JP2002042354A - Servo circuit for optical disk device - Google Patents

Servo circuit for optical disk device

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JP2002042354A
JP2002042354A JP2000222588A JP2000222588A JP2002042354A JP 2002042354 A JP2002042354 A JP 2002042354A JP 2000222588 A JP2000222588 A JP 2000222588A JP 2000222588 A JP2000222588 A JP 2000222588A JP 2002042354 A JP2002042354 A JP 2002042354A
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Japan
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circuit
defect
signal
optical disk
servo
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Application number
JP2000222588A
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Japanese (ja)
Inventor
Yuichi Kobayashi
裕一 小林
Takahiro Watabe
隆弘 渡部
Yasushi Imamura
泰 今村
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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    • G11B7/08Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G11B7/0948Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for detection and avoidance or compensation of imperfections on the carrier, e.g. dust, scratches, dropouts

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a servo circuit for an optical disk device, capable of performing stable servo control by simple circuit constitution, even when performing high double-speed reproduction to an optical disk with flaws on its surface. SOLUTION: The device is provided with a spindle motor 102 for rotating the optical disk 101, an optical pickup 103 for reading reflected light from the disk 101, a high-frequency amplifier 106 for obtaining a high-frequency signal from the reflected light, a defect-detecting circuit 107 for detecting the flaw on the disk 101 from the high-frequency signal and outputting a defect- detecting signal, a counting counter 108, a count value storing register 109 and a comparing circuit 110 for predicting the position of the flaw and outputting a defect-predicting signal, a hold circuit 112 for holding movement of the pickup 103, based on the defect detection signal and the defect-predicting signal, the servo circuit 113 and an optical pickup drive circuit 114.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は光ディスク装置のピ
ックアップサーボ回路に関するもので、特に、光ディス
クの傷に対して安定なサーボ制御を行うことを図った光
ディスク装置の光ピックアップサーボ回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pickup servo circuit for an optical disk device, and more particularly, to an optical pickup servo circuit for an optical disk device that performs stable servo control for scratches on an optical disk.

【0002】[0002]

【従来の技術】光ディスク装置は、記録または再生時
に、光ピックアップのレーザビームを正確に光ディスク
上に収束させるために、フォーカスエラー信号を用いた
フォーカスサーボ制御を、また、レーザースポットを光
ディスク上のトラックを正確に追従させるために、トラ
ッキングエラー信号を用いたトラッキングサーボ制御を
行っている。フォーカスエラー信号やトラッキングエラ
ー信号は、光ディスクの反射光から得られる。そのた
め、光ディスク上に傷がある場合、安定したフォーカス
エラー信号やトラッキングエラー信号が得られなくな
り、安定したフォーカスサーボ制御、トラッキングサー
ボ制御が行えなくなる。
2. Description of the Related Art An optical disc apparatus performs focus servo control using a focus error signal to accurately converge a laser beam of an optical pickup on an optical disc during recording or reproduction, and a laser spot on a track on the optical disc. Tracking servo control using a tracking error signal is performed in order to accurately follow the tracking error signal. The focus error signal and the tracking error signal are obtained from the reflected light of the optical disk. Therefore, if there is a scratch on the optical disc, a stable focus error signal and tracking error signal cannot be obtained, and stable focus servo control and tracking servo control cannot be performed.

【0003】そこで、特開平4−364233号公報に
記載されるように、光ディスク上の傷を検出するディフ
ェクト検出回路を有し、前記ディフェクト検出回路によ
り傷が検出された時に、光ディスクの反射光から読み出
した時間情報を基に、次に検出される傷の位置を予測し
てサーボ帯域を切り替え、安定したフォーカスサーボ制
御およびトラッキングサーボ制御を行う光ディスク装置
用サーボ回路が提案されている。
Therefore, as described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-364233, there is provided a defect detection circuit for detecting a flaw on an optical disk, and when a flaw is detected by the defect detection circuit, reflected light from the optical disk is detected. There has been proposed a servo circuit for an optical disc device that switches a servo band by predicting the position of a flaw to be detected next based on read time information and performs stable focus servo control and tracking servo control.

【0004】以下、図5を用いて、従来の光ディスク装
置用サーボ回路の構成と動作を説明する。スピンドルモ
ータ502は光ディスク501を回転させ、光ピックア
ップ503は光ディスク501からの反射光を読み取
る。高周波アンプ506は反射光の高周波成分(以下、
RF信号と記す)を取り出す。データプロセッサ507
は、RF信号の2値化、クロック再生を行うとともに、
データの読みとり、例えば音楽用CDでは光ディスクか
ら読み出したサブコードより得られる光ディスクの最内
周からの経過時間(以下、絶対時間と記す)の読み取り
を行う。ディフェクト検出回路508、509は光ディ
スク501の傷を検出し、ディフェクト検出信号を出力
する。傷位置予測回路510はディフェクト検出回路5
08、509で傷が検出された時に前記絶対時間を用い
て光ディスクの回転周期を求め、光ディスク501が一
回転した時の傷が来るタイミングを予測し、ディフェク
ト予測信号を出力する。フォーカシングイコライザ51
3およびトラッキングイコライザ514はサーボ特性を
広帯域、ノーマル帯域、狭帯域の3段階に可変できる。
サーボ特性切替回路511、512はディフェクト検出
回路508,509により出力されるディフェクト検出
信号と傷位置予測回路510により出力されるディフェ
クト予測信号に基づいて、フォーカシングイコライザ5
13とトラッキングイコライザ514のサーボ特性を切
り替えさせる。フォーカシングドライバ515はフォー
カシングアクチュエータ504を光ディスク501表面
の垂直方向に駆動し、トラッキングドライバ516はト
ラッキングアクチュエータ505を光ディスク501の
半径方向に駆動する。
The configuration and operation of a conventional servo circuit for an optical disk device will be described below with reference to FIG. The spindle motor 502 rotates the optical disk 501, and the optical pickup 503 reads reflected light from the optical disk 501. The high-frequency amplifier 506 outputs a high-frequency component of the reflected light
RF signal). Data processor 507
Performs binarization of RF signal and clock recovery,
Data is read, for example, in a music CD, the elapsed time (hereinafter referred to as absolute time) from the innermost circumference of the optical disk obtained from the subcode read from the optical disk is read. The defect detection circuits 508 and 509 detect a scratch on the optical disk 501 and output a defect detection signal. The defect position prediction circuit 510 is a defect detection circuit 5
When a flaw is detected in steps 08 and 509, the rotation period of the optical disk is obtained using the absolute time, the timing of the flaw when the optical disk 501 makes one rotation is predicted, and a defect prediction signal is output. Focusing equalizer 51
3 and the tracking equalizer 514 can change the servo characteristics in three stages of a wide band, a normal band, and a narrow band.
The servo characteristic switching circuits 511 and 512 are based on the defect detection signals output from the defect detection circuits 508 and 509 and the defect prediction signal output from the flaw position prediction circuit 510, and the focusing equalizer 5 is used.
13 and the servo characteristics of the tracking equalizer 514 are switched. The focusing driver 515 drives the focusing actuator 504 in the direction perpendicular to the surface of the optical disk 501, and the tracking driver 516 drives the tracking actuator 505 in the radial direction of the optical disk 501.

【0005】以上のように構成された従来の光ディスク
装置用サーボ回路は、光ディスク501表面に傷のない
正常時には、フォーカシングイコライザ513とトラッ
キングイコライザ514のサーボ特性を広帯域に切り換
えさせておき、ディフェクト検出回路508、509で
傷が検出された時は、傷位置予測回路510が、データ
プロセッサ507により光ディスク501から読み出さ
れた前記絶対時間から光ディスク501の回転周期を求
めて、光ディスク501が一回転後の傷が来るタイミン
グを予測し、ディフェクト予測信号を出力する。そし
て、サーボ特性切替回路511、512は傷位置予測回
路510の出力信号であるディフェクト予測信号に従い
傷の直前でフォーカシングイコライザ513とトラッキ
ングイコライザ514のサーボ特性をノーマル帯域に切
り換えさせた後、さらに傷が検出されている間、フォー
カシングイコライザ513とトラッキングイコライザ5
14のサーボ特性を狭帯域に切り換える構成にし、再び
傷がなくなると、フォーカスサーボイコライザ513と
トラッキングサーボイコライザ514のサーボ特性を広
帯域に切り替えるので傷によるサーボの誤動作を少なく
できサーボ制御の安定化が図られていた。
[0005] The conventional servo circuit for an optical disk apparatus configured as described above switches the servo characteristics of the focusing equalizer 513 and the tracking equalizer 514 to a wide band when the surface of the optical disk 501 is normal without any scratches. When a flaw is detected in 508 or 509, the flaw position prediction circuit 510 obtains the rotation cycle of the optical disc 501 from the absolute time read from the optical disc 501 by the data processor 507, and the optical disc 501 is rotated once. It predicts the timing of the damage and outputs a defect prediction signal. Then, the servo characteristic switching circuits 511 and 512 switch the servo characteristics of the focusing equalizer 513 and the tracking equalizer 514 to the normal band immediately before the flaw according to the defect prediction signal which is the output signal of the flaw position prediction circuit 510. During the detection, the focusing equalizer 513 and the tracking equalizer 5
When the servo characteristic of the servo servo 14 is switched to a narrow band, and there is no damage again, the servo characteristics of the focus servo equalizer 513 and the tracking servo equalizer 514 are switched to a wide band, so that servo malfunction due to the scratch can be reduced and servo control can be stabilized. Had been.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上述の従来
の光ディスク装置用サーボ回路は、光ディスク表面の傷
の位置を予測するために、光ディスク上から読み出した
絶対時間を使って、光ディスクの回転周期を求める必要
がある。よって、例えばDSPを使って回転周期を計算
するためには、サーボ制御プログラムの実行ステップ数
が増加し、光ディスクの回転数が上がるとサーボ制御プ
ログラムの1実行サイクル間に行う計算処理が増加する
ため、光ディスクの高倍速再生が出来なくなる問題が生
じていた。
However, the conventional servo circuit for an optical disk device described above uses the absolute time read from the optical disk to predict the position of a scratch on the surface of the optical disk by using the absolute time read from the optical disk. Need to ask. Therefore, for example, in order to calculate the rotation cycle using a DSP, the number of execution steps of the servo control program increases, and the calculation processing performed during one execution cycle of the servo control program increases when the rotation number of the optical disk increases. However, there has been a problem that high-speed reproduction of the optical disc cannot be performed.

