JP2002050656A - Apparatus and method of mounting electronic component element - Google Patents

Apparatus and method of mounting electronic component element

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JP2002050656A
JP2002050656A JP2000231935A JP2000231935A JP2002050656A JP 2002050656 A JP2002050656 A JP 2002050656A JP 2000231935 A JP2000231935 A JP 2000231935A JP 2000231935 A JP2000231935 A JP 2000231935A JP 2002050656 A JP2002050656 A JP 2002050656A
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component element
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mounting
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Masaru Yamano
勝 山野
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus and a method of mounting electronic component elements, which suppresses deposition of the oxides of silicon, iron, etc., on the top end of a tool and thereby stably bonding by the ultrasonic welding for a long time. SOLUTION: The mounting apparatus has a tool for vacuum chucking electronic component elements 1 and feeding each element 1 with ultrasonic thermocompression bonding. A hard oxidation-resistive member 60 is disposed on the top end face of the tool 41 for vacuuming the electronic component elements 1 and the atmosphere during bonding uses an inert gas atmosphere.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、突出電極を形成し
てなる電子部品素子を超音波熱圧着融着により、配線基
板に接合する電子部品素子実装装置及びその実装方法に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic component mounting apparatus for bonding an electronic component formed with a protruding electrode to a wiring board by ultrasonic thermocompression bonding and a mounting method thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、突出電極を有するICチップ
などの電子部品素子を高密度に配線基板に実装する方法
としてして、フリップチップ実装方法(電子部品素子実
装方法)が盛んに使用されている。一般的な例として、
このフリップチップ実装方法がある。これは、突出電極
とパッド電極とを当接させ、加熱しながら、荷重及び超
音波振動を与えて接合する方法である。
2. Description of the Related Art A flip-chip mounting method (electronic component element mounting method) has been widely used as a method for mounting electronic component elements such as IC chips having projecting electrodes on a wiring board at high density. I have. As a common example,
There is a flip chip mounting method. This is a method in which a protruding electrode and a pad electrode are brought into contact with each other, and are joined by applying a load and ultrasonic vibration while heating.

【0003】この突出電極は、金属ワイヤーを用いたボ
ールボンディング方法を用いて形成されることが一般的
である。例えば、この金属ワイヤーを用いたボールボン
ディング方法による突出電極は、キャピラリーの先端か
ら突出する部分をトーチなどで溶融したボールを、電子
部品素子の実装面に形成された入出力パッドに接合し、
次に、ワイヤーを上方に延伸させることにより形成して
いた。
[0005] The protruding electrodes are generally formed by a ball bonding method using a metal wire. For example, a protruding electrode formed by a ball bonding method using a metal wire joins a ball formed by melting a portion protruding from the tip of a capillary with a torch or the like to an input / output pad formed on a mounting surface of an electronic component element.
Next, it was formed by extending the wire upward.

【0004】これにより突出電極は、電子部品素子の入
出力パッド側から、ワイヤー先端の溶融及び押圧により
形成される形成されるバンプ台座部と、該台座部上でワ
イヤーキャピラリーの先端形状で規制されて形成される
チャンファ部と、該チャンファ部上にワイヤーの延伸に
より形成される尖塔部とから構成されている。尚、突出
電極の材料として、Au、Cu、Ag等を用いることが
できる。
Thus, the protruding electrode is regulated from the input / output pad side of the electronic component element by the bump pedestal formed by melting and pressing the tip of the wire and the tip of the wire capillary on the pedestal. And a spire formed by drawing a wire on the chamfer. Note that Au, Cu, Ag, or the like can be used as a material for the protruding electrode.

【0005】また、実装装置は、電子部品素子の上面
(実装面と反対側の面)を吸着保持し、且つ電子部品素
子に超音波熱圧着を供給できるツール(ホーン)を有
し、さらに、配線基板を保持するワーク固定台から構成
され、ツール側及びワーク固定台側ともに、X−Y方向
の制御(平面制御)、Z軸方向の制御(高さ制御)の位
置決めが可能となっている。
Further, the mounting apparatus has a tool (horn) that sucks and holds the upper surface (the surface opposite to the mounting surface) of the electronic component element and can supply ultrasonic thermocompression bonding to the electronic component element. It is composed of a work fixing table that holds the wiring board, and both the tool side and the work fixing table side can perform positioning in XY direction control (plane control) and Z axis direction control (height control). .

【0006】また、特開平11−74315や特開平1
1−135574で例示されるようにツール(ホーン)
部分は、タングステンカーバイトやSUSで作製された
平コレット状や角錐異コレット状が使われていた。
[0006] Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-74315 and
Tool (horn) as exemplified in 1-135574
For the portion, a flat collet shape or a pyramid different collet shape made of tungsten carbide or SUS was used.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のフリッ
プチップ実装用ツールおよびフリップチップ実装装置に
おいて、電子部品素子と配線基板との間の接合を行った
場合、その接合の進行度合いによって、電子部品素子と
配線基板との接合強度が徐々に増していく。その結果、
接合の初期状態においては、電子部品素子と配線基板と
の接合部分に集中した超音波熱圧着が、接合の終了時期
においては、ツールと電子部品素子との吸着部分に集中
することになる。即ち、この部分で摩擦熱や超音波熱圧
着すべりが発生して、ツール及び電子部品素子で反応が
促進される。その結果、ツールの先端面にツール自身の
材料の酸化物が生成されることになる。例えば、ツール
の材料にSUS303を用いていた場合、SUSの鉄成
分の酸化物が付着してしまう。
However, in the conventional flip-chip mounting tool and flip-chip mounting apparatus, when the bonding between the electronic component element and the wiring board is performed, the electronic component depends on the degree of progress of the bonding. The bonding strength between the element and the wiring board gradually increases. as a result,
In the initial state of the joining, the ultrasonic thermocompression bonding concentrated on the joining portion between the electronic component element and the wiring board is concentrated on the adsorption portion between the tool and the electronic component element at the end of joining. That is, frictional heat or ultrasonic thermocompression slip occurs in this portion, and the reaction is promoted in the tool and the electronic component element. As a result, an oxide of the material of the tool itself is generated on the tip surface of the tool. For example, when SUS303 is used as the material of the tool, an oxide of the iron component of SUS adheres.

