JP2002045732A - Rotation-type substrate treatment apparatus - Google Patents

Rotation-type substrate treatment apparatus

Info

Publication number
JP2002045732A
JP2002045732A JP2000238582A JP2000238582A JP2002045732A JP 2002045732 A JP2002045732 A JP 2002045732A JP 2000238582 A JP2000238582 A JP 2000238582A JP 2000238582 A JP2000238582 A JP 2000238582A JP 2002045732 A JP2002045732 A JP 2002045732A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
liquid
stripping
head
spray unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000238582A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Katsutoshi Nakada
勝利 中田
Osamu Fujine
修 藤根
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Precision Products Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Precision Products Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Precision Products Co Ltd filed Critical Sumitomo Precision Products Co Ltd
Priority to JP2000238582A priority Critical patent/JP2002045732A/en
Publication of JP2002045732A publication Critical patent/JP2002045732A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Coating Apparatus (AREA)
  • Nozzles (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To carry out a substrate treatment uniformly in the whole range of radial direction of the rotation circle of a substrate in a substrate treatment wherein a chemical is supplied to the surface of a substrate while rotating the substrate. SOLUTION: From a plurality of nozzles 36d arranged along the radial direction of a rotation circle of a substrate 10, a chemical is supplied to the surface of the substrate 10 by delivering the chemical so that the amount of it delivered increases from the inner periphery side toward the outer periphery side. The chemical supplied to the surface of the substrate 10 is successively discharged from the surface by the centrifugal force due to the rotation of the substrate 10.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶用ガラス基板
等の基板類の湿式処理に使用される回転式基板処理装置
に関する。
The present invention relates to a rotary substrate processing apparatus used for wet processing of substrates such as glass substrates for liquid crystals.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶用ガラス基板の製造においては、素
材であるガラス基板の表面にレジスト塗布、エッチン
グ、レジスト剥離等の処理が繰り返される。このような
ガラス基板の処理に使用される基板処理装置の一つとし
て回転式のものがある。
2. Description of the Related Art In the production of a glass substrate for a liquid crystal, processes such as application of a resist, etching, and peeling of a resist are repeated on the surface of a glass substrate as a material. One of the substrate processing apparatuses used for processing such a glass substrate is a rotary type.

【0003】回転式基板処理装置は、処理槽内で基板を
ロータ上に支持して回転させながら、スプレーユニット
により基板の表面に処理液としてエッチング液、剥離液
等の薬液を供給する。薬液による処理が終わると、別の
スプレーユニットにより基板の表面に処理液としてリン
ス用の純水を供給する。純水によるリンス処理が終わる
と、基板を高速で回転させることにより乾燥処理する。
A rotary substrate processing apparatus supplies a chemical such as an etching liquid or a stripping liquid as a processing liquid to a surface of the substrate by a spray unit while supporting and rotating the substrate on a rotor in a processing tank. After the treatment with the chemical solution, pure water for rinsing is supplied as a treatment liquid to the surface of the substrate by another spray unit. After the rinsing process with the pure water is completed, the substrate is rotated at a high speed to perform a drying process.

【0004】この回転式基板処理装置は、枚葉式装置で
あることから、大型基板の処理装置として期待されてい
る。大型基板を処理する場合、その表面積が大きいこと
から、処理効率や薬液の利用効率を上げるための様々な
工夫が考えられており、その一つとしてレジスト剥離に
おける多段処理がある。
Since this rotary substrate processing apparatus is a single wafer processing apparatus, it is expected as a processing apparatus for large substrates. In the case of processing a large-sized substrate, since the surface area is large, various devices for improving the processing efficiency and the use efficiency of a chemical solution have been considered. One of them is a multi-step process in resist stripping.

【0005】レジスト剥離における多段処理では、基板
の表面を剥離液で本処理する前に、少量の剥離液を表面
張力で基板の表面上に保持し、この状態で基板を低速で
回転させる。この粗剥離が終わると、粗剥離に使用され
た剥離液を基板の表面上から排除し、本剥離を行う。
[0005] In the multi-step processing for resist stripping, a small amount of stripping liquid is held on the surface of the substrate by surface tension before the main processing of the substrate surface with stripping liquid, and the substrate is rotated at a low speed in this state. When the rough stripping is completed, the stripping solution used for the rough stripping is removed from the surface of the substrate, and the main stripping is performed.