【0007】また、DSPを使って光ディスクの回転周
期を求める計算をハードウェアで行う場合には、回路規
模が大きくなるという問題が生じていた。よって、本発
明は、表面に傷がある光ディスクを高倍速再生する場合
でも、安定したサーボ制御を簡単な回路構成で行うこと
のできる光ディスク装置用のサーボ回路を提供すること
を目的とする。
Further, when the calculation for obtaining the rotation cycle of the optical disk is performed by hardware using a DSP, there has been a problem that the circuit scale becomes large. SUMMARY OF THE INVENTION It is therefore an object of the present invention to provide a servo circuit for an optical disk device capable of performing stable servo control with a simple circuit configuration even when reproducing an optical disk having a scratch on the surface at a high speed.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に記載
の光ディスク装置用サーボ回路は、サーボ特性を変更可
能なサーボ回路と、光ディスクから光ピックアップを介
して得られる反射光に基づいて前記光ディスクの傷を検
出し、ディフェクト検出信号を出力するディフェクト検
出回路と、前記ディフェクト検出回路により傷が検出さ
れた時、次に前記ディフェクト検出回路により検出され
る傷の位置を予測し、ディフェクト予測信号を出力する
ディフェクト時間予測手段と、前記ディフェクト検出回
路により傷が検出されていない時には、前記サーボ回路
のサーボ特性を広帯域にしておき、前記ディフェクト検
出回路により傷が検出された時には前記ディフェクト時
間予測手段の予測に従い次に検出される傷の直前で前記
サーボ回路をホールドするとともに、前記ディフェクト
検出回路で傷が検出されている間は前記サーボ回路をホ
ールドするホールド手段と、を備えることを特徴とする
ものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a servo circuit for an optical disk device, comprising: a servo circuit capable of changing servo characteristics; and a reflected light obtained from an optical disk via an optical pickup. A defect detection circuit for detecting a defect in the optical disc and outputting a defect detection signal; and, when a defect is detected by the defect detection circuit, predicting a position of the defect detected by the defect detection circuit. A defect time estimating means for outputting a signal, and when no defect is detected by the defect detection circuit, the servo characteristic of the servo circuit is set to a wide band, and when a defect is detected by the defect detection circuit, the defect time estimating means is Hoist the servo circuit just before the next detected scratch As well as de, the while the flaw in defect detection circuit is detected is characterized in that and a hold means for holding the servo circuit.

【0009】本発明の請求項2に記載の光ディスク装置
用サーボ回路は、請求項1に記載の光ディスク装置用サ
ーボ回路において、前記ディフェクト時間予測手段は、
前記ディフェクト検出回路により傷が検出されてから光
ディスク一回転後の傷の開始位置までの時間を計測する
計数カウンタと、傷が検出された時に前記計数カウンタ
のカウント値を格納するカウント値格納レジスタと、前
記計数カウンタのカウント値と前記カウント値格納レジ
スタの格納値を比較し、ディフェクト予測信号を出力す
る比較回路とを備えることを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, in the servo circuit for an optical disk device according to the first aspect, the defect time estimating means includes:
A count counter for measuring the time from the detection of the flaw by the defect detection circuit to the start position of the flaw after one rotation of the optical disc; and a count value storage register for storing the count value of the count counter when the flaw is detected. A comparison circuit that compares a count value of the count counter with a value stored in the count value storage register and outputs a defect prediction signal.

【0010】本発明の請求項3に記載の光ディスク装置
用サーボ回路は、請求項1に記載の光ディスク装置用サ
ーボ回路において、前記ホールド手段は、前記ディフェ
クト予測信号と前記ディフェクト検出信号との論理和を
とる論理和回路と、前記論理和回路の出力信号に基づい
て前記サーボ回路をホールドして、光ピックアップの駆
動値をホールドするホールド回路と、を備えることを特
徴とする。
According to a third aspect of the present invention, in the servo circuit for an optical disk device according to the first aspect, the holding means includes a logical sum of the defect prediction signal and the defect detection signal. And a hold circuit that holds the servo circuit based on an output signal of the OR circuit and holds a drive value of the optical pickup.

【0011】本発明の請求項4に記載の光ディスク装置
用サーボ回路は、サーボ特性を変更可能なサーボ回路
と、光ディスクを回転させるとともに、スピンドルドラ
イバを介して一定回転角度毎にFG信号を出力するスピ
ンドルモータと、光ディスクから光ピックアップを介し
て得られる反射光に基づいて前記光ディスクの傷を検出
し、ディフェクト検出信号を出力するディフェクト検出
回路と、前記ディフェクト検出回路により傷が検出され
た時、前記FG信号をカウントすることにより次に前記
ディフェクト検出回路により検出される傷の位置を予測
するディフェクト位置予測手段と、前記ディフェクト検
出回路により傷が検出されていない時には、前記サーボ
回路のサーボ特性を広帯域にしておき、前記ディフェク
ト検出回路により傷が検出された時には前記ディフェク
ト位置予測手段の予測に従い次に検出される傷の直前で
前記サーボ回路をホールドするとともに、前記ディフェ
クト検出回路で傷が検出されている間は前記サーボ回路
をホールドするホールド手段と、を備えることを特徴と
する。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a servo circuit for an optical disk apparatus, wherein a servo circuit capable of changing servo characteristics, an optical disk is rotated, and an FG signal is output at a constant rotation angle via a spindle driver. A spindle motor, a defect detection circuit that detects a scratch on the optical disc based on reflected light obtained from the optical disc via an optical pickup, and outputs a defect detection signal; and when the defect detection circuit detects the scratch, A defect position estimating means for estimating a position of a flaw to be detected by the defect detection circuit by counting an FG signal; and when the flaw is not detected by the defect detection circuit, a servo characteristic of the servo circuit is broadened. And the flaw is detected by the defect detection circuit. Hold means for holding the servo circuit immediately before the next defect detected according to the prediction of the defect position prediction means when detected, and holding the servo circuit while the defect is detected by the defect detection circuit And the following.

【0012】本発明の請求項5に記載の光ディスク装置
用サーボ回路は、請求項4に記載の光ディスク装置用サ
ーボ回路において、前記ディフェクト位置予測手段は、
前記FG信号の立ち上がりエッジから次のFG信号の立
ち上がりエッジが検出されるまでの時間を計測する第1
の計数カウンタと、前記ディフェクト検出回路で傷が検
出された時に、前記第1の計数カウンタから出力される
カウント値を格納する第1のカウント値格納レジスタ
と、前記第1の計数カウンタのカウント値と前記第1の
カウント値格納レジスタの格納値とを比較する第1の比
較回路と、前記FG信号の立ち上がりエッジをカウント
する第2の計数カウンタと、前記ディフェクト検出回路
で傷が検出された時に、前記第2の計数カウンタから出
力されるカウント値を格納する第2のカウント値格納レ
ジスタと、前記第2の計数カウンタのカウンタ値と前記
第2のカウント値格納レジスタの格納値を比較する第2
の比較回路と、前記第1の比較回路の出力信号と前記第
2の比較回路の出力信号との論理積をディフェクト予測
信号として出力する論理積回路と、を備えたことを特徴
とする。
According to a fifth aspect of the present invention, in the servo circuit for an optical disk device according to the fourth aspect, the defect position predicting means comprises:
A first method for measuring the time from the rising edge of the FG signal to the detection of the rising edge of the next FG signal.
Count counter, a first count value storage register for storing a count value output from the first count counter when a defect is detected by the defect detection circuit, and a count value of the first count counter A first comparison circuit that compares the stored value of the first count value storage register with a second count counter that counts the rising edge of the FG signal, and a counter that detects when a defect is detected by the defect detection circuit. A second count value storage register for storing a count value output from the second count counter, and a second count value comparing the count value of the second count counter with the stored value of the second count value storage register. 2
And a logical product circuit that outputs the logical product of the output signal of the first comparator circuit and the output signal of the second comparator circuit as a defect prediction signal.

【0013】本発明の請求項6に記載の光ディスク装置
用サーボ回路は、請求項4に記載の光ディスク装置用サ
ーボ回路において、前記ホールド手段は、前記ディフェ
クト予測信号と前記ディフェクト検出信号の論理和をと
る論理和回路と、前記論理和回路の出力信号に基づいて
前記サーボ回路をホールドして、光ピックアップの駆動
値をホールドするホールド回路と、を備えることを特徴
とする。
According to a sixth aspect of the present invention, in the servo circuit for an optical disk device according to the fourth aspect, the hold means performs a logical sum of the defect prediction signal and the defect detection signal. And a hold circuit that holds the servo circuit based on an output signal of the OR circuit and holds a drive value of the optical pickup.

【0014】本発明の請求項7記載の光ディスク装置用
サーボ回路は、請求項5に記載の光ディスク装置用サー
ボ回路において、前記第1のカウント値格納レジスタ
と、前記第2のカウント値格納レジスタと、をそれぞれ
2つ以上備えることを特徴とする。
According to a seventh aspect of the present invention, in the servo circuit for an optical disk device according to the fifth aspect, the first count value storage register and the second count value storage register are provided. , Are provided two or more.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】(実施の形態1)以下に、実施の
形態1について図1及び図2を用いて説明する。図1は
本実施の形態1に係る光ディスク装置用サーボ回路のピ
ックアップとトラッキングサーボ制御装置のブロック図
である。図2は光ディスク装置用サーボ回路ではじめて
光ディスク表面の傷を検出した時のディフェクト予測信
号の生成を表すタイムチャート図である。
(Embodiment 1) Hereinafter, Embodiment 1 will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. FIG. 1 is a block diagram of a pickup and tracking servo control device of the servo circuit for an optical disk device according to the first embodiment. FIG. 2 is a time chart illustrating the generation of a defect prediction signal when a scratch on the optical disk surface is detected for the first time in the optical disk device servo circuit.

