JP2002075150A - Protective element - Google Patents

Protective element

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JP2002075150A
JP2002075150A JP2000251911A JP2000251911A JP2002075150A JP 2002075150 A JP2002075150 A JP 2002075150A JP 2000251911 A JP2000251911 A JP 2000251911A JP 2000251911 A JP2000251911 A JP 2000251911A JP 2002075150 A JP2002075150 A JP 2002075150A
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JP
Japan
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movable contact
protection element
conductor
memory alloy
shape memory
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Withdrawn
Application number
JP2000251911A
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Japanese (ja)
Inventor
Tokihiro Yoshikawa
時弘 吉川
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NEC Schott Components Corp
Original Assignee
NEC Schott Components Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a small, flat and low-profile protective element which uses shape-memory alloy and reduces the number of components. SOLUTION: Lead wires 4 and 5 are connected to a pair of conductors 2 and 3 formed at positions separated from each other on an insulated substrate 1. One end of a movable contact 6, composed of the plate-shaped shape memory alloy, is connected for fixation to one conductor 2, the other end thereof comes into pressed-contact with the other conductor 3, and an insulating cap 7, which covers the movable contact 6 from above, is fixed and sealed with a sealing resin 8.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、保護素子に関し、
より詳細には、特定温度で記憶形状に復帰する形状記憶
合金からなる可動接点を有する保護素子に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a protection element,
More specifically, the present invention relates to a protection element having a movable contact made of a shape memory alloy that returns to a memory shape at a specific temperature.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子機器等を過熱損傷から保護する保護
素子として、特定温度で動作して回路を遮断する温度ヒ
ューズが用いられている。この種の温度ヒューズには、
感温材として特定温度で溶融する絶縁性の化学物質から
なる感温ペレットを用いて、感温ペレットの溶融時に圧
縮ばねの伸長により可動接点を固定接点から開離する感
温ペレットタイプのもの(a)と、感温材として特定温
度で溶融する低融点合金を用いて、この低融点合金に通
電し、周囲温度の過昇により低融点合金が溶融して回路
を遮断する低融点合金タイプ(b)とがある。また、低
融点合金と抵抗体とを具備し、抵抗体の通電加熱により
低融点合金を強制的に溶断させる抵抗付きヒューズと称
される保護素子(c)もある。また、過電流で溶断する
電流ヒユーズ(d)もある。さらに、周囲温度の過昇に
対しては温度ヒューズとして機能するとともに、過電流
に対しては電流ヒューズとして機能する温度ヒューズ兼
電流ヒューズと称される保護素子(e)もある。
2. Description of the Related Art As a protection element for protecting electronic equipment from overheat damage, a thermal fuse which operates at a specific temperature and cuts off a circuit is used. For this type of thermal fuse,
A temperature-sensitive pellet type in which a movable contact is separated from a fixed contact by the expansion of a compression spring when the temperature-sensitive pellet is melted by using a temperature-sensitive pellet made of an insulating chemical substance that melts at a specific temperature as a temperature-sensitive material (a ) And a low-melting alloy that melts at a specific temperature as a temperature-sensitive material, and a current is applied to the low-melting alloy. ). There is also a protection element (c) called a fuse with resistance, which includes a low melting point alloy and a resistor, and forcibly blows the low melting point alloy by energizing and heating the resistor. There is also a current fuse (d) that blows due to overcurrent. Further, there is a protection element (e) called a temperature fuse and a current fuse that functions as a temperature fuse for an excessive rise in ambient temperature and functions as a current fuse for an overcurrent.

【0003】しかしながら、これらのものは、いずれも
感温ペレットや低融点合金等の感温材料が温度の過昇を
検知して一旦動作すると、元の状態に復帰しない非復帰
型のものであるため、安全であるという利点を有する反
面、繰り返し使用ができないので利便性が劣るという問
題点があった。
[0003] However, all of these are non-returnable types which do not return to the original state once a temperature-sensitive material such as a temperature-sensitive pellet or a low melting point alloy operates once upon detecting an excessive rise in temperature. Therefore, although it has the advantage of being safe, there is a problem that the convenience is inferior because it cannot be used repeatedly.

【0004】そこで、形状記憶合金を用いて、周囲温度
が過昇して形状記憶合金が記憶形状に復帰して可動接点
が一旦動作しても、周囲温度の低下によって形状記憶合
金が再び当初の形状に変形することによって、可動接点
が当初の状態に復帰して繰り返し使用可能な保護素子も
提案されている。
Therefore, even if the ambient temperature rises excessively and the shape memory alloy returns to the memory shape and the movable contact operates once by using the shape memory alloy, the shape memory alloy returns to the initial state due to the decrease in the ambient temperature. A protective element which can be repeatedly used by returning a movable contact to an initial state by being deformed into a shape has also been proposed.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
この種保護素子は、いずれも部品点数が多く高価である
のみならず、大型で大きな設置スペースが必要であった
り、円筒形のケースを用いているため設置部材との熱的
接触状態が十分でなく、温度過昇状態の検出感度が悪い
という問題点があった。
However, this type of conventional protection element is not only expensive because of the large number of components, but also requires a large and large installation space, or requires the use of a cylindrical case. Therefore, there has been a problem that the thermal contact state with the installation member is not sufficient, and the detection sensitivity of the excessive temperature rise state is poor.

【0006】そこで、本発明は、形状記憶合金からなる
可動接点を有し、部品点数が少なく小型で、かつ偏平状
で低背化され、しかも温度過昇状態の検出感度が優れた
保護素子を提供することを目的とする。
Accordingly, the present invention provides a protection element having a movable contact made of a shape memory alloy, having a small number of parts, a small size, a flat shape, a low profile, and excellent detection sensitivity in an overtemperature state. The purpose is to provide.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、板状の形状記
憶合金からなる可動接点を有し、その一端部を一方の導
体に接続固定するとともに、他端部を他方の導体に押圧
接触させて、全体を偏平状に構成したものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has a movable contact made of a plate-shaped shape memory alloy, one end of which is connected and fixed to one conductor, and the other end of which is pressed into contact with the other conductor. Thus, the entire structure is flat.

【0008】以下、本発明の各種構成と、作用効果につ
いて説明する。本発明の請求項1に記載の発明は、一対
の導体と、前記一方の導体に一端部が接続固定され前記
他方の導体に他端部が押圧接触させられた板状の形状記
憶合金からなる可動接点とを有し、前記可動接点がキャ
ップによって封止されていることを特徴とする保護素子
である。このように、板状の形状記憶合金からなる可動
接点を用いることにより、部品点数が少なくかつ偏平状
で低背化されており、その底面部が平坦面であることに
よって、熱的感応性に優れている保護素子が得られる。
[0008] Various configurations and effects of the present invention will be described below. The invention according to claim 1 of the present invention comprises a pair of conductors and a plate-shaped shape memory alloy in which one end is connected and fixed to the one conductor and the other end is pressed against the other conductor. And a movable contact, wherein the movable contact is sealed by a cap. As described above, the use of the movable contact made of a plate-shaped shape memory alloy reduces the number of parts, and is flat and low-profile. An excellent protection element is obtained.

【0009】本発明の請求項2に記載の発明は、絶縁基
板に離隔して形成した一対の導体と、前記一方の導体に
一端部が接続固定され前記他方の導体に他端部が押圧接
触させられた板状の形状記憶合金からなる可動接点と、
前記絶縁基板に固着封止されているキャップとを有する
ことを特徴とする保護素子である。このように、絶縁基
板と面平行状態に板状の形状記憶合金からなる可動接点
を用いた保護素子は、部品点数が少なく小型かつ偏平状
で低背化されており、その底面部が平坦面であることに
よって、熱的感応性に優れている。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a pair of conductors formed separately on an insulating substrate, and one end is connected and fixed to the one conductor, and the other end is pressed into contact with the other conductor. A movable contact made of a plate-shaped shape memory alloy,
A cap fixedly sealed to the insulating substrate. As described above, the protection element using the movable contact made of a plate-shaped shape memory alloy in a plane parallel to the insulating substrate has a small number of parts, is small, flat, and has a low profile, and has a flat bottom surface. As a result, the thermal sensitivity is excellent.

【0010】本発明の請求項3に記載の発明は、前記可
動接点の他端部にバイアス用の板ばねを取り付けて、周
囲温度が形状記憶合金の記憶形状への復帰温度よりも降
下することによって前記可動接点の他端部が再度他方の
導体に押圧接触するように付勢したことを特徴とする請
求項1または2のいずれかに記載の保護素子である。こ
のように、バイアス用の板ばねを設けたものでは、可動
接点が温度過昇を検知して記憶形状に復帰した後、周囲
温度が低下すると、板ばねのバイアス作用によって、再
び可動接点の他端部が他方の導体に接触して、繰り返し
使用が可能になる。
According to a third aspect of the present invention, a leaf spring for bias is attached to the other end of the movable contact so that the ambient temperature falls below the temperature at which the shape memory alloy returns to the memory shape. The protection element according to claim 1, wherein the other end of the movable contact is urged so as to again press and contact the other conductor. As described above, in the apparatus provided with the biasing leaf spring, after the movable contact returns to the memorized shape upon detecting an excessive temperature rise, when the ambient temperature decreases, the biasing action of the leaf spring causes the movable contact to return to the other position. The end contacts the other conductor, allowing for repeated use.

【0011】本発明の請求項4に記載の発明は、一方の
導体となる金属ベースと、前記金属ベースに一端部を接
続固定された板状の形状記憶合金からなる可動接点と、
金属ベースの周縁部分上に絶縁部材を介在して固着封止
された他方の導体となる金属キャップとを有し、前記可
動接点の他端部を前記金属キャップに押圧接触させたこ
とを特徴とする保護素子である。このように、金属ベー
スと金属キャップとを導体として用いると、絶縁基板や
絶縁キャップが不要となり、部品点数をさらに低減する
ことができる。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a metal base serving as one conductor, a movable contact made of a plate-shaped shape memory alloy having one end connected and fixed to the metal base,
A metal cap to be the other conductor fixed and sealed on the peripheral portion of the metal base with an insulating member interposed therebetween, wherein the other end of the movable contact is brought into pressure contact with the metal cap. Protection element. As described above, when the metal base and the metal cap are used as the conductor, the insulating substrate and the insulating cap are not required, and the number of components can be further reduced.