【0006】本剥離では、基板の表面に剥離液を連続的
に供給する。基板の表面上に供給された剥離液は、基板
の回転に伴う遠心力により基板の表面上を外周側へ流動
し、その表面上から逐次排出される。粗剥離及び本剥離
には、使用後の剥離液が再使用される。粗剥離に使用さ
れた剥離液は廃棄され、本剥離に使用された剥離液は再
使用のために回収される。
In this stripping, a stripper is continuously supplied to the surface of the substrate. The stripping solution supplied on the surface of the substrate flows on the surface of the substrate to the outer peripheral side by centrifugal force caused by the rotation of the substrate, and is sequentially discharged from the surface. For the rough stripping and the main stripping, the stripping solution after use is reused. The stripping solution used for the rough stripping is discarded, and the stripping solution used for the main stripping is collected for reuse.

【0007】本剥離が終わると、新しい剥離液により仕
上げ処理される。仕上げ処理に使用された剥離液は再使
用のために回収される。
[0007] When the main stripping is completed, a finishing process is performed with a new stripper. The stripping solution used for the finishing treatment is collected for reuse.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】このような多段処理に
より、大型基板が高レートで剥離処理される。また、剥
離液の有効利用が図られ、液コストが低減する。しかし
ながら、その本剥離において、次のよう問題がある。
By such a multi-step process, a large substrate is peeled off at a high rate. Further, effective use of the stripping liquid is achieved, and the liquid cost is reduced. However, the main peeling has the following problems.

【0009】レジストの本剥離では、スプレーユニット
は、基板の回転円の半径方向に沿って配列された複数の
ノズルから、基板の表面に向けて剥離液を吐出する。こ
のとき、基板は回転している。従って、剥離液は、基板
の回転円の半径方向全域及び周方向全域、即ち基板の表
面全体に供給され、その供給液は、基板の回転に伴う遠
心力により、基板の表面上を外周側へ流動し、その表面
上から逐次排出される。
In the main stripping of the resist, the spray unit discharges a stripping liquid from a plurality of nozzles arranged along the radial direction of the rotating circle of the substrate toward the surface of the substrate. At this time, the substrate is rotating. Therefore, the stripping liquid is supplied to the entire area in the radial direction and the entire area in the circumferential direction of the rotating circle of the substrate, that is, to the entire surface of the substrate. It flows and is sequentially discharged from its surface.

【0010】ここで、基板の回転円の内周部に供給され
た剥離液は、回転に伴う遠心力により外周部に移動す
る。このため、基板の回転円の中心部にのみ限定的に薬
液を吐出する形態もあり、回転円の半径方向全域に剥離
液を吐出すれば、外周部の処理レートが中心部の処理レ
ートより低下することはないと考えられていた。
Here, the stripping solution supplied to the inner peripheral portion of the rotating circle of the substrate moves to the outer peripheral portion due to centrifugal force accompanying the rotation. For this reason, there is also a mode in which the chemical solution is discharged only to the central portion of the rotating circle of the substrate, and if the stripping liquid is discharged in the entire radial direction of the rotating circle, the processing rate of the outer peripheral portion is lower than the processing rate of the central portion. Was never thought to be.

【0011】しかしながら、基板が大型化すると、回転
円の半径方向全域に剥離液を吐出しても、外周部の処理
レートが中心部の処理レートより著しく低下することが
判明した。その理由は、外周部ほど周速及び周長が長く
なることに加え、剥離液の温度が低下することなどが考
えられる。
However, it has been found that when the size of the substrate is increased, the processing rate of the outer peripheral portion is significantly lower than the processing rate of the central portion even when the stripping liquid is discharged in the entire radial direction of the rotating circle. It is considered that the reason is that, in addition to the peripheral speed and the peripheral length becoming longer at the outer peripheral portion, the temperature of the stripping solution is lowered.