【0016】スピンドルモータ102は、光ディスク1
01を回転させ、光ピックアップ103は、フォーカス
アクチュエータ104、トラッキングアクチュエータ1
05を有し、光ディスク101の記録信号を光学的に検
出する。高周波アンプ106は、光ピックアップ103
の検出出力に対し、所定の信号処理を行って、RF信号
115を得るとともにフォーカスエラー信号(以下、F
E信号と略す)、トラッキングエラー信号(以下、TE
信号と略す)を取り出す。トラッキングサーボ回路11
3は、高周波アンプ106から出力されるTE信号11
7を入力してゲイン補正および位相補償をする。トラッ
キング駆動回路114は、トラッキングサーボ回路11
3から出力されるトラッキング制御値118に基づき光
ピックアップ103のトラッキングアクチュエータ10
5を駆動する。ディフェクト検出回路107は、RF信
号115から光ディスク101表面の傷の検出を行い、
傷を検出するとディフェクト検出信号116を論理High
にする。計数カウンタ108は、ディフェクト検出回路
107で傷が検出されてから次に傷が検出されるまでの
時間を一定の時間間隔でカウントを行い、カウント値格
納レジスタ109は、ディフェクト検出信号116が論
理Highになった時の計数カウンタ108のカウント値か
ら1を引いた値を格納する。比較回路110は、計数カ
ウンタ108の値とカウント値格納レジスタ109の値
を比較し、一致していれば、ディフェクト予測信号11
9を論理Highにする。論理和回路111は、ディフェク
ト予測信号119とディフェクト検出信号116の論理
和を出力する。トラッキングホールド回路112は、論
理和回路111の出力信号に基づいてトラッキングサー
ボ回路113からトラッキング駆動回路114へのトラ
ッキング制御値118をホールドさせるトラッキングホ
ールド信号120を生成、出力し、光ピックアップ10
3のトラッキングアクチュエータ105のトラック方向
への移動をホールドさせる。
The spindle motor 102 is used for the optical disc 1
01, the optical pickup 103 is driven by the focus actuator 104 and the tracking actuator 1
05, and optically detects a recording signal of the optical disk 101. The high frequency amplifier 106 includes the optical pickup 103
Is subjected to predetermined signal processing on the detection output to obtain an RF signal 115 and a focus error signal (hereinafter referred to as F
E signal), tracking error signal (hereinafter TE)
Abbreviated as a signal). Tracking servo circuit 11
3 is a TE signal 11 output from the high-frequency amplifier 106
7 for gain correction and phase compensation. The tracking drive circuit 114 includes the tracking servo circuit 11
3 based on the tracking control value 118 output from the optical pickup 103.
5 is driven. The defect detection circuit 107 detects a scratch on the surface of the optical disc 101 from the RF signal 115,
When a flaw is detected, the defect detection signal 116 is set to logic high.
To The count counter 108 counts the time from when a defect is detected by the defect detection circuit 107 to when the next defect is detected at regular time intervals, and the count value storage register 109 indicates that the defect detection signal 116 has a logic high level. The value obtained by subtracting 1 from the count value of the counter 108 at the time of is stored. The comparison circuit 110 compares the value of the count counter 108 with the value of the count value storage register 109, and if they match, the defect prediction signal 11
9 is set to logic high. The OR circuit 111 outputs a logical sum of the defect prediction signal 119 and the defect detection signal 116. The tracking hold circuit 112 generates and outputs a tracking hold signal 120 for holding a tracking control value 118 from the tracking servo circuit 113 to the tracking drive circuit 114 based on the output signal of the OR circuit 111, and outputs the signal.
The movement of the third tracking actuator 105 in the track direction is held.

【0017】以上のように本実施の形態1においては、
ディフェクト検出回路107により傷が検出された時、
次にディフェクト検出回路107により検出される傷の
位置を予測するディフェクト時間予測手段を、計数カウ
ンタ108と、カウント値格納レジスタ109と、比較
回路110とから構成する。また、ディフェクト検出信
号116およびディフェクト予測信号119に基づい
て、光ピックアップ103のトラッキングアクチュエー
タ105の駆動をホールドするホールド手段を、論理和
回路111と、トラッキングホールド回路112とから
構成する。
As described above, in the first embodiment,
When a defect is detected by the defect detection circuit 107,
Next, a defect time estimating means for estimating a position of a flaw detected by the defect detecting circuit 107 is constituted by a count counter 108, a count value storing register 109, and a comparing circuit 110. Further, a holding means for holding the driving of the tracking actuator 105 of the optical pickup 103 based on the defect detection signal 116 and the defect prediction signal 119 is constituted by an OR circuit 111 and a tracking hold circuit 112.

【0018】以上のように構成された本実施の形態1に
係る光ディスク装置用サーボ回路において、光ディスク
101の半径方向に隣接する複数のトラックにわたって
傷がついている場合の、傷の予測方法とディフェクト予
測信号119の生成について、図1及び図2を用いて説
明する。
In the servo circuit for an optical disk device according to the first embodiment configured as described above, a method of predicting a defect and a defect prediction when a plurality of tracks adjacent in the radial direction of the optical disk 101 are damaged. The generation of the signal 119 will be described with reference to FIGS.

【0019】光ディスク101の表面に傷が無い図2の
区間1において、ディフェクト検出回路107の検出出
力信号であるディフェクト検出信号116は論理 Low
であり、さらに、ディフェクト予測信号119も論理Lo
wである。この場合、トラッキングホールド信号120
も論理 Low であるため、トラッキングサーボ回路11
3は、TE信号117を零にするトラッキング制御値1
18をトラッキング駆動回路114に出力する。
In section 1 of FIG. 2 where the surface of the optical disc 101 has no flaw, the defect detection signal 116 which is the detection output signal of the defect detection circuit 107 is logic low.
In addition, the defect prediction signal 119 is also a logical low.
w. In this case, the tracking hold signal 120
Is also a logic low, the tracking servo circuit 11
3 is a tracking control value 1 for making the TE signal 117 zero.
18 is output to the tracking drive circuit 114.

【0020】これと異なり、光ディスク101の表面に
傷がある場合、図2の区間2でRF信号115の欠落か
らディフェクト検出回路107が傷を検出すると、ディ
フェクト検出回路107の出力信号であるディフェクト
検出信号116は論理 Highになる。論理Highのディフ
ェクト検出信号116は、論理和回路111を介してト
ラッキングホールド回路112に入力される。トラッキ
ングホールド回路112に、論理Highの論理和回路11
1の出力信号が入力されると、トラッキングホールド信
号120を論理 High にして出力する。トラッキングサ
ーボ回路113は、論理Highのトラッキングホールド信
号120に基づいてトラッキング制御値118をホール
ドする。
On the other hand, when the surface of the optical disk 101 has a flaw, if the defect detection circuit 107 detects a flaw in the section 2 of FIG. 2 due to the lack of the RF signal 115, the defect detection circuit 107 outputs a defect detection signal. Signal 116 goes to a logic high. The logic-high defect detection signal 116 is input to the tracking hold circuit 112 via the OR circuit 111. The tracking hold circuit 112 is provided with a logical high OR circuit 11.
When the output signal of "1" is input, the tracking hold signal 120 is set to logic high and output. The tracking servo circuit 113 holds the tracking control value 118 based on the tracking hold signal 120 of logic High.

【0021】光ピックアップ103のレーザビームが傷
を通過すると、ディフェクト検出信号116は論理 Low
になるので、この時、トラッキングホールド信号120
も論理 Lowになりトラッキングサーボ回路113は、ト
ラッキング制御値118をホールドしていた状態から、
TE信号117に対するトラッキング制御値118をト
ラッキング駆動回路114に出力する状態になる。以上
のような動作により、レーザビームが傷を通過する際
に、TE信号117に傷による外乱成分が生じても、ト
ラッキングサーボがこれらに追従することなく、かつ、
レーザビームが傷を通過後、速やかに、サーボが正常状
態となり、確実にトラッキングエラーを抑圧することが
できる。
When the laser beam of the optical pickup 103 passes through the flaw, the defect detection signal 116 becomes logic low.
At this time, the tracking hold signal 120
Also becomes a logic low, and the tracking servo circuit 113 changes from a state where the tracking control value 118 is held to
The tracking control value 118 corresponding to the TE signal 117 is output to the tracking drive circuit 114. By the operation described above, when the laser beam passes through the flaw, even if disturbance components due to the flaw are generated in the TE signal 117, the tracking servo does not follow these components, and
Immediately after the laser beam passes through the scratch, the servo returns to a normal state, and tracking errors can be reliably suppressed.

【0022】以下、さらに、ディフェクト検出回路11
7により論理Highのディフェクト検出信号116が出力
されてから、トラッキングホールド回路112がトラッ
キングサーボ回路113によるトラッキング制御値11
8をホールドするまでの動作について詳しく説明する。
最初の論理Highのディフェクト検出信号116が計数カ
ウンタ108に入力されると、計数カウンタ108は、
区間2で示したように、区間3で2回目のディフェクト
検出信号116の立ち上がりエッジが検出されるまで、
一定の時間間隔でカウントを行い、2回目のディフェク
ト検出信号116の立ち上がりエッジが検出されると、
カウント値n0を、カウント値格納レジスタ109に転
送する。その後、計数カウンタ108のカウント値は零
クリアされ、カウント値格納レジスタ109は、傷の位
置を予測するために計数カウンタ108より転送されて
きたカウント値n0から1を引いた値を格納する。そし
て、計数カウンタ108のカウント値とカウント値格納
レジスタ109の格納値を比較回路110で比較し、一
致すれば、傷の位置が光ディスク101の1回転する直
前であることが予想されるため、ここで、区間4で図示
したようにディフェクト予測信号119を論理 High に
する。この結果、再び光ピックアップ103のレーザビ
ームが光ディスク101表面の傷にさしかかる時、直前
で論理 Highのディフェクト予測信号119が論理和回
路111に入力され、論理和回路111は論理Highの信
号をトラッキングホールド回路112に出力する。トラ
ッキングホールド回路112はトラッキングホールド信
号120を論理 High にしてトラッキングサーボ回路1
13に出力することで、トラッキングサーボ回路113
からトラッキング駆動回路114へのトラッキング制御
値118をホールドする。そして、その直後にレーザビ
ームが傷にさしかかると、ディフェクト検出回路107
からさらに論理Highのディフェクト検出信号116が出
力され、トラッキング制御値118はホールドされ続け
る。レーザビームが傷を通過し、ディフェクト検出信号
116が論理 Low になると、これと連動して比較回路
110は論理 Lowのディフェクト予測信号119を出力
する。この結果、論理和回路111は論理 Low の信号
を出力し、さらにトラッキングホールド信号120も論
理 Low になり、トラッキング制御値118は、ホール
ド状態から解除される。
Hereinafter, the defect detection circuit 11
7, the tracking hold circuit 112 outputs the tracking control value 11 by the tracking servo circuit 113 after the logic High defect detection signal 116 is output.
The operation until 8 is held will be described in detail.
When the first logic high defect detection signal 116 is input to the count counter 108, the count counter 108
As shown in section 2, until the second rising edge of the defect detection signal 116 is detected in section 3,
Counting is performed at fixed time intervals, and when the second rising edge of the defect detection signal 116 is detected,
The count value n0 is transferred to the count value storage register 109. After that, the count value of the count counter 108 is cleared to zero, and the count value storage register 109 stores a value obtained by subtracting 1 from the count value n0 transferred from the count counter 108 in order to predict the position of the flaw. Then, the count value of the count counter 108 is compared with the value stored in the count value storage register 109 by the comparison circuit 110. If they match, the scratch position is expected to be immediately before one rotation of the optical disk 101. Thus, the defect prediction signal 119 is set to logic high as shown in the section 4. As a result, when the laser beam of the optical pickup 103 again reaches a scratch on the surface of the optical disc 101, a defect prediction signal 119 of logic high is input to the OR circuit 111 immediately before, and the OR circuit 111 tracks and holds the logic high signal. Output to the circuit 112. The tracking hold circuit 112 sets the tracking hold signal 120 to logic high and sets the tracking servo circuit 1
13 so that the tracking servo circuit 113
Hold the tracking control value 118 to the tracking drive circuit 114. Then, immediately after that, when the laser beam approaches the flaw, the defect detection circuit 107
Outputs a logic high defect detection signal 116, and the tracking control value 118 continues to be held. When the laser beam passes through the flaw and the defect detection signal 116 becomes logic low, the comparison circuit 110 outputs a logic low defect prediction signal 119 in conjunction with this. As a result, the OR circuit 111 outputs a logical low signal, the tracking hold signal 120 also becomes logical low, and the tracking control value 118 is released from the hold state.

