JP2002048723A - Method and device for inspecting flaw in the vicinity of edge - Google Patents

Method and device for inspecting flaw in the vicinity of edge

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JP2002048723A
JP2002048723A JP2000237997A JP2000237997A JP2002048723A JP 2002048723 A JP2002048723 A JP 2002048723A JP 2000237997 A JP2000237997 A JP 2000237997A JP 2000237997 A JP2000237997 A JP 2000237997A JP 2002048723 A JP2002048723 A JP 2002048723A
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edge
edge direction
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defect
article
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Japanese (ja)
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Hiroshi Sato
博 佐藤
Hideto Sakata
英人 坂田
Yasutaka Fujii
康隆 藤井
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Dai Nippon Printing Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection method and its device for surely detecting a flaw in the vicinity of an edge without misdetection of a flaw which does not actually exist in the edge. SOLUTION: This inspection method comprises a photographing process of taking a picture of an object for providing a photographed image, an edge direction differentiation process of performing differentiation in the edge direction of the object in the photographed image for generating an edge direction differentiation image, and a flaw detection process in the vicinity of the edge of detecting a flaw in the vicinity of the edge based on the edge direction differentiation image. This method is applicable to the flaw detection device in the vicinity of the edge.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は物品の外観や表面状
態を自動検査する技術分野に属する。特に、物品のエッ
ジ近傍に存在する欠陥を検出することができるエッジ近
傍欠陥の検査方法と装置に関する。
The present invention belongs to the technical field of automatically inspecting the appearance and surface condition of an article. In particular, the present invention relates to a method and an apparatus for detecting a defect near an edge which can detect a defect near the edge of an article.

【0002】[0002]

【従来技術】検査対象の物品の撮像画像に基づいて画像
処理を行なって検査を行なう装置が知られている。その
ときその撮像画像からその物品が外れないように、その
物品の撮像における位置合わせ精度等を考慮して撮像を
行なう必要性がある。一般的には、その物品の寸法より
も若干大きな撮像画像が得られるように撮像が行なわれ
る。その撮像画像において、オペレータの指示入力によ
り検査範囲を指定するか、または画像処理を行なってそ
の物品を判別し検査範囲を自動設定することが行なわれ
る。検査のための画像処理はその検査範囲についてだけ
行なわれる。
2. Description of the Related Art There is known an apparatus for performing inspection by performing image processing based on a captured image of an article to be inspected. At that time, it is necessary to perform imaging in consideration of the positioning accuracy and the like in the imaging of the article so that the article does not come off the captured image. Generally, imaging is performed such that an image slightly larger than the size of the article is obtained. In the captured image, an inspection range is designated by an operator's instruction input, or image processing is performed to determine the article and automatically set the inspection range. Image processing for inspection is performed only for the inspection range.

【0003】物品の一例としてプラスチックカードを挙
げて説明する。プラスチックカードの外観や表面状態に
おける欠陥には、傷、凹(ヘコ)、凸(トツ)、等があ
る。この欠陥はプラスチックカードの不特定部位に発生
するため、プラスチックカードの全表面を検査すること
が求められる。
[0003] A plastic card will be described as an example of an article. Defects in the appearance and surface state of the plastic card include scratches, dents (dents), and protrusions (peaks). Since this defect occurs at an unspecified portion of the plastic card, it is necessary to inspect the entire surface of the plastic card.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、前述の検査
領域にプラスチックカードのエッジを含めると、そのエ
ッジにおいて実際には存在しない欠陥が存在すると誤検
出してしまう。これは、撮像画像におけるプラスチック
カードの部分と背景の部分との境界(エッジ)では、画
素値が不連続に変化するためである。そこで、従来は、
検査領域をプラスチックカードの外径よりは内側に設定
することで誤検出を防いでいる。そのため、当然、エッ
ジ近傍に発生した欠陥を検出することができない。
However, if an edge of a plastic card is included in the above-described inspection area, it is erroneously detected that a defect that does not actually exist exists at the edge. This is because the pixel value changes discontinuously at the boundary (edge) between the plastic card portion and the background portion in the captured image. So, conventionally,
By setting the inspection area inside the outer diameter of the plastic card, erroneous detection is prevented. Therefore, naturally, a defect generated near the edge cannot be detected.