【0012】本発明の目的は、大型基板の場合も、回転
円の半径方向全域で均等な処理を可能にする回転式基板
処理装置を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a rotary substrate processing apparatus capable of performing uniform processing over the entire area in the radial direction of a rotating circle even for a large substrate.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の回転式基板処理装置は、基板をロータ上で
回転させなから、スプレーユニットにより上方から基板
の表面に処理液を供給する回転式基板処理装置におい
て、前記スプレーユニットは、基板回転円の半径方向に
沿って配列された複数のノズルから、内周側より外周側
で吐出量が多くなるように処理液を吐出する構成とした
ものである。
In order to achieve the above object, a rotary substrate processing apparatus according to the present invention supplies a processing liquid from above to a surface of a substrate by a spray unit while rotating the substrate on a rotor. In the rotary substrate processing apparatus, the spray unit discharges the processing liquid from a plurality of nozzles arranged along the radial direction of the substrate rotation circle such that the discharge amount is larger on the outer peripheral side than on the inner peripheral side. It is what it was.

【0014】この構成は、処理液として薬液を使用する
薬液処理に有効であり、そのなかでもレジストの本剥離
のように、基板の表面に供給された処理液が、基板の回
転に伴う遠心力によってその表面から逐次排除される流
動処理に特に有効である。
This configuration is effective for a chemical treatment using a chemical as a treatment liquid. Among them, like the main peeling of the resist, the treatment liquid supplied to the surface of the substrate is subjected to centrifugal force caused by the rotation of the substrate. This is particularly effective for a fluid treatment that is sequentially removed from the surface by the method.

【0015】この構成は又、内周側より外周側に高密度
で配列されたノズルを使用することにより簡単に実現さ
れる。
This configuration can be easily realized by using nozzles arranged at a higher density on the outer peripheral side than on the inner peripheral side.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下に本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。図1は本発明の1実施形態を示す回
転式基板処理装置の主要部の立面図、図2は同回転式基
板処理装置に使用さたスプレーユニットのヘッド部の構
成を示す平面図で、図1のA−A線矢示図、図3は同ヘ
ッド部を構成する3つのヘッドの側面図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is an elevation view of a main part of a rotary substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view showing a configuration of a head unit of a spray unit used in the rotary substrate processing apparatus. FIG. 3 is a side view of three heads constituting the head unit, as shown by arrows AA in FIG.

【0017】本実施形態の回転式基板処理装置は、液晶
用ガラス基板のレジスト剥離に使用される装置である。
この装置は、図1に示すように、処理すべき基板10を
水平に支持して回転させるロータ20と、ロータ20上
の基板10の表面に剥離液を供給する第1のスプレーユ
ニット30と、ロータ20上の基板10の表面にリンス
用の純水を供給する図示されない第2のスプレーユニッ
トと、基板10の表面に供給された剥離液及び純水を回
収する液体回収機構40とを備えている。
The rotary substrate processing apparatus according to the present embodiment is an apparatus used for removing a resist from a liquid crystal glass substrate.
As shown in FIG. 1, the apparatus includes a rotor 20 that horizontally supports and rotates a substrate 10 to be processed, a first spray unit 30 that supplies a stripping liquid to the surface of the substrate 10 on the rotor 20, A second spray unit (not shown) for supplying pure water for rinsing to the surface of the substrate 10 on the rotor 20 and a liquid recovery mechanism 40 for recovering the stripping liquid and pure water supplied to the surface of the substrate 10 are provided. I have.

【0018】ロータ20は、処理槽内の中心部に配置さ
れた円形の水平板であり、その上方に基板10を複数の
ピン21により支持する。このロータ20は、下方の図
示されない駆動機構により任意の速度で回転駆動される
ことにより、基板10を所定の速度で回転させる。
The rotor 20 is a circular horizontal plate disposed in the center of the processing tank, and supports the substrate 10 above the substrate by a plurality of pins 21. The rotor 20 is rotated at an arbitrary speed by a lower drive mechanism (not shown) to rotate the substrate 10 at a predetermined speed.