【0023】これより、2回目に光ピックアップ103
のレーザビームが光ディスク101表面の傷にさしかか
る時も、直前にトラッキング制御値118がホールドさ
れることから、1回目に光ディスクの傷にさしかかるよ
りも、TE信号の傷による外乱成分が少なくなり、サー
ボの安定化が図られる。区間4で、3回目のディフェク
ト検出信号116の立ち上がりエッジが入力された計数
カウンタ108は、カウント値n1をカウント値格納レ
ジスタ109に転送する。その後、計数カウンタ108
のカウント値は零クリアされ、カウント値格納レジスタ
109は、傷の位置を予測するために計数カウンタ10
8より転送されてきたカウント値n1から1を引いた値
を格納する。そして、計数カウンタ108のカウント値
とカウント値格納レジスタ109の格納値を比較回路1
10で比較し、一致すれば、傷の位置から光ディスク1
01が1回転する直前であることが予測されるため、こ
こで、区間5で図示したようにディフェクト予測信号1
19を論理 High にして、トラッキング制御値118を
ホールドすることで、その直後にレーザビームが傷にさ
しかかった時の外乱によるサーボの誤動作を少なくす
る。
Thus, the second time the optical pickup 103
When the laser beam of the optical disk 101 hits a scratch on the surface of the optical disc 101, the tracking control value 118 is held immediately before, so that the disturbance component due to the scratch of the TE signal is reduced as compared with the scratch of the optical disc at the first time. Is stabilized. In the section 4, the count counter 108 to which the third rising edge of the defect detection signal 116 has been input transfers the count value n 1 to the count value storage register 109. Thereafter, the counting counter 108
Is cleared to zero, and the count value storage register 109 stores the count counter 10 in order to predict the position of the flaw.
A value obtained by subtracting 1 from the count value n1 transferred from 8 is stored. Then, the comparison circuit 1 compares the count value of the counter 108 with the value stored in the count value storage register 109.
10 and if they match, the optical disc 1
01 is predicted to be just before one rotation, so that the defect prediction signal 1
By setting 19 to a logic high and holding the tracking control value 118, the malfunction of the servo due to disturbance when the laser beam immediately hits a flaw is reduced.

【0024】以下、同様の動作を繰り返しディフェクト
検出回路107が光ディスク101の一回転後の傷を検
出しなくなり、論理 High のディフェクト検出信号11
6が出力されなくなったところで、比較回路110は、
傷の位置の予測及び論理 High のディフェクト予測信号
119の出力を停止する。以上に説明した内容は、トラ
ッキングサーボ回路に特記した内容だが、フォーカスサ
ーボ回路もトラッキングサーボ回路と同様に考えること
ができる。
Thereafter, the same operation is repeated, so that the defect detection circuit 107 does not detect a scratch after one rotation of the optical disk 101, and the defect detection signal
6 is no longer output, the comparison circuit 110
The prediction of the position of the flaw and the output of the defect prediction signal 119 of logic High are stopped. Although the contents described above are specific to the tracking servo circuit, the focus servo circuit can be considered in the same manner as the tracking servo circuit.

【0025】以上のように本実施の形態1に係る光ディ
スク装置用サーボ回路によれば、光ディスク101表面
の傷の位置の予測を行う、ディフェクト検出信号116
の立ち上がりエッジ間の時間を計測する計数カウンタ1
08、傷検出時の計数カウンタ108のカウント値を格
納するカウント値格納レジスタ109、および計数カウ
ンタ108のカウント値とカウント値格納レジスタ10
9の格納値を比較する比較回路110とからなるディフ
ェクト時間予測手段を備えたことから、傷を検出する直
前にトラッキング駆動値をホールド、すなわち光ピック
アップ103のトラッキングアクチュエータ105をホ
ールドでき、傷が検出された直後のTE信号にサーボを
追従させることなくサーボの安定化が図れる。よって、
従来の光ディスク装置用サーボ回路のように光ディスク
から読み取った絶対時間から光ディスクの回転周期を求
める演算処理を行う必要がなくなるため、表面に傷があ
る光ディスクを高倍速再生する時でも、安定なサーボ制
御を行うことができる。
As described above, according to the servo circuit for an optical disk device according to the first embodiment, the defect detection signal 116 for predicting the position of a scratch on the surface of the optical disk 101 is provided.
Counter 1 that measures the time between rising edges of
08, a count value storage register 109 for storing the count value of the count counter 108 at the time of flaw detection, and the count value of the count counter 108 and the count value storage register 10.
9 is provided with a defect time estimating means including a comparison circuit 110 for comparing the stored value of No. 9, so that the tracking drive value can be held immediately before the flaw is detected, that is, the tracking actuator 105 of the optical pickup 103 can be held. Servo can be stabilized without causing the servo to follow the TE signal immediately after being performed. Therefore,
Unlike the conventional servo circuit for optical disk devices, there is no need to perform an arithmetic process to determine the rotation period of the optical disk from the absolute time read from the optical disk, so even when playing back an optical disk with a scratched surface at high speed, stable servo control It can be performed.

【0026】また、本実施の形態1の光ディスク装置用
サーボ回路によれば、光ディスクの回転周期を求めるた
めの演算回路を有する必要がないことからハードウェア
の回路規模を小さくすることができる。
Further, according to the servo circuit for an optical disk device of the first embodiment, it is not necessary to have an arithmetic circuit for determining the rotation period of the optical disk, so that the circuit scale of hardware can be reduced.

【0027】(実施の形態2)以下、実施の形態2の光
ディスク装置用サーボ回路について、図3及び図4を用
いて説明する。図3は本発明の請求項4に係る光ディス
ク装置用サーボ回路のピックアップとトラッキングサー
ボ制御装置のブロック図である。図4は光ディスク装置
用サーボ回路ではじめて光ディスク表面の傷を検出した
時のディフェクト予測信号の生成を表すタイムチャート
図である。
(Embodiment 2) A servo circuit for an optical disk device according to Embodiment 2 will be described below with reference to FIGS. FIG. 3 is a block diagram of a pickup and tracking servo control device of a servo circuit for an optical disk device according to claim 4 of the present invention. FIG. 4 is a time chart showing the generation of a defect prediction signal when a scratch on the optical disk surface is detected for the first time in the servo circuit for the optical disk device.

【0028】光ピックアップ303は、フォーカスアク
チュエータ304、トラッキングアクチュエータ305
を有し、光ディスク301の記録信号を光学的に検出す
る。スピンドルモータ302は、光ディスク301を回
転させ、スピンドルドライバ325を介して光ディスク
301が1回転すると一定数のFG信号を出力する。高
周波アンプ306は、光ピックアップ303の検出出力
に対し、所定の信号処理を行って、RF信号320を得
るとともにFE信号、TE信号319を取り出す。
The optical pickup 303 includes a focus actuator 304 and a tracking actuator 305.
And optically detects a recording signal of the optical disk 301. The spindle motor 302 rotates the optical disc 301, and outputs a fixed number of FG signals when the optical disc 301 makes one rotation via the spindle driver 325. The high-frequency amplifier 306 performs predetermined signal processing on the detection output of the optical pickup 303 to obtain the RF signal 320 and to extract the FE signal and the TE signal 319.

【0029】トラッキングサーボ回路317は、高周波
アンプ306からのTE信号319を入力してゲイン補
正および位相補償をする。トラッキング駆動回路318
は、トラッキングサーボ回路317から出力されるトラ
ッキング制御値324に基づき光ピックアップ303の
トラッキングアクチュエータ305を駆動する。
The tracking servo circuit 317 receives the TE signal 319 from the high frequency amplifier 306 and performs gain correction and phase compensation. Tracking drive circuit 318
Drives the tracking actuator 305 of the optical pickup 303 based on the tracking control value 324 output from the tracking servo circuit 317.