【0012】本発明の請求項5に記載の発明は、前記可
動接点の他端部を、他方の導体となる金属キャップに低
融点合金で接続固定したことを特徴とする請求項4に記
載の保護素子である。このように、金属キャップに可動
接点の他端部を低融点合金で接続固定すると、低融点合
金で動作温度を保証することができる。
The invention according to claim 5 of the present invention is characterized in that the other end of the movable contact is connected and fixed to a metal cap serving as the other conductor with a low melting point alloy. It is a protection element. As described above, when the other end of the movable contact is connected and fixed to the metal cap with the low melting point alloy, the operating temperature can be guaranteed with the low melting point alloy.

【0013】本発明の請求項6に記載の発明は、形状記
憶合金からなる可動接点の復帰後の形状と、その後の室
温形状とを異ならせたことを特徴とする保護素子であ
る。このように、可動接点の復帰後の形状と、その後の
室温形状とを異ならせると、バイアス用の板ばねがなく
ても、復帰型の保護素子が得られる。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a protection element characterized in that a shape of a movable contact made of a shape memory alloy after returning is different from a shape at room temperature thereafter. As described above, when the shape of the movable contact after the return is different from the shape at the subsequent room temperature, a return-type protection element can be obtained without a leaf spring for bias.

【0014】本発明の請求項7に記載の発明は、前記可
動接点が、記憶形状への復帰温度で記憶形状に復帰し、
それよりも低い温度では永久変形ひずみにより前記他方
の導体に押圧接触する位置まで戻ることを特徴とする請
求項6に記載の保護素子である。このような可動接点を
用いると、バイアス用の板ばねがなくても、復帰型の保
護素子が得られる。
According to a seventh aspect of the present invention, the movable contact returns to the memory shape at a temperature for returning to the memory shape,
7. The protection element according to claim 6, wherein at a temperature lower than that, the protection element returns to a position where the conductor is pressed against the other conductor due to permanent deformation strain. When such a movable contact is used, a return-type protection element can be obtained without a leaf spring for bias.

【0015】本発明の請求項8に記載の発明は、前記可
動接点が、形状記憶合金からなる部材にそれよりも低抵
抗の他の部材を結合したものであることを特徴とする請
求項1ないし7のいずれかに記載の保護素子である。こ
のように、可動接点にそれよりも低抵抗の他の部材を結
合すると、可動接点の抵抗値を低減できて内部抵抗の小
さな保護素子が得られる。
According to an eighth aspect of the present invention, the movable contact is formed by joining a member made of a shape memory alloy with another member having a lower resistance than the member. 8. The protection device according to any one of claims 1 to 7. As described above, when another member having a lower resistance than the movable contact is coupled to the movable contact, the resistance value of the movable contact can be reduced, and a protection element having a small internal resistance can be obtained.

【0016】本発明の請求項9に記載の発明は、前記可
動接点が、形状記憶合金からなる部材にそれとは熱膨張
係数が異なる他の部材を結合したものであることを特徴
とする請求項1ないし7に記載の保護素子である。この
ように、可動接点が複合型構造を有すると、形状記憶合
金からなる部材とそれとは熱膨張係数が異なる他の部材
との熱膨張係数差によるバイメタル効果により、保護素
子の機能を向上させることができる。
According to a ninth aspect of the present invention, the movable contact is formed by joining a member made of a shape memory alloy to another member having a different coefficient of thermal expansion from the member. 8. The protection element according to any one of 1 to 7. As described above, when the movable contact has the composite structure, the function of the protection element can be improved by a bimetal effect due to a difference in thermal expansion coefficient between a member made of a shape memory alloy and another member having a different thermal expansion coefficient. Can be.

【0017】本発明の請求項10に記載の発明は、前記
形状記憶合金からなる部材と他の部材とが、はんだ付
け,導電性ペースト,抵抗溶接,プラズマ溶接,超音波
溶接,かしめ,塗付の中から選択されたいずれかによっ
て結合されていることを特徴とする請求項8または9に
記載の保護素子である。このように、形状記憶合金から
なる部材とそれとは熱膨張係数が異なる他の部材とを結
合する場合に、互いの相性に応じた結合方法を採用でき
る。
According to a tenth aspect of the present invention, the member made of the shape memory alloy and another member are soldered, conductive paste, resistance welding, plasma welding, ultrasonic welding, caulking, and painting. The protection element according to claim 8, wherein the protection element is coupled by any one selected from the group consisting of: As described above, when joining a member made of a shape memory alloy and another member having a different thermal expansion coefficient from the member, a joining method according to mutual compatibility can be adopted.

【0018】本発明の請求項11に記載の発明は、前記
可動接点が、その少なくとも他の導体との接触部に、可
動接点よりも低抵抗層を有することを特徴とする請求項
1ないし10のいずれかに記載の保護素子である。この
ように、可動接点が低抵抗層を有すると、可動接点と他
の導体との接触抵抗を低減して、内部抵抗の小さい保護
素子が得られる。
According to an eleventh aspect of the present invention, the movable contact has a lower resistance layer than the movable contact at at least a contact portion with another conductor. It is a protection element in any one of the above. As described above, when the movable contact has the low resistance layer, the contact resistance between the movable contact and another conductor is reduced, and a protection element having a small internal resistance can be obtained.

【0019】本発明の請求項12に記載の発明は、前記
低抵抗層が、Au,Ag,Pd,Pt,Cu,Niの群
から選択されたいずれかの金属,それらを主成分とする
合金,またはそれらを主成分とするAg−CdO,Ag
−CuO等の複合材のいずれか,またははんだ材により
形成されていることを特徴とする請求項11に記載の保
護素子である。このように、低抵抗層が上記の材料で形
成されていると、可動接点と他の導体との接触抵抗を低
減して、内部抵抗の小さい保護素子が得られる。
According to a twelfth aspect of the present invention, the low-resistance layer is made of one of a metal selected from the group consisting of Au, Ag, Pd, Pt, Cu, and Ni, and an alloy containing these as a main component. , Or Ag-CdO, Ag containing them as main components
The protection element according to claim 11, wherein the protection element is formed of any one of a composite material such as -CuO or a solder material. As described above, when the low resistance layer is formed of the above-described material, the contact resistance between the movable contact and another conductor is reduced, and a protection element with small internal resistance can be obtained.

【0020】本発明の請求項13に記載の発明は、前記
低抵抗層が、めっき,蒸着,スパッタリングのいずれか
により形成されていることを特徴とする請求項12に記
載の保護素子である。このように、低抵抗層が形成され
ると、簡単にかつ薄肉状に低抵抗層が形成できる。
According to a thirteenth aspect of the present invention, there is provided the protective element according to the twelfth aspect, wherein the low resistance layer is formed by any one of plating, vapor deposition, and sputtering. As described above, when the low-resistance layer is formed, the low-resistance layer can be easily and thinly formed.

【0021】本発明の請求項14に記載の発明は、前記
可動接点の他端部が、他の導体と面接触状態となってい
ることを特徴とする請求項1ないし13のいずれかに記
載の保護素子である。このように、可動接点の他端部
が、他の導体と面接触状態となっていると、可動接点と
他の導体との接触面積が大きくて接触抵抗が小さくな
り、内部抵抗の小さい保護素子が得られる。
According to a fourteenth aspect of the present invention, the other end of the movable contact is in surface contact with another conductor. Of the protection element. As described above, when the other end of the movable contact is in surface contact with the other conductor, the contact area between the movable contact and the other conductor is large, the contact resistance is small, and the protection element having a small internal resistance. Is obtained.

【0022】本発明の請求項15に記載の発明は、前記
可動接点が、周囲温度の過昇または過電流のいずれか一
方または両方で動作することを特徴とする請求項1ない
し14のいずれかに記載の保護素子である。このよう
に、可動接点が周囲温度の過昇または過電流のいずれか
一方または両方で動作すると、多機能の保護素子が得ら
れる。
According to a fifteenth aspect of the present invention, the movable contact operates at one or both of an excessive rise in ambient temperature and an overcurrent. It is a protection element of description. As described above, when the movable contact operates at one or both of the excessive rise of the ambient temperature and the overcurrent, a multifunctional protection element is obtained.

【0023】本発明の請求項16に記載の発明は、板状
のPTC素子と、このPTC素子に一端部が接続固定さ
れた板状の形状記憶合金からなる可動接点と、前記PT
C素子の周縁部分に絶縁部材を介在して固着封止された
金属キャップとを有し、前記可動接点の他端部が前記金
属キャップに押圧接触または低融点合金で接続されてい
ることを特徴とする保護素子である。このように、PT
C素子を用いた保護素子においては、PTC素子によっ
て過電流に対して抵抗値を増大して、保護機能を営む。
According to a sixteenth aspect of the present invention, there is provided a PTC element, a movable contact made of a plate-shaped shape memory alloy having one end connected and fixed to the PTC element;
A metal cap fixedly sealed with an insulating member interposed therebetween at a peripheral portion of the C element, wherein the other end of the movable contact is connected to the metal cap by a press contact or a low melting point alloy. Protection element. Thus, PT
In a protection element using a C element, the resistance value against an overcurrent is increased by a PTC element to perform a protection function.

【0024】本発明の請求項17に記載の発明は、絶縁
基板に少なくとも一つのスルーホールを形成し、このス
ルーホールを介して導出された導体と、前記導体に一端
部が接続固定され他方の導体に他端部が押圧接触させら
れた板状の形状記憶合金からなる可動接点と、前記絶縁
基板に封止されたキャップとを有することを特徴とする
保護素子である。このように、スルーホールを利用して
導体を導出すると、リードが不要で表面実装が可能であ
る。
According to a seventeenth aspect of the present invention, at least one through hole is formed in an insulating substrate, and a conductor led out through the through hole is connected to one end of the conductor and the other end is fixed. A protection element, comprising: a movable contact made of a plate-shaped shape memory alloy having the other end pressed against a conductor; and a cap sealed to the insulating substrate. As described above, when the conductor is derived using the through-hole, no lead is required and surface mounting is possible.

