタとを嵌合させた際にプラスチックで
製作したBGAチップの接点がソケットコネクタの山状
突起上を摺動することを特徴とする請求項3記載のソケ
ットコネクタのクリーニングシステム。
5. An electric contact of the socket connector is provided on a conductor of a substrate, and a slit-shaped cut portion is provided in a substrate around the conductor to make the conductor portion flexible. At least one or more mountain-shaped protrusions are provided on the electrical contacts of the socket connector, and when the BGA chip and the socket connector are fitted, the contacts of the BGA chip made of plastic are placed on the mountain-shaped protrusions of the socket connector. The cleaning system for a socket connector according to claim 3, wherein the socket connector slides.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103811900A (en) * 2014-02-26 2014-05-21 陆腾蛟 Electric spark eliminating socket and anodizing production process
KR20210106749A (en) * 2020-02-21 2021-08-31 신종천 Socket assembly for data signal transmission connector, data signal transmission connector and manufacturing method for the socket assembly
KR20210106860A (en) * 2020-02-21 2021-08-31 신종천 Data signal transmission connector and manufacturing method for socket assembly of data signal transmission connector

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103811900A (en) * 2014-02-26 2014-05-21 陆腾蛟 Electric spark eliminating socket and anodizing production process
CN103811900B (en) * 2014-02-26 2016-03-23 陆腾蛟 A kind of socket and anodization production technology eliminating electric spark
KR20210106749A (en) * 2020-02-21 2021-08-31 신종천 Socket assembly for data signal transmission connector, data signal transmission connector and manufacturing method for the socket assembly
KR20210106860A (en) * 2020-02-21 2021-08-31 신종천 Data signal transmission connector and manufacturing method for socket assembly of data signal transmission connector
KR102341975B1 (en) * 2020-02-21 2021-12-21 신종천 Socket assembly for data signal transmission connector
KR102349967B1 (en) * 2020-02-21 2022-01-12 신종천 Data signal transmission connector and manufacturing method for socket assembly of data signal transmission connector

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