【0030】ディフェクト検出回路307は、光ディス
ク301の表面の傷の検出を行い、傷を検出すると論理
Highのディフェクト検出信号322を出力する。第1の
計数カウンタ308は、FG信号が入力されるカウンタ
で、FG信号の立ち上がりエッジが検出されてから次の
FG信号の立ち上がりエッジが検出されるまで一定時間
間隔でカウントを行う。第1のカウント値格納レジスタ
309はディフェクト検出信号322が論理 High にな
った時、第1の計数カウンタ308により出力されるカ
ウント値から1を引いた値を格納する。第1の比較回路
310は第1のカウント値格納レジスタ309の格納値
と第1の計数カウンタ308のカウント値を比較し、2
つの入力値が一致していれば、論理 Highの信号を出力
する。第2の計数カウンタ311は、FG信号の立ち上
がりエッジをカウントし、光ディスク301が一回転す
るとカウント値であるFG番号をクリアし、再びカウン
トを行うカウンタである。第2のカウント値格納レジス
タ312は、第2の計数カウンタ311のFG番号とデ
ィフェクト検出信号を入力とし、ディフェクト検出信号
が論理 High になった時のFG番号を格納する。第2の
比較回路313は、第2のカウント値格納レジスタ31
2の格納値と第2の計数カウンタ311のカウンタ値を
比較し、2つの入力値が一致していれば、論理 Highの
信号を出力する。論理積回路314は、第1の比較回路
310と第2の比較回路313の出力信号の論理積をデ
ィフェクト予測信号321として出力する。論理和回路
315は、ディフェクト予測信号321とディフェクト
検出信号322の論理和を出力する。トラッキングホー
ルド回路316は、論理和回路315の出力信号に基づ
いてトラッキングサーボ回路317からトラッキング駆
動回路318へのトラッキング制御値324をホールド
させるトラッキングホールド信号323を生成、出力
し、光ピックアップ303のトラッキングアクチュエー
タ305のトラック方向への移動をホールドさせる。
The defect detection circuit 307 detects a scratch on the surface of the optical disc 301, and when the scratch is detected, a logic
The high defect detection signal 322 is output. The first count counter 308 is a counter to which an FG signal is input, and counts at a fixed time interval from when a rising edge of the FG signal is detected to when a rising edge of the next FG signal is detected. The first count value storage register 309 stores a value obtained by subtracting 1 from the count value output by the first count counter 308 when the defect detection signal 322 becomes logic high. The first comparison circuit 310 compares the value stored in the first count value storage register 309 with the count value of the first counter 308, and
If the two input values match, a logic high signal is output. The second count counter 311 is a counter that counts the rising edge of the FG signal, clears the FG number that is the count value when the optical disc 301 makes one rotation, and counts again. The second count value storage register 312 receives the FG number of the second count counter 311 and the defect detection signal as inputs, and stores the FG number when the defect detection signal becomes logic high. The second comparison circuit 313 is provided in the second count value storage register 31.
The stored value of 2 is compared with the counter value of the second counter 311. If the two input values match, a logical high signal is output. The logical product circuit 314 outputs the logical product of the output signals of the first comparison circuit 310 and the second comparison circuit 313 as a defect prediction signal 321. The OR circuit 315 outputs a logical OR of the defect prediction signal 321 and the defect detection signal 322. The tracking hold circuit 316 generates and outputs a tracking hold signal 323 for holding the tracking control value 324 from the tracking servo circuit 317 to the tracking drive circuit 318 based on the output signal of the OR circuit 315, and outputs the tracking hold signal 323 to the tracking actuator of the optical pickup 303. The movement of 305 in the track direction is held.

【0031】以上のように本実施の形態2においては、
ディフェクト検出回路307により傷が検出された時、
次にディフェクト検出回路307により検出される傷の
位置をスピンドルモータ302の周期検出信号であるF
G信号をカウントすることにより予測するディフェクト
位置予測手段を、第1,第2の計数カウンタ308,3
11と、第1,第2のカウント値格納レジスタ309,
312と、第1,第2の比較回路310,313とから
構成する。また、ディフェクト検出信号322およびデ
ィフェクト予測信号321に基づいて、光ピックアップ
303のトラッキングアクチュエータ305の駆動をホ
ールドするホールド手段を、論理和回路315と、トラ
ッキングホールド回路316とから構成する。
As described above, in the second embodiment,
When a defect is detected by the defect detection circuit 307,
Next, the position of the flaw detected by the defect detection circuit 307 is determined by F which is a cycle detection signal of the spindle motor 302.
Defect position estimating means for estimating by counting the G signal includes first and second counting counters 308 and 3.
11, the first and second count value storage registers 309,
312 and first and second comparison circuits 310 and 313. Further, a holding means for holding the driving of the tracking actuator 305 of the optical pickup 303 based on the defect detection signal 322 and the defect prediction signal 321 is composed of an OR circuit 315 and a tracking hold circuit 316.

【0032】以上のように構成された本実施の形態2に
係る光ディスク装置用サーボ回路において、光ディスク
301の半径方向に隣接する複数のトラックにわたって
傷がついている場合の、傷の予測方法とディフェクト予
測信号321の生成について、図3及び図4を用いて説
明する。
In the servo circuit for an optical disk device according to the second embodiment configured as described above, a method for predicting a defect and a defect prediction when a plurality of tracks adjacent to each other in the radial direction of the optical disk 301 are damaged. The generation of the signal 321 will be described with reference to FIGS.

【0033】光ディスク301表面に傷が無い図4の区
間10において、ディフェクト検出回路307の検出出
力信号であるディフェクト検出信号322は論理 Low
であり、ディフェクト予測信号321も論理Lowであ
る。この場合、トラッキングホールド信号323も論理
Lowであるため、トラッキングサーボ回路317は、T
E信号319を零にするトラッキング制御値324をト
ラッキング駆動回路318に出力する。
In the section 10 of FIG. 4 where the surface of the optical disc 301 has no flaw, the defect detection signal 322 which is the detection output signal of the defect detection circuit 307 is logic low.
, And the defect prediction signal 321 is also logic low. In this case, the tracking hold signal 323 is also logical.
Since the signal is Low, the tracking servo circuit 317
A tracking control value 324 that makes the E signal 319 zero is output to the tracking drive circuit 318.

【0034】これと異なり、光ディスク301の表面に
傷がある場合、図4の区間11でRF信号320の欠落
からディフェクト検出回路307が傷を検出すると、デ
ィフェクト検出回路307の出力信号であるディフェク
ト検出信号322は論理Highになる。論理Highのディフ
ェクト検出信号322は、論理和回路315を介してト
ラッキングホールド回路316に入力される。トラッキ
ングホールド回路316は、論理 High のディフェクト
検出信号322が入力されるとトラッキングホールド信
号323を論理 Highにして出力し、トラッキングサー
ボ回路317は、論理Highのトラッキングホールド信号
323に基づいてトラッキング制御値324をホールド
する。
On the other hand, when the surface of the optical disc 301 has a flaw, if the defect detection circuit 307 detects a flaw in the section 11 of FIG. 4 due to the lack of the RF signal 320, the defect detection circuit 307 outputs a defect. Signal 322 goes to logic high. The logic high defect detection signal 322 is input to the tracking hold circuit 316 via the OR circuit 315. The tracking hold circuit 316 changes the tracking hold signal 323 to logic High when the logic High defect detection signal 322 is input, and outputs the tracking servo circuit 317 based on the tracking control signal 324 based on the logic High tracking hold signal 323. Hold.

【0035】光ピックアップ303のレーザビームが傷
を通過したところで、ディフェクト検出信号322は論
理Lowになり、この時、トラッキングホールド信号32
3も論理 Low になるので、トラッキングサーボ回路3
17は、トラッキング制御値324の出力をホールドし
ていた状態から、TE信号319に基づいてトラッキン
グ制御値324をトラッキング駆動回路に出力する状態
になる。以上のような動作により、レーザビームが傷を
通過する際、TE信号319に傷による外乱成分が生じ
ても、トラッキングサーボがこれらに追従することな
く、かつレーザービームが傷を通過後、速やかに、サー
ボが正常状態となり、確実にトラッキングエラーを抑圧
することができる。
When the laser beam of the optical pickup 303 has passed through the flaw, the defect detection signal 322 becomes logically low.
3 also becomes a logic low, so the tracking servo circuit 3
Reference numeral 17 denotes a state where the output of the tracking control value 324 is held and the tracking control value 324 is output to the tracking drive circuit based on the TE signal 319. With the above operation, when the laser beam passes through the flaw, even if disturbance components due to the flaw are generated in the TE signal 319, the tracking servo does not follow these components, and immediately after the laser beam passes through the flaw. Thus, the servo is in a normal state, and the tracking error can be surely suppressed.

【0036】以下、さらに、ディフェクト検出回路30
7により論理Highのディフェクト検出信号322が出力
されてから、トラッキングホールド回路316がトラッ
キングサーボ回路317によるトラッキング制御値32
4をホールドするまでの動作について詳しく説明する。
FG番号を格納する第2のカウント値格納レジスタ31
2は、最初の論理High のディフェクト検出信号322
が入力されると、FG番号を格納する。ここでは、FG
番号がスピンドルモータ302の1回転で6周期分出力
される場合を例にとって説明する。すなわち、FG番号
を0から5までで表すと区間11でディフェクト検出信
号322が論理High になった時のFG番号である3を
格納する。この時、第1のカウント値格納レジスタ30
9には、FG番号3の立ち上がりエッジが検出されてか
ら一定時間間隔でカウントされるカウント値m0が第1
の計数カウンタ308から入力される。そして、第1の
カウント値格納レジスタ309は傷の位置を予測するた
めにカウンタ値m0から1を引いた値を格納する。その
後、第2の計数カウンタ311のFG番号と第2のカウ
ント値格納レジスタ312の格納値を第2の比較回路3
13で比較し一致している間に、第1の計数カウンタ3
08のカウント値と第1のカウント値格納レジスタ30
9の格納値を第1の比較回路310で比較し一致してい
れば、傷の位置が直前であることが予測されるため、こ
こで、区間11に示したようにディフェクト予測信号3
21を論理Highにする。この結果、再び光ピックアップ
303のレーザビームが、光ディスク301表面の傷に
さしかかる時には、直前で論理High のディフェクト予
測信号321が論理和回路315に入力され、論理和回
路315は論理 High の信号をトラッキングホールド回
路316に出力する。トラッキングホールド回路316
はトラッキングホールド信号323を論理 Highにして
トラッキングサーボ回路317に出力することで、トラ
ッキングサーボ回路317からトラッキング駆動回路3
18へのトラッキング制御値324をホールドする。そ
して、その直後にレーザビームが傷にさしかかり、ディ
フェクト検出回路307からさらに論理 High のディフ
ェクト検出信号322が出力され、トラッキング制御値
324はホールドされ続ける。レーザビームが傷を通過
し、ディフェクト検出信号322が論理 Low になる
と、これと連動して論理積回路314はディフェクト予
測信号321を論理 Low にして出力する。この結果、
論理和回路315は論理 Lowの信号を出力し、トラッキ
ングホールド信号323も論理 Low になり、トラッキ
ング制御値324は、ホールド状態から解除される。
Hereinafter, the defect detection circuit 30
7, the tracking hold circuit 316 outputs the tracking control value 32 by the tracking servo circuit 317 after the logic High defect detection signal 322 is output.
The operation up to holding 4 will be described in detail.
Second count value storage register 31 for storing FG number
2 is the first logic high defect detection signal 322
Is input, the FG number is stored. Here, FG
The case where the number is output for six cycles in one rotation of the spindle motor 302 will be described as an example. That is, if the FG number is represented by 0 to 5, the FG number 3 when the defect detection signal 322 becomes logic High in the section 11 is stored. At this time, the first count value storage register 30
9, a count value m0 counted at a fixed time interval after the rising edge of the FG number 3 is detected is the first count value m0.
From the count counter 308 of FIG. Then, the first count value storage register 309 stores a value obtained by subtracting 1 from the counter value m0 in order to predict the position of the flaw. Thereafter, the FG number of the second counter 311 and the value stored in the second count value storage register 312 are stored in the second comparison circuit 3.
13 and the first counter 3
08 count value and first count value storage register 30
9 are compared by the first comparing circuit 310, and if they match, it is predicted that the position of the flaw is immediately before, so here, as shown in the section 11, the defect prediction signal 3
21 is set to logic high. As a result, when the laser beam of the optical pickup 303 again reaches a scratch on the surface of the optical disk 301, the defect prediction signal 321 of logic High is input to the OR circuit 315 immediately before, and the OR circuit 315 tracks the signal of logic High. Output to the hold circuit 316. Tracking hold circuit 316
The tracking servo circuit 317 changes the logic level of the tracking hold signal 323 to logic high and outputs it to the tracking servo circuit 317.
The tracking control value 324 to 18 is held. Immediately thereafter, the laser beam hits the flaw, and the defect detection circuit 307 further outputs a defect detection signal 322 of a logic high, and the tracking control value 324 is kept held. When the laser beam passes through the flaw and the defect detection signal 322 becomes logic low, the AND circuit 314 sets the defect prediction signal 321 to logic low and outputs it in conjunction with this. As a result,
The OR circuit 315 outputs a signal of logic low, the tracking hold signal 323 also becomes logic low, and the tracking control value 324 is released from the hold state.