【0005】本発明は上記の問題を解決するためになさ
れたものである。その目的は、エッジにおいて実際には
存在しない欠陥が存在すると誤検出することがなく、エ
ッジ近傍に存在する欠陥を確実に検出することができる
検査方法および装置を提供することにある。
The present invention has been made to solve the above problems. An object of the present invention is to provide an inspection method and apparatus capable of reliably detecting a defect existing near an edge without erroneously detecting a defect that does not actually exist at the edge.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記課題は下記の本発明
によって解決される。すなわち、本発明の請求項1に係
る検査方法は、物品を撮像して撮像画像を得る撮像過程
と、前記撮像画像における前記物品のエッジ方向に微分
を行なってエッジ方向微分画像を生成するエッジ方向微
分過程と、前記エッジ方向微分画像に基づいてエッジ近
傍における欠陥を検出するエッジ近傍欠陥検出過程とか
ら成るようにしたものである。
The above object is achieved by the present invention described below. That is, the inspection method according to claim 1 of the present invention includes an imaging step of imaging an article to obtain a captured image, and an edge direction of performing differentiation in an edge direction of the article in the captured image to generate an edge direction differential image. The method includes a differentiation process and a near-edge defect detection process of detecting a defect near an edge based on the edge direction differential image.

【0007】本発明によれば、撮像過程において物品が
撮像され撮像画像が得られ、エッジ方向微分過程におい
て撮像画像における物品のエッジ方向に微分が行なわれ
てエッジ方向微分画像が生成され、エッジ近傍欠陥検出
過程においてエッジ方向微分画像に基づいてエッジ近傍
における欠陥が検出される。すなわち、撮像画像では境
界(エッジ)において画素値が不連続に変化していたも
のが、エッジ方向に微分を行なって生成したエッジ方向
微分画像では画素値が不連続に変化することがなくな
る。しかも、撮像画像と比較してエッジ方向微分画像で
は欠陥を強調することができる。したがって、エッジに
おいて実際には存在しない欠陥が存在すると誤検出する
ことがなく、エッジ近傍に存在する欠陥を確実に検出す
ることができる検査方法が提供される。
According to the present invention, an article is imaged in an imaging process to obtain a captured image, and in the edge direction differentiation process, differentiation is performed in the edge direction of the article in the captured image to generate an edge direction differential image, and In the defect detection process, a defect near the edge is detected based on the edge direction differential image. That is, in the captured image, the pixel value changes discontinuously at the boundary (edge), but in the edge direction differential image generated by performing differentiation in the edge direction, the pixel value does not change discontinuously. Moreover, the defect can be emphasized in the edge direction differential image as compared with the captured image. Accordingly, there is provided an inspection method capable of reliably detecting a defect existing in the vicinity of an edge without erroneously detecting a defect that does not actually exist in the edge.

【0008】また本発明の請求項2に係る検査方法は、
請求項1に係る検査方法において、前記エッジ方向微分
過程において前記物品の複数のエッジ方向に応じて複数
のエッジ方向微分画像を生成し、前記エッジ近傍欠陥検
出過程において前記複数のエッジ方向微分画像に基づい
て前記複数のエッジ近傍における欠陥を検出するように
したものである。本発明によれば、物品における複数の
方向のエッジ近傍に存在する欠陥が検出される。
[0008] The inspection method according to claim 2 of the present invention comprises:
2. The inspection method according to claim 1, wherein a plurality of edge direction differential images are generated in accordance with a plurality of edge directions of the article in the edge direction differentiation step, and the plurality of edge direction differential images are generated in the edge vicinity defect detection step. A defect near the plurality of edges is detected based on the detected defect. ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the defect which exists in the edge vicinity of several directions in an article is detected.