【0008】ツールに付着・堆積した鉄酸化物は、次の
電子部品素子の吸着において、その電子部品素子の表面
の一部にクラックを発生させたり、また、ツールと電子
部品素子との吸着性の低下を発生させるという問題があ
った。
[0008] The iron oxide deposited and deposited on the tool causes cracks on a part of the surface of the electronic component element in the next adsorption of the electronic component element, and also causes the adsorption between the tool and the electronic component element. There is a problem of causing a decrease in the image quality.

【0009】また、電子部品素子が例えはICチップな
どのシリコンで形成されている場合、ツールの先端面に
酸化シリコンの付着物が析出される。これは超音波振動
などの影響により、ツールとICチップの表面との間で
超音波振動等の影響によりシリコンが活性されてるため
と考えられる。
Further, when the electronic component element is formed of, for example, silicon such as an IC chip, deposits of silicon oxide are deposited on the tip surface of the tool. This is presumably because silicon is activated between the tool and the surface of the IC chip under the influence of ultrasonic vibration and the like due to the influence of ultrasonic vibration and the like.

【0010】本発明は上述の問題点に鑑みて案出された
ものであり、その目的は、ツールの先端部分に、鉄やシ
リコンなどの酸化物の付着を有効に抑え、もって長期に
わたり、超音波融着が安定に行える電子部品素子実装装
置及び実装方法を提供することにある。
The present invention has been devised in view of the above-mentioned problems, and has as its object to effectively suppress the adhesion of oxides such as iron and silicon to the tip of a tool, and to provide an ultra An object of the present invention is to provide an electronic component device mounting apparatus and a mounting method capable of stably performing sonic fusion.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明のフリップチップ
実装装置にかかる発明は、電子部品素子を吸着保持する
とともに、該電子部品素子に超音波熱圧着を供給するツ
ールを有しており、実装面に突出電極が形成された電子
部品素子を、所定パッド電極が形成された配線基板に超
音波熱圧着により接合する電子部品素子実装装置であ
る。そして、前記電子部品素子を吸着する先端面に、硬
質耐酸化性部材が配されていることを特徴とする電子部
品素子実装装置である。
The flip-chip mounting apparatus of the present invention has a tool for holding an electronic component element by suction and supplying ultrasonic thermocompression bonding to the electronic component element. An electronic component element mounting apparatus for joining an electronic component element having a protruding electrode formed on a surface thereof to a wiring board having a predetermined pad electrode formed thereon by ultrasonic thermocompression bonding. The electronic component element mounting apparatus is characterized in that a hard oxidation-resistant member is disposed on a tip end surface for adsorbing the electronic component element.

【0012】また、前記硬質耐酸化性部材は、サファイ
ヤ、人工ダイヤ、アルミナチタンカーバイド、ジルコニ
ア、ダイヤモンドライクカーボンのいずれか1つの材料
から成っている。
The hard oxidation-resistant member is made of any one of sapphire, artificial diamond, alumina titanium carbide, zirconia, and diamond-like carbon.

【0013】また、前記硬質耐酸化性部材は、ツールの
電子部品素子を吸着する先端面に溶射法、マグネトロン
スパッタ法、プラズマCVD法のいずれか1つの薄膜技
法により形成されている。
Further, the hard oxidation-resistant member is formed on the tip end surface of the tool for adsorbing the electronic component element by one of a thin film technique of a thermal spraying method, a magnetron sputtering method, and a plasma CVD method.

【0014】また、前記硬質耐酸化性部材は、サファイ
ヤ、人工ダイヤ、アルミナチタンカーバイド、ジルコニ
アのいずれか1つの材料をスライスした薄板をツールの
電子部品素子を吸着する先端面に接着して成っている。
Further, the hard oxidation-resistant member is formed by bonding a thin plate obtained by slicing any one material of sapphire, artificial diamond, alumina titanium carbide, and zirconia to a tip end surface of a tool for adsorbing electronic component elements. I have.

【0015】また、電子部品素子を吸着保持するととも
に、該電子部品素子に超音波熱圧着を供給するツールを
有する電子部品素子の実装装置を用いて、実装面に突出
電極が形成された電子部品素子を、所定パッド電極が形
成された配線基板に超音波熱圧着より接合する電子部品
素子実装方法において、前記超音波熱圧着による接合
を、不活性ガス雰囲気中で行うことを特徴とする電子部
品素子の実装方法である。
An electronic component having a protruding electrode formed on a mounting surface by using an electronic component device mounting apparatus having a tool for sucking and holding the electronic component element and supplying ultrasonic thermocompression bonding to the electronic component element. An electronic component mounting method for bonding an element to a wiring board on which a predetermined pad electrode is formed by ultrasonic thermocompression bonding, wherein the bonding by ultrasonic thermocompression is performed in an inert gas atmosphere. This is a method for mounting the element.

【0016】この超音波熱圧着時の不活性ガス雰囲気
を、少なくとも電子部品素子とツールとの吸着部分に不
活性ガスの噴射により形成する。
An inert gas atmosphere at the time of the ultrasonic thermocompression bonding is formed by injecting an inert gas into at least a suction portion between the electronic component element and the tool.

【0017】さらに、前記不活性ガスは、ヘリウムガ
ス、アルゴンガス、窒素ガスの少なくとも1種類のガス
を用いる。
Further, as the inert gas, at least one of helium gas, argon gas and nitrogen gas is used.

【作用】本発明では、超音波融着の過程または長期的な
使用によって生じるツールの先端面のシリコン、鉄など
の金属酸化物の付着を有効に抑えるものである。
According to the present invention, adhesion of metal oxides such as silicon and iron on the tip surface of the tool caused by the ultrasonic fusion process or long-term use is effectively suppressed.

