JP2002009331A - Light emitting diode array - Google Patents

Light emitting diode array

Info

Publication number
JP2002009331A
JP2002009331A JP2000184858A JP2000184858A JP2002009331A JP 2002009331 A JP2002009331 A JP 2002009331A JP 2000184858 A JP2000184858 A JP 2000184858A JP 2000184858 A JP2000184858 A JP 2000184858A JP 2002009331 A JP2002009331 A JP 2002009331A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
emitting diode
diode array
light
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000184858A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tomihisa Yukimoto
富久 行本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Cable Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Cable Ltd filed Critical Hitachi Cable Ltd
Priority to JP2000184858A priority Critical patent/JP2002009331A/en
Publication of JP2002009331A publication Critical patent/JP2002009331A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a light emitting diode array which can improve light emission output by raising current density passing through an active layer. SOLUTION: A cathode electrode 3 and an anode electrode 4 are disposed at both sides of a light emission part 2 provided to a surface of a diode 1, and form a current path 19 passing through immediately below the light emission part 2. Recombination characteristic of electron and hole inside a crystalline layer immediately below a light emission part is increased by disposing an electrode to form a current path immediately below a light emission part, thus improving light emission output.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は発光ダイオードアレ
イに関し、特に、電子写真方式のプリンタ光源に用いら
れる発光ダイオードアレイに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a light emitting diode array, and more particularly, to a light emitting diode array used for an electrophotographic printer light source.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、電子写真方式のプリンタの光源と
して、レーザ方式および発光ダイオードアレイ方式が広
く用いられている。特に、発光ダイオードアレイ方式
は、レーザ方式のように光路長を長くとる必要がないこ
とからプリンタを小型化でき、大サイズの印刷が容易で
ある。近年、プリンタの小型化が進み、より高精細で高
出力の発光ダイオードアレイが求められるようになって
きている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a laser system and a light emitting diode array system have been widely used as a light source of an electrophotographic printer. In particular, the light-emitting diode array system does not require a long optical path length unlike the laser system, so that the printer can be downsized and large-size printing is easy. 2. Description of the Related Art In recent years, printers have been downsized, and a light-emitting diode array with higher definition and higher output has been required.

【0003】図4は、従来の発光ダイオードアレイを上
面方向より示し、半絶縁性のn型GaAs基板10の上
に所定の間隔でダイオード部1が配列されている。この
ダイオード部1は、複数の発光部2を有し、発光部2に
電圧を印加するカソード電極3およびアノード電極4
と、カソード電極3とAu配線層5によって接続される
ボンディングパッド6を有し、ダイオード部1はメサエ
ッチング溝7によってボンディング部8と素子分離され
ている。
FIG. 4 shows a conventional light-emitting diode array viewed from above, in which diode portions 1 are arranged at predetermined intervals on a semi-insulating n-type GaAs substrate 10. The diode unit 1 has a plurality of light emitting units 2, and a cathode electrode 3 and an anode electrode 4 for applying a voltage to the light emitting unit 2.
And a bonding pad 6 connected to the cathode electrode 3 and the Au wiring layer 5. The diode portion 1 is separated from the bonding portion 8 by a mesa etching groove 7.

【0004】図5は、図4に示す発光ダイオードアレイ
のA−A断面を示し、半絶縁性のGaAs基板10の上
にp型GaAs導電層11、p型AlGaAsエッチン
グストッパ層12、p型AlGaAsクラッド層13、
n型AlGaAs活性層14、n型AlGaAsクラッ
ド層15、およびn型GaAsキャップ層16を積層し
たダブルヘテロ構造となっており、n型GaAsキャッ
プ層16を覆うPSG膜17と、p型GaAs導電層1
1の上に金属を蒸着し合金化して形成されるアノード電
極4と、PSG膜17上に形成されるAu配線層5を有
する。
FIG. 5 is a cross-sectional view of the light emitting diode array shown in FIG. 4 taken along the line AA. On a semi-insulating GaAs substrate 10, a p-type GaAs conductive layer 11, a p-type AlGaAs etching stopper layer 12, a p-type AlGaAs Clad layer 13,
It has a double hetero structure in which an n-type AlGaAs active layer 14, an n-type AlGaAs cladding layer 15, and an n-type GaAs cap layer 16 are stacked, a PSG film 17 covering the n-type GaAs cap layer 16, and a p-type GaAs conductive layer. 1
An anode electrode 4 formed by evaporating and alloying a metal on the first electrode 1 and an Au wiring layer 5 formed on the PSG film 17 are provided.