【0009】また本発明の請求項3に係る検査方法は、
請求項1または2に係る欠陥検査方法において、前記撮
像画像における画素の配列方向と前記物品のエッジ方向
とを一致させるようにしたものである。本発明によれ
ば、撮像画像における物品のエッジ方向の微分を、僅少
の微分誤差で高精度に行なうことができる。その結果、
エッジの極めて近傍に存在する欠陥であっても検出され
る。
Further, the inspection method according to claim 3 of the present invention,
3. The defect inspection method according to claim 1, wherein an arrangement direction of pixels in the captured image matches an edge direction of the article. According to the present invention, differentiation in the edge direction of an article in a captured image can be performed with high accuracy with a small differential error. as a result,
Even a defect located very close to the edge is detected.

【0010】また本発明の請求項4に係る検査方法は、
請求項1〜3のいずれかに係るエッジ近傍欠陥検査方法
において、前記物品はプラスチックカードであるように
したものである。本発明によれば、プラスチックカード
のエッジ近傍における欠陥が検出される。
[0010] The inspection method according to claim 4 of the present invention comprises:
In the edge vicinity defect inspection method according to any one of claims 1 to 3, the article is a plastic card. According to the present invention, a defect near the edge of a plastic card is detected.

【0011】また本発明の請求項5に係る検査装置は、
物品を撮像して撮像画像を得る撮像手段と、前記撮像画
像における前記物品のエッジ方向に微分を行なってエッ
ジ方向微分画像を生成するエッジ方向微分手段と、前記
エッジ方向微分画像に基づいてエッジ近傍における欠陥
を検出するエッジ近傍欠陥検出手段とを具備するように
したものである。
Further, the inspection apparatus according to claim 5 of the present invention comprises:
Imaging means for imaging an article to obtain a captured image; edge direction differentiating means for differentiating the edge direction of the article in the captured image to generate an edge direction differential image; and an edge neighborhood based on the edge direction differential image And edge near-edge defect detection means for detecting a defect in (1).

【0012】本発明によれば、撮像手段により物品が撮
像され撮像画像が得られ、エッジ方向微分手段により撮
像画像における物品のエッジ方向に微分が行なわれてエ
ッジ方向微分画像が生成され、エッジ近傍欠陥検出手段
によりエッジ方向微分画像に基づいてエッジ近傍におけ
る欠陥が検出される。すなわち、撮像画像では境界(エ
ッジ)において画素値が不連続に変化していたものが、
エッジ方向に微分を行なって生成したエッジ方向微分画
像では画素値が不連続に変化することがなくなる。しか
も、撮像画像と比較してエッジ方向微分画像では欠陥を
強調することができる。したがって、エッジにおいて実
際には存在しない欠陥が存在すると誤検出することがな
く、エッジ近傍に存在する欠陥を確実に検出することが
できる検査装置が提供される。
According to the present invention, the article is imaged by the image pickup means to obtain a picked-up image, and the edge direction differentiating means performs differentiation in the edge direction of the article in the picked-up image to generate an edge direction differential image. A defect near the edge is detected by the defect detection means based on the edge direction differential image. That is, in the captured image, the pixel value changed discontinuously at the boundary (edge),
In the edge direction differential image generated by performing differentiation in the edge direction, the pixel value does not change discontinuously. Moreover, the defect can be emphasized in the edge direction differential image as compared with the captured image. Therefore, there is provided an inspection apparatus capable of reliably detecting a defect existing in the vicinity of an edge without erroneously detecting a defect that does not actually exist in the edge.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】次に、本発明について実施の形態
を説明する。本発明の検査方法および装置におけるデー
タ処理の過程について一例を図1に示す。また、本発明
の検査方法および装置におけるエッジ近傍に存在する欠
陥を検出する過程について説明図を図2に示す。図1、
図2に基づいて説明する。まず、図1のステップS1に
おいて、検査対象である物品、一例としてプラスチック
カードの撮像を行い撮像画像を得る(撮像過程)。
Next, an embodiment of the present invention will be described. FIG. 1 shows an example of a data processing process in the inspection method and apparatus according to the present invention. FIG. 2 is an explanatory diagram showing a process of detecting a defect existing near an edge in the inspection method and apparatus according to the present invention. Figure 1,
A description will be given based on FIG. First, in step S1 of FIG. 1, an article to be inspected, for example, a plastic card is imaged to obtain a captured image (imaging process).