【0018】第1の発明は電子部品素子の実装装置であ
り、ツールの先端面、即ち、電子部品素子を吸着する面
には、硬質であり、且つ耐酸化性を有する部材が配置さ
れている。例えば、その硬質耐酸化性部材とは、サファ
イヤ、人工ダイヤ、アルミナチタンカーバイド、ジルコ
ニア、タイヤモンドライクカーボーンのいずれか1つの
材料である。これにより、例えば鉄などを含むSUSな
どで形成されたツールを用いて超音波融着を行っても、
ツールの先端面、即ち、電子部品素子を吸着する面は、
常に化学的に安定して、鉄などの酸化物が付着すること
が一切ない。また、シリコンの酸化物の付着を有効に抑
えることができる。
A first aspect of the present invention is a mounting device for an electronic component element, wherein a hard and oxidation-resistant member is disposed on a tip end surface of a tool, that is, a surface for adsorbing the electronic component element. . For example, the hard oxidation-resistant member is any one material of sapphire, artificial diamond, alumina titanium carbide, zirconia, and tire monde carburone. Thereby, for example, even if ultrasonic fusion is performed using a tool formed of SUS or the like containing iron or the like,
The tip surface of the tool, that is, the surface that adsorbs electronic component elements,
It is always chemically stable and does not adhere to oxides such as iron. In addition, the adhesion of silicon oxide can be effectively suppressed.

【0019】これより、ツールの交換などを長期にわた
り行なうことなち、超音波融着によるフリップチップ実
装を安定的に行うことができる。
As a result, it is possible to stably perform flip chip mounting by ultrasonic fusion bonding after exchanging tools for a long period of time.

【0020】また、硬質性を有するため、ツールからの
超音波振動を有効に電子部品素子に伝搬することができ
る。
Further, because of the rigidity, the ultrasonic vibration from the tool can be effectively transmitted to the electronic component element.

【0021】また、耐酸化性部材であるため、超音波融
着の最終工程で、ツールと電子部品素子との吸着界面で
温度が上昇しても、化学的に安定しており、酸化物の生
成を抑制することができる。
Further, since it is an oxidation-resistant member, it is chemically stable even if the temperature rises at the adsorption interface between the tool and the electronic component element in the final step of ultrasonic fusion, and it is chemically stable. Generation can be suppressed.

【0022】尚、硬質耐酸化性部材は、サファイヤ、人
工ダイヤ、アルミナチタンカーバイド、ジルコニアなど
の材料は、スライスして薄板としてツールの先端面に接
着して配置することができる。また、スライスした薄板
以外に、溶射法、マグネトロンスパッタ法、プラズマC
VD法、これらの組み合わせた併用方法により、ツール
の先端面にコーティングして、その硬質耐酸化性部材を
被着形成することができる。
As the hard oxidation-resistant member, a material such as sapphire, artificial diamond, alumina titanium carbide, or zirconia can be sliced and thinly adhered to the tip surface of the tool. In addition to the sliced thin plate, thermal spraying, magnetron sputtering, plasma C
By the VD method or a combination of these methods, the tip surface of the tool can be coated to form the hard oxidation-resistant member.

【0023】また、このフリップチップ実装方法におい
て、上述の手段は、硬質耐酸化性部材を用いているが、
別の手段としては、不活性ガスを用いて、接合作業を不
活性ガス雰囲気中で行う。これにより、酸化部物が生成
されるに必要な酸素の濃度を低下して、酸化物の生成を
抑制している。
In the flip chip mounting method, the above-mentioned means uses a hard oxidation-resistant member.
As another means, the joining operation is performed in an inert gas atmosphere using an inert gas. As a result, the concentration of oxygen necessary to generate an oxidized part is reduced, and the generation of oxide is suppressed.

【0024】尚、不活性ガスは、ヘリウムガス、アルゴ
ンガス、窒素ガスの少なくとも1種類のガスであり、ま
た、このようなガスをツールの先端部付近にノズルを用
いて噴射により吹きつけても構わない。
The inert gas is at least one gas selected from the group consisting of helium gas, argon gas, and nitrogen gas. Even if such a gas is blown near the tip of the tool by using a nozzle, the inert gas is sprayed. I do not care.

【0025】[0025]

【発明の実施の形態】以下、本発明の電子部品素子実装
装置及びその実装方法について説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an electronic component device mounting apparatus and a mounting method thereof according to the present invention will be described.

【0026】図1は、本発明の電子部品素子実装装置及
び実装方法にかかる電子部品素子を配線基板にフリップ
チップ実装した状態の側面図であり、図2は、電子部品
素子に突出電極を形成した状態の側面図である。そし
て、図3は本発明の実装装置の概略図であり、図4は、
ツールの先端部分の拡大図である。尚、以下、電子部品
素子実装装置を、その実装方法からフリップチップ実装
装置として、以下説明する。
FIG. 1 is a side view showing a state in which an electronic component element according to the electronic component element mounting apparatus and the mounting method of the present invention is flip-chip mounted on a wiring board, and FIG. It is a side view of the state which carried out. FIG. 3 is a schematic view of a mounting apparatus of the present invention, and FIG.
It is an enlarged view of the tip part of a tool. Hereinafter, the electronic component mounting apparatus will be described as a flip-chip mounting apparatus based on the mounting method.

【0027】図において、1は電子部品素子、2は配線
基板であり、3は突出電極である。電子部品素子1は、
例えばICチップやSAW素子などが用いられる。そし
て、実装面には、ICチップやSAW素子などの電源供
給、接地接続、信号入出力などを行うための入出力パッ
ド11が形成されている。そして、図2に示すように、
この入出力パッド11上に、突出電極3が形成されてい
る。この突出電極3は、入出力パッド11側から球体が
上下方向に押しつぶされた形状のバンプ台座部3a、キ
ャピラリーの先端形状で規制されて、概略円台形状のチ
ャンファ部3bと、ワイヤーの延伸(引きちぎり)によ
り形成される尖塔部3cとからなっている。
In the figure, 1 is an electronic component element, 2 is a wiring board, and 3 is a protruding electrode. The electronic component element 1
For example, an IC chip or a SAW element is used. On the mounting surface, input / output pads 11 for power supply, ground connection, signal input / output, and the like of IC chips and SAW elements are formed. And as shown in FIG.
The projecting electrode 3 is formed on the input / output pad 11. The protruding electrode 3 is regulated by a bump pedestal portion 3a in which a sphere is crushed vertically from the input / output pad 11 side and a tip end of the capillary, and a substantially circular chamfer portion 3b and a wire extending ( And a spire portion 3c formed by tearing.