【0005】ダイオード部1は、n型AlGaAsクラ
ッド層15に積層されるn型GaAsキャップ層18の
メサ頂面にカソード電極3を積層して形成されている。
The diode section 1 is formed by laminating a cathode electrode 3 on the top surface of a mesa of an n-type GaAs cap layer 18 laminated on an n-type AlGaAs clad layer 15.

【0006】また、ダイオード部1は、n型GaAsキ
ャップ層16をエッチングにより除去して発光部2を形
成しており、アノード電極4からカソード電極3に向か
って流れる電流経路19のうち発光部2の直下のn型A
lGaAs活性層14で発光した光Lを照射する。
The diode section 1 forms the light emitting section 2 by removing the n-type GaAs cap layer 16 by etching. The light emitting section 2 of the current path 19 flowing from the anode electrode 4 toward the cathode electrode 3 is formed. N-type A directly below
The light L emitted from the lGaAs active layer 14 is irradiated.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の発光ダ
イオードアレイによると、アノード電極からカソード電
極に向けて供給される電流がカソード電極のサイズに応
じた電流密度で発光部直下の活性層を通過するため、カ
ソード電極のサイズを大にすると活性層を通過する電流
密度が低下して発光出力を低下させるという問題があ
る。例えば、カソード電極の長さが発光部直下の活性層
の幅の6倍以上になると発光出力の低下が顕著となる。
However, according to the conventional light emitting diode array, the current supplied from the anode electrode to the cathode electrode passes through the active layer immediately below the light emitting portion at a current density corresponding to the size of the cathode electrode. Therefore, if the size of the cathode electrode is increased, there is a problem that the current density passing through the active layer is reduced and the light emission output is reduced. For example, when the length of the cathode electrode is six times or more the width of the active layer immediately below the light emitting portion, the light emission output is significantly reduced.

【0008】従って、本発明の目的は、活性層を通過す
る電流密度を大にして発光出力を大にすることのできる
発光ダイオードアレイを提供することにある。
Accordingly, it is an object of the present invention to provide a light emitting diode array capable of increasing the current density passing through the active layer and increasing the light emitting output.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するため、半導体基板上に複数の結晶層を積層してな
るエピタキシャル層をメサエッチング溝で分割して複数
個の発光ダイオード部を設けた発光ダイオードアレイに
おいて、前記発光ダイオード部の表面に設けられる発光
部の両側に配置され、前記発光部の直下を通過する電流
経路を形成する電極部を有する発光ダイオードアレイを
提供する。
According to the present invention, in order to achieve the above object, an epitaxial layer formed by stacking a plurality of crystal layers on a semiconductor substrate is divided by a mesa etching groove to form a plurality of light emitting diode portions. In the provided light emitting diode array, there is provided a light emitting diode array having electrode portions arranged on both sides of a light emitting portion provided on a surface of the light emitting diode portion and forming a current path passing immediately below the light emitting portion.

【0010】上記した発光ダイオードアレイによると、
発光ダイオード部の発光部の直下に電流経路が形成され
るように電極を配置することで、発光部の直下にある結
晶層内での電子と正孔の再結合性が大になり、そのこと
によって発光出力が高められる。
According to the light emitting diode array described above,
By arranging the electrodes so that a current path is formed immediately below the light emitting section of the light emitting diode section, the recombination of electrons and holes in the crystal layer immediately below the light emitting section increases, which means that As a result, the light emission output is increased.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、本発明の発光ダイオードア
レイを図面を参照して詳細に説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a light emitting diode array according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0012】図1は、本発明の発光ダイオードアレイを
上面方向より示し、半絶縁性のGaAs基板10の上に
所定の間隔でダイオード部1が配列されている。このダ
イオード部1は、複数の発光部2を有し、発光部2に電
圧を印加するカソード電極3およびアノード電極4と、
カソード電極3とAu配線層5によって接続されるボン
ディングパッド6を有し、カソード電極3の長さLを発
光部2の幅Wの3倍以下となるように形成している。ま
た、ダイオード部1はメサエッチング溝7によってボン
ディング部8と素子分離されている。
FIG. 1 shows a light emitting diode array according to the present invention from above, in which diode portions 1 are arranged on a semi-insulating GaAs substrate 10 at predetermined intervals. The diode unit 1 has a plurality of light emitting units 2, a cathode electrode 3 and an anode electrode 4 for applying a voltage to the light emitting unit 2,
It has a bonding pad 6 connected to the cathode electrode 3 by the Au wiring layer 5, and is formed so that the length L of the cathode electrode 3 is three times or less the width W of the light emitting unit 2. The diode section 1 is separated from the bonding section 8 by a mesa etching groove 7.