【0025】本発明の請求項18に記載の発明は、前記
金属キャップが、前記絶縁基板または金属ベースに圧入
により封止されていることを特徴とする請求項1ないし
17のいずれかに記載の保護素子である。このように、
金属キャップを圧入により封止すると、封止時に加熱を
伴わないので、封止が容易になるとともに、形状記憶合
金からなる可動接点に加熱による歪を残留させることが
ない。
The invention according to claim 18 of the present invention is characterized in that the metal cap is sealed by press-fitting into the insulating substrate or the metal base. It is a protection element. in this way,
When the metal cap is sealed by press-fitting, heating is not performed at the time of sealing, so that sealing is facilitated and distortion due to heating does not remain in the movable contact made of the shape memory alloy.

【0026】本発明の実施態様について、以下、図面を
参照して説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【実施態様1】図1は本発明の請求項1および2に対応
する第1実施態様の保護素子Aの断面図である。図1に
おいて、1はセラミックや耐熱樹脂等よりなる矩形状ま
たは円形状の絶縁基板で、その表面の離隔した位置に銀
ペースト,銀−パラジウムペースト,銀−白金ペースト
等の導電ペーストの塗付形成等によって一対の導体2,
3が形成されている。前記それぞれの導体2,3には、
銅やニッケル等よりなるリード4、5がはんだ付け等に
より接続されている。前記一方の導体2の内方端部に
は、Ti−Ni系合金等の板状の形状記憶合金からなる
可動接点6の一端部が絶縁基板1と面平行状態になるよ
うにはんだ付け等によって接続固定されており、可動接
点6の他端部は前記他方の導体3に押圧接触されてい
る。7は耐熱性樹脂等からなる絶縁キャップで、前記可
動接点6が記憶形状への復帰温度で形状復帰した際に、
前記他方の導体3から十分な寸法だけ離隔可能な空間を
形成するようにしてある。この絶縁キャップ7はエポキ
シ樹脂等よりなる封止樹脂8によって絶縁基板1に固着
封止されている。
FIG. 1 is a sectional view of a protection element A according to a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a rectangular or circular insulating substrate made of a ceramic, a heat-resistant resin, or the like, and a conductive paste such as a silver paste, a silver-palladium paste, or a silver-platinum paste formed by coating on a spaced position on the surface. A pair of conductors 2, etc.
3 are formed. The conductors 2 and 3 have
Leads 4 and 5 made of copper, nickel or the like are connected by soldering or the like. The inner end of the one conductor 2 is soldered or the like so that one end of a movable contact 6 made of a plate-shaped shape memory alloy such as a Ti—Ni alloy is in a plane parallel state with the insulating substrate 1. The other end of the movable contact 6 is pressed and contacted with the other conductor 3. Reference numeral 7 denotes an insulating cap made of a heat-resistant resin or the like, and when the movable contact 6 returns to the shape at the temperature for returning to the memory shape,
A space capable of being separated from the other conductor 3 by a sufficient dimension is formed. The insulating cap 7 is fixedly sealed to the insulating substrate 1 by a sealing resin 8 made of epoxy resin or the like.

【0027】上記の保護素子Aにおいて、リード4,5
を電子機器に直列に接続するとともに、絶縁基板1を電
子機器の異常時に温度が上昇する個所に取り付けてお
く。すると、リード4−導体2−可動接点6−導体3−
リード5の経路で電流が流れて、電子機器に通電でき
る。
In the protection element A, the leads 4, 5
Are connected in series to the electronic device, and the insulating substrate 1 is attached to a place where the temperature rises when the electronic device is abnormal. Then, the lead 4-conductor 2-movable contact 6-conductor 3-
An electric current flows through the path of the lead 5, and the electronic device can be energized.

【0028】電子機器の異常等に起因して、周囲温度が
過昇すると、形状記憶合金からなる可動接点6が記憶形
状である曲線状に復帰して、図2に示すように、その他
端部が他方の導体3から離隔する。したがって、前記電
流経路は開放され、電子機器への通電が遮断されて、電
子機器のそれ以上の温度過昇が防止されるとともに、電
子機器の発火による火災発生が未然に防止される。ま
た、可動接点6の抵抗値を適当に設定することにより、
過電流が流れた際には自己発熱で記憶形状に復帰して、
可動接点6の他端部が他方の導体3から離隔して保護す
るようにすることもできる。
When the ambient temperature rises excessively due to an abnormality of the electronic equipment, the movable contact 6 made of a shape memory alloy returns to a curved shape as a memory shape, and as shown in FIG. Are separated from the other conductor 3. Therefore, the current path is opened, the power supply to the electronic device is cut off, and the temperature of the electronic device is prevented from rising further, and the occurrence of fire due to the ignition of the electronic device is prevented. Also, by appropriately setting the resistance value of the movable contact 6,
When an overcurrent flows, it returns to the memory shape by self-heating,
The other end of the movable contact 6 may be separated from the other conductor 3 and protected.

【0029】ここで、上記の保護素子Aは、図1に示す
ように、板状の形状記憶合金からなる可動接点6を絶縁
基板1と面平行状態になるように接続固定しているの
で、保護素子A全体が少ない部品点数で小型に形成さ
れ、かつ偏平状で低背化されており、さらにその底面が
平坦であるため、電子機器の熱感応性に優れている。
Here, in the protection element A, as shown in FIG. 1, the movable contact 6 made of a plate-shaped shape memory alloy is connected and fixed so as to be in a plane parallel state with the insulating substrate 1. Since the entire protection element A is formed in a small size with a small number of components, is flat and has a low profile, and has a flat bottom surface, the electronic device is excellent in heat sensitivity.

【0030】[0030]

【実施態様2】次に、本発明の請求項3に対応する第2
実施態様の保護素子Bについて説明する。この保護素子
Bは、図1の保護素子Aにバイアス用の板ばねを組み合
わせて、周囲温度の低下によって可動接点が再び当初の
状態に復帰する復帰型の保護素子としたものである。図
3は、本発明の第2実施態様の保護素子Bの断面図を示
す。図3において、図1の保護素子Aと同一部分には、
第10位の桁を10番台とし第1位の桁に同一符号を付
している。すなわち,11は絶縁基板、12,13は導
体、14,15はリード、16は板状の形状記憶合金か
らなる可動接点、17は絶縁キャップ、18は封止樹脂
であり、その説明を省略する。19は本実施態様の特徴
部材であるバイアス用の板ばねで、その一端部を可動接
点16の他端部に固定するとともに、他端部を絶縁キャ
ップ17に固定してあり、その弾性力でもって可動接点
16の他端部を常時他方の導体13側に向かって付勢す
るようにしてある。
[Embodiment 2] Next, a second embodiment according to claim 3 of the present invention will be described.
The protection element B according to the embodiment will be described. The protection element B is a return-type protection element in which the movable contact returns to the initial state again due to a decrease in ambient temperature by combining the protection element A of FIG. 1 with a bias leaf spring. FIG. 3 is a sectional view of a protection element B according to a second embodiment of the present invention. In FIG. 3, the same parts as the protection element A in FIG.
The tenth digit is the tenth digit and the first digit is assigned the same code. That is, 11 is an insulating substrate, 12 and 13 are conductors, 14 and 15 are leads, 16 is a movable contact made of a plate-shaped shape memory alloy, 17 is an insulating cap, 18 is a sealing resin, and the description thereof is omitted. . Reference numeral 19 denotes a biasing leaf spring which is a characteristic member of the present embodiment. One end of the leaf spring is fixed to the other end of the movable contact 16 and the other end is fixed to the insulating cap 17. Thus, the other end of the movable contact 16 is always urged toward the other conductor 13 side.

【0031】上記の保護素子Bによれば、リード14,
15を電子機器に直列接続しておき、絶縁基板11を電
子機器の異常時に温度上昇する個所に取り付けておく。
すると、リード14−導体12−可動接点16−導体1
3−リード15の経路で電子機器に通電できる。
According to the protection element B, the leads 14,
15 is connected to the electronic device in series, and the insulating substrate 11 is attached to a place where the temperature rises when the electronic device is abnormal.
Then, the lead 14-the conductor 12-the movable contact 16-the conductor 1
Electricity can be supplied to the electronic device through the path of the 3-lead 15.

【0032】電子機器の異常時には、可動接点16がバ
イアス用の板ばね19の弾性力に抗して記憶形状である
曲線状に復帰して、その他端部が他方の導体13から離
隔するため、前記通電経路が開放されて、電子機器への
通電が遮断されるため、電子機器のそれ以上の温度上昇
が防止され、電子機器の発火による火災発生が未然に防
止される。また、可動接点16の抵抗値を適当に設定し
ておくことにより、過電流が流れた際には可動接点16
が自己発熱で記憶形状に復帰して、前記同様に保護する
ようにすることができる。
In the event of an abnormality in the electronic device, the movable contact 16 returns to a memory-like curved shape against the elastic force of the biasing leaf spring 19, and the other end is separated from the other conductor 13. Since the energization path is opened and the energization to the electronic device is cut off, a further rise in temperature of the electronic device is prevented, and a fire due to ignition of the electronic device is prevented. In addition, by appropriately setting the resistance value of the movable contact 16, when an overcurrent flows, the movable contact 16
Can return to the memory shape due to self-heating and can be protected in the same manner as described above.

【0033】電子機器への通電停止により、周囲温度が
形状復帰温度よりも低下すると、可動接点16の形状維
持応力をバイアス用の板ばね18の弾性力が凌駕する結
果、可動接点16の他端部が再び他方の導体13に押圧
接触して、通電回路が形成される。このようにして、こ
の保護素子Bは復帰型として繰り返し使用が可能にな
る。
When the ambient temperature falls below the shape return temperature due to the stoppage of power supply to the electronic device, the shape maintaining stress of the movable contact 16 exceeds the elastic force of the leaf spring 18 for bias. The portion again presses and contacts the other conductor 13 to form an energizing circuit. In this way, the protection element B can be used repeatedly as a return type.