【0028】また、配線基板2は、平板状の回路基板や
キャビティー部を有するセラミックパッケージなどが用
いられ、回路基板の表面やキャビティー部の底面には、
電子部品素子1の突起電極3と接合するパッド電極21
が形成されている。
As the wiring board 2, a flat circuit board or a ceramic package having a cavity is used. The surface of the circuit board or the bottom of the cavity is provided on the circuit board.
Pad electrode 21 to be joined to bump electrode 3 of electronic component element 1
Are formed.

【0029】上述の突出電極3は、例えば、Auワイヤ
を用いて、そのボールボンディング方法によって形成さ
れる。具体的には、ワイヤキャピラリーの先端から所定
量のワイヤを延出させて、この突出部分にトーチなどで
加熱し、その先端を溶融させ、ボールを形成する。この
状態で、ボールを電子部品素子1の入出力パッドに押圧
して、ワイヤと電子部品素子1の入出力パッド2とを接
合させる。その後、ワイヤ自身を上方に延伸して引きち
ぎる。これより、突出電極3は、上述したようにバンプ
台座部3a、キャピラリーの先端形状(キャピラリーの
インサイドチャンプア部分)で規制されたチャンファ部
3bと、延伸により形成される尖塔部3cが形成される
ことになる。尚、延伸を、単に上方に引き延ばした場合
には、図2のようにを上方に延びる尖塔部となり、ま
た、上方の延伸に続いて、横方向にせり切りした場合に
は、途中が屈曲した尖塔部となり、さらに、上方の延伸
に続いて、ヘアピン状に下方に延伸させた場合、先端が
U字状となった尖塔部が得られる。さらに、尖塔部の長
さを安定させるため、Pdなどが微量に添加されたAu
ワイヤーを用いることが望ましい。
The above-mentioned protruding electrode 3 is formed by, for example, a ball bonding method using an Au wire. Specifically, a predetermined amount of wire is extended from the tip of the wire capillary, and the protruding portion is heated with a torch or the like, and the tip is melted to form a ball. In this state, the ball is pressed against the input / output pad of the electronic component element 1 to join the wire to the input / output pad 2 of the electronic component element 1. Thereafter, the wire itself is extended upward and torn. Thus, as described above, the protruding electrode 3 includes the bump pedestal portion 3a, the chamfer portion 3b regulated by the tip shape of the capillary (inside champa portion of the capillary), and the spire portion 3c formed by extension. become. In addition, when extending | stretching is simply extended upward, it becomes the spire part which extends upward like FIG. When a spire portion is formed and further extended downward in a hairpin shape following the upward extension, a spire portion having a U-shaped tip is obtained. Furthermore, in order to stabilize the length of the spire section, Au containing a small amount of Pd or the like is added.
It is desirable to use a wire.

【0030】一方、配線基板2のパッド電極は、基板材
料のセラミックの表面に、タングステン(W)やモリブ
デン(Mo)などの下地導体膜が形成され、さらにその
表面にNiメッキ、Auメッキが施されている。
On the other hand, the pad electrode of the wiring board 2 has a base conductor film such as tungsten (W) or molybdenum (Mo) formed on the surface of a ceramic material of the substrate, and the surface thereof is plated with Ni or Au. Have been.

【0031】このような電子部品素子1を配線基板2に
実装するするにあたり、フリップチップ実装装置(詳し
くはボンディング装置)を用いて両者を実装する。
In mounting such an electronic component element 1 on the wiring board 2, both are mounted using a flip-chip mounting apparatus (specifically, a bonding apparatus).

【0032】実装装置は、電子部品素子1の実装面と対
向する上面側を真空吸着するツール41、ツール41を
支持し、且つ所定超音波熱圧着を発生する超音波熱圧着
子42及びトランスジューサ43、ツール41に吸着さ
れた電子部品素子1を所定位置に移動させるとともに、
電子部品素子1に印加する荷重量を制御する制御系を有
している。例えば、図面の左右方向及び図面の紙面奥行
方向を制御するX−Y軸駆動部44、図面の上下方向の
動作を制御するz軸駆動部45、回転軸を中心に動作す
るθ回転駆動部46とを有している。
The mounting apparatus includes a tool 41 for vacuum-sucking the upper surface of the electronic component element 1 opposite to the mounting surface, an ultrasonic thermocompression contactor 42 for supporting the tool 41 and generating a predetermined ultrasonic thermocompression, and a transducer 43. Moving the electronic component element 1 sucked by the tool 41 to a predetermined position,
A control system for controlling the amount of load applied to the electronic component element 1 is provided. For example, an XY-axis driving unit 44 that controls the horizontal direction of the drawing and a depth direction of the drawing, a z-axis driving unit 45 that controls the operation in the vertical direction of the drawing, and a θ rotation driving unit 46 that operates around the rotation axis. And

【0033】また、ツール41は、吸着孔47が形成さ
れ、該孔が真空源に接続されている。また、ツール41
には、図示していないが、加熱手段を有しており、ツー
ルで吸着保持した電子部品素子1を所定温度に加熱可能
となっている。
The tool 41 has a suction hole 47 formed therein, which is connected to a vacuum source. Also, the tool 41
Has a heating means (not shown) so that the electronic component element 1 sucked and held by the tool can be heated to a predetermined temperature.

【0034】また、ワーク固定側装置は、ワークを固定
する固定台51、固定台51を加熱する加熱台52、固
定台のX−Y方向に位置合わせするための駆動部53と
から構成されている。この固定台51と加熱台52とは
吸着孔55とで連通しており、真空源に接続されてい
る。
The device for fixing the work includes a fixing table 51 for fixing the work, a heating table 52 for heating the fixing table 51, and a driving unit 53 for positioning the fixing table in the X and Y directions. I have. The fixing table 51 and the heating table 52 communicate with each other via a suction hole 55, and are connected to a vacuum source.