【0014】撮像方法の一例を説明しておく。プラスチ
ックカードは積み重ねられて供給部に置かれており、供
給部はその状態のプラスチックカードを一枚づつ分離し
て撮像部へと供給する。このとき、撮像部において所定
の位置となるように位置決めが行なわれる。撮像済みの
プラスチックカードは積み重ねられて排出部に置かれ
る。
An example of an imaging method will be described. The plastic cards are stacked and placed on the supply unit, and the supply unit separates the plastic cards in that state one by one and supplies them to the imaging unit. At this time, positioning is performed so as to be a predetermined position in the imaging unit. The imaged plastic cards are stacked and placed in the discharge unit.

【0015】撮像手段としては、一次元の撮像領域を有
するラインセンサカメラ、2次元の撮像領域を有するエ
リアセンサカメラのいずれを使用することもできる。ラ
インセンサカメラではプラスチックカードを搬送しなが
ら撮像が行なわれる。エリアセンサカメラではプラスチ
ックカードを静止させるか、または、電子シャッター、
ストロボ発光、等により実質的に静止させて撮像が行な
われる。
As the imaging means, any of a line sensor camera having a one-dimensional imaging area and an area sensor camera having a two-dimensional imaging area can be used. In the line sensor camera, imaging is performed while transporting a plastic card. In area sensor cameras, a plastic card is kept stationary, or an electronic shutter,
The image is taken while being substantially still by flash light emission or the like.

【0016】撮像画像10には、図2に示すように、プ
ラスチックカード11と背景12とが含まれるように撮
像が行なわれる。また、プラスチックカードの外観や表
面状態における欠陥である、傷、凹(ヘコ)、凸(ト
ツ)、等が撮像画像10に写し込まれるように、照明手
段、撮像手段、等を配置し撮像が行なわれる。また、撮
像画像10における画素の配列方向とプラスチックカー
ド11のエッジ方向とが一致するように撮像が行なわれ
る。
As shown in FIG. 2, an image is picked up so as to include a plastic card 11 and a background 12. In addition, the illuminating unit, the imaging unit, and the like are arranged so that defects, such as a defect, a dent (a dent), and a projection (a pit), which are defects in the appearance and surface condition of the plastic card, are captured in the captured image 10. Done. Further, imaging is performed such that the arrangement direction of the pixels in the captured image 10 matches the edge direction of the plastic card 11.

【0017】通常のプラスチックカード11は辺が互い
に直交する矩形形状を有する。また、通常の撮像画像1
0においては、撮像画像10における画素が天地左右方
向に方眼状に配列する。したがって、図2に示すよう
に、プラスチックカード11における天地方向の辺(エ
ッジ)と撮像画像10における天地方向とが一致し、プ
ラスチックカード11における左右方向の辺(エッジ)
と撮像画像10における左右方向とが一致するように撮
像が行なわれる。
The ordinary plastic card 11 has a rectangular shape whose sides are orthogonal to each other. Also, a normal captured image 1
At 0, the pixels in the captured image 10 are arranged in a grid in the top-left direction. Therefore, as shown in FIG. 2, the side (edge) of the plastic card 11 in the up-down direction coincides with the up-down direction of the captured image 10, and the left-right side (edge) of the plastic card 11.
The imaging is performed so that the left and right directions of the captured image 10 coincide with each other.