【0034】[0034]

【実施態様3】次に、本発明の請求項5に対応する第3
実施態様の保護素子Cについて説明する。本第3実施態
様の保護素子Cは、図1および図3の第1,第2実施態
様の保護素子A,Bにおける絶縁基板1,21、導体
2,3、12,13およびリード4,5、14,15を
省略するとともに、金属ベースおよび金属キャップを用
いたものである。図4は本第3実施態様の保護素子Cの
断面図を示す。図4において、21は一方の導体となる
銅等の良導電性の金属ベースで、その上に板状の形状記
憶合金からなる可動接点22の一端部がはんだ付けや溶
接等により接続固定されており、前記金属ベース21の
周縁部分の上に絶縁部材23を介して、銅等の良導電性
の金属キャップ24が固着封止されている。そして、前
記可動接点22の他端部は、低融点合金25により前記
金属キャップ24の内面に接続固定されている。
Embodiment 3 Next, a third embodiment of the present invention will be described.
The protection element C according to the embodiment will be described. The protection element C according to the third embodiment is the same as the protection elements A and B according to the first and second embodiments shown in FIGS. 1 and 3, but also includes the insulating substrates 1, 21, the conductors 2, 3, 12, 13 and the leads 4, 5. , 14, 15 are omitted, and a metal base and a metal cap are used. FIG. 4 is a sectional view of a protection element C according to the third embodiment. In FIG. 4, reference numeral 21 denotes a metal base having good conductivity, such as copper, serving as one conductor, on which one end of a movable contact 22 made of a plate-shaped shape memory alloy is connected and fixed by soldering, welding, or the like. A metal cap 24 of good conductivity such as copper is fixedly sealed on the peripheral portion of the metal base 21 via an insulating member 23. The other end of the movable contact 22 is connected and fixed to the inner surface of the metal cap 24 by a low melting point alloy 25.

【0035】上記の保護素子Cにおいて、例えば、金属
ベース21と金属キャップ24とを電子機器と直列に接
続するとともに、金属ベース21を電子機器の異常によ
り温度が上昇する個所に取り付けておく。すると、金属
ベース21−可動接点22−金属キャップ24の経路で
電子機器に通電できる。
In the protection element C, for example, the metal base 21 and the metal cap 24 are connected in series with the electronic device, and the metal base 21 is attached to a place where the temperature rises due to an abnormality in the electronic device. Then, the electronic device can be energized through the path of the metal base 21, the movable contact 22, and the metal cap 24.

【0036】電子機器の異常等により電子機器の温度が
過昇すると、可動接点22が記憶している直線状の形状
に復帰しようとするが、低融点合金25により固定され
ているため、その状態が維持される。周囲温度がさらに
上昇して低融点合金25の融点に達すると、低融点合金
25が溶融し、可動接点22の形状復帰力に対する拘束
力を失う。すると、可動接点22の形状復帰力によっ
て、可動接点22が記憶している平板状の形状に復帰す
るため、金属キャップ24から離隔して、電子機器への
通電が停止され、電子機器の過熱損傷および電子機器の
発火に起因する火災を未然に防止する。また、可動接点
22の抵抗値を適当に設定しておくことにより、過電流
が流れた際には自己発熱で可動接点22が記憶形状に復
帰して、前記同様に保護するようにすることができる。
When the temperature of the electronic device rises excessively due to an abnormality of the electronic device, the movable contact 22 attempts to return to the stored linear shape. Is maintained. When the ambient temperature further rises and reaches the melting point of the low-melting point alloy 25, the low-melting point alloy 25 melts and loses the restraining force of the movable contact 22 against the shape restoring force. Then, since the movable contact 22 returns to the flat plate shape stored by the movable contact 22 due to the shape restoring force, the movable contact 22 is separated from the metal cap 24 and the power supply to the electronic device is stopped. And to prevent fires caused by ignition of electronic devices. In addition, by appropriately setting the resistance value of the movable contact 22, when an overcurrent flows, the movable contact 22 returns to a memory shape due to self-heating, so that it can be protected as described above. it can.

【0037】この第3実施態様の保護素子Cにおいて
も、小型かつ偏平状で低背化された保護素子が得られ
る。しかも、金属ベース21を用いているので、絶縁基
板を用いるものに比較して、導体2,3や12,13の
形成が不要であるのみならず、熱応答性に優れている。
また、リードレス構造であるため、金属ベース21と金
属キャップ24とを一対の導電体で挟持することによ
り、電子機器と簡単に接続できる。もし必要ならば、金
属ベース21および/または金属キャップ24にリード
を接続することもできる。
Also in the protection element C of the third embodiment, a small, flat, and low-profile protection element can be obtained. In addition, since the metal base 21 is used, the formation of the conductors 2, 3, 12 and 13 is not required as compared with the case where an insulating substrate is used, and the thermal response is excellent.
In addition, since it has a leadless structure, it can be easily connected to an electronic device by sandwiching the metal base 21 and the metal cap 24 between a pair of conductors. If necessary, the leads can be connected to the metal base 21 and / or the metal cap 24.

【0038】[0038]

【実施態様3の変形例】本変形例は、本発明の請求項4
に対応するものである。すなわち,上記第3実施態様の
保護素子Cにおいては、可動接点22の他端部を低融点
合金25で金属キャップ24に接続固定した場合につい
て説明したが、低融点合金25は省略してもよい。その
場合、形状記憶合金からなる可動接点22の形状復帰温
度において、可動接点22が記憶形状に復帰して、可動
接点22の他端部が金属キャップ24から離隔すること
によって、回路を開いて保護する。
Modification of Embodiment 3 This modification is directed to claim 4 of the present invention.
It corresponds to. That is, in the protection element C of the third embodiment, the case where the other end of the movable contact 22 is connected and fixed to the metal cap 24 with the low melting point alloy 25 has been described, but the low melting point alloy 25 may be omitted. . In this case, at the shape return temperature of the movable contact 22 made of a shape memory alloy, the movable contact 22 returns to the memory shape, and the other end of the movable contact 22 is separated from the metal cap 24, thereby opening the circuit and protecting the circuit. I do.

【0039】[0039]

【実施態様4】次に、本発明の請求項6および7に対応
する第4実施態様の保護素子Dについて説明する。この
第4実施態様の保護素子Dは、形状記憶合金からなる可
動接点に、温度過昇によって記憶形状に復帰するだけで
なく、周囲温度が低下した際に、保護素子の当初の形状
に戻るような変形歪を有するものを用いたものである。
図5は、本第4実施態様の保護素子Dの断面図を示す。
図5において、31は絶縁基板で、離隔した位置に一対
の導体32,33が形成されている。これらの導体3
2,33は絶縁基板31の端面を通って裏面にまで延長
して形成されている。一方の導体32には、板状の形状
記憶合金からなる可動接点34の一端部が接続固定され
ている。この一方の導体32の上には絶縁部材35を介
して、また他方の導体33に対しては直接または導電材
料を介して金属キャップ36が固着封止されている。前
記可動接点34の他端部は、前記金属キャップ36の内
面に押圧接触している。ここで、本実施態様の保護素子
Dにおける可動接点34は、金属キャップ36を取り付
けていない状態では、図示2点鎖線34′で示すよう
に、金属キャップ36を越えてさらに上方に屈曲するよ
うに加工されており、金属キャップ36を被せることに
より、可動接点34が適当な押圧力で金属キャップ36
の内面に押圧接触するように設定されている。したがっ
て、可動接点34は形状復帰温度では記憶形状である平
板状に復帰して、金属キャップ36から離隔するが、周
囲温度が形状復帰温度よりも低くなると、残留歪によっ
て図示2点鎖線34′の形状に変形しようとし、再び金
属キャップ36に押圧接触する。すなわち,復帰後形状
と、形状復帰温度よりも低温度域での形状が異なるもの
である。
Embodiment 4 Next, a protection element D according to a fourth embodiment of the present invention will be described. The protection element D according to the fourth embodiment has a movable contact made of a shape memory alloy that not only returns to a memory shape due to an excessive temperature rise but also returns to the original shape of the protection element when the ambient temperature decreases. The one having a large deformation strain is used.
FIG. 5 is a sectional view of a protection element D according to the fourth embodiment.
In FIG. 5, reference numeral 31 denotes an insulating substrate on which a pair of conductors 32 and 33 are formed at spaced positions. These conductors 3
The reference numerals 2 and 33 extend through the end surface of the insulating substrate 31 to the rear surface. One end of a movable contact 34 made of a plate-shaped shape memory alloy is connected and fixed to one conductor 32. A metal cap 36 is fixedly sealed on the one conductor 32 via an insulating member 35 and directly on the other conductor 33 or via a conductive material. The other end of the movable contact 34 is in pressure contact with the inner surface of the metal cap 36. Here, the movable contact 34 in the protection element D of the present embodiment is bent upward beyond the metal cap 36 as shown by a two-dot chain line 34 'in a state where the metal cap 36 is not attached. The movable contact 34 is processed with an appropriate pressing force by covering the metal cap 36 with the metal cap 36.
Is set so as to press and contact the inner surface of the. Accordingly, the movable contact 34 returns to the flat plate shape, which is a memory shape at the shape return temperature, and is separated from the metal cap 36. However, when the ambient temperature becomes lower than the shape return temperature, the residual strain causes the two-dot chain line 34 'in FIG. It tries to deform into a shape and again comes into pressure contact with the metal cap 36. That is, the shape after restoration is different from the shape in a temperature range lower than the shape restoration temperature.

【0040】この第4実施態様の保護素子Dは、導体3
2,33を表面実装により電子機器に直列接続するとと
もに、絶縁基板31を電子機器の異常時に温度が過昇す
る個所に設置しておくことにより、導体32−可動接点
34−金属キャップ36−導体33の経路で、電子機器
に通電できる。
The protection element D according to the fourth embodiment comprises a conductor 3
The conductors 32, the movable contacts 34, the metal caps 36, and the conductors 32, 33 are connected in series to the electronic device by surface mounting, and the insulating substrate 31 is installed at a location where the temperature rises excessively when the electronic device is abnormal. Electricity can be supplied to the electronic device through 33 routes.

【0041】電子機器の異常等による温度過昇時には、
形状記憶合金からなる可動接点34が記憶形状である平
板状の形状に復帰する。それによって、可動接点34が
金属キャップ36から離隔するので、電子機器への通電
が停止される。また、可動接点34の抵抗値を適当に設
定しておくことにより、過電流が流れた際には可動接点
34が自己発熱で記憶形状に復帰して、保護するように
することもできる。
At the time of excessive temperature rise due to an abnormality of the electronic equipment,
The movable contact 34 made of the shape memory alloy returns to the flat shape which is the memory shape. As a result, the movable contact 34 is separated from the metal cap 36, so that the power supply to the electronic device is stopped. Also, by setting the resistance value of the movable contact 34 appropriately, it is possible to protect the movable contact 34 by returning to the memory shape by self-heating when an overcurrent flows.