【0035】上述のように、パッド電極21が形成され
た配線基板2は、ワーク固定台51のキャビティー部内
に保持され、吸気孔55を介して固定されることにな
る。さらに加熱台52により、配線基板2は所定温度に
加熱され、超音波熱圧着による接合信頼性を向上させる
ようになっている。
As described above, the wiring board 2 on which the pad electrodes 21 are formed is held in the cavity of the work fixing table 51 and is fixed via the suction holes 55. Further, the wiring board 2 is heated to a predetermined temperature by the heating table 52, so that bonding reliability by ultrasonic thermocompression bonding is improved.

【0036】また、ツール41の先端には、電子部品素
子1の実装面と反対側の面が吸着により保持され、画像
認識などによって、X−Y駆動部44、Z軸駆動部4
5、さらに、回転駆動部46によって、電子部品素子1
が配線基板2の所定位置に実装されるように所定位置に
位置決めされることになる。
At the tip of the tool 41, a surface opposite to the mounting surface of the electronic component element 1 is held by suction, and the XY driving unit 44 and the Z-axis driving unit 4 are operated by image recognition or the like.
5. Further, the electronic component element 1 is
Will be positioned at a predetermined position so that is mounted at a predetermined position on the wiring board 2.

【0037】このような実装装置を用いて、まず、ワー
ク固定台51内の配線基板2と、ツール41に保持され
た電子部品素子1との位置決めが完了した後、例えば、
加熱台52やツール41側の加熱手段により配線基板2
及び電子部品素子1を加熱処理する。尚、熱の直接的な
印加により、特性が変動する電子部品素子1の場合に
は、加熱は固定台51側のみで行うことが望ましい。例
えば、加熱によって温められる温度は、例えば200℃
である。
Using such a mounting device, first, after the positioning of the wiring board 2 in the work fixing table 51 and the electronic component element 1 held by the tool 41 is completed, for example,
The wiring board 2 is heated by the heating table 52 or the heating means on the tool 41 side.
Then, the electronic component element 1 is subjected to a heat treatment. In addition, in the case of the electronic component element 1 whose characteristics fluctuate by direct application of heat, it is desirable that heating be performed only on the fixed base 51 side. For example, the temperature heated by heating is, for example, 200 ° C.
It is.

【0038】次に、紙面の上下方向、例えばZ軸駆動部
12を制御して、ツール41に保持された電子部品素子
1の実装面が、ワーク固定台51に保持された配線基板
2の所定位置にまで降下させる。この降下によって、電
子部品素子1の突出電極3の尖塔部3cが、配線基板2
の所定パッド電極21に接触する。この両者が接触した
状態で、実際の接合処理が行われる。
Next, by controlling the vertical direction of the paper surface, for example, the Z-axis drive unit 12, the mounting surface of the electronic component element 1 held by the tool 41 is fixed to the predetermined position of the wiring board 2 held by the work fixing table 51. Lower to position. Due to this drop, the spire portion 3c of the protruding electrode 3 of the electronic component element 1
Contact with the predetermined pad electrode 21. The actual joining process is performed in a state where the two are in contact with each other.

【0039】本発明では、図4に示すように、ツール4
1の電子部品素子を吸着する先端面には、硬質でかつ耐
酸化性に優れた材料、すなわち、サファイヤ、人工ダイ
ヤ、アルミナチタンカーバイド、ジルコニア、タイヤモ
ンドライクカーボンのいずれか1つの材料からなる硬質
耐酸化性部材層60が配置されている。
In the present invention, as shown in FIG.
The tip surface for adsorbing the electronic component element is made of a hard material having excellent oxidation resistance, that is, a hard material made of any one of sapphire, artificial diamond, alumina titanium carbide, zirconia, and tire monde carbon. An oxidation-resistant member layer 60 is provided.

【0040】硬質耐酸化性部材層(以下、吸着層とい
う)60は、図4では、上述の材料を、例えば0.5〜
2.0mmの厚みにスライスして、ツール41に先端部
分に耐熱性接着材を介して接着固定して形成した。
In FIG. 4, the hard oxidation-resistant member layer (hereinafter, referred to as an adsorption layer) 60 is made of the above-described material, for example, 0.5 to 0.5%.
It was sliced to a thickness of 2.0 mm, and was adhered and fixed to the tip of the tool 41 via a heat-resistant adhesive.

【0041】尚、この吸着層60は、その厚み方向を貫
き、且つツール41の吸引孔47と連通する吸着先端孔
61が形成されている。この孔61は、図4に示すよう
に、吸着孔47の延長として同位置、同一径で形成され
ている。
The suction layer 60 has a suction tip hole 61 penetrating the thickness direction thereof and communicating with the suction hole 47 of the tool 41. As shown in FIG. 4, the holes 61 are formed at the same positions and with the same diameter as extensions of the suction holes 47.

【0042】図4に示すように、ツール41の先端の中
央に凹部62が形成されている。これは、アミナチタン
カーバイドやジルコニアのように、章程形状に加工しや
い材料において、その一部を凹部562内に嵌合して接
着固定するこめであり、吸着層60が加工しにくい材料
である場合、凹部62は処理してもかまわない。
As shown in FIG. 4, a concave portion 62 is formed at the center of the tip of the tool 41. This is because a material such as amina titanium carbide or zirconia, which can be easily processed into a round shape, has a part thereof fitted into the concave portion 562 and fixed by adhesion, and is a material which is difficult to process the adsorption layer 60. In some cases, the recess 62 may be treated.

【0043】このように、ツール41の先端を、硬質材
料からなる吸着層を形成しているため、超音波融着を行
なうべく、ツール41から電子部品素子1に超音波熱圧
着を供給しても、この吸着層60で振動が吸収されるこ
とがなく、所定振動を安定して伝搬させることができ
る。
As described above, since the tip of the tool 41 is formed with a suction layer made of a hard material, ultrasonic thermocompression is supplied from the tool 41 to the electronic component element 1 in order to perform ultrasonic fusion. Also, the vibration is not absorbed by the adsorption layer 60, and the predetermined vibration can be stably propagated.