【0013】図2は、図1に示す発光ダイオードアレイ
のB−B断面を示し、半絶縁性のGaAs基板10の上
にp型GaAs導電層11、p型AlGaAsエッチン
グストッパ層12、p型AlGaAsクラッド層13、
n型AlGaAs活性層14、n型AlGaAsクラッ
ド層15、およびn型GaAsキャップ層16を積層し
たダブルヘテロ構造となっており、n型GaAsキャッ
プ層16を覆うPSG膜17と、p型GaAs導電層1
1の上に金属を蒸着し合金化して形成されるアノード電
極4と、PSG膜17上に形成されるAu配線層5を有
し、カソード電極3の長さlを発光部2の幅W(紙面奥
方向)の3倍以下となるように形成している。
FIG. 2 shows a cross section taken along line BB of the light emitting diode array shown in FIG. 1. On a semi-insulating GaAs substrate 10, a p-type GaAs conductive layer 11, a p-type AlGaAs etching stopper layer 12, a p-type AlGaAs Clad layer 13,
It has a double hetero structure in which an n-type AlGaAs active layer 14, an n-type AlGaAs cladding layer 15, and an n-type GaAs cap layer 16 are stacked, a PSG film 17 covering the n-type GaAs cap layer 16, and a p-type GaAs conductive layer. 1
1 has an anode electrode 4 formed by evaporating a metal and alloying the same, and an Au wiring layer 5 formed on the PSG film 17. The length l of the cathode electrode 3 is determined by the width W ( (Rearward in the drawing).

【0014】ダイオード部1は、n型AlGaAsクラ
ッド層15に積層されるn型GaAsキャップ層18の
メサ頂面にカソード電極3を積層して形成されている。
The diode section 1 is formed by laminating a cathode electrode 3 on the top surface of a mesa of an n-type GaAs cap layer 18 laminated on an n-type AlGaAs clad layer 15.

【0015】また、ダイオード部1は、n型GaAsキ
ャップ層16をエッチングにより除去して発光部2を形
成しており、アノード電極4からカソード電極3に向か
って流れる電流経路19のうち発光部2の直下のn型A
lGaAs活性層14で発光した光Lを照射する。
The diode section 1 forms the light emitting section 2 by removing the n-type GaAs cap layer 16 by etching. The light emitting section 2 of the current path 19 flowing from the anode electrode 4 to the cathode electrode 3 is formed. N-type A directly below
The light L emitted from the lGaAs active layer 14 is irradiated.

【0016】以下に、本発明の発光ダイオードアレイの
製造方法を説明する。
Hereinafter, a method for manufacturing a light emitting diode array according to the present invention will be described.

【0017】まず、半絶縁性のGaAs基板10の表面
に、MOVPE法によりキャリア濃度4×1019cm‐
3のp型GaAs導電層11を1μm、キャリア濃度3
×1019cm‐3のp型AlGaAsエッチングストッ
パ層12を0.5μm,キャリア濃度3×1018cm‐
3p型AlGaAsクラッド層13を1μm、キャリア
濃度1×1018cm‐3のn型AlGaAs活性層14
を1μm、キャリア濃度2×1018cm‐3のn型Al
GaAsクラッド層15を3μm,キャリア濃度1×1
18cm‐3のn型GaAsキャップ層16を0.5μ
m順次成長させる。
First, a carrier concentration of 4 × 10 19 cm− is applied to the surface of the semi-insulating GaAs substrate 10 by MOVPE.
3 p-type GaAs conductive layer 11 is 1 μm, and carrier concentration is 3
The p-type AlGaAs etching stopper layer 12 of × 10 19 cm −3 is 0.5 μm, and the carrier concentration is 3 × 10 18 cm −3.
3 An n-type AlGaAs active layer 14 having a p-type AlGaAs cladding layer 13 of 1 μm and a carrier concentration of 1 × 10 18 cm −3.
Is 1 μm and the carrier concentration is 2 × 10 18 cm −3 n-type Al
The GaAs cladding layer 15 is 3 μm, and the carrier concentration is 1 × 1.
0 18 cm- 3 of 0.5μ the n-type GaAs cap layer 16
grow m successively.