【0042】可動接点34の金属キャップ36からの離
隔に伴って、周囲温度が可動接点34の形状復帰温度よ
りも低下すると、可動接点34の永久歪によって、図示
2点鎖線34′に示すような形状への復帰力が作用し、
可動接点34が再び金属キャップ34の内面に押圧接触
するようになる。したがって、再び通電経路が形成され
るため、繰り返し使用が可能になる。
When the movable contact 34 is separated from the metal cap 36 and the ambient temperature becomes lower than the shape return temperature of the movable contact 34, permanent deformation of the movable contact 34 causes the permanent contact of the movable contact 34 as shown by a two-dot chain line 34 'in FIG. The return force to the shape acts,
The movable contact 34 comes into pressure contact with the inner surface of the metal cap 34 again. Therefore, since the energization path is formed again, repeated use becomes possible.

【0043】[0043]

【実施態様4の変形例】図5の保護素子Dにおいて、絶
縁基板31に代えて金属ベースを用いるとともに、金属
ベースの周縁部分全周上に絶縁部材35を形成して、金
属ベースと金属キャップとを絶縁するようにしてもよ
い。
Modification of Embodiment 4 In the protection element D shown in FIG. 5, a metal base is used in place of the insulating substrate 31 and an insulating member 35 is formed on the entire periphery of the metal base to form a metal base and a metal cap. May be insulated.

【0044】[0044]

【実施態様5】次に、本発明の請求項8ないし10に対
応する第5実施態様の保護素子Eについて説明する。こ
の第5実施態様の保護素子Eは、可動接点を、形状記憶
合金からなる部材にそれとは異なる他の部材を結合して
構成し、可動接点を低抵抗化したり、可動接点の他端部
の押圧力を増大したり、形状復帰時の形状変化動作を急
峻にしたものである。図6は、本発明の第5実施態様の
保護素子Eの断面図を示す。図6において、41は金属
ベースで、その上に板状の可動接点42の一端部が接続
固定されている。この可動接点42は、形状記憶合金か
らなる部材43の片面に、この形状記憶合金とは異なる
材質からなる他の部材44を結合したものである。45
は金属ベース41の周縁部分を覆う絶縁部材、46は絶
縁部材45の上に固着封止された金属キャップである。
そして前記可動接点42の他端部は、前記金属キャップ
46の内面に押圧接触している。
Fifth Embodiment Next, a protection element E according to a fifth embodiment of the present invention will be described. The protection element E according to the fifth embodiment is configured such that the movable contact is formed by joining a member made of a shape memory alloy to another member different from the member, thereby reducing the resistance of the movable contact or using the other end of the movable contact. The pressing force is increased or the shape changing operation at the time of shape recovery is made steep. FIG. 6 shows a sectional view of a protection element E according to a fifth embodiment of the present invention. In FIG. 6, reference numeral 41 denotes a metal base on which one end of a plate-shaped movable contact 42 is connected and fixed. The movable contact 42 is obtained by connecting a member 43 made of a material different from the shape memory alloy to one surface of a member 43 made of the shape memory alloy. 45
Is an insulating member covering the peripheral portion of the metal base 41, and 46 is a metal cap fixedly sealed on the insulating member 45.
The other end of the movable contact 42 is in pressure contact with the inner surface of the metal cap 46.

【0045】ここで、形状記憶合金とは異なる材質から
なる他の部材44は、可動接点42の低抵抗化を図るた
めには、形状記憶合金からなる部材43よりも低抵抗の
部材を結合すればよいし、可動接点42の動作特性を改
善するためには、形状記憶合金からなる部材43の熱膨
張係数α1とは異なる熱膨張係数α2を有する部材を結
合すればよい。すなわち、他の材質よりなる部材44と
して例えば銅部材を用いる場合は、可動接点42の低抵
抗化と熱膨張係数を異ならせることとが同時に達成でき
る。また、形状記憶合金とは異なる材質からなる他の部
材44として、動作温度以下で既に変形している形状記
憶ポリマーを結合すれば、永久歪に+αを与えることが
できる。形状記憶合金からなる部材43とそれとは異な
る材質からなる他の部材44とを結合するには、はんだ
付け,導電ペースト付け,抵抗溶接,プラズマ溶接,超
音波溶接,両者に孔をあけて金属または非金属製のピン
を挿入してかしめる方法,あるいは塗付等の方法の中か
ら適宜選択すればよい。今、可動接点42の形状記憶合
金からなる部材43の熱膨張係数α1と銅部材44の熱
膨張係数α2とが、α1>α2の関係にある場合は、バ
イメタル効果によって、可動接点42の他端部が金属キ
ャップ46の内面への押圧力が大きくなり、接触抵抗を
低減できる。
Here, in order to reduce the resistance of the movable contact 42, another member 44 made of a material different from the shape memory alloy is joined to a member having a lower resistance than the member 43 made of the shape memory alloy. In order to improve the operating characteristics of the movable contact 42, a member having a thermal expansion coefficient α2 different from the thermal expansion coefficient α1 of the member 43 made of a shape memory alloy may be connected. That is, when, for example, a copper member is used as the member 44 made of another material, it is possible to simultaneously lower the resistance of the movable contact 42 and make the thermal expansion coefficient different. Further, if a shape memory polymer that has already been deformed at an operating temperature or lower is combined as another member 44 made of a material different from the shape memory alloy, + α can be given to the permanent strain. In order to join the member 43 made of a shape memory alloy and another member 44 made of a different material, soldering, conductive paste, resistance welding, plasma welding, ultrasonic welding, holes are made in both, and metal or The method may be appropriately selected from a method of inserting a non-metallic pin and caulking or a method such as painting. Now, when the thermal expansion coefficient α1 of the member 43 made of the shape memory alloy of the movable contact 42 and the thermal expansion coefficient α2 of the copper member 44 have a relationship of α1> α2, the other end of the movable contact 42 is formed by the bimetal effect. The pressing force of the portion on the inner surface of the metal cap 46 increases, and the contact resistance can be reduced.

【0046】上記の保護素子Eにおいて、金属ベース4
1および金属キャップ46を電子機器に直列に接続する
とともに、金属ベース41を電子機器の異常時に温度上
昇する個所に設置しておく。すると、金属ベース41−
可動接点42−金属キャップ46の経路で電子機器に通
電される。このとき、他の部材44として銅部材を用い
ておれば、内部抵抗が小さくなる。
In the protection element E, the metal base 4
1 and the metal cap 46 are connected in series to the electronic device, and the metal base 41 is installed at a place where the temperature rises when the electronic device is abnormal. Then, the metal base 41-
The electronic device is energized through the path between the movable contact 42 and the metal cap 46. At this time, if a copper member is used as the other member 44, the internal resistance is reduced.

【0047】電子機器の異常等により温度が過昇した場
合は、形状記憶合金からなる部材43が記憶している平
板状の形状に復帰する。ここで、形状記憶合金からなる
部材43の片面に、それとは熱膨張係数が異なる他の部
材44が結合してあるので、バイメタル効果によって、
可動接点42の形状変化が急峻となり、金属キャップ4
6からの離隔時にスパークが発生し難い。
If the temperature rises excessively due to an abnormality of the electronic equipment, the shape returns to the flat plate shape stored in the member 43 made of the shape memory alloy. Here, the other member 44 having a different coefficient of thermal expansion from one side of the member 43 made of a shape memory alloy is bonded to the member 43.
The shape change of the movable contact 42 becomes sharp, and the metal cap 4
Sparks are unlikely to occur when separated from 6.

【0048】[0048]

【実施態様5の変形例】上記の保護素子Eに代えて、可
動接点42の形状記憶合金からなる部材43と他の部材
44とを上下逆に貼り合わせて、例えば、金属ベース4
1の代わりに絶縁基板に離隔して一対の導体を形成し、
可動接点の一端部を一方の導体に接続固定するととも
に、可動接点の他端部を他方の導体に押圧接触するよう
にしてもよい。
Modification of Embodiment 5 In place of the protection element E, a member 43 made of a shape memory alloy of the movable contact 42 and another member 44 are attached upside down.
Forming a pair of conductors apart from the insulating substrate instead of 1
One end of the movable contact may be connected and fixed to one conductor, and the other end of the movable contact may be pressed into contact with the other conductor.

【0049】[0049]

【実施態様6】次に、本発明の請求項11ないし13に
対応する第6実施態様の保護素子Fについて説明する。
この第6実施態様の保護素子Fは、可動接点の少なくと
も他端部に形状記憶合金よりも低抵抗層を形成したもの
である。図7は本発明の第6実施態様の保護素子Fの断
面図を示す。図7において、51は矩形状または円形状
の一方の導体となる金属ベースで、その表面に可動接点
52の一端部が接続固定されている。この可動接点52
は、形状記憶合金からなる部材53の少なくとも他端
部,望ましくは全面に、形状記憶合金からなる部材53
よりも低抵抗の材料よりなる低抵抗層54が形成されて
いる。金属ベース51の周縁部には絶縁部材55を介し
て金属キャップ56が固着封止されている。前記可動接
点52の他端部は、金属キャップ56の内面に押圧接触
している。前記低抵抗層54は、例えばAu,Ag,P
d,Pt等の貴金属やCu,Ni等の金属,またはこれ
らを主成分とする合金、およびこれらを主成分とするA
g−CdO,Ag−CuO等の複合材料,またははんだ
等よりなり、例えばめっき,蒸着、スパッタリング等の
方法で形成される。
[Embodiment 6] Next, a protection element F according to a sixth embodiment of the present invention will be described.
The protection element F of the sixth embodiment has a structure in which a lower resistance layer than a shape memory alloy is formed on at least the other end of the movable contact. FIG. 7 is a sectional view of a protection element F according to a sixth embodiment of the present invention. In FIG. 7, reference numeral 51 denotes a metal base serving as one of a rectangular or circular conductor, and one end of a movable contact 52 is connected and fixed to the surface thereof. This movable contact 52
Is formed on at least the other end, preferably the entire surface, of the member 53 made of a shape memory alloy.
A low-resistance layer 54 made of a material having a lower resistance than that of the first embodiment is formed. A metal cap 56 is fixedly sealed to the periphery of the metal base 51 via an insulating member 55. The other end of the movable contact 52 is in pressure contact with the inner surface of the metal cap 56. The low resistance layer 54 is made of, for example, Au, Ag, P
Noble metals such as d and Pt, metals such as Cu and Ni, or alloys containing these as main components, and A containing these as main components
It is made of a composite material such as g-CdO, Ag-CuO, or solder, and is formed by a method such as plating, vapor deposition, or sputtering.