【0018】撮像画像10における画素の配列方向とプ
ラスチックカード11のエッジ方向とを一致させるの
は、撮像部におけるプラスチックカード11の位置決め
による。この一致の程度を完全とすることは困難である
が、この一致の程度を良くしておく。これにより、後述
する撮像画像10における物品のエッジ方向の微分を、
僅少の微分誤差で高精度に行なうことができる。その結
果、エッジの極めて近傍に存在する欠陥であっても検出
することができるようになる。
The arrangement direction of the pixels in the picked-up image 10 and the edge direction of the plastic card 11 are matched by the positioning of the plastic card 11 in the image pickup unit. Although it is difficult to make this degree of agreement perfect, this degree of agreement is improved. Thereby, the differentiation in the edge direction of the article in the captured image 10 described later is
It can be performed with high accuracy with a small differential error. As a result, it is possible to detect even a defect that is very close to the edge.

【0019】次に、図1のステップS2において、検査
対象であるプラスチックカード11の部分を撮像画像1
0から抽出する(検査対象抽出過程)。たとえば、プラ
スチックカード11と背景12の撮像画像10における
画素値の相違から2値化を行って、撮像画像10におけ
るプラスチックカード11の部分と背景12の部分とを
分離する。
Next, in step S2 of FIG. 1, the portion of the plastic card 11 to be inspected is
Extract from 0 (test object extraction process). For example, binarization is performed based on a difference in pixel value between the plastic card 11 and the background 12 in the captured image 10 to separate the plastic card 11 portion and the background 12 portion in the captured image 10.

【0020】次に、図1のステップS3において、撮像
画像10における検査領域を設定する(検査領域設
定)。たとえば、撮像画像10におけるプラスチックカ
ード11の全領域を検査領域として設定する。またたと
えば、プラスチックカード11の部分によって異なる検
査水準を設定する等のため、複数の検査領域を設定す
る。
Next, in step S3 of FIG. 1, an inspection area in the captured image 10 is set (inspection area setting). For example, the entire area of the plastic card 11 in the captured image 10 is set as the inspection area. Further, for example, a plurality of inspection areas are set in order to set different inspection levels depending on the portion of the plastic card 11.

【0021】次に、図1のステップS4において、撮像
画像10におけるエッジ近傍を設定する(エッジ近傍領
域設定)。このエッジ近傍領域は、次のステップ(S
5)でエッジ方向微分を行なう領域である。この領域に
は検査領域に設定したプラスチックカード11の部分だ
けでなく、検査領域には設定されない背景12の部分が
含まれている。図2には、プラスチックカード11にお
ける天地方向のエッジの1つに対してエッジ近傍領域1
3aが、また左右方向のエッジの1つに対してエッジ近
傍領域13bが破線によって示されている。
Next, in step S4 of FIG. 1, the vicinity of an edge in the captured image 10 is set (edge vicinity area setting). The area near the edge is determined in the next step (S
This is the area where edge direction differentiation is performed in 5). This area includes not only the part of the plastic card 11 set as the inspection area, but also the part of the background 12 not set in the inspection area. FIG. 2 shows an edge near area 1 for one of the edges of the plastic card 11 in the vertical direction.
3a, and an edge vicinity region 13b for one of the edges in the left-right direction is indicated by a broken line.

【0022】次に、図1のステップS5において、撮像
画像10におけるプラスチックカード11のエッジ方向
に微分を行なってエッジ方向微分画像を生成する(エッ
ジ方向微分過程)。ステップS2においては、検査対象
である物品の複数のエッジ方向に応じて複数のエッジ方
向微分画像を生成する。図2に示すように、プラスチッ
クカード11においては、エッジ方向は、天地方向の2
つと左右方向の2つで合計4つある。しかし、図2に
は、煩雑さを避けるため、プラスチックカード11にお
ける天地方向のエッジの1つに対してエッジ方向微分画
像20aが、また左右方向のエッジの1つに対してエッ
ジ方向微分画像20bが図示されている。
Next, in step S5 of FIG. 1, differentiation is performed in the edge direction of the plastic card 11 in the captured image 10 to generate an edge direction differential image (edge direction differentiation process). In step S2, a plurality of edge direction differential images are generated according to a plurality of edge directions of the article to be inspected. As shown in FIG. 2, in the plastic card 11, the edge direction is
There are a total of four in the left and right directions. However, in FIG. 2, in order to avoid complication, an edge direction differential image 20a for one of the top and bottom edges of the plastic card 11 and an edge direction differential image 20b for one of the left and right edges are shown. Is illustrated.