【0018】次に、カソード電極3を形成するためのキ
ャップ層の一部18を残して、ウエットエッチングによ
りn型GaAsキャップ層16を除去する。
Next, the n-type GaAs cap layer 16 is removed by wet etching while leaving a part 18 of the cap layer for forming the cathode electrode 3.

【0019】次に、各ダイオード部1をボンディング部
8と電気的に分離するためにウエットエッチングにより
メサエッチング溝7を形成する。なお、メサエッチング
溝7の深さはn型GaAs層12が露出する7.0μm
とする。
Next, a mesa etching groove 7 is formed by wet etching in order to electrically isolate each diode portion 1 from the bonding portion 8. Note that the depth of the mesa etching groove 7 is 7.0 μm so that the n-type GaAs layer 12 is exposed.
And

【0020】次に、CVDにより表面全体を覆うように
PSG膜17を0.5μm成長させる。
Next, a PSG film 17 is grown to a thickness of 0.5 μm so as to cover the entire surface by CVD.

【0021】次に、カソード電極3とアノード電極4を
形成する部分のPSG膜17をフッ酸により除去する。
カソード電極3は、n型GaAsキャップ層18の上に
AuGe/Ni/Auを蒸着、アロイすることにより形
成する。また、アノード電極4は、メサエッチング溝7
の底に露出しているp型GaAs導電層11の上にAu
Zn/Ni/Auを蒸着、アロイすることにより形成す
る。
Next, the PSG film 17 where the cathode electrode 3 and the anode electrode 4 are to be formed is removed with hydrofluoric acid.
The cathode electrode 3 is formed by depositing and alloying AuGe / Ni / Au on the n-type GaAs cap layer 18. Further, the anode electrode 4 is provided with a mesa etching groove 7.
Au on the p-type GaAs conductive layer 11 exposed at the bottom of
It is formed by depositing and alloying Zn / Ni / Au.

【0022】最後に、Au配線5によりカソード電極3
をボンディングパッド6と接続して発光ダイオードアレ
イが形成される。
Finally, the Au electrode 5 connects the cathode electrode 3
Is connected to the bonding pad 6 to form a light emitting diode array.

【0023】上記した発光ダイオードアレイは、カソー
ド電極3とアノード電極4との間に電圧を印可すると、
アノード電極4から電流経路19に基づく電流がカソー
ド電極3に流れる。このとき、発光部2の直下のn型A
lGaAs活性層では、カソード電極3のサイズに応じ
た電流密度の電流が通過する。
In the light emitting diode array described above, when a voltage is applied between the cathode electrode 3 and the anode electrode 4,
A current based on the current path 19 flows from the anode electrode 4 to the cathode electrode 3. At this time, the n-type A immediately below the light emitting section 2
In the 1GaAs active layer, a current having a current density corresponding to the size of the cathode electrode 3 passes.

【0024】図3は、発光部2における発光出力を示
し、カソード電極3の長さLを13.5μmとしたと
き、約38μWの発光出力が得られた。一方、カソード
電極3の長さLを従来の設計値である58μmとしたと
きの発光出力は約23μW(図示せず)であり、このこ
とから、本発明の発光ダイオードアレイでは、従来の約
2倍の光出力が得られることが確認された。
FIG. 3 shows the light emission output of the light emitting section 2. When the length L of the cathode electrode 3 was 13.5 μm, a light emission output of about 38 μW was obtained. On the other hand, when the length L of the cathode electrode 3 is 58 μm, which is the conventional design value, the light emission output is about 23 μW (not shown). Therefore, in the light emitting diode array of the present invention, It was confirmed that double light output was obtained.