【0050】上記の保護素子Fによれば、低抵抗層54
によって可動接点52と他方の導体である金属キャップ
56との接触抵抗が小さくなり、内部抵抗の小さい保護
素子が得られる。特に、図示例のように、形状記憶合金
からなる部材53の全面に低抵抗層54を形成した場合
は、可動接点52の抵抗値が小さくなり、より内部抵抗
の小さい保護素子が得られる。
According to the protection element F, the low resistance layer 54
As a result, the contact resistance between the movable contact 52 and the metal cap 56 as the other conductor is reduced, and a protection element having a small internal resistance is obtained. In particular, when the low resistance layer 54 is formed on the entire surface of the member 53 made of a shape memory alloy as in the illustrated example, the resistance value of the movable contact 52 becomes small, and a protection element having a smaller internal resistance can be obtained.

【0051】[0051]

【実施態様7】次に、本発明の請求項14に対応する第
7実施態様の保護素子Gについて説明する。この第7実
施態様の保護素子Gは、可動接点の他方の導体との接触
面積を増大したものである。図8は本発明の第7実施態
様の保護素子Gの断面図を示す。図8において、61は
矩形状または円形状の一方の導体となる金属ベースで、
その一部に形状記憶合金からなる可動接点62の一端部
が溶接等により接続固定されている。可動接点62はそ
の中途部で2回折り曲げられている。63は金属ベース
61の周縁部に設けられたリング状または枠状の絶縁部
材で、この絶縁部材63を介して他方の導体である金属
キャップ64が固着封止されている。そして、前記可動
接点62の他端部は、金属キャップ64の内面に面接触
状態で接触している。
[Embodiment 7] Next, a protection element G according to a seventh embodiment of the present invention will be described. The protection element G according to the seventh embodiment has an increased contact area between the movable contact and the other conductor. FIG. 8 is a sectional view of a protection element G according to a seventh embodiment of the present invention. In FIG. 8, reference numeral 61 denotes a metal base serving as one of a rectangular or circular conductor,
One end of a movable contact 62 made of a shape memory alloy is connected and fixed to a part thereof by welding or the like. The movable contact 62 is bent twice in the middle. Reference numeral 63 denotes a ring-shaped or frame-shaped insulating member provided on a peripheral portion of the metal base 61, and a metal cap 64 serving as the other conductor is fixedly sealed via the insulating member 63. The other end of the movable contact 62 is in surface contact with the inner surface of the metal cap 64.

【0052】この第7実施態様の保護素子Gは、可動接
点62が他方の導体である金属キャップ64に面接触状
態で接触しているので、接触面積が増大して接触抵抗が
小さくなり、内部抵抗が小さい保護素子が得られるとい
う特長がある。
In the protection element G according to the seventh embodiment, since the movable contact 62 is in surface contact with the metal cap 64 as the other conductor, the contact area increases, the contact resistance decreases, and the internal resistance decreases. The feature is that a protection element having a small resistance can be obtained.

【0053】[0053]

【実施態様7の変形例】図8の第7実施態様の保護素子
Gの変形例として、可動接点62の形状を、その中途部
でS字状に折り曲げて、可動接点62の他端部が他方の
導体である金属キャップ64に面接触状態で接触するよ
うにしてもよい。また、可動接点の形状はそのままにし
て、金属キャップ64の天板部の下面形状を可動接点の
形状に合致する形状にして、接触面積を増大するように
してもよい。
Modification of Embodiment 7 As a modification of the protection element G of the seventh embodiment of FIG. 8, the shape of the movable contact 62 is bent into an S-shape in the middle thereof so that the other end of the movable contact 62 is You may make it contact the metal cap 64 which is the other conductor in a surface contact state. Alternatively, the shape of the movable contact may be kept as it is, and the shape of the lower surface of the top plate portion of the metal cap 64 may be made to match the shape of the movable contact to increase the contact area.

【0054】[0054]

【実施態様8】次に、本発明の請求項16に対応する第
8実施態様の保護素子Hについて説明する。この第8実
施態様の保護素子Hは、PTC素子を一体に組み込んだ
ものである。図9は本発明の第8実施態様の保護素子H
の断面図を示す。図9において、71は矩形状または円
形等のPTC素子で、その表面の一部に導体72が形成
されており、この導体72の上に板状の形状記憶合金か
らなる可動接点73の一端部が接続固定されている。P
TC素子71の周縁部分には、絶縁部材74を介して他
方の導体である金属キャップ75が固着封止されてい
る。前記可動接点73の他端部は、この金属キャップ7
5の内面に押圧接触している。
[Embodiment 8] Next, a protection element H according to an eighth embodiment of the present invention will be described. The protection element H according to the eighth embodiment has a PTC element integrated therein. FIG. 9 shows a protection element H according to an eighth embodiment of the present invention.
FIG. In FIG. 9, reference numeral 71 denotes a PTC element having a rectangular shape or a circular shape, and a conductor 72 is formed on a part of the surface thereof. One end of a movable contact 73 made of a plate-shaped shape memory alloy is formed on the conductor 72. Is fixedly connected. P
A metal cap 75, which is the other conductor, is fixedly sealed to the periphery of the TC element 71 via an insulating member 74. The other end of the movable contact 73 is
5 is in press contact with the inner surface.

【0055】この第8実施態様の保護素子Hは、PTC
素子71と金属キャップ75とを電子機器に直列接続す
るとともに、PTC素子71を電子機器の異常時に温度
が上昇する個所に設置しておく。すると、PTC素子7
1−可動接点73−金属キャップ75の経路で電子機器
に通電できる。
The protection element H of the eighth embodiment is a PTC
The element 71 and the metal cap 75 are connected in series to the electronic device, and the PTC element 71 is installed at a location where the temperature rises when the electronic device is abnormal. Then, the PTC element 7
The electronic device can be energized through the path of 1-movable contact 73-metal cap 75.

【0056】電子機器の異常等によって、電子機器に過
電流が流れた場合には、PTC素子71がその抵抗値を
増大し電流値を抑制して保護する。また、電子機器の異
常等によって、電子機器の温度が過昇した場合には、可
動接点63が記憶している平板状の形状に復帰するた
め、可動接点73の他端部が金属キャップ75から離隔
して、通電電流を遮断するため、電子機器のそれ以上の
温度過昇が防止され、電子機器の発火に起因する火災も
未然に防止される。
When an overcurrent flows through the electronic device due to an abnormality of the electronic device, the PTC element 71 increases its resistance value to suppress and protect the current value. In addition, when the temperature of the electronic device is excessively increased due to an abnormality of the electronic device, the movable contact 63 returns to the flat plate shape stored therein. Since the separation is performed and the current is cut off, the temperature of the electronic device is prevented from further rising excessively, and a fire caused by ignition of the electronic device is also prevented.

【0057】[0057]

【実施態様9】次に、本発明の請求項17および18に
対応する第9実施態様の保護素子Iについて説明する。
この第9実施態様の保護素子Iは、絶縁基板にスルーホ
ールを形成して導体を導出するとともに、金属キャップ
を圧入により封止したものである。図10は本発明の第
9実施態様の保護素子Iの断面図を示す。図10におい
て、81はアルミナセラミック等の絶縁基板で、後述す
る圧入封止のために、その上端肩部が図示するように面
取りないし曲面化されており、離隔した位置に一対のス
ルーホール82,83が形成されている。これらのスル
ーホール82,83には、導電物質が充填されて導体8
4,85が形成されている。一方の導体84には形状記
憶合金からなる板状の可動接点86の一端部が接続固定
され、他端部は他方の導体85に押圧接触されている。
87は金属キャップで、絶縁基板81に圧入により封止
されている。このため、本実施例における金属キャップ
87は、図4ないし図9における金属キャップ24,3
6,46,56,64,75に比較して、薄肉に形成さ
れている。88は絶縁基板81と金属キャップ87とを
気密に封止するはんだ等の軟金属で、封止に先だって、
予め絶縁基板81の周縁部および金属キャップ87の内
周面のいずれか一方または両方に被着させておき、圧入
に伴って絶縁基板81の外周面と金属キャップ87の内
周面との間の隙間を埋めるものである。
Ninth Embodiment Next, a protection element I according to a ninth embodiment of the present invention will be described.
In the protection element I of the ninth embodiment, a conductor is led out by forming a through hole in an insulating substrate, and a metal cap is sealed by press fitting. FIG. 10 is a sectional view of a protection element I according to a ninth embodiment of the present invention. In FIG. 10, reference numeral 81 denotes an insulating substrate made of alumina ceramic or the like, whose upper end shoulder is chamfered or curved as shown in the figure for press-fitting sealing described later, and a pair of through holes 82, 83 are formed. These through holes 82 and 83 are filled with a conductive material and
4,85 are formed. One end of a plate-shaped movable contact 86 made of a shape memory alloy is connected and fixed to one conductor 84, and the other end is pressed against the other conductor 85.
Reference numeral 87 denotes a metal cap which is sealed into the insulating substrate 81 by press fitting. For this reason, the metal cap 87 in the present embodiment is different from the metal caps 24, 3 in FIGS.
6, 46, 56, 64 and 75 are formed thinner. Reference numeral 88 denotes a soft metal such as solder that hermetically seals the insulating substrate 81 and the metal cap 87.
The outer peripheral surface of the insulating substrate 81 and the inner peripheral surface of the metal cap 87 are previously attached to one or both of the peripheral edge of the insulating substrate 81 and the inner peripheral surface of the metal cap 87. It fills the gap.