【0023】ここで、図2におけるエッジ近傍領域13
aとエッジ方向微分画像20aとを比較する。プラスチ
ックカード11と背景12との画素値の差異(図2では
濃淡の差異)そして境界は、エッジ近傍領域13aでは
在ったものが、エッジ方向微分画像20aでは無くなっ
ている。これはエッジ方向微分を行なった結果であり、
エッジ方向と直角方向の画素値の差異は消え去り、エッ
ジ方向の画素値の差異だけが強調されるためである。エ
ッジ近傍領域13bとエッジ方向微分画像20bとの比
較も同様である。
Here, the edge vicinity area 13 in FIG.
a is compared with the edge direction differential image 20a. The difference in pixel value between the plastic card 11 and the background 12 (the difference in shading in FIG. 2) and the boundary, which existed in the edge vicinity region 13a, disappeared in the edge direction differential image 20a. This is the result of edge direction differentiation,
This is because the difference between pixel values in the edge direction and the direction perpendicular to the edge direction disappears, and only the difference in pixel value in the edge direction is emphasized. The same applies to the comparison between the edge vicinity area 13b and the edge direction differential image 20b.

【0024】次に、図1のステップS6において、エッ
ジ方向微分画像20a,20bに基づいてエッジ近傍に
おける欠陥を検出する(エッジ近傍欠陥検出過程)。た
とえば、所定の閾値によって2値化を行って、エッジ方
向微分画像20a,20bににおける欠陥の部分を正常
な部分から分離する。
Next, in step S6 of FIG. 1, a defect near an edge is detected based on the edge direction differential images 20a and 20b (edge near-edge defect detection process). For example, binarization is performed using a predetermined threshold to separate a defective portion in the edge direction differential images 20a and 20b from a normal portion.

【0025】図2にはプラスチックカード11における
天地方向のエッジ近傍における欠陥14aに対してエッ
ジ方向微分画像20aにおける検出欠陥24aが、また
左右方向のエッジ近傍における欠陥14bに対してエッ
ジ方向微分画像20bにおける検出欠陥24bが図示さ
れている。図2に示すように、欠陥14aと欠陥14b
がエッジ方向微分されているため、欠陥14aと欠陥1
4bの特定方向(エッジ方向に対して直角方向)のエッ
ジを強調した画像として、検出欠陥24aと検出欠陥2
4bが得られている。
FIG. 2 shows a detected defect 24a in the edge direction differential image 20a for the defect 14a near the top and bottom edges of the plastic card 11, and an edge direction differential image 20b for the defect 14b near the left and right edges. Are shown in FIG. As shown in FIG. 2, the defects 14a and 14b
Are differentiated in the edge direction, so that the defect 14a and the defect 1
As an image in which the edge in the specific direction (the direction perpendicular to the edge direction) of FIG.
4b is obtained.

【0026】次に、図1のステップS7において、撮像
画像10において設定した検査領域(ステップS3参
照)における、エッジ近傍の欠陥以外の、その他の欠陥
検出が行なわれる(他欠陥検出過程)。この他欠陥検出
過程においては、周知の検査方法を適用することができ
る。たとえば、エッジ近傍を非検査領域として設定した
検査領域においてラプラシアン微分画像を得る。このラ
プラシアン微分画像に対して所定の閾値によって2値化
を行い、欠陥の部分を正常な部分から分離する。
Next, in step S7 in FIG. 1, in the inspection area (see step S3) set in the picked-up image 10, other defects other than the defect near the edge are detected (other defect detection process). In addition, in the defect detection process, a known inspection method can be applied. For example, a Laplacian differential image is obtained in an inspection area where the vicinity of an edge is set as a non-inspection area. The Laplacian differential image is binarized by a predetermined threshold to separate a defective portion from a normal portion.