【0044】また、吸着層60は、耐酸化性を兼ね備
え、化学的に安定しているため、電子部品素子1と配線
基板2の接合が進行し、超音波振動がツール41(吸着
層60)と電子部品素子1との吸着界面に集中しても、
従来のように、ツール41を形成する金属材料が酸化し
て酸化物を生成させることが一切ない。また、電子部品
素子1の吸着部分を変質、例えば、電子部品素子1がシ
リコンを基体とするICチップの場合、チップ内にツー
ル41の金属材料が不純物として拡散したり、ICチッ
プ内に酸化シリコン層を進行させるなどの変質を有効に
抑えることになる。
The adsorption layer 60 also has oxidation resistance and is chemically stable, so that the bonding between the electronic component element 1 and the wiring board 2 proceeds, and the ultrasonic vibration is applied to the tool 41 (adsorption layer 60). Even if it concentrates on the adsorption interface between
Unlike the conventional case, the metal material forming the tool 41 is never oxidized to generate oxide. In addition, the adsorption part of the electronic component element 1 is deteriorated. For example, when the electronic component element 1 is an IC chip having a silicon base, the metal material of the tool 41 diffuses as an impurity in the chip, or silicon oxide Alteration such as advancing the layer is effectively suppressed.

【0045】ここで、吸着層60の厚みは、吸着先端孔
61が形成でき、且つをスライス可能な程度に薄くする
ことが重要である。
Here, it is important that the thickness of the suction layer 60 is made thin enough to form the suction tip hole 61 and slice it.

【0046】尚、上述の実施例では、ツール41の先端
に吸着層60として、ツール41の先端面に硬質でかつ
耐酸化性に優れた材料、すなわち、サファイヤ、人工ダ
イヤ、アルミナチタンカーバイド、ジルコニアのいずれ
か1つの材料をスライスした部材を接着して吸着層60
を配置している。尚、ダイヤモンドライクカーボンにつ
いては、この材料が表面に被着された基板を用いる。
In the above-described embodiment, the adsorption layer 60 is formed on the tip of the tool 41 so that the tip surface of the tool 41 is hard and has excellent oxidation resistance, ie, sapphire, artificial diamond, alumina titanium carbide, zirconia. A member obtained by slicing any one of the above materials is adhered to the adsorption layer 60.
Has been arranged. For diamond-like carbon, a substrate having this material adhered to the surface is used.

【0047】他の実施例として、吸着層60の形成方法
として、スライス以外に、サファイヤ、人工ダイヤ、ア
ルミナチタンカーバイド、ジルコニア、ダイヤモンドラ
イクカーボンを、溶射処理、マグネトロンスパッタ、プ
ラズマCVD(化学的気相法)及びこれらの併用による
薄膜技法により、ツール41の先端面に被覆形成しても
構わない。
As another embodiment, as a method of forming the adsorption layer 60, sapphire, artificial diamond, alumina titanium carbide, zirconia, and diamond-like carbon are used in addition to slices, by thermal spraying, magnetron sputtering, plasma CVD (chemical vapor deposition). ) And a thin film technique using these methods in combination, a coating may be formed on the tip end surface of the tool 41.

【0048】この場合、ツール41の先端形状に合わせ
て、吸着層60が形成できるため、複雑な構造を有する
ツール41に特に適している。
In this case, since the suction layer 60 can be formed according to the tip shape of the tool 41, it is particularly suitable for the tool 41 having a complicated structure.

【0049】また、スライスした部材を接着してなる吸
着層60では、吸着面であるスライス面に吸着に支障が
発生する程度の凹凸が有さないように管理を行なう必要
があるが、この溶射より形成する場合、表面平坦度など
の管理は不要となる。
Further, in the suction layer 60 formed by bonding the sliced members, it is necessary to perform management so that the slice surface, which is the suction surface, does not have irregularities that may cause a problem in suction. In the case of forming by more, it is not necessary to manage the surface flatness and the like.

【0050】この吸着層60の厚みは、スライス部材の
接着で形成した場合、溶射で形成した場合を含めて考え
ると、1μm〜2.0mm程度が当である。
The thickness of the adsorbing layer 60 is about 1 μm to 2.0 mm in consideration of the case where the adsorbing layer 60 is formed by bonding the slice member and the case where it is formed by thermal spraying.

【0051】本発明者は、このような吸着層60が配置
されたツール41を有するフリップチップ実装装置で、
電子部品素子1としてICチップチップと配線基板2と
の超音波融着を行いツール41の先端部分に付着する付
着物を調べた。その結果、ツール41とがICチップと
の吸着において吸着層60によって分離されているた
め、鉄による酸化物の生成は認められなかった。
The present inventor has proposed a flip chip mounting apparatus having a tool 41 on which such an adsorption layer 60 is arranged,
Ultrasonic welding of the IC chip chip and the wiring board 2 as the electronic component element 1 was performed, and the attached matter on the tip of the tool 41 was examined. As a result, since the tool 41 and the IC chip were separated by the adsorption layer 60 in the adsorption to the IC chip, generation of an oxide by iron was not recognized.

【0052】また、シリコン酸化物の付着物についてそ
の量を、EPMA(電子波長分散型アラライザー)によ
り測定し、その発生を定量評価した。
Further, the amount of the silicon oxide deposit was measured by EPMA (Electronic Wavelength Dispersion Type Alarizer), and the generation was quantitatively evaluated.