【0037】これより、2回目に光ディスク301表面
の傷にレーザビームがさしかかる時、その直前でトラッ
キング制御値324をホールドすることができ、1回目
に光ディスクの傷にさしかかるよりも、TE信号319
の傷による外乱成分が少なくなり、サーボの安定化が図
られる。
Thus, when the laser beam hits the scratch on the surface of the optical disc 301 for the second time, the tracking control value 324 can be held immediately before the laser beam hits, and the TE signal 319 can be held rather than the scratch for the first time.
As a result, disturbance components due to the scratches are reduced, and the servo is stabilized.

【0038】区間12で、2回目のディフェクト検出信
号322の立ち上がりエッジが検出されると、論理和回
路315には、論理 Highのディフェクト検出信号32
2が入力され、第2のカウント値格納レジスタ312は
第2の計数カウンタ311からのFG番号を格納し、第
1のカウント値格納レジスタ309は第1の計数カウン
タ308から出力されるカウント値m1から1を引いた
値を格納する。傷の位置の予測は、第2の計数カウンタ
311のFG番号と第2のカウント値格納レジスタ31
2の格納値を第2の比較回路313で比較し一致してい
る間に、第1の計数カウンタ308のカウント値と第1
のカウント値格納レジスタ309の格納値を第1の比較
回路310で比較し一致していれば、レーザビームが傷
の位置の直前であることが予測されるため、ここで、区
間12のようにディフェクト予測信号321を論理 Hig
h にし、さらにトラッキングホールド信号323も論理
Highにして、トラッキング制御値324をホールドする
ことで、その直後に光ピックアップ303のレーザビー
ムが傷にさしかかった時の外乱によるサーボの誤動作を
少なくする。
When the second rising edge of the defect detection signal 322 is detected in the section 12, the logical sum circuit 315 supplies the logic high defect detection signal 32
2, the second count value storage register 312 stores the FG number from the second count counter 311, and the first count value storage register 309 stores the count value m 1 output from the first count counter 308. The value obtained by subtracting 1 from is stored. The prediction of the position of the flaw is performed by the FG number of the second counter 311 and the second count value storage register 31.
The stored value of 2 is compared by the second comparison circuit 313 and while the values match, the count value of the first
If the values stored in the count value storage register 309 are compared and matched by the first comparison circuit 310, it is predicted that the laser beam is immediately before the position of the flaw. The defect prediction signal 321 is logically Hig
h, and the tracking hold signal 323 is also logic
By setting the value to High and holding the tracking control value 324, the malfunction of the servo due to disturbance when the laser beam of the optical pickup 303 immediately hits the flaw is reduced.

【0039】以下、同様の動作を繰り返しディフェクト
検出回路307が光ディスク301の一回転後の傷を検
出しなくなり、論理 High のディフェクト検出信号32
2が出力されなくなったところで、論理積回路314
は、傷の位置の予測及び論理 High のディフェクト予測
信号321の出力を停止する。以上に説明した内容は、
トラッキングサーボ回路に特記した内容だが、フォーカ
スサーボ回路もトラッキングサーボ回路と同様に考える
ことができる。
Thereafter, the same operation is repeated, and the defect detection circuit 307 does not detect the scratches after one rotation of the optical disk 301.
2 is no longer output, the AND circuit 314
Stops the prediction of the position of the flaw and the output of the defect prediction signal 321 of logic High. The contents explained above are
Although the content is specially described for the tracking servo circuit, the focus servo circuit can be considered similarly to the tracking servo circuit.

【0040】以上のように、本実施の形態2の光ディス
ク装置用サーボ回路によれば、光ディスク301表面の
傷が検出された時のFG番号とFG信号の立ち上がりエ
ッジから傷の位置までの時間を保持し、光ディスク30
1表面の傷が光ディスク301の半径方向の隣接する複
数のトラックにわたって傷がついている場合でも、次に
検出される傷の位置を予測することができる、第1,第
2の計数カウンタ308,311と、第1,第2のカウ
ント値格納レジスタ309,312と、第1,第2の比
較回路310,313とからなるディフェクト位置予測
手段を備えたことで、傷を検出する直前にトラッキング
駆動値をホールド、すなわち光ピックアップ303のト
ラッキングアクチュエータ305をホールドでき、傷が
検出された直後のTE信号にサーボを追従させることな
くサーボの安定化が図れる。よって、従来の光ディスク
装置用サーボ回路のように光ディスクから読み取った絶
対時間から光ディスクの回転周期を求める演算処理を行
う必要がなくなるため、表面に傷がある光ディスクを高
倍速再生する時でも、安定なサーボ制御を行うことがで
きる。
As described above, according to the servo circuit for the optical disk device of the second embodiment, the FG number and the time from the rising edge of the FG signal to the position of the scratch when the surface of the optical disk 301 is detected are determined. Holding the optical disk 30
Even when a scratch on one surface is scratched on a plurality of tracks adjacent in the radial direction of the optical disc 301, the first and second count counters 308 and 311 can predict the position of the scratch to be detected next. And a defect position predicting means including first and second count value storage registers 309 and 312 and first and second comparing circuits 310 and 313, so that the tracking drive value can be obtained immediately before a flaw is detected. , Ie, the tracking actuator 305 of the optical pickup 303 can be held, and the servo can be stabilized without following the TE signal immediately after the flaw is detected. This eliminates the need to perform an arithmetic process for calculating the rotation period of the optical disk from the absolute time read from the optical disk as in the conventional servo circuit for an optical disk device. Servo control can be performed.

【0041】また、本実施の形態2の光ディスク装置用
サーボ回路によれば、光ディスクの回転周期を求めるた
めの演算回路を有する必要がないことからハードウェア
の回路規模を小さくすることができる。
Further, according to the servo circuit for the optical disk device of the second embodiment, it is not necessary to have an arithmetic circuit for determining the rotation period of the optical disk, so that the hardware circuit scale can be reduced.

【0042】なお、従来の光ディスク装置用サーボ回路
では、傷の位置を光ディスクの回転周期で予測していた
ことから、光ディスク1回転につき1個の傷の予測しか
行うことができなかったが、本実施の形態2の光ディス
ク装置用サーボ回路では、1トラック上のFG番号に基
づき光ディスク上の特定の傷の位置予測を行っているた
め、第1,第2のカウント値格納レジスタ309,31
2を複数用意することにより、光ディスクが1回転する
間の複数の傷の位置を第1,第2のカウント値格納レジ
スタ309,312の数だけ予測することができ、1ト
ラック内に複数個の傷が存在する光ディスクを高倍速再
生する場合でも、安定なサーボ制御を行うことができ
る。
In the conventional servo circuit for an optical disk device, the position of a scratch is predicted by the rotation cycle of the optical disk, so that only one scratch can be predicted per rotation of the optical disk. In the servo circuit for an optical disk device according to the second embodiment, since the position of a specific scratch on the optical disk is predicted based on the FG number on one track, the first and second count value storage registers 309, 31
By preparing a plurality of two, the positions of a plurality of scratches during one rotation of the optical disk can be predicted by the number of the first and second count value storage registers 309 and 312, and a plurality of scratches can be provided in one track. Stable servo control can be performed even when a scratched optical disk is reproduced at a high speed.

【0043】[0043]

【発明の効果】以上のように、請求項1記載の光ディス
ク用のサーボ回路によれば、サーボ特性を変更可能なサ
ーボ回路と、光ディスクから光ピックアップを介して得
られる反射光に基づいて前記光ディスクの傷を検出し、
ディフェクト検出信号を出力するディフェクト検出回路
と、前記ディフェクト検出回路により傷が検出された
時、次に前記ディフェクト検出回路により検出される傷
の位置を予測し、ディフェクト予測信号を出力するディ
フェクト時間予測手段と、前記ディフェクト検出回路に
より傷が検出されていない時には、前記サーボ回路のサ
ーボ特性を広帯域にしておき、前記ディフェクト検出回
路により傷が検出された時には前記ディフェクト時間予
測手段の予測に従い次に検出される傷の直前で前記サー
ボ回路をホールドするとともに、前記ディフェクト検出
回路で傷が検出されている間は前記サーボ回路をホール
ドするホールド手段と、を備えたことにより、光ディス
クの表面に傷がある場合には、光ディスクの表面の傷の
位置を前記ディフェクト時間予測手段により予測して、
その傷の直前でサーボ回路をホールドすることができる
ことから、光ディスクの表面に傷がある場合でも、傷に
よるエラー信号にサーボを追従させることなく、安定し
たサーボ制御を行うことができる。
As described above, according to the servo circuit for the optical disk according to the first aspect, the servo circuit capable of changing the servo characteristics and the optical disk based on the reflected light obtained from the optical disk via the optical pickup. Detects scratches on
A defect detection circuit for outputting a defect detection signal; and a defect time prediction means for predicting a position of a flaw detected by the defect detection circuit when a defect is detected by the defect detection circuit and outputting a defect prediction signal. When the defect is not detected by the defect detection circuit, the servo characteristic of the servo circuit is set to a wide band, and when the defect is detected by the defect detection circuit, the defect is detected next according to the prediction of the defect time prediction means. And a holding means for holding the servo circuit immediately before the defect is detected and for holding the servo circuit while the defect is detected by the defect detection circuit. The position of the scratch on the surface of the optical disk It was predicted by the door time prediction means,
Since the servo circuit can be held immediately before the scratch, even when the surface of the optical disc has a scratch, stable servo control can be performed without causing the servo to follow an error signal due to the scratch.