【0019】液体回収機構40は、ロータ20及び駆動
機構を取り囲むにように、処理槽内に配置された外カッ
プ41及び内カップ42を有している。外カップ41
は、基板10の表面に供給された剥離液を再使用のため
に回収する。外カップ41の開口縁部は、ロータ20の
上方に位置する。外カップ41の内側に同心状に組み合
わされた内カップ42は、基板10の表面に供給された
剥離液及び純水を廃液として回収する。この分別回収の
ために、内カップ42の上部は、開口縁部がロータ20
の上下に移動するように昇降駆動される。
The liquid recovery mechanism 40 has an outer cup 41 and an inner cup 42 arranged in a processing tank so as to surround the rotor 20 and the drive mechanism. Outer cup 41
Collects the stripping solution supplied to the surface of the substrate 10 for reuse. The opening edge of the outer cup 41 is located above the rotor 20. The inner cup 42 concentrically assembled inside the outer cup 41 collects the stripping liquid and the pure water supplied to the surface of the substrate 10 as a waste liquid. For this separation and collection, the upper edge of the inner cup 42 has an opening edge at the rotor 20.
Is driven to move up and down.

【0020】第1のスプレーユニット30は、水平なヘ
ッド部31と、これを支持する支持機構32とを有して
いる。支持機構32は、ヘッド部31を昇降駆動及び旋
回駆動し、これらの駆動により、ヘッド部31をカップ
内の使用位置とカップ外の退避位置とに移動させ、使用
位置では、ヘッド部31をロータ20上の基板10の表
面に対向させる。
The first spray unit 30 has a horizontal head portion 31 and a support mechanism 32 for supporting the same. The support mechanism 32 drives the head unit 31 to move up and down and swing, and by these drives, moves the head unit 31 between a use position inside the cup and a retracted position outside the cup. The substrate 10 is opposed to the surface of the substrate 10 on the substrate 20.

【0021】第1のスプレーユニット30のヘッド部3
1は、図2に示すように、厚み方向に重ね合わされた第
1ヘッド33a、第2ヘッド33b及び第3ヘッド33
dを有している。これらのヘッドは、支持部34の下面
に取り付けられており、ヘッド部31が使用位置に移動
した状態で、基板10の回転円の半径線に平行になる。
The head part 3 of the first spray unit 30
1, a first head 33a, a second head 33b, and a third head 33, which are superposed in the thickness direction, as shown in FIG.
d. These heads are attached to the lower surface of the support part 34, and are parallel to the radius line of the rotating circle of the substrate 10 when the head part 31 is moved to the use position.

【0022】第1ヘッド33aは粗剥離用のヘッドであ
る。このヘッドは、図3(a)に示すように、ヘッド本
体35aの下面に取り付けられた複数のノズル36aを
有している。複数のノズル36aは、ヘッド本体35a
の上面に取り付けられた複数のジョイント部材37aを
介して剥離液(再使用液)の供給源に独立に接続されて
いる。これにより、複数のノズル36aからの剥離液
(再使用液)の吐出は、各ノズル毎に独立にオン・オフ
される。
The first head 33a is a head for rough peeling. As shown in FIG. 3A, the head has a plurality of nozzles 36a attached to the lower surface of the head main body 35a. The plurality of nozzles 36a are connected to the head main body 35a.
Are independently connected to a supply source of a stripping liquid (reusable liquid) through a plurality of joint members 37a attached to the upper surface of the liquid crystal panel. Thus, the discharge of the stripping liquid (reusable liquid) from the plurality of nozzles 36a is turned on / off independently for each nozzle.

【0023】第2ヘッド33bは本剥離用のヘッドであ
る。このヘッドは、図3(b)に示すように、ヘッド本
体35bの下面に取り付けられた複数のノズル36bを
有している。複数のノズル36bは、ヘッド本体35b
内に設けられた水平なヘッダ管38bを介し、更にヘッ
ド本体35bの上面に取り付けられたジョイント部材3
7bを介して剥離液(再使用液)の供給源に一括して接
続されている。これにより、複数のノズル36bからの
剥離液(再使用液)の吐出は、一括してオン・オフされ
る。
The second head 33b is a main peeling head. As shown in FIG. 3B, this head has a plurality of nozzles 36b attached to the lower surface of the head body 35b. The plurality of nozzles 36b are connected to the head body 35b.
Member 3 attached to the upper surface of the head body 35b via a horizontal header tube 38b provided therein.
7b, they are collectively connected to a supply source of a stripping liquid (reuse liquid). Thus, the discharge of the stripping liquid (reusable liquid) from the plurality of nozzles 36b is turned on / off collectively.