【0025】なお、上記した実施の形態では、半絶縁性
のGaAs基板10の上にp型の結晶を下にしたp型、
n型の順の結晶構造を有する発光ダイオードアレイにつ
いて説明したが、半絶縁性のGaAs基板10の上にn
型の結晶を下にした、n型、p型の順の結晶構造を有す
る発光ダイオードアレイであってもダイオードの極性が
変わるだけで同様の効果を奏する。
In the above-described embodiment, a p-type crystal in which a p-type crystal is placed on a semi-insulating GaAs substrate 10 is used.
The light-emitting diode array having the n-type order crystal structure has been described.
Even in a light emitting diode array having an n-type and a p-type crystal structure in which the type crystal is placed downward, the same effect can be obtained only by changing the polarity of the diode.

【0026】また、本実施の形態では、半絶縁性のGa
As基板10を用いたが、導電性の基板であっても、そ
の上にアンドープGaAsなどの高抵抗層を設けるか、
p−n−pまたはn−p−nとなる結晶構造にすれば電
気的に絶縁できるので適用可能である。
In the present embodiment, the semi-insulating Ga
Although the As substrate 10 is used, even if the substrate is a conductive substrate, a high-resistance layer such as undoped GaAs may be provided thereon.
A crystal structure of pnp or npn can be applied since it can be electrically insulated.

【0027】[0027]

【発明の効果】以上説明した通り、本発明の発光ダイオ
ードアレイによると、発光ダイオード部の表面に設けら
れる発光部の両側に配置され、発光部の直下を通過する
電流経路を形成する電極部を有するようにしたため、活
性層を通過する電流密度を大にして発光出力を大にする
ことができる。
As described above, according to the light-emitting diode array of the present invention, the electrode portions arranged on both sides of the light-emitting portion provided on the surface of the light-emitting diode portion and forming a current path passing immediately below the light-emitting portion are formed. As a result, the light emitting output can be increased by increasing the current density passing through the active layer.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態に係る発光ダイオードアレ
イを示す平面図
FIG. 1 is a plan view showing a light emitting diode array according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1のB−B部における断面図FIG. 2 is a sectional view taken along a line BB in FIG. 1;

【図3】本発明の実施の形態に係る発光ダイオードアレ
イの発光出力特性を示す説明図
FIG. 3 is an explanatory diagram showing light emission output characteristics of the light emitting diode array according to the embodiment of the present invention.

【図4】従来の発光ダイオードアレイを示す平面図FIG. 4 is a plan view showing a conventional light emitting diode array.

【図5】図4のA−A部における断面図FIG. 5 is a sectional view taken along the line AA in FIG. 4;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ダイオード部 2 発光部 3 カソード電極 4 アノード電極 5 Au配線層 6 ボンディングパッド 7 メサエッチング溝 8 ボンディング部 10 GaAs基板 11 p型GaAs導電層 12 p型AlGaAsエッチングストッパ層 13 p型AlGaAsクラッド層 14 n型AlGaAs活性層 15 n型AlGaAsクラッド層 16 n型GaAsキャップ層 17 PSG膜 18 n型GaAsキャップ層 19 電流経路 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Diode part 2 Light emitting part 3 Cathode electrode 4 Anode electrode 5 Au wiring layer 6 Bonding pad 7 Mesa etching groove 8 Bonding part 10 GaAs substrate 11 p-type GaAs conductive layer 12 p-type AlGaAs etching stopper layer 13 p-type AlGaAs cladding layer 14 n -Type AlGaAs active layer 15 n-type AlGaAs cladding layer 16 n-type GaAs cap layer 17 PSG film 18 n-type GaAs cap layer 19 current path

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体基板上に複数の結晶層を積層して
なるエピタキシャル層をメサエッチング溝で分割して複
数個の発光ダイオード部を設けた発光ダイオードアレイ
において、 前記発光ダイオード部の表面に設けられる発光部の両側
に配置され、前記発光部の直下を通過する電流経路を形
成する電極部を有することを特徴とする発光ダイオード
アレイ。
1. A light emitting diode array in which a plurality of light emitting diode portions are provided by dividing an epitaxial layer formed by laminating a plurality of crystal layers on a semiconductor substrate by a mesa etching groove, and provided on a surface of the light emitting diode portion. A light emitting diode array, comprising: an electrode portion disposed on both sides of a light emitting portion to form a current path passing immediately below the light emitting portion.
【請求項2】 前記電極部は、前記発光部に隣接する電
極長が前記発光部幅の3倍以下に形成されている構成の
請求項第1項記載の発光ダイオードアレイ。
2. The light-emitting diode array according to claim 1, wherein said electrode portion has a configuration in which an electrode length adjacent to said light-emitting portion is formed to be three times or less the width of said light-emitting portion.
JP2000184858A 2000-06-20 2000-06-20 Light emitting diode array Pending JP2002009331A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000184858A JP2002009331A (en) 2000-06-20 2000-06-20 Light emitting diode array