【0044】また、請求項2記載の光ディスク用のサー
ボ回路によれば、請求項1記載の光ディスク用のサーボ
回路において、ディフェクト時間予測手段が、前記ディ
フェクト検出回路により傷が検出されてから光ディスク
一回転後の傷の開始位置までの時間を計測する計数カウ
ンタと、傷が検出された時に前記計数カウンタのカウン
ト値を格納するカウント値格納レジスタと、前記計数カ
ウンタのカウント値と前記カウント値格納レジスタの格
納値を比較し、ディフェクト予測信号を出力する比較回
路とを備えたことから、従来例のように光ディスクから
読みとった絶対時間から光ディスクの回転周期を求める
計算を行わずに、前記ディフェクト予測信号を用いて光
ディスクの回転周期を計測して傷の開始位置を正確に予
測することができるため、表面に傷がある光ディスクを
高倍速再生する場合でも安定したサーボ制御が行うこと
が可能となる。また、光ディスクの回転周期を求める計
算を行う演算回路を有する必要がないことから、ハード
ウェアの回路規模を小さくすることが可能である。
According to the servo circuit for an optical disk according to the second aspect of the present invention, in the servo circuit for the optical disk according to the first aspect, the defect time estimating means determines whether or not the defect has been detected by the defect detection circuit. A counter for measuring the time until the start position of the wound after rotation; a count value storage register for storing a count value of the count counter when a scratch is detected; a count value of the count counter and the count value storage register And a comparison circuit for comparing the stored values of the defect prediction signal and outputting the defect prediction signal. Thus, the defect prediction signal is calculated without performing the calculation for obtaining the rotation period of the optical disk from the absolute time read from the optical disk as in the conventional example. Can be used to measure the rotation period of the optical disc to accurately predict the start position of the scratch. Therefore, it is possible to perform the servo control stable even when high-speed reproduction of the optical disc have scratches on the surface. Further, since it is not necessary to have an arithmetic circuit for performing a calculation for determining the rotation cycle of the optical disk, the circuit scale of the hardware can be reduced.

【0045】また、請求項4に記載の光ディスク装置用
のサーボ回路によれば、サーボ特性を変更可能なサーボ
回路と、光ディスクを回転させるとともに、スピンドル
ドライバを介して一定回転角度毎にFG信号を出力する
スピンドルモータと、光ディスクから光ピックアップを
介して得られる反射光に基づいて前記光ディスクの傷を
検出し、ディフェクト検出信号を出力するディフェクト
検出回路と、前記ディフェクト検出回路により傷が検出
された時、前記FG信号をカウントすることにより次に
前記ディフェクト検出回路により検出される傷の位置を
予測するディフェクト位置予測手段と、前記ディフェク
ト検出回路により傷が検出されていない時には、前記サ
ーボ回路のサーボ特性を広帯域にしておき、前記ディフ
ェクト検出回路により傷が検出された時には前記ディフ
ェクト位置予測手段の予測に従い次に検出される傷の直
前で前記サーボ回路をホールドするとともに、前記ディ
フェクト検出回路で傷が検出されている間は前記サーボ
回路をホールドするホールド手段と、を備えることによ
り、光ディスクの表面に傷がある場合には、光ディスク
の表面に傷の位置を前記ディフェクト位置予測手段によ
り予測して、その傷の直前でサーボ回路をホールドする
ことができることから、光ディスクの表面に傷がある場
合でも、傷によるエラー信号にサーボを追従させること
なく、安定したサーボ制御を行うことができる。
Further, according to the servo circuit for an optical disk device of the present invention, a servo circuit capable of changing servo characteristics, an optical disk is rotated, and an FG signal is transmitted at a constant rotation angle via a spindle driver. A spindle motor for outputting, a defect detection circuit for detecting a scratch on the optical disc based on reflected light obtained from the optical disc via an optical pickup, and outputting a defect detection signal; and when a defect is detected by the defect detection circuit. A defect position estimating means for estimating a position of a flaw detected by the defect detection circuit by counting the FG signal; and a servo characteristic of the servo circuit when no flaw is detected by the defect detection circuit. To a wide band, and the defect detection circuit When a flaw is detected, the servo circuit is held immediately before the next flaw detected according to the prediction of the defect position prediction means, and the servo circuit is held while the flaw is detected by the defect detection circuit. And a holding unit for performing the following operations: when there is a flaw on the surface of the optical disc, predicting the position of the flaw on the surface of the optical disc by the defect position prediction means, and holding the servo circuit immediately before the flaw. Therefore, even when the surface of the optical disk has a scratch, stable servo control can be performed without causing the servo to follow an error signal due to the scratch.

【0046】また、請求項5の光ディスク装置用サーボ
回路は、請求項4に記載の光ディスク装置用サーボ回路
において、前記ディフェクト位置予測手段が、前記FG
信号の立ち上がりエッジから次のFG信号の立ち上がり
エッジが検出されるまでの時間を計測する第1の計数カ
ウンタと、前記ディフェクト検出回路で傷が検出された
時に、前記第1の計数カウンタから出力されるカウント
値を格納する第1のカウント値格納レジスタと、前記第
1の計数カウンタのカウント値と前記第1のカウント値
格納レジスタの格納値とを比較する第1の比較回路と、
前記FG信号の立ち上がりエッジをカウントする第2の
計数カウンタと、前記ディフェクト検出回路で傷が検出
された時に、前記第2の計数カウンタから出力されるカ
ウント値を格納する第2のカウント値格納レジスタと、
前記第2の計数カウンタのカウンタ値と前記第2のカウ
ント値格納レジスタの格納値を比較する第2の比較回路
と、前記第1の比較回路の出力信号と前記第2の比較回
路の出力信号との論理積をディフェクト予測信号として
出力する論理積回路と、を備えたことから、従来例のよ
うに光ディスクから読みとった絶対時間から光ディスク
の回転周期を求める計算を行わずに、前記スピンドルモ
ータより出力されるFG信号を前記第1,第2計数カウ
ンタでカウントすることにより傷の位置を予測すること
ができ、表面上に傷がある光ディスクを高倍速再生する
場合でも安定したサーボ制御を行うことができる。ま
た、光ディスクの回転周期を求める計算を行う演算回路
を有する必要がないことから、ハードウェアの回路規模
を小さくすることが可能である。
According to a fifth aspect of the present invention, in the servo circuit for an optical disk device according to the fourth aspect, the defect position estimating means includes the FG.
A first counting counter for measuring a time from a rising edge of the signal to a rising edge of the next FG signal is detected; and a first counter output when the defect detection circuit detects a flaw. A first count value storage register for storing a count value, a first comparison circuit for comparing a count value of the first count counter with a value stored in the first count value storage register,
A second count counter for counting a rising edge of the FG signal; and a second count value storage register for storing a count value output from the second count counter when a defect is detected by the defect detection circuit. When,
A second comparison circuit that compares the count value of the second count counter with a value stored in the second count value storage register; an output signal of the first comparison circuit and an output signal of the second comparison circuit And an AND circuit that outputs a logical product of the two as a defect prediction signal, without calculating the rotation period of the optical disk from the absolute time read from the optical disk as in the conventional example. The position of a flaw can be predicted by counting the output FG signal by the first and second counters, and stable servo control can be performed even when an optical disk having a flaw on the surface is reproduced at a high speed. Can be. Further, since it is not necessary to have an arithmetic circuit for performing a calculation for determining the rotation cycle of the optical disk, the circuit scale of the hardware can be reduced.

【0047】また、請求項7に記載の光ディスク装置用
のサーボ回路は、請求項5に記載の光ディスク装置用サ
ーボ回路において、前記第1のカウント値格納レジスタ
と、前記第2のカウント値格納レジスタと、をそれぞれ
2つ以上備え、光ディスクが1回転する間の複数の傷の
位置を前記第1,第2カウント値格納レジスタの数だけ
予測できるようにしたことから、1トラック内に複数個
の傷がある光ディスクを高倍速再生する場合でも、安定
なサーボ制御を行うことができる。
The servo circuit for an optical disk device according to claim 7 is the servo circuit for an optical disk device according to claim 5, wherein the first count value storage register and the second count value storage register are provided. And two or more, respectively, so that the position of a plurality of scratches during one rotation of the optical disc can be predicted by the number of the first and second count value storage registers. Even when a scratched optical disc is reproduced at a high speed, stable servo control can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態1における光ディスク装置
用サーボ回路の構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a servo circuit for an optical disk device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施の形態1における光ディスク装置
用サーボ回路でディフェクト予測信号の生成を表すタイ
ムチャート図である。
FIG. 2 is a time chart illustrating generation of a defect prediction signal in the servo circuit for the optical disk device according to the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施の形態2における光ディスク装置
用サーボ回路の構成を示すブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram illustrating a configuration of a servo circuit for an optical disk device according to a second embodiment of the present invention.

【図4】本発明の実施の形態2における光ディスク装置
用サーボ回路でディフェクト予測信号の生成を表すタイ
ムチャート図である。
FIG. 4 is a time chart illustrating generation of a defect prediction signal in a servo circuit for an optical disk device according to a second embodiment of the present invention.