【0024】第3ヘッド33dは、第2ヘッド33bと
同じ本剥離用のヘッドである。このヘッドは、図3
(c)に示すように、ヘッド本体35dの下面に取り付
けられた複数のノズル36dを有している。複数のノズ
ル36dは、ヘッド本体35d内に設けられた水平なヘ
ッダ管38dを介し、更にヘッド本体35dの上面に取
り付けられたジョイント部材37d(図1及び図2参
照)を介して剥離液(再使用液)の供給源に一括して接
続されている。これにより、複数のノズル36dからの
剥離液(再使用液)の吐出は、一括してオン・オフされ
る。
The third head 33d is the same main-peeling head as the second head 33b. This head is shown in FIG.
As shown in (c), it has a plurality of nozzles 36d attached to the lower surface of the head body 35d. The plurality of nozzles 36d are separated via a horizontal header pipe 38d provided in the head main body 35d, and further through a joint member 37d (see FIGS. 1 and 2) attached to the upper surface of the head main body 35d. Are connected collectively to the supply source of the working liquid). Thereby, the discharge of the stripping liquid (reusable liquid) from the plurality of nozzles 36d is turned on / off collectively.

【0025】これらのヘッドにおける複数のノズルは、
いずれも、ヘッド部31がカップ内の使用位置に移動し
た状態で、基板10の回転円の半径線に平行に整列し、
剥離液を基板10の回転方向へ傾斜させて下方へ膜状に
吐出する。
The plurality of nozzles in these heads are
In any case, with the head part 31 moved to the use position in the cup, the head part 31 is aligned in parallel with the radius line of the rotating circle of the substrate 10,
The stripper is discharged in the form of a film inclined downward in the rotation direction of the substrate 10.

【0026】ロータ20上の基板10の表面にリンス用
の純水を供給する図示されない第2のスプレーユニット
は、第1のスプレーユニット30と同様に、カップ内の
使用位置とカップ外の退避位置とに移動する水平なヘッ
ド部を有している。ヘッド部は、使用位置で基板10の
回転円の半径線に平行に整列する複数のノズルを装備し
ており、これらのノズルから、回転する基板10の表面
にリンス用の純水を吐出する。
A second spray unit (not shown) for supplying pure water for rinsing to the surface of the substrate 10 on the rotor 20 has a use position inside the cup and a retreat position outside the cup similarly to the first spray unit 30. And a horizontal head that moves between The head unit is equipped with a plurality of nozzles arranged in parallel with the radius line of the rotating circle of the substrate 10 at the use position, and discharges pure water for rinsing from the nozzles onto the surface of the rotating substrate 10.

【0027】次に、本実施形態の回転式基板処理装置の
動作について説明する。
Next, the operation of the rotary substrate processing apparatus of the present embodiment will be described.

【0028】ロータ20上に基板10がセットされる
と、第1のスプレーユニット30のヘッド部31が退避
位置から使用位置へ移動する。基板10を低速で回転さ
せなから、第1ヘッド33aの全てのノズル36aから
剥離液(再使用液)を吐出する。基板10がほぼ1回回
転する間、この吐出を続けることにより、基板10の表
面上に剥離液(再使用液)を載せる。剥離液(再使用
液)の吐出を停止し、基板10の表面上に剥離液(再使
用液)を保持した状態で、基板10の低速回転を続け
る。
When the substrate 10 is set on the rotor 20, the head 31 of the first spray unit 30 moves from the retracted position to the use position. Since the substrate 10 is rotated at a low speed, the stripping liquid (reusable liquid) is discharged from all the nozzles 36a of the first head 33a. By continuing this discharge while the substrate 10 rotates approximately once, a stripping liquid (reusable liquid) is placed on the surface of the substrate 10. The discharge of the stripping liquid (reusable liquid) is stopped, and the substrate 10 is kept rotating at a low speed while the stripping liquid (reusable liquid) is held on the surface of the substrate 10.