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000184858A JP2002009331A (en) 2000-06-20 2000-06-20 Light emitting diode array

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002009331A true JP2002009331A (en) 2002-01-11

Family

ID=18685252

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000184858A Pending JP2002009331A (en) 2000-06-20 2000-06-20 Light emitting diode array

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002009331A (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014025195A1 (en) * 2012-08-07 2014-02-13 서울바이오시스 주식회사 Wafer level light-emitting diode array and method for manufacturing same
WO2014038794A1 (en) * 2012-09-07 2014-03-13 서울바이오시스 주식회사 Wafer level light-emitting diode array
US9318529B2 (en) 2012-09-07 2016-04-19 Seoul Viosys Co., Ltd. Wafer level light-emitting diode array
US10388690B2 (en) 2012-08-07 2019-08-20 Seoul Viosys Co., Ltd. Wafer level light-emitting diode array
US10804316B2 (en) 2012-08-07 2020-10-13 Seoul Viosys Co., Ltd. Wafer level light-emitting diode array

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014025195A1 (en) * 2012-08-07 2014-02-13 서울바이오시스 주식회사 Wafer level light-emitting diode array and method for manufacturing same
CN104521012A (en) * 2012-08-07 2015-04-15 首尔伟傲世有限公司 Wafer level light-emitting diode array and method for manufacturing same
US9318530B2 (en) 2012-08-07 2016-04-19 Seoul Viosys Co., Ltd. Wafer level light-emitting diode array and method for manufacturing same
CN104521012B (en) * 2012-08-07 2018-04-24 首尔伟傲世有限公司 Wafer level led array and its manufacture method
US10388690B2 (en) 2012-08-07 2019-08-20 Seoul Viosys Co., Ltd. Wafer level light-emitting diode array
US10804316B2 (en) 2012-08-07 2020-10-13 Seoul Viosys Co., Ltd. Wafer level light-emitting diode array
US11139338B2 (en) * 2012-08-07 2021-10-05 Seoul Viosys Co., Ltd. Wafer level light-emitting diode array
US11587972B2 (en) 2012-08-07 2023-02-21 Seoul Viosys Co., Ltd. Wafer level light-emitting diode array
WO2014038794A1 (en) * 2012-09-07 2014-03-13 서울바이오시스 주식회사 Wafer level light-emitting diode array
US9318529B2 (en) 2012-09-07 2016-04-19 Seoul Viosys Co., Ltd. Wafer level light-emitting diode array
US9412922B2 (en) * 2012-09-07 2016-08-09 Seoul Viosys Co., Ltd. Wafer level light-emitting diode array

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6730936B2 (en) Light-emitting diode array
US7034340B2 (en) Light-emitting diode array
JP2889618B2 (en) Array type semiconductor light emitting device
US7271421B2 (en) Light-emitting diode array
JPH11150303A (en) Light emitting parts
US7504772B2 (en) Light-emitting diode array
JP2000323750A (en) Light-emitting diode array
US7112824B2 (en) Light-emitting diode array
JP2002009331A (en) Light emitting diode array
US6180961B1 (en) Light emitting semiconductor device with stacked structure
US6881978B2 (en) Semiconductor epitaxial structure and semiconductor light-emitting device
JPH10242507A (en) Light emitting diode and its manufacture
JPH07106689A (en) Semiconductor laser
JP2001326383A (en) Light-emitting diode array
JP3200094B2 (en) Printer light source
US20060208265A1 (en) Light emitting diode and light emitting diode array
JP2895888B2 (en) Light emitting diode array
JP2001257380A (en) Light-emitting diode array and manufacturing method therefor
JP2001168394A (en) Light emitting diode array
JP2001077411A (en) Light-emitting diode array and manufacture thereof
JP3891833B2 (en) Semiconductor device and LED array
JPH0983015A (en) Fabrication of monolithic light emitting diode array
JP3426891B2 (en) Semiconductor light emitting device and method of manufacturing the same
JP2004297052A (en) Light emitting diode array
JP2001044504A (en) Light emitting diode array and manufacture thereof

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050715

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080409

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080415

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20080805