【0053】尚、ツールの先端部分として、試料1は、
ツール41の材料がSUS303で先端部分の加工をし
ていないもの、試料2は、ツール41の材料がSUS3
03で先端部分にMOST(ニ硫化モリブデン)コート
したもの、試料3は、ツール41の材料がSUS440
を焼き入れ処理し、且つニ硫化モリブデン被覆したも
の、試料4は、ツール41の材料がSUS303で先端
部分のダイヤモンドライクカーボンを溶射被覆したも
の、試料5は、ツール41の材料がSKD鋼で焼き入れ
処理し、且つダイヤモンドライクカーボンを3μm溶射
被覆したもの、試料6は、ツール41の材料がSUS3
03で、先端部分に厚み 1.5mmのサファイア材
料の薄板を接着したもの、試料7は、ツール41の材料
がSUS303で先端部分に厚み1.5mmの人工ダイ
ヤモンドのスライス部材を接着したもの、試料8は、ツ
ール41の材料がSUS303で先端部分に厚み1.5
mmのアルミチタンカーバイドのスライス部材を接着し
たもの、試料9は、ツール41の材料がSUS303で
先端部分に厚み1.5mmのジルコニアのスライス部材
を接着したものを夫々用いた。
As the tip of the tool, sample 1
The material of the tool 41 is SUS303 and the tip portion is not processed, and the sample 2 is that the material of the tool 41 is SUS3.
Sample No. 03 was coated with MOST (molybdenum disulfide) on the tip, and sample 3 was made of SUS440
Quenched and coated with molybdenum disulfide, sample 4 was a tool 41 made of SUS303 and diamond-like carbon at the tip was spray-coated, and sample 5 was a tool 41 made of SKD steel. The sample 41 was coated with diamond-like carbon and spray-coated with a thickness of 3 μm.
03, a 1.5 mm thick thin plate of sapphire material adhered to the tip, sample 7 is a tool 41 made of SUS303 and a 1.5 mm thick artificial diamond slice member adhered to the tip, sample 8 is a tool 41 made of SUS303 having a thickness of 1.5 at the tip.
For the sample 9, the tool 41 was made of SUS303 and a 1.5 mm-thick zirconia slice member was adhered to the tip of the sample 41.

【0054】[0054]

【表1】 [Table 1]

【0055】その結果、従来のようにツール41の先端
に加工を施していないものに関しては、付着物の発生度
数が、2けたであったものが、本発明である試料4〜9
のツールでは、付着物の発生度数が、3〜9と非常に大
きく低下することを確認した。
As a result, with respect to a tool in which the tip of the tool 41 is not processed as in the prior art, the frequency of occurrence of deposits was 2 digits, but the samples 4 to 9 of the present invention were not used.
It was confirmed that the frequency of occurrence of deposits was significantly reduced to 3 to 9 with the tool of (1).

【0056】尚、試料を含め、このようなサファイヤ、
人工ダイヤ、アルミナチタンカーバイド、ジルコニア、
ダイヤモンドライクカーボンのいずれか1つの材料を溶
射などの薄膜技法によりコーティングしたり、スライス
した薄板を接着しても、ツール41の吸着面に付着物の
発生を抑制する効果が大きいことを確認した。
Incidentally, such sapphire including the sample,
Artificial diamond, alumina titanium carbide, zirconia,
It has been confirmed that even if any one of diamond-like carbon is coated by a thin film technique such as thermal spraying or a sliced thin plate is bonded, the effect of suppressing the generation of deposits on the suction surface of the tool 41 is large.

【0057】上述の実施例では、ツール41の先端部分
に、硬質で且つ耐酸化性を有する部材により先端処理を
施している。
In the above-described embodiment, the tip portion of the tool 41 is subjected to a tip treatment by a hard and oxidation-resistant member.

【0058】このような先端処理を施すことなく、同一
の効果を得るため、超音波熱圧着時、不活性ガス雰囲気
中で行ってもよい。具体的には、不活性ガスは、ヘリウ
ムガス、アルゴンガス、窒素ガスの少なくとも1種類の
ガスを用いる。そして、超音波熱圧着による接合の不活
性ガス雰囲気は、少なくとも電子部品素子1とツール4
1との吸着部分へ、不活性ガスを噴射供給する。
In order to obtain the same effect without performing such a tip treatment, the ultrasonic thermocompression bonding may be performed in an inert gas atmosphere. Specifically, at least one of helium gas, argon gas, and nitrogen gas is used as the inert gas. The inert gas atmosphere of the ultrasonic thermocompression bonding at least includes the electronic component 1 and the tool 4.
Inert gas is injected and supplied to the adsorbed portion 1.

【0059】例えば図5に示すように、ツール41に吸
着された電子部品素子1及びワーク固定51を中心に上
述の不活性ガスを噴射可能なノズル65を設け、実装の
全工程中を不活性ガス雰囲気で行なう。尚、酸化物の付
着を考慮した場合には、少なくとも超音波熱圧着を供給
している間、電子部品素子1とツール41との吸着部分
を中心に不活性ガスを噴射しても構わない。尚、66
は、不活性ガスが接合に集中するようにするための制御
板である。
For example, as shown in FIG. 5, a nozzle 65 capable of injecting the above-mentioned inert gas is provided around the electronic component element 1 and the work fixing 51 adsorbed on the tool 41, and the nozzle is inert during the entire mounting process. Perform in a gas atmosphere. In addition, when the adhesion of the oxide is taken into consideration, an inert gas may be injected around the adsorbed portion between the electronic component element 1 and the tool 41 at least during the supply of the ultrasonic thermocompression bonding. Incidentally, 66
Is a control plate for allowing the inert gas to concentrate on the bonding.

【0060】これにより、酸化物の生成に必要な酸素が
絶たれてしまう。その結果として、ツール41には、鉄
やシリコンなどの酸化物が生成されることがない。
As a result, oxygen necessary for forming oxides is cut off. As a result, oxides such as iron and silicon are not generated in the tool 41.

【0061】上述のように、ツール41に付着する鉄や
シリコンなどの酸化物を、ツール41の先端部の処理、
即ち、硬質耐酸化性部材の形成と、雰囲気の制御(不活
性ガスの導入)と両方の実施により、一層有効に抑える
ことができる。
As described above, an oxide such as iron or silicon adhered to the tool 41 is treated at the tip of the tool 41,
In other words, both the formation of the hard oxidation-resistant member and the control of the atmosphere (introduction of the inert gas) can be more effectively suppressed.