【0029】このようにして粗剥離を行う。所定時間、
粗剥離を続けた後、基板10の回転速度を上げて、基板
10の表面上から剥離液(再使用液)を排出する。この
とき、内カップ42の上部は、開口縁部がロータ20よ
り上になる上段位置に上昇している。これにより、粗剥
離に使用された汚れの顕著な剥離液(再使用液)は、内
カップ42内に廃液として排出される。
The rough peeling is performed in this manner. Predetermined time,
After continuing the rough stripping, the rotation speed of the substrate 10 is increased, and the stripping liquid (reusable liquid) is discharged from the surface of the substrate 10. At this time, the upper portion of the inner cup 42 has been raised to an upper position where the opening edge is higher than the rotor 20. As a result, the stripping liquid (reusable liquid) that is used for the rough stripping and is contaminated is discharged as waste liquid into the inner cup 42.

【0030】粗剥離が終わると、基板10を所定速度で
回転させながら、本剥離用の第2ヘッド33bの全ての
ノズル36b及び第3ヘッド33dの全てのノズル36
dから剥離液(再使用液)を吐出すると共に、第1ヘッ
ド33aの一部のノズル36a、より具体的には基板1
0の回転円の半径方向外周部に位置するノズル36aか
ら剥離液(再使用液)を吐出する。これにより、基板1
0の回転円の半径方向における剥離液の吐出量分布は、
内周部より外周部で多いものとなる。
When the rough peeling is completed, all the nozzles 36b of the second head 33b and all the nozzles 36b of the third head 33d are rotated while rotating the substrate 10 at a predetermined speed.
d, a stripping liquid (reusable liquid) is discharged, and a part of the nozzles 36a of the first head 33a, more specifically, the substrate 1
The stripping liquid (reusable liquid) is discharged from the nozzle 36a located at the outer peripheral portion in the radial direction of the 0 rotation circle. Thereby, the substrate 1
The discharge amount distribution of the stripper in the radial direction of the 0 rotation circle is:
The number is larger at the outer periphery than at the inner periphery.

【0031】基板10の表面上に供給された剥離液(再
使用液)は、基板10の回転に伴う遠心力により基板1
0の表面上を外周側へ流動し、その表面上から排出され
る。基板10の外周部は、内周部と比べ、周長及び周速
が大きく、単位面積・単位時間当たりの接触液量が少な
くなり、液温も低下する傾向となるが、内周部より多量
の剥離液が外周部で吐出されているので、基板10が大
型の場合も半径方向で均一な処理レートが確保される。
The stripping solution (reusable solution) supplied on the surface of the substrate 10 is subjected to centrifugal force caused by the rotation of the substrate 10 so that the substrate 1
0 flows to the outer peripheral side on the surface and is discharged from the surface. The outer peripheral portion of the substrate 10 has a larger perimeter and a higher peripheral speed than the inner peripheral portion, the amount of contact liquid per unit area / time decreases, and the liquid temperature tends to decrease. Is discharged from the outer peripheral portion, so that even when the substrate 10 is large, a uniform processing rate is secured in the radial direction.

【0032】本剥離における剥離液の吐出量分布は、回
転円の中心からの距離に比例して吐出量が増加するパタ
ーンを基本とし、この基本パターンに沿って段階的(本
実施形態では2段階)に吐出量が増大する分布が好まし
い。
The discharge amount distribution of the stripping liquid in this stripping is basically based on a pattern in which the discharge amount increases in proportion to the distance from the center of the rotating circle, and is stepwise (two steps in this embodiment) along this basic pattern. The distribution in which the discharge amount increases in ()) is preferable.

【0033】この本剥離において基板10の表面上から
排出された剥離液(再使用液)は、粗剥離後であるた
め、汚れが少なく、再使用のために外カップ41内に回
収される。この回収のため、内カップ42の上部は、開
口縁部がロータ20より下になる下段位置に下降してい
る。
Since the stripping liquid (reusable liquid) discharged from the surface of the substrate 10 in this main stripping is after the rough stripping, the stripping liquid is less contaminated and is collected in the outer cup 41 for reuse. For this recovery, the upper portion of the inner cup 42 is lowered to a lower position where the opening edge is lower than the rotor 20.