【0027】またたとえば、基準となるプラスチックカ
ード11の撮像画像である基準画像と、検査対象となる
プラスチックカード11の撮像画像である検査対象画像
とを比較して、エッジ近傍を非検査領域として設定した
検査領域におけるその相違から欠陥検出を行なう。
For example, a reference image, which is a captured image of the plastic card 11 serving as a reference, is compared with an inspection target image, which is a captured image of the plastic card 11 to be inspected, and the vicinity of the edge is set as a non-inspection area. Defect detection is performed from the difference in the inspected area.

【0028】次に、図1のステップS8において、検出
したエッジ近傍欠陥とその他の欠陥とを総合して、プラ
スチックカード11の良否判定を行なう(総合良否判定
過程)。このとき、欠陥の個数、欠陥の寸法、欠陥の位
置、等を考慮することができる。
Next, in step S8 of FIG. 1, the quality of the plastic card 11 is determined by integrating the detected edge vicinity defect and other defects (overall quality determination process). At this time, the number of defects, the size of the defect, the position of the defect, and the like can be considered.

【0029】次に、図1のステップS9において、検査
対象のプラスチックカード11のすべてについて検査を
終了したか否かが判定される。終了している場合には検
査処理を終了とする。検査を終了していない場合にはス
テップS1に戻って、次の検査対象のプラスチックカー
ドに対して以降の過程を繰り返す。
Next, in step S9 of FIG. 1, it is determined whether or not the inspection has been completed for all the plastic cards 11 to be inspected. If it has been completed, the inspection process is completed. If the inspection has not been completed, the process returns to step S1, and the subsequent steps are repeated for the next plastic card to be inspected.

【0030】[0030]

【発明の効果】本発明の請求項1に係る検査方法によれ
ば、エッジにおいて実際には存在しない欠陥が存在する
と誤検出することがなく、エッジ近傍に存在する欠陥を
確実に検出することができる。また本発明の請求項2に
係る検査方法によれば、物品における複数の方向のエッ
ジ近傍に存在する欠陥を検出することができる。また本
発明の請求項3に係る検査方法によれば、エッジの極め
て近傍に存在する欠陥であっても検出することができ
る。また本発明の請求項4に係る検査方法によれば、プ
ラスチックカードのエッジ近傍における欠陥を検出する
ことができる。また本発明の請求項5に係る検査装置に
よれば、エッジにおいて実際には存在しない欠陥が存在
すると誤検出することがなく、エッジ近傍に存在する欠
陥を確実に検出することができる。
According to the inspection method of the first aspect of the present invention, a defect that does not actually exist at an edge is not erroneously detected, and a defect existing near the edge can be reliably detected. it can. Further, according to the inspection method according to the second aspect of the present invention, it is possible to detect defects existing near edges in a plurality of directions in the article. Further, according to the inspection method of the third aspect of the present invention, it is possible to detect even a defect existing very near an edge. Further, according to the inspection method of the fourth aspect of the present invention, it is possible to detect a defect near the edge of the plastic card. Further, according to the inspection apparatus of the fifth aspect of the present invention, it is possible to reliably detect a defect existing near the edge without erroneously detecting that a defect that does not actually exist at the edge exists.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の検査方法および装置におけるデータ処
理の過程について示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a process of data processing in an inspection method and apparatus according to the present invention.