【0062】[0062]

【発明の効果】本発明による電子部品素子実装装置及び
実装方法では、ツールの電子部品素子を吸着する先端面
に、酸化物が付着することを有効に防止できる。これに
より、電子部品素子の実装時、この酸化物の付着が原因
となる電子部品素子の欠けや割れ等が発生しにくく、ツ
ールに付着した酸化物を除去するための作業の間隔を大
幅に長くすることができ、生産性を大幅に向上させるこ
とができる。
According to the electronic component device mounting apparatus and the mounting method according to the present invention, it is possible to effectively prevent the oxide from adhering to the tip surface of the tool where the electronic component device is sucked. As a result, at the time of mounting the electronic component element, chipping or cracking of the electronic component element due to the adhesion of the oxide is unlikely to occur, and the interval of work for removing the oxide attached to the tool is greatly lengthened. And productivity can be greatly improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明にかかる電子部品素子を配線基板にフリ
ップチップ実装した状態の側面図である。
FIG. 1 is a side view showing a state in which an electronic component element according to the present invention is flip-chip mounted on a wiring board.

【図2】本発明にかかる電子部品素子の突出電極を説明
した側面図である。
FIG. 2 is a side view illustrating a protruding electrode of the electronic component element according to the present invention.

【図3】本発明のフリップチップ実装装置の概略図であ
る。
FIG. 3 is a schematic view of a flip chip mounting apparatus of the present invention.

【図4】本発明のフリップチップ実装装置のツールの先
端部分の拡大図であり、(a)は下面図であり、(b)
は断面図である。
FIG. 4 is an enlarged view of a tip portion of a tool of the flip chip mounting apparatus according to the present invention, (a) is a bottom view, (b)
Is a sectional view.

【図5】本発明のフリップチップ実装方法に用いる実装
装置及びツールの先端部分の拡大図である。
FIG. 5 is an enlarged view of a tip portion of a mounting device and a tool used in the flip chip mounting method of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・電子部品素子 2・・配線基板 3・・突出電極 41・・ツール 60・・硬質耐酸化性部材 65・・噴射ノズル 1 ・ ・ Electronic component element 2 ・ ・ Wiring board 3 ・ ・ Protruding electrode 41 ・ ・ Tool 60 ・ ・ Hard oxidation resistant member 65 ・ ・ Injection nozzle

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電子部品素子を吸着保持するとともに、
該電子部品素子に超音波熱圧着を供給するツールを有し
ており、実装面に突出電極が形成された電子部品素子
を、所定パッド電極が形成された配線基板に超音波熱圧
着により接合する電子部品素子実装装置において、 前記ツールの電子部品素子を吸着する先端面に、硬質耐
酸化性部材が配されていることを特徴とする電子部品素
子実装装置。
An electronic component element is held by suction.
A tool for supplying ultrasonic thermocompression bonding to the electronic component element is provided, and the electronic component element having the protruding electrode formed on the mounting surface is bonded to the wiring board on which the predetermined pad electrode is formed by ultrasonic thermocompression bonding. An electronic component mounting apparatus, wherein a hard oxidation-resistant member is provided on a tip end surface of the tool for adsorbing electronic component elements.
【請求項2】前記硬質耐酸化性部材は、サファイヤ、人
工ダイヤ、アルミナチタンカーバイド、ジルコニア、ダ
イヤモンドライクカーボンのいずれか1つの材料から成
ることを特徴とする請求項1記載の電子部品素子実装装
置。
2. The electronic component mounting apparatus according to claim 1, wherein said hard oxidation-resistant member is made of any one of sapphire, artificial diamond, alumina titanium carbide, zirconia, and diamond-like carbon. .
【請求項3】前記硬質耐酸化性部材は、ツールの電子部
品素子を吸着する先端面に溶射法、マグネトロンスパッ
タ法、プラズマCVD法のいずれか1つの薄膜技法によ
り形成されていることを特徴とする請求項1記載の電子
部品素子実装装置。
3. The hard oxidation-resistant member is formed on a tip surface of a tool for adsorbing an electronic component element by one of a thin film technique of a thermal spraying method, a magnetron sputtering method, and a plasma CVD method. 2. The electronic component element mounting apparatus according to claim 1, wherein:
【請求項4】前記硬質耐酸化性部材は、サファイヤ、人
工ダイヤ、アルミナチタンカーバイド、ジルコニアのい
ずれか1つの材料をスライスした薄板をツールの電子部
品素子を吸着する先端面に接着して形成されていること
を特徴とする請求項1記載の電子部品素子実装装置。
4. The hard oxidation-resistant member is formed by bonding a thin plate obtained by slicing any one material of sapphire, artificial diamond, alumina titanium carbide, and zirconia to a tip end surface of a tool for adsorbing an electronic component element. 2. The electronic component element mounting device according to claim 1, wherein
【請求項5】電子部品素子を吸着保持するとともに、該
電子部品素子に超音波熱圧着を供給するツールを有する
電子部品素子の実装装置を用いて、実装面に突出電極が
形成された電子部品素子を、所定パッド電極が形成され
た配線基板に超音波熱圧着より接合する電子部品素子実
装方法において、 前記超音波熱圧着による接合を、不活性ガス雰囲気中で
行うことを特徴とする電子部品素子の実装方法。
5. An electronic component having a protruding electrode formed on a mounting surface using an electronic component device mounting apparatus having a tool for holding an electronic component element by suction and supplying ultrasonic thermocompression bonding to the electronic component element. An electronic component mounting method for bonding an element to a wiring board on which a predetermined pad electrode is formed by ultrasonic thermocompression bonding, wherein the bonding by ultrasonic thermocompression is performed in an inert gas atmosphere. Element mounting method.
【請求項6】前記超音波熱圧着時の不活性ガス雰囲気
を、少なくとも電子部品素子とツールとの吸着部分に不
活性ガスの噴射により形成することを特徴とする請求項
5記載の電子部品素子の実装方法。
6. The electronic component element according to claim 5, wherein an inert gas atmosphere at the time of the ultrasonic thermocompression bonding is formed by injecting an inert gas into at least a suction portion between the electronic component element and the tool. How to implement.
【請求項7】前記不活性ガスは、ヘリウムガス、アルゴ
ンガス、窒素ガスの少なくとも1種類のガスを用いるこ
とを特徴とする請求項5乃至6記載の電子部品素子実装
方法。
7. The method according to claim 5, wherein the inert gas is at least one of helium gas, argon gas and nitrogen gas.
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