【0034】このように、本実施形態の回転式基板処理
装置では、粗剥離と本剥離を組み合わせた多段処理によ
り、基板10の表面に付着するレジストが効率的に除去
される。特に、本剥離では、内周部より多くの量を外周
部に吐出するので、基板10が大型の場合も半径方向で
均一な処理レートが確保される。
As described above, in the rotary substrate processing apparatus of the present embodiment, the resist adhering to the surface of the substrate 10 is efficiently removed by the multi-stage processing combining the rough peeling and the main peeling. In particular, in the main peeling, since a larger amount is discharged to the outer peripheral portion than the inner peripheral portion, a uniform processing rate is secured in the radial direction even when the substrate 10 is large.

【0035】また、その本剥離では、外周部での増量の
ために粗剥離用のノズルを利用しているので、ノズル数
が低減され、装置構成が簡単である。
Further, in the main stripping, since the nozzle for coarse stripping is used to increase the amount at the outer peripheral portion, the number of nozzles is reduced and the apparatus configuration is simple.

【0036】また、再使用液の分別回収により、高い処
理効率を維持しつつ、剥離液の利用効率の向上が図ら
れ、液コストが低減される。
Further, by separating and collecting the reused liquid, the use efficiency of the stripping liquid is improved while maintaining high processing efficiency, and the liquid cost is reduced.

【0037】なお、上記実施形態では、本剥離において
外周部の吐出量を多くするため、粗剥離用のノズルを利
用したが、本剥離用ヘッドの外周部にノズルを増設する
ことも可能である。また、ノズルの増設に代えて、或い
はノズルの増設と共に、ノズルの吐出能力を大きくする
ことも可能である。また、吐出量を複数段階に変更する
ことも可能である。
In the above-described embodiment, the nozzle for coarse separation is used in order to increase the discharge amount at the outer periphery in the main separation. However, it is also possible to add a nozzle to the outer periphery of the main separation head. . Further, it is also possible to increase the discharge capability of the nozzles instead of or together with the additional nozzles. Further, the discharge amount can be changed in a plurality of stages.

【0038】[0038]

【発明の効果】以上に説明したとおり、本発明の回転式
基板処理装置は、基板回転円の半径方向に沿って配列さ
れた複数のノズルから、内周側より外周側で吐出量が多
くなるように処理液を吐出することにより、大型基板の
場合も、回転円の半径方向全域で均等な処理を行うこと
ができる。
As described above, in the rotary substrate processing apparatus according to the present invention, the discharge amount from the plurality of nozzles arranged along the radial direction of the substrate rotation circle is larger on the outer peripheral side than on the inner peripheral side. By discharging the processing liquid as described above, even in the case of a large substrate, uniform processing can be performed over the entire area in the radial direction of the rotating circle.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の1実施形態を示す回転式基板処理装置
の主要部の立面図である。
FIG. 1 is an elevational view of a main part of a rotary substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】同回転式基板処理装置に使用さたスプレーユニ
ットのヘッド部の構成を示す平面図で、図1のA−A線
矢示図である。
FIG. 2 is a plan view showing a configuration of a head unit of a spray unit used in the rotary type substrate processing apparatus, and is a view taken along line AA of FIG. 1;

【図3】(a)〜(c)は同ヘッド部を構成する3つの
ヘッドの側面図である。
FIGS. 3A to 3C are side views of three heads constituting the head unit. FIGS.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 基板 20 ロータ 30 スプレーユニット 31 ヘッド部 33a 第1ヘッド 33b 第2ヘッド 33d 第3ヘッド 36a,36b,36d ノズル 40 液体回収機構 41 外カップ 42 内カップ DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Substrate 20 Rotor 30 Spray unit 31 Head part 33a First head 33b Second head 33d Third head 36a, 36b, 36d Nozzle 40 Liquid recovery mechanism 41 Outer cup 42 Inner cup

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4F033 AA14 DA05 EA01 LA13 NA01 4F041 AA06 AB01 BA05 BA13 BA34 BA56 4F042 AA07 BA08 BA12 CB07 CB10 EB17 EB28 EB29  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 4F033 AA14 DA05 EA01 LA13 NA01 4F041 AA06 AB01 BA05 BA13 BA34 BA56 4F042 AA07 BA08 BA12 CB07 CB10 EB17 EB28 EB29