【図2】本発明の検査方法および装置におけるエッジ近
傍に存在する欠陥を検出する過程についての説明図であ
る。 10 撮像画像 11 プラスチックカード 12 背景 13a,13b エッジ近傍領域 14a,14b 欠陥 20a,20b エッジ方向微分画像 24a,24b 検出欠陥
FIG. 2 is an explanatory diagram illustrating a process of detecting a defect existing near an edge in the inspection method and apparatus according to the present invention. DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Captured image 11 Plastic card 12 Background 13a, 13b Edge vicinity area 14a, 14b Defect 20a, 20b Edge direction differential image 24a, 24b Detection defect

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤井 康隆 東京都新宿区市谷加賀町一丁目1番1号 大日本印刷株式会社内 Fターム(参考) 2G051 AA73 AB07 AC01 CA03 CB01 DA01 DA05 EA08 5B057 AA01 BA02 CA12 CB12 CE20 CH08 DA03 DB02 DC16 DC32 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Yasutaka Fujii 1-1-1 Ichigaya-Kaga-cho, Shinjuku-ku, Tokyo F-term in Dai Nippon Printing Co., Ltd. (reference) 2G051 AA73 AB07 AC01 CA03 CB01 DA01 DA05 EA08 5B057 AA01 BA02 CA12 CB12 CE20 CH08 DA03 DB02 DC16 DC32

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】物品を撮像して撮像画像を得る撮像過程
と、 前記撮像画像における前記物品のエッジ方向に微分を行
なってエッジ方向微分画像を生成するエッジ方向微分過
程と、 前記エッジ方向微分画像に基づいてエッジ近傍における
欠陥を検出するエッジ近傍欠陥検出過程と、 から成ることを特徴とする検査方法。
1. An imaging process of imaging an article to obtain a captured image, an edge direction differentiation process of differentiating an edge direction of the article in the captured image to generate an edge direction differential image, and the edge direction differential image An edge vicinity defect detection step of detecting a defect near an edge based on the following.
【請求項2】請求項1記載の検査方法において、前記エ
ッジ方向微分過程において前記物品の複数のエッジ方向
に応じて複数のエッジ方向微分画像を生成し、前記エッ
ジ近傍欠陥検出過程において前記複数のエッジ方向微分
画像に基づいて前記複数のエッジ近傍における欠陥を検
出することを特徴とする検査方法。
2. The inspection method according to claim 1, wherein a plurality of edge direction differential images are generated in accordance with a plurality of edge directions of the article in the edge direction differentiation step, and the plurality of edge direction differential images are detected in the edge vicinity defect detecting step. An inspection method comprising: detecting a defect near the plurality of edges based on an edge direction differential image.
【請求項3】請求項1または2記載の検査方法におい
て、前記撮像画像における画素の配列方向と前記物品の
エッジ方向とを一致させることを特徴とする検査方法。
3. The inspection method according to claim 1, wherein an arrangement direction of pixels in the picked-up image coincides with an edge direction of the article.
【請求項4】請求項1〜3のいずれかに記載の検査方法
において、前記物品はプラスチックカードであることを
特徴とする検査方法。
4. The inspection method according to claim 1, wherein the article is a plastic card.
【請求項5】物品を撮像して撮像画像を得る撮像手段
と、 前記撮像画像における前記物品のエッジ方向に微分を行
なってエッジ方向微分画像を生成するエッジ方向微分手
段と、 前記エッジ方向微分画像に基づいてエッジ近傍における
欠陥を検出するエッジ近傍欠陥検出手段と、を具備する
ことを特徴とする検査装置。
5. An image pickup means for picking up an article to obtain a picked-up image, an edge direction differentiating means for differentiating an edge direction of the article in the picked-up image to generate an edge direction differential image, and the edge direction differential image. And an edge near-edge defect detecting means for detecting a defect near the edge on the basis of the above.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2011047862A (en) * 2009-08-28 2011-03-10 Ricoh Co Ltd Image inspection apparatus, image inspection method, program, and recording medium
JP2018048996A (en) * 2016-09-14 2018-03-29 リコーエレメックス株式会社 Inspection system

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