【図5】従来の光ディスク装置用サーボ回路の構成を示
すブロック図である。
FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of a conventional servo circuit for an optical disk device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101 光ディスク 102 スピンドルモータ 103 光ピックアップ 104 フォーカスアクチュエータ 105 トラッキングアクチュエータ 106 高周波アンプ 107 ディフェクト検出回路 108 計数カウンタ 109 カウント値格納レジスタ 110 比較回路 111 論理和回路 112 トラッキングホールド回路 113 トラッキングサーボ回路 114 トラッキング駆動回路 115 RF信号 116 ディフェクト検出信号 117 TE信号 118 トラッキング制御値 119 ディフェクト予測信号 301 光ディスク 302 スピンドルモータ 303 光ピックアップ 304 フォーカスアクチュエータ 305 トラッキングアクチュエータ 306 高周波アンプ 307 ディフェクト検出回路 308 計数カウンタ 309 カウント値格納レジスタ 310 比較回路 311 計数カウンタ 312 カウント値格納レジスタ 313 比較回路 314 論理積回路 315 論理和回路 316 トラッキングホールド回路 317 トラッキングサーボ回路 318 トラッキング駆動回路 319 TE信号 320 RF信号 321 ディフェクト予測信号 322 ディフェクト検出信号 323 トラッキングホールド信号 324 トラッキング制御値 325 スピンドルドライバ 501 光ディスク 502 スピンドルモータ 503 光ピックアップ 504 フォーカシングアクチュエータ 505 トラッキングアクチュエータ 506 高周波アンプ 507 データプロセッサ 508 ディフェクト検出回路 509 ディフェクト検出回路 510 傷位置予測回路 511 サーボ特性切替回路 512 サーボ特性切替回路 513 フォーカシングイコライザ 514 トラッキングイコライザ 515 フォーカシングドライバ 516 トラッキングドライバ DESCRIPTION OF SYMBOLS 101 Optical disk 102 Spindle motor 103 Optical pickup 104 Focus actuator 105 Tracking actuator 106 High frequency amplifier 107 Defect detection circuit 108 Count counter 109 Count value storage register 110 Comparison circuit 111 OR circuit 112 Tracking hold circuit 113 Tracking servo circuit 114 Tracking drive circuit 115 RF Signal 116 Defect detection signal 117 TE signal 118 Tracking control value 119 Defect prediction signal 301 Optical disk 302 Spindle motor 303 Optical pickup 304 Focus actuator 305 Tracking actuator 306 High frequency amplifier 307 Defect detection circuit 308 Count counter 309 Store count value Register 310 Comparison circuit 311 Count counter 312 Count value storage register 313 Comparison circuit 314 Logical product circuit 315 Logical sum circuit 316 Tracking hold circuit 317 Tracking servo circuit 318 Tracking drive circuit 319 TE signal 320 RF signal 321 Defect prediction signal 322 Defect detection signal 323 Tracking hold signal 324 Tracking control value 325 Spindle driver 501 Optical disk 502 Spindle motor 503 Optical pickup 504 Focusing actuator 505 Tracking actuator 506 High frequency amplifier 507 Data processor 508 Defect detection circuit 509 Defect detection circuit 510 Flaw position prediction circuit 511 Servo characteristic switching circuit 512 Servo Sex switching circuit 513 focusing equalizer 514 tracking equalizer 515 focusing driver 516 tracking driver

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 今村 泰 香川県高松市古新町8番地の1 松下寿電 子工業株式会社内 Fターム(参考) 5D118 AA17 BA01 CA02 CA04 CA08 CB05 CD02 CD03 CD14 CD17 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing from the front page (72) Inventor Yasushi Yasushi 8-8 Koshinmachi, Takamatsu City, Kagawa Prefecture Matsushita Hisashi Denshi Kogyo Co., Ltd. F term (reference) 5D118 AA17 BA01 CA02 CA04 CA08 CB05 CD02 CD03 CD14 CD17

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 サーボ特性を変更可能なサーボ回路と、 光ディスクから光ピックアップを介して得られる反射光
に基づいて前記光ディスクの傷を検出し、ディフェクト
検出信号を出力するディフェクト検出回路と、 前記ディフェクト検出回路により傷が検出された時、次
に前記ディフェクト検出回路により検出される傷の位置
を予測し、ディフェクト予測信号を出力するディフェク
ト時間予測手段と、 前記ディフェクト検出回路により傷が検出されていない
時には、前記サーボ回路のサーボ特性を広帯域にしてお
き、前記ディフェクト検出回路により傷が検出された時
には前記ディフェクト時間予測手段の予測に従い次に検
出される傷の直前で前記サーボ回路をホールドするとと
もに、前記ディフェクト検出回路で傷が検出されている
間は前記サーボ回路をホールドするホールド手段と、を
備えることを特徴とする光ディスク装置用サーボ回路。
A servo circuit capable of changing servo characteristics; a defect detection circuit for detecting a scratch on the optical disk based on reflected light obtained from the optical disk via an optical pickup and outputting a defect detection signal; When a flaw is detected by the detection circuit, a defect time prediction means for predicting a flaw position detected by the defect detection circuit and outputting a defect prediction signal; and no flaw is detected by the defect detection circuit. Sometimes, the servo characteristics of the servo circuit is set to a wide band, and when a flaw is detected by the defect detection circuit, the servo circuit is held immediately before a flaw to be detected next according to the prediction of the defect time prediction means, While a defect is detected by the defect detection circuit, A servo circuit for an optical disk device, comprising: a holding means for holding the servo circuit.
【請求項2】 請求項1に記載の光ディスク装置用サー
ボ回路において、 前記ディフェクト時間予測手段は、 前記ディフェクト検出回路により傷が検出されてから光
ディスク一回転後の傷の開始位置までの時間を計測する
計数カウンタと、 傷が検出された時に前記計数カウンタのカウント値を格
納するカウント値格納レジスタと、 前記計数カウンタのカウント値と前記カウント値格納レ
ジスタの格納値を比較し、ディフェクト予測信号を出力
する比較回路とを備えることを特徴とする光ディスク装
置用サーボ回路。
2. The servo circuit for an optical disk device according to claim 1, wherein the defect time estimating means measures a time from when a defect is detected by the defect detection circuit to a start position of the defect after one rotation of the optical disk. A count counter that stores the count value of the count counter when a flaw is detected; compares the count value of the count counter with the stored value of the count value register to output a defect prediction signal A servo circuit for an optical disk device, comprising:
【請求項3】 請求項1に記載の光ディスク装置用サー
ボ回路において、 前記ホールド手段は、 前記ディフェクト予測信号と前記ディフェクト検出信号
との論理和をとる論理和回路と、 前記論理和回路の出力信号に基づいて前記サーボ回路を
ホールドして、光ピックアップの駆動値をホールドする
ホールド回路と、を備えることを特徴とする光ディスク
装置用サーボ回路。
3. The servo circuit for an optical disk device according to claim 1, wherein the hold unit performs a logical sum of the defect prediction signal and the defect detection signal, and an output signal of the logical sum circuit. And a hold circuit for holding the drive value of the optical pickup by holding the servo circuit on the basis of (1).
【請求項4】 サーボ特性を変更可能なサーボ回路と、 光ディスクを回転させるとともに、スピンドルドライバ
を介して一定回転角度毎に周期検出信号(以下、FG信
号と称す)を出力するスピンドルモータと、 光ディスクから光ピックアップを介して得られる反射光
に基づいて前記光ディスクの傷を検出し、ディフェクト
検出信号を出力するディフェクト検出回路と、 前記ディフェクト検出回路により傷が検出された時、前
記FG信号をカウントすることにより次に前記ディフェ
クト検出回路により検出される傷の位置を予測するディ
フェクト位置予測手段と、 前記ディフェクト検出回路により傷が検出されていない
時には、前記サーボ回路のサーボ特性を広帯域にしてお
き、前記ディフェクト検出回路により傷が検出された時
には前記ディフェクト位置予測手段の予測に従い次に検
出される傷の直前で前記サーボ回路をホールドするとと
もに、前記ディフェクト検出回路で傷が検出されている
間は前記サーボ回路をホールドするホールド手段と、を
備えることを特徴とする光ディスク装置用サーボ回路。
4. A servo circuit capable of changing servo characteristics, a spindle motor for rotating an optical disk, and outputting a period detection signal (hereinafter, referred to as an FG signal) every fixed rotation angle via a spindle driver, and an optical disk. A defect detection circuit for detecting a flaw in the optical disk based on reflected light obtained from the optical pickup through the optical pickup, and outputting a defect detection signal; and counting the FG signal when the flaw is detected by the defect detection circuit. The defect position prediction means for predicting the position of the flaw next detected by the defect detection circuit, and when the flaw is not detected by the defect detection circuit, the servo characteristics of the servo circuit are set to a wide band, When a defect is detected by the defect detection circuit, Holding means for holding the servo circuit immediately before a flaw detected next according to the prediction of the defect position prediction means and holding the servo circuit while the flaw is detected by the defect detection circuit. A servo circuit for an optical disk device, comprising:
【請求項5】 請求項4に記載の光ディスク装置用サー
ボ回路において、 前記ディフェクト位置予測手段は、 前記FG信号の立ち上がりエッジから次のFG信号の立
ち上がりエッジが検出されるまでの時間を計測する第1
の計数カウンタと、 前記ディフェクト検出回路で傷が検出された時に、前記
第1の計数カウンタから出力されるカウント値を格納す
る第1のカウント値格納レジスタと、 前記第1の計数カウンタのカウント値と前記第1のカウ
ント値格納レジスタの格納値とを比較する第1の比較回
路と、 前記FG信号の立ち上がりエッジをカウントする第2の
計数カウンタと、 前記ディフェクト検出回路で傷が検出された時に、前記
第2の計数カウンタから出力されるカウント値を格納す
る第2のカウント値格納レジスタと、 前記第2の計数カウンタのカウンタ値と前記第2のカウ
ント値格納レジスタの格納値を比較する第2の比較回路
と、 前記第1の比較回路の出力信号と前記第2の比較回路の
出力信号との論理積をディフェクト予測信号として出力
する論理積回路と、を備えたことを特徴とする光ディス
ク装置用サーボ回路。
5. The servo circuit for an optical disk device according to claim 4, wherein the defect position predicting unit measures a time from a rising edge of the FG signal to a detection of a rising edge of the next FG signal. 1
A count counter, a first count value storage register for storing a count value output from the first count counter when a defect is detected by the defect detection circuit, and a count value of the first count counter. A first comparison circuit that compares the value stored in the first count value storage register with a second count counter that counts the rising edge of the FG signal; and when a defect is detected by the defect detection circuit. A second count value storage register that stores a count value output from the second count counter, and a second value counter that compares the count value of the second count counter with the value stored in the second count value storage register. And a logical product of an output signal of the first comparison circuit and an output signal of the second comparison circuit as a defect prediction signal. Servo circuit for an optical disk apparatus characterized by comprising a logical product circuit, the that.
【請求項6】 請求項4に記載の光ディスク制御用サー
ボ回路において、 前記ホールド手段は、 前記ディフェクト予測信号と前記ディフェクト検出信号
との論理和をとる論理和回路と、 前記論理和回路の出力信号に基づいて前記サーボ回路を
ホールドして、光ピックアップの駆動値をホールドする
ホールド回路と、を備えることを特徴とする光ディスク
装置用サーボ回路。
6. The optical disk control servo circuit according to claim 4, wherein the hold unit performs a logical sum of the defect prediction signal and the defect detection signal, and an output signal of the logical sum circuit. And a hold circuit for holding the drive value of the optical pickup by holding the servo circuit on the basis of (1).
【請求項7】 請求項5に記載の光ディスク装置用サー
ボ回路において、 前記第1のカウント値格納レジスタと、前記第2のカウ
ント値格納レジスタと、をそれぞれ2つ以上備えること
を特徴とする光ディスク装置用サーボ回路。
7. The optical disk drive according to claim 5, wherein each of the first count value storage register and the second count value storage register is two or more. Servo circuit for equipment.
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