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板をロータ上で回転させなから、スプ
レーユニットにより上方から基板の表面に処理液を供給
する回転式基板処理装置において、前記スプレーユニッ
トは、基板回転円の半径方向に沿って配列された複数の
ノズルから、内周側より外周側で吐出量が多くなるよう
に処理液を吐出することを特徴とする回転式基板処理装
置。
1. A rotary substrate processing apparatus for supplying a processing liquid from above to a surface of a substrate by a spray unit while rotating the substrate on a rotor, wherein the spray unit extends along a radial direction of a substrate rotation circle. A rotary substrate processing apparatus, wherein a processing liquid is discharged from a plurality of arranged nozzles such that a discharge amount is larger on an outer peripheral side than on an inner peripheral side.
【請求項2】 前記スプレーユニットは、処理液として
薬液を吐出する請求項1に記載の回転式基板処理装置。
2. The rotary substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the spray unit discharges a chemical as a processing liquid.
【請求項3】 前記スプレーユニットは、基板の表面に
供給された処理液が、基板の回転に伴う遠心力によって
その表面から逐次排除される状態で、処理液を吐出する
請求項1に記載の回転式基板処理装置。
3. The spray unit according to claim 1, wherein the spray unit discharges the processing liquid in a state where the processing liquid supplied to the surface of the substrate is sequentially removed from the surface by centrifugal force caused by rotation of the substrate. Rotary substrate processing equipment.
【請求項4】 前記スプレーユニットは、内周側より外
周側に高密度で配列された複数のノズルから、内周側よ
り外周側で吐出量が多くなるように処理液を吐出する請
求項1に記載の回転式基板処理装置。
4. The processing unit according to claim 1, wherein the spray unit discharges the processing liquid from a plurality of nozzles arranged at a higher density on an outer peripheral side than on an inner peripheral side so that a discharge amount is larger on an outer peripheral side than on an inner peripheral side. 3. The rotary substrate processing apparatus according to claim 1.
JP2000238582A 2000-08-07 2000-08-07 Rotation-type substrate treatment apparatus Pending JP2002045732A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000238582A JP2002045732A (en) 2000-08-07 2000-08-07 Rotation-type substrate treatment apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000238582A JP2002045732A (en) 2000-08-07 2000-08-07 Rotation-type substrate treatment apparatus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002045732A true JP2002045732A (en) 2002-02-12

Family

ID=18730266

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000238582A Pending JP2002045732A (en) 2000-08-07 2000-08-07 Rotation-type substrate treatment apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002045732A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4936146B2 (en) Substrate processing apparatus and substrate processing apparatus cleaning method using the same
JP3559228B2 (en) Rotary substrate processing equipment
CN101437630A (en) Apparatus for isolated bevel edge clean and method for using the same
TW200933794A (en) Device and process for wet treating a peripheral area of a wafer-shaped article
CN217691080U (en) Automatic separating and collecting device for various liquid medicines for wafer cleaning
TW200836841A (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP2002519856A (en) Flat plate media processing unit with offset rotor
JPH10242110A (en) Method and device for rotational treatment
JP2002045732A (en) Rotation-type substrate treatment apparatus
JP2002016031A (en) Substrate treatment method
KR100408114B1 (en) Substrate processing apparatus
JP2000107706A (en) Cleaning apparatus
TW201308481A (en) Device and process for liquid treatment of wafer shaped articles
JP2000288490A (en) Wet treating device
CN103828032B (en) For processing device and the method for substrate surface
JP7417636B2 (en) Chemical treatment equipment
JP2005340331A (en) Method and apparatus of substrate washing
JP2003282516A (en) Substrate treatment equipment
JP2002177854A (en) Substrate treatment apparatus
JP3532837B2 (en) Rotary substrate processing equipment
KR20160026419A (en) Pre dispense unit and substrate treating apparatus
JPH11176786A (en) Semiconductor substrate cleaning system
JP2011089209A (en) Method of operating semiconductor manufacturing apparatus and method of manufacturing semiconductor device
KR20050017925A (en) Cleaner with a Megasonic Probe
JP2002011420A (en) Device for treating substrate