【0058】このように、絶縁基板81にスルーホール
82,83を形成し、スルーホール82,83に導電物
質を充填して導体84,85を形成すると、リードが不
要で表面実装が可能になる。なお、上記実施態様では、
スルーホール82,83に導電物質を充填して導体8
4,85を形成する場合について説明したが、金属また
は合金製の導電体により、または金属または合金製の導
電体と導電物質とを併用することにより導体を形成して
もよい。また、上記実施態様のように、金属キャップ8
7を絶縁基板81に圧入により固着封止すると、封止時
に加熱を伴わないので、封止が容易であるのみならず、
可動接点86に熱歪が残留することがない。
As described above, when the through holes 82 and 83 are formed in the insulating substrate 81 and the conductors 84 and 85 are formed by filling the through holes 82 and 83 with a conductive material, surface mounting becomes possible without the need for leads. . In the above embodiment,
Filling the through holes 82 and 83 with a conductive material
Although the case of forming 4,85 has been described, the conductor may be formed by a conductor made of a metal or an alloy, or by using a conductor made of a metal or an alloy and a conductive material in combination. Also, as in the above embodiment, the metal cap 8
When sealing is performed by press-fitting the insulating film 7 into the insulating substrate 81, no heating is required at the time of sealing, so that not only sealing is easy but also
No thermal strain remains on the movable contact 86.

【0059】[0059]

【実施態様9の変形例1】上記実施態様では、可動接点
86が記憶形状に復帰した場合に、単に可動接点86の
他端部が他方の導体85から離隔する場合について説明
したが、可動接点86の他端部が他方の導体85から離
隔後に金属キャップ87に押圧接触するようにしてもよ
い。このようにすれば、常温時は導体84,85間が導
通し、可動接点86が記憶形状に復帰後は導体84と金
属キャップ87との間で導通するようになり、所謂ブレ
ーク接点とメーク接点とを有する3端子構造の保護素子
が得られる。
Modified Example 1 of Embodiment 9 In the above embodiment, the case where the other end of the movable contact 86 is simply separated from the other conductor 85 when the movable contact 86 returns to the memorized shape has been described. The other end of 86 may be in pressure contact with the metal cap 87 after being separated from the other conductor 85. By doing so, the conductors 84 and 85 conduct at normal temperature, and after the movable contact 86 returns to the memory shape, the conductor 84 and the metal cap 87 conduct, so-called break contacts and make contacts Is obtained.

【0060】[0060]

【実施態様9の変形例2】上記実施態様では、絶縁基板
81に一対のスルーホール82,83を形成し、スルー
ホール82,83に導電物質を充填して一対の導体8
4,85を形成する場合について説明したが、一方のス
ルーホール82のみを形成し、スルーホール82に導電
物質を充填して導体84のみを形成するようにしてもよ
い。このようにすれば、上記と同様にリードが不要で表
面実装が可能であるとともに、常温時は導体84と金属
キャップ87間が非導通状態であり、可動接点86の記
憶形状への復帰によりその他端部が金属キャップ87に
押圧接触して、導体84と金属キャップ87間が導通状
態になる,所謂メーク接点を有する保護素子が得られ
る。。
Modification 2 of Embodiment 9 In the above embodiment, a pair of through holes 82 and 83 are formed in an insulating substrate 81, and a conductive material is filled in the through holes 82 and 83 to form a pair of conductors 8 and 8.
Although the case where 4, 85 are formed has been described, only one of the through holes 82 may be formed, and only the conductor 84 may be formed by filling the through hole 82 with a conductive material. In this way, the lead is unnecessary and surface mounting is possible, and the conductor 84 and the metal cap 87 are in a non-conductive state at normal temperature, and the movable contact 86 returns to the memorized shape at normal temperature. The protection element having a so-called make contact, in which the end portion is brought into press contact with the metal cap 87 and the conductor 84 and the metal cap 87 are brought into a conductive state, is obtained. .

【0061】[0061]

【実施態様9の変形例3】上記実施態様9の変形例2で
は、可動接点86が常温時に平板状で記憶形状への復帰
によって湾曲する場合について説明したが、可動接点8
6が常温時に湾曲状でその他端部が金属キャップ87に
押圧接触しており、記憶形状への復帰により平板状にな
るようにしてもよい。その場合は、所謂ブレーク接点を
有する保護素子が得られる。
Third Modification of the Ninth Embodiment In the second modification of the ninth embodiment, a case has been described where the movable contact 86 is flat at room temperature and is curved by returning to the memorized shape.
6 may be curved at normal temperature and the other end thereof may be in press contact with the metal cap 87, and may be flattened by returning to the memory shape. In that case, a protection element having a so-called break contact is obtained.

【0062】なお、上記実施態様9およびその変形例1
ないし3のスルーホールを設けてこのスルーホールを介
して導体を導出する構造は、金属ベースを用いる場合に
採用することができる。もちろん、金属ベースを用いる
場合は、一方の導体は金属ベースが兼ねるので不要であ
り、また、他方の導体は当然金属ベースのスルーホール
にガラス,樹脂等の絶縁物を介して導出する必要があ
る。
The ninth embodiment and its modification 1
The structure in which the through hole is provided and the conductor is led out through the through hole can be adopted when a metal base is used. Of course, when a metal base is used, one of the conductors is also unnecessary because it also serves as the metal base, and the other conductor must of course be led out to the through hole of the metal base through an insulator such as glass or resin. .

【0063】なお、本発明の上記各実施態様は、特定の
構造のものについて説明したが、本発明は上記実施例に
示した構造に限定されるものではなく、本発明の精神を
逸脱しない範囲で、各種の変形が可能であることはいう
までもない。
Although each of the above embodiments of the present invention has been described with reference to a specific structure, the present invention is not limited to the structure shown in the above embodiment, and does not depart from the spirit of the present invention. It goes without saying that various modifications are possible.

【0064】例えば、図1、図3に示す第1,第2実施
態様の保護素子A、Bにおいて、導体2,3および1
2,13にリード4,5および14,15を接続しない
で、図5に示す第4実施態様の保護素子Dと同様に、導
体2,3および12,13を絶縁基板1,11の端面を
通って裏面まで延長して形成して、表面実装型にするこ
とができる。
For example, in the protection elements A and B of the first and second embodiments shown in FIGS. 1 and 3, the conductors 2, 3 and 1
Without connecting the leads 4, 5 and 14, 15 to the conductors 2, 13, the conductors 2, 3 and 12, 13 are connected to the end faces of the insulating substrates 1, 11 similarly to the protection element D of the fourth embodiment shown in FIG. It can be extended to the rear surface to form a surface mount type.

【0065】また、図7の第6実施態様の保護素子Fに
示す、可動接点52の少なくとも他方の導体と接触する
他端部または全体に、Au,Ag,Pd,Pt等の貴金
属層やCu,Ni等の金属またはこれらを主成分とする
合金や、これらを主成分とするAg−CdO,Ag−C
uO等の複合材料や、はんだ層よりなる低抵抗層54を
形成する構成は、図1ないし図6に示す保護素子A〜E
および図8から図10に示す保護素子G〜Iで採用する
ことができる。
Further, at least the other end of the movable contact 52, which is in contact with the other conductor, or the entirety of the noble metal layer such as Au, Ag, Pd, Pt or the like shown in the protection element F of the sixth embodiment of FIG. , Ni, etc. or alloys containing these as main components, Ag-CdO, Ag-C
The structure in which the composite material such as uO or the low resistance layer 54 made of a solder layer is formed is described in the protective elements A to E shown in FIGS.
And the protection elements G to I shown in FIGS. 8 to 10.

【0066】さらに、図8の第7実施態様の保護素子G
に示す面接触状態の可動接点62の構成は、図1〜図7
の実施態様の保護素子A〜Fおよび図9〜図10の実施
態様の保護素子H〜Iにおいて採用してもよい。
Further, the protection element G according to the seventh embodiment shown in FIG.
The configuration of the movable contact 62 in the surface contact state shown in FIG.
May be adopted in the protection elements A to F of the embodiment and the protection elements H to I of the embodiment of FIGS.

【0067】さらにまた、図9の第8実施態様の保護素
子HにおけるPTC素子71は、図1ないし図8に示す
第1ないし第7実施態様の保護素子A〜Gおよび図10
に示す第9実施態様の保護素子Iにおいて採用すること
もできる。
Further, the PTC element 71 in the protection element H of the eighth embodiment shown in FIG. 9 is different from the protection elements A to G of the first to seventh embodiments shown in FIGS.
The protection element I of the ninth embodiment shown in FIG.

【0068】さらにまた、一対の導体を形成した絶縁基
板と、金属ベースとは、相互に入れ替えてもよい。
Furthermore, the insulating substrate on which the pair of conductors are formed and the metal base may be interchanged.

【0069】[0069]

【発明の効果】本発明は以上のように、一対の導体と、
前記一方の導体に一端部が接続固定され前記他方の導体
に他端部が押圧接触させられた板状の形状記憶合金から
なる可動接点とを有し、前記可動接点がキャップによっ
て封止されていることを特徴とする保護素子であるか
ら、部品点数が少なく小型で、かつ偏平状で低背化さ
れ、しかも底面が平面のため熱応答性に優れた保護素子
が得られる。
According to the present invention, as described above, a pair of conductors,
A movable contact made of a plate-shaped shape memory alloy having one end connected and fixed to the one conductor and the other end pressed against the other conductor; and the movable contact is sealed by a cap. Since the protective element is characterized in that it has a small number of components, it is small, flat and low-profile, and the bottom surface is flat, so that a protective element with excellent thermal response can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の第1実施態様の保護素子Aの断面図FIG. 1 is a sectional view of a protection element A according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 本発明の第1実施態様の保護素子Aの動作後
の断面図
FIG. 2 is a cross-sectional view of the protection element A according to the first embodiment of the present invention after operation.

【図3】 本発明の第2実施態様の保護素子Bの断面図FIG. 3 is a sectional view of a protection element B according to a second embodiment of the present invention.

【図4】 本発明の第3実施態様の保護素子Cの断面図FIG. 4 is a sectional view of a protection element C according to a third embodiment of the present invention.

【図5】 本発明の第4実施態様の保護素子Dの断面図FIG. 5 is a sectional view of a protection element D according to a fourth embodiment of the present invention.

【図6】 本発明の第5実施態様の保護素子Eの断面図FIG. 6 is a sectional view of a protection element E according to a fifth embodiment of the present invention.

【図7】 本発明の第6実施態様の保護素子Fの断面図FIG. 7 is a sectional view of a protection element F according to a sixth embodiment of the present invention.

【図8】 本発明の第7実施態様の保護素子Gの断面図FIG. 8 is a sectional view of a protection element G according to a seventh embodiment of the present invention.

【図9】 本発明の第8実施態様の保護素子Hの断面図FIG. 9 is a sectional view of a protection element H according to an eighth embodiment of the present invention.

【図10】 本発明の第9実施態様の保護素子Iの断面
FIG. 10 is a sectional view of a protection element I according to a ninth embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

A、B、C、D、E、F、G、H、I 保護素子 1、11、31、81 絶縁基板 2、3、12、13、32、33、84、85 導体 4、5、14、15 リード 6、16、22、34、42、52、62、73、86
可動接点 7、17 絶縁キャップ 8、18 封止樹脂 19 バイアス用の板ばね 21、41、51、61 一方の導体(金属ベース) 23、35、45、55、63、74 絶縁部材 24、36、46、56、64、75 他方の導体(金
属キャップ) 25 低融点合金 43、53 形状記憶合金からなる部材 44 形状記憶合金とは異なる材料からなる部材 54 低抵抗層 71 PTC素子 82、83 スルーホール 87 他方の導体(金属キャップ)(圧入封止用)
A, B, C, D, E, F, G, H, I Protection element 1, 11, 31, 81 Insulating substrate 2, 3, 12, 13, 32, 33, 84, 85 Conductor 4, 5, 14, 15 Leads 6, 16, 22, 34, 42, 52, 62, 73, 86
Movable contacts 7, 17 Insulating cap 8, 18 Sealing resin 19 Leaf spring for bias 21, 41, 51, 61 One conductor (metal base) 23, 35, 45, 55, 63, 74 Insulating members 24, 36, 46, 56, 64, 75 The other conductor (metal cap) 25 Low melting point alloy 43, 53 Member made of shape memory alloy 44 Member made of material different from shape memory alloy 54 Low resistance layer 71 PTC element 82, 83 Through hole 87 The other conductor (metal cap) (for press-fit sealing)

フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01H 37/52 H01H 37/52 F G 37/76 37/76 D Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat II (reference) H01H 37/52 H01H 37/52 FG 37/76 37/76 D

Claims (18)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】一対の導体と、前記一方の導体に一端部が
接続固定され前記他方の導体に他端部が押圧接触させら
れた板状の形状記憶合金からなる可動接点とを有し、前
記可動接点がキャップによって封止されていることを特
徴とする保護素子。
A pair of conductors, and a movable contact made of a plate-shaped shape memory alloy having one end connected and fixed to said one conductor and the other end pressed against said other conductor, A protective element, wherein the movable contact is sealed by a cap.
【請求項2】絶縁基板に離隔して形成した一対の導体
と、前記一方の導体に一端部が接続固定され前記他方の
導体に他端部が押圧接触させられた板状の形状記憶合金
からなる可動接点と、前記絶縁基板に固着封止されてい
るキャップとを有することを特徴とする保護素子。
2. A pair of conductors formed apart from each other on an insulating substrate, and a plate-shaped shape memory alloy having one end connected and fixed to said one conductor and the other end pressed against said other conductor. A movable contact and a cap fixedly sealed to the insulating substrate.
【請求項3】前記可動接点の他端部にバイアス用の板ば
ねを取り付けて、周囲温度が形状記憶合金の記憶形状へ
の復帰温度よりも降下することによって前記可動接点の
他端部が再度他方の導体に押圧接触するように付勢した
ことを特徴とする請求項1または2のいずれかに記載の
保護素子。
3. The other end of the movable contact is provided with a leaf spring for biasing, and the other end of the movable contact is re-established when the ambient temperature falls below the temperature at which the shape memory alloy returns to the memory shape. The protection element according to claim 1, wherein the protection element is urged to press and contact the other conductor.
【請求項4】一方の導体となる金属ベースと、前記金属
ベースに一端部を接続固定された板状の形状記憶合金か
らなる可動接点と、金属ベースの周縁部分上に絶縁部材
を介在して固着封止された他方の導体となる金属キャッ
プとを有し、前記可動接点の他端部を前記金属キャップ
に押圧接触させたことを特徴とする保護素子。
4. A metal base serving as one conductor, a movable contact made of a plate-shaped shape memory alloy having one end connected and fixed to the metal base, and an insulating member interposed on a peripheral portion of the metal base. And a metal cap serving as the other conductor fixed and sealed, wherein the other end of the movable contact is pressed against the metal cap.
【請求項5】前記可動接点の他端部を、他方の導体とな
る金属キャップに低融点合金で接続固定したことを特徴
とする請求項4に記載の保護素子。
5. The protection element according to claim 4, wherein the other end of the movable contact is connected and fixed to a metal cap serving as the other conductor with a low melting point alloy.
【請求項6】形状記憶合金からなる可動接点の復帰後の
形状と、その後の室温形状とを異ならせたことを特徴と
する保護素子。
6. A protection element characterized in that the shape of a movable contact made of a shape memory alloy after return is different from the shape at room temperature thereafter.
【請求項7】前記可動接点が、記憶形状への復帰温度で
記憶形状に復帰し、それよりも低い温度では永久変形ひ
ずみにより前記他方の導体に押圧接触する位置まで戻る
ことを特徴とする請求項6に記載の保護素子。
7. The movable contact returns to the memorized shape at a temperature for returning to the memorized shape, and returns to a position where the movable contact comes into pressure contact with the other conductor due to permanent deformation strain at a lower temperature. Item 7. The protection element according to Item 6.
【請求項8】前記可動接点が、形状記憶合金からなる部
材にそれよりも低抵抗の他の部材を結合したものである
ことを特徴とする請求項1ないし7のいずれかに記載の
保護素子。
8. The protection element according to claim 1, wherein the movable contact is formed by joining a member made of a shape memory alloy with another member having a lower resistance than the member. .
【請求項9】前記可動接点が、形状記憶合金からなる部
材にそれとは熱膨張係数が異なる他の部材を結合したも
のであることを特徴とする請求項1ないし7に記載の保
護素子。
9. The protection element according to claim 1, wherein the movable contact is formed by joining a member made of a shape memory alloy to another member having a different coefficient of thermal expansion from the member.
【請求項10】前記形状記憶合金からなる部材と他の部
材とが、はんだ付け,導電性ペースト,抵抗溶接,プラ
ズマ溶接,超音波溶接,かしめ,塗付の中から選択され
たいずれかによって結合されていることを特徴とする請
求項8または9に記載の保護素子。
10. The member made of the shape memory alloy and another member are joined by any one selected from soldering, conductive paste, resistance welding, plasma welding, ultrasonic welding, caulking, and painting. The protection element according to claim 8, wherein the protection element is provided.
【請求項11】前記可動接点が、その少なくとも他の導
体との接触部に、可動接点よりも低抵抗層を有すること
を特徴とする請求項1ないし10のいずれかに記載の保
護素子。
11. The protection element according to claim 1, wherein said movable contact has a lower resistance layer than a movable contact at at least a contact portion with another conductor.
【請求項12】前記低抵抗層が、Au,Ag,Pd,P
t,Cu,Niの群から選択されたいずれかの金属,そ
れらを主成分とする合金,またはそれらを主成分とする
Ag−CdO,Ag−CuOの複合材のいずれか,また
ははんだ材により形成されていることを特徴とする請求
項11に記載の保護素子。
12. The low-resistance layer is made of Au, Ag, Pd, P
Formed from any metal selected from the group consisting of t, Cu, and Ni, an alloy containing them as a main component, or a Ag-CdO or Ag-CuO composite material containing them as a main component, or a solder material The protection element according to claim 11, wherein the protection element is provided.
【請求項13】前記低抵抗層が、めっき,蒸着,スパッ
タリングのいずれかにより形成されていることを特徴と
する請求項12に記載の保護素子。
13. The protection device according to claim 12, wherein the low resistance layer is formed by any one of plating, vapor deposition, and sputtering.
【請求項14】前記可動接点の他端部が、他の導体と面
接触状態となっていることを特徴とする請求項1ないし
13のいずれかに記載の保護素子。
14. The protection element according to claim 1, wherein the other end of said movable contact is in surface contact with another conductor.
【請求項15】前記可動接点が、周囲温度の過昇または
過電流のいずれか一方または両方で動作することを特徴
とする請求項1ないし14のいずれかに記載の保護素
子。
15. The protection element according to claim 1, wherein the movable contact operates at one or both of an excessive rise in ambient temperature and an overcurrent.
【請求項16】板状のPTC素子と、このPTC素子に
一端部が接続固定された板状の形状記憶合金からなる可
動接点と、前記PTC素子の周縁部分に絶縁部材を介在
して固着封止された金属キャップとを有し、前記可動接
点の他端部が前記金属キャップに押圧接触または低融点
合金で接続されていることを特徴とする保護素子。
16. A PTC element having a plate shape, a movable contact made of a plate-shaped shape memory alloy having one end connected to and fixed to the PTC element, and a sealing member interposed by an insulating member at a peripheral portion of the PTC element. And a metal cap stopped, wherein the other end of the movable contact is connected to the metal cap by pressing contact or a low melting point alloy.
【請求項17】絶縁基板に少なくとも一つのスルーホー
ルを形成し、このスルーホールを介して導出された導体
と、前記導体に一端部が接続固定され他方の導体に他端
部が押圧接触させられた板状の形状記憶合金からなる可
動接点と、前記絶縁基板に封止されたキャップとを有す
ることを特徴とする保護素子。
17. At least one through hole is formed in an insulating substrate, one end is connected and fixed to the conductor led through the through hole, and the other end is pressed into contact with the other conductor. A protective element comprising: a movable contact made of a plate-shaped shape memory alloy; and a cap sealed with the insulating substrate.
【請求項18】前記金属キャップが、前記絶縁基板また
は金属ベースに圧入により封止されていることを特徴と
する請求項1ないし17のいずれかに記載の保護素子。
18. A protection element according to claim 1, wherein said metal cap is sealed by press-fitting into said insulating substrate or metal base.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008545971A (en) * 2005-06-02 2008-12-18 リッテルフューズ,インコーポレイティド Overheat protection devices, applications and circuits
JP2017147029A (en) * 2016-02-15 2017-08-24 大塚テクノ株式会社 Breaker, manufacturing method of the breaker, and manufacturing method of battery pack with the breaker

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